JP2000309872A - 金属薄膜形成方法および基板処理装置 - Google Patents

金属薄膜形成方法および基板処理装置

Info

Publication number
JP2000309872A
JP2000309872A JP11366276A JP36627699A JP2000309872A JP 2000309872 A JP2000309872 A JP 2000309872A JP 11366276 A JP11366276 A JP 11366276A JP 36627699 A JP36627699 A JP 36627699A JP 2000309872 A JP2000309872 A JP 2000309872A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
metal
coating
organic substance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11366276A
Other languages
English (en)
Inventor
Takamasa Sakai
高正 坂井
Sadao Hirae
貞雄 平得
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP11366276A priority Critical patent/JP2000309872A/ja
Publication of JP2000309872A publication Critical patent/JP2000309872A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemically Coating (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】表面に複数の段差を有する基板に金属有機物あ
るいは金属を含有している有機物による均一な金属薄膜
を形成できる金属薄膜形成方法およびそれを利用した基
板処理装置を提供する。 【解決手段】コータ部2において表面に複数の溝部Mを
有するウエハWを回転させつつウエハWの表面に金属有
機物を塗布する。これにより、溝部M全体に金属有機物
が入り込む。次に、ベーク部3においてウエハWに塗布
された金属有機物を乾燥させる。さらに、金属有機物が
乾燥されたウエハWを熱処理部4において所定の温度で
加熱すると、ウエハWの表面に塗布された金属有機物が
熱分解し、ウエハWの表面に均一な金属有機物の金属薄
膜が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面に複数の段差
を有する、半導体ウエハ、液晶用ガラス基板等の基板に
金属有機物または金属を含有している有機物による金属
薄膜を形成する金属薄膜形成方法およびこれを利用した
基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、表面に複数の段差を有する基板の
一種であるウエハに銅(Cu)などの金属薄膜を形成す
る方法として、PVD(Physical Vaper
Deposition)法が提案されている。
【0003】このPVD法においては、まず密閉チャン
バ内にウエハを搬入し、密閉チャンバ内を大気から密閉
した状態で、ウエハに対して室温から数百度の範囲の温
度で、加熱処理やプラズマ処理を行い、それと同時に、
Cu等の金属有機物、あるいはAu等の金属を含有して
いる有機物(有機物にAu等の金属を混入させたもの)
をウエハの表面に供給する。その結果、加熱処理やプラ
ズマ処理によってウエハの表面において金属有機物等が
熱分解、プラズマ分解され、ウエハの表面の段差である
溝に金属有機物等が密着し、薄膜の状態でウエハの表面
に金属有機物等のシード層が形成される。その後、シー
ド層が形成されたウエハに対してさらにメッキ液を供給
して、ウエハのメッキ処理が行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
金属薄膜形成方法だと、金属有機物等のシード層が表面
の溝部の壁や底といった溝部全体にわたって形成され
ず、シード層の膜厚にムラができてしまう。したがっ
て、シード層の膜厚にムラができた状態のウエハに対し
てメッキ処理を行ってしまうと、シード層の膜厚のムラ
がそのままメッキ層のムラになってしまい、メッキ処理
による埋め込み工程での再現性が得難いという問題が発
生する。
【0005】そこで、本発明はこのような事情に鑑みて
なされたものであって、表面に複数の段差を有する基板
に金属有機物あるいは金属を含有している有機物による
均一な金属薄膜を形成できる金属薄膜形成方法およびそ
れを利用した基板処理装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ために、請求項1に記載の金属薄膜形成方法は、表面に
複数の段差を有する基板に金属薄膜を形成する金属薄膜
形成方法であって、塗布部において基板を回転させつつ
基板の表面に金属有機物を塗布する塗布工程と、前記塗
布工程により金属有機物が塗布された基板を加熱部にお
いて所定の温度で加熱する加熱工程と、を備えたもので
ある。
【0007】請求項1に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、まず、塗布部において表面に複数の段差を有する基
板を回転させつつ基板の表面に金属有機物を塗布する。
これにより、段差全体に金属有機物が入り込む。次に、
金属有機物が塗布された基板を加熱部において所定の温
度で加熱すると、基板の表面に塗布された金属有機物が
熱分解し、基板の表面に均一な金属有機物の金属薄膜が
形成される。
【0008】また、請求項2に記載の金属薄膜形成方法
は、表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜を形成す
る金属薄膜形成方法であって、塗布部において基板を回
転させつつ基板の表面に金属有機物を塗布する塗布工程
と、前記塗布工程により基板に塗布された金属有機物を
乾燥部において乾燥させる乾燥工程と、前記乾燥工程に
より金属有機物が乾燥された基板を加熱部において所定
の温度で加熱する加熱工程と、備えたものである。
【0009】請求項2に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布部において表面に複数の段差を有する基板を回
転させつつ基板の表面に金属有機物を塗布する。これに
より、溝部全体に金属有機物が入り込む。次に、乾燥部
において基板に塗布された金属有機物を乾燥させる。さ
らに、金属有機物が乾燥された基板を加熱部において所
定の温度で加熱すると、基板の表面に塗布された金属有
機物が熱分解し、基板の表面に均一な金属有機物の金属
