JP2001174209A - Strain-detecting device, method, electronic apparatus and storage medium - Google Patents
Strain-detecting device, method, electronic apparatus and storage mediumInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、カード型
の外装を有するカメラを曲げによる破損から保護するた
めに、外装に生じた歪みを検出する歪み検出装置、方
法、電子機器および記憶媒体に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distortion detecting apparatus, a method, an electronic apparatus, and a storage medium for detecting distortion generated in an exterior of a camera having a card-shaped exterior, for example, to protect the camera from bending. .
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、ＰＣカードのような薄型の電子機
器を曲げから保護する場合、剛性を高めるために機器内
部に丈夫な骨組みを配したり、持ち運ぶ際に丈夫なケー
スに入れるなどの処置が行われていた。2. Description of the Related Art Conventionally, when a thin electronic device such as a PC card is protected from bending, measures such as arranging a strong skeleton inside the device to increase rigidity, and placing the device in a strong case when carrying the device are used. Had been done.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のように、機器内部に丈夫な骨組みを配する場合、機
器の大部分が骨組みになってしまうので、電気部品など
を納めるスペースがかなり狭い領域に制限されてしま
う。また、部品のスペースを大きくすると、剛性が低く
なり、曲げられたときに内部に何らかの障害が発生し易
くなるので、曲げられないための工夫を講じなければな
らなかった。However, when a strong frame is arranged inside the device as in the above-described conventional device, most of the device is framed, so that the space for storing electric parts and the like is considerably narrow. Is restricted to In addition, if the space of the parts is increased, the rigidity is reduced, and some trouble easily occurs inside when the parts are bent. Therefore, it is necessary to take measures to prevent the parts from being bent.
【０００４】そこで、本発明は、内部に何らかの障害が
発生するまで電子機器が曲げられることを防止する歪み
検出装置、方法、電子機器および記憶媒体を提供するこ
とを目的とする。Accordingly, an object of the present invention is to provide a distortion detecting device, a method, an electronic device, and a storage medium that prevent an electronic device from being bent until some trouble occurs inside.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項１に記載の歪み検出装置は、電子機
器に設けられ、該電子機器の歪み量を検出する歪み量検
出手段と、該検出された歪み量に応じて前記電子機器に
対する処置を行う処置手段とを備える。In order to achieve the above object, a distortion detecting device according to a first aspect of the present invention is provided in an electronic device and detects a distortion amount of the electronic device. And treatment means for performing a treatment for the electronic device according to the detected distortion amount.
【０００６】請求項２に記載の歪み検出装置は、請求項
１に係る歪み検出装置において、前記検出された歪み量
が所定値を越えたか否かを判定する判定手段を備え、前
記処置手段は、前記歪み量が所定値を越えた場合、前記
電子機器に対する処置を行うことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided the distortion detecting apparatus according to the first aspect, further comprising a determining unit for determining whether or not the detected amount of distortion exceeds a predetermined value. When the amount of distortion exceeds a predetermined value, a measure is taken for the electronic device.
【０００７】請求項３に記載の歪み検出装置では、請求
項１または請求項２に係る歪み検出装置において、前記
処置手段は、前記電子機器に対する処置として警告を行
うことを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the first or second aspect, the treatment means issues a warning as a treatment for the electronic device.
【０００８】請求項４に記載の歪み検出装置は、請求項
１に係る歪み検出装置において、前記検出された歪み量
を記憶する記憶手段を備え、前記処置手段は、前記記憶
された歪み量に応じて前記電子機器に対する処置を行う
ことを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the distortion detecting apparatus according to the first aspect, further comprising storage means for storing the detected amount of distortion, and wherein the treating means stores the detected amount of distortion. The electronic device is configured to perform a measure for the electronic device in response to the request.
【０００９】請求項５に記載の歪み検出装置では、請求
項４に係る歪み検出装置において、前記歪み量検出手段
は、前記歪み量を所定時間おきに複数回検出し、前記記
憶手段は、前記検出された複数回の歪み量を記憶し、前
記処置手段は、前記記憶された複数回の歪み量に応じて
前記電子機器に対する処置を行うことを特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the fourth aspect, the distortion amount detecting means detects the distortion amount a plurality of times at predetermined time intervals, and the storage means comprises A plurality of detected distortion amounts are stored, and the treatment unit performs a treatment on the electronic device according to the stored plurality of distortion amounts.
【００１０】請求項６に記載の歪み検出装置は、請求項
５に係る歪み検出装置において、前記検出された複数回
の歪み量のうち、所定値を越えた歪み量が２回以上ある
場合、前記電子機器に対する処置を行うことを特徴とす
る。According to a sixth aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the fifth aspect, when the amount of distortion exceeding a predetermined value is two or more times among the plurality of detected amounts of distortion, It is characterized in that a treatment is performed on the electronic device.
【００１１】請求項７に記載の歪み検出装置では、請求
項５または請求項６に係る歪み検出装置において、前記
処置手段は、前記電子機器に対する処置として警告を行
うことを特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the fifth or sixth aspect, the treatment means issues a warning as a treatment for the electronic device.
【００１２】請求項８に記載の歪み検出装置では、請求
項５または請求項６に係る歪み検出装置において、前記
処置手段は、前記電子機器に対する処置として前記電子
機器の動作を禁止することを特徴とする。According to an eighth aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the fifth or sixth aspect, the treatment means inhibits operation of the electronic device as a treatment for the electronic device. And
【００１３】請求項９に記載の歪み検出装置は、電子機
器に設けられ、該電子機器の歪み量を検出する歪み量検
出手段と、該検出された歪み量に応じて前記電子機器に
対する第１の処置を行う第１処置手段と、前記歪み量検
出手段により所定時間おきに複数回検出された歪み量を
記憶する記憶手段と、該記憶された複数回の歪み量に応
じて前記電子機器に対する第２の処置を行う第２処置手
段とを備える。According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a distortion detecting device provided in an electronic device, a distortion amount detecting means for detecting a distortion amount of the electronic device, and a first detecting device for the electronic device in accordance with the detected distortion amount. First treatment means for performing the above-described treatment, storage means for storing the amount of distortion detected a plurality of times at predetermined intervals by the distortion amount detecting means, and the electronic device according to the stored plurality of distortion amounts. Second treatment means for performing a second treatment.
