JP2001103068A - Test system for electronic apparatus having self-testing function - Google Patents
Test system for electronic apparatus having self-testing functionInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、自己試験機能を有
する通信機器等の電子装置の試験方式、特に、電子装置
を製品として出荷する際に工場でその装置についての正
常性(部品不良、製造不良が存在しないこと)を確認す
るために行う試験や、装置故障時の故障箇所の切り分け
のために行う試験に適用するのに好適な試験方式に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test method for an electronic device such as a communication device having a self-test function, and more particularly, to the normality (part defect, manufacturing) of the electronic device in a factory when the electronic device is shipped as a product. The present invention relates to a test method suitable for being applied to a test performed for confirming that no defect exists) and a test performed for isolating a failure location at the time of a device failure.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、自己試験機能を有する電子装置を
出荷する際に行なう正常性の確認試験や、装置故障時に
故障箇所を切り分けするための試験では、被試験装置に
コンソールを接続し、コンソールから試験開始コマンド
を入力して被試験装置内部の自己試験機能を起動するこ
とによって行ない、試験終了後は、その試験結果をコン
ソールへ出力するようにしている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a test for confirming normality performed when an electronic device having a self-test function is shipped and a test for isolating a failed portion when a device fails, a console is connected to a device under test. The self-test function in the device under test is started by inputting a test start command from the PC, and after the test is completed, the test result is output to the console.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の試験方式にあっては、コンソールを被試験装置
へ直接接続して試験するようにしているため、被試験装
置が複数台ある場合には、被試験装置1台にかかる試験
時間に加え、試験が終わるたびに、コンソールを次に試
験を行なう被試験装置へ接続し直す必要があるため、時
間や労力を要するという問題がある。However, in the above-described conventional test method, the console is directly connected to the device under test to perform the test. Therefore, when there are a plurality of devices under test, In addition to the test time required for one device under test, each time the test is completed, it is necessary to reconnect the console to the device under test to be tested next, which requires time and labor.
【0004】本発明は、このような従来の問題点に着目
してなされたもので、複数台の被試験装置を容易に、し
かも短時間で試験できる自己試験機能を有する電子装置
の試験方式を提供することを目的とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such conventional problems, and a test method for an electronic device having a self-test function capable of easily testing a plurality of devices under test in a short time. It is intended to provide.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項1に係る自己試験機能を有する電子装置の試験方式の
発明は、被試験装置としてそれぞれ自己試験機能を有す
る電子装置を複数台LANに接続すると共に、前記LA
Nに共通の試験指示装置を接続して、前記試験指示装置
から前記LAN上に試験開始メッセージをブロードキャ
スト送信することにより、前記複数台の被試験装置を同
時に試験することを特徴とするものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a test method for an electronic device having a self-test function, wherein a plurality of electronic devices each having a self-test function are connected to a LAN as devices under test. Connect with the LA
N, by simultaneously transmitting a test start message from the test instruction device to the LAN, and testing the plurality of devices under test at the same time. .
【0006】本発明によると、試験指示装置からLAN
上に試験開始メッセージをブロードキャスト送信するこ
とで、LANに接続された複数台の電子装置(被試験装
置)はそれぞれ試験開始メッセージを受信して、その自
己試験機能により試験を行なうので、複数台の被試験装
置を容易に、しかも短時間で同時に試験することが可能
となる。[0006] According to the present invention, the test instructing device transmits the data from the LAN.
By broadcasting the test start message on the upper side, a plurality of electronic devices (devices under test) connected to the LAN receive the test start message and perform the test by the self-test function. The device under test can be easily and simultaneously tested in a short time.
【0007】請求項2に係る発明は、請求項1に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記被試験装置は、自装置の試験結果と装置アドレスとを
前記試験指示装置へ送信し、前記試験指示装置は各被試
験装置から送信される試験結果と装置アドレスとを受信
して統計処理し、その統計結果をI/Oインターフェー
スを経て出力することを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having the self-test function according to the first aspect, the device under test transmits the test result and the device address of the device under test to the test instruction device. The test instruction device receives the test result and the device address transmitted from each device under test, performs statistical processing, and outputs the statistical result via an I / O interface. .
【0008】請求項2の発明によると、被試験装置毎
に、例えば試験回数、合格回数、NG試験項目等の統計
結果をコンソールに出力することが可能となる。According to the second aspect of the invention, it is possible to output, for each device under test, statistical results such as the number of tests, the number of passes, and NG test items to the console.
【0009】請求項3に係る発明は、請求項2に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記被試験装置は、その試験結果を当該被試験装置内のロ
ーカルファイルメモリに保存することを特徴とするもの
である。According to a third aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the second aspect, the device under test stores the test result in a local file memory in the device under test. It is characterized by doing.
【0010】請求項3の発明によると、被試験装置の試
験結果が自装置内のローカルファイルメモリに格納され
ているので、適宜参照することが可能となる。According to the third aspect of the present invention, since the test result of the device under test is stored in the local file memory of the device itself, it can be referred to as needed.
【0011】請求項4に係る発明は、請求項2に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、前記被試験装置からの試験結果と装
置アドレスとをローカルファイルメモリに保存して統計
して出力することを特徴とするものである。According to a fourth aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the second aspect, the test instruction device stores the test result and the device address from the device under test in a local file. It is characterized in that it is stored in a memory and output statistically.
【0012】請求項4の発明によると、試験指示装置に
おいて適宜のタイミングで、各試験装置の試験結果を統
計して出力して、試験回数、合格回数、NG試験項目等
を得ることが可能となる。According to the fourth aspect of the present invention, the test result of each test device is statistically output at an appropriate timing in the test instruction device, and the number of tests, the number of passes, the NG test item, and the like can be obtained. Become.
【0013】請求項5に係る発明は、請求項3に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、前記被試験装置のローカルファイル
メモリに保存された試験結果を収集して統計して出力す
ることを特徴とするものである。According to a fifth aspect of the present invention, in the test method of the electronic device having the self-test function according to the third aspect, the test instruction device transmits the test result stored in the local file memory of the device under test. It is characterized by being collected, statistically output.
【0014】請求項5の発明によると、試験指示装置に
おいて適宜のタイミングで、被試験装置のローカルファ
イルメモリから当該被試験装置の試験結果を読み出して
統計して出力することが可能となる。According to the fifth aspect of the present invention, it is possible to read out the test result of the device under test from the local file memory of the device under test at an appropriate timing in the test instruction device, and output the result statistically.
【0015】請求項6に係る自己試験機能を有する電子
装置の試験方式の発明は、それぞれ自己試験機能を有す
る電子装置からなる複数台の被試験装置をLANに接続
すると共に、前記LANに共通の試験指示装置を接続し
て、前記試験指示装置から前記LAN上に被試験装置を
識別するための装置識別メッセージをブロードキャスト
送信し、各被試験装置では装置識別メッセージの受信に
基づいて自装置の装置アドレスを含む識別情報を前記L
ANを介して前記試験指示装置へ送信し、その後、前記
試験指示装置において前記識別情報を受信した被試験装
置に対して前記LANを介して試験開始メッセージを送
信することにより、当該被試験装置を試験することを特
徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a test method for an electronic device having a self-test function, wherein a plurality of devices under test, each of which has an electronic device having a self-test function, are connected to a LAN, and the common device is connected to the LAN. A test instruction device is connected, a device identification message for identifying the device under test is broadcast-transmitted from the test instruction device onto the LAN, and each device under test has its own device based on the reception of the device identification message. The identification information including the address is
By transmitting a test start message via the LAN to the device under test that has received the identification information in the test instruction device, transmitting the device under test to the test instruction device via the AN, It is characterized by testing.
【0016】請求項6の発明によると、試験指示装置に
おいて、被試験装置からの識別情報により、LANに接
続されている被試験装置のアドレスや種類、数等を識別
し、その識別した被試験装置に対して試験が実施される
ので、効率的な試験が可能になると共に、被試験装置の
管理も容易になる。According to the sixth aspect of the present invention, in the test instruction apparatus, the address, type, number, etc. of the device under test connected to the LAN are identified based on the identification information from the device under test. Since the test is performed on the device, an efficient test can be performed, and the management of the device under test is facilitated.
