JP2001189032A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 多層式光ディスクからの戻り光制御を行うピ
ンホールを正確に位置調整する。 【解決手段】 ピンホール36の配置位置は、情報読み
取り用レーザ光30の往路内にあるので、ビームスプリ
ッタ38とコリメータレンズ37との間にミラー71を
挿入する。このミラー71は、平行光となった情報読み
取り用レーザ光30を反射するので、コリメータレンズ
35とコリメータレンズ37との間に焦点を形成する。
この焦点位置にピンホール36を位置決めする。
ンホールを正確に位置調整する。 【解決手段】 ピンホール36の配置位置は、情報読み
取り用レーザ光30の往路内にあるので、ビームスプリ
ッタ38とコリメータレンズ37との間にミラー71を
挿入する。このミラー71は、平行光となった情報読み
取り用レーザ光30を反射するので、コリメータレンズ
35とコリメータレンズ37との間に焦点を形成する。
この焦点位置にピンホール36を位置決めする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光記録再生装置、更
に詳しくは3次元光記録媒体の複数の記録層からの戻り
光を制御するピンホールの配置部分に特徴のある光記録
再生装置に関する。
に詳しくは3次元光記録媒体の複数の記録層からの戻り
光を制御するピンホールの配置部分に特徴のある光記録
再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光ディスク等の記録媒体の次世代
超高密度光記録媒体として有望視されているものの1つ
として、3次元光記録媒体がある。
超高密度光記録媒体として有望視されているものの1つ
として、3次元光記録媒体がある。
【0003】従来の光記録媒体が記録層上に2次元的に
情報を記録するのに対して、上記の3次元光記録媒体
は、使用されるレーザの焦点深度よりも大きな膜厚を有
する記録層に2次元(平面)的に記録するだけでなく、
その層の深さ方向にも情報を記録するものであり、例え
ば深さ方向に100層記録すれば、容易に現行の100
倍の記録密度を達成することができる。
情報を記録するのに対して、上記の3次元光記録媒体
は、使用されるレーザの焦点深度よりも大きな膜厚を有
する記録層に2次元(平面)的に記録するだけでなく、
その層の深さ方向にも情報を記録するものであり、例え
ば深さ方向に100層記録すれば、容易に現行の100
倍の記録密度を達成することができる。
【0004】このような3次元光記録媒体に関する研究
報告は、記録媒体がディスク状態における記録・再生を
目的としたものではないが、例えば光連合シンポジウム
京都’92講演予稿集P39-40や第40回応用物理学関連連
合講演予稿集29p-B-11、29p-B-12に開示されている。
報告は、記録媒体がディスク状態における記録・再生を
目的としたものではないが、例えば光連合シンポジウム
京都’92講演予稿集P39-40や第40回応用物理学関連連
合講演予稿集29p-B-11、29p-B-12に開示されている。
【0005】この種の3次元光記録媒体に情報を記録再
生する光ピックアップ装置として、例えば特開平1−1
20302号公報に記載されているものがある。この光
ピックアップ装置は、少なくとも3層の記録面を重ね合
わせた構造の光記録媒体に対し、データの記録再生を行
う多層式光ディスク装置において、前記記録面の少なく
とも1つに設けられたトラッキング用の固定情報に基づ
いてトラッキングを行い、固定情報が設けられた記録面
とは異なる記録面上でデータの記録再生を行ったのち、
今度はこのデータをトラッキング情報としてトラッキン
グを行い上記記録面とは異なる記録面上でデータの記録
再生を行うようになっている。
生する光ピックアップ装置として、例えば特開平1−1
20302号公報に記載されているものがある。この光
ピックアップ装置は、少なくとも3層の記録面を重ね合
わせた構造の光記録媒体に対し、データの記録再生を行
う多層式光ディスク装置において、前記記録面の少なく
とも1つに設けられたトラッキング用の固定情報に基づ
いてトラッキングを行い、固定情報が設けられた記録面
とは異なる記録面上でデータの記録再生を行ったのち、
今度はこのデータをトラッキング情報としてトラッキン
グを行い上記記録面とは異なる記録面上でデータの記録
再生を行うようになっている。
【0006】すなわちガイドドラックから最初の1層目
は、ガイドトラックのエラー信号でトラッキングをか
け、記録後は記録したデータからトラッキングエラー信
号をつくりこの信号に基づき次のデータ記録再生を行う
といったものである。
は、ガイドトラックのエラー信号でトラッキングをか
け、記録後は記録したデータからトラッキングエラー信
号をつくりこの信号に基づき次のデータ記録再生を行う
といったものである。
【0007】このような多層式光ディスクの多層化され
た記録層のうち所望の記録層に対して情報を記録再生す
る際には、記録再生用の光ビームを所望の記録層に照射
することになるが、この光ビームは所望の記録層以外で
