JP2000304648A - 面ぎらの定量的評価方法、評価装置、防眩性フィルム及びその製造方法 - Google Patents
面ぎらの定量的評価方法、評価装置、防眩性フィルム及びその製造方法Info
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B1/10—Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
- G02B1/11—Anti-reflection coatings
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 表面凹凸により発生する面ぎらの強さの定量
的把握を可能にする。 【解決手段】 白色光源（１，４）からの光をマトリッ
クスフィルタ（２，５）を介して対象物（３）表面へ入
射させ、対象物（３）からの反射光または透過光をＣＣ
Ｄカメラ（６）で撮影してコンピュータ（７）にデータ
として取り込み、取り込んだ光の輝度分布の画像処理を
行い、輝度分布のバラツキの標準偏差を求め、求めた標
準偏差値を対象物の面ぎら値とし、面ぎら値が所定値以
下か否かにより対象物の性能を評価するものである。
的把握を可能にする。 【解決手段】 白色光源（１，４）からの光をマトリッ
クスフィルタ（２，５）を介して対象物（３）表面へ入
射させ、対象物（３）からの反射光または透過光をＣＣ
Ｄカメラ（６）で撮影してコンピュータ（７）にデータ
として取り込み、取り込んだ光の輝度分布の画像処理を
行い、輝度分布のバラツキの標準偏差を求め、求めた標
準偏差値を対象物の面ぎら値とし、面ぎら値が所定値以
下か否かにより対象物の性能を評価するものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は表面凹凸のために発
生する面ぎらを定量的に評価するための方法及び装置、
さらに面ぎら特性のよい防眩性フィルム、及びその製造
方法に関する。
生する面ぎらを定量的に評価するための方法及び装置、
さらに面ぎら特性のよい防眩性フィルム、及びその製造
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＬＣＤ等のディスプレイでは、面ぎら
（シンチレーション）と言われる現象が生じ、観察者に
とって表示を見にくくする要因の１つとなっている。面
ぎらは、表示装置の画面を点灯した際、画面に細かい輝
度のむらが現れ、視角を変えていくとその輝度むらの位
置が移り変わっていくように見える現象で、特に全面白
表示や全面緑表示のときに見え易い。表示装置において
はこのような面ぎらがどの程度であるかを評価する必要
があり、試験片に対して２０°の角度で光を入射させた
ときに正反射する光の強度を測定する２０°鏡面光沢度
測定法が採用されていた。しかし、面ぎらは表面凹凸等
によって発生するため、反射光量を測定する方法では正
確な評価はできない。そこで、従来、面ぎらを防止する
ための防眩性フィルムの良否の判定のため目視評価法が
用いられていた。
（シンチレーション）と言われる現象が生じ、観察者に
とって表示を見にくくする要因の１つとなっている。面
ぎらは、表示装置の画面を点灯した際、画面に細かい輝
度のむらが現れ、視角を変えていくとその輝度むらの位
置が移り変わっていくように見える現象で、特に全面白
表示や全面緑表示のときに見え易い。表示装置において
はこのような面ぎらがどの程度であるかを評価する必要
があり、試験片に対して２０°の角度で光を入射させた
ときに正反射する光の強度を測定する２０°鏡面光沢度
測定法が採用されていた。しかし、面ぎらは表面凹凸等
によって発生するため、反射光量を測定する方法では正
確な評価はできない。そこで、従来、面ぎらを防止する
ための防眩性フィルムの良否の判定のため目視評価法が
用いられていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし目視による面ぎ
らの評価では個人差が生じたり、正確性に欠けることは
否めなかった。しかし、防眩性フィルム等の開発におい
ては、その性能の把握のために面ぎらの強さを定量評価
できるようにすることが要請されていた。
らの評価では個人差が生じたり、正確性に欠けることは
否めなかった。しかし、防眩性フィルム等の開発におい
ては、その性能の把握のために面ぎらの強さを定量評価
