JP2001021654A

JP2001021654A - 放射線計測システム

Info

Publication number: JP2001021654A
Application number: JP11195265A
Authority: JP
Inventors: Toshimitsu Nakai; 敏光仲井
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1999-07-09
Filing date: 1999-07-09
Publication date: 2001-01-26

Abstract

(57)【要約】【課題】中性子束の検出信号のみ計数し、ノイズによ
る誤計数を防止して正確な計数を行う。【解決手段】中性子束検出器１からの信号を前置増幅
器２で増幅し、波高選別回路３で波高選別し、選別レベ
ル以下の信号はノイズとしてカットする。波形処理回路
１１で選別されはパルスのパルス幅が、設定したパルス
幅以上であると計数用のパルスとして出力し、設定した
パルス幅未満であるとノイズとしてカットする。計数回
路５は上記計数用パルスを計数し、信号処理系６で読み
出し・表示を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、放射線検出器に
より発生したパルス信号を計数して放射線を測定する放
射線計測システムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１８は中性子束計測システムのブロッ
ク図で、（ａ）は全体の構成を示し、（ｂ）は波形整形
回路の回路図を示す。図において、１は中性子束検出
器、２は前置増幅器、３は波高選別回路、４は波形整形
回路、５は計数回路、６は信号処理系である。波形整形
回路４は図１８（ｂ）のように、抵抗Ｒ、コンデンサＣ
を用いた単安定マルチバイブレータ２６により構成さ
れ、入力パルスがあると一定のパルス信号を発生する。

【０００３】次に動作を図１９の波形処理のタイムチャ
ートと共に説明する。中性子束検出器１内で中性子束を
検出するとパルスを発生し、前置増幅器２により増幅さ
れ、波高選別回路３に送られる。波高選別回路３は、図
１９（ａ）に示すように、電圧信号に対して波高選別を
行い、電気回路に起因するノイズ及び目的とする信号以
外の影響を除去する（図１９（ｂ））。

【０００４】即ち、波高選別回路３は、中性子束検出器
１により中性子束を検出して発生するパルス波高値をあ
らかじめ計測して波高選別レベルを設定しておき、この
波高選別レベルを超える波高値のパルスは中性子束の検
出パルスとし、波形整形回路４へ出力し、波高選別レベ
ル以下の波高値のパルスはノイズとして出力をしない。

【０００５】波高整形回路４は、図１９（ｃ）に示すよ
うに、波高選別された信号をトリガ信号として一定パル
ス信号（一定パルス幅Ｔのパルス信号）に変換する単安
定マルチバイブレータ２６により構成されており、その
出力であるパルス信号が計数回路５に送られる。計数回
路５は、波形整形された一定パルス信号をパルス計数さ
れ、その計数値が信号処理系６に送られる。そして、こ
の信号処理系６において中性子束の測定結果が得られ
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の中性子束計測シ
ステムは以上のように構成されているので、ノイズの波
高値が波高選別レベルよりも高い場合には、ノイズと中
性子束信号との選別ができず、計数回路５において目的
とする以外の信号を計数し、誤計数、誤作動を生ずるな
どの問題点があった。

【０００７】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、ノイズの影響により、目的と
する中性子束レベルの変動以外の要因でむやみに誤計
数、誤警報、誤作動などを起こない信頼性のあるシステ
ムを提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】（１）この発明に係る放
射線測定システムは、放射線検出器で検出したパルス信
号を計数して放射線を測定する放射線計測システムにお
いて、上記パルス信号が所定の波高値以上で、且つ、設
定値以上のパルス幅であると所定のパルスを出力して計
数するようにしたものである。

【０００９】（２）また、放射線検出器で検出したパル
ス信号を計数して放射線を測定する放射線計測システム
において、上記パルス信号が所定の波高値以上で、且
つ、設定した範囲内のパルス幅であると所定のパルスを
出力して計数するようにしたものである。

