JP2001103068A - Test system for electronic apparatus having self-testing function - Google Patents
Test system for electronic apparatus having self-testing functionInfo
- Publication number
- JP2001103068A JP2001103068A JP28104099A JP28104099A JP2001103068A JP 2001103068 A JP2001103068 A JP 2001103068A JP 28104099 A JP28104099 A JP 28104099A JP 28104099 A JP28104099 A JP 28104099A JP 2001103068 A JP2001103068 A JP 2001103068A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- lan
- self
- under test
- device under
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、自己試験機能を有
する通信機器等の電子装置の試験方式、特に、電子装置
を製品として出荷する際に工場でその装置についての正
常性（部品不良、製造不良が存在しないこと）を確認す
るために行う試験や、装置故障時の故障箇所の切り分け
のために行う試験に適用するのに好適な試験方式に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test method for an electronic device such as a communication device having a self-test function, and more particularly, to the normality (part defect, manufacturing) of the electronic device in a factory when the electronic device is shipped as a product. The present invention relates to a test method suitable for being applied to a test performed for confirming that no defect exists) and a test performed for isolating a failure location at the time of a device failure.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、自己試験機能を有する電子装置を
出荷する際に行なう正常性の確認試験や、装置故障時に
故障箇所を切り分けするための試験では、被試験装置に
コンソールを接続し、コンソールから試験開始コマンド
を入力して被試験装置内部の自己試験機能を起動するこ
とによって行ない、試験終了後は、その試験結果をコン
ソールへ出力するようにしている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a test for confirming normality performed when an electronic device having a self-test function is shipped and a test for isolating a failed portion when a device fails, a console is connected to a device under test. The self-test function in the device under test is started by inputting a test start command from the PC, and after the test is completed, the test result is output to the console.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の試験方式にあっては、コンソールを被試験装置
へ直接接続して試験するようにしているため、被試験装
置が複数台ある場合には、被試験装置1台にかかる試験
時間に加え、試験が終わるたびに、コンソールを次に試
験を行なう被試験装置へ接続し直す必要があるため、時
間や労力を要するという問題がある。However, in the above-described conventional test method, the console is directly connected to the device under test to perform the test. Therefore, when there are a plurality of devices under test, In addition to the test time required for one device under test, each time the test is completed, it is necessary to reconnect the console to the device under test to be tested next, which requires time and labor.
【０００４】本発明は、このような従来の問題点に着目
してなされたもので、複数台の被試験装置を容易に、し
かも短時間で試験できる自己試験機能を有する電子装置
の試験方式を提供することを目的とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such conventional problems, and a test method for an electronic device having a self-test function capable of easily testing a plurality of devices under test in a short time. It is intended to provide.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項１に係る自己試験機能を有する電子装置の試験方式の
発明は、被試験装置としてそれぞれ自己試験機能を有す
る電子装置を複数台ＬＡＮに接続すると共に、前記ＬＡ
Ｎに共通の試験指示装置を接続して、前記試験指示装置
から前記ＬＡＮ上に試験開始メッセージをブロードキャ
スト送信することにより、前記複数台の被試験装置を同
時に試験することを特徴とするものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a test method for an electronic device having a self-test function, wherein a plurality of electronic devices each having a self-test function are connected to a LAN as devices under test. Connect with the LA
N, by simultaneously transmitting a test start message from the test instruction device to the LAN, and testing the plurality of devices under test at the same time. .
【０００６】本発明によると、試験指示装置からＬＡＮ
上に試験開始メッセージをブロードキャスト送信するこ
とで、ＬＡＮに接続された複数台の電子装置（被試験装
置）はそれぞれ試験開始メッセージを受信して、その自
己試験機能により試験を行なうので、複数台の被試験装
置を容易に、しかも短時間で同時に試験することが可能
となる。[0006] According to the present invention, the test instructing device transmits the data from the LAN.
By broadcasting the test start message on the upper side, a plurality of electronic devices (devices under test) connected to the LAN receive the test start message and perform the test by the self-test function. The device under test can be easily and simultaneously tested in a short time.
【０００７】請求項２に係る発明は、請求項１に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記被試験装置は、自装置の試験結果と装置アドレスとを
前記試験指示装置へ送信し、前記試験指示装置は各被試
験装置から送信される試験結果と装置アドレスとを受信
して統計処理し、その統計結果をＩ／Ｏインターフェー
スを経て出力することを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having the self-test function according to the first aspect, the device under test transmits the test result and the device address of the device under test to the test instruction device. The test instruction device receives the test result and the device address transmitted from each device under test, performs statistical processing, and outputs the statistical result via an I / O interface. .
【０００８】請求項２の発明によると、被試験装置毎
に、例えば試験回数、合格回数、ＮＧ試験項目等の統計
結果をコンソールに出力することが可能となる。According to the second aspect of the invention, it is possible to output, for each device under test, statistical results such as the number of tests, the number of passes, and NG test items to the console.
【０００９】請求項３に係る発明は、請求項２に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記被試験装置は、その試験結果を当該被試験装置内のロ
ーカルファイルメモリに保存することを特徴とするもの
である。According to a third aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the second aspect, the device under test stores the test result in a local file memory in the device under test. It is characterized by doing.
【００１０】請求項３の発明によると、被試験装置の試
験結果が自装置内のローカルファイルメモリに格納され
ているので、適宜参照することが可能となる。According to the third aspect of the present invention, since the test result of the device under test is stored in the local file memory of the device itself, it can be referred to as needed.
【００１１】請求項４に係る発明は、請求項２に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、前記被試験装置からの試験結果と装
置アドレスとをローカルファイルメモリに保存して統計
して出力することを特徴とするものである。According to a fourth aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the second aspect, the test instruction device stores the test result and the device address from the device under test in a local file. It is characterized in that it is stored in a memory and output statistically.
【００１２】請求項４の発明によると、試験指示装置に
おいて適宜のタイミングで、各試験装置の試験結果を統
計して出力して、試験回数、合格回数、ＮＧ試験項目等
を得ることが可能となる。According to the fourth aspect of the present invention, the test result of each test device is statistically output at an appropriate timing in the test instruction device, and the number of tests, the number of passes, the NG test item, and the like can be obtained. Become.
【００１３】請求項５に係る発明は、請求項３に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、前記被試験装置のローカルファイル
メモリに保存された試験結果を収集して統計して出力す
ることを特徴とするものである。According to a fifth aspect of the present invention, in the test method of the electronic device having the self-test function according to the third aspect, the test instruction device transmits the test result stored in the local file memory of the device under test. It is characterized by being collected, statistically output.
【００１４】請求項５の発明によると、試験指示装置に
おいて適宜のタイミングで、被試験装置のローカルファ
イルメモリから当該被試験装置の試験結果を読み出して
統計して出力することが可能となる。According to the fifth aspect of the present invention, it is possible to read out the test result of the device under test from the local file memory of the device under test at an appropriate timing in the test instruction device, and output the result statistically.
【００１５】請求項６に係る自己試験機能を有する電子
装置の試験方式の発明は、それぞれ自己試験機能を有す
る電子装置からなる複数台の被試験装置をＬＡＮに接続
すると共に、前記ＬＡＮに共通の試験指示装置を接続し
て、前記試験指示装置から前記ＬＡＮ上に被試験装置を
識別するための装置識別メッセージをブロードキャスト
送信し、各被試験装置では装置識別メッセージの受信に
基づいて自装置の装置アドレスを含む識別情報を前記Ｌ
ＡＮを介して前記試験指示装置へ送信し、その後、前記
試験指示装置において前記識別情報を受信した被試験装
置に対して前記ＬＡＮを介して試験開始メッセージを送
信することにより、当該被試験装置を試験することを特
徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a test method for an electronic device having a self-test function, wherein a plurality of devices under test, each of which has an electronic device having a self-test function, are connected to a LAN, and the common device is connected to the LAN. A test instruction device is connected, a device identification message for identifying the device under test is broadcast-transmitted from the test instruction device onto the LAN, and each device under test has its own device based on the reception of the device identification message. The identification information including the address is
By transmitting a test start message via the LAN to the device under test that has received the identification information in the test instruction device, transmitting the device under test to the test instruction device via the AN, It is characterized by testing.
【００１６】請求項６の発明によると、試験指示装置に
おいて、被試験装置からの識別情報により、ＬＡＮに接
続されている被試験装置のアドレスや種類、数等を識別
し、その識別した被試験装置に対して試験が実施される
ので、効率的な試験が可能になると共に、被試験装置の
管理も容易になる。According to the sixth aspect of the present invention, in the test instruction apparatus, the address, type, number, etc. of the device under test connected to the LAN are identified based on the identification information from the device under test. Since the test is performed on the device, an efficient test can be performed, and the management of the device under test is facilitated.
【００１７】請求項７に係る発明は、請求項６に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式において、前
記試験指示装置は、受信した前記識別情報に基づいて試
験を実施したい被試験装置を選択し、その選択した被試
験装置に対して試験開始メッセージを送信することを特
徴とするものである。According to a seventh aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to the sixth aspect, the test instruction device is a device under test that the user wants to execute a test based on the received identification information. Is selected, and a test start message is transmitted to the selected device under test.
