JP2001343589A - 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法 - Google Patents

投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法

Info

Publication number
JP2001343589A
JP2001343589A JP2001057369A JP2001057369A JP2001343589A JP 2001343589 A JP2001343589 A JP 2001343589A JP 2001057369 A JP2001057369 A JP 2001057369A JP 2001057369 A JP2001057369 A JP 2001057369A JP 2001343589 A JP2001343589 A JP 2001343589A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
lens
mirror
projection optical
refractive power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001057369A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kato
隆志 加藤
Hiroyuki Ishii
弘之 石井
Chiaki Terasawa
千明 寺沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001057369A priority Critical patent/JP2001343589A/ja
Priority to US09/820,710 priority patent/US6829099B2/en
Publication of JP2001343589A publication Critical patent/JP2001343589A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70225Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70275Multiple projection paths, e.g. array of projection systems, microlens projection systems or tandem projection systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】レンズの構成枚数が少なく、かつ高解像力と広
い露光領域を確保することのできる投影光学系を提供す
る。 【解決手段】物体の像を像面へ投影する投影光学系にお
いて、少なくとも一つのレンズと、少なくとも一つの凹
面鏡と、少なくとも一つの回折光学素子とを有し、例え
ば、前記少なくとも一つのレンズと前記少なくとも一つ
の凹面鏡を備え、前記物体の中間像を結像するように構
成した第1結像光学系と、前記少なくとも一つのレンズ
と少なくとも一つの回折光学素子を備え、前記中間像を
像面へ投影する第2結像光学系とを有する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は投影光学系、および
該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法に
関し、特にレチクルパターンを半導体ウェハに投影露光
する投影光学系に、凹面鏡等を用いた反射屈折投影光学
系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】最近の半導体素子の製造技術の進展は目
覚ましく、又それに伴う微細加工技術の進展も著しい。
特に光加工技術はサブミクロンの解像力を有する縮小投
影露光装置、通称ステッパー或いはスキャナが主流であ
り、さらなる解像力向上に向けて光学系の開口数(N
A)の拡大や、露光波長の短波長化が計られている。従
来より投影露光装置を用い、IC,LSI等の半導体素
子のパターンをシリコン等のウエハに焼き付けるための
結像光学系には非常に高い解像力が要求される。一般に
結像光学系による投影像の解像力は使用する波長が短く
なる程良くなるために、できる限りの短波長を放射する
光源が用いられている。例えば短波長の光源としては、
エキシマレーザーが注目されている。このエキシマレー
ザーはレーザー媒体として、KrF,ArF等が使用さ
れている。そしてArFの次世代として期待されている
のがF2である。
【0003】ところでこれらの光源の波長域においては
レンズ材料として、使用可能な硝材が石英と蛍石に限ら
れてくる。これは主に透過率の低下に起因するものであ
る。そして、これらの光源の波長域において使用できる
この石英や蛍石でも、例えば、特開平10−79345
号公報等にて開示されているように、全て屈折レンズに
て構成され、構成枚数が多く全硝材厚が厚い光学系では
レンズの熱吸収による焦点位置等の変動などの問題が生
じることになる。更に近年の投影光学系は高開口数、広
い露光範囲が切望されているために、より一層レンズの
構成枚数を増やす必要性が生じてしまう。従って、更に
光学系の透過率が低下するとともに硝材のコストも非常
に高くなってしまう結果となる。また、レーザーの狭帯
域化が十分でない場合、色収差補正を考慮しなければな
らない。従って、色収差補正のために光学系内にて屈折
レンズの組み合わせによる色消しを行なう必要がある。
その場合、更にレンズの構成枚数を増加させる必要が生
じてしまう。
【0004】そのため、色収差の補正を行なう目的で回
折光学素子を屈折光学系にて構成される投影光学系中に
導入した光学系が、例えば特開平6−331941号公
報、特開平7−128590号公報等により開示されて
いる。これらの光学系は、屈折投影光学系の瞳付近に、
通常の屈折レンズとは逆の分散を有する回折光学素子を
導入することで、主に軸上色収差を補正するとともに、
回折光学素子の非球面効果により主に球面収差やコマ収
差等の諸収差を補正している。尚、回折光学素子は、入
射波面を定められた波面に変換する光学素子であり、屈
折型レンズにはない特徴を備えている。例えば、屈折型
レンズとは逆の分散値を有する、或いは実質的には厚み
を持たないので光学系がコンパクトになる、等である。
【0005】このような特徴を持つ回折光学素子を実際
に高精度に製造するための方法として、例えばバイナリ
オプティクスが注目されている。これは、回折素子の形
状を階段状に近似することにより、作製にLSIの製造
等に用いられる半導体プロセスを適用することができる
ため、微細なピッチでも容易に高精度な加工が可能にな
るためである。また、回折光学素子と石英レンズ、蛍石
レンズを有し、回折光学素子の少なくとも1つは正の屈
折力を有し、石英レンズの少なくとも1つは負の屈折
力、蛍石レンズの少なくとも1つは正の屈折力を有する
光学系について、特開平8−78319号公報にて開示
している。この特開平8−78319号公報では、色収
差の特に2次スペクトルを低減させることを目的として
いる。
【0006】更に、反射光学系に回折光学素子を導入し
た光学系が、例えば特開平8−17720号公報にて開
示されている。この光学系は、曲面状の反射面を持つ複
数の反射部材と回折光学素子を含み、その回折光学素子
が反射部材の反射面に形成されていることを特徴として
いる。同公報によると、屈折レンズの担っていた役割を
回折光学素子に負わせることにより、反射面と回折光学
素子のみで縮小倍率の投影光学系を達成しようとするも
のである、と記述されている。そして、回折光学素子
は、投影露光に使用する光の波長幅に応じた分散を有す
るために、近軸領域ではその屈折力をゼロに近い状態、
即ち焦点距離が無限大にて使用するのが良い、としてい
る。この構成により、屈折レンズを用いることができな
いような短波長域においても使用することができる光学
系を提案している。
【0007】或いは、屈折光学系と反射光学系とを組み
合わせた、いわゆる反射屈折光学系も種々提案されてい
る。これらの光学系は色収差や諸収差をミラーと屈折レ
ンズにて補正しようとするものであり、回折光学素子は
使用していない。その中で、2回結像系にて光学系を構
成し、第1結像系中に1枚の凹面ミラーと屈折レンズを
有し、第1結像系によるレチクルの中間像を、屈折レン
ズにて構成されている第2結像系にてウエハに結像する
光学系が例えば、特開平8−304705号公報、等に
より開示されている。この特開平8−304705号公
報によると、第1結像系において形成される中間像付近
に平面ミラーを配置して光束の進行方向(光軸)を90
度偏向し、第2結像系へと導いている構成をとってい
る。また、ウエハ面とレチクル面とを平行にするため
に、更に第2結像系中に反射ミラーを設けている。この
光学系は軸外光束を用いて、レチクルとウエハを同期し
てスキャンすることにより、走査露光を実現している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】屈折光学系中に回折光
学素子を導入した特開平6−331941号公報の光学
系は、収差補正の必要上から、かなりのレンズ枚数を必
要としている。従って熱収差等の影響により投影光学系
としての性能が悪化してしまうとともに更なる露光波長
の短波長化が進めば、熱収差等の影響がより顕著になっ
てしまう。特開平7−128590号公報の光学系は、
構成枚数は少ないが、露光範囲が小さく、光学系の開口
数も小さい。従って、露光範囲を大きくし、かつ高開口
数を有するためには、やはりかなりのレンズ枚数の増加
