JP2001051865A - Method for inspecting electronic controller - Google Patents
Method for inspecting electronic controllerInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子制御装置の検
査方法に関し、特に、自己検査を行う自己検査手段を有
する電子制御装置の検査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for testing an electronic control device, and more particularly, to a method for testing an electronic control device having self-testing means for performing a self-test.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、この種の検査方法としては、自己
検査プログラムを有する電子制御装置と検査装置とを１
対１で接続して、検査装置が電子制御装置の自己検査プ
ログラムを実行させ、自己検査プログラムの検査結果に
応じて電子制御装置の良／不良を判定する検査方法があ
る。2. Description of the Related Art Conventionally, as an inspection method of this kind, an electronic control device having a self-inspection program and an inspection device are one.
There is an inspection method in which the electronic control unit executes a self-inspection program of the electronic control unit by making a one-to-one connection and determines whether the electronic control unit is good or defective according to the inspection result of the self-inspection program.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年、電子制
御装置のメモリの大容量化や複雑な機能を有するデバイ
スの搭載により、上述した電子制御装置の検査方法にお
いては、一台の電子制御装置の検査に多大な検査を要す
るといった問題がある。However, recently, due to the increase in the memory capacity of the electronic control unit and the mounting of devices having complicated functions, the above-described electronic control unit inspection method requires only one electronic control unit. There is a problem that a large amount of inspection is required for inspection.
【０００４】これに対して、１台の検査装置に複数の電
子制御装置を接続し順次検査していく検査方法もある
が、検査装置と複数の電子制御装置との間における作業
者による配線の取り付け／取り外し等の工数を減らすこ
とはできても、検査時間そのものを減らすことができな
かった。On the other hand, there is an inspection method in which a plurality of electronic control devices are connected to one inspection device and the inspection is sequentially performed. However, the wiring between the inspection device and the plurality of electronic control devices by an operator is required. Although the man-hours for attachment / detachment could be reduced, the inspection time itself could not be reduced.
【０００５】そこで、本発明は、上記点に鑑み、検査時
間の短縮するようにした電子制御装置の検査方法を提供
することを目的とする。In view of the above, an object of the present invention is to provide an inspection method for an electronic control unit that reduces the inspection time.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、請求項１に記載の発明では、自己検査を
行う自己検査手段をそれぞれ有する複数の電子制御装置
（２１、２２…２ｎ）と、複数の電子制御装置のそれぞ
れに自己検査手段を実行させてその検査結果に応じて複
数の電子制御装置のそれぞれの良／不良の判定を行う検
査装置（１０）とを用意し、検査装置に対して複数の電
子制御装置のそれぞれに通信線（３）によって接続し
て、検査装置によって複数の電子制御装置のそれぞれに
自己検査手段をほぼ同時に実行させる。According to the present invention, in order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a plurality of electronic control units (21, 22 ... 2n), and an inspection device (10) for causing each of the plurality of electronic control devices to execute the self-inspection means and determining whether each of the plurality of electronic control devices is good or defective according to the inspection result, The inspection device is connected to each of the plurality of electronic control devices via the communication line (3), and the inspection device causes each of the plurality of electronic control devices to execute the self-inspection means substantially simultaneously.
【０００７】これにより、複数の電子制御装置における
自己検査手段は、ほぼ同じ時間内に終了するため、電子
制御装置の接続台数を増やすほど１台あたりの平均検査
時間を短縮することができ、電子制御装置の検査時間を
短縮することができる。Accordingly, the self-inspection means in the plurality of electronic control units are completed within substantially the same time. Therefore, as the number of connected electronic control units increases, the average inspection time per unit can be reduced. The inspection time of the control device can be reduced.
【０００８】因みに、上記各手段の括弧内の符号は、後
述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す
一例である。[0008] Incidentally, the reference numerals in parentheses of each of the above means are examples showing the correspondence relation with specific means described in the embodiment described later.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態である複
数の電子制御装置の検査方法につき図１により説明す
る。図１は、検査装置１０と電子制御装置２１、２２…
２ｎとの電気的接続を示す電気回路構成を示すブロック
図である。なお、図１中のｎは電子制御装置の接続台数
を示す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for testing a plurality of electronic control units according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. FIG. 1 shows an inspection device 10 and electronic control devices 21, 22.
It is a block diagram which shows the electric circuit structure which shows the electrical connection with 2n. Note that n in FIG. 1 indicates the number of connected electronic control devices.