【0017】請求項7に係る発明は、請求項6に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、受信した前記識別情報に基づいて試
験を実施したい被試験装置を選択し、その選択した被試
験装置に対して試験開始メッセージを送信することを特
徴とするものである。According to a seventh aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the sixth aspect, the test instruction device is a device under test that the user wants to execute a test based on the received identification information. Is selected, and a test start message is transmitted to the selected device under test.
【0018】請求項7の発明によると、所望の被試験装
置を選択することができ、より効率的に試験を実施する
ことが可能となる。According to the seventh aspect of the present invention, a desired device under test can be selected, and the test can be performed more efficiently.
【0019】請求項8に係る発明は、請求項1〜7のい
ずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の試
験方式において、前記被試験装置が外部表示機能を有す
るときは、受信した前記試験指示装置からのメッセージ
を前記外部表示機能を用いて外部へ表示させることを特
徴とするものである。According to an eighth aspect of the present invention, in the test method of an electronic device having a self-test function according to any one of the first to seventh aspects, when the device under test has an external display function, the receiving method is performed. The message from the test instruction device described above is displayed outside using the external display function.
【0020】このように、被試験装置において、メッセ
ージを受信したことを自装置の外部表示機能によって表
示するようにすると、メッセージの表示がない場合に、
中継の装置や自装置に障害があることを認識することが
可能となる。As described above, in the device under test, the fact that the message has been received is displayed by the external display function of the device itself.
It is possible to recognize that there is a failure in the relay device or its own device.
【0021】請求項9に係る発明は、請求項1〜8のい
ずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の試
験方式において、前記被試験装置が外部表示機能を有す
るときは、該外部表示機能を用いて試験が正常に終了し
たのを外部へ表示させることを特徴とするものである。According to a ninth aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to any one of the first to eighth aspects, when the device under test has an external display function, It is characterized in that the normal completion of the test is displayed externally using an external display function.
【0022】このようにすると、表示の有無によって、
表示のない被試験装置には何らかの障害があることを容
易に認識することが可能となる。By doing so, depending on whether or not there is a display,
It is possible to easily recognize that there is some trouble in the device under test without any display.
【0023】[0023]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について説明する。図1は、本発明に係る試
験方式のシステム構成図である。それぞれ自己試験機能
を有する電子装置としての複数台の被試験装置1はLA
N2に接続する。LAN2には、試験指示装置3を接続
し、この試験指示装置3にコンソール4を接続する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a system configuration diagram of a test system according to the present invention. A plurality of devices under test 1 as electronic devices each having a self-test function are LA
Connect to N2. A test instruction device 3 is connected to the LAN 2, and a console 4 is connected to the test instruction device 3.
【0024】本発明の第1実施の形態では、試験指示装
置3からLAN2上に試験開始メッセージをブロードキ
ャスト送信して複数台の被試験装置1を同時に試験し、
その各被試験装置1の試験結果を試験指示装置3に送信
する。なお、試験開始コマンドや試験結果の入出力は、
試験指示装置3に接続したコンソール4を通して行な
う。In the first embodiment of the present invention, a test start message is broadcast from the test instruction device 3 to the LAN 2 to test a plurality of devices under test 1 simultaneously.
The test result of each device under test 1 is transmitted to the test instruction device 3. The test start command and input / output of test results are
The test is performed through the console 4 connected to the test instruction device 3.
【0025】図2は、第1実施の形態における試験指示
装置3の要部の構成を示すブロック図である。この試験
指示装置3は、LAN用ポート11、LANコントロー
ラ12、シリアルポート13、試験指示機能部14、試
験結果編集機能部15、受信タイマ16、ハードディス
ク(HD)17、メモリ18、およびCPU19を有し
ている。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a main part of the test instruction device 3 according to the first embodiment. The test instruction device 3 includes a LAN port 11, a LAN controller 12, a serial port 13, a test instruction function unit 14, a test result editing function unit 15, a reception timer 16, a hard disk (HD) 17, a memory 18, and a CPU 19. are doing.
【0026】LAN用ポート11は、LAN2へ接続す
るためのポートであり、LANコントローラ12によっ
て生成されたフレームを送信する。シリアルポート13
は、コンソールを接続するためのポートである。試験指
示機能部14は、被試験装置1に対して試験開始メッセ
ージのブロードキャスト送信を行なう。試験結果編集機
能部15は、被試験装置1より返された試験結果を収集
して装置毎の統計を取った後、その統計結果をコンソー
ル4へ出力する。受信タイマ16は、試験開始メッセー
ジの送信後、一定時間被試験装置1からの応答を待ち、
その間に受信した被試験装置1の試験結果を取得し、タ
イムアウトにより試験終了を判断するために用いる。H
D17は、被試験装置1より受信した装置アドレス、装
置ID、試験結果の保存に使用され、メモリ18は、各
処理のためのワークエリアとして使用される。また、C
PU19は、装置全体の制御を行なう。The LAN port 11 is a port for connecting to the LAN 2, and transmits a frame generated by the LAN controller 12. Serial port 13
Is a port for connecting a console. The test instruction function unit 14 broadcasts a test start message to the device under test 1. After collecting the test results returned from the device under test 1 and collecting statistics for each device, the test result editing function unit 15 outputs the statistical results to the console 4. The reception timer 16 waits for a response from the device under test 1 for a certain time after transmitting the test start message,
The test result of the device under test 1 received during that time is acquired and used to determine the end of the test based on a timeout. H
D17 is used to store the device address, device ID, and test result received from the device under test 1, and the memory 18 is used as a work area for each process. Also, C
The PU 19 controls the entire apparatus.
【0027】図3は、第1実施の形態における被試験装
置1の要部の構成を示すブロック図である。この被試験
装置1は、LAN用ポート21、LANコントローラ2
2、自己試験機能部23、メッセージ受信・試験結果表
示機能部24、応答機能部25、ハードディスク(H
D)26、メモリ27、およびCPU28を有してい
る。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test 1 according to the first embodiment. The device under test 1 includes a LAN port 21, a LAN controller 2
2. Self-test function unit 23, message reception / test result display function unit 24, response function unit 25, hard disk (H
D) It has a memory 26, a memory 27, and a CPU 28.
【0028】LANポート21は、LAN2へ接続する
ためのポートで、LANコントローラ22によって生成
されたフレームを送信する。自己試験機能部23は、試
験指示装置3からの試験開始メッセージを受信すること
によって自己試験を行なう。また、メッセージ受信・試
験結果表示機能部24は、試験指示装置3からのメッセ
ージの受信を表示したり、自己試験終了後に装置内に異
常がないことを表示する。本実施の形態では、LEDを
用い、このLEDをメッセージの受信によって点灯さ
せ、試験終了時に異常がない場合はLEDの色を変えて
表示する。応答機能部25は、試験開始メッセージによ
る自己試験終了後、試験結果を試験指示装置3へ送信す
る。その他、HD26は試験結果の保存に使用され、メ
モリ27は各処理のためのワークエリアとして使用さ
れ、また、CPU28は装置全体の制御を行なう。The LAN port 21 is a port for connecting to the LAN 2, and transmits a frame generated by the LAN controller 22. The self-test function unit 23 performs a self-test by receiving a test start message from the test instruction device 3. In addition, the message reception / test result display function unit 24 displays the reception of a message from the test instruction device 3 or displays that there is no abnormality in the device after the completion of the self-test. In the present embodiment, an LED is used, and this LED is turned on when a message is received. When there is no abnormality at the end of the test, the LED is displayed in a different color. The response function unit 25 transmits the test result to the test instruction device 3 after the completion of the self-test by the test start message. In addition, the HD 26 is used for storing test results, the memory 27 is used as a work area for each processing, and the CPU 28 controls the entire apparatus.
