JP2001091256A - Leveling rod for leveling - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a leveling rod for leveling capable of enhancing readability of a part to be read, such as the scales and the numerical values of the leveling rod and by obtaining a finer measured value. SOLUTION: At least the surfaces 20a, 30a of a rod-shaped or flat leveling rod 20, 30 is made of a fluorescent material, and a pattern 21 having one end of the leveling rod 20, 30 as a cardinal point is formed on the surfaces 20a, 30a.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、水準測量の際に使
用され、角柱状若しくは板状の標尺本体の表面に一端を
基点とした測定用の目盛を設けた水準測量用標尺に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a leveling staff used for leveling and provided with a scale for measurement with one end as a reference point on the surface of a prismatic or plate-shaped staff body.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来から、高低差を測定する水準測量に
は、測定装置であるレベルと標尺とが用いられてる。こ
の標尺には一端を基点とした測定用被読取部としての目
盛や数値が表面若しくは両面に設けられている。2. Description of the Related Art Conventionally, in leveling for measuring a height difference, a level and a staff, which are measuring devices, have been used. On this staff, a scale or a numerical value as a reading portion for measurement with one end as a base point is provided on the front surface or both surfaces.

【０００３】実際に水準測量を行う場合、測定進行方向
の前後に立てた標尺の中間にレベルを設置し、このレベ
ルの望遠鏡で標尺を視準して標尺に設けられた目盛や数
値を読み取っている。When actually performing leveling, a level is set in the middle of a staff set up before and after the measuring direction, and the telescope of this level collimates the staff and reads scales and numerical values provided on the staff. I have.

【０００４】尚、レベルには光学式レベルと電子レベル
とがあり、一般的に光学レベル、電子レベルに応じた標
尺が用いられている。レベルは、水平に回転し視準する
ための望遠鏡と、この望遠鏡の視準方向を水平に整準す
る整準手段とから構成されている。[0004] There are optical levels and electronic levels, and a staff corresponding to the optical level and the electronic level is generally used. The level comprises a telescope for horizontally rotating and collimating, and leveling means for leveling the collimating direction of the telescope horizontally.

【０００５】光学レベルは、標尺の目盛パターンを、作
業者が直接読み取るレベルである。望遠鏡を標尺に向
け、その望遠鏡に設けられた視準線に一致する目盛パタ
ーンから高さを読み取る。The optical level is a level at which an operator directly reads a scale pattern of a staff. Aim the telescope at the staff and read the height from a scale pattern that matches the collimation line provided on the telescope.

【０００６】電子レベルは、光電変換センサを備え、標
尺の目盛パターンを電気的に読み取るレベルである。望
遠鏡を標尺に向け、望遠鏡の視準線に一致する目盛パタ
ーンを、作業者が読み取る替わりに光電変換センサが電
気的に高さを読み取る。The electronic level is a level that includes a photoelectric conversion sensor and electrically reads a scale pattern of a staff. When the telescope is pointed at the staff, the photoelectric conversion sensor electrically reads the height instead of the operator reading a scale pattern that matches the collimation line of the telescope.

【０００７】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、水準測量用
の標尺にあっては、光学レベルの標尺と電子レベル用の
標尺の何れにあっても、地表からの高さ測定に精密な測
定値を得るため、標尺本体の表面を白地とし、目盛や数
値を黒として標尺自体のコントラストを高く確保してい
る。By the way, regarding the staff for leveling, both of the staff for the optical level and the staff for the electronic level, precise measurement values are required for measuring the height from the ground surface. In order to obtain the staff, the staff itself has a white background and the scales and numerical values are black to ensure high contrast of the staff itself.

【０００８】従って、例えば、木や高い塀などの障害物
に近接した位置に標尺を設置した日中の測定時に、コン
トラストの高い太陽光と障害物の影とが標尺のパターン
と重なってしまうと、パターンを視準し辛くしてしま
い、目視や電子パターン区別による読み取りが困難とな
ってしまうという問題が発生していた。尚、所謂逆光時
においても同様に読み取りが困難となってしまう。Therefore, for example, during daytime measurement when a staff is installed near an obstacle such as a tree or a high fence, if the sunlight of high contrast and the shadow of the obstacle overlap with the staff pattern. However, there has been a problem that it becomes difficult to collimate the pattern, and it becomes difficult to read the pattern visually or by distinguishing the electronic pattern. It is to be noted that reading becomes difficult similarly in the case of so-called backlight.

【０００９】本発明は、上記問題を解決するため、標尺
の目盛や数値等の測定用被読取部の読み取り性を向上さ
せることができ、よって、より精密な測定値を得ること
ができる水準測量用標尺を提供することを目的とする。According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, it is possible to improve the readability of a portion to be read such as a scale of a staff or a numerical value, and thus to obtain a more accurate measurement value. It is intended to provide a staff staff.

【００１０】[0010]

【課題を解決するための手段】その目的を達成するため
請求項１に記載の発明は、標尺本体の少なくとも表面の
略全面に蛍光材料を設けると共に、該蛍光材料の表面に
遮光部を設け、該遮光部を測定用被読取部としたことを
要旨とする。According to the first aspect of the present invention, a fluorescent material is provided on at least substantially the entire surface of the staff staff, and a light-shielding portion is provided on the surface of the fluorescent material. The gist is that the light-shielding portion is a measurement read portion.