が必須となる。
【0009】また、特開平8−78319号公報の光学
系は、屈折レンズと回折光学素子を用いた光学系につい
て、その色収差の特に2次スペクトルを低減させるため
に、少なくとも1つの回折光学素子は正の屈折力、少な
くとも1つの蛍石レンズは正の屈折力、そして少なくと
も1つの石英レンズは負の屈折力にて構成しようとする
ものである。しかしながら、高解像力、広露光領域を有
する光学系を達成するために色収差及び諸収差を良好に
補正するには、数多くの屈折レンズを必要とすることに
は変わりはない。そして、具体的な数値実施例は開示さ
れていない。また、特開平8−17720号公報の光学
系については、具体的な数値実施例は開示されていな
い。また回折光学素子はそのパワーがゼロに近い状態に
するのが望ましいとしてその非球面効果を利用している
ために、光学系の屈折力はミラーにあること、更に屈折
レンズとしてのレンズを使用していないことなどから、
高開口数及び広い露光範囲を有することができない。
【0010】また、特開平8−304705号公報等の
光学系は、第1結像系にて発生する収差を第2結像系に
てキャンセルして収差補正を達成している。例えば、第
1結像系において、凹面ミラーとその凹面ミラー付近に
配置された負レンズによりオーバーな像面湾曲を発生す
るとともに、前記負レンズによって軸上色収差をオーバ
ー方向に発生させている。これらをキャンセルするため
に、第2結像系は正のパワーを有する屈折レンズ群にて
構成されており、それら正のパワーのレンズにより、ア
ンダーな像面湾曲及び軸上色収差を発生させて全系とし
て収差補正を行なっている。しかしながら、色収差と像
面湾曲を同時に補正し、かつその他の諸収差も補正する
必要性から、第1結像光学系中には、負の屈折力を有す
るレンズ群やその他数多くのレンズを有するとともに、
第2結像光学系中にも多数のレンズを配置する必要があ
る。特に、第1結像系における往復光学系として用いる
屈折レンズは、その枚数を極力減らさないと光学系のト
ータル肉厚が増えて透過率が低下し、熱収差等の影響が
大きくなってしまう。また、色収差の問題のない反射ミ
ラーのみを用いた、いわゆる反射光学系にて構成しよう
とすると、高開口数を有する光学系を設計・製作するこ
とは非常に困難である。
【0011】そこで、本発明は、上記従来のものにおけ
る課題を解決し、高開口数と広い露光領域を確保した投
影光学系を提供することを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を達
成するために、つぎの(1)〜(16)のように構成し
た投影光学系を提供するものである。 (1)物体の像を像面へ投影する投影光学系において、
少なくとも一つのレンズと、少なくとも一つの凹面鏡
と、少なくとも一つの回折光学素子とを有することを特
徴とする投影光学系。 (2)前記少なくとも1つのレンズ、少なくとも1つの
凹面鏡、及び少なくとも1つの回折光学素子のそれぞれ
が、正の屈折力を有し、負の屈折力を有するレンズと負
の屈折力を有する鏡と負の屈折力を有する回折光学素子
とを備えていないことを特徴とする上記(1)に記載の
投影光学系。 (3)少なくとも一つの正の屈折力のレンズと、少なく
とも一つの正の屈折力の凹面鏡と、少なくとも一つの正
の屈折力の回折光学素子とを有することを特徴とする投
影光学系。 (4)前記少なくとも一つのレンズと前記少なくとも一
つの凹面鏡を備え、前記物体の中間像を結像するように
構成した第1結像光学系と、前記少なくとも一つのレン
ズと少なくとも一つの回折光学素子を備え、前記中間像
を像面へ投影する第2結像光学系と、を有することを特
徴とする上記(1)〜(3)のいずれかに記載の投影光
学系。 (5)前記第1結像光学系と第2結像光学系とを共通の
一直線の光軸に沿って配置し、前記凹面鏡によって反射
され且つ集光された前記物体からの軸外光を、反射ミラ
ーによって前記凹面鏡の有効径外を通過させ、像面側へ
反射させるように構成されていることを特徴とする上記
(4)に記載の投影光学系。 (6)前記第1結像光学系と第2結像光学系との間にフ
イールド光学系を有することを特徴とする上記(4)ま
たは上記(5)に記載の投影光学系。 (7)前記第1結像光学系は、前記物体に近い順に、少
なくとも、正の屈折力を有するレンズと、前記反射ミラ
ーと、前記凹面鏡と、を有することを特徴とする上記
(5)または上記(6)に記載の投影光学系。 (8)前記反射ミラーと前記凹面鏡との間に、レンズ群
を有することを特徴とする上記(7)に記載の投影光学
系。 (9)前記レンズ群が、負の屈折力を有し、前記第1結
像光学系における正の屈折力を有するレンズと前記凹面
鏡との間に配置されていることを特徴とする上記(8)
に記載の投影光学系。 (10)前記第1結像光学系により結像される中間像の
近傍に反射面を配置し、前記凹面鏡によって反射され且
つ集光された前記物体からの軸外光を、該反射面で偏向
させて前記第2結像光学系へ導くように構成されている
ことを特徴とする上記(4)に記載の投影光学系。 (11)前記投影光学系中の前記回折光学素子の少なく
とも1枚は、以下の条件式を満足するように構成されて
いることを特徴とする上記(1)〜(10)のいずれか
に記載の投影光学系。 3<MP/λ<50 但し、MP:回折光学素子の最小ピッチ(μm) λ:露光波長(μm) (12)前記投影光学系中の前記回折光学素子のうち少
なくとも1枚は、以下の条件式を満足するように構成さ
れていることを特徴とする上記(1)〜(10)のいず
れかに記載の投影光学系。 |Ld/LG2|<0.2 但し、Ld:第2結像光学系中の開口絞りと回折光学素
子との距離 LG2:第1結像光学系G1による中間像の近軸像面位
置(第2結像光学系G2の物点位置)から、中間像を再
結像した際の、再結像面までの距離 (13)前記第1結像光学系による中間像付近に視野絞
りを有することを特徴とする上記(3)〜(12)のい
ずれかに記載の投影光学系。 (14)上記(1)〜(13)のいずれかに記載の投影
光学系によってマスクのパターンを基板上に投影する投
影露光装置。 (15)上記(14)に記載の投影露光装置を用いて前
記マスクとしてのレチクルのデバイスパターンを前記基
板としてのウェハに露光する段階と、該露光したウェハ
を現像する段階とを含むことを特徴とするデバイス製造
方法。 (16)前記露光にArFエキシマレーザ又はF2レー
ザからのレーザ光を用いることを特徴とする上記(1
5)に記載のデバイス製造方法。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の一つの実施の形態として
は、上記構成を適用して、例えば図1に示す投影光学系
を構成することができる(実施の形態1)。これによっ
て、レンズの構成枚数が少なく、かつ高解像力と広い露
光領域を確保した投影光学系を実現することができる。
これを図1に示した概略図に基づいて説明すると、10
1は第1の物体(レチクル)であり、102は第2の物
体(ウエハ)である。図1中、Mはミラー、Oは屈折レ
ンズ、Dは回折光学素子を示す。本実施の形態の投影光
学系は、図1が示す通り、少なくとも屈折レンズ、ミラ
ー、回折光学素子を有するとともに、その光学系中の焦
点距離を有する屈折レンズ、ミラー、回折光学素子の各
素子が全て正の焦点距離を有することで、レンズの構成
枚数が少なく、かつ高解像力と広い露光領域を確保した
投影光学系を実現することができる。
【0014】以下に、その詳細について説明する。一般
的に光学系は正及び負の屈折力の光学素子を組み合わせ
ることで各種収差(色収差、像面湾曲等々)の補正を行
なっている。従って、より高開口数、広い露光範囲を補
正する光学系を達成しようとすると、必然的に正及び負
の屈折力の光学素子を多く必要とすることになる。逆
に、光学系中の負の屈折力の光学素子をできる限り削減
してかつ高開口数、広い露光範囲を補正できる光学系が
構成できれば、その光学系の構成枚数は非常に少なくで
きるはずである。
【0015】この点の議論を簡単にするために、薄肉密
着系にて考える。屈折レンズの負の合成の屈折力をφo
-、アッベ数をνo-、屈折率をn-とし、また、屈折レン
ズの正の合成の屈折力をφo+、アッベ数をνo+、屈折率
をn+、またミラーの合成屈折力をφm、回折光学素子の
合成屈折力をφd、アッベ数をνd、とする。光学系を設
計する上で、まず満足しなければならないのは、像面湾
曲と色収差の補正である。これら諸量は光学系のパワー
配置に依存するところが大きいため、設計初期の段階に
おいても十分に考慮することが必要となる。像面湾曲及
び色収差を十分補正できる光学系が成立するためには、
光学系中に正の屈折力を有するレンズと負の屈折力を有
するレンズが必要となってくる。
【0016】特に、光学系を構成する光学素子の全てが
屈折レンズにて構成された場合、像面湾曲(ペッツバー
ル和)を示す指標F及び色収差を示す指標Cは以下の式
(1)、(2)のように表すことができる。 F= φo+/n+ + φo-/n- ...(1) C= φo+/νo+ + φo-/νo- ...(2) 光学系中に負の屈折力を有する素子を持たないと、
(1)及び(2)式により、正の屈折力を有する素子の
みでFとCが決まってしまい、両者ともに小さく或いは
ゼロにすることができないことがわかる。そして、特に
短波長域では前述の通り硝材が限定されるため、色収差
を補正することが難しいとともに、広い露光領域及び高
い開口数を有する光学系を達成しようとすると、正、負
の屈折力を有するレンズともにその枚数を大幅に使用せ
ざるを得ない状況となる。
【0017】また、屈折レンズと回折光学素子とで構成
される光学系にて構成された場合、F及びCは以下の式
(3)、(4)のように表すことができる。以下の式
