JP2002014174A - 静電容量センサ - Google Patents

静電容量センサ

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JP2002014174A
JP2002014174A JP2000196229A JP2000196229A JP2002014174A JP 2002014174 A JP2002014174 A JP 2002014174A JP 2000196229 A JP2000196229 A JP 2000196229A JP 2000196229 A JP2000196229 A JP 2000196229A JP 2002014174 A JP2002014174 A JP 2002014174A
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circuit
detection electrode
schmitt
oscillation
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JP2000196229A
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Kin Kajita
欣 梶田
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Sunx Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 検知電極の小形化を図りながら、シュミット
トリガ・インバータ回路が検知電極の充放電による電圧
変化に確実に追従して発振回路が安定して発振すること
ができるようにする。 【解決手段】 シュミット回路14の出力がハイレベル
状態では帰還抵抗15を介して検知電極16に充電され
るので、検知電極16の電圧が上昇する。また、シュミ
ット回路14の出力がロウレベル状態では帰還抵抗15
を介して検知電極16から放電されるので、検知電極1
6の電圧が低下する。ここで、分圧手段17は、検知電
極16の電圧を分圧した状態でシュミット回路14に与
えるので、シュミット回路14の仮想的に上限閾値を高
めると共に下限閾値を低めることになる。このことは、
シュミット回路14のヒステリスを仮想的に拡大するこ
とになり、発振回路12の発振周波数を低下させること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検出物体との間
で静電容量を生じる検知電極の充放電による電圧変化に
応じて発振する発振回路の発振状態に基づいて被検出物
体の有無などを検出する静電容量センサに関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】従来より、この種の静
電容量センサとしては、特許第3044938号公報に
示されたものがある。このものは、図10に示すように
被検出物体と接近される検知電極1と、この検知電極1
からの出力電圧を受けるシュミットトリガ・インバータ
回路(以下、シュミット回路と略称)2と、このシュミ
ット回路2からの出力端子と検知電極1との間に介在さ
れる帰還抵抗3とからなる発振回路4を主体として構成
されている。
【0003】発振回路4の発振状態を示す図11(a)
において、シュミット回路2からの出力がハイレベルの
状態では、シュミット回路2の出力端子から帰還抵抗3
を介して検知電極1に充電されるので、検知電極1の電
圧が上昇する。そして、検知電極1の電圧がシュミット
回路2に設定された上限閾値を上回ると、シュミット回
路2の出力がハイレベルからロウレベルに反転する。す
ると、検知電極1から帰還抵抗3を介してシュミット回
路2の出力端子に放電されるので、検知電極1の電圧が
低下する。そして、検知電極1の電圧がシュミット回路
2に設定された下限閾値を下回ると、シュミット回路2
の出力がロウレベルからハイレベルに反転する。以上の
ような動作が繰返して行われる結果、発振回路4の発振
動作が行われる。
【0004】そして、検知電極1に被検出物体が接近す
ると、検知電極1の静電容量が大きくなることから、図
11(b)に示すように発振回路4の発振周波数は低く
なる。これにより、発振回路4の発振周波数に基づいて
被検出物体の有無或いは物体までの距離を検出すること
ができる。即ち、発振回路4における発振周波数fは、
検知電極1の静電容量C及び帰還抵抗3の抵抗値Rの積
(時定数CR)に基づいて決定される。
【0005】検知電極1の静電容量Cは具体的には、検
知電極1と被検出物体との間に介在する物質(空気)の
誘電率ε、検知電極1の電極面積S、検知電極1から被
検出物体までの距離dxから次のように求めることがで
きる。 C=ε(S/dx) 但し、検知電極1の誘電率ε及び検知電極1の電極面積
Sは、検知電極1の材質や形状により決定されるもので
あり、固定値である。
【0006】従って、上記式から、検知電極1から被検
出物体までの距離dxが変化すると、検知電極1の静電
容量Cが変化するので、静電容量Cの変化を検出するこ
とにより被検出物体の有無或いは被検出物体までの距離
を求めることができる。
【0007】ところで、近年、センサの小形化が要求さ
れており、静電容量センサに関しても小形化が望まれて
いるものの、静電容量センサを小形化するということ
