JP2001013434A - Scanning optical device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザービームプ
リンタ等に使用される走査光学装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning optical device used for a laser beam printer or the like.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図１０は従来例の走査光学装置の光学系
の平面図を示し、単一の点光源である半導体レーザー光
源１からのレーザー光は発散しながら射出され、コリメ
ータレンズ２を透過することにより発散光束から平行光
束に変換される。この光ビームはシリンドリカルレンズ
３を透過して、その一方向だけ収束作用を受けてポリゴ
ンミラー４上に線状に集光する。ポリゴンミラー４はス
キャナモータ６に固定されており、矢印ａ方向に高速で
回転している。そして、シリンドリカルレンズ３の近傍
のポリゴンミラー４との間に配置された開口絞り５を通
過することによってビーム形状が決められる。2. Description of the Related Art FIG. 10 shows a plan view of an optical system of a conventional scanning optical apparatus. A laser light from a semiconductor laser light source 1 which is a single point light source is emitted while diverging and transmitted through a collimator lens 2. As a result, the divergent light beam is converted into a parallel light beam. This light beam passes through the cylindrical lens 3 and is converged in one direction to converge linearly on the polygon mirror 4. The polygon mirror 4 is fixed to a scanner motor 6, and rotates at high speed in the direction of arrow a. The beam shape is determined by passing through an aperture stop 5 disposed between the cylindrical lens 3 and the polygon mirror 4 near the cylindrical lens 3.
【０００３】ポリゴンミラー４の反射面４ａで反射され
た光ビームは、スキャナモータ６の回転に伴って高速で
偏向走査される。ポリゴンミラー４により等角速度で偏
向走査された光ビームは、球面レンズ７、トーリックレ
ンズ８から構成されるｆθレンズを透過し、感光ドラム
９上に微小なスポット像を結像する。The light beam reflected by the reflection surface 4a of the polygon mirror 4 is deflected and scanned at a high speed as the scanner motor 6 rotates. The light beam deflected and scanned at a constant angular velocity by the polygon mirror 4 passes through an fθ lens including a spherical lens 7 and a toric lens 8, and forms a minute spot image on the photosensitive drum 9.
【０００４】このスポット像は感光体ドラム９上を矢印
ｂ方向に等速で繰り返し走査されるが、このときポリゴ
ンミラー４の反射面４ａに分割誤差があると、繰り返し
て走査情報を書き込むタイミングがずれることになる。
このために、各反射面４ａで偏向走査される先頭の画像
非有効部の光ビームＬを固定ミラー１０で反射し、集光
レンズ１１を介して、タイミング検知用センサ１２で検
知して補正を行っている。This spot image is repeatedly scanned on the photosensitive drum 9 in the direction of arrow b at a constant speed. At this time, if there is a division error on the reflection surface 4a of the polygon mirror 4, the timing at which the scanning information is written is repeated. Will shift.
For this purpose, the light beam L of the leading image ineffective portion, which is deflected and scanned by each reflection surface 4a, is reflected by the fixed mirror 10, detected by the timing detection sensor 12 via the condenser lens 11, and corrected. Is going.
【０００５】上述の各要素１〜８は光学箱１３に収納さ
れており、この光学箱１３に図示しない蓋が取り付けら
れて走査光学装置が完成する。そして、光学箱１３のレ
ーザープリンタ本体への取り付けは、通常では３〜４個
所の固定部においてねじ止め固定される。The above-mentioned components 1 to 8 are housed in an optical box 13, and a cover (not shown) is attached to the optical box 13 to complete a scanning optical device. The optical box 13 is attached to the laser printer main body by screwing at three or four fixing portions.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例の走査光学装置においては、開口絞り５で遮ぎられ
た光ビームが反射して、半導体レーザー光源１に戻るこ
とにより光量変動が発生し、半導体レーザー光源１の光
学性能が低下するという問題点がある。However, in the above-described conventional scanning optical device, the light beam blocked by the aperture stop 5 is reflected and returns to the semiconductor laser light source 1, so that the light amount fluctuates. There is a problem that the optical performance of the semiconductor laser light source 1 is reduced.