(3)、(4)から明らかなように、色収差Cと像面湾
曲Fを同時に補正しようとすると必然的に光学系中に負
の屈折力を有するレンズが必要である。これは、回折光
学素子自体が像面湾曲(ペッツバール和)に関与しない
からである。 F= φo+/n+ + φo-/n- ...(3) C= φo+/νo+ + φo-/νo- + φd/νd ...(4) また、ミラーと屈折レンズにて構成されている光学系に
おいても、式(5),(6)に示すように、色収差Cと
像面湾曲Fを同時に補正しようとすると、この場合も必
然的に光学系中に負の屈折力を有するレンズが必要であ
る。これは、ミラー自体が色収差補正に関与しないから
である。 F= φo+/n+ + φo-/n- +(−φm) ...(5) C= φo+/νo+ + φo-/νo- ...(6) そこで、本発明の光学系のように、屈折レンズと回折光
学素子、ミラーとで構成した場合、F及びCは以下の式
(7)、(8)のように表すことができる。 F= φo+/n+ + φo-/n- +(−φm) ...(7) C= φo+/νo+ + φo-/νo- + φd/νd ...(8) 上記したように、回折光学素子自体は像面湾曲を発生す
ることがないため、像面湾曲を支配するのは、ミラーと
屈折レンズである。また、ミラーは色収差補正には寄与
しないため、色収差補正には屈折レンズと回折光学素子
が寄与する。従って、本発明の如く3種類の素子を有効
に用いることで過度にレンズの数を増やすことなく効率
的に色収差像面湾曲を補正できる。又、更に屈折レン
ズ、ミラー、回折光学素子の3つの素子を用いて投影光
学系を構成するに際して、負の屈折力を有するレンズを
光学系中から排除すると、以下のようになる。 F= φo+/n+ +(−φm)...(7’) C= φo+/νo+ + φd/νd ...(8’) このように、屈折レンズ、ミラー、回折光学素子の3つ
の素子を用いることにより、上記2式を満足することで
像面湾曲及び色収差を補正することが可能である。すな
わち、前述した従来の光学系には必須であった負の屈折
力を有するレンズを用いることなく光学系を構築するこ
とが可能となる。この場合、色収差を補正するために
は、正の屈折力を有するレンズと正の屈折力を有する回
折光学素子、更に正の屈折力を有するレンズにより発生
する負の像面湾曲を打ち消すための正の屈折力を有する
ミラー(凹面ミラー)にて構成すれば、負の屈折力を有
するレンズ及び素子を用いることなく光学系を構築でき
る。以上説明した通り、投影光学系が少なくとも屈折レ
ンズ、ミラー、回折光学素子を有するとともに、焦点距
離を有する屈折レンズ、ミラー、回折光学素子の各素子
は、全て正の屈折力を有することで、全系の像面湾曲及
び色収差を補正することができるとともに、構成枚数が
少ない光学系を達成することが可能となる。
【0018】また、本発明の別の実施の形態としては、
上記構成を適用して、例えば図2に示す反射屈折投影光
学系を構成することができる(実施の形態2)。図2に
おいて101は第1の物体(レチクル)、102は第2
の物体(ウエハ)である。本実施の形態の光学系は、物
体側から順に、少なくとも第1結像光学系G1と第2結
像光学系G2よりなる。第1結像光学系G1は、屈折レ
ンズ及びミラーを含んでおり、第1の物体101の中間
像を形成している。第2結像光学系G2は、屈折レンズ
及び回折光学素子を含んでおり、前述した中間像を第2
の物体上に再結像している。
【0019】一般に、ミラーには以下のような特徴を有
する。すなわち、 ・ミラー面では、色収差は発生しないこと、 ・ミラーが有するパワーとペッツバール和の符号の関係
は、通常の屈折レンズとは逆である。例えば凹面ミラー
は、正のパワーを有しながらもペッツバール和は負の値
を有するので、光学系中のペッツバール和補正のための
負レンズのパワー負担を軽減できること、等の特徴を有
する。以上のような特徴を有するミラーを光学系中にて
使用することは、光学設計上有益であり、色収差が少な
く構成枚数も少ない光学系を構成するための一つの手段
となる。
【0020】しかしながら、ミラー面において光束は反
射するために、種々の問題が生じる。特に、1回結像光
学系においてミラーを活用しようとすると、ミラーに入
射した光束と出射した光束を分離して像面に結像させる
必要性が生じる。そのためには、例えば、ビームスプリ
ッタを活用したり、或いは光束のけられを許容して瞳の
中抜けを有する光学系を形成しなければならない。また
一般に、多数回結像光学系においてミラーを最終結像光
学系に配置すると、バックフォーカスを十分に確保する
ことが困難であり、ミラーに入射する光束とミラーから
出射する光束とを分離するために光学配置が複雑にな
る。尚、ここで言う最終結像光学系とは、図1における
第2の物体(ウエハ)に最も近い結像系のことである。
そしてより高開口数化を達成しようとすると、さらにそ
の配置が厳しくなるとともにミラーが大型化してしま
う。従って、多数回結像光学系において、ミラーは最終
結像光学系以外の結像光学系に配置するのが良い。従っ
て本発明においては、最終結像光学系以外の結像光学系
に、特に第1結像光学系G1中に、少なくとも1枚以上
のミラーを配置する構成を取っている。
【0021】また、一般に回折光学素子は以下のような
特徴を有する。すなわち、 ・通常のレンズとは逆の符号の分散を有すること、 ・像面湾曲を生じない(ペッツバール和ゼロ)こと、等
の特徴を有する。従ってミラーはその特性上、色収差は
発生せず、また通常の屈折レンズの有するパワーとペッ
ツバール和の関係とは逆符号の特性を有する一方、回折
光学素子は、通常の屈折レンズとは逆の分散値を有して
いるがペッツバール和はゼロであるという特性を有する
のである。
【0022】以上のことから、光学系の構成要素の違い
により、以下のようなことが言える。 ・光学系を構成する光学素子の全てが屈折レンズにて構
成された場合、高開口数及び広露光範囲を有する光学系
において像面湾曲と色収差を同時に補正しようとする
と、多くの屈折レンズを必要とすることになる。これ
は、ArF波長においては使用できる硝材は主に石英と
蛍石であり、F2波長では現在のところ透過率の高い硝
材は蛍石のみであるために、波長の短い領域では使用で
きる硝材の種類が少ないことも原因の一つである。特に
F2波長においては、使用できる硝材が蛍石のみである
とすると、F2レーザーが色収差が問題にならない程度
に狭帯域化されない限り、色収差が残存してしまう。ま
た、像面湾曲の補正のために、正の屈折力を有する屈折
レンズと負の屈折力を有する屈折レンズとを効果的に用
いて補正する必要があり、高開口数及び広露光範囲を有
する光学系においては必然的に多くの枚数が必要となっ
てしまう。 ・屈折レンズと回折光学素子とで光学系が構成された場
合、色収差を補正するための自由度として回折光学素子
は有益であるが、像面湾曲の補正には直接関与しない。
従って、高開口数及び広露光範囲を有する光学系におい
て像面湾曲と色収差を同時に補正しようとすると、多く
の負の屈折力を有する屈折レンズが必要となり、十分な
簡素化を行なうことは難しい。 ・ミラーと屈折レンズとで光学系が構成された場合、像
面湾曲を補正するための自由度としてミラーは有益であ
るが、色収差の補正には直接関与しない。従って、高開
口数及び広露光範囲を有する光学系において像面湾曲と
色収差を同時に補正しようとすると、やはり多数の正と
負の屈折力を有する屈折レンズを必要とすることにな
る。
【0023】従って、本実施の形態は、光学系を屈折レ
ンズとミラー及び回折光学素子により構成している。回
折光学素子自体は像面湾曲を発生することがないため、
像面湾曲を支配するのは、ミラーと屈折レンズである。
また、ミラーは色収差補正には寄与しないため、色収差
補正には屈折レンズと回折光学素子が寄与する。従っ
て、屈折レンズ、ミラー、回折光学素子の3つの素子を
積極的に用いることで、高開口数及び広露光範囲を有す
る光学系において像面湾曲と色収差を同時に補正しつ
つ、簡素な構成を有する光学系が達成できるのである。
【0024】また、本実施の形態は、前述したように最
終結像光学系はミラー以外の素子にて構成するのが良い
ので、特に高開口数と色収差補正及び諸収差の補正を同
時に達成するために屈折レンズと回折光学素子にて構成
している。最終結像光学系では、正の屈折レンズによ
り、大きなアンダーの色収差が発生する。従って、最終
結像光学系中に回折光学素子を有することで、最終結像
光学系により発生する色収差を抑えることができる。そ
の結果、第1結像光学系G1においては、第2結像光学
系において発生する色収差をキャンセルするための光学
系が少なくて済むことになり、簡素な構成が達成でき
る。また、第1結像光学系においてミラーを有している
ことにより、光学系全系においてペッツバール和を補正
することが容易となり、第2結像光学系における構成を
簡素化できる。
【0025】また、第2結像光学系は、色収差を補正す
るために正の屈折力を有する回折光学素子を少なくとも
1枚以上有することで、通常の屈折レンズとは逆の分散
を有する回折光学素子により、第2結像光学系において
発生する色収差を低減するとともに、全系の色収差を良
好に補正することが可能となる。また、第2結像光学系
の正の屈折力を有する屈折レンズにより発生するアンダ
ーの像面湾曲(正のペッツバール和)を打ち消すため
に、第1結像光学系中には、正の屈折力を有するミラー
(凹面ミラー)を少なくとも1枚以上用いて構成してい
る。
【0026】また、回折光学素子の少なくとも1枚は、
以下の条件式を満足するすることが好ましい。 3<MP/λ<50 (9) 但し、MP:回折光学素子の最小ピッチ(μm) λ:露光波長(μm) (9)式は、回折光学素子のピッチに関する条件式であ
