JP2001034902A - 磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法 - Google Patents
磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法Info
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- JP2001034902A JP2001034902A JP11203244A JP20324499A JP2001034902A JP 2001034902 A JP2001034902 A JP 2001034902A JP 11203244 A JP11203244 A JP 11203244A JP 20324499 A JP20324499 A JP 20324499A JP 2001034902 A JP2001034902 A JP 2001034902A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 新たな機構を追加することなく、トラックパ
ターンを有する磁気ディスクのエラー検査における信頼
性を向上させる。 【解決手段】 同心円状のトラックパターンが設けられ
たPERMディスクのエラー検査を行うサーティファイ
アにおいて、再生ヘッド2aのトラック幅TwhをPER
Mディスクのトラックピッチp1 とほぼ等しくする。エ
ラー検査を行うときに、再生ヘッド2aによりデータト
ラックDT上の検査用信号を読み出すと、PERMディ
スク上のトラックの中心とPERMディスクの回転中心
との間に偏心が生じていることにより、再生ヘッド2a
がデータトラックDT上を横断する。再生ヘッド2aの
トラック幅Twhのうち、データトラックDTから外れた
幅の分だけ隣接するデータトラックDT´に重なるよう
にし、再生ヘッド2aの再生に寄与する実効的なトラッ
ク幅を常にほぼ一定の大きさに維持する。
ターンを有する磁気ディスクのエラー検査における信頼
性を向上させる。 【解決手段】 同心円状のトラックパターンが設けられ
たPERMディスクのエラー検査を行うサーティファイ
アにおいて、再生ヘッド2aのトラック幅TwhをPER
Mディスクのトラックピッチp1 とほぼ等しくする。エ
ラー検査を行うときに、再生ヘッド2aによりデータト
ラックDT上の検査用信号を読み出すと、PERMディ
スク上のトラックの中心とPERMディスクの回転中心
との間に偏心が生じていることにより、再生ヘッド2a
がデータトラックDT上を横断する。再生ヘッド2aの
トラック幅Twhのうち、データトラックDTから外れた
幅の分だけ隣接するデータトラックDT´に重なるよう
にし、再生ヘッド2aの再生に寄与する実効的なトラッ
ク幅を常にほぼ一定の大きさに維持する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、トラックパター
ンを有する磁気ディスクのエラー検査を行うサーティフ
ァイアに適用することができる、磁気ディスクの検査装
置および磁気ディスクの検査方法に関する。
ンを有する磁気ディスクのエラー検査を行うサーティフ
ァイアに適用することができる、磁気ディスクの検査装
置および磁気ディスクの検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気ディスクの製造ラインにおけ
る最終の出荷検査の方法として、あらかじめ磁気ディス
クドライブの仕様によって決められた、磁気ディスク上
の半径領域に、磁気ヘッドを用いてデータを書き込み、
その再生エラーを検出する方法が用いられている。この
ようなエラー検査を行う検査装置は、一般にサーティフ
ァイアと呼ばれる。なお、このサーティファイアには、
突起検査装置(グライドテスター)などと一体化された
ものもある。
る最終の出荷検査の方法として、あらかじめ磁気ディス
クドライブの仕様によって決められた、磁気ディスク上
の半径領域に、磁気ヘッドを用いてデータを書き込み、
その再生エラーを検出する方法が用いられている。この
ようなエラー検査を行う検査装置は、一般にサーティフ
ァイアと呼ばれる。なお、このサーティファイアには、
突起検査装置(グライドテスター)などと一体化された
ものもある。
【0003】また、従来のアルミニウム(Al)やガラ
スの基板を用いた磁気ディスクにおいても、磁気ヘッド
を検査装置の位置決め精度で所定の位置に保持させて、
その位置に対応したトラックに信号を書き込んだ後、読
み出し、エラー検査を行っている。
スの基板を用いた磁気ディスクにおいても、磁気ヘッド
を検査装置の位置決め精度で所定の位置に保持させて、
その位置に対応したトラックに信号を書き込んだ後、読
み出し、エラー検査を行っている。
【0004】一般的に、磁気ディスクにおける記録面密
度の向上に関わる要素は、線記録密度の要素とトラック
密度の要素とに分けられる。そして、記録線密度を高め
るために、浮上量を低減させたり、高感度GMR(Giant
Magneto Resistive) ヘッドが開発されてきた。
度の向上に関わる要素は、線記録密度の要素とトラック
密度の要素とに分けられる。そして、記録線密度を高め
るために、浮上量を低減させたり、高感度GMR(Giant
Magneto Resistive) ヘッドが開発されてきた。
【0005】また、トラック密度を高めるために、デー
タトラック間のガードバンドを溝にし、ガードバンドノ
イズの低減を図る方法として、ディスクリートトラック
メディアが提案されている。その一例が、プラスチック
の成形技術によって製造されるPERM(Pre-Embossed
Ragid Magnetic) ディスクである。このPERMディス
クの一例を図5および図6に示す。
タトラック間のガードバンドを溝にし、ガードバンドノ
イズの低減を図る方法として、ディスクリートトラック
メディアが提案されている。その一例が、プラスチック
の成形技術によって製造されるPERM(Pre-Embossed
Ragid Magnetic) ディスクである。このPERMディス
クの一例を図5および図6に示す。
【0006】図5Aに示すように、PERMディスク1
01においては、このPERMディスク101をディス
クドライブのスピンドルモータ(いずれも図示せず)に
クランプする際に用いる開口(クランプエリア)102
が設けられている。
01においては、このPERMディスク101をディス
クドライブのスピンドルモータ(いずれも図示せず)に
クランプする際に用いる開口(クランプエリア)102
が設けられている。
【0007】また、このPERMディスク101は、ク
ランプエリア102が設けられたプラスチックなどから
なる基板の両表面に、データを記録するためのデータゾ
ーン103と、サーボゾーン104とがそれぞれ放射状
に形成されている。サーボゾーン104はサーボ機構を
制御するための領域であり、1周に等角度間隔に設けら
れている。このサーボゾーン104の拡大平面図を図5
Bに示す。図5Bに示すように、サーボゾーン104内
