JP2001232852A - 画像形成装置および光量調整方法ならびに光量補正方法 - Google Patents
画像形成装置および光量調整方法ならびに光量補正方法Info
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- JP2001232852A JP2001232852A JP2000049235A JP2000049235A JP2001232852A JP 2001232852 A JP2001232852 A JP 2001232852A JP 2000049235 A JP2000049235 A JP 2000049235A JP 2000049235 A JP2000049235 A JP 2000049235A JP 2001232852 A JP2001232852 A JP 2001232852A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 センサを校正し、常時適正な光量検知が可能
な画像形成装置と光量調整方法を実現する。 【解決手段】 像担持体1にライン状の光ビームを照射
するためにアレイ状の発光素子により構成される発光素
子列50と、発光素子列の各発光素子の光量を検知する
光量検知手段60と、光量検知手段により検知された結
果をもとにして発光素子列の各発光素子の光量を調整す
る光量調整手段10と、光量検知手段の校正用に使用さ
れる校正用発光素子50aと、を備え、光量検知手段6
0により各発光素子50bの光量を検知する前に、校正
用発光素子50aを点灯させて光量検知手段60の校正
を行う、ことを特徴とする。
な画像形成装置と光量調整方法を実現する。 【解決手段】 像担持体1にライン状の光ビームを照射
するためにアレイ状の発光素子により構成される発光素
子列50と、発光素子列の各発光素子の光量を検知する
光量検知手段60と、光量検知手段により検知された結
果をもとにして発光素子列の各発光素子の光量を調整す
る光量調整手段10と、光量検知手段の校正用に使用さ
れる校正用発光素子50aと、を備え、光量検知手段6
0により各発光素子50bの光量を検知する前に、校正
用発光素子50aを点灯させて光量検知手段60の校正
を行う、ことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、ファクシ
ミリ装置、プリンタ等の各種の画像形成装置に関し、さ
らに詳しくは、画像形成装置における適切な光量の調整
と光量の補正とに関する。
ミリ装置、プリンタ等の各種の画像形成装置に関し、さ
らに詳しくは、画像形成装置における適切な光量の調整
と光量の補正とに関する。
【0002】
【従来の技術】像担持体(感光体)の近傍にアレイ状の
複数の発光素子により構成される発光素子列を設け、ラ
イン状の光ビームを照射すると共に、像担持体を回転さ
せて画像形成する画像形成装置が従来より知られてい
る。
複数の発光素子により構成される発光素子列を設け、ラ
イン状の光ビームを照射すると共に、像担持体を回転さ
せて画像形成する画像形成装置が従来より知られてい
る。
【0003】〈第1の従来技術〉このアレイ状の発光素
子列は、素子自身が発光に伴って発熱することで劣化
し、光量が徐々に変化する問題を有している。
子列は、素子自身が発光に伴って発熱することで劣化
し、光量が徐々に変化する問題を有している。
【0004】〈第2の従来技術〉このアレイ状の発光素
子列は、画像形成のための露光動作を繰り返しているう
ちに発光特性が劣化する。このため、発光制御回路側で
所定光量での発光を指示しているにもかかわらず、実際
には光量が落ちているという現象が生じる。
子列は、画像形成のための露光動作を繰り返しているう
ちに発光特性が劣化する。このため、発光制御回路側で
所定光量での発光を指示しているにもかかわらず、実際
には光量が落ちているという現象が生じる。
【0005】このような発光特性の劣化をうち消すため
に、発光素子列の発光素子の個々の発光量をセンサで検
知して、その検知結果をもとにして光量制御を行う手法
も考えられる。
に、発光素子列の発光素子の個々の発光量をセンサで検
知して、その検知結果をもとにして光量制御を行う手法
も考えられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】〈第1の課題〉以上の
発熱による劣化によって生じる光量低下を解消するた
め、光量を検知するセンサを装置に取り付けて、このセ
ンサによって発光素子列の光量を検知し、所定光量で発
光させるように調整することが考えられる。
発熱による劣化によって生じる光量低下を解消するた
め、光量を検知するセンサを装置に取り付けて、このセ
ンサによって発光素子列の光量を検知し、所定光量で発
光させるように調整することが考えられる。
【0007】しかし、画像形成装置の場合、センサがト
ナーなどによる汚損が経時的に進行し、発光素子の光量
の変化を正確に検知できなくなってしまうという問題を
有していた。
ナーなどによる汚損が経時的に進行し、発光素子の光量
の変化を正確に検知できなくなってしまうという問題を
有していた。
【0008】〈第2の課題〉アレイ状の発光素子列の発
光素子1つ1つの光量を検知するためにセンサを配置す
るとなると、相当な個数のセンサが必要になる。このた
め、装置全体が大型化するといった問題が生じてくる。
光素子1つ1つの光量を検知するためにセンサを配置す
るとなると、相当な個数のセンサが必要になる。このた
め、装置全体が大型化するといった問題が生じてくる。
【0009】また、センサを複数配置せずに、1つのセ
ンサを移動させつつ光量検知をする構成も考えられる。
しかし、発光素子を順次点灯させ、センサを移動させつ
つ検知することは、時間的に問題があり、画像形成時間
を制約してしまう問題がある。
ンサを移動させつつ光量検知をする構成も考えられる。
しかし、発光素子を順次点灯させ、センサを移動させつ
つ検知することは、時間的に問題があり、画像形成時間
を制約してしまう問題がある。
【0010】また、アレイ状の発光素子列の発光素子の
劣化特性テーブルを予め持っておいて、その劣化特性テ
ーブルに従って劣化を予測して補正をすることも考えら
れる。しかし、装置本体が設定された環境(温度、湿
度)によって実際の劣化の進行状況が大きく変わるの
で、適切な光量調整ができない問題があった。
劣化特性テーブルを予め持っておいて、その劣化特性テ
ーブルに従って劣化を予測して補正をすることも考えら
れる。しかし、装置本体が設定された環境(温度、湿
度)によって実際の劣化の進行状況が大きく変わるの
で、適切な光量調整ができない問題があった。
【0011】また、アレイ状の端部の発光素子だけを、
他の発光素子の平均発光量に見合うだけ発光させて、そ
の光量劣化をもとに光量補正をすることも考えられる。
しかし、あくまでも平均的な劣化特性をもとに光量補正
を行うことになり、各々の発光素子の劣化特性に対して
厳密な光量補正を行うことができなかった。