り、上限を越えると回折光学素子のピッチが大きすぎて
その効果が十分に発揮されず色収差を十分に補正しつ
つ、簡素な構成を取ることができない。また下限を越え
ると、逆に回折光学素子のピッチが小さすぎてしまい、
作製することが困難になる。
【0027】また、前記投影光学系中の前記回折光学素
子のうち少なくとも1枚は、以下の条件式を満足する位
置に配置されることが好ましい。 |Ld/LG2|<0.2 (10) 但し、Ld:第2結像光学系中の開口絞りと回折光学素
子との距離 LG2:第1結像光学系G1による近軸像面位置(第2
結像光学系G2の軸上物点位置)から中間像を再結像し
た際の、再結像面までの距離 (10)式は、回折光学素子と瞳(開口絞り)との距離
Ldを規定したものである。上限を越えると、開口絞り
と回折光学素子との距離が離れてしまい、軸上色収差等
の色収差の補正が困難になるとともに、像面での露光む
らを少なくするのが難しくなる。更に、より一層望まし
くは、以下の条件式を満足することが望ましい。 |Ld/LG2|<0.15 (10’) そして、本実施の形態では、以下の条件を満足すること
がより好ましい。第2結像光学系G2の倍率をβG2と
すると(但し、BG2は第1結像光学系の近軸像点(中
間像)とこれの(中間像)の再結像点に対応した横倍率
を示す)、 −0.5<βG2<−0.05 (11) また、軸上の全光学距離をLo、第1の物体101と第
1のミラーM1との距離をLM1ととすると、 0.1<LM1/L o<0.5 (12) 例えば図3において、Loとは以下の距離のことを示
す。 Lo=(物体面101から第1のミラーM1までの距
離)+(第1のミラーM1から第2のミラーM2までの
距離)+(第2のミラーM2から像面102までの距
離) 上記(11)式は、第2結像光学系の有効径を適正な値
にするとともに、光学系全系において所定の倍率を確保
するため、或いは第1結像光学系G1を容易に構成する
ために第2結像光学系G2の倍率を規定するものであ
る。下限を越えると、第2結像光学系G2の有効径が過
度に増大するとともに、中間像の高さ(第2結像光学系
G2における物体高)が小さくなるために、第1結像光
学系G1から第2結像光学系G2ヘと光束を導くことが
困難になる。上限を越えると、第2結像光学系G2の屈
折力が大きくなり、収差補正が困難になるとともに、中
間像の高さ(第2結像光学系G2における物体高)が過
度に増大してしまい好ましくない。
【0028】また、上記(12)式は、光学系の軸上の
全光学距離に対し、第1のミラーM1の位置を規定する
ものである。下限を越えると、第1結像光学系G1の屈
折力が増大してしまい、収差補正が困難になる。また、
上限を越えると、第1のミラーM1の有効径が過度に増
大してしまうとともに、第2結像光学系G2の屈折力が
増大してしまい、全系においてバランス良く収差補正す
ることができない。
【0029】また、第1結像光学系G1による中間像付
近に視野絞りを設けることにより、露光範囲を制限する
ことも可能である。また、本実施の形態においては、光
源の波長は特に200nm以下の露光波長、特にAr
F、F2等の短波長領域において、使用することができ
る硝材が少なく通常の屈折レンズのみでは色補正が困難
であって、高開口数及び広い露光範囲が要求される投影
光学系を構成する際に特に有効となる。また、レンズや
回折光学素子は、ArF、F2等の200nm以下の短
波長領域では、合成石英(或いはフッ素ドープの石
英)、蛍石等の光透過性の高い材料を用いると良い。ま
た各光学素子は、N2やHeなどの不活性ガスの雰囲気
中に配置しておくとよい。
【0030】
【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する。
以下に示す各実施例の光学系は、ステップ&リピート型
やステップ&スキャン型の投影露光装置の投影光学系と
して用いるものであり、通常のリソグラフィーでは、こ
の露光装置によりデバイスパターンでウエハを露光し、
露光したウエハを現像し、エッチングを行う。 [実施例1]本発明の実施例1におけるレンズ構成を図
3に示す。本実施例は、光学系中に、ミラー、レンズ、
回折光学素子を有しており、光学系中の焦点距離を有す
る光学素子は全て正の屈折力にて構成されている。そし
て、103は本実施例の光学系の光軸であって、少なく
とも第1の物体101の中間像を結像するための第1結
像光学系G1、該中間像を第2の物体102上に結像す
るための第2結像光学系G2により構成される2回結像
光学系であり、第1結像光学系G1はミラーと屈折レン
ズにて構成され、第2結像光学系G2は屈折レンズと回
折光学素子とで構成されている。
【0031】更に詳細に説明すると、物体側から順に、
正の屈折力を有する屈折レンズ群L1、ミラーを有する
群L2、フィールドレンズ群F、及び第2結像光学系G
2より構成され、屈折レンズ群L1を構成する屈折レン
ズは正の屈折力を有するとともに、群L2は、第1のミ
ラーである凹面鏡M1、第2のミラーである凹面鏡M2
にて構成されており、両ミラーともに凹面鏡であるため
に正の屈折力を有している。また、フィールドレンズ群
Fを構成する屈折レンズ及び第2結像光学系G2を構成
する屈折レンズも同様に正の屈折力を有する。また第2
のミラーM2により反射された第1のミラーM1からの
光束は第1のミラーM1の有効径外を通過するととも
に、本実施例の光学系は光軸を唯1つ有している。この
ような構成をとることにより、瞳の中心部分の遮光(中
抜け)が生じることのない投影光学系を構成することが
できる。
【0032】図14は、本実施例による投影光学系の実
施例のレンズ断面図を示している。投影倍率は1/4倍
であり、基準波長は157nm、硝材としては蛍石を用
いている。本実施例は、像側の開口数はNA=0.6、
縮小倍率1/4、物像間距離(第1の物体面〜第2の物
体面)はL=約1160mmである。又、基準波長は1
57nm、像高がおよそ11.25〜16.25mmの
範囲にて収差補正されており、少なくとも像面上で長さ
方向で26mm、幅で4mm程度の円弧状の露光領域を
確保できる。また、本実施例の縦及び横収差図を図9に
示す。尚、収差図は基準波長及び±1pmの波長につい
て表示している。
【0033】本実施例の具体的な光学系の構成を説明す
る。屈折レンズ群L1は、物体側から順に、像側に凸面
を向けた略平凸形状の非球面正レンズ、両凸形状の非球
面正レンズ、よりなる。主に、テレセン度や歪曲収差の
補正等に寄与している。2枚のミラーを含む群L2は、
屈折レンズ群L1からの光束が通過する順番に、物体側
に凹面を向けた非球面ミラー、像側に凹面を向けた非球
面ミラー、よりなる。これらのミラーにより、オーバー
方向の像面湾曲を発生させることで、第2結像光学系G
2のアンダー方向の像面湾曲をキャンセルしている。ま
た、L1、L2群により、第1のミラーM1付近に中間
像を形成している。
【0034】第1結像光学系G1による、第1の物体1
01の中間像付近に配置されたフィールドレンズ群F
は、両凸形状の非球面正レンズにより構成されており、
第1結像光学系G1からの光束を第2結像光学系G2に
導くとともに、主に歪曲収差を補正している。第2結像
光学系G2は、物体側から順に、正の屈折力を有する回
折光学素子、開口絞り、正の屈折力を有する回折光学素
子、両凸形状の2枚の非球面正レンズ、物体側に凸面を
向けた非球面正レンズ、よりなる。
【0035】回折光学素子は2枚とも最小ピッチがおよ
そ2μm程度である。即ち、この回折光学素子を階段状
にて近似する、いわゆるバイナリオプティクスにて構成
する場合、8段形状とすればその1段分の幅はおよそ
0.25μm程度となり、KrF等の光源を有する半導
体露光装置を用いれば十分作製可能である。これらの回
折光学素子により、主に第2結像光学系G2により大き
く発生するアンダーの軸上色収差を補正するとともに、
全系の倍率の色収差のバランスを補正し、更にその非球
面効果により、主に球面収差やコマ収差の補正に寄与し
ている。
【0036】尚、フィールドレンズ群Fは、第1結像光
学系G1及び第2結像光学系G2のどちらか一方或いは
両方に属する(即ちF内にて中間像を形成)場合が考え
られるため、ここでは、あえて第1結像光学系G1と第
2結像光学系G2以外の群として示している。従って、
場合によってはどちらかの結像光学系に属すると考えて
も本発明の主旨からは外れるものではない。又、本実施
例においては、フィールドレンズ群Fを第2結像光学系
G2の一部と考えて良い。
【0037】以上の実施例からもわかるように、本発明
の光学系の構成をとることにより、構成枚数が少なくか
つ諸収差が良好に補正された光学系を達成することがで
きる。また、以上の実施例において、円錐定数kをゼロ
としたが、円錐定数を変数にとって設計しても構わな
い。又、今回の実施例は、157nmにおける硝材とし
てすべて蛍石を用いたが、157nmにて使用可能な、
例えばフッ素ドープの石英等、他の硝材を用いることが
できればその硝材を用いても構わない。また、KrFや
ArF光源の場合、蛍石と石英を混在して用いても構わ
ないし、どちらか一方を用いても構わない。
【0038】また、ここでは露光光源として157nm
のF2波長を用いたが、KrF波長或いは、ArFレー
ザー波長等でも構わない。特に、波長が短くなり、用い
ることができる光学材料が限られるとともに透過率が低
く、光学系の構成枚数を少なくしなければならないよう
な光学系に用いる場合に特に有効となる。従って、25
0nm以下の波長にて用いられる光学系には非常に有効
である。
【0039】また、本実施例では、非球面の加工面の裏
面が球面である非球面レンズを用いたが、非球面の加工
面の裏面が平面或いは非球面であっても構わない。ま
