JP2001232852A - 画像形成装置および光量調整方法ならびに光量補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 センサを校正し、常時適正な光量検知が可能
な画像形成装置と光量調整方法を実現する。 【解決手段】 像担持体１にライン状の光ビームを照射
するためにアレイ状の発光素子により構成される発光素
子列５０と、発光素子列の各発光素子の光量を検知する
光量検知手段６０と、光量検知手段により検知された結
果をもとにして発光素子列の各発光素子の光量を調整す
る光量調整手段１０と、光量検知手段の校正用に使用さ
れる校正用発光素子５０ａと、を備え、光量検知手段６
０により各発光素子５０ｂの光量を検知する前に、校正
用発光素子５０ａを点灯させて光量検知手段６０の校正
を行う、ことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、ファクシ
ミリ装置、プリンタ等の各種の画像形成装置に関し、さ
らに詳しくは、画像形成装置における適切な光量の調整
と光量の補正とに関する。

【０００２】

【従来の技術】像担持体（感光体）の近傍にアレイ状の
複数の発光素子により構成される発光素子列を設け、ラ
イン状の光ビームを照射すると共に、像担持体を回転さ
せて画像形成する画像形成装置が従来より知られてい
る。

【０００３】〈第１の従来技術〉このアレイ状の発光素
子列は、素子自身が発光に伴って発熱することで劣化
し、光量が徐々に変化する問題を有している。

【０００４】〈第２の従来技術〉このアレイ状の発光素
子列は、画像形成のための露光動作を繰り返しているう
ちに発光特性が劣化する。このため、発光制御回路側で
所定光量での発光を指示しているにもかかわらず、実際
には光量が落ちているという現象が生じる。

【０００５】このような発光特性の劣化をうち消すため
に、発光素子列の発光素子の個々の発光量をセンサで検
知して、その検知結果をもとにして光量制御を行う手法
も考えられる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】〈第１の課題〉以上の
発熱による劣化によって生じる光量低下を解消するた
め、光量を検知するセンサを装置に取り付けて、このセ
ンサによって発光素子列の光量を検知し、所定光量で発
光させるように調整することが考えられる。

【０００７】しかし、画像形成装置の場合、センサがト
ナーなどによる汚損が経時的に進行し、発光素子の光量
の変化を正確に検知できなくなってしまうという問題を
有していた。

【０００８】〈第２の課題〉アレイ状の発光素子列の発
光素子１つ１つの光量を検知するためにセンサを配置す
るとなると、相当な個数のセンサが必要になる。このた
め、装置全体が大型化するといった問題が生じてくる。

【０００９】また、センサを複数配置せずに、１つのセ
ンサを移動させつつ光量検知をする構成も考えられる。
しかし、発光素子を順次点灯させ、センサを移動させつ
つ検知することは、時間的に問題があり、画像形成時間
を制約してしまう問題がある。

【００１０】また、アレイ状の発光素子列の発光素子の
劣化特性テーブルを予め持っておいて、その劣化特性テ
ーブルに従って劣化を予測して補正をすることも考えら
れる。しかし、装置本体が設定された環境（温度、湿
度）によって実際の劣化の進行状況が大きく変わるの
で、適切な光量調整ができない問題があった。

【００１１】また、アレイ状の端部の発光素子だけを、
他の発光素子の平均発光量に見合うだけ発光させて、そ
の光量劣化をもとに光量補正をすることも考えられる。
しかし、あくまでも平均的な劣化特性をもとに光量補正
を行うことになり、各々の発光素子の劣化特性に対して
厳密な光量補正を行うことができなかった。

【００１２】〈第１の目的〉本発明は、上記した第１の
課題に鑑みて完成されたものであり、センサを校正し、
常時適正な光量検知が可能な画像形成装置と光量調整方
法を実現しようとするものである。

