JP2001183402A - Probing device for measuring impedance of printed circuit board - Google Patents
Probing device for measuring impedance of printed circuit boardInfo
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント基板
（配線板）に設けるテストパターン（テストクーポン）
部のインピーダンスを測定するために、プローブピンを
テストパターン部の測定ポイント（一般にはグランド端
子と信号端子）に接触させるプロービング装置に関する
ものである。The present invention relates to a test pattern (test coupon) provided on a printed circuit board (wiring board).
The present invention relates to a probing device for bringing a probe pin into contact with a measurement point (generally, a ground terminal and a signal terminal) of a test pattern section to measure the impedance of the section.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来においては、この種のプロービング
は、手持ち型（ハンディ型）の高周波プローブユニット
（プローブホルダ）による手操作（手動）方式で行われ
ている。2. Description of the Related Art Conventionally, this type of probing is performed manually (manually) using a hand-held (hand-held) high-frequency probe unit (probe holder).
【０００３】しかしこのような手操作のプロービング方
式には、プローブピンの測定ポイントに対する接触状態
が一定にならず、測定精度を上げるためには、各測定ポ
イントについて数回以上の測定を行い、それらの平均値
を測定値として採用するという形態を取らざるを得ない
状況にある。[0003] However, in such a manual probing method, the contact state of the probe pin to the measurement point is not constant, and in order to increase the measurement accuracy, measurement is performed several times or more at each measurement point. Has to take the form of adopting the average value as the measured value.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記のよ
うな状況に鑑み、プローブピンの各測定ポイントに対す
る接触状態を一定にして、インピーダンスの測定能率を
アップすることを課題としている。SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above situation, an object of the present invention is to improve the impedance measurement efficiency by keeping the contact state of the probe pin at each measurement point constant.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明に係るプロービ
ング装置は、装置ベース上に、左右の両端部近傍を前後
に平行にのびる左右の前後リニアウエイ（ガイドレー
ル）と、左右の前後リニアウエイ間域に延在する、測定
補助板を介してプリント基板を設置するための測定ベー
スを設け、左右の前後リニアウエイに、両前後リニアウ
エイ間を左右にのびるとともに各端部に各前後リニアウ
エイにスライド係合するクランプ付きスライダを有する
左右リニアウエイ付きブリッジ（架橋）台を、クランプ
の弛緩と締付けを介して、前後に移動可能にかつ任意の
位置で固定可能に支持し、さらにブリッジ台の左右リニ
アウエイに、該左右リニアウエイにスライド係合するク
ランプ付きスライダを有するプローブ台を、クランプの
弛緩と締付けを介して、左右に移動可能にかつ任意の位
置で固定可能に係合するとともに、該プローブ台に、揺
動式操作ハンドルを介して昇降可能なプローブホルダを
取り付けた構成からなる。A probing apparatus according to the present invention comprises a left and right front and rear linear ways (guide rails) extending in the front and rear directions in the vicinity of both right and left ends on a device base, and a left and right front and rear linear way. Provide a measurement base for installing the printed circuit board via the measurement auxiliary plate extending to the area, extend to the left and right front and rear linear ways, extend between the front and rear linear ways to the left and right, and to each front and rear linear way at each end A bridge (bridge) with left and right linear ways having a slider with a clamp that slides and engages is supported so that it can be moved back and forth and can be fixed at any position through loosening and tightening of the clamp. A probe base having a slider with a clamp that slides and engages with the right and left linear ways is attached to the linear way through loosening and tightening of the clamp. , It is fixed engaging in movable and any position in the left and right, to the probe base, made of construction fitted with vertically movable probe holder through a rocking type operating handle.
【０００６】この発明のプロービング装置においては、
測定ベース上に、インピーダンス測定用のプリント基板
のテストクーポン対応部に測定ベースとの間の容量結合
防止用の切り欠き（切り抜き、溝、貫通穴など）を有す
る測定補助板を介して、インピーダンス測定用プリント
基板を、テストクーポン部が測定補助板の切り欠きに対
応するように設置した後、ブリッジ台の前後リニアウエ
イに沿う前後方向の移動と、プローブ台の左右リニアウ
エイに沿う左右方向の移動を介して、プローブホルダに
保持するプローブに付設の複数のプローブピン（一般に
はグランド端子用と信号端子用）を、プリント基板のテ
ストクーポンの測定ポイント（一般にはグランド端子と
信号端子）の真上に位置する状態にし、この状態をクラ
ンプによって固定し、この後揺動式操作ハンドルの揺動
を介して、各プローブピンをプリント基板の測定ポイン
トに接触させて、インピーダンスの測定を行う。[0006] In the probing apparatus of the present invention,
Impedance measurement via a measurement auxiliary plate with a notch (cutout, groove, through hole, etc.) for preventing capacitive coupling between the measurement base and the test coupon corresponding part of the printed circuit board for impedance measurement on the measurement base After mounting the printed circuit board so that the test coupon part corresponds to the notch of the measurement auxiliary plate, move the bridge table in the front-back direction along the front-rear linear way, and move the probe table in the left-right direction along the left-right linear way. Through a plurality of probe pins (generally for ground and signal terminals) attached to the probe held in the probe holder, directly above the measurement points (generally, ground and signal terminals) of the test coupon on the printed circuit board To the position, and fix this state with a clamp. Bupin and is brought into contact with the printed circuit board measuring points, the measurement of impedance.