た、実施例中の屈折レンズは、全て非球面レンズである
が、球面レンズと混在して用いても構わない。第1のミ
ラーM1及び第2のミラーM2は非球面としたが、球面
で構成しても構わない。但し少ない枚数にて構成し、か
つ高解像力を有するためには、非球面であることが望ま
しい。また、第2のミラーM2は平面ミラーとして構成
してもよい。また、平面ミラーに非球面を施しても構わ
ない。少なくとも、光学系中に1枚は非球面レンズ或い
は非球面ミラーを用いることが望ましい。非球面を用い
ることによって、諸収差を良好に補正できるとともに枚
数の削減にも寄与することができる。
【0040】また、本実施例においては、回折光学素子
を2枚用いたが、特に回折光学素子の使用枚数を制限す
るものではない。即ち1枚のみでもいいし、多数枚用い
ても構わない。回折光学素子をバイナリオプティクスに
て構成する場合、その段数は8段形状以外でも構わな
い。本実施例では露光領域は円弧状としたが、収差補正
されている露光領域内であれば矩形でも他の形状でも構
わない。式(10)〜(12)に対応する値を以下の表
1に示す。
【0041】
【表1】 [実施例2]図4は、本発明による投影光学系の実施例
2の概略図である。第1結像光学系G1は、少なくとも
物体側より順に屈折レンズを有する群L1、2枚の対向
して配置されたミラーを有する群L2により構成されて
いる。また、群L2は、第1のミラーM1、第2のミラ
ーM2により構成されている。そして第1の物体101
からの光束を第1結像光学系G1にて結像し、中間像を
形成する。その際、第1のミラーM1の有効径外を、第
1の物体101からの軸外光束が通過する構成をとって
いる。そして第1結像光学系G1により結像した中間像
を、屈折レンズ及び回折光学素子により構成されている
第2結像光学系G2により、第2の物体102上に所定
の倍率にて結像する。そして、物体面101と像面10
2は光学系の両端に配置されている。以上のような構成
とすることで、本実施例の光学系は一つの光軸103を
有するとともに瞳の遮光のない軸外光束を結像するとと
もに、構成枚数が少なく性能の良好な光学系を達成して
いる。
【0042】本実施例の具体的なレンズ構成を図15に
示す。図中、D1、D2は回折光学素子を示す。本実施
例は、像側の開口数はNA=0.6、縮小倍率1/4、
物像間距離(第1の物体面〜第2の物体面)はL=約1
160mmである。又、基準波長は157nm、像高が
およそ11.25〜16.25mmの範囲にて収差補正
されており、少なくとも長さ方向で26mm、幅で5m
m程度の円弧状の露光領域を確保できる。また、本実施
例の縦及び横収差図を図10(a)、(b)に示す。
尚、収差図は基準波長及び±1pmの波長について表示
している。
【0043】屈折レンズ群L1は、物体側より順に、物
体側に凹面を向けたメニスカス形状の非球面正レンズ、
像面側に凸面を向けた略平凸形状の非球面正レンズより
なる。この屈折レンズ群L1により、主にテレセン度と
歪曲収差のバランスを良好にするとともに、第1の物体
からの軸外光束を第1のミラーM1へと導いている。第
1のミラーM1は、物体側に凹面を向けた凹面鏡にて構
成されており、正の屈折力を有するとともに、像面湾曲
を正方向に出して、第2結像光学系により発生する負の
像面湾曲を打ち消す働きを有する。第2のミラーM2
は、像側に凹面を向けた凹面鏡にて構成されており、第
1の物体101上の軸外光束を第1のミラーM1の有効
径外へと導いている。また第1結像光学系により結像さ
れる中間像は、第1のミラーM1の有効径外の近傍に形
成されている(本実施例では第2のミラーM2から第2
結像光学系G2方向に反射した光束は、第1のミラーM
1の有効径外より少しM2よりに形成されている)。本
実施例のような構成を取ることにより、第1のミラーM
1からの反射光束と、第2のミラーM2からの反射光束
との分離を容易に達成することができる。また本実施例
においては、中間像付近に1枚の両凸形状の非球面レン
ズをフィールドレンズ群Fとして配置している。
【0044】図15に示すように、中間像付近にフィー
ルドレンズ群Fを配置することにより、2枚のミラーを
含む群L2におけるミラーの屈折力を過度に大きくする
ことなく、そして第2のミラーM2からの光束を、第1
のミラーM1及び屈折レンズ群Rと分離するのにより有
効である。また、このフィールドレンズ群Fは正の屈折
力を有するのが好ましく、第1結像光学系G1からの光
束を第2結像光学系G2に屈折させることで第2結像光
学系G2の有効径が大型化しないように機能して、第2
結像光学系の有効径を小型化することができる。また中
間像付近に配置されるために、特に歪曲収差等の軸外収
差の補正に有効になる。尚、このフィールドレンズ群F
は、一般に第1結像光学系G1及び第2結像光学系G2
のどちらか一方或いは両方に属する(即ちフィールドレ
ンズ群F内にて中間像を形成)場合が考えられる。従っ
て、フィールドレンズ群Fは、どちらかの結像光学系に
属すると考えても本発明の主旨から外れるものではな
い。
【0045】第2結像光学系G2は、物体側から順に、
正の屈折力を有する回折光学素子、開口絞り、正の屈折
力を有する回折光学素子、両凸形状の非球面正レンズ、
物体側に凸面を向けたメニスカス形状の正レンズ、像側
に凹面を向けたメニスカス形状の負レンズ、両凸形状の
非球面正レンズ、物体側に凸面を向けたメニスカス形状
の非球面正レンズ、よりなる。この第2結像光学系G2
は、フィールドレンズ群Fからの光束を第2の物体面上
102に結像するために縮小系を構成している。尚、回
折光学素子の最小ピッチは、2枚の回折光学素子ともに
約2.5μmである。従って、例えばバイナリオプティ
クスによりこの回折光学素子を作製した場合、1ピッチ
を構成する段数を8段とすると、この回折光学素子の最
小ピッチにおいて必要な最小線幅は約0.31μmとな
る。以上のような構成を取ることにより、非常に構成が
シンプルで、かつ色補正や他の収差補正も良好な反射屈
折光学系を達成することができる。
【0046】尚、本実施例ではフィールドレンズ群Fを
1枚のみで構成された場合を示したが、複数枚にて構成
されていても構わない。またフィールドレンズ群Fがな
くても構わない。また、式(10)〜(12)に対応す
る値を以下の表2に示す。
【0047】
【表2】 [実施例3]図5は、本発明による投影光学系の実施例
3の概略図である。図5中、第1結像光学系G1は、少
なくとも物体側より順に屈折レンズを有する群L1、少
なくとも2枚のミラーを有する群L2により構成されて
いる。また、群L2は、第1のミラーM1、第2のミラ
ーM2及び屈折レンズ群Rにより構成されている。この
屈折レンズ群Rは、第1の物体101からの入射光束と
第1のミラーM1からの反射光束との両方を透過する、
即ち往復光学系を形成している。そして、第1の物体1
01からの光束を、第2のミラーM2へと導いて像面方
向に反射させた後、中間像を形成する。その際、第1の
ミラーM1の有効径外を、第1の物体101からの軸外
光束が通過する構成をとっている。そして第1結像光学
系G1により結像した中間像を、フィールドレンズ群F
を経由して、屈折レンズ及び回折光学素子により構成さ
れている第2結像光学系G2により第2の物体102上
に所定の倍率にて結像する。
【0048】実施例3の具体的なレンズ構成を図16に
示す。本実施例は、像側の開口数はNA=0.6、縮小
倍率1/4、物像間距離(第1の物体面〜第2の物体
面)はL=約1195mmである。又、基準波長は15
7nm、像高がおよそ11.25〜16.75mmの範
囲にて収差補正されており、少なくとも長さ方向で26
mm、幅で5mm程度の円弧状の露光領域を確保でき
る。また、本実施例の縦及び横収差図を図11(a)、
(b)に示す。尚、収差図は基準波長及び±2pmの波
長について表示している。
【0049】屈折レンズ群L1は、物体側より順に、物
体側に凹面を向けたメニスカス形状の非球面正レンズ、
両凸形状の非球面正レンズよりなる。屈折レンズ群L1
により、主にテレセン度と歪曲収差のバランスを良好に
するとともに、往復光学系R及び第1のミラーM1に向
かって光束を導いている。往復光学系である屈折レンズ
群Rは物体側に凹面を向けたメニスカス形状の非球面負
レンズにより構成されている。この負レンズにより、第
2結像光学系G2にて発生する主に像面湾曲及び軸上色
収差をバランスよく補正しているとともに球面収差及び
コマ収差等を補正している。
【0050】第1のミラーM1は、物体側に凹面を向け
た凹面鏡にて構成されており、正の屈折力を有するとと
もに、像面湾曲を正方向に出して第2結像光学系の正の
屈折レンズにより発生している負の像面湾曲を打ち消す
働きを有する。第2のミラーM2は、像側に凹面を向け
た凹面鏡にて構成されており、第1の物体101上の軸
外光束を第1のミラーM1の有効径外へと導いている。
中間像は、第1のミラーM1の有効径外の近傍に形成さ
れている。また、中間像付近に1枚の両凸形状の非球面
レンズをフィールドレンズ群Fとして配置している。
【0051】第2結像光学系G2は、物体側から順に、
正の屈折力を有する回折光学素子、開口絞り、正の屈折
力を有する回折光学素子、像側に凹面を向けたメニスカ
ス形状の非球面正レンズ、両凸形状の非球面正レンズ、
物体側に凸面を向けた非球面レンズ、よりなる。この第
2結像光学系G2は、フィールドレンズ群Fからの光束
を第2の物体面上102に結像するために縮小系を構成
している。
【0052】尚、回折光学素子の最小ピッチは、2枚の
回折光学素子ともに約2.0μmである。従って、バイ
ナリオプティクスによりこの回折光学素子を作製した場
合、1ピッチを構成する段数を8段とすると、この回折
光学素子の最小ピッチにおいて必要な最小線幅は約0.