【００１１】請求項２に記載の発明は、標尺本体の少な
くとも表面の略全面に蛍光材料を設けると共に、該蛍光
材料の表面に遮光部を設け、前記蛍光材料のうち前記遮
光部に遮光されない表面部分を測定用被読取部としたこ
とを要旨とする。According to a second aspect of the present invention, a fluorescent material is provided on at least substantially the entire surface of the staff staff body, and a light-shielding portion is provided on the surface of the fluorescent material, and a surface of the fluorescent material which is not shielded by the light-shielding portion is provided. The gist is that the part is a reading part for measurement.

【００１２】請求項３に記載の発明は、標尺本体の少な
くとも表面に蛍光材料を設けると共に、該蛍光材料を測
定用被読取部としたことを要旨とする。[0013] The invention according to a third aspect is characterized in that a fluorescent material is provided on at least the surface of the staff staff body, and the fluorescent material is used as a reading portion for measurement.

【００１３】請求項４に記載の発明は、標尺本体の少な
くとも表面に蛍光材料を設けると共に、前記標尺本体の
表面のうち前記蛍光材料が設けられていない部分を測定
用被読取部としたことを要旨とする。According to a fourth aspect of the present invention, a fluorescent material is provided on at least the surface of the staff body, and a portion of the surface of the staff body where the fluorescent material is not provided is used as a reading portion for measurement. Make a summary.

【００１４】請求項５に記載の発明は、前記測定用被読
取部は、線状目盛、異形目盛、電気的読取擬似目盛、数
値の少なくとも何れか１つであることを要旨とする。According to a fifth aspect of the present invention, the reading portion for measurement is at least one of a linear scale, a deformed scale, an electric read pseudo scale, and a numerical value.

【００１５】請求項６に記載の発明は、前記蛍光材料は
蓄光性蛍光材料であることを要旨とする。[0015] The invention according to claim 6 is characterized in that the fluorescent material is a phosphorescent fluorescent material.

【００１６】[0016]

【発明の実施の形態】次に、本発明の水準測量用標尺の
実施の形態を図面に基づいて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a leveling staff according to the present invention will be described with reference to the drawings.

【００１７】（レベル）図５は、水準測量用の概観図で
ある。レベル１は、筒状の望遠鏡２と、合焦を操作する
合焦ノブ３と、望遠鏡１を水平に回転させる水平ノブ４
と、望遠鏡１による視準方向を水平に整準する整準部５
並びにそのノブ６を有する。(Level) FIG. 5 is a schematic view for leveling. Level 1 includes a cylindrical telescope 2, a focusing knob 3 for operating focusing, and a horizontal knob 4 for rotating the telescope 1 horizontally.
And a leveling unit 5 for leveling the collimating direction by the telescope 1 horizontally.
And its knob 6.

【００１８】一方、図４は、レベル１の内部構成を示
す。図４において、ビームスプリッタ１４を除いた対物
レンズ１１、インターナルレンズ１２、コンペンセータ
１３、焦点板１５、接眼レンズ１６の光学配置は光学レ
ベルの望遠鏡の基本的な構成である。FIG. 4 shows the internal structure of level 1. In FIG. 4, the optical arrangement of the objective lens 11, the internal lens 12, the compensator 13, the focusing screen 15, and the eyepiece 16 excluding the beam splitter 14 is a basic configuration of an optical level telescope.

【００１９】対物レンズ１１から入射した視準光は、イ
ンターナルレンズ１２で焦点板１５に結像される。焦点
板１５に結像された像（例えば、標尺２０，３０）は、
接眼レンズ１６を通して作業者に視準される。The collimated light incident from the objective lens 11 is imaged on the focusing screen 15 by the internal lens 12. The images formed on the reticle 15 (for example, staffs 20 and 30)
It is collimated by the worker through the eyepiece 16.

【００２０】コンペンセータ１３は、レベル１の光軸Ｏ
が多少傾いても、視準線を自動的に水平にするための自
動補償機構であり、水平光線を上下に変化させて結像さ
せるものである。尚、焦点板１５の前位置には正立像と
する正立プリズム１５ａが配置されている。The compensator 13 has a level 1 optical axis O
This is an automatic compensation mechanism for automatically leveling the collimation line even if is slightly inclined, and forms an image by changing horizontal rays up and down. In addition, an erecting prism 15a for erecting an image is arranged at a position in front of the focusing screen 15.

【００２１】電子レベルの場合、上述した光学配置に加
えて、電気的に読み取るためのビームスプリッタ１４、
リニアセンサ１７、演算処理手段１８を有した構成とな
っている。In the case of the electronic level, in addition to the above-described optical arrangement, a beam splitter 14 for electrically reading,
The configuration includes a linear sensor 17 and an arithmetic processing unit 18.

【００２２】ビームスプリッタ１４は、光を接眼レンズ
部１４方向と、リニアセンサ１７方向に分割させる。The beam splitter 14 divides light in the direction of the eyepiece 14 and in the direction of the linear sensor 17.

【００２３】リニアセンサ１７は、対物レンズ部１１に
よって形成された標尺２０，３０のパターン像を電気信
号に変換する。本実施例では、ＣＣＤリニアセンサが使
用されている。この光電変換器に該当するリニアセンサ
１７は、ホトダイオードを少なくとも１次元的に配置し
たリニアイメージセンサであれば、何れのセンサを採用
してもよい。The linear sensor 17 converts the pattern images of the staff 20 and 30 formed by the objective lens unit 11 into electric signals. In this embodiment, a CCD linear sensor is used. As the linear sensor 17 corresponding to this photoelectric converter, any sensor may be employed as long as it is a linear image sensor in which photodiodes are arranged at least one-dimensionally.