他の発光素子の平均発光量に見合うだけ発光させて、そ
の光量劣化をもとに光量補正をすることも考えられる。
しかし、あくまでも平均的な劣化特性をもとに光量補正
を行うことになり、各々の発光素子の劣化特性に対して
厳密な光量補正を行うことができなかった。
【0012】〈第1の目的〉本発明は、上記した第1の
課題に鑑みて完成されたものであり、センサを校正し、
常時適正な光量検知が可能な画像形成装置と光量調整方
法を実現しようとするものである。
課題に鑑みて完成されたものであり、センサを校正し、
常時適正な光量検知が可能な画像形成装置と光量調整方
法を実現しようとするものである。
【0013】〈第2の目的〉本発明は、上記した第2の
課題に鑑みて完成されたものであり、発光素子の光量劣
化を正確に予測して補正することが可能な画像形成装置
と光量補正方法を実現しようとするものである。
課題に鑑みて完成されたものであり、発光素子の光量劣
化を正確に予測して補正することが可能な画像形成装置
と光量補正方法を実現しようとするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】すなわち、上記課題を解
決する本願発明は以下に述べるようなものである。
決する本願発明は以下に述べるようなものである。
【0015】(1)請求項1記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。
【0016】また、請求項4記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えた画像形成装置の光量調整方法であって、前記光
量検知手段により前記発光素子列の各発光素子の光量を
検知する前に、前記校正用発光素子を点灯させて前記光
量検知手段の校正を行う、ことを特徴とする画像形成装
置の光量調整方法である。
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、前記発光素子列の各
発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記光量検
知手段により検知された結果をもとにして前記発光素子
列の各発光素子の光量を調整する光量調整手段と、前記
光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子と、
を備えた画像形成装置の光量調整方法であって、前記光
量検知手段により前記発光素子列の各発光素子の光量を
検知する前に、前記校正用発光素子を点灯させて前記光
量検知手段の校正を行う、ことを特徴とする画像形成装
置の光量調整方法である。
【0017】これらの発明では、校正用発光素子を点灯
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
により発光素子列の各発光素子の光量を検知するように
している。
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
により発光素子列の各発光素子の光量を検知するように
している。
【0018】この結果、光量検知手段を校正し、常に適
正な光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。
正な光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。
【0019】(2)請求項2記載の発明は、前記校正用
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
として配列されており、かつ、画像形成領域外に配置さ
れている、ことを特徴とする請求項1の画像形成装置で
ある。
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
として配列されており、かつ、画像形成領域外に配置さ
れている、ことを特徴とする請求項1の画像形成装置で
ある。
【0020】また、請求項5記載の発明は、前記校正用
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
であって画像形成領域外に配置されており、前記校正用
発光素子を点灯させて前記光量検知手段の校正を行った
後に、前記光量検知手段により前記発光素子列の各発光
素子の光量を検知する、ことを特徴とする請求項4の画
像形成装置の光量調整方法である。
発光素子は、前記発光素子列を構成する発光素子の一部
であって画像形成領域外に配置されており、前記校正用
発光素子を点灯させて前記光量検知手段の校正を行った
後に、前記光量検知手段により前記発光素子列の各発光
素子の光量を検知する、ことを特徴とする請求項4の画
像形成装置の光量調整方法である。
【0021】これらの発明では、発光素子列を構成する
発光素子の一部として画像形成領域外に配置されている
校正用発光素子を点灯させて光量検知手段の校正を行っ
た後に、光量検知手段により発光素子列の各発光素子の
光量を検知するようにしている。
発光素子の一部として画像形成領域外に配置されている
校正用発光素子を点灯させて光量検知手段の校正を行っ
た後に、光量検知手段により発光素子列の各発光素子の
光量を検知するようにしている。
【0022】この結果、光量検知手段を適正な状態で校
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。
【0023】(3)請求項3記載の発明は、前記光量検
知手段は、前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配
列方向に移動し、各発光素子の光量を順次検知する、こ
とを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記
載の画像形成装置である。
知手段は、前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配
列方向に移動し、各発光素子の光量を順次検知する、こ
とを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記
載の画像形成装置である。
【0024】また、請求項6記載の発明は、前記光量検
知手段は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列
方向に移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次
検知する、ことを特徴とする請求項4または請求項5の
いずれかに記載の画像形成装置の光量調整方法である。
知手段は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列
方向に移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次
検知する、ことを特徴とする請求項4または請求項5の