【０００７】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
光源部に反射光束が戻ることを防止することによって光
学性能を向上した走査光学装置を提供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems,
An object of the present invention is to provide a scanning optical device having improved optical performance by preventing a reflected light beam from returning to a light source unit.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る走査光学装置は、半導体レーザーを使用
した光源部と、該光源部からの光束を偏向する偏向器
と、前記光源部から出射した発散光を前記偏向器に集光
する第１のレンズと、前記偏向器で偏向した光束を所定
面上に集光する第２のレンズとを有する走査光学装置に
おいて、前記第１のレンズと前記偏向器の間の光路中に
絞りを配置し、該絞りを形成する面を前記光源部からの
光束の光軸に対して非垂直方向に配置したことを特徴と
する。According to the present invention, there is provided a scanning optical apparatus, comprising: a light source unit using a semiconductor laser; a deflector for deflecting a light beam from the light source unit; A scanning optical device, comprising: a first lens for converging divergent light emitted from the deflector on the deflector; and a second lens for condensing a light beam deflected by the deflector on a predetermined surface. A diaphragm is arranged in an optical path between a lens and the deflector, and a surface forming the diaphragm is arranged in a non-perpendicular direction to an optical axis of a light beam from the light source unit.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】本発明を図１〜図９に図示の実施
例に基づいて詳細に説明する。図１は第１の実施例の走
査光学装置の平面図を示し、走査光学装置は光学箱２０
に半導体レーザー光源２１が取り付けられ、この半導体
レーザー光源２１から発生する光束の光路に沿って、光
学箱２０内にはコリメータレンズ２２、シリンドリカル
レンズ２３、偏向反射面２４ａを有するポリゴンミラー
２４が配置され、ポリゴンミラー２４の駆動手段である
スキャナモータ２５、ｆθレンズ２６、反射鏡２７が配
置され、光学箱２０には半導体レーザー光源２１を駆動
するための回路基板２８が固定されている。また、光学
箱２０には、光ビームの照射位置調整のために、位置決
めピン２９、３０とそれぞれに対応する案内孔３１、３
２が設けられている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in FIGS. FIG. 1 is a plan view of a scanning optical device according to a first embodiment.
A semiconductor laser light source 21 is attached to the optical box 20, and a collimator lens 22, a cylindrical lens 23, and a polygon mirror 24 having a deflecting / reflecting surface 24a are arranged in the optical box 20 along the optical path of a light beam generated from the semiconductor laser light source 21. A scanner motor 25, an fθ lens 26, and a reflecting mirror 27, which are driving means for the polygon mirror 24, are arranged, and a circuit board 28 for driving the semiconductor laser light source 21 is fixed to the optical box 20. The optical box 20 has positioning pins 29 and 30 and corresponding guide holes 31 and 3 for adjusting the irradiation position of the light beam.
2 are provided.
【００１０】そして、図２に示すようにコリメータレン
ズ２２とシリンドリカルレンズ２３の間の光路上には、
絞り孔３３ａを有し光軸Ａに対して９０゜＋θの角度に
傾斜した面３３ｂを有する絞り３３が設けられている。As shown in FIG. 2, on the optical path between the collimator lens 22 and the cylindrical lens 23,
An aperture 33 having an aperture 33a and having a surface 33b inclined at an angle of 90 ° + θ with respect to the optical axis A is provided.
【００１１】半導体レーザー光源１からの光束はコリメ
ータレンズ２２により平行光束となり、シリンドリカル
レンズ２３によってポリゴンミラー２４の偏向反射面２
４ａに線状に集光する。偏向反射面２４ａで偏向反射さ
れた光束はｆθレンズ２６を介して反射鏡７に入射し、
反射鏡２７で反射されて図示しない感光体を照射する。
ここで、ｆθレンズ２６は偏向反射面２４ａで反射され
た光束が感光体上においてスポット像を形成するように
集光し、このスポット像の走査速度は等速に保持されて
いる。ポリゴンミラー２４の回転により、感光体上にお
いては光束による主走査が行われ、また感光体がその円
筒の軸線回りに回転駆動することによって副走査が行わ
れ、感光体の表面には静電潜像が形成される。A light beam from the semiconductor laser light source 1 is converted into a parallel light beam by a collimator lens 22, and is deflected by a cylindrical lens 23 to a deflecting and reflecting surface 2 of a polygon mirror 24.
