JP2001351239A - 光ディスクのデータ記録再生方法 - Google Patents
光ディスクのデータ記録再生方法Info
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Abstract
録方法は、記録レートを上げることおよびパワー制御が
困難であり、記録補償パラメータが多かった。 【解決手段】 最短マーク108の記録においては単一
パルスの記録パルスを用い、長マーク125の記録は前
半パルスと後半パルスの2段パルスを用いる。全てのマ
ーク長の再生波形の前端エッジ位置が適正化するように
記録パルスの前端エッジの位置115および118を直
前スペースの長さと自己マークの長さとの関係により決
定し、全てのマーク長さの記録パルスの後端エッジの位
置を記録クロックのエッジと一定の相対的な位置関係を
満たす位置に固定した上で、最短マークの再生波形の後
端エッジ位置112が適正化するように最短マークの記
録パルス101のパワー122を決定し、長マークの再
生波形の後端エッジ位置123が適正化するようにマー
ク長毎に後半パルス104のパワー124を決定する。
Description
方式を用いた書き換え可能な光ディスクのデータ記録再
生方法およびデータ記録再生方法における記録パルスの
波形(ライトストラテジ)および記録補償パラメータの
調整方法に関する。
VD−RAMがある。光ディスク片面容量が2.6GB
のDVD−RAMは既に実用化されており、容量を4.
7GBに増大させたDVD−RAMは現在開発中であ
る。DVD−RAM−4.7GBで採用されている相変
化型の光ディスクへの記録方法を図16を用いて説明す
る。
の一例としてデータ900を示し、データ900は、1
1T(Tは記録クロック周期)のHiレベル信号901
と、7TのLoレベル信号902と、3TのHiレベル
信号903とを含む。図16(b)はデータ900に対
応したレーザ光の記録パルス910の波形を示す。図1
6(c)は記録パルス910に対応して光ディスクの記
録トラック934に形成されるアモルファスのマーク9
31および932、結晶のスペース933の記録状態を
示す。
びスペース933を記録するために、記録パルス910
として、記録トラック934のマーク形成部に対して、
ピークパワー924のファーストパルス911、ピーク
パワー924と第3バイアスパワー923とで2分の1
T毎に交代するマルチパルス912、ピークパワー92
4のラストパルス913、第2バイアスパワー922の
クーリングパルス914をレーザ光照射する。また、ス
ペース933に対して、第1バイアスパワー921をレ
ーザ光照射する。このような記録パルス910の波形
を、一般に“ライトストラテジ”と呼ぶ。光ディスクへ
の記録で適正なマーク形状を実現するために、光ディス
ク毎に、前述の4種類のパワーと各パルスの時間条件が
個別に定義されている。更に、マークの再生波形のエッ
ジの位置を最適化するために、記録パルスの各エッジの
位置の時間条件をマークとスペースとのパターン毎に適
応制御する(参考文献:特許第2679596号)。図
17Aおよび図17BにDVD−RAM−4.7GBの
記録補償条件としてファーストパルス開始位置テーブル
およびラストパルス終了位置テーブルを示す。すなわ
ち、図16(c)に示されるマーク931を記録するた
めのファーストパルス911の開始位置として、直前の
スペースの長さとマーク自己の長さとの関係で4×4=
16種類、ラストパルス913の終了位置として、マー
ク自己の長さと直後スペースの長さとの関係で4×4=
16種類の時間条件がそれぞれ定められている。これら
の条件を求める手続きを、一般に“記録補償”と呼ぶ。
AMのライトストラテジは、1パルスが記録クロック周
期の半分の幅のマルチパルス912を使用している。光
ディスクのアクセス速度を更に高速にする要望のため、
記録クロックの周波数を高くすることが考えられる。こ
の場合、記録クロック周期が反比例して小さくなり、記
録用のレーザ光の立ち上がり特性が極めて高速でなけれ
ば正確なマルチパルス912を発生することが容易では
ない。極端に高速なレーザ駆動回路を必要とする光ディ
スク装置は、部品コストを抑えることが困難であるとい
う第1の課題があった。
形成毎に検出して制御する場合に、記録パルス910中
に、高速スイッチングする上記マルチパルス912があ
るとレーザ光のパワーモニター波形がマルチパルス91
2部分で大きく変動し、処理回路が複雑になるという第
2の課題があった。
要望のために、より小さいマークを高密度に記録するこ
とが考えられる。マークエッジ記録方式を用いて更なる
高密度記録を行った場合、最短マークの再生信号の振幅
が他の長いマークより極めて小さくなってノイズに埋も
れた場合、光ディスクの再生エラーを招きかねないとい
う第3の課題があった。
るために、記録パルス910のエッジの位置だけを変化
させたのでは、記録補償が出来たとしても記録パワーに
偏りが生じてマーク形状が歪む場合がある。特に、マー
クの前後端の大きさが異なる場合、マークの再生信号の
前後端の振幅がアンバランスとなり、再生信号をディジ
タル化するときにエラーを招きかねない。エラーを低減
する目的で多値検出手段を用いたとしても、マーク形状
歪みが原因で十分な効果が得られないという第4の課題
があった。
いうことは、記録補償の手順が複雑で時間がかかること
になり、光ディスク装置に自動記録補償手段を内蔵した
場合に、全パラメータを求めるための時間の短縮が困難
であるという第5の課題があった。
するものであり、マークエッジ記録方式において、記録
クロック周期より細い幅のマルチパルスが不要で、最短
マークの再生信号の振幅を増大させ、長マークの再生信
号の形状歪みを低減させ、記録補償パラメータを従来の
方法より削減できる記録パルスの調整方法およびライト
ストラテジと、それを用いた書き換え可能な光ディスク
へのデータの記録再生方法を提供することを目的とす
る。
ークを記録するための記録パルスを調整する方法は、
(a) 最短マークを記録するための第1記録パルスを
調整するステップと、(b) 長マークを記録するため
の第2記録パルスを調整するステップとを包含し、上記
第1記録パルスは第1パワーを有する単一パルスであ
り、上記第2記録パルスは、第2パワーを有する前半パ
ルスと第3パワーを有する後半パルスとを含む2段パル
スであり、上記ステップ(a)は、(a1) 上記第1
記録パルスの後端エッジの位置を、記録クロックの第1
エッジと所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定す
るステップと、(a2) 上記最短マークの再生波形の
後端エッジの位置が適正化するように上記第1パワーを
決定するステップと、(a3)上記最短マークの上記再
生波形の前端エッジの位置が適正化するように、上記第
1記録パルスの前端エッジの位置を上記最短マーク直前
のスペースの長さに基づいて決定するステップとを包含
し、上記ステップ(b)は、(b1) 上記前半パルス
の後端エッジの位置を上記記録クロックの第2エッジと
上記所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定するス
テップと、(b2) 上記後半パルスの後端エッジの位
置を上記記録クロックの第3エッジと上記所定の相対的
な位置関係を満たす位置に固定するステップと、(b
3) 上記第2パワーを決定するステップと、(b4)
上記長マークの再生波形の後端エッジの位置が適正化
するように上記第3パワーを決定するステップと、(b
5) 上記長マークの再生波形の前端エッジの位置が適
正化するように、上記前半パルスの前端エッジの位置を
上記長マーク直前のスペースの長さと上記長マークの長
さとに基づいて決定するステップとを包含し、そのこと
により上記目的が達成される。
記前端エッジの位置との組み合わせは、上記最短マーク
の上記再生波形の上記前端エッジの位置と上記後端エッ
ジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、上記最