【００１８】請求項７の発明によると、所望の被試験装
置を選択することができ、より効率的に試験を実施する
ことが可能となる。According to the seventh aspect of the present invention, a desired device under test can be selected, and the test can be performed more efficiently.
【００１９】請求項８に係る発明は、請求項１〜７のい
ずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の試
験方式において、前記被試験装置が外部表示機能を有す
るときは、受信した前記試験指示装置からのメッセージ
を前記外部表示機能を用いて外部へ表示させることを特
徴とするものである。According to an eighth aspect of the present invention, in the test method of an electronic device having a self-test function according to any one of the first to seventh aspects, when the device under test has an external display function, the receiving method is performed. The message from the test instruction device described above is displayed outside using the external display function.
【００２０】このように、被試験装置において、メッセ
ージを受信したことを自装置の外部表示機能によって表
示するようにすると、メッセージの表示がない場合に、
中継の装置や自装置に障害があることを認識することが
可能となる。As described above, in the device under test, the fact that the message has been received is displayed by the external display function of the device itself.
It is possible to recognize that there is a failure in the relay device or its own device.
【００２１】請求項９に係る発明は、請求項１〜８のい
ずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の試
験方式において、前記被試験装置が外部表示機能を有す
るときは、該外部表示機能を用いて試験が正常に終了し
たのを外部へ表示させることを特徴とするものである。According to a ninth aspect of the present invention, in the test method for an electronic device having a self-test function according to any one of the first to eighth aspects, when the device under test has an external display function, It is characterized in that the normal completion of the test is displayed externally using an external display function.
【００２２】このようにすると、表示の有無によって、
表示のない被試験装置には何らかの障害があることを容
易に認識することが可能となる。By doing so, depending on whether or not there is a display,
It is possible to easily recognize that there is some trouble in the device under test without any display.
【００２３】[0023]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について説明する。図1は、本発明に係る試
験方式のシステム構成図である。それぞれ自己試験機能
を有する電子装置としての複数台の被試験装置1はＬＡ
Ｎ２に接続する。ＬＡＮ２には、試験指示装置３を接続
し、この試験指示装置３にコンソール４を接続する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a system configuration diagram of a test system according to the present invention. A plurality of devices under test 1 as electronic devices each having a self-test function are LA
Connect to N2. A test instruction device 3 is connected to the LAN 2, and a console 4 is connected to the test instruction device 3.
【００２４】本発明の第１実施の形態では、試験指示装
置３からＬＡＮ２上に試験開始メッセージをブロードキ
ャスト送信して複数台の被試験装置１を同時に試験し、
その各被試験装置１の試験結果を試験指示装置３に送信
する。なお、試験開始コマンドや試験結果の入出力は、
試験指示装置３に接続したコンソール４を通して行な
う。In the first embodiment of the present invention, a test start message is broadcast from the test instruction device 3 to the LAN 2 to test a plurality of devices under test 1 simultaneously.
The test result of each device under test 1 is transmitted to the test instruction device 3. The test start command and input / output of test results are
The test is performed through the console 4 connected to the test instruction device 3.
【００２５】図２は、第１実施の形態における試験指示
装置３の要部の構成を示すブロック図である。この試験
指示装置３は、ＬＡＮ用ポート１１、ＬＡＮコントロー
ラ１２、シリアルポート１３、試験指示機能部１４、試
験結果編集機能部１５、受信タイマ１６、ハードディス
ク（ＨＤ）１７、メモリ１８、およびＣＰＵ１９を有し
ている。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a main part of the test instruction device 3 according to the first embodiment. The test instruction device 3 includes a LAN port 11, a LAN controller 12, a serial port 13, a test instruction function unit 14, a test result editing function unit 15, a reception timer 16, a hard disk (HD) 17, a memory 18, and a CPU 19. are doing.
【００２６】ＬＡＮ用ポート１１は、ＬＡＮ２へ接続す
るためのポートであり、ＬＡＮコントローラ１２によっ
て生成されたフレームを送信する。シリアルポート１３
は、コンソールを接続するためのポートである。試験指
示機能部１４は、被試験装置１に対して試験開始メッセ
ージのブロードキャスト送信を行なう。試験結果編集機
能部１５は、被試験装置１より返された試験結果を収集
して装置毎の統計を取った後、その統計結果をコンソー
ル４へ出力する。受信タイマ１６は、試験開始メッセー
ジの送信後、一定時間被試験装置１からの応答を待ち、
その間に受信した被試験装置１の試験結果を取得し、タ
イムアウトにより試験終了を判断するために用いる。Ｈ
Ｄ１７は、被試験装置１より受信した装置アドレス、装
置ＩＤ、試験結果の保存に使用され、メモリ１８は、各
処理のためのワークエリアとして使用される。また、Ｃ
ＰＵ１９は、装置全体の制御を行なう。The LAN port 11 is a port for connecting to the LAN 2, and transmits a frame generated by the LAN controller 12. Serial port 13
Is a port for connecting a console. The test instruction function unit 14 broadcasts a test start message to the device under test 1. After collecting the test results returned from the device under test 1 and collecting statistics for each device, the test result editing function unit 15 outputs the statistical results to the console 4. The reception timer 16 waits for a response from the device under test 1 for a certain time after transmitting the test start message,
The test result of the device under test 1 received during that time is acquired and used to determine the end of the test based on a timeout. H
D17 is used to store the device address, device ID, and test result received from the device under test 1, and the memory 18 is used as a work area for each process. Also, C
The PU 19 controls the entire apparatus.
【００２７】図３は、第１実施の形態における被試験装
置１の要部の構成を示すブロック図である。この被試験
装置１は、ＬＡＮ用ポート２１、ＬＡＮコントローラ２
２、自己試験機能部２３、メッセージ受信・試験結果表
示機能部２４、応答機能部２５、ハードディスク（Ｈ
Ｄ）２６、メモリ２７、およびＣＰＵ２８を有してい
る。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test 1 according to the first embodiment. The device under test 1 includes a LAN port 21, a LAN controller 2
2. Self-test function unit 23, message reception / test result display function unit 24, response function unit 25, hard disk (H
D) It has a memory 26, a memory 27, and a CPU 28.
【００２８】ＬＡＮポート２１は、ＬＡＮ２へ接続する
ためのポートで、ＬＡＮコントローラ２２によって生成
されたフレームを送信する。自己試験機能部２３は、試
験指示装置３からの試験開始メッセージを受信すること
によって自己試験を行なう。また、メッセージ受信・試
験結果表示機能部２４は、試験指示装置３からのメッセ
ージの受信を表示したり、自己試験終了後に装置内に異
常がないことを表示する。本実施の形態では、ＬＥＤを
用い、このＬＥＤをメッセージの受信によって点灯さ
せ、試験終了時に異常がない場合はＬＥＤの色を変えて
表示する。応答機能部２５は、試験開始メッセージによ
る自己試験終了後、試験結果を試験指示装置３へ送信す
る。その他、ＨＤ２６は試験結果の保存に使用され、メ
モリ２７は各処理のためのワークエリアとして使用さ
れ、また、ＣＰＵ２８は装置全体の制御を行なう。The LAN port 21 is a port for connecting to the LAN 2, and transmits a frame generated by the LAN controller 22. The self-test function unit 23 performs a self-test by receiving a test start message from the test instruction device 3. In addition, the message reception / test result display function unit 24 displays the reception of a message from the test instruction device 3 or displays that there is no abnormality in the device after the completion of the self-test. In the present embodiment, an LED is used, and this LED is turned on when a message is received. When there is no abnormality at the end of the test, the LED is displayed in a different color. The response function unit 25 transmits the test result to the test instruction device 3 after the completion of the self-test by the test start message. In addition, the HD 26 is used for storing test results, the memory 27 is used as a work area for each processing, and the CPU 28 controls the entire apparatus.
【００２９】図４は、第１実施の形態による試験方式の
全体の概略動作を示すフローチャートである。先ず、コ
ンソール４より試験開始コマンドを入力して（ステップ
Ｓ１）、試験指示装置３より試験開始メッセージをＬＡ
Ｎ２上へブロードキャスト送信する（ステップＳ２）。
ＬＡＮ２上にある被試験装置１では、試験開始メッセー
ジを受信したら、その旨を外部に表示して（ステップＳ
３）、自己試験機能部２３により自己試験を開始する
（ステップＳ４）。その後、自己試験が終了した時点
で、異常がなければその旨を外部に表示し（ステップＳ
５）、その試験結果を自装置のＨＤ２６へ保存する（ス
テップＳ６）と共に、試験指示装置３へ送信する（ステ
ップＳ７）。その後、試験指示装置３では、被試験装置
１からの試験結果を受信して統計をとり（ステップＳ
８）、被試験装置１毎の試験結果をコンソール４へ出力
する（ステップＳ９）。FIG. 4 is a flowchart showing an overall schematic operation of the test system according to the first embodiment. First, a test start command is input from the console 4 (step S1), and a test start message is sent from the test instruction device 3 to LA.
Broadcast transmission is performed on N2 (step S2).
