JP2000356555A - Light pulse waveform-measuring device - Google Patents
Light pulse waveform-measuring deviceInfo
- Publication number
- JP2000356555A JP2000356555A JP11168163A JP16816399A JP2000356555A JP 2000356555 A JP2000356555 A JP 2000356555A JP 11168163 A JP11168163 A JP 11168163A JP 16816399 A JP16816399 A JP 16816399A JP 2000356555 A JP2000356555 A JP 2000356555A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- light pulse
- pulse
- light
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】超短光パルスの強度及び位相
分布を測定する光パルス波形測定装置に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an optical pulse waveform measuring device for measuring the intensity and phase distribution of an ultrashort optical pulse.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来から、サブピコ秒〜フェムト秒領域
の光波形測定の技術としてＦＲＯＧ(Frequency Resolve
d Optical Gating)法が知られている。ＦＲＯＧ法で
は、次のように光波形を測定する。まず、被測定光を二
光束に分岐し、一方に所定の遅延を与えた後に両方のパ
ルスを非線形相互作用させる。次に、非線形相互作用に
より発生した光を分光してスペクトル毎の光検出を行
う。このような光検出を二光束に分岐したパルスの一方
の遅延時間を変えて行うことにより、二次元の表示面で
縦軸スペクトル、横軸遅延の二次元の像が得られ、この
像を解析して被測定光の波形の再構築を行う。ここで、
非線形光学材料として偏光ゲート、自己回折、ＳＨＧ、
ＴＨＧなどが用いられるが、特にＳＨＧを用いるＳＨＧ
−ＦＲＯＧ法は最も感度が良い測定法として知られてい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, as a technique for measuring an optical waveform in a subpicosecond to femtosecond region, FROG (Frequency Resolve
d Optical Gating) method is known. In the FROG method, an optical waveform is measured as follows. First, the light to be measured is split into two light beams, and one of them is given a predetermined delay, and then both pulses are nonlinearly interacted. Next, the light generated by the non-linear interaction is divided to perform light detection for each spectrum. By performing such light detection while changing the delay time of one of the pulses branched into two light beams, a two-dimensional image of the vertical axis spectrum and the horizontal axis delay is obtained on the two-dimensional display surface, and this image is analyzed. Then, the waveform of the measured light is reconstructed. here,
Polarized gate, self-diffraction, SHG,
Although THG is used, in particular, SHG using SHG
-The FROG method is known as the most sensitive measurement method.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記方
式には以下の問題点がある。まず、非線形光学材料とし
て３次以上の非線形光学効果を有するものを使用する
と、変換効率が悪いので感度が悪くなる。一方、非線形
光学材料としてＳＨＧに代表される二次の非線形光学効
果を有するものを使用すると、情報の次元が低いため光
パルスの時間軸を一義的に決定できない。さらに、発生
した光を分光するための分光器が必要であり、装置全体
の規模が大きくなる。However, the above method has the following problems. First, if a material having a third-order or higher nonlinear optical effect is used as the nonlinear optical material, the conversion efficiency is poor and the sensitivity is deteriorated. On the other hand, when a material having a second-order nonlinear optical effect typified by SHG is used as the nonlinear optical material, the time axis of the light pulse cannot be uniquely determined because the dimension of information is low. Further, a spectroscope for dispersing the generated light is required, and the scale of the entire apparatus becomes large.
【０００４】また、特許公報２６６０２５１号記載の光
パルス測定装置では、波長分散特性が既知の媒質を用い
ることによって被測定光パルスを分散させることができ
る構成とし、分散させる場合と分散させない場合の測定
結果を比較解析して光パルスの時間軸を決定するという
方法を用いている。しかし、この装置は遅延時間を波長
オーダーで制御するためのレーザーが必要なことや、非
線形結晶によって発生した二次高調波と非線形結晶をそ
のまま透過した基本波の両方を検出する２個の検出器が
必要なことから、装置の構成が複雑なものとなってい
る。The optical pulse measuring device described in Japanese Patent Publication No. 2660251 has a configuration in which a measured optical pulse can be dispersed by using a medium having a known wavelength dispersion characteristic. A method of comparing and analyzing the results to determine the time axis of the light pulse is used. However, this device requires a laser to control the delay time on the order of the wavelength, and two detectors that detect both the second harmonic generated by the nonlinear crystal and the fundamental wave transmitted directly through the nonlinear crystal. , The configuration of the device is complicated.
【０００５】そこで、本発明は上記課題を解決した光パ
ルス波形測定装置を提供することを目的とする。Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical pulse waveform measuring device which has solved the above-mentioned problems.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明に係る光パルス波
形測定装置は、被測定光パルスの波形を相関法により測
定する光パルス波形測定装置において、被測定光パルス
の波形を変形させる波形変形手段と、波形変形手段にお
ける波形変形量を制御する波形変形量制御手段と、波形
変形手段により波形変形された被測定光パルスを第１光
パルスと第２光パルスに分岐する分岐手段と、第１光パ
ルスを第２光パルスに対して遅延させる遅延手段と、遅
延手段における第１光パルスの遅延時間を制御する遅延
時間制御手段と、第１光パルスと第２光パルスとを所定
の重ね合わせ領域で重ねる重ね手段と、重ね合わせ領域
において重ねられた第１光パルスと第２光パルスを非線
形相互作用によって第３光パルスに変換する光変換手段
と、波形変形量及び遅延時間に対する第３光パルスの光
強度を検出する光強度検出手段と、波形変形量及び遅延
時間を変化させて検出された光強度から相関データを取
得する相関データ取得手段と、相関データに基づいて被
測定光パルスの波形を再構築する波形再構築手段とを備
えることを特徴とする。このように被測定光を波形変形
した後に分岐させて、分岐した一方の光パルスを遅延さ
せて再度重ね合わせる構成とすることにより、光パルス
の波形を測定できる。さらに、第２光パルスに対する第
１光パルスの遅延時間に対して非対称な相関データが得
られるので光パルス波形の方向も決定することができ
る。An optical pulse waveform measuring apparatus according to the present invention is an optical pulse waveform measuring apparatus for measuring the waveform of an optical pulse to be measured by a correlation method. Means, a waveform deformation amount control means for controlling a waveform deformation amount in the waveform deformation means, a branching means for branching the measured optical pulse whose waveform has been deformed by the waveform deformation means into a first optical pulse and a second optical pulse, Delay means for delaying one light pulse with respect to the second light pulse, delay time control means for controlling a delay time of the first light pulse in the delay means, and a predetermined overlap of the first light pulse and the second light pulse. Superimposing means for superimposing in the superimposition region, optical converting means for converting the first light pulse and the second light pulse superimposed in the superimposition region into a third light pulse by non-linear interaction, Light intensity detecting means for detecting the light intensity of the third light pulse with respect to the delay time, correlation data obtaining means for obtaining correlation data from the detected light intensity by changing the amount of waveform deformation and the delay time, and And a waveform reconstructing means for reconstructing the waveform of the optical pulse to be measured. In this manner, the light to be measured is deformed and then branched, and one of the branched light pulses is delayed and overlapped again, so that the light pulse waveform can be measured. Further, since correlation data asymmetric with respect to the delay time of the first light pulse with respect to the second light pulse is obtained, the direction of the light pulse waveform can also be determined.