薄膜が形成される。
【0010】また、請求項3に記載の金属薄膜形成方法
は、請求項1または請求項2に記載の金属薄膜形成方法
であって、前記塗布工程において基板への金属有機物の
塗布を行う前に、塗布部内を減圧する減圧工程をさらに
備えたものである。
【0011】請求項3に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布工程において基板への金属有機物の塗布を行う
前に、塗布部内を減圧しているので、塗布工程において
複数の段差を有する基板を回転させつつ基板の表面に金
属有機物を塗布する際に、段差全体に金属有機物が入り
込みやすくなる。
【0012】また、請求項4に記載の金属薄膜形成方法
は、表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜を形成す
る金属薄膜形成方法であって、塗布部において基板を回
転させつつ基板の表面に金属を含有している有機物を塗
布する塗布工程と、前記塗布工程により有機物が塗布さ
れた基板を加熱部において所定の温度で加熱する加熱工
程と、を備えたものである。
【0013】請求項4に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、まず、塗布部において表面に複数の段差を有する基
板を回転させつつ基板の表面に金属を含有している有機
物を塗布する。これにより、段差全体に有機物が入り込
む。次に、有機物が塗布された基板を加熱部において所
定の温度で加熱すると、基板の表面に塗布された有機物
が熱分解し、基板の表面に均一な金属有機物の金属薄膜
が形成される。
【0014】また、請求項5に記載の金属薄膜形成方法
は、表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜を形成す
る金属薄膜形成方法であって、塗布部において基板を回
転させつつ基板の表面に金属を含有している有機物を塗
布する塗布工程と、前記塗布工程により基板に塗布され
た有機物を乾燥部において乾燥させる乾燥工程と、前記
乾燥工程により有機物が乾燥された基板を加熱部におい
て所定の温度で加熱する加熱工程と、備えたものであ
る。
【0015】請求項5に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布部において表面に複数の段差を有する基板を回
転させつつ基板の表面に金属を含有している有機物を塗
布する。これにより、溝部全体に有機物が入り込む。次
に、乾燥部において基板に塗布された有機物を乾燥させ
る。さらに、有機物が乾燥された基板を加熱部において
所定の温度で加熱すると、基板の表面に塗布された有機
物が熱分解し、基板の表面に均一な有機物の金属薄膜が
形成される。
【0016】また、請求項6に記載の金属薄膜形成方法
は、請求項4または請求項5に記載の金属薄膜形成方法
であって、前記塗布工程において基板への金属を含有し
ている有機物の塗布を行う前に、塗布部内を減圧する減
圧工程をさらに備えたものである。
【0017】請求項6に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布工程において基板への有機物の塗布を行う前
に、塗布部内を減圧しているので、塗布工程において複
数の段差を有する基板を回転させつつ基板の表面に有機
物を塗布する際に、段差全体に金属有機物が入り込みや
すくなる。
【0018】また、請求項7に記載の基板処理装置は、
表面に複数の溝部を有する基板に所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板の表面に金属有機物を塗布する
ための塗布部と、前記塗布部において金属有機物が塗布
された基板を所定の温度で加熱する加熱部と、前記塗布
部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬送手段とを備
え、前記塗布部は、基板を保持する基板保持手段と、基
板を保持した前記基板保持手段を回転させる駆動手段
と、前記基板保持手段に保持された基板の表面に金属有
機物を吐出する供給手段とを備えたものである。
【0019】請求項7に記載の基板処理装置によれば、
塗布部において表面に複数の段差を有する基板を保持す
る基板保持手段を駆動手段により回転させつつ供給手段
から基板の表面に金属有機物を吐出する。これにより、
段差全体に金属有機物が入り込む。次に、搬送手段が塗
布部から加熱部へ表面に金属有機物が塗布された基板の
搬送を行う。さらに、塗布部において金属有機物が塗布
された基板を加熱部において所定の温度で加熱すると、
基板の表面に塗布された金属有機物が熱分解し、基板の
表面に均一な金属有機物の金属薄膜が形成される。
【0020】また、請求項8に記載の基板処理装置は、
表面に複数の段差を有する基板に所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板の表面に金属有機物を塗布する
ための塗布部と、前記塗布部において塗布された基板の
表面の金属有機物を乾燥させる乾燥部と、前記乾燥部に
おいて金属有機物が乾燥された基板を所定の温度で加熱
する加熱部と、前記塗布部から前記乾燥部へ基板の搬送
を行い、かつ前記乾燥部から前記加熱部へ基板の搬送を
行う搬送手段とを備え、前記塗布部は、基板を保持する
基板保持手段と、基板を保持した前記基板保持手段を回
転させる駆動手段と、前記基板保持手段に保持された基
板の表面に金属有機物を吐出する供給手段とを備えたも
のである。
【0021】請求項8に記載の基板処理装置によれば、
塗布部において表面に複数の段差を有する基板を保持す
る基板保持手段を駆動手段により回転させつつ供給手段
から基板の表面に金属有機物を吐出する。これにより、
段差全体に金属有機物が入り込む。次に、搬送手段が塗
布部から乾燥部へ表面に金属有機物が塗布された基板の
搬送を行う。塗布部において塗布された基板の表面の金
属有機物を乾燥部で乾燥させる。次に、搬送手段が乾燥
部から加熱部へ金属有機物が乾燥された基板の搬送を行
う。さらに、乾燥部において乾燥された金属有機物が基
板を加熱部において所定の温度で加熱すると、基板の表
面に塗布された金属有機物が熱分解し、基板の表面に均
一な金属有機物の金属薄膜が形成される。
【0022】また、請求項9に記載の基板処理装置は、
請求項7または請求項8に記載の金属薄膜形成方法であ
って、前記塗布部は、前記供給手段により基板への金属
有機物の吐出を行う前に、前記塗布部内を減圧する減圧
手段をさらに備えたものである。
【0023】請求項9に記載の基板処理装置によれば、
塗布部に備えられた減圧手段が供給手段により基板への
金属有機物の吐出を行う前に塗布部内を減圧しておけ
ば、複数の段差を有する基板を回転させつつ基板の表面
に金属有機物を塗布する際に、段差全体に金属有機物が
入り込みやすくなる。
