JP2001141572A

JP2001141572A - マイクロコンピュータおよびチップ温度検出方法

Info

Publication number: JP2001141572A
Application number: JP32380999A
Authority: JP
Inventors: Masato Koura; 正人小浦
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1999-11-15
Filing date: 1999-11-15
Publication date: 2001-05-25

Abstract

(57)【要約】【課題】チップ温度の検出を適切に行えるマイクロコ
ンピュータおよびチップ温度検出方法を得る。【解決手段】温度依存性のない定電流回路２ａと抵抗
３とＭＯＳトランジスタスイッチ４とにより構成され基
準電圧７を生成する基準電圧発生回路と、温度依存性を
持つ定電流回路２ｂと抵抗３とＭＯＳトランジスタスイ
ッチ４とにより構成され比較電圧８を生成する比較電圧
発生回路とを備え、前記基準電圧７と比較電圧８の電圧
値の大小を比較して検出信号１０を出力するコンパレー
タ９を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、チップ温度検出
機能を有するマイクロコンピュータに関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来のマイクロコンピュータ（以下、Ｍ
ＣＵという）においては、内部にＭＣＵのチップ温度を
計測する回路は、特に搭載されていなかった。また、Ｍ
ＣＵの各回路を構成するトランジスタは、一般的に高温
になるほど電流駆動能力がなくなるが付加容量には温度
変化がないため、高温になると動作速度が低下する。

【０００３】このため、ＭＣＵの回路設計では、動作保
証温度範囲内での最大動作周波数での動作保証のため、
高温時に十分な動作マージンを持つように、回路のトラ
ンジスタサイズを大きくして電流駆動能力を大きくする
必要がある。

【０００４】しかし、高温時の動作にあわせたトランジ
スタで設計を行うと、常温／低温時においては、逆に回
路の電流駆動能力が増加することで動作速度は速くなる
が、その反面電流駆動能力が大きいことから内部電源電
圧の変動幅が増えることにより、電源ノイズ発生の原因
になる可能性があり、またＭＣＵ内部の消費電流値が増
加する。

【０００５】刊行物による先行技術としては、特開昭５
５−２４６５５号公報，特開昭５７−２８２２７号公報
および特開昭６０−２５４２６号公報がある。これらの
先行技術は、温度検出信号を得るための変動要素とし
て、定電流回路と別の、定電流回路から定電流の供給を
受ける抵抗あるいはダイオードの温度依存性を利用した
ものであって、構成が複雑でチップ温度につき適切な温
度検出を行えるというものではなかった。すなわち、特
開昭５５−２４６５５号公報のものは、抵抗自身が温度
によって抵抗値が変化することを利用したものである。
特開昭５７−２８２２７号公報のものは、対をなす抵抗
が別の温度係数を持つことを利用したものである。特開
昭６０−２５４２６号公報のものは、ダイオードの温度
依存性を利用したものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】この発明は、チップ温
度に適応したトランジスタサイズの選択が可能となるよ
うに、チップ温度の検出を適切に行えるマイクロコンピ
ュータおよびチップ温度検出方法を得ようとするもので
ある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】第１の発明に係るマイク
ロコンピュータでは、温度依存性のない第１の定電流回
路と、温度依存性を持つ第２の定電流回路とを回路要素
として備え、前記第１および第２の定電流回路を流れる
電流に応じた信号の大小を比較して検出信号を出力する
温度検出手段を回路要素として設けたものである。

【０００８】第２の発明に係るマイクロコンピュータで
は、温度依存性のない第１の定電流回路と、温度依存性
を持つ第２の定電流回路と、前記第１の定電流回路を流
れる電流に応じて基準電圧を生成する基準電圧発生手段
と、前記第２の定電流回路を流れる電流に応じて比較電
圧を生成する比較電圧発生手段とを回路要素として備
え、前記基準電圧と比較電圧の電圧信号の大小を比較し
て検出信号を出力する温度検出手段を回路要素として設
けたものである。

【０００９】第３の発明に係るマイクロコンピュータで
は、温度依存性のない定電流回路と抵抗とＭＯＳトラン
ジスタスイッチとにより構成され基準電圧を生成する基
準電圧発生回路からなる基準電圧発生手段と、温度依存
性を持つ定電流回路と抵抗とＭＯＳトランジスタスイッ
チとにより構成され比較電圧を生成する比較電圧発生回
路からなる比較電圧発生手段とを回路要素として備え、
前記基準電圧と比較電圧の電圧信号の大小を比較して検
出信号を出力するコンパレータからなる温度検出手段を
回路要素として設けたものである。

【００１０】第４の発明に係るマイクロコンピュータで
は、第１の定電流回路をバンドギャップ型定電流回路に
より構成し、第２の定電流回路をしきい値差型定電流回
路により構成したものである。

【００１１】第５の発明に係るマイクロコンピュータで
は、所定のタイミングで印加されるイネーブル信号に応
じて温度検出手段から検出信号を導出するようにしたも
のである。

【００１２】第６の発明に係るマイクロコンピュータで
は、ＭＯＳトランジスタスイッチとコンパレータに入力
されるイネーブル信号が有効信号レベルのときにのみ、
ＭＯＳトランジスタスイッチとコンパレータに動作電流
が発生し、コンパレータからなる温度検出手段から検出
信号が導出されるものである。

【００１３】第７の発明に係るマイクロコンピュータで
は、コンパレータからなる温度検出手段はイネーブル信
号が有効信号レベルのときの検出信号を保持するように
したものである。

【００１４】第８の発明に係るマイクロコンピュータで
は、ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／非導通の切り
替えで基準電圧発生手段による基準電圧を変更すること
により、温度検出手段からの検出信号を変化できるよう
にしたものである。

【００１５】第９の発明に係るマイクロコンピュータで
は、定電流回路と、前記定電流回路の電流を流通する複
数の抵抗要素と、前記抵抗要素を流れる電流の通電／遮
断を制御する通電制御用ＭＯＳトランジスタスイッチ
と、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジ
スタスイッチとを備え、前記抵抗要素を流れる電流によ
る電圧降下によって基準電圧を生成するとともに、前記
抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイ
ッチの導通／不導通を制御することにより前記基準電圧
を調整できるようにしたものである。

【００１６】第１０の発明に係るマイクロコンピュータ
では、ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／非導通の切
り替えで比較電圧発生手段による比較電圧を変更するこ
とにより、温度検出手段からの検出信号を変化できるよ
うにしたものである。

【００１７】第１１の発明に係るマイクロコンピュータ
では、定電流回路と、前記定電流回路の電流を流通する
複数の抵抗要素と、前記抵抗要素を流れる電流の通電／
遮断を制御する通電制御用ＭＯＳトランジスタスイッチ
と、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジ
スタスイッチとを備え、前記抵抗要素を流れる電流によ
る電圧降下によって比較電圧を生成するとともに、前記
抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイ
ッチの導通／不導通を制御することにより前記比較電圧
を調整できるようにしたものである。

