JP2000330725A - Coordinate detecting device - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical coordinate detecting device which has high reliability by keeping the surface of a reflecting member always clean by providing a cleaning means which cleans the reflecting surface of the reflecting means. SOLUTION: This device has reflecting sheets 111 to 113 which recursively reflect the light emitted by a light emitting means to the light emitting means and cleaning units 114 to 119 which clean the reflecting surface of the reflecting means. The reflecting sheets 111 to 113 are provided on three sides of a coordinate input surface 3 which is sized and shaped in conformity with a display surface. A light emission and reception part is so arranged that light sources are placed at reference points (x) and (y) on a coordinate input surface 3. On the reverse surface of the frame body 2 of the coordinate input surface 3, a left guide support member 121, a lower guide support part 122, and a right guide support part 123 are provided. Reflecting plates having the reflecting sheets 111 to 113 on reflecting surfaces slide up and down along guide support members 121 to 123. The three reflecting plates slide up and down to have their reflecting surfaces cleaned by the cleaning units 114 to 119.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、座標検出装置に係
り、特に指やペンなどで指定された点の座標を検出する
座標検出装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coordinate detecting device, and more particularly to a coordinate detecting device for detecting coordinates of a point designated by a finger or a pen.

【０００２】[0002]

【従来の技術】現在、オペレータが指定した点の座標を
検出することによって、情報の入力や選択をおこなう、
いわゆるタッチパネル式の座標検出装置が実用化されて
いる。このような座標検出装置は、一般的に点を入力す
るための面（座標入力面）となる電子黒板やディスプレ
イに取り付けられ、一体化した状態で使用される。2. Description of the Related Art At present, input and selection of information is performed by detecting coordinates of a point designated by an operator.
A so-called touch panel type coordinate detecting device has been put to practical use. Such a coordinate detecting device is generally attached to an electronic blackboard or a display serving as a surface (coordinate input surface) for inputting points, and used in an integrated state.

【０００３】このような座標検出装置が座標を検出する
方法としては、ペンなどで座標入力面に触れたとき、あ
るいはペンを近づけたときに発生する静電的変化、ある
いは電磁誘導による電気的な変化を検出するものがあ
る。[0003] As a method of detecting coordinates by such a coordinate detecting device, there is an electrostatic change which occurs when a coordinate input surface is touched with a pen or the like or when the pen is brought close to the coordinate input surface, or an electrical change due to electromagnetic induction. Some detect changes.

【０００４】また、特開昭６１−２３９３２２号公報に
は、超音波方式のタッチパネル座標検出装置が記載され
ている。このタッチパネル座標検出装置は、パネル上に
表面弾性波を送出し、この表面弾性波の減衰によってパ
ネルに触れたペンなどの座標を検出するものである。[0004] Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-239322 discloses an ultrasonic touch panel coordinate detecting device. This touch panel coordinate detecting device transmits a surface acoustic wave onto a panel, and detects the coordinates of a pen or the like touching the panel based on the attenuation of the surface acoustic wave.

【０００５】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、静電的
な変化、あるいは電磁誘導による電気的な変化で位置座
標を検出するものでは、この電気的な変化を検出するた
めの機構を座標入力面に設けることが必要であり、この
ために比較的製造コストがかかるという問題があった。
また、ペンと座標入力面とをつなぐケーブルが必要であ
り、このケーブルによってペンの操作性が損なわれると
いう問題もあった。However, in a system for detecting position coordinates by an electrostatic change or an electric change due to electromagnetic induction, a mechanism for detecting the electric change is provided on a coordinate input surface. However, there is a problem that the production cost is relatively high.
In addition, a cable for connecting the pen and the coordinate input surface is required, and there is a problem that the operability of the pen is impaired by this cable.

【０００６】さらに、超音波式の座標検出装置は、指に
よって座標入力面に触れることを前提にして構成されて
いる。このため、比較的柔らかなペンなどを使って入力
しようとする場合、ペンを座標入力面に押し当てたとき
には安定した減衰信号（超音波の減衰を示す信号）が得
られるものの、このまま移動させて線を入力しようとし
た場合にはペンと座標入力面との充分な接触が得られな
いことがある。Further, the ultrasonic type coordinate detecting device is configured on the premise that a coordinate input surface is touched by a finger. For this reason, when trying to input using a relatively soft pen or the like, when the pen is pressed against the coordinate input surface, a stable attenuation signal (a signal indicating the attenuation of the ultrasonic wave) is obtained. When trying to input a line, sufficient contact between the pen and the coordinate input surface may not be obtained.

【０００７】このような場合、座標検出装置に入力され
る線が途切れることになり、オペレータの意図した図形
が入力できないという不具合が生じる。また、このよう
なことを防ぐためにペンをより強い力で座標入力面に押
しつけると、ペンが持つ弾力を受けて座標入力面が歪
み、やはり安定した減衰信号が得られない。このような
場合には、座標検出装置側で入力が途絶えたものと判断
される。このため、超音波方式の座標検出装置では、ペ
ン入力時の信頼性が低くなるという問題があった。In such a case, the line input to the coordinate detecting device is interrupted, and a problem occurs that a graphic intended by the operator cannot be input. Further, if the pen is pressed against the coordinate input surface with a stronger force in order to prevent this, the coordinate input surface is distorted due to the elasticity of the pen, and a stable attenuation signal cannot be obtained. In such a case, it is determined that the input has been interrupted on the coordinate detecting device side. For this reason, the ultrasonic coordinate detection device has a problem in that the reliability at the time of pen input is low.

【０００８】ところで、本願発明の出願人らは、以上の
座標検出装置の課題を解消する座標検出装置として、光
学式の座標検出装置を提唱している（特願平１０−１２
７０３５号）。このような座標検出装置は、基本的に発
光手段と、発光手段が発した光を再帰的に反射する反射
部材と、反射光を受光する受光手段とを備え、発光手段
から出射された光が出射時と同じ光軸を通って受光手段
に受光されるようになっている。そして、指やペンが座
標入力面に触れたことを、発光手段が出射した光がこの
接触点で遮断され、受光手段に受光されないことによっ
て検出するものである。The applicants of the present invention have proposed an optical coordinate detecting device as a coordinate detecting device which solves the above-mentioned problems of the coordinate detecting device (Japanese Patent Application No. 10-12 / 1998).
No. 7035). Such a coordinate detection device basically includes a light emitting unit, a reflecting member that recursively reflects the light emitted by the light emitting unit, and a light receiving unit that receives the reflected light, and the light emitted from the light emitting unit emits light. The light is received by the light receiving means through the same optical axis as that at the time of emission. Then, the fact that the finger or the pen touches the coordinate input surface is detected by the fact that the light emitted by the light emitting means is blocked at this contact point and is not received by the light receiving means.

【０００９】このような光学式の座標検出装置は、前記
した課題が解消できる上、他の方式の座標検出装置と比
較して構成が簡易であるという利点をも持っている。こ
のため、近年、光学式の座標検出装置は、パーソナルコ
ンピュータ（パソコン）などと組み合わされて様々な状
況下で使用されるようになっている。そして、この状況
に適する機能をさらに備え、高い信頼性が得られる光学
式座標検出装置を提供するためには、未だ解決すべき課
題が複数残されている。Such an optical coordinate detecting device has the advantages that the above-mentioned problems can be solved and that the configuration is simpler than that of other types of coordinate detecting devices. For this reason, in recent years, an optical coordinate detection device has been used in various situations in combination with a personal computer (personal computer) or the like. Then, in order to provide an optical coordinate detecting device which further has a function suitable for this situation and obtains high reliability, there are still a plurality of problems to be solved.

【００１０】このような課題の一つに、反射部材の表面
を常に清浄に保つことがある。すなわち、反射部材にた
とえば塵などが付着すると、この塵によって光が乱反
射、あるいは反射されないために受光部で受光されず、
ペンなどによって光が遮断されたものと誤判定すること
にもなりかねない。One of the problems is that the surface of the reflecting member is always kept clean. In other words, if, for example, dust adheres to the reflecting member, light is irregularly reflected by the dust, or is not received by the light receiving unit because the light is not reflected.
It may be erroneously determined that light is blocked by a pen or the like.

【００１１】本発明は、以上の点に鑑みてなされたもの
であり、反射部材の表面を常に清浄に保つことによって
より信頼性の高い光学式の座標検出装置を提供すること
を目的とするものである。The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a more reliable optical coordinate detecting device by keeping the surface of a reflecting member clean at all times. It is.

【００１２】[0012]

【課題を解決するための手段】以上の課題は、以下の手
段によって解決できる。すなわち、請求項１記載の発明
は、光が遮断されることにより、光を遮断した遮断部材
の位置を座標として検出する座標検出装置であって、発
光手段と、発光手段が発した光を受光する受光手段と、
発光手段が発した光を発光手段に向けて再帰的に反射す
る反射手段と、反射手段の反射面を清掃する清掃手段と
を有することを特徴とするものである。The above objects can be attained by the following means. That is, the invention according to claim 1 is a coordinate detecting device that detects, as coordinates, a position of a blocking member that blocks light by blocking light, the light receiving unit receiving light emitted by the light emitting unit. Light receiving means for
It is characterized by having a reflecting means for recursively reflecting the light emitted by the light emitting means toward the light emitting means, and a cleaning means for cleaning a reflecting surface of the reflecting means.

【００１３】このように構成することにより、光を遮断
した遮断部材の位置を座標として検出する座標検出装置
において、反射手段の反射面に付着した塵が除去でき、
反射面を常に清浄な状態に保つことができる。With this configuration, in the coordinate detecting device that detects the position of the blocking member that blocks the light as coordinates, dust attached to the reflecting surface of the reflecting means can be removed.
The reflecting surface can always be kept clean.

【００１４】請求項２記載の発明は、複数の発光手段と
複数の受光手段とよりなり、これらの発光／受光の光路
内の光遮断手段の有無により、光遮断手段の平面もしく
はほぼ平面の２次元座標を検出する座標検出装置におい
て、発光手段から出射した光を発光手段の方向とほぼ同
一方向に向けて反射する反射手段を有するとともに、反
射手段によって反射した光を受光できる位置に受光手段
を配置した座標検出装置であって、反射手段の反射面の
清掃手段を有したことを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, there are provided a plurality of light emitting means and a plurality of light receiving means. In a coordinate detecting device for detecting dimensional coordinates, a reflecting means for reflecting light emitted from the light emitting means in a direction substantially the same as the direction of the light emitting means, and a light receiving means at a position where the light reflected by the reflecting means can be received. A coordinate detecting device arranged, comprising a cleaning unit for cleaning a reflection surface of a reflection unit.

【００１５】このように構成することにより、複数の発
光手段と複数の受光手段とよりなり、これらの発光／受
光の光路内の光遮断手段の有無により、光遮断手段の平
面もしくはほぼ平面の２次元座標を検出する座標検出装
置において、反射手段の反射面に付着した塵が除去で
き、反射面を常に清浄な状態に保つことができる。[0015] With this configuration, a plurality of light-emitting means and a plurality of light-receiving means are provided. Depending on the presence or absence of the light-blocking means in the light path for light emission / reception, the plane of the light-blocking means or the substantially flat surface is determined. In a coordinate detecting device that detects dimensional coordinates, dust adhered to the reflecting surface of the reflecting means can be removed, and the reflecting surface can always be kept clean.