Upon receiving the test start message, the device under test 1 on the LAN 2 displays the message to the outside (step S
3) The self test is started by the self test function unit 23 (step S4). Thereafter, when the self-test is completed, if there is no abnormality, a message to that effect is displayed externally (step S).
5) The test result is stored in the HD 26 of the own device (step S6) and transmitted to the test instruction device 3 (step S7). Thereafter, the test instruction device 3 receives the test result from the device under test 1 and obtains statistics (Step S).
8) The test result for each device under test 1 is output to console 4 (step S9).
【００３０】次に、本実施の形態の詳細な動作について
説明する。図５は、試験指示装置３から試験開始メッセ
ージを送信する動作を示すフローチャートである。先
ず、ユーザが試験指示装置３とシリアルポート１３で接
続されているコンソール４より試験開始コマンドを入力
すると（ステップＳ１１）、そのコマンドはシリアルポ
ート１３を通して試験指示装置内部のＣＰＵ１９に渡さ
れ、ＣＰＵ１９は試験開始を判断する（ステップＳ１
２）。これより、ＣＰＵ１９は試験指示機能部１４へ試
験開始メッセージの送信を指示して（ステップＳ１
３）、試験指示機能部１４において試験開始メッセージ
を生成させる。試験指示機能部１４は、試験開始メッセ
ージを生成した後、ＬＡＮコントローラ１２へブロード
キャスト送信を指示し（ステップＳ１４）、これにより
ＬＡＮコントローラ１２において図６に示すような試験
開始メッセージ送信用のイーサネットフレームを生成さ
せて（ステップＳ１５）、その生成したフレームをＬＡ
Ｎ用ポート１１よりＬＡＮ２上へブロードキャスト送信
する（ステップＳ１６）と同時に、ＣＰＵ１９により受
信タイマ１６を起動させる（ステップＳ１７）。Next, a detailed operation of this embodiment will be described. FIG. 5 is a flowchart showing an operation of transmitting a test start message from the test instruction device 3. First, when the user inputs a test start command from the console 4 connected to the test instruction device 3 and the serial port 13 (step S11), the command is passed to the CPU 19 inside the test instruction device through the serial port 13 and the CPU 19 Judgment of test start (step S1
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a test start message (step S1).
3) The test instruction function unit 14 generates a test start message. After generating the test start message, the test instruction function unit 14 instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S14), and thereby the Ethernet frame for transmitting the test start message as shown in FIG. Is generated (step S15), and the generated frame is LA
At the same time as the broadcast transmission from the N port 11 to the LAN 2 (step S16), the reception timer 16 is started by the CPU 19 (step S17).
【００３１】図７は、被試験装置１での動作を示すフロ
ーチャートである。各被試験装置１においては、ＬＡＮ
２上に送信されたフレームをＬＡＮ用ポート２１で受信
したら（ステップＳ２１）、その受信したフレームより
取り出した試験開始メッセージをＣＰＵ２８で確認して
（ステップＳ２２、Ｓ２３）、メッセージ受信表示機能
部２４へ受信表示を指示してＬＥＤを点灯させる（ステ
ップＳ２４、Ｓ２５）と共に、自己試験機能部２３へ試
験開始を指示して自己試験を開始させる（ステップＳ２
６、Ｓ２７）。その後、自己試験が終了したら、ＣＰＵ
２８で試験結果を判断し（ステップＳ２８、Ｓ２９）、
装置に異常がない場合は験結果表示機能部２４へＬＥＤ
の表示変更を指示して（ステップＳ３０）、メッセージ
の受信によって点灯しているＬＥＤの色を変えて表示す
る（ステップＳ３１）。また、ＣＰＵ２８は、試験結果
をＨＤ２６へログとして保存しておくと共に、応答機能
部２５に対して試験結果の送信を指示する（ステップＳ
３２）。これにより、応答機能部２５では、ＬＡＮコン
トローラ２２へ試験結果を試験指示装置３へ送信するよ
う指示して、ＬＡＮコントローラ２２で図８に示すよう
なイーサネットフレームを生成し（ステップＳ３３）、
その生成したフレームをＬＡＮ用ポート２１よりＬＡＮ
２を介して試験指示装置３へ送信する（ステップＳ３
４）。FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the device under test 1. In each device under test 1, a LAN
When the frame transmitted on the LAN 2 is received by the LAN port 21 (step S21), the test start message extracted from the received frame is confirmed by the CPU 28 (steps S22 and S23). The reception display is instructed to turn on the LED (steps S24 and S25), and the self test is instructed to the self test function unit 23 to start the self test (step S2).
6, S27). After the self-test is completed,
The test result is determined at 28 (steps S28 and S29),
If there is no abnormality in the device, LED is displayed on the test result display function section 24.
Is displayed (step S30), and the color of the LED that is turned on by the reception of the message is changed and displayed (step S31). Further, the CPU 28 stores the test result as a log in the HD 26 and instructs the response function unit 25 to transmit the test result (step S2).
32). Thereby, the response function unit 25 instructs the LAN controller 22 to transmit the test result to the test instruction device 3, and generates an Ethernet frame as shown in FIG. 8 by the LAN controller 22 (step S33).
The generated frame is transmitted from the LAN port 21 to the LAN.
2 to the test instruction device 3 (step S3).
4).
【００３２】また、試験指示装置３では、図９に示すよ
うに、被試験装置１より送信されたフレームをＬＡＮ用
ポート１１で受信したら（ステップＳ４１、Ｓ４２）、
ＣＰＵ１９で試験を実施した被試験装置１のアドレスと
試験結果とを確認し（ステップＳ４３）、その確認した
アドレスと試験結果とをＨＤ１７へ保存する（ステップ
Ｓ４４）と共に、シリアルポート１３を介してコンソー
ル４へ出力する（ステップＳ４５）。なお、試験指示装
置３は、試験開始メッセージ送信時に起動した受信タイ
マ１６がタイムアウトするまで、ＬＡＮ２上にある被試
験装置１からのフレームの受信と試験結果の出力とを行
ない、タイムアウトした時点で割込みを発生して、フレ
ームの受信を終了し試験を終了する。When the test instruction device 3 receives the frame transmitted from the device under test 1 at the LAN port 11 as shown in FIG. 9 (steps S41 and S42),
The CPU 19 checks the address of the device under test 1 and the test result that have been tested by the CPU 19 (step S43), saves the checked address and the test result in the HD 17 (step S44), and also controls the console via the serial port 13. 4 (step S45). The test instruction device 3 receives the frame from the device under test 1 on the LAN 2 and outputs the test result until the reception timer 16 activated at the time of transmitting the test start message times out. Is generated, the frame reception ends, and the test ends.
【００３３】本発明の第２実施の形態では、試験指示装
置３において試験開始コマンド入力時にＬＡＮ２上にあ
る複数の被試験装置１を識別するためのメッセージをブ
ロードキャスト送信し、被試験装置１からの応答によっ
て識別した被試験装置１に対して試験開始メッセージを
送信して試験を実施する。In the second embodiment of the present invention, when a test start command is input to the test instruction device 3, a message for identifying a plurality of devices under test 1 on the LAN 2 is broadcast-transmitted. A test is started by transmitting a test start message to the device under test 1 identified by the response.
【００３４】このため、試験指示装置３には、図１０に
示すように、試験指示機能部１４に装置識別試験指示機
能を追加して、試験開始コマンド入力時にＬＡＮ２上に
ある複数の被試験装置１を識別するための装置識別メッ
セージをブロードキャスト送信するようにすると共に、
受信タイマ１６に応答取得タイマ１６ａを追加して、装
置識別メッセージを送信してからＬＡＮ２上の被試験装
置１より送信された応答を受信するまでの時間を計測す
るようにする。また、被試験装置１には、図１１に示す
ように、応答機能部２５に装置ＩＤ送信機能を追加し
て、試験指示装置３より送信された装置識別メッセージ
を受信して自装置の装置アドレスと装置種類を試験指示
装置３に対して送信するようにする。その他の構成は、
第１実施の形態と同様とする。For this reason, as shown in FIG. 10, a device identification test instruction function is added to the test instruction function unit 14 in the test instruction device 3 so that a plurality of devices under test existing on the LAN 2 when a test start command is input. 1 and broadcast the device identification message for identifying
A response acquisition timer 16a is added to the reception timer 16 to measure the time from transmission of the device identification message to reception of the response transmitted from the device under test 1 on the LAN 2. As shown in FIG. 11, the device under test 1 adds a device ID transmission function to the response function unit 25, receives the device identification message transmitted from the test instruction device 3, and receives the device address of its own device. And the device type are transmitted to the test instruction device 3. Other configurations are
It is the same as the first embodiment.