【0024】また、請求項10に記載の基板処理装置
は、表面に複数の段差を有する基板に所定の処理を行う
基板処理装置であって、基板の表面に金属を含有してい
る有機物を塗布するための塗布部と、前記塗布部におい
て有機物が塗布された基板を所定の温度で加熱する加熱
部と、前記塗布部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬
送手段とを備え、前記塗布部は、基板を保持する基板保
持手段と、基板を保持した前記基板保持手段を回転させ
る駆動手段と、前記基板保持手段に保持された基板の表
面に有機物を吐出する供給手段とを備えたものである。
【0025】請求項10に記載の基板処理装置によれ
ば、塗布部において表面に複数の段差を有する基板を保
持する基板保持手段を駆動手段により回転させつつ供給
手段から基板の表面に金属を含有している有機物を吐出
する。これにより、段差全体に有機物が入り込む。次
に、搬送手段が塗布部から乾燥部へ表面に有機物が塗布
された基板の搬送を行う。塗布部において塗布された基
板の表面の有機物を乾燥部で乾燥させる。次に、搬送手
段が乾燥部から加熱部へ有機物が乾燥された基板の搬送
を行う。さらに、乾燥部において乾燥された有機物が基
板を加熱部において所定の温度で加熱すると、基板の表
面に塗布された有機物が熱分解し、基板の表面に均一な
有機物の金属薄膜が形成される。
【0026】また、請求項11に記載の基板処理装置
は、表面に複数の段差を有する基板に所定の処理を行う
基板処理装置であって、基板の表面に金属を含有してい
る有機物を塗布するための塗布部と、前記塗布部におい
て塗布された基板の表面の有機物を乾燥させる乾燥部
と、前記乾燥部において有機物が乾燥された基板を所定
の温度で加熱する加熱部と、前記塗布部から前記乾燥部
へ基板の搬送を行い、かつ前記乾燥部から前記加熱部へ
基板の搬送を行う搬送手段とを備え、前記塗布部は、基
板を保持する基板保持手段と、基板を保持した前記基板
保持手段を回転させる駆動手段と、前記基板保持手段に
保持された基板の表面に有機物を吐出する供給手段とを
備えたものである。
【0027】請求項11に記載の基板処理装置によれ
ば、塗布部において表面に複数の段差を有する基板を保
持する基板保持手段を駆動手段により回転させつつ供給
手段から基板の表面に金属を含有している有機物を吐出
する。これにより、段差全体に有機物が入り込む。次
に、搬送手段が塗布部から乾燥部へ表面に有機物が塗布
された基板の搬送を行う。塗布部において塗布された基
板の表面の有機物を乾燥部で乾燥させる。次に、搬送手
段が乾燥部から加熱部へ有機物が乾燥された基板の搬送
を行う。さらに、乾燥部において乾燥された有機物が基
板を加熱部において所定の温度で加熱すると、基板の表
面に塗布された有機物が熱分解し、基板の表面に均一な
有機物の金属薄膜が形成される。
【0028】さらに、請求項12に記載の基板処理装置
は、請求項10または請求項11に記載の基板処理装置
であって、前記塗布部は、前記供給手段により基板への
金属を含有している有機物の吐出を行う前に、前記塗布
部内を減圧する減圧手段をさらに備えたものである。
【0029】請求項12に記載の基板処理装置によれ
ば、塗布部に備えられた減圧手段が供給手段により基板
への金属を含有している有機物の吐出を行う前に塗布部
内を減圧しておけば、複数の段差を有する基板を回転さ
せつつ基板の表面に有機物を塗布する際に、段差全体に
金属有機物が入り込みやすくなる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
る金属薄膜形成方法および基板処理装置の実施の形態を
説明する。
【0031】図1は、本発明に係る基板処理装置の全体
構成を示す図である。この基板処理装置は、中央部に基
板の一種であるウエハWを搬送するための搬送部1を備
えており、この搬送部1の周囲には、ウエハWの表面に
白金(Pt)等の金属有機物を塗布するコータ部(塗布
部)2と、このコータ部2で金属有機物が塗布されたウ
エハWに第1の熱処理を行ってウエハWの乾燥処理を行
うベーク部(乾燥部)3と、このベーク部3においてウ
エハWに第1の熱処理を行った後に、ウエハWに第2の
熱処理を行う熱処理部(加熱部)4と、この熱処理部4
において第2の熱処理を行ったウエハWにメッキ処理を
行うメッキ処理部5と、一連の処理が終了したウエハW
および未処理のウエハWを収納したカセットCAを載置
する2つのローダ・アンローダ部6と、を配置してい
る。
【0032】図1に示すように、基板処理装置の中央部
に配置された搬送部1の略中央部には、搬送ロボット1
0が設けられいる。この搬送ロボット10は、基台11
内に図示しないモータを内蔵しており、このモータの回
転軸に第1の多関節アーム12が軸支され、さらに第1
の多関節アーム12の先端に第2の多関節アーム13を
介してウエハWの裏面を支持するための支持アーム14
を備えている。この搬送ロボット10は、ウエハWの裏
面を支持アーム14で支持しつつ、搬送部1の周囲に配
置されたコータ部2、ベーク部3、熱処理部4、メッキ
処理部5およびローダ・アンローダ部6の間でウエハW
の搬送を行う。
【0033】次に、本発明に係る塗布部に相当するコー
タ部2を説明する。図2は、コータ部の概略構成図であ
る。
【0034】このコータ部2は、図2に示すように、密
閉チャンバ20を備えており、この密閉チャンバ20の
搬送部1(図1参照)側には、搬送部1との間でウエハ
Wの受け渡しを行うための開口21が設けられ、この開
口21に対して矢印Aに示すように上下方向に開閉可能
な密閉型シャッタ210を備えている。また、密閉チャ
ンバ20の上面には密閉チャンバ20内に窒素ガス等の
ガスを供給するための供給口22が設けられ、密閉チャ
ンバ20の下面には密閉チャンバ20内を減圧状態する
ために密閉チャンバ20内のガスを排気する排出口23
が設けられている。
【0035】この供給口22は、密閉チャンバ20へ供
給されるガスの流量を制御するための供給用の調整弁2
21を途中に設けた供給管220を介してガス供給源2
22に連通接続されている。また、排出口23から排出
されるガスの流量を制御するため排出用の調整弁231
を途中に設けた供給管230を介して、密閉チャンバ2
0内からガスが排出される。
【0036】なお、調整弁221を閉状態にし、調整弁
231を開状態にすれば、密閉チャンバ20内からは、
ガスが排気された状態になるので、密閉チャンバ20内
は減圧状態となる。
【0037】また、密閉チャンバ20内の中心部には、
回転処理部24が設けられている。この回転処理部24
は、水平方向にウエハWの裏面を吸着保持するためのス
ピンチャック240を備えており、このスピンチャック
240の下側は、密閉チャンバ20内の底部に設けられ
たモータ241の回転軸242に連結されている。スピ