【００２４】演算処理手段１８は、アンプ１８１と、サ
ンプルホールド１８２と、Ａ／Ｄ変換器１８３と、ＲＡ
Ｍ１８４と、クロックドライバ１８５と、マイクロコン
ピュータ１８６と、表示器１８７とから構成されてい
る。The arithmetic processing means 18 includes an amplifier 181, a sample hold 182, an A / D converter 183, an RA
M184, a clock driver 185, a microcomputer 186, and a display 187.

【００２５】アンプ１８１はリニアセンサ１７からの電
気信号を増幅するものであり、サンプルホールド１８２
は増幅された電気信号をクロックドライバ１８５からの
タイミング信号でサンプルホールドする。Ａ／Ｄ変換器
１８３はサンプルホールドされた電気信号をＡ／Ｄ変換
する。ＲＡＭ１８４はＡ／Ｄ変換されたデジタル信号を
記憶する。マイクロコンピュータ１８６は各種演算処理
を行う。The amplifier 181 amplifies the electric signal from the linear sensor 17, and
Samples and holds the amplified electric signal with the timing signal from the clock driver 185. The A / D converter 183 performs A / D conversion on the sampled and held electric signal. The RAM 184 stores the digital signal after the A / D conversion. The microcomputer 186 performs various arithmetic processing.

【００２６】（光学レベル＜目測式レベル用＞標尺）図
３（Ａ）は、光学レベルの標尺２０の一部を示す。この
標尺２０には角柱状若しくは板状のものが使用され、一
端を基準とした複数の目盛パターン２１と、各目盛パタ
ーン２１に対応する数値２２並びに補助数値２３が設け
られている。尚、目盛パターン２１、数値２２、補助数
値２３は全て測定用被読取部である。(Optical Level <for Visual Measurement Level> Staff) FIG. 3A shows a part of the staff 20 of the optical level. The staff 20 is in the form of a prism or a plate, and is provided with a plurality of scale patterns 21 based on one end, and numerical values 22 and auxiliary numerical values 23 corresponding to the respective scale patterns 21. It should be noted that the scale pattern 21, the numerical value 22, and the auxiliary numerical value 23 are all reading portions for measurement.

【００２７】目盛パターン２１は、所定の同一ピッチで
標尺２０の長手方向（高さ方向に）順次配置されてい
る。また、目盛パターン２１は、図３（Ｂ）に示すよう
に、例えば０．５ｃｍ毎に段差を設け、望遠鏡１の視準
であっても読取精度を維持することができるようになっ
ている。尚、０．５ｃｍ以下は作業者の目測となる。ま
た、図３（Ｂ）の寸法Ｌ１は１ｃｍ、Ｌ２は０．５ｃｍ
である。The scale patterns 21 are arranged in the longitudinal direction (in the height direction) of the staff 20 at the same predetermined pitch. Further, as shown in FIG. 3B, the scale pattern 21 is provided with a step every 0.5 cm, for example, so that the reading accuracy can be maintained even when the telescope 1 is collimated. In addition, 0.5 cm or less is measured by the operator. The dimension L1 in FIG. 3B is 1 cm, and L2 is 0.5 cm.
It is.

【００２８】図３（Ｃ）は、目盛パターン２１を焦点板
１５に設けられた視準線２４によって目盛パターン２１
並びに数値２２を視準している際の一例を示す。FIG. 3C shows the graduation pattern 21 by the collimation line 24 provided on the focusing screen 15.
In addition, an example when collimating the numerical value 22 is shown.

【００２９】（電子レベル用標尺）図２（Ａ）は、電子
レベル用の標尺３０の一部を示す。この標尺３０には角
柱状若しくは板状のものが使用され、一端を基準として
複数の電気的読取擬似目盛ブロック（以下、単に『ブロ
ック』と称する。）３１並びに各ブロック３１に対応す
る数値３２が設けられている。尚、ブロック３１並びに
数値３２は測定用被読取部である。(Stave for Electronic Level) FIG. 2A shows a part of the staff 30 for the electronic level. The staff 30 has a prismatic or plate-like shape, and a plurality of electric reading pseudo scale blocks (hereinafter, simply referred to as “blocks”) 31 and a numerical value 32 corresponding to each block 31 are defined based on one end. Is provided. Incidentally, the block 31 and the numerical value 32 are reading portions for measurement.

【００３０】ブロック３１は、図２（Ｂ）に示すよう
に、第１のパターンＡと第２のパターンＢと第３のパタ
ーンＲとが等間隔ｐで繰り返し配置されている。即ち、
電気的読取擬似目盛としてのバーコード状の３種のパタ
ーンＡ，Ｂ，Ｒを１組として各ブロック３１が連続して
設けられ、一端に配置されたブロック３１を第０ブロッ
クと定義して、Ｒ（０），Ａ（０），Ｂ（０）とすれ
ば、Ｒ（１），Ａ（１），Ｂ（１）、Ｒ（２），Ａ
（２），Ｂ（２）、・・・と順次繰り返して配置されて
いる。In the block 31, as shown in FIG. 2B, a first pattern A, a second pattern B, and a third pattern R are repeatedly arranged at equal intervals p. That is,
Each block 31 is continuously provided as a set of three types of barcode-like patterns A, B, and R as electric reading pseudo scales, and a block 31 disposed at one end is defined as a 0th block. If R (0), A (0), B (0), R (1), A (1), B (1), R (2), A
(2), B (2),... Are sequentially and repeatedly arranged.

