JP2002023082A - Optical scanning device - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect and correct the positional deviation of the subscanning direction of a beam with simple constitution. SOLUTION: In a position H1 where the beam is deviated in a +Y direction, deflection elements 10-1 and 10-2 are scanned. In a position H2 where the beam is not deviated positionally (within permitted range), reflection elements 10-1 and 10-3 are scanned. In a position H3 where the beam is deviated in one direction, the deflection elements 10-1 and 10-4 are scanned. When the position of the beam in the subscanning direction is deviated, a signal generated in a light receiving element 10-5 differs and the positional deviation of the subscanning direction Y is detected based on the signal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光走査ビームの副
走査方向の位置ずれを検出して補正する光走査装置に関
し、例えばプリンタ、複写機、ファクシミリにおいてレ
ーザーダイオードスキャンを用いて画像を形成する場合
に好適な光走査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device for detecting and correcting positional deviation of an optical scanning beam in a sub-scanning direction, and forms an image using laser diode scanning in a printer, a copying machine, or a facsimile. An optical scanning device suitable for the case.

【０００２】[0002]

【従来の技術】一般に、画像形成装置に使用されている
レーザダイオードスキャン方式の書き込み装置では、ビ
ームの走査光路長の変動や折り返しミラーの角度の変動
により、副走査方向の走査ビーム位置が変動することが
知られている。また、近年では、画像成形能力を向上さ
せるために、複数のビームを同じ経路で偏向して走査す
るマルチビーム化が進み、このため、ビームの副走査方
向の位置ずれを検出して補正する技術がさらに必要とな
っている。2. Description of the Related Art In general, in a laser diode scanning type writing apparatus used in an image forming apparatus, a scanning beam position in a sub-scanning direction fluctuates due to a fluctuation of a scanning optical path length of a beam and a fluctuation of an angle of a return mirror. It is known. In recent years, in order to improve the image forming ability, a multi-beam system in which a plurality of beams are deflected and scanned on the same path has been advanced. For this reason, a technology for detecting and correcting positional deviation of the beams in the sub-scanning direction has been developed. Is needed further.

【０００３】この副走査方向の位置ずれ検出及び補正の
従来例としては、例えば次のような方法が提案されてい
る。As a conventional example of the detection and correction of the displacement in the sub-scanning direction, for example, the following method has been proposed.

【０００４】（１）特開平１０−９０６１６号公報：複
数の光センサ、例えば三角形状の光センサを用いてマル
チビームのピッチを検出してこれを補正する。(1) JP-A-10-90616: A plurality of optical sensors, for example, a triangular optical sensor, are used to detect and correct the pitch of a multi-beam.

【０００５】（２）特開平９−１８９８７３号公報：複
数の光センサを用いてビームピッチを検出してこれを補
正する。(2) JP-A-9-189873: Detecting a beam pitch using a plurality of optical sensors and correcting it.

【０００６】（３）特開平７−７４８９７号公報：光セ
ンサや温度センサで主走査倍率を検出してこれを補正す
る。(3) JP-A-7-74897: A main scanning magnification is detected by an optical sensor or a temperature sensor and corrected.

【０００７】（４）特開平１０−９０６１３号公報：複
数の光センサを用いてビームピッチを検出してこれを補
正する。(4) JP-A-10-90613: A plurality of optical sensors are used to detect and correct a beam pitch.

【０００８】（５）特開平１０−２５０１４８号公報：
光センサとスリットを用いてビームピッチを検出してこ
れを補正する。(5) JP-A-10-250148:
The beam pitch is detected and corrected using the optical sensor and the slit.

【０００９】（６）特開平１１−１２９５３０号公報：
２つの光センサあるいは台形状の光センサを用いてピー
ム位置を検出したり、ビームを識別したり、ビームの同
期を検出したり、ピッチを補正したり、副走査位置を検
出する。(6) JP-A-11-129530:
A beam position is detected, a beam is identified, beam synchronization is detected, a pitch is corrected, and a sub-scanning position is detected using two optical sensors or trapezoidal optical sensors.

【００１０】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例における位置ずれ検出センサは、いずれも構造が複
雑であり、簡単な構成の位置ズレ検出センサが望まれて
いた。However, each of the above-described conventional positional deviation detecting sensors has a complicated structure, and a positional deviation detecting sensor having a simple configuration has been desired.

【００１１】本発明は上記従来例の問題点に鑑み、簡単
な構成でビームの副走査方向の位置ずれを検出して補正
することができる光走査装置を提供することを目的とす
る。An object of the present invention is to provide an optical scanning device capable of detecting and correcting positional deviation of a beam in the sub-scanning direction with a simple configuration in view of the problems of the above-described conventional example.

【００１２】[0012]

【課題を解決するための手段】第１の手段は上記目的を
達成するために、光走査ビームの副走査方向の位置ずれ
を検出して補正する光走査装置において、受光面が副走
査方向に直線状に形成された受光素子と、主走査方向及
び副走査方向に対して斜めに配置され、前記光走査ビー
ムを前記受光素子の方向に偏向する複数の偏向素子と、
主走査方向の基準時点から前記受光素子が前記光走査ビ
ームを受光するまでの時間に基づいて光走査ビームの副
走査方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、前
記位置ずれ検出手段により検出された位置ずれを補正す
る位置ずれ補正手段とを備えたことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical scanning device for detecting and correcting a positional shift of an optical scanning beam in a sub-scanning direction. A light receiving element formed linearly, and a plurality of deflecting elements that are arranged obliquely with respect to the main scanning direction and the sub-scanning direction and deflect the light scanning beam in the direction of the light receiving element,
A displacement detection unit for detecting a displacement of the optical scanning beam in the sub-scanning direction based on a time from a reference time in the main scanning direction to a time when the light receiving element receives the optical scanning beam; And a position shift correcting unit for correcting the set position shift.

【００１３】第２の手段は上記目的を達成するために、
光走査ビームの副走査方向の位置ずれを検出して補正す
る光走査装置において、受光面が副走査方向に直線状に
形成された受光素子と、前記光走査ビームを前記受光素
子の方向に偏向する凹面形状の偏向素子と、前記偏向素
子の偏向面が主走査方向及び副走査方向に対して斜めに
なるように前記光走査ビームを遮蔽する遮蔽手段と、主
走査方向の基準時点から前記受光素子が前記光走査ビー
ムを受光するまでの時間に基づいて光走査ビームの副走
査方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、前記
位置ずれ検出手段により検出された位置ずれを補正する
位置ずれ補正手段とを備えたことを特徴とする。The second means is to achieve the above object,
In an optical scanning device for detecting and correcting a displacement of an optical scanning beam in a sub-scanning direction, a light receiving element having a light receiving surface formed linearly in the sub scanning direction and deflecting the optical scanning beam in the direction of the light receiving element. A deflecting element having a concave surface, a shielding means for shielding the optical scanning beam so that a deflecting surface of the deflecting element is inclined with respect to the main scanning direction and the sub-scanning direction, and the light receiving means from a reference point in the main scanning direction. Displacement detection means for detecting a displacement in the sub-scanning direction of the light scanning beam based on a time until the element receives the light scanning beam, and displacement for correcting the displacement detected by the displacement detection means Correction means.