【００１６】請求項３記載の発明は、複数の発光手段と
複数の受光手段とよりなり、これらの発光／受光の光路
内の光遮断手段の有無により、光遮断手段の平面もしく
はほぼ平面の２次元座標を検出する座標検出装置におい
て、発光手段から出射した光を発光手段の方向とほぼ同
一方向に向けて反射する反射手段を有するとともに、反
射手段によって反射した光を受光できる位置に受光手段
を配置した座標検出装置であって、反射手段の反射面側
に、少なくとも発光手段により発光された光を透過する
透過性材料で形成された被覆部材を配置し、被覆部材の
清掃手段を設けたことを特徴とするものである。The invention according to claim 3 comprises a plurality of light-emitting means and a plurality of light-receiving means. Depending on the presence or absence of the light-blocking means in the light-emitting / light-receiving optical path, the plane of the light-blocking means or the substantially flat plane is determined. In a coordinate detecting device for detecting dimensional coordinates, a reflecting means for reflecting light emitted from the light emitting means in a direction substantially the same as the direction of the light emitting means, and a light receiving means at a position where the light reflected by the reflecting means can be received. In the coordinate detecting device arranged, a covering member formed of a transparent material that transmits at least light emitted by the light emitting unit is arranged on a reflection surface side of the reflecting unit, and a cleaning unit for the covering member is provided. It is characterized by the following.

【００１７】このように構成することにより、被覆部材
で常に反射面を保護することができ、反射面の反射率劣
化を防ぐことができる。また、被覆部材に付着した塵が
除去でき、反射面を保護しながら被覆部材を常に清浄な
状態に保つことができる。According to this structure, the reflecting surface can be always protected by the covering member, and the reflectance of the reflecting surface can be prevented from deteriorating. Further, dust adhering to the covering member can be removed, and the covering member can always be kept clean while protecting the reflection surface.

【００１８】請求項４記載の発明は、所定のデータ、も
しくは波形データを記憶するデータ記憶手段と、データ
記憶手段に記憶されたデータと受光手段から出力される
受光データとの差を演算、比較するデータ演算・比較手
段とをさらに有し、データ演算・比較手段の演算、比較
結果に基づいて、清掃手段を動作させることを特徴とす
るものである。According to a fourth aspect of the present invention, a data storage means for storing predetermined data or waveform data, and a difference between the data stored in the data storage means and the light reception data output from the light reception means is calculated and compared. Data operation / comparison means for operating the cleaning means based on the operation and comparison results of the data operation / comparison means.

【００１９】このように構成することにより、受光手段
で受光される受光量、すなわち反射面の汚れを客観的に
評価することができ、反射面の状態を常に所定の状態に
維持することができる。With this configuration, it is possible to objectively evaluate the amount of light received by the light receiving means, that is, the dirt on the reflecting surface, and to constantly maintain the state of the reflecting surface in a predetermined state. .

【００２０】請求項５記載の発明は、清掃手段は、反射
手段の反射面を清掃する清掃ローラと、反射面と清掃ロ
ーラとを相対的に摺動する清掃機構とを備えることを特
徴とするものである。According to a fifth aspect of the present invention, the cleaning means includes a cleaning roller for cleaning the reflecting surface of the reflecting means, and a cleaning mechanism for sliding the reflecting surface and the cleaning roller relatively. Things.

【００２１】このように構成することにより、反射面を
直接清掃ローラに接し、反射面に付着した塵を清掃ロー
ラに移し取って効率的に除去することができる。With this configuration, the reflecting surface can be brought into direct contact with the cleaning roller, and the dust adhering to the reflecting surface can be transferred to the cleaning roller and efficiently removed.

【００２２】請求項６記載の発明は、反射手段を複数に
分割して構成すると共に、清掃機構は、清掃に際して、
分割された複数の反射手段をそれぞれ独立に移動させる
ことを特徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, the reflecting means is divided into a plurality of parts, and the cleaning mechanism performs
It is characterized in that the plurality of divided reflecting means are moved independently.

【００２３】このように構成することにより、分割され
た清掃手段のうち、清掃が必要な反射手段を清掃するに
あたって他の反射手段を移動できる。このため、清掃時
以外には座標検出に最も適切な位置に反射手段を配置し
ながら、清掃時には反射手段を自由に摺動することがで
きる。With this configuration, of the divided cleaning units, the other reflection unit can be moved when cleaning the reflection unit that needs to be cleaned. For this reason, the reflector can be freely slid during cleaning while the reflector is arranged at the most appropriate position for coordinate detection except during cleaning.

【００２４】請求項７記載の発明は、清掃ローラを複数
設けると共に、清掃機構は、分割された反射手段の反射
面の各々に複数の清掃ローラを相対的に摺動させること
を特徴とするものである。The invention according to claim 7 is characterized in that a plurality of cleaning rollers are provided, and the cleaning mechanism relatively slides the plurality of cleaning rollers on each of the reflection surfaces of the divided reflection means. It is.

【００２５】このように構成することにより、一つの清
掃ローラ、あるいは反射手段の摺動範囲が小さくて済む
ようになる。With this configuration, the sliding range of one cleaning roller or the reflecting means can be reduced.

【００２６】[0026]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を説明するの
に先立って、先ず、光学式の座標検出装置の検出原理に
ついて図１ないし図３を用いて説明する。図１は、座標
検出装置の座標入力面に関する構成を模式的に示す図で
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Prior to describing an embodiment of the present invention, the principle of detection of an optical coordinate detecting device will be described first with reference to FIGS. FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a configuration relating to a coordinate input surface of the coordinate detection device.

【００２７】図示した構成は、四角形の座標入力面３
と、座標入力面３の三方に設けられた反射板４と、座標
入力面３の上部の２箇所に設けられた受発光部１ａ、受
発光部１ｂとを有している。また、受発光部１ａ、受発
光部１ｂには、点光源８１、受光素子５０（図２、図
３）が備えられているものとする。The configuration shown is a rectangular coordinate input surface 3.
And a reflector 4 provided on three sides of the coordinate input surface 3, and a light emitting / receiving unit 1 a and a light emitting / receiving unit 1 b provided at two places above the coordinate input surface 3. Further, it is assumed that the light receiving / emitting section 1a and the light receiving / emitting section 1b are provided with a point light source 81 and a light receiving element 50 (FIGS. 2 and 3).

【００２８】なお、このような受発光部１ａ、受発光部
１ｂは、同様に構成されたものであるから、以降の説明
では受発光部１ａについて説明し、受発光部１ｂについ
ての説明を一部略すものとする。Since the light emitting / receiving unit 1a and the light emitting / receiving unit 1b have the same configuration, the light emitting / receiving unit 1a will be described in the following description, and the description of the light emitting / receiving unit 1b will be described. It is abbreviated.

【００２９】点光源８１が照射した光は、Ｌ１、Ｌ２、
…Ｌｎを光軸とする光束として座標入力面の全域に扇状
に広がっていく。このような光束のうち、たとえば、光
軸１２に注目した場合、光軸１２で表される光束の反射
光（光軸１１）は、再帰性の反射部材４で反射されて受
発光部１ａに向かう。受発光部１ａに設けられた受光素
子５０は、光軸Ｌ１、Ｌ２、…Ｌｎで表される光束のす
べてについてその反射光を受光できるように構成されて
いる。The light emitted from the point light source 81 is L1, L2,
.. Spread as a light beam with Ln as the optical axis over the entire area of the coordinate input surface. When attention is paid to, for example, the optical axis 12 of such light beams, the reflected light (optical axis 11) of the light beam represented by the optical axis 12 is reflected by the recursive reflecting member 4 and transmitted to the light receiving / emitting section 1a. Heading. The light receiving element 50 provided in the light emitting / receiving unit 1a is configured to be able to receive the reflected light of all the light beams represented by the optical axes L1, L2,.

【００３０】座標入力面５０内の一点Ｐにオペレータが
指を置くと、この指によって光軸１０で表される光束が
遮断され、反射部材４に届かなくなる。このため、指に
よって遮られた光束の反射光が受光手段で受光されなく
なり、指が置かれた点Ｐを通る光の光軸が識別できる。
同様にして、受発光部１ｂの点光源８１から発光した光
束についてもその反射光を受光し、指が置かれた点Ｐを
通る光軸を識別することができる。When the operator places a finger on one point P in the coordinate input surface 50, the light beam represented by the optical axis 10 is blocked by the finger, and does not reach the reflecting member 4. Therefore, the reflected light of the light beam blocked by the finger is not received by the light receiving means, and the optical axis of the light passing through the point P on which the finger is placed can be identified.
Similarly, the reflected light of the light beam emitted from the point light source 81 of the light emitting / receiving unit 1b can be received, and the optical axis passing through the point P where the finger is placed can be identified.

【００３１】図１では、受発光部１ａから発光した光軸
１０の延長線である直線Ｌ、１ｂから発光した光軸１３
の延長線である直線Ｒが点Ｐを通る２つの直線となって
いる。点Ｐの座標は、このような直線Ｌ、直線Ｒの交点
として算出することができる。In FIG. 1, an optical axis 13 emitted from a straight line L, 1b, which is an extension of the optical axis 10 emitted from the light emitting / receiving section 1a.
Are two straight lines passing through the point P. The coordinates of the point P can be calculated as the intersection of such a straight line L and a straight line R.

【００３２】つぎに、受発光部１ａ、受発光部１ｂの構
成と、遮断された光の光軸を求める機構について説明す
る。図２は、受発光部１ａの構成の概略を示す図で、座
標入力面３に垂直な方向から受発光部１ａを見た図であ
る。受発光部１ａは、概略して点光源８１、集光レンズ
５１、受光素子５０で構成されている。点光源８１は、
受光素子５０と反対側に扇状の光を照射するもので、扇
状の光は、矢印ｑ、矢印ｒ、矢印ｓ、矢印ｔの方向に照
射、あるいは反射されてくる光束の集合であると考えら
れる。Next, the configuration of the light emitting / receiving unit 1a and the light emitting / receiving unit 1b and a mechanism for finding the optical axis of the blocked light will be described. FIG. 2 is a view schematically showing the configuration of the light emitting / receiving section 1a, and is a view of the light emitting / receiving section 1a viewed from a direction perpendicular to the coordinate input surface 3. FIG. The light receiving / emitting unit 1a is roughly composed of a point light source 81, a condenser lens 51, and a light receiving element 50. The point light source 81
The fan-shaped light is emitted to the side opposite to the light receiving element 50, and the fan-shaped light is considered to be a set of light beams emitted or reflected in the directions of the arrows q, r, s, and t. .

【００３３】矢印ｑの方向に照射された光は、反射部材
４で矢印ｒの方向に反射されてくる。そして、集光レン
ズ５１を通って進み、受光素子５０上の点Ｐ２の位置で
受光される。また、矢印ｓの方向に照射された光は、反
射部材４で矢印ｔの方向に反射され、受光素子４３上の
点Ｐ１の位置で受光される。The light irradiated in the direction of arrow q is reflected by the reflecting member 4 in the direction of arrow r. Then, the light advances through the condenser lens 51 and is received at the position of the point P2 on the light receiving element 50. The light emitted in the direction of arrow s is reflected by the reflecting member 4 in the direction of arrow t, and is received at the position of the point P1 on the light receiving element 43.

【００３４】このように、点光源８１から照射され、再
帰性の反射部材４で反射された光の光軸とその受光位置
とは、一対一の関係にある。このことから、受光素子５
０上の受光強度分布を調べれば、遮断された光がどの光
軸を通って照射、あるいは反射されてきたものか分か
る。そして、このような光軸を受発光部１ａ、受発光部
１ｂの両方について求めれば、入力された点Ｐで交わる
２直線を求めることができる。As described above, the optical axis of the light emitted from the point light source 81 and reflected by the retroreflecting member 4 has a one-to-one relationship with the light receiving position. From this, the light receiving element 5
By examining the received light intensity distribution on 0, it is possible to know through which optical axis the blocked light has been irradiated or reflected. Then, if such an optical axis is obtained for both the light receiving / emitting unit 1a and the light receiving / emitting unit 1b, two straight lines intersecting at the input point P can be obtained.

