JP2002033307A - プラズマ発生装置及び同装置を備えたプラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ発生装置及び同装置を備えたプラズマ処理装置

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JP2002033307A
JP2002033307A JP2000215617A JP2000215617A JP2002033307A JP 2002033307 A JP2002033307 A JP 2002033307A JP 2000215617 A JP2000215617 A JP 2000215617A JP 2000215617 A JP2000215617 A JP 2000215617A JP 2002033307 A JP2002033307 A JP 2002033307A
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JP
Japan
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plasma
cylindrical
microwave
dielectric
wall
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Tomoo Yamazaki
崎 智 生 山
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Shibaura Mechatronics Corp
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Shibaura Mechatronics Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被処理物の処理の面内均一性を向上させ得る
プラズマを発生させるプラズマ発生装置及び同装置を備
えたプラズマ処理装置を提供する。 【解決手段】 プラズマ発生領域6を内側に形成する円
筒真空壁4を有する。円筒真空壁4の内周面に沿って円
筒状の誘電体2を周設する。円筒真空壁4の外周面にマ
イクロ波導波管1を接続する。マイクロ波導波管1によ
り導かれたマイクロ波を円筒状の誘電体2を介して環状
のプラズマ発生領域6に放射するためにマイクロ波導波
管1の内部空間と円筒状の誘電体2の外周面との間に開
口部3を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマ発生装置
及び同装置を備えたプラズマ処理装置に係わり、特に、
プロセスガスにマイクロ波を照射して生成したプラズマ
を利用して被処理物の処理を行うためのプラズマ発生装
置及び同装置を備えたプラズマ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造用のシリコンウェハや液晶デ
ィスプレイ用ガラス基板といった被処理物を処理するた
めの装置として、マイクロ波プラズマを利用して被処理
物のドライエッチング処理やアッシング処理等を施すプ
ラズマ処理装置がある。このプラズマ処理装置を利用し
たプラズマ技術による微細加工、薄膜形成等の表面処理
は、例えば半導体の高集積化にとって必要不可欠な技術
となっている。
【0003】プラズマ処理装置にはいくつかの種類があ
り、一例としては、高周波電力をアンテナに供給して真
空容器内のプロセスガスに印加してプラズマを生成し、
このプラズマを利用して被処理物にドライエッチング処
理等を施すものがある。より具体的には、マイクロ波導
波管により導いたマイクロ波を、マイクロ波導波管に形
成された開口部(スロットアンテナ)から放射して、マ
イクロ波透過窓部材を介して真空容器内に導入し、真空
容器内のプロセスガスにマイクロ波を照射してプラズマ
を生成し、このプラズマを利用して被処理物に微細加工
や薄膜形成等の表面処理を施すものがある。
【0004】このタイプのプラズマ処理装置は、真空容
器の内部で生成したプラズマを被処理物の表面に接触さ
せ、プラズマ中の活性種等によりドライエッチングやア
ッシング等の表面処理を施すものと、プラズマ発生領域
と処理室とを分離してプラズマからのダウンフローを被
処理物の表面に導いてドライエッチングやアッシング等
の表面処理を施すものとがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】マイクロ波によりプラ
ズマを生成し、このプラズマを利用して被処理物を処理
する場合、被処理物の被処理面の全面にわたって処理速
度が均一であることが望まれる。ところが、真空容器内
