JP2001074515A - 携帯型測定器 - Google Patents
携帯型測定器Info
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- JP2001074515A JP2001074515A JP25424499A JP25424499A JP2001074515A JP 2001074515 A JP2001074515 A JP 2001074515A JP 25424499 A JP25424499 A JP 25424499A JP 25424499 A JP25424499 A JP 25424499A JP 2001074515 A JP2001074515 A JP 2001074515A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- measurement
- section
- connector
- common
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D9/00—Recording measured values
- G01D9/005—Solid-state data loggers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定手段の制御部を書き換えることなく、測
定機能の異なる測定ユニットに簡単に交換可能にする。 【解決手段】 携帯型測定器１は単一の筐体から分割さ
れた測定ユニット１０と共通ユニット２とで構成されて
いる。共通ユニット２には、操作部，表示部６，インタ
ーフェース部７，制御部８からなる共通手段３が設けら
れている。測定ユニット１０には、ＯＴＤＲ１１と、共
通手段３からの指令の基づきＯＴＤＲ１１の測定を行わ
せ、測定データを制御部８に演算処理をさせるプログラ
ムが記憶されている記憶部１２が設けられている。共通
ユニット２の断面６ｂにはコネクタ９が露出されてい
る。測定ユニット１０の断面１３ａにはコネクタ１４が
露出されている。断面６ｂの周縁部と断面１３ａとの周
縁部とを整合させてコネクタ９，１４とを連結させ、Ｏ
ＴＤＲ１１と共通手段３との間でデータを送受させる。
定機能の異なる測定ユニットに簡単に交換可能にする。 【解決手段】 携帯型測定器１は単一の筐体から分割さ
れた測定ユニット１０と共通ユニット２とで構成されて
いる。共通ユニット２には、操作部，表示部６，インタ
ーフェース部７，制御部８からなる共通手段３が設けら
れている。測定ユニット１０には、ＯＴＤＲ１１と、共
通手段３からの指令の基づきＯＴＤＲ１１の測定を行わ
せ、測定データを制御部８に演算処理をさせるプログラ
ムが記憶されている記憶部１２が設けられている。共通
ユニット２の断面６ｂにはコネクタ９が露出されてい
る。測定ユニット１０の断面１３ａにはコネクタ１４が
露出されている。断面６ｂの周縁部と断面１３ａとの周
縁部とを整合させてコネクタ９，１４とを連結させ、Ｏ
ＴＤＲ１１と共通手段３との間でデータを送受させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、固有の測定機能を
有する複数の測定ユニットから１つ選択して、各測定ユ
ニットに共通する共通ユニットと一体化した携帯型測定
器に係り、特に、メモリの書き換えが不要になる携帯型
測定器に関する。
有する複数の測定ユニットから１つ選択して、各測定ユ
ニットに共通する共通ユニットと一体化した携帯型測定
器に係り、特に、メモリの書き換えが不要になる携帯型
測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の共通ユニット５１と測定ユ
ニット５７を一体化してなる携帯型測定器５０の概略図
である。共通ユニット５１には、表示部５２、操作部５
３、メモリ５４、不図示の外部機器用インターフェース
及びＣＰＵ５５が設けられている。一方、測定ユニット
５７には固有の測定機能を有する測定手段５７、例え
ば、ＯＴＤＲ，光スペクトルアナライザ等のハードウェ
アが搭載されている。したがって、光ファイバの損失測
定等を行う場合は、ＯＴＤＲ用の測定ユニット５７ａを
共通ユニット５１のスロット５６に差し込んで測定を行