【００３５】図３は、受光素子５０上の受光強度と遮断
された光の光軸との関係を説明する図である。図３で
は、集光レンズ５１の中心が点光源８１に一致するよう
に集光レンズ５１を配置する。点光源８１から照射され
た光は、反射部材４で再帰的に反射され、集光レンズ５
１の中心を通って受光素子５０上で受光される。FIG. 3 is a diagram for explaining the relationship between the light receiving intensity on the light receiving element 50 and the optical axis of the blocked light. In FIG. 3, the condenser lens 51 is arranged so that the center of the condenser lens 51 coincides with the point light source 81. Light emitted from the point light source 81 is recursively reflected by the reflecting member 4 and
The light is received on the light receiving element 50 through the center of the light receiving element 50.

【００３６】このとき、受光素子５０上の強度分布は、
光を遮断するものが座標入力面上に無ければほぼ均一に
なる。しかし、図中の点Ｐで光が遮断された場合、受光
素子５０上でこの点を通る光の受光位置の受光強度が弱
まることになる。なお、このような受光強度が弱い受光
素子５０上の点を以降暗点という。At this time, the intensity distribution on the light receiving element 50 is
If there is no blockage of light on the coordinate input surface, the light becomes almost uniform. However, when the light is blocked at the point P in the drawing, the light receiving intensity of the light receiving position of the light passing through this point on the light receiving element 50 is weakened. Note that such a point on the light receiving element 50 having a low light receiving intensity is hereinafter referred to as a dark point.

【００３７】図３中に、暗点の位置と受光素子５０中心
の点との距離Ｄ_nを示す。この距離Ｄｎは、暗点を通る
直線と受光素子５０の中心点を通る直線とがなす角度θ
_nと以下の式（１）で表される関係がある。FIG. 3 shows the distance D _n between the position of the dark point and the point at the center of the light receiving element 50. This distance Dn is an angle θ between a straight line passing through the dark point and a straight line passing through the center point of the light receiving element 50.
There is a relationship represented by the following equation (1) with _n .

【００３８】 θ_n＝ａｒｃｔａｎ（Ｄ_n／ｆ） …（１） ただし、式（１）中のｆは、図３に示すように、集光レ
ンズ５１中心と受光素子５０表面との距離である。Θ _n = arctan (D _n / f) (1) where f in the equation (1) is the distance between the center of the condenser lens 51 and the surface of the light receiving element 50 as shown in FIG. .

【００３９】また、ここで、特に図１の受発光部１ａに
ついてθ_nをθ_nLとし、図４で示した角度θ_Lを表せば、 θ_L＝ｇ（θ_nL） …（２） ただし、 θ_nL＝ａｒｃｔａｎ（Ｄ_nL／ｆ） …（３）In this case, particularly, for the light emitting / receiving section 1a in FIG. 1, θ _{n is set} to θ _nL and the angle θ _L shown in FIG. 4 is expressed as: θ _L = g (θ _nL ) (2) θ _nL = arctan (D _nL / f) (3)

【００４０】式（２）、式（３）の関係は、受発光部１
ｂについても同様に成り立つ。したがって、受発光部側
のθ_nをθ_nRとし、図４のθ_Rを表すと、 θ_R＝ｈ（θ_nR） …（４） ただし、 θ_nR＝ａｒｃｔａｎ（Ｄ_nL／ｆ） …（５） が得られる。The relationship between the expressions (2) and (3) is obtained by
The same holds for b. Thus, the receiving and emitting the light side theta _n and theta _nR, to represent the theta _R in FIG. _{4, θ R = h (θ} nR) ... (4) _{However, θ nR = arctan (D nL} / f) ... (5 ) Is obtained.

【００４１】ここで、受発光部１ａ、受発光部１ｂの取
付間隔を図４のようにＷとし、原点を図中のｏとする
と、点Ｐの座標Ｐ（ｘ，ｙ）は、 ｘ＝Ｗ・ｔａｎθ_R／（ｔａｎθ_L＋ｔａｎθ_R） …（６） ｙ＝Ｗ・ｔａｎθ_L・ｔａｎθ_R／（ｔａｎθ_L＋ｔａｎθ_R） …（７） と表すことができる。Here, assuming that the mounting interval between the light receiving / emitting unit 1a and the light receiving / emitting unit 1b is W as shown in FIG. 4 and the origin is o in the drawing, the coordinate P (x, y) of the point P is x = W · tan θ _R / (tan θ _L + tan θ _R ) (6) y = W · tan θ _L · tan θ _R / (tan θ _L + tan θ _R ) (7)

【００４２】以上のように、受発光部１ａ、１ｂに設け
られる受光素子５０上の暗点を検出し、この暗点と受光
素子５０の中心からの距離Ｄ_nを求めることにより、点
Ｐの座標を検出することができる。As described above, the dark point on the light receiving element 50 provided in the light receiving / emitting sections 1a and 1b is detected, and the distance D _n from the dark point and the center of the light receiving element 50 is obtained. Coordinates can be detected.

【００４３】図５は、受発光部１ａの具体的な構成を説
明するための図である。図５（ａ）は、発光、受光の構
成を説明するための模式図であり、（ｂ）は、（ａ）の
模式図の発光に係る構成を示す図であり、（ｃ）は、
（ａ）の受光に係る構成を説明する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a specific configuration of the light emitting / receiving section 1a. FIG. 5A is a schematic diagram for explaining a configuration of light emission and light reception, FIG. 5B is a diagram showing a configuration related to light emission of the schematic diagram of FIG. 5A, and FIG.
It is a figure explaining composition concerning light reception of (a).

【００４４】なお、図５（ａ）〜（ｃ）は、いずれもそ
れぞれの図中に示す座標軸に従う方向から見たものとす
る。また、座標入力面３には、ディスプレイ面（Ｄｉで
表す）を用いたものとする。It is assumed that FIGS. 5A to 5C are all viewed from directions following the coordinate axes shown in the respective drawings. It is assumed that a display surface (represented by Di) is used as the coordinate input surface 3.

【００４５】光源８３の光は、シリンドリカルレンズ８
４によってｘ方向にのみコリメートされる。そして、さ
らにシリンドリカルレンズ８５、シリンドリカルレンズ
８６で図中ｙ方向に集光される。The light from the light source 83 is applied to the cylindrical lens 8.
4 is collimated only in the x direction. The light is further condensed by the cylindrical lens 85 and the cylindrical lens 86 in the y direction in the drawing.

【００４６】このようなシリンドリカルレンズ８４とシ
リンドリカルレンズ８５、シリンドリカルレンズ８６と
は、その曲率分布が互いに直交している。３枚のシリン
ドリカルレンズを通過してきた光は、集光部ｃで線状に
集光する。この集光部ｃは、前述した座標検出原理の点
光源８１の位置にあると見なすことができる。The curvature distribution of the cylindrical lens 84, the cylindrical lens 85, and the cylindrical lens 86 is orthogonal to each other. Light that has passed through the three cylindrical lenses is condensed linearly at the light condensing part c. This condensing portion c can be regarded as being at the position of the point light source 81 based on the coordinate detection principle described above.

【００４７】また、集光部ｃの位置にはスリットｓが設
けてあって、スリットｓから座標入力面３に平行な光が
照射される。この照射光は、ハーフミラー８７によって
折り返されて、座標入力面３の正面にいるオペレータの
側から見て扇状に広がる（図５（ｂ））。このとき、照
射光は、シリンドリカルレンズ８４でコリメートされて
いることにより、座標入力面の垂直方向には広がること
がない。A slit s is provided at the position of the light condensing section c, and light parallel to the coordinate input surface 3 is emitted from the slit s. This irradiation light is turned back by the half mirror 87 and spreads in a fan shape when viewed from the operator in front of the coordinate input surface 3 (FIG. 5B). At this time, since the irradiation light is collimated by the cylindrical lens 84, it does not spread in the vertical direction of the coordinate input surface.

【００４８】座標入力面３上に広がった光は、反射部材
４で反射され、出射されたときと同じ光軸を通って集光
レンズ５１に向かって進む。そして、ハーフミラー８７
を透過した後に集光レンズ５１を通って受光素子５０に
受光される。受光素子５０は、複数のＣＣＤ撮像素子を
マトリックス状に配置して構成されている。The light spread on the coordinate input surface 3 is reflected by the reflecting member 4 and travels toward the condenser lens 51 through the same optical axis as when emitted. And the half mirror 87
Is transmitted through the condenser lens 51 and received by the light receiving element 50. The light receiving element 50 is configured by arranging a plurality of CCD imaging elements in a matrix.

【００４９】このとき、座標入力面３上に座標を入力す
るために置かれた指があれば、この指が光の遮断物とな
って受光素子５０のいずれかのＣＣＤ撮像素子に光が受
光されずに暗点を生じる。この暗点となったＣＣＤ撮像
素子の受光素子５０上における位置から前述した式
（１）のＤ_nが求められ、このＤ_nに基づいて指の置かれ
た点の座標が算出できる（図５（ｃ））。At this time, if there is a finger placed on the coordinate input surface 3 for inputting coordinates, this finger acts as an obstruction of light, and light is received by one of the CCD image pickup devices of the light receiving device 50. Instead, it produces dark spots. From the position on the light receiving element 50 of the CCD image pickup element that has become the dark point, D _{n of the} above-described equation (1) is obtained, and the coordinates of the point where the finger is placed can be calculated based on this D _n (FIG. 5). (C)).

【００５０】以下、本発明の実施の形態１、実施の形態
２について説明する。以下に述べる実施の形態１、実施
の形態２は、いずれも上述した検出原理によって座標を
検出するものである。また、実施の形態１、実施の形態
２では図示しない光学系には、先に図５で説明した構成
を用いるものとする。Hereinafter, the first and second embodiments of the present invention will be described. Embodiments 1 and 2 described below both detect coordinates based on the above-described detection principle. In the first and second embodiments, the optical system (not shown) uses the configuration described above with reference to FIG.

【００５１】（実施の形態１）以下、本発明の実施の形
態１について説明する。図６〜８は、実施の形態１の座
標検出装置を説明するための図である。なお、実施の形
態１の座標検出装置および後述する実施の形態２の座標
検出装置は、いずれもパソコンのディスプレイ面に取り
付けられて使用されるよう構成されている。このような
座標検出装置では、以降、パソコンのオペレータに向け
られる面を正面といい、この正面を基準に側面、裏面を
決めるものとする。Embodiment 1 Hereinafter, Embodiment 1 of the present invention will be described. 6 to 8 are diagrams for describing the coordinate detection device according to the first embodiment. The coordinate detecting device according to the first embodiment and the coordinate detecting device according to a second embodiment described later are both configured to be used by being attached to a display surface of a personal computer. In such a coordinate detecting device, a surface facing the operator of the personal computer is hereinafter referred to as a front surface, and the side surface and the rear surface are determined based on the front surface.

【００５２】図６は、実施の形態１の座標検出装置の正
面図である。また、図７は、図６中の部分Ａを拡大して
示す図で、図８は、図７中の清掃ユニット１１５の図中
の線分Ａ−Ａ’に沿う断面図である。ただし、図７、図
８は、清掃ユニットのうちの一部について示したもので
あるが、実施の形態１の清掃ユニットは、いずれも同様
に構成されている。このため、ここでは必要に応じて一
部の清掃ユニットについてのみ図示および説明し、他の
清掃ユニットの説明を一部略すものとする。FIG. 6 is a front view of the coordinate detecting device according to the first embodiment. 7 is an enlarged view of a portion A in FIG. 6, and FIG. 8 is a cross-sectional view of the cleaning unit 115 in FIG. 7 along a line AA 'in the drawing. 7 and 8 show only a part of the cleaning unit, but the cleaning unit according to the first embodiment has the same configuration. For this reason, only some of the cleaning units are illustrated and described herein as necessary, and the description of other cleaning units is partially omitted.

