JP2000278721A - Method and device for confirming picture quality of display device - Google Patents
Method and device for confirming picture quality of display deviceInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は表示装置の画質確認
方法およびそのための装置に関し、より詳細にはＣＲ
Ｔ，ＬＣＤをはじめとするｓｏｆｔｃｏｐｙ表示デバイ
ス（以下、表示装置という）の画質確認方法およびその
ための装置に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a method for confirming image quality of a display device and an apparatus therefor, and more particularly to a CR device.
The present invention relates to a method for confirming image quality of a softcopy display device (hereinafter, referred to as a display device) such as a T or LCD and an apparatus therefor.
【０００２】[0002]
【従来の技術】ＣＲＴ，ＬＣＤをはじめとする表示装置
の画質、例えば輝度，解像度特性等は、使用中に経時的
に変化するものである。従って、この種の表示装置を、
医療分野における診断のような厳密な性能が要求される
用途に用いる場合には、使用者が表示装置の画質を逐次
確認し、その結果に応じて表示装置の画質調整（装置の
交換も含む）を行う必要があった。2. Description of the Related Art The image quality of display devices such as CRTs and LCDs, for example, brightness, resolution characteristics, etc., changes over time during use. Therefore, this type of display device,
When used in applications requiring strict performance such as diagnosis in the medical field, the user sequentially checks the image quality of the display device and adjusts the image quality of the display device (including replacement of the device) according to the result. Had to do.
【０００３】しかしながら、従来は、上述のような表示
装置の画質に関しては、製造時にメーカーで検査や調整
を行って画質の確認がなされているだけで、出荷後の画
質に関しては、特にこれを確認する手段は提供されては
おらず、使用者による確認に委ねられていたのが実情で
ある。Conventionally, however, the image quality of a display device as described above has only been checked and adjusted by a maker at the time of manufacture to check the image quality. However, no means for providing such information has been provided, and the actual situation has been left to the confirmation by the user.
【０００４】使用者が表示装置の画質を確認する方法と
しては、一般には、視覚評価（すなわち、目視による評
価）が行われている。この目視による評価を行う際に
は、例えばよく知られているＳＭＰＴＥパターンのよう
な、種々の画質・特性が総合的に確認可能なテストパタ
ーンなどが利用されている。[0004] As a method for the user to confirm the image quality of the display device, visual evaluation (that is, visual evaluation) is generally performed. When performing this visual evaluation, a test pattern that can comprehensively confirm various image quality and characteristics, such as a well-known SMPTE pattern, is used.
【０００５】使用者は、定期的に上述のＳＭＰＴＥパタ
ーンのようなテストパターンを表示装置の画面に表示さ
せ、これを観察して表示装置の表面的な、またごく基本
的な画質だけを確認することにより、継続的な使用の是
非を決定する必要があったわけである。A user periodically displays a test pattern such as the above-described SMPTE pattern on the screen of the display device, and observes the test pattern to confirm only the superficial and very basic image quality of the display device. As a result, it was necessary to decide whether or not to continue use.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上述のような使用者に
よる視覚評価では、実際には、例えば「この部分の見え
方が多少変化したようだ」というような、非常に主観
的、かつ、定性的な評価を行うことしかできず、定量的
な、いわば客観的な評価は行うことが不可能であるとい
う問題があった。In the visual evaluation by the user as described above, in practice, a very subjective and qualitative evaluation such as "the appearance of this part seems to have changed somewhat" is actually made. However, there is a problem that it is impossible to perform quantitative evaluation, that is, objective evaluation, so to speak.
【０００７】上述の問題は、表示装置を診断用途など
の、厳密な表示性能が要求される用途に使用する場合に
は、極めて重大な問題となる。特に、医療用の診断で
は、この点が重要である。[0007] The above-mentioned problem becomes extremely serious when the display device is used for applications requiring strict display performance, such as diagnostic applications. This is particularly important in medical diagnosis.