いずれかに記載の画像形成装置の光量調整方法である。
【0025】これらの発明では、校正用発光素子を点灯
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列方向に
移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次検知す
るようにしている。
させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知手段
は前記発光素子列のアレイ状の各発光素子の配列方向に
移動し、この移動の際に各発光素子の光量を順次検知す
るようにしている。
【0026】この結果、光量検知手段を適正な状態で校
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。
正し、常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可
能になる。
【0027】(4)請求項7記載の発明は、像担持体に
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計測
するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性計
測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記発
光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の発
光時間とを計測する計時手段と、前記劣化特性計測用発
光素子を所定光量で発光させ、前記光量検知手段により
検知された光量と前記計時手段により計測された発光時
間とから前記劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を
求め、該光量劣化特性と前記発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の光量補正を行う光量補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。
ライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素
子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計測
するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性計
測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記発
光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の発
光時間とを計測する計時手段と、前記劣化特性計測用発
光素子を所定光量で発光させ、前記光量検知手段により
検知された光量と前記計時手段により計測された発光時
間とから前記劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を
求め、該光量劣化特性と前記発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の光量補正を行う光量補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置である。
【0028】また、請求項10記載の発明は、像担持体
にライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光
素子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計
測するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記
発光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の
発光時間とを計測する計時手段と、発光素子列の光量補
正を行う光量補正手段とを備えた画像形成装置の光量補
正方法であって、前記劣化特性計測用発光素子を所定光
量で発光させ、前記光量検知手段により検知された光量
と前記計時手段により計測された発光時間とから前記劣
化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求め、該光量劣
化特性と前記発光素子列の発光時間とを参照して発光素
子列の光量補正を行う、ことを特徴とする画像形成装置
の光量検知手段の光量補正方法である。
にライン状の光ビームを照射するためにアレイ状の発光
素子により構成される発光素子列と、光量劣化特性を計
測するための劣化特性計測用発光素子と、前記劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段と、前記
発光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素子の
発光時間とを計測する計時手段と、発光素子列の光量補
正を行う光量補正手段とを備えた画像形成装置の光量補
正方法であって、前記劣化特性計測用発光素子を所定光
量で発光させ、前記光量検知手段により検知された光量
と前記計時手段により計測された発光時間とから前記劣
化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求め、該光量劣
化特性と前記発光素子列の発光時間とを参照して発光素
子列の光量補正を行う、ことを特徴とする画像形成装置
の光量検知手段の光量補正方法である。
【0029】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。
【0030】この結果、発光素子の光量劣化を正確に予
測して光量の補正をすることが可能になる。
測して光量の補正をすることが可能になる。
【0031】(5)請求項8記載の発明は、前記劣化特
性計測用発光素子を、画像形成時に100%の発光強度
で発光させる、ことを特徴とする請求項7記載の画像形
成装置である。
性計測用発光素子を、画像形成時に100%の発光強度
で発光させる、ことを特徴とする請求項7記載の画像形
成装置である。
【0032】また、請求項11記載の発明は、前記劣化
特性計測用発光素子を画像形成時に100%の発光強度
で発光させることにより光量劣化特性を求める、ことを
特徴とする請求項10記載の画像形成装置の光量補正方
法である。
特性計測用発光素子を画像形成時に100%の発光強度
で発光させることにより光量劣化特性を求める、ことを
特徴とする請求項10記載の画像形成装置の光量補正方
法である。
【0033】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を100%の光量で発光させ、光量検知手段により検
知された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特