【００１４】第３の手段は、第１または第２の手段にお
いて、偏向面が副走査方向に直線状に形成された１つの
偏向素子を更に備え、前記１つの偏向素子により偏向さ
れた前記光走査ビームを前記受光素子が受光した時点が
前記主走査方向の基準時点であることを特徴とする。[0014] The third means is the first or second means, further comprising one deflecting element having a deflecting surface formed linearly in the sub-scanning direction, and the light deflected by the one deflecting element. The time point when the light receiving element receives the scanning beam is a reference time point in the main scanning direction.

【００１５】第４の手段は、第２の手段において、前記
遮蔽素子がさらに、偏向面が副走査方向に直線状になる
ように前記光走査ビームを遮蔽し、前記偏向面により偏
向された前記光走査ビームを前記受光素子が受光した時
点が前記主走査方向の基準時点であることを特徴とす
る。A fourth means is the second means, wherein the shielding element further shields the optical scanning beam so that the deflecting surface is linear in the sub-scanning direction, and is deflected by the deflecting surface. The time when the light receiving element receives the light scanning beam is a reference time in the main scanning direction.

【００１６】第５の手段は、第１ないし第４の手段にお
いて、前記位置ずれ補正手段が、前記光走査ビームを発
生する光源の副走査方向の位置を補正することを特徴と
する。According to a fifth aspect of the present invention, in the first to the fourth means, the displacement correcting means corrects the position of the light source for generating the light scanning beam in the sub-scanning direction.

【００１７】第６の手段は、第１ないし第４の手段にお
いて、前記位置ずれ補正手段が、画像データのラインの
副走査方向の位置を補正することを特徴とする。According to a sixth aspect, in the first to fourth aspects, the displacement correcting means corrects the position of the image data line in the sub-scanning direction.

【００１８】[0018]

【発明の実施の形態】＜第１の実施形態＞以下、図面を
参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は
本発明に係る光走査装置の一実施形態を示す構成図、図
２は図１のＬＤユニットを詳しく示す構成図、図３は図
１のＰＤユニットを詳しく示す構成図、図４は図１のビ
ーム検出ユニットを詳しく示す構成図、図５は図４のビ
ーム検出ユニットの変形例を示す構成図、図６は図５の
ビーム検出ユニットを示す上面図、図７は図５の偏向素
子の正面とビーム位置ずれを示す図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS <First Embodiment> An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the optical scanning device according to the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram showing the LD unit in FIG. 1 in detail, FIG. 3 is a configuration diagram showing the PD unit in FIG. 1 in detail, and FIG. FIG. 5 is a configuration diagram showing the beam detection unit of FIG. 1 in detail, FIG. 5 is a configuration diagram showing a modification of the beam detection unit of FIG. 4, FIG. 6 is a top view showing the beam detection unit of FIG. FIG. 3 is a diagram showing a beam position shift from the front of the element.

【００１９】図１に示す光走査ユニットは、発光源であ
るレーザーダイオード（以下ＬＤという）ユニット１か
ら出射されるビーム光をシリンダレンズ２、ポリゴンス
キャナ３、ｆθレンズ４、折り返しミラー５を経て光走
査対象物６の一定領域を主走査方向Ｘに走査する。この
とき光走査対象物６は副走査方向Ｙに回転する。また、
このビームは主走査方向Ｘの走査開始側と走査終了側で
それぞれミラー７、８により反射され、主走査同期検出
のためのフォトディテクト（以下ＰＤという）ユニット
９と、副走査方向のビーム位置ずれ検出のためのビーム
検出ユニット１０により検出される。In the optical scanning unit shown in FIG. 1, a light beam emitted from a laser diode (hereinafter referred to as LD) unit 1, which is a light emitting source, is transmitted through a cylinder lens 2, a polygon scanner 3, an fθ lens 4, and a folding mirror 5. A predetermined area of the scanning target 6 is scanned in the main scanning direction X. At this time, the optical scanning object 6 rotates in the sub-scanning direction Y. Also,
This beam is reflected by the mirrors 7 and 8 on the scanning start side and the scanning end side in the main scanning direction X, respectively, and is shifted from the photodetector (hereinafter referred to as PD) unit 9 for main scanning synchronization detection in the sub-scanning direction. It is detected by a beam detection unit 10 for detection.

【００２０】ＬＤユニット１は図２に詳しく示すよう
に、バックビームをモニタすることにより安定した出力
を行う半導体ダイオード１−１と，半導体ダイオード１
−１の拡散光を平行光にするコリメートレンズ１−２
と，ビーム形状を整形するアバーチャ１−３を有し、ま
た、プリント基板１−４上に実装されている。As shown in detail in FIG. 2, the LD unit 1 includes a semiconductor diode 1-1 for performing a stable output by monitoring the back beam, and a semiconductor diode 1-1.
Collimator lens 1-2 that converts -1 diffused light into parallel light
And an aperture 1-3 for shaping the beam shape, and are mounted on a printed circuit board 1-4.

【００２１】ここで、図１に示す光走査ユニットは、走
査ビームの主走査領域の先端部と後端のビーム光がそれ
ぞれＰＤユニット９とビーム検出ユニット１０を走査す
るように構成されている。ＰＤユニット９は図２に詳し
く示すように、受光面が主走査方向Ｘに一定幅であって
副走査方向Ｙに直線状の受光素子を有し、受光素子には
ビームを受光することにより電気信号を出力する半導体
フォトセンサ９−１を用いている。なお、半導体フォト
センサ９−１はプリント基板９−２に実装され、プリン
ト基板９−２はブラケット９−３に取り付けられてい
る。Here, the optical scanning unit shown in FIG. 1 is configured so that the light beams at the leading end and the trailing end of the main scanning area of the scanning beam scan the PD unit 9 and the beam detecting unit 10, respectively. As shown in detail in FIG. 2, the PD unit 9 has a light receiving surface having a constant width in the main scanning direction X and a linear light receiving element in the sub-scanning direction Y. The semiconductor photosensor 9-1 that outputs a signal is used. The semiconductor photosensor 9-1 is mounted on a printed board 9-2, and the printed board 9-2 is mounted on a bracket 9-3.

