JP2000331799A - 粒子線照射装置 - Google Patents
粒子線照射装置Info
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- JP2000331799A JP2000331799A JP11137350A JP13735099A JP2000331799A JP 2000331799 A JP2000331799 A JP 2000331799A JP 11137350 A JP11137350 A JP 11137350A JP 13735099 A JP13735099 A JP 13735099A JP 2000331799 A JP2000331799 A JP 2000331799A
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Abstract
の厚さを増やすことなく高エネルギーの粒子ビームのエ
ネルギー利用効率を高く維持することができ、そのうえ
速い繰り返しのシンクロトロンを用いてもワブラー偏向
電磁石を用いて一様な照射野を形成でき、被検体の動き
にも対応させることである。 【解決手段】入射器1により生成されかつ予備加速され
たイオンを、低エネルギービーム輸送系2から入射機器
3によってシンクロトロン4に入射し、このシンクロト
ロン4においてさらに加速して例えば癌治療に供すべく
エネルギーに達すると、出射機器5から高エネルギービ
ーム輸送系6を通して照射系10に入射し、この照射系
10における2組のワブラー偏向電磁石11、12に流
れる各励磁電流の位相差及びその電流量を制御して、被
検体8において粒子ビームを2重円を描くように制御す
る。
Description
粒子ビームを例えば癌細胞に照射して癌治療に用いる治
療装置に適用される粒子線照射装置に関する。
マ線、電子線なとが用いられており、さらに近年では加
速器で加速した高エネルギーの荷電粒子(水素、ヘリウ
ム、炭素などのイオン)の粒子ビームを照射することが
行われている。このような高エネルギーの荷電粒子を得
る方法の一つとしてシンクロトロンが用いられている。
ビームによる癌の治療装置の構成図である。入射器1
は、イオンを生成しかつ予備加速する。この予備加速さ
れたイオンは、低エネルギービーム輸送系2を通り、入
射機器3によってシンクロトロン4に入射される。この
シンクロトロン4は、入射したイオンをさらに加速し、
癌治療に供すべくエネルギーに達すると、そのイオンを
出射機器5を用いて出射する。そして、この高エネルギ
ーのイオンは、高エネルギービーム輸送系6で輸送さ
れ、照射系7により癌の病巣に合わせたビーム形状に整
形され、その粒子ビームを被検体8である患者に照射さ
れる。
照射では、患者への一様な放射線照射を数分という短時
間のうちに行うことが要求されている。患者への一様な
粒子ビームの照射を行うために粒子ビームを用いる治療
装置では、照射系7内に設置された一対のワブラー偏向
電磁石(偏向電磁石)を用いて粒子ビームをスキャンさ
せ、かつ散乱体を用いて照射系7に入射した粒子ビーム
径を広げ、照射する患部において粒子ビームが一様にな
るように照射を行っている。
パクトにしかつ設置面積を小さくするとともに設置コス
トを安くするために照射系7の長さを短くすることが有
効である。
ー偏向電磁石を用いたワブラー法では、ワブラー偏向電
磁石による偏向角に比例して粒子ビームの発散角を大き
くするために、ワブラー偏向電磁石の近傍に設置した散
乱体の厚さを増やす必要がある。
子ビームの照射野Wを得るために、ワブリング円R上に
粒子ビームの中心が移動するようにすなわち円を描くよ
うに一対のワブラー偏向電磁石を調整している。そし
て、このワブリング円R上に移動させた粒子ビームを散
乱体に透過させてビーム径を拡大した粒子ビームBを得
ているが、この場合、粒子ビームの進行する経路の途中
に厚い散乱体を配置すると、粒子ビームのエネルギーが
減少し、シンクロトロン4から出射された粒子ビームの
エネルギーを有効に利用できず、シンクロトロン4の最
大定格エネルギーを不必要に大きくしてしまう。
ンの方式としては、準定常的な粒子ビームを発生させる
遅い繰り返しのシンクロトロンとパルスビームを発生さ
せる速い繰り返しのシンクロトロンとがあり、このうち
5〜40Hz程度のパルスビームの出射を行う速い繰り
返しのシンクロトロンでは、一対のワブラー偏向電磁石
を用いて一様な照射野Wを得ることは困難なものとなっ
ている。又、このような速い繰り返しのシンクロトロン
でさえ短い治療時間内に照射するパルスビーム数が少な
いために一様な照射野Wを得ることは困難なものとなっ