できるようにすることが要請されていた。
【０００４】本発明は上記課題を解決するためのもの
で、表面凹凸等によって変化する面ぎらの強さを定量的
に評価できるようにすることを目的とする。また、本発
明は面ぎらの良い防眩性フィルムを得ることを目的とす
る。
で、表面凹凸等によって変化する面ぎらの強さを定量的
に評価できるようにすることを目的とする。また、本発
明は面ぎらの良い防眩性フィルムを得ることを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の面ぎらの定量的
評価方法は、白色光源からの光をマトリックスフィルタ
を介して対象物表面へ入射させ、対象物からの反射光ま
たは透過光を撮影してデータとして取り込み、取り込ん
だ光の輝度分布の画像処理を行い、輝度分布のバラツキ
の標準偏差を求め、求めた標準偏差値を対象物表面の面
ぎら値としたことを特徴とする。また、本発明の評価方
法は、前記対象物が防眩性フィルムであることを特徴と
する。また、本発明の評価方法は、面ぎら値が所定値以
下か否かにより対象物の性能を評価することを特徴とす
る。また、本発明の評価方法は、取り込み画像の平均輝
度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、前記面ぎら値の
所定値が１５であることを特徴とする。
評価方法は、白色光源からの光をマトリックスフィルタ
を介して対象物表面へ入射させ、対象物からの反射光ま
たは透過光を撮影してデータとして取り込み、取り込ん
だ光の輝度分布の画像処理を行い、輝度分布のバラツキ
の標準偏差を求め、求めた標準偏差値を対象物表面の面
ぎら値としたことを特徴とする。また、本発明の評価方
法は、前記対象物が防眩性フィルムであることを特徴と
する。また、本発明の評価方法は、面ぎら値が所定値以
下か否かにより対象物の性能を評価することを特徴とす
る。また、本発明の評価方法は、取り込み画像の平均輝
度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、前記面ぎら値の
所定値が１５であることを特徴とする。
【０００６】本発明の面ぎらの定量的評価装置は、少な
くとも、白色光源、マトリックスフィルタ、撮影装置、
コンピュータからなり、白色光源からの光をマトリック
スフィルタを介して対象物表面へ入射させ、対象物から
の反射光または透過光を撮影装置により撮影してデータ
として取り込み、該データをコンピュータにより処理し
て輝度分布のバラツキの標準偏差を求め、求めた標準偏
差値を対象物表面の面ぎら値としたことを特徴とする。
また、本発明の評価装置は、前記撮影装置がＣＣＤカメ
ラであることを特徴とする。また、本発明の評価装置
は、前記対象物が防眩性フィルムであることを特徴とす
る。また、本発明の評価装置は、面ぎら値が所定値以下
か否かにより対象物の性能を評価することを特徴とす
る。また、本発明の評価装置は、取り込み画像の平均輝
度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、前記面ぎら値の
所定値が１５であることを特徴とする。
くとも、白色光源、マトリックスフィルタ、撮影装置、
コンピュータからなり、白色光源からの光をマトリック
スフィルタを介して対象物表面へ入射させ、対象物から
の反射光または透過光を撮影装置により撮影してデータ
として取り込み、該データをコンピュータにより処理し
て輝度分布のバラツキの標準偏差を求め、求めた標準偏
差値を対象物表面の面ぎら値としたことを特徴とする。
また、本発明の評価装置は、前記撮影装置がＣＣＤカメ
ラであることを特徴とする。また、本発明の評価装置
は、前記対象物が防眩性フィルムであることを特徴とす
る。また、本発明の評価装置は、面ぎら値が所定値以下
か否かにより対象物の性能を評価することを特徴とす
る。また、本発明の評価装置は、取り込み画像の平均輝
度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、前記面ぎら値の
所定値が１５であることを特徴とする。
【０００７】本発明の防眩性フィルムは、取り込み画像
の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、面ぎら
値が０より大きく１５以下であることを特徴とする。
の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、面ぎら