には、所定の信号に対応した長方形のパターン105が
形成されている。
ランプエリア102が設けられたプラスチックなどから
なる基板の両表面に、データを記録するためのデータゾ
ーン103と、サーボゾーン104とがそれぞれ放射状
に形成されている。サーボゾーン104はサーボ機構を
制御するための領域であり、1周に等角度間隔に設けら
れている。このサーボゾーン104の拡大平面図を図5
Bに示す。図5Bに示すように、サーボゾーン104内
には、所定の信号に対応した長方形のパターン105が
形成されている。
【0008】また、図6に示すように、PERMディス
ク101のデータゾーン103には、同心円状でデータ
などを記録するためのデータトラックDTが凸部になる
ように形成され、隣接するデータトラックDTを区分す
るためのガードバンドGBが凹部になるように形成され
ている。このデータトラックDTおよびガードバンドG
Bは、成形時に表面に凹凸部が形成されたプラスチック
基板106上に、スパッタリング法などにより磁性膜1
07が形成されたものである。
ク101のデータゾーン103には、同心円状でデータ
などを記録するためのデータトラックDTが凸部になる
ように形成され、隣接するデータトラックDTを区分す
るためのガードバンドGBが凹部になるように形成され
ている。このデータトラックDTおよびガードバンドG
Bは、成形時に表面に凹凸部が形成されたプラスチック
基板106上に、スパッタリング法などにより磁性膜1
07が形成されたものである。
【0009】また、ディスクドライブに設けられた磁気
ヘッドの記録ヘッド(いずれも図示せず)を用いて、デ
ータゾーン103の部分を所定方向に磁化することによ
り、データを書き込み可能に構成されている。また、デ
ータの読み出しにおいても、磁気ヘッドの再生ヘッド
(図示せず)を用いて、所定方向に磁化されたデータゾ
ーン103の部分からデータを読み出し可能に構成され
ている。
ヘッドの記録ヘッド(いずれも図示せず)を用いて、デ
ータゾーン103の部分を所定方向に磁化することによ
り、データを書き込み可能に構成されている。また、デ
ータの読み出しにおいても、磁気ヘッドの再生ヘッド
(図示せず)を用いて、所定方向に磁化されたデータゾ
ーン103の部分からデータを読み出し可能に構成され
ている。
【0010】また、PERMディスク101を有する磁
気ディスクドライブにおいては、PERMディスクにお
けるトラック幅Twd、ガードバンド幅Twg,再生ヘッド
のトラック幅Twhおよび記録ヘッドのトラック幅Twrの
間に、 Twh<Twr≦Twd+Twg(=p)・・・(1) の関係が成立するように設計される。なお、pはPER
Mディスク101のトラックピッチを表す量である。
気ディスクドライブにおいては、PERMディスクにお
けるトラック幅Twd、ガードバンド幅Twg,再生ヘッド
のトラック幅Twhおよび記録ヘッドのトラック幅Twrの
間に、 Twh<Twr≦Twd+Twg(=p)・・・(1) の関係が成立するように設計される。なお、pはPER
Mディスク101のトラックピッチを表す量である。
【0011】かかるPERMディスク101などのディ
スクリートトラックメディアを生産する場合において
も、上述したエラー検査を行ってから出荷する必要があ
る。ここで、このPERMディスク101のエラー検査
について、図面を参照しつつ以下に具体的に説明する。
スクリートトラックメディアを生産する場合において
も、上述したエラー検査を行ってから出荷する必要があ
る。ここで、このPERMディスク101のエラー検査
について、図面を参照しつつ以下に具体的に説明する。
【0012】すなわち、通常、エラー検査においてはミ
ッシング(Missing) エラー、エキストラ(Extra) エラ
ー、ポジティブモジュレーション(Positive Modulatio
n、PMOD) エラー、ネガティブモジュレーション(Ne
gative Modulation、NMOD)エラー、およびサーマル
アスペリティ(Thermal Asperity、TA)エラーなどの
エラー検査を行う。
ッシング(Missing) エラー、エキストラ(Extra) エラ
ー、ポジティブモジュレーション(Positive Modulatio
n、PMOD) エラー、ネガティブモジュレーション(Ne
gative Modulation、NMOD)エラー、およびサーマル
アスペリティ(Thermal Asperity、TA)エラーなどの
エラー検査を行う。
【0013】これらのエラーのうち、PERMディスク
などのハードディスクの品質においてもっとも問題とな
るのはミッシングエラーとエキストラエラーである。ミ
ッシングエラーは、書き込んだ信号を読み出したとき
に、一部のビットについての読出信号についての波高値
が所定値以下に低下し、あるいは消失することによりそ
のビットがなくなってしまうものである。エキストラエ
ラーは、所定のトラックに書き込まれたテストデータを
消去した後に、そのトラックからデータを読み出したと
き、存在しないはずのビットが湧きだした状態である。
などのハードディスクの品質においてもっとも問題とな
るのはミッシングエラーとエキストラエラーである。ミ
ッシングエラーは、書き込んだ信号を読み出したとき
に、一部のビットについての読出信号についての波高値
が所定値以下に低下し、あるいは消失することによりそ
のビットがなくなってしまうものである。エキストラエ
ラーは、所定のトラックに書き込まれたテストデータを
消去した後に、そのトラックからデータを読み出したと
き、存在しないはずのビットが湧きだした状態である。
【0014】ここで、ミッシングエラー検査において
は、PERMディスク101に書き込むエラー検査用の
信号を単純な繰り返し信号とし、この単純な繰り返し信
号を、磁気ヘッドの記録ヘッドを用いてPERMディス
ク101のデータトラックDTに書き込む。その後、磁
気ヘッドの再生ヘッドを用いて、データトラックDTか
ら信号を読み出す。エラーが存在していない場合、再生
信号は記録信号と同様に図7Aに示すように、一定振幅
の単純な繰り返し信号になる。この信号の読み出しの際
に、信号に振幅の低下した部分が存在するか否かを検査
することによって、エラーが存在するか否かを検査す
る。このミッシングエラー検査においては、データトラ
ックDTの1周の平均振幅電圧(TAA、Track Averag
e Amplitude)の65%程度にスライスレベルを設定す
る。そして、図7Bに示すように、再生ヘッドにより読
み出された信号の振幅電圧Vtmが、このスライスレベル
より低い電圧になった部分を信号の振幅低下とし、エラ
ーとして検出する。
は、PERMディスク101に書き込むエラー検査用の
信号を単純な繰り返し信号とし、この単純な繰り返し信
号を、磁気ヘッドの記録ヘッドを用いてPERMディス
ク101のデータトラックDTに書き込む。その後、磁
気ヘッドの再生ヘッドを用いて、データトラックDTか
ら信号を読み出す。エラーが存在していない場合、再生
信号は記録信号と同様に図7Aに示すように、一定振幅
の単純な繰り返し信号になる。この信号の読み出しの際