【００３５】図１２は、第２実施の形態による試験方式
の全体の概略動作を示すフローチャートである。先ず、
コンソール４より試験開始コマンドを入力して（ステッ
プＳ５１）、試験指示装置３より装置識別メッセージを
ＬＡＮ２上へブロードキャスト送信する（ステップＳ５
２）。ＬＡＮ２上にある被試験装置１では、装置識別メ
ッセージを受信したら、その旨を外部に表示する（ステ
ップＳ５３）と共に、試験指示装置３へ自己の装置アド
レスと装置種類を示すデータを返信する（ステップＳ５
４）。被試験装置１からの応答を受信した試験指示装置
３では、受信した被試験装置１からの装置アドレスをＨ
Ｄ１７に保存して（ステップＳ５５）、ＬＡＮ２上にあ
る被試験装置１の装置アドレス、種別、数を識別し、そ
の識別した被試験装置１にのみ試験開始メッセージを送
信する（ステップＳ５６）。FIG. 12 is a flowchart showing an overall schematic operation of the test system according to the second embodiment. First,
A test start command is input from the console 4 (step S51), and a device identification message is broadcast from the test instruction device 3 onto the LAN 2 (step S5).
2). Upon receiving the device identification message, the device under test 1 on the LAN 2 displays the message to the outside (step S53) and returns data indicating its own device address and device type to the test instruction device 3 (step S53). S5
4). In the test instruction device 3 which has received the response from the device under test 1, the received device address from the device under test 1 is set to H.
D17 is stored (step S55), the device address, type, and number of the device under test 1 on the LAN 2 are identified, and a test start message is transmitted only to the identified device under test 1 (step S56).
【００３６】その後は、試験開始メッセージを受信した
被試験装置１において、試験開始メッセージを受信した
旨を外部に表示して（ステップＳ５７）、自己試験機能
部２３により自己試験を開始し（ステップＳ５８）、自
己試験終了後、異常がなければその旨を外部に表示し
（ステップＳ５９）、その試験結果を自装置のＨＤ２６
へ保存する（ステップＳ６０）と共に、試験指示装置３
へ送信する（ステップＳ６１）。被試験装置１からの試
験結果を受信した試験指示装置３では、全ての被試験装
置１からの試験結果を収集して統計をとり（ステップＳ
６２）、被試験装置１毎の試験結果をコンソール４へ出
力する（ステップＳ６３）。Thereafter, in the device under test 1 which has received the test start message, the fact that the test start message has been received is displayed outside (step S57), and the self test is started by the self test function unit 23 (step S58). After the self-test is completed, if there is no abnormality, a message to that effect is displayed externally (step S59), and the test result is transmitted to the HD 26 of the own device.
(Step S60) and the test instruction device 3
(Step S61). The test instruction device 3 that has received the test results from the device under test 1 collects the test results from all the devices under test 1 and collects statistics (step S).
62), and outputs the test result for each device under test 1 to console 4 (step S63).
【００３７】次に、第２実施の形態の詳細な動作につい
て説明する。図１３は、試験指示装置３から装置識別メ
ッセージを送信する動作を示すフローチャートである。
先ず、ユーザが試験指示装置３とシリアルポート１３で
接続されているコンソール４より試験開始コマンドを入
力すると（ステップＳ７１）、そのコマンドはシリアル
ポート１３を通して試験指示装置内部のＣＰＵ１９に渡
され、ＣＰＵ１９は試験開始を判断する（ステップＳ７
２）。これより、ＣＰＵ１９は試験指示機能部１４へ装
置識別メッセージの送信を指示して（ステップＳ７
３）、試験指示機能部１４の装置識別試験指示機能によ
り装置識別メッセージを生成させる。試験指示機能部１
４は、装置識別メッセージを生成した後、ＬＡＮコント
ローラ１２へブロードキャスト送信を指示し（ステップ
Ｓ７４）、これによりＬＡＮコントローラ１２において
図１４に示すような装置識別メッセージ送信用のイーサ
ネットフレームを生成させて（ステップＳ７５）、その
生成したフレームをＬＡＮ用ポート１１よりＬＡＮ２上
へブロードキャスト送信する（ステップＳ７６）と同時
に、ＣＰＵ１９により応答取得タイマ１６ａを起動させ
る（ステップＳ７７）。Next, a detailed operation of the second embodiment will be described. FIG. 13 is a flowchart showing an operation of transmitting a device identification message from the test instruction device 3.
First, when the user inputs a test start command from the console 4 connected to the test instruction device 3 and the serial port 13 (step S71), the command is passed to the CPU 19 inside the test instruction device via the serial port 13 and the CPU 19 Judgment of test start (Step S7)
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a device identification message (step S7).
3) The device identification message is generated by the device identification test instruction function of the test instruction function unit 14. Test instruction function unit 1
4 generates a device identification message and then instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S74), thereby causing the LAN controller 12 to generate an Ethernet frame for transmitting the device identification message as shown in FIG. In step S75, the generated frame is broadcast-transmitted from the LAN port 11 to the LAN 2 (step S76), and at the same time, the CPU 19 starts the response acquisition timer 16a (step S77).
【００３８】図１５は、被試験装置１での装置識別メッ
セージの受信および応答動作を示すフローチャートであ
る。試験指示装置３からＬＡＮ２上に送信されたフレー
ムは、選択した被試験装置１においてＬＡＮ用ポート２
１で受信し（ステップＳ８１）、その受信したフレーム
より取り出した装置識別メッセージをＣＰＵ２８で確認
して（ステップＳ８２、Ｓ８３）、メッセージ受信表示
機能部２４へ受信表示を指示してＬＥＤを点灯させる
（ステップＳ８４、Ｓ８５）と共に、応答機能部２５に
対して装置アドレスと装置ＩＤの応答メッセージの送信
を指示する（ステップＳ８６）。これにより、応答機能
部２５では、装置ＩＤ送信機能によりＬＡＮコントロー
ラ２２へ装置ＩＤと自装置のアドレスを試験指示装置３
へ送信するよう指示して、ＬＡＮコントローラ２２で図
１６に示すようなイーサネットフレームを生成し（ステ
ップＳ８７）、その生成したフレームをＬＡＮ用ポート
２１よりＬＡＮ２を介して試験指示装置３へ送信する
（ステップＳ８８）。FIG. 15 is a flowchart showing the operation of receiving and responding to the device identification message in the device under test 1. The frame transmitted from the test instruction device 3 to the LAN 2 is transmitted to the LAN port 2 in the selected device under test 1.
1 (step S81), the CPU 28 checks the device identification message extracted from the received frame (steps S82, S83), instructs the message reception / display function unit 24 to perform reception display, and turns on the LED (step S81). Along with steps S84 and S85), it instructs the response function unit 25 to transmit a response message of the device address and the device ID (step S86). As a result, the response function unit 25 transmits the device ID and the address of the own device to the LAN controller 22 by the device ID transmission function.
The LAN controller 22 generates an Ethernet frame as shown in FIG. 16 (step S87), and transmits the generated frame from the LAN port 21 to the test instruction apparatus 3 via the LAN 2 (step S87). Step S88).
【００３９】この被試験装置１より送信されたフレーム
は、試験指示装置３においてＬＡＮ用ポート１１を介し
て受信する。図１７は、この場合の試験指示装置３での
動作を示すフローチャートで、先ず、被試験装置１より
送信されたフレームをＬＡＮ用ポート１１で受信したら
（ステップＳ９１、Ｓ９２）、その装置アドレスと装置
ＩＤとをＣＰＵ１９で確認して（ステップＳ９３）、Ｈ
Ｄ１７へ保存する（ステップＳ９４）。なお、試験指示
装置３は、装置識別メッセージ送信時に起動した応答取
得タイマ１６ａがタイムアウトするまで、ＬＡＮ２上に
ある被試験装置１からのフレームの受信とＨＤ１７への
保存とを行ない、タイムアウトした時点で割込みを発生
して、フレームの受信を終了する。The frame transmitted from the device under test 1 is received by the test instruction device 3 via the LAN port 11. FIG. 17 is a flowchart showing the operation of the test instruction device 3 in this case. First, when a frame transmitted from the device under test 1 is received by the LAN port 11 (steps S91 and S92), the device address and the device The ID and the ID are confirmed by the CPU 19 (step S93).
It is stored in D17 (step S94). Note that the test instruction device 3 receives the frame from the device under test 1 on the LAN 2 and saves the frame in the HD 17 until the response acquisition timer 16a activated at the time of transmitting the device identification message times out. An interrupt is generated, and the reception of the frame ends.
【００４０】試験指示装置３において、被試験装置１か
らのフレームの受信が終了したら、試験指示装置３で
は、図１８にフローチャートを示すように、ＣＰＵ１９
の制御のもとに、ＨＤ１７に保存してある装置アドレス
を取り出し（ステップＳ１０１）、その装置アドレスに
対して試験開始メッセージを送信するように指示して
（ステップＳ１０２）、試験指示機能部１４において試
験開始メッセージを生成させる。試験指示機能部１４
は、試験開始メッセージを生成した後、ＬＡＮコントロ
ーラ１２へＨＤ１７より取り出した装置アドレスへの試
験開始メッセージの送信を指示し（ステップＳ１０
３）、これによりＬＡＮコントローラ１２において図１
９に示すような試験開始メッセージ送信用のイーサネッ
トフレームを生成させて（ステップＳ１０４）、その生
成したフレームをＬＡＮ用ポート１１よりＬＡＮ２上へ
ブロードキャスト送信する（ステップＳ１０５）。その
後、ＨＤ１７より取り出した全ての装置アドレスへの試
験開始メッセージの送信を終了したのを確認して（ステ
ップＳ１０６）、その時点でＣＰＵ１９により受信タイ
マ１６を起動させる（ステップＳ１０７）。When the test instructing device 3 completes receiving the frame from the device under test 1, the test instructing device 3 executes the CPU 19 as shown in the flowchart of FIG.