【００１３】〈第２の目的〉本発明は、上記した第２の
課題に鑑みて完成されたものであり、発光素子の光量劣
化を正確に予測して補正することが可能な画像形成装置
と光量補正方法を実現しようとするものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】すなわち、上記課題を解
決する本願発明は以下に述べるようなものである。

【００１５】（１）請求項１記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。

【００１６】また、請求項４記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えた画像形成装置の光量調整方法であって、前記光
量検知手段により前記発光素子列の各発光素子の光量を
検知する前に、前記校正用発光素子を点灯させて前記光
量検知手段の校正を行う、ことを特徴とする画像形成装
置の光量調整方法である。

【００１７】これらの発明では、校正用発光素子を点灯
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
により発光素子列の各発光素子の光量を検知するように
している。

【００１８】この結果、光量検知手段を校正し、常に適
正な光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。

【００１９】（２）請求項２記載の発明は、前記校正用
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
として配列されており、かつ、画像形成領域外に配置さ
れている、ことを特徴とする請求項１の画像形成装置で
ある。

【００２０】また、請求項５記載の発明は、前記校正用
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
であって画像形成領域外に配置されており、前記校正用
発光素子を点灯させて前記光量検知手段の校正を行った
後に、前記光量検知手段により前記発光素子列の各発光
素子の光量を検知する、ことを特徴とする請求項４の画
像形成装置の光量調整方法である。

【００２１】これらの発明では、発光素子列を構成する
発光素子の一部として画像形成領域外に配置されている
校正用発光素子を点灯させて光量検知手段の校正を行っ
た後に、光量検知手段により発光素子列の各発光素子の
光量を検知するようにしている。

【００２２】この結果、光量検知手段を適正な状態で校
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。

【００２３】（３）請求項３記載の発明は、前記光量検
知手段は、前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配
列方向に移動し、各発光素子の光量を順次検知する、こ
とを特徴とする請求項１または請求項２のいずれかに記
載の画像形成装置である。

【００２４】また、請求項６記載の発明は、前記光量検
知手段は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列
方向に移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次
検知する、ことを特徴とする請求項４または請求項５の
いずれかに記載の画像形成装置の光量調整方法である。

【００２５】これらの発明では、校正用発光素子を点灯
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列方向に
移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次検知す
るようにしている。

【００２６】この結果、光量検知手段を適正な状態で校
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。

【００２７】（４）請求項７記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計測
するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性計
測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記発
光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の発
光時間とを計測する計時手段と、前記劣化特性計測用発
光素子を所定光量で発光させ、前記光量検知手段により
検知された光量と前記計時手段により計測された発光時
間とから前記劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を
求め、該光量劣化特性と前記発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の光量補正を行う光量補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。

【００２８】また、請求項１０記載の発明は、像担持体
にライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光
素子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計
測するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記
発光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の
発光時間とを計測する計時手段と、発光素子列の光量補
正を行う光量補正手段とを備えた画像形成装置の光量補
正方法であって、前記劣化特性計測用発光素子を所定光
量で発光させ、前記光量検知手段により検知された光量
と前記計時手段により計測された発光時間とから前記劣
化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求め、該光量劣
化特性と前記発光素子列の発光時間とを参照して発光素
子列の光量補正を行う、ことを特徴とする画像形成装置
の光量検知手段の光量補正方法である。

【００２９】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。

【００３０】この結果、発光素子の光量劣化を正確に予
測して光量の補正をすることが可能になる。

【００３１】（５）請求項８記載の発明は、前記劣化特
性計測用発光素子を、画像形成時に１００％の発光強度
で発光させる、ことを特徴とする請求項７記載の画像形
成装置である。

【００３２】また、請求項１１記載の発明は、前記劣化
特性計測用発光素子を画像形成時に１００％の発光強度
で発光させることにより光量劣化特性を求める、ことを
特徴とする請求項１０記載の画像形成装置の光量補正方
法である。

【００３３】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を１００％の光量で発光させ、光量検知手段により検
知された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特
性を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行
うようにしている。