【００２２】ビーム検出ユニット１０は図４に詳しく示
すように、複数の偏向素子１０−１〜１０−４と、受光
面が主走査方向Ｘに一定幅であって副走査方向Ｙに直線
状の受光素子１０−５を有する。偏向素子１０−１〜１
０−４はブラケット１０−６に取り付けられ、受光素子
１０−５はプリント基板１０−７を介してブラケット１
０−６に取り付けられている。この実施形態では、ビー
ム検出ユニット１０に使用されている受光素子１０−５
として、フォトディテクタに使用されるフォトセンサを
用い、また、偏向素子１０−１〜１０−４としてミラー
を用いる。ビーム検出ユニット１０の別の構成例とし
て，偏向素子１０−１を省略した構成（１０’）を図５
に示す。As shown in detail in FIG. 4, the beam detecting unit 10 includes a plurality of deflection elements 10-1 to 10-4 and a light receiving surface having a constant width in the main scanning direction X and a linear shape in the sub scanning direction Y. It has a light receiving element 10-5. Deflection elements 10-1 to 1
0-4 is mounted on a bracket 10-6, and the light receiving element 10-5 is mounted on the bracket 1 via a printed circuit board 10-7.
Attached to 0-6. In this embodiment, the light receiving element 10-5 used in the beam detection unit 10 is used.
A photosensor used for a photodetector is used, and a mirror is used as the deflecting elements 10-1 to 10-4. As another configuration example of the beam detection unit 10, a configuration (10 ′) in which the deflection element 10-1 is omitted is shown in FIG.
Shown in

【００２３】図４に示すビーム検出ユニット１０につい
てさらに詳しく説明する。図６は図４に示すビーム検出
ユニット１０の上面図、図７（ａ）は正面図、図７
（ｂ）は受光素子１０−５の出力信号波形図である。偏
向素子１０−１の偏向面は主走査方向Ｘの基準位置検出
用であって副走査方向Ｙに細長く形成され、偏向素子１
０−２〜１０−４の偏向面は偏向素子１０−１に対して
斜めに配置されている。The beam detecting unit 10 shown in FIG. 4 will be described in more detail. FIG. 6 is a top view of the beam detection unit 10 shown in FIG. 4, FIG.
(B) is an output signal waveform diagram of the light receiving element 10-5. The deflecting surface of the deflecting element 10-1 is for detecting a reference position in the main scanning direction X and is formed to be elongated in the sub-scanning direction Y.
The deflection surfaces 0-2 to 10-4 are arranged obliquely with respect to the deflection element 10-1.

【００２４】図６は走査ビームが主走査方向Ｘに走査す
る場合に、偏向素子１０−１、１０−２、１０−３、１
０−４をそれぞれ走査するときのビーム位置Ａ、Ｂ、
Ｃ、Ｄを示している。図７（ａ）はビームが＋Ｙ方向に
ずれている位置Ｈ１では偏向素子１０−１、１０−２を
走査することを示し、位置ずれなし（許容範囲内）の位
置Ｈ２では偏向素子１０−１、１０−３を走査すること
を示し、ビームが−方向にずれている位置Ｈ３では偏向
素子１０−１、１０−４を走査することを示している。FIG. 6 shows that when the scanning beam scans in the main scanning direction X, the deflection elements 10-1, 10-2, 10-3, 1
Beam positions A, B, when scanning 0-4, respectively.
C and D are shown. FIG. 7A shows that the deflection elements 10-1 and 10-2 scan at the position H1 where the beam is shifted in the + Y direction, and the deflection element 10-1 at the position H2 where the beam is not shifted (within the allowable range). , 10-3, and scanning the deflection elements 10-1, 10-4 at the position H3 where the beam is shifted in the negative direction.

【００２５】したがって、副走査方向Ｙのビーム位置が
ずれると、それに伴ってビームが走査する偏向素子１０
−２〜１０−４が異なると共に、これにより受光素子１
０−５に発生する信号が図７（ｂ）に示すように異なる
ことになる。このため、１つの受光素子１０−５と偏向
素子群１０−１〜１０−４というシンプルな構成による
ビーム検出ユニットにより，副走査方向Ｙの位置の変化
を電気的に検出することができる。このため、ビーム検
出ユニット１０の小型化が容易である。なお、図５に示
す変形例のように、主走査方向Ｘの基準位置検出用の偏
向素子１０−１を省略する構成では、他の主走査方向Ｘ
の基準信号、例えばＰＤユニット９の主走査同期検知信
号を用いればよい。Therefore, when the beam position is shifted in the sub-scanning direction Y, the deflection element 10 which the beam scans accordingly.
−2 to 10-4, and the light receiving element 1
The signals generated at 0-5 differ as shown in FIG. 7 (b). Therefore, a change in the position in the sub-scanning direction Y can be electrically detected by a beam detection unit having a simple configuration including one light receiving element 10-5 and a deflection element group 10-1 to 10-4. Therefore, the size of the beam detection unit 10 can be easily reduced. In a configuration in which the deflection element 10-1 for detecting the reference position in the main scanning direction X is omitted as in the modification shown in FIG.
, For example, the main scanning synchronization detection signal of the PD unit 9 may be used.

【００２６】＜第２の実施形態＞次に図８〜図１１を参
照して第２の実施形態のビーム検出ユニット１０ａにつ
いて説明する。光走査ユニットは第１の実施形態の構成
と同じであり、内部構成ユニットであるＬＤユニット
１、ＰＤユニット９も同じ構成である。図８に示すビー
ム検出ユニット１０ａは、第１の実施形態の構成と同じ
偏向素子１０−１及び受光素子１０−５を有し、さらに
矩形及び凹面形状の偏向素子１０−８と、偏向素子１０
−８の偏向面が斜めになるようにその光路を規定する遮
へい素子１０−９で構成されている。また、第１の実施
形態と同様に走査ビームが偏向素子１０−１を走査した
後、遮へい素子１０−９と偏向素子１０−８を通して受
光素子１０−５に走査するように配置されている。<Second Embodiment> Next, a beam detection unit 10a according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. The optical scanning unit has the same configuration as that of the first embodiment, and the LD unit 1 and the PD unit 9, which are internal components, have the same configuration. The beam detecting unit 10a shown in FIG. 8 has the same deflecting element 10-1 and light receiving element 10-5 as those in the first embodiment, and further includes a rectangular and concave deflecting element 10-8 and a deflecting element 10-5.
It is configured by a shielding element 10-9 for defining an optical path so that the -8 deflection surface is oblique. Similarly to the first embodiment, the scanning beam scans the deflecting element 10-1 and then scans the light receiving element 10-5 through the shielding element 10-9 and the deflecting element 10-8.

【００２７】遮へい素子１０−９は偏向素子１０−８の
凹面表面に貼り合わさった状態や塗装された状態でも良
く、遮へいする替わりに凹面表面の必要偏向部分のみ偏
向状態に加工された凹面体を備える構成であっても良
い。別の構成例として、偏向素子１０−１を省略したビ
ーム検出ユニット１０ａ’を図９に示す。The shielding element 10-9 may be attached to the concave surface of the deflecting element 10-8 or may be painted. Instead of shielding, a concave body processed into a deflected state only at a necessary deflecting portion of the concave surface is used. A configuration may be provided. As another configuration example, FIG. 9 illustrates a beam detection unit 10a ′ in which the deflection element 10-1 is omitted.

