JP2000269114A - 照明装置、露光装置及び露光方法 - Google Patents

照明装置、露光装置及び露光方法

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JP2000269114A
JP2000269114A JP11069954A JP6995499A JP2000269114A JP 2000269114 A JP2000269114 A JP 2000269114A JP 11069954 A JP11069954 A JP 11069954A JP 6995499 A JP6995499 A JP 6995499A JP 2000269114 A JP2000269114 A JP 2000269114A
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light
light source
rod
pattern
filter
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JP11069954A
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Yuji Kudo
祐司 工藤
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Original Assignee
Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70191Optical correction elements, filters or phase plates for controlling intensity, wavelength, polarisation, phase or the like

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスク若しくはウェハ上の照度分布を所望の
分布に補正し、ウェハ上の各像高に対する照明光の瞳形
状を独立に変更する。 【解決手段】 照明光を複数の2次光源とするロッドイ
ンテグレータの入射面側であって出射面と共役な位置に
フィルタ14を配置する。照明光の開口絞りが小さい場
合には、パターン14Aを通過する照明光が支配的にな
り、パターン14Aの透過率を反映して周辺部よりも中
心部が低い傾向を示す分布となる。また、照明光の開口
絞りを次第に大きくしていった場合には、パターン14
Bを通過する照明光が増加してパターン14Bの透過率
分布が影響が次第に大きくなる。フィルタ14において
適当なパターン配置をとることにより、照明光の開口絞
りの形状に応じてウェハW上の照度分布を適宜変化させ
ることが可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、光源からの光を
集光して所望の照度分布を形成する照明装置並びにこれ
を用いた露光装置及び方法に関し、特に微細な半導体回
路を感光性基板に露光するためのマスクの照明に好適な
照明装置等に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の照明装置では、例えばロ
ッド型オプティカルインテグレータで複数の2次光源を
形成し、これらの2次光源からの照明光を利用して回路
パターンが描かれたマスクを均一に照明することが行わ
れる。なお、照明された回路パターンは、投影レンズを
介して感光材料を塗布したウェハ上に投影露光される。
【0003】また、最近では、ウェハ上に投影されるパ
ターンの形状に応じて、2次光源の共役位置に配置され
る開口絞りの形状を変化させて照明光の瞳形状を変更す
ることにより、露光装置の投影光学系の解像力、焦点深
度を向上させる技術が注目されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上の照明装置におい
て、マスク上の照度分布、すなわちマスクにパターンが
形成されていない場合のウェハ上の照度分布は、一般的
には均一な状態が良いとされているが、光学系の汚れや
偏心、反射防止コートのムラなど様々な要因に起因して
結果的にウェハ上の照度分布に不均一性が認められた場
合にそれを補償するよう照度分布を調整できれば、より