【０００７】また、本発明に係る光パルス波形測定装置
は、被測定光パルスの波形を相関法により測定する光パ
ルス波形測定装置において、被測定光パルスの波形を変
形させる波形変形手段と、波形変形手段における波形変
形量を制御する波形変形量制御手段と、波形変形手段に
より波形変形された被測定光パルスを第１光パルスと第
２光パルスに分岐する分岐手段と、第１光パルスを第２
光パルスに対して遅延させる遅延手段と、遅延手段にお
ける第１光パルスの遅延時間を制御する遅延時間制御手
段と、第１光パルスと第２光パルスとを所定の重ね合わ
せ領域で重ねる重ね手段と、重ね合わせ領域において重
ねられた第１光パルスと第２光パルスの空間的及び時間
的な重なりに対応した光学量を検出する非線形入出力手
段を有する光検出手段と、波形変形量及び遅延時間を変
化させて検出された光学量から相関データを取得する相
関データ取得手段と、相関データに基づいて被測定光パ
ルスの波形を再構築する波形再構築手段とを備えること
を特徴とする。このように非線形入出力手段を有する光
検出手段として多光子吸収型の光電面を有する電子管等
を用いることによって、容易に光パルス波形測定装置を
構成することができる。An optical pulse waveform measuring apparatus according to the present invention is an optical pulse waveform measuring apparatus for measuring the waveform of an optical pulse to be measured by a correlation method. Waveform deforming amount control means for controlling the amount of waveform deformation in the deforming means; branching means for branching the measured optical pulse whose waveform has been deformed by the waveform deforming means into a first optical pulse and a second optical pulse; Second
Delay means for delaying the light pulse, delay time control means for controlling the delay time of the first light pulse in the delay means, and overlapping means for overlapping the first light pulse and the second light pulse in a predetermined overlapping area And light detection means having non-linear input / output means for detecting an optical quantity corresponding to the spatial and temporal overlap of the first light pulse and the second light pulse superimposed in the superimposition region; It is characterized by comprising correlation data acquisition means for acquiring correlation data from optical quantities detected by changing the time, and waveform reconstruction means for reconstructing the waveform of the measured optical pulse based on the correlation data. By using an electron tube or the like having a multiphoton absorption photocathode as the light detecting means having the nonlinear input / output means, an optical pulse waveform measuring device can be easily configured.
【０００８】上記光パルス波形測定装置において、波形
変形手段は、分岐手段によって分岐された第１光パルス
又は第２光パルスの一方の光路上に設けられていること
を特徴としても良い。このような構成とすることにより
一方の分岐光パルスのみが波形変形され、分岐された光
パルスの波形は異なったものとなり、これらの重ね合わ
せによる相互相関の結果が第３光パルスの強度として検
出される。[0008] In the above optical pulse waveform measuring device, the waveform deforming means may be provided on one optical path of the first optical pulse or the second optical pulse branched by the branching means. With this configuration, the waveform of only one of the branched optical pulses is deformed, the waveform of the branched optical pulse becomes different, and the result of the cross-correlation resulting from the superposition of these is detected as the intensity of the third optical pulse. Is done.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】本発明の好適な実施形態を図を用
いて説明する。各図において同一の要素には同一の符号
を付し重複する説明は省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In each of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
【００１０】図１は、第１実施形態に係る光パルス波形
測定装置を示す図である。光パルス波形測定装置は、光
源１から出力された光パルスＬ０の波形を変形させる波
長分散器２と、波長分散器２を通過した光パルスＬ０の
光軸上に光軸と４５°の角度をもって設けられたビーム
スプリッタ３と、ビームスプリッタ３で分岐された２つ
の光パルスのうち、一方の光パルスＬ１を遅延させると
共に再度２つの光パルスを集光しつつ交差させて重ねる
遅延重ね手段（遅延手段と重ね手段を兼ねる）４と、集
光された２つの光パルスが交差する位置に設けられたＳ
ＨＧ結晶１０と、ＳＨＧ結晶１０によって発生する二次
高調波を検出する光電子増倍管１１と、光電子増倍管１
１からの二次高調波データを取得すると共に取得したデ
ータに基づいて被測定光パルスの再構築をするコンピュ
ータ１２とから構成される。FIG. 1 is a diagram showing an optical pulse waveform measuring device according to the first embodiment. The optical pulse waveform measuring device includes a wavelength disperser 2 for deforming the waveform of an optical pulse L0 output from a light source 1, and an angle of 45 ° with respect to the optical axis of the optical pulse L0 passing through the wavelength disperser 2. A beam splitter 3 provided, and a delay superimposing means (delay) for delaying one optical pulse L1 of the two optical pulses branched by the beam splitter 3 and converging and crossing the two optical pulses again while converging the two optical pulses. 4), and S provided at a position where the two converged light pulses intersect.
HG crystal 10, photomultiplier tube 11 for detecting a second harmonic generated by SHG crystal 10, photomultiplier tube 1
And a computer 12 for acquiring the second harmonic data from No. 1 and reconstructing the optical pulse to be measured based on the acquired data.
【００１１】次に、上記の構成を更に詳しく説明する。
図２（ａ）及び図２（ｂ）は波長分散器２を示す図であ
る。波長分散器２は図２（ａ）に示されるように、屈折
率の波長依存性を持つガラスからなる２つの同形状のく
さび型分散媒質２１が、その斜面を互いに接するように
重ね合わされて構成されている。くさび型分散媒質２１
の一方は、図２（ｂ）に示されるように接触面である斜
面に沿って平行移動可能な構成となっており、分散媒質
２１を通過する光パルスＬ０の距離ｄが変化することに
より波長分散（波形変形）量を制御することができる。
ここで、波長分散器２はコンピュータ１２と接続されて
おり、波長分散量はコンピュータ１２により制御され
る。Next, the above configuration will be described in more detail.