ている。
でも散乱体の厚さを増やすことなく高エネルギーの粒子
ビームのエネルギー利用効率を高く維持することがで
き、そのうえ速い繰り返しのシンクロトロンを用いても
ワブラー偏向電磁石を用いて一様な照射野を形成でき、
被検体の動きにも対応できる粒子線照射装置を提供する
ことを目的とする。
は、荷電粒子を加速器で高エネルギーの荷電粒子に加速
してその粒子ビームを被検体に照射する粒子線照射装置
において、加速器で加速された前記荷電粒子を偏向して
少なくとも2重の円軌道を描かせる偏向手段を備えたこ
とを特徴とする。
ブラー偏向電磁石と、これらワブラー偏向電磁石に流れ
る各励磁電流の位相差及びその電流量を制御する励磁電
流制御手段とを有している。
を生成して予備加速する入射器と、この入射器からの荷
電粒子を所定の高エネルギーの粒子ビームに加速する加
速器と、この加速器で加速された荷電粒子を偏向して少
なくとも2重の円軌道を描かせる少なくとも2つのワブ
ラー偏向電磁石と、これらワブラー偏向電磁石からの粒
子ビーム径を拡大する散乱体と、各ワブラー偏向電磁石
に流れる各励磁電流の位相差及びその電流量を制御する
励磁電流制御手段とを備えたことを特徴とする。
イクルトロンである。
動きを検出する動き検出手段と、この動き検出手段によ
り検出された被検体の動きに応じて高エネルギーの粒子
ビームの被検体への照射タイミングを制御する照射タイ
ミング制御手段とを備えたものである。
照射される粒子ビームの線量を測定する線量計と、この
線量計により測定された粒子ビームの線量が規定量に達
すると、粒子ビームの出射量を制御する出射制御手段と
を備えたものである。
繰り返しである。
スの周波数は、ワブラー偏向電磁石に供給する励磁電流
の周波数の3倍以上10倍以下である。
形態について図面を参照して説明する。なお、図6と同
一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略す
る。
ルギービーム輸送系2、入射機器3、シンクロトロン
4、出射機器5及び高エネルギービーム輸送系6を備え
ている。
6で輸送された高エネルギーのイオンを、癌の病巣に合
わせたビーム形状に整形し、その粒子ビームを被検体8
である患者に照射するもので、高エネルギーのイオンを
偏向して2重の円軌道を描かせる偏向手段としての2組
のワブラー偏向電磁石11、12及び散乱体13から構
成されている。
れるイオンの出射・停止を制御し、かつ2組のワブラー
偏向電磁石11、12に流れる各励磁電流の位相差及び
その電流量を制御して、被検体8において粒子ビームを
2重円を描くように制御する励磁電流制御手段15とし
ての機能を有している。
電磁石11、12は、水平方向と垂直方向とに粒子ビー
ムを振る。ここで、粒子ビームの中心位置をX,Yと
し、時間をt、ワブリング周波数をf、位相差をαとす
ると、 X=Asinωt …(1) Y=Asin(ωt+α) …(2) ω=2πf により表される。
うにそれぞれのワブラー偏向電磁石11、12を励磁す
ると、粒子ビームは半径Aの円軌道を描く。そして、散
乱体13で広がった円状の粒子ビームを回転させること
により広い照射野を得るのがワブラー法である。
12に流れる各励磁電流の位相差及びその電流量を制御
することにより、粒子ビームが図2に示すように2重円
を描くように第1ワブリング円R1と第2ワブリング円
R2との上を移動し、照射野W内が一様になるように粒
子ビームの出射・停止及び電流量の制御が行われるよう
になっている。
いて説明する。
たイオンは、低エネルギービーム輸送系2を通り、入射
機器3によってシンクロトロン4に入射され、このシン
クロトロン4においてさらに加速され、例えば癌治療に
供すべくエネルギーに達すると、出射機器5から出射さ
れ、高エネルギービーム輸送系6で輸送されて照射系1
0に入射する。
送系6で輸送された高エネルギーのイオンを、患者であ
る被検体8の癌の病巣に合わせたビーム形状に整形し、
その粒子ビームを患者に照射するが、このとき制御装置
14の励磁電流制御手段15によって2組のワブラー偏
向電磁石11、12に流れる各励磁電流の位相差及びそ
の電流量が制御され、被検体8において粒子ビームの中
心が第1ワブリング円R1と第2ワブリング円R2との
各上を移動し、2重円を描くように制御される。
動する第1粒子ビームB1により照射野Wの内側がカバ
ーされ、第2ワブリング円R2上を移動する第2粒子ビ
ームB2により照射野Wの外側カバーされる。このよう
にして照射野Wに対する粒子ビームの照射が行われ、か
つ粒子ビームの出射・停止及び電流量の制御により照射
野W内が一様に照射される。