【００１０】図１に示すように、検査装置１０は、電子
制御装置２１、２２…２ｎとの間において、通信線３、
電源線４１、４２…４ｎ、出力信号線５１、５２…５ｎ
及び入力信号線６１、６２…６ｎを有し、通信線３は、
電子制御装置２１、２２…２ｎに、それぞれに、バス接
続されている。検査装置１０は、図２に示すフローチャ
ートに従って、電子制御装置２１、２２…２ｎの検査処
理を行う。As shown in FIG. 1, an inspection device 10 includes communication lines 3 and 22 between electronic control devices 21, 22.
Power lines 41, 42... 4n, output signal lines 51, 52.
, And input signal lines 61, 62... 6n, and the communication line 3
Each of the electronic control units 21, 22... 2 n is connected to a bus. The inspection device 10 performs an inspection process of the electronic control devices 21, 22,... 2n according to the flowchart shown in FIG.
【００１１】ここで、検査装置１０は、電子制御装置２
１、２２…２ｎの接続台数データを格納するレジスタ
（以下、レジスタＮという）と、電子制御装置のＩＤコ
ードデータを格納するレジスタ（以下、レジスタＩＤと
いう）と、タイマ（以下、タイマＴという）とを内蔵し
ている。Here, the inspection device 10 includes the electronic control device 2
A register (hereinafter, referred to as a register N) for storing the number of connected units of 1, 22,... 2n, a register (hereinafter, referred to as a register ID) for storing ID code data of the electronic control unit, and a timer (hereinafter, referred to as a timer T). And built-in.
【００１２】なお、電源線４１、４２…４ｎは、検査装
置１０から電子制御装置２１、２２…２ｎに電力を供給
する為のもので、出力信号線５１、５２…５ｎは、電子
制御装置２１、２２…２ｎから検査装置１０に出力信号
を出力する為のもので、入力信号線５１、５２…５ｎ
は、検査装置１０から電子制御装置２１、２２…２ｎに
入力信号を入力する為のものである。The power supply lines 41, 42,... 4n are for supplying power from the inspection apparatus 10 to the electronic control units 21, 22,. , 22 ... 2n for outputting output signals to the inspection apparatus 10, and the input signal lines 51, 52 ... 5n
Are for inputting input signals from the inspection device 10 to the electronic control devices 21, 22... 2n.
【００１３】電子制御装置２１、２２…２ｎは、それぞ
れ、検査装置１０からの通信線３、電源線４１、４２…
４ｎ、出力信号線５１、５２…５ｎ及び入力信号線６
１、６２…６ｎに対応する接続端子を有する。電子制御
装置２１、２２…２ｎは、それぞれ、内蔵する電子回路
（メモリ及びデバイス等）の検査を行う自己検査プログ
ラムを有している。The electronic control units 21, 22... 2n respectively include a communication line 3 and a power supply line 41, 42.
4n, output signal lines 51, 52... 5n and input signal lines 6
1, 62... 6n. Each of the electronic control units 21, 22,... 2n has a self-inspection program for inspecting a built-in electronic circuit (such as a memory and a device).
【００１４】以下、検査装置１０における電子制御装置
２１、２２…２ｎの検査処理を図２を参照して説明す
る。The inspection process of the electronic control units 21, 22,... 2n in the inspection apparatus 10 will be described below with reference to FIG.
【００１５】先ず、レジスタＮにデータ「１」（ｎ＝
１）を格納し、接続台数「１」に対応する電子制御装置
のＩＤコードデータ「ｎ1」をメモリから呼び出しレジ
スタＩＤに格納する（ステップ１０１）。First, data "1" (n =
1) is stored, and the ID code data “n 1 ” of the electronic control unit corresponding to the number of connected units “ 1 ” is stored from the memory into the calling register ID (step 101).
【００１６】次に、レジスタＩＤに格納されたＩＤコー
ドデータ「ｎ1」を通信線３を通して電子制御装置２１
に付与する（ステップ１０２）。Next, the ID code data “n 1 ” stored in the register ID is transmitted to the electronic control unit 21 through the communication line 3.
(Step 102).
【００１７】次に、レジスタＮに格納された接続台数デ
ータ「ｎ」をインクリメント（ｎ＝ｎ＋１）し、インク
リメントした接続台数データ「ｎ＋１」に対応するＩＤ
コードデータ「ｎn+1」をレジスタＩＤに格納する（ス
テップ１０３）。Next, the connection number data "n" stored in the register N is incremented (n = n + 1), and the ID corresponding to the incremented connection number data "n + 1"
The code data "nn + 1 " is stored in the register ID (step 103).