精密な露光が可能になる。さらに、マスク上のパターン
の形状や投影レンズの収差、照明光の瞳形状等によって
は、ウェハ上の照度に意図的に分布を設けた方が良い結
果が得られる場合もある。
【0005】また同様に、照明光の瞳形状も、一般的に
はウェハ上の各像高に対して同一形状である状態が良い
とされているが、場合によっては意図的に各像高に対し
て瞳形状が異なるように構成した方が良い結果を得られ
ることもある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、マ
スク若しくはウェハ上の照度分布を所望の分布に補正す
ることができ、ウェハ上の各像高に対する照明光の瞳形
状(コヒーレンス・ファクタ)を独立に変更できる照明
装置、及びこれを用いた露光装置及び方法を提供するこ
とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の照明装置は、光源からの光に基づき多数の
光源像を形成するロッド型オプティカルインテグレータ
と、ロッド型オプティカルインテグレータにより形成さ
れる多数の光源像からの光をそれぞれ集光して、被照射
面を照明するリレー光学系と、ロッド型オプティカルイ
ンテグレータの光源側に配置されて多数の光源像での光
の強度分布をそれぞれ独立に制御する照明制御手段とを
有する。
【0008】上記照明装置では、照明制御手段がロッド
型オプティカルインテグレータの光源側に配置されて多
数の光源像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御する
ので、各光源像から被照射面に供給される光の状態を簡
易・精密に制御することができる。よって、被照射面上
における照度分布や瞳形状等の照明状態を所望の状態に
調整することができる。なお、ここで光の強度分布と
は、強度の絶対量を変化させるとと分布状態を変化させ
ることとの双方を含む。
【0009】また、好ましい態様では、照明制御手段を
介した光をロッド型オプティカルインテグレータへ導く
集光光学系を照明制御手段とロッド型オプティカルイン
テグレータとの間に配置し、照明制御手段が、多数の光
源像からの光の透過率分布をそれぞれ独立に制御する光
学フィルタを含み、光学フィルタが、集光光学系、ロッ
ド型オプティカルインテグレータおよびリレー光学系に
関して、被照射面と実質的に光学的に共役な位置に設け
られている。
【0010】上記照明装置では、多数の光源像に対応す
る光が、照明制御手段の光学フィルタを介することによ
って透過率分布をそれぞれ個別に調節され、集光光学系
によって簡易にロッド型オプティカルインテグレータに
個別に入射するので、被照射面上における照明状態の調
整が簡易である。
【0011】本発明の露光装置は、光源からの光に基づ
き多数の光源像を形成するロッド型オプティカルインテ
グレータと、ロッド型オプティカルインテグレータによ
り形成される多数の光源像からの光をそれぞれ集光し
て、マスクを照明するリレー光学系と、マスクのパター
ンを感光性基板上に投影する投影系と、ロッド型オプテ
ィカルインテグレータの光源側に配置されて多数の光源
像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御する照明制御
手段とを有する。
【0012】上記露光装置では、照明制御手段がロッド
型オプティカルインテグレータの光源側に配置されて多
数の光源像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御する
ので、被照射面上における照度分布や瞳形状等の照明状
態を所望の状態に調整することができ、より精密で状況
に即した適切な露光が可能になる。
【0013】本発明の露光方法は、光源からの光に基づ
き多数の光源像を形成するロッド型オプティカルインテ
グレータを用いて、このロッド型オプティカルインテグ
レータの光源側において多数の光源像での光の強度分布
をそれぞれ独立に制御する光制御工程と、この光制御工
程によって光の強度分布がそれぞれ独立に制御された多
数の光源からの光をそれぞれ集光して、マスクを照明す
る工程と、マスクのパターンを感光性基板に露光する露
光工程とを含む。
【0014】上記露光方法では、光制御工程にて、ロッ
ド型オプティカルインテグレータの光源側において多数
