JP2001024225A - 自己走査型発光装置の配線材料および配線構造 - Google Patents

自己走査型発光装置の配線材料および配線構造

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JP2001024225A
JP2001024225A JP19851199A JP19851199A JP2001024225A JP 2001024225 A JP2001024225 A JP 2001024225A JP 19851199 A JP19851199 A JP 19851199A JP 19851199 A JP19851199 A JP 19851199A JP 2001024225 A JP2001024225 A JP 2001024225A
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light emitting
self
wiring
emitting device
wiring structure
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JP19851199A
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Shunsuke Otsuka
俊介 大塚
Yukihisa Kusuda
幸久 楠田
Takashi Tagami
高志 田上
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 自己走査型発光装置のボンディングパッドは
素子内の配線よりも大面積になるため、内部応力が大き
くなり剥がれやすいという問題を解決した自己走査型発
光装置の配線材料を提供する。 【解決手段】 配線の材料として、Au,Pt,Auを
主成分とした合金,Ptを主成分とした合金よりなる群
から選ばれた1種を用い、配線に含まれるボンディング
パッドは、そのパッド縁に応力の集中しない形状とす
る。そのためには、ボンディングパッドのパッド縁は、
丸みをもたせた角部を有するようにする。あるいは、ボ
ンディングパッドのパッド縁は、3つ以上の直線で縁ど
りした角部を有するようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、自己走査型発光装
置の配線材料および配線構造に関する。
【0002】
【従来の技術】発光サイリスタを用いた自己走査型発光
装置は、本出願人に係る特開平2−14584号公報に
開示されており、図1に発光サイリスタの基本構造を示
す。
【0003】図1において、10はP形のGaAs基板
であり、この基板上に、P形AlGaAs層12,N形
AlGaAs層14,P形AlGaAs層16,N形A
lGaAs層18が順次積層され、N形AlGaAs層
18上には、カソード電極20とのオーミック接触をと
るためN形GaAs層22が形成されている。図中、2
4はP形AlGaAs層16上に設けられたゲート電
極、26はGaAs基板10の下面に設けられたアノー
ド電極である。
【0004】この例では、P形GaAs基板上にP形
層,N形層,P形層,N形層の順で積層されているが、
N形GaAs基板上に、N形層,P形層,N形層,P形
層の順で積層される場合には、最上層の電極はアノード
電極、最下部の電極はカソード電極となる。このような
発光サイリスタでは、ゲート層で発光した光は最上部層
を経て出射する。
【0005】本発明者らは、このような構造の発光サイ
リスタをアレイ状に配列し、これらの発光サイリスタア
レイ間に、適当な相互作用をもたせることによって、発
光光の自己走査機能が実現できることを上記公開公報に
おいて開示し、光プリンタ用光源として実装上簡便とな
ること、発光素子の配列ピッチが細かくできること、コ
ンパクトな自己走査型発光装置を作製できること等を示
した。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の自己走
査型発光装置では、配線材料としてAlを使用している
が、以下のような問題がある。 (1)Alは高温高湿状態に放置しておくだけで腐食が
進む。 (2)通電時におけるエレクトロマイグレーションによ
る腐食が起こる。 (3)Al配線自身に内在する局所応力により局所電池
が形成され腐食が起こる(ストレスマイグレーショ
ン)。 (4)Auなどの電極材料との接合部において、異種金
属接触電池が形成され、腐食が起こる(エレクトロマイ
グレーション)。 (5)上記腐食により、デバイスの寿命が短くなる(信
頼性に劣る)。
【0007】このため、長期信頼性確保(腐食防止)の
ため、SiO2 などの保護膜を必要とした。