【００１４】請求項１０に記載の歪み検出装置は、請求
項１に係る歪み検出装置において、前記電子機器がカー
ド型の外装を有する場合、該外装の略中央部内側に前記
歪み量検出手段が設けられたことを特徴とする。According to a tenth aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the first aspect, when the electronic device has a card-shaped exterior, the distortion amount detecting means is provided substantially inside the center of the exterior. It is characterized by being provided.
【００１５】請求項１１に記載の歪み検出装置では、請
求項１に係る歪み検出装置において、前記電子機器はカ
メラであることを特徴とする。According to an eleventh aspect of the present invention, in the distortion detecting apparatus according to the first aspect, the electronic device is a camera.
【００１６】請求項１２に記載の歪み検出方法は、電子
機器に設けられた歪み量検出部により該電子機器の歪み
量を検出する工程と、該検出された歪み量に応じて処置
を行う工程とを有する。According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a distortion detecting method, wherein a distortion amount detecting section provided in the electronic device detects a distortion amount of the electronic device, and performs a treatment in accordance with the detected distortion amount. And
【００１７】請求項１３に記載の電子機器は、外装を有
し、該外装の歪み量を検出する歪み量検出手段と、該検
出された歪み量に応じて処置を行う処置手段とを備え
る。An electronic apparatus according to a thirteenth aspect has an exterior, and comprises a distortion amount detecting means for detecting a distortion amount of the exterior, and a treatment means for performing a treatment in accordance with the detected distortion amount.
【００１８】請求項１４に記載の記憶媒体は、電子機器
内のコンピュータにより実行されるプログラムを格納す
る記憶媒体において、前記プログラムは、前記電子機器
に設けられた歪み量検出部により該電子機器の歪み量を
検出する手順と、該検出された歪み量に応じて処置を行
う手順とを含むことを特徴とする。A storage medium according to a fourteenth aspect of the present invention is a storage medium for storing a program to be executed by a computer in an electronic device, wherein the program is stored in the electronic device by a distortion amount detecting unit provided in the electronic device. It is characterized by including a procedure for detecting the amount of distortion and a procedure for performing a treatment in accordance with the detected amount of distortion.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】本発明の歪み検出装置、方法、電
子機器および記憶媒体の実施の形態について説明する。
本実施形態の歪み検出装置は、カード型の外装を有する
カメラに搭載された歪み警報装置に適用された場合を示
す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a distortion detecting device, method, electronic apparatus and storage medium of the present invention will be described.
The distortion detection device according to the present embodiment is applied to a distortion alarm device mounted on a camera having a card type exterior.
【００２０】［第１の実施形態］図１は第１の実施形態
における歪み警報装置の構成を示す図である。図におい
て、１は種々の演算処理を行う中央演算処理装置（ＣＰ
Ｕ）である。このＣＰＵ１はＲＯＭ、ＲＡＭ、カウンタ
などを内蔵するマイクロコンピュータユニットから構成
されている。２はカメラの外装に生じた歪みを測定する
歪み計測部である。３は使用者に警告を促す警告部であ
る。１８はＣＰＵ１に対して電源１９の入切を行うメイ
ンスイッチである。[First Embodiment] FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a distortion alarm device according to a first embodiment. In the figure, reference numeral 1 denotes a central processing unit (CP) for performing various arithmetic processing.
U). The CPU 1 is composed of a microcomputer unit having a built-in ROM, RAM, counter and the like. Reference numeral 2 denotes a distortion measurement unit that measures distortion generated on the exterior of the camera. Reference numeral 3 denotes a warning unit that prompts the user to perform a warning. Reference numeral 18 denotes a main switch for turning on / off the power supply 19 for the CPU 1.
【００２１】図２は歪み警報装置が搭載されたカード型
のカメラの外装を示す図である。図において、４はカメ
ラ、５は撮影窓、６はシャッタボタン、１４は外装、１
５は表示部である。このようなカード型のカメラ４で
は、外装１４の中央部に力を加えると、図３に示すよう
な曲げが発生する。図３はカメラ４の外装１４に発生し
た曲げを示す図である。FIG. 2 is a view showing the exterior of a card-type camera on which a distortion warning device is mounted. In the figure, 4 is a camera, 5 is a photographing window, 6 is a shutter button, 14 is an exterior, 1
Reference numeral 5 denotes a display unit. In such a card-type camera 4, when a force is applied to the central portion of the exterior 14, bending occurs as shown in FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating bending that has occurred on the exterior 14 of the camera 4.
【００２２】一般に、図２に示すようなカード型の電子
機器に曲げが発生する場合、力の作用する位置が異って
も、ほとんど同様の曲げ状態となる。このような曲げ状
態では、中央部が最も大きく歪むので、中央部近傍が曲
げ応力の最もかかる部分である。In general, when a card-type electronic device as shown in FIG. 2 is bent, the bending state is almost the same regardless of the position where the force acts. In such a bending state, the central portion is most distorted, and the vicinity of the central portion is the portion to which the bending stress is most applied.