短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせに
設定されてもよい。
半パルスの上記前端エッジの位置との組み合わせは、上
記長マークの上記再生波形の上記前端エッジの位置と上
記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの
内、上記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組み
合わせに設定されてもよい。
大きさであってもよい 上記後半パルスの上記後端エッジの位置は、上記前半パ
ルスの上記後端エッジの位置から所定のクロック周期後
ろの位置に固定されてもよい。
法は、上述の記録パルスを調整する方法を用いて光ディ
スクにマークを記録する方法であって、上記ステップ
(a)に従って少なくとも調整された上記第1記録パル
スに基づいて上記最短マークを記録するステップと、上
記ステップ(b)に従って少なくとも調整された上記第
2記録パルスに基づいて上記長マークを記録するステッ
プとを包含し、そのことにより上記目的が達成される。
法は、(a) 後端エッジの位置とパワーとが固定され
た単一パルスである、最短マークを記録するための第1
記録パルスの前端エッジを上記最短マーク直前のスペー
スの長さに基づいて調整するステップと、(b) 上記
ステップ(a)で調整された上記第1記録パルスを用い
て上記最短マークを記録するステップと、(c) 互い
に異なるパワーを有する前半パルスと後半パルスとを含
む2段パルスであり、上記前半パルスおよび上記後半パ
ルスそれぞれの後端エッジの位置とパワーとが固定され
た、所定の長さの長マークを記録するための第2記録パ
ルスの前端エッジを上記長マーク直前のスペースの長さ
に基づいて調整するステップと、(d) 上記ステップ
(c)で調整された上記第2記録パルスを用いて上記長
マークを記録するステップとを包含し、そのことにより
上記目的が達成される。
を記録するための記録パルスを調整する方法は、(a)
最短マークを記録するための第1記録パルスを調整す
るステップと、(b) 長マークを記録するための第2
記録パルスを調整するステップと、(c) マーク間の
スペースを記録するための第3記録パルスを調整するス
テップとを包含し、上記第1記録パルスは第1パワーを
有する単一パルスであり、上記第2記録パルスは、第2
パワーを有する前半パルスと第3パワーを有する後半パ
ルスとを含む2段パルスであり、上記第3記録パルスは
第4パワーを有する単一パルスであり、上記ステップ
(a)は、(a1) 上記第1記録パルスの後端エッジ
の位置を、記録クロックの第1エッジと所定の相対的な
位置関係を満たす位置に固定するステップと、(a2)
上記最短マークの再生波形の後端エッジの位置が適正
化するように上記第1パワーを決定するステップと、
(a3) 上記最短マークの上記再生波形の前端エッジ
の位置が適正化するように、上記第1記録パルスの前端
エッジの位置を決定するステップとを包含し、上記ステ
ップ(b)は、(b1) 上記前半パルスの後端エッジ
の位置を上記記録クロックの第2エッジと上記所定の相
対的な位置関係を満たす位置に固定するステップと、
(b2) 上記第2パワーを決定するステップと、(b
3) 上記長マークの再生波形の後端エッジの位置が適
正化するように、上記後半パルスの後端エッジの位置と
上記第3パワーとを上記長マークの長さに基づいて決定
するステップと、(b4) 上記長マークの再生波形の
前端エッジの位置が適正化するように、上記前半パルス
の前端エッジの位置を上記長マークの長さに基づいて決
定するステップとを包含し、上記ステップ(c)は、
(c1) マーク間の熱干渉によるマークの再生波形の
エッジの位置変動が無くなるように、上記第4パワーを
上記スペースの長さに基づいて決定するステップを包含
し、そのことにより上記目的が達成される。
記前端エッジの位置との組み合わせは、上記最短マーク
の上記再生波形の上記前端エッジの位置と上記後端エッ
ジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、上記最
短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせに
設定されてもよい。
半パルスの上記前端エッジの位置との組み合わせは、上
記長マークの上記再生波形の上記前端エッジの位置と上
記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの
内、上記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組み
合わせに設定されてもよい。
大きさであってもよい。
法は、上述の記録パルスを調整する方法を用いて光ディ
スクにマークを記録する方法であって、上記ステップ
(a)に従って少なくとも調整された上記第1記録パル
スに基づいて上記最短マークを記録するステップと、上
記ステップ(b)に従って少なくとも調整された上記第
2記録パルスに基づいて上記長マークを記録するステッ
プと、上記ステップ(c)に従って少なくとも調整され
た上記第3記録パルスに基づいて上記スペースを記録す
るステップとを包含し、そのことにより上記目的が達成
される。
を記録する方法は、(a) マーク間の熱干渉によるマ
ークの再生波形のエッジの位置変動が無くなるように、
スペースを記録するための単一パルスである記録パルス
のパワーを上記スペースの長さに基づいて調整するステ
ップと、(b) 上記ステップ(a)で調整された上記
記録パルスを用いて上記スペースを記録するステップと
を包含し、そのことにより上記目的が達成される。
説明する光ディスク9の記録再生装置1000を示す図
である。記録再生装置1000は、後述する実施の形態
1〜3において共通に使用するものとする。
に、記録再生装置1000は、記録再生装置1000の
動作基準時間軸となる記録クロック1を生成する記録ク
ロック生成手段20と、光ディスク9に記録したい情報
を記録データ3として生成する記録データ生成手段2
と、記録補償条件5を調整する記録補償条件調整手段2
1と、記録データ3からレーザ(図示せず)を駆動する
ための記録パルス6を生成する記録補償手段4と、記録
パルス6に基づいてレーザを駆動し、強度変調されたレ
ーザビーム8を光ディスク9に照射してデータを記録す
るヘッド7と、光ディスク9を回転させるモータ10と
を備える。
および記録補償手段4へ出力される。記録データ3の形
態は、クロック単位のPWM信号であり、本発明の実施
の形態においては、ランレングス制限が最小3T(Tは
記録クロック周期)最大11Tの変調データとするがそ
れに制限されない。記録補償条件調整手段21は、記録
データ3のHiレベル信号期間を光ディスク上でマーク
に対応させ、Loレベル信号期間をスペースに対応させ
て記録するための、マークおよびスペース毎のパワーと
パルスの位置のパラメータを記録補償条件5として調整
し、決定する。記録補償手段4は、記録クロック1、記
録データ3および記録補償条件5を受け取り、記録パル
ス6をヘッド6へ出力する。記録クロック生成手段20
および記録補償条件調整手段21は記録再生装置100
0外部に設けられてもよい。
ックを形成した基材に相変化膜等が成膜された形態であ
り、レーザビーム8の照射熱によりマークおよびスペー
スを形成して、データを書き込み可能な、または書き換
え可能な光ディスクである。
再生信号11の高域で減衰した周波数特性を補正し、ア
ナログの等化再生信号13を出力するイコライザ12
と、等化再生信号13をスライスレベルで2値化し、デ
ィジタルの2値化パルス15を出力する2値化手段14
と、2値化パルス15の立ち上がりまたは立ち下がりエ
ッジを検出してエッジからエッジの間隔を測定し、時間
測定結果17を出力するパルス間隔測定手段16と、等
化再生信号13の大きさや波形の対象性などの振幅情報
を測定し、振幅測定結果19を出力する振幅測定手段1
8とをさらに備える。時間測定結果17および振幅測定