【００３１】この際、第３のパターンＲは黒幅８ｍｍで
固定幅となっており、第１のパターンＡは６００ｍｍで
１周期となるように黒部分の幅を変調しており、第２の
パターンＢは５７０ｍｍで１周期となるように黒部分の
幅を変調している。At this time, the third pattern R has a fixed width with a black width of 8 mm, and the first pattern A modulates the width of the black portion so as to have one cycle of 600 mm. In pattern B, the width of the black portion is modulated so that one period is 570 mm.

【００３２】標尺３０を用いて水平位置を求める原理を
説明すると、標尺３０の第１のパターンＡは６００ｍｍ
で１周期となるように黒部分の幅を変調している。The principle of determining the horizontal position using the staff 30 will be described. The first pattern A of the staff 30 is 600 mm.
Modulates the width of the black portion so as to be one cycle.

【００３３】同様に、標尺３０の第２のパターンＢは５
７０ｍｍで１周期となるように黒部分の幅を変調してい
る。Similarly, the second pattern B of the staff 30 is 5
The width of the black portion is modulated so that one cycle is 70 mm.

【００３４】そして第１のパターンＡと第２のパターン
Ｂとは、周期が僅かに異なっているため、両者の最小公
倍数である距離で同様のパターンが現れる。この例で
は、各周期６００ｍｍと５７０ｍｍの最小公倍数である
１１４００ｍｍで同様のパターンが現れる。従って、第
１のパターンＡによる信号と第２のパターンＢによる信
号との位相差は０〜１１４００ｍｍの範囲で０〜２πま
で変化する。Since the first pattern A and the second pattern B have slightly different periods, similar patterns appear at a distance that is the least common multiple of the two. In this example, a similar pattern appears at 11400 mm, which is the least common multiple of each period of 600 mm and 570 mm. Accordingly, the phase difference between the signal based on the first pattern A and the signal based on the second pattern B changes from 0 to 2π in the range of 0 to 11400 mm.

【００３５】次に水準高の測定原理を、まず遠距離測定
の場合を説明する。Next, the principle of measuring the level will be described first in the case of long distance measurement.

【００３６】レベル１で読み取られた標尺３０の像をリ
ニアセンサ１７で電気信号に変換した後、この信号をフ
ーリエ変換すれば、等間隔ｐに相当する信号を得ること
ができる。ここで、高速フーリエ変換で求められた位相
をθとし、水平位置に相当するリニアセンサ１７のアド
レス位置（第ｍビット目）の位相をθｍとすれば、 Ｈ１＝（θｍ／３６０゜）＊ｐ となる。即ち、等間隔ｐ内を精密に水平位置Ｈ１を測定
することができる（精測定）。After the image of the staff 30 read at level 1 is converted into an electric signal by the linear sensor 17 and this signal is subjected to Fourier transform, a signal corresponding to an equal interval p can be obtained. Here, assuming that the phase obtained by the fast Fourier transform is θ and the phase of the address position (the m-th bit) of the linear sensor 17 corresponding to the horizontal position is θm, H1 = (θm / 360 °) * p Becomes That is, the horizontal position H1 can be precisely measured within the equal interval p (fine measurement).

【００３７】また、水平位置を求めるためには、標尺３
０に形成された等間隔ｐのパターン開始位置からの概略
位置を求める必要がある。そこでリニアセンサ１７の出
力信号を基準信号の前後半ピッチ分で積分する。In order to determine the horizontal position, a staff 3
It is necessary to obtain the approximate position from the pattern start position at equal intervals p formed at 0. Therefore, the output signal of the linear sensor 17 is integrated with the first and second pitches of the reference signal.

【００３８】さらに、この積分値を３つ毎に間引けば
（プロダクト検波）、第１のパターンＡに相当する信号
１と、第２のパターンＢに相当する信号２と、第３のパ
ターンＲに相当する信号３とが得られる。しかしながら
第３のパターンＲは、幅が変調されていない上、第１の
パターンＡと第２のパターンＢの最大変調幅が１０ｍｍ
に対して、第３のパターンＲは８ｍｍしかないので、第
３のパターンＲに相当する信号３は積分値が略一定であ
り、信号１や信号２に比較して約８０％の値となる。Further, if this integral value is thinned out every three (product detection), a signal 1 corresponding to the first pattern A, a signal 2 corresponding to the second pattern B, and a third pattern R Is obtained. However, the width of the third pattern R is not modulated, and the maximum modulation width of the first pattern A and the second pattern B is 10 mm.
On the other hand, since the third pattern R is only 8 mm, the signal 3 corresponding to the third pattern R has a substantially constant integrated value, which is about 80% of the signal 1 or the signal 2. .