【００２３】そこで、本実施形態では、中央部近傍に歪
み計測部２のセンサ部を配置して歪み量の測定を行う。
また、歪み計測部のセンサ部として、本実施形態では歪
みゲージが用いられる。図４は歪みゲージの構成を示す
図である。歪みゲージ２ａは、電気絶縁性を有する薄い
ベース部材７上に格子状に引き回された抵抗線８を形成
し、この抵抗線８の両端にゲージリード線９を電気的に
接続し、その上に保護用のカバーフィルム１０を覆った
ものである。尚、抵抗線の代わりに、エッチングした抵
抗箔をベース部材上に形成してもよい。Therefore, in the present embodiment, the sensor unit of the distortion measuring unit 2 is arranged near the center to measure the amount of distortion.
In this embodiment, a strain gauge is used as a sensor unit of the strain measurement unit. FIG. 4 is a diagram showing a configuration of the strain gauge. The strain gauge 2a forms a grid-like resistance wire 8 on a thin base member 7 having electrical insulation, and electrically connects a gauge lead wire 9 to both ends of the resistance wire 8, Is covered with a protective cover film 10. Note that an etched resistance foil may be formed on the base member instead of the resistance wire.
【００２４】このような構造を有する歪みゲージ２ａ
は、測定対象物１２に接着剤１１を使って貼り付けられ
て測定対象物１２の歪み量を検出する。図５は測定対象
物１２に歪みゲージ２ａが貼り付けられた状態を示す図
である。The strain gauge 2a having such a structure
Is attached to the measurement object 12 using the adhesive 11, and detects the distortion amount of the measurement object 12. FIG. 5 is a diagram showing a state where the strain gauge 2a is attached to the measurement object 12.
【００２５】つぎに、歪みゲージを用いた歪み量の測定
原理について示す。歪みは、物体に何らか（物理的、熱
的など）の力が作用したときに物体内部に応力が発生
し、この応力に比例して物体が伸び縮みする現象であ
る。測定対象物１２に歪みが発生すると、この歪みは測
定対象物１２に貼り付けられた歪みゲージ２ａにも伝わ
り、測定対象物１２に生じた歪みとほぼ同じ歪みが歪み
ゲージ２ａに生じることになる。歪みゲージ２ａは、こ
の歪み量を抵抗線８の抵抗値の変化によって検出する。
ここで、歪み量をε、抵抗線の長さをＬ、抵抗線８の抵
抗値をＲ、外力を受けたときの抵抗線８の長さおよび抵
抗値の変化量をそれぞれ△Ｌ、△Ｒとすると、歪み量ε
は数式（１）で示される。Next, the principle of measuring the amount of strain using a strain gauge will be described. Strain is a phenomenon in which a stress is generated inside an object when a certain (physical, thermal, etc.) force acts on the object, and the object expands and contracts in proportion to the stress. When distortion occurs in the measurement target 12, the distortion is transmitted to the strain gauge 2a attached to the measurement target 12, and substantially the same distortion as the distortion generated in the measurement target 12 occurs in the strain gauge 2a. . The strain gauge 2a detects the amount of strain by a change in the resistance value of the resistance wire 8.
Here, the strain amount is ε, the length of the resistance wire is L, the resistance value of the resistance wire 8 is R, and the length of the resistance wire 8 and the change amount of the resistance value when an external force is applied are ΔL and ΔR, respectively. Then, the strain amount ε
Is represented by equation (1).
【００２６】 ε＝△Ｌ／Ｌ＝（ΔＲ／Ｒ）／Ｋ ……（１） ここで、Ｋはゲージ率であり、抵抗の変化率を歪み量に
換算するための定数である。この抵抗値の変化量△Ｒ
は、非常に小さい値であるので、測定する場合、ホイー
トストンブリッジ回路を用いて電圧の変化量として測定
される。図６はホイートストンブリッジ回路を示す図で
ある。この回路における入力電圧Ｅと出力電圧ｅには、
数式（２）に示す関係が成り立つ。Ε = △ L / L = (ΔR / R) / K (1) where K is a gauge factor and is a constant for converting a rate of change in resistance into a strain amount. The change in the resistance value △ R
Is a very small value, so when it is measured, it is measured as a voltage change using a Wheatstone bridge circuit. FIG. 6 is a diagram showing a Wheatstone bridge circuit. The input voltage E and the output voltage e in this circuit include:
The relationship shown in Expression (2) holds.
【００２７】 ｅ＝（Ｒ１Ｒ３−Ｒ２Ｒ４）／（Ｒ１＋Ｒ２）（Ｒ３＋Ｒ４） ……（２） ここで、抵抗値Ｒ１に歪みゲージの抵抗値Ｒを割り当
て、Ｒ＝Ｒ１＝Ｒ２＝Ｒ３＝Ｒ４ ……（３）の関係式
にすると、初期の出力電圧は０（Ｖ）である。E = (R1R3-R2R4) / (R1 + R2) (R3 + R4) (2) Here, the resistance value R of the strain gauge is assigned to the resistance value R1, and R = R1 = R2 = R3 = R4 ... ( According to the relational expression of 3), the initial output voltage is 0 (V).
【００２８】 歪みゲージ２ａに歪みが発生して抵抗値Ｒ１が、Ｒ１＝Ｒ＋△Ｒ ……（４） に変化すると、これを数式（２）に代入することにより
数式（５）が得られる。When a strain is generated in the strain gauge 2a and the resistance value R1 changes to R1 = R + △ R (4), this is substituted into Expression (2) to obtain Expression (5).
【００２９】 Δｅ＝ΔＲ・Ｅ／（４Ｒ＋２ΔＲ） ……（５） 数式（１）および数式（５）より、歪み量と入出力電圧
の関係は、数式（６）となる。Δe = ΔR · E / (4R + 2ΔR) (5) From Expressions (1) and (5), the relationship between the distortion amount and the input / output voltage is expressed by Expression (6).