【０００７】測定補助板を介してプリント基板を設置す
る測定ベースには、これらの位置決めのために、これら
のエッジを当接させるための位置決めエッジストッパ
（エッジガイド）類や、これらの適宜の位置に設ける位
置決め穴に挿入するための位置決めピン類などの位置決
め手段を設けることができる。[0007] A positioning base stopper (edge guide) for bringing these edges into contact with the measuring base on which the printed circuit board is installed via the measuring auxiliary plate, and an appropriate position thereof. Positioning means such as positioning pins for insertion into positioning holes provided in the device can be provided.
【０００８】装置ベースと測定ベースは、静電気対策の
ために、一般には、アルミニウム板で形成する。The device base and the measurement base are generally formed of an aluminum plate to prevent static electricity.
【０００９】各スライダに付設するクランプは、クラン
プねじ類を有するストラドル形等で構成することができ
る。The clamp attached to each slider can be formed in a straddle shape having clamp screws and the like.
【００１０】プローブホルダ昇降用の揺動式操作ハンド
ルは、トグルリンク機構などを介して、プローブホルダ
に連結することができる。The swing operation handle for raising and lowering the probe holder can be connected to the probe holder via a toggle link mechanism or the like.
【００１１】また操作ハンドルによるプローブホルダの
下降時におけるプローブピンのプリント基板に対する接
触、接触解除を少ストロークで効率的にかつ緩衝的に行
うために、プローブホルダの下方のプローブ台部に、少
なくともプローブホルダの昇降行程の下部（上昇行程の
前部及び下降行程の後部）においてプローブホルダに上
方付勢力を作用する上方付勢ばねを設けることができ
る。In order to efficiently and cushion the contact and release of the probe pins with the printed board with a small stroke when the probe holder is lowered by the operating handle, at least the probe is provided on the probe base below the probe holder. An upper biasing spring that applies an upward biasing force to the probe holder can be provided at a lower portion of the holder lifting process (a front portion of the rising process and a rear portion of the lowering process).
【００１２】プローブホルダは、クランプねじ類付きの
クランプ構造などによって、プローブを長さ方向の任意
の位置で保持可能にして、プリント基板の厚さなどに応
じて、プローブピンのプリント基板に対する間隔を調節
可能にする。The probe holder enables the probe to be held at an arbitrary position in the longitudinal direction by a clamp structure having clamp screws and the like, and the distance between the probe pins and the printed circuit board is adjusted according to the thickness of the printed circuit board. Make it adjustable.
【００１３】[0013]
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて、この発明の
プロービング装置の実施形態を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a probing apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１４】図示した実施形態においては、アルミニウ
ム板製の方形の装置ベース１１における左右（横方向）
の両端近傍部に、左右一対の前後（縦）リニアウエイ１
２が固定されている一方、両前後リニアウエイ１２で挟
まれた領域の実質部上に、隣接する前側縁と右側縁の両
近傍部に位置決めエッジストッパ１４を有するアルミニ
ウム板製の方形の測定ベース１３が固定されており、容
量結合防止用の切り欠き１６を有する測定補助板１５及
びグランド端子４７と信号端子４８を設けたテストクー
ポン部４６を有するプリント基板４５を、切り欠き１６
の部分にテストクーポン部４６が重なる関係位置で、対
応する位置決めエッジストッパに１４にエッジを当接さ
せることによって、測定ベース１３上に位置決めして設
置する。In the illustrated embodiment, a left-right (lateral) direction of a rectangular device base 11 made of an aluminum plate is used.