FIG. 2A and FIG. 2B are diagrams illustrating the wavelength disperser 2. As shown in FIG. 2 (a), the wavelength disperser 2 is composed of two wedge-type dispersion media 21 of the same shape made of glass having a wavelength dependence of the refractive index superimposed so that their slopes are in contact with each other. Have been. Wedge-type dispersion medium 21
One of them is configured so as to be able to move in parallel along a slope as a contact surface as shown in FIG. 2B, and the wavelength is changed by changing the distance d of the light pulse L0 passing through the dispersion medium 21. The amount of dispersion (waveform deformation) can be controlled.
Here, the chromatic dispersion device 2 is connected to the computer 12, and the amount of chromatic dispersion is controlled by the computer 12.
【００１２】再び図１を参照して説明する。遅延重ね手
段４はビームスプリッタによって互いに直交する方向に
二分岐された光パルスを折り返して干渉させるマイケル
ソン干渉計と類似の構成となっている。波長分散器２を
通過した光パルスＬ０の光軸に対するビームスプリッタ
３の垂直方向には、２つの全反射ミラーが９０°の角度
で対向されて構成されるリトロリフレクター５が設けら
れている。リトロリフレクター５は、一方の全反射ミラ
ーの反射面がビームスプリッタ３に向かって４５°とな
るように傾けられており、ビームスプリッタ３で分岐さ
れた第２光パルスＬ２を２つの反射ミラーで折り返す。
ビームスプリッタ３に対して波長分散器２と反対側の第
１光パルスＬ１の光軸上にもリトロリフレクター６が設
けられており、ビームスプリッタ３で分岐された第１光
パルスＬ１を折り返す。このリトロリフレクター６は光
軸に沿って移動可能な送り機構７に搭載され、第１光パ
ルスＬ１の遅延時間を変化させることができる。ここ
で、送り機構７はコンピュータ１２と接続されており、
遅延時間はコンピューター１２により制御される。Referring again to FIG. The delay superimposing means 4 has a configuration similar to a Michelson interferometer for folding back and interfering optical pulses bifurcated in directions orthogonal to each other by a beam splitter. In the direction perpendicular to the optical axis of the light pulse L0 that has passed through the wavelength disperser 2, the retroreflector 5 is provided in which two total reflection mirrors are opposed to each other at an angle of 90 °. The retro-reflector 5 is inclined such that the reflection surface of one total reflection mirror is at 45 ° toward the beam splitter 3, and the second light pulse L2 branched by the beam splitter 3 is turned back by the two reflection mirrors. .
A retroreflector 6 is also provided on the optical axis of the first optical pulse L1 on the side opposite to the wavelength disperser 2 with respect to the beam splitter 3, and folds the first optical pulse L1 branched by the beam splitter 3. The retro-reflector 6 is mounted on a feed mechanism 7 movable along the optical axis, and can change the delay time of the first light pulse L1. Here, the feed mechanism 7 is connected to the computer 12, and
The delay time is controlled by the computer 12.
【００１３】送り機構７に搭載されたリトロリフレクタ
ー６により反射された第１光パルスＬ１の光軸上には、
全反射ミラー８が光軸に対して４５°の角度をもって配
置されており、第１光パルスＬ１の光軸を第２光パルス
Ｌ２の光軸と同一方向に曲げる。On the optical axis of the first light pulse L1 reflected by the retro-reflector 6 mounted on the feed mechanism 7,
The total reflection mirror 8 is arranged at an angle of 45 ° with respect to the optical axis, and bends the optical axis of the first light pulse L1 in the same direction as the optical axis of the second light pulse L2.
【００１４】同一方向に進行する２つの光パルスの光軸
上にはレンズ９、ＳＨＧ結晶１０及び光電子増倍管１１
が配置されており、２つの光パルスをＳＨＧ結晶１０上
で交差させ発生した二次高調波（第３光パルス）を光電
子増倍管１１で検出する。このとき、変換されなかった
第１光パルスＬ１、第２光パルスＬ２が光電子増倍管１
１に入射すると誤信号として検出されるので、光電子増
倍管１１の手前に第１光パルスＬ１、第２光パルスＬ２
の波長に対応した光を透過させずに、発生した二次高調
波のみを透過させる波長フィルタ１３を配置することが
望ましい。A lens 9, an SHG crystal 10, and a photomultiplier tube 11 are placed on the optical axis of two light pulses traveling in the same direction.
The second harmonic (third optical pulse) generated by crossing two optical pulses on the SHG crystal 10 is detected by the photomultiplier tube 11. At this time, the first light pulse L1 and the second light pulse L2 which are not converted are applied to the photomultiplier 1
1 is detected as an erroneous signal, so that the first light pulse L1 and the second light pulse L2 are located in front of the photomultiplier tube 11.
It is desirable to dispose a wavelength filter 13 that transmits only the generated second harmonic without transmitting light corresponding to the wavelength.
【００１５】次に、この光パルス波形測定装置の作動に
ついて説明する。光源１から出力された光パルスＬ０は
波長分散器２に入射され、コンピュータ１２からの制御
に基づいて光パルスＬ０が波長分散される。波長分散さ
れた光パルスＬ０はビームスプリッタ３で第１光パルス
Ｌ１及び第２光パルスＬ２に分岐される。ビームスプリ
ッタ３を透過直進した第１光パルスＬ１はリトロリフレ
クター６により折り返され、更にその光軸上に配置され
た全反射ミラー８により反射されてレンズ９に向かう。
この時、リトロリフレクター６とビームスプリッタ３の
間隔はコンピュータ１２により制御され、遅延させる時
間を変化させることができる。また、ビームスプリッタ
３で反射された第２光パルスＬ２はリトロリフレクター
５で折り返されレンズ９に向かう。第１光パルスＬ１及
び第２光パルスＬ２は、レンズ９によりＳＨＧ結晶１０
上で交差する。Next, the operation of the optical pulse waveform measuring device will be described. The light pulse L0 output from the light source 1 is incident on the wavelength disperser 2, and the light pulse L0 is wavelength-dispersed under the control of the computer 12. The wavelength-dispersed light pulse L0 is split by the beam splitter 3 into a first light pulse L1 and a second light pulse L2. The first light pulse L1 transmitted straight through the beam splitter 3 is turned back by the retroreflector 6, further reflected by the total reflection mirror 8 arranged on the optical axis, and travels toward the lens 9.
