JP2001008297A - Interface device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、サウンドを入出
力するインタフェース装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interface device for inputting and outputting sound.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図９は例えば特開昭６１−９８０４６号
公報に示された従来のインタフェース装置を試験する試
験方式を示す構成図であり、図において、１はサウンド
を入出力するインタフェース装置、２はインタフェース
装置１を試験する際、インタフェース回線Ａを介してイ
ンタフェース装置１と接続される試験用外部機器、３は
インタフェース装置１を試験する際、インタフェース回
線Ｂを介してインタフェース装置１と接続される試験用
外部機器、４は試験用外部機器２と試験用外部機器３を
接続して折返しループを構築する折返し手段である。2. Description of the Related Art FIG. 9 is a block diagram showing a test system for testing a conventional interface device disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-98046. Reference numeral 2 denotes a test external device connected to the interface device 1 via the interface line A when the interface device 1 is tested, and reference numeral 3 denotes a device connected to the interface device 1 via the interface line B when the interface device 1 is tested. The external test device 4 is a return unit that connects the external test device 2 and the external test device 3 to form a return loop.
【０００３】次に動作について説明する。インタフェー
ス装置１はサウンドを入出力するものであるが、インタ
フェース装置１の動作を試験する場合、図９に示すよう
に、インタフェース装置１の外部に試験用外部機器２，
３を接続するとともに、折返し手段４を用いて折返しル
ープを構築する。Next, the operation will be described. The interface device 1 is for inputting and outputting sound. When testing the operation of the interface device 1, as shown in FIG.
3 is connected, and a return loop is constructed using the return means 4.
【０００４】そして、インタフェース装置１は、折返し
ループが構築されると、試験信号をインタフェース回線
Ａに出力する。これにより、その試験信号は、インタフ
ェース回線Ａ，試験用外部機器２，折返し手段４，試験
用外部機器３，インタフェース回線Ｂを通じて、インタ
フェース装置１に伝達される。[0004] When the loopback loop is constructed, the interface device 1 outputs a test signal to the interface line A. As a result, the test signal is transmitted to the interface device 1 through the interface line A, the test external device 2, the return unit 4, the test external device 3, and the interface line B.
【０００５】そして、インタフェース装置１は、インタ
フェース回線Ａに出力した試験信号とインタフェース回
線Ｂから入力した試験信号を照合し、一致すれば動作が
正常であると認定し、一致しなければ動作が異常である
と認定する。The interface device 1 collates the test signal output to the interface line A with the test signal input to the interface line B. If the test signals match, the operation is determined to be normal. If not, the operation is abnormal. Certify that
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来のインタフェース
装置は以上のように構成されているので、外部に試験用
外部機器２，３を接続して折返しループを構築すれば、
動作試験を実施することができるが、試験用外部機器
２，３を接続して折返しループを構築するには、相当の
時間と試験機材が必要であるため、試験環境の構築に要
する試験コストが極めて高くなる課題があった。また、
製品稼働時には外部に試験用外部機器２，３を接続して
折返しループを構築することができないため、オンライ
ンで製品故障を診断することができない課題もあった。Since the conventional interface device is configured as described above, if the external test devices 2 and 3 are connected to the outside to form a return loop,
Although an operation test can be performed, a considerable amount of time and test equipment are required to connect the external test devices 2 and 3 and construct a loopback. There was an extremely high problem. Also,
During the operation of the product, it is not possible to connect the external test devices 2 and 3 to the outside to form a loopback, so that there is a problem that the product failure cannot be diagnosed online.
【０００７】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、試験用機器の外部接続を不要にし
て、試験環境の構築に要する試験コストの低減を図るこ
とができるとともに、オンラインで製品故障を診断する
ことができるインタフェース装置を得ることを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and can eliminate the need for external connection of test equipment, reduce the test cost required for constructing a test environment, and realize an on-line system. An object of the present invention is to obtain an interface device that can diagnose a product failure by using the interface device.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】この発明に係るインタフ
ェース装置は、試験信号発生手段が試験信号を出力する
際、サウンド出力ラインをサウンド入力ラインと接続す
る折返し手段を設けたものである。An interface device according to the present invention is provided with a fold-back means for connecting a sound output line to a sound input line when the test signal generating means outputs a test signal.
【０００９】この発明に係るインタフェース装置は、サ
ウンド入力ラインから入力した試験信号の信号レベルの
平均値を計算し、その平均値を期待値と比較して故障の
有無を判定するようにしたものである。An interface device according to the present invention calculates an average value of signal levels of test signals input from a sound input line, and compares the average value with an expected value to determine the presence or absence of a failure. is there.
【００１０】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段が試験信号として正弦波を出力すると、
サウンド入力ラインから１周期分の正弦波を入力するよ
うにしたものである。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a sine wave as a test signal,
A sine wave for one cycle is input from a sound input line.
【００１１】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段が試験信号として正弦波を出力すると、
サウンド入力ラインから入力した正弦波のサンプリング
点における角度を計算し、その角度を期待値と比較して
故障の有無を判定するようにしたものである。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a sine wave as a test signal,
An angle at a sampling point of a sine wave input from a sound input line is calculated, and the angle is compared with an expected value to determine whether there is a failure.
【００１２】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段がサウンド入力ラインを構成する信号増
幅手段の入力側に対して試験信号を出力すると、その信
号増幅手段の入力側及び出力側から試験信号を入力し
て、その試験信号の増幅率を計算し、その増幅率を期待
値と比較して信号増幅手段を診断するようにしたもので
ある。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound input line, the test signal is output from the input side and the output side of the signal amplifying means. Is input, the amplification factor of the test signal is calculated, and the amplification factor is compared with an expected value to diagnose the signal amplification means.
【００１３】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段がサウンド出力ラインを構成する信号増
幅手段の入力側に対して試験信号を出力すると、その信
号増幅手段の入力側及び出力側から試験信号を入力し
て、その試験信号の増幅率を計算し、その増幅率を期待
値と比較して信号増幅手段を診断するようにしたもので
ある。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound output line, the test signal is output from the input side and the output side of the signal amplifying means. Is input, the amplification factor of the test signal is calculated, and the amplification factor is compared with an expected value to diagnose the signal amplification means.
【００１４】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段がサウンド入力ラインを構成する信号増
幅手段の入力側に対して試験信号を出力すると、その信
号増幅手段から出力された試験信号の信号レベルを測定
し、その信号レベルを期待値と比較して信号増幅手段を
診断するようにしたものである。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound input line, the signal level of the test signal output from the signal amplifying means is provided. Is measured, and the signal level is compared with an expected value to diagnose the signal amplifying means.
