JP2000356660A - 絶縁物の劣化状態診断方法 - Google Patents
絶縁物の劣化状態診断方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 診断時の温度や湿度の影響に関係なく絶縁物
の劣化状態を正確に診断する。 【解決手段】 経時的に絶縁物の表面に滞積したイオン
性物質の量は、温度や湿度の影響を受けて変化すること
がないことから、図１に示すようなイオン性物質の水溶
液中での電気電導度と前記絶縁物の所定の温度と湿度に
おける絶縁抵抗値との相関関係を予め求めておき、絶縁
物の劣化状態を診断する際には、診断対象である絶縁物
に滞積しているイオン性物質の電気電導度を測定し、こ
の電気電導度と前記相関関係とに基づいて絶縁物の所定
の温度と湿度における絶縁抵抗値を推定して絶縁物の劣
化状態を診断する。
の劣化状態を正確に診断する。 【解決手段】 経時的に絶縁物の表面に滞積したイオン
性物質の量は、温度や湿度の影響を受けて変化すること
がないことから、図１に示すようなイオン性物質の水溶
液中での電気電導度と前記絶縁物の所定の温度と湿度に
おける絶縁抵抗値との相関関係を予め求めておき、絶縁
物の劣化状態を診断する際には、診断対象である絶縁物
に滞積しているイオン性物質の電気電導度を測定し、こ
の電気電導度と前記相関関係とに基づいて絶縁物の所定
の温度と湿度における絶縁抵抗値を推定して絶縁物の劣
化状態を診断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば制御盤や分
電盤等の充電部に使用される絶縁物の劣化状態を診断す
る方法に関する。
電盤等の充電部に使用される絶縁物の劣化状態を診断す
る方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】制御盤や分電盤等の充電部に使用されて
いる絶縁物は、経時的に設置環境の影響を受けて表面に
イオン性の物質が付着し滞積していくため絶縁抵抗値が
低下していく。このような絶縁抵抗値の低下は、最悪の
場合には短絡の原因となるおそれがある。
いる絶縁物は、経時的に設置環境の影響を受けて表面に
イオン性の物質が付着し滞積していくため絶縁抵抗値が
低下していく。このような絶縁抵抗値の低下は、最悪の
場合には短絡の原因となるおそれがある。
【０００３】このため、定期的に絶縁物の絶縁抵抗値を
測定して、測定値が所定値を下回った場合には、絶縁物
の表面の清掃や絶縁物自体の取り替えを行なっている。
測定して、測定値が所定値を下回った場合には、絶縁物
の表面の清掃や絶縁物自体の取り替えを行なっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、絶縁抵抗値
は、測定したときの周囲の温度や湿度によって異なって
くるものである。図３は、温度２０℃におけるイオン性
物質が付着した絶縁物の絶縁抵抗値と湿度との相関関係
の一例を示す図である。同図は、湿度が３０％ＲＨのと
きには絶縁抵抗値は高い値を示すが、湿度が高くなるに
つれてイオン性物質が導通しやすくなるため絶縁抵抗値
が低下していくことを示している。特に、経年的な使用
により表面に汚損物が付着した絶縁物は、吸湿しやすく
なるため湿度の影響に過敏となり、湿度の上昇に対して
大幅に絶縁抵抗値が低下することとなる。また、温度が
高くなったときにも絶縁抵抗値は低くなる。
は、測定したときの周囲の温度や湿度によって異なって
くるものである。図３は、温度２０℃におけるイオン性
物質が付着した絶縁物の絶縁抵抗値と湿度との相関関係
の一例を示す図である。同図は、湿度が３０％ＲＨのと
きには絶縁抵抗値は高い値を示すが、湿度が高くなるに
つれてイオン性物質が導通しやすくなるため絶縁抵抗値
が低下していくことを示している。特に、経年的な使用
により表面に汚損物が付着した絶縁物は、吸湿しやすく
なるため湿度の影響に過敏となり、湿度の上昇に対して
大幅に絶縁抵抗値が低下することとなる。また、温度が
高くなったときにも絶縁抵抗値は低くなる。
【０００５】よって、温度や湿度を何ら考慮することな
く、測定した絶縁抵抗値だけで絶縁物の劣化状態を診断
すると、誤った診断となる場合がある。
く、測定した絶縁抵抗値だけで絶縁物の劣化状態を診断
すると、誤った診断となる場合がある。
【０００６】本発明は、上記に鑑みてなされたものであ
り、その目的とするところは、診断時の温度や湿度の影
響に関係なく絶縁物の劣化状態を正確に診断し得る絶縁
物の劣化状態診断方法を提供することにある。