【００１８】第１２の発明に係るマイクロコンピュータ
では、所定のイネーブル信号用プログラムが書き込ま
れ、前記イネーブル信号用プログラムによってイネーブ
ル信号を生成するイネーブル信号用レジスタを設けたも
のである。

【００１９】第１３の発明に係るマイクロコンピュータ
では、マイクロコンピュータの各要素を動作させる動作
用プログラムによってイネーブル信号用レジスタにおけ
るイネーブル信号の書き込みを行うものである。

【００２０】第１４の発明に係るマイクロコンピュータ
では、イネーブル信号用レジスタをマイクロコンピュー
タのチップにおける集積回路要素として集積化したもの
である。

【００２１】第１５の発明に係るマイクロコンピュータ
では、監視タイマレジスタにプログラムで書き込みを行
うことにより、イネーブル信号が発生するようにしたも
のである。

【００２２】第１６の発明に係るマイクロコンピュータ
では、マイクロコンピュータのチップにおける集積回路
要素として集積化された監視タイマレジスタに、プログ
ラムで書き込みを行うことにより、イネーブル信号が発
生するようにしたものである。

【００２３】第１７の発明に係るマイクロコンピュータ
では、マイクロコンピュータの各要素を動作させる動作
用プログラムによって、監視タイマレジスタに、イネー
ブル信号生成のための書き込みを行うものである。

【００２４】第１８の発明に係るマイクロコンピュータ
では、イネーブル信号を生成するためのイネーブル信号
用タイマを設けたものである。

【００２５】第１９の発明に係るマイクロコンピュータ
では、イネーブル信号用タイマをマイクロコンピュータ
のチップにおける集積回路要素として集積化したもので
ある。

【００２６】第２０の発明に係るチップ温度検出方法で
は、マイクロコンピュータのチップに設けられた温度依
存性のない第１の定電流回路を流れる電流に応じた信号
と、マイクロコンピュータのチップに設けられた温度依
存性を持つ第２の定電流回路を流れる電流に応じた信号
との大小を比較して検出信号を得ることによりチップ温
度を検出するようにしたものである。

【００２７】第２１の発明に係るチップ温度検出方法で
は、マイクロコンピュータのチップに設けられた温度依
存性のない第１の定電流回路を流れる電流に応じて生成
された基準電圧と、マイクロコンピュータのチップに設
けられた温度依存性を持つ第２の定電流回路を流れる電
流に応じて生成された比較電圧との電圧信号の大小を比
較して検出信号を得ることによりチップ温度を検出する
ようにしたものである。

【００２８】第２２の発明に係るチップ温度検出方法で
は、所定のタイミングで印加されるイネーブル信号に応
じて検出信号を導出しチップ温度を検出するようにした
ものである。

【００２９】第２３の発明に係るチップ温度検出方法で
は、有効信号レベルにあるイネーブル信号に応じて検出
信号を導出しチップ温度を検出するとともに、イネーブ
ル信号が有効信号レベルにないときは検出信号を導出せ
ず、イネーブル信号が有効信号レベルにあったときの検
出信号を保持するようにしたものである。

【００３０】第２４の発明に係るチップ温度検出方法で
は、基準電圧の信号値を変更することにより、チップ温
度を検出するための検出信号を変化するようにしたもの
である。

【００３１】第２５の発明に係るチップ温度検出方法で
は、比較電圧の信号値を変更することにより、チップ温
度を検出するための検出信号を変化できるようにしたも
のである。

【００３２】

【発明の実施の形態】実施の形態１．図１は、この発明
による実施の形態１におけるチップ温度検出回路の構成
を示す接続図である。図１に示す回路図を参照して、チ
ップ温度検出回路動作の概略について説明する。図にお
いて、１は電源、２ａ，２ｂは定電流源としての定電流
回路、３は抵抗、４はＭＯＳトランジスタスイッチ、５
はグランド部位（以下、ＧＮＤという）、６はイネーブ
ル信号、７は基準電圧、８は比較電圧、９はコンパレー
タからなる温度検出手段、１０は検出信号である。

【００３３】電源１は、定電流回路２ａ，２ｂに接続さ
れている。定電流回路２ａ，２ｂは、一定の電流を発生
する働きを持つ。抵抗３は、定電流回路２ａ，２ｂで発
生される一定電流により、その抵抗値によって生ずる電
圧降下として、抵抗×一定電流で決まる電圧を発生する
働きを持つ。

【００３４】ＭＯＳトランジスタスイッチ４の一方の入
力にはＧＮＤ５が、その制御信号にはイネーブル信号６
が、また、もう一方の入力には抵抗３が接続されてい
る。ＭＯＳトランジスタスイッチ４は、イネーブル信号
６が「Ｈｉ」信号レベルの時は２つの入力間が導通する
ことで、定電流回路２で発生される一定電流が電源１−
ＧＮＤ５間に流れ、抵抗３で一定電圧を発生させる働き
を持つ。ＭＯＳトランジスタスイッチ４は、イネーブル
信号６が「Ｌｏｗ」信号レベルの時は２つの入力間を遮
断することにより、電源１とＧＮＤ５との間に流れる電
流を遮断し、抵抗３で一定電圧を発生させない働きも持
つ。ＭＯＳトランジスタスイッチ４においては、イネー
ブル信号６の信号レベルの意味を逆転して、イネーブル
信号６が「Ｌｏｗ」信号レベルのときに２つの入力間を
導通し、イネーブル信号６が「Ｈｉ」信号レベルのとき
は２つの入力間を遮断するようにして回路を構成するこ
とができるのは勿論である。

【００３５】ここで、定電流回路２ａは温度依存性を持
たない回路であり、定電流回路２ｂは温度依存性を持つ
回路で構成する。これらの定電流回路２ａは、例えばバ
ンドギャップ型定電流回路を用いることで温度依存性を
持たない回路を作成できる。また、定電流回路２ｂは、
しきい値差型定電流回路を用いるとＭＯＳトランジスタ
のしきい値が負の温度依存性を持つため、負の温度依存
性を持つ回路を作成することができる。このとき、定電
流回路２ａの回路の抵抗３で発生する電圧が基準電圧７
であり、定電流回路２ｂの回路の抵抗３で発生する電圧
が比較電圧８である。

【００３６】コンパレータ９からなる温度検出手段は、
基準電圧７と比較電圧８を入力し、その２つの電圧を比
較して検出信号１０を発生する働きを持つ。例えば、基
準電圧７よりも比較電圧８の方が電圧が高い場合は「Ｈ
ｉ」信号レベルの検出信号１０を、基準電圧７よりも比
較電圧８の方が電圧が低い場合は「Ｌｏｗ」信号レベル
の検出信号１０を発生することができる。