【0029】図4は、第1実施の形態による試験方式の
全体の概略動作を示すフローチャートである。先ず、コ
ンソール4より試験開始コマンドを入力して(ステップ
S1)、試験指示装置3より試験開始メッセージをLA
N2上へブロードキャスト送信する(ステップS2)。
LAN2上にある被試験装置1では、試験開始メッセー
ジを受信したら、その旨を外部に表示して(ステップS
3)、自己試験機能部23により自己試験を開始する
(ステップS4)。その後、自己試験が終了した時点
で、異常がなければその旨を外部に表示し(ステップS
5)、その試験結果を自装置のHD26へ保存する(ス
テップS6)と共に、試験指示装置3へ送信する(ステ
ップS7)。その後、試験指示装置3では、被試験装置
1からの試験結果を受信して統計をとり(ステップS
8)、被試験装置1毎の試験結果をコンソール4へ出力
する(ステップS9)。FIG. 4 is a flowchart showing an overall schematic operation of the test system according to the first embodiment. First, a test start command is input from the console 4 (step S1), and a test start message is sent from the test instruction device 3 to LA.
Broadcast transmission is performed on N2 (step S2).
Upon receiving the test start message, the device under test 1 on the LAN 2 displays the message to the outside (step S
3) The self test is started by the self test function unit 23 (step S4). Thereafter, when the self-test is completed, if there is no abnormality, a message to that effect is displayed externally (step S).
5) The test result is stored in the HD 26 of the own device (step S6) and transmitted to the test instruction device 3 (step S7). Thereafter, the test instruction device 3 receives the test result from the device under test 1 and obtains statistics (Step S).
8) The test result for each device under test 1 is output to console 4 (step S9).
【0030】次に、本実施の形態の詳細な動作について
説明する。図5は、試験指示装置3から試験開始メッセ
ージを送信する動作を示すフローチャートである。先
ず、ユーザが試験指示装置3とシリアルポート13で接
続されているコンソール4より試験開始コマンドを入力
すると(ステップS11)、そのコマンドはシリアルポ
ート13を通して試験指示装置内部のCPU19に渡さ
れ、CPU19は試験開始を判断する(ステップS1
2)。これより、CPU19は試験指示機能部14へ試
験開始メッセージの送信を指示して(ステップS1
3)、試験指示機能部14において試験開始メッセージ
を生成させる。試験指示機能部14は、試験開始メッセ
ージを生成した後、LANコントローラ12へブロード
キャスト送信を指示し(ステップS14)、これにより
LANコントローラ12において図6に示すような試験
開始メッセージ送信用のイーサネットフレームを生成さ
せて(ステップS15)、その生成したフレームをLA
N用ポート11よりLAN2上へブロードキャスト送信
する(ステップS16)と同時に、CPU19により受
信タイマ16を起動させる(ステップS17)。Next, a detailed operation of this embodiment will be described. FIG. 5 is a flowchart showing an operation of transmitting a test start message from the test instruction device 3. First, when the user inputs a test start command from the console 4 connected to the test instruction device 3 and the serial port 13 (step S11), the command is passed to the CPU 19 inside the test instruction device through the serial port 13 and the CPU 19 Judgment of test start (step S1
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a test start message (step S1).
3) The test instruction function unit 14 generates a test start message. After generating the test start message, the test instruction function unit 14 instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S14), and thereby the Ethernet frame for transmitting the test start message as shown in FIG. Is generated (step S15), and the generated frame is LA
At the same time as the broadcast transmission from the N port 11 to the LAN 2 (step S16), the reception timer 16 is started by the CPU 19 (step S17).
【0031】図7は、被試験装置1での動作を示すフロ
ーチャートである。各被試験装置1においては、LAN
2上に送信されたフレームをLAN用ポート21で受信
したら(ステップS21)、その受信したフレームより
取り出した試験開始メッセージをCPU28で確認して
(ステップS22、S23)、メッセージ受信表示機能
部24へ受信表示を指示してLEDを点灯させる(ステ
ップS24、S25)と共に、自己試験機能部23へ試
験開始を指示して自己試験を開始させる(ステップS2
6、S27)。その後、自己試験が終了したら、CPU
28で試験結果を判断し(ステップS28、S29)、
装置に異常がない場合は験結果表示機能部24へLED
の表示変更を指示して(ステップS30)、メッセージ
の受信によって点灯しているLEDの色を変えて表示す
る(ステップS31)。また、CPU28は、試験結果
をHD26へログとして保存しておくと共に、応答機能
部25に対して試験結果の送信を指示する(ステップS
32)。これにより、応答機能部25では、LANコン
トローラ22へ試験結果を試験指示装置3へ送信するよ
う指示して、LANコントローラ22で図8に示すよう
なイーサネットフレームを生成し(ステップS33)、
その生成したフレームをLAN用ポート21よりLAN
2を介して試験指示装置3へ送信する(ステップS3
4)。FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the device under test 1. In each device under test 1, a LAN
When the frame transmitted on the LAN 2 is received by the LAN port 21 (step S21), the test start message extracted from the received frame is confirmed by the CPU 28 (steps S22 and S23). The reception display is instructed to turn on the LED (steps S24 and S25), and the self test is instructed to the self test function unit 23 to start the self test (step S2).
6, S27). After the self-test is completed,
The test result is determined at 28 (steps S28 and S29),
If there is no abnormality in the device, LED is displayed on the test result display function section 24.
Is displayed (step S30), and the color of the LED that is turned on by the reception of the message is changed and displayed (step S31). Further, the CPU 28 stores the test result as a log in the HD 26 and instructs the response function unit 25 to transmit the test result (step S2).
32). Thereby, the response function unit 25 instructs the LAN controller 22 to transmit the test result to the test instruction device 3, and generates an Ethernet frame as shown in FIG. 8 by the LAN controller 22 (step S33).
The generated frame is transmitted from the LAN port 21 to the LAN.
2 to the test instruction device 3 (step S3).
4).
【0032】また、試験指示装置3では、図9に示すよ
うに、被試験装置1より送信されたフレームをLAN用
ポート11で受信したら(ステップS41、S42)、
CPU19で試験を実施した被試験装置1のアドレスと
試験結果とを確認し(ステップS43)、その確認した
アドレスと試験結果とをHD17へ保存する(ステップ
S44)と共に、シリアルポート13を介してコンソー
ル4へ出力する(ステップS45)。なお、試験指示装
置3は、試験開始メッセージ送信時に起動した受信タイ
マ16がタイムアウトするまで、LAN2上にある被試
験装置1からのフレームの受信と試験結果の出力とを行
ない、タイムアウトした時点で割込みを発生して、フレ
ームの受信を終了し試験を終了する。When the test instruction device 3 receives the frame transmitted from the device under test 1 at the LAN port 11 as shown in FIG. 9 (steps S41 and S42),
The CPU 19 checks the address of the device under test 1 and the test result that have been tested by the CPU 19 (step S43), saves the checked address and the test result in the HD 17 (step S44), and also controls the console via the serial port 13. 4 (step S45). The test instruction device 3 receives the frame from the device under test 1 on the LAN 2 and outputs the test result until the reception timer 16 activated at the time of transmitting the test start message times out. Is generated, the frame reception ends, and the test ends.
【0033】本発明の第2実施の形態では、試験指示装
置3において試験開始コマンド入力時にLAN2上にあ
る複数の被試験装置1を識別するためのメッセージをブ
ロードキャスト送信し、被試験装置1からの応答によっ
て識別した被試験装置1に対して試験開始メッセージを
送信して試験を実施する。In the second embodiment of the present invention, when a test start command is input to the test instruction device 3, a message for identifying a plurality of devices under test 1 on the LAN 2 is broadcast-transmitted. A test is started by transmitting a test start message to the device under test 1 identified by the response.