【００３４】この結果、劣化特性計測用発光素子によっ
て発光素子の光量劣化を予め正確に予測することがで
き、正確な光量の補正をすることが可能になる。

【００３５】（６）請求項９記載の発明は、前記劣化特
性計測用発光素子が前記発光素子列と近接して配置され
ている、ことを特徴とする請求項６または請求項７のい
ずれかに記載の画像形成装置である。

【００３６】また、請求項１２記載の発明は、前記劣化
特性計測用発光素子が前記発光素子列と近接した位置で
劣化特性を求める、ことを特徴とする請求項１０または
請求項１１のいずれかに記載の画像形成装置の光量補正
方法である。

【００３７】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。なお、劣化特性計測用発光素子は、発光素
子列と近接した位置で劣化特性を求めるようにしてい
る。

【００３８】この結果、発光素子の光量劣化を正確に予
測して光量の補正をすることが可能になる。

【００３９】

【実施の形態例】以下、本発明を電子写真方式の画像形
成装置に適用した実施の形態例について具体例を用いて
説明する。

【００４０】〈第１の実施の形態例〉まず、光学書き込
み部の構成と本実施の形態例の制御の様子とを図１のブ
ロック図と図２以降の斜視図とを参照して説明する。

【００４１】ＣＰＵ１０は画像形成装置各部を制御する
制御手段であり、モータ駆動部２０を介して、像担持体
としての感光体１を回転駆動するためのモータ２を回転
制御している。

【００４２】また、画像処理部３０はＣＰＵ１０からの
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してＬＥ
Ｄ駆動部４０に供給する。ＬＥＤ駆動部４０では画像処
理部３０からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するＬＥＤアレイ５０を発光させる。
なお、ＬＥＤアレイ５０は、像担持体を構成する感光体
１に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。

【００４３】ＬＥＤアレイ５０から照射された光ビーム
は、画像形成時には感光体１上に潜像を形成し（図２参
照）、校正時にはセンサ６０によって光量検知（図３お
よび図４参照）がなされる。このため、ＬＥＤアレイ５
０は、少なくとも１素子の校正用発光素子５０ａと、ア
レイ状の発光素子からなる発光素子５０ｂとから構成さ
れている。

【００４４】なお、６０はＬＥＤアレイの各発光素子の
光量を検知する光量検知手段としてのセンサである。セ
ンサ６０での結果はＡ／Ｄ変換器７０によってディジタ
ルデータに変換されてＣＰＵ１０の入力ポートに印加さ
れる。また、モータ駆動部８０はＣＰＵ１０の指示を受
けて、校正時にセンサ６０をモータ９０によって移動さ
せるための駆動信号を生成する。

【００４５】本実施の形態例では、像担持体にライン状
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のＬＥＤアレイ５０を備えた画像
形成装置において、発光素子列の各発光素子の光量を検
知する光量検知手段としてのセンサ６０と、センサ６０
の校正用に使用される校正用発光素子５０ａと、センサ
６０により検知された結果をもとにしてＬＥＤアレイ５
０の各発光素子の光量を調整する光量調整手段としての
ＣＰＵ１０とを備え、センサ６０によりＬＥＤアレイ５
０の各発光素子の光量を検知する前に、前記校正用発光
素子５０ａを点灯させてセンサ６０の校正を行う、こと
を特徴としている。

【００４６】図２は画像形成時におけるＬＥＤアレイ５
０と感光体１との位置関係を示す斜視図である。この図
２のように、ＬＥＤアレイ５０からのライン状の光ビー
ムによって、回転する感光体１の表面に静電潜像が形成
される。

【００４７】また、校正時においては、ＣＰＵ１０の指
示によってモータ駆動部８０からの駆動信号によりモー
タ９０と図示されない駆動機構とが駆動され、ＬＥＤア
レイ５０が画像形成時の位置から校正時の位置に待避さ
せられる。この校正時のＬＥＤアレイ５０の位置は図２
の破線および図３の実線で示される通りである。なお、
これらの図では、校正時の位置が左奥になっているが、
これに限定されるものではなく、センサ６０に光ビーム
の焦点が結ぶ位置であれば構わない。

