JP2001358616A - Phase noise transmission characteristics analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、クロック信号また
はディジタル信号を伝送する機器等の位相雑音を有する
信号に対する伝達特性を解析するための位相雑音伝達特
性解析装置において、短い測定時間で解析対象の位相雑
音伝達特性を正しく評価できようにするための技術に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a phase noise transfer characteristic analyzing apparatus for analyzing a transfer characteristic of a signal having phase noise, such as a device for transmitting a clock signal or a digital signal. The present invention relates to a technique for correctly evaluating a phase noise transfer characteristic.
【０００２】[0002]
【従来の技術】クロックおよびデータを伝送する伝送シ
ステムでは、伝送される信号の位相雑音（位相揺らぎ）
が大きくなると、データを正しく再生することができな
くなる。2. Description of the Related Art In a transmission system for transmitting clock and data, phase noise (phase fluctuation) of a transmitted signal is considered.
Becomes larger, data cannot be reproduced correctly.
【０００３】このため、この種の伝送システムに使用さ
れる機器を製造したり、メンテナンスを行う場合、位相
雑音をもつ信号に対する伝達特性を調べる必要がある。[0003] Therefore, when manufacturing or maintaining equipment used in this type of transmission system, it is necessary to examine the transfer characteristics of a signal having phase noise.
【０００４】なお、位相雑音のうち、その揺らぎの周波
数が１０Ｈｚ以上の成分をジッタ、１０Ｈｚ以下の成分
をワンダと呼んでいるが、ここでは、両者を含めて位相
雑音と言う。また、ここで位相雑音とは、周波数および
振幅が一定である単一の正弦波信号等の周期関数信号で
はなく、広帯域にわたり周波数特性をもつ雑音信号とす
る。[0004] Of the phase noise, a component whose fluctuation frequency is 10 Hz or more is called a jitter, and a component whose frequency is 10 Hz or less is called a wander. Here, both components are called phase noise. Here, the phase noise is not a periodic function signal such as a single sine wave signal having a constant frequency and amplitude, but a noise signal having frequency characteristics over a wide band.
【０００５】位相雑音の特性は、一般に、 （ａ）ＴＤＥＶ（Ｔｉｍｅ ＤＥＶｉａｔｉｏｎ） （ｂ）ＴＩＥｒｍｓ（Ｒｏｏｔ Ｍｅａｎ Ｓｑｕａｒ
ｅ Ｔｉｍｅ Ｉｎｔｅｒｖａｌ Ｅｒｒｏｒ） （ｃ）ＭＡＤＥＶ（Ｍｏｄｉｆｉｅｄ Ａｌｌａｎ Ｄ
ＥＶｉａｔｉｏｎ） （ｄ）ＡＤＥＶ（Ａｌｌａｎ ＤＥＶｉａｔｉｏｎ） 等で表されるが、近年ではこれらの特性に対して規格化
が進んでいる。[0005] Generally, the characteristics of the phase noise are as follows: (a) TDEV (Time Deviation); (b) TIErms (Root Mean Square).
e Time Interval Error) (c) MADEV (Modified Allan D)
EVation) (d) Expressed as ADEV (Allan Deviation), etc. In recent years, standardization has been advanced for these characteristics.
【０００６】したがって、機器の位相雑音伝達特性の評
価を行う場合には、これらの規格特性に準じた特性のジ
ッタやワンダを有する試験信号を解析対象機器に入力
し、その出力の位相雑音特性を測定し、測定によって得
られた位相雑音特性が規格特性に対してどのように変化
したかを調べる必要がある。Therefore, when evaluating the phase noise transfer characteristic of the equipment, a test signal having jitter or wander having characteristics in accordance with these standard characteristics is input to the equipment to be analyzed, and the phase noise characteristic of the output is analyzed. It is necessary to measure and examine how the phase noise characteristic obtained by the measurement has changed from the standard characteristic.
【０００７】このような位相雑音伝達特性を解析するた
めに、従来では、図１１に示す位相雑音伝達特性解析装
置１０が用いられていた。In order to analyze such a phase noise transfer characteristic, a phase noise transfer characteristic analyzer 10 shown in FIG. 11 has conventionally been used.
【０００８】この位相雑音伝達特性解析装置１０は、前
記した規格化された特性を含む任意の位相雑音特性を指
定するための特性指定手段１１と、指定された位相雑音
特性を有する試験信号を生成するために必要なパラメー
タを算出するパラメータ算出手段１２と、算出されたパ
ラメータに対応する位相雑音特性を有する試験信号を生
成して出力端子１０ａから出力する試験信号生成手段１
３と、出力端子１０ａから出力される試験信号を受けた
解析対象機器１の出力信号を入力端子１０ｂを介して受
け、その位相雑音特性を測定する位相雑音特性測定手段
１４と、特性指定手段１１によって指定された位相雑音
特性と、位相雑音特性測定手段１４によって測定された
位相雑音特性とを対比可能に表示する表示手段１５とに
よって構成されている。The phase noise transfer characteristic analyzing apparatus 10 generates characteristic signal specifying means 11 for specifying an arbitrary phase noise characteristic including the standardized characteristic, and generates a test signal having the specified phase noise characteristic. Parameter calculating means 12 for calculating parameters required for performing the calculation, and a test signal generating means 1 for generating a test signal having a phase noise characteristic corresponding to the calculated parameter and outputting it from an output terminal 10a.
3, a phase noise characteristic measuring means 14 for receiving, via an input terminal 10b, an output signal of the device 1 to be analyzed which has received a test signal output from an output terminal 10a, and a characteristic designating means 11 And a display means 15 for displaying the phase noise characteristic designated by the above and the phase noise characteristic measured by the phase noise characteristic measuring means 14 in a comparable manner.
【０００９】この位相雑音伝達特性解析装置１０を用い
て、ワンダのＴＤＥＶについての伝達特性を解析する場
合について説明すると、例えば図１２に示すように、積
分時間τ１とτ２を境界にして傾きが変化するＴＤＥＶ
の特性Ｒが特性指定手段１１によって指定されると、パ
ラメータ設定手段１２によってこの特性Ｒに対応するパ
ラメータが算出されて試験信号生成手段１１に設定さ
れ、試験信号生成手段１３がこのパラメータによって決
まる位相雑音特性の試験信号Ｓｔを生成して、出力端子
１０ａを介して解析対象機器１に入力する。A description will be given of a case where the transfer characteristic of the wander TDEV is analyzed using the phase noise transfer characteristic analyzing apparatus 10. For example, as shown in FIG. 12, the slope changes at the boundary between the integration times τ1 and τ2. TDEV
Is specified by the characteristic specifying unit 11, a parameter corresponding to the characteristic R is calculated by the parameter setting unit 12 and set in the test signal generating unit 11, and the test signal generating unit 13 determines the phase determined by the parameter. A test signal St of the noise characteristic is generated and input to the analysis target device 1 via the output terminal 10a.
【００１０】試験信号Ｓｔを受けた解析対象機器１の出
力信号Ｓｒは、入力端子１０ｂを介して位相雑音特性測
定手段１４に入力され、その信号ＳｒのＴＤＥＶの特性
Ｍが測定される。[0010] The output signal Sr of the analysis target device 1 having received the test signal St is input to the phase noise characteristic measuring means 14 via the input terminal 10b, and the TDEV characteristic M of the signal Sr is measured.
【００１１】そして、特性指定手段１１によって指定さ
れた特性Ｒと位相雑音特性測定手段１４によって測定さ
れた特性Ｍとが、図１３に示すように表示手段１５によ
って表示され、この表示された２つの特性を対比するこ
とで、解析対象機器１のワンダ伝達特性の評価を行うこ
とができる。The characteristic R designated by the characteristic designating means 11 and the characteristic M measured by the phase noise characteristic measuring means 14 are displayed by the display means 15 as shown in FIG. By comparing the characteristics, the wander transfer characteristics of the analysis target device 1 can be evaluated.