【００２８】図１０は走査ビームが主走査方向Ｘに走査
する場合に、偏向素子１０−１を走査するときのビーム
位置Ａと、遮へい素子１０−９を偏向素子１０−８を介
して走査するときの徐々に遠くなるビーム位置Ｂ、Ｃ、
Ｄを示している。図１１（ａ）はビームが＋Ｙ方向にず
れている位置Ｈ１では偏向素子１０−１と、偏向素子１
０−８の内、偏向素子１０−１から最も遠い位置Ｄを走
査ことを示し、位置ずれなし（許容範囲内）の位置Ｈ２
では偏向素子１０−１と、偏向素子１０−８の内、偏向
素子１０−１から中間位置Ｃを走査ことを示し、ビーム
が−方向にずれている位置Ｈ３では偏向素子１０−１
と、偏向素子１０−８の内、偏向素子１０−１から最も
近い位置Ｂを走査することを示している。FIG. 10 shows that when the scanning beam scans in the main scanning direction X, the beam position A when scanning the deflection element 10-1 and the shielding element 10-9 are scanned via the deflection element 10-8. The beam positions B, C,
D is shown. FIG. 11A shows that the deflection element 10-1 and the deflection element 1 are located at a position H1 where the beam is shifted in the + Y direction.
0-8 indicates that scanning is performed at the position D farthest from the deflection element 10-1, and the position H2 without any displacement (within the allowable range).
Indicates that scanning is performed at an intermediate position C from the deflecting element 10-1 of the deflecting element 10-1 and the deflecting element 10-8. At the position H3 where the beam is shifted in the negative direction, the deflecting element 10-1 is scanned.
Indicates that scanning is performed at the position B closest to the deflection element 10-1 among the deflection elements 10-8.

【００２９】したがって、副走査方向Ｙのビーム位置が
変化すると、それに伴ってビームが走査する偏向素子１
０−８の位置Ｂ〜Ｄが異なるので、受光素子１０−５に
発生する信号が図１１（ｂ）に示すように異なることに
なる。このため、１つの受光素子１０−５と、２つの偏
向素子１０−１、１０−８と１つの遮へい素子１０−９
というシンプルな構成によるビーム検出ユニット１０ａ
により、副走査方向の位置の変化を精度良く電気的に検
出することができる。また、構成例に示したように遮へ
い素子１０−９は偏向素子１０−８に組み込みやすい。
このため、ビーム検出ユニットの小型化が容易であると
共に簡素化が容易である。Therefore, when the beam position in the sub-scanning direction Y changes, the deflection element 1 that the beam scans accordingly.
Since the positions B to D of 0-8 are different, the signals generated in the light receiving element 10-5 are different as shown in FIG. Therefore, one light receiving element 10-5, two deflection elements 10-1 and 10-8, and one shielding element 10-9 are provided.
Beam detection unit 10a with a simple configuration
Accordingly, a change in the position in the sub-scanning direction can be accurately and electrically detected. Further, as shown in the configuration example, the shielding element 10-9 can be easily incorporated into the deflection element 10-8.
Therefore, the beam detection unit can be easily reduced in size and simplified.

【００３０】＜第３の実施形態＞次に図１２〜図１４を
参照して第３の実施形態のビーム検出ユニット１０ｂに
ついて説明する。光走査ユニットは第１の実施形態の構
成と同じであり、内部構成ユニットであるＬＤユニット
１、ＰＤユニット９も同じ構成である。図１２に示すビ
ーム検出ユニット１０ｂは、第１の実施形態の構成と同
じ受光素子１０−５を有し、さらに矩形及び凹面形状の
偏向素子１０−８ａと、偏向素子１０−８ａの偏向面が
副走査方向に直線状の基準領域と斜め領域になるように
その光路を規定する遮へい素子１０−９ａで構成されて
いる。<Third Embodiment> Next, a beam detecting unit 10b according to a third embodiment will be described with reference to FIGS. The optical scanning unit has the same configuration as that of the first embodiment, and the LD unit 1 and the PD unit 9, which are internal components, have the same configuration. The beam detection unit 10b illustrated in FIG. 12 has the same light receiving element 10-5 as the configuration of the first embodiment, and further includes a rectangular and concave deflecting element 10-8a and a deflecting surface of the deflecting element 10-8a. It is composed of a shielding element 10-9a that defines an optical path so as to form a linear reference area and an oblique area in the sub-scanning direction.

【００３１】図１３は走査ビームが遮へい素子１０−９
ａを介して主走査方向Ｘに走査する場合に、基準領域を
走査するときのビーム位置Ａと、ビーム位置Ａから走査
するときに徐々に遠くなるビーム位置Ｂ、Ｃ、Ｄを示し
ている。図１４（ａ）はビームが＋Ｙ方向にずれている
位置Ｈ１では基準位置Ａと最も遠い位置Ｄを走査するこ
とを示し、位置ずれなし（許容範囲内）の位置Ｈ２では
基準位置Ａと中間位置Ｃを走査することを示し、ビーム
が−方向にずれている位置Ｈ３では基準位置Ａと最も近
い位置Ｂを走査することを示している。FIG. 13 shows that the scanning beam is blocked by the shielding element 10-9.
When scanning in the main scanning direction X through “a”, a beam position A when scanning the reference region and beam positions B, C, and D that gradually become farther when scanning from the beam position A are shown. FIG. 14A shows that the beam is scanned at the position D farthest from the reference position A at the position H1 where the beam is displaced in the + Y direction, and at the reference position A and the intermediate position at the position H2 where the beam is not displaced (within the allowable range). C indicates that scanning is performed, and at a position H3 where the beam is shifted in the negative direction, scanning is performed at a position B closest to the reference position A.

【００３２】したがって、副走査方向Ｙのビーム位置が
変化すると、それに伴ってビームが走査する位置Ｂ〜Ｄ
が異なるので、受光素子に発生する信号が図１４（ｂ）
に示すようにことなることになる。このため、１つの受
光素子１０−５と、１つの偏向素子１０−８ａと１つの
遮へい素子１０−９ａというシンプルな構成によるビー
ム検出ユニット１０ｃにより，副走査方向の位置の変化
を電気的に検出することができる。また、構成例に示し
たように遮へい素子１０−９ａは偏向素子１０−８ａに
組み込みやすい。このため、ビーム検出ユニットの小型
化が容易であると共に簡素化が容易である。Therefore, when the beam position in the sub-scanning direction Y changes, the beam scanning positions B to D change accordingly.
Are different from each other, the signal generated in the light receiving element is changed as shown in FIG.
Will be different. Therefore, a change in the position in the sub-scanning direction is electrically detected by the beam detection unit 10c having a simple configuration of one light receiving element 10-5, one deflecting element 10-8a, and one shielding element 10-9a. can do. Further, as shown in the configuration example, the shielding element 10-9a can be easily incorporated into the deflection element 10-8a. Therefore, the beam detection unit can be easily reduced in size and simplified.