【0008】従来のLED(発光ダイオード)アレイで
は、Al配線に代えてAu配線が用いられているが、こ
れは上述したようなAlの腐食による影響を考慮したこ
とによる。
【0009】自己走査型発光装置の配線材料として同様
にAuを用いることが考えられるが、自己走査型発光装
置の場合、特にワイヤボンディングを実施するボンディ
ングパッド(配線の一部)は素子内の配線よりも大面積
になるため、内部応力が大きくなり剥がれやすいという
問題がある。
【0010】本発明の目的は、上述のような問題点を解
決した自己走査型発光装置の配線材料および構造を提供
することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、配線材
料の腐食を防止すること、下地材料への配線材料の付着
力を向上させること、配線材料の付着力を向上させる材
料自体の腐食を防止することを実現する。
【0012】このためには、Alよりも腐食の少ない配
線材料(Au,Pt,Auを主成分とした合金、Ptを
主成分とした合金)を用いる。これら配線材料はAlと
比較して下地材料(SiO2 ,SiN,SiON)に対
して付着力が劣るため、配線形成時あるいは形成後に剥
がれ欠陥を発生しやすい。特に大面積で配線の内部応力
が大きくなるボンディングパッドで顕著である。ボンデ
ィングパッドは応力が集中しない構造とすることで付着
力向上を実現する。
【0013】さらには、配線材料と下地材料の間に、配
線材料および下地材料との密着性に優れた層間材料(N
i,Cr,Ti,Al,Ta)を挟んだ構造とすること
により、配線材料の更なる付着力向上を実現することが
できる。また、この層間材料の腐食を抑制するために、
層間材料を配線材料で完全に被覆する構造とするのが好
適である。
【0014】
【発明の実施の形態】まず、自己走査型発光装置の3つ
の基本構造について説明する。
【0015】図2は、自己走査型発光装置の第1の基本
構造の等価回路図である。発光素子として、発光サイリ
スタT(−2)〜T(+2)を用い、発光サイリスタT
(−2)〜T(+2)には、各々ゲート電極G-2〜G+2
が設けられている。各々のゲート電極には、負荷抵抗R
L を介して電源電圧VGKが印加される。また、各々のゲ
ート電極G-2〜G+2は、相互作用を作るために抵抗RI
を介して電気的に接続されている。また、各単体発光サ
イリスタのアノード電極に、3本の転送クロックライン
(φ1 ,φ2 ,φ3 )が、それぞれ3素子おきに(繰り
返されるように)接続される。
【0016】動作を説明すると、まず転送クロックφ3
がハイレベルとなり、発光サイリスタT(0)がオンし
ているとする。このとき3端子サイリスタの特性から、
ゲート電極G0 は零ボルト近くまで引き下げられる。電
源電圧VGKを仮に5ボルトとすると、負荷抵抗RL 、相
互作用抵抗RI のネットワークから各発光サイリスタの
ゲート電圧が決まる。そして、発光サイリスタT(0)
に近い素子のゲート電圧が最も低下し、以降順にT
(0)から離れるにしたがいゲート電圧は上昇してい
く。これは次のように表せる。
【0017】 VG0<VG1=VG-1 <VG2=VG-2 (1) これらの電圧の差は、負荷抵抗RL ,相互作用抵抗RI
の値を適当に選択することにより設定することができ
る。
【0018】3端子サイリスタのアノード側のターンオ
ン電圧VONは、ゲート電圧より拡散電位Vdif だけ高い
電圧となることが知られている。
【0019】VON≒VG +Vdif (2) したがって、アノードにかける電圧をこのターンオン電
圧VONより高く設定すれば、その発光サイリスタはオン
することになる。
【0020】さてこの発光サイリスタT(0)がオンし
ている状態で、次の転送クロックパルスφ1 にハイレベ
ル電圧VH を印加する。このクロックパルスφ1 は発光
サイリスタT(+1)とT(―2)に同時に加わるが、
ハイレベル電圧VH の値を次の範囲に設定すると、発光
サイリスタT(+1)のみをオンさせることができる。
【0021】 VG-2 +Vdif >VH >VG+1 +Vdif (3) これで発光サイリスタT(0),T(+1)が同時にオ
ンしていることになる。そしてクロックパルスφ3 のハ
イレベル電圧を切ると、発光サイリスタT(0)がオフ
となりオン状態の転送ができたことになる。
【0022】このように、自己走査型発光装置では抵抗
ネットワークで各発光サイリスタのゲート電極間を結ぶ
ことにより、発光サイリスタに転送機能をもたせること
が可能となる。上に述べたような原理から、転送クロッ
クφ1 ,φ2 ,φ3 のハイレベル電圧を順番に互いに少
しずつ重なるように設定すれば、発光サイリスタのオン