性を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行
うようにしている。
子を100%の光量で発光させ、光量検知手段により検
知された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特
性を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを
参照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行
うようにしている。
【0034】この結果、劣化特性計測用発光素子によっ
て発光素子の光量劣化を予め正確に予測することがで
き、正確な光量の補正をすることが可能になる。
て発光素子の光量劣化を予め正確に予測することがで
き、正確な光量の補正をすることが可能になる。
【0035】(6)請求項9記載の発明は、前記劣化特
性計測用発光素子が前記発光素子列と近接して配置され
ている、ことを特徴とする請求項6または請求項7のい
ずれかに記載の画像形成装置である。
性計測用発光素子が前記発光素子列と近接して配置され
ている、ことを特徴とする請求項6または請求項7のい
ずれかに記載の画像形成装置である。
【0036】また、請求項12記載の発明は、前記劣化
特性計測用発光素子が前記発光素子列と近接した位置で
劣化特性を求める、ことを特徴とする請求項10または
請求項11のいずれかに記載の画像形成装置の光量補正
方法である。
特性計測用発光素子が前記発光素子列と近接した位置で
劣化特性を求める、ことを特徴とする請求項10または
請求項11のいずれかに記載の画像形成装置の光量補正
方法である。
【0037】これらの発明では、劣化特性計測用発光素
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。なお、劣化特性計測用発光素子は、発光素
子列と近接した位置で劣化特性を求めるようにしてい
る。
子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知され
た光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性を求
め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参照し
て発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行うよう
にしている。なお、劣化特性計測用発光素子は、発光素
子列と近接した位置で劣化特性を求めるようにしてい
る。
【0038】この結果、発光素子の光量劣化を正確に予
測して光量の補正をすることが可能になる。
測して光量の補正をすることが可能になる。
【0039】
【実施の形態例】以下、本発明を電子写真方式の画像形
成装置に適用した実施の形態例について具体例を用いて
説明する。
成装置に適用した実施の形態例について具体例を用いて
説明する。
【0040】〈第1の実施の形態例〉まず、光学書き込
み部の構成と本実施の形態例の制御の様子とを図1のブ
ロック図と図2以降の斜視図とを参照して説明する。
み部の構成と本実施の形態例の制御の様子とを図1のブ
ロック図と図2以降の斜視図とを参照して説明する。
【0041】CPU10は画像形成装置各部を制御する
制御手段であり、モータ駆動部20を介して、像担持体
としての感光体1を回転駆動するためのモータ2を回転
制御している。
制御手段であり、モータ駆動部20を介して、像担持体
としての感光体1を回転駆動するためのモータ2を回転
制御している。
【0042】また、画像処理部30はCPU10からの
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してLE
D駆動部40に供給する。LED駆動部40では画像処
理部30からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するLEDアレイ50を発光させる。
なお、LEDアレイ50は、像担持体を構成する感光体
1に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してLE
D駆動部40に供給する。LED駆動部40では画像処
理部30からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するLEDアレイ50を発光させる。
なお、LEDアレイ50は、像担持体を構成する感光体
1に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。
【0043】LEDアレイ50から照射された光ビーム
は、画像形成時には感光体1上に潜像を形成し(図2参
照)、校正時にはセンサ60によって光量検知(図3お
よび図4参照)がなされる。このため、LEDアレイ5
0は、少なくとも1素子の校正用発光素子50aと、ア
レイ状の発光素子からなる発光素子50bとから構成さ
れている。
は、画像形成時には感光体1上に潜像を形成し(図2参
照)、校正時にはセンサ60によって光量検知(図3お
よび図4参照)がなされる。このため、LEDアレイ5
0は、少なくとも1素子の校正用発光素子50aと、ア
レイ状の発光素子からなる発光素子50bとから構成さ
れている。
【0044】なお、60はLEDアレイの各発光素子の
光量を検知する光量検知手段としてのセンサである。セ
ンサ60での結果はA/D変換器70によってディジタ
ルデータに変換されてCPU10の入力ポートに印加さ
れる。また、モータ駆動部80はCPU10の指示を受
けて、校正時にセンサ60をモータ90によって移動さ
せるための駆動信号を生成する。
光量を検知する光量検知手段としてのセンサである。セ
ンサ60での結果はA/D変換器70によってディジタ
ルデータに変換されてCPU10の入力ポートに印加さ
れる。また、モータ駆動部80はCPU10の指示を受
けて、校正時にセンサ60をモータ90によって移動さ
せるための駆動信号を生成する。
【0045】本実施の形態例では、像担持体にライン状
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のLEDアレイ50を備えた画像
形成装置において、発光素子列の各発光素子の光量を検
知する光量検知手段としてのセンサ60と、センサ60
の校正用に使用される校正用発光素子50aと、センサ
60により検知された結果をもとにしてLEDアレイ5
0の各発光素子の光量を調整する光量調整手段としての
CPU10とを備え、センサ60によりLEDアレイ5
0の各発光素子の光量を検知する前に、前記校正用発光
素子50aを点灯させてセンサ60の校正を行う、こと
を特徴としている。
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のLEDアレイ50を備えた画像