【００３０】 ε＝４Δｅ／（Ｅ−２Δｅ）Ｋ ……（６） また、Ｒ＞＞△Ｒとして、近似式の数式（７）となる。Ε = 4Δe / (E−2Δe) K (6) Further, as R >> △ R, an approximate expression (7) is obtained.
【００３１】ε＝４Δｅ／ＥＫ ……（７） これにより、歪みゲージ２ａを測定対象物１２に貼り付
け、ホイートストンブリッジ回路に接続して入力電圧Ｅ
と出力電圧ｅを測定すると、歪みゲージ２ａ、つまり測
定対象物１２の歪み量を算出することができる。Ε = 4Δe / EK (7) Thereby, the strain gauge 2a is attached to the object to be measured 12 and connected to a Wheatstone bridge circuit to connect the input voltage E
And the output voltage e, the strain amount of the strain gauge 2a, that is, the measurement object 12 can be calculated.
【００３２】図７はカメラ４の外装１４の中央部内側に
歪みゲージ２ａが貼り付けられた状態を示す図である。
歪みゲージ２ａは、外装１４の中央部内側で、かつＣＰ
Ｕ１が搭載された基板１３と対向する位置に貼り付けら
れている。FIG. 7 is a view showing a state in which the strain gauge 2a is attached to the inside of the center of the exterior 14 of the camera 4.
The strain gauge 2a is located on the inner side of the
It is attached at a position facing the substrate 13 on which U1 is mounted.
【００３３】図８は歪み量測定処理手順を示すフローチ
ャートである。この処理プログラムはＣＰＵ１内のＲＯ
Ｍ（図示せず）に格納されており、ＣＰＵ１によって実
行される。まず、ホイートストンブリッジ回路の入力電
圧Ｅを測定する（ステップＳ１）。つづいて、その出力
電圧ｅを測定する（ステップＳ２）。数式（６）にした
がって、歪み量εを算出する（ステップＳ３）。尚、数
式（６）の代わりに、数式（７）を用いて算出してもよ
い。FIG. 8 is a flowchart showing the procedure of the distortion amount measurement processing. This processing program is executed by the RO in the CPU1.
M (not shown) and is executed by the CPU 1. First, the input voltage E of the Wheatstone bridge circuit is measured (Step S1). Subsequently, the output voltage e is measured (step S2). The distortion amount ε is calculated according to equation (6) (step S3). In addition, you may calculate using Formula (7) instead of Formula (6).
【００３４】歪み量εが所定値より大きいか否かを判別
する（ステップＳ４）。歪み量εが所定値以下である場
合、そのまま処理を終了し、歪み量εが予め決めておい
た所定値より大きかった場合、カメラ４の外装１４が破
損するおそれがあり、それを使用者に知らせるために警
告音を発し（ステップＳ５）、処理を終了する。ここ
で、所定値は、カメラ４の外装１４が破損に至る前の歪
み量に応じた適当な値に設定される。It is determined whether the distortion amount ε is larger than a predetermined value (step S4). If the distortion amount ε is equal to or less than a predetermined value, the process is terminated as it is. If the distortion amount ε is larger than a predetermined value, the exterior 14 of the camera 4 may be damaged, A warning sound is issued to notify (step S5), and the process ends. Here, the predetermined value is set to an appropriate value according to the amount of distortion before the exterior 14 of the camera 4 is damaged.
【００３５】また、ステップＳ５で発せられる警告音と
しては、例えば、「ピーピー」といった警告音の他に、
「痛い」、「助けて」、「曲がる」といった警告を知ら
せる内容の音声であってもよい。As the warning sound issued in step S5, for example, in addition to the warning sound such as "Peepy",
The sound may be a warning sound such as "pain", "help", or "turn".
【００３６】このように、第１の実施形態では、歪み量
を測定する歪みゲージ２ａをカメラ４の外装１４の中央
部内側に設け、歪みゲージ２ａの出力から歪み量を算出
し、その値が所定値を越えた場合、警告するようにする
ことで、万一、カメラ４の外装１４に大きな力が加わっ
て曲げられても、カメラの破損に至ることを防止するこ
とができる。As described above, in the first embodiment, the strain gauge 2a for measuring the amount of strain is provided inside the center of the exterior 14 of the camera 4, and the amount of strain is calculated from the output of the strain gauge 2a. If the predetermined value is exceeded, a warning is issued, so that even if a large force is applied to the exterior 14 of the camera 4 to bend it, it is possible to prevent the camera from being damaged.
【００３７】また、歪みゲージ２ａの貼り付け位置を、
カメラ４が曲げられ易くかつ歪みが比較的大きくなる部
分、つまり外装１４の中央部内側近傍にしたことで、最
も破損のおそれのある部分の歪みを計測できる。The position where the strain gauge 2a is attached is
By setting the camera 4 in a portion where the camera 4 is easily bent and the distortion is relatively large, that is, in the vicinity of the inside of the central portion of the exterior 14, the distortion of the portion most likely to be damaged can be measured.
【００３８】［第２の実施形態］図９は第２の実施形態
における歪み警報装置の構成を示す図である。前記第１
の実施形態と比べ、ＣＰＵ１に計時部１７および記憶部
１６が接続されている構成を除き、その他の構成は前記
第１の実施形態と同じである。[Second Embodiment] FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a distortion warning device according to a second embodiment. The first
The other configuration is the same as that of the first embodiment except for the configuration in which the clock unit 17 and the storage unit 16 are connected to the CPU 1 as compared with the first embodiment.
【００３９】図１０は第２の実施形態における歪み測定
処理手順を示すフローチャートである。この処理プログ
ラムはＣＰＵ１内のＲＯＭ（図示せず）に格納されてお
り、ＣＰＵ１によって実行される。FIG. 10 is a flowchart showing the procedure of the distortion measurement processing in the second embodiment. This processing program is stored in a ROM (not shown) in the CPU 1 and is executed by the CPU 1.