【0034】このため、試験指示装置3には、図10に
示すように、試験指示機能部14に装置識別試験指示機
能を追加して、試験開始コマンド入力時にLAN2上に
ある複数の被試験装置1を識別するための装置識別メッ
セージをブロードキャスト送信するようにすると共に、
受信タイマ16に応答取得タイマ16aを追加して、装
置識別メッセージを送信してからLAN2上の被試験装
置1より送信された応答を受信するまでの時間を計測す
るようにする。また、被試験装置1には、図11に示す
ように、応答機能部25に装置ID送信機能を追加し
て、試験指示装置3より送信された装置識別メッセージ
を受信して自装置の装置アドレスと装置種類を試験指示
装置3に対して送信するようにする。その他の構成は、
第1実施の形態と同様とする。For this reason, as shown in FIG. 10, a device identification test instruction function is added to the test instruction function unit 14 in the test instruction device 3 so that a plurality of devices under test existing on the LAN 2 when a test start command is input. 1 and broadcast the device identification message for identifying
A response acquisition timer 16a is added to the reception timer 16 to measure the time from transmission of the device identification message to reception of the response transmitted from the device under test 1 on the LAN 2. As shown in FIG. 11, the device under test 1 adds a device ID transmission function to the response function unit 25, receives the device identification message transmitted from the test instruction device 3, and receives the device address of its own device. And the device type are transmitted to the test instruction device 3. Other configurations are
It is the same as the first embodiment.
【0035】図12は、第2実施の形態による試験方式
の全体の概略動作を示すフローチャートである。先ず、
コンソール4より試験開始コマンドを入力して(ステッ
プS51)、試験指示装置3より装置識別メッセージを
LAN2上へブロードキャスト送信する(ステップS5
2)。LAN2上にある被試験装置1では、装置識別メ
ッセージを受信したら、その旨を外部に表示する(ステ
ップS53)と共に、試験指示装置3へ自己の装置アド
レスと装置種類を示すデータを返信する(ステップS5
4)。被試験装置1からの応答を受信した試験指示装置
3では、受信した被試験装置1からの装置アドレスをH
D17に保存して(ステップS55)、LAN2上にあ
る被試験装置1の装置アドレス、種別、数を識別し、そ
の識別した被試験装置1にのみ試験開始メッセージを送
信する(ステップS56)。FIG. 12 is a flowchart showing an overall schematic operation of the test system according to the second embodiment. First,
A test start command is input from the console 4 (step S51), and a device identification message is broadcast from the test instruction device 3 onto the LAN 2 (step S5).
2). Upon receiving the device identification message, the device under test 1 on the LAN 2 displays the message to the outside (step S53) and returns data indicating its own device address and device type to the test instruction device 3 (step S53). S5
4). In the test instruction device 3 which has received the response from the device under test 1, the received device address from the device under test 1 is set to H.
D17 is stored (step S55), the device address, type, and number of the device under test 1 on the LAN 2 are identified, and a test start message is transmitted only to the identified device under test 1 (step S56).
【0036】その後は、試験開始メッセージを受信した
被試験装置1において、試験開始メッセージを受信した
旨を外部に表示して(ステップS57)、自己試験機能
部23により自己試験を開始し(ステップS58)、自
己試験終了後、異常がなければその旨を外部に表示し
(ステップS59)、その試験結果を自装置のHD26
へ保存する(ステップS60)と共に、試験指示装置3
へ送信する(ステップS61)。被試験装置1からの試
験結果を受信した試験指示装置3では、全ての被試験装
置1からの試験結果を収集して統計をとり(ステップS
62)、被試験装置1毎の試験結果をコンソール4へ出
力する(ステップS63)。Thereafter, in the device under test 1 which has received the test start message, the fact that the test start message has been received is displayed outside (step S57), and the self test is started by the self test function unit 23 (step S58). After the self-test is completed, if there is no abnormality, a message to that effect is displayed externally (step S59), and the test result is transmitted to the HD 26 of the own device.
(Step S60) and the test instruction device 3
(Step S61). The test instruction device 3 that has received the test results from the device under test 1 collects the test results from all the devices under test 1 and collects statistics (step S).
62), and outputs the test result for each device under test 1 to console 4 (step S63).
【0037】次に、第2実施の形態の詳細な動作につい
て説明する。図13は、試験指示装置3から装置識別メ
ッセージを送信する動作を示すフローチャートである。
先ず、ユーザが試験指示装置3とシリアルポート13で
接続されているコンソール4より試験開始コマンドを入
力すると(ステップS71)、そのコマンドはシリアル
ポート13を通して試験指示装置内部のCPU19に渡
され、CPU19は試験開始を判断する(ステップS7
2)。これより、CPU19は試験指示機能部14へ装
置識別メッセージの送信を指示して(ステップS7
3)、試験指示機能部14の装置識別試験指示機能によ
り装置識別メッセージを生成させる。試験指示機能部1
4は、装置識別メッセージを生成した後、LANコント
ローラ12へブロードキャスト送信を指示し(ステップ
S74)、これによりLANコントローラ12において
図14に示すような装置識別メッセージ送信用のイーサ
ネットフレームを生成させて(ステップS75)、その
生成したフレームをLAN用ポート11よりLAN2上
へブロードキャスト送信する(ステップS76)と同時
に、CPU19により応答取得タイマ16aを起動させ
る(ステップS77)。Next, a detailed operation of the second embodiment will be described. FIG. 13 is a flowchart showing an operation of transmitting a device identification message from the test instruction device 3.
First, when the user inputs a test start command from the console 4 connected to the test instruction device 3 and the serial port 13 (step S71), the command is passed to the CPU 19 inside the test instruction device via the serial port 13 and the CPU 19 Judgment of test start (Step S7)
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a device identification message (step S7).
3) The device identification message is generated by the device identification test instruction function of the test instruction function unit 14. Test instruction function unit 1
4 generates a device identification message and then instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S74), thereby causing the LAN controller 12 to generate an Ethernet frame for transmitting the device identification message as shown in FIG. In step S75, the generated frame is broadcast-transmitted from the LAN port 11 to the LAN 2 (step S76), and at the same time, the CPU 19 starts the response acquisition timer 16a (step S77).
【0038】図15は、被試験装置1での装置識別メッ
セージの受信および応答動作を示すフローチャートであ
る。試験指示装置3からLAN2上に送信されたフレー
ムは、選択した被試験装置1においてLAN用ポート2
1で受信し(ステップS81)、その受信したフレーム
より取り出した装置識別メッセージをCPU28で確認
して(ステップS82、S83)、メッセージ受信表示
機能部24へ受信表示を指示してLEDを点灯させる
(ステップS84、S85)と共に、応答機能部25に
対して装置アドレスと装置IDの応答メッセージの送信
を指示する(ステップS86)。これにより、応答機能
部25では、装置ID送信機能によりLANコントロー
ラ22へ装置IDと自装置のアドレスを試験指示装置3
へ送信するよう指示して、LANコントローラ22で図
16に示すようなイーサネットフレームを生成し(ステ
ップS87)、その生成したフレームをLAN用ポート
21よりLAN2を介して試験指示装置3へ送信する
(ステップS88)。FIG. 15 is a flowchart showing the operation of receiving and responding to the device identification message in the device under test 1. The frame transmitted from the test instruction device 3 to the LAN 2 is transmitted to the LAN port 2 in the selected device under test 1.
1 (step S81), the CPU 28 checks the device identification message extracted from the received frame (steps S82, S83), instructs the message reception / display function unit 24 to perform reception display, and turns on the LED (step S81). Along with steps S84 and S85), it instructs the response function unit 25 to transmit a response message of the device address and the device ID (step S86). As a result, the response function unit 25 transmits the device ID and the address of the own device to the LAN controller 22 by the device ID transmission function.
The LAN controller 22 generates an Ethernet frame as shown in FIG. 16 (step S87), and transmits the generated frame from the LAN port 21 to the test instruction apparatus 3 via the LAN 2 (step S87). Step S88).
【0039】この被試験装置1より送信されたフレーム
は、試験指示装置3においてLAN用ポート11を介し
て受信する。図17は、この場合の試験指示装置3での
動作を示すフローチャートで、先ず、被試験装置1より
送信されたフレームをLAN用ポート11で受信したら
(ステップS91、S92)、その装置アドレスと装置
IDとをCPU19で確認して(ステップS93)、H
D17へ保存する(ステップS94)。なお、試験指示
装置3は、装置識別メッセージ送信時に起動した応答取
得タイマ16aがタイムアウトするまで、LAN2上に
ある被試験装置1からのフレームの受信とHD17への
保存とを行ない、タイムアウトした時点で割込みを発生
して、フレームの受信を終了する。The frame transmitted from the device under test 1 is received by the test instruction device 3 via the LAN port 11. FIG. 17 is a flowchart showing the operation of the test instruction device 3 in this case. First, when a frame transmitted from the device under test 1 is received by the LAN port 11 (steps S91 and S92), the device address and the device The ID and the ID are confirmed by the CPU 19 (step S93).