ンチャック240に吸着されたウエハWの上方には、こ
のウエハWの表面に金属有機物のペースト(例えば、メ
タロ・オルガニックス)を塗布するためのノズル243
が設けられている。このノズルは243は、調整弁24
5を途中に設けた供給管244を介して金属有機物供給
源246に連通接続されている。
【0038】ウエハWの表面に金属有機物のペーストを
塗布する際には、スピンチャック240がウエハWの裏
面を吸着保持しつつモータ241を1000〜2000
rpmの回転数に回転させた状態で、ノズル243から
金属有機物のペーストをウエハWの表面へ吐出する。す
ると、ウエハWの回転に伴って、金属有機物のペースト
はウエハWの外周方向へ広がり、ウエハWの表面全体に
わたって金属有機物が塗布される。
【0039】スピンチャック240に吸着保持されたウ
エハWの外周側に、ウエハWの回転に伴ってウエハWの
外周端部から飛散した金属有機物のペーストを受け止め
るカップ25を備えている。このカップ25で受け止め
られた金属有機物は、密閉チャンバ20内の底部に設け
られた複数の排出管250へ導かれ、不要な金属有機物
は排出管250を通して密閉チャンバ20外へ排出され
る。
【0040】次に、本発明に係る乾燥部に相当するベー
ク部3を説明する。図3はベーク部の概略構成図であ
る。
【0041】図3において、符号30はベーク部3の外
枠を構成する密閉チャンバである。この密閉チャンバ3
0内にはウエハWを載置するための載置台31が設けら
れている。この載置台31は、円柱部31bの上面にウ
エハWを載置するための載置面31aを備えている。ま
た、載置台31の内部には、温度調節機構32が備えら
れ、この温度調節機構32によって、載置台31は所定
の温度に調節される。載置台31内部下側には、載置台
31の載置面31aを貫通する例えば3本の支持ピン3
3によって載置台31aに載置されるウエハWを昇降す
る昇降機構34が設けられている。
【0042】また、密閉チャンバ30の搬送部1側に
は、搬送部1との間でウエハWの受け渡しを行うための
開口35が設けられ、この開口35に対して矢印Bに示
すように上下方向に開閉可能な密閉型シャッタ350を
備えている。
【0043】次に、本発明に係る加熱部に相当する熱処
理部4を説明する。図4は熱処理部に設けられた縦型熱
処理炉の概略断面図を示している。
【0044】この縦型熱処理炉40には、管軸芯方向が
上下に向くように赤外線透過性を有する石英材料によっ
て形成された炉芯管41が設けられ、この炉芯管41の
管軸芯方向下側に円形状の開口42が形成されている。
そして、この炉芯管41内に対しては、複数のウエハW
を保持するボート43が挿脱可能となっている。
【0045】炉芯管41の開口42側の側部には、ガス
導入口44aが設けられ、このガス道入口44aは図示
しないガス供給機構と連通接続しており、ガス供給機構
からガス導入口44aを介して窒素ガス等のパージガス
や炉芯管41内での反応用の処理ガスが炉芯管41内へ
導入される。また、ガス導入口44aの下側の炉芯管4
1の側部には、ガス排出口44bが設けられ、このガス
排出口44bは図示しないガス排気機構と連通接続して
おり、複数のウエハWを保持したボート43を炉芯管4
1内へ挿入するとともに、開口42を図示しない炉口キ
ャップで蓋した状態で、ガス導入口44aからパージガ
スや処理ガスを導入するときに、排出口44bから炉芯
管41内にあるガスを排出する。
【0046】炉芯管41周囲には、管軸芯方向に上側か
ら短い第1のヒータ44aと、長い第2のヒータ45b
と、第3のヒータ45cとを備えるヒータユニット45
が配置されている。このヒータユニット45の加熱処理
により、炉芯管41内に挿入されたボート43に保持さ
れたウエハWが加熱される。
【0047】炉芯管41内に挿入されるボート43は、
周方向に間隔を隔てて設けたウエハ保持用の石英製で透
明な3本の支柱43aを備え、この3本の支柱43aに
は管軸芯方向に複数の石英製の板体43bが一体的に取
り付けられている。3本の支柱43aには微小ピッチで
ウエハWの外周端部を挿入するための挿入溝(図示せ
ず)が形成され、この挿入溝にウエハWの外周端部を挿
入して、ボート43はウエハWの外周端部の3点を保持
する。
【0048】3本の支柱43aの最下端部は、昇降支持
アーム46に固定されており、この昇降支持アーム46
がボート43全体を下側から支持している。昇降支持ア
ーム46は、ネジ軸47に沿って移動可能であり、図示
しないモータ等の駆動機構により昇降支持アーム46は
ネジ軸47に沿って矢印Cに示すように上下方向に移動
し、ボート43の炉芯管41内に対する挿脱が行われ
る。
【0049】ヒータユニット45の外周と、炉芯管41
およびヒータユニット45の上方には、炉芯管41とヒ
ータユニット45を覆うケーシング48が配置されてい
る。ケーシング48の上部中央部には、炉芯管41の外
周面とヒータユニット45の内周面と間で形成される空
間400に冷却用ガスを供給するための通気口48aが
形成されており、この通気口48aは、供給管48cを
介して図示しない冷却用ガス供給機構と連通接続されて
いる。供給管48cの途中には開閉弁48bが設けられ
ており、この開閉弁48bの開閉制御により空間400
へ供給される冷却用ガスの供給量が制御される。
【0050】なお、メッキ処理部5の詳細は省略する
が、メッキ処理部5におけるメッキ処理は次のような処
理が考えられる。例えば、電解メッキ装置としては、メ
ッキ液の層にウエハを保持し、このウエハの表面と対向
させて導電性の対向電極を配置し、ウエハ側を負電極に
してウエハと対向電極との間で電圧を印加してウエハの
表面にメッキ層の金属薄膜を形成するものがある。
【0051】次に、図5乃至図9に基づいて、本発明に
係る金属薄膜形成方法およびコーティング処理、ベーク
処理、メッキ処理等の複数の処理を含む基板処理装置の
動作を説明する。図5は、基板処理装置の一連の動作を
示すフローチャート、図6は、コーティング処理の動作
を示すフローチャート、図7は、ベーク処理の動作を示
すフローチャート、図8は、熱処理の動作を示すフロー
チャート、図9は、ウエハの表面に金属有機物のペース
トによる金属薄膜が形成される過程を示す図である。
【0052】まず、搬送ロボット10の支持アーム14
が、ローダ・アンローダ部6に載置されているカセット
CA内にある1枚のウエハWを搬出し(ステップS
1)、そのウエハWをコータ部2の密閉チャンバ20内
へ搬入する(ステップS2)。このとき、ウエハWは、
図9(A)に示すようにシリコンウエハ(Si)の表面
に酸化膜(SiO2)が形成された状態であり、この酸
化膜には段差に相当する複数の溝部Mを有している。そ
して、密閉チャンバ20内へ搬入されたウエハWに対し
て、図6に示すようなコーティング処理が行われる(ス
ッテプS3)。
【0053】コーティング処理として、まずウエハWが
