JP2000346638A - 測定手順ファイル生成方法、測定装置および記憶媒体 - Google Patents

測定手順ファイル生成方法、測定装置および記憶媒体

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JP2000346638A JP11161783A JP16178399A JP2000346638A JP 2000346638 A JP2000346638 A JP 2000346638A JP 11161783 A JP11161783 A JP 11161783A JP 16178399 A JP16178399 A JP 16178399A JP 2000346638 A JP2000346638 A JP 2000346638A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定対象が複雑な形状であっても、簡単に測
定ルートを設定することができる測定手順ファイル生成
方法を提供する。 【解決手段】 操作者により取得開始ボタン115が押
されると、撮影対象となるワークの開始点および終了点
を取得する(S6)。ステージ移動させながらCCDカ
メラ38でワークを1画面分ずつ撮影して保存する(S
7)。保存された各画像を結合し、CRTディスプレイ
25に表示された結合画像130に対し、赤などの特定
色で塗りつぶすことによって測定領域を指定する(S
9)。レーザ測定ルートの生成条件である各種パラメー
タを入力した後、ルート生成ボタン143が押される
と、設定された各種パラメータにしたがって、レーザ測
定ルートを生成・表示する(S15)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物に対する
測定ルート(測定経路)などの測定手順が設定された測
定手順ファイルを生成する測定手順ファイル生成方法お
よび測定装置に関する。また、測定手順ファイルを生成
するプログラムが格納された記憶媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、レーザプローブなどの非接触変位
計を用いて被測定物(測定対象)の位置などを測定する
三次元測定装置が知られており、このような三次元測定
装置では、測定前、測定対象の形状に合わせて、マニュ
アル操作により測定ルートの設定を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マニュ
アル操作で測定ルートを設定する場合、測定対象の形状
が複雑であると、測定ルートの設定が著しく困難であ
り、その設定に非常に多くの時間を要していた。
【0004】そこで、本発明は、測定対象が複雑な形状
であっても、簡単に測定ルートを設定することができる
測定手順ファイル生成方法、測定装置および記憶媒体を
提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1に記載の測定手順ファイル生成方
法は、被測定物を測定するための測定経路が設定された
測定手順ファイルを生成する測定手順ファイル生成方法
において、前記被測定物を撮影する工程と、該撮影によ
り得られた複数枚の画像を結合して前記被測定物全体の
画像を生成する工程と、該生成された被測定物の画像に
対して測定領域を指定する工程と、該指定された測定領
域に基づき、前記測定経路を生成する工程とを有するこ
とを特徴とする。
【0006】請求項2に記載の測定手順ファイル生成方
法は、請求項1に係る測定手順ファイル生成方法におい
て、前記測定経路を生成するための条件を入力する工程
を有し、前記測定経路を生成する工程では、前記入力さ
れた条件にしたがって、前記測定経路を生成することを
特徴とする。
【0007】請求項3に記載の測定手順ファイル生成方
法は、請求項1または請求項2に係る測定手順ファイル
生成方法において、前記撮影する工程では、前記被測定
物の測定に用いられる測定ツールに付属のカメラと前記
被測定物とを相対的に移動させながら、該カメラで前記
被測定物の一部を連続撮影することを特徴とする。
【0008】請求項4に記載の測定手順ファイル生成方
法は、請求項1または請求項2に係る測定手順ファイル
生成方法において、前記被測定物の画像を表示する工程
を有し、前記指定する工程では、前記表示された被測定
物の画像を特定色で塗りつぶすことにより前記測定領域
を指定することを特徴とする。
【0009】請求項5に記載の測定手順ファイル生成方
法は、請求項4に係る測定手順ファイル生成方法におい
て、前記表示された被測定物の画像に前記生成された測
定経路を重ねて表示する工程を有することを特徴とす
る。
【0010】請求項6に記載の測定手順ファイル生成方
法は、請求項3に係る測定手順ファイル生成方法におい
て、開始点および終了点を指定することにより前記カメ
ラの撮影範囲を設定する工程を有することを特徴とす
る。
【0011】請求項7に記載の測定装置は、測定手順フ
ァイルに設定された測定経路にしたがって、被測定物を
測定する測定装置において、前記被測定物を撮影する撮
影手段と、該撮影により得られた複数枚の画像を結合し
て前記被測定物全体の画像を生成する画像生成手段と、
該生成された被測定物の画像に対して測定領域を指定す
る指定手段と、該指定された測定領域に基づき、前記測