【００３９】そして、第３のパターンＲと第１のパター
ンＡと第２のパターンＢとは、定められた順番に繰り返
して配置されているので、間引かれた信号が第３のパタ
ーンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢの何れで
あるかを決定することができる。そして、（Ａ−Ｒ）と
（Ｂ−Ｒ）の水平位置における位相を求め、標尺３０の
何れの位置の各パターンＡ，Ｂ，Ｒの組み合せであるか
を決定することで標尺３０における水平位置を求めるこ
とができる(粗測定）。Since the third pattern R, the first pattern A, and the second pattern B are repeatedly arranged in a predetermined order, the decimated signal is output to the third pattern R, Which of the first pattern A and the second pattern B can be determined. Then, the phase at the horizontal position of (A-R) and (BR) is determined, and the position of the staff 30 is determined to be a combination of the patterns A, B, and R, so that the horizontal position of the staff 30 is determined. (Coarse measurement).

【００４０】このように水準高Ｈは、水平位置における
基準信号の位相を求め（精測定）、また、水平位置に相
当する基準信号が標尺３０のパターン開始位置を基準に
何れの位置にあるかを、第１のパターンＡ、第２のパタ
ーンＢの位相差より求め（粗測定）、これら精測定Ｈ１
と粗測定Ｈ２を桁合わせすることにより求めることがで
きる。As described above, the level H is obtained by determining the phase of the reference signal at the horizontal position (accurate measurement), and at which position the reference signal corresponding to the horizontal position is based on the pattern start position of the staff 30. Is obtained from the phase difference between the first pattern A and the second pattern B (coarse measurement).
And the rough measurement H2.

【００４１】次に近距離測定の場合を説明する。Next, the case of short distance measurement will be described.

【００４２】この場合にはリニアセンサ１７の出力の立
ち上がり、立ち下がりエッジを求めるため出力信号を微
分する。これらのエッジにより、黒部分のエッジ間の間
隔を求めることができる。更に、黒部分の中心に相当す
るビットを求める。このビットの間隔が、第１のパター
ンＡ、第２のパターンＢ、第３のパターンＲの等間隔ｐ
である基準信号となる。In this case, the output signal is differentiated in order to find the rising and falling edges of the output of the linear sensor 17. From these edges, the interval between the edges of the black portion can be determined. Further, a bit corresponding to the center of the black portion is obtained. The interval between the bits is equal to the equal interval p between the first pattern A, the second pattern B, and the third pattern R.
Is the reference signal.

【００４３】そして水平位置に相当するアドレス位置
（第ｍビット）の前後の基準信号の位置を求めると、基
準信号の幅は、標尺３０上で１０ｍｍに相当するため、
前後の基準信号をそれぞれＮｆ（第Ｎｆビット）、Ｎｂ
（第Ｎｂビット）とすれば、 Ｈ１＝ （（ｍ−Ｎｆ）／（Ｎｂ−Ｎｆ））＊１０ となる(精測定）。When the position of the reference signal before and after the address position (m-th bit) corresponding to the horizontal position is obtained, the width of the reference signal is equivalent to 10 mm on the staff 30.
The front and rear reference signals are respectively Nf (Nf-th bit) and Nb
If (the Nth bit), H1 = ((m−Nf) / (Nb−Nf)) * 10 (precise measurement).

【００４４】そして黒部分の幅を最初より３個毎に間引
き、一定幅である第３のパターンＲを認識し、第３のパ
ターンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢの順に
配置されていることから、第３のパターンＲ、第１のパ
ターンＡ、第２のパターンＢの対応が決定される。Then, the width of the black portion is thinned out every three from the beginning, the third pattern R having a constant width is recognized, and the third pattern R, the first pattern A, and the second pattern B are arranged in this order. Therefore, the correspondence between the third pattern R, the first pattern A, and the second pattern B is determined.

【００４５】更に水平位置に相当するリニアセンサ１７
のアドレス位置（第ｍビット目）を含む基準信号が、第
３のパターンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢ
の何れに属するかを定めると共に、この何番目ブロック
に該当するかを決定する。即ち、Ｒ（ｎ），Ａ（ｎ），
Ｂ（ｎ）であれば、ｎ番目のブロック３１ということに
なる。Further, the linear sensor 17 corresponding to the horizontal position
The reference signal including the address position (the m-th bit) of the third pattern R, the first pattern A, and the second pattern B
To which block, and what number block the block belongs to. That is, R (n), A (n),
If it is B (n), it is the n-th block 31.

【００４６】そして第１のパターンＡの幅からｎを求め
ることができる。そして２個のｎから条件に合致したｎ
ａを選択し、更に周期からｎを求め、第２のパターンＢ
の幅からｎを算出して比較し、一致した時のｎが求める
ブロック番号となる。このブロック番号ｎから、概略水
準高Ｈ２（粗測定）を、各パターン毎に求めることがで
きる。Then, n can be obtained from the width of the first pattern A. Then, from two n, n that meets the condition
a is selected, and further, n is obtained from the period.
Are calculated from the widths of n and are compared, and when they match, n becomes the desired block number. From the block number n, the approximate level height H2 (coarse measurement) can be obtained for each pattern.

【００４７】従って、第３のパターンＲ、第１のパター
ンＡ、第２のパターンＢに相当する信号の黒部分の幅よ
り基準信号を求め、水平位置に相当するアドレス位置の
基準信号を定めることにより精測定を行い、第１のパタ
ーンＡ、第２のパターンＢに相当する信号の位相差によ
り粗測定を行い、これら精測定Ｈ１と粗測定Ｈ２を桁合
わせすることにより、水準高を求めることができる。Therefore, a reference signal is determined from the width of the black portion of the signal corresponding to the third pattern R, the first pattern A, and the second pattern B, and the reference signal at the address position corresponding to the horizontal position is determined. , And coarse measurement is performed based on the phase difference between signals corresponding to the first pattern A and the second pattern B, and the level is determined by aligning the precision measurement H1 and the coarse measurement H2 with digits. Can be.