支持アーム14によってスピンチャック240に載置さ
れると、スピンチャック240は真空吸着を開始してウ
エハWの裏面を吸着保持するとともに、開口21に対し
て密閉型シャッタ210を閉じる(ステップS31)。
次に、一方で供給管220に設けられた供給用の調整弁
221を閉じるとともに、他方で排出管230に設けら
れた排出用の調整弁231を開いて、密閉チャンバ20
内を減圧状態にする(ステップS32)。
【0054】密閉チャンバ20が所定の減圧状態になっ
たら、モータ241を回転駆動させることによりウエハ
Wの回転を開始し(ステップS33)、ウエハWの回転
数が1000〜2000rpmになった状態で、ノズル
240から金属有機物のペーストをウエハWの表面の中
心部付近に吐出する(ステップS34)。ウエハWの回
転に伴って、ウエハWの表面全体に金属有機物が広がっ
て、ウエハWの表面は図9(B)に示すような状態にな
る。
【0055】ノズル240からの金属有機物のウエハW
への吐出という塗布処理が終了すると、モータ241の
回転駆動を停止させてスピンチャック240に吸着保持
されたウエハWの回転を停止する(ステップS35)。
ウエハWの回転が停止すると、供給管220に設けられ
た供給用の調整弁221を開き、ガスを密閉チャンバ2
0内へ供給し、密閉チャンバ20内を大気圧と同じ圧力
状態にする(ステップS36)。これにより、溝部Mに
あるガスを排気し、溝部Mの底部まですみずみに金属有
機物が入り込む。次に、スピンチャック240は真空吸
着を解除するとともに、開口20に対して密閉型シャッ
タ210を開く(ステップS37)。以上により、コー
タ部2におけるウエハWのコーティング処理が終了す
る。
【0056】コータ部2でのコーティング処理が終了す
ると、搬送ロボット10の支持アーム14がコータ部2
の密閉チャンバ20内にあるスピンチャック240に載
置されたウエハWを搬出し(ステップS4)、そのウエ
ハWをベーク部2の密閉チャンバ30内へ搬入する(ス
テップS5)。そして、密閉チャンバ30内へ搬入され
たウエハWに対して、図7に示すようなベーク処理が行
われる(ステップS6)。
【0057】ベーク処理として、まず搬送ロボット10
の支持アーム14によりウエハWが3本の支持ピン32
に載置されると、開口35に対して密閉型シャッタ35
0を閉じる(ステップS61)。次に、昇降機構34を
駆動させることによりウエハWを支持した支持ピン32
を下降させ、載置台31の載置面31aにウエハWを載
置する(ステップS62)。ウエハWが載置面31aに
載置されると、温度調節機構32を100〜200℃の
温度に調節して、ウエハWの表面全体に塗布された金属
有機物を乾燥させる(ステップS63)。
【0058】そして、昇降機構34を駆動させることに
よりウエハWを支持した支持ピン33を上昇させる(ス
テップS64)。次に、開口35に対して密閉型シャッ
タ350を開く(ステップS65)。なお、ウエハWが
密閉チャンバ30に対して搬入・搬出された際のウエハ
Wの位置および支持ピン33の位置は、図3の2点鎖線
で示す位置である。以上により、ベーク部3におけるウ
エハWのベーク処理が終了する。
【0059】ベーク部3でのベーク処理が終了すると、
搬送ロボット10の支持アーム14がベーク部3の密閉
チャンバ30内にある支持ピン33に支持されたウエハ
Wを搬出し(ステップS7)、そのウエハWを熱処理部
4にある縦型熱処理炉40のボート43へ搬入する(ス
テップS8)。なお、このときウエハWの外周端部は支
柱43aの挿入溝に挿入された状態で、ボート43はウ
エハWを保持している。その後、ボート43は複数のウ
エハWが保持可能なので、ウエハが所定の枚数(例えば
25枚)になる否かを判断する(ステップS9)。所定
の枚数に至っていない場合、上述したステップS1に戻
り、所定の枚数に至るまで図5に示すステップS1〜S
8を繰り返す。一方、所定の枚数に至った場合、図8に
示すような熱処理を行う(ステップS10)。
【0060】熱処理として、まず複数のウエハWを保持
したボート43を炉芯管41の中に搬入する(ステップ
S101)。次に、窒素ガスやアルゴンガスのような処
理ガスをガス導入口44aから炉芯管41内へ供給する
(ステップS102)。なお、このとき炉芯管41内に
ある不要なガスを排気するためにガス排出口44bから
不要なガスを排出する。処理ガスが後述する加熱処理を
行うのに必要な量だけ炉芯管41内へ供給されると、処
理ガスの供給を停止する(ステップS103)。
【0061】この状態で、ヒータユニット45の第1の
ヒータ45a、第2のヒータ45b、第3のヒータ45
cのすべてをONにし、ボート43に保持されたウエハ
Wを所定の時間、例えば450℃〜700℃の温度で加
熱処理を行う(ステップS104)。加熱処理を行った
結果、図9(C)に示すように金属有機物のペースト層
が熱分解により金属薄膜となる。
【0062】加熱処理が終了すると、供給管48cの途
中に設けられた開閉弁48bを開状態にして、炉心管4
1の外周面とヒータユニット45との間に形成された空
間400に冷却ガスを供給する(ステップS105)。
これにより、炉芯管41は冷却される。最後にボート4
3が炉芯管41から搬出される。以上により、熱処理部
4におけるウエハWの熱処理が終了する。
【0063】熱処理が終了すると、搬送ロボット10の
支持アーム14が縦型熱処理炉40のボート43に保持
されたウエハWを搬出し(ステップS11)、そのウエ
ハWをメッキ処理部5へ搬入する(ステップS12)。
【0064】メッキ処理部5においては、図9(C)に
示す状態のウエハWに対して、上述したようなメッキ処
理を行う(ステップS13)。メッキ処理を行うとウエ
ハWの表面は、図9(D)に示すような状態となる。す
なわち、酸化膜(SiO2)で形成された溝部Mは、第
1段階としてまず金属薄膜の層が形成され、第2段階と
してメッキ層が形成されることになる。これにより、溝
部Mは金属薄膜とメッキ層で埋め込まれた状態となる。
また、金属薄膜が均一な状態で溝部Mに埋め込まれてい
るので、メッキ層の表面も均一な状態となる。
【0065】メッキ処理部5によるメッキ処理が終了す
ると、搬送ロボット10の支持アーム14がメッキ処理
の行われたウエハWをメッキ部4から搬出し(ステップ
S14)、ローダ・アンローダ部6に載置されたカセッ
トCAへウエハWを搬入する(ステップS15)。その
後、縦型熱処理炉40のボート43に保持されたウエハ
Wがなくなったか否かを判断する(ステップS16)。
ウエハWがなくなっていない場合、上述したステップS
11へ戻り、ウエハWがボート43からなくなるまで、
ステップS11〜ステップS15を繰り返す。一方、ウ
エハWがなくなった場合、一連の基板処理動作が終了す
る。
【0066】なお、上述した発明の実施の形態の基板処
理装置では、中心部に搬送部1を配置し、この搬送部1