は、検知電極1の電極面積Sを小さくするということで
あるから、検知電極1の静電容量Cは小さくなる。この
ため、帰還抵抗3の抵抗値Rを固定とすると、検知電極
1の静電容量Cが小さくなるほど、発振回路4の発振周
波数は高くなる。
【0008】しかしながら、発振回路4の発振周波数が
高くなると、シュミット回路2が検知電極1の充放電に
よる電圧変化に追従できなくなり、この結果、発振回路
4の発振が安定せず、被検出物体を正確に検出できなく
なるという問題が生じる。
【0009】この場合、検知電極1の静電容量Cが小さ
くなる分、帰還抵抗3の抵抗値Rを大きくして、検知電
極1の充放電による電圧変化をシュミット回路2が追従
できるように調整することが考えられるが、帰還抵抗3
の抵抗値Rを過度に大きくしてしまうと、シュミット回
路2の入力インピーダンスに帰還抵抗3の抵抗値Rが接
近するので、検知電極1の電圧がシュミット回路2の入
力インピーダンスと帰還抵抗3により分圧されてしま
い、シュミット回路2に十分な帰還がかからなくなり、
発振回路4が発振できない状態となってしまう虞があ
る。
【0010】以上のような理由から、静電容量センサの
発振回路4としては、帰還抵抗3の抵抗値Rを調整する
ことなくシュミット回路2が検知電極1の充放電による
電圧変化に追従できるように発振周波数を設定する必要
があり、このような制約の結果、検知電極1の静電容量
Cを小さくした場合には、静電容量センサの小形化が困
難であるのが実情である。
【0011】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、検知電極の充放電による電圧変化に応
じてシュミットトリガ・インバータ回路の出力を反転さ
せるこにとより発振回路を発振状態とする構成におい
て、検知電極の小形化を図りながら、シュミットトリガ
・インバータ回路が検知電極の充放電による電圧変化に
確実に追従して発振回路が安定して発振することができ
る静電容量センサを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、検知電極と被
検出物体との間に発生する静電容量に応じて発振状態が
変化する発振回路を備え、前記発振回路の発振状態に基
づいて被検出物体の有無などを検出する静電容量センサ
において、前記発振回路は、入力電圧が上限閾値を上回
ったときに出力をハイレベルからロウレベルに切替える
と共に、入力電圧が下限閾値を下回ったときに出力をロ
ウレベルからハイレベルに切替えるシュミットトリガ・
インバータ回路と、このシュミットトリガ・インバータ
回路の出力と検知電極との間に介在される帰還抵抗と、
前記検知電極の電圧を分圧した状態で前記シュミットト
リガ・インバータ回路に与える分圧手段とから構成され
ているものである(請求項1)。
【0013】このような発明によれば、シュミットトリ
ガ・インバータ回路からの出力がハイレベルの状態で
は、シュミットトリガ・インバータ回路の出力端子から
帰還抵抗を介して検知電極に充電されるので、検知電極
の電圧が上昇する。また、シュミットトリガ・インバー
タ回路からの出力がロウレベルの状態では、検知電極か
ら帰還抵抗を介してシュミットトリガ・インバータ回路
の出力端子に放電されるので、検知電極の電圧が低下す
る。
【0014】ここで、分圧手段は、検知電極の電圧を分
圧した状態でシュミットトリガ・インバータ回路に与え
るので、シュミットトリガ・インバータ回路のヒステリ
ス幅を仮想的に拡大することができる。このことは、発
振回路の発振周波数を低下させることを意味するので、
検知電極を小形化するにしても、発振回路の発振周波数
が上昇してしまうことを防止して発振回路を安定して発
振させることができる。
【0015】上記構成において、前記分圧手段は、前記
検知電極の電圧を所定の基準電圧との間で分圧する分圧
回路から構成されているものである(請求項2)。この
ような構成によれば、検知電極の電圧は所定の基準電圧
との間で分圧された状態でシュミットトリガ・インバー
タ回路に与えられるので、分圧手段を簡単な構成で実施
することができる。
【0016】また、前記シュミットトリガ・インバータ
回路からハイレベルが出力された状態で前記分圧回路の
基準電圧をロウレベルとし、前記シュミットトリガ・イ
ンバータ回路からロウレベルが出力された状態で前記分
圧回路の基準電圧をハイレベルとする基準電圧変更手段
を設けるのが望ましい(請求項3)。
【0017】このような構成によれば、シュミットトリ
ガ・インバータ回路からハイレベルが出力された状態で
は、シュミットトリガ・インバータ回路の出力端子から
帰還抵抗を介して検知電極に充電されるので、検知電極
の電圧が上昇する。
【0018】このとき、基準電圧変更手段により分圧回
路の基準電圧はロウレベルとなるので、分圧回路による
分圧電圧は、検知電極の電圧をロウレベルとの間で分圧
した値となる。そして、分圧回路により与えられる分圧
電圧がシュミットトリガ・インバータ回路に設定された
上限閾値を上回ると、シュミットトリガ・インバータ回
路の出力はロウレベルとなる。
【0019】この場合、分圧回路により与えられる分圧
電圧がシュミットトリガ・インバータ回路に設定された
上限閾値を上回るには、検知電極の電圧が上限閾値を大
きく上回る必要がある。このことは、シュミットトリガ
・インバータ回路の上限閾値が仮想的に上昇したことを
意味する。
【0020】そして、シュミットトリガ・インバータ回