に形成されたプラズマの密度分布が不均一であると、被
処理面における処理速度もまた不均一になってしまう。
例えば、被処理物が真空容器内の中央に配置され、プラ
ズマ生成部が被処理物の直上にあるような装置構成の場
合、真空容器の内部に形成されるプラズマの密度は、真
空容器内の中心部で高く、周辺部で低くなる傾向にあ
り、その結果、被処理物の中央部の処理速度が周辺部に
比べて速くなってしまう。
【0006】したがって、被処理物の被処理面を全面に
わたって均一に処理するためには、プラズマ中から被処
理物の被処理面に供給される活性種やイオンといった処
理に寄与する粒子の供給量が、被処理面の全面にわたっ
て均一であることが重要である。
【0007】本発明は、上述した事情を考慮してなされ
たものであって、被処理物の処理の面内均一性を向上さ
せることができるプラズマを発生させるプラズマ発生装
置及び同装置を備えたプラズマ処理装置を提供すること
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明によるプラズマ発生装置は、プラズマ発生領域
を内側に形成する円筒真空壁と、前記円筒真空壁の内周
面に沿って周設された円筒状の誘電体と、前記円筒真空
壁の外周面に接続されたマイクロ波導波管と、前記マイ
クロ波導波管により導かれたマイクロ波を前記円筒状の
誘電体を介して前記プラズマ発生領域に放射するために
前記マイクロ波導波管の内部空間と前記円筒状の誘電体
の外周面との間に形成された開口部と、を備えたことを
特徴とする。
【0009】また、好ましくは、前記円筒真空壁よりも
小径の内側円筒壁を前記円筒真空壁と同心に配置して前
記プラズマ発生領域を環状に形成する。
【0010】また、好ましくは、前記開口部は、前記円
筒状の誘電体の周方向に向かってマイクロ波電界が放射
されるように指向性を持たせたスロットアンテナ構造を
有する。
【0011】また、好ましくは、前記開口部を複数備
え、前記プラズマ発生領域に対して複数の方向からマイ
クロ波が放射される。
【0012】また、好ましくは、前記マイクロ波導波管
を複数備える。
【0013】また、好ましくは、複数の前記マイクロ波
導波管は前記円筒真空壁の周方向に沿って等角度間隔で
配置されている。
【0014】上記課題を解決するために、本発明は、プ
ロセスガスにマイクロ波を照射してプラズマを発生さ
せ、このプラズマを利用して被処理物を処理するように
したプラズマ処理装置において、上記いずれかのプラズ
マ発生装置と、前記プラズマ発生領域に連接する真空室
を内部に形成する真空容器と、前記真空室の内部に設け
られ、前記被処理物を保持するためのステージと、を備
えたことを特徴とする。
【0015】また、好ましくは、前記ステージに高周波
電力を印加するための手段をさらに有する。
【0016】
【発明の実施の形態】第1実施形態 以下、本発明の第1実施形態によるプラズマ処理装置に
ついて図1乃至図3を参照して説明する。
【0017】図1に示したように本実施形態によるプラ
ズマ処理装置は、内部に真空室7を形成する真空容器1
3と、この真空容器13の上部に形成されたプラズマ発
生装置14とを備えている。真空室7の内部には半導体
ウェハ等の被処理物10を保持するためのステージ11
が設けられ、このステージ11に接続された高周波バイ
アス電源12によってステージ11に高周波電力を印加
することができる。ステージ11にバイアスを印加する
ことにより、プラズマ中のイオンが被処理物10に入射
する際のエネルギーを制御することができる。真空容器
13の側壁には、真空室7の内部にプロセスガスを導入
するためのガス導入口8が形成されている。また、真空
容器13の底板には真空室7内を排気する排気口9が形
成されている。
【0018】図1及び図2に示したようにプラズマ発生
装置14は、プラズマ発生領域6を内側に形成する円筒
真空壁4を有し、円筒真空壁4の内周面に接して円筒状
の誘電体2が周設されている。円筒真空壁4の上面開口
は円盤状の天板15によって封止されている。円筒真空
壁4の外周面には一本のマイクロ波導波管1が接続され
ている。
【0019】図1乃至図3に示したようにマイクロ波導
波管1の内部空間と円筒状の誘電体2の外周面との間に
は一対の開口部3が形成されており、マイクロ波導波管
1により導かれたマイクロ波は、一対の開口部3から誘
電体2に向けて放射される。円筒状の誘電体2に沿って
環状に伝播したマイクロ波がプラズマ発生領域6に放射
され、プロセスガスがマイクロ波により励起されて環状
のプラズマが生成される。
【0020】ここで、開口部3は、電界放射方向の指向
性を高めるためにスロットアンテナ構造を有している。
より具体的には、開口部3は、円筒状の誘電体2の周方