【００５３】図示した実施の形態１の座標検出装置は、
光が遮断されることにより、光を遮断した遮断部材の位
置を座標として検出する座標検出装置であって、図５で
説明した発光手段および受光手段と（説明の簡単のた
め、以降の図では図示せず）、発光手段が発した光を発
光手段に向けて再帰的に反射する反射シート１１１、１
１２、１１３と、反射手段の反射面を清掃する清掃ユニ
ット１１４、１１５、１１６、１１７、１１８、１１９
とを有する座標検出装置である。The coordinate detecting device of the first embodiment shown in FIG.
This is a coordinate detection device that detects, as coordinates, the position of a light blocking member that blocks light by blocking light, and includes a light emitting unit and a light receiving unit described in FIG. (Not shown), reflection sheets 111 and 1 for recursively reflecting light emitted from the light emitting means toward the light emitting means.
12, 113 and a cleaning unit 114, 115, 116, 117, 118, 119 for cleaning the reflecting surface of the reflecting means.
And a coordinate detection device having:

【００５４】反射シート１１１、反射シート１１２、反
射シート１１３は、ディスプレイ面に合わせた寸法形状
の座標入力面３の三方に設けられている。このような配
置は、実施の形態１の受発光部が座標入力面３の基準点
ｘ，ｙに光源が置かれるように配置されるためで、座標
入力面３に照射された光をすべて反射することができ
る。The reflection sheet 111, the reflection sheet 112, and the reflection sheet 113 are provided on three sides of the coordinate input surface 3 having a size and shape corresponding to the display surface. Such an arrangement is because the light emitting and receiving unit of the first embodiment is arranged such that the light source is located at the reference points x and y of the coordinate input surface 3, and reflects all the light applied to the coordinate input surface 3. can do.

【００５５】また、反射シート１１１、反射シート１１
２は、図７に示すように反射シート支持部材１５３、反
射シート支持部材１５４に接着剤で貼り付けるなどして
固定されている。以下、反射シートと反射シート支持部
材とを合わせて反射板といい、反射シートを反射板の反
射面ともいうものとする。なお、図示していないが、反
射シート１１３も、反射シート１１１、反射シート１１
２と同様に反射シート支持部材に固定されて反射板を形
成している。Further, the reflection sheet 111, the reflection sheet 11
7 is fixed to the reflection sheet support member 153 and the reflection sheet support member 154 with an adhesive as shown in FIG. Hereinafter, the reflection sheet and the reflection sheet supporting member are collectively referred to as a reflection plate, and the reflection sheet is also referred to as a reflection surface of the reflection plate. Although not shown, the reflection sheet 113 is also a reflection sheet 111 and a reflection sheet 11.
As in the case of 2, a reflection plate is formed by being fixed to the reflection sheet support member.

【００５６】座標入力面３の枠体２の裏面には、左側ガ
イド支持部１２１、下側ガイド支持部１２２、右側ガイ
ド支持部１２３が設けられている。反射面が反射シート
１１１の反射板（以下、左側反射板という）は、左側ガ
イド支持部１２１に沿って上下に摺動する。A left guide support 121, a lower guide support 122, and a right guide support 123 are provided on the back surface of the frame 2 of the coordinate input surface 3. The reflection plate of the reflection sheet 111 (hereinafter referred to as a left reflection plate) slides up and down along the left guide support portion 121.

【００５７】また、反射面が反射シート１１２の反射板
（以下、下側反射板という）は、下側ガイド支持部１２
２に沿って左右に摺動し、反射面が反射シート１１３の
反射板（以下、右側反射板という）は、右側ガイド支持
部１２３に沿って上下に摺動する（反射板の摺動範囲を
破線で示す）。The reflecting plate (hereinafter, referred to as a lower reflecting plate) of the reflecting sheet 112 has a reflecting surface, and the lower guide supporting portion 12
2, the reflecting surface of the reflecting sheet 113 (hereinafter referred to as right reflecting plate) slides up and down along the right guide supporting portion 123 (the sliding range of the reflecting plate is (Indicated by dashed lines).

【００５８】以上３つの反射板は、摺動することによっ
て清掃ユニット１１４、清掃ユニット１１５、清掃ユニ
ット１１６、清掃ユニット１１７、清掃ユニット１１
８、清掃ユニット１１９のいずれかによってその反射面
が清掃されることになる。このとき、３つの反射板は、
互いにわずかな間隙ｄを空けて配置されている。このよ
うな構成により、実施の形態１では、清掃動作中に反射
板がこすれ合って反射面に傷が付くことを防ぐことがで
きる。The above three reflectors are slid to form the cleaning unit 114, the cleaning unit 115, the cleaning unit 116, the cleaning unit 117, and the cleaning unit 11
8. The reflecting surface is cleaned by one of the cleaning units 119. At this time, the three reflectors
They are arranged with a slight gap d therebetween. With such a configuration, in the first embodiment, it is possible to prevent the reflection plate from rubbing during the cleaning operation and from scratching the reflection surface.

【００５９】なお、このような構成は、例えば、清掃動
作に先立って反射板を移動させて反射面に傷が付くこと
を防ぐ、といった複雑な動作制御をさせるものと比較し
て、同様の効果が得られる上に座標検出装置の構成を簡
易化できるという長所を有している。Such a configuration has the same effect as that of a configuration in which a complicated operation control is performed, for example, in which the reflection plate is moved before the cleaning operation to prevent the reflection surface from being damaged. Is obtained, and the configuration of the coordinate detecting device can be simplified.

【００６０】また、座標入力面３の下側の左右端部で
は、左側反射板、右側反射板が下側反射板の端部よりも
ホームポジション（摺動していない状態）において延出
するようになっていて、間隙ｄを設けたことによって反
射の精度が低下することを防いでいる。なお、このよう
な反射板の摺動は、図９に示す制御部によって制御され
ている。この制御部については、後述するものとする。At the lower left and right ends of the coordinate input surface 3, the left reflector and the right reflector extend at the home position (in a non-sliding state) more than the ends of the lower reflector. And the provision of the gap d prevents the accuracy of reflection from lowering. The sliding of the reflection plate is controlled by the control unit shown in FIG. This control unit will be described later.

【００６１】つぎに、清掃ユニットの構成について述べ
る。図６中に示した清掃ユニット１１５、清掃ユニット
１１６は、図７に示すように、それぞれ清掃ローラであ
るゴムローラ１５７、ゴムローラ１５８を備えている。
ゴムローラ１５７、ゴムローラ１５８は、回転自在なロ
ーラで、その表面には、一度付着させた塵が離れること
を防ぐのに充分な粘着性を持ち、塵が反射面の側に再付
着することをふせいでいる。このようなゴムローラ１５
７、ゴムローラ１５８は、表面が反射シート１１１、反
射シート１１２と接するような位置に設けられている。Next, the structure of the cleaning unit will be described. The cleaning unit 115 and the cleaning unit 116 shown in FIG. 6 include a rubber roller 157 and a rubber roller 158 as cleaning rollers, respectively, as shown in FIG.
The rubber roller 157 and the rubber roller 158 are rotatable rollers. The surface of the rubber roller 157 has sufficient adhesiveness to prevent the dust once adhered from separating, and prevents the dust from re-adhering to the reflective surface side. In. Such a rubber roller 15
7. The rubber roller 158 is provided at a position such that the surface thereof is in contact with the reflection sheet 111 and the reflection sheet 112.

【００６２】したがって、ゴムローラ１５７、ゴムロー
ラ１５８は、反射板が摺動する際にその反射面と表面を
接し、反射面に付着した塵などを表面に付着させて取り
除き、反射面を清掃することができる。このようなゴム
ローラ１５７、ゴムローラ１５８のローラ部分は、簡単
に交換ができるように図示しない回転軸に着脱自在に構
成され、粘着力の低下、つまり清掃効果の低下を防ぐこ
とができるようになっている。Therefore, the rubber roller 157 and the rubber roller 158 can be brought into contact with the reflection surface when the reflection plate slides, and the dust and the like adhering to the reflection surface can be removed by adhering to the surface to clean the reflection surface. it can. The roller portions of the rubber roller 157 and the rubber roller 158 are detachably mounted on a rotating shaft (not shown) so that they can be easily replaced, so that a reduction in adhesive force, that is, a reduction in cleaning effect can be prevented. I have.

【００６３】さらに、図８により、清掃ユニットの断面
を示して説明する。ゴムローラ１５７は、この背景板１
８１と一体的な部材によってカバーされていて（図７で
は、このカバーを図示していない）、ゴムローラ１５７
のローラ部分は背景板１８１に固定された軸部分に支持
されている。Further, a cross section of the cleaning unit will be described with reference to FIG. The rubber roller 157 is used for the background plate 1.
81 (the cover is not shown in FIG. 7), and a rubber roller 157 is provided.
Are supported by a shaft portion fixed to the background plate 181.

【００６４】また、背景板１８１と一体的な部材には、
プーリ１６２が設けられている。プーリ１６２には、後
述するようにワイヤが巻回されている。清掃ユニット１
５１は、このワイヤを反射シート支持部材１５４に固定
した上で巻回し、反射シート支持部材１５４を摺動しな
がらゴムローラ１５７で反射シート１１２を清掃するよ
う構成されている。The members integral with the background plate 181 include:
A pulley 162 is provided. A wire is wound around the pulley 162 as described later. Cleaning unit 1
Reference numeral 51 denotes a structure in which the wire is fixed to the reflection sheet support member 154 and wound, and the reflection sheet 112 is cleaned by the rubber roller 157 while sliding the reflection sheet support member 154.

【００６５】さらに、ゴムローラ１５７をカバーする背
景板１８１には摺動ガイド１８５、摺動ガイド１８６が
備えられていて、反射板の摺動がより円滑におこなえる
ようにしている。Further, the background plate 181 covering the rubber roller 157 is provided with a slide guide 185 and a slide guide 186 so that the reflection plate can slide more smoothly.

【００６６】つぎに、反射板を摺動する機構について説
明する。ただし、この機構は、３つの反射板のすべてに
ついて共通のものである。このため、ここでは下側反射
板についてだけ図示し、左側反射板、右側反射板につい
ては図示を一部省くものとする。Next, a mechanism for sliding the reflection plate will be described. However, this mechanism is common to all three reflectors. Therefore, only the lower reflector is shown here, and the left reflector and the right reflector are partially omitted from the drawing.

【００６７】下側反射板の内面には、図７に示す一対の
プーリ１６２、プーリ１６４が設けられている。このよ
うな対のプーリには、ワイヤ１７０が巻き回されてい
て、このワイヤ１７０は、プーリ１６２、プーリ１６４
のほぼ中央にあるワイヤ固定部１６６で下側反射板の内
面に固定されている。A pair of pulleys 162 and 164 shown in FIG. 7 are provided on the inner surface of the lower reflector. A wire 170 is wound around such a pair of pulleys, and the wire 170 is connected to a pulley 162, a pulley 164.
Is fixed to the inner surface of the lower reflector by a wire fixing portion 166 substantially at the center.

【００６８】そして、ワイヤ１７０と接するワイヤ駆動
ホイール１６８を設け、このワイヤ駆動ホイール１６８
を図示しないモータで回転することによって下側反射板
を左右に摺動するよう構成している。Then, a wire drive wheel 168 that contacts the wire 170 is provided.
Are rotated by a motor (not shown) to slide the lower reflector left and right.