【００１０】（３）また、放射線検出器で検出したパル
ス信号を計数して放射線を測定する放射線計測システム
において、上記パルス信号が所定の波高値の範囲内で、
且つ、設定値以上のパルス幅であると所定のパルスを出
力して計数するようにしたものである。

【００１１】（４）また、放射線検出器で検出したパル
ス信号を計数して放射線を測定する放射線計測システム
において、上記パルス信号が所定の波高値の範囲内で、
且つ、設定した範囲内のパルス幅であると所定のパルス
を出力して計数するようにしたものである。

【００１２】（５）また、上記（２）において、パルス
信号が所定の波高値以上で、且つ、設定した範囲を超え
るパルス幅であると、警報出力を送出するようにしたも
のである。

【００１３】（６）また、上記（３）または（４）にお
いて、パルス信号が所定の波高値の範囲を超えると、警
報出力を送出するようにしたものである。

【００１４】（７）また、上記（１）〜（６）いずれか
１項において、計数する所定のパルスを得る手段とし
て、カウント開始から所定のカウント値に達するまでの
期間のパルス幅のパルスを出力するカウンタを設け、上
記カウンタに計数用の出力が入力されるとカウントを開
始し、上記パルス幅のパルスを出力するようにしたもの
である。

【００１５】

【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
実施の形態１を図に基づいて説明する。図１はこの発明
の実施の形態１による中性子束計測システムのブロック
図であり、図２は波形処理回路の回路図であり、図３は
波形処理のタイムチャートである。図１において、１は
中性子検出器、２は前置増幅器、３は波高選別整形器、
１１は波形処理回路、５は計数回路、６は信号処理系で
ある。図２において、波形処理回路１１は、基準クロッ
ク２１、カウンタ２２、デコーダ２３、Ｊ−Ｋフリップ
フロップ２４、Ｄフリップフロップ２５、及び抵抗Ｒと
コンデンサＣによる単安定マルチバイブレータ２６によ
り構成される。

【００１６】次に動作について説明する。（１）中性子束検出器１内で発生したパルス信号は前置
増幅器２により増幅され、波高選別回路３により電圧信
号に対してノイズと中性子束信号を波高値により選別す
る（図３（ａ）（ｂ））。（２）波高選別回路３からの選別パルス信号は基準クロ
ック２１により動作するカウンタ２２のカウント許可信
号として入力され、カウンタ２２は一定カウント（停止
値Ｎａカウント）後停止する（図３（ｃ））。

【００１７】（３）カウンタ２２のカウント値はデコー
ダ２３に入力され、デコーダ２３はカウント値が設定値
Ｎ１（カウント開始から設定時間ｔ１経過）になると、
デコーダ２３はクロックパルス幅のデコーダ出力を送出
し、Ｊ−Ｋフリップフロップ２４をセット状態（Ｌから
Ｈ）にする（図３（ｄ）（ｅ）（ｆ））。

【００１８】（４）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４がセッ
ト状態（Ｈ）で、図３（ｂ）の波高選別パルス信号がな
くなる（ＨからＬ）と、Ｄフリップフロップ２５は出力
（ＬからＨ）し、単安定マルチバイブレータ２６にトリ
ガ信号を印加する（図３（ｆ）（ｇ））。また、この
時、図３（ｂ）の波高選別パルス信号がなくなる（Ｈか
らＬ）と、Ｊ−Ｋフリップフロップ２４はリセット（Ｈ
からＬ）される。

【００１９】（５）単安定マルチバイブレータ２６はこ
のトリガ信号で出力パルス幅Ｔのパルスを発生する（図
３（ｈ））。（６）Ｄフリップフロップ２５は単安定マルチバイブレ
ータ２６からのＣＬＲ端子への入力によりリセットさ
れ、初期状態に戻る。（７）なお、パルス幅がｔ１に達しないパルス（図３の
中性子束以外のノイズの場合）は設定値Ｎ１までカウン
トしないので、デコーダ２３から出力されず、図３
（ｅ）以下の波形は出力されない。