り、その目的とするところは、診断時の温度や湿度の影
響に関係なく絶縁物の劣化状態を正確に診断し得る絶縁
物の劣化状態診断方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の本発明は、時間の経過と共にイオン
性物質が表面に滞積した絶縁物の所定の温度と湿度にお
ける絶縁抵抗値と前記表面の一定面積から採取したイオ
ン性物質の水溶液中での電気電導度との相関関係を予め
求めておき、絶縁物の劣化状態を診断する際には、診断
対象である絶縁物について経時的に滞積したイオン性物
質の電気電導度を測定し、この電気電導度と前記相関関
係とに基づいて当該絶縁物の所定の温度と湿度における
絶縁抵抗値を推定することを要旨とする。
め、請求項１記載の本発明は、時間の経過と共にイオン
性物質が表面に滞積した絶縁物の所定の温度と湿度にお
ける絶縁抵抗値と前記表面の一定面積から採取したイオ
ン性物質の水溶液中での電気電導度との相関関係を予め
求めておき、絶縁物の劣化状態を診断する際には、診断
対象である絶縁物について経時的に滞積したイオン性物
質の電気電導度を測定し、この電気電導度と前記相関関
係とに基づいて当該絶縁物の所定の温度と湿度における
絶縁抵抗値を推定することを要旨とする。
【０００８】本発明にあっては、絶縁物の表面に滞積し
たイオン性物質の量は、温度や湿度の影響を受けて変化
することがないことに着目し、絶縁物の所定の温度と湿
度における絶縁抵抗値と当該絶縁物の表面に滞積したイ
オン性物質の水溶液中での電気電導度との相関関係を予
め求めておき、前記劣化状態を診断する際には、この絶
縁物について測定したイオン性物質の電気電導度と前記
相関関係とに基づいて所定の温度と湿度における絶縁抵
抗値を推定することで、診断時の温度や湿度の影響に関
係なく絶縁物の劣化状態を正確に診断できるようにして
いる。
たイオン性物質の量は、温度や湿度の影響を受けて変化
することがないことに着目し、絶縁物の所定の温度と湿
度における絶縁抵抗値と当該絶縁物の表面に滞積したイ
オン性物質の水溶液中での電気電導度との相関関係を予
め求めておき、前記劣化状態を診断する際には、この絶
縁物について測定したイオン性物質の電気電導度と前記
相関関係とに基づいて所定の温度と湿度における絶縁抵
抗値を推定することで、診断時の温度や湿度の影響に関
係なく絶縁物の劣化状態を正確に診断できるようにして
いる。
【０００９】請求項２記載の本発明は、時間の経過と共
にイオン性物質が表面に滞積した絶縁物の所定の温度と
湿度における絶縁抵抗値と前記イオン性物質の単位面積
当たりの付着量との相関関係を予め求めておき、絶縁物
の劣化状態を診断する際には、診断対象である絶縁物に
ついて経時的に滞積したイオン性物質の単位面積当たり
の付着量を測定し、この付着量と前記相関関係とに基づ
いて当該絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値
を推定することを要旨とする。
にイオン性物質が表面に滞積した絶縁物の所定の温度と
湿度における絶縁抵抗値と前記イオン性物質の単位面積
当たりの付着量との相関関係を予め求めておき、絶縁物
の劣化状態を診断する際には、診断対象である絶縁物に
ついて経時的に滞積したイオン性物質の単位面積当たり
の付着量を測定し、この付着量と前記相関関係とに基づ
いて当該絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値
を推定することを要旨とする。
【００１０】本発明にあっては、前記絶縁物の絶縁抵抗
値とイオン性物質の単位面積当たりの付着量との相関関
係を予め求めておき、当該絶縁物の劣化状態を診断する
際には、この絶縁物についてイオン性物質の単位面積当
たりの付着量を測定することで、前記相関関係を求める
ときにイオン性物質を採取する面積と、前記劣化状態を
診断するときにイオン性物質を採取する面積とを一致さ
せることが不要となり、イオン性物質の採取を容易とす
ることができる。
値とイオン性物質の単位面積当たりの付着量との相関関
係を予め求めておき、当該絶縁物の劣化状態を診断する
際には、この絶縁物についてイオン性物質の単位面積当
たりの付着量を測定することで、前記相関関係を求める
ときにイオン性物質を採取する面積と、前記劣化状態を
診断するときにイオン性物質を採取する面積とを一致さ
せることが不要となり、イオン性物質の採取を容易とす
ることができる。
【００１１】請求項３記載の本発明は、請求項１又は２