形成装置において、発光素子列の各発光素子の光量を検
知する光量検知手段としてのセンサ60と、センサ60
の校正用に使用される校正用発光素子50aと、センサ
60により検知された結果をもとにしてLEDアレイ5
0の各発光素子の光量を調整する光量調整手段としての
CPU10とを備え、センサ60によりLEDアレイ5
0の各発光素子の光量を検知する前に、前記校正用発光
素子50aを点灯させてセンサ60の校正を行う、こと
を特徴としている。
【0046】図2は画像形成時におけるLEDアレイ5
0と感光体1との位置関係を示す斜視図である。この図
2のように、LEDアレイ50からのライン状の光ビー
ムによって、回転する感光体1の表面に静電潜像が形成
される。
0と感光体1との位置関係を示す斜視図である。この図
2のように、LEDアレイ50からのライン状の光ビー
ムによって、回転する感光体1の表面に静電潜像が形成
される。
【0047】また、校正時においては、CPU10の指
示によってモータ駆動部80からの駆動信号によりモー
タ90と図示されない駆動機構とが駆動され、LEDア
レイ50が画像形成時の位置から校正時の位置に待避さ
せられる。この校正時のLEDアレイ50の位置は図2
の破線および図3の実線で示される通りである。なお、
これらの図では、校正時の位置が左奥になっているが、
これに限定されるものではなく、センサ60に光ビーム
の焦点が結ぶ位置であれば構わない。
示によってモータ駆動部80からの駆動信号によりモー
タ90と図示されない駆動機構とが駆動され、LEDア
レイ50が画像形成時の位置から校正時の位置に待避さ
せられる。この校正時のLEDアレイ50の位置は図2
の破線および図3の実線で示される通りである。なお、
これらの図では、校正時の位置が左奥になっているが、
これに限定されるものではなく、センサ60に光ビーム
の焦点が結ぶ位置であれば構わない。
【0048】そして、CPU10の指示により校正用発
光素子50aを点灯させ、校正用光束(図3参照)によ
ってセンサ60を照射し、センサ60の検出結果をD/
A変換してCPU10に読み込む。この場合、校正用発
光素子50aは画像形成に用いられないため劣化してお
らず所定の発光量を保っているため、センサ60がトナ
ーなどによって汚損されていて感度が変化(低下)して
いる場合にも、その感度変化の状態を把握できる。すな
わち、センサ60の校正が実行される。
光素子50aを点灯させ、校正用光束(図3参照)によ
ってセンサ60を照射し、センサ60の検出結果をD/
A変換してCPU10に読み込む。この場合、校正用発
光素子50aは画像形成に用いられないため劣化してお
らず所定の発光量を保っているため、センサ60がトナ
ーなどによって汚損されていて感度が変化(低下)して
いる場合にも、その感度変化の状態を把握できる。すな
わち、センサ60の校正が実行される。
【0049】なお、校正用発光素子50aは、発光素子
列を構成する発光素子の一部であって画像形成領域外に
配置されているため、校正用発光素子50aと通常の発
光素子50bとで各種の条件が極めて近くなっている。
このため、校正を望ましい条件で実行できる。
列を構成する発光素子の一部であって画像形成領域外に
配置されているため、校正用発光素子50aと通常の発
光素子50bとで各種の条件が極めて近くなっている。
このため、校正を望ましい条件で実行できる。
【0050】その後に、LEDアレイ50の各発光素子
50bをCPU10からの指示で所定の発光強度で発光
させ、図4および図5(c)に示すように、校正が済ん
だセンサ60をモータ90によってアレイ状の各発光素
子の配列方向に移動させつつ各発光素子の光量を順次検
知する。この場合のセンサ60の検出結果もD/A変換
してCPU10に読み込む。
50bをCPU10からの指示で所定の発光強度で発光
させ、図4および図5(c)に示すように、校正が済ん
だセンサ60をモータ90によってアレイ状の各発光素
子の配列方向に移動させつつ各発光素子の光量を順次検
知する。この場合のセンサ60の検出結果もD/A変換
してCPU10に読み込む。
【0051】この場合、既にセンサ60は校正されてい
るため、発光素子50bについて常に適正な光量検知が
可能な状態に保つことが可能になる。そして、画像形成
の際には、各発光素子の光量の変動を補うための光量補
正データをCPU10がLEDアレイ駆動部40に供給
する。
るため、発光素子50bについて常に適正な光量検知が
可能な状態に保つことが可能になる。そして、画像形成
の際には、各発光素子の光量の変動を補うための光量補
正データをCPU10がLEDアレイ駆動部40に供給
する。
【0052】また、以上の場合において、何らかの理由
によりセンサ60を交換する場合にも、交換直後に校正
用発光素子50aでセンサ60の校正を実行すればよ
い。
によりセンサ60を交換する場合にも、交換直後に校正
用発光素子50aでセンサ60の校正を実行すればよ
い。
【0053】以上の発光素子列50bの検知結果をもと
にして、CPU10は各発光素子が所定の発光強度を得
るのに必要な発光量のデータを生成して補正テーブルな
どに保存しておく。そして、画像形成時において、CP
U10は以上の補正データを参照して各発光素子を所定
光量で発光させるように調整する。このように本実施の
形態例によれば、光量検知手段のセンサ60を校正し、
常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可能にな
る。
にして、CPU10は各発光素子が所定の発光強度を得
るのに必要な発光量のデータを生成して補正テーブルな
どに保存しておく。そして、画像形成時において、CP
U10は以上の補正データを参照して各発光素子を所定
光量で発光させるように調整する。このように本実施の
形態例によれば、光量検知手段のセンサ60を校正し、
常に適正な光量検知が可能な状態に保つことが可能にな
る。
【0054】なお、校正用発光素子50aはLEDアレ
イ50の一部としていたが(図5(a)参照)、別体と
して構成してもよい(図5(b)参照)。その場合に
は、レーザダイオードなど光量が安定した素子を使用す
ることも望ましい。たとえば、図5(b)のように、レ
ーザダイオード52と、レーザダイオード52の出力制
御のためのAPC回路53とLD駆動回路54とを用い
て構成することが可能である。
イ50の一部としていたが(図5(a)参照)、別体と
して構成してもよい(図5(b)参照)。その場合に
は、レーザダイオードなど光量が安定した素子を使用す
ることも望ましい。たとえば、図5(b)のように、レ
ーザダイオード52と、レーザダイオード52の出力制
御のためのAPC回路53とLD駆動回路54とを用い
て構成することが可能である。
【0055】また、校正用発光素子50aをLEDアレ
イ50の一部としても、別体のレーザダイオードとして
も、校正時にのみ発光させるようにしているため、初期
の発光強度を長期間保つことが可能である。
イ50の一部としても、別体のレーザダイオードとして