【００３７】このコンパレータ９の電圧比較動作は、イ
ネーブル信号６が「Ｈｉ」信号レベルの場合のみ有効と
なる。また、このコンパレータ９は内部にラッチを持っ
ており、イネーブル信号６が「Ｈｉ」信号レベルの時に
発生した検出信号１０を取り込み、イネーブル信号６が
「Ｌｏｗ」信号レベルとなってコンパレータ９の電圧比
較動作が無効になっても検出信号１０の「Ｈｉ」信号レ
ベルを保持することができる。

【００３８】そして、バンドギャップ型定電流回路によ
り構成された定電流回路２ａ，しきい値差型定電流回路
により構成された定電流回路２ｂ，抵抗３，ＭＯＳトラ
ンジスタスイッチ４，およびコンパレータ９からなる温
度検出手段は、それぞれマイクロコンピュータの回路要
素を構成するものであって、これらの回路要素はマイク
ロコンピュータのチップにおける集積回路要素として一
体に集積化されている。

【００３９】これらの回路構成により、イネーブル信号
６を「Ｈｉ」信号レベルとしたときにチップ温度が低温
の場合は、定電流回路２ｂの電流が大きいため、基準電
圧７より比較電圧８の方が電圧値が大きくなり、検出信
号１０は「Ｈｉ」信号レベルとなる。イネーブル信号６
を「Ｈｉ」信号レベルとしたときにチップ温度が高温の
場合は、定電流回路２ｂの電流が小さいため、基準電圧
７より比較電圧８の方が電圧値が小さくなり、検出信号
１０は「Ｌｏｗ」信号レベルとなる。

【００４０】このように、基準電圧７と比較電圧８の電
圧比較によりチップ温度の検出が可能となり、検出信号
１０の信号レベルによって例えばＭＣＵ内のデータバス
を駆動するトランジスタを複数用意しておき、検出信号
１０が「Ｈｉ」信号レベル（低温時）には一部のトラン
ジスタのみ動作し残りのトランジスタは動作しないよう
にし、また、検出信号１０が「Ｌｏｗ」信号レベル（高
温時）には用意した全てのトランジスタが動作すること
で、低温時〜高温時において同じ程度のドライブ能力で
バスを駆動することが可能となる。

【００４１】この発明による実施の形態１によれば、バ
ンドギャップ型定電流回路により構成された温度依存性
のない定電流回路２ａと抵抗３とＭＯＳトランジスタス
イッチ４とにより構成され基準電圧７を生成する基準電
圧発生回路からなる基準電圧発生手段と、しきい値差型
定電流回路により構成された温度依存性を持つ定電流回
路２ｂと抵抗３とＭＯＳトランジスタスイッチ４とによ
り構成され比較電圧８を生成する比較電圧発生回路から
なる比較電圧発生手段とを回路要素として備え、基準電
圧７と比較電圧８の電圧信号の大小を比較して検出信号
を出力するコンパレータ９からなる温度検出手段を回路
要素として設けるとともに、定電流回路２ａ，２ｂ，抵
抗３，ＭＯＳトランジスタ４，およびコンパレータ９か
らなる回路要素をマイクロコンピュータのチップの集積
回路要素として集積化し、ＭＯＳトランジスタスイッチ
４とコンパレータ９に所定のタイミングで入力されるイ
ネーブル信号６が例えば「Ｈｉ」であって有効信号レベ
ルのときにのみ、ＭＯＳトランジスタスイッチ４とコン
パレータ９に動作電流が発生し、コンパレータ９からな
る温度検出手段から検出信号が導出され、ＭＯＳトラン
ジスタスイッチ４とコンパレータ９に入力されるイネー
ブル信号６が例えば「Ｌｏｗ」であって有効信号レベル
にないときは、ＭＯＳトランジスタスイッチ４とコンパ
レータ９に動作電流が発生せず、コンパレータ９からな
る温度検出手段から検出信号は導出されないが、コンパ
レータ９からなる温度検出手段はイネーブル信号６が有
効信号レベルのときの検出信号を保持するようにしたの
で、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が
可能となるように、バンドギャップ型定電流回路により
構成された温度依存性のない定電流源としての定電流回
路２ａと、しきい値差型定電流回路により構成された温
度依存性を持つ定電流源としての定電流回路２ｂとを用
い、これら定電流回路自体の温度依存特性を利用して、
集積回路に組み込まれた回路要素により、チップ温度の
検出を適切に行えるようにするとともに、イネーブル信
号による制御によって消費電流を抑制しつつ温度検出信
号を的確に導出できるマイクロコンピュータを得ること
ができる。

【００４２】また、この発明による実施の形態１によれ
ば、マイクロコンピュータのチップに設けられた温度依
存性のない第１の定電流回路を流れる電流に応じて生成
された基準電圧と、マイクロコンピュータのチップに設
けられた温度依存性を持つ第２の定電流回路を流れる電
流に応じて生成された比較電圧との電圧信号の大小を比
較して検出信号を得ることによりチップ温度を検出する
ようにし、所定のタイミングで印加される有効信号レベ
ルにあるイネーブル信号に応じて検出信号を導出しチッ
プ温度を検出するとともに、イネーブル信号が有効信号
レベルにないときは検出信号を導出せず、イネーブル信
号が有効信号レベルにあったときの検出信号を保持する
ようにしたので、チップ温度に適応したトランジスタサ
イズの選択が可能となるように、低い消費電流でチップ
温度の検出を適切に行えるチップ温度検出方法を得るこ
とができる。

【００４３】実施の形態２．図２は、この発明による実
施の形態２における基準電圧発生回路の構成を示す図で
ある。図において、１は電源、２ａは定電流源としての
定電流回路、３は抵抗、４はＭＯＳトランジスタスイッ
チ、５はＧＮＤ、６はイネーブル信号、７は基準電圧で
ある。

【００４４】この実施の形態２における基準電圧発生回
路は、図１に示す実施の形態１の電源１，定電流回路２
ａ，抵抗３およびＭＯＳトランジスタスイッチ４からな
る基準電圧発生回路に置き換えられるべきものであっ
て、図１に示す実施の形態１におけると同様のコンパレ
ータ９ならびに電源１，定電流回路２ｂ，抵抗３および
ＭＯＳトランジスタスイッチ４からなる比較電圧発生回
路とともに、マイクロコンピュータにおけるチップ温度
検出回路を構成するものである。

【００４５】この実施の形態２においては、複数の抵抗
３が定電流回路２とＮｃｈ型ＭＯＳトランジスタ４の間
に接続され、また、それぞれの抵抗３に並列にＭＯＳト
ランジスタスイッチ４が接続されている。また、基準電
圧７は最上位の抵抗３と定電流回路２の接続部分から出
力されている。

【００４６】ここで、導通させたＭＯＳトランジスタス
イッチ４と並列接続された抵抗３は、ＭＯＳトランジス
タスイッチ４自身の抵抗値が抵抗３と比較して十分に小
さい値となるため、非常に小さい抵抗と大きな抵抗の並
列接続となり、この部分の抵抗はＭＯＳトランジスタス
イッチ４の導通抵抗とほぼ等しくなる。これは、すなわ
ち抵抗３が存在しないことと同等の効果である。また、
非導通としたＭＯＳトランジスタスイッチ４に並列接続
された抵抗３の部分の抵抗値は、もちろん抵抗３自身の
抵抗値そのものとなる。