っている。また、パルス波のスペクトラム分析，信号の
高調波ひずみの分析を行う場合は、光スペクトルアナラ
イザ用の測定ユニット５７ｂを共通ユニット５１のスロ
ット５６に差し込んで測定を行っている。
ニット５７を一体化してなる携帯型測定器５０の概略図
である。共通ユニット５１には、表示部５２、操作部５
３、メモリ５４、不図示の外部機器用インターフェース
及びＣＰＵ５５が設けられている。一方、測定ユニット
５７には固有の測定機能を有する測定手段５７、例え
ば、ＯＴＤＲ，光スペクトルアナライザ等のハードウェ
アが搭載されている。したがって、光ファイバの損失測
定等を行う場合は、ＯＴＤＲ用の測定ユニット５７ａを
共通ユニット５１のスロット５６に差し込んで測定を行
っている。また、パルス波のスペクトラム分析，信号の
高調波ひずみの分析を行う場合は、光スペクトルアナラ
イザ用の測定ユニット５７ｂを共通ユニット５１のスロ
ット５６に差し込んで測定を行っている。
【０００３】しかし、共通ユニット５１には、予め専用
のメモリ５４、例えば、ＯＴＤＲ測定用のプログラムが
記憶されているメモリが搭載されている。このため、次
に、パルス波のスペクトラム分析，信号の高調波ひずみ
の分析を行う場合、光スペクトルアナライザ用の測定ユ
ニット５７ｂを共通ユニット５１のスロット５６に差し
込んでも、共通ユニット５１側のメモリ５４に記憶され
ているプログラムが異なるため、光スペクトルアナライ
ザを構成しない。したがって、メモリ５４の内容を光ス
ペクトルアナライザ用のプログラムに書き換えざるを得
なかった。
のメモリ５４、例えば、ＯＴＤＲ測定用のプログラムが
記憶されているメモリが搭載されている。このため、次
に、パルス波のスペクトラム分析，信号の高調波ひずみ
の分析を行う場合、光スペクトルアナライザ用の測定ユ
ニット５７ｂを共通ユニット５１のスロット５６に差し
込んでも、共通ユニット５１側のメモリ５４に記憶され
ているプログラムが異なるため、光スペクトルアナライ
ザを構成しない。したがって、メモリ５４の内容を光ス
ペクトルアナライザ用のプログラムに書き換えざるを得
なかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記欠点を
除くためになされたものであって、その目的とするとこ
ろは、測定手段，操作部，表示部及びインターフェース
部を制御するＣＰＵを共通ユニットに設け、ＣＰＵが測
定手段，操作部，表示部及びインターフェース部を制御
するためのプログラムを記憶するメモリを測定ユニット
に設けることにより、測定ユニット側に測定機能に応じ
たプログラムを有することとなり、そのプログラムを書
き換えることなく、測定ユニットを交換することで異な
る機能の測定を可能にすることにある。
除くためになされたものであって、その目的とするとこ
ろは、測定手段，操作部，表示部及びインターフェース
部を制御するＣＰＵを共通ユニットに設け、ＣＰＵが測
定手段，操作部，表示部及びインターフェース部を制御
するためのプログラムを記憶するメモリを測定ユニット
に設けることにより、測定ユニット側に測定機能に応じ
たプログラムを有することとなり、そのプログラムを書
き換えることなく、測定ユニットを交換することで異な
る機能の測定を可能にすることにある。
【０００５】また他の目的は、第一の断面の周縁部と第
二の断面との周縁部とを整合させて、第一のコネクタと
第二のコネクタとを連結することにより、結合された筐
体をコンパクトでかつ携帯性の向上を図ることにある。
二の断面との周縁部とを整合させて、第一のコネクタと
第二のコネクタとを連結することにより、結合された筐
体をコンパクトでかつ携帯性の向上を図ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】要するに、本発明の請求
項１記載の携帯型測定器は、測定の指示を入力するため
の操作部と、それ自体固有の測定を行う測定手段と、測
定結果を表示する表示部と、外部機器との間でデータの
入出力を行うインターフェース部と、前記操作部，前記
測定手段，前記表示部及び前記インターフェース部を制
御するＣＰＵと、該ＣＰＵが前記操作部，前記測定手
段，前記表示部及び前記インターフェース部を制御する
ためのプログラムを記憶するメモリと、前記操作部，前