The light is condensed linearly at 4a. The light beam deflected and reflected by the deflecting / reflecting surface 24a enters the reflecting mirror 7 via the fθ lens 26,
The light is reflected by the reflecting mirror 27 and irradiates a photosensitive member (not shown).
Here, the fθ lens condenses the light beam reflected by the deflecting / reflecting surface 24a so as to form a spot image on the photoconductor, and the scanning speed of the spot image is maintained at a constant speed. The rotation of the polygon mirror 24 causes main scanning by a light beam on the photoconductor, and performs sub-scanning by rotating the photoconductor around the axis of the cylinder. An image is formed.
【００１２】感光体の周辺には、感光体の表面を一様に
帯電するコロナ放電器、感光体の表面に形成される静電
潜像をトナー像に顕像化する顕像化装置、トナー像を記
録紙に転写する転写用コロナ放電器等が配置されてお
り、これらの働きによって半導体レーザー光源２１が発
生する光束に対応した記録情報が記録紙にプリントされ
る。A corona discharger for uniformly charging the surface of the photoreceptor, a visualizing device for visualizing an electrostatic latent image formed on the surface of the photoreceptor into a toner image, and a toner around the photoreceptor. A transfer corona discharger or the like for transferring an image to recording paper is provided, and by these operations, recording information corresponding to a light beam generated by the semiconductor laser light source 21 is printed on the recording paper.
【００１３】走査光学装置の照射位置調整は、光学箱２
０の位置決めピン２９、３０及びそれらの案内孔３１、
３２によって行われる。即ち、走査光学装置のｘ方向の
照射位置調整は、位置決めピン２９をｘ方向に沿って移
動することによってなされる。また、走査光学装置のα
方向の回転調整は、位置決めピン２９を中心に位置決め
ピン３０をα方向に沿って移動することによってなされ
る。The irradiation position of the scanning optical device is adjusted by the optical box 2.
0 positioning pins 29, 30 and their guide holes 31,
32. That is, the irradiation position of the scanning optical device in the x direction is adjusted by moving the positioning pin 29 along the x direction. Also, α of the scanning optical device
The rotation adjustment in the direction is performed by moving the positioning pin 30 about the positioning pin 29 along the α direction.
【００１４】また、コリメータレンズ２２とシリンドリ
カルレンズ２３の間に配置された絞り３３は、その直立
する面３３ｂの角度が９０゜の場合には、面３３ｂで反
射した光束が出射された光路と同じ軌跡で半導体レーザ
ー光源２１ヘ戻る戻り光となる。このために、半導体レ
ーザー光源２１の光量を制御する回路基板２８は光量を
誤検知して、誤った光量となる制御を行うことになる。
本実施例においては、図２に示すように絞り孔３３ａを
設けた面３３ｂに光軸Ａに対して角度θを付することに
よって、戻り光はＣに示すように反射して半導体レーザ
ー光源２１に戻らないようにしている。When the angle of the upright surface 33b is 90 °, the stop 33 disposed between the collimator lens 22 and the cylindrical lens 23 has the same optical path as the light beam reflected by the surface 33b. The return light returns to the semiconductor laser light source 21 along the locus. For this reason, the circuit board 28 that controls the light amount of the semiconductor laser light source 21 erroneously detects the light amount, and performs control that results in an erroneous light amount.
In the present embodiment, the return light is reflected as shown by C and the semiconductor laser light source 21 is formed by forming an angle θ with respect to the optical axis A on the surface 33b provided with the aperture 33a as shown in FIG. I try not to return to.
【００１５】ここで、図３に示すように絞り３３の中心
とコリメータレンズ２２との距離をＬ、コリメータレン
ズ２２の有効部の半径をｒとしたときに、絞り孔３３ａ
が形成された面３３ｂの傾きθをＬ・ｔａｎ２θ＞ｒに
すれば、絞り３３の面３３ｂで反射した光束はコリメー
タレンズ２２の有効部外に戻るので、戻り光Ｃが半導体
レーザー光源２１に入射することを確実に防止すること
ができる。Here, as shown in FIG. 3, when the distance between the center of the stop 33 and the collimator lens 22 is L, and the radius of the effective portion of the collimator lens 22 is r, the stop hole 33a
If the inclination .theta. Of the surface 33b on which is formed is L.tan2.theta.> R, the light beam reflected by the surface 33b of the diaphragm 33 returns outside the effective portion of the collimator lens 22, so that the return light C enters the semiconductor laser light source 21. Can be reliably prevented.