は、照射系10における2組のワブラー偏向電磁石1
1、12に流れる各励磁電流の位相差及びその電流量を
制御して、被検体8において粒子ビームを2重円を描く
ように制御したので、ビーム径の小さい粒子ビームで大
きな照射野Wを得ることができ、このビーム径の小さい
粒子ビームにより散乱体13の厚さが少なくて済み、散
乱体13でのビームロスも少なくでき、かつ散乱体13
から患者までの距離も短くできて、装置サイズや本装置
を設置する建屋サイズを小さくできる。
散乱体13の厚さを増やすことなく高エネルギーの粒子
ビームのエネルギー利用効率を高く維持することがで
き、そのうえ速い繰り返しのシンクロトロン4を用いて
も、ワブラー偏向電磁石11、12を用いて一様な照射
野Wを形成できる。
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
ば患者の呼吸による臓器の動きを検出して図4に示すよ
うな呼吸の動きに応じた呼吸曲線を作成し、この呼吸曲
線から患者が呼吸動作により例えば癌の病巣が同じ位置
にあるときに粒子ビームを照射するようにゲート信号を
制御装置14に送出する機能を有している。
5に加えて照射タイミング制御手段21の機能を有して
いる。この照射タイミング制御手段21は、動き検出器
20からのゲート信号を受け、患者への照射タイミング
が患者の呼吸動作により例えば癌の病巣が同じ位置にあ
るときに粒子ビームを照射するように入射器1の出射・
停止を制御する機能を有している。
いて説明する。
たイオンは、低エネルギービーム輸送系2を通り、入射
機器3によってシンクロトロン4に入射され、このシン
クロトロン4においてさらに加速され、例えば癌治療に
供すべくエネルギーに達すると、出射機器5から出射さ
れ、高エネルギービーム輸送系6で輸送されて照射系1
0に入射する。
輸送系6で輸送された高エネルギーのイオンを、患者で
ある被検体8の癌の病巣に合わせたビーム形状に整形
し、その粒子ビームを患者に照射するとき、励磁電流制
御手段15によって2組のワブラー偏向電磁石11、1
2に流れる各励磁電流の位相差及びその電流量が制御さ
れ、被検体8において粒子ビームの中心が第1ワブリン
グ円R1と第2ワブリング円R2との各上を移動し、2
重円を描くように制御される。
吸による臓器の動きを検出して図4に示すような呼吸の
動きに応じた呼吸曲線を作成し、この呼吸曲線から患者
が呼吸動作により例えば癌の病巣が同じ位置にあるとき
に粒子ビームを照射するようにゲート信号を制御装置1
4に送出する。
段21は、動き検出器20からのゲート信号を受け、患
者への照射タイミングが患者の呼吸動作により例えば癌
の病巣が同じ位置にあるときに粒子ビームを照射するよ
うに入射器1の出射・停止を制御する。
は、動き検出器20により例えば患者の呼吸による臓器
の動きを検出して患者が呼吸動作により例えば癌の病巣
が同じ位置にあるときに粒子ビームを照射するようにゲ
ート信号を制御装置14に送出し、患者への照射タイミ
ングが患者の呼吸動作により例えば癌の病巣が同じ位置
にあるときに粒子ビームを照射するように入射器1の出
射・停止を制御するようにしたので、上記第1の実施の
形態と同様な効果を奏することは言うまでもなく、さら
に患者の呼吸によって患部が動く場合でも、同じ位置で
の粒子ビームの照射ができ、この粒子ビームの照***度
を高くできる。
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
いる。この線量計22は、被検体8である例えば患者に
照射される粒子ビームの線量を測定してその線量測定信
号を制御装置14に送出するものとなっている。
段15に加えて出射制御手段23の機能を有している。
この出射制御手段23は、線量計22から送出された線
量測定信号を受け、患者に照射される粒子ビームの線量
が規定量に達すると、入射器1を停止又はビーム電流を
制御する機能を有している。
いて説明する。
たイオンは、低エネルギービーム輸送系2を通り、入射
機器3によってシンクロトロン4に入射され、このシン
クロトロン4においてさらに加速され、例えば癌治療に
供すべくエネルギーに達すると、出射機器5から出射さ
れ、高エネルギービーム輸送系6で輸送されて照射系1
0に入射する。
送系6で輸送された高エネルギーのイオンを、患者であ
る被検体8の癌の病巣に合わせたビーム形状に整形し、
その粒子ビームを患者に照射する。
粒子ビームの線量を測定してその線量測定信号を制御装
置14に送出する。
線量計22から送出された線量測定信号を受け、患者に
照射される粒子ビームの線量が規定量に達すると、入射