【００１５】この発明に係るインタフェース装置は、試
験信号発生手段がサウンド出力ラインを構成する信号増
幅手段の入力側に対して試験信号を出力すると、その信
号増幅手段から出力された試験信号の信号レベルを測定
し、その信号レベルを期待値と比較して信号増幅手段を
診断するようにしたものである。In the interface device according to the present invention, when the test signal generating means outputs a test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound output line, the signal level of the test signal output from the signal amplifying means is provided. Is measured, and the signal level is compared with an expected value to diagnose the signal amplifying means.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１によるイ
ンタフェース装置を示す構成図であり、図において、１
１はサウンドの入力及び出力を制御するとともに、動作
試験を実施する際、スイッチ１９，２０を制御するホス
トプロセッサ（折返し手段）、１２はホストプロセッサ
１１が出力するデジタルのサウンド信号をアナログのサ
ウンド信号に変換するＤ／Ａ変換器、１３はＤ／Ａ変換
器１２により変換されたアナログのサウンド信号を増幅
する増幅器、１４は増幅器１３により増幅されたアナロ
グのサウンド信号を外部出力するための出力ラインであ
る。なお、Ｄ／Ａ変換器１２，増幅器１３及び出力ライ
ン１４からサウンド出力ラインが構成されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a configuration diagram showing an interface device according to Embodiment 1 of the present invention.
Reference numeral 1 denotes a host processor (return means) that controls switches 19 and 20 when performing an operation test while controlling the input and output of a sound, and 12 denotes a digital sound signal output from the host processor 11 as an analog sound signal. , An amplifier for amplifying the analog sound signal converted by the D / A converter 12, and 14 an output line for externally outputting the analog sound signal amplified by the amplifier 13. It is. Note that the D / A converter 12, the amplifier 13, and the output line 14 constitute a sound output line.
【００１７】１５は外部からアナログのサウンド信号を
入力するための入力ライン、１６は外部から入力された
アナログのサウンド信号を増幅する増幅器、１７は増幅
器１６により増幅されたアナログのサウンド信号をデジ
タルのサウンド信号に変換し、そのデジタルのサウンド
信号をホストプロセッサ１１に出力するＡ／Ｄ変換器で
ある。なお、入力ライン１５，増幅器１６及びＡ／Ｄ変
換器１７からサウンド入力ラインが構成されている。Reference numeral 15 denotes an input line for inputting an analog sound signal from the outside, 16 denotes an amplifier for amplifying an analog sound signal input from the outside, and 17 denotes a digital sound signal amplified by the amplifier 16. The A / D converter converts the sound signal into a sound signal and outputs the digital sound signal to the host processor 11. The input line 15, the amplifier 16, and the A / D converter 17 constitute a sound input line.
【００１８】１８は試験信号をＤ／Ａ変換器１２に出力
する試験信号発生器（試験信号発生手段）、１９は試験
信号発生器１８が試験信号を出力する際、ホストプロセ
ッサ１１の指示の下、試験信号発生器１８とＤ／Ａ変換
器１２を接続するスイッチ（試験信号発生手段）、２０
は試験信号発生器１８が試験信号を出力する際、ホスト
プロセッサ１１の指示の下、出力ライン１４と入力ライ
ン１５を接続するスイッチ（折返し手段）、２１はＡ／
Ｄ変換器１７により変換されたデジタルの試験信号を入
力して、その試験信号の信号レベルを検出し、その信号
レベルの平均値を計算する信号レベル検出器（故障判定
手段）、２２は信号レベル検出器２１により計算された
信号レベルの平均値を期待値と比較して故障の有無を判
定する合否判定器（故障判定手段）である。Reference numeral 18 denotes a test signal generator (test signal generating means) for outputting a test signal to the D / A converter 12, and 19 denotes a test signal generator which outputs a test signal when the test signal generator 18 outputs a test signal. Switch (test signal generating means) for connecting the test signal generator 18 and the D / A converter 12;
Is a switch (return means) for connecting the output line 14 and the input line 15 under the instruction of the host processor 11 when the test signal generator 18 outputs a test signal.
A digital test signal converted by the D converter 17 is input, a signal level detector (failure judging means) for detecting the signal level of the test signal, and calculating an average value of the signal level, and 22 is a signal level detector. A pass / fail decision unit (failure decision means) for comparing the average value of the signal levels calculated by the detector 21 with an expected value to determine the presence or absence of a failure.
【００１９】次に動作について説明する。通常稼働時
は、ホストプロセッサ１１がデジタルのサウンド信号を
Ｄ／Ａ変換器１２に出力し、Ｄ／Ａ変換器１２がデジタ
ルのサウンド信号をアナログのサウンド信号に変換した
後、増幅器１３がアナログのサウンド信号を増幅し、出
力ライン１４を通じて、アナログのサウンド信号を外部
に出力する。Next, the operation will be described. During normal operation, the host processor 11 outputs a digital sound signal to the D / A converter 12, and the D / A converter 12 converts the digital sound signal into an analog sound signal. It amplifies the sound signal and outputs an analog sound signal to the outside through the output line 14.
【００２０】一方、増幅器１６が外部から入力ライン１
５を通じて、アナログのサウンド信号を入力すると、そ
のアナログのサウンド信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換器１７
がそのアナログのサウンド信号をデジタルのサウンド信
号に変換した後、そのデジタルのサウンド信号をホスト
プロセッサ１１に出力する。On the other hand, the amplifier 16 is connected to the input line 1 from outside.
5, when the analog sound signal is input, the analog sound signal is amplified, and the A / D converter 17
Converts the analog sound signal into a digital sound signal, and then outputs the digital sound signal to the host processor 11.
【００２１】自己診断時は、ホストプロセッサ１１の指
示の下、スイッチ１９が試験信号発生器１８とＤ／Ａ変
換器１２を接続し、スイッチ２０が出力ライン１４と入
力ライン１５を接続することにより、インタフェース装
置内に試験信号の折返しループを構築する。At the time of self-diagnosis, a switch 19 connects the test signal generator 18 and the D / A converter 12 and a switch 20 connects the output line 14 and the input line 15 under the direction of the host processor 11. And constructing a loopback loop of the test signal in the interface device.