も反射されることになり、これが迷光となって光検出器
に入射されるため、従来、例えば特開昭63−3065
46号公報や特開平7−141689号公報等において
は、ピンホールを用いて所望の記録層以外からの戻り光
の通過を制御している。
た記録層のうち所望の記録層に対して情報を記録再生す
る際には、記録再生用の光ビームを所望の記録層に照射
することになるが、この光ビームは所望の記録層以外で
も反射されることになり、これが迷光となって光検出器
に入射されるため、従来、例えば特開昭63−3065
46号公報や特開平7−141689号公報等において
は、ピンホールを用いて所望の記録層以外からの戻り光
の通過を制御している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ピンホールは戻り光を検出する光検出器の直前に配置さ
れており、このため光ビームを多層式光ディスクに照射
した後の戻り光で迷光制御が行われるので、多層式光デ
ィスクを装置内に装着した状態でなければピンホールの
位置調整を行うことができないといった問題がある。
ピンホールは戻り光を検出する光検出器の直前に配置さ
れており、このため光ビームを多層式光ディスクに照射
した後の戻り光で迷光制御が行われるので、多層式光デ
ィスクを装置内に装着した状態でなければピンホールの
位置調整を行うことができないといった問題がある。
【0009】また、多層式光ディスクを装置内に装着し
た場合でのピンホールの位置調整においても、ディスク
の反射率のばらつきや偏心の影響を受け、正確にピンホ
ールの位置調整を行うことが難しいといった問題もあ
る。
た場合でのピンホールの位置調整においても、ディスク
の反射率のばらつきや偏心の影響を受け、正確にピンホ
ールの位置調整を行うことが難しいといった問題もあ
る。
【0010】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、多層式光ディスクからの戻り光制御を行うピン
ホールを正確に位置調整することのできる光記録再生装
置を提供することを目的としている。
であり、多層式光ディスクからの戻り光制御を行うピン
ホールを正確に位置調整することのできる光記録再生装
置を提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の光記録再生装置
は、トラッキング情報が予め記録されているサーボ層及
び情報を記録する複数の記録層を有した光記録再生媒体
に情報を記録・再生、または消去する光記録再生装置に
おいて、前記記録層に照射する記録再生用ビームを発光
する記録再生用光源と、前記記録再生用光源が発光した
前記記録再生用ビームを平行光に変換する第1のコリメ
ータレンズと、前記第1のコリメータレンズにより平行
光となった前記記録再生用ビームを集光させる第2のコ
リメータレンズと、前記第2のコリメータレンズにより
集光された前記記録再生用ビームを平行光に変換する第
3のコリメータレンズと、前記第3のコリメータレンズ
からの平行光となった前記記録再生用ビームを前記記録
層に集光させる対物レンズと、前記第2のコリメータレ
ンズと前記第3のコリメータレンズとの間に形成される
前記記録再生用ビームの集光位置に配置したピンホール
と、前記対物レンズにより前記記録層に集光された前記
記録再生用ビームの戻り光を前記ピンホールを介して検
出する戻り光再生手段とを備えて構成される。
は、トラッキング情報が予め記録されているサーボ層及
び情報を記録する複数の記録層を有した光記録再生媒体
に情報を記録・再生、または消去する光記録再生装置に
おいて、前記記録層に照射する記録再生用ビームを発光
する記録再生用光源と、前記記録再生用光源が発光した
前記記録再生用ビームを平行光に変換する第1のコリメ
ータレンズと、前記第1のコリメータレンズにより平行
光となった前記記録再生用ビームを集光させる第2のコ
リメータレンズと、前記第2のコリメータレンズにより
集光された前記記録再生用ビームを平行光に変換する第
3のコリメータレンズと、前記第3のコリメータレンズ
からの平行光となった前記記録再生用ビームを前記記録
層に集光させる対物レンズと、前記第2のコリメータレ
ンズと前記第3のコリメータレンズとの間に形成される
前記記録再生用ビームの集光位置に配置したピンホール
と、前記対物レンズにより前記記録層に集光された前記
記録再生用ビームの戻り光を前記ピンホールを介して検
出する戻り光再生手段とを備えて構成される。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について述べる。
の実施の形態について述べる。
【0013】図1及び図2は本発明の第1の実施の形態
に係わり、図1は光記録再生装置の光学系の構成を示す
構成図、図2は図1の半導体レーザのパワー制御回路の
構成を示す構成図である。
に係わり、図1は光記録再生装置の光学系の構成を示す
構成図、図2は図1の半導体レーザのパワー制御回路の
構成を示す構成図である。
【0014】図1に示すように、ディスク上に形成され
た情報記録媒体21は、グルーブを有する反射面22
と、そのグルーブを有する面上に設けられた媒質23