結果19は、記録補償条件調整手段21に入力され、マ
ークおよびスペース毎のパワーとパルスの位置のパラメ
ータおよびライトストラテジの調整するためのデータと
して用いられる。
ーザビーム8を光ディスク9に照射し、光ディスク9上
に記録されたマークおよびスペースからの反射光をディ
テクタ(図示せず)で光電変換し、再生信号11として
出力する。イコライザ12は、例えば、トランスバーサ
ルフィルタとベッセルローパスフィルタとの組み合わせ
による標準イコライザや、振幅リミッタと標準イコライ
ザとを組み合わせた非線形イコライザなどでもよい。
パルスの積分値が一定になるようにスライスレベルを制
御したデューティーフィードバック2値化回路や、パー
シャルレスポンス法による多値検出の2値化回路などで
もよい。パルス間隔測定手段16は、例えば、タイムイ
ンタバルアナライザや、記録再生装置1000専用のL
SI回路などでもよい。振幅測定手段18は、例えば、
オシロスコープや、記録再生装置1000専用のLSI
回路などでもよい。
光ディスクのデータ記録再生方法を実施するものとす
る。後述する記録パルスのエッジの位置やパワー値を記
録補償条件5として記録補償手段4に設定することで、
光ディスク9にマークを記録する。マークの再生信号波
形は等化再生信号13として出力され、振幅測定手段1
8で観測される。マークの再生信号のエッジは2値化パ
ルス15として出力され、パルス間隔測定手段16で観
測される。なお、以下の説明で、長さ3Tのマークのこ
とを3Tm、長さ4Tのスペースのことを4Tsという
ように略記するものとする。
態1として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
と、データ記録再生方法における記録パルスの波形(ラ
イトストラテジ)および記録補償パラメータの調整方法
を示す図である。
し、1目盛りが記録クロックの1周期Tに対応する。上
より、図1(a)はHiレベル信号100をマークに、
Loレベル信号143、144および145をスペース
に割り当てた記録データである。これは図3の記録再生
装置1000における記録データ3の波形を示してい
る。図1(a)に示す記録データは、3Tmの最短マー
ク108の直前スペースが3Tsである場合、4Tsで
ある場合、直前スペースの長さが5Ts以上である場合
の記録データのHiレベル信号100をそれぞれ連ねた
形態となっている。
00に対応した記録パルス101、101’および10
1”と、Loレベル信号143、144および145に
対応した記録パルス163、164および165を示
し、縦軸はレーザパワーを示す。これは図3の記録再生
装置1000における、記録パルス6によって変調され
たレーザビーム8の強度と等価である。
ィスク9のトラック150に記録されたマーク108と
スペース153、154および155の模式図である。
図1(c)に示す網掛け部分がマーク108で、相変化
膜のアモルファス状態に対応し、その他の部分はスペー
ス153、154および155で、相変化膜の結晶状態
に対応する。
8、スペース153、154および155を再生したと
きの波形で、図3の等化再生信号13に相当する。図1
(d)に示す上下点線は、再生される信号振幅レンジを
表し、中央の一点鎖線は2値化するときのスライスレベ
ル110を表す。以下同様に図1(e)〜図1(h)
は、4Tmの長マーク125を記録再生した時の、また
図1(i)〜図1(l)は5Tm以上の長マーク129
を記録再生したときの、記録データ、記録パルス、記録
マーク、等化再生信号をそれぞれ表す。以下、本実施の
形態の記録再生方法について順に説明する。
のHiレベル信号100に対応する最短マーク108を
記録するために、1個の最短マーク108当り図1
(b)に示す単一パルスである記録パルス101、10
1’または101”を1つ照射する。
マーク、例えば図1(e)に示す長さ4TのHiレベル
信号102に対応する長マーク125を記録するため
に、1個の長マーク125当り図1(f)に示す2段パ
ルスである記録パルス171、171’または171”
を1つ照射する。記録パルス171は前半パルス103
と後半パルス104とを含み、記録パルス171’は前
半パルス103’と後半パルス104とを含み、記録パ
ルス171”は前半パルス103”と後半パルス104
とを含む。
えば図1(i)に示す長さ5TのHiレベル信号105
に対応する長マーク129を記録するためにも同様に、
1個の長マーク129当り図1(j)に示す2段パルス
である記録パルス172、172’または172”を1
つ照射する。記録パルス172は前半パルス106と後
半パルス107とを含み、記録パルス172’は前半パ
ルス106’と後半パルス107とを含み、記録パルス
172”は前半パルス106”と後半パルス107とを
含む。
する。マークの再生波形の前端エッジとは、図3に示す
2値化パルス15の立ち上がりエッジのことで、図1
(d)に示す本実施の形態では、最短マーク108を再
生したときの等化再生信号109とスライスレベル11
0との交点111を指す。マークの再生波形の後端エッ
ジとは、2値化パルス15の立ち下がりエッジのこと
で、図1(d)に示す本実施の形態では、最短マーク1
08を再生したときの交点112を指す。
適正であるという意味について述べる。マークの再生波
形のエッジは上記定義によるもので、適正位置とは、す
べてのエッジ間隔がクロック単位の整数倍になることを
意味する。例えば、図1においては、縦の点線上に、ち
ょうどマークの再生波形のエッジの位置が重なっている
状態を指す。マークの再生波形のエッジの位置が適正で
ある場合、2値化パルス15の波形は、記録データの波
形(例えば図1(a)に示す記録データの波形)と等し
くなる。
のためには、記録されたマーク形状自体のエッジの位置
が必ずしもクロック単位になっている必要はなく、再生
された2値化パルス信号のエッジの位置が結果的に正し
い位置になればよい。例えば、長さ3TのHiレベル信
号100の前端エッジと後端エッジとの間隔と、交点1
11と交点112との間隔とが等しくなればよい(交点
111と交点112との間隔の長さが3Tとなる)。
ッジの位置を適正化するために、記録パルスの前端エッ
ジの位置をマーク直前のスペースの長さとマーク自己の
長さとの関係で決定する。例えば、3Tmに対応する記
録パルス101”、101’および101の前端エッジ
の位置は、図1(b)に示すように、形成するマーク直
前のスペースが3Tsの記録パルス101”は位置11
3、直前のスペースが4Tsの記録パルス101’ は
位置114、長さが5Ts以上の直前のスペースの記録
パルス101は位置115のように異なる位置に決定す
る。
マークの記録熱がスペースを通じて伝導し、形成するマ
ークの温度を変化させてしまうため、形成するマークの
前端エッジを変動させてしまう現象が起きる。これを一
般に熱干渉と呼ぶ。熱干渉を相殺して、マークの再生波
形の前端エッジの位置を適正化するために、形成するマ
ーク直前のスペースの長さによって記録パルスの前端エ
ッジの位置を変化させる。
ルス171” 、171’ および171の前端エッジの
位置を、形成するマーク直前のスペースの長さが異なる
毎に、図1(f)に示す位置116、117および11
8の様に異なる値とする。同様に、マークの長さが5T
m以上のマークを記録するときも、記録パルス172、
172’および172”の前端エッジの位置を、直前の
スペースの長さが異なる毎に、図1(j)に示す位置1
19、120および121の様に異なる値とする。
変化したとき、直前スペースの長さが同じであっても、
記録パルスの前端エッジの位置を変化させる。マーク自
己の長さが短いとき、形成されるマークサイズが小さく
周囲に熱が放熱されやすいので急冷となり、反対に、マ
ーク自己の長さが長いときは、マーク後半部分も連続し
て記録しているので放熱が悪く徐冷となる。
いによって、記録パルスの前端エッジの位置が同じでも
形成されるマークの前端エッジの位置(例えば図1
(c)に示す位置108’)が異なる現象が起きる。こ
れをマークの長さに依存した熱非線形とよぶ。熱非線形