記測定手段，前記表示部，前記インターフェース部，前
記メモリ及び前記ＣＰＵを収納する筐体と、を備える測
定装置において、前記筐体が、共通ユニットと測定ユニ
ットとに分割可能であって、前記共通ユニットの分割さ
れたところの第一の断面と、前記測定ユニットの分割さ
れたところの第二の断面とはその輪郭において同じであ
り、前記共通ユニットは、前記操作部，前記表示部，前
記インターフェース部，前記ＣＰＵ，並びに前記ＣＰＵ
と前記メモリ及び前記測定手段との間でデータ及び制御
信号を送受するための第一のコネクタを備えているとと
もに、前記第一のコネクタは前記第一の断面に露出され
ており、前記測定ユニットは、前記測定手段，前記メモ
リ及び前記第一のコネクタに嵌合される第二のコネクタ
を備えているとともに、前記第二のコネクタは前記第二
の断面に露出されており、また、前記第一の断面と前記
第二の断面とを整合させて前記共通ユニットと前記測定
ユニットを固定させるとともに、前記第一のコネクタと
前記第二のコネクタとの嵌合を確保するための固定手段
を備え、前記メモリの内容に応じた前記固有の測定を行
うことを特徴とする。
項１記載の携帯型測定器は、測定の指示を入力するため
の操作部と、それ自体固有の測定を行う測定手段と、測
定結果を表示する表示部と、外部機器との間でデータの
入出力を行うインターフェース部と、前記操作部，前記
測定手段，前記表示部及び前記インターフェース部を制
御するＣＰＵと、該ＣＰＵが前記操作部，前記測定手
段，前記表示部及び前記インターフェース部を制御する
ためのプログラムを記憶するメモリと、前記操作部，前
記測定手段，前記表示部，前記インターフェース部，前
記メモリ及び前記ＣＰＵを収納する筐体と、を備える測
定装置において、前記筐体が、共通ユニットと測定ユニ
ットとに分割可能であって、前記共通ユニットの分割さ
れたところの第一の断面と、前記測定ユニットの分割さ
れたところの第二の断面とはその輪郭において同じであ
り、前記共通ユニットは、前記操作部，前記表示部，前
記インターフェース部，前記ＣＰＵ，並びに前記ＣＰＵ
と前記メモリ及び前記測定手段との間でデータ及び制御
信号を送受するための第一のコネクタを備えているとと
もに、前記第一のコネクタは前記第一の断面に露出され
ており、前記測定ユニットは、前記測定手段，前記メモ
リ及び前記第一のコネクタに嵌合される第二のコネクタ
を備えているとともに、前記第二のコネクタは前記第二
の断面に露出されており、また、前記第一の断面と前記
第二の断面とを整合させて前記共通ユニットと前記測定
ユニットを固定させるとともに、前記第一のコネクタと
前記第二のコネクタとの嵌合を確保するための固定手段
を備え、前記メモリの内容に応じた前記固有の測定を行
うことを特徴とする。
【０００７】第一の断面に対し、第二の断面を対面させ
る。第一の断面と第二の断面の周縁部同士を整合させ
て、第一のコネクタと第二のコネクタを連結させる。電
源をＯＮにして、測定手段に応じた測定を行う。他の測
定を行う場合は、電源をＯＦＦにして、筐体を共通ユニ
ットと測定ユニットとに分割する。そして、他の測定機
能を有する測定手段が収納されている共通ユニットを、
同様にして共通ユニットに結合させる。
る。第一の断面と第二の断面の周縁部同士を整合させ
て、第一のコネクタと第二のコネクタを連結させる。電
源をＯＮにして、測定手段に応じた測定を行う。他の測
定を行う場合は、電源をＯＦＦにして、筐体を共通ユニ
ットと測定ユニットとに分割する。そして、他の測定機
能を有する測定手段が収納されている共通ユニットを、
同様にして共通ユニットに結合させる。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明による携帯型測定器の実施
の形態を、図１〜図３を用いて説明する。携帯型測定器
１は、単一の筐体が分割された共通ユニット２と測定ユ
ニット１０で構成されている。なお、本実施の形態にお
いては、ＯＴＤＲ用の測定ユニットを用いた場合につい
て説明する。
の形態を、図１〜図３を用いて説明する。携帯型測定器
１は、単一の筐体が分割された共通ユニット２と測定ユ
ニット１０で構成されている。なお、本実施の形態にお
いては、ＯＴＤＲ用の測定ユニットを用いた場合につい
て説明する。