状態は順次転送されていく。すなわち、発光点が順次転
送され、自己走査型発光素子アレイを実現することがで
きる。
【0023】図3は、自己走査型発光装置の第2の基本
構造の等価回路図である。この自己走査型発光装置は、
発光サイリスタのゲート電極間の電気的接続の方法とし
てダイオードを用いている。発光サイリスタT(−2)
〜T(+2)は、一列に並べられた構成となっている。
-2〜G+2は、発光サイリスタT(−2)〜T(+2)
のそれぞれのゲート電極を表す。RL はゲート電極の負
荷抵抗を表し、D-2〜D+2は電気的相互作用を行うダイ
オードを表す。またVGKは電源電圧を表す。各単体発光
サイリスタのアノード電極に、2本の転送クロックライ
ン(φ1 ,φ2)がそれぞれ1素子おきに接続される。
【0024】動作を説明する。まず転送クロックφ2
ハイレベルとなり、発光サイリスタT(0)がオンして
いるとする。このとき3端子サイリスタの特性からゲー
ト電極G0 は零ボルト近くまで引き下げられる。電源電
圧VGKを仮に5ボルトとすると、抵抗RL ,ダイオード
-2〜D+2のネットワークから各発光サイリスタのゲー
ト電圧が決まる。そして発光サイリスタT(0)に近い
素子のゲート電圧が最も低下し、以降順にT(0)から
離れるにしたがいゲート電圧は上昇していく。
【0025】しかしながら、ダイオード特性の一方向
性,非対称性から、電圧を下げる効果は、T(0)の右
方向にしか働かない。すなわちゲート電極G1 はG0
対し、ダイオードの順方向立ち上がり電圧Vdif だけ高
い電圧に設定され、ゲート電極G2 はG1 に対し、さら
にダイオードの順方向立ち上がり電圧Vdif だけ高い電
圧に設定される。一方、T(0)の左側のゲート電極G
-1はダイオードD-1が逆バイアスになっているため電流
が流れず、したがって電源電圧VGKと同電位となる。
【0026】次の転送クロックパルスφ1 は、最近接の
発光サイリスタT(1),T(−1)、そしてT(3)
およびT(−3)等に印加されるが、これらのなかで、
最もターンオン電圧の最も低い素子はT(1)であり、
T(1)のターンオン電圧は約G1 のゲート電圧+V
dif であるが、これはVdif の約2倍である。次にター
ン電圧の低い素子はT(3)であり、Vdif の約4倍で
ある。T(−1)とT(−3)のオン電圧は、約VGK
dif となる。
【0027】以上から、転送クロックパルスのハイレベ
ル電圧をVdif の約2倍からVdifの約4倍の間に設定
しておけば、発光サイリスタT(1)のみをオンさせる
ことができ、転送動作を行うことができる。
【0028】図4は、自己走査型発光装置の第3の基本
構造の等価回路図である。この自己走査型発光装置は、
スイッチ素子T(−1)〜T(2)、書き込み用発光素
子L(−1)〜L(2)からなる。スイッチ素子部分の
構成は、ダイオード接続を用いた例を示している。スイ
ッチ素子のゲート電極G-1〜G1 は、書き込み用発光素
子のゲートにも接続される。書き込み用発光素子のアノ
ードには、書き込み信号Sinが加えられている。
【0029】以下に、この自己走査型発光装置の動作を
説明する。いま、転送素子T(0)がオン状態にあると
すると、ゲート電極G0 の電圧は、VGK(ここでは5ボ
ルトと想定する)より低下し、ほぼ零ボルトとなる。し
たがって、書き込み信号Sinの電圧が、PN接合の拡散
電位(約1ボルト)以上であれば、発光素子L(0)を
発光状態とすることができる。
【0030】これに対し、ゲート電極G-1は約5ボルト
であり、ゲート電極G1 は約1ボルトとなる。したがっ
て、発光素子L(−1)の書き込み電圧は約6ボルト、
発光素子L(1)の書き込み電圧は約2ボルトとなる。
これから、発光素子L(0)のみに書き込める書き込み
信号Sinの電圧は、約1〜2ボルトの範囲となる。発光
素子L(0)がオン、すなわち発光状態に入ると、書き
込み信号Sinラインの電圧は約1ボルトに固定されてし
まうので、他の発光素子が選択されてしまう、というエ
ラーは防ぐことができる。
【0031】発光強度は書き込み信号Sinに流す電流量
で決められ、任意の強度にて画像書き込みが可能とな
る。また、発光状態を次の素子に転送するためには、書
き込み信号Sinラインの電圧を一度零ボルトまでおと
し、発光している素子をいったんオフにしておく必要が
ある。
【0032】このような自己走査型発光装置の面発光素
子に発光サイリスタを用いて構成した自己走査型発光装
置は、光プリントヘッドなどに応用可能である。光プリ
ントヘッドなどに応用する場合、ある一定数のスイッチ
素子および発光素子を集積した1つの発光チップを構成
し、この発光チップを例えば一列に配列し、所定のサイ
ズの線状光源を形成する。