【００１６】図４は第１の実施例の変形例の断面図を示
し、シリンドリカルレンズ２３とポリゴンミラー２４の
間の光路上に絞り３３が設けられている。この場合も、
同様に面３３ｂの角度が９０゜であると、シリンドリカ
ルレンズ２３によって光束Ｂは副走査方向に収束するた
めに、副走査方向に出射された軌跡は戻る軌跡と異なる
が、主走査方向は同じ軌跡を辿って半導体レーザー光源
２１の方向に戻ることになる。従って、絞り３３に角度
θを付することによって、半導体レーザー光源２１から
出射された光束の軌跡と戻り光Ｃの軌跡を変えることが
でき、絞り３３の面３３ｂで反射した光束が、半導体レ
ーザー光源２１に戻らないようにすることができる。FIG. 4 is a sectional view of a modification of the first embodiment. A stop 33 is provided on the optical path between the cylindrical lens 23 and the polygon mirror 24. Again,
Similarly, if the angle of the surface 33b is 90 °, the light beam B converges in the sub-scanning direction by the cylindrical lens 23, so that the trajectory emitted in the sub-scanning direction is different from the returning trajectory, but the same trajectory is used in the main scanning direction. And returns to the direction of the semiconductor laser light source 21. Therefore, by giving the angle θ to the stop 33, the trajectory of the light beam emitted from the semiconductor laser light source 21 and the trajectory of the return light C can be changed, and the light beam reflected by the surface 33b of the stop 33 becomes the semiconductor laser light source. 21 can be prevented from returning.
【００１７】ここで図５、図６に示すように、絞り３３
の中心とシリンドリカルレンズ２３との距離をＬ１、絞
り３３の中心とコリメータレンズ２２との距離をＬ２、
シリンドリカルレンズ２３の副走査方向の高さをｈ、コ
リメータレンズ２２の有効部の半径をｒとしたときに、
絞り３３の面３３ｂの傾きθは、主走査方向に傾ける場
合にはＬ２・ｔａｎ２θ＞ｒとし、副走査方向に傾ける
場合はＬ１・ｔａｎ２θ＞ｈ／２とする。このようにす
れば、絞り３３の面３３ｂで反射した光束はコリメータ
レンズ２２の有効部外に戻るので、戻り光Ｃが半導体レ
ーザー光源２１に入射することを確実に防止することが
できる。Here, as shown in FIG. 5 and FIG.
L1 is the distance between the center of the lens and the cylindrical lens 23, L2 is the distance between the center of the diaphragm 33 and the collimator lens 22,
When the height of the cylindrical lens 23 in the sub-scanning direction is h and the radius of the effective portion of the collimator lens 22 is r,
The inclination θ of the surface 33b of the stop 33 is set to L2 · tan2θ> r when tilted in the main scanning direction, and L1 · tan2θ> h / 2 when tilted in the sub-scanning direction. In this way, the light beam reflected by the surface 33b of the stop 33 returns to the outside of the effective portion of the collimator lens 22, so that the return light C can be reliably prevented from entering the semiconductor laser light source 21.
【００１８】また、半導体レーザー光源２１から発散し
て出射される光束を略平行光にするコリメータレンズ２
２と、このコリメータレンズ２２から出射される光束の
内の副走査方向のみパワーを有するシリンドリカルレン
ズ２３によりアナモフィック光学系を形成し、このアナ
モフイツク光学系と偏向器２４の間に絞り３３を配置す
る場合も、半導体レーザー光源２１に光束が戻って光学
性能を劣化することを防止することができる。A collimator lens 2 for converting a light beam diverging and emitted from the semiconductor laser light source 21 into substantially parallel light.
2, an anamorphic optical system is formed by a cylindrical lens 23 having power only in the sub-scanning direction of the light beam emitted from the collimator lens 22, and a stop 33 is arranged between the anamorphic optical system and the deflector 24. Also, it is possible to prevent the light flux from returning to the semiconductor laser light source 21 and deteriorating the optical performance.