を相殺して、マークの再生波形の前端エッジの位置を適
正化するために、形成するマーク直前のスペースの長さ
が同じ3Tの時でも、形成するマークが3Tmの時は図
1(b)に示す位置113、4Tmの時は図1(f)に
示す位置116、マークの長さが5Tm以上の時は図1
(j)に示す位置119の様に、記録パルスの前端エッ
ジの位置をそれぞれ変化させる。
ジを適正化するための、記録パルスの前端エッジの位置
の条件は、図4Aに示す通り、直前のスペースの長さと
マーク自己の長さとの関係で決定される2次元のパラメ
ータとなる。図4Aに示す表に記した番号は、図1に示
す各部の位置を示す参照符号に対応している。なお、表
に示す各参照符号に対応する各部の位置同士において
は、必ずしも直前のスペースとマークを形成するために
照射される記録パルスの前端エッジとの間隔が異なる値
になるとは限らず、光ディスクの記録膜特性やイコライ
ザ特性に依存していくつかの位置が同一値になる場合も
ある。
する記録パルスのそれぞれの後端エッジの位置を、それ
ぞれ対応する記録クロックのエッジと一定の相対的な位
置関係を満たす位置に固定する。図1に示す例では、全
ての記録パルスのそれぞれの後端エッジの位置は、それ
ぞれ記録クロックの対応するエッジと一致させる。
形の後端エッジの位置(例えば交点112)を適正化す
るために、単一パルスである記録パルス101のパワー
を変化させる。その方法を、図5を用いて説明する。図
5は、最短マーク108を記録するときに、記録パルス
101のパワー122と前端エッジの位置115とを4
種類の条件で変化させたときの、マーク108の形状と
その等化再生信号109との関係を示す。図5に示す記
録条件500、501、502および503において、
上段は記録パルス101の波形を、中段は記録トラック
150と最短マーク108の形状を、下段は等化再生信
号109の波形をそれぞれ示す。
比較すると、記録条件500はパワー122が大きく、
相対的に記録条件501はパワー122が小さい。パワ
ー122を大から小へ変化させると形成される最短マー
ク108の幅が細くなり、再生信号のレベルが下がる方
向に変化する。この比較例では、一点鎖線で示したスラ
イスレベル110で見た等化再生信号109のエッジ間
隔(交点111および112間の幅)が、記録パルス1
01の幅と等しくなる記録条件501が適正な記録パワ
ーである。
03とを比較すると、記録条件502はパワー122が
大きく、相対的に記録条件503はパワー122が小さ
い。パワー122を小から大へ変化させると形成される
最短マーク108の幅が太くなり、等化再生信号109
のレベルが上がる方向に変化する。この比較例では、ス
ライスレベル110で見た等化再生信号109のエッジ
間隔が記録パルス101の幅と等しくなる記録条件50
2が適正なパワーである。即ち、最短マーク108の記
録パルスの単一パルスによる記録方法では、パワーを変
化させることによってマークの再生波形のエッジの位置
を制御することが可能である。
を比較すると、記録条件501はパワー122が小さく
記録パルス101の前端エッジの位置115は手前にあ
る。相対的に、記録条件502はパワー122が大きく
記録パルス101の前端エッジの位置115は後ろにあ
る。記録条件501と記録条件502とにおけるマーク
108の形状は幅と長さがそれぞれ異なるが、上述のよ
うに等化再生信号109は共に適正な最短マーク108
の再生波形のエッジの位置となっている。しかし、記録
条件502の方がトラック150に占める最短マーク1
08の面積比率が大きいため、記録条件501と比べて
等化再生信号109の再生振幅509が大きくなる。同
じ再生波形のエッジの位置を実現できても、等化再生信
号109の再生振幅509が大きいと、エッジの立ち上
がりが急峻になり等化再生信号109の時間軸変動(ジ
ッター)が少ない。最短マーク108は、再生振幅50
9が他の長マーク(例えば長マーク125)に比べて小
さくなり、十分な品質が得られにくい傾向がある。
の記録パルス101のパワー122および前端エッジの
位置115は、(図5の記録条件501と502のよう
に)最短マーク108の再生波形のエッジ(すなわち交
点111および112の位置)の位置が適正化する複数
の組み合わせが存在する中、再生振幅509が最大とな
る条件を選択するのが好ましい。図1(b)における3
Tmの記録パワー122と前端エッジの位置113、1
14および115の組み合わせは、上記説明のように再
生波形のエッジの位置(すなわち交点111および11
2の位置)が適正で、かつ、再生振幅509が最大とな
る条件を選択したものである。
エッジの位置を適正化するために、長マークの長さ毎に
記録パルスの後半パルスのパワーを変化させる。その方
法を図6を用いて説明する。図6は記録条件650、6
51、652および653における、長さ11Tmの長
マーク608を記録する時の記録データの長さ11Tm
のHiレベル信号630、記録パルス605、長マーク
608の形状および等化再生信号625の関係を示す。
図6に示す記録条件650、651、652および65
3において、上段は記録パルス605の波形を、中段は
記録トラック150と長マーク608の形状を、下段は
等化再生信号625の波形をそれぞれ示す。記録パルス
605は前半パルス615と後半パルス600とを含
む。
パワー601が小さいために、形成される長マーク60
8の後端602が細く短くなり、長マーク608の再生
波形の後端エッジの位置603が適正位置より手前にき
てしまう。
00のパワー601が大きいために、形成される長マー
ク608の後端606が蓄熱作用で太く長くなり、長マ
ーク608の等化再生信号625の再生波形の後端エッ
ジの位置607が適正位置より後ろにきてしまう。
00のパワー601が適正な値のために、形成される長
マーク608の後端610が長マーク608の前端61
1と同じ幅で且つ適正な長さになり、長マーク608の
等化再生信号625の再生波形の後端エッジの位置61
2も適正位置となる。即ち、記録パルス605を前半パ
ルス615と後半パルス600で構成した記録方法で
は、後半パルス600のパワー601を変化させること
によって長マーク608の等化再生信号625の再生波
形の後端エッジの位置を制御することが可能となる。
00のパワー601が適正値あるが、前半パルス615
のパワー617の値が記録条件652に示す適正なパワ
ー617の値より低いので、前端エッジの位置620を
記録条件652に示す適正なエッジの位置619より時
間的に手前に調節することにより、等化再生信号625
の再生波形の前端エッジの位置623と後端エッジの位
置612とを共に適正化している。
び後端622の間で熱アンバランスが生じ、前端621
と後端622との幅が異なり、結果的に長マーク608
の等化再生信号625の再生波形が平坦とならずに傾
く。等化再生信号625の本来平坦な部分が傾く(歪
む)と、等化再生信号625を2値化する時に、性能を
向上するために、パーシャルレスポンス法などの多値判
別方法を用いたとしても、期待する性能が得られず、エ
ラーが生じ得るという不具合が発生する。
パルスのパワーおよび前半パルスの前端エッジの位置
と、後半パルスのパワーおよび後端エッジの位置は、
(図6の記録条件652と記録条件653に示す記録条
件のように)長マークの再生波形のエッジの位置が適正
化する複数の組み合わせが存在する中で、長マークの前
後端の再生振幅が同一となる(すなわち再生波形が平坦
となる)条件を選択することが好ましい。
25を記録するときも同様に、図1(h)における等化
再生信号180の波形の後端エッジの位置123が適正
化するように、図1(f)における後半パルス104の
パワー124を決定する。長さが5Tm以上の長マーク
129を記録するときも同様に、図1(l)における等
化再生信号181の波形の後端エッジの位置130が適
正化するように、図1(j)における後半パルス107
のパワー128を決定する。このとき、記録パルス17
1の前半パルス103、103’および103”のパワ
ー126が、記録パルス172の前半パルス106、1
