JP2000292207A - 光学式変位センサ - Google Patents
光学式変位センサInfo
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Abstract
ータレンズ2により平行光に整形された後、エバネッセ
ント波生成用プリズム3に入射し、エバネッセント波生
成用プリズム3の先端部3aからエバネッセント波9と
して滲み出る。滲み出たエバネッセント波9は、矢印A
の方向に移動可能な相対移動体4の上面に配された遮光
マスク6の窓部8のうちの、先端部3aの真下にきた窓
部8に入射する。各窓部8の開口幅は発光素子1から放
射された光の波長よりも短い。窓部8に入射したエバネ
ッセント波9は伝播光に変換されて、相対移動体4の下
方に設けられた集光用レンズ7で集光された後、受光素
子5へと入射する。窓部8の1ピッチ分だけ相対移動体
4が矢印Aの方向へ移動すると、受光素子5からは1周
期の疑似正弦波信号が得られる。
Description
し、その透過、反射光の情報を利用する光学式変位セン
サに関する。
光を受光することで、反射もしくは透過する物体の情報
を求める方法が、光ピックアップや、光測定装置に幅広
く利用されている。今日これらの光学測定器等は小型
化、高精度化が要求されてきている。
いて小型化に有効な技術が以下のように開示されてい
る。
開平1−180615号公報に開示されている光学式エ
ンコーダの模式図を図3に、また、同公報に開示されて
いる別の光学式エンコーダの模式図を図4に、それぞれ
示す。
光素子20から照射された光束がスリットアレイ24及
びスリットアレイ22を通過して線状光線アレイにされ
た後、格子と受光素子を一体にしたアレイ状受光素子3
2に入射することで、回折効果的結像関係による格子像
を検出するものである。
合、発光素子42から照射された光束はスリットアレイ
46Aにより線状光線アレイにされ、スケール40上の
格子に照射されると、そこから反射される光束によりイ
ンデックス格子44上にスケールの格子が投影され、両
者の幾何学的重なり合いにより受光素子48へ透過入射
する光量が変調され、図3に示した従来の光学式エンコ
ーダと同様に、回折効果的結像関係による格子像を検出
するものである。
開示されている光学式エンコーダの正面模式図を図5
(a)に、また、側面模式図を図5(b)に、それぞれ
示す。
2により平行光束にされインデックススケールA上の格
子GK(A)に照射されると回折され、3方向に射出方
向の光束が生じ、インデックススケールBの格子GK
(B)にてそれぞれの光束が回折されて相対移動による
位相変調を受けインデックススケールA上の格子GK
(A)に戻されて、インデックス格子による回折により
3組の干渉光束が異なる方向に設けられた受光素子53
へ入射される構成が示されている。このように小型化光
分解能を両立させている。
報に開示されている光学式エンコーダの公知例を示す。
ヒーレントな光束は、コリメートレンズ102により平
行光Lとなり透過スケール103に入射し、その後、回
折格子130により回折光L(−1)、L(0)、L
(1)が生成される。次に、各回折光は、反射型移動ス
ケール104の回折格子140で反射して図6に示すよ
うに、回折光L(−1、1)、L(0、−1)、L
(0、1)、L(1、−1)となった後、透過スケール
103の回折格子31a、31bで交差し、干渉光
I A、IBを生じる。干渉光IA、IBは検出器105a、
105bにそれぞれ光電的に検出され、反射型移動スケ
ール104の移動量に応じた正弦波状の出力信号S A、
SBを出力する。そして、出力信号SA、SBのずれに基
づいて反射型移動スケール104の移動量が検出され
る。
易小型化するためには有効な例である。
においては、基準となるスケール部に設けられる目盛り
が使用する光の波長以上となるため、生出力として得ら
れる信号の分解能や精度を使用波長のオーダよりも高め
ることは困難であった。
上した光学式変位センサを提供することを目的とする。
に本発明の光学式変位センサは、光を放射する光源と、
前記光源から放射された光を所定の光学特性に整える光
学系と、前記光学系により所定の光学特性に整えられた
光をエバネッセント波に変換する変換手段と、前記エバ
ネッセント波が入射し、入射した前記エバネッセント波
を伝播光に変換する複数の窓部が形成され、前記光源に
対して相対的に移動する遮光マスクと、前記窓部より放
射された前記伝播光を受光する受光部と、を有する。
センサは、光源から放射された光をエバネッセント波に
変換してから窓部に入射させるため、光の波長に制約さ
れずに窓部の開口幅を決めることができる。
光源から放射された光の波長よりも短いものであっても
よいし、遮光マスクの移動は略直線移動であり、複数の
窓部は略直線移動の方向に対して平行に配列されている
ものであってもよいし、遮光マスクは回転ディスクであ
り、複数の窓部は回転ディスクの周上に配列されている
ものであってもよい。
よび図1(b)に本実施形態の光学式変位センサの概略
構成を示す、正面図および外観斜視図をそれぞれ示す。
ある発光素子1と、発光素子1から放射された光を平行
光に整形するコリメータレンズ2と、コリメータレンズ
2により整形された平行光よりエバネッセント波を生成
するエバネッセント波生成用プリズム3と、矢印A方向
に複数の窓部8が配列された遮光マスク6と、遮光マス
ク6を上面に載置し、矢印A方向に移動可能な相対移動
体4と、相対移動体4の下方に配された集光用レンズ7
と、受光素子5とを有する。
素子5に入射するまでの一連について説明する。
リメータレンズ2により平行光に整形された後、エバネ