向(マイクロ波導波管1の管軸に直交する方向)に向か
ってマイクロ波電界が放射されるように指向性を持たせ
るべく、円筒状の誘電体2の中心軸線に平行な方向に沿
って延設されたスロットアンテナ構造を有している。マ
イクロ波電界を円筒状の誘電体2の周方向に放射するこ
とにより、プラズマ発生領域6の内部に環状のプラズマ
を効率的に生成することができる。
【0021】開口部3により構成されるスロットアンテ
ナの長さは、マイクロ波導波管1内のマイクロ波の波長
の1/2以上であることが好ましい。例えば、マイクロ
波の周波数が2.45GHzで、マイクロ波導波管1の
内部寸法が27×96mmの場合、マイクロ波導波管1
の内部におけるマイクロ波の波長は約160mmとなる
ので、スロットアンテナの長さは80mm以上とし、こ
れにあわせて円筒状の誘電体2の高さも80mm以上と
することが好ましい。
【0022】以上述べたように本実施形態によれば、被
処理物10の上方に環状のプラズマを生成することがで
きるので、プラズマから被処理物10の被処理面に供給
される活性種やイオン等の粒子の供給量を被処理面の全
体にわたって均一にすることが可能であり、これによ
り、被処理物10の処理の面内均一性を向上させること
ができる。
【0023】第2実施形態 次に、本発明の第2実施形態によるプラズマ処理装置に
ついて図4及び図5を参照して説明する。なお、本実施
形態は上述した第1実施形態に構成を一部追加したもの
であり、以下では、第1実施形態と異なる部分について
説明する。
【0024】図4及び図5に示したように、円筒真空壁
4の外周面には一対のマイクロ波導波管1が接続されて
おり、これらのマイクロ波導波管1は円筒真空壁4の直
径線上に対向して配置されている。一対のマイクロ波導
波管1は、1本のマイクロ波導波管(図示せず)を途中
から分岐させて構成したものであり、1台のマイクロ波
発振源(図示せず)にて生成されたマイクロ波は1本の
マイクロ波導波管を通った後に一対のマイクロ波導波管
1に分岐される。なお、変形例としては、3本以上のマ
イクロ波導波管1を円筒真空壁4の周方向に沿って等角
度間隔で配置することもできる。
【0025】マイクロ波導波管1の内部空間と円筒状の
誘電体2の外周面との間には複数の開口部3が形成され
ており、マイクロ波導波管1により導かれたマイクロ波
(2.45GHz)は、複数の開口部3から誘電体2に
向けて放射され、誘電体2を介して環状のプラズマ発生
領域6に放射される。なお、開口部3の構造は上記第1
実施形態と同様である。
【0026】以上述べたように本実施形態によれば、上
記第1実施形態と同様に被処理物10の上方に環状のプ
ラズマを生成することができるので、プラズマから被処
理物10の被処理面に供給される活性種やイオン等の粒
子の供給量を被処理面の全体にわたって均一にすること
が可能であり、これにより、被処理物10の処理の面内
均一性を向上させることができる。
【0027】また、環状のプラズマ発生領域6に対して
複数の方向からマイクロ波を導入するようにしたので、
環状に生成されたプラズマの密度の均一性を高めること
ができる。
【0028】第3実施形態 次に、本発明の第3実施形態によるプラズマ処理装置に
ついて図6及び図7を参照して説明する。なお、本実施
形態は上述した第2実施形態に構成を一部追加したもの
であり、以下では、第2実施形態と異なる部分について
説明する。、図6及び図7に示したようにプラズマ発生
装置14は、互いに同心に配置されて環状のプラズマ発
生領域6をそれらの間に形成する円筒真空壁4及びこの
円筒真空壁4よりも小径の内側円筒壁5を有し、円筒真
空壁4の内周面に接して円筒状の誘電体2が周設されて
いる。円筒真空壁4及び内側円筒壁5の上端同士の間は
環状の天板15によって封止されている。そして、円筒
真空壁4及び内側円筒壁5のそれぞれの直径の値又はそ
れらの直径の比を適宜選択することにより、生成される
プラズマの密度分布を最適化することができる。
【0029】以上述べたように本実施形態によれば、上
記第1及び第2実施形態と同様に被処理物10の上方に
環状のプラズマを生成することができるので、プラズマ
から被処理物10の被処理面に供給される活性種やイオ
ン等の粒子の供給量を被処理面の全体にわたって均一に
することが可能であり、これにより、被処理物10の処
理の面内均一性を向上させることができる。
【0030】また、上記第2実施形態と同様に環状のプ
ラズマ発生領域6に対して複数の方向からマイクロ波を
導入するようにしたので、環状に生成されたプラズマの
密度の均一性を高めることができる。
【0031】さらに、円筒真空壁4及び内側円筒壁5の
それぞれの直径の値又はそれらの直径の比を適宜選択す
