JP2001210439A - Connector inspection equipment and its assembling method - Google Patents
Connector inspection equipment and its assembling methodInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタ検査装置
およびその組立方法に関する。The present invention relates to a connector inspection apparatus and a method for assembling the same.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近時、自動車には、ユーザーのニーズに
応じて多種多様の電装部品が搭載されている。特に、こ
の電装部品が集中する箇所においては、分極コネクタが
用いられている。この分極コネクタとは、種類および形
状の異なる複数のサブコネクタを樹脂等で形成された保
持用のホルダに嵌挿して組み付けたものをいう。かかる
分極コネクタに対しては、ワイヤーハーネスの製造工程
において、各サブコネクタのホルダへの装着状態および
装着されているサブコネクタの種類が正規なものである
か否かを検査する必要がある。2. Description of the Related Art Recently, various kinds of electric components are mounted on automobiles according to the needs of users. In particular, a polarization connector is used in a place where the electrical components are concentrated. The polarized connector is a connector in which a plurality of sub-connectors having different types and shapes are fitted into a holding holder made of resin or the like and assembled. With respect to such a polarized connector, it is necessary to inspect the mounting state of each sub-connector to the holder and whether or not the type of the mounted sub-connector is proper in the manufacturing process of the wire harness.
【０００３】そこで、上記分極コネクタ検査を行うため
の装置が種々提案されている。特に、特開平７−２４９
４７０号公報では、各サブコネクタのホルダへの装着状
態（サブコネクタの有無、およびサブコネクタの装着間
違いを含む）を検査し、不完全装着状態を検出する装置
が開示されている。かかる公開公報に開示されているコ
ネクタ検査装置は、図８に示すように、台盤１と、
この台盤１の一端部に形成されており、ホルダを固定し
て保持する受け部２と、この受け部２に対向してお
り、操作レバー３の回動により台盤上を進退する検査部
４と、この検査部４に配設されており、検査部４の前
進時に各サブコネクタの前面に弾発的に接触する検出ピ
ン５とを備えている。検出ピン５は、各サブコネクタ宛
少なくとも一組設けられており、かつ、互いに離間して
サブコネクタの前面に向かって突出している。Accordingly, various devices for performing the above-described polarization connector inspection have been proposed. In particular, JP-A-7-249
Japanese Patent Application Publication No. 470 discloses an apparatus for inspecting the mounting state of each sub-connector to a holder (including the presence or absence of a sub-connector and incorrectly mounting a sub-connector) and detecting an incompletely mounted state. As shown in FIG. 8, the connector inspection device disclosed in this publication includes a base 1 and
A receiving portion 2 formed at one end of the base 1 for fixing and holding a holder; and an inspection portion facing the receiving portion 2 and moving forward and backward on the base by rotating the operation lever 3. 4 and a detection pin 5 disposed in the inspection section 4 and elastically contacting the front surface of each sub-connector when the inspection section 4 advances. At least one set of detection pins 5 is provided for each sub-connector, and protrudes toward the front surface of the sub-connector at a distance from each other.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
開公報に係るコネクタ検査装置には、以下の問題点が指
摘されている。 （１） 検査時には、検査部を前進させて各サブコネク
タの周囲前端面に検出ピンを当てることにより、サブコ
ネクタのホルダへの装着状態を検査するようになってい
る。しかし、上記サブコネクタの周囲前端面は幅が狭い
ため、検査時に検出ピンがずれやすく、ずれると検出ピ
ンが当接しなくなり確実で信頼性の高い検査が行えなく
なる。However, the following problems have been pointed out in the connector inspection apparatus according to the above publication. (1) At the time of inspection, the inspection section is advanced to apply a detection pin to a front end surface around each sub-connector, thereby inspecting the mounting state of the sub-connector to the holder. However, since the peripheral front end surface of the sub-connector is narrow in width, the detection pins are likely to be displaced during the inspection.
【０００５】（２） 数種類のサブコネクタの装着間違
い（誤品）を検出するためには、１つのサブコネクタに
対し複数の検出ピンを当てる必要がある。そのため、検
出ピンとサブコネクタの前面との相対位置関係に僅かで
もずれが生じると、誤品検出能力が低下してしまう。(2) In order to detect incorrect mounting of several types of sub-connectors (erroneous products), it is necessary to apply a plurality of detection pins to one sub-connector. Therefore, if the relative positional relationship between the detection pin and the front surface of the sub-connector is slightly deviated, the erroneous product detection capability is reduced.
【０００６】（３） 検査部のガイド位置決め用および
検出ピンの保護用として、検査部の両側部に外壁が必要
とされる。また、検査時における検査部の移動方向は、
検出ピンがサブコネクタを押し出す方向になっているの
で、検査時に分極コネクタが動かないように検査部を適
切な位置でロックさせるロック機構も必要とされる。こ
れらの要因により、装置の構造は複雑となる。その結
果、製造コストの上昇に繋がっている。特に、ロック機
構に関しては、検査終了時にロック解除作業が必要とな
り、検査作業は煩雑なものとなっている。(3) External walls are required on both sides of the inspection section for positioning the guide of the inspection section and protecting the detection pins. In addition, the moving direction of the inspection unit during the inspection is
Since the detection pins are in a direction to push out the sub-connector, a lock mechanism for locking the inspection unit at an appropriate position so that the polarization connector does not move during the inspection is also required. These factors complicate the structure of the device. As a result, the manufacturing cost is increased. In particular, the lock mechanism requires an unlocking operation at the end of the inspection, and the inspection operation is complicated.