と、反射面22と媒質23の両側に設けられた保護層2
4とを有しており、媒質23中の異なる深さ位置に情報
が記録された複数の記録層25が形成されている。この
実施の形態では、かかる情報記録媒体21に、その媒質
23側から記録情報を読み取る情報読み取り用レーザ光
30と、フォーカス制御およびトラッキング制御を行う
ためのサーボ用レーザ光50とを照射して、所望の記録
層に記録されている情報を読み取る。なお、情報読み取
り用レーザ光30の波長は、サーボ用レーザ光50の波
長よりも短くする。
た情報記録媒体21は、グルーブを有する反射面22
と、そのグルーブを有する面上に設けられた媒質23
と、反射面22と媒質23の両側に設けられた保護層2
4とを有しており、媒質23中の異なる深さ位置に情報
が記録された複数の記録層25が形成されている。この
実施の形態では、かかる情報記録媒体21に、その媒質
23側から記録情報を読み取る情報読み取り用レーザ光
30と、フォーカス制御およびトラッキング制御を行う
ためのサーボ用レーザ光50とを照射して、所望の記録
層に記録されている情報を読み取る。なお、情報読み取
り用レーザ光30の波長は、サーボ用レーザ光50の波
長よりも短くする。
【0015】情報読み取り用レーザ光30は、半導体レ
ーザ31から出射させる。この半導体レーザ31から出
射したレーザ光は、コリメータレンズ32で平行光に変
換して偏光ビームスプリッタ33にP偏光で入射させ、
該偏光ビームスプリッタ33を透過するレーザ光を1/
4波長板34を経て円偏光となりコリメータレンズ35
に入射される。
ーザ31から出射させる。この半導体レーザ31から出
射したレーザ光は、コリメータレンズ32で平行光に変
換して偏光ビームスプリッタ33にP偏光で入射させ、
該偏光ビームスプリッタ33を透過するレーザ光を1/
4波長板34を経て円偏光となりコリメータレンズ35
に入射される。
【0016】ここで、偏光ビームスプリッタ33は、例
えばS偏光反射率Rs=100%、P偏光透過率Tp=
100%となっている。
えばS偏光反射率Rs=100%、P偏光透過率Tp=
100%となっている。
【0017】コリメータレンズ35では円偏光を集光し
ピンホール36を介してコリメータレンズ37に入射さ
れ、コリメータレンズ37で平行光となりビームスプリ
ッタ38に入射される。
ピンホール36を介してコリメータレンズ37に入射さ
れ、コリメータレンズ37で平行光となりビームスプリ
ッタ38に入射される。
【0018】ここで、ビームスプリッタ38は、例えば
反射率R=90%、透過率T=10%となっている。
反射率R=90%、透過率T=10%となっている。
【0019】平行光として入射した円偏光はビームスプ
リッタ38でその90%が直角方向に反射され、対物レ
ンズ39に入射される。対物レンズ39では入射光を情
報記録媒体21の記録層25に照射される。対物レンズ
39は、二軸アクチュエータ40により情報記録媒体2
1に対してフォーカス方向およびトラッキング方向に駆
動可能に構成する。
リッタ38でその90%が直角方向に反射され、対物レ
ンズ39に入射される。対物レンズ39では入射光を情
報記録媒体21の記録層25に照射される。対物レンズ
39は、二軸アクチュエータ40により情報記録媒体2
1に対してフォーカス方向およびトラッキング方向に駆
動可能に構成する。
【0020】情報記録媒体21からの戻り光は円偏光と
なって再び対物レンズ39に入射されて、往路とは逆の
経路をたどって、ビームスプリッタ38に進み、コリメ
ータレンズ37、ピンホール36及びコリメータレンズ
35を介して1/4波長板34に入射され、円偏光の戻
り光が1/4波長板34でS偏光となる。そしてS偏光
となった戻り光が偏光ビームスプリッタ33で直角方向
に反射され、コリメータレンズ41により光検出器42
に集光されて検出され、その出力に基づいて情報記録媒
体21の所望の記録層25に記録されている情報を再生
する。
なって再び対物レンズ39に入射されて、往路とは逆の
経路をたどって、ビームスプリッタ38に進み、コリメ
ータレンズ37、ピンホール36及びコリメータレンズ
35を介して1/4波長板34に入射され、円偏光の戻
り光が1/4波長板34でS偏光となる。そしてS偏光
となった戻り光が偏光ビームスプリッタ33で直角方向
に反射され、コリメータレンズ41により光検出器42
に集光されて検出され、その出力に基づいて情報記録媒
体21の所望の記録層25に記録されている情報を再生
する。
【0021】一方、平行光としてビームスプリッタ38
に入射した円偏光は、その10%がビームスプリッタ3
8を透過してコリメータレンズ43により前方モニタ光
検出器(以下、MPDと記す)44に集光され検出され
る。
に入射した円偏光は、その10%がビームスプリッタ3
8を透過してコリメータレンズ43により前方モニタ光
検出器(以下、MPDと記す)44に集光され検出され
る。
【0022】一方、サーボ用レーザ光50は、光源ユニ
ット51から出射させる。この光源ユニット51には、
半導体レーザ52、光検出器53およびホログラム54
を設け、半導体レーザ52からホログラム54を経て、