【００１２】[0012]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
解析対象機器１に入力される試験信号Ｓｔの位相雑音特
性を、特性指定手段１１によって指定した特性Ｒに完全
に一致させることはできない。However, the phase noise characteristic of the test signal St actually input to the analysis target device 1 cannot completely match the characteristic R specified by the characteristic specifying means 11.
【００１３】即ち、図１２に示しているように、位相雑
音を評価するときに一般的に用いられる特性Ｒは傾きが
不連続に変化する折れ線で示される理論特性であって、
このような理論特性を実際の電子回路で実現することは
極めて困難であり、試験信号生成手段１１から実際に出
力される試験信号Ｓｔは、図１２のＲ′のように特性Ｒ
の傾き変化部分が曲線で近似された特性になっている。That is, as shown in FIG. 12, a characteristic R generally used when evaluating the phase noise is a theoretical characteristic indicated by a broken line whose slope changes discontinuously.
It is extremely difficult to realize such a theoretical characteristic in an actual electronic circuit, and the test signal St actually output from the test signal generating means 11 has a characteristic R as shown by R 'in FIG.
Is a characteristic approximated by a curve.
【００１４】したがって、表示手段１５で表示される特
性を対比する場合には、この近似による特性の誤差をオ
ペレータ自身が考慮して解析しなければならず、正確な
対比が行えない。Therefore, when comparing the characteristics displayed by the display means 15, the operator must consider and analyze the error of the characteristics due to this approximation, and accurate comparison cannot be performed.
【００１５】これを解決するために、図１１に破線で示
しているように、予め出力端子１０ａと入力端子１０ｂ
の間を直結して試験信号Ｓｔの位相雑音特性を位相雑音
特性測定手段１４によって測定し、この試験信号Ｓｔの
位相雑音特性と特性指定手段１２で指定した特性との近
似誤差を求めておき、解析対象機器１を測定したときに
得られた位相雑音特性を近似誤差で補正することが考え
られる。In order to solve this, as shown by broken lines in FIG. 11, an output terminal 10a and an input terminal 10b
The phase noise characteristic of the test signal St is directly measured by the phase noise characteristic measuring means 14, and an approximation error between the phase noise characteristic of the test signal St and the characteristic designated by the characteristic designating means 12 is obtained. It is conceivable to correct the phase noise characteristic obtained when measuring the analysis target device 1 with an approximation error.
【００１６】しかしながら、このように試験信号の位相
雑音特性を求めてから解析対象機器１の位相雑音特性を
求める方法では、測定時間が２倍になってしまい、特
に、長い測定時間が必要なワンダについての伝達特性を
解析する場合には、測定結果がでるまでの待ち時間が非
常に長くなってしまう。However, in such a method of obtaining the phase noise characteristic of the test target signal 1 after obtaining the phase noise characteristic of the test signal, the measurement time is doubled, and in particular, wander requiring a long measurement time is required. When analyzing the transfer characteristics of, the waiting time until a measurement result is obtained becomes very long.
【００１７】本発明は、この問題を解決し、短い測定時
間で、指定した特性に対して正しい評価ができる位相雑
音伝達特性解析装置を提供することを目的としている。It is an object of the present invention to solve this problem and to provide a phase noise transfer characteristic analyzing apparatus capable of correctly evaluating a specified characteristic in a short measurement time.
【００１８】[0018]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の位相雑音伝達特性解析装置は、
任意の位相雑音特性を指定する特性指定手段と、前記特
性指定手段によって指定された位相雑音特性の試験信号
を生成するために必要なパラメータを算出するパラメー
タ算出手段と、前記パラメータ算出手段によって算出さ
れたパラメータに基づいて位相雑音特性を有する試験信
号を生成する試験信号生成手段と、前記試験信号生成手
段が生成した試験信号の位相雑音特性を測定する第１の
位相雑音特性測定手段と、前記試験信号生成手段が生成
した試験信号を外部の解析対象に出力するための出力端
子と、前記試験信号を受けた解析対象から出力される信
号を入力させるための入力端子と、前記試験信号に対す
る前記第１の位相雑音特性測定手段の位相雑音特性の測
定と並行して、前記入力端子から入力される信号の位相
雑音特性を測定する第２の位相雑音特性測定手段と、前
記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前記
第１の位相雑音特性測定手段によって測定された位相雑
音特性との差を近似誤差として求める近似誤差算出手段
と、前記第２の位相雑音特性測定手段によって測定され
た位相雑音特性を前記近似誤差算出手段によって算出さ
れた近似誤差で補正して、前記解析対象が前記特性指定
手段によって指定された位相雑音特性の試験信号を受け
たと仮定したときに出力する信号の仮想位相雑音特性を
算出する仮想特性算出手段とを備え、前記特性指定手段
によって指定された位相雑音特性と前記仮想特性算出手
段によって算出された仮想位相雑音特性との差を把握で
きるようにしている。According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for analyzing phase noise transfer characteristics according to the present invention.
A characteristic specifying unit that specifies an arbitrary phase noise characteristic; a parameter calculating unit that calculates a parameter necessary to generate a test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying unit; and a parameter calculating unit that calculates the parameter. Test signal generating means for generating a test signal having a phase noise characteristic based on the obtained parameters, first phase noise characteristic measuring means for measuring a phase noise characteristic of the test signal generated by the test signal generating means, An output terminal for outputting the test signal generated by the signal generation means to an external analysis target, an input terminal for inputting a signal output from the analysis target that has received the test signal, and the second terminal for the test signal. In parallel with the measurement of the phase noise characteristic of the first phase noise characteristic measuring means, the phase noise characteristic of the signal input from the input terminal is measured. A second phase noise characteristic measuring means, and an approximate error calculating means for obtaining a difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means and the phase noise characteristic measured by the first phase noise characteristic measuring means as an approximate error And correcting the phase noise characteristic measured by the second phase noise characteristic measuring means with the approximation error calculated by the approximation error calculating means so that the analysis target is the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means. Virtual characteristic calculation means for calculating a virtual phase noise characteristic of a signal to be output when it is assumed that the test signal has been received, and the phase noise characteristic specified by the characteristic specification means and the virtual characteristic calculation means calculated by the virtual characteristic calculation means. The difference from the virtual phase noise characteristic can be grasped.
【００１９】また、本発明の請求項２の位相雑音伝達特
性解析装置は、任意の位相雑音特性を指定する特性指定
手段と、前記特性指定手段によって指定された位相雑音
特性の試験信号を生成するために必要なパラメータを算
出するパラメータ算出手段と、前記パラメータ算出手段
によって算出されたパラメータに基づいて位相雑音特性
を有する試験信号を生成する試験信号生成手段と、前記
パラメータ算出手段によって算出されたパラメータに基
づいて、前記試験信号生成手段が生成する試験信号の位
相雑音特性を算出する位相雑音特性算出手段と、前記試
験信号生成が生成した試験信号を外部の解析対象に出力
するための出力端子と、前記試験信号を受けた解析対象
から出力される信号を入力させるための入力端子と、前
記入力端子から入力される信号の位相雑音特性を測定す
る位相雑音特性測定手段と、前記特性指定手段によって
指定された位相雑音特性と前記位相雑音特性算出手段に
よって算出された位相雑音特性との差を近似誤差として
求める近似誤差算出手段と、前記位相雑音特性測定手段
によって測定された位相雑音特性を前記近似誤差算出手
段によって算出された近似誤差で補正して、前記解析対
象が前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性
の試験信号を受けたと仮定したときに出力する信号の仮
想位相雑音特性を算出する仮想特性算出手段とを備え、
前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記仮想特性算出手段によって算出された仮想位相雑音特
性との差を把握できるようにしている。According to a second aspect of the present invention, there is provided a phase noise transfer characteristic analyzing apparatus for generating a characteristic specifying means for specifying an arbitrary phase noise characteristic and a test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means. Parameter calculation means for calculating parameters necessary for the calculation, test signal generation means for generating a test signal having a phase noise characteristic based on the parameters calculated by the parameter calculation means, and parameters calculated by the parameter calculation means A phase noise characteristic calculating means for calculating a phase noise characteristic of the test signal generated by the test signal generating means, and an output terminal for outputting the test signal generated by the test signal generation to an external analysis target. An input terminal for inputting a signal output from the analysis target receiving the test signal, and an input terminal Phase noise characteristic measuring means for measuring the phase noise characteristic of the signal to be obtained, and a difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means and the phase noise characteristic calculated by the phase noise characteristic calculating means is determined as an approximate error. Approximation error calculating means, and correcting the phase noise characteristic measured by the phase noise characteristic measuring means with the approximation error calculated by the approximation error calculating means, so that the analysis target is the phase noise specified by the characteristic specifying means. Virtual characteristic calculating means for calculating a virtual phase noise characteristic of a signal output when it is assumed that the characteristic test signal has been received,
The difference between the phase noise characteristic designated by the characteristic designation means and the virtual phase noise characteristic calculated by the virtual characteristic calculation means can be grasped.