路の出力がロウレベルとなると、検知電極から帰還抵抗
を介してシュミットトリガ・インバータ回路の出力端子
に放電されるので、検知電極の電圧が低下する。
【0021】このとき、基準電圧変更手段により分圧回
路の基準電圧はハイレベルとなるので、分圧回路による
分圧電圧は、検知電極の電圧をハイレベルとの間で分圧
した値となる。そして、分圧回路により与えられる分圧
電圧がシュミットトリガ・インバータ回路に設定された
下限閾値を下回ると、シュミットトリガ・インバータ回
路の出力はハイレベルとなる。
【0022】この場合、分圧回路により与えられる分圧
電圧がシュミットトリガ・インバータ回路に設定された
下限閾値を下回るには、検知電極の電圧が下限閾値を大
きく下回る必要がある。このことは、シュミットトリガ
・インバータ回路の下限閾値が仮想的に低下したことを
意味する。
【0023】以上のように分圧手段が分圧回路からなる
構成においては、基準電圧変更手段を設けることによ
り、シュミットトリガ・インバータ回路のヒステリス幅
を効果的に拡大することができる。
【0024】また、前記分圧手段は、前記検知電極から
の出力を受ける電圧フォロワ回路を備えて構成されてい
るのが望ましい(請求項4)。このような構成によれ
ば、分圧手段の入力インピーダンスを電圧フォロワ回路
により極めて高くすることができるので、分圧手段の存
在による発振回路に対する影響を簡単に回避することが
できる。
【0025】また、前記検知電極の非検出側をシールド
するガード電極を備え、前記ガード電極は、前記電圧フ
ォロワ回路の出力端子と接続されているようにしてもよ
い(請求項5)。
【0026】このような構成によれば、検知電極の電圧
を受ける電圧フォロワ回路の出力端子とガード電極とを
接続することにより、検知電極とガード電極とを同電位
とすることができるので、検知電極における非検出側に
位置する物体との間の静電容量による影響をガード電極
により防止することができる。
【0027】この場合、検知電極の電圧を受けるために
電圧フォロワ回路が設けられている構成では、検知電極
とガード電極とを同電位とするための特別な手段を新規
に設ける必要がないので、全体構成を簡単化することが
できる。
【0028】また、前記検知電極と前記ガード電極との
間に空気層を介在するのが望ましい(請求項6)。検知
電極とガード電極とは電圧フォロワ回路により同電位と
なるものの、発振回路の動作状態では、電圧フォロワ回
路の入出力の僅かな時間的な差により入力と出力との間
で瞬間的に電位差が生じ、それに起因して検知電極とガ
ード電極との間に静電容量が生じ、誤検出の要因とな
る。
【0029】しかしながら、上記のような構成によれ
ば、検知電極とガード電極との間に誘電率が最も小さな
空気を用いることにより、検知電極とガード電極との間
に発生する静電容量を最も小さくできるので、検知電極
とガード電極との間の静電容量による影響を極力回避す
ることができる。
【0030】また、前記電圧フォロワ回路の温度特性に
よる前記発振回路の発振周波数の変動を打消すように前
記分圧手段が前記シュミットトリガ・インバータ回路に
与える電圧を補正する温度補償手段を設けるのが望まし
い(請求項7)。
【0031】温度が変化したときは、電圧フォロワ回路
の利得が変動してしまって発振回路の発振周波数が変動
することがある。しかしながら、温度補償手段は、電圧
フォロワ回路の温度特性による発振回路の発振周波数の
変動を打消すように分圧手段がシュミットトリガ・イン
バータ回路に与える電圧を補正するので、温度変化によ
り発振回路の発振周波数が変動してしまうことを防止で
きる。
【0032】前記温度補償手段として所定の温度特性を
示すサーミスタを用いるようにしてもよい(請求項
8)。このような構成によれば、簡単な構成で温度補償
手段を実現することができる。
【0033】
【発明の実施の形態】(発明の概要)以下、本発明の概
要を図1及び図2を参照して説明する。図1は本発明の
構成を概略的に示している。この図1において、静電容
量センサ11は、発振回路12と制御手段13とから構
成されており、制御手段13が発振回路12の発振状態
を判断することにより被検出物体の有無或いは被検出物
体までの距離を検出するようになっている。
【0034】発振回路12において、シュミットトリガ
・インバータ回路(以下、シュミット回路と略称)14
の出力端子は帰還抵抗15を介して検知電極16と接続
されている。このシュミット回路14はヒステリシスを
有しており、入力電圧が上限閾値を上回ると、出力電圧
がハイレベルからロウレベルに反転し、入力電圧が下限
閾値を下回ると、出力電圧がロウレベルからハイレベル
に反転するようになっている。
【0035】ここで、検知電極16は分圧手段17を介
してシュミット回路14の入力端子と接続されている。
この分圧手段17は、検知電極16の電圧を分圧した状
態でシュミット回路14に与えるもので、シュミット回
路14の上限閾値と下限閾値との間のレベル、つまりヒ
ステリシス幅を仮想的に拡大させるために設けられてい
る。尚、分圧手段17の入力インピーダンスは帰還抵抗
15に比較して十分に大きく設定されているものとす
る。以上のように、発振回路12は、検知電極16、シ
ュミット回路14、帰還抵抗15及び分圧手段17から
構成されている。
【0036】次に、上記分圧手段17によりシュミット
回路14のヒステリシス幅を仮想的に拡大させることが