A pair of front and rear (vertical) linear ways 1
2 is fixed, while a positioning edge stopper 14 is provided on the substantial part of the area sandwiched by the front and rear linear ways 12 at both adjacent portions of the front edge and the right edge adjacent thereto. 13 is fixed, and the printed circuit board 45 having the test coupon portion 46 having the measurement auxiliary plate 15 having the notch 16 for preventing capacitive coupling and the ground terminal 47 and the signal terminal 48 is connected to the notch 16.
At the position where the test coupon portion 46 overlaps the portion, the edge is brought into contact with the corresponding positioning edge stopper 14 so as to be positioned and installed on the measurement base 13.
【００１５】ブリッジ台２１の各端部に付設の各前後リ
ニアウエイ１２にスライド係合するスライダ２２及びブ
リッジ台２１に付設の左右（横）リニアウエイ２３にス
ライド係合する、プローブ台２６に付設のスライダ２７
は、ハンドル付きクランプねじ２５、２９付きのクラン
プ２４、２８を介して、前後リニアウエイ１２及び左右
リニアウエイ２３を抱き締めたり抱き締めを弛めたりす
ることが可能なスプリット付きストラドル形で、このク
ランプ２４，２８の弛緩と締付けを介したブリッジ台２
１の前後方向の移動、固定及びプローブ台２６の左右方
向の移動、固定によって、プローブ台２６を、昇降可能
なプローブホルダ３０に長さ方向の中間部をクランプね
じ３４による固定を介して保持したプローブ３１の下端
部における複数（図示例では３本）のグランド用プロー
ブピン３２と１本の信号用プローブピン３３が、プリン
ト基板４５のテストクーポン部４６の測定ポイント（グ
ランド端子４７、信号端子４８）に対向する位置で固定
する。A slider 22 slidably engaged with each of the front and rear linear ways 12 provided at each end of the bridge base 21 and a probe base 26 slidably engaged with left and right (horizontal) linear ways 23 provided on the bridge base 21. Slider 27
Is a straddle type with a split that can hug or loosen the front and rear linear way 12 and the left and right linear way 23 via clamps 24 and 28 with handle clamp screws 25 and 29, respectively. , 2 through the relaxation and tightening of 28
The probe table 26 is held by the vertically movable probe holder 30 via a clamp screw 34 by fixing the probe table 26 to the vertically movable probe holder 30 by moving and fixing the probe table 26 in the front-rear direction and the horizontal movement and fixing of the probe table 26. A plurality of (three in the illustrated example) ground probe pins 32 and one signal probe pin 33 at the lower end of the probe 31 are connected to measurement points (a ground terminal 47 and a signal terminal 48) of the test coupon section 46 of the printed circuit board 45. Fix at the position opposite to).
【００１６】プローブホルダ３０はブロック形で、プロ
ーブ台２６に対して、先端部をプローブ台２６の上端部
に枢着した上下揺動式の操作ハンドル３７に、トグルリ
ンク３８と、プローブ台２６の上部に設けた昇降ガイド
４０を通して上下にのびるホルダ固定リンク３９とを介
して連結して、操作ハンドル３７の所定角度の揺動によ
って所定のストローク昇降可能に取り付けてあるととも
に、この昇降を適確に行うために、該プローブホルダ３
０に形成した上下にのびるピンガイド穴３５に、プロー
ブ台２６の下部に設けた上昇付勢用ばね４２装着の直立
ピン４１を、プローブホルダ３０の昇降ストロークの下
部においてばね４２が係合するように挿着するととも
に、背部に付設したスライダ３６を、プローブ台２６の
中間部に設けた上下にのびるスライドガイド４３にスラ
イド係合させるという形で、プローブ台２６に取り付け
てあり、常時は操作ハンドル３７が上下にのびる上限の
揺動状態で、上昇位置を占めるようになっている。The probe holder 30 is of a block type, and has a toggle link 38 and a probe link 26 with a vertically swinging operation handle 37 whose tip is pivotally connected to the upper end of the probe table 26. It is connected to a holder fixing link 39 extending up and down through an elevating guide 40 provided at an upper portion, and is mounted so as to be able to elevate a predetermined stroke by swinging an operation handle 37 at a predetermined angle. To do so, the probe holder 3
The upright pin 41 mounted on the lower part of the probe base 26 is mounted on the pin guide hole 35 extending vertically and the upright pin 41 mounted on the lower part of the probe base 26 is engaged with the spring 42 at the lower part of the lifting stroke of the probe holder 30. The slider 36 is attached to the probe base 26 in such a manner that the slider 36 attached to the back part is slidably engaged with a vertically extending slide guide 43 provided at an intermediate part of the probe base 26. 37 is an upper limit swing state extending vertically, and occupies the ascending position.