06’および106”のパワー127と異なる値となっ
ても良い。また、記録パルス172の後半パルス107
のパワー128が、記録パルス171の後半パルス10
4のパワー124と異なる値となっても良い。
適正化するための記録パルスの後半パルスのパワーは、
長マークの長さ毎に異なるパラメータとなる。長マーク
の前半パルスのパワーを、最短マークの単一パルスのパ
ワーと同一にした場合の、各マークの自己の長さ毎のパ
ワー条件を図4Bに示す。図4Bに示す表に記した番号
は、図1に示す各パルスのパワーに対応している。な
お、マークの長さ毎の前半パルスのパワーの最適値は必
ずしも同一であるとは限らず、光ディスクの記録膜特性
やイコライザ特性に依存してマークの長さ毎に値が異な
る場合もある。
再生方法によって、最短マーク108から最長マーク6
08までの全てのマークが光ディスク上に記録され、適
正化されたマークの再生波形のエッジの位置が達成され
る。なお、上記第1から第6の要件は、単に説明順であ
って、実施順序が入れ替わっても良い。
記録再生方法は、長マークを記録するために従来方式の
マルチパルスのような記録クロック周期より短いパルス
を使用しない。また、長マークの再生波形の再生振幅を
平坦にすることができ、また、最短マークの振幅を最大
化することができる。
半パルスのパワーの調整による長マークの再生波形の後
端エッジの位置の調整方法を採用している。このため、
最短マークを記録するための記録パルスの後端エッジの
位置条件は1個だけである(すなわち固定される)。ま
た、長マークを記録するための記録パルスの前半パルス
の後端エッジの位置条件および後半パルスの後端エッジ
の位置条件もそれぞれ1個だけである(すなわち固定さ
れる)。これにより、従来の記録方法と比べて、記録波
形(ライトストラテジ)が簡略化した上に、大幅に記録
補償パラメータを少なくすることが可能となった。
および図12を参照して、マークおよびスペースのテス
ト記録において記録補償条件を最短の手順で求める方法
とデータ記録再生方法とを説明する。図9、図10、図
11および図12は、記録補償条件を最短の手順で求め
る方法とデータ記録再生方法を示すフローチャートであ
る。
08を記録するための記録パルス101について説明す
る。記録パルス101の後端エッジの位置190を、記
録クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満たす
位置に固定する(S1001)。次に、最短マーク10
8の再生波形の後端エッジの位置(すなわち交点11
2)が適正化するように記録パルス101のパワー12
2を決定する(S1002)。次に、最短マーク108
の再生波形の前端エッジの位置(すなわち交点111)
が適正化するように、記録パルス101の前端エッジの
位置115を最短マーク108直前のスペースの長さ
(例えば5T)に基づいて決定する(S1003)。記
録パルス101の前端エッジの位置115は、直前のス
ペースの長さが異なる毎に異なる値に調整され得る。
録パルス101のパワー122は、再生振幅509が最
大となる値に決定されることが望ましい。
29記録するための記録パルス172について説明す
る。2段パルスである記録パルス172の前半パルス1
06の後端エッジの位置191を記録クロックのエッジ
と所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定する(S
1101)。次に、記録パルス172の後半パルス10
7の後端エッジの位置192を記録クロックのエッジと
所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定する(S1
102)。例えば、nTm(nは4以上の整数)の長マ
ークを記録するための記録パルスにおける後半パルスの
後端エッジの位置は、前半パルスの後端エッジの位置か
ら(n−3)Tの長さ分後ろに固定される。
決定する(S1103)。パワー127は記録パルス1
01のパワー122と等しい値に決定されてもよい。次
に、長マーク129の再生波形の後端エッジの位置(す
なわち交点130)が適正化するように後半パルス10
7のパワー128を決定する(S1104)。なお、図
6を参照して説明したように長マークの再生振幅の平坦
性を満たすために、図1に示すパワー122、パワー1
26およびパワー127が互いに異なる値となってもよ
く、また、パワー124およびパワー128が互いに異
なる値となってもよい。
ッジの位置(すなわち交点131)が適正化するよう
に、前半パルス106の前端エッジの位置121を長マ
ーク129直前のスペースの長さ(例えば5T)と長マ
ーク129の長さ(例えば5T)とに基づいて決定する
(S1105)。図1に示す記録パルス101、171
および172は記録するマークの長さがそれぞれ異なる
ので、前端エッジの位置115、118および121の
それぞれの後端エッジからの長さは、直前のスペースの
長さが同一であっても異なる位置に設定され得る。
組み合わせについて、図9および図10に示す手順を繰
り返し実行することにより、全ての最短マークおよび長
マークの記録補償条件が最短の手順で決定される。図9
および図10に示すステップの順番は一例であり、この
順番に限定されない。以上はテスト記録において記録補
償条件を最短の手順で求める方法である。
て、決定された記録補償条件を用いてユーザデータを記
録する方法について説明する。記録補償条件決定後にお
いて、図1に示すマークを記録するための記録パルスと
しての記録パルス101の後端エッジ位置190および
パワー122は固定された値となる。ユーザデータ記録
時の記録パルス101の前端エッジの位置115の調整
は、図4Aに示したような記録補償条件から適切な位置
の値を選択することにより行う(S1201)。このよ
うにして調整した記録パルス101を用いて最短マーク
108を光ディスクに記録することができる(S120
2)。
マークを記録するための記録パルスとしての例えば記録
パルス172において、前半パルス106および後半パ
ルス107それぞれの後端エッジの位置191および1
92とパワー127および128とが固定された値とな
る。ユーザデータ記録時の記録パルス172の前端エッ
ジの位置121の調整は、図4Aに示したような記録補
償条件から適切な位置の値を選択することにより行う
(S1301)。このように調整した記録パルス172
を用いて長マーク129を光ディスクに記録することが
できる(S1302)。
条件決定後のユーザデータ記録時において、所定の記録
パルスの選択されて変更される要素は前端エッジの位置
の1つのみであり、データ処理が容易であるので、デー
タ記録動作を高速化させることができる。
態2として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
と、データ記録再生方法における記録パルスのライトス
トラテジおよび記録補償パラメータの調整方法を示す図
である。図2に示す方法において、図1に示す実施の形
態1と同じ部分には同一の参照符号を付して詳細な説明
を省略する。
を記録再生した時の記録データ、記録パルス、記録マー
クおよび等化再生信号をそれぞれ示す。図2(e)〜
(h)は4Tmの長マーク125を記録再生した時の記
録データ、記録パルス、記録マークおよび等化再生信号
をそれぞれ示す。図2(i)〜(l)は5Tm以上の長
マーク129を記録再生したときの記録データ、記録パ
ルス、記録マーク、等化再生信号をそれぞれ示す。
法とライトストラテジおよび記録補償パラメータの調整
方法について説明する。
のHiレベル信号200に対応する最短マーク108を
記録するために、1個の最短マーク108当り図2
(b)に示す単一パルスである記録パルス201を1つ
照射する。
マーク、例えば図2(e)に示す長さ4TのHiレベル
信号202に対応する長マーク125を記録するため
に、1個の長マーク125当り図2(f)に示す2段パ
ルスである記録パルス241を1つ照射する。記録パル
ス241は、前半パルス203と後半パルス204とを