の光源像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御するの
で、被照射面上における照度分布や瞳形状等の照明状態
を所望の状態に調整することができ、より精密で状況に
即した露光が可能になる。
【0015】
【発明の実施の形態】〔第1実施形態〕図1は、本発明
の第1実施形態に係る露光装置の概略的構成を説明する
図である。
【0016】まず、マスクMを照明するための照明光学
系の概要について簡単に説明する。光源11からの照明
光は、ビーム整形光学系12を経てほぼ平行光となり、
反射ミラー13で反射され、フィルタ14及び集光レン
ズ15からなる照明制御手段である照明制御装置20を
経て、ロッド型オプティカルインテグレータ(以下、イ
ンテグレータ)16に導かれる。
【0017】このインテグレータ16によって形成され
る多数の2次光源からの光束は、可変視野絞り17で制
限された後、リレー光学系18によりマスクステージM
SのマスクM上に所望の倍率及び開口数(NA)にて投
影される。これにより、マスクM上の照明領域が2次光
源によって重畳的にほぼ均一に照明される。なお、リレ
ー光学系18の前群18aと後群18bの間には、光路
折り曲げ用の反射ミラー18cが配置されており、反射
ミラー18cと後群18bとの間には、形状や大きさが
異なる複数の開口を有するタレット板19が配置されて
いる。タレット板19は、可変開口手段として、照明光
学系の瞳位置における開口形状を適宜調節する。
【0018】以上のような照明光学系からの照明光IL
によって照明されたマスクM上の回路パターンの像は、
マスクMを透過した照明光ILである露光光ELとし
て、投影光学系31によってウェハステージWS上に載
置されたウェハW上に縮小投影され、ウェハW上に塗布
されたレジストが感光してウェハW上にマスクM上の回
路パターン像が転写される。
【0019】以下、図1に示す露光装置の各部の詳細に
ついて説明する。照明光学系を構成する光源11は、ウ
ェハWに塗布したレジストが感光する波長の照明光IL
をほぼ平行光束として射出する。光源11からの照明光
は、ビーム整形光学系12で所定断面形状の照明光に整
形され、反射ミラー13を介して照明制御装置20に入
射する。この照明光は、例えばレーザパルスとすること
ができ、この場合の発振タイミングは、コントローラ5
0から送出されるトリガパルスで調節される。
【0020】照明制御装置20を構成する前段のフィル
タ14は、後に詳述するが、2次源像の数に対応して設
けた複数のフィルタエレメントを備えており、マスクM
すなわちウェハWと共役な共役面S1の近傍に光軸に垂
直に配置される。なお、後段の集光レンズ15は、イン
テグレータ16によって形成される2次光源の虚像面S
2の位置から焦点距離だけ離れた位置に配置されてお
り、フィルタ14から光軸にほぼ平行に出射した照明光
ILは、一旦この虚像面S2に集光することになる。
【0021】なお、フィルタ14は、コントローラ50
によって制御されているアクチュエータ41に駆動され
て照明光の進行方向に垂直な方向に移動可能になってお
り、ウェハW上に転写すべきマスクMのパターン等の条
件に応じて照明光学系の光路中から待避させることがで
きる。
【0022】インテグレータ16の入射面16aは、虚
像面S2の近傍に配置されている。集光レンズ15によ
って集光された照明光ILは、入射面16aからインテ
グレータ16内に入射し、インテグレータ16の内面で
所定回数反射されて出射面16bから射出する。インテ
グレータ16から出射する照明光ILは、反射回数に対
応する離散的な2次元光源の虚像からあたかも出射面か
ら射出するように出射する。このため、出射面16bか
ら出射する照明光の角度は、虚像面S2に配置される2
次光源の虚像からの照明光ILの出射角度に相当してい
る。
【0023】タレット板19は、2次光源の形状および
大きさの少なくとも一方を調節することができ、前群1
8aによって多数の2次光源像が形成される実像面S3
の近傍に配置されている。このタレット板19は、石英
性の透明基板からなり、図2に示すように、互いに形状
と大きさの少なくとも一方が異なる複数の開口絞り19
a〜19fが形成されている。このうち、円形開口を持
つ2つの開口絞り19a、19bは、σ値等を変化させ