値が０より大きく１５以下であることを特徴とする。
【０００８】本発明の防眩性フィルムの製造方法は、少
なくとも基材の一方の面へ防眩層を形成した防眩性フィ
ルムにおいて、白色光源からの光をマトリックスフィル
タを介して防眩性フィルム表面へ入射させ、防眩性フィ
ルムからの反射光または透過光を撮影装置により撮影し
てデータとして取り込み、取り込んだ光の輝度分布の画
像処理をコンピュータにて行い、輝度分布のバラツキの
標準偏差を求め、求めた標準偏差を防眩性フィルム表面
の面ぎら値とし、面ぎら値が所定値以下となるように前
記防眩層を形成することを特徴とする。また、本発明の
製造方法は、前記撮影装置はＣＣＤカメラであることを
特徴とする。また、本発明の製造方法は、取り込み画像
の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、面ぎら
値の所定値が１５であることを特徴とする。
なくとも基材の一方の面へ防眩層を形成した防眩性フィ
ルムにおいて、白色光源からの光をマトリックスフィル
タを介して防眩性フィルム表面へ入射させ、防眩性フィ
ルムからの反射光または透過光を撮影装置により撮影し
てデータとして取り込み、取り込んだ光の輝度分布の画
像処理をコンピュータにて行い、輝度分布のバラツキの
標準偏差を求め、求めた標準偏差を防眩性フィルム表面
の面ぎら値とし、面ぎら値が所定値以下となるように前
記防眩層を形成することを特徴とする。また、本発明の
製造方法は、前記撮影装置はＣＣＤカメラであることを
特徴とする。また、本発明の製造方法は、取り込み画像
の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 にて測定したとき、面ぎら
値の所定値が１５であることを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
て説明する。
【００１０】図１は本発明の評価装置の概略構成を示す
図である。透過光測定用白色光源１の上に若干隙間を開
けて加工面を光源側に向けてマトリックスフィルタ２を
配置し、このマトリックスフィルタに防眩性フィルム
（ＡＧフィルム）３を防眩処理加工した面を撮影側とし
て密着させる。同様に防眩性フィルム３の加工処理した
面に対向して反射光測定用白色光源４の上に若干隙間を
開けて加工面を光源側に向けてマトリックスフィルタ５
を配置する。防眩性フィルム３の加工処理した面は主と
して微粒子を含有する材料が使われている。マトリック
スフィルタ２、５は、例えば縦８５ｍｍ、横６５ｍｍ、
厚さ１ｍｍ、ピッチ１４０μｍ×１７０μｍの千鳥格子
で、ブラックマトリックスのみで構成され、着色されて
いない擬似的なカラーフィルタである。ここでは擬似的
なカラーフィルタを用いたが、必要に応じて着色された
カラーフィルタを用いてもよい。なお、光源としては白
色平面光源を用いるのが望ましい。
図である。透過光測定用白色光源１の上に若干隙間を開
けて加工面を光源側に向けてマトリックスフィルタ２を
配置し、このマトリックスフィルタに防眩性フィルム
（ＡＧフィルム）３を防眩処理加工した面を撮影側とし
て密着させる。同様に防眩性フィルム３の加工処理した
面に対向して反射光測定用白色光源４の上に若干隙間を
開けて加工面を光源側に向けてマトリックスフィルタ５
を配置する。防眩性フィルム３の加工処理した面は主と
して微粒子を含有する材料が使われている。マトリック
スフィルタ２、５は、例えば縦８５ｍｍ、横６５ｍｍ、
厚さ１ｍｍ、ピッチ１４０μｍ×１７０μｍの千鳥格子
で、ブラックマトリックスのみで構成され、着色されて
いない擬似的なカラーフィルタである。ここでは擬似的
なカラーフィルタを用いたが、必要に応じて着色された
カラーフィルタを用いてもよい。なお、光源としては白
色平面光源を用いるのが望ましい。
【００１１】白色光源１または４でマトリックスフィル
タ２または５を介して照明された防眩性フィルム３の加
工面を目視に近い状態での評価を可能とするためにＣＣ
Ｄカメラ６で撮影する。ＣＣＤカメラとサンプル（防眩
性フィルム）との距離は、例えば約２５０ｍｍである。
ＣＣＤカメラのピントはマトリックスフィルタのマトリ
クスで鮮明になる程度に合わせ、絞りを適当な所に合わ
せる。なお、白色光源、マトリックスフィルタ、サンプ
ル、ＣＣＤカメラの構成で測定を行うのは、液晶ディス