【０００８】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、従来の技術における問題
点を解決し、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行う
に好適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好
適に用い得る装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to solve the problems in the conventional technology and to be suitable for quantitatively and objectively evaluating a display device. It is an object of the present invention to provide a method for confirming image quality of a display device and a device which can be suitably used for the method.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る表示装置の画質確認方法は、表示装置
の画面に所定のテストパターンを表示して、このテスト
パターンをデジタルデータとして取り込み、取り込んだ
デジタルデータを、当該表示装置において過去に同様の
方法で予め取得しておいた基準データと比較して両者間
のずれ量を出力することを特徴とする。In order to achieve the above object, a method for confirming image quality of a display device according to the present invention displays a predetermined test pattern on a screen of the display device and captures the test pattern as digital data. The acquired digital data is compared with reference data previously acquired by the display device in the same manner in the past, and the shift amount between the two is output.
【００１０】また、本発明に係る表示装置の画質確認方
法は、表示装置の画面に所定のテストパターンを表示し
て、このテストパターンをデジタルデータとして取り込
み、取り込んだデジタルデータから算出した特徴量を、
当該表示装置において過去に同様の方法で予め取得して
おいた基準値と比較して両者間のずれ量を出力すること
を特徴とする。[0010] In the image quality checking method for a display device according to the present invention, a predetermined test pattern is displayed on a screen of the display device, the test pattern is captured as digital data, and a characteristic amount calculated from the captured digital data is calculated. ,
The display device is characterized in that it is compared with a reference value previously acquired by a similar method in the past and outputs a shift amount between the two.
【００１１】本発明に係る表示装置の画質確認方法にお
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。In the image quality checking method for a display device according to the present invention, a test pattern including a single test item or a test pattern including a plurality of test items can be used. .
【００１２】一方、本発明に係る表示装置の画質確認装
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得するデータ
取得手段と、当該表示装置において過去に同様の方法で
予め取得しておいた基準データと比較して両者間のずれ
量を算出するデータ処理手段とを有することを特徴とす
る。[0012] On the other hand, an image quality checking device for a display device according to the present invention includes a data acquisition means for imaging a predetermined test pattern displayed on a screen of the display device and acquiring digital data of the test pattern. And a data processing means for calculating a shift amount between the reference data and the reference data obtained in advance by the same method.
【００１３】また、本発明に係る表示装置の画質確認装
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得すると共に
該デジタルデータから所定の特徴量を算出する第１のデ
ータ処理手段と、当該表示装置において過去に同様の方
法で予め取得しておいた基準値と比較して両者間のずれ
量を算出する第２のデータ処理手段とを有することを特
徴とする。Further, the image quality checking device for a display device according to the present invention captures a predetermined test pattern displayed on a screen of the display device, obtains digital data thereof, and obtains a predetermined feature amount from the digital data. First data processing means for calculating, and second data processing means for calculating a shift amount between the reference value and a reference value previously obtained by a similar method in the past in the display device. It is characterized by.
【００１４】本発明に係る表示装置の画質確認装置にお
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。In the image quality checking device for a display device according to the present invention, a test pattern including a single test item or a test pattern including a plurality of test items can be used. .
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】以下、添付の図面に示す好適実施
例に基づいて、本発明の実施の形態を詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
【００１６】図１は、本発明の一実施例に係る表示装置
の画質確認装置の概略を示すブロック図である。図中、
１１は画像データ取得手段であり、これは例えば、高精
細なＣＣＤカメラとかデジタルカメラのようなものであ
る。１２はキーボードなどの操作部である。１３はテス
トパターン保持部であり、前述のＳＭＰＴＥパターンの
ようなテストパターンを保持している。FIG. 1 is a block diagram schematically showing an image quality checking device for a display device according to one embodiment of the present invention. In the figure,
Reference numeral 11 denotes an image data acquisition unit, such as a high-definition CCD camera or digital camera. Reference numeral 12 denotes an operation unit such as a keyboard. Reference numeral 13 denotes a test pattern holding unit, which holds a test pattern such as the above-described SMPTE pattern.
【００１７】１４はデータ記憶部であり、当該表示装置
の設置時等、過去に当該表示装置に上記テストパターン
を同じ画像データ取得手段１１で撮像した画像データ
（基準データ）、およびその後、逐次取得する画像デー
タを記憶している。また、１５は画像処理部、１６は演
算部を示している。これらに関しては、後に、詳述す
る。１７は表示部である。Reference numeral 14 denotes a data storage unit, which acquires image data (reference data) obtained by previously capturing the test pattern on the display device by the same image data acquisition means 11 when the display device is installed, and sequentially acquires the test pattern. Image data to be stored. Reference numeral 15 denotes an image processing unit, and reference numeral 16 denotes a calculation unit. These will be described later in detail. 17 is a display unit.