【００６９】このとき、下側反射板の移動方向は、ワイ
ヤ１７０の巻回方向、つまりワイヤ駆動ホイール１６８
の回転方向によって決まる。すなわち、ワイヤ駆動ホイ
ール１６８を紙面垂直な回転軸を中心に時計回りで回転
させると、下側反射板は図中の右方向に摺動する。この
とき、下側反射板の長さ方向のほぼ中央から右端までの
反射面が清掃ユニット１１８で清掃できる。At this time, the moving direction of the lower reflector is the winding direction of the wire 170, that is, the wire driving wheel 168.
Is determined by the direction of rotation. That is, when the wire drive wheel 168 is rotated clockwise about a rotation axis perpendicular to the paper surface, the lower reflector slides rightward in the drawing. At this time, the cleaning unit 118 can clean the reflecting surface from substantially the center to the right end in the length direction of the lower reflecting plate.

【００７０】一方、ワイヤ駆動ホイール１６８を反時計
回りに回転させた場合には、下側反射板は図中の左方向
に摺動し、下側反射板の長さ方向のほぼ中央から左端ま
での反射面が清掃ユニット１１５で清掃できる。On the other hand, when the wire drive wheel 168 is rotated counterclockwise, the lower reflector slides leftward in the drawing, and extends from substantially the center of the lower reflector in the longitudinal direction to the left end. Can be cleaned by the cleaning unit 115.

【００７１】また、以上述べた下側反射板の摺動に際し
ては、予め左側反射板、右側反射板を上方向に移動させ
ておき、下側反射板の摺動を妨げないようにする。ま
た、この右側反射板、左側反射板の清掃も、それぞれの
裏面でプーリに巻回されるワイヤ１７０をワイヤ駆動ホ
イール１６８で回転させることによって実現できる。When the lower reflector is slid as described above, the left reflector and the right reflector are moved upward in advance so as not to hinder the sliding of the lower reflector. The cleaning of the right reflector and the left reflector can also be realized by rotating the wire 170 wound around the pulley on the back surface thereof with the wire drive wheel 168.

【００７２】左側反射板は、上方向の摺動によってその
ほぼ中央から上端部までが清掃ユニット１１４で清掃さ
れ、ほぼ中央から下端部までが清掃ユニット１１６で清
掃される。また、右側反射板は、上方向の摺動によって
そのほぼ中央から上端部までが清掃ユニット１１９で清
掃され、ほぼ中央から下端部までが清掃ユニット１１７
で清掃される。なお、右側反射板、左側反射板の摺動方
向（上、または下）もワイヤ駆動ホイール１６８の回転
方向によって決まる。The left reflecting plate is cleaned by the cleaning unit 114 from the center to the upper end by sliding upward, and is cleaned by the cleaning unit 116 from the center to the lower end. The right reflecting plate is cleaned by the cleaning unit 119 from substantially the center to the upper end by sliding upward, and the cleaning unit 117 is substantially cleaned from the center to the lower end.
It is cleaned in. Note that the sliding direction (up or down) of the right reflector and the left reflector is also determined by the rotation direction of the wire drive wheel 168.

【００７３】実施の形態１では、このように清掃ユニッ
トに対して摺動して反射面を清掃する反射板において、
一つの反射面を２つの清掃ユニットを使って清掃するよ
うにしている。このため、反射板の摺動範囲が少なくて
すみ、反射板を摺動させるための機構が比較的簡易に構
成できる。In the first embodiment, the reflecting plate that slides on the cleaning unit to clean the reflecting surface is
One reflecting surface is cleaned using two cleaning units. For this reason, the sliding range of the reflector can be reduced, and a mechanism for sliding the reflector can be configured relatively easily.

【００７４】つぎに、以上のように構成された座標検出
装置の清掃処理の制御について述べる。図９は、座標検
出装置の清掃処理を制御する構成を説明するためのブロ
ック図であり、実施の形態１と後述する実施の形態２と
で共通のものである。Next, the control of the cleaning process of the coordinate detecting device configured as described above will be described. FIG. 9 is a block diagram for explaining a configuration for controlling the cleaning process of the coordinate detecting device, which is common to the first embodiment and a second embodiment described later.

【００７５】図示した構成は、受発光部に光を出力させ
る光出力部１０１と、光出力部１０１によって出力され
た光を受光し、たとえば、この受光電圧（量）といった
受光データを出力する光検出部１０２と、光検出部１０
２が出力した受光データに基づいて反射板を摺動、清掃
するように駆動する反射板駆動機構１０３と、以上の処
理を制御する制御部１０６とを有している。The configuration shown in the figure is a light output unit 101 for outputting light to a light receiving / emitting unit, and a light for receiving light output by the light output unit 101 and outputting light reception data such as a light reception voltage (amount). The detection unit 102 and the light detection unit 10
2 has a reflector driving mechanism 103 that drives the reflector to slide and clean based on the received light data output by the light-receiving device 2, and a controller 106 that controls the above processing.

【００７６】制御部１０６は、たとえば、図１０のよう
に、ＲＯＭ１２６、ＲＡＭ１３６、ＣＰＵ１４６とを有
している。このような構成のうち、ＲＯＭ１２６には、
制御部１０６の制御に用いられるプログラムなどが記憶
されている。また、ＲＡＭ１３６は、光検出部１０２に
よって出力された受光データをいったん記憶するもの
で、ＣＰＵ１４６は、この受光データを所定のデータ、
もしくは波形データ（以下、基準データという）と演
算、比較するデータ演算・比較手段である。The control unit 106 has, for example, a ROM 126, a RAM 136, and a CPU 146 as shown in FIG. In such a configuration, the ROM 126 includes:
A program and the like used for control of the control unit 106 are stored. The RAM 136 temporarily stores the received light data output by the light detection unit 102. The CPU 146 stores the received light data in predetermined data,
Alternatively, it is a data calculating / comparing means for calculating and comparing with waveform data (hereinafter referred to as reference data).

【００７７】また、ＣＰＵ１４６は、この演算、比較結
果に基づいて、清掃手段である反射板駆動機構１０３を
も制御するよう構成されている。なお、受光データと比
較される基準データは、ＲＯＭ１２６に予め記憶されて
いるようにしてもよいし、座標検出装置の立ち上げ時に
取得してＲＡＭ１３６に記憶するものであってよい。さ
らにオペレータが任意に設定してＲＡＭ１３６に記憶す
るものであってもよい。The CPU 146 is also configured to control the reflector driving mechanism 103, which is a cleaning means, based on the calculation and comparison results. The reference data to be compared with the received light data may be stored in the ROM 126 in advance, or may be obtained when the coordinate detecting device is started up and stored in the RAM 136. Further, the information may be set arbitrarily by the operator and stored in the RAM 136.

【００７８】図１１（ａ）、（ｂ）は、受光データと基
準データとを例示する図で、（ａ）は基準データを、ま
た、（ｂ）は受発光部に測定されて、いったんＲＡＭ１
３６に記憶される受光データを示している。なお、図１
１（ａ）、（ｂ）のデータは、いずれも基準位置ｘに置
かれた受発光素子のものである。FIGS. 11 (a) and 11 (b) are diagrams exemplifying light reception data and reference data. FIG. 11 (a) shows reference data, and FIG.
36 shows light reception data stored in 36. FIG.
The data of 1 (a) and (b) are those of the light emitting / receiving element located at the reference position x.

【００７９】図１１（ａ）、（ｂ）のデータでは、いず
れも縦軸に受光量に比例する受光電圧（ｍＶ）を、ま
た、横軸には、受光された光が反射された反射面上の位
置を示す。なお、実施の形態１では、図１２に示すよう
に、この位置を反射シート１１１の上端部を０とし、反
射シート１１２の左端部から右端部、反射シート１１３
の上端部に向かう長さで表している。したがって、図１
１（ａ）の波形データは、反射面の反射率の分布を示す
データとなる。In the data of FIGS. 11A and 11B, the vertical axis represents the light receiving voltage (mV) proportional to the amount of received light, and the horizontal axis represents the reflecting surface on which the received light is reflected. Indicates the position above. In the first embodiment, as shown in FIG. 12, this position is set to 0 at the upper end of the reflection sheet 111, and from the left end to the right end of the reflection sheet 112,
Is expressed in a length toward the upper end. Therefore, FIG.
The waveform data 1 (a) is data indicating the distribution of the reflectance of the reflection surface.

【００８０】また、図１１（ａ）、（ｂ）中のＬ１は、
正常（異物の付着が無い）と判断される受光電圧の最大
値、Ｌ２は最小値を表すものとする。反射板が正常で光
を遮断する部材が座標入力面上に無い場合、基準データ
の波形データは、図１１（ａ）のように基準位置ｘにあ
る受発光素子から見て最も遠い位置にある点ｂで最も小
さくなるものの、ほぼ一様な分布を持っている。なお、
図１１、図１２の両方に反射面上の点０、ａ、ｂ、ｃを
示し、対応関係を示すものとする。Further, L1 in FIGS. 11A and 11B is
The maximum value of the received light voltage determined to be normal (there is no adhesion of foreign matter), and L2 represents the minimum value. When the reflector is normal and there is no member that blocks light on the coordinate input surface, the waveform data of the reference data is located at the farthest position when viewed from the light emitting / receiving element at the reference position x as shown in FIG. Although it becomes the smallest at the point b, it has a substantially uniform distribution. In addition,
Both FIG. 11 and FIG. 12 show points 0, a, b, and c on the reflecting surface, and show the correspondence.

【００８１】図９の制御部１０６は、光出力部１０１を
制御して受発光部に光を発光させ、この反射光を受発光
部の光検出部１０２から受光電圧として検出する。そし
て、この受光電圧を反射板上の反射位置に対して記録
し、いったんＲＡＭ１３６に記憶する。そして、このデ
ータを演算して基準データと比較し、反射面の清掃の要
否を判断する。The control section 106 in FIG. 9 controls the light output section 101 to cause the light receiving / emitting section to emit light, and detects the reflected light from the light detecting section 102 of the light receiving / emitting section as a light receiving voltage. Then, the received light voltage is recorded for the reflection position on the reflection plate, and is temporarily stored in the RAM 136. Then, this data is calculated and compared with the reference data to determine whether or not the reflection surface needs to be cleaned.

【００８２】この判断の結果、反射板に異物が付着して
いると判断された場合には、ワイヤ駆動ホイール１６８
を回転させるモータなどの反射板駆動機構１０３を駆動
して反射面を清掃する。As a result of this determination, when it is determined that foreign matter is attached to the reflection plate, the wire drive wheel 168
The reflecting plate driving mechanism 103 such as a motor for rotating the mirror is driven to clean the reflecting surface.

【００８３】反射面清掃の要否の判断としては、以下に
述べる２つの方法が考えられる。第１には、取得した受
光データを最大値Ｌ１、最小値Ｌ２のデータと比較し、
検出した受光電圧のうちに最小値Ｌ２よりも小さい値が
あった場合には、その位置で反射面に付着した塵などが
あると判断する。また、最大値Ｌ１よりも大きい値があ
った場合にはエラーとして出力するようにする。The following two methods are conceivable for judging the necessity of cleaning the reflecting surface. First, the obtained light receiving data is compared with the data of the maximum value L1 and the minimum value L2,
If the detected light receiving voltage has a value smaller than the minimum value L2, it is determined that there is dust or the like attached to the reflection surface at that position. If there is a value larger than the maximum value L1, the error is output.