に、信号に振幅の低下した部分が存在するか否かを検査
することによって、エラーが存在するか否かを検査す
る。このミッシングエラー検査においては、データトラ
ックDTの1周の平均振幅電圧(TAA、Track Averag
e Amplitude)の65%程度にスライスレベルを設定す
る。そして、図7Bに示すように、再生ヘッドにより読
み出された信号の振幅電圧Vtmが、このスライスレベル
より低い電圧になった部分を信号の振幅低下とし、エラ
ーとして検出する。
【0015】一方、エキストラエラー検査においては、
まず、記録ヘッドを用いて、PERMディスク101の
データトラックDTに書き込んだ信号を消去する。その
後、再生ヘッドを用いてトラック上の信号を読み出す。
この信号の読み出しの際に、異常信号が存在するか否か
を検査することによって、エキストラエラーが存在する
か否かを検査する。ここで、このエキストラエラー検査
においては、上述のTAAの30%を超える値にスライ
スレベルを設定する。そして、図7Cに示すように、再
生ヘッドにより読み出された信号の振幅電圧Vteが、こ
のスライスレベルより高い電圧になった部分を異常信号
とし、エラーとして検出する。
まず、記録ヘッドを用いて、PERMディスク101の
データトラックDTに書き込んだ信号を消去する。その
後、再生ヘッドを用いてトラック上の信号を読み出す。
この信号の読み出しの際に、異常信号が存在するか否か
を検査することによって、エキストラエラーが存在する
か否かを検査する。ここで、このエキストラエラー検査
においては、上述のTAAの30%を超える値にスライ
スレベルを設定する。そして、図7Cに示すように、再
生ヘッドにより読み出された信号の振幅電圧Vteが、こ
のスライスレベルより高い電圧になった部分を異常信号
とし、エラーとして検出する。
【0016】エラーとして検出された部分は、そのビッ
ト数がカウントされ、発見されたエラーの数やビット長
によって、このPERMディスク101が良品であるか
不良品であるかが判断される。
ト数がカウントされ、発見されたエラーの数やビット長
によって、このPERMディスク101が良品であるか
不良品であるかが判断される。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の検査装置において、PERMディスク101のエラ
ー検査を行う場合に、次のような問題があった。
来の検査装置において、PERMディスク101のエラ
ー検査を行う場合に、次のような問題があった。
【0018】すなわち、このPERMディスク101の
ように、あらかじめトラックパターンが形成されたメデ
ィアにおいて、トラック位置は、検査装置によってでは
なく、ディスクそのもので決定されている。そのため、
通常、ディスクを回転させるスピンドルの回転中心とデ
ィスクの中心とが一致することはなく、ディスクの回転
中心とディスク上のトラックの中心とは一致しない。こ
の状態を図8に示す。
ように、あらかじめトラックパターンが形成されたメデ
ィアにおいて、トラック位置は、検査装置によってでは
なく、ディスクそのもので決定されている。そのため、
通常、ディスクを回転させるスピンドルの回転中心とデ
ィスクの中心とが一致することはなく、ディスクの回転
中心とディスク上のトラックの中心とは一致しない。こ
の状態を図8に示す。
【0019】図8に示すように、磁気ヘッドを固定し
て、PERMディスク101を回転させた場合の磁気ヘ
ッドの軌跡108は、その中心がOの位置になり、PE
RMディスク101はその中心Oを軸として回転するこ
とになる。他方、PERMディスク101上のトラック
パターン103の中心はO´の位置である。このような
回転中心位置とトラックの中心位置とのずれは、一般
に、偏心量と呼ばれる。この偏心量dにおいては、
(1)式において、 d≫p・・・(2) となる可能性が非常に高い。これは、トラックピッチの
高密度化が進んでいることにより、p≒1μmであるの
に対し、偏心量dは機械的な精度によって決定される量
であることにより、d≧数10μmとなるからである。
そのため、磁気ヘッドを固定させてPERMディスク1
01を回転させると、通常、PERMディスク101を
1周回転させる間に、数10本のトラックピッチのずれ
が発生する。
て、PERMディスク101を回転させた場合の磁気ヘ
ッドの軌跡108は、その中心がOの位置になり、PE
RMディスク101はその中心Oを軸として回転するこ
とになる。他方、PERMディスク101上のトラック
パターン103の中心はO´の位置である。このような
回転中心位置とトラックの中心位置とのずれは、一般
に、偏心量と呼ばれる。この偏心量dにおいては、
(1)式において、 d≫p・・・(2) となる可能性が非常に高い。これは、トラックピッチの
高密度化が進んでいることにより、p≒1μmであるの
に対し、偏心量dは機械的な精度によって決定される量
であることにより、d≧数10μmとなるからである。
そのため、磁気ヘッドを固定させてPERMディスク1
01を回転させると、通常、PERMディスク101を
1周回転させる間に、数10本のトラックピッチのずれ
が発生する。
【0020】これによって、PERMディスク101を
1周回転させる間に、PERMディスク上のデータトラ
ックDTにおいて、磁気ヘッドがデータトラックDTに
重なるオントラック部分と、磁気ヘッドが数10本のデ
ータトラックDTを横断するトラック横断部分と、磁気
ヘッドがデータトラックDTから外れるオフトラック部
分とが存在することになる。その結果、図9に示すよう
に、再生ヘッドから得られる再生信号に振幅変動が生じ
る。
1周回転させる間に、PERMディスク上のデータトラ
ックDTにおいて、磁気ヘッドがデータトラックDTに
重なるオントラック部分と、磁気ヘッドが数10本のデ
ータトラックDTを横断するトラック横断部分と、磁気
ヘッドがデータトラックDTから外れるオフトラック部
分とが存在することになる。その結果、図9に示すよう
に、再生ヘッドから得られる再生信号に振幅変動が生じ
る。
【0021】図9に示すように、オントラック部分にお
いては通常の振幅であるが、トラック横断部分において
振幅に変動が生じ、オフトラック部分において振幅が減
少する。再生信号の振幅電圧Vtmが減少し、設定された
スライスレベルより小さくなると、ミッシングエラーが
存在していない場合であっても、その部分がミッシング
エラーとして検出される問題があった。
いては通常の振幅であるが、トラック横断部分において
振幅に変動が生じ、オフトラック部分において振幅が減
少する。再生信号の振幅電圧Vtmが減少し、設定された
スライスレベルより小さくなると、ミッシングエラーが
存在していない場合であっても、その部分がミッシング
エラーとして検出される問題があった。
【0022】そのため、エラー検査を行う際にデータを
正しく読み出すためには、PERMディスク101上の
各トラックに対して1本ずつトラッキングを行いながら
書き込みや読み出しを行う必要がある。
正しく読み出すためには、PERMディスク101上の