も、校正時にのみ発光させるようにしているため、初期
の発光強度を長期間保つことが可能である。
【0056】〈第2の実施の形態例〉ここで、光学書き
込み部の構成と第2の実施の形態例の制御の様子とを図
6のブロック図と図7の斜視図とを参照して説明する。
込み部の構成と第2の実施の形態例の制御の様子とを図
6のブロック図と図7の斜視図とを参照して説明する。
【0057】CPU10は画像形成装置各部を制御する
制御手段であり、モータ駆動部20を介して、像担持体
としての感光体1を回転駆動するためのモータ2を回転
制御している。
制御手段であり、モータ駆動部20を介して、像担持体
としての感光体1を回転駆動するためのモータ2を回転
制御している。
【0058】また、画像処理部30はCPU10からの
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してLE
D駆動部40に供給する。LED駆動部40では画像処
理部30からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するLEDアレイ50を発光させる。
なお、LEDアレイ50は、像担持体を構成する感光体
1に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。
指示に従って画像データに必要な画像処理を施してLE
D駆動部40に供給する。LED駆動部40では画像処
理部30からの画像データを受けて、露光手段としての
発光素子列を構成するLEDアレイ50を発光させる。
なお、LEDアレイ50は、像担持体を構成する感光体
1に対してライン状の光ビームを照射するためにアレイ
状の発光素子により構成される発光素子列である。
【0059】LEDアレイ50から照射された光ビーム
は、画像形成時には感光体1上に潜像を形成している
(図7参照)。なお、この画像形成時には、画像形成と
並行して、センサ61によって光量の劣化特性の計測が
なされる。このため、LEDアレイ50は、少なくとも
1素子の劣化特性計測用発光素子50cと、アレイ状の
発光素子からなる発光素子50bとから構成されてい
る。
は、画像形成時には感光体1上に潜像を形成している
(図7参照)。なお、この画像形成時には、画像形成と
並行して、センサ61によって光量の劣化特性の計測が
なされる。このため、LEDアレイ50は、少なくとも
1素子の劣化特性計測用発光素子50cと、アレイ状の
発光素子からなる発光素子50bとから構成されてい
る。
【0060】なお、61はLEDアレイ50の劣化特性
を計測する光量検知手段としてのセンサである。センサ
61での結果はA/D変換器70によってディジタルデ
ータに変換されてCPU10の入力ポートに印加され
る。
を計測する光量検知手段としてのセンサである。センサ
61での結果はA/D変換器70によってディジタルデ
ータに変換されてCPU10の入力ポートに印加され
る。
【0061】11は画像データを参照して、LEDアレ
イ50の各発光素子(劣化特性計測用発光素子50cと
画像形成用発光素子50b)の実際の発光時間(点灯時
間)を積算して算出する点灯時間積算部である。
イ50の各発光素子(劣化特性計測用発光素子50cと
画像形成用発光素子50b)の実際の発光時間(点灯時
間)を積算して算出する点灯時間積算部である。
【0062】また、センサ61で検出された結果をもと
に、CPU10は劣化データを生成して劣化データ記憶
部12に記憶させる。また、劣化特性算出部13は、こ
の劣化データから劣化特性を算出する。
に、CPU10は劣化データを生成して劣化データ記憶
部12に記憶させる。また、劣化特性算出部13は、こ
の劣化データから劣化特性を算出する。
【0063】本実施の形態例では、感光体1にライン状
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のLEDアレイ50を備えた画像
形成装置において、光量劣化特性を計測するための劣化
特性計測用発光素子としてのセンサ50cと、劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段としての
センサ61と、発光素子列の発光時間と劣化特性計測用
発光素子の発光時間とを計測する計時手段としての点灯
時間積算部11と、発光素子列の光量補正を行う光量補
正手段としてのCPU10とを備え、劣化特性計測用発
光素子50cを所定光量で発光させ、センサ61により
検知された光量と点灯時間積算部11により計測された
発光時間とから劣化特性計測用発光素子50cの光量劣
化特性を求め、光量劣化特性と発光素子列の発光時間と
を参照して発光素子列の光量補正を行う、ことを特徴と
している。
の光ビームを照射するためにアレイ状の発光素子により
構成される発光素子列のLEDアレイ50を備えた画像
形成装置において、光量劣化特性を計測するための劣化
特性計測用発光素子としてのセンサ50cと、劣化特性
計測用発光素子の光量を検知する光量検知手段としての
センサ61と、発光素子列の発光時間と劣化特性計測用
発光素子の発光時間とを計測する計時手段としての点灯
時間積算部11と、発光素子列の光量補正を行う光量補
正手段としてのCPU10とを備え、劣化特性計測用発
光素子50cを所定光量で発光させ、センサ61により
検知された光量と点灯時間積算部11により計測された
発光時間とから劣化特性計測用発光素子50cの光量劣
化特性を求め、光量劣化特性と発光素子列の発光時間と
を参照して発光素子列の光量補正を行う、ことを特徴と
している。
【0064】図7は画像形成時におけるLEDアレイ5
0と感光体1との位置関係を示す斜視図である。この図
2のように、LEDアレイ50からのライン状の光ビー
ム(画像形成用光束)によって、回転する感光体1の表
面に静電潜像が形成される。
0と感光体1との位置関係を示す斜視図である。この図
2のように、LEDアレイ50からのライン状の光ビー
ム(画像形成用光束)によって、回転する感光体1の表
面に静電潜像が形成される。
【0065】また、この画像形成時においては、CPU
10の指示により劣化特性計測用発光素子50cを点灯
させ、劣化計測用光束によってセンサ61を照射し、セ
ンサ61の検出結果をD/A変換してCPU10に読み
込む。
10の指示により劣化特性計測用発光素子50cを点灯
させ、劣化計測用光束によってセンサ61を照射し、セ
ンサ61の検出結果をD/A変換してCPU10に読み
込む。
【0066】この場合、劣化特性計測用発光素子50c
を100%の光量で発光させる。すると、劣化特性計測
用発光素子50cは画像形成用発光素子50bより劣化
が若干早く進行するため、画像形成用発光素子50bの
劣化の進行に先立って予め光量劣化特性(劣化データ)
を得ることができる。CPU10は、この劣化データを
劣化データ記憶部12に記憶させる。この劣化データと
しては、図8(a)に示すような、10時間毎のように
一定時間毎の光量データのようなものでよい。