器1を停止又はビーム電流を制御する。
は、線量計22により患者に照射される粒子ビームの線
量を測定し、患者に照射される粒子ビームの線量が規定
量に達すると、入射器1を停止又はビーム電流を制御す
るようにしたので、上記第1の実施の形態と同様な効果
を奏することは言うまでもなく、さらに被検体8への粒
子ビームの照射量を制御したり停止してその照射線量の
精度を高めることができる。この場合、粒子ビームの照
射途中で定格照射線量に達して照射を中断した場合で
も、粒子ビームの照射分布の均一性を維持できる。
いて図面を参照して説明する。
の形態で、シンクロトロン4を繰り返しの速さを5Hz
以上の速い繰り返しのシンクロトロンにしたものであ
る。
ンクロトロンで用いられるが、速い繰り返しのシンクロ
トロンでも一様な照射野Wを得ることができる。なお、
例えば、シンクロトロンの繰り返しは20Hz、ワブリ
ング周波数は2〜6.3Hzとする。
いて図面を参照して説明する。
の形態で、シンクロトロン4をサイクロトロンに置き換
えたものである。
重円のワブラーは有効であり、広がりの小さい粒子ビー
ムで大きな照射野Wを得ることができる。このような広
がりの小さい粒子ビームであれば、散乱体13の厚さが
少なくて済み、この散乱体13でのビームロスも少な
く、かつ散乱体13から患者までの距離も短くて済み、
装置サイズや建屋サイズを小さくできる。
形態に限定されるものでなく次の通り変形してもよい。
にしたが、多重円を描くようにしてもよい。これによ
り、より広い照射野Wを得ることができる。
くコンパクトな照射系でも散乱体の厚さを増やすことな
く高エネルギーの粒子ビームのエネルギー利用効率を高
く維持することができ、そのうえ速い繰り返しのシンク
ロトロンを用いてもワブラー偏向電磁石を用いて一様な
照射野を形成でき、被検体の動きにも対応できる粒子線
照射装置を提供できる。
形態を示す構成図。
射野を示す模式図。
形態を示す構成図。
わせた粒子ビームの照射タイミングを示す図。
形態を示す構成図。
図。
Claims (8)
- 【請求項1】 荷電粒子を加速器で高エネルギーの荷電
粒子に加速してその粒子ビームを被検体に照射する粒子
線照射装置において、 前記加速器で加速された前記荷電粒子を偏向して少なく
とも2重の円軌道を描かせる偏向手段、を具備したこと
を特徴とする粒子線照射装置。 - 【請求項2】 前記偏向手段は、少なくとも2つのワブ
ラー偏向電磁石と、これらワブラー偏向電磁石に流れる
各励磁電流の位相差及びその電流量を制御する励磁電流
制御手段と、を有することを特徴とする請求項1記載の
粒子線照射装置。 - 【請求項3】 荷電粒子を生成して予備加速する入射器
と、 この入射器からの荷電粒子を所定の高エネルギーの粒子
ビームに加速する加速器と、 この加速器で加速された前記荷電粒子を偏向して少なく
とも2重の円軌道を描かせる少なくとも2つのワブラー
偏向電磁石と、 これらワブラー偏向電磁石からの粒子ビーム径を拡大す
る散乱体と、 前記各ワブラー偏向電磁石に流れる各励磁電流の位相差
及びその電流量を制御する励磁電流制御手段と、を具備
したことを特徴とする粒子線照射装置。 - 【請求項4】 前記加速器は、シンクロトロン又はサイ
クルトロンであることを特徴とする請求項1又は3記載
の粒子線照射装置。 - 【請求項5】 前記被検体の動きを検出する動き検出手
段と、 この動き検出手段により検出された前記被検体の動きに
応じて前記高エネルギーの前記粒子ビームの前記被検体
への照射タイミングを制御する照射タイミング制御手段
と、を備えたことを特徴とする請求項1又は3記載の粒
子線照射装置。 - 【請求項6】 前記被検体に照射される前記粒子ビーム
の線量を測定する線量計と、 この線量計により測定された前記粒子ビームの線量が規
定量に達すると、前記粒子ビームの出射量を制御する出
射制御手段と、を備えたことを特徴とする請求項1又は
3記載の粒子線照射装置。 - 【請求項7】 前記シンクロトロンは、5Hz以上の速
い繰り返しであることを特徴とする請求項4記載の粒子
線照射装置。 - 【請求項8】 前記被検体に照射される前記粒子ビーム
のパルスの周波数は、前記ワブラー偏向電磁石に供給す
る励磁電流の周波数の3倍以上10倍以下であることを
特徴とする請求項2又は3記載の粒子線照射装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13735099A JP3993338B2 (ja) | 1999-05-18 | 1999-05-18 | 粒子線照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13735099A JP3993338B2 (ja) | 1999-05-18 | 1999-05-18 | 粒子線照射装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000331799A true JP2000331799A (ja) | 2000-11-30 |