定経路を生成する測定経路生成手段とを備えたことを特
徴とする。
【0012】請求項8に記載の記憶媒体は、測定装置を
制御するコンピュータによって実行され、被測定物を測
定するための測定経路が設定された測定手順ファイルを
生成するプログラムが格納された記憶媒体において、前
記プログラムは、前記被測定物を撮影する手順と、該撮
影により得られた複数枚の画像を結合して前記被測定物
全体の画像を生成する手順と、該生成された被測定物の
画像に対して測定領域を指定する手順と、該指定された
測定領域に基づき、前記測定経路を生成する手順とを含
むことを特徴とする。
【0013】ここで、開始点および終了点を指定するこ
とによりカメラの撮影範囲を設定する場合、カメラを直
接、開始点および終了点に移動させることにより設定し
てもよいし、開始点および終了点の座標をキーなどで入
力することによって設定してもよい。
【0014】また、測定領域を指定する場合、ペイント
ソフトウェアに被測定物の画像を貼り付けておき、その
上から赤などの特定色をブラシツールなどにより塗りつ
ぶすことにより指定してもよい。さらに、特定色で塗り
つぶす代わりに、ペンツールなどで線で囲むようにして
もよいし、囲まれた内部のポジネガを反転させてもよ
い。例えば、モノクロカメラでワークをバックライトで
撮影した場合、ワークに穴があいている部分は光が透過
するので明るく、陰になる部分は暗く写るが、この明暗
を反転させて測定領域を示すようにしてもよい。
【0015】またさらに、測定経路のパターンを予め登
録しておき、登録されたパターンの中から測定経路を選
択するようにしてもよい。この場合、選択可能な測定経
路のパターンとしては、X方向またはY方向に設定され
た測定ピッチで往復移動するパターン、設定された測定
ピッチで一方向に移動するパターン、渦巻き状のパター
ン、同心円状のパターンなどが挙げられる。これらのパ
ターンの選択を、画面に表示されたダイアログボックス
で行えるようにしてもよい。
【0016】また、測定ツールとしては、光学式のレー
ザプローブ、接触式のタッチセンサなどが挙げられる。
【0017】本発明によれば、操作者は、被測定物が複
雑な形状であっても、撮影された被測定物の画像に対し
て測定領域を指定することで、簡単に測定経路を設定す
ることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の測定手順ファイル生成方
法、測定装置および記憶媒体の実施の形態について説明
する。本実施形態の測定装置は、レーザプローブを用い
た光学式の三次元測定装置に適用される。
【0019】図1は三次元測定装置の全体構成を示す斜
視図である。この三次元測定装置は、非接触画像測定機
能および非接触変位測定機能を有する三次元測定機1
と、この三次元測定機1の駆動を制御するとともに、必
要なデータ処理を行うコンピュータシステム2とから構
成されている。
【0020】三次元測定機1は架台11を有し、架台1
1の上には、被測定対象であるワーク12を載置する測
定テーブル13が装着されている。測定テーブル13は
図示しないY軸駆動機構によりY軸方向に駆動される。
【0021】架台11の両側縁中央には、上方に延びる
支持アーム14、15が固定されており、この支持アー
ム14、15の両上端部を連結するようにX軸ガイド1
6が固定されている。このX軸ガイド16には、撮像ユ
ニット17が支持されている。撮像ユニット17は、図
示しないX軸駆動機構によってX軸ガイド16に沿って
駆動される。
【0022】コンピュータシステム2は、計測情報処理
および各種制御を司るコンピュータ12と、各種指示情
報を入力するキーボード22、ジョイスティックボック
ス23およびマウス24、計測画面、指示画面および計
測結果を表示するCRTディスプレイ25、および計測
結果のプリントアウトを行うプリンタ26を有する。
【0023】図2は撮像ユニット17の構成を示す図で
ある。撮像ユニット17の内部には、X軸ガイド16に
沿って移動自在なスライダ31が設けられており、この
スライダ31に一体にZ軸ガイド32が固定されてい
る。また、Z軸ガイド32には、支持板33がZ軸方向
に摺動自在に設けられており、この支持板33には、画
像測定用の撮像手段であるCCDカメラ34、および非
接触変位計であるレーザプローブ35が併設されてい
る。
【0024】これにより、CCDカメラ34およびレー
ザプローブ35は、一定の位置関係を保ってX、Y、Z
の3軸方向に同時に移動できるようになっている。CC
Dカメラ34には、撮像範囲を照明するための照明装置
36が付加されている。レーザプローブ35の近傍位置
には、レーザプローブ35のレーザビームによる測定位
置を確認するために測定位置の周辺を撮像するCCDカ
メラ38、およびレーザプローブ35の測定位置を照明
するための照明装置39が設けられている。
【0025】レーザプローブ35は上下動機構40およ
び回転機構41に支持されている。上下動機構40は、
撮像ユニット17を移動する際、レーザプローブ35を
退避させる。回転機構41はレーザビームの方向を最適
な方向に適合させる。
【0026】図3はレーザプローブの光学的構成を示す
図である。半導体レーザ51から放射された光は、ビー
ムスプリッタ52および1/4波長板53を介してコリ