記載の絶縁物の劣化状態診断方法において、前記絶縁物
の表面に滞積しているイオン性物質を時間の経過と共に
継続的に採取していくことを要旨とする。
記載の絶縁物の劣化状態診断方法において、前記絶縁物
の表面に滞積しているイオン性物質を時間の経過と共に
継続的に採取していくことを要旨とする。
【００１２】本発明にあっては、前記絶縁物の表面に滞
積しているイオン性物質を継続的に採取していくこと
で、現在に至るまでの絶縁抵抗値の変化の推移から将来
的に絶縁抵抗値が所定値を下回るまでの残りの期間を予
測できるようにしている。
積しているイオン性物質を継続的に採取していくこと
で、現在に至るまでの絶縁抵抗値の変化の推移から将来
的に絶縁抵抗値が所定値を下回るまでの残りの期間を予
測できるようにしている。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について説明する。図１は、本発明の第１の実施
の形態に係る絶縁物の劣化状態診断方法を説明するため
の図である。同図は、時間の経過と共に表面にイオン性
物質が滞積した絶縁物の絶縁抵抗値とその表面の一定面
積から採取したイオン性物質の水溶液中での電気電導度
との相関関係の一例を示しており、例えば、温度２５
℃、湿度９５％ＲＨの環境下で絶縁物の絶縁抵抗値を測
定した後、この絶縁物の表面の一定面積からイオン性物
質やほこり等を含む汚損物を採取して１００ｍｌの水溶
液中での電気電導度を測定することにより得られるもの
である。
の形態について説明する。図１は、本発明の第１の実施
の形態に係る絶縁物の劣化状態診断方法を説明するため
の図である。同図は、時間の経過と共に表面にイオン性
物質が滞積した絶縁物の絶縁抵抗値とその表面の一定面
積から採取したイオン性物質の水溶液中での電気電導度
との相関関係の一例を示しており、例えば、温度２５
℃、湿度９５％ＲＨの環境下で絶縁物の絶縁抵抗値を測
定した後、この絶縁物の表面の一定面積からイオン性物
質やほこり等を含む汚損物を採取して１００ｍｌの水溶
液中での電気電導度を測定することにより得られるもの
である。
【００１４】絶縁物の劣化状態を診断する際には、診断
しようとする絶縁物の表面の一定面積に滞積している汚
損物を、例えば純水で湿らせたガーゼで拭って採取して
ビーカにとり、一定量の純水を加えてこの水溶液の電気
電導度を測定する。ここで、汚損物を採取する一定面積
と純水の一定量は、図１の相関関係を予め求めたときと
同一のものとする。そして、測定した電気電導度と前記
相関関係とに基づいて温度２５℃、湿度９５％ＲＨの環
境下における絶縁抵抗値を推定して絶縁物の劣化状態を
診断する。診断は、例えば、絶縁抵抗値が１０6Ω以下
であれば寿命であるとして表面に滞積したイオン性物質
の清掃や絶縁物の交換等の対策が必要であると診断し、
１０6〜１０9Ωの範囲では要注意、１０9Ω以上であれ
ば正常、というような診断を行なうようにする。
しようとする絶縁物の表面の一定面積に滞積している汚
損物を、例えば純水で湿らせたガーゼで拭って採取して
ビーカにとり、一定量の純水を加えてこの水溶液の電気
電導度を測定する。ここで、汚損物を採取する一定面積
と純水の一定量は、図１の相関関係を予め求めたときと
同一のものとする。そして、測定した電気電導度と前記
相関関係とに基づいて温度２５℃、湿度９５％ＲＨの環
境下における絶縁抵抗値を推定して絶縁物の劣化状態を
診断する。診断は、例えば、絶縁抵抗値が１０6Ω以下
であれば寿命であるとして表面に滞積したイオン性物質
の清掃や絶縁物の交換等の対策が必要であると診断し、
１０6〜１０9Ωの範囲では要注意、１０9Ω以上であれ
ば正常、というような診断を行なうようにする。
【００１５】したがって、本実施の形態によれば、絶縁
物の表面に滞積しているイオン性物質の量は、絶縁物の
劣化状態の診断の際の温度や湿度の影響を受けることが
ないことに着目し、このイオン性物質の水溶液中での電
気電導度を測定し、予め求めておいた絶縁物の所定の温
度と湿度における絶縁抵抗値と電気電導度との相関関係
に基づいて、所定の温度と湿度における絶縁抵抗値を推
定することで、診断時の温度や湿度の影響に関係なく絶
縁物の劣化状態を正確に診断することができる。
物の表面に滞積しているイオン性物質の量は、絶縁物の
劣化状態の診断の際の温度や湿度の影響を受けることが
ないことに着目し、このイオン性物質の水溶液中での電
気電導度を測定し、予め求めておいた絶縁物の所定の温
度と湿度における絶縁抵抗値と電気電導度との相関関係