【０００７】（４） 上記分極コネクタは、各サブコネ
クタを複雑な位置関係で組み合わせているため、上述し
たようなコネクタ検査装置を設計する際には、上記各サ
ブコネクタの位置関係等を考慮して設計する必要がある
ため設計に要する時間が長くかかる。また、各サブコネ
クタや保持用のホルダは樹脂で形成されているため、ホ
ルダ自体等に歪み・撓みが生じたりする場合もあり、し
かも、これら歪み等は図板へセットするため、受け台の
支持等により更に増幅されることもあり、これら歪み等
による寸法の変動を設計に反映させるのは非常に困難で
ある。 （５） 検出ピンおよびサブコネクタ前端面の両者の位
置精度は、厳密に要求されており、実際の製作時には上
記精度に確保する必要があるため手間がかかる。その結
果、装置製作の依頼を受けてから量産体制に至るまで
（依頼→設計→試作→評価・量産→量産製作）のリード
タイムが長くなっている。(4) In the polarization connector, since the sub-connectors are combined in a complicated positional relationship, when designing the above-described connector inspection apparatus, the positional relationship of the sub-connectors and the like are taken into consideration. Therefore, it takes a long time to design. In addition, since the sub-connectors and the holder for holding are formed of resin, the holder itself may be distorted or bent, and these distortions are set on the drawing board. It may be further amplified by the support or the like, and it is very difficult to reflect the dimensional change due to the distortion or the like in the design. (5) The positional accuracy of both the detection pin and the front end face of the sub-connector is strictly required, and it is necessary to secure the above-mentioned accuracy during actual production, which is troublesome. As a result, the lead time from receiving a request for device manufacturing to a mass production system (request → design → prototype → evaluation / mass production → mass production) is longer.
【０００８】本発明は、上記技術的課題に鑑みなされた
もので、接触不良の改善、ならびに誤品検出能力および
作業性の向上を達成でき、かつ、製造コストを低廉化で
きるコネクタ検査装置の提供を第１の目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above technical problems, and provides a connector inspection apparatus capable of improving contact failure, improving erroneous product detection capability and workability, and reducing manufacturing costs. As a first object.
【０００９】また、本発明は、依頼から製作までのリー
ドタイムを短縮できるコネクタ検査装置の組立方法の提
供を第２の目的とする。It is a second object of the present invention to provide a method of assembling a connector inspection apparatus capable of shortening the lead time from request to production.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係るコネクタ検査装置は、分極コネクタを
構成する各サブコネクタの保持用ホルダへの装着状態を
検査するためのものであって、分極コネクタを覆う面積
を有するベース部材と、各サブコネクタの種類および形
状に対応して形成されていると共に上記ベース部材の一
の面に各サブコネクタの装着位置に対応して取り付けら
れており、検査時に各サブコネクタに嵌め込まれる複数
の検査ブロックと、これら検査ブロックの外壁または内
壁に組み込まれており、当該各検査ブロックを各サブコ
ネクタに嵌め込むときに各サブコネクタの内壁または外
壁に当接して作動する検出器とを含むものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, a connector inspection apparatus according to the present invention is for inspecting a mounting state of each sub-connector constituting a polarization connector to a holding holder. A base member having an area covering the polarized connector, and formed to correspond to the type and shape of each sub-connector, and attached to one surface of the base member corresponding to the mounting position of each sub-connector. A plurality of test blocks to be fitted into each sub-connector at the time of testing, and the test block is incorporated into an outer wall or an inner wall of the test block. And a detector operating in contact therewith.
【００１１】上記構成において、検査ブロックをサブコ
ネクタに嵌め込むことにより、サブコネクタのホルダへ
の装着状態を検査するようになっている。このとき、検
査ブロックの検出器は、検査ブロックの嵌め込みに伴っ
て、サブコネクタの内壁または外壁に当接して作動す
る。そのため、検査ブロックをサブコネクタに嵌め込ん
だときに、検出器が作動するか否かによってサブコネク
タの有無を検出できる。また、検査ブロックを、サブコ
ネクタの種類および形状に対応して形成し、かつ、ベー
ス部材の一の面にサブコネクタの装着位置に対応して取
り付けている。そのため、検査ブロックがサブコネクタ
に嵌り込むか否かによって誤品を検出できる。すなわ
ち、上記有無検出に関しては検出器が司る一方、上記誤
品検出に関しては検査ブロックが司ることによって、両
者が別々に２種類の不完全装着状態を確実に検出する。
その結果、従来のように接触不良が発生せず、しかも誤
品検出能力を向上させることができる。なお、検査ブロ
ックの嵌め込み状態では、検査ブロックの保持力により
サブコネクタが保持されるため、従来のように外壁およ
びロック機構が不要となり装置の構成を簡素化できる。
また、それに伴い、検査の作業性が向上すると共に製造
コストが低廉化する。[0011] In the above configuration, the state of attachment of the sub-connector to the holder is inspected by fitting the inspection block into the sub-connector. At this time, the detector of the test block operates by abutting on the inner or outer wall of the sub-connector as the test block is fitted. Therefore, when the test block is fitted into the sub-connector, the presence or absence of the sub-connector can be detected based on whether or not the detector operates. Further, the inspection block is formed corresponding to the type and shape of the sub-connector, and is attached to one surface of the base member corresponding to the mounting position of the sub-connector. Therefore, an erroneous product can be detected based on whether or not the inspection block fits into the sub-connector. In other words, the detector controls the presence / absence detection, while the inspection block controls the erroneous product detection, so that both of them can reliably detect two types of incompletely mounted states.