を100%の光量で発光させる。すると、劣化特性計測
用発光素子50cは画像形成用発光素子50bより劣化
が若干早く進行するため、画像形成用発光素子50bの
劣化の進行に先立って予め光量劣化特性(劣化データ)
を得ることができる。CPU10は、この劣化データを
劣化データ記憶部12に記憶させる。この劣化データと
しては、図8(a)に示すような、10時間毎のように
一定時間毎の光量データのようなものでよい。
【0067】また、劣化特性算出部13は、劣化データ
記憶部12に記憶されている劣化データから、点灯時間
に応じて光量が劣化する劣化特性(図8(b)参照)を
算出する。
記憶部12に記憶されている劣化データから、点灯時間
に応じて光量が劣化する劣化特性(図8(b)参照)を
算出する。
【0068】そして、点灯時間積算部11により計測さ
れた画像形成用発光素子50bの発光時間と、劣化特性
算出部13で算出された劣化特性とを参照して、CPU
10は点灯時間に応じて発生する画像形成用発光素子列
50bの劣化を算出する。
れた画像形成用発光素子50bの発光時間と、劣化特性
算出部13で算出された劣化特性とを参照して、CPU
10は点灯時間に応じて発生する画像形成用発光素子列
50bの劣化を算出する。
【0069】そして、その劣化を補うための光量補正デ
ータをCPU10がLEDアレイ駆動部40に供給す
る。
ータをCPU10がLEDアレイ駆動部40に供給す
る。
【0070】なお、劣化特性計測用発光素子50cは、
発光素子列50を構成する発光素子の一部であって画像
形成領域外に配置しておくと、劣化特性計測用発光素子
50cと画像形成用発光素子50bとで各種の条件が極
めて近くなっている。このため、劣化特性計測を望まし
い条件で実行できる。また、劣化特性計測用発光素子5
0cを画像形成用発光素子50bの近傍に配置するよう
にしても同様の効果が得られる。
発光素子列50を構成する発光素子の一部であって画像
形成領域外に配置しておくと、劣化特性計測用発光素子
50cと画像形成用発光素子50bとで各種の条件が極
めて近くなっている。このため、劣化特性計測を望まし
い条件で実行できる。また、劣化特性計測用発光素子5
0cを画像形成用発光素子50bの近傍に配置するよう
にしても同様の効果が得られる。
【0071】以上のように、劣化特性計測用発光素子5
0cの劣化特性と、画像形成用発光素子50bの総点灯
時間とから劣化を求めて光量の補正を行うことで、個々
の発光素子の劣化をそれぞれ求める必要が無くなり、画
像形成時間に悪影響を与えることもなくなる。
0cの劣化特性と、画像形成用発光素子50bの総点灯
時間とから劣化を求めて光量の補正を行うことで、個々
の発光素子の劣化をそれぞれ求める必要が無くなり、画
像形成時間に悪影響を与えることもなくなる。
【0072】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば以下に記載するような効果が得られる。
よれば以下に記載するような効果が得られる。
【0073】(1)第1の発明では、校正用発光素子を
点灯させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知
手段により発光素子列の各発光素子の光量を検知するよ
うにしているため、光量検知手段を校正し、常に適正な
光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。
点灯させて光量検知手段の校正を行った後に、光量検知
手段により発光素子列の各発光素子の光量を検知するよ
うにしているため、光量検知手段を校正し、常に適正な
光量検知が可能な状態に保つことが可能になる。
【0074】(4)第2の発明では、劣化特性計測用発
光素子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知
された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性
を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参
照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行う
ようにしているため、発光素子の光量劣化を正確に予測
して光量の補正をすることが可能になる。
光素子を所定光量で発光させ、光量検知手段により検知
された光量から劣化特性計測用発光素子の光量劣化特性
を求め、該光量劣化特性と発光素子列の発光時間とを参
照して発光素子列の実際の劣化に応じた光量補正を行う
ようにしているため、発光素子の光量劣化を正確に予測
して光量の補正をすることが可能になる。
【図1】本発明の第1の実施の形態例の画像形成装置の
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。
【図2】本発明の第1の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。
主要部の構成を示す斜視図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。
主要部の構成を示す斜視図である。
【図4】本発明の第1の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。
主要部の構成を示す斜視図である。
【図5】本発明の第1の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す構成図である。
主要部の構成を示す構成図である。
【図6】本発明の第2の実施の形態例の画像形成装置の
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。
主要部分の光学的および電気的な構成を示すブロック図
である。
【図7】本発明の第2の実施の形態例の画像形成装置の
主要部の構成を示す斜視図である。
主要部の構成を示す斜視図である。
【図8】本発明の第2の実施の形態例の劣化特性の算出
の様子を示す説明図である。
の様子を示す説明図である。