ることにより、生成されるプラズマの密度分布を最適化
することができる。
【0032】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、環状
のプラズマを生成することができるので、この環状のプ
ラズマを被処理物の上方にて生成することにより、プラ
ズマから被処理物の被処理面に供給される活性種やイオ
ン等の粒子の供給量を被処理面の全面にわたって均一に
することが可能であり、これにより、被処理物の処理の
面内均一性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態によるプラズマ処理装置
の概略構成を示した縦断面図。
【図2】図1のa−a’線に沿った横断面図。
【図3】図1に示したプラズマ処理装置の側面図。
【図4】本発明の第2実施形態によるプラズマ処理装置
の概略構成を示した縦断面図。
【図5】図4のa−a’線に沿った横断面図。
【図6】本発明の第3実施形態によるプラズマ処理装置
の概略構成を示した縦断面図。
【図7】図6のa−a’線に沿った横断面図。
【符号の説明】
1 マイクロ波導波管 2 円筒状の誘電体 3 開口部 4 円筒真空壁 5 内側円筒壁 6 プラズマ発生領域 7 真空室 8 ガス導入口 9 排気口 10 被処理物 11 ステージ 12 高周波バイアス電源 13 真空容器 14 プラズマ発生装置

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プラズマ発生領域を内側に形成する円筒真
    空壁と、 前記円筒真空壁の内周面に沿って周設された円筒状の誘
    電体と、 前記円筒真空壁の外周面に接続されたマイクロ波導波管
    と、 前記マイクロ波導波管により導かれたマイクロ波を前記
    円筒状の誘電体を介して前記プラズマ発生領域に放射す
    るために前記マイクロ波導波管の内部空間と前記円筒状
    の誘電体の外周面との間に形成された開口部と、を備え
    たことを特徴とするプラズマ発生装置。
  2. 【請求項2】前記円筒真空壁よりも小径の内側円筒壁を
    前記円筒真空壁と同心に配置して前記プラズマ発生領域
    を環状に形成したことを特徴とする請求項1記載のプラ
    ズマ発生装置。
  3. 【請求項3】前記開口部は、前記円筒状の誘電体の周方
    向に向かってマイクロ波電界が放射されるように指向性
    を持たせたスロットアンテナ構造を有することを特徴と
    する請求項1又は2に記載のプラズマ発生装置。
  4. 【請求項4】前記開口部を複数備え、前記プラズマ発生
    領域に対して複数の方向からマイクロ波が放射されるこ
    とを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の
    プラズマ発生装置。
  5. 【請求項5】前記マイクロ波導波管を複数備えたを特徴
    とする請求項4記載のプラズマ発生装置。
  6. 【請求項6】複数の前記マイクロ波導波管は前記円筒真
    空壁の周方向に沿って等角度間隔で配置されていること
    を特徴とする請求項5記載のプラズマ発生装置。
  7. 【請求項7】プロセスガスにマイクロ波を照射してプラ
    ズマを発生させ、このプラズマを利用して被処理物を処
    理するようにしたプラズマ処理装置において、 請求項1乃至6のいずれか一項に記載のプラズマ発生装
    置と、 前記プラズマ発生領域に連接する真空室を内部に形成す
    る真空容器と、 前記真空室の内部に設けられ、前記被処理物を保持する
    ためのステージと、を備えたことを特徴とするプラズマ
    処理装置。
  8. 【請求項8】前記ステージに高周波電力を印加するため
    の手段をさらに有することを特徴とする請求項7記載の
    プラズマ処理装置。
JP2000215617A 2000-07-17 2000-07-17 プラズマ発生装置及び同装置を備えたプラズマ処理装置 Withdrawn JP2002033307A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101512758B1 (ko) 2007-07-27 2015-04-16 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 제조방법
JPWO2016135899A1 (ja) * 2015-02-25 2017-12-07 国立大学法人大阪大学 マイクロ波プラズマ気相反応装置

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Effective date: 20071002