【００１７】さて上記のようにプローブピン３２、３３
がプリント基板４５のテストクーポン部４６のグランド
端子４７、信号端子４８に対向する位置におけるプロー
ブ台２６の固定状態において、操作ハンドル３７を下方
に向かって揺動させると、トグルリンク３８を介したホ
ルダ固定リンク３９下降を介して、プローブホルダ３０
がその後半においてはばね４２を押圧しながら所定量下
降し、これによりプローブ３１の下端部のプローブピン
３２、３３がプリント基板４５のグランド端子４７、信
号端子４８に適確に接触して、インピーダンスの測定可
能な状態になる。Now, as described above, the probe pins 32, 33
When the operation handle 37 is swung downward in a fixed state of the probe stand 26 at a position facing the ground terminal 47 and the signal terminal 48 of the test coupon portion 46 of the printed circuit board 45, the holder via the toggle link 38 The probe holder 30 is moved downward through the fixed link 39.
In the latter half, the spring 42 descends by a predetermined amount while pressing the spring 42, whereby the probe pins 32 and 33 at the lower end of the probe 31 properly contact the ground terminal 47 and the signal terminal 48 of the printed circuit board 45, and the impedance is lowered. Can be measured.
【００１８】インピーダンスの測定が完了した後は、操
作ハンドル３７を上下位置まで揺動させて、プローブホ
ルダ３０を上限位置まで戻す。この際当初はばね４２の
作用力により、プローブピン３２、３３のプリント基板
４５からの上昇が衝撃も無く円滑に行われる。After the impedance measurement is completed, the operation handle 37 is swung up and down to return the probe holder 30 to the upper limit position. At this time, the probe pins 32 and 33 are smoothly lifted from the printed circuit board 45 by the action force of the spring 42 without any impact.
【００１９】この発明のプロービング装置は、このほ
か、種々の形態で実施することができるもので、図示の
形態に限定されるものではない。The probing apparatus according to the present invention can be embodied in various other forms, and is not limited to the illustrated form.
【００２０】[0020]
【発明の効果】この発明のプロービング装置によれば、
プローブ、従ってプローブピンの位置決め状態におい
て、操作ハンドルの所定角度の揺動を介して、プローブ
ピンをプリント基板のテストクーポン部の測定ポイント
に接触させるので、プローブピンのプリント基板の測定
ポイントに対する接触状態として常に実質上一定したも
のが得られる。従ってインピーダンスの測定を高能率で
行うことができる。According to the probing apparatus of the present invention,
In the positioning state of the probe and therefore the probe pin, the probe pin is brought into contact with the measurement point of the test coupon portion of the printed circuit board through the swing of the operation handle at a predetermined angle, so that the probe pin is in contact with the measurement point of the printed circuit board. As a constant. Therefore, the impedance can be measured with high efficiency.
【図１】この発明に係るプロービング装置の一実施形態
の概略正面図である。FIG. 1 is a schematic front view of an embodiment of a probing device according to the present invention.
【図２】図１に示す実施形態の概略側面図である。FIG. 2 is a schematic side view of the embodiment shown in FIG.
【図３】図１に示す実施形態のプローブホルダの上方部
を省略した概略平面図である。FIG. 3 is a schematic plan view in which an upper portion of the probe holder of the embodiment shown in FIG. 1 is omitted.
【図４】図１の部分拡大図で、プローブホルダの昇降状
態が併示してある。FIG. 4 is a partially enlarged view of FIG. 1, showing a vertically moving state of a probe holder.