各トラックに対して1本ずつトラッキングを行いながら
書き込みや読み出しを行う必要がある。
【0023】ところが、このようなトラッキングを行う
ためには、従来のサーティファイアの磁気ヘッドにさら
に回動アームが必要になるとともに、トラッキング機構
やシーク機構なども必要になる。これにより、データト
ラックDTのトラッキングを行いつつエラー検査を行う
サーティファイアが実現できたとしても、ヘッド送り、
トラッキングのためのセトリング時間などによって、従
来のサーティファイアと比較して検査時間は増加する。
そのため、PERMディスク101の検査時間を従来の
サーティファイアにおけると同等の検査時間に抑えるた
めには、その台数を増加させなければならない。
ためには、従来のサーティファイアの磁気ヘッドにさら
に回動アームが必要になるとともに、トラッキング機構
やシーク機構なども必要になる。これにより、データト
ラックDTのトラッキングを行いつつエラー検査を行う
サーティファイアが実現できたとしても、ヘッド送り、
トラッキングのためのセトリング時間などによって、従
来のサーティファイアと比較して検査時間は増加する。
そのため、PERMディスク101の検査時間を従来の
サーティファイアにおけると同等の検査時間に抑えるた
めには、その台数を増加させなければならない。
【0024】したがって、この発明の目的は、新たな機
構を追加することなく、トラックパターンを有する磁気
ディスクのエラー検査における信頼性を向上させること
ができる磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの
検査方法を提供することにある。
構を追加することなく、トラックパターンを有する磁気
ディスクのエラー検査における信頼性を向上させること
ができる磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの
検査方法を提供することにある。
【0025】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、トラ
ックパターンを有する磁気ディスクのエラー検査を行う
ようにした磁気ディスクの検査装置において、エラー検
査を行う磁気ディスクを回転させる回転手段と、磁気デ
ィスクに対して検査用の信号を記録する記録ヘッドと、
磁気ディスクから検査用信号を読み出す再生ヘッドとを
備え、再生ヘッドのトラック幅がトラックパターンのト
ラックピッチとほぼ等しいことを特徴とするものであ
る。
ックパターンを有する磁気ディスクのエラー検査を行う
ようにした磁気ディスクの検査装置において、エラー検
査を行う磁気ディスクを回転させる回転手段と、磁気デ
ィスクに対して検査用の信号を記録する記録ヘッドと、
磁気ディスクから検査用信号を読み出す再生ヘッドとを
備え、再生ヘッドのトラック幅がトラックパターンのト
ラックピッチとほぼ等しいことを特徴とするものであ
る。
【0026】請求項5の発明は、トラックパターンを有
する磁気ディスクのエラー検査を行うようにした磁気デ
ィスクの検査方法において、再生ヘッドのトラック幅を
トラックパターンのトラックピッチとほぼ等しくし、再
生ヘッドにより読み取られた検査用信号に基づいて、エ
ラー検査を行うようにしたことを特徴とするものであ
る。
する磁気ディスクのエラー検査を行うようにした磁気デ
ィスクの検査方法において、再生ヘッドのトラック幅を
トラックパターンのトラックピッチとほぼ等しくし、再
生ヘッドにより読み取られた検査用信号に基づいて、エ
ラー検査を行うようにしたことを特徴とするものであ
る。
【0027】上述のように構成されたこの発明による磁
気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法に
よれば、再生ヘッドのトラック幅を、磁気ディスクにお
けるトラックパターンのトラック幅とほぼ等しくしてい
ることにより、磁気ヘッドがトラックパターンからずれ
た場合であっても、磁気ヘッドのトラック幅のうちのず
れた幅の分が、そのまま隣接するトラックパターンに重
なるようになるので、再生に寄与する再生ヘッドのトラ
ック幅を常に一定に維持することができる。
気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法に
よれば、再生ヘッドのトラック幅を、磁気ディスクにお
けるトラックパターンのトラック幅とほぼ等しくしてい
ることにより、磁気ヘッドがトラックパターンからずれ
た場合であっても、磁気ヘッドのトラック幅のうちのず
れた幅の分が、そのまま隣接するトラックパターンに重
なるようになるので、再生に寄与する再生ヘッドのトラ
ック幅を常に一定に維持することができる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態によ
る磁気ディスクのサーティファイアについて説明する。
図1に、この一実施形態による磁気ディスクのサーティ
ファイアのブロック図を示す。
る磁気ディスクのサーティファイアについて説明する。
図1に、この一実施形態による磁気ディスクのサーティ
ファイアのブロック図を示す。
【0029】図1に示すように、この一実施形態による
サーティファイアは、PERMディスク1のエラー検査
を行う検査装置であり、磁気ヘッド2、移動ステージ
3、記録アンプ4、再生アンプ5、TAA生成回路6、
サーボゾーン同定回路7、タイミング生成回路8、レベ
ル比較回路9、CPU10、および出力部11を有して
構成されている。
サーティファイアは、PERMディスク1のエラー検査
を行う検査装置であり、磁気ヘッド2、移動ステージ
3、記録アンプ4、再生アンプ5、TAA生成回路6、
サーボゾーン同定回路7、タイミング生成回路8、レベ
ル比較回路9、CPU10、および出力部11を有して
構成されている。
【0030】PERMディスク1は、同心円状のトラッ
クパターン1aと、隣接するトラックパターン1a間に
ガードバンドとを有する磁気ディスクであり、トラック
パターン1aは所定のトラックピッチp1 に形成されて
いる。また、このPERMディスク1は、中心のクラン
プエリア1bにおいて、スピンドルモータ12にクラン
プされている。スピンドルモータ12は、PERMディ
スク1を支持するとともに、回転させるためのものであ
る。
クパターン1aと、隣接するトラックパターン1a間に
ガードバンドとを有する磁気ディスクであり、トラック
パターン1aは所定のトラックピッチp1 に形成されて
いる。また、このPERMディスク1は、中心のクラン
プエリア1bにおいて、スピンドルモータ12にクラン
プされている。スピンドルモータ12は、PERMディ
スク1を支持するとともに、回転させるためのものであ
る。
【0031】磁気ヘッド2は、再生ヘッドおよび記録ヘ
ッドを有する。記録ヘッドは、PERMディスク1表面
のトラックパターン1aへのデータ(検査用信号)の書
き込みを行うためのものである。また、再生ヘッドは、
トラックパターン1aからのデータ(検査用信号)の読
み出しを行うためのものであり、そのトラック幅Twh
は、PERMディスク1のトラックパターン1aのトラ