【００２０】以上のようにこの実施の形態１は、波高選
別回路３の出力が設定時間ｔ１以上継続しなければ、波
形処理回路１１からパルス信号が出力されないので、前
置増幅器２によるホワイト雑音等のノイズによる誤動作
を防止でき、信頼性の高い装置を得ることができる。

【００２１】実施の形態２．上記実施の形態１では、所
定の波高選別レベル以上の信号が設定時間ｔ１以上継続
したときに計数用パルスを出力する場合について述べた
が、この実施の形態２では、所定の波高選別レベル以上
の信号で、その信号が設定時間の範囲内継続したときに
計数用パルスを出力するようにしたものである。

【００２２】図４はこの発明の実施の形態２による中性
子束計測システムの波形処理回路の回路図であり、図５
は波形処理のタイムチャートである。図４において、デ
コーダ２３からカウンタ２２のカウント値が二つの設定
値にそれぞれ達すると、その出力をＪ−Ｋフリップフロ
ップ２４のＪ端子とＫ端子に入力している。

【００２３】外来ノイズ等の中性子束以外の大きなノイ
ズが中性子束計測システム内に侵入した場合の動作を図
５と共に説明する。（１）中性子束を検出したよりも幅の広いノイズが入る
と（図５（ａ））、波高選別回路３ａからパルス幅の大
きいパルスが出力される（図５（ｂ））。（２）カウンタ２２は動作を開始し（図５（ｃ））、デ
コーダ２３はカウンタ２２のカウントが設定値Ｎ１にな
ると出力し、更に設定値Ｎ２になると出力する（図５
（ｄ）（ｅ））。つまり、二つの設定値Ｎ１，Ｎ２によ
り、設定時間ｔ１とｔ２が設定され、従ってｔ３が設定
される。

【００２４】（３）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４は、Ｃ
ＬＲ端子がＨであるので、デコーダ２３の二つのパルス
により、ｔ３時間のパルス幅のパルスを出力する（図５
（ｆ））。（４）Ｄフリップフロップ２５はＪ−Ｋフリップフロッ
プ２４からの出力があってもＣ端子入力（図５（ｂ））
がＨのまま変化しないので、出力しない（図５
（ｇ））。また、Ｃ端子入力が「ＨからＬ」になって
も、その時はＤ端子入力（図５（ｆ））はＬなので出力
しない。

【００２５】上記のように、ｔ２を超えるパルス幅のパ
ルスはノイズと見なして誤計数を無くすることができ
る。また、ｔ１以下のパルス幅のパルスは、実施の形態
１でのｔ１以下のパルス幅の場合と同様に、ノイズと見
なして計数用の出力をしない。そしてｔ１＜パルス幅＜
ｔ２のパルスであれば、実施の形態１の図３のｔ１＜パ
ルス幅のケースと同様であり、計数用のパルスを出力す
る。

【００２６】以上のようにこの実施の形態２によれば、
波高選別レベル以上の信号で、且つ、設定時間ｔ１以上
ｔ２以下のパルス幅の信号である場合、計数用信号を出
力するようにしたので、前置増幅器によるホワイト雑音
や外部電気回路に起因するノイズ等による誤計数を防止
できる。

【００２７】実施の形態３．上記実施の形態１では、所
定の波高選別レベル以上の信号が設定時間ｔ１以上継続
したときに計数用パルスを出力する場合について述べた
が、この実施の形態３では、高低二つの波高選別レベル
の範囲内にある信号で、その信号が設定時間以上継続し
たときに計数用パルスを出力するようにしたものであ
る。

【００２８】図６はこの発明の実施の形態４による中性
子束計測システムのブロック図であり、図７はこの発明
の実施の形態４の中性子束計測システムの波形処理回路
の回路図であり、図８は波形処理のタイムチャートであ
る。図６の構成に示すように、波高選別レベルの低い波
高選別回路３ａと波高選別レベルの高い波高選別回路３
ｂとを備えている。そして、図７の波形処理回路１１は
波高選別回路３ａからの出力が「入力Ｌ」として、波高
選別回路３ｂからの出力が「入力Ｈ」として入力され
る。