【００４８】そして、ＣＰＵ１０の指示により校正用発
光素子５０ａを点灯させ、校正用光束（図３参照）によ
ってセンサ６０を照射し、センサ６０の検出結果をＤ／
Ａ変換してＣＰＵ１０に読み込む。この場合、校正用発
光素子５０ａは画像形成に用いられないため劣化してお
らず所定の発光量を保っているため、センサ６０がトナ
ーなどによって汚損されていて感度が変化（低下）して
いる場合にも、その感度変化の状態を把握できる。すな
わち、センサ６０の校正が実行される。

【００４９】なお、校正用発光素子５０ａは、発光素子
列を構成する発光素子の一部であって画像形成領域外に
配置されているため、校正用発光素子５０ａと通常の発
光素子５０ｂとで各種の条件が極めて近くなっている。
このため、校正を望ましい条件で実行できる。

【００５０】その後に、ＬＥＤアレイ５０の各発光素子
５０ｂをＣＰＵ１０からの指示で所定の発光強度で発光
させ、図４および図５（ｃ）に示すように、校正が済ん
だセンサ６０をモータ９０によってアレイ状の各発光素
子の配列方向に移動させつつ各発光素子の光量を順次検
知する。この場合のセンサ６０の検出結果もＤ／Ａ変換
してＣＰＵ１０に読み込む。

【００５１】この場合、既にセンサ６０は校正されてい
るため、発光素子５０ｂについて常に適正な光量検知が
可能な状態に保つことが可能になる。そして、画像形成
の際には、各発光素子の光量の変動を補うための光量補
正データをＣＰＵ１０がＬＥＤアレイ駆動部４０に供給
する。

【００５２】また、以上の場合において、何らかの理由
によりセンサ６０を交換する場合にも、交換直後に校正
用発光素子５０ａでセンサ６０の校正を実行すればよ
い。

【００５３】以上の発光素子列５０ｂの検知結果をもと
にして、ＣＰＵ１０は各発光素子が所定の発光強度を得
るのに必要な発光量のデータを生成して補正テーブルな
どに保存しておく。そして、画像形成時において、ＣＰ
Ｕ１０は以上の補正データを参照して各発光素子を所定
光量で発光させるように調整する。このように本実施の
形態例によれば、光量検知手段のセンサ６０を校正し、
常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可能にな
る。

【００５４】なお、校正用発光素子５０ａはＬＥＤアレ
イ５０の一部としていたが（図５（ａ）参照）、別体と
して構成してもよい（図５（ｂ）参照）。その場合に
は、レーザダイオードなど光量が安定した素子を使用す
ることも望ましい。たとえば、図５（ｂ）のように、レ
ーザダイオード５２と、レーザダイオード５２の出力制
御のためのＡＰＣ回路５３とＬＤ駆動回路５４とを用い
て構成することが可能である。

【００５５】また、校正用発光素子５０ａをＬＥＤアレ
イ５０の一部としても、別体のレーザダイオードとして
も、校正時にのみ発光させるようにしているため、初期
の発光強度を長期間保つことが可能である。

【００５６】〈第２の実施の形態例〉ここで、光学書き
込み部の構成と第２の実施の形態例の制御の様子とを図
６のブロック図と図７の斜視図とを参照して説明する。

【００５７】ＣＰＵ１０は画像形成装置各部を制御する
制御手段であり、モータ駆動部２０を介して、像担持体
としての感光体１を回転駆動するためのモータ２を回転
制御している。

【００５８】また、画像処理部３０はＣＰＵ１０からの
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してＬＥ
Ｄ駆動部４０に供給する。ＬＥＤ駆動部４０では画像処
理部３０からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するＬＥＤアレイ５０を発光させる。
なお、ＬＥＤアレイ５０は、像担持体を構成する感光体
１に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。