At this time, the interval between the retroreflector 6 and the beam splitter 3 is controlled by the computer 12, and the delay time can be changed. The second light pulse L2 reflected by the beam splitter 3 is turned back by the retroreflector 5 and travels to the lens 9. The first light pulse L1 and the second light pulse L2 are transmitted by the lens 9 to the SHG crystal 10
Cross on
【００１６】ＳＨＧ結晶１０に光パルスＬ１、Ｌ２が入
射することによりＳＨＧ結晶１０からは二次高調波が発
生し、光電子増倍管１１は発生した二次高調波を検出す
る。検出された二次高調波の強度は、入射光パルスに与
えられた波長分散量及び遅延時間と共に相関データとし
てコンピュータ１２に保存する。次に、波長分散量、遅
延時間を変化させて検出される二次高調波のデータを取
得、保存する。When the light pulses L1 and L2 are incident on the SHG crystal 10, a second harmonic is generated from the SHG crystal 10, and the photomultiplier tube 11 detects the generated second harmonic. The detected intensity of the second harmonic is stored in the computer 12 as correlation data together with the chromatic dispersion amount and the delay time given to the incident light pulse. Next, data of the second harmonic detected by changing the amount of chromatic dispersion and the delay time is obtained and stored.
【００１７】最後に取得された相関データに基づいてコ
ンピュータ１２で解析を行い被測定光パルスの波形を再
構築する。被測定光の波形再構築は以下のように行う。
なお、図３は波形再構築のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。Analysis is performed by the computer 12 based on the finally acquired correlation data to reconstruct the waveform of the measured optical pulse. The waveform reconstruction of the measured light is performed as follows.
FIG. 3 is a flowchart showing an algorithm for waveform reconstruction.
【００１８】光パルスの電界波形をThe electric field waveform of the light pulse is
【数１】 とおく。なお、Ｒｅ［．．．］は、［．．．］内の複素
数の実部のみを取り出すことを意味する符号である。こ
こで、光パルスの再構築を行うのは搬送波を除いたＡ
（ｔ）のみで良いので、以下はＡ（ｔ）に関する計算の
みとする。光パルスの電界スペクトルは(Equation 1) far. Note that Re [. . . ] Is [. . . ] Means that only the real part of the complex number in [] is extracted. Here, the optical pulse is reconstructed by A excluding the carrier.
Since only (t) is required, the following is only calculation relating to A (t). The electric field spectrum of the light pulse is
【数２】 で表される。分散媒質が単位長さあたりｆ（ω）の位相
シフトを発生させるとすれば、長さηの分散媒質を通過
したときには、(Equation 2) It is represented by Assuming that the dispersion medium generates a phase shift of f (ω) per unit length, when passing through the dispersion medium of length η,
【数３】 となる。これより電界の時間波形は、(Equation 3) Becomes From this, the time waveform of the electric field is
【数４】 である。強度波形は、(Equation 4) It is. The intensity waveform is
【数５】 となる。強度波形にフーリエ変換をかけると、(Equation 5) Becomes When Fourier transform is applied to the intensity waveform,
【数６】 となる。ここで、自己相関関数Ｇ（ｔ、η）のフーリエ
変換は、(Equation 6) Becomes Here, the Fourier transform of the autocorrelation function G (t, η) is
【数７】 を満たすので、これを（６）式に代入すると、(Equation 7) Therefore, if this is substituted into Expression (6),
【数８】 となり、ここに計測値が反映される。なお、左辺は自己
相関波形の計測値で更新されているので、ダッシュを付
してある。(Equation 8) And the measurement value is reflected here. In addition, since the left side is updated with the measured value of the autocorrelation waveform, a dash is added.
【００１９】（８）式を逆フーリエ変換すると、By inverse Fourier transform of equation (8),
【数９】 となるが、（９）式は光強度を表しているので正である
から、ここで非負拘束をかけておく必要がある。（４）
式と（９）式から、(Equation 9) However, since equation (9) represents the light intensity and is positive, it is necessary to apply a non-negative constraint here. (4)
From equation (9),
【数１０】 （１０）式を逆フーリエ変換して、(Equation 10) Equation (10) is inverse Fourier transformed, and
【数１１】 が得られる。ここで、最小化のための評価関数[Equation 11] Is obtained. Here, the evaluation function for minimization
【数１２】 を定義し、Ｚが最小となるようにＡ（ω）を求める。こ
れ以降、（３）式に戻って計算を行い、（１２）式のＺ
が適当な値より小さくなるまで計算を繰り返す。(Equation 12) And A (ω) is determined so that Z is minimized. Thereafter, the calculation is performed by returning to the equation (3), and the Z in the equation (12) is calculated.
The calculation is repeated until is less than an appropriate value.
【００２０】このように波長分散量を変化させたデータ
を用いることにより、光パルスの波形を測定でき、さら
に相関波形の変化は第１光パルスＬ１の遅延量に対して
非対称に生じるので光パルス波形の方向も決定すること
ができる。図４は、分散媒質にＳＦ１０を用い、遅延時
間を±８５０ｆｓとして、本実施形態の光パルス波形測
定装置で二次高調波を測定した結果を示す図である。図
４は、分散量及び遅延時間に対して検出された二次高調
波の強度を示すものであり、縦軸は分散量を表し、下に
行くに従って分散量が増やされており、横軸は遅延時間
を表している。図５は、上図が図４の測定結果に基づい
て上記解析を行って被測定光パルス波形を再構築した結
果、下図が被測定光パルス波形の変化を示した図であ
り、これらの波形は理論値と良く一致している。By using the data in which the amount of chromatic dispersion is changed in this manner, the waveform of the optical pulse can be measured. Further, since the change in the correlation waveform occurs asymmetrically with respect to the delay amount of the first optical pulse L1, The direction of the waveform can also be determined. FIG. 4 is a diagram showing the result of measuring the second harmonic with the optical pulse waveform measuring apparatus of the present embodiment using SF10 as the dispersion medium and setting the delay time to ± 850 fs. FIG. 4 shows the intensity of the second harmonic detected with respect to the amount of dispersion and the delay time. The vertical axis represents the amount of dispersion, and the amount of dispersion increases as going downward, and the horizontal axis represents the amount of dispersion. Indicates the delay time. FIG. 5 shows the results of the above analysis based on the measurement results of FIG. 4 and the reconstruction of the measured optical pulse waveform, and the lower diagram shows the changes in the measured optical pulse waveform. Is in good agreement with the theoretical value.