【００２２】試験信号発生器１８は、インタフェース装
置内に試験信号の折返しループが構築されると、ホスト
プロセッサ１１の指示の下、デジタルの試験信号をＤ／
Ａ変換器１２に出力する。これにより、Ｄ／Ａ変換器１
２がデジタルの試験信号をアナログの試験信号に変換
し、増幅器１３がアナログの試験信号を増幅するが、ス
イッチ２０により出力ライン１４と入力ライン１５が接
続されているので、そのアナログの試験信号は、出力ラ
イン１４とスイッチ２０と入力ライン１５を通じて、増
幅器１６に入力される。The test signal generator 18 converts the digital test signal into a D / D signal under the instruction of the host processor 11 when a loop for returning the test signal is established in the interface device.
Output to the A converter 12. Thereby, the D / A converter 1
2 converts the digital test signal to an analog test signal, and the amplifier 13 amplifies the analog test signal. Since the output line 14 and the input line 15 are connected by the switch 20, the analog test signal is , Through the output line 14, the switch 20, and the input line 15.
【００２３】増幅器１６は入力ライン１５からアナログ
の試験信号を入力すると、そのアナログの試験信号を増
幅し、Ａ／Ｄ変換器１７がそのアナログの試験信号をデ
ジタルの試験信号に変換する。そして、信号レベル検出
器２１は、Ａ／Ｄ変換器１７がアナログの試験信号をデ
ジタルの試験信号に変換すると、そのデジタルの試験信
号を複数回サンプリングする。When the analog test signal is input from the input line 15, the amplifier 16 amplifies the analog test signal, and the A / D converter 17 converts the analog test signal into a digital test signal. When the A / D converter 17 converts an analog test signal into a digital test signal, the signal level detector 21 samples the digital test signal a plurality of times.
【００２４】具体的には、図２に示すように、デジタル
の試験信号をｎ回サンプリングし、そのサンプリング時
における試験信号の信号レベルＶ１〜Ｖｎの絶対値を合
計し、その合計値をサンプリング回数ｎで除算すること
により、その信号レベルＶ１〜Ｖｎの平均値を計算す
る。More specifically, as shown in FIG. 2, the digital test signal is sampled n times, the absolute values of the signal levels V1 to Vn of the test signal at the time of the sampling are summed, and the total value is used as the number of times of sampling. By dividing by n, the average value of the signal levels V1 to Vn is calculated.
【００２５】そして、合否判定器２２は、信号レベル検
出器２１が信号レベルＶ１〜Ｖｎの平均値を計算する
と、その信号レベルＶ１〜Ｖｎの平均値が特定の幅を有
する期待値の範囲内にあるか否かを判定する。合否判定
器２２は、信号レベルＶ１〜Ｖｎの平均値が期待値の範
囲内にあれば、正常である旨をホストプロセッサ１１に
通知し、期待値の範囲を逸脱していれば、故障が発生し
ている旨をホストプロセッサ１１に通知する。When the signal level detector 21 calculates the average value of the signal levels V1 to Vn, the pass / fail judgment unit 22 determines that the average value of the signal levels V1 to Vn falls within an expected value range having a specific width. It is determined whether or not there is. If the average value of the signal levels V1 to Vn is within the range of the expected value, the pass / fail judgment unit 22 notifies the host processor 11 that the signal level is normal, and if the average value is out of the range of the expected value, a failure occurs. Notifying the host processor 11 of the execution.
【００２６】以上で明らかなように、この実施の形態１
によれば、試験信号発生器１８が試験信号を出力する
際、サウンド出力ラインをサウンド入力ラインと接続し
て、装置内に折返しループを構築するように構成したの
で、試験用機器を外部に接続することなく、動作試験を
実施することができるようになり、その結果、試験環境
の構築に要する試験コストの低減を図ることができると
ともに、オンラインで製品故障を診断することができる
効果を奏する。As is apparent from the above, the first embodiment
According to the configuration, when the test signal generator 18 outputs a test signal, the sound output line is connected to the sound input line to form a loop back in the apparatus, so that the test equipment is connected to the outside. The operation test can be performed without performing the test, and as a result, it is possible to reduce the test cost required for constructing the test environment and to diagnose the product failure online.
【００２７】実施の形態２．上記実施の形態１では、信
号レベル検出器２１が試験信号である正弦波をサンプリ
ングする際、その正弦波のサンプリング数に制限を設け
ていないが（図２の例では、約２周期分の正弦波をサン
プリングしている）、図３に示すように、１周期分の正
弦波をサンプリングするようにしてもよい。Embodiment 2 FIG. In the first embodiment, when the signal level detector 21 samples a sine wave that is a test signal, there is no limit on the number of sampling of the sine wave (in the example of FIG. Waves are sampled), and a sine wave for one cycle may be sampled as shown in FIG.
【００２８】このように、１周期分の正弦波をサンプリ
ングするようにすると、特定の周波数成分の劣化を検出
することができる効果を奏する。また、正弦波の１周期
毎に試験を実施することにより、定常的ではなく稀に発
生する異常についても検出することができる効果を奏す
る。Thus, sampling one cycle of a sine wave has the effect of detecting the deterioration of a specific frequency component. In addition, by performing the test for each cycle of the sine wave, it is possible to detect anomalies that occur rarely instead of being stationary.
【００２９】実施の形態３．上記実施の形態１では、試
験信号の信号レベルから故障の発生を検出するものにつ
いて示したが、試験信号発生器１８が試験信号として１
周期分の正弦波を出力すると、Ａ／Ｄ変換器１７から出
力された正弦波のサンプリング点における角度を積算
し、その角度の積算値を期待値と比較して故障の有無を
判定するようにしてもよい。Embodiment 3 In the first embodiment, the case where the occurrence of a failure is detected from the signal level of the test signal has been described.
When a sine wave for a period is output, the angle at the sampling point of the sine wave output from the A / D converter 17 is integrated, and the integrated value of the angle is compared with an expected value to determine the presence or absence of a failure. You may.
【００３０】具体的には、信号レベル検出器２１が入力
する試験信号、即ち、１周期分の正弦波と（図４の
（ａ）を参照）と、基準正弦波（図４の（ｂ）を参照）
が一致する場合、１周期分の正弦波における各サンプリ
ング点の角度の積算値は約２πになるので、角度の積算
値が２π近傍にある場合には正常であると判定し、角度
の積算値が２π近傍にない場合には異常であると判定す
る。これにより、周波数の異常を検出することができる
効果を奏する。More specifically, the test signal input to the signal level detector 21, that is, a sine wave for one cycle (see FIG. 4A) and a reference sine wave (FIG. 4B) See
Are equal to each other, the integrated value of the angle of each sampling point in one cycle of the sine wave is approximately 2π. Therefore, when the integrated value of the angle is close to 2π, it is determined that the angle is normal, and the integrated value of the angle is determined. Is not in the vicinity of 2π, it is determined to be abnormal. Thereby, there is an effect that the abnormality of the frequency can be detected.