情報読み取り用レーザ光30とは異なる波長のサーボ用
レーザ光50を出射させる。この光源ユニット51から
のサーボ用レーザ光50は、コリメータレンズ55で平
行光にした後、ビームスプリッタ38を完全透過させて
対物レンズ39により情報記録媒体21の反射面22上
に集光させる。コリメータレンズ55は、一軸アクチュ
エータ56によりフォーカス方向に駆動可能に構成す
る。
ット51から出射させる。この光源ユニット51には、
半導体レーザ52、光検出器53およびホログラム54
を設け、半導体レーザ52からホログラム54を経て、
情報読み取り用レーザ光30とは異なる波長のサーボ用
レーザ光50を出射させる。この光源ユニット51から
のサーボ用レーザ光50は、コリメータレンズ55で平
行光にした後、ビームスプリッタ38を完全透過させて
対物レンズ39により情報記録媒体21の反射面22上
に集光させる。コリメータレンズ55は、一軸アクチュ
エータ56によりフォーカス方向に駆動可能に構成す
る。
【0023】また、情報記録媒体21で反射されるサー
ボ用レーザ光50は、往路とは逆の経路をたどって、対
物レンズ39、ビームスプリッタ38およびコリメータ
レンズ55を経て光源ユニット51のホログラム54に
入射させて回折させ、公知のビームサイズ法やフーコー
法等によりフォーカスエラー信号を検出し、プッシュプ
ル法等によりトラッキングエラー信号を検出する。
ボ用レーザ光50は、往路とは逆の経路をたどって、対
物レンズ39、ビームスプリッタ38およびコリメータ
レンズ55を経て光源ユニット51のホログラム54に
入射させて回折させ、公知のビームサイズ法やフーコー
法等によりフォーカスエラー信号を検出し、プッシュプ
ル法等によりトラッキングエラー信号を検出する。
【0024】対物レンズ39およびコリメータレンズ5
5は、読み取るべき所望の記録層25の位置に応じてフ
ォーカス方向に駆動し、さらに対物レンズ39は上記フ
ォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に基
づいてフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動し
て、情報読み取り用レーザ光30が所望の記録層25に
集光し、かつサーボ用レーザ光50が反射面22上に集
光して所望の情報トラックを追従するように制御する。
5は、読み取るべき所望の記録層25の位置に応じてフ
ォーカス方向に駆動し、さらに対物レンズ39は上記フ
ォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に基
づいてフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動し
て、情報読み取り用レーザ光30が所望の記録層25に
集光し、かつサーボ用レーザ光50が反射面22上に集
光して所望の情報トラックを追従するように制御する。
【0025】二軸アクチュエータ40は、光検出器42
で受光し得られた記録データと光検出器53で検出され
たトラッキングエラー信号とに基づいて制御・駆動され
る。
で受光し得られた記録データと光検出器53で検出され
たトラッキングエラー信号とに基づいて制御・駆動され
る。
【0026】次に、半導体レーザ31のパワー制御につ
いて説明する。図2に示すように、MPD44の光電変
換電流を電流電圧変換素子61により電圧信号に変換
し、この電圧信号を演算増幅器62の(+)端子に入力
する。一方、CPU63は目標値を出力しD/A変換器
64でアナログ信号として演算増幅器62の(−)端子
に入力する。そして、演算増幅器62で差分が0となる
ように半導体レーザドライバ65を制御し、半導体レー
ザドライバ65はこの制御に基づき半導体レーザ31の
パワー制御を行う。
いて説明する。図2に示すように、MPD44の光電変
換電流を電流電圧変換素子61により電圧信号に変換
し、この電圧信号を演算増幅器62の(+)端子に入力
する。一方、CPU63は目標値を出力しD/A変換器
64でアナログ信号として演算増幅器62の(−)端子
に入力する。そして、演算増幅器62で差分が0となる
ように半導体レーザドライバ65を制御し、半導体レー
ザドライバ65はこの制御に基づき半導体レーザ31の
パワー制御を行う。
【0027】なお、電流電圧変換素子61からの電圧信
号をA/D変換してCPU63に入力しCPU63内で
演算処理を行い、演算結果に応じたデジタル出力をD/
A変換して半導体レーザドライバ65の指示値として半
導体レーザ31のパワー制御を行うようにしてもよい。
号をA/D変換してCPU63に入力しCPU63内で
演算処理を行い、演算結果に応じたデジタル出力をD/
A変換して半導体レーザドライバ65の指示値として半
導体レーザ31のパワー制御を行うようにしてもよい。
【0028】また、本実施の形態では、情報記録媒体2
1の反射率が低い場合を想定し、偏光ビームスプリッタ
33と1/4波長板34にてアイソレータを構成する構
造としたが、十分に反射率が高い情報記録媒体の場合、
1/4波長板を使用せず、偏光ビームスプリッタの代わ
りに通常のハーフミラーや無偏光ビームスプリッタとす