【００２１】また、このような構成とすることにより、
従来のＦＲＯＧ方式による光波形測定方式と比較して分
光器が必要なくなり、装置の規模を小さくすることがで
きる。Also, by adopting such a configuration,
Compared with the conventional optical waveform measurement method based on the FROG method, a spectroscope is not required, and the scale of the apparatus can be reduced.
【００２２】次に、光パルス波形測定装置の第２実施形
態について説明する。図６は、第２実施形態に係る光パ
ルス波形測定装置を示す図である。第１実施形態の光パ
ルス波形測定装置のＳＨＧ結晶１０と光電子増倍管１１
に代えて、Ｓｉホトダイオードの非線形入出力手段を有
する光検出器３１で置き換えたものである。このような
構成とすることにより、非線形結晶を用いることなく容
易に光パルス波形測定装置を構成することができる。な
お、非線形入出力手段を有する光検出器３１は必ずしも
特別な構成を有する必要はなく、本実施形態のＳｉホト
ダイオードの他に、ＧａＡｓＰホトダイオード、ＧａＰ
ホトダイオードでも良いし、また、ＣｄＳやＰｂＳを用
いた光導電検出器でも良い。さらに、光電子増倍管、ホ
トダイオード又はホトトランジスタを本来有する感度領
域より長い波長領域で用いても良い。例えば、二次の相
関信号を得たい場合には２光子吸収により光電子を出力
するものであれば良く、８００ｎｍの光パルスを測定対
象とした場合には８００ｎｍに感度がなく、その二倍波
に感度があるものであれば良い。Next, a second embodiment of the optical pulse waveform measuring device will be described. FIG. 6 is a diagram showing an optical pulse waveform measuring device according to the second embodiment. SHG crystal 10 and photomultiplier tube 11 of optical pulse waveform measuring apparatus according to first embodiment
Is replaced by a photodetector 31 having nonlinear input / output means of a Si photodiode. With such a configuration, an optical pulse waveform measuring device can be easily configured without using a nonlinear crystal. The photodetector 31 having the non-linear input / output means does not necessarily have to have a special configuration. In addition to the Si photodiode of the present embodiment, a GaAsP photodiode, a GaP
It may be a photodiode or a photoconductive detector using CdS or PbS. Further, it may be used in a wavelength region longer than a sensitivity region originally having a photomultiplier tube, a photodiode or a phototransistor. For example, if it is desired to obtain a secondary correlation signal, it is sufficient to output photoelectrons by two-photon absorption. When an 800-nm light pulse is measured, there is no sensitivity at 800 nm, Anything that has sensitivity can be used.
【００２３】次に、光パルス波形測定装置の第３実施形
態について説明する。図７は、第３実施形態に係る光パ
ルス波形測定装置を示す図である。第２実施形態の光パ
ルス波形測定装置において、光源１とビームスプリッタ
３の間に配置されている波長分散器２を、ビームスプリ
ッタ３で分岐された第２光パルスＬ２の光路上に配置し
ている。このような構成とすることにより、一方の分岐
光パルスのみが波長分散され２つの光パルスの波形は異
なったものとなり、これらの重ね合わせによる相互相関
の結果が二次高調波の強度として検出される。Next, a third embodiment of the optical pulse waveform measuring device will be described. FIG. 7 is a diagram illustrating an optical pulse waveform measuring device according to the third embodiment. In the optical pulse waveform measuring apparatus according to the second embodiment, the wavelength disperser 2 disposed between the light source 1 and the beam splitter 3 is disposed on the optical path of the second optical pulse L2 branched by the beam splitter 3. I have. With such a configuration, only one of the branched optical pulses is wavelength-dispersed, and the waveforms of the two optical pulses are different, and the result of the cross-correlation resulting from the superposition of these is detected as the intensity of the second harmonic. You.
【００２４】以上、本発明の実施形態について詳細に説
明してきたが、本発明は上記実施形態に限定されない。
例えば、上記実施形態においては、波長分散器は２つの
同形状のくさび型分散媒質がその斜面を互いに接するよ
うに重ね合わされて構成されたものであったが、図８、
図９及び図１０に示すような波長分散器でも良い。Although the embodiments of the present invention have been described in detail, the present invention is not limited to the above embodiments.
For example, in the above-described embodiment, the wavelength disperser is configured such that two wedge-type dispersion media having the same shape are overlapped so that their slopes are in contact with each other.
A wavelength disperser as shown in FIGS. 9 and 10 may be used.
【００２５】図８の波長分散器は、分散能が既知の溶媒
４１を封入したボックス４２中に、入射する光パルスＬ
０光軸に沿って移動可能なリトロリフレクター４３が配
置され、ボックス４２に入射した光パルスＬ０をリトロ
リフレクター４３で折り返す構成となっている。リトロ
リフレクター４３を光軸に沿って移動させることにより
波長分散を制御することができる。The wavelength disperser shown in FIG. 8 is configured such that an optical pulse L incident on a box 42 in which a solvent 41 having a known dispersibility is enclosed is enclosed.
A retro-reflector 43 movable along the 0 optical axis is arranged, and the optical pulse L0 that has entered the box 42 is folded back by the retro-reflector 43. The wavelength dispersion can be controlled by moving the retroreflector 43 along the optical axis.
【００２６】図９に示す波長分散器は、２つの同じ分散
媒質５１をそれぞれ円筒形の支持部材５２に固定してこ
れら支持部材５２を対称に配置して構成されている。支
持部材５２を対称に回転させることにより入出光パルス
Ｌ０の光軸がずれないように保ったまま、分散媒質５１
を通過する距離を変化させ波長分散を制御することがで
きる。The wavelength disperser shown in FIG. 9 is configured such that two identical dispersion media 51 are respectively fixed to cylindrical support members 52 and these support members 52 are symmetrically arranged. By rotating the support member 52 symmetrically, the dispersion medium 51 is maintained while keeping the optical axis of the incoming / outgoing light pulse L0 from shifting.
Chromatic dispersion can be controlled by changing the distance through which the light passes.