るためのもので、開口絞り19c、19dは、互いに輪
帯比(輪帯開口の内径と外径の比)の異なる開口を持つ
絞りであり、残りの開口絞り19e、19fは、4つの
偏心した2次光源を形成するために4つの偏心した開口
を持つ絞りである。
【0024】このタレット板19は、コントローラ50
によって制御されているモータ42で適宜回転駆動さ
れ、ウェハW上に転写すべきマスクMのパターンに応じ
て1つの開口絞りが選択されて照明光ILの光路上に配
置される。
【0025】ここで、マスクMは、上記のようなリレー
光学系18を挟んで、インテグレータ16の出射面16
bに対してほぼ共役位置に配置されており、結果的にフ
ィルタ14に対してもほぼ共役位置に配置されている。
また、ウェハWは、投影光学系31を介してマスクMの
共役位置に配置されている。
【0026】ウェハステージWSには、ウェハステージ
WS上に設けた移動鏡60の移動を監視するレーザー干
渉計等からなる位置検出装置61と、ウェハWとマスク
Mのアライメントを可能にするアライメント光学系62
とが設けてある。ウェハステージWSを3次元的に駆動
する駆動装置65は、コントローラ50によって制御さ
れており、位置検出装置61及びアライメント光学系6
2の出力に基づいてウェハステージWSを所望の位置に
駆動する。
【0027】また、ウェハステージWSには、照明光の
照度や瞳形状を測定するための照度センサ67を設けて
いる。この照度センサ67は、図3に示すように、ピン
ホール67aを有しウェハW上面すなわち投影光学系3
1の結像面の高さに配置される上板67bと、ピンホー
ル67aから焦点距離だけ離れた位置に配置されるレン
ズ67cと、ピンホール67aからの光をレンズ67c
を介して検出するCCD67dとを備える。ウェハステ
ージWSを適宜移動させて、照度センサ67を投影光学
系31の直下に移動させれば、マスクM上の周期パター
ンに応じた回折パターンがCCD67dに投影される。
CCD67dの出力を解析し予め記憶したデータと比較
すれば、マスクM上のパターンをある程度特定でき、マ
スクステージMS上のマスクMの種類も判別できる。ま
た、マスクステージMSからマスクMを取り除き、ウェ
ハステージWSを適宜移動させて、照度センサ67を投
影光学系31の露光領域の範囲内で移動させれば、ウェ
ハW上の各点の照度に応じた光量がCCD67dに投影
される。つまり、CCD67dの出力の総和等がウェハ
Wの像高に応じてどう変化するかを検出すれば、ウェハ
W上の照度分布が得られる。さらに、CCD67dに
は、ウェハW上の各点の瞳形状に応じた明度分布が形成
される。つまり、CCD67dの出力の分布がウェハW
の像高に応じてどう変化するかを検出すれば、ウェハW
上の各像高における瞳形状を検出することもできる。
【0028】なお、図1の露光装置の動作、すなわちコ
ントローラ50の動作に必要なデータや指令は、入力装
置55を介して外部から入力することができる。
【0029】図4は、共役面S1の近傍に配置されるフ
ィルタ14の構造を説明する拡大図である。このフィル
タ14の表面には、長方形のフィルタパターン14A、
14Bが配置されている。各フィルタパターン14A、
14Bは、特有の透過率分布を有し、中央側のフィルタ
パターン14Aと周辺側のフィルタパターン14Bとで
は透過率分布の特性が異なる。図面では、理解のため、
前者のフィルタパターン14Aの位置に符号Aを付し、
後者のフィルタパターン14Bの位置に符号Bを付し
て、両フィルタパターン14A、14Bの配列を明らか
にしている。各フィルタパターン14A、14Bは、イ
ンテグレータ16によって形成される複数の2次光源の
各々に対応している。
【0030】図5は、図4の各フィルタパターン14
A、14Bの形状及び配置と、インテグレータ16によ
って形成される複数の2次光源との関係を模式的に説明
する図である。図5(a)は、フィルタ14から光軸に
平行に出射する照明光の光路を示し、図5(b)は、フ
ィルタ14上の一点から出射する照明光の光路を示す。
【0031】フィルタ14上に配置された光軸上のフィ
ルタパターン140は、インテグレータ16内面で反射
されない2次光源100からの光束の強度分布をコント
ロールする。また、フィルタパターン140の両外側に
隣接する一対のフィルタパターン141a、141b