【００３１】実施の形態４．図５はこの発明の実施の形
態４によるインタフェース装置を示す構成図であり、図
において、図１と同一符号は同一又は相当部分を示すの
で説明を省略する。３１は試験信号を入力ライン１５に
出力する試験信号発生器（試験信号発生手段）、３２は
試験信号発生器３１が試験信号を出力する際、ホストプ
ロセッサ１１の指示の下、試験信号発生器３１及び自己
診断器３３をサウンド入力ラインと接続するスイッチ
（試験信号発生手段）、３３は増幅器１６の入力側及び
出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増幅率
を計算し、その増幅率を期待値と比較して増幅器１６を
診断する自己診断器（診断手段）である。Embodiment 4 FIG. FIG. 5 is a configuration diagram showing an interface device according to Embodiment 4 of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same or corresponding parts, and a description thereof will be omitted. Reference numeral 31 denotes a test signal generator (test signal generating means) for outputting a test signal to the input line 15, and 32 denotes a test signal generator 31 under the instruction of the host processor 11 when the test signal generator 31 outputs a test signal. And a switch (test signal generating means) for connecting the self-diagnostic device 33 to the sound input line. This is a self-diagnosis device (diagnosis means) that diagnoses the amplifier 16 by comparing the rate with an expected value.
【００３２】次に動作について説明する。通常稼働時
は、増幅器１６が外部から入力ライン１５を通じて、ア
ナログのサウンド信号を入力すると、そのアナログのサ
ウンド信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換器１７がそのアナログ
のサウンド信号をデジタルのサウンド信号に変換した
後、そのデジタルのサウンド信号をホストプロセッサ１
１に出力する。Next, the operation will be described. During normal operation, when the amplifier 16 inputs an analog sound signal from the outside through the input line 15, the analog sound signal is amplified, and the A / D converter 17 converts the analog sound signal into a digital sound signal. After the conversion, the digital sound signal is transferred to the host processor 1
Output to 1.
【００３３】自己診断時は、ホストプロセッサ１１の指
示の下、スイッチ３２が試験信号発生器３１と入力ライ
ン１５を接続するとともに、増幅器１６と自己診断器３
３を接続する。試験信号発生器３１は、スイッチ３２が
試験信号発生器３１と入力ライン１５を接続すると、ホ
ストプロセッサ１１の指示の下、アナログの試験信号を
入力ライン１５に出力する。At the time of the self-diagnosis, the switch 32 connects the test signal generator 31 to the input line 15 under the instruction of the host processor 11, and the amplifier 16 and the self-diagnosis device 3
3 is connected. When the switch 32 connects the test signal generator 31 to the input line 15, the test signal generator 31 outputs an analog test signal to the input line 15 under the instruction of the host processor 11.
【００３４】自己診断器３３は、試験信号発生器３１が
試験信号を入力ライン１５に出力すると、増幅器１６の
入力側及び出力側から試験信号を入力して、増幅器１６
における試験信号の増幅率を計算する。そして、自己診
断器３３は、その増幅率が期待値の範囲内にあれば、増
幅器１６が正常である旨をホストプロセッサ１１に通知
し、期待値の範囲を逸脱していれば、増幅器１６に異常
がある旨をホストプロセッサ１１に通知する。When the test signal generator 31 outputs the test signal to the input line 15, the self-diagnosis device 33 inputs the test signal from the input side and the output side of the amplifier 16 and
Calculate the amplification factor of the test signal at. Then, the self-diagnosis unit 33 notifies the host processor 11 that the amplifier 16 is normal if the amplification factor is within the range of the expected value, and if the amplification factor is out of the range of the expected value, the self-diagnosis unit 33 The host processor 11 is notified that there is an abnormality.
【００３５】以上で明らかなように、この実施の形態４
によれば、試験信号発生器３１が入力ライン１５に対し
て試験信号を出力すると、その増幅器１６の入力側及び
出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増幅率
を計算し、その増幅率を期待値と比較して増幅器１６を
診断するように構成したので、試験用機器を外部に接続
することなく、増幅器１６を試験することができるよう
になり、その結果、試験環境の構築に要する試験コスト
の低減を図ることができるとともに、オンラインで増幅
器１６を診断することができる効果を奏する。As is apparent from the above, the fourth embodiment
According to the above, when the test signal generator 31 outputs a test signal to the input line 15, the test signal is input from the input side and the output side of the amplifier 16 and the amplification factor of the test signal is calculated. Since the amplifier 16 is configured to diagnose the amplifier 16 by comparing the amplification factor with an expected value, the amplifier 16 can be tested without connecting a test device to an external device. As a result, a test environment is constructed. In addition to the above, it is possible to reduce the test cost required for the measurement and to diagnose the amplifier 16 online.
【００３６】実施の形態５．図６はこの発明の実施の形
態５によるインタフェース装置を示す構成図であり、図
において、図１と同一符号は同一又は相当部分を示すの
で説明を省略する。４１は試験信号を増幅器１３の入力
側に出力する試験信号発生器（試験信号発生手段）、４
２は試験信号発生器４１が試験信号を出力する際、ホス
トプロセッサ１１の指示の下、試験信号発生器４１及び
自己診断器４３をサウンド出力ラインと接続するスイッ
チ（試験信号発生手段）、４３は増幅器１３の入力側及
び出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増幅
率を計算し、その増幅率を期待値と比較して増幅器１３
を診断する自己診断器（診断手段）である。Embodiment 5 FIG. 6 is a block diagram showing an interface device according to Embodiment 5 of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same or corresponding parts, and a description thereof will be omitted. Reference numeral 41 denotes a test signal generator (test signal generating means) for outputting a test signal to the input side of the amplifier 13;
Reference numeral 2 denotes a switch (test signal generating means) for connecting the test signal generator 41 and the self-diagnostic device 43 to a sound output line under the instruction of the host processor 11 when the test signal generator 41 outputs a test signal. A test signal is input from the input side and the output side of the amplifier 13, the amplification factor of the test signal is calculated, and the amplification factor is compared with an expected value to compare the amplification factor with the expected value.