【００２９】次に動作を図８と共に説明する。（１）まず、ｔ１を設定する。ｔ１は実施の形態１と同
様に前置増幅器からの雑音、ホワイトノイズと中性子束
の信号とを区別するように設定しておく（図８（ｂ）
（ｄ））。（２）中性子束以外の幅が広くて波高の高いノイズが入
ると（図８（ａ））、波高選別回路３ａ，３ｂで波高選
別される（図８（ｂ）（ｃ））。

【００３０】（３）図８（ｂ）の波高選別出力（Ｌ）に
対応して、カウンタ２２とデコーダ２３が動作し、図８
では不図示であるが、その動作は図３（ｃ）（ｄ）と同
一動作である。そしてデコーダ２３が出力する（図８
（ｄ））。（４）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４はデコーダ２２から
の出力をＪ端子入力とし、Ｋ端子には「入力Ｈ」とし、
両者ともＨになるので反転出力Ｈを送出する（図８
（ｅ））。（５）次にデコーダ出力がＨからＬになると、Ｊ−Ｋフ
リップフロップ２４は反転して出力がＨからＬとなる
（図８（ｅ））。

【００３１】（６）Ｄフリップフロップ２５は、Ｊ−Ｋ
フリップフロップ２４からの出力があってもＣ端子入力
（図８（ｂ））がＨのまま変化しないので、出力しない
（図８（ｆ））。また、Ｃ端子入力が「ＨからＬ」にな
っても、その時はＤ端子入力（図８（ｅ））はＬなので
出力しない。

【００３２】上記のように、波高選別レベル（Ｈ）を超
えるパルス幅のパルスはノイズと見なして誤計数を無く
することができる。また、ｔ１以下のパルス幅のパルス
は、実施の形態１でのｔ１以下のパルス幅の場合と同様
に、ノイズと見なして計数用の出力をしない。そして波
高選別レベルがＬとＨとの間の信号で、パルス幅がｔ１
以上であれば、計数用のパルスを出力する。

【００３３】以上のようにこの実施の形態３によれば、
所定の範囲内にある波高レベルの信号のみ選別し、その
信号の幅が設定時間ｔ１以上であると、計数用の出力を
送出するようにしたので、外部電気回路に起因するノイ
ズ等の大きなノイズに対して誤計数を防止できる。

【００３４】実施の形態４．上記実施の形態１では、所
定の波高選別レベル以上の信号が設定時間ｔ１以上継続
したときに計数用パルスを出力する場合について述べた
が、この実施の形態４では、高低二つの波高選別レベル
の範囲内にある信号で、その信号の幅が二つの設定時間
の範囲内にあるときに計数用パルスを出力するようにし
たものである。即ち実施の形態２と実施の形態３とを組
み合わせたものである。

【００３５】図９はこの発明の実施の形態４による中性
子束計測システムの波形処理回路の回路図であり、図１
０は波形処理のタイムチャートである。なお、中性子束
計測システムの構成図は実施の形態３の図６と同一であ
るので省略するが、図６のように波高選別レベルの低い
波高選別回路３ａと波高選別レベルの高い波高選別回路
３ｂとを備えている。

【００３６】図９の波形処理回路は、波高選別回路３ａ
からの出力が「入力Ｌ」として、波高選別回路３ｂから
の出力が「入力Ｈ」として入力される。また、デコーダ
２３からカウンタ２２のカウント値が二つの設定値（Ｎ
１，Ｎ２）にそれぞれ達すると、その出力をＪ−Ｋフリ
ップフロップ２４のＪ端子とＫ端子に入力している。２
７はＮＯＴ回路、２８はＡＮＤ回路である。