ッセント波生成用プリズム3に入射し、エバネッセント
波生成用プリズム3の先端部3aからエバネッセント波
9として滲み出る。次に、この滲み出たエバネッセント
波9は、遮光マスク6の窓部8のうちの1つで、先端部
3aの真下にきた窓部8に入射する。各窓部8の開口幅
は発光素子1から放射された光の波長よりも短い。
は光の波長以下の非伝播光であり、先端部3aから離れ
るとその強度は指数関数的に減少するため、先端部3a
のごく近傍にしか存在しない。このため、先端部3aと
窓部8とはエバネッセント波9の存在し得る領域内にま
で近づけられている。
播光に変換されて、相対移動体4の下方に設けられた集
光用レンズ7で集光された後、受光素子5へと入射す
る。
光がエバネッセント波9に一旦変換されてから受光素子
5へと入射される際、窓部8の1ピッチ分だけ相対移動
体4が矢印Aの方向へ移動すると、受光素子5からは1
周期の疑似正弦波信号が得られる。
位センサによれば、発光素子1からの放射光をエバネッ
セント波生成用プリズム3によりエバネッセント波9に
変換することで、窓部8の開口幅を発光素子1からの放
射光の波長に制限されることなく短くできるため、エン
コーダの生波形の分解能および精度を向上させることが
できる。
非常に簡単であるため、従来の高精度のエンコーダに見
られた取付け上の姿勢や位置合わせの困難性が解消され
るとともに、さらなる小型化を図ることができる。
異なり、干渉光束間の光路長差による測定誤差を排除で
きる。
び図2(b)に本発明の第2の実施形態の光学式変位セ
ンサの概略構成を示す、正面図および外観斜視図をそれ
ぞれ示す。
形態の相対移動体4のかわりに、矢印B方向に回転する
回転ディスク14が設けられている。この回転ディスク
14の上面にも発光素子11から放射される光の波長よ
りも短い開口幅の窓部18が形成され、回転ディスク1
4と一体的に回転する遮光マスク16が設けられてい
る。なお、窓部18は遮光マスク16の全周上に形成さ
れているが、図2(b)には、その一部のみが描かれて
いる。
形態と同様であるため、詳細の説明は省略する。
態の相対移動体4が矢印Aの方向に直線的に移動してい
たのに対し、矢印B方向に回転する回転ディスク14と
することで、相対回転角を検出できるものである。
様の効果が得られるとともに、回転位置のズレを検出す
ることができる。
源から放射された光をエバネッセント波に変換してから
窓部に入射させるため、使用する光の波長に制約されず
に窓部の開口幅を光の波長よりも短くすることができる
ため、使用する光の波長以上の分解能および精度を確保
することができる。
概略構成を示す正面図および外観斜視図である。
概略構成を示す正面図および外観斜視図である。
ある。
模式図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 光を放射する光源と、 前記光源から放射された光を所定の光学特性に整える光
学系と、 前記光学系により所定の光学特性に整えられた光をエバ
ネッセント波に変換する変換手段と、 前記エバネッセント波が入射し、入射した前記エバネッ
セント波を伝播光に変換する複数の窓部が形成され、前
記光源に対して相対的に移動する遮光マスクと、 前記窓部より放射された前記伝播光を受光する受光部
と、を有することを特徴とする光学式変位センサ。 - 【請求項2】 前記窓部の開口幅が前記光源から放射さ
れた光の波長よりも短いものである請求項1に記載の光
学式変位センサ。 - 【請求項3】 前記遮光マスクの移動は略直線移動であ
り、前記複数の窓部は前記略直線移動の方向に対して平
行に配列されている請求項1または2に記載の光学式変
位センサ。 - 【請求項4】 前記遮光マスクは回転ディスクであり、
前記複数の窓部は前記回転ディスクの周上に配列されて
いる請求項1または2に記載の光学式変位センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11101203A JP2000292207A (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 光学式変位センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11101203A JP2000292207A (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 光学式変位センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000292207A true JP2000292207A (ja) | 2000-10-20 |
JP2000292207A5 JP2000292207A5 (ja) | 2006-06-15 |
Family
ID=14294384
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11101203A Pending JP2000292207A (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 光学式変位センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000292207A (ja) |
-
1999
- 1999-04-08 JP JP11101203A patent/JP2000292207A/ja active Pending
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