【００４７】このため、非導通としたＭＯＳトランジス
タスイッチ４に並列に接続された抵抗３の合計抵抗値が
この回路の抵抗値となり、基準電圧７はこの抵抗値×定
電流値の電圧となるため、ＭＯＳトランジスタスイッチ
４の導通／非導通の切り替えにより、基準電圧７の電圧
値を変化させることが可能となる。

【００４８】図３は、このようにして基準電圧７を変化
させた場合の検出温度の変化を示す図である。この図の
横軸は温度を表し、左側が低温で右側が高温となってい
る。また、縦軸は電圧を表している。

【００４９】基準電圧７については、温度依存性がない
ため横軸に平行な直線グラフとなるが、比較電圧８の方
は、負の温度特性を持つため、右下がりの直線グラフと
なる。そして、これら２つの直線の交点の温度がこの回
路での検出温度となる。すなわち、この交点の温度より
低い温度では検出信号１０は「Ｈｉ」信号レベルに、交
点の温度より高い温度では検出信号は「Ｌｏｗ」信号レ
ベルとなる。

【００５０】この実施の形態では、ＭＯＳトランジスタ
スイッチ４の導通／非導通の切り替えにより、基準電圧
７を変化させることが可能であり、基準電圧Ａや基準電
圧Ｂのように電圧値を変化させることができるため、直
線グラフの交点を図に示すように変化させることがで
き、この回路における設定検出温度を温度ＴａまたはＴ
ｂのように変化させることができる。

【００５１】すなわち、ＭＯＳトランジスタスイッチ４
の導通／非導通の切り替え設定により基準電圧７を温度
Ｔａに対応する基準電圧Ａとして設定した場合には、負
の温度特性を持つ比較電圧８が温度上昇にしたがって低
下し、基準電圧Ａとの交点に達することによって温度Ｔ
ａを検出するものである。また、ＭＯＳトランジスタス
イッチ４の導通／非導通の切り替え設定により基準電圧
７を温度Ｔｂに対応する基準電圧Ｂとして設定した場合
には、負の温度特性を持つ比較電圧８が温度上昇にした
がって低下し、基準電圧Ｂとの交点に達することによっ
て温度Ｔｂを検出する。

【００５２】この発明による実施の形態２によれば、定
電流回路２ａと、定電流回路２ａの電流を流通する複数
の抵抗要素３と、抵抗要素３を流れる電流の通電／遮断
を制御する通電制御用ＭＯＳトランジスタスイッチ４
と、抵抗要素３を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジス
タスイッチ４とを備え、抵抗要素３を流れる電流による
電圧降下によって基準電圧７を生成するとともに、抵抗
要素３を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイッ
チ４の導通／不導通を制御することにより基準電圧７を
調整できるようにしたので、基準電圧７の調整により設
定検出温度を変化させることができ、チップ温度に適応
したトランジスタサイズの選択が可能となるように、そ
の利用目的に応じた適切なチップ温度検出信号を得るこ
とができる。

【００５３】また、この発明による実施の形態２によれ
ば、基準電圧の信号値を変更することにより、チップ温
度を検出するための検出信号を変化するようにしたの
で、基準電圧７の調整により設定検出温度を変化させる
ことによって、チップ温度に適応したトランジスタサイ
ズの選択が可能となるように、その利用目的に応じた適
切なチップ温度検知を行うことができる。

【００５４】実施の形態３．図４は、この発明による実
施の形態３における比較電圧発生回路の構成を示す図で
ある。図において、１は電源、２ｂは定電流源としての
定電流回路、３は抵抗、４はＭＯＳトランジスタスイッ
チ、５はＧＮＤ、６はイネーブル信号、８は比較電圧で
ある。

【００５５】この実施の形態３における基準電圧発生回
路は、図１に示す実施の形態１の電源１，定電流回路２
ｂ，抵抗３およびＭＯＳトランジスタスイッチ４からな
る比較電圧発生回路に置き換えられるべきものであっ
て、図１に示す実施の形態１におけると同様のコンパレ
ータ９ならびに電源１，定電流回路２ａ，抵抗３および
ＭＯＳトランジスタスイッチ４からなる基準電圧発生回
路とともに、マイクロコンピュータにおけるチップ温度
検出回路を構成するものである。

【００５６】この実施の形態においては、実施の形態２
の回路と同一の構成となっており、取り出す電圧が比較
電圧８になっているだけである。このため、実施の形態
２と同様に非導通としたＭＯＳトランジスタスイッチ４
に並列に接続された抵抗３の合計抵抗値がこの回路の抵
抗値となり、比較電圧８はこの抵抗値×定電流値の電圧
となるため、ＭＯＳトランジスタスイッチ４の導通／非
導通の切り替えにより、比較電圧８の電圧値を変化させ
ることが可能となる。

【００５７】図５は、このようにして比較電圧８を変化
させた場合の検出温度の変化を示す図である。この図の
横軸，縦軸とも図３と同じであって、この図の横軸は温
度を表し、左側が低温で右側が高温となっている。ま
た、縦軸は電圧を表している。この実施の形態では、Ｍ
ＯＳトランジスタスイッチ４の切り替えにより、比較電
圧８を変化させることが可能であるため、比較電圧Ａや
比較電圧Ｂのように電圧値を変化させることができるた
め、直線グラフの交点を図に示すように変化させること
ができ、この回路での検出温度を変化させることができ
る。

【００５８】この発明による実施の形態３によれば、定
電流回路２ｂと、定電流回路２ｂの電流を流通する複数
の抵抗要素３と、抵抗要素３を流れる電流の通電／遮断
を制御する通電制御用ＭＯＳトランジスタスイッチ４
と、抵抗要素３を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジス
タスイッチ４とを備え、抵抗要素３を流れる電流による
電圧降下によって比較電圧８を生成するとともに、抵抗
要素３を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイッ
チ４の導通／不導通を制御することにより比較電圧８を
調整できるようにしたので、比較電圧８の調整により設
定検出温度を変化させることができ、チップ温度に適応
したトランジスタサイズの選択が可能となるように、そ
の利用目的に応じた適切なチップ温度検出信号を得るこ
とができる。

【００５９】また、この発明による実施の形態３によれ
ば、比較電圧の信号値を変更することにより、チップ温
度を検出するための検出信号を変化できるようにしたの
で、比較電圧８の調整により設定検出温度を変化させる
ことによって、チップ温度に適応したトランジスタサイ
ズの選択が可能となるように、その利用目的に応じた適
切なチップ温度検知を行うことができる。

【００６０】実施の形態４．図６は、この発明による実
施の形態４におけるイネーブル信号発生回路の構成を示
す図である。図において、６はイネーブル信号、１１は
温度判定レジスタ、１２はライト信号である。