に基づいて、所定の温度と湿度における絶縁抵抗値を推
定することで、診断時の温度や湿度の影響に関係なく絶
縁物の劣化状態を正確に診断することができる。
【００１６】また、イオン性物質の採取を時間の経過と
ともに継続的に行なうようにすれば、現時点では正常と
判断された場合であっても、それまでの絶縁抵抗値の変
化の推移から将来的に絶縁抵抗値が対策の必要となる所
定値に達するまでの期間を予測することができる。
ともに継続的に行なうようにすれば、現時点では正常と
判断された場合であっても、それまでの絶縁抵抗値の変
化の推移から将来的に絶縁抵抗値が対策の必要となる所
定値に達するまでの期間を予測することができる。
【００１７】さらに、図１の相関関係を求める際の温度
と湿度を、絶縁物の絶縁抵抗値が最も低くなると想定さ
れる設置環境の温度と湿度に設定しておけば、このよう
な最悪の環境下となったときの絶縁物の絶縁抵抗値を推
定することができる。
と湿度を、絶縁物の絶縁抵抗値が最も低くなると想定さ
れる設置環境の温度と湿度に設定しておけば、このよう
な最悪の環境下となったときの絶縁物の絶縁抵抗値を推
定することができる。
【００１８】次に本発明の第２の実施の形態について説
明する。図２は、イオン性物質が滞積した状態での絶縁
物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値と、イオン性
物質中の塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）の単位面積当たり
の付着量（以下、適宜「等価塩分付着量」という）との
相関関係を示す図である。等価塩分付着量は、例えば、
塩化ナトリウムの濃度が分かっている水溶液の電気電導
度を測定して塩化ナトリウム量との相関関係を予め求め
ておき、絶縁物の表面の一定面積から採取したイオン性
物質の水溶液中での電気電導度をこの相関関係に基づい
て塩化ナトリウム量に換算して前記一定面積で除算する
ことにより得ることができる。
明する。図２は、イオン性物質が滞積した状態での絶縁
物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値と、イオン性
物質中の塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）の単位面積当たり
の付着量（以下、適宜「等価塩分付着量」という）との
相関関係を示す図である。等価塩分付着量は、例えば、
塩化ナトリウムの濃度が分かっている水溶液の電気電導
度を測定して塩化ナトリウム量との相関関係を予め求め
ておき、絶縁物の表面の一定面積から採取したイオン性
物質の水溶液中での電気電導度をこの相関関係に基づい
て塩化ナトリウム量に換算して前記一定面積で除算する
ことにより得ることができる。
【００１９】本実施の形態の特徴としては、図２の相関
関係を予め求めておき、絶縁物の劣化状態を診断する際
には、絶縁物の表面に滞積したイオン性物質から等価塩
分付着量を測定し、この等価塩分付着量と前記相関関係
とに基づいて絶縁物の絶縁抵抗値を推定するようにした
ことにある。
関係を予め求めておき、絶縁物の劣化状態を診断する際
には、絶縁物の表面に滞積したイオン性物質から等価塩
分付着量を測定し、この等価塩分付着量と前記相関関係
とに基づいて絶縁物の絶縁抵抗値を推定するようにした
ことにある。
【００２０】したがって、本実施の形態によれば、絶縁
物の絶縁抵抗値とイオン性物質の単位面積当たりの付着
量との相関関係を予め求めておき、絶縁物の劣化状態を
診断する際には、イオン性物質の単位面積当たりの付着
量を測定することで、この相関関係を求めるときにイオ
ン性物質を採取する面積と、絶縁物の劣化状態を診断す
るときにイオン性物質を採取する面積とを一致させるこ
とが不要となり、イオン性物質の採取を容易とすること
ができる。
物の絶縁抵抗値とイオン性物質の単位面積当たりの付着
量との相関関係を予め求めておき、絶縁物の劣化状態を
診断する際には、イオン性物質の単位面積当たりの付着
量を測定することで、この相関関係を求めるときにイオ
ン性物質を採取する面積と、絶縁物の劣化状態を診断す
るときにイオン性物質を採取する面積とを一致させるこ
とが不要となり、イオン性物質の採取を容易とすること
ができる。
【００２１】なお、本実施の形態においては、イオン性
物質のうち塩化ナトリウムを用いることとしたが、イオ
ン性物質の中で最も含有量の多い物質を用いることが望
ましく、その絶縁物が設置された環境に応じて適切な物