【００２０】[0020]
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。図１は、本発明の請求項１に対応
する実施の形態の位相雑音伝達特性解析装置２０の構成
を示している。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a phase noise transfer characteristic analyzing apparatus 20 according to an embodiment corresponding to claim 1 of the present invention.
【００２１】図１において、特性指定手段２１は図示し
ない操作部等の操作によって前記した規格化された特性
を含む任意の位相雑音特性Ｒを指定するためのものであ
り、例えばワンダの評価に用いるＴＤＥＶの特性等を指
定する。In FIG. 1, a characteristic designating means 21 is for designating an arbitrary phase noise characteristic R including the above-mentioned standardized characteristic by operating an operation unit or the like (not shown), and is used for, for example, wander evaluation. Specify the characteristics of TDEV.
【００２２】パラメータ算出手段２２は、特性指定手段
２１から指定された位相雑音特性の試験信号を試験信号
生成手段２３に生成させるために必要なパラメータを算
出して試験信号生成手段２３に出力する。The parameter calculating means 22 calculates parameters necessary for the test signal generating means 23 to generate a test signal of the phase noise characteristic designated by the characteristic specifying means 21 and outputs the parameters to the test signal generating means 23.
【００２３】試験信号生成手段２３は、パラメータ算出
手段によって算出されたパラメータによって決定される
位相雑音特性を有する試験信号Ｓｔを生成して、出力端
子２０ａから出力する。The test signal generation means 23 generates a test signal St having a phase noise characteristic determined by the parameter calculated by the parameter calculation means, and outputs it from the output terminal 20a.
【００２４】ここで、試験信号生成手段２３は、例え
ば、図２に示すように、白色雑音発生器２４、フィルタ
２５、クロック変調器２６およびデータ発生器２７によ
って構成されている。Here, the test signal generating means 23 comprises, for example, a white noise generator 24, a filter 25, a clock modulator 26 and a data generator 27 as shown in FIG.
【００２５】白色雑音発生器２４は、広帯域にわたって
振幅が一様に分布する白色ガウス性のディジタルの雑音
信号Ｎを出力する。この白色雑音発生器２４は、例えば
互いの符号が無相関となるように出力符号の位相をずら
した同一符号系列の複数の擬似ランダム信号発生器の出
力を加算合成して雑音信号Ｎを生成する。The white noise generator 24 outputs a white Gaussian digital noise signal N whose amplitude is uniformly distributed over a wide band. The white noise generator 24 generates a noise signal N by adding and synthesizing the outputs of a plurality of pseudo-random signal generators of the same code sequence whose output codes are shifted in phase so that the codes are uncorrelated. .
【００２６】フィルタ２５は、ディジタル信号列を内部
の複数の記憶素子に順次シフトしながら記憶し、その複
数の記憶素子の記憶内容についての積和演算を行うディ
ジタルフィルタを有しており、雑音発生器２４から出力
された雑音信号Ｎを予め設定された係数に対応する周波
数特性の雑音信号Ｎ′に変換して出力する。The filter 25 has a digital filter for sequentially storing the digital signal sequence in a plurality of internal storage elements and performing a product-sum operation on the stored contents of the plurality of storage elements. The noise signal N output from the converter 24 is converted into a noise signal N 'having a frequency characteristic corresponding to a preset coefficient and output.
【００２７】このフィルタ２５は、周波数特性がフィル
タ係数によって決定される単一のディジタルフィルタで
構成したものや、入力信号を複数のディジタルフィルタ
で帯域分割し、各帯域の信号に重み付け係数を乗算して
合成するように構成したものが使用できる。The filter 25 is composed of a single digital filter whose frequency characteristic is determined by a filter coefficient, or the input signal is divided into bands by a plurality of digital filters, and the signal of each band is multiplied by a weighting coefficient. What is constituted so that it synthesize | combines by using can be used.
【００２８】クロック変調器２６は、例えばＤＤＳ（ダ
イレクトディジタルシンセサイザ）やＰＬＬ発振器等で
構成されており、所定の中心周波数をもち、フィルタ２
５からの雑音信号Ｎ′に応じて位相が変調されたクロッ
ク信号ＣＫをデータ発生器２７に出力する。The clock modulator 26 is composed of, for example, a DDS (direct digital synthesizer), a PLL oscillator, etc., has a predetermined center frequency,
The clock signal CK whose phase has been modulated according to the noise signal N ′ from 5 is output to the data generator 27.
【００２９】データ発生器２７は、クロック信号ＣＫに
同期した所定のパターン信号を試験信号Ｓｔとして出力
する。The data generator 27 outputs a predetermined pattern signal synchronized with the clock signal CK as a test signal St.
【００３０】なお、ここでは、クロック信号ＣＫに同期
したパターン信号を試験信号Ｓｔとしているが、データ
発生器２７を介さずに、クロック変調器２６から出力さ
れるクロック信号ＣＫを試験信号として直接出力しても
よい。Here, the pattern signal synchronized with the clock signal CK is used as the test signal St, but the clock signal CK output from the clock modulator 26 is directly output as the test signal without passing through the data generator 27. May be.
【００３１】このようにフィルタ２５によって帯域制限
された雑音信号によって位相変調された試験信号を生成
する試験信号生成手段２３では、その試験信号の位相雑
音特性はフィルタ２５の特性に依存し、このフィルタ２
５の特性は、前記したフィルタ係数あるいは重み付け係
数等のパラメータによって決定される。In the test signal generating means 23 for generating a test signal phase-modulated by the noise signal band-limited by the filter 25, the phase noise characteristic of the test signal depends on the characteristic of the filter 25. 2
The characteristics of No. 5 are determined by parameters such as the above-mentioned filter coefficient or weighting coefficient.
【００３２】このため、パラメータ算出手段２２は、試
験信号Ｓｔの位相雑音特性を特性指定手段２１によって
指定された位相雑音特性Ｒに近似させるためのフィルタ
係数あるいは重み付け係数をパラメータとして算出し
て、フィルタ２５に設定している。For this reason, the parameter calculating means 22 calculates as a parameter a filter coefficient or a weighting coefficient for approximating the phase noise characteristic of the test signal St to the phase noise characteristic R specified by the characteristic specifying means 21, It is set to 25.
【００３３】試験信号生成手段２３が生成した試験信号
Ｓｔは、出力端子２０ａを介して解析対象機器１に入力
されるとともに、第１の位相雑音特性測定手段３０に入
力される。The test signal St generated by the test signal generating means 23 is input to the device 1 to be analyzed via the output terminal 20a and also to the first phase noise characteristic measuring means 30.