ックピッチp1 とほぼ等しくなっている。すなわち、 Twh≒p1 ・・・(3) になるように形成されている。
ッドを有する。記録ヘッドは、PERMディスク1表面
のトラックパターン1aへのデータ(検査用信号)の書
き込みを行うためのものである。また、再生ヘッドは、
トラックパターン1aからのデータ(検査用信号)の読
み出しを行うためのものであり、そのトラック幅Twh
は、PERMディスク1のトラックパターン1aのトラ
ックピッチp1 とほぼ等しくなっている。すなわち、 Twh≒p1 ・・・(3) になるように形成されている。
【0032】ところが、PERMディスク1のトラック
ピッチp1 と再生ヘッドのトラック幅Twhとを正確に一
致させることは、機械的な精度の観点から容易ではな
い。この場合、ミッシングエラーの検出レベルにマージ
ンを与える必要がある。すなわち、TAAの5%のマー
ジンを検出レベルに与え、ミッシングエラーのスライス
レベルをTAAの0.65倍にすると仮定すると、再生
ヘッド2aのトラック幅Twhに対するマージンは、 5%/0.65=7.7% となる。したがって、PERMディスク1におけるトラ
ックピッチp1 を2μmとした場合、再生ヘッド2aの
トラック幅に与えられるマージンは、 2μm×0.077=0.15μm となり、再生ヘッド2aにおいて、通常の精度の範囲内
の加工余裕をもたせることが可能となる。
ピッチp1 と再生ヘッドのトラック幅Twhとを正確に一
致させることは、機械的な精度の観点から容易ではな
い。この場合、ミッシングエラーの検出レベルにマージ
ンを与える必要がある。すなわち、TAAの5%のマー
ジンを検出レベルに与え、ミッシングエラーのスライス
レベルをTAAの0.65倍にすると仮定すると、再生
ヘッド2aのトラック幅Twhに対するマージンは、 5%/0.65=7.7% となる。したがって、PERMディスク1におけるトラ
ックピッチp1 を2μmとした場合、再生ヘッド2aの
トラック幅に与えられるマージンは、 2μm×0.077=0.15μm となり、再生ヘッド2aにおいて、通常の精度の範囲内
の加工余裕をもたせることが可能となる。
【0033】また、移動ステージ3は、磁気ヘッド2を
PERMディスク1の径方向に移動させ、トラックジャ
ンプを行うための駆動機構である。また、移動ステージ
3は、CPU10によって制御されており、磁気ヘッド
2をPERMディスク1の径方向の任意の位置に移動可
能に構成されている。
PERMディスク1の径方向に移動させ、トラックジャ
ンプを行うための駆動機構である。また、移動ステージ
3は、CPU10によって制御されており、磁気ヘッド
2をPERMディスク1の径方向の任意の位置に移動可
能に構成されている。
【0034】記録アンプ4は、検査を行うPERMディ
スク1に記録する検査用信号を、増幅するとともに、磁
気ヘッド2の記録ヘッドに供給するためのものである。
スク1に記録する検査用信号を、増幅するとともに、磁
気ヘッド2の記録ヘッドに供給するためのものである。
【0035】再生アンプ5は、磁気ヘッド2の再生ヘッ
ドによりPERMディスク1上の所定のトラックパター
ンに記録された信号を再生するとともに、その信号の増
幅を行うためのものである。この再生アンプ5からの出
力信号がサーボゾーン同定回路7に供給されるととも
に、TAA生成回路6およびレベル比較回路9に供給さ
れる。なお、再生アンプ5とレベル比較回路9との間に
遅延回路を設けることも可能である。
ドによりPERMディスク1上の所定のトラックパター
ンに記録された信号を再生するとともに、その信号の増
幅を行うためのものである。この再生アンプ5からの出
力信号がサーボゾーン同定回路7に供給されるととも
に、TAA生成回路6およびレベル比較回路9に供給さ
れる。なお、再生アンプ5とレベル比較回路9との間に
遅延回路を設けることも可能である。
【0036】TAA生成回路6は、PERMディスク1
を1周回転させる間に再生ヘッドにより読み出された信
号の1周分の平均信号振幅(TAA)を生成する回路で
ある。このTAA生成回路6において、TAAの値が所
定のスライスレベルに変換されレベル比較回路9に供給
される。ここで、スライスレベルはミッシングエラーの
検出を行う場合、TAAを基準として、このTAAの何
%(例えば65%)というように設定される。
を1周回転させる間に再生ヘッドにより読み出された信
号の1周分の平均信号振幅(TAA)を生成する回路で
ある。このTAA生成回路6において、TAAの値が所
定のスライスレベルに変換されレベル比較回路9に供給
される。ここで、スライスレベルはミッシングエラーの
検出を行う場合、TAAを基準として、このTAAの何
%(例えば65%)というように設定される。
【0037】サーボゾーン同定回路7は、磁気ヘッド2
によって読み出された再生信号から、PERMディスク
1上に形成されているサーボゾーンを検出するための回
路である。このサーボゾーン同定回路7からの出力信号
はタイミング生成回路8に供給される。
によって読み出された再生信号から、PERMディスク
1上に形成されているサーボゾーンを検出するための回
路である。このサーボゾーン同定回路7からの出力信号
はタイミング生成回路8に供給される。
【0038】タイミング生成回路8は、サーボゾーン同
定回路7によって取り出されたサーボゾーン検出信号の
タイミングに基づいて、レベル比較回路9、記録アンプ
4および再生アンプ5に制御信号を供給してそれらの動
作を制御する。そして、サーボゾーンが検出された状態
では、タイミング生成回路8からの出力信号に基づいて
記録ヘッドから出力される電圧がホールドされるととも
に、再生ヘッドによる読み出しがオフにされる。また、
サーボゾーンが検出された状態では、タイミング生成回
路8からの制御信号はレベル比較回路9に供給され、そ
の動作がオフにされる。
定回路7によって取り出されたサーボゾーン検出信号の
タイミングに基づいて、レベル比較回路9、記録アンプ
4および再生アンプ5に制御信号を供給してそれらの動
作を制御する。そして、サーボゾーンが検出された状態
では、タイミング生成回路8からの出力信号に基づいて
記録ヘッドから出力される電圧がホールドされるととも
に、再生ヘッドによる読み出しがオフにされる。また、
サーボゾーンが検出された状態では、タイミング生成回
路8からの制御信号はレベル比較回路9に供給され、そ
の動作がオフにされる。
【0039】レベル比較回路9は、再生アンプ5から供
給される再生信号の振幅と、TAA生成回路6から供給
されるスライスレベルとの比較を行う。そして、レベル
比較回路9における比較の結果、再生アンプから供給さ
れる再生信号の振幅が所定のスライスレベル未満である
か否かに応じた比較出力が発生する。このレベル比較回
路9の比較出力がCPU10に供給される。
給される再生信号の振幅と、TAA生成回路6から供給
されるスライスレベルとの比較を行う。そして、レベル
比較回路9における比較の結果、再生アンプから供給さ
れる再生信号の振幅が所定のスライスレベル未満である
か否かに応じた比較出力が発生する。このレベル比較回