Is a self-diagnosis device (diagnosis means) for diagnosing.
【００３７】次に動作について説明する。通常稼働時
は、ホストプロセッサ１１がデジタルのサウンド信号を
Ｄ／Ａ変換器１２に出力し、Ｄ／Ａ変換器１２がデジタ
ルのサウンド信号をアナログのサウンド信号に変換した
後、増幅器１３がアナログのサウンド信号を増幅し、出
力ライン１４を通じて、アナログのサウンド信号を外部
に出力する。Next, the operation will be described. During normal operation, the host processor 11 outputs a digital sound signal to the D / A converter 12, and the D / A converter 12 converts the digital sound signal into an analog sound signal. It amplifies the sound signal and outputs an analog sound signal to the outside through the output line 14.
【００３８】自己診断時は、ホストプロセッサ１１の指
示の下、スイッチ４２が試験信号発生器４１と増幅器１
３を接続するとともに、出力ライン１４と自己診断器４
３を接続する。試験信号発生器４１は、スイッチ４２が
試験信号発生器４１と増幅器１３を接続すると、ホスト
プロセッサ１１の指示の下、アナログの試験信号を増幅
器１３の入力側に出力する。At the time of the self-diagnosis, the switch 42 is connected to the test signal generator 41 and the amplifier 1 under the instruction of the host processor 11.
3 and the output line 14 and the self-diagnosis device 4
3 is connected. When the switch 42 connects the test signal generator 41 and the amplifier 13, the test signal generator 41 outputs an analog test signal to the input side of the amplifier 13 under the instruction of the host processor 11.
【００３９】自己診断器４３は、試験信号発生器４１が
試験信号を増幅器１３の入力側に出力すると、増幅器１
３の入力側及び出力側から試験信号を入力して、増幅器
１３における試験信号の増幅率を計算する。そして、自
己診断器４３は、その増幅率が期待値の範囲内にあれ
ば、増幅器１３が正常である旨をホストプロセッサ１１
に通知し、期待値の範囲を逸脱していれば、増幅器１３
に異常がある旨をホストプロセッサ１１に通知する。When the test signal generator 41 outputs a test signal to the input side of the amplifier 13, the self-diagnosis device 43
The test signal is input from the input side and the output side of No. 3 and the amplification factor of the test signal in the amplifier 13 is calculated. If the amplification factor is within the range of the expected value, the self-diagnosis device 43 notifies the host processor 11 that the amplifier 13 is normal.
And if the value is out of the range of the expected value, the amplifier 13
Is notified to the host processor 11 that there is an error.
【００４０】以上で明らかなように、この実施の形態５
によれば、試験信号発生器４１が増幅器１３の入力側に
対して試験信号を出力すると、その増幅器１３の入力側
及び出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増
幅率を計算し、その増幅率を期待値と比較して増幅器１
３を診断するように構成したので、試験用機器を外部に
接続することなく、増幅器１３を試験することができる
ようになり、その結果、試験環境の構築に要する試験コ
ストの低減を図ることができるとともに、オンラインで
増幅器１３を診断することができる効果を奏する。As is clear from the above, the fifth embodiment
According to the above, when the test signal generator 41 outputs a test signal to the input side of the amplifier 13, the test signal is input from the input side and the output side of the amplifier 13, and the amplification factor of the test signal is calculated. , Comparing the amplification factor with the expected value,
3, the amplifier 13 can be tested without connecting a test device to the outside, and as a result, the test cost required for constructing the test environment can be reduced. In addition to this, there is an effect that the amplifier 13 can be diagnosed online.
【００４１】実施の形態６．図７はこの発明の実施の形
態６によるインタフェース装置を示す構成図であり、図
において、図５と同一符号は同一又は相当部分を示すの
で説明を省略する。５１は増幅器１６から出力された試
験信号の信号レベルを測定するレベル測定器（レベル測
定手段）、５２はレベル測定器５１により測定された信
号レベルを期待値と比較して増幅器１６を診断する自己
診断器（診断手段）である。Embodiment 6 FIG. FIG. 7 is a block diagram showing an interface apparatus according to Embodiment 6 of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 5 denote the same or corresponding parts, and a description thereof will be omitted. 51 is a level measuring device (level measuring means) for measuring the signal level of the test signal output from the amplifier 16, and 52 is a self-diagnosis device for diagnosing the amplifier 16 by comparing the signal level measured by the level measuring device 51 with an expected value. It is a diagnostic device (diagnostic means).
【００４２】次に動作について説明する。上記実施の形
態４では、増幅器１６の入力側及び出力側から試験信号
を入力することにより、増幅器１６における試験信号の
増幅率を計算して増幅器１６を診断するものについて示
したが、増幅器１６から出力された試験信号の信号レベ
ルを測定し、その信号レベルを期待値と比較して増幅器
１６を診断するようにしてもよい。Next, the operation will be described. In the fourth embodiment, the case where the test signal is input from the input side and the output side of the amplifier 16 to calculate the amplification factor of the test signal in the amplifier 16 and diagnose the amplifier 16 has been described. The signal level of the output test signal may be measured, and the signal level may be compared with an expected value to diagnose the amplifier 16.
【００４３】具体的には、ホストプロセッサ１１の指示
の下、スイッチ３２が試験信号発生器３１と入力ライン
１５を接続するとともに、増幅器１６とレベル測定器５
１を接続する。試験信号発生器３１は、スイッチ３２が
試験信号発生器３１と入力ライン１５を接続すると、ホ
ストプロセッサ１１の指示の下、アナログの試験信号を
入力ライン１５に出力する。More specifically, under the direction of the host processor 11, the switch 32 connects the test signal generator 31 to the input line 15, while the amplifier 16 and the level measuring device 5
1 is connected. When the switch 32 connects the test signal generator 31 to the input line 15, the test signal generator 31 outputs an analog test signal to the input line 15 under the instruction of the host processor 11.
【００４４】レベル測定器５１は、試験信号発生器３１
が試験信号を入力ライン１５に出力すると、増幅器１６
の出力側から試験信号を入力して、その試験信号の信号
レベルを測定する。そして、自己診断器５２は、その試
験信号の信号レベルが期待値の範囲内にあれば、増幅器
１６が正常である旨をホストプロセッサ１１に通知し、
期待値の範囲を逸脱していれば、増幅器１６に異常があ
る旨をホストプロセッサ１１に通知する。The level measuring device 51 includes the test signal generator 31
Outputs the test signal to the input line 15, the amplifier 16
, A test signal is input from the output side, and the signal level of the test signal is measured. Then, if the signal level of the test signal is within the range of the expected value, the self-diagnostic device 52 notifies the host processor 11 that the amplifier 16 is normal,
If the value is out of the range of the expected value, the host processor 11 is notified that the amplifier 16 is abnormal.