の周囲にコータ部2、ベーク部3、熱処理部4、メッキ
処理部5およびローダ・アンローダ6をそれぞれ配置し
たものであるが、各処理部の配置構成はこれに限るもの
ではない。例えば、基板搬送機構が走行する一方向に延
びた搬送路を設け、この搬送路の片側あるいは両側にコ
ータ部2、ベーク部3、熱処理部4、およびメッキ処理
部5を配置するような基板処理装置の構成にしてもよ
い。
【0067】また、搬送部1に設けられた搬送ロボット
10を複数にしてもよい。例えば、単に搬送ロボット1
0を2つ設けてもよいし、またローダ・アンローダ6と
コータ部2との間のみのウエハWを搬送する搬送ロボッ
トといったように、各処理部間の搬送を専用に行う搬送
ロボットをそれぞれ設けてもよい。
【0068】また、上述した発明の実施の形態の基板処
理装置では、ベーク部3におけるウエハWに対するベー
ク処理を行う際には、図3に示す密閉チャンバ30を密
閉状態にしていたが、密閉型シャッタ350を開いた状
態でもよい。この場合、図7のステップS61とステッ
プS65は不要となる。
【0069】また、上述した発明の実施の形態の基板処
理装置では、ウエハWに加熱処理を行うために、1度に
複数のウエハWの処理が行える縦型熱処理炉40を用い
たが、ベーク部3のような1枚ごとに加熱処理を行うよ
うなものでもよい。
【0070】また、上述した発明の実施の形態の基板処
理装置では、メッキ処理部5を1つのユニットとした
が、複数の処理ユニットにしてもよい。例えば、メッキ
処理を行う前にウエハWの前洗浄を行う前洗浄ユニッ
ト、電解メッキ液を直接ウエハWに供給してメッキ処理
を行うメッキ処理ユニット、メッキ処理を行った後にウ
エハWの後洗浄を行う後洗浄ユニット、およびウエハW
を乾燥させる乾燥ユニットといったように、複数の処理
ユニットでメッキ処理部5を構成してもよい。
【0071】また、上述した発明の実施の形態の基板処
理装置では、コータ部2において、ウエハWの表面に塗
布する液を白金(Pt)等の金属有機物としたが、有機
物に金(Au)等の金属を混入したもの、すなわち金属
を含有した有機物であってもよい。
【0072】さらに、電解メッキ装置としては、種々の
ものが考えられる。例えば、ウエハWの表面を上に向け
て回転させつつメッキ液をウエハWの表面に供給して電
圧を印加するものや、メッキ液が貯溜されたメッキ液槽
にウエハWの表面を下に向けてその表面とメッキ液と接
触させた状態で電圧を印加するものがある。
【0073】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、請求項1に
記載の金属薄膜形成方法によれば、表面に複数の段差を
有する基板を回転させつつ基板の表面に金属有機物を塗
布し、金属有機物が塗布された基板を所定の温度で加熱
しているので、溝部段差全体に金属有機物が入り込んだ
状態で、基板の表面に塗布された金属有機物が熱分解さ
れ、その結果、基板の表面に均一な金属有機物の金属薄
膜を形成できる。
【0074】請求項2に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、表面に複数の段差を有する基板を回転させつつ基板
の表面に金属有機物を塗布し、基板に塗布された金属有
機物を乾燥させ、金属有機物が乾燥された基板を所定の
温度で加熱しているので、段差全体に金属有機物が入り
込んだ状態で、乾燥された金属有機物が熱分解され、そ
の結果、基板の表面に均一な金属有機物の金属薄膜を形
成できる。
【0075】請求項3に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布工程において基板への金属有機物の塗布を行う
前に、塗布部内を減圧しているので、段差全体に金属有
機物が入り込みやすくなるという効果がある。
【0076】請求項4に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、表面に複数の段差を有する基板を回転させつつ基板
の表面に金属を含有している有機物を塗布し、有機物が
塗布された基板を所定の温度で加熱しているので、溝部
段差全体に有機物が入り込んだ状態で、基板の表面に塗
布された有機物が熱分解され、その結果、基板の表面に
均一な有機物の金属薄膜を形成できる。
【0077】請求項5に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、表面に複数の段差を有する基板を回転させつつ基板
の表面に金属を含有している有機物を塗布し、基板に塗
布された有機物を乾燥させ、有機物が乾燥された基板を
所定の温度で加熱しているので、段差全体に有機物が入
り込んだ状態で、乾燥された有機物が熱分解され、その
結果、基板の表面に均一な有機物の金属薄膜を形成でき
る。
【0078】請求項6に記載の金属薄膜形成方法によれ
ば、塗布工程において基板への金属を含有している有機
物の塗布を行う前に、塗布部内を減圧しているので、段
差全体に有機物が入り込みやすくなるという効果があ
る。
【0079】請求項7に記載の基板処理装置によれば、
駆動手段によって表面に複数の段差を有する基板を回転
させつつ、供給手段が基板の表面に金属有機物を塗布
し、加熱部において金属有機物が塗布された基板を所定
の温度で加熱しているので、段差全体に金属有機物が入
り込んだ状態で、基板の表面に塗布された金属有機物が
熱分解され、その結果、基板の表面に均一な金属有機物
の金属薄膜を形成できる。
【0080】請求項8に記載の基板処理装置によれば、
駆動手段によって表面に複数の段差を有する基板を回転
させつつ、供給手段が基板の表面に金属有機物を塗布
し、乾燥部において基板に塗布された金属有機物を乾燥
させ、加熱部において金属有機物が乾燥された基板を所
定の温度で加熱しているので、段差全体に金属有機物が
入り込んだ状態で、乾燥された金属有機物が熱分解さ
れ、その結果、基板の表面に均一な金属有機物の金属薄
膜を形成できる。
【0081】請求項9に記載の基板処理装置によれば、
塗布工程において基板への金属有機物の塗布を行う前
に、減圧手段が塗布部内を減圧しているので、段差全体
に金属有機物が入り込みやすくなるという効果がある。
【0082】請求項10に記載の基板処理装置によれ
ば、駆動手段によって表面に複数の段差を有する基板を
回転させつつ、供給手段が基板の表面に金属を含有して
いる有機物を塗布し、加熱部において有機物が塗布され
た基板を所定の温度で加熱しているので、段差全体に有
機物が入り込んだ状態で、基板の表面に塗布された有機
物が熱分解され、その結果、基板の表面に均一な有機物
の金属薄膜を形成できる。
【0083】請求項11に記載の基板処理装置によれ
ば、駆動手段によって表面に複数の段差を有する基板を
回転させつつ、供給手段が基板の表面に金属を含有して
いる有機物を塗布し、乾燥部において基板に塗布された
有機物を乾燥させ、加熱部において有機物が乾燥された