路9の比較出力がCPU10に供給される。
【0040】CPU10は、レベル比較回路9からの比
較出力に基づいて、PERMディスク1上の部分に、エ
ラーが存在するか否かの判別を行う。また、CPU10
は、磁気ヘッド2のトラックアクセス動作を制御する。
CPU10からの磁気ヘッド2のトラックアクセス動作
を制御する制御信号が移動ステージ3に供給される。ま
た、このCPU10によって得られたエラー検査の結果
が、出力部11に供給される。
較出力に基づいて、PERMディスク1上の部分に、エ
ラーが存在するか否かの判別を行う。また、CPU10
は、磁気ヘッド2のトラックアクセス動作を制御する。
CPU10からの磁気ヘッド2のトラックアクセス動作
を制御する制御信号が移動ステージ3に供給される。ま
た、このCPU10によって得られたエラー検査の結果
が、出力部11に供給される。
【0041】出力部11は、エラー検査の結果を例えば
CRTなどの表示部(図示せず)に表示したり、ハード
ディスクやフロッピーディスクなどの記録媒体に記録す
る。また、出力部11には、プリンタやネットワーク回
線を接続可能としてもよい。
CRTなどの表示部(図示せず)に表示したり、ハード
ディスクやフロッピーディスクなどの記録媒体に記録す
る。また、出力部11には、プリンタやネットワーク回
線を接続可能としてもよい。
【0042】次に、この一実施形態によるサーティファ
イアを用いてミッシングエラーについてのエラー検査を
行う場合の検査方法について説明する。
イアを用いてミッシングエラーについてのエラー検査を
行う場合の検査方法について説明する。
【0043】すなわち、図1に示すように、PERMデ
ィスク1をクランプエリア1bの部分でスピンドルモー
タ12に固定させる。次に、CPU10から移動ステー
ジ3に信号を供給することにより、磁気ヘッド2をPE
RMディスク1上の所定の位置まで移動させ、その位置
で静止させる。
ィスク1をクランプエリア1bの部分でスピンドルモー
タ12に固定させる。次に、CPU10から移動ステー
ジ3に信号を供給することにより、磁気ヘッド2をPE
RMディスク1上の所定の位置まで移動させ、その位置
で静止させる。
【0044】次に、検査用信号を、記録アンプ4を介し
て磁気ヘッド2に供給し、記録ヘッドを用いてデータト
ラックDTに書き込む。その直後、再生ヘッドを用い
て、書き込んだ検査用信号を読み出す。このとき、上述
したように、再生ヘッドはPERMディスク1のデータ
トラックDT上から外れたり、複数のデータトラックD
Tを横断したりする。この状態を図2に示す。
て磁気ヘッド2に供給し、記録ヘッドを用いてデータト
ラックDTに書き込む。その直後、再生ヘッドを用い
て、書き込んだ検査用信号を読み出す。このとき、上述
したように、再生ヘッドはPERMディスク1のデータ
トラックDT上から外れたり、複数のデータトラックD
Tを横断したりする。この状態を図2に示す。
【0045】図2に示すように、再生ヘッド2aのトラ
ック幅TwhがPERMディスク1のトラックピッチp1
とほぼ等しい幅であることによって、偏心によって再生
ヘッド2aがデータトラックDTから外れた場合であっ
ても、再生ヘッド2aの反対側は、外れた量だけ隣接し
たデータトラックDT´に重なる。これにより、再生ヘ
ッド2aによる読み出しの際には、トラックパターンに
おける再生に寄与する幅は常にほぼ一定になる。
ック幅TwhがPERMディスク1のトラックピッチp1
とほぼ等しい幅であることによって、偏心によって再生
ヘッド2aがデータトラックDTから外れた場合であっ
ても、再生ヘッド2aの反対側は、外れた量だけ隣接し
たデータトラックDT´に重なる。これにより、再生ヘ
ッド2aによる読み出しの際には、トラックパターンに
おける再生に寄与する幅は常にほぼ一定になる。
【0046】そして、PERMディスク1を少なくとも
1回転させた段階において、TAA生成回路6において
その再生信号のTAAを計算し、例えばTAAの65%
程度にスライスレベルを設定する。このTAAはエラー
検出の際の基準とする。
1回転させた段階において、TAA生成回路6において
その再生信号のTAAを計算し、例えばTAAの65%
程度にスライスレベルを設定する。このTAAはエラー
検出の際の基準とする。
【0047】その後、PERMディスク1を回転させつ
つ、再生ヘッド2aにより信号を読み出し、基準となっ
たTAAと、再生ヘッド2aにより読み出された信号の
振幅電圧Vtmとをレベル比較回路9において比較する。
ここで、この再生ヘッド2aにより読み出された信号波
形を図3に示す。
つ、再生ヘッド2aにより信号を読み出し、基準となっ
たTAAと、再生ヘッド2aにより読み出された信号の
振幅電圧Vtmとをレベル比較回路9において比較する。
ここで、この再生ヘッド2aにより読み出された信号波
形を図3に示す。
【0048】図3に示すように、レベル比較回路の比較
出力が、再生ヘッド2aにより読み出された信号の振幅
電圧Vtmがスライスレベル以上であることを示すときに
は、CPU10によりミッシングエラーが存在しないと
判断される。他方、この振幅電圧Vtmがスライスレベル
以下になった場合に、CPU10によりその部分にミッ
シングエラーが存在すると判断される。ミッシングエラ
ーが存在すると判断された場合には、エラーのビット数
をカウントする。
出力が、再生ヘッド2aにより読み出された信号の振幅
電圧Vtmがスライスレベル以上であることを示すときに
は、CPU10によりミッシングエラーが存在しないと
判断される。他方、この振幅電圧Vtmがスライスレベル
以下になった場合に、CPU10によりその部分にミッ
シングエラーが存在すると判断される。ミッシングエラ
ーが存在すると判断された場合には、エラーのビット数
をカウントする。
【0049】ところで、PERMディスク1上のサーボ
ゾーンには、ヘッダパターン、アドレスコードパターン
あるいはファインパターンなどが不連続に設けられてい
る。そのため、サーボゾーン上に信号を書き込んでしま
うと、異常信号となって検出されるという問題が生じ
る。そこで、この一実施形態においては、サーボゾーン
同定回路7において、パターンマッチングの方法を用
い、本来データとして現れない特異なビットパターンの
サーボヘッダー信号を検出することによってサーボゾー
ンのマスクを行う。
ゾーンには、ヘッダパターン、アドレスコードパターン
あるいはファインパターンなどが不連続に設けられてい
る。そのため、サーボゾーン上に信号を書き込んでしま
うと、異常信号となって検出されるという問題が生じ
る。そこで、この一実施形態においては、サーボゾーン
同定回路7において、パターンマッチングの方法を用
い、本来データとして現れない特異なビットパターンの
サーボヘッダー信号を検出することによってサーボゾー
ンのマスクを行う。
【0050】すなわち、サーボゾーン内に図4Aに示す
ディスクパターンが存在した場合、再生ヘッド2aによ
って読み出される信号の再生波形は図4Bに示すように
なる。そして、この図4Bに示す再生波形を、その振幅