【００３７】外来ノイズ等の中性子束以外の大きなノイ
ズが中性子束計測システム内に侵入した場合の動作を図
１０と共に説明する。（１）中性子束を検出したよりも幅の広いノイズが入る
と（図１０（ａ））、波高選別回路３ａからパルス幅の
大きいパルスが出力される（図１０（ｂ））。（２）カウンタ２２とデコーダ２３が動作し、図１０で
は不図示であるが、その動作は図５（ｃ）（ｄ）と同一
動作である。即ち、図５（ｃ）（ｄ）のようにデコーダ
２３はカウンタ２２のカウントが設定値Ｎ１になると出
力し、更に設定値Ｎ２になると出力する（図１０
（ｅ））。つまり、二つの設定値Ｎ１，Ｎ２により、設
定時間ｔ１とｔ２が得られ、その結果ｔ３時間が得られ
る。ｔ２時間は、「ｔ２＜Ｔ２＋ｔａ」になるよう設定
され、ｔ１は実施の形態１と同様にホワイトノイズと中
性子束の信号とを区別するよう設定する。

【００３８】（３）一方、ＡＮＤ回路２７とＮＯＴ回路
２８で構成する論理回路は、入力に応じて次のようにな
る。選別レベルＬ以下のとき、ＬとＨの間のとき、Ｈ以上のときＮＯＴ出力ＨＨＬＡＮＤ出力ＬＨＬ図１０（ｄ）はＨ以上のときの波形図である。

【００３９】（４）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４は、Ｃ
ＬＲ端子がＬであるので、デコーダ２３の二つのパルス
がそれぞれ入力されても出力しない。（図１０
（ｆ））。（５）従って、Ｄフリップフロップ２５も動作せず出力
しない（図１０（ｇ））。また、Ｃ端子入力が「Ｈから
Ｌ」になっても、Ｄ端子入力（図１０（ｆ））はＬなの
で出力しない。

【００４０】（６）次に、波高選別レベルがＨとＬとの
間にある場合は、「入力Ｈ」がなく、「入力Ｌ」のみ入
力される。従って、ＡＮＤ回路の出力はＨとなり、Ｊ−
Ｋフリップフロップ２４はＪ，Ｋ端子の入力に応じて動
作する状態となる。（７）この状態でＪ端子入力（ｔ１でのデコーダ出力）
があると、出力し、Ｄフリップフロップ２５も出力す
る。この波形は図３（ｅ）（ｆ）（ｇ）（ｈ）と同様に
なり、中性子束と見なして計数出力を送出する。（８）上記（６）の状態で、信号の波形の幅がｔ１以下
またはｔ２以上の場合は、実施の形態２で説明したよう
に計数出力は発生しない。

【００４１】以上のようにこの実施の形態４によれば、
実施の形態２と実施の形態３とを組み合わせることによ
り、所定の範囲内にある波高レベルの信号のみ選別し、
その信号の幅が設定時間ｔ１以上ｔ２以下の信号である
場合、計数用信号を出力するようにしたので、前置増幅
器によるホワイト雑音や外部電気回路に起因するノイズ
等による誤計数を防止できる。

【００４２】実施の形態５．この実施の形態５は計数用
パルス信号を出力する単安定マルチバイプレータの代わ
りにカウンタを使用するものである。抵抗Ｒとコンデン
サＣによる単安定マルチバイブレータは、経済的に安価
であるが使用環境によりパルス幅の変動範囲が広いとい
う問題があるが、カウンタを使用することでパルス幅の
変動範囲を小さくすることができる。

【００４３】図１１はこの発明の実施の形態５による波
形処理回路の回路図で、２９はカウンタである。図１２
は波形のタイムチャートである。

【００４４】次に動作を図１２と共に説明する。（１）図１２（ａ）〜（ｃ）までは、実施の形態１の図
３（ａ）〜（ｆ）の動作と同一である。（２）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４がセット状態（Ｈ）
で、図１２（ｂ）の波高選別パルス信号がなくなる（Ｈ
からＬ）と、Ｄフリップフロップ２５は出力（Ｌから
Ｈ）する（図１２（ｃ）（ｄ））。また、この時、図１
２（ｂ）の波高選別パルス信号がなくなる（ＨからＬ）
と、Ｊ−Ｋフリップフロップ２４はリセット（Ｈから
Ｌ）される。