【００３４】第１の位相雑音特性測定手段３０は、試験
信号生成手段２３から出力された試験信号Ｓｔの位相雑
音特性Ｒ′を測定するためのものであり、例えば図３に
示すように、クロック抽出回路３１によって試験信号Ｓ
ｔからクロック信号ＣＫを抽出し、このクロック信号Ｃ
Ｋと基準クロックＣＫｒとの位相差を位相比較器３２に
よって検出し、この検出信号からフィルタ３３によって
ワンダ成分あるいはジッタ成分を抽出し、抽出した信号
成分をＡ／Ｄ変換器３４によって所定のサンプリング周
期でサンプリングしてディジタル値に変換し、これをＴ
ＩＥデータとして特性演算部３５に出力する。The first phase noise characteristic measuring means 30 is for measuring the phase noise characteristic R 'of the test signal St outputted from the test signal generating means 23. For example, as shown in FIG. The test signal S is extracted by the extraction circuit 31.
t, the clock signal CK is extracted from the clock signal C
A phase difference between K and the reference clock CKr is detected by a phase comparator 32, a wander component or a jitter component is extracted from the detected signal by a filter 33, and the extracted signal component is extracted by an A / D converter 34 at a predetermined sampling period. And converts it to a digital value.
The data is output to the characteristic calculation unit 35 as IE data.
【００３５】なお、クロック抽出回路３１を省略して、
試験信号生成手段２３のクロック変調器２６から出力さ
れるクロック信号ＣＫを位相比較器３２に直接入力して
もよい。The clock extraction circuit 31 is omitted,
The clock signal CK output from the clock modulator 26 of the test signal generator 23 may be directly input to the phase comparator 32.
【００３６】特性演算部３５は、ＴＩＥデータに基づい
て試験信号Ｓｔの位相雑音特性Ｒ′を算出する。例えば
ワンダのＴＤＥＶ特性を求める場合には、ＴＩＥデータ
に対して次の演算を行う。The characteristic calculator 35 calculates a phase noise characteristic R 'of the test signal St based on the TIE data. For example, when obtaining the wander TDEV characteristic, the following calculation is performed on the TIE data.
【００３７】ＴＤＥＶ（τ）＝｛（１／６ｎ２）（１／
ｍ）・ｊ＝１Σｍ［ｉ＝ｊΣｎ＋ｊ−１（χｉ＋２ｎ−
２χｉ＋ｎ＋χｉ）］２｝１／２ TDEV (τ) = ｛(1 / 6n 2 ) (1 /
m) · j = 1 ｍ m [ i = j ｎ n + j−1 (χ i + 2n −
2χ i + n + χ i )] 2 ｝ 1/2
【００３８】ここで、ｍ＝Ｎ−３ｎ＋１、χｉはＴＩＥ
データ、Ｎは全サンプル数、τは積分時間（τ＝ｎ
τ０）、ｎはサンプリング数（ｎ＝１〜３／Ｎ）、τ０
はサンプリング周期、記号Ｐ＝ＺΣＱはＰ＝Ｚ〜Ｑまで
の総和を示す。Here, m = N−3n + 1, ｉi is the TIE
Data, N is the total number of samples, τ is the integration time (τ = n
τ 0 ), n is the number of samples (n = 1 to 3 / N), τ 0
Denotes the sampling period, and the symbol P = ZΣQ denotes the sum of P = Z to Q.
【００３９】なお、ＴＤＥＶ（τ）は、最大積分時間の
１２倍の測定時間の全ＴＩＥデータを基にして算出す
る。例えばサンプリング周期τ０が１／８０秒（１２．
５ｍＳ）のときに、τ＝１０００秒のＴＤＥＶ（１００
０）を求める場合、１２０００秒（８０サンプル／秒×
１０００秒×１２＝９６００００サンプル）分のデータ
を使って上記式を計算する。Note that TDEV (τ) is calculated based on all TIE data for a measurement time that is 12 times the maximum integration time. For example, if the sampling period τ 0 is 1/80 second (12.
5mS), TDEV (100
0), 12000 seconds (80 samples / second ×
The above equation is calculated using data for 1000 seconds × 12 = 960000 samples).
【００４０】試験信号Ｓｔを受けた解析対象機器１から
出力される信号Ｓｒは、入力端子２０ｂを介して第２の
位相雑音特性測定手段４０に入力される。The signal Sr output from the analysis target device 1 having received the test signal St is input to the second phase noise characteristic measuring means 40 via the input terminal 20b.
【００４１】第２の位相雑音特性測定手段４０は、第１
の位相雑音特性測定手段３０と同一構成であり、第１の
位相雑音特性測定手段３０による試験信号Ｓｔの測定と
並行して、入力される信号Ｓｒの位相雑音特性Ｍを測定
する。The second phase noise characteristic measuring means 40
And the phase noise characteristic M of the input signal Sr is measured in parallel with the measurement of the test signal St by the first phase noise characteristic measuring means 30.
【００４２】なお、後述するように、第１の位相雑音特
性測定手段３０の代わりに、パラメータ算出手段２２か
ら出力されるパラメータに基づいて試験信号Ｓｔの位相
雑音特性Ｒ′を演算によって求める位相雑音特性算出手
段５１を用いてもよい。As will be described later, instead of the first phase noise characteristic measuring means 30, the phase noise R 'of the test signal St obtained by calculation based on the parameters output from the parameter calculating means 22 is calculated. The characteristic calculating means 51 may be used.
【００４３】近似誤差算出手段４１は、特性指定手段２
１によって指定された位相雑音特性Ｒと第１の位相雑音
特性測定手段３０によって測定された位相雑音特性Ｒ′
との差を近似誤差Ｅとして求める。The approximation error calculating means 41 includes the characteristic specifying means 2
1 and the phase noise characteristic R 'measured by the first phase noise characteristic measuring means 30.
Is obtained as an approximate error E.
【００４４】仮想特性算出手段４２は、第２の位相雑音
特性測定手段４０によって測定された位相雑音特性Ｍを
近似誤差算出手段４２によって算出された近似誤差Ｅで
補正して、解析対象機器１が特性指定手段１２によって
指定された位相雑音特性Ｒの試験信号を受けたと仮定し
たときに出力する信号の仮想位相雑音特性Ｍ′を算出す
る。The virtual characteristic calculating means 42 corrects the phase noise characteristic M measured by the second phase noise characteristic measuring means 40 with the approximate error E calculated by the approximate error calculating means 42, and The virtual phase noise characteristic M 'of the signal output when it is assumed that the test signal of the phase noise characteristic R specified by the characteristic specifying means 12 is received is calculated.
【００４５】表示手段４３は、特性指定手段３０によっ
て指定された位相雑音特性Ｒと仮想特性算出手段４２に
よって算出された仮想位相雑音特性Ｍ′との差を把握で
きるように表示する。なお、この表示手段４３は特性を
視認できるように出力する画像表示器やプリンタを含ん
でいる。The display means 43 displays the difference between the phase noise characteristic R designated by the characteristic designation means 30 and the virtual phase noise characteristic M 'calculated by the virtual characteristic calculation means 42 so as to be grasped. The display means 43 includes an image display and a printer which output the characteristics so that the characteristics can be visually recognized.
【００４６】次に、この位相雑音伝達特性解析装置２０
の動作を説明する。前記したようにワンダについてのＴ
ＤＥＶ特性についての伝達特性を解析するために、特性
指定手段２１によって例えば図４に示すように、積分時
間τ１、τ２を境界にして傾きｋがα、β、γと変化す
るＴＤＥＶの特性Ｒが指定されると、パラメータ算出手
段２２は、この特性の積分時間τ１、τ２および傾きｋ
の値等に基づいて、試験信号生成手段２３がこの特性Ｒ
に近似した位相雑音特性の試験信号Ｓｔを生成するため
に必要なパラメータを算出して試験信号生成手段２３に
設定する。Next, the phase noise transfer characteristic analyzer 20
Will be described. As described above, T for wander
In order to analyze the transfer characteristic of the DEV characteristic, as shown in FIG. 4, for example, the characteristic R of the TDEV in which the slope k changes to α, β, and γ at the boundaries of the integration times τ1 and τ2 by the characteristic When specified, the parameter calculation means 22 calculates the integration times τ1, τ2 and the slope k of this characteristic.