できる原理について説明する。図2はシュミット回路1
4の出力と検知電極16の電圧と分圧手段17の出力と
の関係を示している。この図2において、電源投入直後
でシュミット回路14の入力電圧が低い状態では、シュ
ミット回路14の出力はハイレベルとなる。
【0037】このようにシュミット回路14の出力がハ
イレベルとなった状態では、シュミット回路14の出力
端子から帰還抵抗15を介して検知電極16に充電され
るので、検知電極16の電圧が徐々に上昇する。この場
合、分圧手段17の入力インピーダンスは帰還抵抗15
よりも十分に大きく設定されているので、充電の時定数
は、帰還抵抗15の抵抗値と検知電極16の容量との積
により決まる。
【0038】検知電極16の電圧が上昇する状態では、
分圧手段17は検知電極16の電圧を分圧した状態でシ
ュミット回路14に与えるので、シュミット回路14の
入力電圧は検知電極16の電圧上昇に比較してゆっくり
と上昇する。
【0039】そして、分圧手段17からの出力がシュミ
ット回路14に設定された上限閾値SLTを上回ると、シ
ュミット回路14からの出力がハイレベルからロウレベ
ルに反転する。つまり、シュミット回路14の上限閾値
SLTを仮想的に図2中に示すSLT´に高めたことに相当
する。
【0040】このようにしてシュミット回路14の出力
がロウレベルとなった状態では、検知電極16から帰還
抵抗15を介してシュミット回路14の出力端子に放電
されるので、検知電極16の電圧が徐々に低下する。こ
の場合、放電の時定数は、帰還抵抗15の抵抗値と検知
電極16の容量との積により決まる。
【0041】検知電極16の電圧が低下する状態では、
分圧手段17は検知電極16の電圧を分圧した状態でシ
ュミット回路14に与えるので、シュミット回路14の
入力電圧は検知電極4の電圧低下に比較してゆっくりと
低下する。
【0042】そして、分圧手段17からの出力がシュミ
ット回路14に設定された下限閾値SLBを下回ると、シ
ュミット回路14の出力がロウレベルからハイレベルに
反転する。つまり、シュミット回路14の下限閾値SLB
を仮想的に図2中に示すSLB´に低めたことに相当す
る。
【0043】このような動作が繰返して行われる結果、
発振回路12の発振周期Tは、分圧手段17が設けられ
ていない構成に比較して長くなるので、シュミット回路
14が検知電極16の充放電に伴う電圧変化に確実に追
従でき、発振回路12は安定して発振することができ
る。
【0044】しかるに、検知電極16に被検出物体が接
近することにより、発振回路12の発振周波数が変化す
るので、その発振周波数に基づいて被検出物体の有無或
いは被検出物体までの距離を検出することが可能とな
る。
【0045】このような発明によれば、分圧手段17を
設けることによりシュミット回路14のヒステリス幅を
仮想的に拡大するようにしたので、発振回路12の発振
周波数を低下させることができる。従って、検知電極1
6の小形化を図るにしても発振回路12の発振周波数が
高くなることを防止することができるので、シュミット
回路14が検知電極16の電圧変化に追従できるように
なり、発振回路12を安定して発振させることができ
る。
【0046】尚、図2から分るように分圧手段17によ
り検知電極16の電圧上昇若しくは電圧低下の何れか一
方の変化時の電圧を分圧すれば、シュミット回路14の
ヒステリス幅を仮想的に拡大することができる。
【0047】(第1の実施の形態)次に本発明をガード
電極を有した静電容量センサに適用した第1の実施の形
態を図3乃至図5を参照して説明する。図3は全体の電
気的構成を概略的に示している。この図3において、静
電容量センサ21は、ヘッド部22とコントローラ部2
3とから構成されている。ヘッド部22は、検知電極2
4の前面以外の非検出側をシールド用のガード電極25
で覆って構成されている。
【0048】図4はヘッド部22の断面を示している。
この図4において、例えば樹脂ケース26には略円形状
の検知電極24と当該検知電極24よりも面積が大きな
略円形状のガード電極25とが収納されており、検知電
極24は、例えばOリング27等の絶縁物によりガード
電極25から離間した形態で支持されている。この場
合、樹脂ケース26は空気の封入状態で密閉されてお
り、このような構成により、検知電極24とガード電極
25との間には空気層28が介在している。上記検知電
極24及びガード電極25にはシールドケーブル29が
接続されており、そのシールドケーブル29がコントロ
ーラ部23と接続されている。
【0049】ここで、ヘッド部22にガード電極25が
設けられている理由について説明する。即ち、検知電極
24に発生する静電容量には指向性がなくあらゆる方向
に発生するため、検知電極24の静電容量は、検出側に
発生する静電容量と非検出側の静電容量との和となる。
このため、検出側の静電容量の変化のみを検出したいの
にもかかわらず、非検出側の静電容量の影響を受けてし
まうことから、検出側に位置する被検出物体を正確に検
出することができない虞がある。
【0050】そこで、検知電極24の非検出側にシール
ド用のガード電極25を設けて確実に検出側に位置する
被検出物体のみの検出を行うというものである。この場
合、検知電極24とガード電極25との間に電位差が生
じると、検知電極24とガード電極25との間でも静電
容量が発生することから、検知電極24とガード電極2
5とは同電位である必要がある。従って、後述するよう