【００４５】以上で明らかなように、この実施の形態６
によれば、試験信号発生器３１が入力ライン１５に対し
て試験信号を出力すると、その増幅器１６から出力され
た試験信号の信号レベルを測定し、その信号レベルを期
待値と比較して増幅器１６を診断するように構成したの
で、試験用機器を外部に接続することなく、増幅器１６
を試験することができるようになり、その結果、試験環
境の構築に要する試験コストの低減を図ることができる
とともに、オンラインで増幅器１６を診断することがで
きる効果を奏する。As is clear from the above, the sixth embodiment
According to the above, when the test signal generator 31 outputs a test signal to the input line 15, the signal level of the test signal output from the amplifier 16 is measured, and the signal level is compared with an expected value to compare the signal level with the expected value. Is diagnosed, the amplifier 16 can be connected without connecting the test equipment to the outside.
Can be tested, and as a result, it is possible to reduce the test cost required for constructing the test environment, and it is possible to diagnose the amplifier 16 online.
【００４６】実施の形態７．図８はこの発明の実施の形
態７によるインタフェース装置を示す構成図であり、図
において、図６と同一符号は同一又は相当部分を示すの
で説明を省略する。６１は増幅器１３から出力された試
験信号の信号レベルを測定するレベル測定器（レベル測
定手段）、６２はレベル測定器６１により測定された信
号レベルを期待値と比較して増幅器１３を診断する自己
診断器（診断手段）である。Embodiment 7 FIG. FIG. 8 is a block diagram showing an interface apparatus according to Embodiment 7 of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 6 denote the same or corresponding parts, and a description thereof will be omitted. 61 is a level measuring device (level measuring means) for measuring the signal level of the test signal output from the amplifier 13, and 62 is a self-diagnosis device for diagnosing the amplifier 13 by comparing the signal level measured by the level measuring device 61 with an expected value. It is a diagnostic device (diagnostic means).
【００４７】次に動作について説明する。上記実施の形
態５では、増幅器１３の入力側及び出力側から試験信号
を入力することにより、増幅器１３における試験信号の
増幅率を計算して増幅器１３を診断するものについて示
したが、増幅器１３から出力された試験信号の信号レベ
ルを測定し、その信号レベルを期待値と比較して増幅器
１３を診断するようにしてもよい。Next, the operation will be described. In the fifth embodiment, the case where the test signal is input from the input side and the output side of the amplifier 13 to calculate the amplification factor of the test signal in the amplifier 13 and diagnose the amplifier 13 has been described. The signal level of the output test signal may be measured, and the signal level may be compared with an expected value to diagnose the amplifier 13.
【００４８】具体的には、ホストプロセッサ１１の指示
の下、スイッチ４２が試験信号発生器４１とＤ／Ａ変換
器１２を接続するとともに、増幅器１３とレベル測定器
６１を接続する。試験信号発生器４１は、スイッチ４２
が試験信号発生器４１とＤ／Ａ変換器１２を接続する
と、ホストプロセッサ１１の指示の下、デジタルの試験
信号をＤ／Ａ変換器１２に出力する。Specifically, under the direction of the host processor 11, the switch 42 connects the test signal generator 41 to the D / A converter 12, and also connects the amplifier 13 to the level measuring device 61. The test signal generator 41 includes a switch 42
Connects the test signal generator 41 and the D / A converter 12, and outputs a digital test signal to the D / A converter 12 under the instruction of the host processor 11.
【００４９】レベル測定器６１は、試験信号発生器４１
がデジタルの試験信号をＤ／Ａ変換器１２に出力する
と、アナログの試験信号に変換された後、増幅器１３か
ら出力された試験信号を入力して、その試験信号の信号
レベルを測定する。そして、自己診断器６２は、その試
験信号の信号レベルが期待値の範囲内にあれば、増幅器
１３が正常である旨をホストプロセッサ１１に通知し、
期待値の範囲を逸脱していれば、増幅器１３に異常があ
る旨をホストプロセッサ１１に通知する。The level measuring device 61 includes a test signal generator 41
Outputs a digital test signal to the D / A converter 12, converts the signal into an analog test signal, inputs the test signal output from the amplifier 13, and measures the signal level of the test signal. Then, if the signal level of the test signal is within the range of the expected value, the self-diagnosis device 62 notifies the host processor 11 that the amplifier 13 is normal,
If the value is out of the range of the expected value, the host processor 11 is notified that the amplifier 13 is abnormal.
【００５０】以上で明らかなように、この実施の形態７
によれば、試験信号発生器４１がＤ／Ａ変換器１２に対
して試験信号を出力すると、増幅器１３から出力された
試験信号の信号レベルを測定し、その信号レベルを期待
値と比較して増幅器１３を診断するように構成したの
で、試験用機器を外部に接続することなく、増幅器１３
を試験することができるようになり、その結果、試験環
境の構築に要する試験コストの低減を図ることができる
とともに、オンラインで増幅器１３を診断することがで
きる効果を奏する。As is apparent from the above, the seventh embodiment
According to the above, when the test signal generator 41 outputs a test signal to the D / A converter 12, the signal level of the test signal output from the amplifier 13 is measured, and the signal level is compared with an expected value. Since the amplifier 13 is configured to be diagnosed, the amplifier 13 can be connected without connecting the test equipment to the outside.
Can be tested, and as a result, it is possible to reduce the test cost required for constructing the test environment, and it is possible to diagnose the amplifier 13 online.
【００５１】[0051]
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、試験
信号発生手段が試験信号を出力する際、サウンド出力ラ
インをサウンド入力ラインと接続する折返し手段を設け
るように構成したので、試験用機器を外部に接続するこ
となく、動作試験を実施することができるようになり、
その結果、試験環境の構築に要する試験コストの低減を
図ることができるとともに、オンラインで製品故障を診
断することができる効果がある。As described above, according to the present invention, when the test signal generating means outputs the test signal, the return means for connecting the sound output line to the sound input line is provided. Operation tests can be performed without connecting devices externally.
As a result, it is possible to reduce the test cost required for constructing a test environment and to diagnose a product failure online.