【0033】図4の自己走査型発光装置に関する1つの
発光チップの全体像を図5に示す。1チップの中には、
128個のスイッチ素子アレイT(1)〜T(128)
と、128個の発光素子アレイL(1)〜L(128)
とが配列され、スイッチ素子アレイ中に、φs ,φ1
φ2 ,VGK,Sin用のボンディングパッドが配列されて
いる。
【0034】図6は、発光チップの具体的な配線パター
ンのレイアウト図を示す。図中、28はボンディングパ
ッドを示す。
【0035】以上の構成の自己走査型発光装置におい
て、各実施例を詳細に説明する。
【0036】
【実施例1】本発明では、上記配線パターンの配線材料
としてAlより腐食の少ない配線材料を用いる。このよ
うな配線材料として、Au以外にさらに、Pt,または
Auを主成分とした合金,またはPtを主成分とした合
金を用いるものとする。
【0037】これら配線材料のうちの1種を用いて図6
の配線パターンを形成するが、特にボンディングパッド
28の部分は、その形状を次のようにする。
【0038】図7は、従来のボンディングパッドと本発
明のボンディングパッドの形状の2つの例を示す。図7
(A)は、比較のために示す従来のボンディングパッド
28である。この従来のボンディングパッド28では、
角部30,32に応力が集中するので、角部の剥がれ
や、角部を起点としたパッド全体の剥がれが発生しやす
い。
【0039】本発明では、応力の集中を避けるため、パ
ッド縁の角部に応力が集中しない構造とする。
【0040】図7(B)は、角部を丸めた形状のボンデ
ィングパッド32を示す。図7(A)の角部30,32
に対応する角部を丸める、すなわちRをつける。Rは、
R=0.5〜60μmとするのが好適である。このよう
にすることにより、角部への応力の集中がなくなり、角
部の剥がれが生じにくくなる。
【0041】図7(C)は、角部を3辺の直線で縁どり
した形状のボンディングパッド36を示す。具体的に
は、図7(A)の角部30,32の形状を、直交する2
辺に対し斜めの辺37,38を設けて3辺で縁どりした
形状とした。角部を縁どる辺の数は4辺以上でもよい。
多くすれば、図7(B)の角部の丸み形状に近づくこと
になる。
【0042】図7(A),(B),(C)の各ボンディ
ングパッドについて密着力の比較実験を行った。発光チ
ップをウェハからダイシングするときの切削水の流量
(リットル/分)を変えて、ボンディングパッドが完全
に剥がれた数を調べた(検査ボンディングパッド数は4
0)。結果を表1に示す。
【0043】
【表1】
【0044】この実験結果によれば、本発明のボンディ
ングパッドでは、切削水流量を4リットル/分以上にし
たとき、わずか1〜2個の剥がれが観察されただけで、
従来のボンディングパッドに比べて効果があることがわ
かる。
【0045】同じ条件で実験を行い、ボンディングパッ
ドの剥がれ面積が1/4以上のものについて調べた。結
果を表2に示す。
【0046】
【表2】
【0047】本発明のボンディングパッドは従来のボン
ディングパッドに比べて剥がれにくいことは明らかであ
る。
【0048】以上のボンディングパッドの形状では、配
線の大面積部でも密着力向上に極めて有効に働くが、微
細配線の端部,屈折部,交差部に適用することでも密着
力向上に有効である。
【0049】図8(A)は、微細配線40の端部42,
屈折部44,交差部46を示す。図8(B)は、端部,
屈折部,交差部の角部に丸みをもたせた実施例を示す図
であり、図8(C)は端部,屈折部,交差部の角部を3
辺の直線で縁どりした実施例を示す図である。これらの
形状により、角部には応力の集中がなくなり、付着力が
向上する。
【0050】
【実施例2】本発明では、前述したように、配線材料と
してAu,Pt,Auを主成分とした合金,Ptを主成
分とした合金を使用する。これら配線材料はAlと比較
して下地材料との密着性が悪い。そこで本実施例では、
図9に示すように、配線材料50と下地材料(Si
2 ,SiN,SiONなど)52との間に、Ni,C
r,Ti,AlまたはTaよりなる層間材料54を挟ん
だ構造とする。層間材料54の膜厚最適範囲は、材料に
よらず、0.01〜1μmである。
【0051】このように層間材料を挟むことによって、
配線材料の更なる付着力向上を実現できる。
【0052】
【実施例3】実施例2で示したように層間材料を挿入す
ることで、配線材料の密着性が改善されるが、一方で層
間材料の腐食がAl配線時と同様の理由で、外気と触れ
る側壁部分から進行する。層間材料の膜厚が薄いので、
腐食進行度はAl配線よりも遅く、信頼性はAl配線よ
りも改善される。層間材料の腐食を抑制して信頼性をさ
らに改善させるために、層間材料を大気と接触させない