にコントローラ部23に設けられている電圧フォロワ回
路30(図3参照)を用いて、検知電極24とガード電
極25とが同電位となるようにしている。
【0051】次に、検知電極24とガード電極25との
間に空気層28を介在させている理由について説明す
る。即ち、コントローラ部23の電圧フォロワ回路30
により検知電極24とガード電極25とを同電位とする
にしても、発振回路31の動作状態では、電圧フォロワ
回路30において入力と出力との間に電位差が瞬間的に
生じ、それに起因して検知電極24とガード電極25と
の間に電位差が生じる。このため、検知電極24とガー
ド電極25との間に静電容量が発生してしまい、誤検出
の要因となる。
【0052】従来においては、検知電極24及びガード
電極25として例えばガラスエポキシ樹脂基板上に電極
をプリント形成したものを用い、それらをガラスエポキ
シ樹脂基板により保持するようにしていた。このガラス
エポキシ樹脂基板の比誘電率は空気の比誘電率(εr
1)に比較して数倍大きい。
【0053】ここで、検知電極24とガード電極25と
の間の静電容量CSを求めると、 CS=ε(S/d) 但し、ε=ε0 ・εr となることから、静電容量CSは、検知電極24の電極
面積Sと、検知電極24とガード電極25との間隔d、
及び検知電極24とガード電極25との間に介在する誘
電体の誘電率εにより決定されることが分る。
【0054】ところで、静電容量CSは、検知電極24
において非検出側の静電容量であることから、極力小さ
い方が望ましい。しかしながら、静電容量センサ21の
ヘッド部22を小形化(薄形化)した場合、検知電極2
4とガード電極25との間の間隔dが小さくなる。この
場合、静電容量CSは、間隔dに反比例することから、
ヘッド部22を薄形化するほど、静電容量CSは大きく
なってしまう。
【0055】このような場合の対処として、検知電極2
4の電極面積Sを小さくすることで静電容量CSを小さ
くすることが考えられるが、電極面積Sを小さくする
と、静電容量CSは小さくなるものの、それに伴って検
出側の静電容量C自体も小さくなってしまう。このた
め、被検出物体までの距離が変化するにしても、静電容
量Cの変化が小さくなり、非検出側の静電容量CS自体
による影響が大きくなることから、正確な検出を行うこ
とはできない。
【0056】以上の理由から、検知電極24とガード電
極25との間に発生する静電容量CSは極力小さくする
のが望ましい。この場合、静電容量CSは、検知電極2
4とガード電極25との間の誘電体の誘電率εに依存し
て比例関係にあることから、検知電極24とガード電極
25との間に介在する誘電体としては誘電率εが最も小
さな空気(εr=1)を用いるのが望ましい。従って、
本実施の形態では、検知電極24とガード電極25との
間の誘電体として、支持部材であるOリング27を除い
て空気層28を介在させるようにしている。
【0057】図3に戻って、コントローラ部23は、発
振回路31と制御手段32とから構成されている。発振
回路31において、電圧フォロワ回路30の非反転入力
端子はヘッド部22の検知電極24と接続されていると
共に、反転入力端子は電圧フォロワ回路30の出力端子
及びヘッド部22のガード電極25と接続されている。
【0058】また、電圧フォロワ回路30の出力端子
は、第1の分圧抵抗33を介してシュミット回路34の
入力端子と接続されていると共に、第2の分圧抵抗35
及び図示極性のインバータ回路36を介してシュミット
回路34の出力端子と接続されている。
【0059】シュミット回路34の出力端子は帰還抵抗
37を介してヘッド部22の検知電極24及び電圧フォ
ロワ回路30の非反転入力端子と接続されている。この
シュミット回路34はヒステリスを有しており、入力電
圧が上限閾値を上回ると、出力電圧がハイレベルからロ
ウレベルに反転し、入力電圧が下限閾値を下回ると、出
力電圧がロウレベルからハイレベルに反転するようにな
っている。
【0060】ここで、第1の分圧抵抗33及び第2の分
圧抵抗35は、後述するように検知電極24の電圧を分
圧した状態でシュミット回路34に与えるために設けら
れているもので、(第1の分圧抵抗33の抵抗値)/
(第2の分圧抵抗35の抵抗値)の値が大きいほど、そ
の分圧値が大きくなる。
【0061】この実施の形態では、上述した電圧フォロ
ワ回路30、第1の分圧抵抗33、第2の分圧抵抗35
及びインバータ回路36から分圧手段38が構成され、
第1の分圧抵抗33及び第2の分圧抵抗35から分圧回
路39が構成されている。また、インバータ回路36が
基準電圧変更手段に相当する。この場合、分圧回路39
の基準電圧はインバータ回路36の出力電圧であり、シ
ュミット回路34の出力電圧がハイレベルの状態でロウ
レベルとなり、シュミット回路34の出力電圧がロウレ
ベルの状態でハイレベルとなる。また、分圧手段38の
入力インピーダンスは電圧フォロワ回路30により極め
て大きくなっているので、帰還抵抗37の抵抗値と検知
電極24の容量とからなる時定数が分圧手段38の影響
を受けることはない。以上のように、発振回路31は、
検知電極24、シュミット回路34、帰還抵抗37及び
分圧手段38から構成されている。
【0062】上記構成の発振回路31からのパルス信号
を受ける制御手段32はマイクロコンピュータを主体と
してなり、計数手段40、比較手段41及び出力手段4
2から構成されている。計数手段40は、単位時間当た