【００５９】ＬＥＤアレイ５０から照射された光ビーム
は、画像形成時には感光体１上に潜像を形成している
（図７参照）。なお、この画像形成時には、画像形成と
並行して、センサ６１によって光量の劣化特性の計測が
なされる。このため、ＬＥＤアレイ５０は、少なくとも
１素子の劣化特性計測用発光素子５０ｃと、アレイ状の
発光素子からなる発光素子５０ｂとから構成されてい
る。

【００６０】なお、６１はＬＥＤアレイ５０の劣化特性
を計測する光量検知手段としてのセンサである。センサ
６１での結果はＡ／Ｄ変換器７０によってディジタルデ
ータに変換されてＣＰＵ１０の入力ポートに印加され
る。

【００６１】１１は画像データを参照して、ＬＥＤアレ
イ５０の各発光素子（劣化特性計測用発光素子５０ｃと
画像形成用発光素子５０ｂ）の実際の発光時間（点灯時
間）を積算して算出する点灯時間積算部である。

【００６２】また、センサ６１で検出された結果をもと
に、ＣＰＵ１０は劣化データを生成して劣化データ記憶
部１２に記憶させる。また、劣化特性算出部１３は、こ
の劣化データから劣化特性を算出する。

【００６３】本実施の形態例では、感光体１にライン状
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のＬＥＤアレイ５０を備えた画像
形成装置において、光量劣化特性を計測するための劣化
特性計測用発光素子としてのセンサ５０ｃと、劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段としての
センサ６１と、発光素子列の発光時間と劣化特性計測用
発光素子の発光時間とを計測する計時手段としての点灯
時間積算部１１と、発光素子列の光量補正を行う光量補
正手段としてのＣＰＵ１０とを備え、劣化特性計測用発
光素子５０ｃを所定光量で発光させ、センサ６１により
検知された光量と点灯時間積算部１１により計測された
発光時間とから劣化特性計測用発光素子５０ｃの光量劣
化特性を求め、光量劣化特性と発光素子列の発光時間と
を参照して発光素子列の光量補正を行う、ことを特徴と
している。

【００６４】図７は画像形成時におけるＬＥＤアレイ５
０と感光体１との位置関係を示す斜視図である。この図
２のように、ＬＥＤアレイ５０からのライン状の光ビー
ム（画像形成用光束）によって、回転する感光体１の表
面に静電潜像が形成される。

【００６５】また、この画像形成時においては、ＣＰＵ
１０の指示により劣化特性計測用発光素子５０ｃを点灯
させ、劣化計測用光束によってセンサ６１を照射し、セ
ンサ６１の検出結果をＤ／Ａ変換してＣＰＵ１０に読み
込む。

【００６６】この場合、劣化特性計測用発光素子５０ｃ
を１００％の光量で発光させる。すると、劣化特性計測
用発光素子５０ｃは画像形成用発光素子５０ｂより劣化
が若干早く進行するため、画像形成用発光素子５０ｂの
劣化の進行に先立って予め光量劣化特性（劣化データ）
を得ることができる。ＣＰＵ１０は、この劣化データを
劣化データ記憶部１２に記憶させる。この劣化データと
しては、図８（ａ）に示すような、１０時間毎のように
一定時間毎の光量データのようなものでよい。

【００６７】また、劣化特性算出部１３は、劣化データ
記憶部１２に記憶されている劣化データから、点灯時間
に応じて光量が劣化する劣化特性（図８（ｂ）参照）を
算出する。

【００６８】そして、点灯時間積算部１１により計測さ
れた画像形成用発光素子５０ｂの発光時間と、劣化特性
算出部１３で算出された劣化特性とを参照して、ＣＰＵ
１０は点灯時間に応じて発生する画像形成用発光素子列
５０ｂの劣化を算出する。