ることができる。
1の反射率が低い場合を想定し、偏光ビームスプリッタ
33と1/4波長板34にてアイソレータを構成する構
造としたが、十分に反射率が高い情報記録媒体の場合、
1/4波長板を使用せず、偏光ビームスプリッタの代わ
りに通常のハーフミラーや無偏光ビームスプリッタとす
ることができる。
【0029】次に本実施の形態におけるピンホール36
の位置調整について説明する。上述したように本実施の
形態でのピンホール36の配置位置は、図1に示すよう
に、情報読み取り用レーザ光30の往路内にあるので、
ビームスプリッタ38とコリメータレンズ37との間に
ミラー71を挿入する。このミラー71は、平行光とな
った情報読み取り用レーザ光30を反射するので、コリ
メータレンズ35とコリメータレンズ37との間に焦点
を形成する。この焦点位置にピンホール36を位置決め
する。
の位置調整について説明する。上述したように本実施の
形態でのピンホール36の配置位置は、図1に示すよう
に、情報読み取り用レーザ光30の往路内にあるので、
ビームスプリッタ38とコリメータレンズ37との間に
ミラー71を挿入する。このミラー71は、平行光とな
った情報読み取り用レーザ光30を反射するので、コリ
メータレンズ35とコリメータレンズ37との間に焦点
を形成する。この焦点位置にピンホール36を位置決め
する。
【0030】ここで、例えば 情報読み取り用レーザ光30:波長λ=680nm 対物レンズ39:焦点距離=3.0mm、NA=0.5
5 コリメータレンズ32,41,43:焦点距離=12m
m コリメータレンズ35,37:焦点距離=20mm ピンホール36:半径r=3.8×λ/NA(2π)=
3.3μm ただし、ピンホール半径は、エアリーディスク半径
(「光ディスク技術」:ラジオ技術社発行、P27〜P
28参照)と等価としている。
5 コリメータレンズ32,41,43:焦点距離=12m
m コリメータレンズ35,37:焦点距離=20mm ピンホール36:半径r=3.8×λ/NA(2π)=
3.3μm ただし、ピンホール半径は、エアリーディスク半径
(「光ディスク技術」:ラジオ技術社発行、P27〜P
28参照)と等価としている。
【0031】このように本実施の形態によれば、ピンホ
ール36の配置位置を情報読み取り用レーザ光30の往
路内としているので、情報記録媒体21を介在させるこ
となくピンホール36の位置調整を行うことができると
共に、対物レンズ39による影響も排除でき、多層式光
ディスクである情報記録媒体21からの戻り光制御を行
うピンホールを正確に位置調整することができる。
ール36の配置位置を情報読み取り用レーザ光30の往
路内としているので、情報記録媒体21を介在させるこ
となくピンホール36の位置調整を行うことができると
共に、対物レンズ39による影響も排除でき、多層式光
ディスクである情報記録媒体21からの戻り光制御を行
うピンホールを正確に位置調整することができる。
【0032】また、ピンホール36の配置位置を情報読
み取り用レーザ光30の往路内としているため、情報読
み取り用レーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等
にて光学部品等位の位置変動により変化した場合は、ピ
ンホールでの光のけられが発生し、これら変動が検出結
果に影響を及ぼす虞があるが、本実施の形態では、ピン
ホール36より往路後方にMPD44を配置すること
で、ピンホール36通過後の実際に情報記録媒体21に
入射する光量と、MPD44に入射する光量との相関を
正確に検出できるので、上記変動による検出結果の影響
を排除することができる。
み取り用レーザ光30の往路内としているため、情報読
み取り用レーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等
にて光学部品等位の位置変動により変化した場合は、ピ
ンホールでの光のけられが発生し、これら変動が検出結
果に影響を及ぼす虞があるが、本実施の形態では、ピン
ホール36より往路後方にMPD44を配置すること
で、ピンホール36通過後の実際に情報記録媒体21に
入射する光量と、MPD44に入射する光量との相関を
正確に検出できるので、上記変動による検出結果の影響
を排除することができる。
【0033】図3ないし図5は本発明の第2の実施の形
態に係わり、図3は光記録再生装置の光学系の構成を示
す構成図、図4は図3のピンホールアクチュエータの制
御回路の構成を示す構成図、図5は図4のCPUの制御
の流れを示すフローチャートである。
態に係わり、図3は光記録再生装置の光学系の構成を示
す構成図、図4は図3のピンホールアクチュエータの制
御回路の構成を示す構成図、図5は図4のCPUの制御
の流れを示すフローチャートである。
【0034】第2の実施の形態は、第1の実施の形態と
ほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の
構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
ほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の
構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
【0035】第1の実施の形態では、情報読み取り用レ
ーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等にて光学部
品等位の位置変動により変化した場合の影響を、ピンホ
ール36より往路後方にMPD44を配置することで、
ピンホール36通過後の実際に情報記録媒体21に入射
する光量と、MPD44に入射する光量との相関を検出
し排除するとしたが、本実施の形態では、上記の情報読
み取り用レーザ光30の光軸の変化に応じて、ピンホー
ル36の位置調整を行うものであり、図3に示すよう
に、ピンホール36は第1の実施の形態と同様にミラー
71を用いて所定の位置に位置調整されており、本実施
の形態の偏光ビームスプリッタ33aは、例えばS偏光
反射率Rs=100%、P偏光透過率Tp=90%、P
偏光反射率Rp=10%となっている。また、ビームス
プリッタ38は、S偏光反射率Rs=100%、P偏光
反射率Rp=90%(Tp=10%)となっている。
ーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等にて光学部
品等位の位置変動により変化した場合の影響を、ピンホ
ール36より往路後方にMPD44を配置することで、
ピンホール36通過後の実際に情報記録媒体21に入射
する光量と、MPD44に入射する光量との相関を検出
し排除するとしたが、本実施の形態では、上記の情報読
み取り用レーザ光30の光軸の変化に応じて、ピンホー
ル36の位置調整を行うものであり、図3に示すよう
に、ピンホール36は第1の実施の形態と同様にミラー
71を用いて所定の位置に位置調整されており、本実施
の形態の偏光ビームスプリッタ33aは、例えばS偏光
反射率Rs=100%、P偏光透過率Tp=90%、P
偏光反射率Rp=10%となっている。また、ビームス
プリッタ38は、S偏光反射率Rs=100%、P偏光
反射率Rp=90%(Tp=10%)となっている。
【0036】そして、偏光ビームスプリッタ33aで反
射された、P偏光の情報読み取り用レーザ光30の10
%がコリメータレンズ80を介してMPD81で検出で
きるようになっている。また、ピンホール36はピンホ
ールアクチュエータ82により光軸に対して垂直な平面
上のX軸Y軸の2軸方向に移動可能になっている。
射された、P偏光の情報読み取り用レーザ光30の10
%がコリメータレンズ80を介してMPD81で検出で
きるようになっている。また、ピンホール36はピンホ
ールアクチュエータ82により光軸に対して垂直な平面
上のX軸Y軸の2軸方向に移動可能になっている。
【0037】ピンホールアクチュエータ82の制御で
は、図4に示すように、第1の電流電圧変換素子83で
MPD44の光電変換電流を電圧信号に変換し、第2の
電流電圧変換素子84でMPD81の光電変換電流を電
圧信号に変換する。そして、第1の電流電圧変換素子8
3からの電圧信号を演算増幅器85の(−)端子に入力
し、第2の電流電圧変換素子84からの電圧信号を演算
増幅器85の(+)端子に入力する。演算増幅器85で
差分を演算し、演算結果をA/D変換器86を介してC
PU87に出力する。CPU87では演算結果に応じた
指示値をデジタル信号で出力し、D/A変換器88でD
/A変換されてピンホールアクチュエータドライバ89
に入力される。そして、ピンホールアクチュエータドラ
イバ89は指示値に基づきピンホールアクチュエータ8
2を駆動制御する。
は、図4に示すように、第1の電流電圧変換素子83で
MPD44の光電変換電流を電圧信号に変換し、第2の
電流電圧変換素子84でMPD81の光電変換電流を電
圧信号に変換する。そして、第1の電流電圧変換素子8
3からの電圧信号を演算増幅器85の(−)端子に入力
し、第2の電流電圧変換素子84からの電圧信号を演算
増幅器85の(+)端子に入力する。演算増幅器85で
差分を演算し、演算結果をA/D変換器86を介してC
PU87に出力する。CPU87では演算結果に応じた
指示値をデジタル信号で出力し、D/A変換器88でD
/A変換されてピンホールアクチュエータドライバ89
に入力される。そして、ピンホールアクチュエータドラ
イバ89は指示値に基づきピンホールアクチュエータ8
2を駆動制御する。
【0038】上記ピンホールアクチュエータ82の制御
回路構成において、ピンホールの変動許容値を30%と
仮定すると、このときのMPD44の入射光量変化は約
5%程度となる。
回路構成において、ピンホールの変動許容値を30%と
仮定すると、このときのMPD44の入射光量変化は約
5%程度となる。
【0039】また、半導体レーザ31の出射光量を1と
した場合の各MPDへの入射光量は以下の通りとなる。
ただし、このときのピンホールでの光量変化はないもの
とする。
した場合の各MPDへの入射光量は以下の通りとなる。
ただし、このときのピンホールでの光量変化はないもの
とする。
【0040】(1)MPD44への入射光量=1×0.