As a result, unlike the related art, a contact failure does not occur, and the erroneous product detection ability can be improved. In the state where the test block is fitted, the sub-connector is held by the holding force of the test block, so that the outer wall and the lock mechanism are not required unlike the related art, and the configuration of the apparatus can be simplified.
In addition, the workability of the inspection is improved and the manufacturing cost is reduced.
【００１２】さらに、上記各検査ブロック間には、検査
ブロックの高さより高い矯正部材を上記ベース部材より
突設させており、各検査ブロックの各サブコネクタへの
嵌め込み時に、上記矯正部材を各サブコネクタ間に差し
込んで、各サブコネクタ、保持用ホルダの歪み・撓みを
矯正して各サブコネクタを正規位置にするように構成さ
れているFurther, a correction member higher than the height of the inspection block is protruded from the base member between the inspection blocks. When the inspection block is fitted into each sub-connector, the correction member is connected to each sub-connector. It is configured to be inserted between the connectors to correct distortion / bending of each sub-connector and holding holder and to set each sub-connector to a normal position.
【００１３】上記のような矯正部材を突設させること
で、検査対象の分極コネクタのホルダ等に歪み等が発生
して各サブコネクタが正規位置よりずれていても、検査
時に、検査装置を分極コネクタに嵌め込もうとすると、
まず、矯正部材が各サブコネクタ間に割って入り各サブ
コネクタを正規位置に戻すため、検査ブロックを容易に
嵌め込むことができ、検査効率の維持を図ることができ
る。上記矯正部材の幅寸法等や突設させる個数は、ホル
ダの形状や各サブコネクタの配置位置等を考慮して適宜
設定している。なお、検査装置と分極コネクタの嵌め合
わせ時の位置決めをさらに容易にするために、ホルダと
の位置決め用のガイドをベース部材より突設させるよう
にしてもよい。[0013] By protruding the above-described correction member, even if each of the sub-connectors is displaced from its normal position due to distortion or the like of the holder of the polarization connector to be inspected, the inspection device can be polarized at the time of inspection. When trying to fit into the connector,
First, since the correcting member is inserted between the sub-connectors and each sub-connector is returned to the normal position, the inspection block can be easily fitted, and the inspection efficiency can be maintained. The width dimension and the like of the straightening member and the number of projecting members are appropriately set in consideration of the shape of the holder, the arrangement position of each sub-connector, and the like. In addition, in order to further facilitate the positioning at the time of fitting the inspection device and the polarization connector, a guide for positioning with the holder may be protruded from the base member.
【００１４】上記コネクタ検査装置を組み立てるための
方法は、（１）予め各種サブコネクタ別に上記検査ブロ
ックを複数成形しておく工程と、（２）上記（１）の工
程で成形しておいた検査ブロックのうちから検査対象と
なる各サブコネクタの種類および形状に対応したものを
選択し、この選択された各検査ブロックを、検査対象と
同等の分極コネクタを有する模擬ホルダの各サブコネク
タに嵌め込んで位置決めする工程と、（３）上記（２）
の工程で位置決めされた各検査ブロック同士を非嵌め込
み側の端部で固定すると共にベース部材を形成して一体
化する工程と、（４）検査対象となる各サブコネクタの
種類に応じて、上記（３）の工程で固定された各検査ブ
ロックの外壁または内壁に検出器を組み込む工程とを含
むものである。The method for assembling the connector inspection apparatus includes: (1) a step of previously forming a plurality of the inspection blocks for each sub-connector; and (2) an inspection formed by the step (1). A block corresponding to the type and shape of each sub-connector to be inspected is selected from the blocks, and each selected inspection block is fitted into each sub-connector of the simulation holder having a polarization connector equivalent to that of the inspection target. (3) The above (2)
Fixing each of the inspection blocks positioned at the non-fitting side at the non-fitting side end and forming a base member and integrating them; and (4) the above according to the type of each sub-connector to be inspected. Incorporating a detector on the outer or inner wall of each inspection block fixed in the step (3).