1 感光体ドラム 2 モータ 10 CPU 20 モータ駆動部 30 画像処理部 40 LEDアレイ駆動部 50 LEDアレイ 50a 校正用発光素子 50b 画像形成用発光素子 50c 劣化特性計測用発光素子 60 センサ 70 A/D変換器 80 モータ駆動部 90 モータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 31/12 G03G 15/04 120 5F089 33/00 H04N 1/036 1/23 103 (72)発明者 岸 忍 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 相馬 宇民 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 西川 英史 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 丸山 宏之 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 奥富 隆治 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 (72)発明者 重富 雅弘 東京都八王子市石川町2970番地 コニカ株 式会社内 Fターム(参考) 2C162 AE21 AE28 AE47 AF13 AF23 AF84 FA04 FA17 2H076 AB42 DA04 DA13 5C051 AA02 CA08 DA03 DB00 DB02 DB29 DE00 DE30 EA00 FA01 FA06 5C074 AA07 AA08 BB04 BB26 CC26 DD08 EE02 GG09 GG20 HH02 5F041 AA10 AA46 DB07 FF13 5F089 AB03 AC10 AC24 BB04 BC22 BC25 BC29 CA16
Claims (12)
- 【請求項1】 像担持体にライン状の光ビームを照射す
るためにアレイ状の発光素子により構成される発光素子
列と、 前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する光量検知
手段と、 前記光量検知手段により検知された結果をもとにして前
記発光素子列の各発光素子の光量を調整する光量調整手
段と、 前記光量検知手段の校正用に使用される校正用発光素子
と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項2】 前記校正用発光素子は、前記発光素子列
を構成する発光素子の一部として配列されており、か
つ、画像形成領域外に配置されている、ことを特徴とす
る請求項1記載の画像形成装置。 - 【請求項3】 前記光量検知手段は、前記発光素子列の
アレイ状の各発光素子の配列方向に移動し、各発光素子
の光量を順次検知する、ことを特徴とする請求項1また
は請求項2のいずれかに記載の画像形成装置。 - 【請求項4】 像担持体にライン状の光ビームを照射す
るためにアレイ状の発光素子により構成される発光素子
列と、前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する光
量検知手段と、前記光量検知手段により検知された結果
をもとにして前記発光素子列の各発光素子の光量を調整
する光量調整手段と、前記光量検知手段の校正用に使用
される校正用発光素子と、を備えた画像形成装置の光量
調整方法であって、 前記光量検知手段により前記発光素子列の各発光素子の
光量を検知する前に、前記校正用発光素子を点灯させて
前記光量検知手段の校正を行う、ことを特徴とする画像
形成装置の光量調整方法。 - 【請求項5】 前記校正用発光素子は、前記発光素子列
を構成する発光素子の一部であって画像形成領域外に配
置されており、前記校正用発光素子を点灯させて前記光
量検知手段の校正を行った後に、前記光量検知手段によ
り前記発光素子列の各発光素子の光量を検知する、こと
を特徴とする請求項4記載の画像形成装置の光量調整方
法。 - 【請求項6】 前記光量検知手段は前記発光素子列のア
レイ状の各発光素子の配列方向に移動し、この移動の際
に各発光素子の光量を順次検知する、ことを特徴とする
請求項4または請求項5のいずれかに記載の画像形成装
置の光量調整方法。 - 【請求項7】 像担a持体にライン状の光ビームを照射
するためにアレイ状の発光素子によ構成される発光素子
列と、 光量劣化特性を計測するための劣化特性計測用発光素子
と、 前記劣化特性計測用発光素子の光量を検知する光量検知
手段と、 前記発光素子列の発光時間と前記劣化特性計測用発光素
子の発光時間とを計測する計時手段と、 前記劣化特性計測用発光素子を所定光量で発光させ、前
記光量検知手段により検知された光量と前記計時手段に
より計測された発光時間とから前記劣化特性計測用発光
素子の光量劣化特性を求め、該光量劣化特性と前記発光
素子列の発光時間とを参照して発光素子列の光量補正を
行う光量補正手段と、を備えたことを特徴とする画像形
成装置。 - 【請求項8】 前記劣化特性計測用発光素子を、画像形
成時に100%の発光強度で発光させる、 ことを特徴とする請求項7記載の画像形成装置。 - 【請求項9】 前記劣化特性計測用発光素子が前記発光
素子列と近接して配置されている、 ことを特徴とする請求項6または請求項7のいずれかに
記載の画像形成装置。 - 【請求項10】 像担持体にライン状の光ビームを照射
するためにアレイ状の発光素子により構成される発光素
子列と、光量劣化特性を計測するための劣化特性計測用
発光素子と、前記劣化特性計測用発光素子の光量を検知
する光量検知手段と、前記発光素子列の発光時間と前記
劣化特性計測用発光素子の発光時間とを計測する計時手
段と、発光素子列の光量補正を行う光量補正手段とを備
えた画像形成装置の光量補正方法であって、 前記劣化特性計測用発光素子を所定光量で発光させ、前
記光量検知手段により検知された光量と前記計時手段に
より計測された発光時間とから前記劣化特性計測用発光
素子の光量劣化特性を求め、該光量劣化特性と前記発光
素子列の発光時間とを参照して発光素子列の光量補正を
行う、ことを特徴とする画像形成装置の光量検知手段の
光量補正方法。 - 【請求項11】 前記劣化特性計測用発光素子を画像形
成時に100%の発光強度で発光させることにより光量
劣化特性を求める、 ことを特徴とする請求項10記載の画像形成装置の光量
補正方法。 - 【請求項12】 前記劣化特性計測用発光素子が前記発
光素子列と近接した位置で劣化特性を求める、 ことを特徴とする請求項10または請求項11のいずれ
かに記載の画像形成装置の光量補正方法。
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---|---|---|---|
JP2000049235A JP2001232852A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | 画像形成装置および光量調整方法ならびに光量補正方法 |
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JP2000049235A JP2001232852A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | 画像形成装置および光量調整方法ならびに光量補正方法 |
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- 2000-02-25 JP JP2000049235A patent/JP2001232852A/ja active Pending
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