メートレンズ54によって平行光線となり、ミラー5
5、56および対物レンズ57を介してワーク12の測
定部に光スポットを形成する。
【0027】ワーク12の測定部から反射された光は、
ミラー56、55、コリメートレンズ54および1/4
波長板53の逆経路を辿ってビームスプリッタ52で反
射され、エッジミラー58で上下に二分割される。
【0028】上下に分割された光は、上下に配置された
2分割受光素子59、60で検出される。検出回路61
は、2分割受光素子59、60からの出力信号を基に、
対物レンズ57の焦点位置からワーク12の測定面まで
のずれ量に応じた信号を出力する。
【0029】サーボ回路63は、検出回路61の検出出
力に基づいて駆動機構64に対物レンズ57を駆動する
ための駆動信号を出力する。対物レンズ57が上下動す
ると、変位検出器66の可動部材67が固定部材68に
対して移動する。この移動量が変位量として出力され
る。
【0030】図4は三次元測定機1およびコンピュータ
システム2の電気的構成を示すブロック図である。三次
元測定機1では、画像測定用のCCDカメラ34および
レーザプローブ35の測定位置確認用のCCDカメラ3
8でワーク12を撮影して得られた画像信号は、それぞ
れA/D変換器71、72で多値画像データに変換され
た後、選択回路73によっていずれか一方が選択されて
コンピュータ21に供給される。
【0031】CCDカメラ34、38の撮像に必要な照
明光は、コンピュータ21の制御に基づき、照明制御部
74、75が照明装置36、39をそれぞれ制御するこ
とにより与えられる。レーザプローブ35から得られた
変位量の信号は、A/D変換器76を介してコンピュー
タ21に供給される。
【0032】そして、これらを含む撮像ユニット17
は、コンピュータ21の制御に基づいて動作するXYZ
駆動部77によってX、Y、Z軸方向に駆動される。撮
像ユニット17のX、Y、Z軸方向の位置は、XYZ軸
エンコーダ78によって検出され、コンピュータ21に
供給される。
【0033】一方、コンピュータ21は、CPU81、
このCPU81に接続される多値画像メモリ82、RO
Mからなるプログラム記憶部83、ワークメモリ84、
I/Oインターフェース85、86、91および表示制
御部87から構成される。表示制御部87は多値画像メ
モリ81に記憶された多値画像データをCRTディスプ
レイ25に表示する。
【0034】CPU81は、画像測定モードとレーザ測
定モードとで選択回路73を切り換える。選択回路73
で選択された画像測定用の多値画像データまたはレーザ
測定用の多値画像データは、多値画像メモリ82に格納
される。多値画像メモリ82に格納された多値画像デー
タは、表示制御部87の表示制御動作によってCRTデ
ィスプレイ25に表示される。
【0035】一方、キーボード22、ジョイスティック
23およびマウス24から入力されるオペレータの指示
情報は、インターフェース85を介してCPU81に入
力される。また、CPU81には、レーザプローブ35
で検出された変位量やXYZ軸エンコーダ78からのX
YZ座標情報などを取り込む。
【0036】CPU81は、これらの入力情報、オペレ
ータの指示およびプログラム記憶部83に格納されたプ
ログラムに基づいて、XYZ軸駆動部77によるステー
ジの移動、測定値の演算処理などの各種処理を実行す
る。ワークメモリ84は、CPU81の各種処理のため
の作業領域を提供する。測定値は、インターフェース8
6を介してプリンタ26に出力される。
【0037】また、I/Oインターフェース91を介し
て接続されるハードディスク92などのストレージメモ
リには、後述する測定パートプログラム、測定データ、
解析データなどが記憶される。
【0038】上記構成を有する三次元測定装置では、C
CDカメラ34を用いた画像測定モードおよびレーザプ
ローブ35を用いたレーザ測定モードの2つのモードで
ワーク測定を行うことが可能である。ここでは、レーザ
プローブ35を用いてワーク測定を行う際、ワークに対
するレーザプローブ35の移動経路、つまり測定ルート
が設定された測定パートプログラムの生成方法につい
て、以下に説明する。
【0039】図5および図6は測定パートプログラムの
生成処理手順を示すフローチャートである。この処理プ
ログラムはプログラム記憶部83に格納されており、操
作者によって所定のキー入力があった時、CPU81に
よって実行される。
【0040】測定パートプログラム生成処理プログラム
が起動すると、まず、CRTディスプレイ25にメイン
画面101を表示する(ステップS1)。図7はメイン
画面101を示す図である。このメイン画面101に
は、画像取込ボタン102、測定プログラム生成・実行
ボタン103、ファイルオープン(ファイルを開く)ボ
タン104、ファイルセーブ(ファイルを保存)ボタン
105、クローズボタン106などが設けられている。
【0041】操作者により画像取込ボタン102が押さ
れる(クリックされる)のを待ち(ステップS2)、画
像取込ボタン102が押されると、画像取得ダイアログ
ボックス110を表示する(ステップS3)。図8は画
像取得ダイアログボックス110を示す図である。画像
取得ダイアログボックス110には、「マニュアルツー
ルによる位置指定」、「座標指定」のいずれかの画像取