ように、図10に示すように配線材料50で層間材料5
4を完全に被覆した構造とする。
【0053】
【発明の効果】本発明によれば、配線材料としてAlを
用いた場合の腐食の問題が解決される。
【0054】また、配線材料としてAu,Pt,Auを
主成分とした合金、Ptを主成分とした合金を使用する
ことで下地材料との密着性が悪化することを抑制でき
る。
【0055】さらには、長期信頼性確保(腐食防止)の
ため、SiO2 などの保護膜を必要としないため、工程
が簡易化されコストダウンが可能となり、これにより安
価なデバイスが提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】発光サイリスタの概略断面図である。
【図2】自己走査型発光装置の第1の基本構造の等価回
路図である。
【図3】自己走査型発光装置の第2の基本構造の等価回
路図である。
【図4】自己走査型発光装置の第3の基本構造の等価回
路図である。
【図5】発光チップの全体像を示す図である。
【図6】発光チップの配線パターンを示す図である。
【図7】ボンディングパッドの形状を示す図である。
【図8】配線の角部の形状を示す図である。
【図9】配線材料と下地材料との間に層間材料を挟んだ
構造を示す図である。
【図10】配線材料で層間材料を完全に被覆した構造を
示す図である。
【符号の説明】
28,34,36 ボンディングパッド 40 配線 50 配線材料 52 下地材料 54 層間材料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田上 高志 大阪府大阪市中央区道修町3丁目5番11号 日本板硝子株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA43 AA44 BB22 BB25 BB34 CA35 CA36 CA83 CA84 CA85 CA92 CA93 CA98

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】しきい電圧またはしきい電流の制御電極を
    有する発光素子を複数個配列し、各発光素子の前記制御
    電極をその近傍に位置する少なくとも1つの発光素子の
    制御電極に、電気抵抗または電気的に一方向性を有する
    電気素子を介して接続し、各発光素子の発光を制御する
    電極に、外部から電圧あるいは電流を印加する複数本の
    配線を接続させた自己走査型発光装置の配線材料におい
    て、 Au,Pt,Auを主成分とした合金,Ptを主成分と
    した合金よりなる群から選ばれた1種であることを特徴
    とする自己走査型発光装置の配線材料。
  2. 【請求項2】しきい電圧またはしきい電流の制御電極を
    有する発光素子を複数個配列し、各発光素子の前記制御
    電極をその近傍に位置する少なくとも1つの発光素子の
    制御電極に、電気抵抗または電気的に一方向性を有する
    電気素子を介して接続し、各発光素子の発光を制御する
    電極に、外部から電圧あるいは電流を印加する複数本の
    配線を接続させた自己走査型発光装置の配線構造におい
    て、 前記配線の材料として、Au,Pt,Auを主成分とし
    た合金,Ptを主成分とした合金よりなる群から選ばれ
    た1種を用い、 前記配線に含まれるボンディングパッドは、そのパッド
    縁に応力の集中しない形状としたことを特徴とする自己
    走査型発光装置の配線構造。
  3. 【請求項3】前記ボンディングパッドのパッド縁は、丸
    みをもたせた角部を有することを特徴とする請求項2に
    記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  4. 【請求項4】前記ボンディングパッドのパッド縁は、3
    つ以上の直線で縁どりした角部を有することを特徴とす
    る請求項2に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  5. 【請求項5】しきい電圧またはしきい電流の制御電極を
    有する発光素子を複数個配列し、各発光素子の前記制御
    電極をその近傍に位置する少なくとも1つの発光素子の
    制御電極に、電気抵抗または電気的に一方向性を有する
    電気素子を介して接続し、各発光素子の発光を制御する
    電極に、外部から電圧あるいは電流を印加する複数本の
    配線を接続させた自己走査型発光装置の配線構造におい
    て、 前記配線の材料として、Au,Pt,Auを主成分とし
    た合金,Ptを主成分とした合金よりなる群から選ばれ
    た1種を用い、 前記配線の端部,交差部,屈折部は、応力の集中しない