りに発振回路31から出力されるパルス信号を計数する
ことにより発振回路31の発振周波数を求める。比較手
段41は、計数手段40が計数した計数値を所定値と比
較することにより被検出物体の接近状態を判断する。出
力手段42は、比較手段41による検出結果に基づいて
検出信号を出力する。従って、制御手段32からの検出
信号に基づいて被検出物体の有無を判断することができ
る。
【0063】次に上記構成の作用について説明する。シ
ュミット回路34の出力及び検知電極の24の電圧並び
に分圧回路39による分圧電圧の時間経過を示す図5に
おいて、静電容量センサ11に電源を投入すると、シュ
ミット回路34の電源電圧が立上がる。このシュミット
回路34はヒステリシスを有しているので、電源投入直
後でシュミット回路34の入力電圧が低い状態では、シ
ュミット回路34の出力はハイレベルとなる。
【0064】ここで、検知電極24は被検出物体の離間
状態であっても小容量のコンデンサを形成しているの
で、シュミット回路34の出力端子から帰還抵抗37を
介して検知電極24に充電され、検知電極24の電圧が
徐々に上昇する。
【0065】電圧フォロワ回路30は入力電圧を高イン
ピーダンスで受けて入力電圧と同電圧を出力するので、
電圧フォロワ回路30の出力電圧は検知電極24の電圧
と同一となる。
【0066】ここで、ガード電極25は電圧フォロワ回
路30の出力端子と接続されているので、ガード電極2
5は検知電極24と同電位となる。従って、ガード電極
25により検知電極24における非検出側に位置する物
体の影響を防止することができる。
【0067】さて、シュミット回路34からの出力がハ
イレベルの状態では、インバータ回路36の出力はロウ
レベルとなっているので、分圧回路39の基準電圧はロ
ウレベルとなっている。これにより、分圧回路39は、
検知電極24の電圧をロウレベルとの間で分圧した電圧
をシュミット回路34に与えている。このことは、検知
電極24が充電されて電圧が上昇している状態では、シ
ュミット回路34の上側閾値SLTが図5中に示すSLT´
に仮想的に高められたことと同等となる。
【0068】そして、分圧回路39による分圧電圧がシ
ュミット回路34の上限閾値SLTを上回ると、シュミッ
ト回路34の出力がハイレベルからロウレベルに反転す
る。これにより、検知電極24から帰還抵抗37を介し
てシュミット回路34の出力端子に放電されるので、検
知電極24の電圧が徐々に低下する。
【0069】このとき、インバータ回路36の出力はハ
イレベルとなっているので、分圧回路39の基準電圧は
ハイレベルとなっている。これにより、分圧回路39
は、検知電極24の電圧をハイレベルとの間で分圧した
電圧をシュミット回路34に与えている。このことは、
検知電極24が放電して電圧が低下している状態では、
シュミット回路34の下限閾値SLBが図5中に示すSLB
´に仮想的に低められたことと同等となる。
【0070】そして、分圧回路39による分圧電圧がシ
ュミット回路34の下限閾値SLBを下回ると、シュミッ
ト回路34の出力がロウレベルからハイレベルに反転す
る。これにより、検知電極24が再び充電されて電圧が
上昇するようになる。
【0071】以上のようにして、発振回路31が発振す
ると、制御手段32は、発振回路31の発振状態に基づ
いて被検出物体の有無の判断を行う。この場合、被検出
物体の離間状態では、検知電極24の静電容量は小さい
ので、発振回路31は高い周波数で発振する。
【0072】ここで、ヘッド部22に被検出物体が接近
した場合、検知電極16から被検出物体までの距離をD
とすると、発振周期Tは検知電極16と被検出物体まで
の距離Dに反比例している。
【0073】従って、検知電極24に被検出物体が接近
するほど、発振回路31の発振周波数は小さくなるの
で、制御手段32は、発振回路31からの単位時間当た
りのパルス信号を計数し、その計数値が設定値を下回っ
たときは被検出物体を検出したと判断して検出信号を出
力する。
【0074】ところで、本実施の形態のように、検知電
極24の小形化を図った構成において、検知電極24の
電圧をシュミット回路34に直接与えるように構成した
場合には、発振回路31の発振状態では検知電極24は
極めて短時間で充放電を繰返すことになる。このため、
シュミット回路34が検知電極24の充放電に伴う電圧
変化に追従できず、発振回路31の発振が不安定とな
り、被検出物体の検出が不確実となる虞がある。
【0075】しかしながら、本実施の形態においては、
分圧手段38により検知電極24の充電状態では当該検
知電極24の電圧が分圧された状態でシュミット回路3
4に与えられると共に、検知電極24の放電状態では当
該検知電極24の電圧低下が分圧された状態でシュミッ
ト回路34に与えられるので、シュミット回路34のヒ
ステリス幅を仮想的に拡大することができ、発振回路3
1の発振周波数を低下させることができる。従って、検
知電極24の充放電に伴う電圧変化にシュミット回路3
4が確実に追従することができ、発振回路31を安定し
て発振させることができるので、検知電極の電圧をシュ
ミット回路に直接与える従来例のものに比較して、検知
電極24の小形化を図ることにしても、被検出物体を確
実に検出することができる。
【0076】また、電圧フォロワ回路30は分圧手段3
8の入力インピーダンスを高めるために機能する一方
で、ガード電極25の電位を検知電極24と同一にする