【００６１】この実施の形態においては、ＭＣＵ内の温
度判定レジスタ１１に対してＭＣＵを動作させるプログ
ラムで書き込みを実施すると、ＭＣＵが発生するライト
信号１２が温度判定レジスタ１１に入力されることによ
り、温度判定レジスタ１１からイネーブル信号６が発生
される。

【００６２】この構成によってイネーブル信号６を発生
することにより、ＭＣＵを動作させるプログラムで温度
を検出する条件を設定することが可能となる。

【００６３】この発明による実施の形態４によれば、マ
イクロコンピュータの各要素を動作させる動作用プログ
ラムによってイネーブル信号用レジスタにおけるイネー
ブル信号の書き込みを行うとともに、イネーブル信号用
レジスタをマイクロコンピュータのチップにおける集積
回路要素として集積化したので、マイクロコンピュータ
の動作用プログラムを利用してイネーブル信号の書き込
みを行うことにより確実かつ容易にイネーブル信号を生
成できるとともに、イネーブル信号用レジスタをマイク
ロコンピュータのチップにおける集積回路要素として集
積化することによりチップ温度の検出をチップと一体化
した構成で適切に行うことができる。

【００６４】実施の形態５．図７は、この発明における
イネーブル信号発生回路の別の実施形態を示す図であ
る。図において、６はイネーブル信号、１２はライト信
号、１３は監視タイマレジスタである。

【００６５】この実施の形態においては、ＭＣＵ内に存
在する監視タイマレジスタ１３に対してＭＣＵを動作さ
せるプログラムで書き込みを実施すると、ＭＣＵが発生
するライト信号１２が監視タイマレジスタ１３に入力さ
れることにより、監視タイマレジスタ１３からイネーブ
ル信号６が発生される。

【００６６】監視タイマは、プログラムの暴走を防止す
るためにＭＣＵ内に存在する回路であり、カウントオー
バーフローが発生するとＭＣＵ内で監視タイマ割り込み
が発生する。しかし、監視タイマレジスタ１３へ書き込
みを行うと、その時点でカウントが初期化される。この
ためプログラムの中において一定の周期で監視タイマレ
ジスタ１３への書き込みが発生するよう、ＭＣＵのユー
ザーがプログラムを作成する。

【００６７】このようなプログラムにすることにより、
プログラムが正常に動作しているときは一定周期で監視
タイマレジスタ１３への書き込みが発生することで、Ｍ
ＣＵ内に存在する監視タイマが書き込み毎にカウント初
期化されるため普通にＭＣＵが動作するが、何らかの原
因によりプログラムが暴走して監視タイマレジスタ１３
への書き込みが発生しなくなった場合、ＭＣＵの監視タ
イマがカウントオーバーすることで監視タイマ割り込み
が発生して、ＭＣＵ内部で暴走時の対応処理が実施され
る（例えばＭＣＵリセットなど）。

【００６８】この実施の形態では、この監視タイマレジ
スタ１３への書き込みでイネーブル信号６が発生するた
め、ＭＣＵのプログラムによる一定周期後とにチップ温
度検出が可能となり、さらにＭＣＵのユーザーがプログ
ラム作成時において温度計測を意識することなくプログ
ラムを作成できる。さらに既存のＭＣＵ内部レジスタを
割り当てることができるため、追加のレジスタ回路が不
要となる。

【００６９】この発明による実施の形態５によれば、マ
イクロコンピュータのチップにおける集積回路要素とし
て集積化された監視タイマレジスタに、マイクロコンピ
ュータの各要素を動作させる動作用プログラムによっ
て、イネーブル信号生成のための書き込みを行うように
し、この書き込みによってイネーブル信号を生成するよ
うにしたので、確実かつ容易にイネーブル信号を生成す
ることができるとともに、チップ温度の検出をチップと
一体化した構成で適切に行うことができる。

【００７０】実施の形態６．図８は、この発明における
イネーブル信号６を発生するイネーブル信号発生回路の
別の実施形態を示す図である。図において、６はイネー
ブル信号、１４はタイマである。

【００７１】この実施の形態においては、ＭＣＵ内にタ
イマ１４を設け、そのカウント一定周期毎にタイマ１４
からイネーブル信号６を発生するため、ＭＣＵ動作の一
定周期毎にチップ温度検出が可能となる。

【００７２】この発明による実施の形態６によれば、イ
ネーブル信号を生成するためのイネーブル信号用タイマ
を設けるとともに、イネーブル信号用タイマをマイクロ
コンピュータのチップにおける集積回路要素として集積
化したので、タイマにより確実にイネーブル信号を生成
できるとともに、イネーブル信号用タイマをマイクロコ
ンピュータのチップにおける集積回路要素として集積化
することによりチップ温度の検出をチップと一体化した
構成で適切に行うことができる。

【００７３】以上のような実施の形態を組み合わせたチ
ップ温度検出回路を作成することにより、検出温度を変
化させることが可能となり、また、温度検出の場合をプ
ログラムで設定したり、一定周期毎に温度検出が可能と
なる。また、イネーブル信号６が無効な場合は、基準電
圧７の発生回路や比較電圧８の発生回路やコンパレータ
９での動作電流を遮断することが可能となり、チップ温
度検出回路追加によるＭＣＵの消費電流の増加をチップ
温度検出時のみとすることが可能となる。

【００７４】

【発明の効果】第１の発明によれば、温度依存性のない
第１の定電流回路と、温度依存性を持つ第２の定電流回
路とを回路要素として備え、前記第１および第２の定電
流回路を流れる電流に応じた信号の大小を比較して検出
信号を出力する温度検出手段を回路要素として設けたの
で、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が
可能となるように、温度依存性のない定電流回路と、温
度依存性を持つ定電流回路とを用い、これら定電流回路
の温度依存特性を利用してチップ温度の検出を適切に行
えるマイクロコンピュータを得ることができる。

【００７５】第２の発明によれば、温度依存性のない第
１の定電流回路と、温度依存性を持つ第２の定電流回路
と、前記第１の定電流回路を流れる電流に応じて基準電
圧を生成する基準電圧発生手段と、前記第２の定電流回
路を流れる電流に応じて比較電圧を生成する比較電圧発
生手段とを回路要素として備え、前記基準電圧と比較電
圧の電圧信号の大小を比較して検出信号を出力する温度
検出手段を回路要素として設けたので、チップ温度に適
応したトランジスタサイズの選択が可能となるように、
基準電圧と比較電圧との比較による検出信号によりチッ
プ温度の検出を適切に行えるマイクロコンピュータを得
ることができる。