得方法を選択するための選択ボタン112、取得開始ボ
タン115、閉じるボタン116、キャンセルボタン1
17などが設けられている。選択ボタン112により
「座標指定」が選択された場合、開始点および終了点の
座標を直接入力することが可能である。ここでは、「マ
ニュアルツールによる位置指定」が選択された場合につ
いて示す。
【0042】操作者により画像取得方法が選択されると
(ステップS4)、取得開始ボタン115が押されるの
を待ち(ステップS5)、取得開始ボタン115が押さ
れると、撮影対象となるワークの開始点および終了点を
取得する(ステップS6)。すなわち、ステップS4で
取得された画像取得方法が「マニュアルツールによる位
置指定」である場合、操作者は測定テーブル13あるい
はCCDカメラ38を動かして撮影範囲となるステージ
を移動させながら、ワークの開始点および終了点を指定
する。図9はワークの開始点および終了点を示す図であ
る。本実施形態では、ワークとして、四角形および円形
の孔が形成された略長方形のベースプレートが用いられ
ている。図中、ワーク120の左下に示される十字の中
心を開始点121とし、図中右上に示される十字の中心
を終了点122として、撮影対象範囲を指定する。開始
点121および終了点122を囲む四角枠121a、1
22aは、それぞれCCDカメラ38の撮影範囲を示
す。
【0043】指定された撮影対象範囲に対し、1画面分
ずつステージ移動させながらCCDカメラ38で撮影
し、撮影した画像を画像ファイルとして自動的に多値画
像メモリ82に保存する(ステップS7)。図10はス
テージ移動しながらワークを連続的に撮影する様子を示
す図である。ここでは、各撮影画像は重複しないように
撮影されており、それぞれTIFF形式の画像ファイル
として保存される。
【0044】次に、多値画像メモリ82に保存された各
画像を結合して1画像(結合画像)とするとともに、結
合画像をCRTディスプレイ25に表示する(ステップ
S8)。図11は結合画像が表示された状態の画面を示
す図である。尚、図11および後述する図12、図14
においては、分かり易くするために、濃淡が省略され、
外形線だけが描かれている。結合画像130をCRTデ
ィスプレイ25に表示する場合、例えば、予め起動して
おいたペイントソフトウェアの画面上に結合画像130
を貼り付けることで表示可能である。
【0045】そして、表示された結合画像130に対
し、測定領域が指定されたか否かを判別する(ステップ
S9)。本実施形態では、測定領域は赤などの特定色で
塗りつぶすことによって指定される。すなわち、ペイン
トソフトウェアの画面上に貼り付けられた結合画像13
0の上から重ねるように、操作者がブラシツールなどで
色付けすることにより指定することが可能である。図1
2は測定領域が特定色で指定された状態の画面を示す図
である。図において、赤色で塗りつぶされた斜線部分1
32の範囲が測定領域である。ここで、太い縁取り部分
はマージン領域152を示している。マージン領域15
2は画面上に黄色で示される。このように、操作者は測
定領域の指定を極めて簡単に行うことができる。尚、特
定色で塗りつぶす代わりに、ペンツールなどを用いて線
で囲むようにしてもよいし、囲まれた内側の部分をポジ
ネガ反転で表示してもよい。例えば、モノクロカメラで
ワークをバックライトで撮影した場合、ワークに穴があ
いている部分は光が透過するので明るく、陰になる部分
は暗く写るが、この明暗を反転させて測定領域を示すよ
うにしてもよい。こうして、測定領域が指定されると、
指定された測定領域を結合画像とともに多値画像メモリ
82に保存する(ステップS10)。
【0046】つづいて、図7のメイン画面101で測定
パートプログラム生成・実行ボタン103が押されるの
を待ち(ステップS11)、測定パートプログラム生成
・実行ボタン103が押されると、レーザ測定ルートを
生成する条件としての各種パラメータを入力するための
レーザ測定ルート生成ダイアログボックスを表示する
(ステップS12)。図13はレーザ測定ルート生成ダ
イアログボックスを示す図である。レーザ測定ルート生
成ダイアログボックス142では、測定方向、測定ピッ
チ、マージン距離、最短測定長および接続ドットの設定
が可能である。ここで、「マージン距離」の設定では、
測定領域の端面から実際に測定する位置までのマージン
を設定することが可能であり、ワーク毎の形状のばらつ
きを吸収できる。「最短測定長」の設定では、測定結果
のフィルタ処理時に必要な測定長を確保するために、1
測定の最低長さを設定することが可能である。「接続ド
ット」の設定では、画像に含まれる異常点などのノイズ
成分を、設定されたドット数(ピクセル数)以内で除去
するために、最少ピクセル数を設定することが可能であ
る。このように、各種パラメータの設定による機能を、
三次元測定機が有することで、その操作性を高めること
ができる。
【0047】そして、ルート生成ボタン143が押され
たか否かを判別し(ステップS13)、ルート生成ボタ
ン143が押されると、レーザ測定ルート生成ダイアロ
グボックス142で設定された各種パラメータを読み込
み(ステップS14)、設定された各種パラメータにし
たがって、測定パートプログラム(レーザ測定ルート)
を生成・表示する(ステップS15)。図14は結合画
像に重なって画面に表示される測定ルートだけを示す図