The test signal generating means 23 calculates the characteristic R
The parameters required to generate a test signal St having a phase noise characteristic similar to the above are calculated and set in the test signal generation means 23.
【００４７】このため、試験信号生成手段２３からは、
図５に示すように、特性Ｒに近似した特性Ｒ′を有する
試験信号Ｓｔが生成され、この試験信号Ｓｔが出力端子
２０ａを介して解析対象機器１に入力される。Therefore, the test signal generating means 23 outputs
As shown in FIG. 5, a test signal St having a characteristic R ′ similar to the characteristic R is generated, and the test signal St is input to the analysis target device 1 via the output terminal 20a.
【００４８】また、このとき、第１の位相雑音特性測定
手段３０には試験信号Ｓｔが入力され、第２の位相雑音
特性測定手段４０には入力端子２０ｂを介して解析対象
機器１の出力信号Ｓｒが入力され、両位相雑音特性測定
手段３０、４０による位相雑音特性の測定が並行して行
われる。At this time, the test signal St is input to the first phase noise characteristic measuring means 30, and the output signal of the analysis target device 1 is input to the second phase noise characteristic measuring means 40 via the input terminal 20b. Sr is input, and the measurement of the phase noise characteristic by both phase noise characteristic measuring means 30 and 40 is performed in parallel.
【００４９】そして、両位相雑音特性測定手段３０、４
０による位相雑音特性の測定が終了すると、第１の位相
雑音特性測定手段３０によって図５で示した試験信号Ｓ
ｔのＴＤＥＶの特性Ｒ′が得られる。Then, both phase noise characteristic measuring means 30, 4
0, the first phase noise characteristic measuring means 30 completes the measurement of the test signal S shown in FIG.
The characteristic R 'of the TDEV of t is obtained.
【００５０】第１の位相雑音特性測定手段３０によって
得られた特性Ｒ′は、特性指定手段２１によって指定さ
れた特性Ｒとともに近似誤差算出手段４１に入力され、
特性Ｒに対する特性Ｒ′の近似誤差Ｅが例えば図６に示
すように算出される。The characteristic R 'obtained by the first phase noise characteristic measuring means 30 is input to the approximate error calculating means 41 together with the characteristic R specified by the characteristic specifying means 21,
An approximation error E of the characteristic R 'with respect to the characteristic R is calculated, for example, as shown in FIG.
【００５１】一方、第２の位相雑音特性測定手段４０か
らは、例えば図７に示すように、試験信号Ｓｔの特性
Ｒ′に対してＴＤＥＶの値が全域で大きい出力信号Ｓｒ
のＴＤＥＶの特性Ｍが得られる。On the other hand, from the second phase noise characteristic measuring means 40, as shown in FIG. 7, for example, as shown in FIG.
The characteristic M of the TDEV is obtained.
【００５２】この特性Ｍは、近似誤差Ｅとともに仮想特
性算出手段４２に入力され、近似誤差Ｅによって特性Ｍ
が補正されて、図８に示すように、特性Ｒの試験信号が
解析対象機器１に入力されたと仮定したときの出力信号
の仮想特性Ｍ′が得られ、この仮想特性Ｍ′と特性指定
手段２１によって指定された特性Ｒとが図９に示すよう
に対比表示される。The characteristic M is input to the virtual characteristic calculating means 42 together with the approximation error E, and the characteristic M
Is corrected, and as shown in FIG. 8, a virtual characteristic M ′ of the output signal is obtained assuming that the test signal of the characteristic R is input to the analysis target device 1, and the virtual characteristic M ′ and the characteristic designating means are obtained. The characteristic R designated by 21 is displayed in contrast as shown in FIG.
【００５３】この表示された２つの特性はともに実測さ
れたものでなく、理論的な特性であるが互いに対応した
ものであるから、両者を単純に対比することでその差異
を正確に把握できる。The two displayed characteristics are not actually measured, but are theoretical characteristics but correspond to each other. Therefore, the difference can be accurately grasped by simply comparing the two characteristics.
【００５４】このように、実施形態の位相雑音伝達特性
解析装置２０では、解析対象機器１に実際に入力される
試験信号Ｓｔの位相雑音特性Ｒ′と、解析対象機器１の
出力信号Ｓｒの位相雑音特性Ｍとを、第１の位相雑音特
性測定手段３０および第２の位相雑音特性測定手段４０
によって並行して測定し、その測定結果から求めた仮想
位相雑音特性Ｍ′と指定された位相雑音特性Ｒとの差を
把握できるように表示しているため、短い測定時間で、
指定された位相雑音特性Ｒと仮想特性Ｍとの差、即ち、
指定された位相雑音特性Ｒについての解析対象機器１の
位相雑音伝達特性を正確に把握できる。As described above, in the phase noise transfer characteristic analyzing apparatus 20 of the embodiment, the phase noise characteristic R 'of the test signal St actually input to the device under analysis 1 and the phase of the output signal Sr of the device under analysis 1 The first phase noise characteristic measuring means 30 and the second phase noise characteristic measuring means 40
Are measured in parallel, and displayed so that the difference between the virtual phase noise characteristic M ′ obtained from the measurement result and the designated phase noise characteristic R can be grasped.
The difference between the specified phase noise characteristic R and the virtual characteristic M, that is,
The phase noise transfer characteristic of the analysis target device 1 with respect to the specified phase noise characteristic R can be accurately grasped.
【００５５】上記した位相雑音伝達特性解析装置２０で
は、２つの位相雑音特性測定手段３０、４０を有してい
るため構成がやや複雑になる。The above-described phase noise transfer characteristic analyzer 20 has two phase noise characteristic measuring means 30 and 40, so the configuration is slightly complicated.
【００５６】次に、この点を改善した本発明の請求項２
に対応する位相雑音伝達特性解析装置５０を図１０に基
づいて説明する。Next, claim 2 of the present invention in which this point is improved.
Will be described with reference to FIG.
【００５７】この位相雑音伝達特性解析装置５０は、前
記した位相雑音伝達特性解析装置２０の第１の位相雑音
特性測定手段３０の代わりに位相雑音特性算出手段５１
を用いており、その他の構成は位相雑音伝達特性解析装
置２０と同一であるので、同一符号を付して説明を省略
する。The phase noise transfer characteristic analyzing device 50 includes a phase noise characteristic calculating means 51 instead of the first phase noise characteristic measuring means 30 of the phase noise transfer characteristic analyzing device 20 described above.
Since other configurations are the same as those of the phase noise transfer characteristic analyzing device 20, the same reference numerals are given and the description is omitted.
【００５８】この位相雑音特性算出手段５１は、パラメ
ータ算出手段２２によって算出されたパラメータに基づ
いて、試験信号生成手段２３が出力する試験信号Ｓｔの
位相雑音特性Ｒ′を演算によって求めている。The phase noise characteristic calculating means 51 calculates the phase noise characteristic R 'of the test signal St output from the test signal generating means 23 based on the parameters calculated by the parameter calculating means 22.
【００５９】即ち、前記した位相雑音のＴＤＥＶ、ＴＩ
Ｅｒｍｓ、ＭＡＤＥＶ、ＡＤＥＶ等の特性を求める場合
には次の演算を行う。That is, the above-mentioned phase noise TDEV, TI
The following calculation is performed when characteristics such as Erms, MADEV, and ADEV are obtained.