基板を所定の温度で加熱しているので、段差全体に有機
物が入り込んだ状態で、乾燥された有機物が熱分解さ
れ、その結果、基板の表面に均一な有機物の金属薄膜を
形成できる。
【0084】請求項12に記載の基板処理装置によれ
ば、塗布工程において基板への金属を含有している有機
物の塗布を行う前に、減圧手段が塗布部内を減圧してい
るので、段差全体に有機物が入り込みやすくなるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の全体構成を示す図
である。
【図2】コータ部の概略構成図である。
【図3】ベーク部の概略構成図である。
【図4】熱処理部に設けられた縦型熱処理炉の断面図で
ある。
【図5】基板処理装置の一連の動作を示すフローチャー
トである。
【図6】コーティング処理の動作を示すフローチャート
である。
【図7】ベーク処理の動作を示すフローチャートであ
る。
【図8】熱処理の動作を示すフローチャートである。
【図9】ウエハの表面に金属有機物のペーストによる金
属薄膜が形成される過程を示す図である。
【符号の説明】
1 搬送部 2 コータ部(塗布部) 3 ベーク部(乾燥部) 4 熱処理部(加熱部) 10 搬送ロボット 11 基台 12 第1の多関節アーム 13 第2の多関節アーム 14 支持アーム 20 密閉チャンバ 22 供給口 23 排出口 24 回転処理部 30 密閉チャンバ 32 温度調整機構 40 縦型熱処理炉 41 炉芯管 43 ボート 45 ヒータユニット 45a 第1のヒータ 45b 第2のヒータ 45c 第3のヒータ 230 排気管 231 調整弁 240 スピンチャック 241 モータ 242 回転軸 243 ノズル

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜
    を形成する金属薄膜形成方法であって、 塗布部において基板を回転させつつ基板の表面に金属有
    機物を塗布する塗布工程と、 前記塗布工程により金属有機物が塗布された基板を加熱
    部において所定の温度で加熱する加熱工程と、 を備えたことを特徴とする金属薄膜形成方法。
  2. 【請求項2】表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜
    を形成する金属薄膜形成方法であって、 塗布部において基板を回転させつつ基板の表面に金属有
    機物を塗布する塗布工程と、 前記塗布工程により基板に塗布された金属有機物を乾燥
    部において乾燥させる乾燥工程と、 前記乾燥工程により金属有機物が乾燥された基板を加熱
    部において所定の温度で加熱する加熱工程と、 備えたことを特徴とする金属薄膜形成方法。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2に記載の金属薄膜
    形成方法であって、 前記塗布工程において基板への金属有機物の塗布を行う
    前に、塗布部内を減圧する減圧工程をさらに備えたこと
    を特徴とする金属薄膜形成方法。
  4. 【請求項4】表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜
    を形成する金属薄膜形成方法であって、 塗布部において基板を回転させつつ基板の表面に金属を
    含有している有機物を塗布する塗布工程と、 前記塗布工程により有機物が塗布された基板を加熱部に
    おいて所定の温度で加熱する加熱工程と、 を備えたことを特徴とする金属薄膜形成方法。
  5. 【請求項5】表面に複数の段差を有する基板に金属薄膜
    を形成する金属薄膜形成方法であって、 塗布部において基板を回転させつつ基板の表面に金属を
    含有している有機物を塗布する塗布工程と、 前記塗布工程により基板に塗布された有機物を乾燥部に
    おいて乾燥させる乾燥工程と、 前記乾燥工程により有機物が乾燥された基板を加熱部に
    おいて所定の温度で加熱する加熱工程と、 備えたことを特徴とする金属薄膜形成方法。
  6. 【請求項6】請求項4または請求項5に記載の金属薄膜
    形成方法であって、 前記塗布工程において基板への金属を含有している有機
    物の塗布を行う前に、塗布部内を減圧する減圧工程をさ
    らに備えたことを特徴とする金属薄膜形成方法。
  7. 【請求項7】表面に複数の段差を有する基板に所定の処
    理を行う基板処理装置であって、 基板の表面に金属有機物を塗布するための塗布部と、 前記塗布部において金属有機物が塗布された基板を所定
    の温度で加熱する加熱部と、 前記塗布部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬送手段
    とを備え、 前記塗布部は、基板を保持する基板保持手段と、基板を
    保持した前記基板保持手段を回転させる駆動手段と、前
    記基板保持手段に保持された基板の表面に金属有機物を
    吐出する供給手段とを備えたことを特徴とする基板処理
    装置。
  8. 【請求項8】表面に複数の段差を有する基板に所定の処
    理を行う基板処理装置であって、 基板の表面に金属有機物を塗布するための塗布部と、 前記塗布部において塗布された基板の表面の金属有機物
    を乾燥させる乾燥部と、 前記乾燥部において金属有機物が乾燥された基板を所定
    の温度で加熱する加熱部と、 前記塗布部から前記乾燥部へ基板の搬送を行い、かつ前
    記乾燥部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬送手段と
    を備え、 前記塗布部は、基板を保持する基板保持手段と、基板を
    保持した前記基板保持手段を回転させる駆動手段と、前
    記基板保持手段に保持された基板の表面に金属有機物を
    吐出する供給手段とを備えたことを特徴とする基板処理
    装置。
  9. 【請求項9】請求項7または請求項8に記載の基板処理
    装置であって、 前記塗布部は、前記供給手段により基板への金属有機物
    の吐出を行う前に、前記塗布部内を減圧する減圧手段を
    さらに備えたことを特徴とする基板処理装置。
  10. 【請求項10】表面に複数の段差を有する基板に所定の
    処理を行う基板処理装置であって、 基板の表面に金属を含有している有機物を塗布するため
    の塗布部と、 前記塗布部において有機物が塗布された基板を所定の温
    度で加熱する加熱部と、 前記塗布部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬送手段
    とを備え、 前記塗布部は、基板を保持する基板保持手段と、基板を
    保持した前記基板保持手段を回転させる駆動手段と、前
    記基板保持手段に保持された基板の表面に有機物を吐出