ためにも機能することから、1つの電圧フォロワ回路3
0を利用して両方の機能を同時に実現することができ、
全体構成を大幅に簡単化して小形化に寄与することがで
きる。
【0077】(第2の実施の形態)次に本発明の第2の
実施の形態を図6及び図7を参照して説明するに、第1
の実施の形態と同一部分には同一符号を付して説明を省
略する。この第2の実施の形態は、分圧回路の基準電圧
を固定したことを特徴とする。
【0078】全体の電気的構成を概略的に示す図6にお
いて、分圧回路39を構成する第2の分圧抵抗35は静
電容量センサ21における0Vラインと接続されてい
る。
【0079】さて、検知電極24に充電されて電圧が上
昇する場合は、その変動は第1の分圧抵抗33と第2の
分圧抵抗35との抵抗値の比率で分圧されるので、検知
電極24の電圧が上昇する際はゆっくり上昇することに
より上限閾値が仮想的に上昇するのに対して、検知電極
24の電圧が低下する際は早く低下することにより下限
閾値も仮想的に上昇することになる。この場合、図7に
示すように仮想的な上限閾値SLT´の上昇幅の方が仮想
的な下限閾値SLB´の上昇幅よりも大きいので、全体と
してはシュミット回路34のヒステリス幅を仮想的に拡
大することができる。
【0080】このような実施の形態によれば、分圧回路
39の基準電圧を0Vに固定するようにしたので、シュ
ミット回路34のヒステリス幅を仮想的に拡大すること
により発振回路31の発振周波数を低下させながら、イ
ンバータ回路36を削減することができる。
【0081】尚、分圧回路39を構成する第2の分圧抵
抗35を基準電圧として正の電源電圧と接続するように
してもよい。この場合、仮想的な上限閾値SLT´及び下
限閾値SLB´の両方とも低下するものの、仮想的な下限
閾値SLB´の低下幅の方が仮想的な上限閾値SLT´の低
下幅よりも大きいので、全体としてはシュミット回路3
4のヒステリス幅を拡大することができる。また、基準
電圧として電源電圧以外の所定の任意の電圧を選択する
ようにしてもよい。
【0082】(第3の実施の形態)次に本発明の第3の
実施の形態を図8及び図9を参照して説明する。この第
3の実施の形態は、温度変化による発振回路31の発振
周波数の変動を防止したことを特徴とする。
【0083】即ち、上記各実施の形態のものでは、静電
容量センサ21の内部温度が上昇すると、図9(a)中
に示すように発振回路31の発振周期が短くなる。これ
は、発振回路31に用いられる電圧フォロワ回路30の
利得が温度特性により高くなることにより生じるもので
ある(但し、電圧フォロワ回路によっては温度上昇によ
り低くなる場合もある)。つまり、電圧フォロワ回路3
0の利得は通常は1であるものの、電圧フォロワ回路3
0の温度が上昇すると、電圧フォロワ回路30の利得が
1よりも大きくなり、シュミット回路34には本来の入
力電圧より高い電圧が与えられることになる。この結
果、シュミット回路34の入力電圧が上限閾値SLTを上
回ったり、下限閾値SLBを下回るまでの時間が短くなる
ことから、図9(a)に示すように発振回路31の発振
周期が短くなるのである。
【0084】通常、被検出物体が存在しない状態では発
振回路31の発振周期は短く、被検出物体が存在する状
態では発振回路31の発振周期は長くなることから、上
述したように温度変化によって電圧フォロワ回路30の
利得が変動したときは、被検出物体が存在しているにも
かかわらず、被検出物体が存在することを示す検出信号
が出力されないことがあり、正確な検出動作を行えない
虞がある。
【0085】そこで、本実施の形態においては、図8に
示すように第2の分圧抵抗35を固定抵抗43と負の温
度特性を示すサーミスタ(温度補償手段に相当)44と
を直列接続して構成するようにした。この場合、サーミ
スタ44の温度特性は、温度変化に伴う発振回路31の
発振周期の変動を打消すような特性を有するように設定
されている。
【0086】さて、静電容量センサ21の内部温度が上
昇して発振回路31の発振周期が短くなるような場合に
おいては、サーミスタ44は負の温度特性を有している
ことから、サーミスタ44の抵抗値が低下する。これに
より、検知電極24の充電状態では分圧回路39の分圧
電圧が低下し、検知電極24の放電状態では分圧電圧が
上昇するので、シュミット回路34のヒステリス幅が仮
想的に拡大したことになり(図9(b)参照)、発振回
路31の発振周期が短くなることを防止できる。
【0087】このような実施の形態によれば、温度変化
により発振回路31の発振周波数が変動するような場合
であっても、その変動をサーミスタ44の温度補償動作
により打消すようにしたので、温度変化による影響を受
けることなく被検出物体を確実に検出することができ
る。
【0088】尚、環境温度が上昇した場合に発振回路3
1の発振周波数が低くなるような場合は、負の温度特性
のサーミスタ44に代えて、正の温度特性のサーミスタ
を用いるようにする。
【0089】また、第2の分圧抵抗35を固定抵抗43
と負の温度特性を示すサーミスタ44とから構成するの
に代えて、第1の分圧抵抗33を固定抵抗と正の温度特
性を示すサーミスタとを直列接続して構成するようにし
てもよい。
【0090】さらに、第2の分圧抵抗35を、抵抗及び
アナログスイッチからなる異なる抵抗値の直列回路を並
列接続して構成し、温度変化に応じて所定のアナログス
イッチをオンすることにより第2の分圧抵抗35の抵抗