【００６０】 ＴＤＥＶ（ｎτ０） ＝｛（１６／３ｎ２）∫〔ｓｉｎ６（πｆτ０）／ｓｉｎ２（πｆτ０）〕Ｓｘ （ｆ ）ｄｆ｝１／２ （ｎ＝０，１，２，…，Ｎ）TDEV (nτ 0 ) = {(16 / 3n 2 )} [sin 6 (πfτ 0 ) / sin 2 (πfτ 0 )] S x (f) df} 1/2 (n = 0, 1, 2 , ..., N)
【００６１】ＴＩＥｒｍｓ（τ）＝〔８∫Ｓｘ（ｆ）ｓ
ｉｎ２（πｆτ）ｄｆ〕１／２ TIErms (τ) = [8∫S x (f) s
in 2 (πfτ) df] 1/2
【００６２】ＡＤＥＶ（τ）＝〔（１６／τ２）∫Ｓｘ
（ｆ）ｓｉｎ４（πｆτ）ｄｆ〕１／２ ADEV (τ) = [(16 / τ 2 ) ∫S x
(F) sin 4 (πfτ) df] 1/2
【００６３】 ＭＡＤＥＶ（ｎτ０） ＝｛〔１６／（ｎ２τ０）２〕∫〔ｓｉｎ６（πｆτ０）／ｓｉｎ２（πｆτ０ ）〕 ・Ｓｘ（ｆ）ｄｆ｝１／２ （ｎ＝０，１，２，…，Ｎ）MADEV (nτ 0 ) = {[16 / (n 2 τ 0 ) 2 ]} [sin 6 (πfτ 0 ) / sin 2 (πfτ 0 )] · S x (f) df｝ 1/2 (n = 0, 1, 2, ..., N)
【００６４】ここで、 Ｓｘ（ｆ）＝ｆｃ〔（σａ・ｕ・Ａ）ｓｉｎ（πｆ／ｆ
ｓ）／２πｆｓｉｎ（πｆ／ｆｃ）〕２・｜Ｈ（ｅ
ｊπｆ／ｆｓ）｜２ [0064] Here, S x (f) = fc [(σ a · u · A) sin (πf / f
s) / 2πfsin (πf / fc)] 2 · | H (e
jπf / fs ) | 2
【００６５】また、記号∫はｆ＝０〜ｆ＝ｆｈまでの積
分をとるものとし、パラメータｆｈは雑音最大周波数、
τは測定時間、τ０は測定サンプリング時間、σａは白
色雑音の標準偏差、ｆｓは雑音発生器２４のサンプリン
グ周波数、ｕはクロック変調器２６をＤＤＳで構成した
場合のＤＤＳの量子化ステップ、ｆｃはＤＤＳの出力を
２値化する際に用いるＤ／Ａコンバータのクロック周波
数である。The symbol ∫ is to be integrated from f = 0 to f = fh, the parameter fh is the maximum noise frequency,
τ is the measurement time, τ 0 is the measurement sampling time, σ a is the standard deviation of white noise, fs is the sampling frequency of the noise generator 24, u is the DDS quantization step when the clock modulator 26 is composed of DDS, fc is the clock frequency of the D / A converter used when binarizing the output of the DDS.
【００６６】Ａは雑音信号Ｎ′の振幅係数、｜Ｈ（ｅ
ｊπｆ／ｆｓ）｜は、パラメータ算出手段２２から出力
されたパラメータに基づいて算出される周波数特性、Ｓ
ｘ（ｆ）はパラメータ算出手段２２から出力されたパラ
メータに基づいて算出される時間誤差のパワースペクト
ルである。A is the amplitude coefficient of the noise signal N ', | H (e
jπf / fs ) | is a frequency characteristic calculated based on the parameter output from the parameter calculation unit 22, S
x (f) is a power spectrum of a time error calculated based on the parameter output from the parameter calculation unit 22.
【００６７】上記のように、パラメータ算出手段２２か
ら出力されるパラメータから得られた時間誤差のパワー
スペクトルＳｘ（ｆ）を用いて算出した位相雑音特性
Ｒ′は、実際の試験信号生成用の回路構成に対応したも
のであるので、試験信号Ｓｔの位相雑音特性をよく表し
ている。As described above, the phase noise characteristic R ′ calculated using the power spectrum S x (f) of the time error obtained from the parameter output from the parameter calculating means 22 is used for generating the actual test signal. Since this corresponds to the circuit configuration, the phase noise characteristic of the test signal St is well represented.
【００６８】したがって、前記した位相雑音伝達特性解
析装置２０と同様に、指定された位相雑音特性Ｒに対す
る試験信号Ｓｔの位相雑音特性Ｒ′の近似誤差Ｅを近似
誤差算出手段４１によって求め、位相雑音特性測定手段
４０の測定によって得られた位相雑音特性Ｍを仮想特性
算出手段４２によって近似誤差Ｅで補正して、指定され
た位相雑音特性Ｒの試験信号を受けたと仮定したときに
解析対象機器１から出力される信号の仮想位相雑音特性
Ｍ′を求め、この仮想位相雑音特性Ｍ′と指定された位
相雑音特性Ｒととの差を把握できるように表示手段４３
によって表示すれば、前記同様に単純な特性比較によっ
てその差異（位相雑音伝達特性）を正確に把握できる。Therefore, the approximation error E of the phase noise characteristic R 'of the test signal St with respect to the specified phase noise characteristic R is obtained by the approximate error calculating means 41, as in the case of the phase noise transfer characteristic analyzing apparatus 20 described above. The phase noise characteristic M obtained by the measurement by the characteristic measuring unit 40 is corrected by the approximation error E by the virtual characteristic calculating unit 42, and when it is assumed that the test signal of the specified phase noise characteristic R is received, the analysis target device 1 The display means 43 obtains a virtual phase noise characteristic M 'of the signal output from the display means 43 so that the difference between the virtual phase noise characteristic M' and the designated phase noise characteristic R can be grasped.
The difference (phase noise transfer characteristic) can be accurately grasped by a simple characteristic comparison as described above.
【００６９】また、この場合でも、特性を求めるための
測定を１回分だけ行えばよいので、短い測定時間で、解
析対象機器１の位相雑音伝達特性を正確に把握できる。Also in this case, since the measurement for obtaining the characteristic only needs to be performed once, the phase noise transfer characteristic of the analysis target device 1 can be accurately grasped in a short measurement time.
【００７０】なお、前記した位相雑音伝達特性解析装置
２０、５０では、指定された位相雑音特性Ｒと仮想特性
Ｍ′との差を把握できるように表示手段４３によって両
特性を表示していたが、指定された位相雑音特性Ｒと仮
想特性Ｍ′との差を演算装置によって求め、その結果を
前記のようにグラフや数値で出力してもよい。In the phase noise transfer characteristic analyzers 20 and 50, both characteristics are displayed by the display means 43 so that the difference between the designated phase noise characteristic R and the virtual characteristic M 'can be grasped. The difference between the designated phase noise characteristic R and the virtual characteristic M 'may be obtained by an arithmetic unit, and the result may be output as a graph or a numerical value as described above.