【００１５】上記組立方法によると、いわゆる設計レス
で装置を製作できる。その結果、設計に要していた時間
を皆無にできると共に装置自体の製作も容易になり、依
頼から製作に至るまでのリードタイムを短縮できる。According to the above assembling method, the apparatus can be manufactured without design. As a result, the time required for the design can be completely eliminated, and the production of the apparatus itself can be facilitated, so that the lead time from request to production can be shortened.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づき詳細に説明する。図１乃至図５を参照し
て、本発明の第一実施形態に係るコネクタ検査装置１０
は、分極コネクタ２０を構成する各サブコネクタ２１の
ホルダ２２への装着状態（サブコネクタ２１の有無、お
よびサブコネクタ２１の装着間違いを含む）を検査し、
不完全装着状態を検出するものである。このコネクタ検
査装置１０は、分極コネクタ２０を覆う面積を有する
ベース部材３０と、各サブコネクタ２１の種類および
形状に対応して形成されていると共にベース部材３０の
表面に各サブコネクタ２１の装着状態に対応して取り付
けられており、検査時に各サブコネクタ２１に嵌め込ま
れる複数の検査ブロック４０と、これら検査ブロック
４０の外壁または内壁に組み込まれており、各検査ブロ
ック４０を各サブコネクタ２１に嵌め込むときに各サブ
コネクタ２１の内壁または外壁に当接して作動する検出
器としてマイクロスイッチ５０とを備えている。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. 1 to 5, a connector inspection device 10 according to a first embodiment of the present invention.
Inspects the mounting state of each sub-connector 21 constituting the polarization connector 20 to the holder 22 (including the presence or absence of the sub-connector 21 and the mounting error of the sub-connector 21),
This is to detect an incompletely mounted state. The connector inspection device 10 includes a base member 30 having an area covering the polarized connector 20 and a mounting state of each sub-connector 21 formed on the surface of the base member 30 corresponding to the type and shape of each sub-connector 21. And a plurality of inspection blocks 40 to be fitted into each sub-connector 21 at the time of inspection, and built into the outer or inner wall of these inspection blocks 40 to fit each inspection block 40 into each sub-connector 21. A micro switch 50 is provided as a detector that operates by contacting the inner wall or the outer wall of each sub-connector 21 when it is plugged.
【００１７】分極コネクタ２０は、図４に示すように、
種類および形状の異なる複数のサブコネクタ２１をホル
ダ２２に嵌挿して組み付けたもので、各サブコネクタ２
１は複雑な位置関係で配置されており、その詳細な構成
については、従来公知のものと同様であるので、その説
明を省略する。サブコネクタ２１は、ホルダ２２に組み
付けられた状態で、受け台９０により図板１００に対し
て所定の間隔をあけて保持されている。この受け台９０
は、図板１００の表面上に固定されている。As shown in FIG. 4, the polarization connector 20
A plurality of sub-connectors 21 of different types and shapes are fitted into a holder 22 and assembled.
Numerals 1 are arranged in a complicated positional relationship, and the detailed configuration thereof is the same as that of a conventionally known one, and thus the description thereof is omitted. The sub-connector 21 is held at a predetermined distance from the drawing board 100 by the receiving base 90 in a state where the sub-connector 21 is assembled to the holder 22. This cradle 90
Are fixed on the surface of the drawing board 100.
【００１８】ベース部材３０は、所要の厚みを有する板
状部材であって、その裏面３０ｂには、図２および図３
に示すように、把手６０が取り付けられている。すなわ
ち、検査時には、図３に示すように、この把手６０を握
って各検査ブロック４０を各サブコネクタ２１に嵌め込
めるようにしている。The base member 30 is a plate-like member having a required thickness.
The handle 60 is attached as shown in FIG. That is, at the time of inspection, as shown in FIG. 3, each inspection block 40 is fitted into each sub-connector 21 by grasping the handle 60.
【００１９】各検査ブロック４０は、図１および図２に
示すように、それぞれの高さが均一になるように加工が
施されている。これら検査ブロック４０は、それぞれ、
樹脂でモールドされベース部材３０と一体化している。As shown in FIGS. 1 and 2, each inspection block 40 is processed so that its height becomes uniform. Each of these inspection blocks 40
It is molded with resin and is integrated with the base member 30.
【００２０】各マイクロスイッチ５０は、図５に示すよ
うに、従来公知の構造を有しており、スイッチ本体５
１、接点５２およびこの接点５２に対して弾発的に接触
する接触子５３を備えている。なお、対象となるサブコ
ネクタの形状によっては、接触子５３を省略して接点５
２を直接当接させるようにしてもよい。スイッチ本体５
１は、接点５２が上側、接触子５３の基端部が下側にな
るように検査ブロック４０に取り付けられており、検査
ブロック４０のサブコネクタへの嵌め込み時にスムーズ
に作動するようにしている。各マイクロスイッチ５０の
リード線は、図１ないし図３に示すように、コルゲート
チューブ７０に挿通されて図外の合否判定器に接続され
ている。なお、コルゲートチューブ７０の端部は、ベー
ス部材３０の裏面端部に固定されているＬ字アングル８
０によって支持されている。Each of the microswitches 50 has a conventionally known structure as shown in FIG.
1, a contact 52 and a contact 53 that resiliently contacts the contact 52. Depending on the shape of the target sub-connector, the contact 53 may be omitted and the contact 5
2 may be directly contacted. Switch body 5
1 is attached to the inspection block 40 so that the contact point 52 is on the upper side and the base end of the contact 53 is on the lower side, so that the operation can be smoothly performed when the inspection block 40 is fitted into the sub-connector. As shown in FIGS. 1 to 3, the lead wire of each microswitch 50 is inserted through a corrugated tube 70 and connected to a pass / fail judgment device (not shown). The end of the corrugated tube 70 is connected to the L-shaped angle 8 fixed to the back end of the base member 30.
Supported by 0.