It is stored in D17 (step S94). Note that the test instruction device 3 receives the frame from the device under test 1 on the LAN 2 and saves the frame in the HD 17 until the response acquisition timer 16a activated at the time of transmitting the device identification message times out. An interrupt is generated, and the reception of the frame ends.
【0040】試験指示装置3において、被試験装置1か
らのフレームの受信が終了したら、試験指示装置3で
は、図18にフローチャートを示すように、CPU19
の制御のもとに、HD17に保存してある装置アドレス
を取り出し(ステップS101)、その装置アドレスに
対して試験開始メッセージを送信するように指示して
(ステップS102)、試験指示機能部14において試
験開始メッセージを生成させる。試験指示機能部14
は、試験開始メッセージを生成した後、LANコントロ
ーラ12へHD17より取り出した装置アドレスへの試
験開始メッセージの送信を指示し(ステップS10
3)、これによりLANコントローラ12において図1
9に示すような試験開始メッセージ送信用のイーサネッ
トフレームを生成させて(ステップS104)、その生
成したフレームをLAN用ポート11よりLAN2上へ
ブロードキャスト送信する(ステップS105)。その
後、HD17より取り出した全ての装置アドレスへの試
験開始メッセージの送信を終了したのを確認して(ステ
ップS106)、その時点でCPU19により受信タイ
マ16を起動させる(ステップS107)。When the test instructing device 3 completes receiving the frame from the device under test 1, the test instructing device 3 executes the CPU 19 as shown in the flowchart of FIG.
Under the control of (1), the device address stored in the HD 17 is taken out (step S101), and an instruction to transmit a test start message to the device address is issued (step S102). Generate a test start message. Test instruction function unit 14
Generates a test start message and instructs the LAN controller 12 to transmit a test start message to the device address extracted from the HD 17 (step S10).
3), whereby the LAN controller 12
An Ethernet frame for transmitting a test start message as shown in FIG. 9 is generated (step S104), and the generated frame is broadcast-transmitted from the LAN port 11 to the LAN 2 (step S105). After that, it is confirmed that the transmission of the test start message to all the device addresses extracted from the HD 17 has been completed (step S106), and at that time, the reception timer 16 is started by the CPU 19 (step S107).
【0041】試験開始メッセージを受信した被試験装置
1では、図7に示したフローチャートに従って自己試験
を実施し、試験終了後に、試験指示装置3へ試験結果を
送信する。The device under test 1 that has received the test start message performs a self-test according to the flowchart shown in FIG. 7, and transmits the test result to the test instruction device 3 after the test is completed.
【0042】その後、試験指示装置3では、図20に示
すように、被試験装置1より送信されたフレームをLA
N用ポート11で受信したら(ステップS111、S1
12)、CPU19で試験を実施した被試験装置1の装
置アドレスと試験結果とを確認し(ステップS11
3)、その確認した装置アドレスと試験結果とをHD1
7へ保存する(ステップS114)と共に、シリアルポ
ート13を介してコンソール4へ出力する(ステップS
115)。その後、試験開始メッセージを送信した全て
の装置アドレスからの試験結果のフレームの受信を確認
して(ステップS116)、その時点でCPU19によ
り受信タイマ16を停止させる(ステップS117)。Thereafter, the test instructing device 3 converts the frame transmitted from the device under test 1 into LA, as shown in FIG.
When the data is received by the N port 11 (steps S111, S1
12) The CPU 19 checks the device address of the device under test 1 on which the test was performed and the test result (step S11).
3) The confirmed device address and test result are transferred to HD1.
7 (step S114) and output to the console 4 via the serial port 13 (step S114).
115). Thereafter, the reception of the test result frames from all the device addresses that transmitted the test start message is confirmed (step S116), and at that time, the reception timer 16 is stopped by the CPU 19 (step S117).
【0043】なお、試験指示装置3では、図21に示す
ように、試験開始メッセージ送信時に起動した受信タイ
マ16がタイムアウトするまで、LAN2上にある被試
験装置1からのフレームの受信と試験結果の出力とを行
ない、タイムアウトした時点で割込みを発生して、フレ
ームの受信を終了するが(ステップS121、S12
2、S123)、タイムアウトまでに試験結果を受信し
ていない被試験装置1がある場合は、通信エラーとして
その被試験装置1の装置アドレスをHD17よりコンソ
ール4へ出力して表示させる(ステップS124)。As shown in FIG. 21, the test instruction device 3 receives a frame from the device under test 1 on the LAN 2 and transmits the test result until the reception timer 16 started at the time of transmitting the test start message times out. The output is performed, and an interrupt is generated at the time of timeout, and the reception of the frame is terminated (steps S121 and S12).
2. If there is any device under test 1 that has not received the test result before the timeout, the device address of the device under test 1 is output from the HD 17 to the console 4 and displayed as a communication error (step S124). .
【0044】上記第2の実施の形態では、装置識別メッ
セージで識別した全ての被試験装置1に対して試験開始
メッセージを送信して試験を実施するようにしたが、本
発明の第3実施の形態では、識別した被試験装置1に対
して、試験を実施する被試験装置1を選択可能とする。In the second embodiment, the test is started by transmitting the test start message to all the devices under test 1 identified by the device identification message. However, the third embodiment of the present invention is described. In the embodiment, a device under test 1 for performing a test can be selected for the device under test 1 identified.
【0045】このため、本実施の形態では、図22に示
すように、試験指示装置3において被試験装置1からの
応答メッセージの受信が終了した後、CPU19はHD
17に保存してある被試験装置1の装置アドレスと装置
IDを全てコンソール4へ出力する(ステップS13
1)。その後、出力された装置アドレスや装置IDから
ユーザによって試験を実施する所望の被試験装置1(複
数も可)を選択する(ステップS132)。これによ
り、CPU19は選択された被試験装置1への試験開始
メッセージの送信を試験指示機能部14へ指示する(ス
テップS133)。試験指示機能部14では、試験開始
メッセージを作成した後、LANコントローラ12へ選
択した装置アドレスへの試験開始メッセージの送信を指
示し(ステップS134)、これによりLANコントロ
ーラ12でイーサネットフレームを生成して(ステップ
S135)、その生成されたフレームをLAN用ポート
11よりLAN2上の被試験装置1へ送信する(ステッ
プS136)。その後、選択した全ての被試験装置1に
対して試験開始メッセージの送信が終了したのを確認し
て(ステップS137)、CPU19は受信タイマ16
を起動させる(ステップS138)。その他の動作は、
第2実施の形態と同様である。For this reason, in the present embodiment, as shown in FIG. 22, after the test instruction device 3 has finished receiving the response message from the device under test 1, the CPU 19
17 and outputs all the device addresses and device IDs of the device under test 1 to the console 4 (step S13).
1). Thereafter, the user selects a desired device under test 1 (a plurality of devices under test) to be tested by the user from the output device address and device ID (step S132). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a test start message to the selected device under test 1 (step S133). After creating the test start message, the test instruction function unit 14 instructs the LAN controller 12 to transmit the test start message to the selected device address (step S134), thereby generating an Ethernet frame in the LAN controller 12. (Step S135), the generated frame is transmitted from the LAN port 11 to the device under test 1 on the LAN 2 (Step S136). Thereafter, it is confirmed that the transmission of the test start message has been completed to all the selected devices under test 1 (step S137), and the CPU 19 sets the reception timer 16
Is activated (step S138). Other operations are
This is the same as the second embodiment.
【0046】本発明の第4実施の形態では、試験指示装
置3において、被試験装置1のHD26に保存されてい
る試験結果ログ(試験回数、合格回数、NG試験項目
等)を収集して統計して出力する。In the fourth embodiment of the present invention, the test instruction device 3 collects test result logs (the number of times of test, the number of times of pass, NG test items, etc.) stored in the HD 26 of the device under test 1 and statistically collects them. And output.