【００１８】以下、上述のように構成された本実施例の
動作の概要を説明する。なお、以下に説明する例では、
設置時に取得したデータを基準とする場合を説明する。
表示装置の画質評価（以下、検査という）を行うために
は、まず、当該表示装置の設置時に、表示部１７にテス
トパターン保持部１３が保持している所定のテストパタ
ーンを表示させ、このテストパターンを画像データ取得
手段１１により撮像して、画像データを取得する。この
データ（イニシャルデータ）を、データ記憶部１４に記
憶する。Hereinafter, an outline of the operation of the present embodiment configured as described above will be described. In the example described below,
A case where data acquired at the time of installation is used as a reference will be described.
In order to perform image quality evaluation (hereinafter, referred to as inspection) of the display device, first, when the display device is installed, a predetermined test pattern held by the test pattern holding unit 13 is displayed on the display unit 17. The pattern is imaged by the image data obtaining means 11 to obtain image data. This data (initial data) is stored in the data storage unit 14.
【００１９】表示装置の設置後、ある程度の期間が経過
した時点で検査を行う際には、テストパターン保持部１
３が保持している上と同じテストパターンを、表示部１
７に表示させ、このテストパターンを上と同様に画像デ
ータ取得手段１１により撮像して、画像データ（以下、
単にデータという）を取得する。このデータを、データ
記憶部１４に記憶する。なお、ここで、撮像条件はでき
るだけイニシャルデータ取得時の撮像条件と同じにする
必要がある。When an inspection is performed after a certain period of time after the display device is installed, the test pattern holding unit 1
3 holds the same test pattern as above
7, and the test pattern is imaged by the image data obtaining means 11 in the same manner as above, and the image data
Simply called data). This data is stored in the data storage unit 14. Here, it is necessary to make the imaging conditions the same as possible at the time of initial data acquisition.
【００２０】次に、データ記憶部１４に記憶されている
イニシャルデータと検査時に取得したデータとを、画像
処理部１５において比較する。この場合、一般には、両
データのパターンマッチングによる位置合わせ，濃度・
コントラスト調整などの処理を必要とすることが多い。
上述の比較の内容としては、両データの差分をとる処理
が一般的であるが、これに限られるものではない。例え
ば、差分をとった画像を基に数値を算出し、予め定めた
基準値と比較してもよい。Next, the image processing unit 15 compares the initial data stored in the data storage unit 14 with the data obtained at the time of inspection. In this case, generally, the alignment of the two data by pattern matching, the density /
In many cases, processing such as contrast adjustment is required.
As a content of the above-described comparison, a process of obtaining a difference between the two data is general, but the present invention is not limited to this. For example, a numerical value may be calculated based on a difference image, and may be compared with a predetermined reference value.
【００２１】また、前述のテストパターンとしては、Ｓ
ＭＰＴＥパターンのように、多数の項目が１つのテスト
パターンで測定できるものを用いてもよく、また、それ
ぞれの項目を個別に測定するようなものを用いてもよ
い。上記実施例によれば、検査時に取り込んだデータ
を、当該表示装置の設置時に予め取得しておいたデータ
と比較して、両者間のずれ量を出力することにより、当
該表示装置の画質の変化を、定量的に把握することがで
きる。The above-described test pattern includes S
As in the case of the MPTE pattern, one in which many items can be measured by one test pattern may be used, or one in which each item is individually measured may be used. According to the above embodiment, the data captured at the time of inspection is compared with the data acquired in advance at the time of installation of the display device, and the amount of shift between the two is output, thereby changing the image quality of the display device. Can be grasped quantitatively.