    形状としたことを特徴とする自己走査型発光装置の配線
    構造。
  6. 【請求項6】前記配線の端部,交差部,屈折部は、丸み
    をもたせた角部を有することを特徴とする請求項5に記
    載の自己走査型発光装置の配線構造。
  7. 【請求項7】前記配線の端部,交差部,屈折部は、3つ
    以上の直線で縁どりした角部を有することを特徴とする
    請求項5に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  8. 【請求項8】しきい電圧またはしきい電流の制御電極を
    有する発光素子を複数個配列し、各発光素子の前記制御
    電極をその近傍に位置する少なくとも1つの発光素子の
    制御電極に、電気抵抗または電気的に一方向性を有する
    電気素子を介して接続し、各発光素子の発光を制御する
    電極に、外部から電圧あるいは電流を印加する複数本の
    配線を接続させた自己走査型発光装置の配線構造におい
    て、 前記配線の材料として、Au,Pt,Auを主成分とし
    た合金,Ptを主成分とした合金よりなる群から選ばれ
    た1種を用い、 前記配線材料と下地材料との間に層間材料を挟んで、前
    記配線材料と前記下地材料との密着性を高めたことを特
    徴とする自己走査型発光装置の配線構造。
  9. 【請求項9】前記配線材料は、前記層間材料を大気と接
    触させないように、完全に被覆したことを特徴とする請
    求項8に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  10. 【請求項10】前記層間材料は、Ni,Cr,Ti,A
    l,Taよりなる群から選ばれた1種であることを特徴
    とする請求項8または9に記載の自己走査型発光装置の
    配線構造。
  11. 【請求項11】前記層間材料の厚さは、0.01〜1μ
    mであることを特徴とする請求項8,9,または10に
    記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  12. 【請求項12】スイッチング動作のためのしきい電圧ま
    たはしきい電流の制御電極を有するスイッチ素子を複数
    個配列し、各スイッチ素子の前記制御電極をその近傍に
    位置する少なくとも1つのスイッチ素子の制御電極に、
    電気抵抗または電気的に一方向性を有する電気素子を介
    して接続するとともに、各スイッチ素子に電源ラインを
    電気的手段を用いて接続し、かつ各スイッチ素子にクロ
    ックラインを接続して形成した自己走査スイッチ素子ア
    レイと、しきい電圧またはしきい電流の制御電極を有す
    る発光素子を複数個配列した発光素子アレイとからな
    り、前記発光素子アレイの各制御電極を前記スイッチ素
    子の制御電極と電気的手段にて接続し、各発光素子に発
    光のための電流を印加するラインを設けた自己走査型発
    光装置の配線材料において、 Au,Pt,Auを主成分とした合金,Ptを主成分と
    した合金よりなる群から選ばれた1種であることを特徴
    とする自己走査型発光装置の配線材料。
  13. 【請求項13】スイッチング動作のためのしきい電圧ま
    たはしきい電流の制御電極を有するスイッチ素子を複数
    個配列し、各スイッチ素子の前記制御電極をその近傍に
    位置する少なくとも1つのスイッチ素子の制御電極に、
    電気抵抗または電気的に一方向性を有する電気素子を介
    して接続するとともに、各スイッチ素子に電源ラインを
    電気的手段を用いて接続し、かつ各スイッチ素子にクロ
    ックラインを接続して形成した自己走査スイッチ素子ア
    レイと、しきい電圧またはしきい電流の制御電極を有す
    る発光素子を複数個配列した発光素子アレイとからな
    り、前記発光素子アレイの各制御電極を前記スイッチ素
    子の制御電極と電気的手段にて接続し、各発光素子に発
    光のための電流を印加するラインを設けた自己走査型発
    光装置の配線構造において、 前記配線に含まれるボンディングパッドは、そのパッド
    縁に応力の集中しない形状としたことを特徴とする自己
    走査型発光装置の配線構造。
  14. 【請求項14】前記ボンディングパッドのパッド縁は、
    丸みをもたせた角部を有することを特徴とする請求項1
    3に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  15. 【請求項15】前記ボンディングパッドのパッド縁は、