値を調整するようにしてもよい。
【0091】本発明は、上記各実施の形態に限定される
ものではなく、次のように変形または拡張できる。ガー
ド電極25を省略するようにしてもよい。インバータ回
路36に代えてシュミット回路を用いるようにしてもよ
い。この場合、ICが有する複数のシュミット回路を利
用することができ、ICの有効利用を図ることができ
る。
【0092】シュミット回路34の出力端子と制御手段
32との間にインバータ回路を介在し、そのインバータ
回路からの出力端子とシュミット回路34の入力端子と
の間に第2の分圧抵抗35を接続するようにしてもよ
い。
【0093】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の静電容量センサによれば、分圧手段により検知電極の
電圧を分圧した状態でシュミットトリガ・インバータ回
路に与えることにより、シュミットトリガ・インバータ
回路のヒステリスを仮想的に拡大するようにしたので、
検知電極を小形化しながら、シュミットトリガ・インバ
ータ回路が検知電極の充放電に伴う電圧変化に確実に追
従して発振回路が安定して発振することができ、被検出
物体を確実に検出することができるという優れた効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の概要を説明するための静電容量センサ
を示す概略図
【図2】各信号の波形図
【図3】本発明の第1の実施の形態における静電容量セ
ンサの電気的構成を示す概略図
【図4】ヘッド部の断面図
【図5】各信号の波形図
【図6】本発明の第2の実施の形態を示す図3相当図
【図7】図5相当図
【図8】本発明の第3の実施の形態を示す図3相当図
【図9】発振周期の変動時と温度補償時における各信号
の波形図
【図10】従来例における静電容量センサの発振回路を
示す電気回路図
【図11】被検出時と検出時における各信号の波形図
【符号の説明】
11は静電容量センサ、12は発振回路、14はシュミ
ットトリガ・インバータ回路、15は帰還抵抗、16は
検知電極、17は分圧手段、21は静電容量センサ、2
2はヘッド部、23はコントローラ部、24は検知電
極、25はガード電極、28は空気層、30は電圧フォ
ロワ回路、31は発振回路、32は制御手段、33は第
1の分圧抵抗、34はシュミット回路、35は第2の分
圧抵抗、36はインバータ回路(基準電圧変更手段)、
38は分圧手段、39は分圧回路、43は固定抵抗、4
4はサーミスタ(温度補償手段)である。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検知電極と被検出物体との間に発生する
    静電容量に応じて発振状態が変化する発振回路を備え、
    前記発振回路の発振状態に基づいて被検出物体の有無な
    どを検出する静電容量センサにおいて、 前記発振回路は、 入力電圧が上限閾値を上回ったときに出力をハイレベル
    からロウレベルに切替えると共に、入力電圧が下限閾値
    を下回ったときに出力をロウレベルからハイレベルに切
    替えるシュミットトリガ・インバータ回路と、 このシュミットトリガ・インバータ回路の出力と検知電
    極との間に介在される帰還抵抗と、 前記検知電極の電圧を分圧した状態で前記シュミットト
    リガ・インバータ回路に与える分圧手段とから構成され
    ていることを特徴とする静電容量センサ。
  2. 【請求項2】 前記分圧手段は、前記検知電極の電圧を
    所定の基準電圧との間で分圧する分圧回路から構成され
    ていることを特徴とする請求項1記載の静電容量セン
    サ。
  3. 【請求項3】 前記シュミットトリガ・インバータ回路
    からハイレベルが出力された状態で前記分圧回路の基準
    電圧をロウレベルとし、前記シュミットトリガ・インバ
    ータ回路からロウレベルが出力された状態で前記分圧回
    路の基準電圧をハイレベルとする基準電圧変更手段を備
    えていることを特徴とする請求項2記載の静電容量セン
    サ。
  4. 【請求項4】 前記分圧手段は、前記検知電極からの出
    力を受ける電圧フォロワ回路を備えて構成されているこ
    とを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の静電容
    量センサ。
  5. 【請求項5】 前記検知電極の非検出側をシールドする
    ガード電極を備え、 前記ガード電極は、前記電圧フォロワ回路の出力端子と
    接続されていることを特徴とする請求項4記載の静電容
    量センサ。
  6. 【請求項6】 前記検知電極と前記ガード電極との間に
    空気層を介在したことを特徴とする請求項5記載の静電
    容量センサ。
  7. 【請求項7】 前記電圧フォロワ回路の温度特性による
    前記発振回路の発振周波数の変動を打消すように前記分
    圧手段が前記シュミットトリガ・インバータ回路に与え
    る電圧を補正する温度補償手段を備えたことを特徴とす
    る請求項4乃至6の何れかに記載の静電容量センサ。
  8. 【請求項8】 前記温度補償手段は所定の温度特性を示
    すサーミスタであることを特徴とする請求項7記載の静
    電容量センサ。
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