含む。
えば図2(i)に示す長さ5TのHiレベル信号205
に対応する長マーク129を記録するために、1個の長
マーク129当り図2(j)に示す2段パルスである記
録パルス242を1つ照射する。記録パルス242は、
前半パルス206と後半パルス207とを含む。
ークの再生波形のエッジ変動が無くなるように、マーク
間(すなわちスペース)を記録する記録パルスのパワー
をスペースの長さ毎に変える。スペース部の記録パワー
を下げることでマーク間熱干渉を防止し、マークのエッ
ジの位置を適正化する方法を図7を用いて説明する。図
7は、8Tmの記録パルス波形のパワーと、形成される
マークの関係を3種類図示したものである。
5Tsのスペースとを記録する場合の記録パルス711
および145を示す。図7(b)は、光ディスク上に記
録された長マーク708とスペース755を示す。この
場合、マーク間スペースが5Tsと大きいので、熱干渉
が起こらずに、長マーク708の後端エッジ701は適
正位置に形成されている。
よび710と3Tsのスペースとを記録する場合の記録
パルスを示す。この場合、マーク間スペースが3Tsと
小さいため、熱干渉が起こる。図7(d)に示すように
長マーク709の後端エッジ702は、次に記録される
長マーク710の前端エッジ703の熱干渉のため徐冷
となり、アモルファスが形成されにくい。よって、後端
エッジ702が時間的手前に移動する。また、長マーク
710の前端エッジ703は、先に記録された長マーク
709の後端エッジ702の熱干渉の予熱効果でより高
温に達し、アモルファス形成が促進される。よって、前
端エッジ703が時間的手前に移動する。
めに、マーク間スペースが小さい時にスペースを記録す
るためのパワー260を下げた時の記録パルス711お
よび213を示す。3Tsの形成において記録パルス2
13のパワー260を記録パルス165および163の
パワーより下げて照射したので、スペースが短い時でも
マーク間の熱干渉が相殺されて、図7(f)に示すよう
に長マーク708の後端エッジ705と前端エッジ70
6は、それぞれ適正位置となる。
Loレベル信号208に対応する熱干渉が発生しない長
さ5T以上のスペース155を記録する時の記録パルス
209のパワー262に対し、Loレベル信号210に
対応する長さ4Tのスペース154を記録するための記
録パルス211のパワー261をパワー262より小さ
く設定する。これにより、パワー261がパワー262
と等しい場合に少し発生するマーク間の熱干渉の影響を
なくすることができる。
のスペース153を記録するための記録パルス213の
パワー260をパワー261より更に小さく設定する。
これにより、パワー260がパワー262と等しい場合
に大きく発生するマーク間の熱干渉の影響をなくするこ
とができる。
のパワーをスペースの長さ毎に決定し、マーク間熱干渉
の影響をなくする。なお、スペースの長さ毎の記録パル
スの記録パワーは、スペースの前後のマークの長さに依
らず一定とする。
ルスのパワーを決定した上で、マークの再生波形の前端
エッジの位置が適正化するように、マークを記録するた
めの記録パルスの前端エッジの位置をマークの長さ毎に
決定する。
の再生波形の前端エッジの位置(すなわち等化再生信号
250とスライスレベル110との交点214)が適正
化するように、記録パルス201の前端エッジの位置2
15を決定する。4Tmの長マーク125の再生波形の
前端エッジの位置(すなわち等化再生信号251とスラ
イスレベル110との交点216)が適正化するよう
に、記録パルス241の前半パルス203の前端エッジ
の位置217を決定する。5Tm以上の長マークの再生
波形の前端エッジの位置(すなわち等化再生信号252
とスライスレベル110との交点218)が適正化する
ように、記録パルス242の前半パルス206の前端エ
ッジの位置219を決定する。
長さ毎に記録パルスのパワーを決定した上で、マークの
再生波形の後端エッジの位置が適正化するように記録パ
ルスの後端エッジの位置をマークの長さ毎に決定する。
の再生波形の後端エッジの位置(すなわち等化再生信号
250とスライスレベル110との交点220)が適正
化するように、記録パルス201の後端エッジ221を
決定する。4Tmの長マーク125の再生波形の後端エ
ッジの位置(すなわち等化再生信号251とスライスレ
ベル110との交点222)が適正化するように、記録
パルス241の後半パルス204の後端エッジの位置2
23を決定する。5Tm以上の長マーク129の再生波
形の後端エッジの位置(すなわち等化再生信号252と
スライスレベル110との交点224)が適正化するよ
うに、記録パルス242の後半パルス207の後端エッ
ジの位置225を決定する。
示す。図4Cに示す表に記した番号は、図2に示す各部
の位置を示す参照符号に対応している。なお、表に示す
各参照符号に対応する各部の位置同士は必ずしも異なる
値であるとは限らず、光ディスクの記録膜特性やイコラ
イザ特性に依存して、いくつかの位置が同一値になる場
合もある。
態においても最短マークを記録するための単一パルスの
パワーおよび前端エッジの位置と後端エッジの位置は、
最短マークの再生波形のエッジの位置が適正化する複数
の組み合わせが存在する中、再生振幅が最大となる条件
を選択するのが好ましい。
ルスのパワーおよび前端エッジの位置と、後半パルスの
パワーおよび後端エッジの位置とは、長マークの再生波
形のエッジの位置が適正化する複数の組み合わせが存在
する中で、長マークの前後端の再生振幅が同一となる
(すなわち再生波形が平坦となる)条件を選択すること
が好ましい。
ルス203のパワー227および記録パルス242の前
半パルス206のパワー228を、記録パルス201の
パワー226と同一にし、記録パルス241の後半パル
ス204のパワー229および記録パルス242の後半
パルス207のパワー230をマークの長さによらず一
定にした場合の、記録パルスのパワー条件を図4Dに示
す。また、スペースの長さ毎の記録パルスのパワー条件
も示す。図4Dに示す表に記した番号は、図2に示す各
部のパワーを示す参照符号に対応している。
要件を満たした記録再生方法によって、最短マークから
最長マークまでの全てのマークが光ディスク上に記録さ
れ、適正化されたマークの再生波形のエッジの位置が達
成される。なお、上記第1から第5の要件は、単に説明
順であって、実施順序が入れ替わっても良い。
生方法は、長マークを記録するために従来方式のように
記録クロック周期より短いパルスを使用しない。また、
スペースを記録する記録パルスのパワーを制御してマー
ク間熱干渉の影響を無くしたので、記録パルスの前端エ
ッジおよび後端エッジの位置条件はマーク自己の長さ毎
の1次元パラメータとなった。更に、長マークの再生波
形の前後端の振幅を揃えたり、最短マークの再生波形の
振幅を最大化することができる。即ち、従来の記録方法
と比べて、記録パルスの波形(ライトストラテジ)が簡
略化した上に、大幅に記録補償パラメータを少なくする
ことが可能となった。
を参照して、マークおよびスペースのテスト記録におい
て記録補償条件を最短の手順で求める方法とデータ記録
再生方法とを説明する。図13、図14および図15
は、記録補償条件を最短の手順で求める方法とデータ記
録再生方法を示すフローチャートである。
108を記録するための記録パルス201について説明
する。記録パルス201の後端エッジの位置221を、
記録クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満た
す位置に固定する(S1401)。次に、最短マーク1
08の再生波形の後端エッジの位置(すなわち交点22
0)が適正化するように記録パルス201のパワー22
6を決定する(S1402)。次に最短マーク108の
再生波形の前端エッジの位置(すなわち交点214)が
適正化するように、記録パルス201の前端エッジの位
置215を決定する(S1403)。次に、マーク間の
熱干渉によるマークの再生波形のエッジの位置変動が無
くなるように、スペース153、154および155を