【００１８】例えば、レジスタＮ内に接続台数データ
「２」を格納したとき、接続台数データ「２」に対応す
るＩＤコードデータ「ｎ2」をレジスタＩＤに格納す
る。For example, when the connected number data "2" is stored in the register N, the ID code data "n 2 " corresponding to the connected number data "2" is stored in the register ID.
【００１９】次に、レジスタＮに格納された接続台数デ
ータ「ｎ」と実際の接続台数とを比較し（ステップ１０
４）、接続台数データ「ｎ」の方が実際の接続台数より
小さいとき、ＮＯとしてステップ１０２に進み、ステッ
プ１０２〜１０４の処理を行う。Next, the number of connected units data "n" stored in the register N is compared with the actual number of connected units (step 10).
4) If the number-of-connected-data "n" is smaller than the actual number of connected devices, the process proceeds to step 102 as NO, and the processes of steps 102 to 104 are performed.
【００２０】これにより、電子制御装置２１、２２…２
ｎの全てに検査装置１からＩＤコードデータを付与され
る。なお、ＩＤコードデータｎ1、ｎ2…ｎn及び実際の接
続台数のデータは、メモリに記憶されている。Thus, the electronic control units 21, 22,...
The ID code data is assigned from the inspection device 1 to all of n. The ID code data n 1, n 2, ... Nn and the data of the actual number of connected units are stored in the memory.
【００２１】ついで、ステップ１０４で、接続台数デー
タ「ｎ」の方が実際の接続台数より大きいとき、ＹＥＳ
としてステップ１０５に進む。If it is determined in step 104 that the number-of-connected-data "n" is larger than the actual number of connected devices, YES
To step 105.
【００２２】次に、ステップ１０５で、電子制御装置２
１、２２…２ｎの全てに検査コマンドを発行する。これ
により、電子制御装置２１、２２…２ｎは、それぞれ、
同時に、検査装置１０から通信線３を通して検査コマン
ドを受け、検査コマンドを解析し検査を実行する。Next, at step 105, the electronic control unit 2
Inspection commands are issued to all of 1, 22,... 2n. Thus, the electronic control units 21, 22,...
At the same time, it receives an inspection command from the inspection device 10 through the communication line 3, analyzes the inspection command, and executes the inspection.
【００２３】ここで、電子制御装置２１、２２…２ｎ
は、検査として、自己検査プログラムを実行し、自己検
査プログラム実行中において、メモリの作動検査、信号
出力用デバイス及び信号入力用デバイスの作動検査等を
行う。Here, the electronic control units 21, 22... 2n
Executes a self-test program as a test, and performs a memory operation test, a signal output device, and a signal input device operation test while the self-test program is being executed.
【００２４】例えば、信号出力用デバイスの作動検査と
して、電子制御装置２１、２２…２ｎがそれぞれ自身の
信号出力用デバイスを通して検査出力信号を出力する。For example, as an operation test of the signal output device, the electronic control units 21, 22,... 2n output test output signals through their own signal output devices.
【００２５】ここで、検査装置１０によって出力信号線
５１、５２…５ｎを通して電子制御装置２１、２２…２
ｎから検査出力信号を受けたか否かに基づいて、電子制
御装置２１、２２…２ｎの信号出力用デバイスの作動検
査が行われる。Here, the electronic control units 21, 22,... 2 through the output signal lines 51, 52,.
The operation of the signal output devices of the electronic control units 21, 22... 2n is inspected based on whether an inspection output signal has been received from the electronic control unit 21, 22.
【００２６】また、検査装置１０が入力信号線６１、６
２…６ｎを通して検査入力信号を電子制御装置２１、２
２…２ｎのそれぞれに出力しており、電子制御装置２
１、２２…２ｎがそれぞれ自身の信号入力用デバイスを
通して検査入力信号を受けたか否かに応じて信号入力用
デバイスの作動検査を行う。In addition, the inspection apparatus 10 has the input signal lines 61 and 6
The test input signal is passed through the electronic control units 21 and 2 through 2.
2... 2n.
Each of 1, 2,..., 2n performs an operation test on the signal input device according to whether or not it has received a test input signal through its own signal input device.