プレイの構成を想定し、それを擬似的に再現するためで
ある。
タ２または５を介して照明された防眩性フィルム３の加
工面を目視に近い状態での評価を可能とするためにＣＣ
Ｄカメラ６で撮影する。ＣＣＤカメラとサンプル（防眩
性フィルム）との距離は、例えば約２５０ｍｍである。
ＣＣＤカメラのピントはマトリックスフィルタのマトリ
クスで鮮明になる程度に合わせ、絞りを適当な所に合わ
せる。なお、白色光源、マトリックスフィルタ、サンプ
ル、ＣＣＤカメラの構成で測定を行うのは、液晶ディス
プレイの構成を想定し、それを擬似的に再現するためで
ある。
【００１２】撮影により得られたデータをコンピュータ
７に取り込む。このとき、画像処理の計算での桁落ちを
防止するために８ビット・グレー・スケールの取り込み
データをチェック後、１６ビット・グレー・スケールに
変換する。取り込んだデータは数値化する上で適切な値
を得るために画像処理を行う。画像処理はローパスフィ
ルタリング、シェーディング補正、コントラスト強調か
らなっている。コントラストの強調では、例えばコント
ラスト９３、ガンマ３０、ブライトネス４８に設定す
る。このとき輝度が高すぎたり低すぎたりするようなあ
れば、ＣＣＤの絞りを調節して、測定を最初からやり直
す。このとき平均輝度は１４５ｃｄ／ｍ2程度となるこ
とが望ましい。面ぎらの強さの数値化は輝度のばらつき
を標準偏差として求め、標準偏差値により表すものであ
り、求めた面ぎら値を所定値と比較することによりサン
プルの性能を評価する。なお、測定環境の変化（マトリ
ックスフィルタのよごれ、光源のぶれ等）により、完全
に同一な状態が常に再現されるわけではないので、連続
で測定するとき以外は標準サンプルを設け、その値の変
化による補正をかけることが望ましい。
７に取り込む。このとき、画像処理の計算での桁落ちを
防止するために８ビット・グレー・スケールの取り込み
データをチェック後、１６ビット・グレー・スケールに
変換する。取り込んだデータは数値化する上で適切な値
を得るために画像処理を行う。画像処理はローパスフィ
ルタリング、シェーディング補正、コントラスト強調か
らなっている。コントラストの強調では、例えばコント
ラスト９３、ガンマ３０、ブライトネス４８に設定す
る。このとき輝度が高すぎたり低すぎたりするようなあ
れば、ＣＣＤの絞りを調節して、測定を最初からやり直
す。このとき平均輝度は１４５ｃｄ／ｍ2程度となるこ
とが望ましい。面ぎらの強さの数値化は輝度のばらつき
を標準偏差として求め、標準偏差値により表すものであ
り、求めた面ぎら値を所定値と比較することによりサン
プルの性能を評価する。なお、測定環境の変化（マトリ
ックスフィルタのよごれ、光源のぶれ等）により、完全
に同一な状態が常に再現されるわけではないので、連続
で測定するとき以外は標準サンプルを設け、その値の変
化による補正をかけることが望ましい。
【００１３】図２は図１の装置による測定の流れを説明
する図である。まず、マトリックスフィルタ上に測定す
るフィルムを配置し、これをＣＣＤカメラでフィルム表
面を撮影し、次いで、撮影により得られた画像データを
コンピュータに取り込み、画像処理を行う。
する図である。まず、マトリックスフィルタ上に測定す
るフィルムを配置し、これをＣＣＤカメラでフィルム表
面を撮影し、次いで、撮影により得られた画像データを
コンピュータに取り込み、画像処理を行う。
【００１４】図３は処理される画像の内容を示してい
る。画像処理においては取り込んだ生の画像に対して画
像処理する領域を選択する。これは防眩性フィルムの貼
ってある部分だけを画像処理の対象とするためであり、
図３（ａ）はその生画像である。この画像においては、
マトリックスフィルタのマトリクスによる輝度変化が鮮
明に現れている。図３（ｂ）は生画像に対してフィルタ
リング処理して高調波を除去した画像であり、マトリッ
クスフィルタのマトリクスによる輝度変化が現れないよ
うにしている。このフィルタリングは、面ぎらを目視評
価する場合、マトリックスフィルタのマトリクスまで認
識できないという考え方から、目視と同じ条件とするた
めに行っている処理である。フィルタリングは、マトリ
クスが分からなくなる程度にローパスフィルタをかけて
行い、具体的には、使用したソフトのローパスフィルタ
を、カーネル７×７、１００％を３回かけている。次い
で、輝度を平坦化する。図３（ｃ）は図３（ｂ）の画像