【００２２】表示装置の使用者は、このずれ量を、例え
ば予め定められている値（閾値）と比較して、閾値を越
えている場合には、表示装置の調整，交換などの所定の
処置を行う。このように、使用者が定期的に上記検査を
行うことにより、表示装置の画質を高レベルに維持する
ことが可能になる。なお、差分をとった画像を基に数値
を算出し、予め定めた基準値と比較してもよい。The user of the display device compares this deviation amount with, for example, a predetermined value (threshold value). If the deviation exceeds the threshold value, a predetermined action such as adjustment or replacement of the display device is performed. I do. As described above, by performing the above-described inspection periodically by the user, the image quality of the display device can be maintained at a high level. Note that a numerical value may be calculated based on the image obtained by taking the difference, and may be compared with a predetermined reference value.
【００２３】以下、上記実施例に基づく具体的な処理の
手順および比較方法を説明する。ここでは、ひずみ
（歪），寸法精度を例に挙げる。比較には、クロスハッ
チパターンのような、画面の真直性，寸法の確認が可能
なパターンを用いる。このパターンについてのイニシャ
ルデータ，検査時のデータの両画像の端部を位置合わせ
する。これには、前述のように、パターンマッチングに
よる平行、回転シフトなどを行うことが好ましい。The specific processing procedure and comparison method based on the above embodiment will be described below. Here, strain (strain) and dimensional accuracy will be described as examples. For the comparison, a pattern such as a cross hatch pattern that can confirm the straightness and dimensions of the screen is used. The ends of both images of the initial data and the data at the time of inspection for this pattern are aligned. For this purpose, as described above, it is preferable to perform parallel or rotational shift by pattern matching.
【００２４】その上で、上記両画像上の対応する点の位
置を、両画像上の位置を両軸に取った相関図にプロット
して、これらの画像間の相関係数を求める。この一例
を、図２に示す。図２上で、プロットされた点が傾き１
の直線に近いほど、相関の度合が高い、つまり両画像間
の変化が小さいと判断される。Then, the positions of the corresponding points on the two images are plotted on a correlation diagram in which the positions on both images are plotted on both axes, and the correlation coefficient between these images is obtained. This example is shown in FIG. In FIG. 2, the plotted point has a slope 1
It is determined that the closer to the straight line, the higher the degree of correlation, that is, the smaller the change between the two images.
【００２５】次に、他の実施例を説明する。本実施例に
おいては、先に示した実施例のように、イニシャルデー
タおよび検査時のデータを画像データのまま比較するの
ではなく、上記データから各種の画像特徴量を求めて、
これについて設置時と検査時との比較を行うものであ
る。ここで、画像特徴量としては、画像のひずみ
（歪），寸法精度，輝度均一性，階調（輝度を含む），
レスポンス，粒状性などを例示することができるが、本
発明はこれらに限られるものではない。Next, another embodiment will be described. In the present embodiment, instead of comparing the initial data and the data at the time of inspection with the image data as they are in the embodiment described above, various image feature amounts are obtained from the data,
This is a comparison between the time of installation and the time of inspection. Here, image features include image distortion (distortion), dimensional accuracy, luminance uniformity, gradation (including luminance),
Response, granularity and the like can be exemplified, but the present invention is not limited to these.
【００２６】以下、例示した各画像特徴量について、具
体的な画像処理の手順および比較方法を説明する。Hereinafter, specific image processing procedures and comparison methods will be described for each of the exemplified image feature amounts.
【００２７】（ａ）ひずみ（歪），寸法精度：図３に示
すようなひずみを定量化するひずみ指標値（偏向ひず
み，ラスタひずみ）を下記の式（１），（２）により算
出して、この指標値を比較する。なお、図３（ａ）は偏
向ひずみ、同（ｂ）はラスタひずみの説明図である。(A) Strain (strain) and dimensional accuracy: Strain index values (deflection strain, raster strain) for quantifying the strain as shown in FIG. 3 are calculated by the following equations (1) and (2). , And compare this index value. FIG. 3A is an explanatory diagram of deflection distortion, and FIG. 3B is an explanatory diagram of raster distortion.
【数１】 (Equation 1)
【００２８】このような、ひずみ指標値を算出して上記
２画像（当該表示装置の設置時と、検査時の画像をい
う。以下、同様に用いる）を比較する方法では、前述の
相関係数を求めてこれを比較する方法に比べて、データ
処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で使用者
の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断が行い
やすくなるという効果がある。In such a method of calculating the strain index value and comparing the two images (the image at the time of installation of the display device and the image at the time of inspection; hereinafter, similarly used), the aforementioned correlation coefficient is used. Although the data processing is somewhat complicated as compared with the method of calculating and comparing these, there is no room for the user's subjectivity to enter in the process of making the judgment, so that there is an effect that it is easy to make an objective judgment.