25μmとなる。以上のような構成を取ることにより、
非常に構成がシンプルで、かつ色補正や他の収差補正も
良好な反射屈折光学系を達成することができる。
【0053】尚、本実施例においては、第1のミラーM
1付近に屈折レンズ群Rを配置したが、第2のミラーR
付近に配置しても構わない。即ち、図6(a)に示すよ
うに、第1のミラーM1からの反射光束と第2のミラー
の反射光束とを透過する位置に配置しても構わない。ま
た、その他の形態として、図6(b)〜(d)にその一
例を示す。図6(b)は、屈折レンズ群L1からの光束
と、第1のミラーM1からの反射光束及び第2のミラー
の反射光束を透過するように配置されている。また、図
6(c)、(d)は、屈折レンズの一部分が反射鏡とな
っており、この場合、屈折レンズ群L1と第2のミラー
M2を一つの屈折レンズにて構成することができる。
【0054】尚、屈折レンズ群Rは、2枚のミラーを含
む群L2の範囲において、どこに配置しても、又何枚配
置しても構わない。しかしながら、群L2の範囲に屈折
レンズを極力少なく配置することが、光学系を簡素化す
る観点からはより望ましい。また、第2のミラーM2は
凹面鏡でも平面鏡でも或いは凸面鏡でも構わない。しか
しながら、第1のミラーの屈折力を分担するためにも凹
面鏡であることがより好ましい。また、式(10)〜
(12)に対応する値を以下の表3に示す。
【0055】
【表3】 [実施例4]図7は、本発明による投影光学系の実施例
4の概略図である。第1結像光学系G1は、少なくとも
物体側より順に屈折レンズを有する群L1、少なくとも
1枚の凹面鏡501を有する群L2により構成されてい
る。そして第1の物体101からの光束を第1結像光学
系G1にて結像し、中間像を形成する。その際、第1結
像光学系G1による中間像付近に反射面502を配置し
て光束を偏向させることにより、第1の物体101から
の軸外光束と凹面鏡501からの光束を分離し、屈折レ
ンズと回折光学素子にて構成されている第2結像光学系
G2へと導いている。第2結像光学系G2は屈折レンズ
と回折光学素子により構成されている。
【0056】実施例4の具体的なレンズ構成を図17に
示す。本実施例は、像側の開口数はNA=0.6、縮小
倍率1/4である。又、基準波長は157nm、像高が
およそ11.25〜16.25mmの範囲にて収差補正
されており、像高は5mm〜18.6mm程度までのリ
ングフィールド領域を確保している。また、本実施例の
縦及び横収差図を図12(a)、(b)に示す。尚、収
差図は基準波長及び±20pmの波長について表示して
いる。物体側から順に、両凸形状の非球面正レンズ、両
凹形状の非球面正レンズよりなる、屈折レンズ群L1
は、これら2枚の屈折レンズにより構成されている。そ
して1枚の凹面鏡を含む群L2は、物体側より順に、両
凸形状の非球面正レンズ、凹面を物体側に向けた非球面
負レンズ、凹面鏡、よりなる。両凸形状の非球面正レン
ズ及び凹面を物体側に向けた非球面負レンズは、往復光
学系R5を構成しており、群L1からの光束と、凹面鏡
を反射した光束とを透過している。
【0057】図7中、502は、反射面を示しており、
ここでは光軸503を90度偏向させる役割を持つ。第
1結像光学系G1の中間像は、この反射面502付近に
形成される。第2結像光学系G2は物体側から順に、像
面に凸面を向けた非球面正レンズ、正の屈折力を有する
回折光学素子、開口絞り、正の屈折力を有する回折光学
素子、中間像に凸面を向けた略平凸形状を有する非球面
正レンズ、2枚の両凸形状の非球面正レンズ、よりな
る。尚、回折光学素子の最小ピッチは、像面から遠い順
に約2.25μm、2.20μm程度である。従って、
バイナリオプティクスによりこの回折光学素子を作製し
た場合、1ピッチ当りの段数を8段にて構成すると、こ
の回折光学素子の最小ピッチにおいて必要な最小線幅
は、約0.28μm、0.27μm程度となる。
【0058】尚、本実施例は、群L2中に往復光学系R
5を用いたが、図8が示すように、用いなくとも構わな
い。また、平面ミラーを第2結像光学系中に配置するこ
とにより、物体面101と像面102を平行に配置して
もよい。また、式(10)〜(12)に対応する値を以
下の表4に示す。
【0059】
【表4】 [実施例5]本実施例も実施例1と同様に光学系中にミ
ラー、レンズ、回折光学素子を有しており光学系中の焦
点距離を有する光学素子はすべて正の屈折力を有してい
る。実施例1との主な差異は、光学系の倍率が異なる点
である。本実施例の具体的なレンズ構成を図18に示
す。図中、D1、D2は回折光学素子を示す。本実施例
は、像側の開口数はNA=0.6、縮小倍率1/6、物
像間距離(第1の物体面〜第2の物体面)はL=118
0mmである。また、基準波長は157nm、像高がお
よそ7.5〜10.83mmの範囲にて収差補正されて
いる。また、本実施例の縦及び横収差図を図13
(a),(b)に示す。尚、収差図は基準波長及び±1
pmの波長について表示している。屈折レンズ群L1は
物体側より順に、両凸形状の非球面正レンズよりなる。
ミラーを含む群L2は、第1のミラーM1と第2のミラ
ーM2とで構成されている。第1のミラーM1及び第2
のミラーM2は、物体側に凹面を向けた凹面鏡にて構成
されている。第2結像光学系は、物体側から順に、物体
側に凸面を向けたメニスカス形状の非球面正レンズ(本
レンズをフィールド光学系と考えて、第2結像系に含め
なくてもどちらでも構わない)、正の屈折力を有する回
折光学素子D1、開口絞り、正の屈折力を有する回折光
学素子D2、両凸形状を有する2枚の非球面正レンズ、
凸面を物体側に向けた非球面正レンズ、よりなる。尚、
回折光学素子の最小ピッチは、2枚の回折光学素子とも
に約2.0μmである。従って、例えばバイナリオプテ
ィクスによりこの回折光学素子を作製した場合、1ピッ
チを構成する段数を8段とすると、この回折光学素子の
最小ピッチにおいて必要な最小線幅は約2.5μmとな
る。また、式(10)〜(12)に対応する値を以下の
表5に示す。
【0060】
【表5】 以上の実施例において、屈折力を有する全てのミラーは
非球面にて形成されているが、必ずしも全て非球面であ
る必要はない。即ち球面ミラーを用いて構成しても構わ
ない。但し、非球面を用いることによって諸収差をより
良好に補正することが可能である。また、円錐定数kを
ゼロとした非球面があるが、円錐定数を変数にとって設
計しても構わない。また、屈折レンズを形成する2面の
うちの1面を非球面化したが、両面非球面、或いは非球
面加工面の裏面を平面としても構わない。また、平行平
面板の1面或いは両面を非球面化しても構わない。
【0061】更に、今回は露光光源として157nmの
F2波長を用いたが、ArF波長等でも構わない。即
ち、波長が短くかつ使用できる硝材が数少ない場合、特
に200nm以下の波長において本発明は非常に有効で
ある。更に、今回の実施例は、硝材としてすべて蛍石を
用いたが、F2波長において有効な硝材ができればそれ
を用いても構わない。またArF波長等では石英と蛍石
を両方とも用いることでより良好な収差補正が期待でき
る。もちろん、どちらか一方の硝材だけを用いることも
可能である。また、光学系全系の倍率は、本実施例にお
いては全て1/4倍としたが、別の倍率でも構わない。
例えば、1/6倍や1/8倍等や他の倍率でも構わな
い。
【0062】また、本実施例においては、回折光学素子
を2枚用いたが、特に回折光学素子の使用枚数を制限す
るものではない。即ち1枚のみでもいいし、多数枚用い
ても構わない。また、複数枚用いる場合には、同じ位相
関数を有する回折光学素子を複数枚用いても構わない。
更に、本発明における実施例では露光領域は円弧状とし
たが、像面上での全露光範囲内であれば矩形でも他の形
状でも構わない。
【0063】以下に、上記の実施例1〜実施例5の数値
実施形態の構成諸元を、それぞれの実施例に対応させて
表6〜表10に示す。なお、数値実施形態において、r
iは物体側より順に第i番目のレンズ面の曲率半径、d
iは物体側より順に第i番目のレンズ厚及び空気間隔、
niは物体側より順に第i番目のレンズの硝子の屈折率
を示すものとする。また、F2の基準波長に対する+2
pm及び−2pmの波長の屈折率は、各々1.5599
949、1.5600051である。また、非球面の形
状は次式、 にて与えられるものとする。ここに、Xはレンズ頂点か
ら光軸方向への変位量、Hは光軸からの距離、riは曲
率半径、kは円錐定数、A,…,Gは非球面係数であ
る。回折光学素子の位相関数φ(r)は、以下のように
与えられる。但し、rは光軸からの距離、λは数値実施
例においては設計波長を示している。
【0064】
【表6】〈実施例1〉
【0065】
【表7】〈実施例2〉
【0066】
【表8】〈実施例3〉
【0067】
【表9】〈実施例4〉
【0068】
【表10】〈実施例5〉
【0069】
【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明による
と、高開口数と広い露光領域を確保することができる投
影光学系を達成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における投影光学系を説明
するための概略図。
【図2】本発明の実施の形態における投影光学系を説明
するための概略図。
【図3】本発明の実施例1における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図4】本発明の実施例2における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図5】本発明の実施例3における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図6】本発明の実施例3における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図7】本発明の実施例4における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図8】本発明の実施例4における投影光学系を説明す
るための概略図。
【図9】本発明の実施例1における投影光学系の収差
図。
【図10】本発明の実施例2における投影光学系の収差
図。
【図11】本発明の実施例3における投影光学系の収差
図。
【図12】本発明の実施例4における投影光学系の収差
図。
【図13】本発明の実施例5における投影光学系の収差
図。
【図14】本発明の実施例1におけるレンズ構成の断面
図。
【図15】本発明の実施例2におけるレンズ構成の断面
図。
【図16】本発明の実施例3におけるレンズ構成の断面
図。
【図17】本発明の実施例4におけるレンズ構成の断面
図。
【図18】本発明の実施例5におけるレンズ構成の断面
図。
【符号の説明】
G1:第1結像光学系 G2:第2結像光学系 L1:屈折レンズ群 L2:2枚のミラーを含む群 F :フィールドレンズ群 M1:第1のミラー M2:第2のミラー 101:第1の物体(レチクル) 102:第2の物体(ウエハ) 103:光軸 501:第1のミラー(凹面鏡) 502:ミラー
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成13年3月22日(2001.3.2
2)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を達
成するために、つぎの(1)〜(16)のように構成し
た投影光学系を提供するものである。(1)物体の像を
像面へ投影する投影光学系において、少なくとも一つの
レンズと、少なくとも一つの凹面鏡と、少なくとも一つ
の回折光学素子とを有することを特徴とする投影光学
系。(2)投影光学系において、少なくとも1つのレン
ズ、少なくとも1つの凹面鏡、及び少なくとも1つの回
折光学素子のそれぞれが、正の屈折力を有し、負の屈折
力を有するレンズと負の屈折力を有する鏡と負の屈折力
を有する回折光学素子とを備えていないことを特徴とす
る投影光学系。(3)少なくとも一つの正の屈折力のレ
ンズと、少なくとも一つの正の屈折力の凹面鏡と、少な
くとも一つの正の屈折力の回折光学素子とを有すること
を特徴とする投影光学系。(4)前記少なくとも一つの
レンズと前記少なくとも一つの凹面鏡を備え、前記物体
の中間像を結像するように構成した第1結像光学系と、
前記少なくとも一つのレンズと少なくとも一つの回折光
学素子を備え、前記中間像を像面へ投影する第2結像光
学系と、を有することを特徴とする上記(1)〜(3)
のいずれかに記載の投影光学系。(5)前記第1結像光
学系と第2結像光学系とを共通の一直線の光軸に沿って
配置し、前記凹面鏡によって反射され且つ集光された前