【００１９】図７は第２の実施例の絞り３３の斜視図を
示し、絞り３３の絞り孔３２ａを有する面３３ｂは光源
側だけに角度θの傾きが付されている。このようにする
ことで、絞り３３に樹脂成形品を使用した場合に、絞り
孔３２ａの部分の強度を上げることができ、更に成形型
のアンダーカットを無くすことができるので、型構造を
簡素化することができる。FIG. 7 is a perspective view of the stop 33 of the second embodiment, and the surface 33b of the stop 33 having the stop hole 32a is inclined at an angle θ only on the light source side. In this way, when a resin molded product is used for the throttle 33, the strength of the portion of the throttle hole 32a can be increased, and the undercut of the mold can be eliminated, so that the mold structure can be simplified. can do.
【００２０】図８は複数の光源を有する半導体レーザー
光源２１の場合の第３の実施例の断面図、図９は平面図
を示している。２つの光源を有する光学系では、光ビー
ムＢ１、Ｂ２は一定の角度を持って出射されるので、こ
れらの光ビームＢ１、Ｂ２の位置はポリゴンミラー２４
の反射面２４ａ上で大きくずれてしまうことになる。こ
のために、絞り３３を可能な限りポリゴンミラー２４の
近傍に配置し、光ビームＢ１、Ｂ２の位置ずれを補正し
て光学性能を確保する必要がある。FIG. 8 is a sectional view of a third embodiment in the case of a semiconductor laser light source 21 having a plurality of light sources, and FIG. 9 is a plan view. In an optical system having two light sources, the light beams B1 and B2 are emitted at a certain angle, and the positions of these light beams B1 and B2 are determined by the polygon mirror 24.
Is largely shifted on the reflection surface 24a. For this purpose, it is necessary to arrange the stop 33 as close as possible to the polygon mirror 24 and to correct the positional deviation of the light beams B1 and B2 to secure the optical performance.
【００２１】この場合も、絞り３３に傾きθを付するこ
とによって戻り光Ｃを防止することができるので、複数
の光ビームＢ１、Ｂ２を使用した場合でも、絞り３３の
配置位置を広くとることができ、設計の自由度を大きく
することが可能となる。In this case as well, the return light C can be prevented by giving the stop 33 an inclination θ, so that even if a plurality of light beams B1 and B2 are used, the position of the stop 33 should be widened. And the degree of freedom of design can be increased.
【００２２】[0022]
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る走査光
学装置は、光源部からの光束を偏向器に集光する第１の
レンズと偏向器との間の光路中に絞りを配置し、この絞
りを形成する面を光源部からの光束の光軸に対して非垂
直方向に配置したことにより、絞りで反射した光束が光
源部に戻って光学性能を損うことを確実に防止すること
ができる。As described above, in the scanning optical apparatus according to the present invention, the stop is arranged in the optical path between the first lens for condensing the light beam from the light source section to the deflector and the deflector. By arranging the surface forming the stop in a direction not perpendicular to the optical axis of the light beam from the light source unit, it is possible to reliably prevent the light beam reflected by the stop from returning to the light source unit and impairing the optical performance. Can be.
【図１】第１実施例の走査光学装置の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a scanning optical device according to a first embodiment.
【図２】断面図である。FIG. 2 is a sectional view.
【図３】光路説明の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an optical path.
【図４】変形例の断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a modification.
【図５】光路説明の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating an optical path.
【図６】平面図である。FIG. 6 is a plan view.
【図７】第２実施例の絞りの斜視図である。FIG. 7 is a perspective view of a diaphragm according to a second embodiment.
【図８】第３実施例の断面図である。FIG. 8 is a sectional view of a third embodiment.
【図９】平面図である。FIG. 9 is a plan view.
【図１０】従来例の走査光学装置の平面図である。FIG. 10 is a plan view of a conventional scanning optical device.