9×0.05=0.045(4.5%) (2)MPD81への入射光量=1×0.1=0.1
(10%) したがって、MPD44とMPD81との入射光量比は
初期でMPD44の入射光量:MPD81の入射光量=
9:20となる。
9×0.05=0.045(4.5%) (2)MPD81への入射光量=1×0.1=0.1
(10%) したがって、MPD44とMPD81との入射光量比は
初期でMPD44の入射光量:MPD81の入射光量=
9:20となる。
【0041】そこで、MPD44の光電変換効率とMP
D81の光電変換効率とを MPD44の光電変換効率:MPD81の光電変換効率
=20:9 に設定すれば、図4に示した回路でピンホールアクチュ
エータ82の制御が可能となる。
D81の光電変換効率とを MPD44の光電変換効率:MPD81の光電変換効率
=20:9 に設定すれば、図4に示した回路でピンホールアクチュ
エータ82の制御が可能となる。
【0042】ここで、A/D変換器86及びD/A変換
器88でのビット割付は、上記MPD44のパワー変動
許容値5%以下より、十分小さく設定する必要がある。
器88でのビット割付は、上記MPD44のパワー変動
許容値5%以下より、十分小さく設定する必要がある。
【0043】次に、本実施の形態の作用について説明す
る。まず、CPU87は、以下の現象発生時、すなわ
ち、 (1)多層式光ディスクである情報記録媒体21の挿入
による電源起動時 (2)多層式光ディスクである情報記録媒体21の挿入
時 (3)内部温度変動時(図示しない内部温度センサによ
り所定値を越える温度変動量が検出された時) (4)MPD44の入射光量変化発生時 (5)記録・再生動作不良発生時 にピンホール位置調整フラグをONする。
る。まず、CPU87は、以下の現象発生時、すなわ
ち、 (1)多層式光ディスクである情報記録媒体21の挿入
による電源起動時 (2)多層式光ディスクである情報記録媒体21の挿入
時 (3)内部温度変動時(図示しない内部温度センサによ
り所定値を越える温度変動量が検出された時) (4)MPD44の入射光量変化発生時 (5)記録・再生動作不良発生時 にピンホール位置調整フラグをONする。
【0044】CPU87では、図5に示すように、ステ
ップS1でピンホール位置調整フラグがONかどうか判
断し、ピンホール位置調整フラグがONの場合はステッ
プS2で演算増幅器85で演算結果、すなわち、A/D
変換器86の出力をチェックし、ステップS3でA/D
変換器86の出力に基づきMPD44のパワー変動が5
%を越えているかどうか判断する。MPD44のパワー
変動が5%を越えている場合は、ステップS4でピンホ
ールアクチュエータ82のX軸アクチュエータを粗調整
し、続いてステップS5でピンホールアクチュエータ8
2のY軸アクチュエータを調整し、さらにステップS6
でピンホールアクチュエータ82のX軸アクチュエータ
を微調整してA/D変換器86の出力を所定の目標値以
下に制御する。
ップS1でピンホール位置調整フラグがONかどうか判
断し、ピンホール位置調整フラグがONの場合はステッ
プS2で演算増幅器85で演算結果、すなわち、A/D
変換器86の出力をチェックし、ステップS3でA/D
変換器86の出力に基づきMPD44のパワー変動が5
%を越えているかどうか判断する。MPD44のパワー
変動が5%を越えている場合は、ステップS4でピンホ
ールアクチュエータ82のX軸アクチュエータを粗調整
し、続いてステップS5でピンホールアクチュエータ8
2のY軸アクチュエータを調整し、さらにステップS6
でピンホールアクチュエータ82のX軸アクチュエータ
を微調整してA/D変換器86の出力を所定の目標値以
下に制御する。
【0045】このように本実施の形態では、情報読み取
り用レーザ光30の光軸の変化に応じて、ピンホールア
クチュエータ82によりピンホール36の位置調整を行
うので、第1の実施の形態の効果に加え、情報読み取り
用レーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等にて光
学部品等の位置変動により変化した場合の影響を許容範
囲内で確実に排除することができる。
り用レーザ光30の光軸の変化に応じて、ピンホールア
クチュエータ82によりピンホール36の位置調整を行
うので、第1の実施の形態の効果に加え、情報読み取り
用レーザ光30の光軸が環境変化及び経時変化等にて光
学部品等の位置変動により変化した場合の影響を許容範
囲内で確実に排除することができる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、多
層式光ディスクからの戻り光制御を行うピンホールを正
確に位置調整することができるという効果がある。
層式光ディスクからの戻り光制御を行うピンホールを正
確に位置調整することができるという効果がある。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る光記録再生装
置の光学系の構成を示す構成図
置の光学系の構成を示す構成図
【図2】図1の半導体レーザのパワー制御回路の構成を
示す構成図
示す構成図
【図3】本発明の第2の実施の形態に係る光記録再生装
置の光学系の構成を示す構成図、
置の光学系の構成を示す構成図、
【図4】図3のピンホールアクチュエータの制御回路の
構成を示す構成図
構成を示す構成図
【図5】図4のCPUの制御の流れを示すフローチャー
ト
ト