【００６９】そして、その劣化を補うための光量補正デ
ータをＣＰＵ１０がＬＥＤアレイ駆動部４０に供給す
る。

【００７０】なお、劣化特性計測用発光素子５０ｃは、
発光素子列５０を構成する発光素子の一部であって画像
形成領域外に配置しておくと、劣化特性計測用発光素子
５０ｃと画像形成用発光素子５０ｂとで各種の条件が極
めて近くなっている。このため、劣化特性計測を望まし
い条件で実行できる。また、劣化特性計測用発光素子５
０ｃを画像形成用発光素子５０ｂの近傍に配置するよう
にしても同様の効果が得られる。

【００７１】以上のように、劣化特性計測用発光素子５
０ｃの劣化特性と、画像形成用発光素子５０ｂの総点灯
時間とから劣化を求めて光量の補正を行うことで、個々
の発光素子の劣化をそれぞれ求める必要が無くなり、画
像形成時間に悪影響を与えることもなくなる。

【００７２】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば以下に記載するような効果が得られる。

【００７３】（１）第１の発明では、校正用発光素子を
点灯させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知
手段により発光素子列の各発光素子の光量を検知するよ
うにしているため、光量検知手段を校正し、常に適正な
光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。

【００７４】（４）第２の発明では、劣化特性計測用発
光素子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知
された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性
を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参
照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行う
ようにしているため、発光素子の光量劣化を正確に予測
して光量の補正をすることが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態例の画像形成装置の
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。

【図２】本発明の第１の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。

【図３】本発明の第１の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。

【図４】本発明の第１の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。

【図５】本発明の第１の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す構成図である。

【図６】本発明の第２の実施の形態例の画像形成装置の
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。

【図７】本発明の第２の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。

【図８】本発明の第２の実施の形態例の劣化特性の算出
の様子を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 感光体ドラム ２ モータ １０ ＣＰＵ ２０ モータ駆動部 ３０ 画像処理部 ４０ ＬＥＤアレイ駆動部 ５０ ＬＥＤアレイ ５０ａ 校正用発光素子 ５０ｂ 画像形成用発光素子 ５０ｃ 劣化特性計測用発光素子 ６０ センサ ７０ Ａ／Ｄ変換器 ８０ モータ駆動部 ９０ モータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｌ 31/12 Ｇ０３Ｇ 15/04 １２０ ５Ｆ０８９ 33/00 Ｈ０４Ｎ 1/036 1/23 １０３ (72)発明者 岸 忍 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 相馬 宇民 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 西川 英史 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 丸山 宏之 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 奥富 隆治 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 重富 雅弘 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 Ｆターム(参考） 2C162 AE21 AE28 AE47 AF13 AF23 AF84 FA04 FA17 2H076 AB42 DA04 DA13 5C051 AA02 CA08 DA03 DB00 DB02 DB29 DE00 DE30 EA00 FA01 FA06 5C074 AA07 AA08 BB04 BB26 CC26 DD08 EE02 GG09 GG20 HH02 5F041 AA10 AA46 DB07 FF13 5F089 AB03 AC10 AC24 BB04 BC22 BC25 BC29 CA16