【００４０】まず、ループ回数ｎのリセットを行う（ス
テップＳ１１）。つづいて、前記第１の実施形態のステ
ップＳ１〜Ｓ３と同様に、入出力電圧の測定を行って歪
み量εｎを算出する（ステップＳ１２〜Ｓ１４）。算出
された歪み量εｎを記憶部１６に記憶し（ステップＳ１
５）、ループ回数ｎのカウンタ値を１つインクリメント
する（ステップＳ１６）。First, the number of loops n is reset (step S11). Subsequently, similarly to steps S1 to S3 of the first embodiment, the input / output voltage is measured to calculate the distortion amount εn (steps S12 to S14). The calculated distortion amount εn is stored in the storage unit 16 (step S1).
5), the counter value of the loop number n is incremented by one (step S16).
【００４１】ループ回数ｎが値３より大きいか否かを判
別し（ステップＳ１７）、値３以下である場合、歪み量
のデータを取り込む時間が所定時間おきになるように、
ループを行う時間を計測し（ステップＳ１８）、取り込
み時間にウエイトをかける。例えば、３０分おきにデー
タを取り込む場合、計時部１７が３０分を計時するまで
この処理ルーチンを止めた後、ステップＳ１２の処理に
戻って、再度の歪み量の算出を行う。It is determined whether or not the number of loops n is greater than the value 3 (step S17).
The loop execution time is measured (step S18), and a weight is applied to the capture time. For example, in the case of taking in data every 30 minutes, the processing routine is stopped until the clock unit 17 measures 30 minutes, and then the process returns to step S12 to calculate the distortion amount again.
【００４２】一方、ステップＳ１７でループ回数ｎが値
３より大きい場合、時間差を伴って測定された３つの歪
み量ε１、ε２、ε３のデータを基に解析を行う（ステ
ップＳ１９）。On the other hand, if the number of loops n is greater than 3 in step S17, analysis is performed based on the data of the three distortion amounts ε1, ε2, and ε3 measured with a time difference (step S19).
【００４３】このデータ解析の一例として、歪み量ε
１、ε２、ε３のいずれもほぼ同じ大きさ、つまり歪み
方向と量がほぼ同じであり、その量が所定値を越えてい
た場合、カメラ４の外装１４に残留歪みが生じている、
あるいは長時間に亘ってカメラ４に外力が加え続けられ
ており、外装１４に残留歪みが生じるような状態にある
と判断し、判定結果をＮＧとする。ここで、所定値は、
カメラ４の残留歪みに相当する適当な値に設定される。As an example of this data analysis, the strain ε
1, .epsilon.2, .epsilon.3 have substantially the same size, that is, the amount of distortion is substantially the same as the direction, and if the amount exceeds a predetermined value, residual distortion occurs in the exterior 14 of the camera 4.
Alternatively, it is determined that the external force is continuously applied to the camera 4 for a long time, and the exterior 14 is in a state where residual distortion occurs, and the determination result is NG. Here, the predetermined value is
An appropriate value corresponding to the residual distortion of the camera 4 is set.
【００４４】一方、歪み量ε１、ε２、ε３がいずれも
所定量以下であった場合、残留歪みがないか、あるいは
ほとんどないという状態であると判断し、判定結果をＯ
Ｋとする。また、常に大きさが変動している場合、残留
歪みではなく外力が加わって瞬間的に変形していると判
断し、判定結果をＯＫとする。On the other hand, when the distortion amounts ε1, ε2, and ε3 are all equal to or smaller than the predetermined amounts, it is determined that there is no residual distortion or that there is almost no residual distortion.
Let it be K. When the magnitude is constantly changing, it is determined that the deformation is instantaneous due to the application of an external force instead of the residual strain, and the determination result is OK.
【００４５】ステップＳ１９で判定結果が「ＯＫ」であ
る場合、そのまま処理を終了する。一方、判定結果が
「ＮＧ」である場合、カメラ４の外装１４に残留歪みが
生じて光学系などの調整が狂っており、撮影に影響を及
ぼす可能性があるので、警告部３により検査を促すため
の警告を行い（ステップＳ２０）、処理を終了する。If the result of the determination in step S19 is "OK", the process is terminated. On the other hand, if the determination result is “NG”, the residual distortion occurs on the exterior 14 of the camera 4 and the adjustment of the optical system and the like is incorrect, which may affect the shooting. A warning for prompting is issued (step S20), and the process ends.
【００４６】この警告では、前記第１の実施形態のよう
に、大きく曲げられた場合と異なる警告音や音声で警告
したり、カメラ４のデータを表示する表示部１５（図２
参照）に「ＨＥＬＰ」、「検査してください」などのメ
ッセージを表示することによって使用者に警告して検査
を促すようにしてもよい。In this warning, as in the first embodiment, a warning is given with a different warning sound or voice from the case of a large bending, and a display unit 15 (FIG. 2) for displaying the data of the camera 4 is provided.
A message such as "HELP" or "Please inspect" may be displayed to warn the user to prompt the user to inspect.
【００４７】このように、第２の実施形態では、歪み量
を測定する歪みゲージによる検出を所定時間毎に複数回
行い、歪みゲージの出力から算出された歪み量が複数回
の検出のうち、少なくとも２回以上所定量を越えた場
合、警告を行うことで、カメラの外装に残留歪みが発生
して光学部材などの位置精度が悪くなっている可能性を
使用者に知らせることができる。これにより、カメラの
検査・再調整を促し、常に良好な撮影を可能にすること
ができる。As described above, in the second embodiment, the detection by the strain gauge for measuring the strain amount is performed a plurality of times at predetermined intervals, and the strain amount calculated from the output of the strain gauge is one of a plurality of times. When the predetermined amount is exceeded at least twice or more, a warning is issued to notify the user of the possibility that residual distortion has occurred in the exterior of the camera and the positional accuracy of the optical member and the like has deteriorated. As a result, it is possible to prompt inspection and readjustment of the camera, and it is possible to always perform good photographing.