【図５】図２の部分拡大図である。FIG. 5 is a partially enlarged view of FIG. 2;
【図６】図１に示す実施形態の使用状態の概要を示す部
分斜視図である。FIG. 6 is a partial perspective view showing an outline of a use state of the embodiment shown in FIG. 1;
１１ 装置ベース １２ 前後リニアウエイ １３ 測定ベース １４ 位置決めストッパ １５ 測定補助板 １６ 切り欠き（容量結合防止用） ２１ ブリッジ台 ２２ スライダ ２３ 左右リニアウエイ ２４ クランプ ２５ クランプねじ ２６ プローブ台 ２７ スライダ ２８ クランプ ２９ クランプねじ ３０ プローブホルダ ３１ プローブ ３２ プローブピン ３３ プローブピン ３４ クランプねじ ３５ ピンガイド穴 ３６ スライダ ３７ 操作ハンドル ３８ トグルリンク ３９ ホルダ固定リンク ４０ 昇降ガイド ４１ ガイドピン ４２ ばね ４３ スライドガイド ４５ プリント基板 ４６ テストクーポン部 ４７ グランド端子 ４８ 信号端子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Device base 12 Front and rear linear way 13 Measurement base 14 Positioning stopper 15 Measurement auxiliary plate 16 Notch (for preventing capacitive coupling) 21 Bridge stand 22 Slider 23 Left and right linear way 24 Clamp 25 Clamp screw 26 Probe base 27 Slider 28 Clamp 29 Clamp screw Reference Signs List 30 probe holder 31 probe 32 probe pin 33 probe pin 34 clamp screw 35 pin guide hole 36 slider 37 operation handle 38 toggle link 39 holder fixing link 40 lifting guide 41 guide pin 42 spring 43 slide guide 45 printed circuit board 46 test coupon part 47 ground Terminal 48 Signal terminal
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G011 AA12 AA21 AB01 AC06 AC32 AD01 AE01 AF01 2G014 AA32 AB59 AC09 AC10 AC12 2G028 AA02 AA04 BB10 BC01 CG06 HM08 HN08 HN09 HN10 JP04 KQ02 KQ03 2G032 AD03 AE04 AF04 AK04 AL03 9A001 BB06 KK37 Continued on the front page F-term (reference) 2G011 AA12 AA21 AB01 AC06 AC32 AD01 AE01 AF01 2G014 AA32 AB59 AC09 AC10 AC12 2G028 AA02 AA04 BB10 BC01 CG06 HM08 HN08 HN09 HN10 JP04 KQ02 KQ03 2G032 AD03 AE03 AF04
Claims (5)
後に平行にのびる左右の前後リニアウエイと、左右の前
後リニアウエイ間域に延在する、測定補助板を介してプ
リント基板を設置するための測定ベースを設け、左右の
前後リニアウエイに、両前後リニアウエイ間を左右にの
びるとともに各端部に各前後リニアウエイにスライド係
合するクランプ付きスライダを有する左右リニアウエイ
付きブリッジ台を、クランプの弛緩と締付けを介して、
前後に移動可能にかつ任意の位置で固定可能に支持し、
さらにブリッジ台の左右リニアウエイに、該左右リニア
ウエイにスライド係合するクランプ付きスライダを有す
るプローブ台を、クランプの弛緩と締付けを介して、左
右に移動可能にかつ任意の位置で固定可能に係合すると
ともに、該プローブ台に、揺動式操作ハンドルを介して
昇降可能なプローブホルダを取り付けてなる、プリント
基板のインピーダンス測定用プロービング装置。1. A printed circuit board is disposed on an apparatus base via left and right front and rear linear ways extending in the front and rear directions in the vicinity of both right and left ends and a measurement auxiliary plate extending between left and right front and rear linear ways. A bridge base with left and right linear ways is provided on the left and right linear ways, and a slider with a clamp is provided at each end that slides into each front and rear linear way. Through the relaxation and tightening of the clamp,
It is supported so that it can move back and forth and can be fixed at any position,
Further, a probe base having a slider with a clamp slidably engaged with the left and right linear ways is connected to the left and right linear ways of the bridge base so that the probe base can be moved to the left and right and can be fixed at an arbitrary position through loosening and tightening of the clamp. A probing device for measuring the impedance of a printed circuit board, comprising a probe holder which is fitted to the probe base and which can be raised and lowered via a swing operation handle.
基板の位置決め手段を設けてなる、請求項１記載のプロ
ービング装置。2. The probing apparatus according to claim 1, wherein the measurement base is provided with a measurement auxiliary plate and a means for positioning the printed circuit board.
ム板からなる、請求項１または２記載のプロービング装
置。3. The probing device according to claim 1, wherein the device base and the measurement base are made of an aluminum plate.
ローブホルダの昇降行程の下部においてプローブホルダ
に上方付勢力を作用する上方付勢ばねを設けてなる、請
求項１ないし３のいずれかに記載のプロービング装置。4. The probe holder according to claim 1, further comprising an upper biasing spring provided at a lower portion of the probe holder to apply an upward biasing force to the probe holder at least in a lower portion of a lifting and lowering stroke of the probe holder. Probing equipment.
の任意の位置で保持可能である、請求項１ないし４のい
ずれかに記載のプロービング装置。5. The probing apparatus according to claim 1, wherein the probe holder can hold the probe at an arbitrary position in a length direction.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36837299A JP2001183402A (en) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | Probing device for measuring impedance of printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP36837299A JP2001183402A (en) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | Probing device for measuring impedance of printed circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001183402A true JP2001183402A (en) | 2001-07-06 |
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ID=18491651
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| JP36837299A Pending JP2001183402A (en) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | Probing device for measuring impedance of printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
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