    3つ以上の直線で縁どりした角部を有することを特徴と
    する請求項13に記載の自己走査型発光装置の配線構
    造。
  16. 【請求項16】スイッチング動作のためのしきい電圧ま
    たはしきい電流の制御電極を有するスイッチ素子を複数
    個配列し、各スイッチ素子の前記制御電極をその近傍に
    位置する少なくとも1つのスイッチ素子の制御電極に、
    電気抵抗または電気的に一方向性を有する電気素子を介
    して接続するとともに、各スイッチ素子に電源ラインを
    電気的手段を用いて接続し、かつ各スイッチ素子にクロ
    ックラインを接続して形成した自己走査スイッチ素子ア
    レイと、しきい電圧またはしきい電流の制御電極を有す
    る発光素子を複数個配列した発光素子アレイとからな
    り、前記発光素子アレイの各制御電極を前記スイッチ素
    子の制御電極と電気的手段にて接続し、各発光素子に発
    光のための電流を印加するラインを設けた自己走査型発
    光装置の配線構造において、 前記配線の材料として、Au,Pt,Auを主成分とし
    た合金,Ptを主成分とした合金よりなる群から選ばれ
    た1種を用い、 前記配線の端部,交差部,屈折部は、応力の集中しない
    形状としたことを特徴とする自己走査型発光装置の配線
    構造。
  17. 【請求項17】前記配線の端部,交差部,屈折部は、丸
    みをもたせた角部を有することを特徴とする請求項16
    に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  18. 【請求項18】前記配線の端部,交差部,屈折部は、3
    つ以上の直線で縁どりした角部を有することを特徴とす
    る請求項16に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  19. 【請求項19】スイッチング動作のためのしきい電圧ま
    たはしきい電流の制御電極を有するスイッチ素子を複数
    個配列し、各スイッチ素子の前記制御電極をその近傍に
    位置する少なくとも1つのスイッチ素子の制御電極に、
    電気抵抗または電気的に一方向性を有する電気素子を介
    して接続するとともに、各スイッチ素子に電源ラインを
    電気的手段を用いて接続し、かつ各スイッチ素子にクロ
    ックラインを接続して形成した自己走査スイッチ素子ア
    レイと、しきい電圧またはしきい電流の制御電極を有す
    る発光素子を複数個配列した発光素子アレイとからな
    り、前記発光素子アレイの各制御電極を前記スイッチ素
    子の制御電極と電気的手段にて接続し、各発光素子に発
    光のための電流を印加するラインを設けた自己走査型発
    光装置の配線構造において、 前記配線の材料として、Au,Pt,Auを主成分とし
    た合金,Ptを主成分とした合金よりなる群から選ばれ
    た1種を用い、 前記配線材料と下地材料との間に層間材料を挟んで、前
    記配線材料と前記下地材料との密着性を高めたことを特
    徴とする自己走査型発光装置の配線構造。
  20. 【請求項20】前記配線材料は、前記層間材料を大気と
    接触させないように、完全に被覆したことを特徴とする
    請求項19に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
  21. 【請求項21】前記層間材料は、Ni,Cr,Ti,A
    l,Taよりなる群から選ばれた1種であることを特徴
    とする請求項19または20に記載の自己走査型発光装
    置の配線構造。
  22. 【請求項22】前記層間材料の厚さは、0.01〜1μ
    mであることを特徴とする請求項19,20,または2
    1に記載の自己走査型発光装置の配線構造。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7076708B2 (en) 2003-09-25 2006-07-11 International Business Machines Corporation Method and apparatus for diagnosis and behavior modification of an embedded microcontroller
JP2007165578A (ja) * 2005-12-14 2007-06-28 Fuji Xerox Co Ltd 面発光型半導体レーザ

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