記物体からの軸外光を、反射ミラーによって前記凹面鏡
の有効径外を通過させ、像面側へ反射させるように構成
されていることを特徴とする上記(4)に記載の投影光
学系。(6)前記第1結像光学系と第2結像光学系との
間にフイールド光学系を有することを特徴とする上記
(4)または上記(5)に記載の投影光学系。(7)前
記第1結像光学系は、前記物体に近い順に、少なくと
も、正の屈折力を有するレンズと、前記反射ミラーと、
前記凹面鏡と、を有することを特徴とする上記(5)ま
たは上記(6)に記載の投影光学系。(8)前記反射ミ
ラーと前記凹面鏡との間に、レンズ群を有することを特
徴とする上記(7)に記載の投影光学系。(9)前記レ
ンズ群が、負の屈折力を有し、前記第1結像光学系にお
ける正の屈折力を有するレンズと前記凹面鏡との間に配
置されていることを特徴とする上記(8)に記載の投影
光学系。(10)前記第1結像光学系により結像される
中間像の近傍に反射面を配置し、前記凹面鏡によって反
射され且つ集光された前記物体からの軸外光を、該反射
面で偏向させて前記第2結像光学系へ導くように構成さ
れていることを特徴とする上記(4)に記載の投影光学
系。(11)前記投影光学系中の前記回折光学素子の少
なくとも1枚は、以下の条件式を満足するように構成さ
れていることを特徴とする上記(1)〜(10)のいず
れかに記載の投影光学系。3<MP/λ<50但し、M
P:回折光学素子の最小ピッチ(μm)λ:露光波長
(μm)(12)前記投影光学系中の前記回折光学素子
のうち少なくとも1枚は、以下の条件式を満足するよう
に構成されていることを特徴とする上記(1)〜(1
0)のいずれかに記載の投影光学系。|Ld/LG2|
<0.2但し、Ld:第2結像光学系中の開口絞りと回
折光学素子との距離LG2:第1結像光学系G1による
中間像の近軸像面位置(第2結像光学系G2の物点位
置)から、中間像を再結像した際の、再結像面までの距
離(13)前記第1結像光学系による中間像付近に視野
絞りを有することを特徴とする上記(3)〜(12)の
いずれかに記載の投影光学系。(14)上記(1)〜
(13)のいずれかに記載の投影光学系によってマスク
のパターンを基板上に投影する投影露光装置。(15)
上記(14)に記載の投影露光装置を用いて前記マスク
としてのレチクルのデバイスパターンを前記基板として
のウェハに露光する段階と、該露光したウェハを現像す
る段階とを含むことを特徴とするデバイス製造方法。
(16)前記露光にArFエキシマレーザ又はF2レー
ザからのレーザ光を用いることを特徴とする上記(1
5)に記載のデバイス製造方法。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 寺沢 千明 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H087 KA21 RA46 TA01 TA04 TA06 2H097 AA03 CA13 LA10 5F046 BA04 BA05 CA03 CA04 CB03 CB12 CB25

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】物体の像を像面へ投影する投影光学系にお
    いて、少なくとも一つのレンズと、少なくとも一つの凹
    面鏡と、少なくとも一つの回折光学素子とを有すること
    を特徴とする投影光学系。
  2. 【請求項2】前記少なくとも1つのレンズ、少なくとも
    1つの凹面鏡、及び少なくとも1つの回折光学素子のそ
    れぞれが、正の屈折力を有し、負の屈折力を有するレン
    ズと負の屈折力を有する鏡と負の屈折力を有する回折光
    学素子とを備えていないことを特徴とする請求項1に記
    載の投影光学系。
  3. 【請求項3】少なくとも一つの正の屈折力のレンズと、
    少なくとも一つの正の屈折力の凹面鏡と、少なくとも一
    つの正の屈折力の回折光学素子とを有することを特徴と
    する投影光学系。
  4. 【請求項4】前記少なくとも一つのレンズと前記少なく
    とも一つの凹面鏡を備え、前記物体の中間像を結像する
    ように構成した第1結像光学系と、 前記少なくとも一つのレンズと少なくとも一つの回折光
    学素子を備え、前記中間像を像面へ投影する第2結像光
    学系と、 を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項
    に記載の投影光学系。
  5. 【請求項5】前記第1結像光学系と第2結像光学系とを
    共通の一直線の光軸に沿って配置し、前記凹面鏡によっ
    て反射され且つ集光された前記物体からの軸外光を、反
    射ミラーによって前記凹面鏡の有効径外を通過させ、像
    面側へ反射させるように構成されていることを特徴とす
    る請求項4に記載の投影光学系。
  6. 【請求項6】前記第1結像光学系と第2結像光学系との
    間にフイールド光学系を有することを特徴とする請求項
    4または請求項5に記載の投影光学系。
  7. 【請求項7】前記第1結像光学系は、前記物体に近い順
    に、少なくとも、正の屈折力を有するレンズと、前記反
    射ミラーと、前記凹面鏡と、を有することを特徴とする
    請求項5または請求項6に記載の投影光学系。
  8. 【請求項8】前記反射ミラーと前記凹面鏡との間に、レ
    ンズ群を有することを特徴とする請求項7に記載の投影
    光学系。
  9. 【請求項9】前記レンズ群が、負の屈折力を有し、前記
    第1結像光学系における正の屈折力を有するレンズと前
    記凹面鏡との間に配置されていることを特徴とする請求
    項8に記載の投影光学系。
  10. 【請求項10】前記第1結像光学系により結像される中
    間像の近傍に反射面を配置し、前記凹面鏡によって反射
    され且つ集光された前記物体からの軸外光を、該反射面
    で偏向させて前記第2結像光学系へ導くように構成され
    ていることを特徴とする請求項4に記載の投影光学系。
  11. 【請求項11】前記投影光学系中の前記回折光学素子の
    少なくとも1枚は、以下の条件式を満足するように構成
    されていることを特徴とする請求項1〜10のいずれか
    1項に記載の投影光学系。 3<MP/λ<50 但し、MP:回折光学素子の最小ピッチ(μm) λ:露光波長(μm)
  12. 【請求項12】前記投影光学系中の前記回折光学素子の
    うち少なくとも1枚は、以下の条件式を満足するように
    構成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれ
    か1項に記載の投影光学系。 |Ld/LG2|<0.2 但し、Ld:第2結像光学系中の開口絞りと回折光学素
    子との距離 LG2:第1結像光学系G1による中間像の近軸像面位
    置(第2結像光学系G2の物点位置)から、中間像を再
    結像した際の、再結像面までの距離
  13. 【請求項13】前記第1結像光学系による中間像付近に
    視野絞りを有することを特徴とする請求項3〜12のい
    ずれか1項に記載の投影光学系。
  14. 【請求項14】請求項1〜13のいずれか1項に記載の
    投影光学系によってマスクのパターンを基板上に投影す
    る投影露光装置。
  15. 【請求項15】請求項14に記載の投影露光装置を用い
    て前記マスクとしてのレチクルのデバイスパターンを前
    記基板としてのウェハに露光する段階と、該露光したウ
    ェハを現像する段階とを含むことを特徴とするデバイス
    製造方法。
  16. 【請求項16】前記露光にArFエキシマレーザ又はF
    2レーザからのレーザ光を用いることを特徴とする請求
    項15に記載のデバイス製造方法。
JP2001057369A 2000-03-31 2001-03-01 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法 Pending JP2001343589A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001057369A JP2001343589A (ja) 2000-03-31 2001-03-01 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法
US09/820,710 US6829099B2 (en) 2000-03-31 2001-03-30 Projection optical system and projection exposure apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000096934 2000-03-31
JP2000-96934 2000-03-31
JP2001057369A JP2001343589A (ja) 2000-03-31 2001-03-01 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001343589A true JP2001343589A (ja) 2001-12-14

Family

ID=26589071

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001057369A Pending JP2001343589A (ja) 2000-03-31 2001-03-01 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6829099B2 (ja)
JP (1) JP2001343589A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002208551A (ja) * 2001-01-10 2002-07-26 Nikon Corp 反射屈折光学系及び投影露光装置
US7511798B2 (en) 2004-07-30 2009-03-31 Asml Holding N.V. Off-axis catadioptric projection optical system for lithography
JP2010014765A (ja) * 2008-07-01 2010-01-21 Nikon Corp 投影光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
US8049866B2 (en) 2004-11-02 2011-11-01 Asml Holding N.V. Method and apparatus for variable polarization control in a lithography system
CN104570619A (zh) * 2015-01-09 2015-04-29 苏州苏大维格光电科技股份有限公司 基于大面积多台阶二元光学元件的激光直写方法
JP2016066105A (ja) * 2012-03-07 2016-04-28 株式会社ニコン 円筒マスク作製方法、露光方法、及びパターン形成方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW538256B (en) * 2000-01-14 2003-06-21 Zeiss Stiftung Microlithographic reduction projection catadioptric objective
US7348575B2 (en) 2003-05-06 2008-03-25 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
KR101481935B1 (ko) * 2003-05-06 2015-01-14 가부시키가이샤 니콘 투영 광학계, 노광 장치 및 노광 방법
US8208198B2 (en) 2004-01-14 2012-06-26 Carl Zeiss Smt Gmbh Catadioptric projection objective
US7466489B2 (en) 2003-12-15 2008-12-16 Susanne Beder Projection objective having a high aperture and a planar end surface
WO2005059645A2 (en) 2003-12-19 2005-06-30 Carl Zeiss Smt Ag Microlithography projection objective with crystal elements