【0047】このため、試験指示装置3には、図23に
示すように、試験指示機能部14にログ参照指示機能を
追加して、ログ参照コマンド入力時に参照したい被試験
装置1に対してログ参照メッセージを送信するようにす
ると共に、受信タイマ16にログ取得タイマ16bを追
加して、ログ参照メッセージを送信してからLAN2上
の被試験装置1より送信された応答を受信するまでの時
間を計測するようにする。また、被試験装置1には、図
24に示すように、応答機能部25にログ送信機能を追
加して、試験指示装置3より送信されたログ参照メッセ
ージを受信することにより、それに相当する試験結果ロ
グをHD26から取り出して試験指示装置3に対して送
信するようにする。その他の構成は、第2実施の形態と
同様とする。For this reason, as shown in FIG. 23, the test instruction device 3 adds a log reference instruction function to the test instruction function unit 14 so that a log can be transmitted to the device under test 1 to be referenced when a log reference command is input. In addition to transmitting the reference message, a log acquisition timer 16b is added to the reception timer 16 so that the time from transmission of the log reference message to reception of the response transmitted from the device under test 1 on the LAN 2 is reduced. Try to measure. In addition, as shown in FIG. 24, the device under test 1 has a log transmission function added to the response function unit 25 and receives the log reference message transmitted from the test instruction device 3 so that the corresponding test is performed. The result log is taken out from the HD 26 and transmitted to the test instruction device 3. Other configurations are the same as in the second embodiment.
【0048】次に、第4実施の形態の要部の動作につい
て説明する。本実施の形態では、装置試験時と同様に、
コンソール4よりログ参照コマンドを入力することによ
り、試験指示装置3のCPU19でログ参照コマンドを
判断してログの参照を開始する。このログ参照動作で
は、最初に第2実施の形態で説明したのと同様の動作手
順で、試験指示装置3より装置識別メッセージをブロー
ドキャスト送信してLAN2上にある被試験装置1を識
別する。Next, the operation of the main part of the fourth embodiment will be described. In the present embodiment, as in the case of the device test,
By inputting the log reference command from the console 4, the CPU 19 of the test instruction device 3 determines the log reference command and starts to refer to the log. In this log reference operation, the test instruction device 3 broadcasts a device identification message and identifies the device under test 1 on the LAN 2 in the same operation procedure as that described in the second embodiment.
【0049】すなわち、図25に示すように、先ず、ユ
ーザにおいてコンソール4からログ参照コマンドを入力
することで(ステップS141)、そのコマンドを試験
指示装置3のCPU19で判断する(ステップS14
2)。これより、CPU19は試験指示機能部14へ装
置識別メッセージの送信を指示して(ステップS14
3)、試験指示機能部14の装置識別試験指示機能によ
り装置識別メッセージを生成させる。試験指示機能部1
4は、装置識別メッセージを生成した後、LANコント
ローラ12へブロードキャスト送信を指示し(ステップ
S144)、これによりLANコントローラ12におい
て図14に示すような装置識別メッセージ送信用のイー
サネットフレームを生成させて(ステップS145)、
その生成したフレームをLAN用ポート11よりLAN
2上へブロードキャスト送信する(ステップS146)
と同時に、CPU19により応答取得タイマ16aを起
動させる(ステップS147)。That is, as shown in FIG. 25, first, a user inputs a log reference command from the console 4 (step S141), and the CPU 19 of the test instruction apparatus 3 determines the command (step S14).
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a device identification message (step S14).
3) The device identification message is generated by the device identification test instruction function of the test instruction function unit 14. Test instruction function unit 1
4, after generating the device identification message, instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S144), thereby causing the LAN controller 12 to generate an Ethernet frame for transmitting the device identification message as shown in FIG. Step S145),
The generated frame is transmitted from the LAN port 11 to the LAN.
2 is broadcasted (step S146).
At the same time, the CPU 19 starts the response acquisition timer 16a (step S147).
【0050】その後、被試験装置1では、図15で説明
した装置識別メッセージの受信および応答動作に従っ
て、装置アドレスと装置IDとの応答メッセージを試験
指示装置3へ送信し、この被試験装置1から送信された
フレームを試験指示装置3において、図17で説明した
動作に従って受信してLAN2上に接続されている被試
験装置1の装置アドレスと装置IDとをCPU19で確
認してHD17へ保存する。Thereafter, the device under test 1 transmits a response message of the device address and the device ID to the test instruction device 3 in accordance with the operation of receiving and responding to the device identification message described in FIG. The transmitted frame is received by the test instruction device 3 according to the operation described with reference to FIG. 17, the device address and the device ID of the device under test 1 connected on the LAN 2 are confirmed by the CPU 19, and are stored in the HD 17.
【0051】試験指示装置3において、LAN2上にあ
る被試験装置1の識別が終了したら、試験指示装置3で
は、図26にフローチャートを示すように、CPU19
はHD17に保存してある被試験装置1の装置アドレス
の全てをコンソール4へ出力する(ステップS15
1)。その後、出力された装置アドレスからユーザによ
ってログを参照したい所望の被試験装置1(複数も可)
および参照したいログの項目(試験回数、合格回数、N
G試験項目等)を選択する(ステップS152)。これ
により、CPU19は試験指示機能部14へログ参照メ
ッセージの送信を指示する(ステップS153)。試験
指示機能部14では、そのログ参照指示機能によりログ
参照メッセージを作成した後、LANコントローラ12
へ選択された装置アドレスへのログ参照メッセージの送
信を指示し(ステップS154)、これによりLANコ
ントローラ12でログ参照メッセージと参照したいログ
項目より図27に示すようなイーサネットフレームを生
成して(ステップS155)、その生成されたフレーム
をLAN用ポート11よりLAN2上の選択された被試
験装置1へ送信する(ステップS156)。その後、選
択した全ての被試験装置1に対してログ参照メッセージ
の送信が終了したのを確認して(ステップS157)、
CPU19はログ取得タイマ16bを起動させる(ステ
ップS158)。When the test instruction device 3 completes the identification of the device under test 1 on the LAN 2, the test instruction device 3 executes the CPU 19 as shown in the flowchart of FIG.
Outputs all the device addresses of the device under test 1 stored in the HD 17 to the console 4 (step S15).
1). Thereafter, a desired device under test 1 (a plurality of devices under test) for which the user wants to refer to the log from the output device address
And the log items you want to see (number of tests, number of passes, N
G test item) is selected (step S152). As a result, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a log reference message (step S153). The test instruction function unit 14 creates a log reference message using the log reference instruction function, and then creates a log reference message.
Instruct the LAN controller 12 to transmit a log reference message to the selected device address (step S154), thereby generating an Ethernet frame as shown in FIG. 27 from the log reference message and the log item to be referenced by the LAN controller 12 (step S154). S155), and transmits the generated frame from the LAN port 11 to the selected device under test 1 on the LAN 2 (step S156). Thereafter, it is confirmed that the transmission of the log reference message has been completed to all the selected devices under test 1 (step S157), and
The CPU 19 activates the log acquisition timer 16b (step S158).
【0052】試験指示装置3からLAN2上に送信され
たログ参照メッセージおよびログ項目を有するフレーム
は、図28に示すように選択した被試験装置1において
LAN用ポート21で受信し(ステップS161)、そ
の受信したフレームより取り出したログ参照メッセージ
をCPU28で確認して(ステップS162、S16
3)、メッセージ受信表示機能部24へ受信表示を指示
してLEDを点灯させる(ステップS164、S16
5)と共に、応答機能部25に対して要求されたログの
送信を指示する(ステップS166)。これにより、応
答機能部25では、ログ送信機能によりHD26から要
求されたログ項目に対するログを取り出して試験指示装
置3へ送信するようにLANコントローラ22へ指示し
て(ステップS167)、LANコントローラ22で図
29に示すようなイーサネットフレームを生成し(ステ
ップS168)、その生成したフレームをLAN用ポー
ト21よりLAN2を介して試験指示装置3へ送信する
(ステップS169)。The frame having the log reference message and the log item transmitted from the test instruction device 3 to the LAN 2 is received by the LAN port 21 in the selected device under test 1 as shown in FIG. 28 (step S161). The CPU 28 checks the log reference message extracted from the received frame (steps S162 and S16).