【０００９】共通ユニット２は、各種測定ユニット１０
と結合した場合、図２に示すように、いずれの測定ユニ
ット１０においても使用される共通手段３を有する。共
通手段３は、電源４と操作部５と表示部６と外部機器用
インターフェース部７と制御部８とで構成されている。
操作部５は測定の指示を入力するキーエンコーダであ
る。表示部６は測定機能に応じた制御部８からの測定結
果を表示するＬＣＤ等のフラットパネルである。外部機
器用インターフェース部７は、キーボード，マウス，プ
リンタ等の外部機器との間でデータの入出力を行う部分
である。制御部８はＣＰＵ８ａとワークメモリ８ｂとで
構成されており、操作部５，後述する測定手段１１，表
示部６，外部機器用インターフェース部７を制御する。
制御部８，操作部５，表示部６及び外部機器用インター
フェース部７は、それぞれバス接続されている。
と結合した場合、図２に示すように、いずれの測定ユニ
ット１０においても使用される共通手段３を有する。共
通手段３は、電源４と操作部５と表示部６と外部機器用
インターフェース部７と制御部８とで構成されている。
操作部５は測定の指示を入力するキーエンコーダであ
る。表示部６は測定機能に応じた制御部８からの測定結
果を表示するＬＣＤ等のフラットパネルである。外部機
器用インターフェース部７は、キーボード，マウス，プ
リンタ等の外部機器との間でデータの入出力を行う部分
である。制御部８はＣＰＵ８ａとワークメモリ８ｂとで
構成されており、操作部５，後述する測定手段１１，表
示部６，外部機器用インターフェース部７を制御する。
制御部８，操作部５，表示部６及び外部機器用インター
フェース部７は、それぞれバス接続されている。
【００１０】共通ユニット２は、図１及び図３に示すよ
うに、その外形が略直方体となっている。図２に示すよ
うに、表示部６が設けられている表示面６ａの縦横の寸
法は、厚さ方向の寸法よりも大きくなっている。図３
（ａ）に示すように、表示面６ａの裏面は、単一の筐体
の状態から分割された第一の断面６ｂとなっている。第
一の断面６ｂには第一のコネクタ９が露出されている。
第一のコネクタ９は制御部８，操作部５，測定手段１
１，表示部６及び外部機器用インターフェース部７にバ
ス接続されている。第一の断面６ｂの周縁部には、ゴム
製のパッキン６ｃが枠状に設けられている。
うに、その外形が略直方体となっている。図２に示すよ
うに、表示部６が設けられている表示面６ａの縦横の寸
法は、厚さ方向の寸法よりも大きくなっている。図３
（ａ）に示すように、表示面６ａの裏面は、単一の筐体
の状態から分割された第一の断面６ｂとなっている。第
一の断面６ｂには第一のコネクタ９が露出されている。
第一のコネクタ９は制御部８，操作部５，測定手段１
１，表示部６及び外部機器用インターフェース部７にバ
ス接続されている。第一の断面６ｂの周縁部には、ゴム
製のパッキン６ｃが枠状に設けられている。
【００１１】ＯＴＤＲ用の測定ユニット１０には、ＯＴ
ＤＲ用測定手段１１と、ＯＴＤＲ特有のプログラムが記
憶されている記憶部１２が設けられている。ＯＴＤＲ用
測定手段１１は、被測定光ファイバを接続する測定用端
子と、方向性結合器と、発光部と、受光部と、増幅部
と、Ａ／Ｄコンバータと、加算回路部と、タイミング発
生部とで構成されている。
ＤＲ用測定手段１１と、ＯＴＤＲ特有のプログラムが記
憶されている記憶部１２が設けられている。ＯＴＤＲ用
測定手段１１は、被測定光ファイバを接続する測定用端
子と、方向性結合器と、発光部と、受光部と、増幅部
と、Ａ／Ｄコンバータと、加算回路部と、タイミング発
生部とで構成されている。
【００１２】発光部は、方向性結合器を介して被測定光
ファイバに所定波長の光を供給する。受光部は、発光部
から供給された光によって被測定光ファイバからの反射
光、例えば、後方散乱光及びフレネル反射光を上記方向
性結合器を介して受光する。増幅部は、蒸気受光部から
の反射光を増幅する。Ａ／Ｄコンバータは、増幅部から
の出力信号（アナログ信号）をサンプリングする。加算
回路部は、Ａ／Ｄコンバータでサンプリングされた各デ
ータが供給される。タイミング発生部は、上記発光部，
Ａ／Ｄコンバータ及び加算回路部の個々のタイミングを
とる信号を出力する。
ファイバに所定波長の光を供給する。受光部は、発光部
から供給された光によって被測定光ファイバからの反射