【００８４】また、第２には、基準データのうちの波形
データと図１１（ｂ）に示した受光データとを比較し、
この差を求めるように演算する。この結果、求められた
差が所定の値よりも大きかった場合には、その位置で反
射面に付着した塵などがあると判断することができる。Second, the waveform data of the reference data is compared with the received light data shown in FIG.
An operation is performed to find this difference. As a result, when the obtained difference is larger than a predetermined value, it can be determined that there is dust or the like adhering to the reflection surface at that position.

【００８５】つぎに、以上述べた実施の形態１の反射面
を清掃する処理を、図１３でフローチャートにして説明
する。実施の形態１では、反射面の点検に先立って、座
標入力面内に光を遮断する部材が無いことを確認する。
この確認方法は周知の方法で良く、たとえば、座標入力
面全体を覆うカバーを設けておき、このカバーが閉まっ
ている場合には光遮断部材が無いと判断することが考え
られる。Next, the process of cleaning the reflecting surface according to the first embodiment described above will be described with reference to a flowchart of FIG. In the first embodiment, before inspecting the reflecting surface, it is confirmed that there is no light blocking member in the coordinate input surface.
This confirmation method may be a known method. For example, a cover that covers the entire coordinate input surface may be provided, and if the cover is closed, it may be determined that there is no light blocking member.

【００８６】つぎに、反射面の清掃、点検の最大回数で
ある発光最大試行回数を設定する（ステップＳ１）。こ
の設定は、制御部１０６として機能するパソコンなどに
オペレータが任意の回数Ｎを入力することによっておこ
なってもよい。また、この発光最大試行回数の設定と共
に、反射面の点検が支障無くおこなえると思われる範囲
（遮光区間長）や図１１の受光電圧最大値Ｌ１、最小値
Ｌ２（変換電圧下限値）を入力するようにしてもよい。Next, the maximum number of times of light emission, which is the maximum number of times of cleaning and inspection of the reflecting surface, is set (step S1). This setting may be performed by an operator inputting an arbitrary number N to a personal computer or the like functioning as the control unit 106. In addition to the setting of the maximum number of light emission trials, a range (light-shielding section length) where the inspection of the reflection surface can be performed without any trouble and a maximum value L1 and a minimum value L2 (lower conversion voltage) of the received light voltage shown in FIG. You may do so.

【００８７】そして、この発光最大試行回数をカウント
するカウンタの値ｎを０にリセットし（ステップＳ
２）、受光電圧をサンプリングして基準データと比較
し、たとえば前記した２つの方法によってこれを評価す
る（ステップＳ３）。Then, the value n of the counter for counting the maximum number of times of light emission is reset to 0 (step S).
2) The light receiving voltage is sampled and compared with the reference data, and is evaluated by, for example, the above-described two methods (step S3).

【００８８】つぎに、この評価の結果から、左側反射板
の反射面（左側反射面）が正常であるか否か判断する
（ステップＳ４）。この判断は、たとえば、図１１
（ｂ）で示した受光データが、横軸ａ以下の範囲で最小
値Ｌ２よりも小さい点を持たないか、あるいは基準デー
タの波形データとの差が所定の値以上になる点を持たな
いかを判断することによっておこなうことができる。Next, from the result of this evaluation, it is determined whether or not the reflection surface (left reflection surface) of the left reflector is normal (step S4). This determination is made, for example, by referring to FIG.
Whether the received light data shown in (b) does not have a point smaller than the minimum value L2 in the range below the horizontal axis a or does not have a point where the difference from the waveform data of the reference data becomes a predetermined value or more. Can be determined by determining

【００８９】この判断の結果、左側反射板が正常でなか
った場合（ステップＳ４否定）、右側反射板を上移動
（ステップＳ７）、続いて下側反射板を右移動した後に
（ステップＳ８）左側反射板を上下に摺動して清掃ユニ
ット１１４、清掃ユニット１１６によってその反射面を
清掃する（ステップＳ９）。If the result of this determination is that the left reflector is not normal (No at Step S4), the right reflector is moved upward (Step S7), and then the lower reflector is moved right (Step S8). The reflecting plate is slid up and down to clean the reflecting surface by the cleaning unit 114 and the cleaning unit 116 (step S9).

【００９０】また、ステップＳ４の判断で左側反射面が
正常と判断された場合には（ステップＳ４肯定）、下側
反射板の反射面（下側反射面）が正常か否か判断する
（ステップＳ５）。この判断は、たとえば、図１１
（ｂ）で示した受光データが、横軸ａ〜ｂの範囲で最小
値Ｌ２よりも小さい点を持たないか、あるいは基準デー
タの波形データとの差が所定の値以上になる点を持たな
いかを判断することによっておこなうことができる。If it is determined in step S4 that the left reflecting surface is normal (Yes in step S4), it is determined whether the reflecting surface of the lower reflecting plate (lower reflecting surface) is normal (step S4). S5). This determination is made, for example, by referring to FIG.
The received light data shown in (b) does not have a point smaller than the minimum value L2 in the range of the horizontal axis ab, or does not have a point where the difference from the waveform data of the reference data is equal to or more than a predetermined value. It can be done by judging whether or not.

【００９１】この判断の結果、左側反射板が正常でなか
った場合（ステップＳ５否定）、左側反射板を上に移動
（ステップＳ１０）、続いて右側反射板を上移動した後
に（ステップＳ１１）下側反射板を左右に摺動して清掃
ユニット１１５、清掃ユニット１１８によってその反射
面を清掃する（ステップＳ１２）。If the result of this determination is that the left reflector is not normal (No at step S5), the left reflector is moved up (step S10), and then the right reflector is moved up (step S11). The reflecting surface is cleaned by the cleaning unit 115 and the cleaning unit 118 by sliding the side reflector left and right (step S12).

【００９２】さらに、ステップＳ５の判断で側反射面が
正常と判断された場合には（ステップＳ５肯定）、右側
反射板の反射面（右側反射面）が正常か否か判断する
（ステップＳ６）。この判断は、たとえば、図１１
（ｂ）で示した受光データが、横軸ｂ以上の範囲で最小
値Ｌ２よりも小さい点を持たないか、あるいは基準デー
タの波形データとの差が所定の値以上になる点を持たな
いかを判断することによっておこなうことができる。Further, when it is determined in step S5 that the side reflection surface is normal (step S5: YES), it is determined whether the reflection surface of the right reflection plate (right reflection surface) is normal (step S6). . This determination is made, for example, by referring to FIG.
Whether the received light data shown in (b) does not have a point smaller than the minimum value L2 in the range equal to or more than the horizontal axis b, or does not have a point where the difference from the waveform data of the reference data is equal to or more than a predetermined value. Can be determined by determining

【００９３】この判断の結果、右側反射板が正常でなか
った場合（ステップＳ６否定）、左側反射板を上に移動
（ステップＳ１３）、続いて下側反射板を左移動した後
に（ステップＳ１４）右側反射板を上下に摺動して清掃
ユニット１１７、清掃ユニット１１９によってその反射
面を清掃する（ステップＳ１５）。一方、右側反射面も
正常であると判断された場合には（ステップＳ６肯
定）、点検の結果反射面が正常であったとして点検正常
終了の処理をする（ステップＳ１９）。If the result of this determination is that the right reflector is not normal (No at step S6), the left reflector is moved upward (step S13), and then the lower reflector is moved left (step S14). The reflecting surface is cleaned by the cleaning unit 117 and the cleaning unit 119 by sliding the right reflecting plate up and down (step S15). On the other hand, if it is determined that the right reflecting surface is also normal (Yes at step S6), it is determined that the reflecting surface is normal as a result of the inspection, and processing for terminating the inspection normally is performed (step S19).

【００９４】さらに、以上の処理によって反射板を清掃
した後、ｎを１つカウントアップして発光最大試行回数
Ｎと比較する（ステップＳ１７）。この結果、ｎがＮに
達していない場合には（ステップＳ１７否定）、再び受
光電圧をサンプリングして評価し（ステップＳ３）、清
掃によって反射面に付着していた塵などが除去できたか
否か確認する（ステップＳ４〜ステップＳ１５）。Further, after the reflection plate is cleaned by the above processing, n is counted up by one and compared with the maximum number of times of light emission trial N (step S17). As a result, if n has not reached N (No at Step S17), the received light voltage is sampled again and evaluated (Step S3), and it is determined whether dust or the like adhering to the reflecting surface has been removed by cleaning. Confirm (steps S4 to S15).

【００９５】この結果、点検が正常終了しない場合に
は、再び異常のあった反射板の反射面を清掃する。この
清掃は、ステップＳ１７の判断でｎがＮに達するまで繰
り返すことが可能であって、ｎがＮに達する、あるいは
それ以上になった場合には（ステップＳ１７）、点検異
常であるとして点検異常終了の処理をする（ステップＳ
１８）。なお、異常、正常に関わらず点検が終了した場
合にはすべての処理を終了する。As a result, if the inspection is not completed normally, the reflecting surface of the abnormal reflecting plate is cleaned again. This cleaning can be repeated until n reaches N in the judgment of step S17, and when n reaches N or exceeds it (step S17), it is determined that the inspection is abnormal and the inspection is abnormal. End processing (step S
18). In addition, when the inspection is completed regardless of abnormality or normal, all the processes are completed.

【００９６】以上説明した実施の形態１は、反射面に付
着した塵などを除去することによって反射面の部分的な
反射率低下を防ぎ、座標検出装置の誤検出を防ぐことが
できる。また、反射面の反射率を自動的、かつ客観的に
評価し、必要な場合には自動的に反射面を清掃すること
ができる。In the first embodiment described above, by removing dust and the like adhering to the reflecting surface, it is possible to prevent a partial decrease in the reflectivity of the reflecting surface and prevent erroneous detection of the coordinate detecting device. In addition, the reflectance of the reflecting surface can be automatically and objectively evaluated, and the reflecting surface can be automatically cleaned if necessary.

【００９７】このような処理に際して波形データを取得
した受光データと比較するようにすれば、反射面の曇り
などによる全体的な反射率低下にも対応でき、座標検出
装置の検出精度を常に一定の水準以上に維持することも
可能である。以上の作用、効果は、いずれも座標検出装
置の信頼性を高めることに寄与するものである。By comparing the waveform data with the received light data at the time of such processing, it is possible to cope with a decrease in the overall reflectance due to fogging of the reflecting surface and the like, so that the detection accuracy of the coordinate detecting device is always constant. It is also possible to maintain above the standard. All of the above operations and effects contribute to improving the reliability of the coordinate detection device.

【００９８】また、本発明は、以上述べた実施の形態１
に限定されるものではない。すなわち、実施の形態１で
は、ゴムローラを固定しておいて反射板を摺動するよう
にしているが、反射板の反射面上をゴムローラが自走す
るように構成してもよい。The present invention also relates to the first embodiment described above.
However, the present invention is not limited to this. That is, in the first embodiment, the rubber roller is fixed and the reflecting plate is slid, but the rubber roller may run on the reflecting surface of the reflecting plate by itself.

【００９９】また、反射板を摺動する機構を、反射板の
裏面に設けているが、このような機構は、反射板の側面
に設けることも可能である。また、実施の形態１では、
座標検出装置が自動的に清掃処理をおこなうよう構成し
たが、オペレータが反射面、あるいはゴムローラを手動
で摺動するようにしてもよい。The mechanism for sliding the reflection plate is provided on the back surface of the reflection plate, but such a mechanism may be provided on the side surface of the reflection plate. In the first embodiment,
Although the coordinate detection device is configured to automatically perform the cleaning process, the operator may manually slide the reflecting surface or the rubber roller.

