JP2000215454A - 光ディスク記録装置、及び光ディスクへの情報記録方法 - Google Patents
光ディスク記録装置、及び光ディスクへの情報記録方法Info
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- JP2000215454A JP2000215454A JP11018874A JP1887499A JP2000215454A JP 2000215454 A JP2000215454 A JP 2000215454A JP 11018874 A JP11018874 A JP 11018874A JP 1887499 A JP1887499 A JP 1887499A JP 2000215454 A JP2000215454 A JP 2000215454A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスクの種類によらずにレーザの書き込
みパワーの的確な補正を行える光ディスク記録装置、情
報記録方法を提供する。 【解決手段】 光ディスクのスペシャル情報で光ディス
クの種類を判別するか、またはＢ値／ｐｅａｋ演算回路
１０で反射光強度レベルの検出結果より光ディスクの種
類を判別し、タイミング制御回路９で光ディスクの種類
に応じてＢ値をサンプルホールドするタイミングを切り
替えるようにした。これにより、ＬＤ１の書き込みパワ
ーの変化に対するＢ値の変化量が大きくなるタイミング
でＢ値をサンプリングでき、光ディスクの種類に関わら
ずランニングＯＰＣによる書き込みパワーの補正を精度
良く行うことができる。
みパワーの的確な補正を行える光ディスク記録装置、情
報記録方法を提供する。 【解決手段】 光ディスクのスペシャル情報で光ディス
クの種類を判別するか、またはＢ値／ｐｅａｋ演算回路
１０で反射光強度レベルの検出結果より光ディスクの種
類を判別し、タイミング制御回路９で光ディスクの種類
に応じてＢ値をサンプルホールドするタイミングを切り
替えるようにした。これにより、ＬＤ１の書き込みパワ
ーの変化に対するＢ値の変化量が大きくなるタイミング
でＢ値をサンプリングでき、光ディスクの種類に関わら
ずランニングＯＰＣによる書き込みパワーの補正を精度
良く行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、追記型光
ディスク（Compact Disk-Recordable ：以下、ＣＤ−
Ｒ）にレーザ等の光源から光ビームを照射してデータの
書き込みを行う光ディスク記録装置、及び光ディスクへ
の情報記録方法に関する。
ディスク（Compact Disk-Recordable ：以下、ＣＤ−
Ｒ）にレーザ等の光源から光ビームを照射してデータの
書き込みを行う光ディスク記録装置、及び光ディスクへ
の情報記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ディスク記録装置において、Ｃ
Ｄ−Ｒ等の光ディスクにデータ信号を記録する場合、デ
ータ信号に対してＣＩＲＣ(Cross Interleaved Read-So
lomonCode) 等により誤り訂正のためのパリティが付加
されると共に、さらにこれをＥＦＭ（Eight to Fourtee
n Modulation）方式により変調することによって記録が
行われる。ＥＦＭ変調を行うことにより、基準ディジタ
ル信号のハイレベル及びローレベルの時間幅として、所
定の基準時間幅Ｔの３〜１１倍の９通りの時間幅（以
下、３Ｔ〜１１Ｔ時間幅と称する。）が与えられる。光
ディスク記録装置は、この基準ディジタル信号に基づい
て光ディスクに対しレーザによってレーザ光が照射さ
れ、記録層にピット部が形成される。例えば、基準ディ
ジタル信号のハイレベルの期間にピット部を形成できる
強度のパルス状のレーザ光が照射される。
Ｄ−Ｒ等の光ディスクにデータ信号を記録する場合、デ
ータ信号に対してＣＩＲＣ(Cross Interleaved Read-So
lomonCode) 等により誤り訂正のためのパリティが付加
されると共に、さらにこれをＥＦＭ（Eight to Fourtee
n Modulation）方式により変調することによって記録が
行われる。ＥＦＭ変調を行うことにより、基準ディジタ
ル信号のハイレベル及びローレベルの時間幅として、所
定の基準時間幅Ｔの３〜１１倍の９通りの時間幅（以
下、３Ｔ〜１１Ｔ時間幅と称する。）が与えられる。光
ディスク記録装置は、この基準ディジタル信号に基づい
て光ディスクに対しレーザによってレーザ光が照射さ
れ、記録層にピット部が形成される。例えば、基準ディ