光、例えば、後方散乱光及びフレネル反射光を上記方向
性結合器を介して受光する。増幅部は、蒸気受光部から
の反射光を増幅する。Ａ／Ｄコンバータは、増幅部から
の出力信号（アナログ信号）をサンプリングする。加算
回路部は、Ａ／Ｄコンバータでサンプリングされた各デ
ータが供給される。タイミング発生部は、上記発光部，
Ａ／Ｄコンバータ及び加算回路部の個々のタイミングを
とる信号を出力する。
【００１３】記憶部であるメモリ１２は、制御部８から
の指令の基づいてＯＴＤＲ用測定手段の測定機能に応じ
た測定をするための測定手段実行用プログラム１２ａ
と、測定により得られた測定データに基づいてＯＴＤＲ
特有の演算処理を制御部８に実行させるための制御部実
行用プログラム１２ｂと、測定データを格納保持させる
ＲＡＭ１２ｃと、で構成されている。
の指令の基づいてＯＴＤＲ用測定手段の測定機能に応じ
た測定をするための測定手段実行用プログラム１２ａ
と、測定により得られた測定データに基づいてＯＴＤＲ
特有の演算処理を制御部８に実行させるための制御部実
行用プログラム１２ｂと、測定データを格納保持させる
ＲＡＭ１２ｃと、で構成されている。
【００１４】ＯＴＤＲ用測定ユニット１０は、共通ユニ
ット２と同様、図１に示すように略直方体の外形を有し
ている。背面１３の縦横の寸法は、表示面の寸法と同じ
であり、厚さ方向の寸法よりも大きくなっている。図３
（ａ）に示すように、背面１３の裏側には、第二の断面
１３ａが形成されている。第二の断面１３ａはその輪郭
において第一の断面６ｂと同一である。第二の断面１３
ａには、第二のコネクタ１４が露出されている。第二の
コネクタ１４は、第一の断面６ｂと第二の断面１３ａと
が対面するときに第一のコネクタ９と対向する位置に設
けられている。第二のコネクタ１４はＯＴＤＲ用測定手
段１１にバス接続されている。第二の断面１３ａの周縁
部は、第一の断面の周縁部と同一の大きさ，同一形状で
あり、この周縁部に沿って、パッキン６ｃと嵌合する溝
部１３ｂが枠状に形成されている。
ット２と同様、図１に示すように略直方体の外形を有し
ている。背面１３の縦横の寸法は、表示面の寸法と同じ
であり、厚さ方向の寸法よりも大きくなっている。図３
（ａ）に示すように、背面１３の裏側には、第二の断面
１３ａが形成されている。第二の断面１３ａはその輪郭
において第一の断面６ｂと同一である。第二の断面１３
ａには、第二のコネクタ１４が露出されている。第二の
コネクタ１４は、第一の断面６ｂと第二の断面１３ａと
が対面するときに第一のコネクタ９と対向する位置に設
けられている。第二のコネクタ１４はＯＴＤＲ用測定手
段１１にバス接続されている。第二の断面１３ａの周縁
部は、第一の断面の周縁部と同一の大きさ，同一形状で
あり、この周縁部に沿って、パッキン６ｃと嵌合する溝
部１３ｂが枠状に形成されている。
【００１５】また、第一の断面６ｂ及び第二の断面１３
ａの四隅には、厚さ方向にネジ溝６ｄ，１３ｃが形成さ
れている。第一の断面６ｂのネジ溝は、第二の断面１３
ａと対面したときに、第二の断面１３ａのネジ溝１３ｃ
と連通するようになっており、ネジ１５によりネジ止め
され、共通ユニット２とＯＴＤＲ用測定ユニット１０が
固定されるようになっている。
ａの四隅には、厚さ方向にネジ溝６ｄ，１３ｃが形成さ
れている。第一の断面６ｂのネジ溝は、第二の断面１３
ａと対面したときに、第二の断面１３ａのネジ溝１３ｃ
と連通するようになっており、ネジ１５によりネジ止め
され、共通ユニット２とＯＴＤＲ用測定ユニット１０が
固定されるようになっている。
【００１６】次に、本実施の形態の作用について説明す
る。まず、共通ユニット２の第一の断面６ｂと測定ユニ
ット１０の第二の断面１３ａを対面させる。このとき、
第一のコネクタ９と第二のコネクタ１４は対向してい
る。そして、第二の断面１３ａの周縁部に形成されてい
る溝部１３ｂに、第一の断面６ａの周縁部に形成されて
いるパッキン６ｃを嵌合させるとともに、第一のコネク
タ９と第二のコネクタ１４とを連結させる。これによ
り、第一の断面６ｂと第二の断面１３ａは密着され、単
一の携帯型ＯＴＤＲとなる。
る。まず、共通ユニット２の第一の断面６ｂと測定ユニ
ット１０の第二の断面１３ａを対面させる。このとき、
第一のコネクタ９と第二のコネクタ１４は対向してい