【００４８】尚、レベル１を電子レベルとした場合のよ
り詳細な測定は、特開平６−１８０２３０号公報、特開
平５−３２２５６２号公報等によって公知であるため、
ここでは省略する。It is to be noted that a more detailed measurement when the level 1 is an electronic level is known from JP-A-6-180230, JP-A-5-322562, and the like.
Here, it is omitted.

【００４９】ところで、電気的読取用擬似目盛としての
バーコード状の各パターンＡ，Ｂ，Ｒからなるブロック
３１は、例えば、２次元バーコードのようにより詳細な
情報を狭い範囲で設けることが可能なものでも良い。By the way, the block 31 composed of the barcode-shaped patterns A, B, and R as pseudo scales for electrical reading can provide more detailed information in a narrow range, such as a two-dimensional barcode. May be something.

【００５０】（実施例１）一方、本発明の標尺２０，３
０は、例えば、図１（Ａ）及び図１（Ｆ）に示すよう
に、その表面２０ａ，３０ａの略全面に蓄光性蛍光材料
（ストロンチウムアルミネート等の化合物）４０を設け
ると共に、その蓄光性蛍光材料４０の表面に目盛パター
ン２１（及び数値２２、補助数値２３、各パターンＡ，
Ｂ，Ｒ、数値３２等）の測定用被読取部を設けている。(Embodiment 1) On the other hand, staffs 20 and 3 of the present invention
0, for example, as shown in FIGS. 1 (A) and 1 (F), a phosphorescent fluorescent material (compound such as strontium aluminate) 40 is provided on almost the entire surface 20a, 30a thereof, The scale pattern 21 (and the numerical value 22, the auxiliary numerical value 23, each pattern A,
(B, R, numerical value 32, etc.).

【００５１】これにより、木や高い塀などの障害物に近
接した位置に標尺２０，３０を設置した日中の測定時や
逆光時に、蓄光性蛍光材料４０と測定用被読取部とのコ
ントラストが低下してしまうことを防止している。Thus, the contrast between the luminous fluorescent material 40 and the portion to be read for measurement can be improved during daytime measurement or backlighting when the staff 20 or 30 is installed near an obstacle such as a tree or a high fence. It prevents that it drops.

【００５２】即ち、最近の蓄光性蛍光材料（ストロンチ
ウムアルミネ一ト等の化合物）は放射性物質を全く含ま
ず、耐久性が高い上に種々の発光色〈例えば、緑、青、
紫、黄色）とすることができる。蛍光材料自体は粉末状
であり、ベース材に混練し種々の形状に加工することが
てき、混練量により蛍光時間や蛍光量を調整することが
きる。混練するベース材としてはアクリル，ＡＢＳ，Ｐ
Ｐ等がある。That is, recent phosphorescent fluorescent materials (compounds such as strontium aluminum) do not contain any radioactive substance, have high durability, and have various luminescent colors (for example, green, blue, and the like).
Purple, yellow). The fluorescent material itself is in the form of powder, and can be kneaded with the base material and processed into various shapes, and the amount of kneading can adjust the fluorescence time and the amount of fluorescence. Acrylic, ABS, P as base material to be kneaded
P and the like.

【００５３】従って、図１（Ａ），（Ｆ）に示したよう
に、蓄光性蛍光材料４０を表面２０ａ，３０ａに設けた
標尺２０，３０では、蓄光性蛍光材料４０自体の原料色
が希簿であるため、白色に近い状態の地とすることがで
き、日中の光のある状態では蓄光性蛍光材料４０を用い
ない白地の場合（従来製品）と同様に支障なく水準測量
を行うことができる。Therefore, as shown in FIGS. 1A and 1F, in the staff 20 and 30 having the phosphorescent phosphor material 40 provided on the surfaces 20a and 30a, the raw material color of the phosphorescent phosphor material 40 itself is rare. Because it is a book, it can be a ground that is close to white, and leveling should be performed without hindrance in a daylight condition as in the case of a white background that does not use the phosphorescent material 40 (conventional product). Can be.

【００５４】また、標尺２０，３０の一部にコントラス
トの強い影が生じた場合には、蓄光性蛍光材料４０が蛍
光を発して影となった部分のコントラストを補い読み取
りを容易にする。この際、目視の場合は勿論、電子レベ
ルの場合においても受光素子であるリニアセンサ１７は
ノイズ光を受光しないように可視光のみを受光するよう
になっていることから、蛍光による標尺３０を読み取る
ことが可能である。When a shadow having a high contrast occurs on a part of the staff 20 or 30, the luminous fluorescent material 40 emits fluorescent light to compensate for the contrast of the shadowed portion to facilitate reading. At this time, the linear sensor 17 as a light receiving element receives only visible light so as not to receive noise light, not only in the case of visual observation but also in the case of an electronic level. It is possible.

【００５５】（実施例２）図１（Ｂ）及び図１（Ｇ）
は、実施例１の図１（Ａ），（Ｆ）の場合とコントラス
トを逆にしたものである。(Embodiment 2) FIGS. 1B and 1G
Is obtained by reversing the contrast of the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1F.