ジタル信号のハイレベルの期間にピット部を形成できる
強度のパルス状のレーザ光が照射される。
【０００３】追記型光ディスクに情報を記録する際に
は、まずレーザによる書き込みパワー（Write Power ）
の最適化が行われる。この最適化は、ＯＰＣ（Optimum
PowerControl ）といい、光ディスクのパワーキャリブ
レーションエリア（Power Calibration Area：以下、Ｐ
ＣＡ）にレーザ光を照射して所定の情報を記録するとと
もに、記録した情報を再生することによってレーザの書
き込みパワーの最適化が行われる。ＰＣＡは、テストエ
リアとカウントエリアとに分けられ、それぞれ１００個
のパーティションに分けられている。
は、まずレーザによる書き込みパワー（Write Power ）
の最適化が行われる。この最適化は、ＯＰＣ（Optimum
PowerControl ）といい、光ディスクのパワーキャリブ
レーションエリア（Power Calibration Area：以下、Ｐ
ＣＡ）にレーザ光を照射して所定の情報を記録するとと
もに、記録した情報を再生することによってレーザの書
き込みパワーの最適化が行われる。ＰＣＡは、テストエ
リアとカウントエリアとに分けられ、それぞれ１００個
のパーティションに分けられている。
【０００４】ＯＰＣについて、図５を用いて説明する。
図５(a) に示すようにテストエリアの１パーティション
は１５フレームで構成され、１回の試し書きにおいて１
パーティションが使用される。このテストエリアでは１
５フレームの間でレーザの書き込みパワーを１５段階で
試し書きを行い、その中で最も記録状態の良かった書き
込みパワーを選択する。そして、これによって決定され
た書き込みパワーで以降の情報記録を行って光ディスク
にピット部を形成する。また、図５(b) に示すように、
ＰＣＡのテストエリアにおける１５回のテストを行う
際、レーザの書き込みパワーを段階的に増加させると、
それに応じてｐｅａｋ値は増加する（図５(c) 参照）。
ここでｐｅａｋ値とは、情報記録時におけるピット部か
らの反射光強度の最大値であり、ピット部の先端部から
の反射光強度である。また、情報記録時におけるピット
部からの反射光強度の最低値であるＢ値は、シアニン系
光ディスクの場合は、図５(d) に示すように、レーザの
書き込みパワーの増加に応じてＢ値も減少するのに対
し、フタロシアニン系光ディスクの場合は、図５(e) に
示すように、最初は書き込みパワーに応じてＢ値は減少
するが、ある程度書き込みパワーが増加するとＢ値は飽
和し、逆に増加する傾向がある。このＢ値は、通常、ピ
ット部の後端部からの反射光強度である。
図５(a) に示すようにテストエリアの１パーティション
は１５フレームで構成され、１回の試し書きにおいて１
パーティションが使用される。このテストエリアでは１
５フレームの間でレーザの書き込みパワーを１５段階で
試し書きを行い、その中で最も記録状態の良かった書き
込みパワーを選択する。そして、これによって決定され
た書き込みパワーで以降の情報記録を行って光ディスク
にピット部を形成する。また、図５(b) に示すように、
ＰＣＡのテストエリアにおける１５回のテストを行う
際、レーザの書き込みパワーを段階的に増加させると、
それに応じてｐｅａｋ値は増加する（図５(c) 参照）。
ここでｐｅａｋ値とは、情報記録時におけるピット部か
らの反射光強度の最大値であり、ピット部の先端部から
の反射光強度である。また、情報記録時におけるピット
部からの反射光強度の最低値であるＢ値は、シアニン系
光ディスクの場合は、図５(d) に示すように、レーザの
書き込みパワーの増加に応じてＢ値も減少するのに対
し、フタロシアニン系光ディスクの場合は、図５(e) に
示すように、最初は書き込みパワーに応じてＢ値は減少
するが、ある程度書き込みパワーが増加するとＢ値は飽
和し、逆に増加する傾向がある。このＢ値は、通常、ピ
ット部の後端部からの反射光強度である。
【０００５】ところで、光ディスク記録装置は、ピット
部後端部からの反射光強度であるＢ値を検出するＢ値検
出回路を備え、情報記録時においてはこのＢ値検出回路
にてＢ値を検出してレーザの書き込みパワーを随時補正
するようにしている。このように実際の情報記録時にレ
ーザの書き込みパワーを随時補正して制御することをラ
ンニングＯＰＣ（Running ＯＰＣ）という。ランニング
ＯＰＣは、Ｂ値検出回路にて、上述したＯＰＣ時におけ
るピット部からの反射光強度と情報記録時におけるピッ
ト部からの反射光強度とを比較し、この比較結果に基づ
いて、ＯＰＣ時に求めたレーザの書き込みパワーに対し
て随時補正を行いながら情報記録を行うというものであ
る。ここでは、反射光強度を求めるピット部として、そ