記録するための記録パルス213、211および209
のパワーを各スペース153、154および155の長
さに基づいて決定する(S1404)。これにより、最
短マーク108直前のスペースの長さが異なっても、記
録パルス201の前端エッジ位置215の値を変更する
ことなく、最短マーク108の再生波形の前後端エッジ
の位置(すなわち交点214および220)を適正化す
ることができる。
29を記録するための記録パルス242について説明す
る。前半パルス206の後端エッジの位置291を記録
クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満たす位
置に固定する(S1501)。次に、前半パルス206
のパワー228を決定する(S1502)。パワー22
8は、記録パルス201のパワー226と等しい値に決
定されてもよい。
ッジの位置(すなわち交点224)が適正化するように
(例えば長マーク129の再生振幅の平坦性を満たすた
めに)、後半パルス207の後端エッジの位置225と
パワー230とを、長マーク129の長さに基づいて決
定する(S1503)。例えば、nTm(nは4以上の
整数)の長マークを記録するための記録パルスにおける
後半パルスの後端エッジの位置は、前半パルスの後端エ
ッジの位置から(n−3)Tの長さ分後ろに固定され、
この固定位置はさらに微調整され得る。
ッジの位置(すなわち交点218)が適正化するよう
に、前半パルス206の前端エッジの位置219を長マ
ーク129の長さに基づいて決定する(S1504)。
次に、マーク間の熱干渉によるマークの再生波形のエッ
ジの位置変動が無くなるように、スペースを記録するた
めの記録パルスのパワーを、スペースの長さに基づいて
決定するスペース153、154および155を記録す
るための記録パルス213、211および209のパワ
ーを各スペース153、154および155の長さに基
づいて決定する(S1505)。S1505はS140
4と共通で有り得る。
組み合わせについて、図13および図14に示す手順を
繰り返し実行することにより、全ての最短マークおよび
長マークおよびスペースの記録補償条件が最短の手順で
決定される。図13および図14に示すステップの順番
は一例であり、この順番に限定されない。以上はテスト
記録において記録補償条件を最短の手順で求める方法で
ある。
された記録補償条件を用いてユーザデータを記録する方
法について説明する。記録補償条件決定後における、図
2に示すマークを記録するための記録パルスとしての例
えば記録パルス201の前端エッジ位置215、後端エ
ッジ位置221およびパワー226は固定された値とな
る。ユーザデータ記録時のスペースを記録するための記
録パルスのパワーの調整は、図4Dに示したような記録
補償条件から適切なパワーの値を選択することにより行
う(S1601)。このように調整した記録パルス20
9、211および213を用いてスペース155、15
4および153を光ディスクに記録することができる
(S1602)。
条件決定後のユーザデータ記録時において、記録パルス
照射前後の条件に応じて選択または変更される記録パル
スの要素が無く、データ処理が容易であるので、データ
記録動作を高速化させることができる。
形態3として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
およびデータ記録再生方法における記録パルスの波形
(ライトストラテジ)の調整方法を示す図である。図8
(a)は、実施の形態1または実施の形態2と同様の記
録方法による長マークおよび最短マークを記録するため
の記録パルス810および817を示す。図8(b)
は、上記記録パルス810および817により記録され
る長マーク803および最短マーク800を示す。本発
明の記録再生方法における記録パルスは、以下に説明す
る予熱パルスおよび冷却パルスを付加した状態でも実施
可能で効果を発揮する。
ための記録パルス801の終了位置に予熱パルス802
を付加した実施形態を示す。予熱パルス802が最短マ
ーク821の前端部800の温度上昇を助けるので、前
端部800にアモルファスが形成されやすくなる。
ための記録パルス804の開始位置に冷却パルス805
を付加した実施形態を示す。冷却パルス805が長マー
ク820の後端部803の冷却速度を高めるので、後端
部803にアモルファスが形成されやすくなる。
ための記録パルス806の両端位置に予熱パルス805
と冷却パルス802の両方を付加した実施形態を示す。
両パルスにより、より一層、前端部800および後端部
803でのアモルファス化が容易となる。
のライトストラテジおよび記録補償パラメータの調整方
法は、記録再生装置の製品出荷前に実施されてもよく、
また、ユーザによる記録再生装置の使用毎に実施されて
もよい。
法は、幅細のマルチパルスを用いないため、記録レート
の高速化と記録中のパワー制御が容易である。また、高
密度記録における最短マークの振幅を最大化し、長マー
クの歪みを低減できる。しかも、従来よりパラメータが
少ないライトストラテジと記録補償が実現可能となっ
た。従って、本発明は、ディジタルビデオレコーダなど
の高速高密度を要求される光ディスクシステムに最適で
ある。
ータ記録再生方法を示す図
ータ記録再生方法を示す図
タ記録再生装置を示す図
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図
録再生方法を示す図
再生方法を示す図
渉を制御する記録方法を示す図
ータ記録再生方法を示す図
ータ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
データ記録再生方法を示すフローチャート
記録補償条件を示す図
記録補償条件を示す図
Claims (13)
- 【請求項1】 光ディスクにマークを記録するための記
録パルスを調整する方法であって、 (a) 最短マークを記録するための第1記録パルスを
調整するステップと、 (b) 長マークを記録するための第2記録パルスを調
整するステップとを包含し、 前記第1記録パルスは第1パワーを有する単一パルスで
あり、 前記第2記録パルスは、第2パワーを有する前半パルス
と第3パワーを有する後半パルスとを含む2段パルスで
あり、 前記ステップ(a)は、 (a1) 前記第1記録パルスの後端エッジの位置を、
記録クロックの第1エッジと所定の相対的な位置関係を
満たす位置に固定するステップと、 (a2) 前記最短マークの再生波形の後端エッジの位
置が適正化するように前記第1パワーを決定するステッ
プと、 (a3) 前記最短マークの前記再生波形の前端エッジ
の位置が適正化するように、前記第1記録パルスの前端
エッジの位置を前記最短マーク直前のスペースの長さに
基づいて決定するステップとを包含し、 前記ステップ(b)は、 (b1) 前記前半パルスの後端エッジの位置を前記記
録クロックの第2エッジと前記所定の相対的な位置関係
を満たす位置に固定するステップと、 (b2) 前記後半パルスの後端エッジの位置を前記記
録クロックの第3エッジと前記所定の相対的な位置関係
を満たす位置に固定するステップと、 (b3) 前記第2パワーを決定するステップと、 (b4) 前記長マークの再生波形の後端エッジの位置
が適正化するように前記第3パワーを決定するステップ
と、 (b5) 前記長マークの再生波形の前端エッジの位置
が適正化するように、前記前半パルスの前端エッジの位
置を前記長マーク直前のスペースの長さと前記長マーク
の長さとに基づいて決定するステップとを包含する、方
法。 - 【請求項2】 前記第1パワーと前記第1記録パルスの
前記前端エッジの位置との組み合わせは、前記最短マー
クの前記再生波形の前記前端エッジの位置と前記後端エ
ッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、前記
最短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせ
に設定される、請求項1に記載の記録パルスを調整する
方法。 - 【請求項3】 前記第2パワーと前記第3パワーと前記