【００３３】＜ビーム位置ずれ検出＞次に図１５を参照
してビーム位置ずれ検出装置２０について説明する。図
１５において、上記のビーム検出ユニット１０（又は１
０ａ、１０ｂ）の受光素子１０−５から出力される電気
信号は、ゲート２１を介してカウンタ回路２２に印加さ
れる。カウンタ回路２２は上記の基準位置Ａから位置ず
れ検出位置Ｂ〜Ｄまで基準クロック２３をカウントす
る。マイクロコンピュータ２４は図１６に示すように、
このカウント値に基づいて走査ビームが副走査方向Ｙの
どの位置にあるかを判断する。なお、カウンタ回路２２
はマイクロコンピュータ２４に組み込まれた構成でもよ
い。<Detection of Beam Position Deviation> Next, the beam position deviation detection device 20 will be described with reference to FIG. In FIG. 15, the beam detection unit 10 (or 1
The electrical signal output from the light receiving element 10-5 of (0a, 10b) is applied to the counter circuit 22 via the gate 21. The counter circuit 22 counts the reference clock 23 from the reference position A to the position shift detection positions B to D. The microcomputer 24 includes, as shown in FIG.
Based on the count value, it is determined at which position in the sub-scanning direction Y the scanning beam is located. Note that the counter circuit 22
May be built in the microcomputer 24.

【００３４】図１６において、まず、取り込み回数ｎを
初期化し（ｎ＝０）、次いでゲート２１に対するマスク
信号をロウ（マスク解除）にして受光素子１０−５から
の信号の取り込みを開始する（ステップＳ１）、次いで
ゲート２１の出力信号から基準位置Ａの検出信号を検出
するとステップＳ２からステップＳ３に進み、次いでゲ
ート２１の出力信号から位置ずれ検出位置Ｂ〜Ｄの検出
信号を検出するとステップＳ３からステップＳ４に進
み、マスク信号をハイにする。Referring to FIG. 16, first, the number of times of capturing n is initialized (n = 0), and then the mask signal for the gate 21 is set to low (unmasked) to start capturing signals from the light receiving element 10-5 (step). S1) Then, when the detection signal of the reference position A is detected from the output signal of the gate 21, the process proceeds from step S2 to step S3, and when the detection signals of the displacement detection positions BD are detected from the output signal of the gate 21, the process proceeds from step S3. Proceeding to step S4, the mask signal is set to high.

【００３５】次いでカウンタ回路２２のカウント値Ｄｎ
を取り込むとともに取り込み回数ｎをインクリメントし
（ステップＳ５）、次いでこのカウント値Ｄｎが異常値
か否かを判断する（ステップＳ６）。そして、異常値の
場合には取り込み回数ｎをデクリメントし（ステップＳ
７）、次いでステップＳ１に戻って再取り込みを行う。
なお、取り込み回数ｎは、求める算出精度と算出時間の
制約により異なるが、定常状態の６面ポリゴン走査装置
においてはｎ＝約３０である。Next, the count value Dn of the counter circuit 22
And the number n of times of taking is incremented (step S5), and it is determined whether or not the count value Dn is an abnormal value (step S6). Then, in the case of an abnormal value, the number of captures n is decremented (step S).
7) Then, the process returns to step S1 to perform re-capture.
Note that the number n of times of capturing differs depending on the required calculation accuracy and the restriction of the calculation time, but n = about 30 in the six-plane polygon scanning device in the steady state.

【００３６】他方、異常値でない場合にはカウント値Ｄ
ｎを累積値ＤTに加算し（ステップＳ８）、次いで所定
の取り込み回数に達するまで取り込みを繰り返す（ステ
ップＳ９→Ｓ１）。次いで所定の取り込み回数に達する
と、ステップＳ１０においてＤＨ２min＞累積値ＤTの場
合にはビームが−方向にずれている位置Ｈ３と判断し、
ＤＨ２max＜累積値ＤTの場合にはビームが＋Ｙ方向にず
れている位置Ｈ１と判断し、それ以外の場合に位置ずれ
なし（許容範囲内）の位置Ｈ２と判断する。On the other hand, if it is not an abnormal value, the count value D
n is added to the accumulated value DT (step S8), and the acquisition is repeated until the predetermined number of acquisitions is reached (step S9 → S1). Next, when a predetermined number of times of capturing is reached, in step S10, if DH2min> accumulated value DT, it is determined that the beam is shifted to the position H3 in the negative direction,
If DH2max <accumulated value DT, it is determined that the position H1 is a position where the beam is displaced in the + Y direction, and otherwise, it is determined that the position is H2 where there is no position displacement (within the allowable range).

【００３７】図１７は図１６の変形例を示し、ステップ
Ｓ１０ａのみが異なる。このステップＳ１０ａでは、図
１６のように位置ずれを３段階（位置Ｈ１、Ｈ２、Ｈ
３）で検出するのではなく、位置ずれＨそのものを以下
のように検出するように構成されている。FIG. 17 shows a modification of FIG. 16 except for step S10a. In this step S10a, as shown in FIG. 16, the position shift is performed in three stages (positions H1, H2, H
Instead of detecting in 3), the position deviation H itself is detected as follows.

【００３８】Ｈ＝｛（ＤT／ｎ）×（走査速度／クロッ
ク周波数）−定数｝×係数 以上のように、ビーム検出ユニット１０（又は１０ａ、
１０ｂ）から出力される電気信号をカウンタ回路２２と
マイクロコンピュータ２４などで構成される情報処理部
に印加することにより、光走査ビームの副走査方向Ｙの
位置ずれを検出することができ、また、マイクロコンピ
ュータ２４の処理能力も高速な処理を伴うものではない
ので、光走査ビームの副走査方向Ｙの位置検出のための
カウント値を取り込むためのＩ／Ｏポートを確保するこ
とにより、他の機能用のマイクロコンピュータに容易に
追加することができる。H = {(DT / n) × (scanning speed / clock frequency) −constant} × coefficient As described above, the beam detection unit 10 (or 10a,
By applying the electric signal output from 10b) to the information processing unit including the counter circuit 22 and the microcomputer 24, the displacement of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y can be detected. Since the processing capability of the microcomputer 24 does not involve high-speed processing, other functions are secured by securing an I / O port for taking in a count value for detecting the position of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y. Can be easily added to the microcomputer.

【００３９】＜ビーム補正１＞このように検出された位
置ずれＨに基づいて位置ずれがないように補正する方法
としては、発光源であるＬＤユニット１の高さ（副走査
方向Ｙの位置）を変更したり、光路中の折り返しミラー
５の傾きや位置を変更したり、様々な方法が可能であ
る。図１８はビーム補正装置の一例として、ステッピン
グモータＭを用いてＬＤユニット１の高さを変更する装
置を示す。ＬＤユニット１は回転可能なサポート１ａに
より支持され、ステッピングモータＭが回転するとサポ
ート１ａが回転して副走査方向Ｙの位置が調整可能であ
る。<Beam Correction 1> As a method of correcting a position shift based on the position shift H detected as described above, the height (position in the sub-scanning direction Y) of the LD unit 1 as a light emitting source is used. And various methods are possible such as changing the inclination and the position of the return mirror 5 in the optical path. FIG. 18 shows an apparatus for changing the height of the LD unit 1 using a stepping motor M as an example of a beam correction apparatus. The LD unit 1 is supported by a rotatable support 1a. When the stepping motor M rotates, the support 1a rotates to adjust the position in the sub-scanning direction Y.