【００２９】（ｂ）輝度の均一性：フラットな輝度を有
するパターンであり、画面における位置が特定できるも
の（例えば、前述のクロスハッチパターンのようなも
の）を表示して行う。すなわち、上記２画像について、
画像中で、クロスハッチにより分割された各領域の平均
データ値を計測し、その最大値（ｍａｘ），最小値（ｍ
ｉｎ），平均値，分散などを算出する。(B) Luminance uniformity: A pattern having a flat luminance and whose position on the screen can be specified (for example, the above-mentioned cross hatch pattern) is displayed. That is, for the above two images,
In the image, the average data value of each area divided by the cross hatch is measured, and the maximum value (max) and the minimum value (m
in), average value, variance, etc. are calculated.
【００３０】図４に、クロスハッチパターンを用いた場
合の、経時的な変化の例を示す。図４中、（ａ）は設置
時、（ｂ）は経時後の画面を示している。このような画
像について、上記最大値，最小値などの特性値を算出し
てこれらを比較し、変化の有無の判断を行う。FIG. 4 shows an example of a change over time when a cross hatch pattern is used. 4A shows a screen at the time of installation, and FIG. 4B shows a screen after lapse of time. For such an image, characteristic values such as the maximum value and the minimum value are calculated, and these are compared to determine whether there is a change.
【００３１】（ｃ）階調（輝度を含む）：グレイスケー
ルを含むパターンを表示して行う。すなわち、上記２画
像について、画像中で、グレイスケールの各ステップご
とのデータ値を計算し、それぞれのステップについて画
像間の差分値をとる。図５に、グレイスケールを含むパ
ターンを用いた場合の、経時的な変化の例を示す。図５
中、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の画面を示してい
る。(C) Gradation (including luminance): This is performed by displaying a pattern including a gray scale. That is, for the two images, a data value for each grayscale step is calculated in the image, and a difference value between the images is calculated for each step. FIG. 5 shows an example of a change with time when a pattern including a gray scale is used. FIG.
The middle, (a) shows the screen at the time of installation, and (b) shows the screen after lapse of time.
【００３２】（ｄ）レスポンス：よく知られている、矩
形波，サイン波のようなレスポンスが測定できるパター
ンが含まれる画面（前述のＳＭＰＴＥパターンでもよ
い）を表示して行う。例えば、図６（ａ）に示すような
矩形波パターンを表示する。これを読み取ったデータ
（図６（ｂ）参照）から、下記の式によりＣＴＦ（Ｃon
trast Ｔransfer Ｆunction ）を求める。(D) Response: Display is performed by displaying a well-known screen (may be the above-described SMPTE pattern) including a pattern such as a rectangular wave and a sine wave that can measure a response. For example, a rectangular wave pattern as shown in FIG. From the read data (see FIG. 6B), CTF (Con
trast Transfer Function).
【００３３】[0033]
【数２】 次に、このＣＴＦデータを、これもよく知られているコ
ルトマンの変換式を用いて、ＭＴＦ（Ｍodulation Ｔra
nsfer Ｆunction ）データに変換する。得られたＭＴＦ
データを、前記２画像について比較し、経時変化の有無
を判断する。(Equation 2) Next, this CTF data is converted to an MTF (Modulation Tra) using the well-known Koltemann transformation formula.
nsfer Function) is converted to data. MTF obtained
The data is compared for the two images to determine whether there is a change with time.
【００３４】（ｅ）粒状性：フラットな領域を有するパ
ターンを用いて行う。画像データを取り込み、このデー
タからＲＭＳ（Ｒoot Ｍean Ｓuquare）値，ＷＳ（Ｗie
ner Ｓpectral ）値を算出する。得られたデータを、前
記２画像について比較し、経時変化の有無を判断する。
この特徴量は、画像の粗さ，ノイズの多少などを評価す
る指標である。(E) Granularity: This is performed using a pattern having a flat area. Image data is fetched, and RMS (Root Mean Square) values and WS (Wie
ner Spectral) value is calculated. The obtained data is compared for the two images, and it is determined whether there is a change with time.