【００２１】上記構成において、検査に際し、把手６０
を握って各検査ブロック４０を各サブコネクタ２１に嵌
め込むと、各マイクロスイッチ５０の接触子５３が各サ
ブコネクタ２１の内壁または外壁に当接する（図５
（ｂ）参照）。接触子５３の保持力に抗して、さらに各
検査ブロック４０の嵌め込みを続けると、接触子５３が
各サブコネクタ２１の内壁または外壁に押圧される。そ
して、各検査ブロック４０の各サブコネクタ２１への嵌
め込みが終了した時点では、接触子５３が接点５２に接
触し、各マイクロスイッチ５０が作動する（図５（ｃ）
参照）。In the above configuration, the handle 60
When each test block 40 is fitted into each sub-connector 21 by grasping, the contact 53 of each micro-switch 50 comes into contact with the inner or outer wall of each sub-connector 21 (FIG. 5).
(B)). When the fitting of each inspection block 40 is further continued against the holding force of the contact 53, the contact 53 is pressed against the inner wall or the outer wall of each sub-connector 21. Then, at the time when the fitting of each inspection block 40 into each sub-connector 21 is completed, the contact 53 comes into contact with the contact 52, and each micro switch 50 operates (FIG. 5C).
reference).
【００２２】ここで、上記コネクタ検査装置１０の組立
方法について説明する。シリコン型により、サブコネク
タの種類毎に検査ブロック４０を予め複数成形（複製）
する。Here, a method of assembling the connector inspection device 10 will be described. A plurality of inspection blocks 40 are previously formed (duplicated) for each type of sub-connector using a silicon mold.
I do.
【００２３】複製した検査ブロック４０のうちから検査
対象となる各サブコネクタ２１の種類および形状に対応
したものを選択し、この選択された各検査ブロック４０
を、検査対象と同等の分極コネクタを有する模擬ホルダ
の各サブコネクタに嵌め込んで位置合わせをした後、各
検査ブロック４０の非嵌め込み側で高さが均一になる位
置を計算（マーキング）する。From the duplicated inspection blocks 40, one corresponding to the type and shape of each sub-connector 21 to be inspected is selected, and the selected inspection block 40 is selected.
Is fitted into each sub-connector of a simulation holder having a polarization connector equivalent to that of the test object, and alignment is performed. Then, the position where the height is uniform on the non-fitting side of each test block 40 is calculated (marked).
【００２４】上記マーキング後、一旦、全ての検査ブロ
ックを模擬ホルダより外し、マーキング位置に余長αを
加味して、各検査ブロック４０をバンドソーにて切断す
る。その後、正確な高さ位置を出すため、上記余長αを
フライスで切除し高さを高精度で均一に揃える。After the above marking, all the inspection blocks are once removed from the simulation holder, and each inspection block 40 is cut with a band saw, taking the extra length α into the marking position. Then, in order to obtain an accurate height position, the above-mentioned extra length α is cut off with a milling cutter, and the height is uniformly adjusted with high precision.
【００２５】上記高さを均一に揃えた各検査ブロック４
０を、再度、検査対象と同等の分極コネクタを有する模
擬ホルダの各サブコネクタに嵌め込んで位置決めすると
共に高さの揃った非嵌め込み側を下方にして成形台に載
置する。この状態で各検査サブロック４０同士を非嵌め
込み側の端部でホットメルトにより固定する。その後、
固定された検査ブロック４０の周囲にベース部材の厚み
と同高さのフェンスを立て、このフェンスの内部に、モ
ールド樹脂を流し込んでベース部材３０を形成すると共
に、上記固定された各検査ブロック４０とベース部材３
０を固定一体化する。Each inspection block 4 having the above-mentioned heights uniformly arranged
0 is again fitted and positioned in each sub-connector of the simulation holder having the same polarization connector as the inspection object, and is placed on the molding table with the non-fitting side having a uniform height downward. In this state, the inspection sub-blocks 40 are fixed to each other at the end on the non-fitting side by hot melt. afterwards,
A fence having the same height as the thickness of the base member is erected around the fixed inspection block 40, and a molding resin is poured into the fence to form the base member 30. Base member 3
0 is fixedly integrated.
【００２６】検査対象となるサブコネクタ２１の種類に
応じて、上記ベース部材３０に取付固定された各検査ブ
ロック４０の内壁または外壁にマイクロスイッチ５０を
組み込む。その後、各マイクロスイッチ５０のリード線
を整線処理して完成する。According to the type of the sub-connector 21 to be inspected, the micro switch 50 is mounted on the inner wall or the outer wall of each inspection block 40 fixed to the base member 30. After that, the lead wires of each micro switch 50 are trimmed to complete.