は、インテグレータ16内面で1回反射される2次光源
像101a、101bからの光束の強度分布をコントロ
ールする。さらに、フィルタパターン141a、141
bの両外側に隣接する一対のフィルタパターン142
a、142bは、インテグレータ16内面で2回反射さ
れる2次光源像102a、102bからの光束の強度分
布をコントロールする。このような構成によれば、イン
テグレータ16によって形成された複数の2次光源それ
ぞれの光束に対して独立に透過率をコントロールするこ
とが可能である。
【0032】これらのフィルタパターン140、141
a、141b、142a、142bは、ロッド型のイン
テグレータ16の射出面16bと共役な面S1の近傍に
配置されており、しかも集光レンズ15による拡大率
は、インテグレータ16の射出面16bのサイズとフィ
ルタ14の各フィルタパターン140〜142bのサイ
ズとの比に対応している。したがって、一つのフィルタ
パターンの形状は、図1のマスクM又はウェハW上での
照明領域と対応しており、各フィルタパターン140〜
142bの透過率分布は、ウェハW上での照明領域の照
度分布に反映されることになる。
【0033】なお、図5はフィルタパターンの形状及び
配置を概念的に説明したもので、図4のような実施例に
比べてフィルタパターンの配置密度が低くなっている。
この場合、フィルタパターン140は中央側に配置され
るという観点で図4のフィルタパターン14Aに相当
し、フィルタパターン142a、142bは周辺側に配
置されるという観点で図4のフィルタパターン14Bに
相当するものと考えることができる。
【0034】図4の説明に戻って、フィルタパターン1
4A、14Bを配置する周期は、以下のような条件とす
る。すなわち、インテグレータ16の出射面16bから
これに対する共役面S1への倍率がβで、出射面16b
と共役面S1の間にディストーションがないとして、イ
ンテグレータ16のロッド断面の寸法を(Lx,Ly)と
すると、各フィルタパターン14A、14Bの周期を
(βLx,βLy)とする。但し、出射面16bと共役面
S1の間にディストーションがある場合には、フィルタ
ーパターンの配置は必ずしも一定周期にはならない。こ
の場合、各フィルタパターンが対応する二次光源に対応
する位置にフィルターパターンを配置する必要があるた
め、ディストーション量に応じてパターン配置を補正す
る必要がある。またこのとき、フィルターパターンの形
状もディストーションの影響を受けるため、パターンを
配置する位置によって形状を変更する必要がある。従っ
て、出射面16bと共役面S1の間にディストーション
がないように光学系を構成したほうが、フィルターパタ
ーンの形状と配置が出射面16bと共役面S1の間の近
軸倍率βによって決定できるため、フィルターパターン
の設計の容易化という観点で好ましい。
【0035】フィルタ14には、例えばCr,Ni,A
lなどの金属薄膜の微細なドットパターンが描かれてお
り、このドットパターンの密度を変えることによって各
フィルタパターン14A、14Bの透過率分布をコント
ロールしている。金属薄膜自体の透過率は0%に限ら
ず、フィルタパターン14A、14Bの透過率を高めた
い場合には金属薄膜自体の透過率を高めてもよい。前者
のようにドットパターンの密度で透過率分布をコントロ
ールする場合、フィルタパターン14A、14Bがイン
テグレータ16の出射面16bと共役な面S1に精密に
配置されていると、出射面16bとウェハWとは共役で
あるため、ドットパターンのドットそのものの形状がウ
ェハW上に転写されてしまうおそれがある。このため、
本実施形態では、フィルタパターン14A、14Bを出
射面16bの共役面S1からわずかにデフォーカスさせ
た位置に配置することによりドットそのものの転写を防
止している。ただし、出射面16bにゴミが付着した場
合にゴミの像がウェハWに転写されることを防止する等
の目的のために、出射面16bをウェハWの共役面から
意図的にはずすように構成する場合もあり、その場合に
は、フィルタパターン14A、14Bがインテグレータ
16の出射面16bと正確に共役になるように配置して
も差し支えない。換言すれば、フィルタパターン14
A、14BがウェハWに対して完全に共役な面でなく、
その近傍に置かれるように配置すればよい。一方、ドッ