The feature amount is an index for evaluating the roughness of the image, the degree of noise, and the like.
【００３５】以上説明したように、本実施例において
は、イニシャルデータおよび検査時のデータを画像デー
タのまま比較するのではなく、上記データから上述のよ
うな各種の画像特徴量を求めて、これについて設置時と
検査時との比較を行うようにしたので、前述のように、
データ処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で
使用者の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断
が行いやすくなるという効果がある。As described above, in the present embodiment, instead of comparing the initial data and the data at the time of inspection with the image data as they are, the above-described various image characteristic amounts are obtained from For the comparison between the time of installation and the time of inspection, as described above,
Although the data processing becomes somewhat complicated, there is no room for the user's subjectivity to enter in the process of making the judgment, so that there is an effect that it is easy to make an objective judgment.
【００３６】ところで、本発明に係る表示装置の画質確
認装置は、検査対象となる表示装置において過去（例え
ば設置時）と、それ以後の（できれば定期的な）検査時
において、検査対象となる表示装置の画面上に上述のよ
うな種々の方法による比較のためのパターンを表示させ
て、これを撮像しデータ処理を行うので、持ち運びが容
易なコンパクトな構造とすることが望ましい。By the way, the image quality confirmation apparatus for a display device according to the present invention is a display device to be inspected in the past (for example, at the time of installation) and later (preferably periodically) in the display device to be inspected. Since a pattern for comparison by various methods as described above is displayed on the screen of the apparatus, and the pattern is imaged and subjected to data processing, it is desirable to have a compact structure that is easy to carry.
【００３７】このためには、検査対象となる表示装置の
画面を撮像する撮像部と、ここで得られたデータを処理
するデータ処理部（操作部，データ記憶部等を含む）と
を分割して、これらをケーブルで接続するようにしても
よい。なお、この表示装置の画質確認装置は、表示装置
のユーザに品質チェック用の商品として提供してもよ
く、また、表示装置のサービスマンに携帯させる検査用
具としてもよい。For this purpose, an image pickup unit for picking up an image of a screen of a display device to be inspected and a data processing unit (including an operation unit and a data storage unit) for processing data obtained here are divided. Then, these may be connected by a cable. The image quality checking device of the display device may be provided as a quality check product to the user of the display device, or may be an inspection tool carried by a service person of the display device.
【００３８】[0038]
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行うに好
適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好適に
用い得る装置を提供することが可能である。As described above in detail, according to the present invention, a method for confirming the image quality of a display device suitable for quantitatively and objectively evaluating the display device and an apparatus which can be suitably used for the method. It is possible to provide.
【図１】 本発明の一実施例に係る表示装置の画質確認
装置の概略を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram schematically illustrating an image quality checking device of a display device according to an embodiment of the present invention.
【図２】 画像間の相関関係の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a correlation between images.
【図３】 （ａ）は偏向ひずみ、（ｂ）はラスタひずみ
の説明図である。3A is an explanatory diagram of a deflection distortion, and FIG. 3B is an explanatory diagram of a raster distortion.
【図４】 輝度の均一性の経時変化の一例を示す図であ
り、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図で
ある。4A and 4B are diagrams illustrating an example of a change with time of luminance uniformity, where FIG. 4A illustrates a state at the time of installation, and FIG.
【図５】 輝度を含む階調の経時変化の一例を示す図で
あり、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図
である。5A and 5B are diagrams illustrating an example of a temporal change in gradation including luminance, wherein FIG. 5A illustrates a state at the time of installation, and FIG.
【図６】 （ａ）はレスポンスの測定に用いる矩形波パ
ターンを示す模式図、（ｂ）はこれを読み取ったデータ
を示す模式図である。FIG. 6A is a schematic diagram showing a rectangular wave pattern used for measuring a response, and FIG. 6B is a schematic diagram showing data read from the rectangular wave pattern.