【００５２】この発明によれば、サウンド入力ラインか
ら入力した試験信号の信号レベルの平均値を計算し、そ
の平均値を期待値と比較して故障の有無を判定するよう
に構成したので、複雑な構成を用いることなく、簡単に
故障の有無を判定することができる効果がある。According to the present invention, the average value of the signal level of the test signal input from the sound input line is calculated, and the average value is compared with the expected value to determine the presence or absence of a failure. There is an effect that the presence or absence of a failure can be easily determined without using a simple configuration.
【００５３】この発明によれば、試験信号発生手段が試
験信号として正弦波を出力すると、サウンド入力ライン
から１周期分の正弦波を入力するように構成したので、
特定の周波数成分の劣化を検出することができる効果が
ある。また、正弦波の１周期毎に試験を実施することに
より、定常的ではなく稀に発生する異常についても検出
することができる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs a sine wave as a test signal, a sine wave for one cycle is input from the sound input line.
There is an effect that deterioration of a specific frequency component can be detected. In addition, by performing the test for each cycle of the sine wave, there is an effect that abnormalities that occur rarely but are not stationary can be detected.
【００５４】この発明によれば、試験信号発生手段が試
験信号として正弦波を出力すると、サウンド入力ライン
から入力した正弦波のサンプリング点における角度を計
算し、その角度を期待値と比較して故障の有無を判定す
るように構成したので、周波数の異常を検出することが
できる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs a sine wave as a test signal, the angle at the sampling point of the sine wave input from the sound input line is calculated, and the angle is compared with an expected value to determine a fault. Is configured to determine the presence / absence of a frequency, so that there is an effect that a frequency abnormality can be detected.
【００５５】この発明によれば、試験信号発生手段がサ
ウンド入力ラインを構成する信号増幅手段の入力側に対
して試験信号を出力すると、その信号増幅手段の入力側
及び出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増
幅率を計算し、その増幅率を期待値と比較して信号増幅
手段を診断するように構成したので、試験用機器を外部
に接続することなく、信号増幅手段を試験することがで
きるようになり、その結果、試験環境の構築に要する試
験コストの低減を図ることができるとともに、オンライ
ンで信号増幅手段を診断することができる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs the test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound input line, the test signal is input from the input side and the output side of the signal amplifying means. Then, the amplification factor of the test signal is calculated, and the amplification factor is compared with an expected value to diagnose the signal amplification unit.Therefore, the signal amplification unit is connected without connecting the test equipment to the outside. As a result, the test can be performed. As a result, the test cost required for constructing the test environment can be reduced, and the signal amplifier can be diagnosed online.
【００５６】この発明によれば、試験信号発生手段がサ
ウンド出力ラインを構成する信号増幅手段の入力側に対
して試験信号を出力すると、その信号増幅手段の入力側
及び出力側から試験信号を入力して、その試験信号の増
幅率を計算し、その増幅率を期待値と比較して信号増幅
手段を診断するように構成したので、試験用機器を外部
に接続することなく、信号増幅手段を試験することがで
きるようになり、その結果、試験環境の構築に要する試
験コストの低減を図ることができるとともに、オンライ
ンで信号増幅手段を診断することができる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs the test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound output line, the test signal is input from the input side and the output side of the signal amplifying means. Then, the amplification factor of the test signal is calculated, and the amplification factor is compared with an expected value to diagnose the signal amplification unit.Therefore, the signal amplification unit is connected without connecting the test equipment to the outside. As a result, the test can be performed. As a result, the test cost required for constructing the test environment can be reduced, and the signal amplifier can be diagnosed online.
【００５７】この発明によれば、試験信号発生手段がサ
ウンド入力ラインを構成する信号増幅手段の入力側に対
して試験信号を出力すると、その信号増幅手段から出力
された試験信号の信号レベルを測定し、その信号レベル
を期待値と比較して信号増幅手段を診断するように構成
したので、試験用機器を外部に接続することなく、信号
増幅手段を試験することができるようになり、その結
果、試験環境の構築に要する試験コストの低減を図るこ
とができるとともに、オンラインで信号増幅手段を診断
することができる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs the test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound input line, the signal level of the test signal output from the signal amplifying means is measured. Since the signal level is compared with an expected value to diagnose the signal amplifying unit, the signal amplifying unit can be tested without connecting a test device to an external device. In addition, it is possible to reduce the test cost required for constructing the test environment and to diagnose the signal amplifying means online.
【００５８】この発明によれば、試験信号発生手段がサ
ウンド出力ラインを構成する信号増幅手段の入力側に対
して試験信号を出力すると、その信号増幅手段から出力
された試験信号の信号レベルを測定し、その信号レベル
を期待値と比較して信号増幅手段を診断するように構成
したので、試験用機器を外部に接続することなく、信号
増幅手段を試験することができるようになり、その結
果、試験環境の構築に要する試験コストの低減を図るこ
とができるとともに、オンラインで信号増幅手段を診断
することができる効果がある。According to the present invention, when the test signal generating means outputs a test signal to the input side of the signal amplifying means constituting the sound output line, the signal level of the test signal output from the signal amplifying means is measured. Since the signal level is compared with an expected value to diagnose the signal amplifying unit, the signal amplifying unit can be tested without connecting a test device to an external device. In addition, it is possible to reduce the test cost required for constructing the test environment and to diagnose the signal amplifying means online.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図１】 この発明の実施の形態１によるインタフェー
ス装置を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an interface device according to a first embodiment of the present invention.
【図２】 信号レベル検出器及び合否判定器の処理を説
明する説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating processing of a signal level detector and a pass / fail judgment unit.
【図３】 信号レベル検出器及び合否判定器の処理を説
明する説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating processing of a signal level detector and a pass / fail judgment unit.
【図４】 信号レベル検出器及び合否判定器の処理を説
明する説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating processing of a signal level detector and a pass / fail judgment unit.
【図５】 この発明の実施の形態４によるインタフェー
ス装置を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing an interface device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図６】 この発明の実施の形態５によるインタフェー
ス装置を示す構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram showing an interface device according to a fifth embodiment of the present invention.
【図７】 この発明の実施の形態６によるインタフェー
ス装置を示す構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram illustrating an interface device according to a sixth embodiment of the present invention.
【図８】 この発明の実施の形態７によるインタフェー
ス装置を示す構成図である。FIG. 8 is a configuration diagram showing an interface device according to a seventh embodiment of the present invention.
【図９】 従来のインタフェース装置を試験する試験方
式を示す構成図である。FIG. 9 is a configuration diagram showing a test method for testing a conventional interface device.