【００２７】ここで、電子制御装置２１、２２…２ｎ
は、それぞれ、メモリの作動検査及び信号入力用デバイ
スの作動検査の双方の検査結果（以下、単に、検査結果
という）とともにＩＤコードデータを通信線３を通して
出力する。Here, the electronic control units 21, 22... 2n
Output ID code data through the communication line 3 together with inspection results (hereinafter, simply referred to as inspection results) of both an operation inspection of the memory and an operation inspection of the signal input device.
【００２８】因みに、電子制御装置２１、２２…２ｎの
検査としては、自己検査プログラムによる検査以外に、
検査装置１０によって電源線４１、４２…４ｎに流れる
消費電流の測定等（電力測定）が行われるものの、電子
制御装置２１、２２…２ｎの検査時間としては、自己検
査プログラムによる検査時間が大部分を占める。By the way, as the inspection of the electronic control units 21, 22... 2n, in addition to the inspection by the self-inspection program,
4n are measured by the inspection device 10 (power measurement), but the inspection time of the electronic control devices 21, 22,... Occupy.
【００２９】次に、タイマＴをリセットし（ステップ１
０６）、電子制御装置２１、２２…２ｎからの検査結果
待ち状態になる（ステップ１０７）。Next, the timer T is reset (step 1).
06), and waits for an inspection result from the electronic control unit 21, 22... 2n (step 107).
【００３０】次に、電子制御装置２１、２２…２ｎから
の検査結果及びＩＤコードデータを通信線３を通して受
けたか否かを判定し（ステップ１０８）、電子制御装置
２１、２２…２ｎからの検査結果を受けたのであれば、
ＹＥＳとしてステップ１０９に進む。Next, it is determined whether or not inspection results and ID code data from the electronic control units 21, 22... 2n have been received through the communication line 3 (step 108). If you receive the result,
The process proceeds to step 109 as YES.
【００３１】なお、通信線３を用いた通信プロトコルと
しては、電子制御装置２１、２２…２ｎから検査装置１
０への検査結果の送信の競合を避けるようにしたものが
採用されている。The communication protocol using the communication line 3 includes the electronic control units 21, 22.
A configuration is adopted in which contention of transmission of the test result to 0 is avoided.
【００３２】ついで、ステップ１０９で、電子制御装置
２１、２２…２ｎの消費電力の測定、信号出力用デバイ
スの作動検査及び電子制御装置２１、２２…２ｎからの
検査結果に基づいて、電子制御装置２１、２２…２ｎが
「良」であるか否かを判定する。Then, in step 109, the power consumption of the electronic control units 21, 22,... 2n is measured, the operation of the signal output device is checked, and the electronic control units 21, 22,. It is determined whether 21, 22,... 2n is “good”.
【００３３】ここで、電子制御装置２１、２２…２ｎが
「良」であれば、ＹＥＳとして電子制御装置２１、２２
…２ｎの検査処理を終了する。If the electronic control units 21, 22... 2n are "good", the electronic control units 21, 22.
.. End the 2n inspection processing.
【００３４】また、ステップ１０８で、電子制御装置２
１、２２…２ｎからの検査結果及びＩＤコードデータを
受けてないのであれば、ステップ１１０に進み、タイマ
Ｔが予め設定された設定時間を越えた（タイムアウト）
か否かを判定する。In step 108, the electronic control unit 2
If the inspection result and ID code data from 1, 22,... 2n have not been received, the process proceeds to step 110, where the timer T exceeds a preset time (timeout).
It is determined whether or not.
【００３５】ここで、タイマＴが予め設定された設定時
間を越えたのであれば、該当する電子制御装置が「不
良」であるとして、ＹＥＳと判定しステップ１１１に進
み、ステップ１１１で、該当する電子制御装置のＩＤコ
ードデータとその不良内容をプリンタによって出力す
る。Here, if the timer T has exceeded the preset time, it is determined that the corresponding electronic control unit is "defective", YES is determined, and the routine proceeds to step 111. The ID code data of the electronic control unit and the contents of the defect are output by the printer.
【００３６】以上により、自己検査プログラムの実行時
間は、電子制御装置２１、２２…２ｎの検査時間の大部
分を占め、電子制御装置２１、２２…２ｎ自身がそれぞ
れ自己検査プログラムを同時に実行する。このため、電
子制御装置２１、２２…２ｎの接続台数が増加しても、
検査に要する時間の増加はほとんど無く、電子制御装置
２１、２２…２ｎの検査は、ほぼ同じ時間内に終了す
る。As described above, the execution time of the self-inspection program occupies most of the inspection time of the electronic control units 21, 22,... 2n, and the electronic control units 21, 22,. Therefore, even if the number of connected electronic control units 21, 22,...