【００５６】標尺２０，３０の表面２０ａ，３０ａには
略全面に蓄光性蛍光材料４０が設けられており、その蓄
光性蛍光材料４０の表面に目盛パターン２１（及び数値
２２、補助数値２３、各パターンＡ，Ｂ，Ｒ、数値３２
等）とは逆の遮光部Ｓを設け、木や高い塀などの障害物
に近接した位置に標尺２０，３０を設置した日中の測定
時や逆光時には、蓄光性蛍光材料４０のうち遮光部Ｓに
遮光されない部分が目盛パターン２１（及び数値２２、
補助数値２３、各パターンＡ，Ｂ，Ｒ、数値３２等）と
なって蛍光を発して影となった部分のコントラストを補
い読み取りを容易にする。A luminous phosphor material 40 is provided on substantially the entire surface 20a, 30a of the staff 20, 30, and the scale pattern 21 (and numerical value 22, auxiliary numerical value 23, Pattern A, B, R, Numerical value 32
) Is provided, and the staff 20 and 30 are installed at a position close to an obstacle such as a tree or a high wall. During daytime measurement or backlighting, the light shielding portion of the phosphorescent fluorescent material 40 is used. The portion that is not shaded by S is the scale pattern 21 (and the value 22,
(Auxiliary numerical value 23, each pattern A, B, R, numerical value 32, etc.) to compensate for the contrast of the shadowed part which emits fluorescence and facilitates reading.

【００５７】（実施例３）図１（Ｃ）は、実施例２と同
様に実施例１の場合とコントラストを逆にしたものであ
る。(Embodiment 3) FIG. 1 (C) is similar to Embodiment 2 except that the contrast is reversed from that of Embodiment 1.

【００５８】標尺２０，３０の表面２０ａ，３０ａを黒
地等の暗色系地とすると共に、表面２０ａ，３０ａに目
盛パターン２１（及び数値２２、補助数値２３、各パタ
ーンＡ，Ｂ，Ｒ、数値３２等）の形状で蓄光性蛍光材料
４０を設け、木や高い塀などの障害物に近接した位置に
標尺２０，３０を設置した日中の測定時や逆光時には、
測定用被読取部としての蓄光性蛍光材料４０が目盛パタ
ーン２１（及び数値２２、補助数値２３、各パターン
Ａ，Ｂ，Ｒ、数値３２等）として蛍光を発して影となっ
た部分のコントラストを補い読み取りを容易にする。The surfaces 20a and 30a of the staffs 20 and 30 are made of a dark color base such as a black background, and the scale patterns 21 (and numerical values 22, auxiliary numerical values 23, patterns A, B, R, and numerical values 32) are formed on the surfaces 20a and 30a. Luminous phosphor material 40 is provided in the shape of (e.g.), and the staff 20, 30 is installed at a position close to an obstacle such as a tree or a high fence.
The luminous phosphor material 40 as the reading portion for measurement emits fluorescent light as the scale pattern 21 (and the numerical value 22, the auxiliary numerical value 23, each of the patterns A, B, R, the numerical value 32, etc.) to reduce the contrast of the shadowed portion. Makes supplementary reading easier.

【００５９】（実施例４）図１（Ｆ）は、実施例１と同
様のコントラストとしたものである。(Embodiment 4) FIG. 1F shows the same contrast as in Embodiment 1.

【００６０】標尺２０，３０の表面２０ａ，３０ａを黒
地等の暗色系地とすると共に、表面２０ａ，３０ａに目
盛パターン２１（及び数値２２、補助数値２３、各パタ
ーンＡ，Ｂ，Ｒ、数値３２等）の形状とは逆の蓄光性蛍
光材料４０を設け、木や高い塀などの障害物に近接した
位置に標尺２０，３０を設置した日中の測定時や逆光時
には、測定用被読取部としての蓄光性蛍光材料４０が蛍
光を発して影となった部分のコントラストを補い読み取
りを容易にする。The surfaces 20a and 30a of the staffs 20 and 30 are made into a dark color base such as a black background, and the scale patterns 21 (and numerical values 22, auxiliary numerical values 23, patterns A, B, R, and numerical values 32) are formed on the surfaces 20a and 30a. ) Is provided with a phosphorescent fluorescent material 40 having a shape opposite to the shape of the light-emitting fluorescent material 40, and the staff 20 and 30 are installed at a position close to an obstacle such as a tree or a high fence. The phosphorescent fluorescent material 40 emits fluorescent light to compensate for the contrast of the shadowed portion to facilitate reading.

【００６１】尚、実施例３，４では、標尺２０，３０の
表面２０ａ，３０ａ自体を地（実施例３）若しくは測定
用被読取部（実施例４）としたものを開示したが、例え
ば、図１（Ｅ）に示すように、目盛パターン２１（及び
数値２２、補助数値２３、各パターンＡ，Ｂ，Ｒ、数値
３２等）と蓄光性蛍光材料４０とを並列に設けることも
可能である。In the third and fourth embodiments, the surface 20a and 30a of the staff 20 and 30 are used as the ground (third embodiment) or the portion to be read for measurement (fourth embodiment). As shown in FIG. 1E, the scale pattern 21 (and the numerical value 22, the auxiliary numerical value 23, each of the patterns A, B, R, the numerical value 32, etc.) and the phosphorescent phosphor material 40 can be provided in parallel. .