【００７６】第３の発明によれば、温度依存性のない定
電流回路と抵抗とＭＯＳトランジスタスイッチとにより
構成され基準電圧を生成する基準電圧発生回路からなる
基準電圧発生手段と、温度依存性を持つ定電流回路と抵
抗とＭＯＳトランジスタスイッチとにより構成され比較
電圧を生成する比較電圧発生回路からなる比較電圧発生
手段とを回路要素として備え、前記基準電圧と比較電圧
の電圧信号の大小を比較して検出信号を出力するコンパ
レータからなる温度検出手段を回路要素として設けたの
で、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が
可能となるように、温度依存性のない定電流回路と抵抗
とＭＯＳトランジスタスイッチとにより構成された基準
電圧発生回路からなる基準電圧発生手段によって生成さ
れる基準電圧と、温度依存性を持つ定電流回路と抵抗と
ＭＯＳトランジスタスイッチとにより構成された比較電
圧発生回路からなる比較電圧発生手段によって生成され
る比較電圧との、比較による検出信号により、チップ温
度の検出を適切に行えるマイクロコンピュータを得るこ
とができる。

【００７７】第４の発明によれば、第１の定電流回路を
バンドギャップ型定電流回路により構成し、第２の定電
流回路をしきい値差型定電流回路により構成したので、
チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が可能
となるように、温度依存性のないバンドギャップ型定電
流回路からなる定電流回路と抵抗とＭＯＳトランジスタ
スイッチとにより構成された基準電圧発生回路からなる
基準電圧発生手段によって生成される基準電圧と、温度
依存性を持つしきい値差型定電流回路からなる定電流回
路と抵抗とＭＯＳトランジスタスイッチとにより構成さ
れた比較電圧発生回路からなる比較電圧発生手段によっ
て生成される比較電圧との、比較による検出信号によ
り、チップ温度の検出を適切に行えるマイクロコンピュ
ータを得ることができる。

【００７８】第５の発明によれば、所定のタイミングで
印加されるイネーブル信号に応じて温度検出手段から検
出信号を導出するようにしたので、チップ温度に適応し
たトランジスタサイズの選択が可能となるように、イネ
ーブル信号により制御され基準電圧と比較電圧との比較
により導出される検出信号により、チップ温度の検出を
消費電流を抑制しつつ適切に行えるマイクロコンピュー
タを得ることができる。

【００７９】第６の発明によれば、ＭＯＳトランジスタ
スイッチとコンパレータに入力されるイネーブル信号が
有効信号レベルのときにのみ、ＭＯＳトランジスタスイ
ッチとコンパレータに動作電流が発生し、コンパレータ
からなる温度検出手段から検出信号が導出されるように
したので、イネーブル信号が有効信号レベルにあるかど
うかにより制御され基準電圧と比較電圧との比較により
導出される検出信号によりチップ温度の検出を消費電流
を抑制しつつ適切に行えるマイクロコンピュータを得る
ことができる。

【００８０】第７の発明によれば、コンパレータからな
る温度検出手段はイネーブル信号が有効信号レベルのと
きの検出信号を保持するようにしたので、ＭＯＳトラン
ジスタスイッチおよびコンパレータに動作電流が発生さ
れないときでも、コンパレータからなる温度検出手段に
よる検出信号を確保することができ、チップ温度の検出
を円滑に行うことができるマイクロコンピュータを得る
ことができる。

【００８１】第８の発明によれば、ＭＯＳトランジスタ
スイッチの導通／非導通の切り替えで基準電圧発生手段
による基準電圧を変更することにより、温度検出手段か
らの検出信号を変化できるようにしたので、ＭＯＳトラ
ンジスタスイッチの導通／非導通の切り替えによる基準
電圧の調整により設定検出温度を変化させることがで
き、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が
可能となるように、その利用目的に応じた適切なチップ
温度検出信号を導出できるマイクロコンピュータを得る
ことができる。

【００８２】第９の発明によれば、定電流回路と、前記
定電流回路の電流を流通する複数の抵抗要素と、前記抵
抗要素を流れる電流の通電／遮断を制御する通電制御用
ＭＯＳトランジスタスイッチと、前記抵抗要素を橋絡す
る橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイッチとを備え、前
記抵抗要素を流れる電流による電圧降下によって基準電
圧を生成するとともに、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制
御用ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／不導通を制御
することにより前記基準電圧を調整できるようにしたの
で、通電制御用ＭＯＳトランジスタスイッチおよび橋絡
制御用ＭＯＳトランジスタの導通／非導通の切り替えで
基準電圧発生手段による基準電圧を変更することによ
り、温度検出手段からの検出信号を変化できるようにし
たので、ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／非導通の
切り替えによる基準電圧の調整により設定検出温度を変
化させることができ、チップ温度に適応したトランジス
タサイズの選択が可能となるように、その利用目的に応
じた適切なチップ温度検出信号を導出できるマイクロコ
ンピュータを得ることができる。

【００８３】第１０の発明によれば、ＭＯＳトランジス
タスイッチの導通／非導通の切り替えで比較電圧発生手
段による比較電圧を変更することにより、温度検出手段
からの検出信号を変化できるようにしたので、ＭＯＳト
ランジスタスイッチの導通／非導通の切り替えによる比
較電圧の調整により設定検出温度を変化させることがで
き、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選択が
可能となるように、その利用目的に応じた適切なチップ
温度検出信号を導出できるマイクロコンピュータを得る
ことができる。

【００８４】第１１の発明によれば、定電流回路と、前
記定電流回路の電流を流通する複数の抵抗要素と、前記
抵抗要素を流れる電流の通電／遮断を制御する通電制御
用ＭＯＳトランジスタスイッチと、前記抵抗要素を橋絡
する橋絡制御用ＭＯＳトランジスタスイッチとを備え、
前記抵抗要素を流れる電流による電圧降下によって比較
電圧を生成するとともに、前記抵抗要素を橋絡する橋絡
制御用ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／不導通を制
御することにより前記比較電圧を調整できるようにした
ので、ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／非導通の切
り替えによる比較電圧の調整により設定検出温度を変化
させることができ、チップ温度に適応したトランジスタ
サイズの選択が可能となるように、その利用目的に応じ
た適切なチップ温度検出信号を導出できるマイクロコン
ピュータを得ることができる。

【００８５】第１２の発明によれば、所定のイネーブル
信号用プログラムが書き込まれ、前記イネーブル信号用
プログラムによってイネーブル信号を生成するイネーブ
ル信号用レジスタを設けたので、チップ温度に適応した
トランジスタサイズの選択が可能となるように、イネー
ブル信号用プログラムによってイネーブル信号用レジス
タで生成されるイネーブル信号による制御により、チッ
プ温度の検出を適切に行えるマイクロコンピュータを得
ることができる。

【００８６】第１３の発明によれば、マイクロコンピュ
ータの各要素を動作させる動作用プログラムによってイ
ネーブル信号用レジスタにおけるイネーブル信号の書き
込みを行うようにしたので、マイクロコンピュータの動
作用プログラムを利用してイネーブル信号の書き込みを
行うことにより確実かつ容易にイネーブル信号を生成で
き、イネーブル信号による制御によってチップ温度の検
出を適切に行えるマイクロコンピュータを得ることがで
きる。