の基準時間幅が例えば１１Ｔ時間幅を有するピット部が
用いられ、ランニングＯＰＣは、このピット部の後端部
からの反射光強度であるＢ値が使用される。
部後端部からの反射光強度であるＢ値を検出するＢ値検
出回路を備え、情報記録時においてはこのＢ値検出回路
にてＢ値を検出してレーザの書き込みパワーを随時補正
するようにしている。このように実際の情報記録時にレ
ーザの書き込みパワーを随時補正して制御することをラ
ンニングＯＰＣ（Running ＯＰＣ）という。ランニング
ＯＰＣは、Ｂ値検出回路にて、上述したＯＰＣ時におけ
るピット部からの反射光強度と情報記録時におけるピッ
ト部からの反射光強度とを比較し、この比較結果に基づ
いて、ＯＰＣ時に求めたレーザの書き込みパワーに対し
て随時補正を行いながら情報記録を行うというものであ
る。ここでは、反射光強度を求めるピット部として、そ
の基準時間幅が例えば１１Ｔ時間幅を有するピット部が
用いられ、ランニングＯＰＣは、このピット部の後端部
からの反射光強度であるＢ値が使用される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図６に光出力に対する
シアニン系光ディスクとフタロシアニン系光ディスクと
の反射光強度レベルの変化の図を示し、図６(a) は光出
力、図６(b) はシアニン系光ディスクの反射光強度レベ
ル、図６(c) はフタロシアニン系光ディスクの反射光強
度レベルを示す。上述した従来の追記型光ディスク記録
装置では、情報記録中に１１Ｔ時間幅を有するピット部
の後端部からの反射光強度であるＢ値に基づいてレーザ
の書き込みパワーを補正するようにしているが、図６に
示すように、１１Ｔ時間幅のピット部の後端部からの反
射光強度Ｂ値については、この後端部にはある程度ピッ
ト部が形成されているので、レーザの書き込みパワーを
上げても、レーザの書き込みパワーの変化に伴う反射光
強度レベルの変化量は、図６(b)(c)に示すように小さ
く、特にフタロシアニン系光ディスクでは非常に小さ
い。
シアニン系光ディスクとフタロシアニン系光ディスクと
の反射光強度レベルの変化の図を示し、図６(a) は光出
力、図６(b) はシアニン系光ディスクの反射光強度レベ
ル、図６(c) はフタロシアニン系光ディスクの反射光強
度レベルを示す。上述した従来の追記型光ディスク記録
装置では、情報記録中に１１Ｔ時間幅を有するピット部
の後端部からの反射光強度であるＢ値に基づいてレーザ
の書き込みパワーを補正するようにしているが、図６に
示すように、１１Ｔ時間幅のピット部の後端部からの反
射光強度Ｂ値については、この後端部にはある程度ピッ
ト部が形成されているので、レーザの書き込みパワーを
上げても、レーザの書き込みパワーの変化に伴う反射光
強度レベルの変化量は、図６(b)(c)に示すように小さ
く、特にフタロシアニン系光ディスクでは非常に小さ
い。
【０００７】図７にレーザの書き込みパワーの変化に対
するＢ値／ｐｅａｋ値の変化の模式図を示す。図７にお
いて、横軸にレーザの書き込みパワー（Write Power
）、縦軸にＢ値／ｐｅａｋ値の値をとっている。シア
ニン系光ディスクとフタロシアニン系光ディスクとで
は、図５(d)(e)に示したように、レーザの書き込みパワ
ーを段階的に増加させると、シアニン系光ディスクの場
合は書き込みパワーの増加に応じてＢ値も減少するのに
対し、フタロシアニン系光ディスクの場合は、最初は書
き込みパワーに応じてＢ値は減少するが、ある程度書き
込みパワーが増加するとＢ値は飽和し、逆に増加する傾
向があった。シアニン系光ディスクとフタロシアニン系
光ディスクとではこのような傾向があるため、レーザの
書き込みパワーを増加させたときのＢ値／ｐｅａｋ値の
値の変化を見ると、シアニン系では、図７の実線で示す
ように、書き込みパワーの増加に応じてＢ値／ｐｅａｋ
値が減少する一方で、フタロシアニン系では、図７の点
線で示すように、始めは書き込みパワーの増加に応じて
Ｂ値／ｐｅａｋ値の値が減少するが、ある程度書き込み
パワーを大きくするとＢ値／ｐｅａｋ値の値が変化せず
飽和する傾向がある。したがって、フタロシアニン系の
光ディスクでは、レーザの最適記録パワー周辺で書き込
みパワーが変化してもＢ値／ｐｅａｋ値の変化量が小さ
く、このため、レーザの書き込みパワーの変動の検出感
度は悪いものとなる。このように、使用する光ディスク
の種類によってはレーザの書き込みパワーの変動の検出
感度が大きく低下したものとなることがあるので、レー
ザの書き込みパワーの変動を検出できなかったり、ある
いは誤検出することがあり、そのため、光ディスクの種
類に関わらずランニングＯＰＣにおけるレーザの書き込