【００４０】ステッピングモータＭは２相励磁方式であ
り、マイクロコンピュータ２４からモータドライバＩＣ
２５にクロックを入力することによりクロック分ステッ
プ状に回転する。また、正逆のコントロールも可能であ
る。ＬＤユニット１のホームポジション検知はインタラ
プト型のフォトセンサ２６により行われ、ＬＤユニット
１がホームポジションに位置するとフォトセンサ２６に
ＬＥＤ光が入射してホームポジション検知信号をマイク
ロコンピュータ２４に出力する。The stepping motor M is of a two-phase excitation type.
By inputting a clock to the clock 25, the motor 25 is rotated stepwise by the clock. In addition, forward / reverse control is also possible. The home position of the LD unit 1 is detected by an interrupt type photo sensor 26. When the LD unit 1 is located at the home position, LED light is incident on the photo sensor 26 and a home position detection signal is output to the microcomputer 24.

【００４１】マイクロコンピュータ２４は図１８に示す
ように、まず、ホームポジション検知信号が入力してい
なければステッピングモータＭを１ステップづつ逆転し
てＬＤユニット１に移動させる（ステップＳ２１、Ｓ２
２）。ホームポジション検知信号が入力するとステッピ
ングモータＭをイニシャル位置までステップ正転し（ス
テップＳ２１→Ｓ２３）、次いでＬＤユニット１を点灯
して図１７に示すビーム検出をスタートし（ステップＳ
２４）、次いでビーム検出を終了してＬＤユニット１を
消灯する（ステップＳ２５）。これにより、位置ずれＨ
が検出される。As shown in FIG. 18, the microcomputer 24 first reverses the stepping motor M by one step and moves it to the LD unit 1 unless the home position detection signal is input (steps S21 and S2).
2). When the home position detection signal is input, the stepping motor M is stepwise rotated to the initial position (steps S21 → S23), then the LD unit 1 is turned on to start the beam detection shown in FIG.
24) Then, the beam detection is terminated and the LD unit 1 is turned off (step S25). As a result, the displacement H
Is detected.

【００４２】次いでＨ＞Ｈ目標maxの場合にはステッピ
ングモータＭの位置がＬＤユニット１の下限位置か否か
を判断し（ステップＳ２６→Ｓ２７）、下限位置でなけ
ればステッピングモータＭを１ステップ逆転し（ステッ
プＳ２７→Ｓ２８）、次いでステップＳ２４に戻って再
度、位置ずれＨを検出する。下限位置であれば異常終了
する（ステップＳ２７→Ｓ３２）。また、Ｈ＜Ｈ目標mi
nの場合にはステッピングモータＭの位置がＬＤユニッ
ト１の上限位置か否かを判断し（ステップＳ２９→Ｓ３
０）、上限位置でなければステッピングモータＭを１ス
テップ正転し（ステップＳ３０→Ｓ３１）、次いでステ
ップＳ２４に戻って再度、位置ずれＨを検出する。上限
位置であれば異常終了する（ステップＳ３０→Ｓ３
２）。また、Ｈ目標min＜Ｈ＜Ｈ目標maxの場合には正常
終了する（ステップＳ２９→Ｓ３３）。Next, if H> H target max, it is determined whether or not the position of the stepping motor M is at the lower limit position of the LD unit 1 (steps S26 → S27). (Step S27 → S28), and then returns to Step S24 to detect the positional deviation H again. If it is at the lower limit position, the process ends abnormally (steps S27 → S32). Also, H <H target mi
In the case of n, it is determined whether or not the position of the stepping motor M is the upper limit position of the LD unit 1 (step S29 → S3).
0), if it is not the upper limit position, the stepping motor M rotates forward by one step (step S30 → S31), and then returns to step S24 to detect the positional deviation H again. If it is at the upper limit position, the process ends abnormally (step S30 → S3)
2). If H target min <H <H target max, the process ends normally (steps S29 → S33).

【００４３】このような構成によれば、ビーム検出ユニ
ット１０等から出力される電気信号とステッピングモー
タＭのホームポジションセンサ信号を、モータドライバ
ＩＣ２５とマイクロコンピュータ２４などで構成される
情報処理部に印加することにより、光走査ビームの副走
査方向Ｙの位置ずれを検出して位置ずれを補正すること
ができる。マイクロコンピュータ２４の処理能力も高速
な処理を伴うものではないので，光走査ビームの副走査
方向Ｙの位置検出のためのカウント値用と、ホームポジ
ションセンサ２６用とモータドライバＩＣ２５用にＩ／
Ｏポートを確保することにより，他の機能用のマイクロ
コンピュータに容易に追加することができる。According to such a configuration, the electric signal output from the beam detection unit 10 and the like and the home position sensor signal of the stepping motor M are applied to the information processing section composed of the motor driver IC 25 and the microcomputer 24 and the like. By doing so, it is possible to detect the displacement of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y and correct the displacement. Since the processing capability of the microcomputer 24 does not involve high-speed processing, I / Os for the count value for detecting the position of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y, and for the home position sensor 26 and the motor driver IC 25 are used.
By securing the O port, it can be easily added to a microcomputer for other functions.

【００４４】＜ビーム補正２＞図２０は光走査ビームの
副走査方向Ｙの位置ずれＨを補正するために、ライン毎
に光走査するデータのタイミングを変更する装置を示し
ている。図２０において、図１５に示した位置ずれ検出
装置２０に対して、画像処理用のマイクロコンピュータ
３１と、画像処理ＡＳＩＣ３２とメモリ３３が追加され
ている。<Beam Correction 2> FIG. 20 shows an apparatus for changing the timing of optical scanning data for each line in order to correct the positional deviation H of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y. 20, a microcomputer 31 for image processing, an image processing ASIC 32, and a memory 33 are added to the displacement detection apparatus 20 shown in FIG.

【００４５】位置ずれ検出用のマイクロコンピュータ２
４は図２０に示すように、まず、図１７に示すビーム検
出をスタートし（ステップＳ４１）、次いでビーム検出
を終了してＬＤユニット１を消灯する（ステップＳ４
２）。これにより、位置ずれＨが検出される。次いで位
置ずれを補正するためのライン補正数を次式ライン補正
数＝（Ｈ基準−Ｈ）／書き込み密度に基づいて算出し
（ステップＳ４３）、次いでこのライン補正数を画像処
理用のマイクロコンピュータ３１に送信する。Microcomputer 2 for detecting displacement
20, the beam detection shown in FIG. 17 is started first (step S41), then the beam detection is terminated and the LD unit 1 is turned off (step S4), as shown in FIG.
2). Thereby, the displacement H is detected. Next, a line correction number for correcting the positional deviation is calculated based on the following equation: line correction number = (H reference−H) / writing density (step S43), and then this line correction number is calculated by the microcomputer 31 for image processing. Send to

【００４６】マイクロコンピュータ３１はスタートする
と待機状態になり（ステップＳ５１）、この待機状態に
おいて上記のライン補正数を受信するとこれを取り込む
（ステップＳ５２）。次いで画像データが入力すると画
像処理ＡＳＩＣ３２とメモリ３３を制御することにより
画像処理を行い（ステップＳ５３、Ｓ５４）、次いでこ
の画像データの副走査方向の先頭の余白を上記のライン
補正数だけ補正する（ステップＳ５５）。次いでこの補
正後の画像データをＬＤユニット１に出力し（ステップ
Ｓ５６）、次いで待機状態になる（ステップＳ５１）。When the microcomputer 31 is started, it enters a standby state (step S51). When the microcomputer 31 receives the line correction number in this standby state, it takes in the line correction number (step S52). Next, when image data is input, image processing is performed by controlling the image processing ASIC 32 and the memory 33 (steps S53 and S54), and then the leading margin of this image data in the sub-scanning direction is corrected by the above-described line correction number ( Step S55). Next, the image data after the correction is output to the LD unit 1 (step S56), and then, a standby state is set (step S51).