【０１００】さらに実施の形態１では、基準データを図
１１に示した波形データ、あるいは最大値Ｌ１、最小値
Ｌ２としているが、基準データはこのような例に限定さ
れるものでなく、必要に応じてどのようなデータを使用
することも可能である。Further, in the first embodiment, the reference data is the waveform data shown in FIG. 11, or the maximum value L1 and the minimum value L2. However, the reference data is not limited to such an example, Any data can be used accordingly.

【０１０１】（実施の形態２）つぎに、本発明の実施の
形態２について説明する。図１４は、実施の形態２の座
標検出装置を説明するための正面図、図１５は、図１４
の矢線Ｂ−Ｂ’に沿う断面図である。なお、図示した実
施の形態２の座標検出装置のうち、図６、図８に示した
実施の形態１の座標検出装置と同様の構成については同
様の符号を付し、その説明を一部略すものとする。(Embodiment 2) Next, Embodiment 2 of the present invention will be described. FIG. 14 is a front view for explaining the coordinate detecting device according to the second embodiment, and FIG.
It is sectional drawing in alignment with the arrow BB 'of FIG. Note that among the coordinate detectors of the illustrated second embodiment, the same components as those of the coordinate detector of the first embodiment illustrated in FIGS. 6 and 8 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is partially omitted. Shall be.

【０１０２】図１４の座標検出装置は、図５で説明した
発光手段および受光手段と、発光手段が発した光を発光
手段に向けて再帰的に反射する反射シート１１１、１１
２、１１３と、反射手段の反射面を清掃する清掃ユニッ
ト１１４、１１５、１１６、１１７、１１８、１１９と
を有する座標検出装置である。The coordinate detecting apparatus shown in FIG. 14 includes the light emitting means and the light receiving means described with reference to FIG.
2 and 113, and a coordinate detection device having cleaning units 114, 115, 116, 117, 118 and 119 for cleaning the reflection surface of the reflection means.

【０１０３】そして、反射シート１１１、１１２、１１
３に、少なくとも発光手段によって発光された光を透過
する光透過性材料で形成された被覆部材を配置し、清掃
ユニット１１４、１１５、１１６、１１７、１１８、１
１９によって、この被覆部材を清掃するようにしたもの
である。Then, the reflection sheets 111, 112, 11
3, a coating member formed of a light-transmitting material that transmits at least light emitted by the light-emitting means is disposed, and the cleaning units 114, 115, 116, 117, 118, and 1 are disposed.
By 19, the covering member is cleaned.

【０１０４】反射シート１１１、１１２、１１３は、枠
体２００に固定されていて、それぞれ反射面に対向して
光透過性部材でなるカバーが設けられている。以下、反
射シート１１１に設けられたカバーを左側面カバー１９
０、反射シート１１２に設けられたカバーを下面カバー
１９１、反射シート１１３に設けられたカバーを右側面
カバー１９２と記すものとする。The reflection sheets 111, 112, and 113 are fixed to the frame 200, and are provided with covers made of a light-transmitting member facing the respective reflection surfaces. Hereinafter, the cover provided on the reflection sheet 111 is referred to as the left side cover 19.
0, the cover provided on the reflection sheet 112 is referred to as a lower surface cover 191, and the cover provided on the reflection sheet 113 is referred to as a right side cover 192.

【０１０５】また、清掃ユニット１１４、１１５、１１
６、１１７、１１８、１１９は、実施の形態１と同様に
表面に粘着性を持つゴムローラ１５７によってこの各カ
バーを清掃するように構成されている。The cleaning units 114, 115, 11
6, 117, 118 and 119 are configured to clean the respective covers by a rubber roller 157 having an adhesive surface as in the first embodiment.

【０１０６】図１５は、実施の形態２の各カバーの摺動
方法を説明する図である。なお、各カバーはすべて同様
に構成されているものである。このため、図１５で下面
カバー１９１についてだけ図示し、他の左側面カバー１
９０、右側面カバー１９２の説明は省くものとする。FIG. 15 is a diagram for explaining a sliding method of each cover according to the second embodiment. Note that all the covers have the same configuration. Therefore, only the lower cover 191 is shown in FIG.
90, the description of the right side cover 192 is omitted.

【０１０７】枠体２００には、図１５のように、下面カ
バー１９１と係合する駆動ローラ１９５が設けられてい
る。駆動ローラ１９５は、図示しない駆動モータによっ
て回転するよう構成されていて、その回転方向を変える
ことによって、下面カバー１９１を図１４中の左右、い
ずれの方向にも摺動することができる。As shown in FIG. 15, the frame 200 is provided with a drive roller 195 that engages with the lower cover 191. The drive roller 195 is configured to be rotated by a drive motor (not shown). By changing the rotation direction, the lower cover 191 can slide in either the left or right direction in FIG.

【０１０８】このような下面カバー１９１摺動の機構
は、透明な下面カバー１９１裏面に部材を取り付けるこ
とを避け、カバーの透明性を損なうことがない。したが
って、反射面にカバーを設けても、受発光素子から照射
された光は各カバーを透過し、反射面で再帰的に反射さ
れて受光されるようになる。Such a mechanism of sliding the lower cover 191 avoids attaching a member to the back surface of the transparent lower cover 191 and does not impair the transparency of the cover. Therefore, even if a cover is provided on the reflection surface, the light emitted from the light emitting / receiving element passes through each cover, and is reflected recursively on the reflection surface to be received.

【０１０９】また、通常各カバーは、反射面より内面
に、すなわち、反射面で囲まれた領域の内側に設置され
るため、摺動の際に干渉し合い、ストロークを稼ぐこと
ができない。そのため、実施の形態２では、反射面の交
差部分を図示するように第４の反射部材１１２ａ、第５
の反射部材１１２ｂで形成している。Further, since each cover is usually installed on the inner surface from the reflection surface, that is, inside the region surrounded by the reflection surface, they interfere with each other at the time of sliding and cannot gain a stroke. Therefore, in the second embodiment, the fourth reflecting member 112a and the fifth
Of the reflection member 112b.

【０１１０】そして、座標検出時には第４の反射部材１
１２ａの端部を左側面カバー１９０と接するように、ま
た、第５の反射部材１１２ｂの端部を右側面カバー１９
２と接するように設定しておく。At the time of coordinate detection, the fourth reflecting member 1
12a and the end of the fifth reflection member 112b so as to be in contact with the left side cover 190.
Set to be in contact with 2.

【０１１１】そして、左側面カバー１９０、右側面カバ
ー１９２を摺動させる際には、図１４のように第４の反
射部材１１２ａ、第５の反射部材１１２ｂを折り返
し、、左側面カバー１９０、右側面カバー１９２が摺動
する経路から反射シート１１２を逃がしてやるようにし
ている。また、このような構成の他、実施の形態２でも
実施の形態１と同様に、各カバーの摺動に先立って、他
のカバーを移動しておくように構成することも可能であ
る。When sliding the left side cover 190 and the right side cover 192, the fourth reflecting member 112a and the fifth reflecting member 112b are turned back as shown in FIG. The reflection sheet 112 is made to escape from a path along which the face cover 192 slides. Further, in addition to such a configuration, in the second embodiment, similarly to the first embodiment, it is possible to configure so that the other covers are moved prior to sliding of each cover.

【０１１２】以上述べたように、実施の形態２の座標検
出装置は、反射面を透明なカバーで覆うことによって反
射面を直接ゴムローラと接触させることを避け、反射面
を保護することができる。また、このカバーを清掃する
ことにより、カバーに付着した塵などによる誤検出を避
け、座標検出装置の信頼性を高めることができる。さら
に、実施の形態２の透明なカバーは、座標検出装置の美
観を高める効果をも有している。As described above, the coordinate detecting device according to the second embodiment can protect the reflection surface by covering the reflection surface with the transparent cover, thereby avoiding direct contact of the reflection surface with the rubber roller. Further, by cleaning the cover, erroneous detection due to dust or the like attached to the cover can be avoided, and the reliability of the coordinate detection device can be improved. Further, the transparent cover according to the second embodiment also has the effect of enhancing the appearance of the coordinate detection device.

【０１１３】また、本発明は、以上述べた実施の形態２
に限定されるものではない。すなわち、実施の形態２で
は、ゴムローラを固定しておいて各カバーを摺動するよ
うにしているが、各カバーの表面をゴムローラが自走す
るように構成してもよい。Further, the present invention relates to the second embodiment described above.
However, the present invention is not limited to this. That is, in the second embodiment, each cover is slid while the rubber roller is fixed, but the rubber roller may be configured to run on the surface of each cover by itself.

【０１１４】また、反射シートを固定し、各カバーだけ
を摺動するようにしているが、反射面をカバー内部に組
み込んでカバーと一体的に摺動するようにしてもよい。
また、実施の形態２では、座標検出装置が自動的に清掃
処理をおこなうよう構成したが、オペレータが各カバ
ー、あるいはゴムローラを手動で摺動するようにしても
よい。Although the reflection sheet is fixed and only each cover is slid, the reflection surface may be incorporated inside the cover to slide integrally with the cover.
In the second embodiment, the coordinate detecting device is configured to automatically perform the cleaning process. However, the operator may manually slide each cover or the rubber roller.

【０１１５】[0115]

【発明の効果】以上述べた本発明は、以下の効果を奏す
る。すなわち、請求項１記載の発明は、光を遮断した遮
断部材の位置を座標として検出する座標検出装置におい
て、反射面を常に清浄な状態に保つことができ、反射面
に塵などが付着したことによる遮断部材の誤検出を防ぐ
ことができる。したがって、請求項１記載の発明は、反
射部材の表面を常に清浄に保つことによってより信頼性
の高い光学式の座標検出装置を提供することができるも
のといえる。The present invention described above has the following effects. That is, according to the first aspect of the present invention, in the coordinate detecting device that detects the position of the blocking member that blocks light as coordinates, the reflecting surface can always be kept in a clean state, and dust or the like adheres to the reflecting surface. This can prevent erroneous detection of the blocking member due to the above. Therefore, the invention according to claim 1 can provide a more reliable optical coordinate detecting device by always keeping the surface of the reflecting member clean.

【０１１６】請求項２記載の発明は、複数の発光手段と
複数の受光手段とを有し、発光手段と受光手段との間で
発光、受光される光の遮断を検知し、光を遮断した遮断
手段の位置を２次元座標として検出する座標検出装置に
おいて、反射部材の表面を常に清浄に保つことによって
より信頼性の高い光学式の座標検出装置を提供すること
ができる。The invention according to claim 2 has a plurality of light emitting means and a plurality of light receiving means, and detects the interruption of the light emitted and received between the light emitting means and the light receiving means to interrupt the light. In a coordinate detecting device that detects the position of the blocking means as two-dimensional coordinates, a more reliable optical coordinate detecting device can be provided by always keeping the surface of the reflecting member clean.

【０１１７】請求項３記載の発明は、被覆部材で常に反
射面を保護しながら、反射面に塵などが付着したことに
よる遮断部材の誤検出を防ぐことができ、座標検出装置
の信頼性を高めることができる。According to the third aspect of the present invention, it is possible to prevent erroneous detection of the blocking member due to dust or the like adhering to the reflecting surface while always protecting the reflecting surface with the covering member, thereby improving the reliability of the coordinate detecting device. Can be enhanced.

【０１１８】請求項４記載の発明は、反射面の状態を常
に所定の状態に維持することができ、座標検出装置の信
頼性を高めることができる。According to the fourth aspect of the present invention, the state of the reflecting surface can always be maintained at a predetermined state, and the reliability of the coordinate detecting device can be improved.

【０１１９】請求項５記載の発明は、反射面に付着した
塵を清掃ローラに移し取って確実に塵を除去することが
でき、清掃手段の清掃効率を高めることができる。According to the fifth aspect of the present invention, dust adhering to the reflecting surface can be transferred to the cleaning roller to reliably remove the dust, and the cleaning efficiency of the cleaning means can be improved.