【００８７】第１４の発明によれば、イネーブル信号用
レジスタをマイクロコンピュータのチップにおける集積
回路要素として集積化したので、イネーブル信号による
制御によってチップ温度の検出をチップと一体化した構
成で適切に行えるマイクロコンピュータを得ることがで
きる。

【００８８】第１５の発明によれば、監視タイマレジス
タにプログラムで書き込みを行うことにより、イネーブ
ル信号が発生するようにしたので、監視タイマレジスタ
により確実かつ容易にイネーブル信号を生成することが
でき、イネーブル信号による制御によってチップ温度の
検出を適切に行えるマイクロコンピュータを得ることが
できる。

【００８９】第１６の発明によれば、マイクロコンピュ
ータのチップにおける集積回路要素として集積化された
監視タイマレジスタにプログラムで書き込みを行うこと
により、イネーブル信号が発生するようにしたので、監
視タイマレジスタにより確実かつ容易にイネーブル信号
を生成することができ、イネーブル信号による制御によ
ってチップ温度の検出をチップと一体化した構成により
適切に行えるマイクロコンピュータを得ることができ
る。

【００９０】第１７の発明によれば、マイクロコンピュ
ータの各要素を動作させる動作用プログラムによって、
監視タイマレジスタに、イネーブル信号生成のための書
き込みを行うようにしたので、マイクロコンピュータを
動作させる動作用プログラムで書き込みが行われた監視
タイマレジスタにより確実かつ容易にイネーブル信号を
生成することができ、イネーブル信号による制御によっ
てチップ温度の検出をチップと一体化した構成により適
切に行えるマイクロコンピュータを得ることができる。

【００９１】第１８の発明によれば、イネーブル信号を
生成するためのイネーブル信号用タイマを設けたので、
タイマにより確実にイネーブル信号を生成することがで
き、イネーブル信号による制御によってチップ温度の検
出を適切に行えるマイクロコンピュータを得ることがで
きる。

【００９２】第１９の発明によれば、イネーブル信号用
タイマをマイクロコンピュータのチップにおける集積回
路要素として集積化したので、タイマにより確実にイネ
ーブル信号を生成することができ、イネーブル信号によ
る制御によってチップ温度の検出をチップと一体化した
構成により適切に行えるマイクロコンピュータを得るこ
とができる。

【００９３】第２０の発明によれば、マイクロコンピュ
ータのチップに設けられた温度依存性のない第１の定電
流回路を流れる電流に応じた信号と、マイクロコンピュ
ータのチップに設けられた温度依存性を持つ第２の定電
流回路を流れる電流に応じた信号との大小を比較して検
出信号を得ることによりチップ温度を検出するようにし
たので、チップ温度に適応したトランジスタサイズの選
択が可能となるように、チップ温度の検出を適切に行え
るチップ温度検出方法を得ることができる。

【００９４】第２１の発明によれば、マイクロコンピュ
ータのチップに設けられた温度依存性のない第１の定電
流回路を流れる電流に応じて生成された基準電圧と、マ
イクロコンピュータのチップに設けられた温度依存性を
持つ第２の定電流回路を流れる電流に応じて生成された
比較電圧との電圧信号の大小を比較して検出信号を得る
ことによりチップ温度を検出するようにしたので、チッ
プ温度に適応したトランジスタサイズの選択が可能とな
るように、基準電圧と比較電圧との比較による検出信号
によりチップ温度の検出を適切に行えるチップ温度検出
方法を得ることができる。

【００９５】第２２の発明によれば、所定のタイミング
で印加されるイネーブル信号に応じて検出信号を導出し
チップ温度を検出するようにしたので、チップ温度に適
応したトランジスタサイズの選択が可能となるように、
イネーブル信号による制御によってチップ温度の検出を
低い消費電流で適切に行えるチップ温度検出方法を得る
ことができる。

【００９６】第２３の発明によれば、有効信号レベルに
あるイネーブル信号に応じて検出信号を導出しチップ温
度を検出するとともに、イネーブル信号が有効信号レベ
ルにないときは検出信号を導出せず、イネーブル信号が
有効信号レベルにあったときの検出信号を保持するよう
にしたので、イネーブル信号による制御によって、チッ
プ温度の検出を適切かつ円滑に行えるチップ温度検出方
法を得ることができる。

【００９７】第２４の発明によれば、基準電圧の信号値
を変更することにより、チップ温度を検出するための検
出信号を変化するようにしたので、チップ温度に適応し
たトランジスタサイズの選択が可能となるように、基準
電圧の調整により設定検出温度を変化させることがで
き、その利用目的に応じた適切なチップ温度の検出を行
えるチップ温度検出方法を得ることができる。

【００９８】第２５の発明によれば、比較電圧の信号値
を変更することにより、チップ温度を検出するための検
出信号を変化できるようにしたので、チップ温度に適応
したトランジスタサイズの選択が可能となるように、比
較電圧の調整により設定検出温度を変化させることがで
き、その利用目的に応じた適切なチップ温度の検出を行
えるチップ温度検出方法を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施形態によるチップ温度検出
回路を示す図である。