である。本実施形態では、測定ルート150は前述した
ペイントソフトウェアの画面上に青線で示され、測定領
域内を設定された測定ピッチでX方向に往復移動する経
路である。図中、穴に相当する空白部分は、測定されず
にすばやく通過することになる。
【0048】また、生成された測定パートプログラムは
ワークメモリ84に一旦、記憶された後、I/Oインタ
フェース91を介してハードディスク92などのストレ
ージメモリに登録される。
【0049】こうして、測定パートプログラムが生成さ
れると、レーザ測定ダイアログボックス161を表示す
る(ステップS16)。図15はレーザ測定ダイアログ
ボックス161を示す図である。レーザ測定ダイアログ
ボックス161には、レーザ測定に必要な各種パラメー
タとして、シーク範囲、シーク速度(mm/s)、スキ
ャン速度(mm/s)、サンプリングレート、レーザモ
ード、レーザ回転位置、フィルタリングを行うか否かの
設定、高周波(kHz)、低周波(kHz)などのレー
ザ設定項目が設けられている。また、レーザ測定ダイア
ログボックス161の上部には、マニュアルでレーザ測
定ルートを設定する際に用いられる領域指定、ルート生
成、ルート確認などのボタンが設けられている。
【0050】操作者によってレーザ測定に必要なこれら
の各種パラメータが設定されたか否かを判別し(ステッ
プS17)、各種パラメータが設定されると、測定実行
ボタン162が押されたか否かを判別する(ステップS
18)。
【0051】測定実行ボタン162が押されると、生成
された測定パートプログラムにしたがって、レーザプロ
ーブ35のレーザビームによる測定を実行し(ステップ
S19)、測定結果としての測定データをファイルとし
て、I/Oインターフェース91を介してハードディス
ク(HD)92に出力する(ステップS20)。
【0052】さらに、解析プログラムを起動して測定デ
ータを解析し、解析した結果、例えば、平面度、振れな
どのデータを測定データとともにCRTディスプレイ2
5に表示する(ステップS21)。図16は解析結果と
して平面度が表示された状態の画面を示す図である。
【0053】このように、本実施形態の三次元測定装置
では、測定対象が複雑な形状であっても、簡単に測定パ
ートプログラムを生成することができる。また、カメラ
視野内に収まらないような測定対象物の測定ルートも簡
単に設定することができる。
【0054】尚、上記実施形態では、測定ルートのパタ
ーンとして、X方向またはY方向に設定された測定ピッ
チで往復移動する経路を示したが、パターンとしては特
に限定されるものではない。図17は測定ルートとして
の他のパターンを示す図である。同図(A)は設定され
た測定ピッチで一方向に移動する経路を示す。同図
(B)は渦巻き状の経路を示す。同図(C)は同心円状
の経路を示す。このようなパターンの選択は、図13の
レーザ測定ルート生成ダイアログボックスで行えるよう
にしてもよい。
【0055】また、本実施形態では、測定パートプログ
ラムの生成と実行とが同一のボタンにより、連続して起
動させる構成であったが、別々に起動させる構成であっ
てもよい。すなわち、測定パートプログラム生成ボタン
と測定パートプログラム実行ボタンとを別々にメイン画
面に設けてもよい。
【0056】さらに、上記実施形態では、レーザプロー
ブを用いた光学式の測定装置に適用した場合を示した
が、タッチセンサを用いた接触式の測定装置に適用して
もよい。
【0057】また、上記実施形態では、モノクロ画像の
場合を示したが、カラーCCDを用いて撮影したカラー
画像を結合・表示するようにしてもよい。
【0058】さらに、本発明は三次元測定装置に搭載さ
れる記憶媒体としても実現可能である。図18はプログ
ラム記憶部83のメモリマップを示す図である。プログ
ラム記憶部83は前述したようにROMからなり、プロ
グラム記憶部83には、図5および図6のフローチャー
トに示す測定パートプログラム生成・実行処理プログラ
ムモジュールが格納されている。このようなプログラム
モジュールが格納された記憶媒体としては、ROMに限
らず、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光
ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、
DVD、不揮発性のメモリカードなどであってもよい。
【0059】
【発明の効果】本発明によれば、測定対象が複雑な形状
であっても、簡単に測定ルートを設定することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】三次元測定装置の全体構成を示す斜視図であ
る。
【図2】撮像ユニット17の構成を示す図である。
【図3】レーザプローブの光学的構成を示す図である。
【図4】三次元測定機1およびコンピュータシステム2
の電気的構成を示すブロック図である。
【図5】測定パートプログラムの生成処理手順を示すフ
ローチャートである。
【図6】図5につづく測定パートプログラムの生成処理
手順を示すフローチャートである。
【図7】メイン画面101を示す図である。
【図8】画像取得ダイアログボックス110を示す図で
ある。
【図9】ワークの開始点および終了点を示す図である。
【図10】ステージ移動しながらワークを連続的に撮影