US20080151364A1 (en) 2004-01-14 2008-06-26 Carl Zeiss Smt Ag Catadioptric projection objective
JP5420821B2 (ja) 2004-01-14 2014-02-19 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 反射屈折投影対物レンズ
US7463422B2 (en) 2004-01-14 2008-12-09 Carl Zeiss Smt Ag Projection exposure apparatus
US7712905B2 (en) 2004-04-08 2010-05-11 Carl Zeiss Smt Ag Imaging system with mirror group
KR101213831B1 (ko) 2004-05-17 2012-12-24 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 중간이미지를 갖는 카타디옵트릭 투사 대물렌즈
DE102006016582A1 (de) * 2006-04-06 2007-10-11 Oc Oerlikon Balzers Ag Projektions- Beleuchtungssystem, in dem Linsen mit diffraktiv optischen Elementen verwendet werden
JP5374848B2 (ja) * 2006-09-15 2013-12-25 株式会社リコー 投射光学系
JP5030732B2 (ja) * 2006-12-04 2012-09-19 株式会社リコー 投射光学系及び画像投射装置
JP5166847B2 (ja) * 2007-12-14 2013-03-21 三洋電機株式会社 投写型映像表示装置
DE102009008644A1 (de) * 2009-02-12 2010-11-18 Carl Zeiss Smt Ag Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithografie mit einer derartigen abbildenden Optik
FR2955673B1 (fr) * 2010-01-22 2012-07-27 Optinvent Dispositif de projection courte distance raisonnablement grand angle avec zoom et mise au point
JP2021117276A (ja) * 2020-01-23 2021-08-10 セイコーエプソン株式会社 投写光学系、およびプロジェクター

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3278896B2 (ja) * 1992-03-31 2002-04-30 キヤノン株式会社 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
US5287218A (en) 1992-04-07 1994-02-15 Hughes Aircraft Company Re-imaging optical system including refractive and diffractive optical elements
JP3747951B2 (ja) 1994-11-07 2006-02-22 株式会社ニコン 反射屈折光学系
JPH06331941A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Olympus Optical Co Ltd 投影レンズ系
KR0153796B1 (ko) * 1993-09-24 1998-11-16 사토 후미오 노광장치 및 노광방법
JPH07128590A (ja) 1993-10-29 1995-05-19 Olympus Optical Co Ltd 縮小投影レンズ
US5515207A (en) * 1993-11-03 1996-05-07 Nikon Precision Inc. Multiple mirror catadioptric optical system
US5825553A (en) 1993-11-29 1998-10-20 Hughes Aircraft Company Now Known As Ragtheon Company Eyepiece design
JPH07181391A (ja) 1993-12-22 1995-07-21 Olympus Optical Co Ltd 映像表示装置
US5555497A (en) * 1994-03-21 1996-09-10 Helbling; Edward Charitable contribution centralization system and apparatus
KR950034472A (ko) * 1994-04-06 1995-12-28 가나이 쓰토무 패턴형성방법 및 그것에 사용되는 투영노광장치
JPH0878319A (ja) 1994-06-30 1996-03-22 Nikon Corp 投影露光装置
US5754340A (en) * 1994-06-30 1998-05-19 Nikon Corporation Projection optical system and projection exposure apparatus using the same
JPH0817720A (ja) 1994-06-30 1996-01-19 Nikon Corp 投影露光装置
JP3281241B2 (ja) * 1994-12-27 2002-05-13 株式会社東芝 レジストの吸収光量分布評価方法及びシステム
US5631721A (en) * 1995-05-24 1997-05-20 Svg Lithography Systems, Inc. Hybrid illumination system for use in photolithography
US5999310A (en) * 1996-07-22 1999-12-07 Shafer; David Ross Ultra-broadband UV microscope imaging system with wide range zoom capability
JPH1079345A (ja) 1996-09-04 1998-03-24 Nikon Corp 投影光学系及び露光装置
JP3005203B2 (ja) * 1997-03-24 2000-01-31 キヤノン株式会社 照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
JPH11109244A (ja) 1997-10-06 1999-04-23 Nikon Corp 反射屈折光学系
US5969882A (en) * 1997-04-01 1999-10-19 Nikon Corporation Catadioptric optical system
JPH10308345A (ja) 1997-04-30 1998-11-17 Nikon Corp 反射屈折投影光学系
WO1999052004A1 (fr) 1998-04-07 1999-10-14 Nikon Corporation Appareil et procede d'exposition a projection, et systeme optique reflechissant a refraction
JPH11354436A (ja) 1998-04-07 1999-12-24 Nikon Corp 投影露光装置及び方法、並びに反射屈折光学系
JP3459773B2 (ja) * 1998-06-24 2003-10-27 キヤノン株式会社 投影露光装置及びデバイスの製造方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002208551A (ja) * 2001-01-10 2002-07-26 Nikon Corp 反射屈折光学系及び投影露光装置
US7511798B2 (en) 2004-07-30 2009-03-31 Asml Holding N.V. Off-axis catadioptric projection optical system for lithography
US7834979B2 (en) 2004-07-30 2010-11-16 Asml Netherlands B.V. Off-axis catadioptric projection optical system for lithography
US8049866B2 (en) 2004-11-02 2011-11-01 Asml Holding N.V. Method and apparatus for variable polarization control in a lithography system
JP2010014765A (ja) * 2008-07-01 2010-01-21 Nikon Corp 投影光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2016066105A (ja) * 2012-03-07 2016-04-28 株式会社ニコン 円筒マスク作製方法、露光方法、及びパターン形成方法
CN104570619A (zh) * 2015-01-09 2015-04-29 苏州苏大维格光电科技股份有限公司 基于大面积多台阶二元光学元件的激光直写方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6829099B2 (en) 2004-12-07
US20020008855A1 (en) 2002-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3747951B2 (ja) 反射屈折光学系
US6995918B2 (en) Projection optical system and projection exposure apparatus
JP2001343589A (ja) 投影光学系、および該投影光学系による投影露光装置、デバイス製造方法
JP4717974B2 (ja) 反射屈折光学系及び該光学系を備える投影露光装置
US5831770A (en) Projection optical system and exposure apparatus provided therewith
US5668672A (en) Catadioptric system and exposure apparatus having the same
KR100615068B1 (ko) 반사 굴절 광학 시스템 및 이를 구비하는 노광 장치
JP3395801B2 (ja) 反射屈折投影光学系、走査型投影露光装置、及び走査投影露光方法
US5781278A (en) Projection optical system and exposure apparatus with the same
JPH103039A (ja) 反射屈折光学系
JPH08211294A (ja) 投影露光装置
JPH07140384A (ja) 投影光学系及び投影露光装置
JPH09311278A (ja) 反射屈折光学系
JPH07140385A (ja) 投影光学系及び投影露光装置
US6081382A (en) Catadioptric reduction projection optical system
JPH1010431A (ja) 反射屈折光学系
EP0902329A1 (en) Catadioptric reduction optical system
JP7029564B2 (ja) カタディオプトリック光学系、照明光学系、露光装置および物品製造方法
EP1235091A2 (en) Projection optical system and exposure apparatus with the same
JP2002082285A (ja) 反射屈折光学系および該光学系を備えた露光装置
JP2005107362A (ja) 投影光学系及び露光装置、デバイスの製造方法
JP3781044B2 (ja) 反射屈折光学系および投影露光装置
JPH1010429A (ja) 2回結像光学系
JPH11109244A (ja) 反射屈折光学系
JPH10284365A (ja) 反射屈折光学系