There is almost no increase in the time required for the inspection, and the inspection of the electronic control units 21, 22... 2n is completed within substantially the same time.
【００３７】従って、電子制御装置の検査１回に要する
時間は、従来のように検査装置と電子制御装置とを１対
１に接続した場合とあまり変わりが無いが、電子制御装
置２１、２２…２ｎの検査は、ほぼ同じ時間内に終了す
るため、電子制御装置２１、２２…２ｎの接続台数を増
やすほど１台あたりの平均検査時間を短縮し得る。この
ことにより、電子制御装置２１、２２…２ｎの検査時間
を短縮することができる。Therefore, the time required for one test of the electronic control device is not much different from the conventional case where the test device and the electronic control device are connected one-to-one, but the electronic control devices 21, 22,. Since the inspection of 2n is completed within substantially the same time, the average inspection time per one can be reduced as the number of connected electronic control devices 21, 22... 2n is increased. As a result, the inspection time of the electronic control units 21, 22... 2n can be reduced.
【００３８】また、検査装置１０に対して電子制御装置
２１、２２…２ｎをそれぞれバス接続しているので、電
子制御装置２１、２２…２ｎを増やしても、検査装置１
０に対して電子制御装置２１、２２…２ｎを接続する為
の配線の増加を抑えることができる。Since the electronic control devices 21, 22... 2n are connected to the inspection device 10 by buses, respectively, even if the electronic control devices 21, 22,.
2n can be suppressed from increasing the number of wirings for connecting the electronic control units 21, 22,.
【００３９】なお、上記実施形態では、検査装置１０に
対して電子制御装置２１、２２…２ｎをバス接続した例
につき説明したが、これに限らず、検査装置１０に対し
て電子制御装置２１、２２…２ｎを星形接続するように
してもよい。In the above embodiment, an example was described in which the electronic control devices 21, 22... 2n were connected to the inspection device 10 by bus, but the present invention is not limited to this. 22... 2n may be star-connected.
【図１】本発明の実施形態を示す電気回路構成を示すブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an electric circuit configuration according to an embodiment of the present invention.
【図２】図１に示す検査装置の作動を示すフローチャー
トである。FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the inspection device shown in FIG.
１０…検査装置、２１、２２…２ｎ…電子制御装置。３
…通信線。10: Inspection device, 21, 22, 2n: Electronic control device. Three
... communication line.
Claims (1)
有する複数の電子制御装置（２１、２２…２ｎ）と、 前記複数の電子制御装置のそれぞれに前記自己検査手段
を実行させてその検査結果に応じて前記複数の電子制御
装置のそれぞれの良／不良の判定を行う検査装置（１
０）とを用意し、 前記検査装置に対して前記複数の電子制御装置のそれぞ
れに通信線（３）により接続して、前記検査装置によっ
て前記複数の電子制御装置のそれぞれに前記自己検査手
段をほぼ同時に実行させることを特徴とする電子制御装
置の検査方法。1. A plurality of electronic control units (21, 22,..., 2n) each having a self-inspection unit for performing a self-inspection, and causing the plurality of electronic control units to execute the self-inspection unit. Inspection apparatus (1) for determining whether each of the plurality of electronic control units is good or bad according to the
0), and the inspection device is connected to each of the plurality of electronic control devices by a communication line (3), and the self-inspection means is connected to each of the plurality of electronic control devices by the inspection device. An inspection method for an electronic control device, wherein the inspection method is performed almost simultaneously.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11222685A JP2001051865A (en) | 1999-08-05 | 1999-08-05 | Method for inspecting electronic controller |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11222685A JP2001051865A (en) | 1999-08-05 | 1999-08-05 | Method for inspecting electronic controller |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001051865A true JP2001051865A (en) | 2001-02-23 |
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ID=16786318
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|---|---|---|---|
| JP11222685A Pending JP2001051865A (en) | 1999-08-05 | 1999-08-05 | Method for inspecting electronic controller |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2001051865A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2010176602A (en) * | 2009-02-02 | 2010-08-12 | Nec Corp | Apparatus, system, method and program for duplication processing |
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-
1999
- 1999-08-05 JP JP11222685A patent/JP2001051865A/en active Pending
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080826 |