に輝度補正を加えたもので、光源自体に輝度に面分布が
あるために生ずる輝度分布を補正するシェーデング補正
をしたもので、最大の点が１０ピクセルとした。図３
（ｄ）はコントラスト強調したものである。コントラス
トの強調は数値化する上で本質的ではないが、面ぎらを
評価する上で輝度分布を見やすくするためである。
る。画像処理においては取り込んだ生の画像に対して画
像処理する領域を選択する。これは防眩性フィルムの貼
ってある部分だけを画像処理の対象とするためであり、
図３（ａ）はその生画像である。この画像においては、
マトリックスフィルタのマトリクスによる輝度変化が鮮
明に現れている。図３（ｂ）は生画像に対してフィルタ
リング処理して高調波を除去した画像であり、マトリッ
クスフィルタのマトリクスによる輝度変化が現れないよ
うにしている。このフィルタリングは、面ぎらを目視評
価する場合、マトリックスフィルタのマトリクスまで認
識できないという考え方から、目視と同じ条件とするた
めに行っている処理である。フィルタリングは、マトリ
クスが分からなくなる程度にローパスフィルタをかけて
行い、具体的には、使用したソフトのローパスフィルタ
を、カーネル７×７、１００％を３回かけている。次い
で、輝度を平坦化する。図３（ｃ）は図３（ｂ）の画像
に輝度補正を加えたもので、光源自体に輝度に面分布が
あるために生ずる輝度分布を補正するシェーデング補正
をしたもので、最大の点が１０ピクセルとした。図３
（ｄ）はコントラスト強調したものである。コントラス
トの強調は数値化する上で本質的ではないが、面ぎらを
評価する上で輝度分布を見やすくするためである。
【００１５】以上のように処理された画像で、マトリッ
クスフィルタの傷等による輝度変化のない部分において
輝度の標準偏差値を求める。この際、輝度の平均値がサ
ンプル毎にほぼ同じ値になるように画像処理の領域を移
動させる。つまり、光源に輝度分布があるために領域に
より平均値が変わるからである。どこに動かしても不適
当である場合は、ＣＣＤカメラの絞りを変更する。
クスフィルタの傷等による輝度変化のない部分において
輝度の標準偏差値を求める。この際、輝度の平均値がサ
ンプル毎にほぼ同じ値になるように画像処理の領域を移
動させる。つまり、光源に輝度分布があるために領域に
より平均値が変わるからである。どこに動かしても不適
当である場合は、ＣＣＤカメラの絞りを変更する。
【００１６】図４は画像処理による輝度分布の変化を説
明する図で、画像処理前と画像処理後の画像と輝度分布
を示している。この例はピクセル数１６０×１２０、実
際の大きさは１０ｍｍ×７．５ｍｍである。図４（ａ）
は取り込んだ生画像であり、図４（ｂ）はその時の輝度
分布を示している。図４（ｂ）から分かるように、輝度
分布がマトリックスフィルタのマトリクスの影響で非常
に細かく変化しており、前述した画像処理を施すことに
より、図４（ｃ）のような画像が得られ、その時の輝度
分布は図４（ｄ）に示すようになる。この時の変化の大
きさＡが標準偏差を算出するデータである。
明する図で、画像処理前と画像処理後の画像と輝度分布
を示している。この例はピクセル数１６０×１２０、実
際の大きさは１０ｍｍ×７．５ｍｍである。図４（ａ）
は取り込んだ生画像であり、図４（ｂ）はその時の輝度
分布を示している。図４（ｂ）から分かるように、輝度
分布がマトリックスフィルタのマトリクスの影響で非常
に細かく変化しており、前述した画像処理を施すことに
より、図４（ｃ）のような画像が得られ、その時の輝度
分布は図４（ｄ）に示すようになる。この時の変化の大
きさＡが標準偏差を算出するデータである。
【００１７】図５は面ぎらが小さい場合と大きい場合の
輝度変化を説明する図である。図５（ａ）は面ぎらが小
さい画像で、その時の輝度分布が図５（ｂ）のようにな
る。図５（ｂ）では、輝度の変化Ｂが極めて小さいこと
が分かる。図５（ｃ）は面ぎらが大きい画像で、その時
の輝度分布が図５（ｄ）に示すもので、輝度の変化Ｃが
大きいことが分かる。
輝度変化を説明する図である。図５（ａ）は面ぎらが小
さい画像で、その時の輝度分布が図５（ｂ）のようにな
る。図５（ｂ）では、輝度の変化Ｂが極めて小さいこと
が分かる。図５（ｃ）は面ぎらが大きい画像で、その時
の輝度分布が図５（ｄ）に示すもので、輝度の変化Ｃが
大きいことが分かる。
【００１８】輝度の変化の大きさＢ、Ｃが標準偏差とな
り、この値を面ぎらの強さの数値とする。数値が大きい