する様子を示す図である。
【図11】結合画像が表示された状態の画面を示す図で
ある。
【図12】測定領域が特定色で指定された状態の画面を
示す図である。
【図13】レーザ測定ルート生成ダイアログボックスを
示す図である。
【図14】結合画像に重なって画面に表示される測定ル
ートだけを示す図である。
【図15】レーザ測定ダイアログボックス161を示す
図である。
【図16】解析結果として平面度が表示された状態の画
面を示す図である。
【図17】測定ルートとしての他のパターンを示す図で
ある。
【図18】プログラム記憶部83のメモリマップを示す
図である。
【符号の説明】
1…三次元測定機 2…コンピュータシステム 25…CRTディスプレイ 35…レーザプローブ 38…CCDカメラ 81…CPU 83…プログラム記憶部 101…メイン画面 110…画像取得ダイアログボックス 142…レーザ測定ルート生成ダイアログボックス 120…ワーク 130…結合画像 150…測定ルート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小松 浩一 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 松宮 貞行 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 Fターム(参考) 2F065 AA04 AA53 DD00 FF04 GG04 JJ03 JJ23 JJ26 LL12 LL36 LL46 MM01 MM03 MM24 QQ03 QQ24 QQ31 SS13 UU06 2F069 AA04 AA66 DD00 DD26 GG07 JJ26 PP00

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物を測定するための測定経路が設
    定された測定手順ファイルを生成する測定手順ファイル
    生成方法において、 前記被測定物を撮影する工程と、 該撮影により得られた複数枚の画像を結合して前記被測
    定物全体の画像を生成する工程と、 該生成された被測定物の画像に対して測定領域を指定す
    る工程と、 該指定された測定領域に基づき、前記測定経路を生成す
    る工程とを有することを特徴とする測定手順ファイル生
    成方法。
  2. 【請求項2】 前記測定経路を生成するための条件を入
    力する工程を有し、 前記測定経路を生成する工程では、前記入力された条件
    にしたがって、前記測定経路を生成することを特徴とす
    る請求項1記載の測定手順ファイル生成方法。
  3. 【請求項3】 前記撮影する工程では、前記被測定物の
    測定に用いられる測定ツールに付属のカメラと前記被測
    定物とを相対的に移動させながら、該カメラで前記被測
    定物の一部を連続撮影することを特徴とする請求項1ま
    たは請求項2記載の測定手順ファイル生成方法。
  4. 【請求項4】 前記被測定物の画像を表示する工程を有
    し、 前記指定する工程では、前記表示された被測定物の画像
    を特定色で塗りつぶすことにより前記測定領域を指定す
    ることを特徴とする請求項1または請求項2記載の測定
    手順ファイル生成方法。
  5. 【請求項5】 前記表示された被測定物の画像に前記生
    成された測定経路を重ねて表示する工程を有することを
    特徴とする請求項4記載の測定手順ファイル生成方法。
  6. 【請求項6】 開始点および終了点を指定することによ
    り前記カメラの撮影範囲を設定する工程を有することを
    特徴とする請求項3記載の測定手順ファイル生成方法。
  7. 【請求項7】 測定手順ファイルに設定された測定経路
    にしたがって、被測定物を測定する測定装置において、 前記被測定物を撮影する撮影手段と、 該撮影により得られた複数枚の画像を結合して前記被測
    定物全体の画像を生成する画像生成手段と、 該生成された被測定物の画像に対して測定領域を指定す
    る指定手段と、 該指定された測定領域に基づき、前記測定経路を生成す
    る測定経路生成手段とを備えたことを特徴とする測定装
    置。
  8. 【請求項8】 測定装置を制御するコンピュータによっ
    て実行され、被測定物を測定するための測定経路が設定
    された測定手順ファイルを生成するプログラムが格納さ
    れた記憶媒体において、 前記プログラムは、 前記被測定物を撮影する手順と、 該撮影により得られた複数枚の画像を結合して前記被測
    定物全体の画像を生成する手順と、 該生成された被測定物の画像に対して測定領域を指定す
    る手順と、 該指定された測定領域に基づき、前記測定経路を生成す
    る手順とを含むことを特徴とする記憶媒体。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350123A (ja) * 2001-05-24 2002-12-04 Olympus Optical Co Ltd 測定支援方法、測定システム、及び測定支援プログラム
JP2006337276A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Mitsutoyo Corp 画像測定方法及びシステム