Under the control of (1), the device address stored in the HD 17 is taken out (step S101), and an instruction to transmit a test start message to the device address is issued (step S102). Generate a test start message. Test instruction function unit 14
Generates a test start message and instructs the LAN controller 12 to transmit a test start message to the device address extracted from the HD 17 (step S10).
3), whereby the LAN controller 12
An Ethernet frame for transmitting a test start message as shown in FIG. 9 is generated (step S104), and the generated frame is broadcast-transmitted from the LAN port 11 to the LAN 2 (step S105). After that, it is confirmed that the transmission of the test start message to all the device addresses extracted from the HD 17 has been completed (step S106), and at that time, the reception timer 16 is started by the CPU 19 (step S107).
【００４１】試験開始メッセージを受信した被試験装置
１では、図７に示したフローチャートに従って自己試験
を実施し、試験終了後に、試験指示装置３へ試験結果を
送信する。The device under test 1 that has received the test start message performs a self-test according to the flowchart shown in FIG. 7, and transmits the test result to the test instruction device 3 after the test is completed.
【００４２】その後、試験指示装置３では、図２０に示
すように、被試験装置１より送信されたフレームをＬＡ
Ｎ用ポート１１で受信したら（ステップＳ１１１、Ｓ１
１２）、ＣＰＵ１９で試験を実施した被試験装置１の装
置アドレスと試験結果とを確認し（ステップＳ１１
３）、その確認した装置アドレスと試験結果とをＨＤ１
７へ保存する（ステップＳ１１４）と共に、シリアルポ
ート１３を介してコンソール４へ出力する（ステップＳ
１１５）。その後、試験開始メッセージを送信した全て
の装置アドレスからの試験結果のフレームの受信を確認
して（ステップＳ１１６）、その時点でＣＰＵ１９によ
り受信タイマ１６を停止させる（ステップＳ１１７）。Thereafter, the test instructing device 3 converts the frame transmitted from the device under test 1 into LA, as shown in FIG.
When the data is received by the N port 11 (steps S111, S1
12) The CPU 19 checks the device address of the device under test 1 on which the test was performed and the test result (step S11).
3) The confirmed device address and test result are transferred to HD1.
7 (step S114) and output to the console 4 via the serial port 13 (step S114).
115). Thereafter, the reception of the test result frames from all the device addresses that transmitted the test start message is confirmed (step S116), and at that time, the reception timer 16 is stopped by the CPU 19 (step S117).
【００４３】なお、試験指示装置３では、図２１に示す
ように、試験開始メッセージ送信時に起動した受信タイ
マ１６がタイムアウトするまで、ＬＡＮ２上にある被試
験装置１からのフレームの受信と試験結果の出力とを行
ない、タイムアウトした時点で割込みを発生して、フレ
ームの受信を終了するが（ステップＳ１２１、Ｓ１２
２、Ｓ１２３）、タイムアウトまでに試験結果を受信し
ていない被試験装置１がある場合は、通信エラーとして
その被試験装置１の装置アドレスをＨＤ１７よりコンソ
ール４へ出力して表示させる（ステップＳ１２４）。As shown in FIG. 21, the test instruction device 3 receives a frame from the device under test 1 on the LAN 2 and transmits the test result until the reception timer 16 started at the time of transmitting the test start message times out. The output is performed, and an interrupt is generated at the time of timeout, and the reception of the frame is terminated (steps S121 and S12).
2. If there is any device under test 1 that has not received the test result before the timeout, the device address of the device under test 1 is output from the HD 17 to the console 4 and displayed as a communication error (step S124). .
【００４４】上記第２の実施の形態では、装置識別メッ
セージで識別した全ての被試験装置１に対して試験開始
メッセージを送信して試験を実施するようにしたが、本
発明の第３実施の形態では、識別した被試験装置１に対
して、試験を実施する被試験装置１を選択可能とする。In the second embodiment, the test is started by transmitting the test start message to all the devices under test 1 identified by the device identification message. However, the third embodiment of the present invention is described. In the embodiment, a device under test 1 for performing a test can be selected for the device under test 1 identified.
【００４５】このため、本実施の形態では、図２２に示
すように、試験指示装置３において被試験装置１からの
応答メッセージの受信が終了した後、ＣＰＵ１９はＨＤ
１７に保存してある被試験装置１の装置アドレスと装置
ＩＤを全てコンソール４へ出力する（ステップＳ１３
１）。その後、出力された装置アドレスや装置ＩＤから
ユーザによって試験を実施する所望の被試験装置１（複
数も可）を選択する（ステップＳ１３２）。これによ
り、ＣＰＵ１９は選択された被試験装置１への試験開始
メッセージの送信を試験指示機能部１４へ指示する（ス
テップＳ１３３）。試験指示機能部１４では、試験開始
メッセージを作成した後、ＬＡＮコントローラ１２へ選
択した装置アドレスへの試験開始メッセージの送信を指
示し（ステップＳ１３４）、これによりＬＡＮコントロ
ーラ１２でイーサネットフレームを生成して（ステップ
Ｓ１３５）、その生成されたフレームをＬＡＮ用ポート
１１よりＬＡＮ２上の被試験装置１へ送信する（ステッ
プＳ１３６）。その後、選択した全ての被試験装置１に
対して試験開始メッセージの送信が終了したのを確認し
て（ステップＳ１３７）、ＣＰＵ１９は受信タイマ１６
を起動させる（ステップＳ１３８）。その他の動作は、
第２実施の形態と同様である。For this reason, in the present embodiment, as shown in FIG. 22, after the test instruction device 3 has finished receiving the response message from the device under test 1, the CPU 19
17 and outputs all the device addresses and device IDs of the device under test 1 to the console 4 (step S13).
1). Thereafter, the user selects a desired device under test 1 (a plurality of devices under test) to be tested by the user from the output device address and device ID (step S132). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a test start message to the selected device under test 1 (step S133). After creating the test start message, the test instruction function unit 14 instructs the LAN controller 12 to transmit the test start message to the selected device address (step S134), thereby generating an Ethernet frame in the LAN controller 12. (Step S135), the generated frame is transmitted from the LAN port 11 to the device under test 1 on the LAN 2 (Step S136). Thereafter, it is confirmed that the transmission of the test start message has been completed to all the selected devices under test 1 (step S137), and the CPU 19 sets the reception timer 16
Is activated (step S138). Other operations are
This is the same as the second embodiment.
【００４６】本発明の第４実施の形態では、試験指示装
置３において、被試験装置１のＨＤ２６に保存されてい
る試験結果ログ（試験回数、合格回数、ＮＧ試験項目
等）を収集して統計して出力する。In the fourth embodiment of the present invention, the test instruction device 3 collects test result logs (the number of times of test, the number of times of pass, NG test items, etc.) stored in the HD 26 of the device under test 1 and statistically collects them. And output.
【００４７】このため、試験指示装置３には、図２３に
示すように、試験指示機能部１４にログ参照指示機能を
追加して、ログ参照コマンド入力時に参照したい被試験
装置１に対してログ参照メッセージを送信するようにす
ると共に、受信タイマ１６にログ取得タイマ１６ｂを追
加して、ログ参照メッセージを送信してからＬＡＮ２上
の被試験装置１より送信された応答を受信するまでの時
間を計測するようにする。また、被試験装置１には、図
２４に示すように、応答機能部２５にログ送信機能を追
加して、試験指示装置３より送信されたログ参照メッセ
ージを受信することにより、それに相当する試験結果ロ
グをＨＤ２６から取り出して試験指示装置３に対して送
信するようにする。その他の構成は、第２実施の形態と
同様とする。For this reason, as shown in FIG. 23, the test instruction device 3 adds a log reference instruction function to the test instruction function unit 14 so that a log can be transmitted to the device under test 1 to be referenced when a log reference command is input. In addition to transmitting the reference message, a log acquisition timer 16b is added to the reception timer 16 so that the time from transmission of the log reference message to reception of the response transmitted from the device under test 1 on the LAN 2 is reduced. Try to measure. In addition, as shown in FIG. 24, the device under test 1 has a log transmission function added to the response function unit 25 and receives the log reference message transmitted from the test instruction device 3 so that the corresponding test is performed. The result log is taken out from the HD 26 and transmitted to the test instruction device 3. Other configurations are the same as in the second embodiment.