【００４５】（３）Ｄフリップフロップ２５の出力と同
時にカウンタ２６が始動し（図１２（ｅ））、カウンタ
２６から出力される（図１２（ｆ））。（４）カウンタ２６のカウント値が設定値Ｎ３に達する
と、カウントを停止し、出力も停止する（図１２（ｅ）
（ｆ））。（５）Ｄフリップフロップ２５は、カウンタ２６からの
リセット信号がＣＬＲ端子に入力され、リセットされ初
期状態に戻る。このようにしてカウンタ出力が計数用パ
ルスとして送出され、計数される。

【００４６】以上のようにこの実施の形態５は、計数用
の出力パルスの幅を正確に、また、設定値により任意の
パルス幅にすることができ、温度変化等の環境変化によ
るパルス幅の変動を少なくすることができる。なお、実
施の形態２〜４の図４、図７、図９についても単安定マ
ルチバイプレータの代わりにカウンタを適用できる。

【００４７】実施の形態６．この実施の形態６はノイズ
を感知した場合に通報するようにしたものである。図１
３はノイズによる警報出力を得るための波形処理回路の
回路図であり、実施の形態２の図４に警報用Ｄフリップ
フロップ３０を追加したものである。図１５はノイズが
入力された場合の波形処理のタイミングチャートで、図
１６は中性子束の検出信号が入力された場合の波形処理
のタイミングチャートである。

【００４８】次にノイズが入力された場合の動作につい
て図１４と共に説明する。（１）図１４（ａ）（ｂ）（ｃ）は、実施の形態１の図
３（ａ）〜（ｆ）の動作と同一であるので、説明は省略
する。（２）Ｊ−Ｋフリップフロップ２４の出力がＨからＬに
なると、警報用Ｄフリップフロップ３０は警報信号を出
力する（図１４（ｄ））。

【００４９】次に中性子束の検出信号が入力された場合
の動作について図１５と共に説明する。（１）図１５の（ａ）〜（ｆ）の波形の処理は、実施の
形態１の図３（ａ）〜（ｆ）の波形の処理と同一であ
り、説明を省略する。（２）警報用Ｄフリップフロップ３０は、Ｊ−Ｋフリッ
プフロップ２４の「ＨからＬ」の出力がＣ端子に入力さ
れ駆動されるが、波高弁別回路出力が「ＨからＬ」にな
り、ＣＬＲ端子に入力されるのでクリアされ非常に短い
パルス信号しか出力されないので、警報信号として出力
しない（図１５（ｇ））。このようにして中性子束の信
号より幅の広いノイズが入力された場合は、通報するこ
とができる。

【００５０】以上のようにこの実施の形態６は、ノイズ
を報知するにより外部電気回路に起因する等のノイズ源
を特定することができ、ノイズ対策の早期に実施が可能
となり、システムの信頼性も向上できる。

【００５１】実施の形態７．この実施の形態７は実施の
形態３に警報出力を追加したものである。図１６は実施
の形態７の波形処理回路であり、波高選別レベル（Ｈ）
を超える波高値の信号「入力Ｈ」が入力されたときは、
ノイズと見なして「入力Ｈ」の信号を警報出力として送
出する。以上のようにこの実施の形態７は実施の形態６
と同様の効果を奏する。

【００５２】実施の形態８．この実施の形態８は実施の
形態４に警報出力を追加したものである。図１７は実施
の形態８の波形処理回路であり、波高選別レベル（Ｈ）
を超える波高値の信号「入力Ｈ」が入力されたときは、
ノイズと見なして「入力Ｈ」の信号を警報出力として送
出する。以上のようにこの実施の形態８は実施の形態６
と同様の効果を奏する。

【００５３】実施の形態９．上記各実施の形態では中性
子束の信号を計数するシステムについて説明したが、中
性子束以外の放射線の信号を計数するようにしてもよ
い。

【００５４】

【発明の効果】以上のようにこの発明の放射線計測シス
テムによれば、放射線による信号とノイズによる信号と
を判別するようにしたので、正確な計測ができ誤計数を
防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態１による中性子束計測
システムのブロック図である。