程面ぎらが強いことになる。絶対的な数値は測定装置
（光源、マトリックスフィルタ、ＣＣＤカメラ）、画像
処理ソフトや細かな画像処理方法の違いで変わるが、相
対的な関係は維持される。これらを同一にして測定を行
えば再現性のある数値が得られることになる。
り、この値を面ぎらの強さの数値とする。数値が大きい
程面ぎらが強いことになる。絶対的な数値は測定装置
（光源、マトリックスフィルタ、ＣＣＤカメラ）、画像
処理ソフトや細かな画像処理方法の違いで変わるが、相
対的な関係は維持される。これらを同一にして測定を行
えば再現性のある数値が得られることになる。
【００１９】なお、本実施例で測定に用いた機器は次の
ようなものである。 光学装置 写像性評価装置 型式ＭＪーＲＴＳ（（株）溝尻光学工業所） における透過測定モード ＣＣＤ受光部 ＣＣＤカメラ（ＫＰーＭ１） Ｃマウントアダプタ（ニコン） 接写リング（ＰＫー１１Ａ ニコン） カメラレンズ（５０ｍｍ，Ｆ１．４ｓ ＮＩＫＫＯＲ） 光源 ＬＩＧＨＴＢＯＸ４５（ＨＡＫＵＢＡ） マトリックスフィルタ ピッチ１４０μｍ×１７０μｍ、ガラス厚さ１ｍｍ 画像処理ソフト Ｗｉｎｄｏｗｓ９５版 ＩｍａｇｅーＰｒｏ Ｐｌｕｓ３．０ （Ｍｅｄｉａ Ｃｙｂｅｍｅｔｉｃｓ） 図６は取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 におけ
る測定結果を示しており、光沢度測定装置を用いたもの
（グロス２０°）、感覚テスト、本発明の面ぎら値につ
いてそれぞれ表している。図６において、 サンプル１ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.256 Ｓｍ＝40.1） サンプル２ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.186 Ｓｍ＝30.2） サンプル３ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.307 Ｓｍ＝30.5） サンプル４ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.385 Ｓｍ＝29.7） サンプル５ 粒子非含有（エンボス） （Ｒａ＝0.102 Ｓｍ＝31.1） サンプル６ 粒径３μｍのシリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.205 Ｓｍ＝25.9） サンプル７ 粒径３μｍのシリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.264 Ｓｍ＝23.7） サンプル８ シリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.323 Ｓｍ＝36.2） ＴＡＣ 防眩処理をしていない透明なフィルム（基材フィルム） ここで、ＲａはＪＩＳ規格の表面粗さを表す測定値の１
つ（中心線平均粗さ）で、単位はμｍで表した数値、Ｓ
ｍは表面凹凸の谷から谷までの間隔をμｍ単位で表した
数値である。 測定方法 〔グロス（２０°）〕JIS-S-Z-8741に準じ、フィルム裏
面を両面テープで押さえ板（光沢のない黒）に貼り付
け、村上色彩技術研究所製ＧＭー２６Ｄを用いて測定し
た。 〔感覚テスト〕白色面光源（検査ビュアー）の上にマト
リックスフィルタを加工面を下にしておき、その上に防
眩性フィルムを加工面が上になるように置き、手でフィ
ルムの端を押さえながら面ぎらを観察する。 ◎……面ぎらが見えない。 ○……面ぎらが若干あるが気にならない程度 △……面ぎらが気になる程度にある ×……面ぎらがひどい グロス（２０°）の場合、数値が大きい程面ぎらが大き
いとしているが、図６の結果から感覚テストと合ってい
る場合もあれば合っていない場合もある。例えば、サン
プル１、サンプル３、サンプル４、サンプル６、サンプ
ル７は比較的符合しているが、サンプル２、サンプル
５、サンプル８、基材フィルムでは符合していない。こ
れに対して本発明で求めた面ぎら値は全試料にわたって
感覚テストと符合している。さらに取り込み画像の平均
輝度１４５ｃｄ／ｍ2 で測定したとき、面ぎら値が１５
以下か否かにより防眩性フィルムの面ぎらの特性の良否
の判定が可能である。