前半パルスの前記前端エッジの位置との組み合わせは、
前記長マークの前記再生波形の前記前端エッジの位置と
前記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせ
の内、前記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組
み合わせに設定される、請求項1に記載の記録パルスを
調整する方法。 - 【請求項4】 前記第1パワーと前記第2パワーとが同
じ大きさである、請求項1に記載の記録パルスを調整す
る方法。 - 【請求項5】 前記後半パルスの前記後端エッジの位置
は、前記前半パルスの前記後端エッジの位置から所定の
クロック周期後ろの位置に固定される、請求項1に記載
の記録パルスを調整する方法。 - 【請求項6】 請求項1に記載の記録パルスを調整する
方法を用いて光ディスクにマークを記録する方法であっ
て、 前記ステップ(a)に従って少なくとも調整された前記
第1記録パルスに基づいて前記最短マークを記録するス
テップと、 前記ステップ(b)に従って少なくとも調整された前記
第2記録パルスに基づいて前記長マークを記録するステ
ップとを包含する光ディスクにマークを記録する方法。 - 【請求項7】 光ディスクにマークを記録する方法であ
って、 (a) 後端エッジの位置とパワーとが固定された単一
パルスである、最短マークを記録するための第1記録パ
ルスの前端エッジを前記最短マーク直前のスペースの長
さに基づいて調整するステップと、 (b) 前記ステップ(a)で調整された前記第1記録
パルスを用いて前記最短マークを記録するステップと、 (c) 互いに異なるパワーを有する前半パルスと後半
パルスとを含む2段パルスであり、前記前半パルスおよ
び前記後半パルスそれぞれの後端エッジの位置とパワー
とが固定された、所定の長さの長マークを記録するため
の第2記録パルスの前端エッジを前記長マーク直前のス
ペースの長さに基づいて調整するステップと、 (d) 前記ステップ(c)で調整された前記第2記録
パルスを用いて前記長マークを記録するステップと、 を包含する、方法。 - 【請求項8】 光ディスクにマークとスペースとを記録
するための記録パルスを調整する方法であって、 (a) 最短マークを記録するための第1記録パルスを
調整するステップと、 (b) 長マークを記録するための第2記録パルスを調
整するステップと、 (c) マーク間のスペースを記録するための第3記録
パルスを調整するステップとを包含し、 前記第1記録パルスは第1パワーを有する単一パルスで
あり、 前記第2記録パルスは、第2パワーを有する前半パルス
と第3パワーを有する後半パルスとを含む2段パルスで
あり、 前記第3記録パルスは第4パワーを有する単一パルスで
あり、 前記ステップ(a)は、 (a1) 前記第1記録パルスの後端エッジの位置を、
記録クロックの第1エッジと所定の相対的な位置関係を
満たす位置に固定するステップと、 (a2) 前記最短マークの再生波形の後端エッジの位
置が適正化するように前記第1パワーを決定するステッ
プと、 (a3) 前記最短マークの前記再生波形の前端エッジ
の位置が適正化するように、前記第1記録パルスの前端
エッジの位置を決定するステップとを包含し、 前記ステップ(b)は、 (b1) 前記前半パルスの後端エッジの位置を前記記
録クロックの第2エッジと前記所定の相対的な位置関係
を満たす位置に固定するステップと、 (b2) 前記第2パワーを決定するステップと、 (b3) 前記長マークの再生波形の後端エッジの位置
が適正化するように、前記後半パルスの後端エッジの位
置と前記第3パワーとを前記長マークの長さに基づいて
決定するステップと、 (b4) 前記長マークの再生波形の前端エッジの位置
が適正化するように、前記前半パルスの前端エッジの位
置を前記長マークの長さに基づいて決定するステップと
を包含し、 前記ステップ(c)は、 (c1) マーク間の熱干渉によるマークの再生波形の
エッジの位置変動が無くなるように、前記第4パワーを
前記スペースの長さに基づいて決定するステップを包含
する、方法。 - 【請求項9】 前記第1パワーと前記第1記録パルスの
前記前端エッジの位置との組み合わせは、前記最短マー
クの前記再生波形の前記前端エッジの位置と前記後端エ
ッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、前記
最短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせ
に設定される、請求項8に記載の記録パルスを調整する
方法。 - 【請求項10】 前記第2パワーと前記第3パワーと前
記前半パルスの前記前端エッジの位置との組み合わせ
は、前記長マークの前記再生波形の前記前端エッジの位
置と前記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合
わせの内、前記長マークの再生振幅が実質的に平坦とな
る組み合わせに設定される、請求項8に記載の記録パル
スを調整する方法。 - 【請求項11】 前記第1パワーと前記第2パワーとが
同じ大きさである、請求項8に記載の記録パルスを調整
する方法。 - 【請求項12】 請求項8に記載の記録パルスを調整す
る方法を用いて光ディスクにマークを記録する方法であ
って、 前記ステップ(a)に従って少なくとも調整された前記
第1記録パルスに基づいて前記最短マークを記録するス
テップと、 前記ステップ(b)に従って少なくとも調整された前記
第2記録パルスに基づいて前記長マークを記録するステ
ップと、 前記ステップ(c)に従って少なくとも調整された前記
第3記録パルスに基づいて前記スペースを記録するステ
ップとを包含する光ディスクにマークを記録する方法。 - 【請求項13】 光ディスクにマーク間のスペースを記
録する方法であって、 (a) マーク間の熱干渉によるマークの再生波形のエ
ッジの位置変動が無くなるように、スペースを記録する
ための単一パルスである記録パルスのパワーを前記スペ
ースの長さに基づいて調整するステップと、 (b) 前記ステップ(a)で調整された前記記録パル
スを用いて前記スペースを記録するステップと を包含する、方法。
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JP2001107851A JP2001351239A (ja) | 2000-04-07 | 2001-04-05 | 光ディスクのデータ記録再生方法 |
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JP2001107851A JP2001351239A (ja) | 2000-04-07 | 2001-04-05 | 光ディスクのデータ記録再生方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8064308B2 (en) | 2005-03-31 | 2011-11-22 | Panasonic Corporation | Optical disk recording device, method for recording data on optical disk, and optical disk |
KR101307540B1 (ko) | 2006-03-24 | 2013-09-12 | 삼성전자주식회사 | 기록 방법, 기록 장치 및 그 광 기록 매체 |
-
2001
- 2001-04-05 JP JP2001107851A patent/JP2001351239A/ja active Pending
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JP4685745B2 (ja) * | 2006-10-23 | 2011-05-18 | 株式会社日立製作所 | 記録方法及びそれを用いた光ディスク装置 |
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