21…情報記録媒体 22…反射面 23…媒質 24…保護層 25…記録層 30…情報読み取り用レーザ光 31…半導体レーザ 32、35、37、41、43、55…コリメータレン
ズ 33…偏光ビームスプリッタ 34…1/4波長板 36…ピンホール 38…ビームスプリッタ 39…対物レンズ 40…二軸アクチュエータ 42…光検出器 44…MPD 50…サーボ用レーザ光 51…光源ユニット 52…半導体レーザ 53…光検出器 54…ホログラム 56…一軸アクチュエータ
ズ 33…偏光ビームスプリッタ 34…1/4波長板 36…ピンホール 38…ビームスプリッタ 39…対物レンズ 40…二軸アクチュエータ 42…光検出器 44…MPD 50…サーボ用レーザ光 51…光源ユニット 52…半導体レーザ 53…光検出器 54…ホログラム 56…一軸アクチュエータ
Claims (4)
- 【請求項1】 トラッキング情報が予め記録されている
サーボ層及び情報を記録する複数の記録層を有した光記
録再生媒体に情報を記録・再生、または消去する光記録
再生装置において、 前記記録層に照射する記録再生用ビームを発光する記録
再生用光源と、 前記記録再生用光源が発光した前記記録再生用ビームを
平行光に変換する第1のコリメータレンズと、 前記第1のコリメータレンズにより平行光となった前記
記録再生用ビームを集光させる第2のコリメータレンズ
と、 前記第2のコリメータレンズにより集光された前記記録
再生用ビームを平行光に変換する第3のコリメータレン
ズと、 前記第3のコリメータレンズからの平行光となった前記
記録再生用ビームを前記記録層に集光させる対物レンズ
と、 前記第2のコリメータレンズと前記第3のコリメータレ
ンズとの間に形成される前記記録再生用ビームの集光位
置に配置したピンホールと、 前記対物レンズにより前記記録層に集光された前記記録
再生用ビームの戻り光を前記ピンホールを介して検出す
る戻り光再生手段とを備えたことを特徴とする光記録再
生装置。 - 【請求項2】 前記ピンホールを通過した光を検出する
ピンホール通過光検出手段を備えたことを特徴とする請
求項1に記載の光記録再生装置。 - 【請求項3】 前記ピンホールを前記記録再生用ビーム
の光軸に垂直な面で移動するピンホール移動手段を備え
たことを特徴とする請求項2に記載の光記録再生装置。 - 【請求項4】 前記記録再生用光源が発光した前記記録
再生用ビームを検出する記録再生用ビーム検出手段と、 前記ピンホール通過光検出手段の検出結果及び前記記録
再生用ビーム検出手段の検出結果に基づきピンホール移
動手段を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする
請求項3に記載の光記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37470799A JP2001189032A (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37470799A JP2001189032A (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 光記録再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001189032A true JP2001189032A (ja) | 2001-07-10 |
Family
ID=18504301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP37470799A Withdrawn JP2001189032A (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001189032A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006323926A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Ricoh Co Ltd | 記録再生装置 |
JP2007141357A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Sony Corp | 光ピックアップおよびディスクドライブ装置 |
-
1999
- 1999-12-28 JP JP37470799A patent/JP2001189032A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006323926A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Ricoh Co Ltd | 記録再生装置 |
JP4481874B2 (ja) * | 2005-05-18 | 2010-06-16 | 株式会社リコー | 記録再生装置 |
JP2007141357A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Sony Corp | 光ピックアップおよびディスクドライブ装置 |
JP4655222B2 (ja) * | 2005-11-18 | 2011-03-23 | ソニー株式会社 | 光ピックアップおよびディスクドライブ装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070306 |