【００２７】また、分散媒質内の伝播長を変化させる波
長分散器の他に以下のようなバリエーションも考えられ
る。すなわち、ファイバーなどで固定の分散を生じる
ものを多数用意してこれらを切り替える、液晶のよう
に印加する電気信号により分散量が変化する媒質を用い
る、いくつかの異なる分散特性を有する媒質を用いて
これらを切り替える、方法などである。以下に示す図１
０、図１１は上記に示す波長分散器の例である。In addition to the wavelength disperser that changes the propagation length in the dispersion medium, the following variations are also conceivable. In other words, a large number of fibers or the like that generate fixed dispersion are prepared and switched between them, a medium such as a liquid crystal whose amount of dispersion changes by an applied electric signal is used, or a medium having several different dispersion characteristics is used. Switching these, a method, and the like. Figure 1 below
0 and FIG. 11 are examples of the wavelength disperser shown above.
【００２８】図１０に示す波長分散器は、回転支持軸６
３によって支持された円板６２の周縁部に複数の窓６１
を有し、それぞれの窓６１に異なる分散特性を有する分
散媒質が嵌め込まれて構成されている。回転支持軸６３
を中心に円板６２を回転させると光パルスＬ０が通過す
る窓６１に嵌め込まれている分散媒質が替わるため、波
長分散量を変化させることができる。The wavelength dispersion device shown in FIG.
A plurality of windows 61 are provided on the periphery of the disc 62 supported by
And a dispersion medium having different dispersion characteristics is fitted into each window 61. Rotation support shaft 63
When the disk 62 is rotated around the center, the dispersion medium fitted in the window 61 through which the light pulse L0 passes changes, and the amount of chromatic dispersion can be changed.
【００２９】図１１に示す波長分散器は、帯状の板７２
の直線状に並んだ窓７１に、それぞれ異なる分散特性を
有する分散媒質が嵌め込まれて構成されている。板７２
をその底面に平行にスライドさせると、光パルスＬ０が
通過する窓７１に嵌め込まれている分散媒質が替わるた
め、波長分散量を変化させることができる。The wavelength disperser shown in FIG.
Dispersion media having different dispersion characteristics are fitted into the windows 71 arranged in a straight line. Board 72
Is slid parallel to the bottom surface thereof, the dispersion medium fitted in the window 71 through which the light pulse L0 passes changes, so that the amount of chromatic dispersion can be changed.
【００３０】また、波形変形手段として、波長分散以外
にもグレーティング、Ｅ／Ｏ変調器、Ａ／Ｏ変調器、フ
ァブリーペロー干渉計、Gires-Tournois干渉計等を用い
ることもできる。In addition to the chromatic dispersion, a grating, an E / O modulator, an A / O modulator, a Fabry-Perot interferometer, a Gires-Tournois interferometer, or the like can be used as the waveform deforming means.
【００３１】また、本実施形態では被測定光パルスを分
岐し、分岐された一方の光パルスを遅延させて重ねる遅
延重ね手段としてマイケルソン干渉計に類似した構成を
用いたが、図１２に示すような構成も考えられる。In this embodiment, a configuration similar to a Michelson interferometer is used as a delay superimposing means for branching an optical pulse to be measured and delaying one of the branched optical pulses and superimposing them, as shown in FIG. Such a configuration is also conceivable.
【００３２】図１２に示す遅延重ね手段は、光分岐手段
と光重ね合わせ手段を兼ねるハーフミラー８１と、ハー
フミラー８１によって分岐された第１光パルスＬ１と第
２光パルスＬ２の光軸上に設けられた全反射ミラー８２
と、第１光パルスＬ１及び第２光パルスＬ２が入射する
回転透明体８３と、回転透明体８３を通過した第１光パ
ルスＬ１及び第２光パルスＬ２のそれぞれの光軸上に、
光軸に対して反射面が垂直になるように配置された全反
射ミラー８４とから構成される。この遅延重ね機構は次
のように作動する。The delay superimposing means shown in FIG. 12 includes a half mirror 81 serving also as an optical branching means and an optical superposing means, and an optical axis of the first optical pulse L1 and the second optical pulse L2 branched by the half mirror 81. Total reflection mirror 82 provided
And the rotating transparent body 83 on which the first light pulse L1 and the second light pulse L2 are incident, and the respective optical axes of the first light pulse L1 and the second light pulse L2 passing through the rotating transparent body 83,
A total reflection mirror 84 arranged so that the reflection surface is perpendicular to the optical axis. This delay overlap mechanism operates as follows.
【００３３】被測定光パルスＬ０は、ハーフミラー８１
に入射すると第１光パルスＬ１と第２光パルスＬ２に分
岐され、それぞれの光パルスは全反射ミラー８２を介し
て回転透明体８３に入射する。回転透明体８３を通過し
たそれぞれの光パルスはその光軸上に配置されている全
反射ミラー８４によって反射される。反射された光パル
スは、反射前にそれぞれの光パルスが進んだ光路を反対
方向に進んでハーフミラー８１に戻り、ハーフミラー８
１によって第１光パルスＬ１と第２光パルスＬ２とが重
ね合わされる。ここで、回転透明体８３を回転させるこ
とにより、ハーフミラー８１で分岐されてから再び重ね
合わされるまでの第１光パルスＬ１と第２光パルスＬ２
の光路に差が生ずるため、一方の光パルスを遅延させて
重ねることができる。The measured light pulse L0 is transmitted to the half mirror 81
, The light is branched into a first light pulse L1 and a second light pulse L2, and each light pulse is incident on the rotating transparent body 83 via the total reflection mirror 82. Each light pulse that has passed through the rotating transparent body 83 is reflected by a total reflection mirror 84 arranged on the optical axis. The reflected light pulse travels in the opposite direction along the optical path where each light pulse has traveled before reflection, returns to the half mirror 81, and returns to the half mirror 8
1, the first light pulse L1 and the second light pulse L2 are superimposed. Here, by rotating the rotating transparent body 83, the first light pulse L1 and the second light pulse L2 from being split by the half mirror 81 to being superimposed again are overlapped.
Since one optical pulse has a difference, one of the optical pulses can be delayed and overlapped.
【００３４】さらに、非線形結晶についても本実施形態
ではＳＨＧ結晶を用いたが、二次高調波発生能を有する
ものであればＫＤＰやＡＤＰでも良く、また半導体や色
素などをドープした色ガラスフィルターのような２光子
を吸収して１光子を発生させる物質でも良い。In this embodiment, the SHG crystal is used for the non-linear crystal, but KDP or ADP may be used as long as it has a second harmonic generation capability. Such a substance that absorbs two photons and generates one photon may be used.