【図２】図１の基準電圧発生回路を示す図である。

【図３】図２の基準電圧発生回路の基準電圧の変化を
示す図である。

【図４】図１の比較電圧発生回路を示す図である。

【図５】図４の比較電圧発生回路の基準電圧の変化を
示す図である。

【図６】この発明の一実施形態によるイネーブル信号
発生回路を示す図である。

【図７】この発明の別の実施形態によるイネーブル信
号発生回路を示す図である。

【図８】この発明の別の実施形態によるイネーブル信
号発生回路を示す図である。

【符号の説明】

１電源、２ａ，２ｂ定電流回路、３抵抗、４Ｍ
ＯＳトランジスタスイッチ、５ＧＮＤ端子、６イネ
ーブル信号、７基準電圧、８比較電圧、９コンパレ
ータからなる温度検出手段、１０検出信号、１１温
度判定レジスタ、１２ライト信号、１３監視タイマ
レジスタ、１４タイマ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】温度依存性のない第１の定電流回路と、
温度依存性を持つ第２の定電流回路とを回路要素として
備え、前記第１および第２の定電流回路を流れる電流に
応じた信号の大小を比較して検出信号を出力する温度検
出手段を回路要素として設けたことを特徴とするマイク
ロコンピュータ。
【請求項２】温度依存性のない第１の定電流回路と、
温度依存性を持つ第２の定電流回路と、前記第１の定電
流回路を流れる電流に応じて基準電圧を生成する基準電
圧発生手段と、前記第２の定電流回路を流れる電流に応
じて比較電圧を生成する比較電圧発生手段とを回路要素
として備え、前記基準電圧と比較電圧の電圧信号の大小
を比較して検出信号を出力する温度検出手段を回路要素
として設けたことを特徴とするマイクロコンピュータ。
【請求項３】温度依存性のない定電流回路と抵抗とＭ
ＯＳトランジスタスイッチとにより構成され基準電圧を
生成する基準電圧発生回路からなる基準電圧発生手段
と、温度依存性を持つ定電流回路と抵抗とＭＯＳトラン
ジスタスイッチとにより構成され比較電圧を生成する比
較電圧発生回路からなる比較電圧発生手段とを回路要素
として備え、前記基準電圧と比較電圧の電圧信号の大小
を比較して検出信号を出力するコンパレータからなる温
度検出手段を回路要素として設けたことを特徴とするマ
イクロコンピュータ。
【請求項４】第１の定電流回路をバンドギャップ型定
電流回路により構成し、第２の定電流回路をしきい値差
型定電流回路により構成したことを特徴とする請求項１
ないし請求項３のいずれかに記載のマイクロコンピュー
タ。
【請求項５】所定のタイミングで印加されるイネーブ
ル信号に応じて温度検出手段から検出信号を導出するこ
とを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記
載のマイクロコンピュータ。
【請求項６】ＭＯＳトランジスタスイッチとコンパレ
ータに入力されるイネーブル信号が有効信号レベルのと
きにのみ、ＭＯＳトランジスタスイッチとコンパレータ
に動作電流が発生し、コンパレータからなる温度検出手
段から検出信号が導出されることを特徴とする請求項５
に記載のマイクロコンピュータ。
【請求項７】コンパレータからなる温度検出手段はイ
ネーブル信号が有効信号レベルのときの検出信号を保持
することを特徴とする請求項６に記載のマイクロコンピ
ュータ。
【請求項８】ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／非
導通の切り替えで基準電圧発生手段による基準電圧を変
更することにより、温度検出手段からの検出信号を変化
できるようにしたことを特徴とする請求項１ないし請求
項７のいずれかに記載のマイクロコンピュータ。
【請求項９】定電流回路と、前記定電流回路の電流を
流通する複数の抵抗要素と、前記抵抗要素を流れる電流
の通電／遮断を制御する通電制御用ＭＯＳトランジスタ
スイッチと、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳ
トランジスタスイッチとを備え、前記抵抗要素を流れる
電流による電圧降下によって基準電圧を生成するととも
に、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトランジ
スタスイッチの導通／不導通を制御することにより前記
基準電圧を調整できるようにしたことを特徴とする請求
項２ないし請求項８に記載のマイクロコンピュータ。
【請求項１０】ＭＯＳトランジスタスイッチの導通／
非導通の切り替えで比較電圧発生手段による比較電圧を
変更することにより、温度検出手段からの検出信号を変
化できるようにしたことを特徴とする請求項１ないし請
求項９のいずれかに記載のマイクロコンピュータ。
【請求項１１】定電流回路と、前記定電流回路の電流
を流通する複数の抵抗要素と、前記抵抗要素を流れる電
流の通電／遮断を制御する通電制御用ＭＯＳトランジス
タスイッチと、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯ
Ｓトランジスタスイッチとを備え、前記抵抗要素を流れ
る電流による電圧降下によって比較電圧を生成するとと
もに、前記抵抗要素を橋絡する橋絡制御用ＭＯＳトラン
ジスタスイッチの導通／不導通を制御することにより前
記比較電圧を調整できるようにしたことを特徴とする請
求項２ないし請求項１０のいずれかに記載のマイクロコ
ンピュータ。
【請求項１２】所定のイネーブル信号用プログラムが
書き込まれ、前記イネーブル信号用プログラムによって
イネーブル信号を生成するイネーブル信号用レジスタを
設けたことを特徴とする請求項５ないし請求項７のいず
れかに記載のマイクロコンピュータ。
【請求項１３】マイクロコンピュータの各要素を動作
させる動作用プログラムによってイネーブル信号用レジ
スタにおけるイネーブル信号の書き込みを行うことを特
徴とする請求項１２に記載のマイクロコンピュータ。
【請求項１４】イネーブル信号用レジスタをマイクロ
コンピュータのチップにおける集積回路要素として集積
化したことを特徴とする請求項１２に記載のマイクロコ
ンピュータ。
【請求項１５】監視タイマレジスタにプログラムで書
き込みを行うことにより、イネーブル信号が発生するよ
うにしたことを特徴とする請求項５ないし請求項７に記
載のマイクロコンピュータ。
【請求項１６】マイクロコンピュータのチップにおけ
る集積回路要素として集積化された監視タイマレジスタ
にプログラムで書き込みを行うことにより、イネーブル
信号が発生するようにしたことを特徴とする請求項５な
いし請求項７に記載のマイクロコンピュータ。
【請求項１７】マイクロコンピュータの各要素を動作
させる動作用プログラムによって、監視タイマレジスタ
に、イネーブル信号生成のための書き込みを行うことを
特徴とする請求項１５または請求項１６に記載のマイク
ロコンピュータ。
【請求項１８】イネーブル信号を生成するためのイネ
ーブル信号用タイマを設けたことを特徴とする請求項５
ないし請求項７のいずれかに記載のマイクロコンピュー
タ。
【請求項１９】イネーブル信号用タイマをマイクロコ
ンピュータのチップにおける集積回路要素として集積化
したことを特徴とする請求項１８に記載のマイクロコン
ピュータ。
【請求項２０】マイクロコンピュータのチップに設け
られた温度依存性のない第１の定電流回路を流れる電流
に応じた信号と、マイクロコンピュータのチップに設け
られた温度依存性を持つ第２の定電流回路を流れる電流
に応じた信号との大小を比較して検出信号を得ることに
よりチップ温度を検出するようにしたことを特徴とする
チップ温度検出方法。
【請求項２１】マイクロコンピュータのチップに設け
られた温度依存性のない第１の定電流回路を流れる電流
に応じて生成された基準電圧と、マイクロコンピュータ
のチップに設けられた温度依存性を持つ第２の定電流回
路を流れる電流に応じて生成された比較電圧との電圧信
号の大小を比較して検出信号を得ることによりチップ温
度を検出するようにしたことを特徴とするチップ温度検
出方法。
【請求項２２】所定のタイミングで印加されるイネー
ブル信号に応じて検出信号を導出しチップ温度を検出す
るようにしたことを特徴とする請求項２０または請求項
２１に記載のチップ温度検出方法。
【請求項２３】有効信号レベルにあるイネーブル信号
に応じて検出信号を導出しチップ温度を検出するととも
に、イネーブル信号が有効信号レベルにないときは検出
信号を導出せず、イネーブル信号が有効信号レベルにあ
ったときの検出信号を保持することを特徴とする請求項
２２に記載のチップ温度検出方法。
【請求項２４】基準電圧の信号値を変更することによ
り、チップ温度を検出するための検出信号を変化するよ
うにしたことを特徴とする請求項２１ないし請求項２３
のいずれかに記載のチップ温度検出方法。
【請求項２５】比較電圧の信号値を変更することによ
り、チップ温度を検出するための検出信号を変化できる
ようにしたことを特徴とする請求項２１に記載のチップ
温度検出方法。