【００４８】次に、第４実施の形態の要部の動作につい
て説明する。本実施の形態では、装置試験時と同様に、
コンソール４よりログ参照コマンドを入力することによ
り、試験指示装置３のＣＰＵ１９でログ参照コマンドを
判断してログの参照を開始する。このログ参照動作で
は、最初に第２実施の形態で説明したのと同様の動作手
順で、試験指示装置３より装置識別メッセージをブロー
ドキャスト送信してＬＡＮ２上にある被試験装置１を識
別する。Next, the operation of the main part of the fourth embodiment will be described. In the present embodiment, as in the case of the device test,
By inputting the log reference command from the console 4, the CPU 19 of the test instruction device 3 determines the log reference command and starts to refer to the log. In this log reference operation, the test instruction device 3 broadcasts a device identification message and identifies the device under test 1 on the LAN 2 in the same operation procedure as that described in the second embodiment.
【００４９】すなわち、図２５に示すように、先ず、ユ
ーザにおいてコンソール４からログ参照コマンドを入力
することで（ステップＳ１４１）、そのコマンドを試験
指示装置３のＣＰＵ１９で判断する（ステップＳ１４
２）。これより、ＣＰＵ１９は試験指示機能部１４へ装
置識別メッセージの送信を指示して（ステップＳ１４
３）、試験指示機能部１４の装置識別試験指示機能によ
り装置識別メッセージを生成させる。試験指示機能部１
４は、装置識別メッセージを生成した後、ＬＡＮコント
ローラ１２へブロードキャスト送信を指示し（ステップ
Ｓ１４４）、これによりＬＡＮコントローラ１２におい
て図１４に示すような装置識別メッセージ送信用のイー
サネットフレームを生成させて（ステップＳ１４５）、
その生成したフレームをＬＡＮ用ポート１１よりＬＡＮ
２上へブロードキャスト送信する（ステップＳ１４６）
と同時に、ＣＰＵ１９により応答取得タイマ１６ａを起
動させる（ステップＳ１４７）。That is, as shown in FIG. 25, first, a user inputs a log reference command from the console 4 (step S141), and the CPU 19 of the test instruction apparatus 3 determines the command (step S14).
2). Thus, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a device identification message (step S14).
3) The device identification message is generated by the device identification test instruction function of the test instruction function unit 14. Test instruction function unit 1
4, after generating the device identification message, instructs the LAN controller 12 to perform broadcast transmission (step S144), thereby causing the LAN controller 12 to generate an Ethernet frame for transmitting the device identification message as shown in FIG. Step S145),
The generated frame is transmitted from the LAN port 11 to the LAN.
2 is broadcasted (step S146).
At the same time, the CPU 19 starts the response acquisition timer 16a (step S147).
【００５０】その後、被試験装置１では、図１５で説明
した装置識別メッセージの受信および応答動作に従っ
て、装置アドレスと装置ＩＤとの応答メッセージを試験
指示装置３へ送信し、この被試験装置１から送信された
フレームを試験指示装置３において、図１７で説明した
動作に従って受信してＬＡＮ２上に接続されている被試
験装置１の装置アドレスと装置ＩＤとをＣＰＵ１９で確
認してＨＤ１７へ保存する。Thereafter, the device under test 1 transmits a response message of the device address and the device ID to the test instruction device 3 in accordance with the operation of receiving and responding to the device identification message described in FIG. The transmitted frame is received by the test instruction device 3 according to the operation described with reference to FIG. 17, the device address and the device ID of the device under test 1 connected on the LAN 2 are confirmed by the CPU 19, and are stored in the HD 17.
【００５１】試験指示装置３において、ＬＡＮ２上にあ
る被試験装置１の識別が終了したら、試験指示装置３で
は、図２６にフローチャートを示すように、ＣＰＵ１９
はＨＤ１７に保存してある被試験装置１の装置アドレス
の全てをコンソール４へ出力する（ステップＳ１５
１）。その後、出力された装置アドレスからユーザによ
ってログを参照したい所望の被試験装置１（複数も可）
および参照したいログの項目（試験回数、合格回数、Ｎ
Ｇ試験項目等）を選択する（ステップＳ１５２）。これ
により、ＣＰＵ１９は試験指示機能部１４へログ参照メ
ッセージの送信を指示する（ステップＳ１５３）。試験
指示機能部１４では、そのログ参照指示機能によりログ
参照メッセージを作成した後、ＬＡＮコントローラ１２
へ選択された装置アドレスへのログ参照メッセージの送
信を指示し（ステップＳ１５４）、これによりＬＡＮコ
ントローラ１２でログ参照メッセージと参照したいログ
項目より図２７に示すようなイーサネットフレームを生
成して（ステップＳ１５５）、その生成されたフレーム
をＬＡＮ用ポート１１よりＬＡＮ２上の選択された被試
験装置１へ送信する（ステップＳ１５６）。その後、選
択した全ての被試験装置１に対してログ参照メッセージ
の送信が終了したのを確認して（ステップＳ１５７）、
ＣＰＵ１９はログ取得タイマ１６ｂを起動させる（ステ
ップＳ１５８）。When the test instruction device 3 completes the identification of the device under test 1 on the LAN 2, the test instruction device 3 executes the CPU 19 as shown in the flowchart of FIG.
Outputs all the device addresses of the device under test 1 stored in the HD 17 to the console 4 (step S15).
1). Thereafter, a desired device under test 1 (a plurality of devices under test) for which the user wants to refer to the log from the output device address
And the log items you want to see (number of tests, number of passes, N
G test item) is selected (step S152). As a result, the CPU 19 instructs the test instruction function unit 14 to transmit a log reference message (step S153). The test instruction function unit 14 creates a log reference message using the log reference instruction function, and then creates a log reference message.
Instruct the LAN controller 12 to transmit a log reference message to the selected device address (step S154), thereby generating an Ethernet frame as shown in FIG. 27 from the log reference message and the log item to be referenced by the LAN controller 12 (step S154). S155), and transmits the generated frame from the LAN port 11 to the selected device under test 1 on the LAN 2 (step S156). Thereafter, it is confirmed that the transmission of the log reference message has been completed to all the selected devices under test 1 (step S157), and
The CPU 19 activates the log acquisition timer 16b (step S158).
【００５２】試験指示装置３からＬＡＮ２上に送信され
たログ参照メッセージおよびログ項目を有するフレーム
は、図２８に示すように選択した被試験装置１において
ＬＡＮ用ポート２１で受信し（ステップＳ１６１）、そ
の受信したフレームより取り出したログ参照メッセージ
をＣＰＵ２８で確認して（ステップＳ１６２、Ｓ１６
３）、メッセージ受信表示機能部２４へ受信表示を指示
してＬＥＤを点灯させる（ステップＳ１６４、Ｓ１６
５）と共に、応答機能部２５に対して要求されたログの
送信を指示する（ステップＳ１６６）。これにより、応
答機能部２５では、ログ送信機能によりＨＤ２６から要
求されたログ項目に対するログを取り出して試験指示装
置３へ送信するようにＬＡＮコントローラ２２へ指示し
て（ステップＳ１６７）、ＬＡＮコントローラ２２で図
２９に示すようなイーサネットフレームを生成し（ステ
ップＳ１６８）、その生成したフレームをＬＡＮ用ポー
ト２１よりＬＡＮ２を介して試験指示装置３へ送信する
（ステップＳ１６９）。The frame having the log reference message and the log item transmitted from the test instruction device 3 to the LAN 2 is received by the LAN port 21 in the selected device under test 1 as shown in FIG. 28 (step S161). The CPU 28 checks the log reference message extracted from the received frame (steps S162 and S16).
3) Instruct the message reception display function unit 24 to perform reception display and turn on the LED (steps S164 and S16).
Along with 5), it instructs the response function unit 25 to transmit the requested log (step S166). Accordingly, the response function unit 25 instructs the LAN controller 22 to retrieve the log corresponding to the log item requested from the HD 26 by the log transmission function and transmit the log to the test instruction device 3 (step S167). An Ethernet frame as shown in FIG. 29 is generated (step S168), and the generated frame is transmitted from the LAN port 21 to the test instruction device 3 via the LAN 2 (step S169).
【００５３】被試験装置１からのログの送信フレーム
は、試験指示装置３においてＬＡＮ用ポート１１を介し
て受信する。図３０はこの場合の試験指示装置３での動
作を示すフローチャートで、被試験装置１より送信され
たフレームをＬＡＮ用ポート１１で受信したら（ステッ
プＳ１７１、Ｓ１７２）、ＣＰＵ１９で被試験装置１の
ログを確認し（ステップＳ１７３）、その確認したログ
をコンソール４へ出力する（ステップＳ１７４）。その
後、ログ参照メッセージを送信した全ての装置アドレス
からのフレームの受信を確認して（ステップＳ１７
５）、その時点でＣＰＵ１９によりログ取得タイマ１６
ｂを停止させる（ステップＳ１７６）。The transmission frame of the log from the device under test 1 is received by the test instruction device 3 via the LAN port 11. FIG. 30 is a flowchart showing the operation of the test instruction device 3 in this case. When the frame transmitted from the device under test 1 is received by the LAN port 11 (steps S171 and S172), the log of the device under test 1 is Is confirmed (step S173), and the confirmed log is output to the console 4 (step S174). Thereafter, it is confirmed that frames have been received from all device addresses that have transmitted the log reference message (step S17).
5) At that time, the CPU 19 causes the log acquisition timer 16
b is stopped (step S176).