【００４７】したがって、画像データ制御部に処理を追
加するだけで，光走査ビームの副走査方向Ｙの位置ずれ
Ｈを検出して補正することができる。ここで、画像デー
タを制御するマイクロコンピュータ３１と光走査ビーム
の副走査方向の位置ずれを検出するマイクロコンピュー
タ２４は１つで構成することも容易である。Therefore, it is possible to detect and correct the positional deviation H of the optical scanning beam in the sub-scanning direction Y only by adding processing to the image data control unit. Here, the microcomputer 31 for controlling the image data and the microcomputer 24 for detecting the displacement of the optical scanning beam in the sub-scanning direction can be easily constituted by one.

【００４８】[0048]

【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、受光面が副走査方向に直線状に形成された受
光素子と、主走査方向及び副走査方向に対して斜めに配
置され、光走査ビームを受光素子の方向に偏向する複数
の偏向素子を設けて、主走査方向の基準時点から受光素
子が光走査ビームを受光するまでの時間に基づいて光走
査ビームの副走査方向の位置ずれを検出するので、簡単
な構成でビームの副走査方向の位置ずれを検出して補正
することができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, the light receiving element having the light receiving surface formed linearly in the sub-scanning direction and the light receiving element disposed obliquely with respect to the main scanning direction and the sub-scanning direction. A plurality of deflecting elements for deflecting the light scanning beam in the direction of the light receiving element; and providing a plurality of deflecting elements in the sub-scanning direction of the light scanning beam based on the time from the reference point in the main scanning direction to the light receiving element receiving the light scanning beam. , It is possible to detect and correct the positional deviation of the beam in the sub-scanning direction with a simple configuration.

【００４９】請求項２記載の発明によれば、受光面が副
走査方向に直線状に形成された受光素子と、光走査ビー
ムを受光素子の方向に偏向する凹面形状の偏向素子と、
偏向素子の偏向面が主走査方向及び副走査方向に対して
斜めになるように光走査ビームを遮蔽する遮蔽手段を設
けて、主走査方向の基準時点から受光素子が光走査ビー
ムを受光するまでの時間に基づいて光走査ビームの副走
査方向の位置ずれを検出するので、簡単な構成でビーム
の副走査方向の位置ずれを検出して補正することができ
る。According to the second aspect of the present invention, a light receiving element having a light receiving surface formed linearly in the sub-scanning direction, a concave deflection element for deflecting the light scanning beam in the direction of the light receiving element,
Providing shielding means for shielding the optical scanning beam so that the deflection surface of the deflecting element is inclined with respect to the main scanning direction and the sub-scanning direction, from the reference time in the main scanning direction until the light receiving element receives the optical scanning beam Since the positional deviation of the optical scanning beam in the sub-scanning direction is detected based on the time, the positional deviation of the optical scanning beam in the sub-scanning direction can be detected and corrected with a simple configuration.

【００５０】請求項３記載の発明によれば、偏向面が副
走査方向に直線状に形成された１つの偏向素子を更に備
え、この１つの偏向素子により偏向された光走査ビーム
を受光素子が受光した時点が主走査方向の基準時点であ
るので、簡単な構成でビームの副走査方向の位置ずれを
検出して補正することができる。According to the third aspect of the present invention, there is further provided one deflecting element having a deflecting surface formed linearly in the sub-scanning direction, and the light receiving element receives the light scanning beam deflected by this one deflecting element. Since the time point when the light is received is the reference time point in the main scanning direction, the positional deviation of the beam in the sub-scanning direction can be detected and corrected with a simple configuration.

【００５１】請求項４記載の発明によれば、偏向面が副
走査方向に直線状になるように光走査ビームを遮蔽し、
偏向面により偏向された光走査ビームを受光素子が受光
した時点が主走査方向の基準時点であるので、簡単な構
成でビームの副走査方向の位置ずれを検出して補正する
ことができる。According to the fourth aspect of the present invention, the optical scanning beam is shielded so that the deflection surface is linear in the sub-scanning direction.
Since the point in time when the light receiving element receives the optical scanning beam deflected by the deflecting surface is the reference point in the main scanning direction, the positional deviation of the beam in the sub scanning direction can be detected and corrected with a simple configuration.

【００５２】請求項５記載の発明によれば、光走査ビー
ムを発生する光源の副走査方向の位置を補正するので、
簡単な構成でビームの副走査方向の位置ずれを補正する
ことができる。According to the fifth aspect of the present invention, the position of the light source for generating the optical scanning beam in the sub-scanning direction is corrected.
With a simple configuration, it is possible to correct the positional deviation of the beam in the sub-scanning direction.

【００５３】請求項６記載の発明によれば、画像データ
のラインの副走査方向の位置を補正するので、簡単な構
成でビームの副走査方向の位置ずれを補正することがで
きる。According to the sixth aspect of the present invention, since the position of the image data line in the sub-scanning direction is corrected, the positional deviation of the beam in the sub-scanning direction can be corrected with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明に係る光走査装置の一実施形態を示す構
成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an optical scanning device according to the present invention.

【図２】図１のＬＤユニットを詳しく示す構成図であ
る。FIG. 2 is a configuration diagram showing the LD unit of FIG. 1 in detail.

【図３】図１のＰＤユニットを詳しく示す構成図であ
る。FIG. 3 is a configuration diagram showing a PD unit of FIG. 1 in detail.

【図４】図１のビーム検出ユニットを詳しく示す構成図
である。FIG. 4 is a configuration diagram illustrating a beam detection unit of FIG. 1 in detail.

【図５】図４のビーム検出ユニットの変形例を示す構成
図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing a modification of the beam detection unit of FIG. 4;

【図６】図５のビーム検出ユニットを示す上面図であ
る。FIG. 6 is a top view showing the beam detection unit of FIG. 5;

【図７】図５の偏向素子の正面とビーム位置ずれを示す
図である。FIG. 7 is a diagram showing a beam position shift from the front of the deflection element in FIG. 5;

【図８】第２の実施形態のビーム検出ユニットを示す構
成図である。FIG. 8 is a configuration diagram illustrating a beam detection unit according to a second embodiment.