JP3993338B2 JP3993338B2 (ja) | 2007-10-17 |
Family
ID=15196606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13735099A Expired - Fee Related JP3993338B2 (ja) | 1999-05-18 | 1999-05-18 | 粒子線照射装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3993338B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007071676A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Hitachi Ltd | 荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法 |
DE102008010958A1 (de) | 2007-06-27 | 2009-01-02 | Mitsubishi Electric Corp. | Konformales Mehrschicht-Strahlentherapiesystem und dieses verwendende Teilchenstrahl-Therapievorrichtung |
WO2010047934A2 (en) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | Varian Medical Systems, Inc. | Methods and systems for treating cancer using external beam radiation |
JP7465697B2 (ja) | 2020-03-24 | 2024-04-11 | 住友重機械工業株式会社 | 荷電粒子の照射制御装置 |
-
1999
- 1999-05-18 JP JP13735099A patent/JP3993338B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US7947969B2 (en) | 2007-06-27 | 2011-05-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Stacked conformation radiotherapy system and particle beam therapy apparatus employing the same |
WO2010047934A2 (en) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | Varian Medical Systems, Inc. | Methods and systems for treating cancer using external beam radiation |
WO2010047934A3 (en) * | 2008-10-23 | 2010-07-01 | Varian Medical Systems, Inc. | Methods and systems for treating cancer using external beam radiation |
US8350226B2 (en) | 2008-10-23 | 2013-01-08 | Varian Medical Systems, Inc. | Methods and systems for treating cancer using external beam radiation |
JP7465697B2 (ja) | 2020-03-24 | 2024-04-11 | 住友重機械工業株式会社 | 荷電粒子の照射制御装置 |
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---|---|
JP3993338B2 (ja) | 2007-10-17 |
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