【００２７】図６は、本発明の第二実施形態に係るコネ
クタ検査装置１０’を示している。コネクタ検査装置１
０’は第一実施形態と同等のコネクタ検査装置に矯正部
材を取り付けた形態にしており、ほぼ一列に並ぶ各検査
ブロック４０’の間より矯正部材９５’をベース部材３
０’から突設させている。矯正部材９５’は検査対象を
傷つけないように樹脂等で形成されており、各検査ブロ
ック４０’の高さより高い寸法に設定すると共に、幅寸
法は検査対象となる各サブコネクタ間の離間距離と同等
にしている。また、先端部分９５ａ’は、エッジ部分を
面取りしてテーパ状に滑らかに仕上げている。なお、上
記矯正部材９５’は、図６の形態に限定されるものでは
なく、検査対象となる分極コネクタ２０の形態や、各サ
ブコネクタ２１やホルダ２２の歪み方向等を考慮して適
宜設けるようにしており、複数個突設するようにしても
よい。さらに、コネクタ検査装置１０’は、検査時の分
極コネクタ２０との位置合わせを容易にするために、Ｌ
字形状のガイド９７’をベース部材３０’に設けてい
る。当該ガイド９７’もホルダ形状等に合わせて適宜設
けるようにしており、位置合わせが容易な場合等は省略
してもよい。FIG. 6 shows a connector inspection apparatus 10 'according to a second embodiment of the present invention. Connector inspection device 1
Reference numeral 0 'denotes a form in which a correction member is attached to a connector inspection device equivalent to that of the first embodiment, and the correction member 95' is connected to the base member 3 from between the inspection blocks 40 'arranged substantially in a line.
It protrudes from 0 '. The correction member 95 ′ is formed of resin or the like so as not to damage the inspection target. The correction member 95 ′ is set to have a dimension higher than the height of each inspection block 40 ′, and the width dimension is determined by the separation distance between the sub-connectors to be inspected. Equal. In addition, the tip portion 95a 'is smoothed in a tapered shape by chamfering an edge portion. Note that the correction member 95 'is not limited to the configuration shown in FIG. 6, and may be provided as appropriate in consideration of the configuration of the polarization connector 20 to be inspected, the distortion direction of each sub-connector 21 and the holder 22, and the like. And a plurality of them may be protruded. Further, the connector inspection apparatus 10 ′ is provided with a connector L for facilitating alignment with the polarization connector 20 at the time of inspection.
A letter-shaped guide 97 'is provided on the base member 30'. The guide 97 'is also provided appropriately in accordance with the shape of the holder and the like, and may be omitted when the alignment is easy.
【００２８】図７（Ａ）（Ｂ）は、上記コネクタ検査装
置１０’による検査状態を示している。検査対象となる
分極コネクタ２０は、各サブコネクタ２１やホルダ２２
が樹脂で成形されているため、歪みや撓みが発生してい
る場合があり、このように歪み等が発生すると、各サブ
コネクタ２１の正規の位置よりずれている。また、ホル
ダ２２は、図板１００上で受け台９０により支持される
ため、ホルダ２２が図７（Ａ）中の白矢印方向に撓み、
さらに歪みや撓みが増幅され各サブコネクタ２１のズレ
が大きくなることもある。FIGS. 7A and 7B show an inspection state by the connector inspection apparatus 10 '. The polarization connector 20 to be inspected includes the sub-connectors 21 and the holders 22.
Is formed of resin, distortion and / or bending may occur. When such distortion or the like occurs, each sub-connector 21 is displaced from a regular position. Further, since the holder 22 is supported by the receiving base 90 on the drawing board 100, the holder 22 bends in the white arrow direction in FIG.
Further, the distortion and the bending may be amplified and the displacement of each sub-connector 21 may be increased.
【００２９】上記位置のずれた各サブコネクタ２１を検
査するために、コネクタ検査装置１０’を近づけると、
図７（Ａ）のように、矯正部材９５’が最も突出してい
るため、各サブコネクタ２１間の隙間Ｓに挿入される。
この状態よりさらにコネクタ検査装置１０’を押し込む
と、図７（Ｂ）に示すように、矯正部材９５’の幅寸法
により各サブコネクタ２１の位置が規制され、各サブコ
ネクタ２１は撓み等に反して正規の位置に戻っている。
上記正規の位置では、各サブコネクタ２１はコネクタ検
査装置１０’の各検査ブロック４０’と正対するため、
容易に嵌め込むことができ、検査作業を効率的に行うこ
とができる。In order to inspect each of the sub-connectors 21 whose positions are shifted, when the connector inspection device 10 'is brought closer,
As shown in FIG. 7A, since the correcting member 95 ′ projects most, it is inserted into the gap S between the sub-connectors 21.
When the connector inspection device 10 ′ is further pushed in from this state, as shown in FIG. 7B, the position of each sub-connector 21 is regulated by the width dimension of the correction member 95 ′, and each sub-connector 21 resists bending or the like. Back to its normal position.
In the normal position, each sub-connector 21 faces each inspection block 40 'of the connector inspection device 10',
It can be easily fitted, and the inspection work can be performed efficiently.