【００４８】尚、前記第１の実施形態で示した図７の歪
み量測定処理を併用させてもよく、これにより、２段階
に亘る警告、つまり、破損のおそれの警告と検査を促す
警告とを行うことが可能である。It should be noted that the distortion amount measurement processing of FIG. 7 shown in the first embodiment may be used in combination, thereby providing a two-stage warning, that is, a warning of a possibility of breakage and a warning of prompting an inspection. It is possible to do.
【００４９】［第３の実施形態］第３の実施形態の歪み
警報装置の構成は前記第２の実施形態と同様である。図
１１は第３の実施形態における歪み測定処理手順を示す
フローチャートである。この処理プログラムはＣＰＵ１
内のＲＯＭ（図示せず）に格納されており、ＣＰＵ１に
よって実行される。前記第２の実施形態と同一のステッ
プ処理については、同一の符号を付すことによりその説
明を省略する。ここでは、第２の実施形態と異なるステ
ップ処理についてだけ説明する。[Third Embodiment] The configuration of the distortion alarm device of the third embodiment is the same as that of the second embodiment. FIG. 11 is a flowchart illustrating a distortion measurement processing procedure according to the third embodiment. This processing program is executed by the CPU 1
And is executed by the CPU 1. The same step processes as those in the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. Here, only the step processing different from the second embodiment will be described.
【００５０】算出された歪み量ε１、ε２、ε３をステ
ップＳ１９で解析し、その判定結果がＮＧであった場
合、カメラ４の動作を禁止して撮影できなくし（ステッ
プＳ２０Ａ）、処理を終了する。尚、このとき、警告を
発してからカメラの動作を禁止するようにしてもよく、
すぐさま禁止してもどちらでもよい。これにより、警告
に気付かないで撮影を続けてしまうことによる無駄な撮
影を防止できる。The calculated distortion amounts ε1, ε2, and ε3 are analyzed in step S19, and if the result of the determination is NG, the operation of the camera 4 is prohibited to disable photographing (step S20A), and the process ends. . At this time, a warning may be issued and then the operation of the camera may be prohibited.
Either may be banned immediately. As a result, it is possible to prevent useless photographing caused by continuing photographing without noticing the warning.
【００５１】尚、前記第２の実施形態と同様、前記第１
の実施形態で示した図７の歪み量測定処理を併用させて
もよく、これにより、破損のおそれの警告とカメラ動作
の禁止とを併せて行うことができる。The first embodiment is similar to the second embodiment.
The distortion amount measurement processing of FIG. 7 shown in the embodiment may be used in combination, whereby the warning of the possibility of damage and the prohibition of the camera operation can be performed together.
【００５２】以上が本発明の実施の形態の説明である
が、本発明は、これら実施の形態の構成に限られるもの
ではなく、クレームで示した機能、または、実施の形態
の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのような
ものであっても適用できるものである。Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the configurations of these embodiments, and the functions described in the claims or the functions of the configurations of the embodiments are provided. Any structure can be applied as long as the structure can be achieved.
【００５３】例えば、上記実施形態では、歪みゲージ２
ａは外装１４の略中央部内側に貼り付けられていたが、
ＣＰＵ１が搭載された基板１３上に歪みゲージを設けて
もよく、同様の処理を行うことができる。For example, in the above embodiment, the strain gauge 2
a was stuck on the inside of the substantially central part of the exterior 14,
A strain gauge may be provided on the substrate 13 on which the CPU 1 is mounted, and the same processing can be performed.
【００５４】また、カード型の外装に起こり易い曲げに
限らず、引っ張りや圧縮などの歪みに対しても、本発明
は同様に適用可能である。The present invention can be similarly applied to not only bending which is likely to occur in a card type exterior but also distortion such as tension and compression.
【００５５】さらに、歪み量を検出する手段として、抵
抗体を用いた歪みゲージに限らず、バイモルフなどの圧
電素子を用いたものであってもよい。Further, the means for detecting the amount of strain is not limited to a strain gauge using a resistor, but may be a device using a piezoelectric element such as a bimorph.
【００５６】また、以上の実施の形態のソフトウェア構
成とハードウェア構成は、適宜置き換えることができる
ものである。Further, the software configuration and the hardware configuration of the above embodiment can be appropriately replaced.
【００５７】また、本発明は、以上の実施の形態の技術
要素を必要に応じて組み合わせるようにしてもよい。In the present invention, the technical elements of the above embodiments may be combined as needed.
【００５８】また、本発明は、クレーム、または、実施
の形態の構成の全体もしくは一部が１つの装置を形成す
るものであっても、他の装置と結合するようなものであ
っても、装置を構成する要素となるようなものであって
もよい。本実施形態では、カメラに適用された場合を示
したが、携帯情報端末、携帯電話、携帯型電子計算機な
どに適用することも可能である。The present invention may be applied to a case in which the claim or the whole or a part of the configuration of the embodiment forms one device or is combined with another device. It may be an element constituting the device. In the present embodiment, the case where the present invention is applied to a camera has been described, but the present invention is also applicable to a portable information terminal, a mobile phone, a portable electronic computer, and the like.
【００５９】さらに、本発明は装置にプログラムを供給
することによって達成される場合にも適用できることは
いうまでもない。この場合、本発明を達成するためのソ
フトウェアによって表されるプログラムを格納した記憶
媒体を装置に読み出すことによってその装置が本発明の
効果を享受することが可能となる。Further, it goes without saying that the present invention can be applied to a case where the present invention is achieved by supplying a program to the device. In this case, by reading a storage medium storing a program represented by software for achieving the present invention into the device, the device can enjoy the effects of the present invention.