【図２】この発明の実施の形態１による波形処理回路
の回路図である。

【図３】この発明の実施の形態１による波形の処理を
示すタイミングチャートである。

【図４】この発明の実施の形態２による波形処理回路
の回路図である。

【図５】この発明の実施の形態２による波形の処理を
示すタイミングチャートである。

【図６】この発明の実施の形態３による中性子束計測
システムのブロック図である。

【図７】この発明の実施の形態３による波形処理回路
の回路図である。

【図８】この発明の実施の形態３による波形の処理を
示すタイミングチャートである。

【図９】この発明の実施の形態４による波形処理回路
の回路図である。

【図１０】この発明の実施の形態４による波形の処理
を示すタイミングチャートである。

【図１１】この発明の実施の形態５による波形処理回
路の回路図である。

【図１２】この発明の実施の形態５による波形の処理
を示すタイミングチャートである。

【図１３】この発明の実施の形態６による警報出力を
送出する波形処理回路の回路図である。

【図１４】この発明の実施の形態６による波形の処理
を示すタイミングチャートである。

【図１５】この発明の実施の形態６による波形の処理
を示すタイミングチャートである。

【図１６】この発明の実施の形態７による警報出力を
送出する波形処理回路の回路図である。

【図１７】この発明の実施の形態８による警報出力を
送出する波形処理回路の回路図である。

【図１８】従来の中性子束計測システムのブロック図
である。

【図１９】従来の波形の処理を示すタイミングチャー
トである。

【符号の説明】

１中性子束検出器２前置増幅器３，３ａ，３ｂ波高選別回路５計数回路６信号処理系１１波形処理回路２１基準クロック２２，２９カウ
ンタ２３デコーダ２４Ｊ−Ｋフリ
ップフロップ２５Ｄフリップフロップ２６単安定マル
チバイブレータ２７ＮＯＴ回路２８ＡＮＤ回路３０警報用Ｄフリップフロップ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】放射線検出器で検出したパルス信号を計
数して放射線を測定する放射線計測システムにおいて、
上記パルス信号が所定の波高値以上で、且つ、設定値以
上のパルス幅であると所定のパルスを出力して計数する
ようにしたことを特徴とする放射線計測システム。
【請求項２】放射線検出器で検出したパルス信号を計
数して放射線を測定する放射線計測システムにおいて、
上記パルス信号が所定の波高値以上で、且つ、設定した
範囲内のパルス幅であると所定のパルスを出力して計数
するようにしたことを特徴とする放射線計測システム。
【請求項３】放射線検出器で検出したパルス信号を計
数して放射線を測定する放射線計測システムにおいて、
上記パルス信号が所定の波高値の範囲内で、且つ、設定
値以上のパルス幅であると所定のパルスを出力して計数
するようにしたことを特徴とする放射線計測システム。
【請求項４】放射線検出器で検出したパルス信号を計
数して放射線を測定する放射線計測システムにおいて、
上記パルス信号が所定の波高値の範囲内で、且つ、設定
した範囲内のパルス幅であると所定のパルスを出力して
計数するようにしたことを特徴とする放射線計測システ
ム。
【請求項５】請求項２に記載の放射線計測システムに
おいて、パルス信号が所定の波高値以上で、且つ、設定
した範囲を超えるパルス幅であると、警報出力を送出す
るようにしたことを特徴とする放射線計測システム。
【請求項６】請求項３または請求項４に記載の放射線
計測システムにおいて、パルス信号が所定の波高値の範
囲を超えると、警報出力を送出するようにしたことを特
徴とする放射線計測システム。
【請求項７】請求項１〜６のいずれか１項に記載の放
射線計測システムにおいて、計数する所定のパルスを得
る手段として、カウント開始から所定のカウント値に達
するまでの期間のパルス幅のパルスを出力するカウンタ
を設け、上記カウンタに計数用の出力が入力されるとカ
ウントを開始し、上記パルス幅のパルスを出力するよう
にしたことを特徴とする放射線計測システム。