ようなものである。 光学装置 写像性評価装置 型式ＭＪーＲＴＳ（（株）溝尻光学工業所） における透過測定モード ＣＣＤ受光部 ＣＣＤカメラ（ＫＰーＭ１） Ｃマウントアダプタ（ニコン） 接写リング（ＰＫー１１Ａ ニコン） カメラレンズ（５０ｍｍ，Ｆ１．４ｓ ＮＩＫＫＯＲ） 光源 ＬＩＧＨＴＢＯＸ４５（ＨＡＫＵＢＡ） マトリックスフィルタ ピッチ１４０μｍ×１７０μｍ、ガラス厚さ１ｍｍ 画像処理ソフト Ｗｉｎｄｏｗｓ９５版 ＩｍａｇｅーＰｒｏ Ｐｌｕｓ３．０ （Ｍｅｄｉａ Ｃｙｂｅｍｅｔｉｃｓ） 図６は取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ2 におけ
る測定結果を示しており、光沢度測定装置を用いたもの
（グロス２０°）、感覚テスト、本発明の面ぎら値につ
いてそれぞれ表している。図６において、 サンプル１ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.256 Ｓｍ＝40.1） サンプル２ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.186 Ｓｍ＝30.2） サンプル３ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.307 Ｓｍ＝30.5） サンプル４ 粒径１〜２μｍのシリカ粒子含有（Ｒａ＝0.385 Ｓｍ＝29.7） サンプル５ 粒子非含有（エンボス） （Ｒａ＝0.102 Ｓｍ＝31.1） サンプル６ 粒径３μｍのシリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.205 Ｓｍ＝25.9） サンプル７ 粒径３μｍのシリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.264 Ｓｍ＝23.7） サンプル８ シリカ粒子含有 （Ｒａ＝0.323 Ｓｍ＝36.2） ＴＡＣ 防眩処理をしていない透明なフィルム（基材フィルム） ここで、ＲａはＪＩＳ規格の表面粗さを表す測定値の１
つ（中心線平均粗さ）で、単位はμｍで表した数値、Ｓ
ｍは表面凹凸の谷から谷までの間隔をμｍ単位で表した
数値である。 測定方法 〔グロス（２０°）〕JIS-S-Z-8741に準じ、フィルム裏
面を両面テープで押さえ板（光沢のない黒）に貼り付
け、村上色彩技術研究所製ＧＭー２６Ｄを用いて測定し
た。 〔感覚テスト〕白色面光源（検査ビュアー）の上にマト
リックスフィルタを加工面を下にしておき、その上に防
眩性フィルムを加工面が上になるように置き、手でフィ
ルムの端を押さえながら面ぎらを観察する。 ◎……面ぎらが見えない。 ○……面ぎらが若干あるが気にならない程度 △……面ぎらが気になる程度にある ×……面ぎらがひどい グロス（２０°）の場合、数値が大きい程面ぎらが大き
いとしているが、図６の結果から感覚テストと合ってい
る場合もあれば合っていない場合もある。例えば、サン
プル１、サンプル３、サンプル４、サンプル６、サンプ
ル７は比較的符合しているが、サンプル２、サンプル
５、サンプル８、基材フィルムでは符合していない。こ
れに対して本発明で求めた面ぎら値は全試料にわたって
感覚テストと符合している。さらに取り込み画像の平均
輝度１４５ｃｄ／ｍ2 で測定したとき、面ぎら値が１５
以下か否かにより防眩性フィルムの面ぎらの特性の良否
の判定が可能である。
【００２０】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば輝度分布
を測定し、画像処理してその標準偏差を面ぎら値とする
ことにより、感覚テストとほぼ符合するように面ぎらを
数値化することが可能となり、防眩性フィルム等の開発
において極めて有効である。
を測定し、画像処理してその標準偏差を面ぎら値とする
ことにより、感覚テストとほぼ符合するように面ぎらを
数値化することが可能となり、防眩性フィルム等の開発
において極めて有効である。
【図１】 本発明の評価装置の概略構成を示す図であ
る。
る。
【図２】 測定の流れを示す図である。
【図３】 図２の測定の流れにおける画像の内容を示す
図である。
図である。
【図４】 画像処理による輝度分布の変化を説明する図
である。
である。
【図５】 面ぎらが小さい場合と大きい場合の輝度変化
を説明する図である。
を説明する図である。
【図６】 測定結果を示す図である。
１…透過光測定用白色光源、２，５…マトリックスフィ
ルタ、３…防眩性フィルム、４…反射光測定用白色光