【００６２】[0062]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の水準測量
用標尺にあっては、蛍光材料を用いてコントラストの差
を周辺環境に関係なく高く確保することにより、標尺の
目盛や数値等の測定用被読取部の読み取り性を向上させ
ることができ、よって、より精密な測定値を得ることが
できる。As described above, in the leveling staff of the present invention, by using a fluorescent material to ensure a high contrast difference irrespective of the surrounding environment, the scale and numerical values of the staff can be improved. The readability of the measurement reading portion can be improved, and thus more precise measurement values can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の実施の形態に係わる水準測量用標尺を
示し、（Ａ）は実施例１の標尺の拡大断面図、（Ｂ）は
実施例２の標尺の拡大断面図、（Ｃ）は実施例３の標尺
の拡大断面図、（Ｄ）は実施例４の標尺の拡大断面図、
（Ｅ）は実施例３，実施例４の変形例の標尺の拡大断面
図、（Ｆ）は実施例１，実施例３の見掛け上の標尺の表
面図、（Ｇ）は実施例２，実施例４の見掛け上の標尺の
表面図である。1A and 1B show a staff for leveling according to an embodiment of the present invention, in which FIG. 1A is an enlarged sectional view of a staff in Example 1, FIG. 1B is an enlarged sectional view of a staff in Example 2, and FIG. Is an enlarged sectional view of the staff of Example 3, (D) is an enlarged sectional view of the staff of Example 4,
(E) is an enlarged cross-sectional view of a staff in a modified example of the third and fourth embodiments, (F) is a surface view of an apparent staff in the first and third embodiments, and (G) is a second embodiment. It is a surface view of the apparent staff of Example 4.

【図２】同じく、（Ａ）は電子レベル用の標尺の一部の
正面図、（Ｂ）はブロックの拡大図である。FIG. 2A is a front view of a part of a staff for an electronic level, and FIG. 2B is an enlarged view of a block.

【図３】同じく、（Ａ）は光学レベルの標尺の一部の正
面図、（Ｂ）はパターンの拡大正面図、（Ｃ）は目視に
よる視準状態の説明図である。3A is a front view of a part of an optical level staff, FIG. 3B is an enlarged front view of a pattern, and FIG. 3C is an explanatory diagram of a collimated state by visual observation.

【図４】同じく、電子レベルの光学系の説明図である。FIG. 4 is an explanatory view of an electronic level optical system.

【図５】同じく、レベルの外観斜視図である。FIG. 5 is an external perspective view of the level.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

２０…標尺 ２０ａ…表面 ２１…異形擬似目盛（パターン） ２２…数値（パターン） ２３…補助数値（パターン） ３０…標尺 ３０ａ…表面 ３２…数値（パターン） Ａ…第１のパターン（パターン） Ｂ…第２のパターン（パターン） Ｒ…第３のパターン（パターン） 20 ... staff 20a ... surface 21 ... variant pseudo scale (pattern) 22 ... numerical value (pattern) 23 ... auxiliary value (pattern) 30 ... staff 30a ... surface 32 ... numerical value (pattern) A ... first pattern (pattern) B ... Second pattern (pattern) R ... third pattern (pattern)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】標尺本体の少なくとも表面の略全面に蛍光
材料を設けると共に、該蛍光材料の表面に遮光部を設
け、該遮光部を測定用被読取部としたことを特徴とする
水準測量用標尺。1. A leveling device characterized in that a fluorescent material is provided on at least substantially the entire surface of the staff staff, and a light-shielding portion is provided on the surface of the fluorescent material, and the light-shielding portion is a portion to be read for measurement. Staff staff. 【請求項２】標尺本体の少なくとも表面の略全面に蛍光
材料を設けると共に、該蛍光材料の表面に遮光部を設
け、前記蛍光材料のうち前記遮光部に遮光されない表面
部分を測定用被読取部としたことを特徴とする水準測量
用標尺。2. A fluorescent material is provided on at least substantially the entire surface of the staff body, and a light-shielding portion is provided on the surface of the fluorescent material, and a surface portion of the fluorescent material which is not shielded by the light-shielding portion is a reading portion for measurement. A staff for leveling, characterized in that: 【請求項３】標尺本体の少なくとも表面に蛍光材料を設
けると共に、該蛍光材料を測定用被読取部としたことを
特徴とする水準測量用標尺。3. A leveling staff, wherein a fluorescent material is provided on at least the surface of the staff body, and the fluorescent material is used as a portion to be read for measurement. 【請求項４】標尺本体の少なくとも表面に蛍光材料を設
けると共に、前記標尺本体の表面のうち前記蛍光材料が
設けられていない部分を測定用被読取部としたことを特
徴とする水準測量用標尺。4. A leveling staff, wherein a fluorescent material is provided on at least the surface of the staff body, and a portion of the surface of the staff staff on which the fluorescent material is not provided is a portion to be read for measurement. . 【請求項５】前記測定用被読取部は、線状目盛、異形目
盛、電気的読取擬似目盛、数値、補助数値の少なくとも
何れか１つであることを特徴とする請求項１乃至請求項
４の何れかに記載の水準測量用標尺。5. The reading part for measurement is at least one of a linear scale, a deformed scale, a pseudo scale for electrical reading, a numerical value, and an auxiliary numerical value. The staff for leveling according to any one of the above. 【請求項６】前記蛍光材料は蓄光性蛍光材料であること
を特徴とする請求項１乃至請求項４の何れかに記載の水
準測量用標尺。6. The leveling staff according to claim 1, wherein the fluorescent material is a phosphorescent fluorescent material.