【０１２０】請求項６記載の発明は、清掃時以外には座
標検出に最も適切な位置に反射手段を配置しながら、清
掃時には反射手段を自由に摺動することができ、座標検
出装置の設計の自由度を高めることができる。According to the present invention, the reflecting means can be freely slid during cleaning while the reflecting means is arranged at the most appropriate position for coordinate detection except during cleaning. Degree of freedom can be increased.

【０１２１】請求項７記載の発明は、摺動範囲が小さく
なることによって摺動の機構を簡易にし、ひいては座標
検出装置の構成を簡易化することができる。According to the seventh aspect of the present invention, the sliding mechanism is simplified by reducing the sliding range, and the configuration of the coordinate detecting device can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】光学式の座標検出装置の検出原理について説明
する図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a detection principle of an optical coordinate detection device.

【図２】光学式の座標検出装置の検出原理について説明
する他の図である。FIG. 2 is another diagram illustrating the detection principle of the optical coordinate detection device.

【図３】光学式の座標検出装置の検出原理について説明
する他の図である。FIG. 3 is another diagram illustrating the detection principle of the optical coordinate detection device.

【図４】光学式の座標検出装置の検出原理について説明
する他の図である。FIG. 4 is another diagram illustrating the detection principle of the optical coordinate detection device.

【図５】本発明の実施の形態１、実施の形態２の受発光
部の具体的な構成を説明するための図であって、（ａ）
は、発光、受光の構成を説明するための図、（ｂ）は、
（ａ）の図の発光に係る構成を示す図、（ｃ）は、
（ａ）の受光に係る構成を示す図である。FIGS. 5A and 5B are diagrams for explaining a specific configuration of the light emitting and receiving unit according to the first and second embodiments of the present invention, wherein FIG.
Is a diagram for explaining the configuration of light emission and light reception, and FIG.
FIG. 3A is a diagram illustrating a configuration related to light emission in the diagram of FIG.
It is a figure showing composition concerning light reception of (a).

【図６】実施の形態１の座標検出装置を説明するための
図で、実施の形態１の座標検出装置の正面図である。FIG. 6 is a diagram for explaining the coordinate detection device according to the first embodiment, and is a front view of the coordinate detection device according to the first embodiment.

【図７】図６中の部分Ａを拡大して示す図である。FIG. 7 is an enlarged view of a portion A in FIG. 6;

【図８】図７中の線分Ａ−Ａ’に沿う清掃ユニットの断
面図である。8 is a cross-sectional view of the cleaning unit along a line AA 'in FIG.

【図９】座標検出装置の清掃処理を制御する構成を説明
するためのブロック図で、実施の形態１、実施の形態２
で共通のものである。FIG. 9 is a block diagram for explaining a configuration for controlling a cleaning process of the coordinate detection device, according to the first and second embodiments
Is common.

【図１０】図９に示した制御部をより具体的に説明する
ための図である。FIG. 10 is a diagram for more specifically explaining a control unit shown in FIG. 9;

【図１１】受光データと基準データとを例示する図で、
（ａ）は基準データを、（ｂ）は受光データを例示する
ための図である。FIG. 11 is a diagram illustrating light receiving data and reference data,
FIG. 3A is a diagram for illustrating reference data, and FIG. 3B is a diagram for illustrating received light data.

【図１２】図１１の横軸に示した反射面上の位置を説明
するための図である。FIG. 12 is a diagram for explaining a position on a reflection surface indicated by a horizontal axis in FIG. 11;

【図１３】実施の形態１の処理を説明するためのフロー
チャートである。FIG. 13 is a flowchart illustrating a process according to the first embodiment.

【図１４】実施の形態２の座標検出装置を説明するため
の図で、実施の形態２の座標検出装置の正面図である。FIG. 14 is a diagram for explaining a coordinate detection device according to a second embodiment, and is a front view of the coordinate detection device according to the second embodiment;

【図１５】図１４中の線分Ｂ−Ｂ’に沿う清掃ユニット
の断面図である。15 is a cross-sectional view of the cleaning unit along a line BB ′ in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

２、２００ 枠体 ３ 座標入力面 ４ 反射部材 ５０ 受光素子 ５１ 集光レンズ １０１ 光出力部 １０２ 光検出部 １０３ 反射板駆動機構 １０６ 制御部 １１１、１１２、１１３ 反射シート １１４、１１５、１１６、１１７、１１８、１１９ 清
掃ユニット １２１ 左側ガイド支持部 １２２ 下側ガイド支持部 １２３ 右側ガイド支持部 １２６ ＲＯＭ １３６ ＲＡＭ １４６ ＣＰＵ １５７、１５８ ゴムローラ １６１、１６２、１６４ プーリ １６６ ワイヤ固定部 １６８ ワイヤ駆動ホイール １７０ ワイヤ １９０ 左側面カバー １９１ 下面カバー １９２ 右側面カバー2, 200 Frame 3 Coordinate input surface 4 Reflecting member 50 Light receiving element 51 Condensing lens 101 Light output unit 102 Light detecting unit 103 Reflector driving mechanism 106 Control units 111, 112, 113 Reflecting sheets 114, 115, 116, 117, 118, 119 Cleaning unit 121 Left guide support part 122 Lower guide support part 123 Right guide support part 126 ROM 136 RAM 146 CPU 157, 158 Rubber roller 161, 162, 164 Pulley 166 Wire fixing part 168 Wire driving wheel 170 Wire 190 Left side Cover 191 Bottom cover 192 Right side cover

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 関谷 卓朗 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 清水 弘雅 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 高橋 禎郎 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 Ｆターム(参考） 5B068 AA05 AA11 AA21 AA32 BB18 BC02 BC04 BD25 BE08 CC17 5B087 AA09 AB02 AC16 AE00 CC12 CC26 CC34 DD03 DJ01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Takuro Sekiya 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Inside Ricoh Company (72) Inventor Hiromasa Shimizu 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Share In Ricoh Company (72) Inventor Sadao Takahashi 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo F-term in Ricoh Company (reference) 5B068 AA05 AA11 AA21 AA32 BB18 BC02 BC04 BD25 BE08 CC17 5B087 AA09 AB02 AC16 AE00 CC12 CC26 CC34 DD03 DJ01

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 光が遮断されることにより、光を遮断し
た遮断部材の位置を座標として検出する座標検出装置で
あって、 発光手段と、 前記発光手段が発した光を発光手段に向けて再帰的に反
射する反射手段と、 前記反射手段が反射した光を受光する受光手段と、 前記反射手段の反射面を清掃する清掃手段とを有するこ
とを特徴とする座標検出装置。1. A coordinate detecting device for detecting, as coordinates, a position of a blocking member that blocks light by blocking light, the light-emitting unit including: a light-emitting unit that directs light emitted by the light-emitting unit to the light-emitting unit; A coordinate detecting device comprising: a reflecting unit that recursively reflects light; a light receiving unit that receives light reflected by the reflecting unit; and a cleaning unit that cleans a reflecting surface of the reflecting unit. 【請求項２】 複数の発光手段と複数の受光手段とより
なり、これらの発光／受光の光路内の光遮断手段の有無
により、該光遮断手段の平面もしくはほぼ平面の２次元
座標を検出する座標検出装置において、前記発光手段か
ら出射した光を前記発光手段の方向とほぼ同一方向に向
けて反射する反射手段を有するとともに、該反射手段に
よって反射した光を受光できる位置に前記受光手段を配
置した座標検出装置であって、 前記反射手段の反射面の清掃手段を有したことを特徴と
する座標検出装置。2. A two-dimensional coordinate system comprising a plurality of light-emitting means and a plurality of light-receiving means, and detecting the presence or absence of a light-blocking means in an optical path for light emission / reception to detect a plane or substantially a plane of the light-blocking means. In the coordinate detecting device, a reflecting means for reflecting the light emitted from the light emitting means in substantially the same direction as the direction of the light emitting means is provided, and the light receiving means is arranged at a position where the light reflected by the reflecting means can be received. A coordinate detecting device, comprising: a cleaning unit for cleaning a reflecting surface of the reflecting unit. 【請求項３】 複数の発光手段と複数の受光手段とより
なり、これらの発光／受光の光路内の光遮断手段の有無
により、該光遮断手段の平面もしくはほぼ平面の２次元
座標を検出する座標検出装置において、前記発光手段か
ら出射した光を前記発光手段の方向とほぼ同一方向に向
けて反射する反射手段を有するとともに、該反射手段に
よって反射した光を受光できる位置に前記受光手段を配
置した座標検出装置であって、 前記反射手段の反射面側に、少なくとも前記発光手段に
より発光された光を透過する透過性材料で形成された被
覆部材を配置し、該被覆部材の清掃手段を設けたことを
特徴とする座標検出装置。3. A two-dimensional coordinate system comprising a plurality of light-emitting means and a plurality of light-receiving means, and detecting the presence or absence of a light-blocking means in the light-emitting / light-receiving optical path to detect a plane or substantially a plane of the light-blocking means. In the coordinate detecting device, a reflecting means for reflecting the light emitted from the light emitting means in substantially the same direction as the direction of the light emitting means is provided, and the light receiving means is arranged at a position where the light reflected by the reflecting means can be received. Coating member formed of a transmissive material that transmits at least the light emitted by the light emitting means is disposed on the reflecting surface side of the reflecting means, and cleaning means for the covering member is provided. A coordinate detecting device. 【請求項４】 所定のデータ、もしくは波形データを記
憶するデータ記憶手段と、 前記データ記憶手段に記憶されたデータと前記受光手段
から出力される受光データとの差を演算、比較するデー
タ演算・比較手段とをさらに有し、前記データ演算・比
較手段の演算、比較結果に基づいて、前記清掃手段を動
作させることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つ
に記載の座標検出装置。4. A data storage means for storing predetermined data or waveform data, and a data calculation means for calculating and comparing the difference between the data stored in the data storage means and the light reception data output from the light reception means. The coordinate detecting device according to any one of claims 1 to 3, further comprising a comparing unit, wherein the cleaning unit is operated based on a calculation and a comparison result of the data calculating / comparing unit. . 【請求項５】 前記清掃手段は、前記反射手段の反射面
を清掃する清掃ローラと、前記反射面と前記清掃ローラ
とを相対的に摺動する清掃機構とを備えることを特徴と
する請求項１〜４のいずれか一つに記載の座標検出装
置。5. The cleaning device according to claim 1, wherein the cleaning device includes a cleaning roller that cleans a reflection surface of the reflection device, and a cleaning mechanism that relatively slides the reflection surface and the cleaning roller. The coordinate detection device according to any one of claims 1 to 4. 【請求項６】 前記反射手段を複数に分割して構成する
と共に、前記清掃機構は、清掃に際して、分割された複
数の前記反射手段をそれぞれ独立に移動させることを特
徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の座標検出
装置。6. The cleaning device according to claim 1, wherein the reflecting unit is divided into a plurality of parts, and the cleaning mechanism moves the plurality of divided reflecting units independently during cleaning. The coordinate detecting device according to any one of the above. 【請求項７】 前記清掃ローラを複数設けると共に、前
記清掃機構は、分割された前記反射手段の反射面の各々
に複数の前記清掃ローラを相対的に摺動させることを特
徴とする請求項６に記載の座標検出装置。7. The cleaning device according to claim 6, wherein a plurality of the cleaning rollers are provided, and the cleaning mechanism relatively slides the plurality of cleaning rollers on each of the divided reflection surfaces of the reflection unit. 3. The coordinate detecting device according to 1.