3) Instruct the message reception display function unit 24 to perform reception display and turn on the LED (steps S164 and S16).
Along with 5), it instructs the response function unit 25 to transmit the requested log (step S166). Accordingly, the response function unit 25 instructs the LAN controller 22 to retrieve the log corresponding to the log item requested from the HD 26 by the log transmission function and transmit the log to the test instruction device 3 (step S167). An Ethernet frame as shown in FIG. 29 is generated (step S168), and the generated frame is transmitted from the LAN port 21 to the test instruction device 3 via the LAN 2 (step S169).
【0053】被試験装置1からのログの送信フレーム
は、試験指示装置3においてLAN用ポート11を介し
て受信する。図30はこの場合の試験指示装置3での動
作を示すフローチャートで、被試験装置1より送信され
たフレームをLAN用ポート11で受信したら(ステッ
プS171、S172)、CPU19で被試験装置1の
ログを確認し(ステップS173)、その確認したログ
をコンソール4へ出力する(ステップS174)。その
後、ログ参照メッセージを送信した全ての装置アドレス
からのフレームの受信を確認して(ステップS17
5)、その時点でCPU19によりログ取得タイマ16
bを停止させる(ステップS176)。The transmission frame of the log from the device under test 1 is received by the test instruction device 3 via the LAN port 11. FIG. 30 is a flowchart showing the operation of the test instruction device 3 in this case. When the frame transmitted from the device under test 1 is received by the LAN port 11 (steps S171 and S172), the log of the device under test 1 is Is confirmed (step S173), and the confirmed log is output to the console 4 (step S174). Thereafter, it is confirmed that frames have been received from all device addresses that have transmitted the log reference message (step S17).
5) At that time, the CPU 19 causes the log acquisition timer 16
b is stopped (step S176).
【0054】なお、試験指示装置3では、ログ参照メッ
セージ送信時に起動したログ取得タイマ16bがタイム
アウトするまで、LAN2上にある被試験装置1からの
フレームの受信とログの出力とを行ない、タイムアウト
した時点で割込みを発生して、フレームの受信を終了す
るが、タイムアウトまでにログを受信していない被試験
装置1がある場合は、通信エラーとしてその被試験装置
1の装置アドレスをHD17よりコンソール4へ出力し
て表示させる。The test instructing device 3 receives a frame from the device under test 1 on the LAN 2 and outputs a log until the log acquisition timer 16b activated at the time of transmitting the log reference message times out. At this point, an interrupt is generated and the reception of the frame is terminated. However, if there is a device under test 1 for which no log has been received before the timeout, a device error of the device under test 1 is sent to the console 4 from the HD 17 as a communication error. Output to and display.
【0055】以上のようにして、試験指示装置3におい
て、選択された被試験装置1のHD26に保存されてい
る試験結果ログ(試験回数、合格回数、NG試験項目
等)を収集して統計して出力する。As described above, in the test instruction apparatus 3, the test result logs (the number of tests, the number of passes, the NG test items, etc.) stored in the HD 26 of the selected device under test 1 are collected and statistically collected. Output.
【0056】本発明の第5実施の形態では、試験指示装
置3のHD17に保存されている被試験装置1からの試
験結果ログを統計して出力する。図31は、この場合の
動作を示すフローチャートで、試験の場合と同様に、先
ずコンソール4より内部ログ参照コマンドを入力し(ス
テップS181)、CPU19で内部ログ参照コマンド
を判断することによって(ステップS182)、HD1
7に保存してある被試験装置1の装置アドレスをコンソ
ール4へ出力する(ステップS183)。その後、ユー
ザがログを参照したい被試験装置1を選択する(装置の
複数選択可)と共に、参照したいログ項目(試験回数、
合格回数、NG試験項目等)を選択することで(ステッ
プS184)、CPU19において選択された被試験装
置1のログ項目をHD17より取り出してコンソール4
へ出力する。In the fifth embodiment of the present invention, a test result log from the device under test 1 stored in the HD 17 of the test instruction device 3 is statistically output. FIG. 31 is a flowchart showing the operation in this case. As in the case of the test, first, an internal log reference command is input from the console 4 (step S181), and the CPU 19 determines the internal log reference command (step S182). ), HD1
The device address of the device under test 1 stored in the device 7 is output to the console 4 (step S183). Thereafter, the user selects the device under test 1 whose log is to be referred to (a plurality of devices can be selected), and the log items (the number of tests,
By selecting a pass number, an NG test item, etc. (step S184), the log item of the device under test 1 selected by the CPU 19 is taken out from the HD 17 and the console 4
Output to
【0057】[0057]
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、自己試験機能を有する被試験装置をLANに接続
し、試験指示装置からLAN上に試験開始メッセージを
送信して、被試験装置を試験するようにしたので、複数
台の被試験装置を容易に、しかも短時間で試験すること
ができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, a device under test having a self-test function is connected to a LAN, a test start message is transmitted from the test instruction device to the LAN, and a test Since the devices are tested, a plurality of devices under test can be tested easily and in a short time.
【図1】 本発明に係る試験方式のシステム構成図であ
る。FIG. 1 is a system configuration diagram of a test system according to the present invention.
【図2】 本発明の第1実施の形態における試験指示装
置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of the test instruction device according to the first embodiment of the present invention.
【図3】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブロ
ック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図4】 第1実施の形態の全体の概略動作を示すフロ
ーチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing an overall schematic operation of the first embodiment.
【図5】 第1実施の形態において試験指示装置から試
験開始メッセージを送信する動作を示すフローチャート
である。FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a test start message from the test instruction device in the first embodiment.
【図6】 第1実施の形態における試験開始メッセージ
送信用のイーサネットフレームの構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a test start message according to the first embodiment.
【図7】 第1実施の形態による被試験装置での動作を
示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing an operation in the device under test according to the first embodiment.
【図8】 第1実施の形態における試験結果送信用のイ
ーサネットフレームの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting test results according to the first embodiment.
【図9】 第1実施の形態による試験指示装置での試験
結果の受信動作を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing an operation of receiving a test result in the test instruction device according to the first embodiment.
【図10】 本発明の第2実施の形態における試験指示
装置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of a test instruction device according to a second embodiment of the present invention.
【図11】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブ
ロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図12】 第2実施の形態の全体の概略動作を示すフ
ローチャートである。FIG. 12 is a flowchart illustrating an overall schematic operation of the second embodiment.
【図13】 第2実施の形態において試験指示装置から
装置識別メッセージを送信する動作を示すフローチャー
トである。FIG. 13 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a device identification message from a test instruction device in the second embodiment.
【図14】 第2実施の形態における装置識別メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a device identification message according to the second embodiment.
【図15】 第2実施の形態による被試験装置での装置
識別メッセージの受信および応答動作を示すフローチャ
ートである。FIG. 15 is a flowchart showing the operation of receiving and responding to the device identification message in the device under test according to the second embodiment.
【図16】 第2実施の形態における被試験装置の装置
IDおよび装置アドレス送信用のイーサネットフレーム
の構成を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a device ID and a device address of a device under test according to the second embodiment.
【図17】 第2実施の形態による試験指示装置での装
置IDおよび装置アドレスの受信動作を示すフローチャ
ートである。FIG. 17 is a flowchart illustrating an operation of receiving a device ID and a device address in the test instruction device according to the second embodiment.
【図18】 第2実施の形態における試験指示装置から
の試験開始メッセージの送信動作を示すフローチャート
である。FIG. 18 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a test start message from the test instruction device according to the second embodiment.
【図19】 第2実施の形態における試験開始メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a test start message according to the second embodiment.
【図20】 第2実施の形態における試験指示装置での
試験結果の受信動作を示すフローチャートである。FIG. 20 is a flowchart illustrating an operation of receiving a test result in the test instruction device according to the second embodiment.
【図21】 第2実施の形態における試験指示装置での
受信タイマに関する動作を示すフローチャートである。FIG. 21 is a flowchart illustrating an operation related to a reception timer in the test instruction device according to the second embodiment.