最大の部分でパルス列とし、図4Cに示すようなパルス
信号に整形する。その後、このパルス信号のパターンを
あらかじめ設定されたパターンと比較し、一致するか否
かを判断する。再生ヘッド2aにより読み出された再生
信号に基づくパルス信号のパターンと、あらかじめ設定
された再生信号のパターンとが一致した場合、図4Dに
示すようにパターン検出回路から検出信号が出力され
る。この検出信号はタイミング生成回路8を介して再生
アンプ5およびレベル比較回路9に供給される。検出信
号が供給されている間、再生アンプ5のレベルをホール
ドし、レベル比較回路9の動作をオフにする。これによ
って、サーボゾーンで発生する再生信号をエラー検査の
対象から除外する。
ディスクパターンが存在した場合、再生ヘッド2aによ
って読み出される信号の再生波形は図4Bに示すように
なる。そして、この図4Bに示す再生波形を、その振幅
最大の部分でパルス列とし、図4Cに示すようなパルス
信号に整形する。その後、このパルス信号のパターンを
あらかじめ設定されたパターンと比較し、一致するか否
かを判断する。再生ヘッド2aにより読み出された再生
信号に基づくパルス信号のパターンと、あらかじめ設定
された再生信号のパターンとが一致した場合、図4Dに
示すようにパターン検出回路から検出信号が出力され
る。この検出信号はタイミング生成回路8を介して再生
アンプ5およびレベル比較回路9に供給される。検出信
号が供給されている間、再生アンプ5のレベルをホール
ドし、レベル比較回路9の動作をオフにする。これによ
って、サーボゾーンで発生する再生信号をエラー検査の
対象から除外する。
【0051】PERMディスク1における1周のエラー
検査を終了した後、このCPU10から移動ステージ3
に制御信号を供給し磁気ヘッド2をトラックジャンプさ
せる。その後、上述と同様にしてエラー検査を繰り返し
行い、エラーが生じた部分のビット数をカウントし、そ
のエラーの数およびビット長に基づいて、良品、不良品
の判定を行う。すなわち、エラーの数が許容範囲を超え
た段階で、そのPERMディスク1を不良品と判断して
廃棄し、許容されるエラーの数に達しないPERMディ
スク1を良品とする。
検査を終了した後、このCPU10から移動ステージ3
に制御信号を供給し磁気ヘッド2をトラックジャンプさ
せる。その後、上述と同様にしてエラー検査を繰り返し
行い、エラーが生じた部分のビット数をカウントし、そ
のエラーの数およびビット長に基づいて、良品、不良品
の判定を行う。すなわち、エラーの数が許容範囲を超え
た段階で、そのPERMディスク1を不良品と判断して
廃棄し、許容されるエラーの数に達しないPERMディ
スク1を良品とする。
【0052】以上、この発明の一実施形態について具体
的に説明したが、この発明は、上述の一実施形態に限定
されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各
種の変形が可能である。
的に説明したが、この発明は、上述の一実施形態に限定
されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各
種の変形が可能である。
【0053】例えば上述の一実施形態においては、磁気
ディスクのサーティファイアによるエラー検査として、
ミッシングエラー検査を行う場合について説明したが、
このサーティファイアを、その他のエラー検査に用いて
もよく、例えば、読み出されたトラック中にビット単位
で振幅電圧が上昇するスパイクパルスエラーや、ビット
単位よりも大きい単位で信号が欠落したり過剰になるモ
ジュレーションエラーや、エキストラエラーなどのエラ
ー検査に用いることも可能である。このエキストラエラ
ーなどのエラー検査を行う場合には、スライスレベルを
TAAの30%に設定し、このスライスレベルを超えた
場合に、エキストラエラーとしてエラー検出を行うよう
にしてもよい。また、上述のそれぞれのエラーを検出す
る検出回路をそれぞれ設けてエラー検出ユニットとし、
例えばミッシングエラー検査およびモジュレーションエ
ラー(ネガティブモジュレーションエラー、ポジティブ
モジュレーションエラー)検査を同時に行うようにする
ことも可能である。
ディスクのサーティファイアによるエラー検査として、
ミッシングエラー検査を行う場合について説明したが、
このサーティファイアを、その他のエラー検査に用いて
もよく、例えば、読み出されたトラック中にビット単位
で振幅電圧が上昇するスパイクパルスエラーや、ビット
単位よりも大きい単位で信号が欠落したり過剰になるモ
ジュレーションエラーや、エキストラエラーなどのエラ
ー検査に用いることも可能である。このエキストラエラ
ーなどのエラー検査を行う場合には、スライスレベルを
TAAの30%に設定し、このスライスレベルを超えた
場合に、エキストラエラーとしてエラー検出を行うよう
にしてもよい。また、上述のそれぞれのエラーを検出す
る検出回路をそれぞれ設けてエラー検出ユニットとし、
例えばミッシングエラー検査およびモジュレーションエ
ラー(ネガティブモジュレーションエラー、ポジティブ
モジュレーションエラー)検査を同時に行うようにする
ことも可能である。
【0054】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による磁
気ディスクの検査装置および検査方法によれば、磁気ヘ
ッドのトラック幅が磁気ディスクのトラックパターンの
トラックピッチとほぼ等しい幅であることにより、磁気
ヘッドが磁気ディスクのトラックパターンからずれた場
合にも、磁気ヘッドは、このずれた分だけ隣接するトラ
ックパターンに重なるので、トラックパターンと磁気ヘ
ッドとは、常に、一定のほぼトラックパターンの幅程度
の重なりを持つ。したがって、新しい機構を用いること
なく、トラックパターンを有する磁気ディスクのエラー
検査を行うことが可能となる。
気ディスクの検査装置および検査方法によれば、磁気ヘ
ッドのトラック幅が磁気ディスクのトラックパターンの
トラックピッチとほぼ等しい幅であることにより、磁気
ヘッドが磁気ディスクのトラックパターンからずれた場
合にも、磁気ヘッドは、このずれた分だけ隣接するトラ
ックパターンに重なるので、トラックパターンと磁気ヘ
ッドとは、常に、一定のほぼトラックパターンの幅程度
の重なりを持つ。したがって、新しい機構を用いること
なく、トラックパターンを有する磁気ディスクのエラー
検査を行うことが可能となる。
【図1】この発明の一実施形態によるサーティファイア
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図2】この発明の一実施形態によるトラックパターン
と再生ヘッドとの関係を示す略線図である。
と再生ヘッドとの関係を示す略線図である。
【図3】この発明の一実施形態によるサーティファイア
の再生ヘッドにより読み出された信号のエンベロープ波
形を示す略線図である。
の再生ヘッドにより読み出された信号のエンベロープ波
形を示す略線図である。
【図4】この発明の一実施形態によるサーボゾーンの検
出方法を説明するための略線図である。
出方法を説明するための略線図である。