質を選ぶようにするとよい。
物質のうち塩化ナトリウムを用いることとしたが、イオ
ン性物質の中で最も含有量の多い物質を用いることが望
ましく、その絶縁物が設置された環境に応じて適切な物
質を選ぶようにするとよい。
【００２２】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項１記載の
本発明によれば、絶縁物の表面に滞積したイオン性物質
の量は、温度や湿度の影響を受けて変化することがない
ことに着目し、絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁
抵抗値と当該絶縁物の表面に滞積したイオン性物質の水
溶液中での電気電導度との相関関係を予め求めておき、
前記劣化状態を診断する際には、この絶縁物について測
定したイオン性物質の電気電導度と前記相関関係とに基
づいて所定の温度と湿度における絶縁抵抗値を推定する
ことで、診断時の温度や湿度の影響に関係なく絶縁物の
劣化状態を正確に診断することができる。
本発明によれば、絶縁物の表面に滞積したイオン性物質
の量は、温度や湿度の影響を受けて変化することがない
ことに着目し、絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁
抵抗値と当該絶縁物の表面に滞積したイオン性物質の水
溶液中での電気電導度との相関関係を予め求めておき、
前記劣化状態を診断する際には、この絶縁物について測
定したイオン性物質の電気電導度と前記相関関係とに基
づいて所定の温度と湿度における絶縁抵抗値を推定する
ことで、診断時の温度や湿度の影響に関係なく絶縁物の
劣化状態を正確に診断することができる。
【００２３】請求項２記載の本発明によれば、前記絶縁
物の絶縁抵抗値とイオン性物質の単位面積当たりの付着
量との相関関係を予め求めておき、当該絶縁物の劣化状
態を診断する際には、この絶縁物についてイオン性物質
の単位面積当たりの付着量を測定することで、前記相関
関係を求めるときにイオン性物質を採取する面積と、前
記劣化状態を診断するときにイオン性物質を採取する面
積とを一致させることが不要となり、イオン性物質の採
取を容易とすることができる。
物の絶縁抵抗値とイオン性物質の単位面積当たりの付着
量との相関関係を予め求めておき、当該絶縁物の劣化状
態を診断する際には、この絶縁物についてイオン性物質
の単位面積当たりの付着量を測定することで、前記相関
関係を求めるときにイオン性物質を採取する面積と、前
記劣化状態を診断するときにイオン性物質を採取する面
積とを一致させることが不要となり、イオン性物質の採
取を容易とすることができる。
【００２４】請求項３記載の本発明によれば、前記絶縁
物の表面に滞積しているイオン性物質を継続的に採取し
ていくことで、現在に至るまでの絶縁抵抗値の変化の推
移から将来的に絶縁抵抗値が所定値を下回るまでの残り
の期間を予測することができる。
物の表面に滞積しているイオン性物質を継続的に採取し
ていくことで、現在に至るまでの絶縁抵抗値の変化の推
移から将来的に絶縁抵抗値が所定値を下回るまでの残り
の期間を予測することができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る絶縁物の絶縁
劣化診断方法を説明するための図である。
劣化診断方法を説明するための図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態に係る絶縁物の絶縁
劣化診断方法を説明するための図である。
劣化診断方法を説明するための図である。
【図３】所定の温度における絶縁物の絶縁抵抗値と湿度
との相関関係の一例を示す図である。
との相関関係の一例を示す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 兼平 勝己 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 (72)発明者 藤堂 洋子 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 Ｆターム(参考） 2G028 AA01 BB05 CG02 CG03 DH21 2G050 AA02 BA05 CA04 DA01 EA01 EA02 EB02 EC05 2G060 AA08 AE07 AE29 AF02 AF08 EA08 HA01 HE01 KA11
Claims (3)
- 【請求項１】 時間の経過と共にイオン性物質が表面に