JP2008209420A (ja) * 2008-05-09 2008-09-11 Mitsutoyo Corp 非接触三次元測定方法
JP2009080061A (ja) * 2007-09-27 2009-04-16 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP2010525341A (ja) * 2007-04-21 2010-07-22 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト モジュール式測定ヘッドシステム
JP2011203249A (ja) * 2010-03-22 2011-10-13 Mitsutoyo Corp マシンビジョン検査システムでのステップアンドリピート動作プログラミングのためのgui
WO2012057283A1 (ja) * 2010-10-27 2012-05-03 株式会社ニコン 形状測定装置、形状測定方法、構造物の製造方法およびプログラム
JP2014055864A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Keyence Corp 画像測定装置、その制御方法及び画像測定装置用のプログラム
JP2014215153A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 株式会社ミツトヨ 画像測定装置及びその制御用プログラム
DE102011012929A1 (de) 2010-03-11 2015-02-19 Mitutoyo Corporation Bildmessvorrichtung, Bildmessverfahren und Computerprogrammprodukt
JP2015081882A (ja) * 2013-10-24 2015-04-27 株式会社ミツトヨ 画像測定装置、及び高さ測定方法
JP2016223961A (ja) * 2015-06-02 2016-12-28 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
JP2018512588A (ja) * 2015-03-26 2018-05-17 カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー 測定対象の寸法特性を決定するための方法及び装置

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060007449A1 (en) 2002-12-13 2006-01-12 Ralf Christoph Method for measuring a contour of a workpiece by scanning
EP1640688A1 (de) * 2004-09-24 2006-03-29 Konrad Maierhofer Verfahren und Vorrichtung zur 3-dimensionalen Vermessung der Oberfläche eines Gegenstands
JP4727469B2 (ja) * 2006-03-20 2011-07-20 株式会社ミツトヨ 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム
CN101275831B (zh) * 2007-03-26 2011-06-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 图像离线处理***及方法
CN102200427A (zh) * 2010-03-22 2011-09-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像测量机
TWI471526B (zh) * 2010-03-30 2015-02-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 影像測量機
CN102022976B (zh) * 2010-10-29 2012-07-25 东莞市嘉腾仪器仪表有限公司 卧式影像在线仪
CN102052893B (zh) * 2010-11-04 2012-09-05 太仓威格玛机械设备有限公司 龙门非接触式二维测量工作站
CN102564337A (zh) * 2010-12-31 2012-07-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像测量机
JP6161262B2 (ja) 2012-11-19 2017-07-12 株式会社ミツトヨ 画像測定機のled照明方法及び装置
JP6124570B2 (ja) * 2012-11-30 2017-05-10 株式会社ミツトヨ Xyz直交測定装置
TWI550561B (zh) * 2015-02-17 2016-09-21 Image measurement method
US10545019B2 (en) 2015-04-14 2020-01-28 Hexagon Metrology, Inc. CMM probe path controller and method