トパターンではなく例えば金属薄膜や誘電体膜の膜厚に
よってフィルタパターン14A、14Bの透過率をコン
トロールする場合には、フィルタパターン14A、14
BをウェハWと共役な位置に配置しても間題ない。フィ
ルタパターン14A、14Bに形成するドットパターン
のサイズは、大きすぎるとウェハW上にドットパターン
が転写されるおそれがある一方、小さすぎるとドットパ
ターンによる回折角が大きくなるため効率が低下してし
まうという間題がある。以上のような事情から、ドット
パターンの大きさは、1μm〜100μmの範囲が妥当
である。
【0036】図6は、図4に示すフィルタパターン14
A、14Bの透過率分布の一例を示す。図6(a)は、
フィルタパターン14Aの透過率分布を示し、図6
(b)は、フィルタパターン14Bの透過率分布を示
す。フィルタ14の中央側に配置されているフィルタパ
ターン14Aには、中央の透過率が周辺部より高くなる
ようなドットパターン等を形成し(図6(a)参照)、
フィルタ14の周辺側に配置されているフィルタパター
ン14Bには、中央の透過率が周辺部より低くなるよう
なドットパターン等を形成している(図6(b)参
照)。
【0037】図4及び図6に示すようなパターン配置を
採用した場合、照明光ILの開口絞りの径が小さい場合
(図1のタレット板19において例えば開口絞り19a
が光路上にある場合)には、フィルタパターン14Aを
通過する照明光が支配的になり、ウェハW上での照度
は、フィルタパターンAの透過率を反映してウェハW周
辺部よりもウェハW中心部が低い傾向を示す分布とな
る。また、照明光ILの開口絞り径を次第に大きくして
いった場合((図1のタレット板19において例えば開
口絞り19bが光路上にある場合)には、フィルタパタ
ーン14Bを通過する照明光が増加してフィルタパター
ン14Bの透過率分布の影響が次第に大きくなる。つま
り、タレット板19の光路位置に配置する開口絞りの径
が大きくなるにつれてウェハW上の照度は周辺部が中心
部よりも高い傾向となり、逆に、この開口絞りの径が小
さくなるにつれてウェハW上の照度は中心部が周辺部よ
りも高い傾向となる。このことは、フィルタ14におい
て上記のごときパターン配置をとることにより、照明光
の開口絞りの径に応じてウェハW上の照度分布を適宜変
化させ得ること意味する。
【0038】これを逆に利用すれば、照明光学系等の透
過率ムラなどの何らかの原因によって結果的に開口絞り
の形状によってウェハW上の照度分布が異なってしまう
場合であっても、このような照度分布を相殺して開口絞
りの形状に依存しない照度分布を達成することができ
る。つまり、開口絞りの変更によってウェハW上の照度
分布に生じる変化を補償する適切なフィルタパターンを
フィルタ14上に配置することにより、開口絞りの形状
によってウェハW上の照度分布が異なってしまう現象を
打ち消すことが可能となる。このように、開口絞りの形
状を変化させた時の照度分布を積極的にコントロールす
ることで、開口絞りの形状を変化させても照度分布が変
化しない照明光学系等を構成することができ、微細パタ
ーンの転写精度を向上させることができる。
【0039】上記のように照度分布を積極的にコントロ
ールする場合、単一のフィルタ14をマスクMのパター
ン等の条件に応じて照明光学系の光路中に進退させるだ
けでなく、フィルタパターンが異なる複数種のフィルタ
を準備しておき、これらのフィルタをウェハW上の照度
分布の変化やマスクMのパターンの種類等に応じて適宜
交換する。この際、照度センサ67を利用して検出した
マスクMの種類や、ウェハW上での照度分布及び瞳形状
の分布を、フィルタ交換の判断基準とすることができ
る。
【0040】以上の第1実施形態では、タレット板19
の回転によって開口絞り19a〜19fを切り換えてい
るため、開口絞りの数を増やしても、照明光ILの開口
絞りの直径が不連続に変化することになる。タレット板
19に代えて開口の径を連続的に変化させる絞りを使用
することにより、照明光ILの開口絞りの直径を連続的
に変化させることができるようになる。
【0041】〔第2実施形態〕第2実施形態の露光装置
は、第1実施形態の変形例である。露光装置全体として
の構造は、図1に示すものと同一である。
【0042】第2実施形態の場合、ウェハW上での各像