【００３５】[0035]
【発明の効果】本発明によれば、光パルスの波形を測定
でき、さらに遅延量に対して非対称な相関データが得ら
れるので光パルス波形の方向も決定することができる。
また、従来のＦＲＯＧ方式による光波形測定方式と比較
して分光器が必要なくなり、装置の規模を小さくするこ
とができる。According to the present invention, the waveform of an optical pulse can be measured, and correlation data asymmetric with respect to the delay amount can be obtained, so that the direction of the optical pulse waveform can be determined.
Further, a spectroscope is not required as compared with the conventional optical waveform measurement method based on the FROG method, and the scale of the apparatus can be reduced.
【図１】第１実施形態に係る光パルス波形測定装置を示
す図である。FIG. 1 is a diagram showing an optical pulse waveform measuring device according to a first embodiment.
【図２】波長分散器を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a wavelength disperser.
【図３】波形再構築のアルゴリズムを示すフローチャー
トである。FIG. 3 is a flowchart showing an algorithm of waveform reconstruction.
【図４】本実施形態の光パルス波形測定装置で二次高調
波を測定した結果を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a result of measuring a second harmonic with the optical pulse waveform measuring device of the present embodiment.
【図５】上図は、解析を行って被測定光パルス波形を再
構築した結果である。下図は解析を行って被測定光パル
ス波形の位相の時間微分値の変化、すなわち瞬間周波数
の変化を示した図である。FIG. 5 shows the result of reconstructing the measured optical pulse waveform by performing analysis. The lower diagram is a diagram showing a change in the time differential value of the phase of the optical pulse waveform to be measured, that is, a change in the instantaneous frequency by performing analysis.
【図６】第２実施形態に係る光パルス波形測定装置を示
す図であるFIG. 6 is a diagram showing an optical pulse waveform measuring device according to a second embodiment.
【図７】第３実施形態に係る光パルス波形測定装置を示
す図であるFIG. 7 is a diagram showing an optical pulse waveform measuring device according to a third embodiment.
【図８】波長分散器の他の例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating another example of the wavelength disperser.
【図９】波長分散器の他の例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating another example of the wavelength disperser.
【図１０】波長分散器の他の例を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating another example of the wavelength disperser.
【図１１】波長分散器の他の例を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating another example of the wavelength disperser.
【図１２】遅延重ね手段の他の例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing another example of the delay superimposing means.
１・・・光源、２・・・波長分散器、３・・・ビームス
プリッタ、４・・・遅延重ね手段、５、６・・・リトロ
リフレクター、７・・・送り機構、８・・・全反射ミラ
ー、９・・・レンズ、１０・・・ＳＨＧ結晶、１１・・
・光電子増倍管、１２・・・コンピュータ、１３・・・
波長フィルタ、２１・・・くさび型分散媒質、３１・・
・非線形入出力手段を有する光検出器、４１・・・溶
媒、４２・・・ボックス、４３・・・リトロリフレクタ
ー、５１・・・分散媒質、５２・・・支持部材、６１・
・・窓、６２・・・円板、６３・・・回転支持軸、７１
・・・窓、７２・・・板、８１・・・ハーフミラー、８
２・・・全反射ミラー、８３・・・回転透明体、８４・
・・全反射ミラー。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Light source, 2 ... Wavelength disperser, 3 ... Beam splitter, 4 ... Delay superposition means, 5, 6 ... Retroreflector, 7 ... Feeding mechanism, 8 ... All Reflection mirror, 9 ... lens, 10 ... SHG crystal, 11 ...
・ Photomultiplier tube, 12 ・ ・ ・ Computer, 13 ・ ・ ・
Wavelength filter, 21 ... wedge-type dispersion medium, 31 ...
A photodetector having a non-linear input / output means, 41 ... solvent, 42 ... box, 43 ... retroreflector, 51 ... dispersion medium, 52 ... support member, 61 ...
..Window, 62 ... disk, 63 ... rotation support shaft, 71
... window, 72 ... plate, 81 ... half mirror, 8
2 ... Total reflection mirror, 83 ... Rotating transparent body, 84
.. Total reflection mirror.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G065 AA12 AB02 AB09 AB14 AB26 BA02 BA07 BA09 BA18 BB14 BB26 BB27 BB28 BB38 BB39 BC35 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G065 AA12 AB02 AB09 AB14 AB26 BA02 BA07 BA09 BA18 BB14 BB26 BB27 BB28 BB38 BB39 BC35
Claims (3)
定する光パルス波形測定装置において、 前記被測定光パルスの波形を変形させる波形変形手段
と、 前記波形変形手段における波形変形量を制御する波形変
形量制御手段と、 前記波形変形手段により波形変形された前記被測定光パ
ルスを第１光パルスと第２光パルスに分岐する分岐手段
と、 前記第１光パルスを前記第２光パルスに対して遅延させ
る遅延手段と、 前記遅延手段における第１光パルスの遅延時間を制御す
る遅延時間制御手段と、 前記第１光パルスと前記第２光パルスとを所定の重ね合
わせ領域で重ねる重ね手段と、 前記重ね合わせ領域において重ねられた前記第１光パル
スと前記第２光パルスを非線形相互作用によって第３光
パルスに変換する光変換手段と、 前記波形変形量及び前記遅延時間に対する前記第３光パ
ルスの光強度を検出する光強度検出手段と、 前記波形変形量及び前記遅延時間を変化させて検出され
た前記光強度から相関データを取得する相関データ取得
手段と、 前記相関データに基づいて前記被測定光パルスの波形を
再構築する波形再構築手段と、 を備えることを特徴とする光パルス波形測定装置。1. An optical pulse waveform measuring device for measuring a waveform of an optical pulse to be measured by a correlation method, wherein a waveform deforming means for deforming the waveform of the optical pulse to be measured, and a waveform deformation amount in the waveform deforming means is controlled. Waveform deformation amount control means; branch means for branching the measured light pulse whose waveform has been deformed by the waveform deformation means into a first light pulse and a second light pulse; and the first light pulse is converted into the second light pulse. Delay means for delaying the first light pulse in the delay means; delay time control means for controlling the delay time of the first light pulse in the delay means; and overlapping means for overlapping the first light pulse and the second light pulse in a predetermined overlapping area. Light conversion means for converting the first light pulse and the second light pulse superimposed in the superimposition region into a third light pulse by non-linear interaction; Light intensity detecting means for detecting the light intensity of the third light pulse with respect to the amount and the delay time; and obtaining correlation data from the light intensity detected by changing the waveform deformation amount and the delay time. Means, and a waveform reconstructing means for reconstructing the waveform of the measured optical pulse based on the correlation data.