る。そして、第二の断面１３ａの周縁部に形成されてい
る溝部１３ｂに、第一の断面６ａの周縁部に形成されて
いるパッキン６ｃを嵌合させるとともに、第一のコネク
タ９と第二のコネクタ１４とを連結させる。これによ
り、第一の断面６ｂと第二の断面１３ａは密着され、単
一の携帯型ＯＴＤＲとなる。
【００１７】測定時には、測定ユニット１０側の測定用
端子に被測定用光ファイバを接続し、共通ユニット２側
の外部機器用インターフェース部７にプリンタ，マウ
ス，キーボード等を接続して、共通ユニット１０側に設
けられている電源４をＯＮにする。操作部５からの入力
によりＣＰＵ８ａから測定指令が出力され、測定手段実
行用プログラム１２ａの手順にしたがってＯＴＤＲ用測
定手段１１が制御される。光ファイバの損失データが測
定されると、測定データはメモリ１２ｃに格納保持され
る。
端子に被測定用光ファイバを接続し、共通ユニット２側
の外部機器用インターフェース部７にプリンタ，マウ
ス，キーボード等を接続して、共通ユニット１０側に設
けられている電源４をＯＮにする。操作部５からの入力
によりＣＰＵ８ａから測定指令が出力され、測定手段実
行用プログラム１２ａの手順にしたがってＯＴＤＲ用測
定手段１１が制御される。光ファイバの損失データが測
定されると、測定データはメモリ１２ｃに格納保持され
る。
【００１８】格納保持された測定データは、制御部実行
用プログラム１２ｂにしたがって制御部８のワークメモ
リ８ｂ上で演算処理され、光ファイバ長，、光ファイバ
損失等の測定データが得られる。この測定データは、操
作部５の入力によりＣＰＵ８ａの指令を受けて、表示部
６や外部機器インターフェース部７に出力される。
用プログラム１２ｂにしたがって制御部８のワークメモ
リ８ｂ上で演算処理され、光ファイバ長，、光ファイバ
損失等の測定データが得られる。この測定データは、操
作部５の入力によりＣＰＵ８ａの指令を受けて、表示部
６や外部機器インターフェース部７に出力される。
【００１９】測定が終了すると、電源４をＯＦＦにし
て、被測定用光ファイバ，プリンタ，マウス，キーボー
ド等を外す。そして、ネジ１５を外してから共通ユニッ
ト２と測定ユニット１０を分割する。この後、光スペク
トラムアナライザを用いたい場合は、上述したＯＴＤＲ
用測定ユニット１０と同じ断面を有する光スペクトラム
アナライザ用測定ユニットを共通ユニット２に接合させ
る。また、電界強度測定器としたい場合は、電界強度測
定器用測定ユニットに接合させる。
て、被測定用光ファイバ，プリンタ，マウス，キーボー
ド等を外す。そして、ネジ１５を外してから共通ユニッ
ト２と測定ユニット１０を分割する。この後、光スペク
トラムアナライザを用いたい場合は、上述したＯＴＤＲ
用測定ユニット１０と同じ断面を有する光スペクトラム
アナライザ用測定ユニットを共通ユニット２に接合させ
る。また、電界強度測定器としたい場合は、電界強度測
定器用測定ユニットに接合させる。
【００２０】なお、第一の断面６ｂと第二の断面１３ａ
は、少なくともそれらの輪郭が同一で周縁部が整合すれ
ばよく、上述した実施の形態に示したような断面に限定
されることはない。
は、少なくともそれらの輪郭が同一で周縁部が整合すれ
ばよく、上述した実施の形態に示したような断面に限定
されることはない。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、測定手段，操作部，表
示部及びインターフェース部を制御するＣＰＵを共通ユ
ニットに設け、ＣＰＵが測定手段，操作部，表示部及び
インターフェース部を制御するためのプログラムを記憶
するメモリを測定ユニットに設けることにより、測定ユ
ニット側に測定機能に応じたプログラムを有することと
なり、そのプログラムを書き換えることなく、測定ユニ
ットを交換することで異なる機能の測定を可能になる。
示部及びインターフェース部を制御するＣＰＵを共通ユ
ニットに設け、ＣＰＵが測定手段，操作部，表示部及び
インターフェース部を制御するためのプログラムを記憶
するメモリを測定ユニットに設けることにより、測定ユ
ニット側に測定機能に応じたプログラムを有することと
なり、そのプログラムを書き換えることなく、測定ユニ
ットを交換することで異なる機能の測定を可能になる。