【００５４】なお、試験指示装置３では、ログ参照メッ
セージ送信時に起動したログ取得タイマ１６ｂがタイム
アウトするまで、ＬＡＮ２上にある被試験装置１からの
フレームの受信とログの出力とを行ない、タイムアウト
した時点で割込みを発生して、フレームの受信を終了す
るが、タイムアウトまでにログを受信していない被試験
装置１がある場合は、通信エラーとしてその被試験装置
１の装置アドレスをＨＤ１７よりコンソール４へ出力し
て表示させる。The test instructing device 3 receives a frame from the device under test 1 on the LAN 2 and outputs a log until the log acquisition timer 16b activated at the time of transmitting the log reference message times out. At this point, an interrupt is generated and the reception of the frame is terminated. However, if there is a device under test 1 for which no log has been received before the timeout, a device error of the device under test 1 is sent to the console 4 from the HD 17 as a communication error. Output to and display.
【００５５】以上のようにして、試験指示装置３におい
て、選択された被試験装置１のＨＤ２６に保存されてい
る試験結果ログ（試験回数、合格回数、ＮＧ試験項目
等）を収集して統計して出力する。As described above, in the test instruction apparatus 3, the test result logs (the number of tests, the number of passes, the NG test items, etc.) stored in the HD 26 of the selected device under test 1 are collected and statistically collected. Output.
【００５６】本発明の第５実施の形態では、試験指示装
置３のＨＤ１７に保存されている被試験装置１からの試
験結果ログを統計して出力する。図３１は、この場合の
動作を示すフローチャートで、試験の場合と同様に、先
ずコンソール４より内部ログ参照コマンドを入力し（ス
テップＳ１８１）、ＣＰＵ１９で内部ログ参照コマンド
を判断することによって（ステップＳ１８２）、ＨＤ１
７に保存してある被試験装置１の装置アドレスをコンソ
ール４へ出力する（ステップＳ１８３）。その後、ユー
ザがログを参照したい被試験装置１を選択する（装置の
複数選択可）と共に、参照したいログ項目（試験回数、
合格回数、ＮＧ試験項目等）を選択することで（ステッ
プＳ１８４）、ＣＰＵ１９において選択された被試験装
置１のログ項目をＨＤ１７より取り出してコンソール４
へ出力する。In the fifth embodiment of the present invention, a test result log from the device under test 1 stored in the HD 17 of the test instruction device 3 is statistically output. FIG. 31 is a flowchart showing the operation in this case. As in the case of the test, first, an internal log reference command is input from the console 4 (step S181), and the CPU 19 determines the internal log reference command (step S182). ), HD1
The device address of the device under test 1 stored in the device 7 is output to the console 4 (step S183). Thereafter, the user selects the device under test 1 whose log is to be referred to (a plurality of devices can be selected), and the log items (the number of tests,
By selecting a pass number, an NG test item, etc. (step S184), the log item of the device under test 1 selected by the CPU 19 is taken out from the HD 17 and the console 4
Output to
【００５７】[0057]
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれ
ば、自己試験機能を有する被試験装置をＬＡＮに接続
し、試験指示装置からＬＡＮ上に試験開始メッセージを
送信して、被試験装置を試験するようにしたので、複数
台の被試験装置を容易に、しかも短時間で試験すること
ができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, a device under test having a self-test function is connected to a LAN, a test start message is transmitted from the test instruction device to the LAN, and a test Since the devices are tested, a plurality of devices under test can be tested easily and in a short time.
【図１】 本発明に係る試験方式のシステム構成図であ
る。FIG. 1 is a system configuration diagram of a test system according to the present invention.
【図２】 本発明の第１実施の形態における試験指示装
置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of the test instruction device according to the first embodiment of the present invention.
【図３】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブロ
ック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図４】 第１実施の形態の全体の概略動作を示すフロ
ーチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing an overall schematic operation of the first embodiment.
【図５】 第１実施の形態において試験指示装置から試
験開始メッセージを送信する動作を示すフローチャート
である。FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a test start message from the test instruction device in the first embodiment.
【図６】 第１実施の形態における試験開始メッセージ
送信用のイーサネットフレームの構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a test start message according to the first embodiment.
【図７】 第１実施の形態による被試験装置での動作を
示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing an operation in the device under test according to the first embodiment.
【図８】 第１実施の形態における試験結果送信用のイ
ーサネットフレームの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting test results according to the first embodiment.
【図９】 第１実施の形態による試験指示装置での試験
結果の受信動作を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing an operation of receiving a test result in the test instruction device according to the first embodiment.
【図１０】 本発明の第２実施の形態における試験指示
装置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of a test instruction device according to a second embodiment of the present invention.
【図１１】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブ
ロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図１２】 第２実施の形態の全体の概略動作を示すフ
ローチャートである。FIG. 12 is a flowchart illustrating an overall schematic operation of the second embodiment.
【図１３】 第２実施の形態において試験指示装置から
装置識別メッセージを送信する動作を示すフローチャー
トである。FIG. 13 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a device identification message from a test instruction device in the second embodiment.
【図１４】 第２実施の形態における装置識別メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a device identification message according to the second embodiment.
【図１５】 第２実施の形態による被試験装置での装置
識別メッセージの受信および応答動作を示すフローチャ
ートである。FIG. 15 is a flowchart showing the operation of receiving and responding to the device identification message in the device under test according to the second embodiment.
【図１６】 第２実施の形態における被試験装置の装置
ＩＤおよび装置アドレス送信用のイーサネットフレーム
の構成を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a device ID and a device address of a device under test according to the second embodiment.
【図１７】 第２実施の形態による試験指示装置での装
置ＩＤおよび装置アドレスの受信動作を示すフローチャ
ートである。FIG. 17 is a flowchart illustrating an operation of receiving a device ID and a device address in the test instruction device according to the second embodiment.
【図１８】 第２実施の形態における試験指示装置から
の試験開始メッセージの送信動作を示すフローチャート
である。FIG. 18 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a test start message from the test instruction device according to the second embodiment.
【図１９】 第２実施の形態における試験開始メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a test start message according to the second embodiment.
【図２０】 第２実施の形態における試験指示装置での
試験結果の受信動作を示すフローチャートである。FIG. 20 is a flowchart illustrating an operation of receiving a test result in the test instruction device according to the second embodiment.
【図２１】 第２実施の形態における試験指示装置での
受信タイマに関する動作を示すフローチャートである。FIG. 21 is a flowchart illustrating an operation related to a reception timer in the test instruction device according to the second embodiment.
【図２２】 本発明の第３実施の形態における試験指示
装置での要部の動作を示すフローチャートである。FIG. 22 is a flowchart illustrating an operation of a main part in the test instruction device according to the third embodiment of the present invention.
【図２３】 本発明の第４実施の形態における試験指示
装置の要部の構成を示すブロック図である。FIG. 23 is a block diagram illustrating a configuration of a main part of a test instruction device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図２４】 同じく、被試験装置の要部の構成を示すブ
ロック図である。FIG. 24 is a block diagram showing a configuration of a main part of the device under test.
【図２５】 第４実施の形態においてログ参照時に試験
指示装置から装置識別メッセージを送信する動作を示す
フローチャートである。FIG. 25 is a flowchart illustrating an operation of transmitting a device identification message from the test instruction device when referring to a log in the fourth embodiment.
【図２６】 第４実施の形態において試験指示装置から
ログ参照メッセージを送信する動作を示すフローチャー
トである。FIG. 26 is a flowchart showing an operation of transmitting a log reference message from the test instruction device in the fourth embodiment.
【図２７】 第４実施の形態におけるログ参照メッセー
ジ送信用のイーサネットフレームの構成を示す図であ
る。FIG. 27 is a diagram illustrating a configuration of an Ethernet frame for transmitting a log reference message according to the fourth embodiment.
【図２８】 第４実施の形態における被試験装置でのロ
グ参照メッセージの受信および応答動作を示すフローチ
ャートである。FIG. 28 is a flowchart showing a log reference message reception and response operation in the device under test in the fourth embodiment.
【図２９】 第４実施の形態におけるログ送信用のイー
サネットフレームの構成を示す図である。FIG. 29 is a diagram showing a configuration of an Ethernet frame for log transmission in the fourth embodiment.
【図３０】 第４実施の形態における試験指示装置での
ログ受信動作を示すフローチャートであるFIG. 30 is a flowchart showing a log receiving operation in the test instruction device according to the fourth embodiment.
【図３１】 本発明の第５実施の形態における試験指示
装置での要部の動作を示すフローチャートである。FIG. 31 is a flowchart showing an operation of a main part in the test instruction device according to the fifth embodiment of the present invention.