定する光パルス波形測定装置において、 前記被測定光パルスの波形を変形させる波形変形手段
と、 前記波形変形手段における波形変形量を制御する波形変
形量制御手段と、 前記波形変形手段により波形変形された前記被測定光パ
ルスを第１光パルスと第２光パルスに分岐する分岐手段
と、 前記第１光パルスを前記第２光パルスに対して遅延させ
る遅延手段と、 前記遅延手段における第１光パルスの遅延時間を制御す
る遅延時間制御手段と、 前記第１光パルスと前記第２光パルスとを所定の重ね合
わせ領域で重ねる重ね手段と、 前記重ね合わせ領域において重ねられた前記第１光パル
スと前記第２光パルスの空間的及び時間的な重なりに対
応した光学量を検出する非線形入出力手段を有する光検
出手段と、 前記波形変形量及び前記遅延時間を変化させて検出され
た前記光学量から相関データを取得する相関データ取得
手段と、 前記相関データに基づいて前記被測定光パルスの波形を
再構築する波形再構築手段と、 を備えることを特徴とする光パルス波形測定装置。2. An optical pulse waveform measuring device for measuring a waveform of a measured optical pulse by a correlation method, wherein the waveform deforming means deforms the waveform of the measured optical pulse, and a waveform deformation amount in the waveform deforming means is controlled. Waveform deformation amount control means; branch means for branching the measured light pulse whose waveform has been deformed by the waveform deformation means into a first light pulse and a second light pulse; and the first light pulse is converted into the second light pulse. Delay means for delaying the first light pulse in the delay means; delay time control means for controlling the delay time of the first light pulse in the delay means; and overlapping means for overlapping the first light pulse and the second light pulse in a predetermined overlapping area. And a non-linear input / output means for detecting an optical amount corresponding to a spatial and temporal overlap of the first light pulse and the second light pulse overlapped in the overlapping area. A light detection unit, a correlation data obtaining unit that obtains correlation data from the optical amount detected by changing the waveform deformation amount and the delay time, and a waveform of the measured light pulse based on the correlation data. An optical pulse waveform measuring device, comprising: a waveform reconstructing means for reconstructing.
って分岐された第１光パルス又は第２光パルスの一方の
光路上に設けられていることを特徴とする請求項１又は
２に記載の光パルス波形測定装置。3. The apparatus according to claim 1, wherein the waveform deforming unit is provided on one of optical paths of the first optical pulse or the second optical pulse branched by the branching unit. Optical pulse waveform measuring device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11168163A JP2000356555A (en) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | Light pulse waveform-measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11168163A JP2000356555A (en) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | Light pulse waveform-measuring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000356555A true JP2000356555A (en) | 2000-12-26 |
Family
ID=15862985
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11168163A Withdrawn JP2000356555A (en) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | Light pulse waveform-measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000356555A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006098057A1 (en) * | 2005-03-17 | 2006-09-21 | Osaka University | Beam light output system, and method and device for controlling beam light output device |
| JP2017181259A (en) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | Pulse light waveform measurement method and waveform measurement device |
| CN108775966A (en) * | 2018-09-05 | 2018-11-09 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | A kind of double delay third-order relevant instruments |
| CN113375799A (en) * | 2021-04-20 | 2021-09-10 | 浙江大学 | High-sensitivity image-type autocorrelation-FROG integrated instrument |
-
1999
- 1999-06-15 JP JP11168163A patent/JP2000356555A/en not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006098057A1 (en) * | 2005-03-17 | 2006-09-21 | Osaka University | Beam light output system, and method and device for controlling beam light output device |
| JP2017181259A (en) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | Pulse light waveform measurement method and waveform measurement device |
| WO2017169800A1 (en) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | Pulsed light waveform measurement method and waveform measurement device |
| US10378964B2 (en) | 2016-03-30 | 2019-08-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Pulsed light waveform measurement method and waveform measurement device |
| CN108775966A (en) * | 2018-09-05 | 2018-11-09 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | A kind of double delay third-order relevant instruments |
| CN108775966B (en) * | 2018-09-05 | 2023-06-09 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | Double-delay third-order correlator |
| CN113375799A (en) * | 2021-04-20 | 2021-09-10 | 浙江大学 | High-sensitivity image-type autocorrelation-FROG integrated instrument |
| CN113375799B (en) * | 2021-04-20 | 2024-05-28 | 浙江大学 | High-sensitivity image type autocorrelation-FROG integrated instrument |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6819428B2 (en) | Instruments of optical pulse characterization | |
| US5491552A (en) | Optical interferometer employing mutually coherent light source and an array detector for imaging in strongly scattered media | |
| US6504612B2 (en) | Electromagnetic wave analyzer | |
| JP5265351B2 (en) | Measurement of ultrashort light pulses using thick nonlinear crystals. | |
| US8355137B2 (en) | System and method for chirped pulse interferometry | |
| JP6654948B2 (en) | Method and apparatus for measuring pulse light waveform | |
| Branning et al. | Simultaneous measurement of group and phase delay between two photons | |
| EP3206014B1 (en) | Optical response measuring device and optical response measuring method | |
| US6204926B1 (en) | Methods and system for optically correlating ultrashort optical waveforms | |
| CN105333815A (en) | Super lateral resolution surface three-dimensional online interference measuring system based on spectral dispersion line scanning | |
| Sahu et al. | High-sensitivity fluorescence-detected multidimensional electronic spectroscopy through continuous pump–probe delay scan | |
| JP2000356555A (en) | Light pulse waveform-measuring device | |
| US6958817B1 (en) | Method of interferometry with modulated optical path-length difference and interferometer | |
| US6266145B1 (en) | Apparatus for measurement of an optical pulse shape | |
| JP7041022B2 (en) | Optical analysis module and optical analysis device | |
| CN110186568B (en) | Photon mixing terahertz wave detection device | |
| CN107923798B (en) | Autocorrelation measuring device | |
| JP2767000B2 (en) | Waveguide dispersion measurement method and apparatus | |
| JP3170894B2 (en) | Spatial light modulator evaluation system | |
| Serabyn et al. | Submillimeter pupil-plane wavefront sensing | |
| KR20130040520A (en) | Reflector-based optical heterodyne interferometry and sensor thereof | |
| JPS63218827A (en) | Light spectrum detector | |
| WO2023171626A1 (en) | Spectroscopic device | |
| JP2970667B1 (en) | Optical pulse response measurement device | |
| RU2028626C1 (en) | Device for measuring frequency of harmonic electric oscillations |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060120 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070705 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20070720 |