【００６０】図１２は記憶媒体としてのＲＯＭのメモリ
マップを示す図である。このＲＯＭは前述したようにＣ
ＰＵ１に内蔵されたものである。ＲＯＭには、図８のフ
ローチャートに示す歪み量測定処理プログラムモジュー
ル、図１０の歪み量測定処理プログラムモジュール、図
１１の歪み量測定処理プログラムモジュールなどが格納
されている。FIG. 12 is a diagram showing a memory map of a ROM as a storage medium. This ROM is C
It is built into PU1. The ROM stores a distortion amount measurement processing program module shown in the flowchart of FIG. 8, a distortion amount measurement processing program module of FIG. 10, a distortion amount measurement processing program module of FIG. 11, and the like.
【００６１】プログラムモジュールを供給する記憶媒体
としては、半導体メモリからなるＲＯＭに限らず、磁気
テープや磁気バブルメモリであってもよい。The storage medium for supplying the program modules is not limited to a ROM comprising a semiconductor memory, but may be a magnetic tape or a magnetic bubble memory.
【００６２】[0062]
【発明の効果】本発明によれば、内部に何らかの障害が
発生するまで電子機器が曲げられることを防止すること
ができる。According to the present invention, it is possible to prevent the electronic device from being bent until some trouble occurs inside.
【００６３】例えば、カメラに適用された場合、歪み量
を測定する歪みゲージをカメラ内部に設け、歪みゲージ
の出力から歪み量を算出し、その値が所定値を越えた場
合、警告するようにすることで、万一、カメラに大きな
力が加えられてカメラの外装が曲げられても、カメラが
破損するまでに至ることを防止できる。For example, when the present invention is applied to a camera, a strain gauge for measuring the amount of distortion is provided inside the camera, the amount of distortion is calculated from the output of the strain gauge, and a warning is issued when the value exceeds a predetermined value. By doing so, even if a large force is applied to the camera to bend the exterior of the camera, it is possible to prevent the camera from being damaged.
【００６４】また、歪みゲージによる検出を所定時間毎
に複数回行い、歪みゲージの出力から算出された歪み量
が複数回の検出のうち、少なくとも２回以上所定量を越
えた場合、警告を行ったり、カメラ動作を禁止すること
で、カメラに残留歪みが発生して光学部材などの位置精
度が悪くなっている可能性を使用者に知らせることで検
査・再調整を促し、常に良好な撮影を可能にすることが
できる。Further, the detection by the strain gauge is performed a plurality of times every predetermined time, and a warning is issued when the amount of strain calculated from the output of the strain gauge exceeds the predetermined amount at least two times among the plurality of detections. In addition, prohibiting the operation of the camera informs the user of the possibility that the positional accuracy of the optical member etc. may be degraded due to residual distortion in the camera, prompting the user to perform inspection and readjustment, and always ensures good photography. Can be made possible.
【００６５】さらに、歪みゲージの貼り付け位置をカメ
ラが曲げられ易くかつ歪みが比較的大きくなる部分に近
傍にしたことで、最も破損のおそれのある部分の歪みを
計測できる。Further, since the position where the strain gauge is attached is located near the portion where the camera is easily bent and the distortion is relatively large, the distortion of the portion most likely to be damaged can be measured.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図１】第１の実施形態における歪み警報装置の構成を
示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a distortion warning device according to a first embodiment.
【図２】歪み警報装置が搭載されたカード型のカメラの
外装を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an exterior of a card-type camera on which a distortion alarm device is mounted.
【図３】カメラ４の外装１４に発生した曲げを示す図で
ある。FIG. 3 is a diagram showing a bend generated on an exterior 14 of the camera 4;
【図４】歪みゲージの構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a strain gauge.
【図５】測定対象物１２に歪みゲージ２ａが貼り付けら
れた状態を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state where a strain gauge 2a is attached to a measurement object 12.
【図６】ホイートストンブリッジ回路を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a Wheatstone bridge circuit.
【図７】カメラ４の外装１４の中央部内側に歪みゲージ
２ａが貼り付けられた状態を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a state in which a strain gauge 2a is attached to the inside of a central portion of an exterior 14 of the camera 4;
【図８】歪み量測定処理手順を示すフローチャートであ
る。FIG. 8 is a flowchart illustrating a distortion measurement processing procedure;
【図９】第２の実施形態における歪み警報装置の構成を
示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of a distortion warning device according to a second embodiment.
【図１０】第２の実施形態における歪み測定処理手順を
示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart illustrating a distortion measurement processing procedure according to the second embodiment.
【図１１】第３の実施形態における歪み測定処理手順を
示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart illustrating a distortion measurement processing procedure according to the third embodiment.
【図１２】記憶媒体としてのＲＯＭのメモリマップを示
す図である。FIG. 12 is a diagram showing a memory map of a ROM as a storage medium.
１ ＣＰＵ ２ 歪み計測部 ２ａ 歪みゲージ ３ 警告部 ４ カメラ ７ ベース部材 ８ 抵抗体 １１ 接着剤 １４ 外装 １６ 記憶部 １７ 計時部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 CPU 2 Strain measuring part 2a Strain gauge 3 Warning part 4 Camera 7 Base member 8 Resistor 11 Adhesive 14 Exterior 16 Storage part 17 Clock part
Claims (14)
量を検出する歪み量検出手段と、 該検出された歪み量に応じて前記電子機器に対する処置
を行う処置手段とを備えた歪み検出装置。1. A distortion detection device provided in an electronic device, comprising: a distortion amount detection unit configured to detect a distortion amount of the electronic device; and a treatment unit configured to perform a treatment on the electronic device in accordance with the detected distortion amount. apparatus.