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 像担持体にライン状の光ビームを照射す
   るためにアレイ状の発光素子により構成される発光素子
   列と、 前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する光量検知
   手段と、 前記光量検知手段により検知された結果をもとにして前
   記発光素子列の各発光素子の光量を調整する光量調整手
   段と、 前記光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子
   と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。
2. 【請求項２】 前記校正用発光素子は、前記発光素子列
   を構成する発光素子の一部として配列されており、か
   つ、画像形成領域外に配置されている、ことを特徴とす
   る請求項１記載の画像形成装置。
3. 【請求項３】 前記光量検知手段は、前記発光素子列の
   アレイ状の各発光素子の配列方向に移動し、各発光素子
   の光量を順次検知する、ことを特徴とする請求項１また
   は請求項２のいずれかに記載の画像形成装置。
4. 【請求項４】 像担持体にライン状の光ビームを照射す
   るためにアレイ状の発光素子により構成される発光素子
   列と、前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する光
   量検知手段と、前記光量検知手段により検知された結果
   をもとにして前記発光素子列の各発光素子の光量を調整
   する光量調整手段と、前記光量検知手段の校正用に使用
   される校正用発光素子と、を備えた画像形成装置の光量
   調整方法であって、 前記光量検知手段により前記発光素子列の各発光素子の
   光量を検知する前に、前記校正用発光素子を点灯させて
   前記光量検知手段の校正を行う、ことを特徴とする画像
   形成装置の光量調整方法。
5. 【請求項５】 前記校正用発光素子は、前記発光素子列
   を構成する発光素子の一部であって画像形成領域外に配
   置されており、前記校正用発光素子を点灯させて前記光
   量検知手段の校正を行った後に、前記光量検知手段によ
   り前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する、こと
   を特徴とする請求項４記載の画像形成装置の光量調整方
   法。
6. 【請求項６】 前記光量検知手段は前記発光素子列のア
   レイ状の各発光素子の配列方向に移動し、この移動の際
   に各発光素子の光量を順次検知する、ことを特徴とする
   請求項４または請求項５のいずれかに記載の画像形成装
   置の光量調整方法。
7. 【請求項７】 像担a持体にライン状の光ビームを照射
   するためにアレイ状の発光素子によ構成される発光素子
   列と、 光量劣化特性を計測するための劣化特性計測用発光素子
   と、 前記劣化特性計測用発光素子の光量を検知する光量検知
   手段と、 前記発光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素
   子の発光時間とを計測する計時手段と、 前記劣化特性計測用発光素子を所定光量で発光させ、前
   記光量検知手段により検知された光量と前記計時手段に
   より計測された発光時間とから前記劣化特性計測用発光
   素子の光量劣化特性を求め、該光量劣化特性と前記発光
   素子列の発光時間とを参照して発光素子列の光量補正を
   行う光量補正手段と、を備えたことを特徴とする画像形
   成装置。
8. 【請求項８】 前記劣化特性計測用発光素子を、画像形
   成時に１００％の発光強度で発光させる、 ことを特徴とする請求項７記載の画像形成装置。
9. 【請求項９】 前記劣化特性計測用発光素子が前記発光
   素子列と近接して配置されている、 ことを特徴とする請求項６または請求項７のいずれかに
   記載の画像形成装置。
10. 【請求項１０】 像担持体にライン状の光ビームを照射
    するためにアレイ状の発光素子により構成される発光素
    子列と、光量劣化特性を計測するための劣化特性計測用
    発光素子と、前記劣化特性計測用発光素子の光量を検知
    する光量検知手段と、前記発光素子列の発光時間と前記
    劣化特性計測用発光素子の発光時間とを計測する計時手
    段と、発光素子列の光量補正を行う光量補正手段とを備
    えた画像形成装置の光量補正方法であって、 前記劣化特性計測用発光素子を所定光量で発光させ、前
    記光量検知手段により検知された光量と前記計時手段に
    より計測された発光時間とから前記劣化特性計測用発光
    素子の光量劣化特性を求め、該光量劣化特性と前記発光
    素子列の発光時間とを参照して発光素子列の光量補正を
    行う、ことを特徴とする画像形成装置の光量検知手段の
    光量補正方法。
11. 【請求項１１】 前記劣化特性計測用発光素子を画像形
    成時に１００％の発光強度で発光させることにより光量
    劣化特性を求める、 ことを特徴とする請求項１０記載の画像形成装置の光量
    補正方法。
12. 【請求項１２】 前記劣化特性計測用発光素子が前記発
    光素子列と近接した位置で劣化特性を求める、 ことを特徴とする請求項１０または請求項１１のいずれ
    かに記載の画像形成装置の光量補正方法。