    する供給手段とを備えたことを特徴とする基板処理装
    置。
  11. 【請求項11】表面に複数の段差を有する基板に所定の
    処理を行う基板処理装置であって、 基板の表面に金属を含有している有機物を塗布するため
    の塗布部と、 前記塗布部において塗布された基板の表面の有機物を乾
    燥させる乾燥部と、 前記乾燥部において有機物が乾燥された基板を所定の温
    度で加熱する加熱部と、 前記塗布部から前記乾燥部へ基板の搬送を行い、かつ前
    記乾燥部から前記加熱部へ基板の搬送を行う搬送手段と
    を備え、 前記塗布部は、基板を保持する基板保持手段と、基板を
    保持した前記基板保持手段を回転させる駆動手段と、前
    記基板保持手段に保持された基板の表面に有機物を吐出
    する供給手段とを備えたことを特徴とする基板処理装
    置。
  12. 【請求項12】請求項10または請求項11に記載の基
    板処理装置であって、 前記塗布部は、前記供給手段により基板への金属を含有
    している有機物の吐出を行う前に、前記塗布部内を減圧
    する減圧手段をさらに備えたことを特徴とする基板処理
    装置。
JP11366276A 1999-02-26 1999-12-24 金属薄膜形成方法および基板処理装置 Pending JP2000309872A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11366276A JP2000309872A (ja) 1999-02-26 1999-12-24 金属薄膜形成方法および基板処理装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11-50276 1999-02-26
JP5027699 1999-02-26
JP11366276A JP2000309872A (ja) 1999-02-26 1999-12-24 金属薄膜形成方法および基板処理装置

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003377139A Division JP2004158862A (ja) 1999-02-26 2003-11-06 基板処理装置
JP2005001735A Division JP2005191580A (ja) 1999-02-26 2005-01-06 金属薄膜形成方法および基板処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000309872A true JP2000309872A (ja) 2000-11-07

Family

ID=26390733

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11366276A Pending JP2000309872A (ja) 1999-02-26 1999-12-24 金属薄膜形成方法および基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000309872A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198372A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Hitachi Ltd 半導体デバイスの製造方法および半導体デバイス
JP2006518103A (ja) * 2003-02-17 2006-08-03 アルシメール・エス・アー 表面被覆方法、及び該方法を使用するマイクロエレクトロニクス相互接続の作製、並びに集積回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198372A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Hitachi Ltd 半導体デバイスの製造方法および半導体デバイス
JP2006518103A (ja) * 2003-02-17 2006-08-03 アルシメール・エス・アー 表面被覆方法、及び該方法を使用するマイクロエレクトロニクス相互接続の作製、並びに集積回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3122617B2 (ja) プラズマ処理装置
JP2003338499A (ja) 膜形成方法及び膜形成装置
JP2002231707A (ja) 熱処理装置および熱処理方法
JP3598462B2 (ja) 乾燥方法及び乾燥装置
JPH11260718A (ja) 現像処理方法および現像処理装置
US6730620B2 (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP3739287B2 (ja) 減圧乾燥方法及び塗布膜形成装置
JP3623134B2 (ja) 基板処理装置
JP3029767B2 (ja) 薄膜形成装置
JP2000309872A (ja) 金属薄膜形成方法および基板処理装置
JP2001284276A (ja) 基板処理装置
JP3657134B2 (ja) 塗布膜形成装置
JP2005191580A (ja) 金属薄膜形成方法および基板処理装置
JPH07201724A (ja) 塗布膜形成方法及びその装置
JP2004158862A (ja) 基板処理装置
JP4194262B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP3555743B2 (ja) 基板熱処理装置
JP4115331B2 (ja) 基板処理装置
JP3537310B2 (ja) 基板搬送装置
JP2001358084A (ja) 熱処理装置
JP2000174094A (ja) 半導体製造装置
JP2004011005A (ja) 処理装置および処理方法
JP3447974B2 (ja) 基板処理装置
JP4686887B2 (ja) 成膜方法
JP2003347393A (ja) 基板保持装置、及びその基板保持装置を用いた真空処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040922

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041109

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050106

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060524

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070710