か否かを判定する判定手段を備え、 前記処置手段は、前記歪み量が所定値を越えた場合、前
記電子機器に対する処置を行うことを特徴とする請求項
１記載の歪み検出装置。And a determining unit for determining whether the detected amount of distortion exceeds a predetermined value, wherein the processing unit performs processing on the electronic device when the amount of distortion exceeds a predetermined value. The distortion detection device according to claim 1, wherein
処置として警告を行うことを特徴とする請求項１または
請求項２記載の歪み検出装置。3. The distortion detecting device according to claim 1, wherein the treatment unit issues a warning as a treatment for the electronic device.
段を備え、 前記処置手段は、前記記憶された歪み量に応じて前記電
子機器に対する処置を行うことを特徴とする請求項１記
載の歪み検出装置。4. The apparatus according to claim 1, further comprising a storage unit configured to store the detected distortion amount, wherein the treatment unit performs a treatment on the electronic device according to the stored distortion amount. Strain detector.
定時間おきに複数回検出し、 前記記憶手段は、前記検出された複数回の歪み量を記憶
し、 前記処置手段は、前記記憶された複数回の歪み量に応じ
て前記電子機器に対する処置を行うことを特徴とする請
求項４記載の歪み検出装置。5. The distortion amount detection unit detects the distortion amount a plurality of times at predetermined time intervals, the storage unit stores the detected plurality of distortion amounts, and the treatment unit stores the distortion amount. 5. The distortion detecting apparatus according to claim 4, wherein the electronic device performs a treatment on the electronic device according to the plurality of distortion amounts.
所定値を越えた歪み量が２回以上ある場合、前記電子機
器に対する処置を行うことを特徴とする請求項５記載の
歪み検出装置。6. The detected distortion amount of a plurality of times,
6. The distortion detecting apparatus according to claim 5, wherein when the amount of distortion exceeds a predetermined value two or more times, the electronic device is treated.
処置として警告を行うことを特徴とする請求項５または
請求項６記載の歪み検出装置。7. The distortion detecting apparatus according to claim 5, wherein the treatment unit issues a warning as a treatment for the electronic device.
処置として前記電子機器の動作を禁止することを特徴と
する請求項５または請求項６記載の歪み検出装置。8. The distortion detecting apparatus according to claim 5, wherein the treatment unit prohibits the operation of the electronic device as a treatment for the electronic device.
量を検出する歪み量検出手段と、 該検出された歪み量に応じて前記電子機器に対する第１
の処置を行う第１処置手段と、 前記歪み量検出手段により所定時間おきに複数回検出さ
れた歪み量を記憶する記憶手段と、 該記憶された複数回の歪み量に応じて前記電子機器に対
する第２の処置を行う第２処置手段とを備えた歪み検出
装置。9. A distortion amount detecting means provided in an electronic device, for detecting a distortion amount of the electronic device, and a first device for the electronic device according to the detected distortion amount.
First treatment means for performing the above-mentioned treatment, storage means for storing the distortion amount detected a plurality of times at predetermined intervals by the distortion amount detection means, and the electronic device in accordance with the stored plurality of distortion amounts. A distortion detecting device comprising: a second treatment unit for performing a second treatment.
る場合、該外装の略中央部内側に前記歪み量検出手段が
設けられたことを特徴とする請求項１記載の歪み検出装
置。10. The distortion detecting device according to claim 1, wherein when the electronic device has a card-type exterior, the distortion amount detection means is provided substantially inside a central portion of the exterior.
徴とする請求項１記載の歪み検出装置。11. The distortion detection device according to claim 1, wherein the electronic device is a camera.
より該電子機器の歪み量を検出する工程と、 該検出された歪み量に応じて処置を行う工程とを有する
歪み検出方法。12. A distortion detection method comprising: a step of detecting a distortion amount of an electronic device by a distortion amount detection unit provided in the electronic device; and a step of performing a treatment according to the detected distortion amount.
えた電子機器。13. An electronic apparatus having an exterior, comprising: a distortion amount detection unit configured to detect a distortion amount of the exterior; and a treatment unit configured to perform a treatment according to the detected distortion amount.
されるプログラムを格納する記憶媒体において、 前記プログラムは、 前記電子機器に設けられた歪み量検出部により該電子機
器の歪み量を検出する手順と、 該検出された歪み量に応じて処置を行う手順とを含むこ
とを特徴とする記憶媒体。14. A storage medium for storing a program to be executed by a computer in an electronic device, the program comprising: a step of detecting a distortion amount of the electronic device by a distortion amount detection unit provided in the electronic device; Performing a procedure in accordance with the detected amount of distortion.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35721699A JP2001174209A (en) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | Strain-detecting device, method, electronic apparatus and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35721699A JP2001174209A (en) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | Strain-detecting device, method, electronic apparatus and storage medium |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001174209A true JP2001174209A (en) | 2001-06-29 |
Family
ID=18452980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35721699A Withdrawn JP2001174209A (en) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | Strain-detecting device, method, electronic apparatus and storage medium |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001174209A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008082773A (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Fujitsu Ltd | Strain sensor |
| CN102288101A (en) * | 2011-08-02 | 2011-12-21 | 中国矿业大学 | Bending deformation test sensor |
| CN104880144A (en) * | 2015-06-12 | 2015-09-02 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | Electronic device with function of deformation detection of display panel, and corresponding method |
| JP2018072451A (en) * | 2016-10-26 | 2018-05-10 | 株式会社ジャパンディスプレイ | Display device, and manufacturing method of display device |
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-
1999
- 1999-12-16 JP JP35721699A patent/JP2001174209A/en not_active Withdrawn
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