１１ 画像データ取得手段 １２ 操作部 １３ テストパターン保持部 １４ データ記憶部 １５ 画像処理部 １６ 演算部 １７ 表示部 11 Image Data Acquisition Means 12 Operation Unit 13 Test Pattern Holding Unit 14 Data Storage Unit 15 Image Processing Unit 16 Operation Unit 17 Display Unit
Claims (8)
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータを、当該表示装置
において過去に同様の方法で予め取得しておいた基準デ
ータと比較して両者間のずれ量を出力することを特徴と
する表示装置の画質確認方法。1. A predetermined test pattern is displayed on a screen of a display device, the test pattern is fetched as digital data, and the fetched digital data is previously acquired in the display device by a similar method in the past. A method for confirming image quality of a display device, comprising outputting a shift amount between the reference data and reference data.
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータから算出した特徴
量を、当該表示装置において過去に同様の方法で予め取
得しておいた基準値と比較して両者間のずれ量を出力す
ることを特徴とする表示装置の画質確認方法。2. A predetermined test pattern is displayed on a screen of a display device, the test pattern is captured as digital data, and a feature amount calculated from the captured digital data is previously stored on the display device by a similar method. A method for confirming image quality of a display device, comprising: outputting a shift amount between a reference value and an acquired reference value.
項目が含まれているものを用いる請求項１または２に記
載の表示装置の画質確認方法。3. A method according to claim 1, wherein a test pattern including a single test item is used as said test pattern.
項目が含まれているものを用いる請求項１または２に記
載の表示装置の画質確認方法。4. The method according to claim 1, wherein a test pattern including a plurality of test items is used as the test pattern.
ストパターンを撮像し、そのデジタルデータを取得する
データ取得手段と、当該表示装置において過去に同様の
方法で予め取得しておいた基準データと比較して両者間
のずれ量を算出するデータ処理手段とを有することを特
徴とする表示装置の画質確認装置。5. A data acquisition means for taking an image of a predetermined test pattern displayed on a screen of a display device and acquiring digital data thereof, and a reference previously acquired in the display device by a similar method in the past. An image quality checking device for a display device, comprising: data processing means for calculating a shift amount between data and data.
ストパターンを撮像し、そのデジタルデータを取得する
と共に該デジタルデータから所定の特徴量を算出する第
１のデータ処理手段と、当該表示装置において過去に同
様の方法で予め取得しておいた基準値と比較して両者間
のずれ量を算出する第２のデータ処理手段とを有するこ
とを特徴とする表示装置の画質確認装置。6. A first data processing means for taking an image of a predetermined test pattern displayed on a screen of a display device, obtaining digital data thereof, and calculating a predetermined feature amount from the digital data, An image quality checking device for a display device, comprising: a second data processing means for calculating a shift amount between the reference value and a reference value previously obtained by a similar method in the device in the past.
項目が含まれているものを用いる請求項５または６に記
載の表示装置の画質確認装置。7. The image quality check device for a display device according to claim 5, wherein a test pattern including a single test item is used as said test pattern.
項目が含まれているものを用いる請求項５または６に記
載の表示装置の画質確認装置。8. The image quality check device for a display device according to claim 5, wherein a test pattern including a plurality of test items is used as said test pattern.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083911A JP2000278721A (en) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | Method and device for confirming picture quality of display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083911A JP2000278721A (en) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | Method and device for confirming picture quality of display device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000278721A true JP2000278721A (en) | 2000-10-06 |
Family
ID=13815802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11083911A Withdrawn JP2000278721A (en) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | Method and device for confirming picture quality of display device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000278721A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003085570A1 (en) * | 2002-04-04 | 2003-10-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cooperative diagnosis system |
| JP2004021168A (en) * | 2002-06-20 | 2004-01-22 | Seiko Epson Corp | Image display device and picture processor |
| US6883362B2 (en) | 2001-03-21 | 2005-04-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Ultrasonic diagnostic apparatus and method of checking its performance |
| WO2023002278A1 (en) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Display device adjustment method and display device adjustment system |
-
1999
- 1999-03-26 JP JP11083911A patent/JP2000278721A/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6883362B2 (en) | 2001-03-21 | 2005-04-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Ultrasonic diagnostic apparatus and method of checking its performance |
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| JP2004021168A (en) * | 2002-06-20 | 2004-01-22 | Seiko Epson Corp | Image display device and picture processor |
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