２０ 光学箱 ２１ 半導体レーザー光源 ２２ コリメータレンズ ２３ シリンドリカルレンズ ２４ ポリゴンミラー ２９、３０ 位置決めピン ３１、３２ 案内孔 ３３ 絞り ３３ａ 絞り孔 ３３ｂ 絞り面 Reference Signs List 20 optical box 21 semiconductor laser light source 22 collimator lens 23 cylindrical lens 24 polygon mirror 29, 30 positioning pin 31, 32 guide hole 33 stop 33a stop hole 33b stop surface
Claims (6)
光源部からの光束を偏向する偏向器と、前記光源部から
出射した発散光を前記偏向器に集光する第１のレンズ
と、前記偏向器で偏向した光束を所定面上に集光する第
２のレンズとを有する走査光学装置において、前記第１
のレンズと前記偏向器の間の光路中に絞りを配置し、該
絞りを形成する面を前記光源部からの光束の光軸に対し
て非垂直方向に配置したことを特徴とする走査光学装
置。A light source unit using a semiconductor laser; a deflector for deflecting a light beam from the light source unit; a first lens for converging divergent light emitted from the light source unit on the deflector; A scanning optical device having a second lens for condensing a light beam deflected by a deflector on a predetermined surface;
A scanning optical device, wherein a stop is arranged in an optical path between the lens and the deflector, and a surface forming the stop is arranged in a direction not perpendicular to an optical axis of a light beam from the light source unit. .
散して出射する光束を略平行光とするコリメータレンズ
と、該コリメータレンズから出射した光束の内副走査方
向のみにパワーを有するアナモフィック光学系とから成
り、該アナモフィック光学系と前記偏向器との間に前記
絞りを配置した請求項１に記載の走査光学装置。2. The collimator lens according to claim 1, wherein the first lens has a light beam diverging from the light source unit and emitted substantially parallel light, and an anamorphic lens having power only in a sub-scanning direction of the light beam emitted from the collimator lens. 2. The scanning optical device according to claim 1, further comprising an optical system, wherein the stop is arranged between the anamorphic optical system and the deflector.
を非垂直方向に配置した請求項１又は２に記載の走査光
学装置。3. The scanning optical device according to claim 1, wherein only a side surface of the light source unit on which the stop is formed is arranged in a non-vertical direction.
１〜３の何れか１つの請求項に記載の走査光学装置。4. The scanning optical device according to claim 1, wherein the light source unit has a plurality of light sources.
レンズとの距離をＬ、該レンズの有効部の半径をｒとし
たときに、前記絞りを形成する面の傾きθをＬ・ｔａｎ
２θ＞ｒとした請求項１、３、４の何れか１つの請求項
に記載の走査光学装置。5. When the distance between the center of the stop and the lens closest to the light source unit is L, and the radius of the effective portion of the lens is r, the inclination θ of the surface forming the stop is L · tan.
The scanning optical device according to claim 1, wherein 2θ> r.
学系との距離をＬ１、前記絞りの中心と前記コリメータ
レンズとの距離をＬ２、前記アナモフィック光学系の副
走査方向の高さをｈ、前記コリメータレンズの有効部の
半径をｒとしたときに、前記絞りを形成する面の傾きθ
を、副走査方向の場合はＬ２・ｔａｎ２θ＞ｒとし、主
走査方向の場合はＬ１・ｔａｎ２θ＞ｈ／２とした請求
項２〜４の何れか１つの請求項に記載の走査光学装置。6. The distance between the center of the stop and the anamorphic optical system is L1, the distance between the center of the stop and the collimator lens is L2, the height of the anamorphic optical system in the sub-scanning direction is h, When the radius of the effective portion of the lens is r, the inclination θ of the surface forming the stop
The scanning optical device according to any one of claims 2 to 4, wherein L2 · tan2θ> r in the sub-scanning direction and L1 · tan2θ> h / 2 in the main scanning direction.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18700199A JP2001013434A (en) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | Scanning optical device |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18700199A JP2001013434A (en) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | Scanning optical device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001013434A true JP2001013434A (en) | 2001-01-19 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18700199A Pending JP2001013434A (en) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | Scanning optical device |
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| Country | Link |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006259574A (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Ricoh Co Ltd | Optical scanner and image forming apparatus |
| EP2657781A2 (en) | 2012-04-26 | 2013-10-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
-
1999
- 1999-06-30 JP JP18700199A patent/JP2001013434A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006259574A (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Ricoh Co Ltd | Optical scanner and image forming apparatus |
| EP2657781A2 (en) | 2012-04-26 | 2013-10-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
| US9551954B2 (en) | 2012-04-26 | 2017-01-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
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