【００３０】本実施の形態によると、以下の作用効果を
奏する。検査ブロック４０をサブコネクタ２１に嵌め込
むことにより、サブコネクタ２１のホルダ２２への装着
状態を検査するようになっている。このとき、検査ブロ
ック４０のマイクロスイッチ５０は、検査ブロック４０
の嵌め込みに伴って、サブコネクタ２１の内壁または外
壁に当接して作動する。そのため、検査ブロック４０を
サブコネクタ２１に嵌め込んだときに、マイクロスイッ
チ５０が作動するか否かによってサブコネクタ２１の有
無を検出できる。また、検査ブロック４０を、サブコネ
クタ２１の種類および形状に対応して形成し、かつ、ベ
ース部材３０の表面にサブコネクタ２１の装着位置に対
応して取り付けている。そのため、検査ブロック４０が
サブコネクタ２１に嵌り込むか否かによってサブコネク
タ２１の装着間違い（誤品）を検出できる。すなわち、
サブコネクタ２１の有無検出に関してはマイクロスイッ
チ５０が司り、一方誤品検出に関しては検査ブロック４
０が司ることによって、両者が２種類の不完全装着状態
を確実に検出できる。その結果、従来のように接触不良
が発生せず、しかも誤品検出能力を向上させることがで
きる。According to the present embodiment, the following operation and effect can be obtained. By fitting the inspection block 40 into the sub-connector 21, the state of attachment of the sub-connector 21 to the holder 22 is inspected. At this time, the micro switch 50 of the inspection block 40
As a result, the sub-connector 21 comes into contact with the inner wall or the outer wall and operates. Therefore, when the inspection block 40 is fitted into the sub-connector 21, the presence or absence of the sub-connector 21 can be detected by determining whether or not the microswitch 50 operates. Further, the inspection block 40 is formed corresponding to the type and shape of the sub-connector 21, and is attached to the surface of the base member 30 corresponding to the mounting position of the sub-connector 21. For this reason, it is possible to detect a mounting error (wrong product) of the sub-connector 21 depending on whether or not the inspection block 40 fits into the sub-connector 21. That is,
The micro switch 50 controls the presence / absence of the sub-connector 21, while the inspection block 4 detects the incorrect product.
By controlling by 0, both can surely detect two types of incompletely mounted states. As a result, unlike the related art, a contact failure does not occur, and the erroneous product detection ability can be improved.
【００３１】上記コネクタ検査は、把手６０を握って検
査ブロック４０を分極コネクタ２０のサブコネクタ２１
に嵌め込むだけで達成される。このとき、検査ブロック
４０の保持力によりサブコネクタ２１が保持される。そ
のため、従来のように外壁およびロック機構が不要とな
り、装置の構成が簡素化する。その結果、検査の作業性
が向上すると共に製造コストが低廉化する。In the connector inspection, the inspection block 40 is grasped by the handle 60 and the inspection block 40 is connected to the sub-connector 21 of the polarization connector 20.
Achieved simply by fitting into At this time, the sub-connector 21 is held by the holding force of the inspection block 40. Therefore, the outer wall and the lock mechanism are not required as in the related art, and the configuration of the apparatus is simplified. As a result, the inspection workability is improved and the manufacturing cost is reduced.
【００３２】予め成形しておいた検査ブロック４０のう
ちから検査対象となるサブコネクタ２１の種類および形
状に対応したものを選択し、この選択された検査ブロッ
ク４０を検査対象と同等の分極コネクタを有する模擬ホ
ルダの各サブコネクタに嵌め込んで位置決めすると共
に、ベース部材３０に樹脂モールドで固定して両者を一
体化した後、検査対象となるサブコネクタ２１の種類に
応じて、検査ブロック４０の外壁または内壁にマイクロ
スイッチ４０を組込んでいる。そのため、いわゆる設計
レスで装置を製作できる。その結果、依頼から製作に至
るまでのリードタイムが短くなる。さらに、上記検査ブ
ロック４０は、他の種類の分極コネクタを検査する検査
装置を製作する際にも利用できるため、各種検査ブロッ
ク４０は汎用性が生じ、製作等に要するコストも低減で
きる。その上、ベース部材３０’より矯正部材９５’を
突設することにより、歪みや撓み等により位置がずれて
いるサブコネクタ２１やホルダ２２’を有する分極コネ
クタ２０に対しても、位置を矯正して容易に検査作業を
行うことができ、検査作業の効率を向上できる。A pre-molded inspection block 40 is selected which corresponds to the type and shape of the sub-connector 21 to be inspected, and the selected inspection block 40 is connected to a polarization connector equivalent to the inspection object. After being fitted and positioned in each sub-connector of the simulated holder having the same and fixed to the base member 30 with a resin mold to integrate them, the outer wall of the inspection block 40 is selected according to the type of the sub-connector 21 to be inspected. Alternatively, the microswitch 40 is built in the inner wall. Therefore, the device can be manufactured without design. As a result, the lead time from request to production is shortened. Further, since the inspection block 40 can be used when manufacturing an inspection device for inspecting other types of polarized connectors, the various inspection blocks 40 have versatility, and the cost required for manufacturing and the like can be reduced. In addition, by projecting the correcting member 95 ′ from the base member 30 ′, the position can be corrected even with respect to the polarized connector 20 having the sub-connector 21 or the holder 22 ′ whose position is shifted due to distortion or bending. Inspection work can be performed easily and the efficiency of the inspection work can be improved.
【００３３】本発明は、上記実施の形態に限定されるも
のではなく、本発明の請求の範囲内での種々の設計変更
および修正を加え得るのは勿論である。The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it is needless to say that various design changes and modifications can be made within the scope of the present invention.
【００３４】[0034]
【発明の効果】以上の説明から明らかな通り、本発明に
よると、接触不良の改善、ならびに誤品検出能力および
作業性の向上を達成でき、かつ、製造コストを低廉化で
きる。加えて、依頼から製作までのリードタイムを短縮
できる。As is apparent from the above description, according to the present invention, it is possible to achieve an improvement in contact failure, an improvement in erroneous product detection capability and workability, and a reduction in manufacturing cost. In addition, the lead time from request to production can be reduced.