高における照明光の瞳形状を各像高に対して独立に制御
する。なお、ここで像高とは、光軸からの距離という狭
い意味ではなく、ウェハW面上での2次元的な座標を意
味する。
【0043】第2実施形態の装置でも、図5に示すと同
様のフィルタ14を使用する。ただし、中央のフィルタ
パターン140として、図6(a)に示すような中央の
透過率が周辺部より高くなるようなパターンを適用し、
周辺のフィルタパターン142a,142bとして、図
6(b)に示すような中央の透過率が周辺部より低くな
るようなパターンを適用し、中間のフィルタパターン1
41a,141bには透過率が一様なパターンを適用す
るものとする。この場合、フィルタパターン140、1
41a、141b、142a、142bは、それぞれ2
次光源100、101a、101b、102a、102
bからの光束の強度分布をコントロールする。
【0044】図7は、ウェハW上での照度分布を示す。
ウェハW上では、フィルタパターン140、141a、
141b、142a、142bに応じた照度分布が重ね
合わされることになる。このとき、ウェハW上の中心位
置Cでは、2次光源100からの光が2次光源102
a、102bからの光よりも強く観測されるのに対し
て、ウェハWの中心から離れた位置P1やP2では、逆に
2次光源100からの光が2次光源102a、102b
からの光よりも弱く観測される。ただし、各2次光源1
00、101a、101b、102a、102bからウ
ェハW上に供給される照明光を加算した照度分布はほぼ
均一となる。
【0045】一方、ウェハW上の中心Cからみた場合、
図8(a)に示すように、光軸に平行な瞳座標上の中心
部の2次光源像の強度が、光軸に対して大きな角度を成
す瞳座標上の周辺部の2次光源像の強度よりも強くな
る。そして、ウェハW上の周辺P1、P2からみた場合、
図8(b)に示すように、光軸に対して大きな角度を成
す周辺部の2次光源像の強度が光軸に平行な中心部の2
次光源像の強度よりも強くなる。このような現象を利用
すれば、フィルタ14に適切なフィルタパターンを配置
することにより、ウェハW上の任意の点において任意の
2次光源分布を形成するような積極的な瞳形状のコント
ロールが可能となる。つまり、ウェハW面上の任意の像
高における2次光源の形状(コヒーレンス・ファクタ)
を各像高に対して独立にコントロールすることが可能と
なり、微細パターンの転写精度を向上させることができ
る。
【0046】〔第3実施形態〕第3実施形態の露光装置
は、第1実施形態の変形例である。露光装置全体として
の構造は、図1に示すものと同一である。
【0047】上記第1実施形態の図6に示す実施例で
は、フィルタパターンが回転対称な場合を示したが、本
発明はこれに限るものではなく、回転非対称な分布のフ
ィルタパターンを用いることもできる。このようなフィ
ルタパターンを用いた場合、ウェハW上の2次元的な任
意の点で任意の照度分布を形成することが可能である。
【0048】図8は、第3実施形態の場合のフィルタ3
14のフィルタパターン314F、314Rの配置方法
を説明する図である。ロッド型のインテグレータ16で
は、隣り合う2次光源からの光束が反転するため、第3
実施形態のようにフィルタ314のフィルタパターン3
14F、314Rが回転非対称である場合は、図示のよ
うに隣り合うフィルタパターンが互いに鏡像になるよう
に配置すると良い。なお、フィルタ314F、314R
の位置に記載されている文字F、Rは、フィルタ314
の中央側と外側とで2種類の透過率分布が有ることを意
味し、文字F、Rの回転位置は非対称性の方向を意味す
る。
【0049】以上、実施形態に即して本発明を説明した
が、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態では、ロッド型オプティカルイン
テグレータとして、断面が四角形のロッドからなるイン
テグレータ16を用いているが、断面形状はこれに限る
ものではなく、六角形など他の断面形状を有するインテ
グレータを用いることができる。この場合、フィルタ1
4等に形成する各々のフィルタパターンは、ロッド型オ
プティカルインテグレータの断面形状と相似形に近いこ
とが照明光の効率的利用の観点から好ましい。
【0050】
【発明の効果】上記照明装置では、照明制御手段がロッ
ド型オプティカルインテグレータの光源側に配置されて