【００７１】[0071]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の位相雑音伝達特性解析装置は、任意の位相雑音特性を
指定する特性指定手段と、前記特性指定手段によって指
定された位相雑音特性の試験信号を生成するために必要
なパラメータを算出するパラメータ算出手段と、前記パ
ラメータ算出手段によって算出されたパラメータに基づ
いて位相雑音特性を有する試験信号を生成する試験信号
生成手段と、前記試験信号生成手段が生成した試験信号
の位相雑音特性を測定する第１の位相雑音特性測定手段
と、前記試験信号生成手段が生成した試験信号を外部の
解析対象に出力するための出力端子と、前記試験信号を
受けた解析対象から出力される信号を入力させるための
入力端子と、前記試験信号に対する前記第１の位相雑音
特性測定手段の位相雑音特性の測定と並行して、前記入
力端子から入力される信号の位相雑音特性を測定する第
２の位相雑音特性測定手段と、前記特性指定手段によっ
て指定された位相雑音特性と前記第１の位相雑音特性測
定手段によって測定された位相雑音特性との差を近似誤
差として求める近似誤差算出手段と、前記第２の位相雑
音特性測定手段によって測定された位相雑音特性を前記
近似誤差算出手段によって算出された近似誤差で補正し
て、前記解析対象が前記特性指定手段によって指定され
た位相雑音特性の試験信号を受けたと仮定したときに出
力する信号の仮想位相雑音特性を算出する仮想特性算出
手段とを備え、前記特性指定手段によって指定された位
相雑音特性と前記仮想特性算出手段によって算出された
仮想位相雑音特性との差を把握できるようにしている。As described above, according to the first aspect of the present invention,
The phase noise transfer characteristic analyzing apparatus of the present invention comprises: a characteristic specifying unit for specifying an arbitrary phase noise characteristic; and a parameter calculating unit for calculating a parameter necessary for generating a test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying unit A test signal generating means for generating a test signal having a phase noise characteristic based on the parameter calculated by the parameter calculating means; and a first measuring the phase noise characteristic of the test signal generated by the test signal generating means. Phase noise characteristic measuring means, an output terminal for outputting the test signal generated by the test signal generating means to an external analysis target, and an input for inputting a signal output from the analysis target receiving the test signal And a terminal connected to the input terminal in parallel with the measurement of the phase noise characteristic of the first phase noise characteristic measuring means for the test signal. A second phase noise characteristic measuring means for measuring a phase noise characteristic of the signal, and a difference between the phase noise characteristic designated by the characteristic designating means and the phase noise characteristic measured by the first phase noise characteristic measuring means. Approximation error calculating means for obtaining the approximation error as an approximation error, and correcting the phase noise characteristic measured by the second phase noise characteristic measuring means with the approximation error calculated by the approximation error calculating means, and Virtual characteristic calculating means for calculating a virtual phase noise characteristic of a signal to be output when it is assumed that the test signal having the phase noise characteristic specified by the specifying means has been received. The difference from the virtual phase noise characteristic calculated by the virtual characteristic calculation means can be grasped.
【００７２】また、本発明の請求項２の位相雑音伝達特
性解析装置は、任意の位相雑音特性を指定する特性指定
手段と、前記特性指定手段によって指定された位相雑音
特性の試験信号を生成するために必要なパラメータを算
出するパラメータ算出手段と、前記パラメータ算出手段
によって算出されたパラメータに基づいて位相雑音特性
を有する試験信号を生成する試験信号生成手段と、前記
パラメータ算出手段によって算出されたパラメータに基
づいて、前記試験信号生成手段が生成する試験信号の位
相雑音特性を算出する位相雑音特性算出手段と、前記試
験信号生成が生成した試験信号を外部の解析対象に出力
するための出力端子と、前記試験信号を受けた解析対象
から出力される信号を入力させるための入力端子と、前
記入力端子から入力される信号の位相雑音特性を測定す
る位相雑音特性測定手段と、前記特性指定手段によって
指定された位相雑音特性と前記位相雑音特性算出手段に
よって算出された位相雑音特性との差を近似誤差として
求める近似誤差算出手段と、前記位相雑音特性測定手段
によって測定された位相雑音特性を前記近似誤差算出手
段によって算出された近似誤差で補正して、前記解析対
象が前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性
の試験信号を受けたと仮定したときに出力する信号の仮
想位相雑音特性を算出する仮想特性算出手段とを備え、
前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記仮想特性算出手段によって算出された仮想位相雑音特
性との差を把握できるようにしている。A phase noise transfer characteristic analyzing apparatus according to a second aspect of the present invention generates a characteristic designating means for designating an arbitrary phase noise characteristic and a test signal of the phase noise characteristic designated by the characteristic designating means. Parameter calculation means for calculating parameters necessary for the calculation, test signal generation means for generating a test signal having a phase noise characteristic based on the parameters calculated by the parameter calculation means, and parameters calculated by the parameter calculation means A phase noise characteristic calculating means for calculating a phase noise characteristic of the test signal generated by the test signal generating means, and an output terminal for outputting the test signal generated by the test signal generation to an external analysis target. An input terminal for inputting a signal output from the analysis target receiving the test signal, and an input terminal Phase noise characteristic measuring means for measuring the phase noise characteristic of the signal to be obtained, and a difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means and the phase noise characteristic calculated by the phase noise characteristic calculating means is determined as an approximate error. Approximation error calculating means, and correcting the phase noise characteristic measured by the phase noise characteristic measuring means with the approximation error calculated by the approximation error calculating means, so that the analysis target is the phase noise specified by the characteristic specifying means. Virtual characteristic calculating means for calculating a virtual phase noise characteristic of a signal output when it is assumed that the characteristic test signal has been received,
The difference between the phase noise characteristic designated by the characteristic designation means and the virtual phase noise characteristic calculated by the virtual characteristic calculation means can be grasped.
【００７３】このため、短い測定時間で、特性指定手段
によって指定された位相雑音特性と仮想特性算出手段に
よって算出された仮想位相雑音特性との差、即ち、指定
された位相雑音特性についての解析対象の位相雑音伝達
特性を正確に把握できる。For this reason, the difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means and the virtual phase noise characteristic calculated by the virtual characteristic calculating means in a short measurement time, that is, the analysis object of the specified phase noise characteristic Phase noise transfer characteristics can be accurately grasped.
【図１】本発明の実施の形態の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.
【図２】図１に示した実施の形態の要部の構成を示すブ
ロック図FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a main part of the embodiment shown in FIG. 1;
【図３】図１に示した実施の形態の要部の構成を示すブ
ロック図FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a main part of the embodiment shown in FIG. 1;
【図４】指定された特性の一例を示す特性図FIG. 4 is a characteristic diagram showing an example of a specified characteristic.
【図５】試験信号の特性図FIG. 5 is a characteristic diagram of a test signal.
【図６】近似誤差を示す図FIG. 6 is a diagram showing an approximation error.
【図７】解析対象機器の出力信号の特性図FIG. 7 is a characteristic diagram of an output signal of a device to be analyzed.
【図８】近似誤差の補正によって得られた仮想特性図FIG. 8 is a virtual characteristic diagram obtained by correcting an approximation error.
【図９】特性の表示例を示す図FIG. 9 is a diagram showing a display example of characteristics.
【図１０】本発明の他の実施の形態を示すブロック図FIG. 10 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
【図１１】従来装置の構成を示すブロック図FIG. 11 is a block diagram showing the configuration of a conventional device.
【図１２】指定した特性と実際に出力される信号の特性
を示す図FIG. 12 is a diagram showing the specified characteristics and the characteristics of the actually output signal.
【図１３】特性の表示例を示す図FIG. 13 is a diagram showing a display example of characteristics.