１１ ホストプロセッサ（折返し手段）、１２ Ｄ／Ａ
変換器（サウンド出力ライン）、１３ 増幅器（サウン
ド出力ライン）、１４ 出力ライン（サウンド出力ライ
ン）、１５ 入力ライン（サウンド入力ライン）、１６
増幅器（サウンド入力ライン）、１７ Ａ／Ｄ変換器
（サウンド入力ライン）、１８，３１，４１ 試験信号
発生器（試験信号発生手段）、１９，３２，４２ スイ
ッチ（試験信号発生手段）、２０ スイッチ（折返し手
段）、２１ 信号レベル検出器（故障判定手段）、２２
合否判定器（故障判定手段）、３３，４３，５２，６
２自己診断器（診断手段）、５１，６１ レベル測定器
（レベル測定手段）。11 host processor (return means), 12 D / A
Converter (sound output line), 13 amplifier (sound output line), 14 output line (sound output line), 15 input line (sound input line), 16
Amplifier (sound input line), 17 A / D converter (sound input line), 18, 31, 41 Test signal generator (test signal generating means), 19, 32, 42 switch (test signal generating means), 20 switch (Return means), 21 signal level detector (failure determination means), 22
Pass / fail judgment device (failure judgment means), 33, 43, 52, 6
2 Self-diagnosis device (diagnosis means), 51, 61 Level measurement device (level measurement means).
Claims (8)
出力する試験信号発生手段と、上記試験信号発生手段が
試験信号を出力する際、そのサウンド出力ラインをサウ
ンド入力ラインと接続する折返し手段と、そのサウンド
入力ラインから試験信号を入力し、その試験信号を解析
して故障の有無を判定する故障判定手段とを備えたイン
タフェース装置。1. A test signal generating means for outputting a test signal to a sound output line, and a return means for connecting the sound output line to a sound input line when the test signal generating means outputs a test signal; An interface device comprising: a failure determination unit that receives a test signal from the sound input line and analyzes the test signal to determine whether there is a failure.
ら入力した試験信号の信号レベルの平均値を計算し、そ
の平均値を期待値と比較して故障の有無を判定すること
を特徴とする請求項１記載のインタフェース装置。2. The failure determining means calculates an average value of signal levels of test signals input from a sound input line, and compares the average value with an expected value to determine the presence or absence of a failure. Item 2. The interface device according to Item 1.
波を出力すると、故障判定手段はサウンド入力ラインか
ら１周期分の正弦波を入力することを特徴とする請求項
２記載のインタフェース装置。3. The interface device according to claim 2, wherein when the test signal generation means outputs a sine wave as a test signal, the failure determination means inputs a one-cycle sine wave from the sound input line.
波を出力すると、故障判定手段はサウンド入力ラインか
ら入力した正弦波のサンプリング点における角度を計算
し、その角度を期待値と比較して故障の有無を判定する
ことを特徴とする請求項１記載のインタフェース装置。4. When the test signal generating means outputs a sine wave as a test signal, the failure determination means calculates an angle at a sampling point of the sine wave input from the sound input line, compares the angle with an expected value, and compares the angle with the expected value. 2. The interface device according to claim 1, wherein it is determined whether or not there is an error.
手段の入力側に対して試験信号を出力する試験信号発生
手段と、上記信号増幅手段の入力側及び出力側から試験
信号を入力して、その試験信号の増幅率を計算し、その
増幅率を期待値と比較して上記信号増幅手段を診断する
診断手段とを備えたインタフェース装置。5. A test signal generating means for outputting a test signal to an input side of a signal amplifying means constituting a sound input line, and a test signal being inputted from an input side and an output side of said signal amplifying means. An interface device comprising: a diagnostic unit that calculates an amplification factor of a test signal, compares the amplification factor with an expected value, and diagnoses the signal amplification unit.
手段の入力側に対して試験信号を出力する試験信号発生
手段と、上記信号増幅手段の入力側及び出力側から試験
信号を入力して、その試験信号の増幅率を計算し、その
増幅率を期待値と比較して上記信号増幅手段を診断する
診断手段とを備えたインタフェース装置。6. A test signal generating means for outputting a test signal to an input side of a signal amplifying means constituting a sound output line, and a test signal being inputted from an input side and an output side of said signal amplifying means. An interface device comprising: a diagnostic unit that calculates an amplification factor of a test signal, compares the amplification factor with an expected value, and diagnoses the signal amplification unit.
手段の入力側に対して試験信号を出力する試験信号発生
手段と、上記信号増幅手段から出力された試験信号の信
号レベルを測定するレベル測定手段と、上記レベル測定
手段により測定された信号レベルを期待値と比較して上
記信号増幅手段を診断する診断手段とを備えたインタフ
ェース装置。7. A test signal generating means for outputting a test signal to an input side of a signal amplifying means constituting a sound input line, and a level measuring means for measuring a signal level of the test signal output from the signal amplifying means. And an diagnosing means for diagnosing the signal amplifying means by comparing the signal level measured by the level measuring means with an expected value.
手段の入力側に対して試験信号を出力する試験信号発生
手段と、上記信号増幅手段から出力された試験信号の信
号レベルを測定するレベル測定手段と、上記レベル測定
手段により測定された信号レベルを期待値と比較して上
記信号増幅手段を診断する診断手段とを備えたインタフ
ェース装置。8. A test signal generating means for outputting a test signal to an input side of a signal amplifying means constituting a sound output line, and a level measuring means for measuring a signal level of the test signal output from the signal amplifying means. And an diagnosing means for diagnosing the signal amplifying means by comparing the signal level measured by the level measuring means with an expected value.
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010245589A (en) * | 2009-04-01 | 2010-10-28 | Nec Corp | Communication system, communication device, method for specifying suspect portion, and program |
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-
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010245589A (en) * | 2009-04-01 | 2010-10-28 | Nec Corp | Communication system, communication device, method for specifying suspect portion, and program |
| CN103379419A (en) * | 2012-04-16 | 2013-10-30 | 上海晨兴希姆通电子科技有限公司 | Audio frequency access test system |
| CN102802108A (en) * | 2012-07-31 | 2012-11-28 | 广州市拓煌电声配件科技有限公司 | Equipment and method for testing Young modulus and consumption factor of loudspeaker cone |
| CN102802108B (en) * | 2012-07-31 | 2014-12-03 | 广州市拓煌电声配件科技有限公司 | Equipment and method for testing Young modulus and consumption factor of loudspeaker cone |
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