滞積した絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値
と前記表面の一定面積から採取したイオン性物質の水溶
液中での電気電導度との相関関係を予め求めておき、絶
縁物の劣化状態を診断する際には、診断対象である絶縁
物について経時的に滞積したイオン性物質の電気電導度
を測定し、この電気電導度と前記相関関係とに基づいて
当該絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値を推
定することを特徴とする絶縁物の劣化状態診断方法。 - 【請求項２】 時間の経過と共にイオン性物質が表面に
滞積した絶縁物の所定の温度と湿度における絶縁抵抗値
と前記イオン性物質の単位面積当たりの付着量との相関
関係を予め求めておき、絶縁物の劣化状態を診断する際
には、診断対象である絶縁物について経時的に滞積した
イオン性物質の単位面積当たりの付着量を測定し、この
付着量と前記相関関係とに基づいて当該絶縁物の所定の
温度と湿度における絶縁抵抗値を推定することを特徴と
する絶縁物の劣化状態診断方法。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の絶縁物の劣化状態
診断方法において、絶縁物の表面に滞積しているイオン
性物質を時間の経過と共に継続的に採取していくことを
特徴とする絶縁物の劣化状態診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11168648A JP2000356660A (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 絶縁物の劣化状態診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11168648A JP2000356660A (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 絶縁物の劣化状態診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000356660A true JP2000356660A (ja) | 2000-12-26 |
| JP2000356660A5 JP2000356660A5 (ja) | 2005-05-26 |
Family
ID=15871935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11168648A Pending JP2000356660A (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 絶縁物の劣化状態診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000356660A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005081930A3 (en) * | 2004-02-24 | 2006-03-09 | Polymer Aging Concepts Inc | Heath monitoring method and apparatus for composite materials |
| US7612325B1 (en) | 2007-08-22 | 2009-11-03 | Watkins Jr Kenneth S | Electrical sensor for monitoring degradation of products from environmental stressors |
| US7659728B1 (en) | 2006-08-23 | 2010-02-09 | Watkins Jr Kenneth S | Method and apparatus for measuring degradation of insulation of electrical power system devices |
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- 1999-06-15 JP JP11168648A patent/JP2000356660A/ja active Pending
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