１ 解析対象機器 ２０、５０ 位相雑音伝達特性解析装置 ２１ 特性指定手段 ２２ パラメータ算出手段 ２３ 試験信号生成手段 ２４ 雑音発生器 ２５ フィルタ ２６ クロック変調器 ２７ データ発生器 ３０ 第１の位相雑音特性測定手段 ３１ クロック抽出回路 ３２ 位相比較器 ３３ フィルタ ３４ Ａ／Ｄ変換器 ３５ 特性演算部 ４０ 第２の位相雑音特性測定手段 ４１ 近似誤差算出手段 ４２ 仮想特性算出手段 ４３ 表示手段 ５１ 位相雑音特性算出手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Device to be analyzed 20, 50 Phase noise transfer characteristic analyzing device 21 Characteristic specifying means 22 Parameter calculating means 23 Test signal generating means 24 Noise generator 25 Filter 26 Clock modulator 27 Data generator 30 First phase noise characteristic measuring means 31 Clock extraction circuit 32 Phase comparator 33 Filter 34 A / D converter 35 Characteristic calculation unit 40 Second phase noise characteristic measurement unit 41 Approximation error calculation unit 42 Virtual characteristic calculation unit 43 Display unit 51 Phase noise characteristic calculation unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G028 AA01 CG20 DH09 GL07 GL09 LR09 5K042 CA23 DA21 GA01 GA06 GA12 HA01 JA01 LA11 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G028 AA01 CG20 DH09 GL07 GL09 LR09 5K042 CA23 DA21 GA01 GA06 GA12 HA01 JA01 LA11
Claims (2)
段と、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性の試
験信号を生成するために必要なパラメータを算出するパ
ラメータ算出手段と、 前記パラメータ算出手段によって算出されたパラメータ
に基づいて位相雑音特性を有する試験信号を生成する試
験信号生成手段と、 前記試験信号生成手段が生成した試験信号の位相雑音特
性を測定する第１の位相雑音特性測定手段と、 前記試験信号生成手段が生成した試験信号を外部の解析
対象に出力するための出力端子と、 前記試験信号を受けた解析対象から出力される信号を入
力させるための入力端子と、 前記試験信号に対する前記第１の位相雑音特性測定手段
の位相雑音特性の測定と並行して、前記入力端子から入
力される信号の位相雑音特性を測定する第２の位相雑音
特性測定手段と、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記第１の位相雑音特性測定手段によって測定された位相
雑音特性との差を近似誤差として求める近似誤差算出手
段と、 前記第２の位相雑音特性測定手段によって測定された位
相雑音特性を前記近似誤差算出手段によって算出された
近似誤差で補正して、前記解析対象が前記特性指定手段
によって指定された位相雑音特性の試験信号を受けたと
仮定したときに出力する信号の仮想位相雑音特性を算出
する仮想特性算出手段とを備え、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記仮想特性算出手段によって算出された仮想位相雑音特
性との差を把握できるようにしたことを特徴とする位相
雑音伝達特性解析装置。1. A characteristic specifying means for specifying an arbitrary phase noise characteristic; a parameter calculating means for calculating a parameter necessary for generating a test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means; Test signal generation means for generating a test signal having a phase noise characteristic based on the parameters calculated by the calculation means; and first phase noise characteristic measurement for measuring the phase noise characteristic of the test signal generated by the test signal generation means Means, an output terminal for outputting a test signal generated by the test signal generation means to an external analysis target, an input terminal for inputting a signal output from the analysis target receiving the test signal, In parallel with the measurement of the phase noise characteristic of the test signal by the first phase noise characteristic measuring means, the phase of the signal input from the input terminal is Second phase noise characteristic measuring means for measuring sound characteristics; and a difference between the phase noise characteristic designated by the characteristic designating means and the phase noise characteristic measured by the first phase noise characteristic measuring means as an approximation error. An approximation error calculation unit to be obtained, and the phase noise characteristic measured by the second phase noise characteristic measurement unit is corrected by the approximation error calculated by the approximation error calculation unit, and the analysis target is designated by the characteristic designation unit. Virtual characteristic calculation means for calculating a virtual phase noise characteristic of a signal to be output when it is assumed that the test signal having the calculated phase noise characteristic is received, and the phase noise characteristic designated by the characteristic designation means and the virtual characteristic calculation A phase noise transfer characteristic analyzing apparatus characterized in that a difference from the virtual phase noise characteristic calculated by the means can be grasped.
段と、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性の試
験信号を生成するために必要なパラメータを算出するパ
ラメータ算出手段と、 前記パラメータ算出手段によって算出されたパラメータ
に基づいて位相雑音特性を有する試験信号を生成する試
験信号生成手段と、 前記パラメータ算出手段によって算出されたパラメータ
に基づいて、前記試験信号生成手段が生成する試験信号
の位相雑音特性を算出する位相雑音特性算出手段と、 前記試験信号生成が生成した試験信号を外部の解析対象
に出力するための出力端子と、 前記試験信号を受けた解析対象から出力される信号を入
力させるための入力端子と、 前記入力端子から入力される信号の位相雑音特性を測定
する位相雑音特性測定手段と、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記位相雑音特性算出手段によって算出された位相雑音特
性との差を近似誤差として求める近似誤差算出手段と、 前記位相雑音特性測定手段によって測定された位相雑音
特性を前記近似誤差算出手段によって算出された近似誤
差で補正して、前記解析対象が前記特性指定手段によっ
て指定された位相雑音特性の試験信号を受けたと仮定し
たときに出力する信号の仮想位相雑音特性を算出する仮
想特性算出手段とを備え、 前記特性指定手段によって指定された位相雑音特性と前
記仮想特性算出手段によって算出された仮想位相雑音特
性との差を把握できるようにしたことを特徴とする位相
雑音伝達特性解析装置。2. A characteristic specifying means for specifying an arbitrary phase noise characteristic; a parameter calculating means for calculating a parameter necessary for generating a test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying means; A test signal generation unit that generates a test signal having a phase noise characteristic based on the parameter calculated by the calculation unit; and a test signal generation unit that generates the test signal based on the parameter calculated by the parameter calculation unit. Phase noise characteristic calculating means for calculating a phase noise characteristic, an output terminal for outputting the test signal generated by the test signal generation to an external analysis target, and a signal output from the analysis target receiving the test signal. An input terminal for inputting, and a phase noise characteristic for measuring a phase noise characteristic of a signal input from the input terminal. An approximation error calculating unit that obtains, as an approximation error, a difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specifying unit and the phase noise characteristic calculated by the phase noise characteristic calculating unit; and the phase noise characteristic measuring unit. The measured phase noise characteristic is corrected by the approximation error calculated by the approximation error calculation means, and output when it is assumed that the analysis target has received the test signal of the phase noise characteristic specified by the characteristic specification means. Virtual characteristic calculation means for calculating a virtual phase noise characteristic of the signal, wherein a difference between the phase noise characteristic specified by the characteristic specification means and the virtual phase noise characteristic calculated by the virtual characteristic calculation means can be grasped. An apparatus for analyzing phase noise transfer characteristics, characterized in that:
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000178183A JP3921035B2 (en) | 2000-06-14 | 2000-06-14 | Phase noise transfer characteristic analyzer |
| EP00985833A EP1164696B1 (en) | 1999-12-24 | 2000-12-22 | Wander generator and digital line tester comprising the same |
| US09/890,441 US7206339B2 (en) | 1999-12-24 | 2000-12-22 | Wonder generator, digital line tester comprising the same, and phase noise transfer characteristic analyzer |
| PCT/JP2000/009139 WO2001048923A1 (en) | 1999-12-24 | 2000-12-22 | Wonder generator, digital line tester comprising the same, and phase noise transfer characteristic analyzer |
| DE60038672T DE60038672T2 (en) | 1999-12-24 | 2000-12-22 | HIKING GENERATOR AND THIS DIGITAL LINE EXAMINER |
| US11/683,313 US7450633B2 (en) | 1999-12-24 | 2007-03-07 | Wander generator, and digital line tester and phase noise transfer characteristic analyzer using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000178183A JP3921035B2 (en) | 2000-06-14 | 2000-06-14 | Phase noise transfer characteristic analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001358616A true JP2001358616A (en) | 2001-12-26 |
| JP3921035B2 JP3921035B2 (en) | 2007-05-30 |
Family
ID=18679647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000178183A Expired - Fee Related JP3921035B2 (en) | 1999-12-24 | 2000-06-14 | Phase noise transfer characteristic analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3921035B2 (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005308509A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | Method and apparatus for measuring phase noise |
| JP2005308511A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | Method and apparatus for measuring phase noise |
| JP2005308510A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | Apparatus and system for measuring phase noise |
| JP2006329839A (en) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Tektronix Japan Ltd | Noise characteristic display method |
-
2000
- 2000-06-14 JP JP2000178183A patent/JP3921035B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JP2005308509A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | Method and apparatus for measuring phase noise |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3921035B2 (en) | 2007-05-30 |
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