【図１】 本発明の実施の形態に係るコネクタ検査装置
を表面側から視た状態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a state in which a connector inspection device according to an embodiment of the present invention is viewed from a front surface side.
【図２】 コネクタ検査装置を裏面側から視た状態を示
す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a state in which the connector inspection device is viewed from the back side.
【図３】 検査ブロックを分極コネクタのサブコネクタ
に嵌め込んだ状態を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a state where an inspection block is fitted into a sub-connector of a polarization connector.
【図４】 分極コネクタの構成を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a polarization connector.
【図５】 コネクタの検査手順を簡略化して示す図であ
る。FIG. 5 is a diagram showing a simplified inspection procedure of the connector.
【図６】 第二実施形態のコネクタ検査装置の斜視図で
ある。FIG. 6 is a perspective view of a connector inspection device according to a second embodiment.
【図７】 （Ａ）（Ｂ）は、第二実施形態のコネクタ検
査装置による検査状態を示す概略図である。FIGS. 7A and 7B are schematic diagrams showing an inspection state by the connector inspection device of the second embodiment.
【図８】 従来のコネクタ検査装置の構成を示す斜視図
である。FIG. 8 is a perspective view showing a configuration of a conventional connector inspection device.
１０ コネクタ検査装置 ２０ 分極コネクタ ２１ サブコネクタ ２２ ホルダ ３０ ベース部材 ４０ 検査ブロック ５０ マイクロスイッチ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Connector inspection apparatus 20 Polarization connector 21 Sub-connector 22 Holder 30 Base member 40 Inspection block 50 Micro switch
Claims (3)
の保持用ホルダへの装着状態を検査するためのものであ
って、 分極コネクタを覆う面積を有するベース部材と、 各サブコネクタの種類および形状に対応して形成されて
いると共に上記ベース部材の一の面に各サブコネクタの
装着位置に対応して取り付けられており、検査時に各サ
ブコネクタに嵌め込まれる複数の検査ブロックと、 これら検査ブロックの外壁または内壁に組み込まれてお
り、当該各検査ブロックを各サブコネクタに嵌め込むと
きに各サブコネクタの内壁または外壁に当接して作動す
る検出器とを含むことを特徴とするコネクタ検査装置。An object of the present invention is to inspect a mounting state of each sub-connector constituting a polarized connector to a holding holder, wherein the base member has an area covering the polarized connector, and a type and a shape of each sub-connector. A plurality of inspection blocks which are formed correspondingly and are attached to one surface of the base member corresponding to the mounting position of each sub-connector, and which are fitted into each sub-connector at the time of inspection; Alternatively, a connector inspection device, which is incorporated in an inner wall and includes a detector that operates when the inspection block is fitted into each sub-connector and abuts on an inner wall or an outer wall of each sub-connector.
クの高さより高い矯正部材を上記ベース部材より突設さ
せており、 各検査ブロックの各サブコネクタへの嵌め込み時に、上
記矯正部材を各サブコネクタ間に差し込んで、各サブコ
ネクタ、保持用ホルダの歪み・撓みを矯正して各サブコ
ネクタを正規位置にするように構成されていることを特
徴とする請求項１に記載のコネクタ検査装置。2. A correction member, which is higher than the height of the inspection block, protrudes from the base member between the inspection blocks. When the inspection block is fitted into each sub-connector, the correction member is connected to each sub-connector. The connector inspection device according to claim 1, wherein the connector inspection device is configured to be inserted between the connectors to correct distortion / bending of each of the sub-connectors and the holding holder so that each of the sub-connectors is in a normal position.
み立てるための方法であって、予め各種サブコネクタ別
に上記検査ブロックを複数成形しておく工程と、上記
（１）の工程で成形しておいた検査ブロックのうちから
検査対象となる各サブコネクタの種類および形状に対応
したものを選択し、この選択された各検査ブロックを、
検査対象と同等の分極コネクタを有する模擬ホルダの各
サブコネクタに嵌め込んで位置決めする工程と、上記
（２）の工程で位置決めされた各検査ブロック同士を非
嵌め込み側の端部で固定すると共にベース部材を形成し
て一体化する工程と、検査対象となる各サブコネクタの
種類に応じて、上記（３）の工程で固定された各検査ブ
ロックの外壁または内壁に検出器を組み込む工程とを含
むことを特徴とするコネクタ検査装置の組立方法。3. A method for assembling the connector inspection apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the inspection blocks are formed in advance for each sub-connector, and a step (1) is performed. From the placed inspection blocks, select the one corresponding to the type and shape of each sub-connector to be inspected, and select each selected inspection block
A step of fitting and positioning each of the sub-connectors of the simulation holder having the same polarization connector as the test object, and fixing the test blocks positioned in the above step (2) at the end on the non-fitting side and a base. A step of forming and integrating members, and a step of incorporating a detector on the outer wall or the inner wall of each inspection block fixed in the step (3) according to the type of each sub-connector to be inspected. A method for assembling a connector inspection device, comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000014412A JP2001210439A (en) | 2000-01-24 | 2000-01-24 | Connector inspection equipment and its assembling method |
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