１ 被試験装置 ２ ＬＡＮ ３ 試験指示装置 ４ コンソール １１ ＬＡＮ用ポート １２ ＬＡＮコントローラ １３ シリアルポート １４ 試験指示機能部 １５ 試験結果編集機能部 １６ 受信タイマ １６ａ 応答取得タイマ １６ｂ ログ取得タイマ １７ ハードディスク（ＨＤ） １８ メモリ １９ ＣＰＵ ２１ ＬＡＮ用ポート ２２ ＬＡＮコントローラ ２３ 自己試験機能部 ２４ メッセージ受信・試験結果表示機能部 ２５ 応答機能部 ２６ ハードディスク（ＨＤ） ２７ メモリ ２８ ＣＰＵ Reference Signs List 1 device under test 2 LAN 3 test instruction device 4 console 11 LAN port 12 LAN controller 13 serial port 14 test instruction function unit 15 test result editing function unit 16 reception timer 16a response acquisition timer 16b log acquisition timer 17 hard disk (HD) 18 Memory 19 CPU 21 LAN port 22 LAN controller 23 Self-test function unit 24 Message reception / test result display function unit 25 Response function unit 26 Hard disk (HD) 27 Memory 28 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 茂木 海彦 東京都新宿区西新宿６丁目12番１号 富士 通アイ・ネットワークシステムズ株式会社 内 Ｆターム(参考） 5K030 HB06 HC14 JA10 KA06 LD02 LE11 MC06 MC07 MD04 5K033 AA04 BA03 CB13 DB12 DB20 EA07 EC01 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Umihiko Mogi 6-12-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo FUJITSU I-NETWORK SYSTEMS CO., LTD. F-term (reference) MD04 5K033 AA04 BA03 CB13 DB12 DB20 EA07 EC01
Claims (9)
を有する電子装置を複数台ＬＡＮに接続すると共に、前
記ＬＡＮに共通の試験指示装置を接続して、前記試験指
示装置から前記ＬＡＮ上に試験開始メッセージをブロー
ドキャスト送信することにより、前記複数台の被試験装
置を同時に試験することを特徴とする自己試験機能を有
する電子装置の試験方式。1. A plurality of electronic devices each having a self-test function as a device under test are connected to a LAN, a common test instruction device is connected to the LAN, and a test is started from the test instruction device on the LAN. A test method for an electronic device having a self-test function, wherein the plurality of devices under test are tested simultaneously by broadcasting a message.
装置アドレスとを前記試験指示装置へ送信し、前記試験
指示装置は各被試験装置から送信される試験結果と装置
アドレスとを受信して統計処理し、その統計結果をＩ／
Ｏインターフェースを経て出力することを特徴とする請
求項１に記載の自己試験機能を有する電子装置の試験方
式。2. The device under test transmits a test result and a device address of the device under test to the test instruction device, and the test instruction device receives a test result and a device address transmitted from each device under test. And statistically process the results.
The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 1, wherein the output is performed via an O interface.
被試験装置内のローカルファイルメモリに保存すること
を特徴とする請求項２に記載の自己試験機能を有する電
子装置の試験方式。3. The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 2, wherein the device under test stores a test result in a local file memory in the device under test.
らの試験結果と装置アドレスとをローカルファイルメモ
リに保存して統計して出力することを特徴とする請求項
２に記載の自己試験機能を有する電子装置の試験方式。4. The self-test function according to claim 2, wherein the test instructing device stores the test result and the device address from the device under test in a local file memory, and statistically outputs the result. Test method for electronic devices having:
ローカルファイルメモリに保存された試験結果を収集し
て統計して出力することを特徴とする請求項３に記載の
自己試験機能を有する電子装置の試験方式。5. The self-test function according to claim 3, wherein the test instruction device collects, statistically outputs the test results stored in a local file memory of the device under test. Test method for electronic devices.
からなる複数台の被試験装置をＬＡＮに接続すると共
に、前記ＬＡＮに共通の試験指示装置を接続して、前記
試験指示装置から前記ＬＡＮ上に被試験装置を識別する
ための装置識別メッセージをブロードキャスト送信し、
各被試験装置では装置識別メッセージの受信に基づいて
自装置の装置アドレスを含む識別情報を前記ＬＡＮを介
して前記試験指示装置へ送信し、その後、前記試験指示
装置において前記識別情報を受信した被試験装置に対し
て前記ＬＡＮを介して試験開始メッセージを送信するこ
とにより、当該被試験装置を試験することを特徴とする
自己試験機能を有する電子装置の試験方式。6. A plurality of devices under test, each of which has an electronic device having a self-test function, are connected to a LAN, and a common test instruction device is connected to the LAN. Broadcast transmission of a device identification message for identifying the device under test,
Each device under test transmits identification information including the device address of its own device to the test instruction device via the LAN based on the reception of the device identification message, and thereafter, the test instruction device receives the identification information at the test instruction device. A test method for an electronic device having a self-test function, wherein the test device is tested by transmitting a test start message to the test device via the LAN.
情報に基づいて試験を実施したい被試験装置を選択し、
その選択した被試験装置に対して試験開始メッセージを
送信することを特徴とする請求項６に記載の自己試験機
能を有する電子装置の試験方式。7. The test instruction device selects a device under test to perform a test based on the received identification information,
7. The test method for an electronic device having a self-test function according to claim 6, wherein a test start message is transmitted to the selected device under test.
ときは、受信した前記試験指示装置からのメッセージを
前記外部表示機能を用いて外部へ表示させることを特徴
とする請求項１〜７のいずれか一項に記載の自己試験機
能を有する電子装置の試験方式。8. The apparatus according to claim 1, wherein when the device under test has an external display function, the received message from the test instruction device is displayed externally using the external display function. A test method for an electronic device having a self-test function according to any one of the preceding claims.
ときは、該外部表示機能を用いて試験が正常に終了した
のを外部へ表示させることを特徴とする請求項１〜８の
いずれか一項に記載の自己試験機能を有する電子装置の
試験方式。9. The apparatus according to claim 1, wherein when the device under test has an external display function, the fact that the test has been completed normally is displayed outside using the external display function. A test method for an electronic device having a self-test function according to claim 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28104099A JP2001103068A (en) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | Test system for electronic apparatus having self-testing function |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28104099A JP2001103068A (en) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | Test system for electronic apparatus having self-testing function |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001103068A true JP2001103068A (en) | 2001-04-13 |
Family
ID=17633469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28104099A Pending JP2001103068A (en) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | Test system for electronic apparatus having self-testing function |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001103068A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007101246A (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Workpiece inspection system |
| JP2008192309A (en) * | 2008-05-12 | 2008-08-21 | Elpida Memory Inc | Semiconductor integration circuit device |
| JP2022510694A (en) * | 2018-12-07 | 2022-01-27 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Simultaneous testing of whether multiple electronic devices connected via a communication network handle exceptions correctly |
-
1999
- 1999-10-01 JP JP28104099A patent/JP2001103068A/en active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007101246A (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Workpiece inspection system |
| JP4488997B2 (en) * | 2005-09-30 | 2010-06-23 | 沖電気工業株式会社 | Work inspection system |
| JP2008192309A (en) * | 2008-05-12 | 2008-08-21 | Elpida Memory Inc | Semiconductor integration circuit device |
| JP2022510694A (en) * | 2018-12-07 | 2022-01-27 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Simultaneous testing of whether multiple electronic devices connected via a communication network handle exceptions correctly |
| JP7147065B2 (en) | 2018-12-07 | 2022-10-04 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Simultaneous testing of correct handling of exceptions by multiple electronic devices connected via a communication network |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101194442B (en) | Automated monitoring of a network | |
| CN101977128B (en) | Interface detection method and device for communication equipment | |
| CN105243016B (en) | The methods, devices and systems being monitored to the terminal device on test platform | |
| JP3647955B2 (en) | Operation board, remote I / O communication control method | |
| JP4962725B2 (en) | Tool device in multi PLC / distributed control system | |
| US6859898B1 (en) | Monitor apparatus for sequential-function-chart-type programmable controller | |
| CN114338840A (en) | Socket-based remote debugging method | |
| JP2001103068A (en) | Test system for electronic apparatus having self-testing function | |
| CN116192803A (en) | Master-slave machine automatic identification communication method, device, equipment and storage medium | |
| US20010054118A1 (en) | Concurrent programming apparatus with status detection capability | |
| JP4697484B2 (en) | PLC system | |
| CN106803954A (en) | Detection method, the apparatus and system of many tuner Set Top Boxes | |
| JP2000358029A (en) | Automatic fault diagnostic network system, and automatic fault diagnostic method for network | |
| CN114721569A (en) | Synchronous screenshot method, device and system and server | |
| JPH0887458A (en) | Data transmission equipment for process control and removing method for i/o bus transmission fault | |
| CN112463183A (en) | Display control card aging detection method, device and system and computer readable medium | |
| KR20060023862A (en) | Can network controll system and test and debugging method thereof | |
| TWI802163B (en) | Control system and control method based on script | |
| JP3870890B2 (en) | Operation board, remote I / O communication control method | |
| CN114189424B (en) | Intelligent device control method, intelligent device control device, electronic device, medium and program product | |
| JP2003260991A (en) | Failure diagnostic device for vehicle | |
| US20220335001A1 (en) | Bi-directional bus topology | |
| CN117411804A (en) | Server network testing method and device, electronic equipment and storage medium | |
| JPH1023234A (en) | Facsimile server | |
| KR101739692B1 (en) | Board and method for checking extended interface |