CN105841641A (zh) * 2016-06-07 2016-08-10 东莞市三瑞自动化科技有限公司 一种基于激光三角法3d测量仪及平整度检测方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06161533A (ja) * 1992-11-25 1994-06-07 Sanyo Electric Co Ltd 3次元測定装置の制御方式
JP3107709B2 (ja) * 1994-06-28 2000-11-13 新日本製鐵株式会社 ワーク寸法自動測定システム

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350123A (ja) * 2001-05-24 2002-12-04 Olympus Optical Co Ltd 測定支援方法、測定システム、及び測定支援プログラム
JP2006337276A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Mitsutoyo Corp 画像測定方法及びシステム
JP4634868B2 (ja) * 2005-06-03 2011-02-16 株式会社ミツトヨ 画像測定方法及びシステム
JP2010525341A (ja) * 2007-04-21 2010-07-22 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト モジュール式測定ヘッドシステム
JP2009080061A (ja) * 2007-09-27 2009-04-16 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP2008209420A (ja) * 2008-05-09 2008-09-11 Mitsutoyo Corp 非接触三次元測定方法
JP4578538B2 (ja) * 2008-05-09 2010-11-10 株式会社ミツトヨ 非接触三次元測定方法
DE102011012929A1 (de) 2010-03-11 2015-02-19 Mitutoyo Corporation Bildmessvorrichtung, Bildmessverfahren und Computerprogrammprodukt
DE102011012929B8 (de) * 2010-03-11 2017-07-27 Mitutoyo Corporation Bildmessvorrichtung, Bildmessverfahren und Computerprogrammprodukt
DE102011012929B4 (de) * 2010-03-11 2017-05-24 Mitutoyo Corporation Bildmessvorrichtung, Bildmessverfahren und Computerprogrammprodukt
JP2011203249A (ja) * 2010-03-22 2011-10-13 Mitsutoyo Corp マシンビジョン検査システムでのステップアンドリピート動作プログラミングのためのgui
TWI510756B (zh) * 2010-10-27 2015-12-01 尼康股份有限公司 A shape measuring device, a shape measuring method, a manufacturing method and a program for a structure
JP5648692B2 (ja) * 2010-10-27 2015-01-07 株式会社ニコン 形状測定装置、形状測定方法、構造物の製造方法およびプログラム
CN103180691A (zh) * 2010-10-27 2013-06-26 株式会社尼康 形状测定装置、形状测定方法、构造物的制造方法及程序
WO2012057283A1 (ja) * 2010-10-27 2012-05-03 株式会社ニコン 形状測定装置、形状測定方法、構造物の製造方法およびプログラム
JP2014055864A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Keyence Corp 画像測定装置、その制御方法及び画像測定装置用のプログラム
JP2014215153A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 株式会社ミツトヨ 画像測定装置及びその制御用プログラム
JP2015081882A (ja) * 2013-10-24 2015-04-27 株式会社ミツトヨ 画像測定装置、及び高さ測定方法
JP2018512588A (ja) * 2015-03-26 2018-05-17 カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー 測定対象の寸法特性を決定するための方法及び装置
JP2016223961A (ja) * 2015-06-02 2016-12-28 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法

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