【図22】 本発明の第3実施の形態における試験指示
装置での要部の動作を示すフローチャートである。FIG. 22 is a flowchart illustrating an operation of a main part in the test instruction device according to the third embodiment of the present invention.
【図23】 本発明の第4実施の形態における試験指示
装置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 23 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of a test instruction device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図24】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブ
ロック図である。FIG. 24 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図25】 第4実施の形態においてログ参照時に試験
指示装置から装置識別メッセージを送信する動作を示す
フローチャートである。FIG. 25 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a device identification message from the test instruction device when referring to a log in the fourth embodiment.
【図26】 第4実施の形態において試験指示装置から
ログ参照メッセージを送信する動作を示すフローチャー
トである。FIG. 26 is a flowchart showing an operation of transmitting a log reference message from the test instruction device in the fourth embodiment.
【図27】 第4実施の形態におけるログ参照メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 27 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a log reference message according to the fourth embodiment.
【図28】 第4実施の形態における被試験装置でのロ
グ参照メッセージの受信および応答動作を示すフローチ
ャートである。FIG. 28 is a flowchart showing a log reference message reception and response operation in the device under test in the fourth embodiment.
【図29】 第4実施の形態におけるログ送信用のイー
サネットフレームの構成を示す図である。FIG. 29 is a diagram showing a configuration of an Ethernet frame for log transmission in the fourth embodiment.
【図30】 第4実施の形態における試験指示装置での
ログ受信動作を示すフローチャートであるFIG. 30 is a flowchart showing a log receiving operation in the test instruction device according to the fourth embodiment.
【図31】 本発明の第5実施の形態における試験指示
装置での要部の動作を示すフローチャートである。FIG. 31 is a flowchart showing an operation of a main part in the test instruction device according to the fifth embodiment of the present invention.
1 被試験装置 2 LAN 3 試験指示装置 4 コンソール 11 LAN用ポート 12 LANコントローラ 13 シリアルポート 14 試験指示機能部 15 試験結果編集機能部 16 受信タイマ 16a 応答取得タイマ 16b ログ取得タイマ 17 ハードディスク(HD) 18 メモリ 19 CPU 21 LAN用ポート 22 LANコントローラ 23 自己試験機能部 24 メッセージ受信・試験結果表示機能部 25 応答機能部 26 ハードディスク(HD) 27 メモリ 28 CPU Reference Signs List 1 device under test 2 LAN 3 test instruction device 4 console 11 LAN port 12 LAN controller 13 serial port 14 test instruction function unit 15 test result editing function unit 16 reception timer 16a response acquisition timer 16b log acquisition timer 17 hard disk (HD) 18 Memory 19 CPU 21 LAN port 22 LAN controller 23 Self-test function unit 24 Message reception / test result display function unit 25 Response function unit 26 Hard disk (HD) 27 Memory 28 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 茂木 海彦 東京都新宿区西新宿6丁目12番1号 富士 通アイ・ネットワークシステムズ株式会社 内 Fターム(参考) 5K030 HB06 HC14 JA10 KA06 LD02 LE11 MC06 MC07 MD04 5K033 AA04 BA03 CB13 DB12 DB20 EA07 EC01 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Umihiko Mogi 6-12-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo FUJITSU I-NETWORK SYSTEMS CO., LTD. F-term (reference) MD04 5K033 AA04 BA03 CB13 DB12 DB20 EA07 EC01
Claims (9)
を有する電子装置を複数台LANに接続すると共に、前
記LANに共通の試験指示装置を接続して、前記試験指
示装置から前記LAN上に試験開始メッセージをブロー
ドキャスト送信することにより、前記複数台の被試験装
置を同時に試験することを特徴とする自己試験機能を有
する電子装置の試験方式。1. A plurality of electronic devices each having a self-test function as a device under test are connected to a LAN, a common test instruction device is connected to the LAN, and a test is started from the test instruction device on the LAN. A test method for an electronic device having a self-test function, wherein the plurality of devices under test are tested simultaneously by broadcasting a message.
装置アドレスとを前記試験指示装置へ送信し、前記試験
指示装置は各被試験装置から送信される試験結果と装置
アドレスとを受信して統計処理し、その統計結果をI/
Oインターフェースを経て出力することを特徴とする請
求項1に記載の自己試験機能を有する電子装置の試験方
式。2. The device under test transmits a test result and a device address of the device under test to the test instruction device, and the test instruction device receives a test result and a device address transmitted from each device under test. And statistically process the results.
The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 1, wherein the output is performed via an O interface.
被試験装置内のローカルファイルメモリに保存すること
を特徴とする請求項2に記載の自己試験機能を有する電
子装置の試験方式。3. The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 2, wherein the device under test stores a test result in a local file memory in the device under test.
らの試験結果と装置アドレスとをローカルファイルメモ
リに保存して統計して出力することを特徴とする請求項
2に記載の自己試験機能を有する電子装置の試験方式。4. The self-test function according to claim 2, wherein the test instructing device stores the test result and the device address from the device under test in a local file memory, and statistically outputs the result. Test method for electronic devices having:
ローカルファイルメモリに保存された試験結果を収集し
て統計して出力することを特徴とする請求項3に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式。5. The self-test function according to claim 3, wherein the test instruction device collects, statistically outputs the test results stored in a local file memory of the device under test. Test method for electronic devices.
からなる複数台の被試験装置をLANに接続すると共
に、前記LANに共通の試験指示装置を接続して、前記
試験指示装置から前記LAN上に被試験装置を識別する
ための装置識別メッセージをブロードキャスト送信し、
各被試験装置では装置識別メッセージの受信に基づいて
自装置の装置アドレスを含む識別情報を前記LANを介
して前記試験指示装置へ送信し、その後、前記試験指示
装置において前記識別情報を受信した被試験装置に対し
て前記LANを介して試験開始メッセージを送信するこ
とにより、当該被試験装置を試験することを特徴とする
自己試験機能を有する電子装置の試験方式。6. A plurality of devices under test, each of which has an electronic device having a self-test function, are connected to a LAN, and a common test instruction device is connected to the LAN. Broadcast transmission of a device identification message for identifying the device under test,
Each device under test transmits identification information including the device address of its own device to the test instruction device via the LAN based on the reception of the device identification message, and thereafter, the test instruction device receives the identification information at the test instruction device. A test method for an electronic device having a self-test function, wherein the test device is tested by transmitting a test start message to the test device via the LAN.
情報に基づいて試験を実施したい被試験装置を選択し、
その選択した被試験装置に対して試験開始メッセージを
送信することを特徴とする請求項6に記載の自己試験機
能を有する電子装置の試験方式。7. The test instruction device selects a device under test to perform a test based on the received identification information,
7. The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 6, wherein a test start message is transmitted to the selected device under test.
ときは、受信した前記試験指示装置からのメッセージを
前記外部表示機能を用いて外部へ表示させることを特徴
とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の自己試験機
能を有する電子装置の試験方式。8. The apparatus according to claim 1, wherein when the device under test has an external display function, the received message from the test instruction device is displayed externally using the external display function. A test method for an electronic device having a self-test function according to any one of the preceding claims.
ときは、該外部表示機能を用いて試験が正常に終了した
のを外部へ表示させることを特徴とする請求項1〜8の
いずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の
試験方式。9. The apparatus according to claim 1, wherein when the device under test has an external display function, the fact that the test has been completed normally is displayed outside using the external display function. A test method for an electronic device having a self-test function according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28104099A JP2001103068A (en) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | Test system for electronic apparatus having self-testing function |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28104099A JP2001103068A (en) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | Test system for electronic apparatus having self-testing function |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001103068A true JP2001103068A (en) | 2001-04-13 |
Family
ID=17633469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007101246A (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Workpiece inspection system |
JP2008192309A (en) * | 2008-05-12 | 2008-08-21 | Elpida Memory Inc | Semiconductor integration circuit device |
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-
1999
- 1999-10-01 JP JP28104099A patent/JP2001103068A/en active Pending
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JP7147065B2 (en) | 2018-12-07 | 2022-10-04 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Simultaneous testing of correct handling of exceptions by multiple electronic devices connected via a communication network |
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