【００２２】また、第一の断面の周縁部と第二の断面と
の周縁部とを整合させて、第一のコネクタと第二のコネ
クタとを連結することにより、結合された筐体をコンパ
クトでかつ携帯性の向上を図ることができる。
の周縁部とを整合させて、第一のコネクタと第二のコネ
クタとを連結することにより、結合された筐体をコンパ
クトでかつ携帯性の向上を図ることができる。
【図１】本発明による携帯型測定器の概略斜視図であ
る。
る。
【図２】本発明による携帯型測定器のブロック構成図で
ある。
ある。
【図３】（ａ）本発明による携帯型測定器の共通ユニッ
トと測定ユニットの裏面図である。 （ｂ）本発明による携帯型測定器の概略断面図である。
トと測定ユニットの裏面図である。 （ｂ）本発明による携帯型測定器の概略断面図である。
【図４】従来の携帯型測定器の概略図である。
１…携帯型測定器、２…共通ユニット、３…共通手段、
５…操作部、６…表示部、６ｂ…第一の第一の断面、７
…外部機器インターフェース部、８…制御部、９…第一
のコネクタ、１０…測定ユニット、１１…測定手段、１
２…記憶部、１３ａ…第二の第二の断面、１４…第一の
コネクタ
５…操作部、６…表示部、６ｂ…第一の第一の断面、７
…外部機器インターフェース部、８…制御部、９…第一
のコネクタ、１０…測定ユニット、１１…測定手段、１
２…記憶部、１３ａ…第二の第二の断面、１４…第一の
コネクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮下 英二 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 (72)発明者 本田 豊 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 Ｆターム(参考） 2F076 BA01 BE04 BE05 BE06 BE09 BE10 BE17
Claims (1)
- 【請求項１】 測定の指示を入力するための操作部
（５）と、 それ自体固有の測定を行う測定手段（１１）と、 測定結果を表示する表示部（６）と、 外部機器との間でデータの入出力を行うインターフェー
ス部（７）と、 前記操作部，前記測定手段，前記表示部及び前記インタ
ーフェース部を制御するＣＰＵ（８）と、 該ＣＰＵが前記操作部，前記測定手段，前記表示部及び
前記インターフェース部を制御するためのプログラムを
記憶するメモリ（１２）と、 前記操作部，前記測定手段，前記表示部，前記インター
フェース部，前記メモリ及び前記ＣＰＵを収納する筐体
と、を備える携帯型測定器において、 前記筐体が、 共通ユニット（２）と測定ユニット（１０）とに分割可
能であって、 前記共通ユニットの分割されたところの第一の断面（６
ｂ）と、前記測定ユニットの分割されたところの第二の
断面（１３ａ）とはその輪郭において同じであり、 前記共通ユニットは、前記操作部，前記表示部，前記イ
ンターフェース部，前記ＣＰＵ，並びに前記ＣＰＵと前
記メモリ及び前記測定手段との間でデータ及び制御信号
を送受するための第一のコネクタ（９）を備えていると
ともに、前記第一のコネクタは前記第一の断面に露出さ
れており、 前記測定ユニットは、前記測定手段，前記メモリ及び前
記第一のコネクタに嵌合される第二のコネクタ（１４）
を備えているとともに、前記第二のコネクタは前記第二
の断面に露出されており、 また、前記第一の断面と前記第二の断面とを整合させて
前記共通ユニットと前記測定ユニットとを固定させると
ともに、前記第一のコネクタと前記第二のコネクタとの
嵌合を確保するための固定手段を備え、 前記メモリの内容に応じた前記固有の測定を行うことを
特徴とする携帯型測定器。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25424499A JP2001074515A (ja) | 1999-09-08 | 1999-09-08 | 携帯型測定器 |
| EP00956940A EP1152225A4 (en) | 1999-09-08 | 2000-09-06 | PORTABLE MEASURING INSTRUMENT |
| PCT/JP2000/006028 WO2001018495A1 (fr) | 1999-09-08 | 2000-09-06 | Instrument de mesure portable |