源、６…ＣＣＤカメラ、７…コンピュータ。
ルタ、３…防眩性フィルム、４…反射光測定用白色光
源、６…ＣＣＤカメラ、７…コンピュータ。
Claims (13)
- 【請求項１】 白色光源からの光をマトリックスフィル
タを介して対象物表面へ入射させ、対象物からの反射光
または透過光を撮影してデータとして取り込み、取り込
んだ光の輝度分布の画像処理を行い、輝度分布のバラツ
キの標準偏差を求め、求めた標準偏差値を対象物表面の
面ぎら値としたことを特徴とする面ぎらの定量的評価方
法。 - 【請求項２】 前記対象物が防眩性フィルムであること
を特徴とする請求項１記載の定量的評価方法。 - 【請求項３】 面ぎら値が所定値以下か否かにより対象
物の性能を評価することを特徴とする請求項１又は２記
載の定量的評価方法。 - 【請求項４】 取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ
2 にて測定したとき、前記面ぎら値の所定値が１５であ
る請求項３記載の定量的評価方法。 - 【請求項５】 少なくとも、白色光源、マトリックスフ
ィルタ、撮影装置、コンピュータからなり、白色光源か
らの光をマトリックスフィルタを介して対象物表面へ入
射させ、対象物からの反射光または透過光を撮影装置に
より撮影してデータとして取り込み、該データをコンピ
ュータにより処理して輝度分布のバラツキの標準偏差を
求め、求めた標準偏差値を対象物表面の面ぎら値とした
ことを特徴とする面ぎらの定量的評価装置。 - 【請求項６】 前記撮影装置はＣＣＤカメラである請求
項５記載の定量的評価装置。 - 【請求項７】 前記対象物が防眩性フィルムであること
を特徴とする請求項５又は６記載の定量的評価装置。 - 【請求項８】 面ぎら値が所定値以下か否かにより対象
物の性能を評価することを特徴とする請求項５乃至６い
ずれか記載の定量的評価装置。 - 【請求項９】 取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／ｍ
2 にて測定したとき、前記面ぎら値の所定値が１５であ
る請求項８記載の定量的評価装置。 - 【請求項１０】 取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／
ｍ2 にて測定したとき、面ぎら値が０より大きく１５以
下である防眩性フィルム。 - 【請求項１１】 少なくとも基材の一方の面へ防眩層を
形成した防眩性フィルムにおいて、白色光源からの光を
マトリックスフィルタを介して防眩性フィルム表面へ入
射させ、防眩性フィルムからの反射光または透過光を撮
影装置により撮影してデータとして取り込み、取り込ん
だ光の輝度分布の画像処理をコンピュータにて行い、輝
度分布のバラツキの標準偏差を求め、求めた標準偏差を
防眩性フィルム表面の面ぎら値とし、面ぎら値が所定値
以下となるように前記防眩層を形成することを特徴とす
る防眩性フィルムの製造方法。 - 【請求項１２】 前記撮影装置はＣＣＤカメラである請
求項１１記載の防眩性フィルムの製造方法。 - 【請求項１３】 取り込み画像の平均輝度１４５ｃｄ／
ｍ2 にて測定したとき、面ぎら値の所定値が１５である
請求項１１又は１２記載の防眩性フィルムの製造方法。
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| US10/397,737 US6697515B2 (en) | 1999-02-19 | 2003-03-27 | Method and apparatus for quantitatively evaluating scintillation, antiglare film and method of producing the same |
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| JP4105199 | 1999-02-19 | ||
| JP11-41051 | 1999-02-19 | ||
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|---|---|
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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