【図5】PERMディスクおよびサーボゾーンを示す平
面図である。
面図である。
【図6】PERMディスクの構造を示す斜視断面図であ
る。
る。
【図7】ミッシングエラーおよびエキストラエラーの定
義を説明するための略線図である。
義を説明するための略線図である。
【図8】偏心量の定義を説明するための略線図である。
【図9】従来のサーティファイアの再生ヘッドにより読
み出された信号のエンベロープ波形を示す略線図であ
る。
み出された信号のエンベロープ波形を示す略線図であ
る。
1・・・PERMディスク、1a・・・トラックパター
ン、1b・・・クランプエリア、2・・・磁気ヘッド、
2a・・・再生ヘッド、3・・・移動ステージ、4・・
・記録アンプ、5・・・再生アンプ、6・・・TAA生
成回路、7・・・サーボゾーン同定回路、8・・・タイ
ミング生成回路、9・・・レベル比較回路、10・・・
CPU、12・・・スピンドルモータ、DT・・・デー
タトラック
ン、1b・・・クランプエリア、2・・・磁気ヘッド、
2a・・・再生ヘッド、3・・・移動ステージ、4・・
・記録アンプ、5・・・再生アンプ、6・・・TAA生
成回路、7・・・サーボゾーン同定回路、8・・・タイ
ミング生成回路、9・・・レベル比較回路、10・・・
CPU、12・・・スピンドルモータ、DT・・・デー
タトラック
Claims (6)
- 【請求項1】 トラックパターンを有する磁気ディスク
のエラー検査を行うようにした磁気ディスクの検査装置
において、 エラー検査を行う磁気ディスクを回転させる回転手段
と、 上記磁気ディスクに対して検査用の信号を記録する記録
ヘッドと、 上記磁気ディスクから検査用信号を読み出す再生ヘッド
とを備え、 上記再生ヘッドのトラック幅がトラックパターンのトラ
ックピッチとほぼ等しいことを特徴とする磁気ディスク
の検査装置。 - 【請求項2】 請求項1において、 上記再生ヘッドを静止させて、上記エラー検査を行うよ
うに構成されていることを特徴とする磁気ディスクの検
査装置。 - 【請求項3】 請求項1において、 上記磁気ディスク上のサーボゾーンを検出するサーボゾ
ーン検出手段を有し、検出された上記サーボゾーンにお
いて読み出された信号に対して、マスクを行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査装置。 - 【請求項4】 請求項1において、 上記磁気ディスクの基板材料がプラスチックであること
を特徴とする磁気ディスクの検査装置。 - 【請求項5】 トラックパターンを有する磁気ディスク
のエラー検査を行うようにした磁気ディスクの検査方法
において、 再生ヘッドのトラック幅をトラックパターンのトラック
ピッチとほぼ等しくし、上記再生ヘッドにより読み取ら
れた検査用信号に基づいて、エラー検査を行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査方法。 - 【請求項6】 請求項5において、 上記再生ヘッドを静止させてエラー検査を行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11203244A JP2001034902A (ja) | 1999-07-16 | 1999-07-16 | 磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11203244A JP2001034902A (ja) | 1999-07-16 | 1999-07-16 | 磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001034902A true JP2001034902A (ja) | 2001-02-09 |
Family
ID=16470830
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11203244A Pending JP2001034902A (ja) | 1999-07-16 | 1999-07-16 | 磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001034902A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7684152B2 (en) | 2004-09-24 | 2010-03-23 | Wd Media, Inc. | Method of mitigating eccentricity in a disk drive with DTR media |
JP2011070769A (ja) * | 2011-01-12 | 2011-04-07 | Toshiba Corp | 磁気記録装置 |
US8023213B2 (en) | 2008-03-25 | 2011-09-20 | Fuji Electric Device Technology Co., Ltd | Patterned medium inspection method and inspection device |
US8102616B2 (en) | 2006-06-30 | 2012-01-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic recording medium, method of fabricating the same, and magnetic recording apparatus |
-
1999
- 1999-07-16 JP JP11203244A patent/JP2001034902A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7684152B2 (en) | 2004-09-24 | 2010-03-23 | Wd Media, Inc. | Method of mitigating eccentricity in a disk drive with DTR media |
US8102616B2 (en) | 2006-06-30 | 2012-01-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic recording medium, method of fabricating the same, and magnetic recording apparatus |
US8023213B2 (en) | 2008-03-25 | 2011-09-20 | Fuji Electric Device Technology Co., Ltd | Patterned medium inspection method and inspection device |
JP2011070769A (ja) * | 2011-01-12 | 2011-04-07 | Toshiba Corp | 磁気記録装置 |
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