多数の光源像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御す
るので、各光源像から被照射面に供給される光の状態を
簡易・精密に制御することができる。よって、被照射面
上における照度分布や瞳形状等の照明状態を所望の状態
に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の露光装置の構造を説明する概略
図である。
【図2】照明光学系の開口絞りを交換するためのタレッ
ト板を説明する図である。
【図3】照度分布を検出するための装置を説明する断面
構造図である。
【図4】照明制御手段を構成するフィルタの構造を説明
する図である。
【図5】フィルタパターンと2次光源との関係を模式的
に説明する図である。
【図6】(a)、(b)は、フィルタに設けた2種のフ
ィルタパターンを説明する図である。
【図7】第2実施形態の場合のウェハ上での照度分布を
示すグラフである。
【図8】図7の照明光の瞳形状を説明するグラフであ
る。
【図9】第3実施形態のフィルタのパターン配置方法を
説明する図である。
【符号の説明】
3 照明制御手段 11 光源 14,314 フィルタ 14A,14B フィルタパターン 15 集光レンズ 16 インテグレータ 16a 入射面 16b 出射面 19 タレット板 19a〜19f 開口絞り 31 投影光学系 41 アクチュエータ 42 モータ 50 コントローラ 55 入力装置 65 駆動装置 67 照度センサ 100,101a,101b,102a,102b 2次光
源 140,141a,141b,142a,142b フィル
タパターン M マスク S1 共役面 S2 虚像面 S3 実像面 W ウェハ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの光に基づき多数の光源像を形
    成するロッド型オプティカルインテグレータと、 前記ロッド型オプティカルインテグレータにより形成さ
    れる前記多数の光源像からの光をそれぞれ集光して、被
    照射面を照明するリレー光学系と、 前記ロッド型オプティカルインテグレータの光源側に配
    置されて前記多数の光源像での光の強度分布をそれぞれ
    独立に制御する照明制御手段とを有することを特徴とす
    る照明装置。
  2. 【請求項2】 前記照明制御手段を介した光を前記ロッ
    ド型オプティカルインテグレータへ導く集光光学系を前
    記照明制御手段と前記ロッド型オプティカルインテグレ
    ータとの間に配置し、 前記照明制御手段は、前記多数の光源像からの光の透過
    率分布をそれぞれ独立に制御する光学フィルタを含み、 前記光学フィルタは、前記集光光学系、前記ロッド型オ
    プティカルインテグレータおよびリレー光学系に関し
    て、前記被照射面と実質的に光学的に共役な位置に設け
    られていることを特徴とする請求項1に記載の照明装
    置。
  3. 【請求項3】 光源からの光に基づき多数の光源像を形
    成するロッド型オプティカルインテグレータと、 前記ロッド型オプティカルインテグレータにより形成さ
    れる前記多数の光源像からの光をそれぞれ集光して、マ
    スクを照明するリレー光学系と、 前記マスクのパターンを感光性基板上に投影する投影系
    と、 前記ロッド型オプティカルインテグレータの光源側に配
    置されて前記多数の光源像での光の強度分布をそれぞれ
    独立に制御する照明制御手段とを有することを特徴とす
    る露光装置。
  4. 【請求項4】 光源からの光に基づき多数の光源像を形
    成するロッド型オプティカルインテグレータを用いて、
    該ロッド型オプティカルインテグレータの光源側におい
    て多数の光源像での光の強度分布をそれぞれ独立に制御
    する光制御工程と、 該光制御工程によって光の強度分布がそれぞれ独立に制
    御された前記多数の光源からの光をそれぞれ集光して、
    マスクを照明する工程と、 前記マスクのパターンを感光性基板に露光する露光工程
    とを含むことを特徴とする露光方法。
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