【図９】図８のビーム検出ユニットの変形例を示す構成
図である。FIG. 9 is a configuration diagram showing a modified example of the beam detection unit of FIG. 8;

【図１０】図８のビーム検出ユニットを示す上面図であ
る。FIG. 10 is a top view showing the beam detection unit of FIG. 8;

【図１１】図８の偏向素子の正面とビーム位置ずれを示
す図である。FIG. 11 is a diagram showing a beam position shift from the front of the deflection element in FIG. 8;

【図１２】第３の実施形態のビーム検出ユニットを示す
構成図である。FIG. 12 is a configuration diagram illustrating a beam detection unit according to a third embodiment.

【図１３】図１２のビーム検出ユニットを示す上面図で
ある。FIG. 13 is a top view showing the beam detection unit of FIG.

【図１４】図１２の偏向素子の正面とビーム位置ずれを
示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a beam position shift from the front of the deflection element of FIG. 12;

【図１５】位置ずれ検出装置を示すブロック図である。FIG. 15 is a block diagram showing a position shift detecting device.

【図１６】図１５のマイクロコンピュータの位置ずれ検
出処理を示すフローチャートである。FIG. 16 is a flowchart showing a displacement detection process of the microcomputer of FIG.

【図１７】図１６の位置ずれ検出処理の変形例を示すフ
ローチャートである。FIG. 17 is a flowchart illustrating a modified example of the displacement detection processing of FIG. 16;

【図１８】位置ずれ検出／補正装置の一例を示すブロッ
ク図である。FIG. 18 is a block diagram illustrating an example of a displacement detection / correction device.

【図１９】図１８のマイクロコンピュータの位置ずれ検
出／補正処理を示すフローチャートである。FIG. 19 is a flowchart showing a misalignment detection / correction process of the microcomputer in FIG. 18;

【図２０】位置ずれ検出／補正装置の他の例を示すブロ
ック図である。FIG. 20 is a block diagram illustrating another example of the misalignment detection / correction device.

【図２１】図２０のマイクロコンピュータの位置ずれ検
出／補正処理を示すフローチャートである。FIG. 21 is a flowchart showing a misalignment detection / correction process of the microcomputer of FIG. 20;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ ＬＤユニット １０−１〜１０−４，１０−８，１０−８ａ 偏向素子 １０−５ 受光素子 １０−９，１０−９ａ 遮蔽素子 ２２ カウンタ回路 ２４，３１ マイクロコンピュータ Ｍ ステッピングモータ Reference Signs List 1 LD unit 10-1 to 10-4, 10-8, 10-8a Deflection element 10-5 Light receiving element 10-9, 10-9a Shielding element 22 Counter circuit 24, 31 Microcomputer M Stepping motor

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 光走査ビームの副走査方向の位置ずれを
検出して補正する光走査装置において、 受光面が副走査方向に直線状に形成された受光素子と、 主走査方向及び副走査方向に対して斜めに配置され、前
記光走査ビームを前記受光素子の方向に偏向する複数の
偏向素子と、 主走査方向の基準時点から前記受光素子が前記光走査ビ
ームを受光するまでの時間に基づいて光走査ビームの副
走査方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、 前記位置ずれ検出手段により検出された位置ずれを補正
する位置ずれ補正手段と、を備えたことを特徴とする光
走査装置。1. An optical scanning device for detecting and correcting a displacement of an optical scanning beam in a sub-scanning direction, comprising: a light-receiving element having a light-receiving surface formed linearly in the sub-scanning direction; A plurality of deflecting elements arranged obliquely with respect to the light scanning element and deflecting the light scanning beam in the direction of the light receiving element, based on a time from a reference time in the main scanning direction to the light receiving element receiving the light scanning beam. Optical scanning, comprising: a positional deviation detecting means for detecting a positional deviation of the optical scanning beam in the sub-scanning direction; and a positional deviation correcting means for correcting the positional deviation detected by the positional deviation detecting means. apparatus. 【請求項２】 光走査ビームの副走査方向の位置ずれを
検出して補正する光走査装置において、 受光面が副走査方向に直線状に形成された受光素子と、 前記光走査ビームを前記受光素子の方向に偏向する凹面
形状の偏向素子と、 前記偏向素子の偏向面が主走査方向及び副走査方向に対
して斜めになるように前記光走査ビームを遮蔽する遮蔽
手段と、 主走査方向の基準時点から前記受光素子が前記光走査ビ
ームを受光するまでの時間に基づいて光走査ビームの副
走査方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、 前記位置ずれ検出手段により検出された位置ずれを補正
する位置ずれ補正手段と、を備えたことを特徴とする光
走査装置。2. An optical scanning device for detecting and correcting a displacement of an optical scanning beam in a sub-scanning direction, comprising: a light-receiving element having a light-receiving surface formed linearly in the sub-scanning direction; A concave deflecting element that deflects in the element direction; shielding means for shielding the optical scanning beam so that the deflecting surface of the deflecting element is oblique to the main scanning direction and the sub-scanning direction; Displacement detection means for detecting a displacement in the sub-scanning direction of the light scanning beam based on a time from when a reference time point to when the light receiving element receives the light scanning beam; displacement detected by the displacement detection means An optical scanning device comprising: a position shift correcting unit that corrects the position error. 【請求項３】 偏向面が副走査方向に直線状に形成され
た１つの偏向素子を更に備え、前記１つの偏向素子によ
り偏向された前記光走査ビームを前記受光素子が受光し
た時点が前記主走査方向の基準時点であることを特徴と
する請求項１または２記載の光走査装置。3. The image forming apparatus according to claim 1, further comprising one deflecting element having a deflecting surface formed linearly in the sub-scanning direction, wherein the light receiving element receives the optical scanning beam deflected by the one deflecting element when the light receiving element receives the light scanning beam. 3. The optical scanning device according to claim 1, wherein the optical scanning device is a reference point in the scanning direction. 【請求項４】 前記遮蔽手段はさらに、偏向面が副走査
方向に直線状になるように前記光走査ビームを遮蔽し、
前記偏向面により偏向された前記光走査ビームを前記受
光素子が受光した時点が前記主走査方向の基準時点であ
ることを特徴とする請求項２記載の光走査装置。4. The shielding means further shields the light scanning beam so that a deflection surface is linear in the sub-scanning direction.
3. The optical scanning device according to claim 2, wherein a point in time when the light receiving element receives the optical scanning beam deflected by the deflecting surface is a reference point in the main scanning direction. 【請求項５】 前記位置ずれ補正手段は、前記光走査ビ
ームを発生する光源の副走査方向の位置を補正すること
を特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の
光走査装置。5. The optical scanning device according to claim 1, wherein the displacement correcting unit corrects a position of the light source that generates the optical scanning beam in a sub-scanning direction. . 【請求項６】 前記位置ずれ補正手段は、画像データの
ラインの副走査方向の位置を補正することを特徴とする
請求項１ないし４のいずれか１項に記載の光走査装置。6. The optical scanning device according to claim 1, wherein the displacement correction unit corrects a position of a line of image data in a sub-scanning direction.