| US09/830,210 US6483320B1 (en) | 1999-09-08 | 2000-09-06 | Portable-type measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25424499A JP2001074515A (ja) | 1999-09-08 | 1999-09-08 | 携帯型測定器 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007035042A Division JP2007147650A (ja) | 2007-02-15 | 2007-02-15 | 携帯型測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001074515A true JP2001074515A (ja) | 2001-03-23 |
Family
ID=17262292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25424499A Pending JP2001074515A (ja) | 1999-09-08 | 1999-09-08 | 携帯型測定器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| EP (1) | EP1152225A4 (ja) |
| JP (1) | JP2001074515A (ja) |
| WO (1) | WO2001018495A1 (ja) |
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| JP2022034858A (ja) * | 2020-08-19 | 2022-03-04 | アンリツ株式会社 | 光測定装置 |
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| USD853872S1 (en) * | 2017-08-25 | 2019-07-16 | Grainsense Oy | Optical analyzer |
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| EP0079086B1 (en) | 1981-11-10 | 1987-07-01 | Sentron v.o.f. | Catheter sensor and memory unit |
| JPS63201527A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-19 | Anritsu Corp | 測定装置 |
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-
1999
- 1999-09-08 JP JP25424499A patent/JP2001074515A/ja active Pending
-
2000
- 2000-09-06 US US09/830,210 patent/US6483320B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-06 EP EP00956940A patent/EP1152225A4/en not_active Withdrawn
- 2000-09-06 WO PCT/JP2000/006028 patent/WO2001018495A1/ja not_active Application Discontinuation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2001018495A1 (fr) | 2001-03-15 |
| EP1152225A1 (en) | 2001-11-07 |
| EP1152225A4 (en) | 2003-06-11 |
| US6483320B1 (en) | 2002-11-19 |
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