みパワーを精度良く補正することは困難であるという問
題があった。本発明は、前記の問題点に鑑み、光ディス
クの種類に関わらず情報記録時において光源の書き込み
パワーを的確に補正することができる光ディスク記録装
置、及び光ディスクへの情報記録方法を提供するもので
ある。
するＢ値／ｐｅａｋ値の変化の模式図を示す。図７にお
いて、横軸にレーザの書き込みパワー（Write Power
）、縦軸にＢ値／ｐｅａｋ値の値をとっている。シア
ニン系光ディスクとフタロシアニン系光ディスクとで
は、図５(d)(e)に示したように、レーザの書き込みパワ
ーを段階的に増加させると、シアニン系光ディスクの場
合は書き込みパワーの増加に応じてＢ値も減少するのに
対し、フタロシアニン系光ディスクの場合は、最初は書
き込みパワーに応じてＢ値は減少するが、ある程度書き
込みパワーが増加するとＢ値は飽和し、逆に増加する傾
向があった。シアニン系光ディスクとフタロシアニン系
光ディスクとではこのような傾向があるため、レーザの
書き込みパワーを増加させたときのＢ値／ｐｅａｋ値の
値の変化を見ると、シアニン系では、図７の実線で示す
ように、書き込みパワーの増加に応じてＢ値／ｐｅａｋ
値が減少する一方で、フタロシアニン系では、図７の点
線で示すように、始めは書き込みパワーの増加に応じて
Ｂ値／ｐｅａｋ値の値が減少するが、ある程度書き込み
パワーを大きくするとＢ値／ｐｅａｋ値の値が変化せず
飽和する傾向がある。したがって、フタロシアニン系の
光ディスクでは、レーザの最適記録パワー周辺で書き込
みパワーが変化してもＢ値／ｐｅａｋ値の変化量が小さ
く、このため、レーザの書き込みパワーの変動の検出感
度は悪いものとなる。このように、使用する光ディスク
の種類によってはレーザの書き込みパワーの変動の検出
感度が大きく低下したものとなることがあるので、レー
ザの書き込みパワーの変動を検出できなかったり、ある
いは誤検出することがあり、そのため、光ディスクの種
類に関わらずランニングＯＰＣにおけるレーザの書き込
みパワーを精度良く補正することは困難であるという問
題があった。本発明は、前記の問題点に鑑み、光ディス
クの種類に関わらず情報記録時において光源の書き込み
パワーを的確に補正することができる光ディスク記録装
置、及び光ディスクへの情報記録方法を提供するもので
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に係る
光ディスク記録装置は、光ディスクにレーザ光を照射し
て情報が記録されるピット部を形成する光源と、前記ピ
ット部の後端部からの反射光強度としてのＢ値に基づい
て前記レーザ光の書き込みパワーを補正する光出力制御
手段とを備えた光ディスク記録装置において、前記光源
の書き込みパワーの変化に伴うピット部からの反射光強
度レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類を判別す
る光ディスク判別手段と、前記光ディスク判別手段で判
別した光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値をサンプルホ
ールドするタイミングを切り替えるタイミング制御手段
とを備えたことを特徴とするものである。
光ディスク記録装置は、光ディスクにレーザ光を照射し
て情報が記録されるピット部を形成する光源と、前記ピ
ット部の後端部からの反射光強度としてのＢ値に基づい
て前記レーザ光の書き込みパワーを補正する光出力制御
手段とを備えた光ディスク記録装置において、前記光源
の書き込みパワーの変化に伴うピット部からの反射光強
度レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類を判別す
る光ディスク判別手段と、前記光ディスク判別手段で判
別した光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値をサンプルホ
ールドするタイミングを切り替えるタイミング制御手段
とを備えたことを特徴とするものである。
【０００９】本発明の請求項２に係る光ディスク記録装
置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスク判別手段は、反射光強度レベルの傾きの
大きさが所定値より大きければ光ディスクの種類をフタ
ロシアニン系光ディスクと判別し、反射光強度レベルの
傾きの大きさが所定値より小さければ光ディスクの種類
をシアニン系光ディスクと判別するものであり、前記タ
イミング制御手段は、前記光ディスク判別手段で光ディ
スクの種類をシアニン系光ディスクと判断すると、ピッ
ト部の後半部分からＢ値をサンプルホールドするタイミ
ングに切り換え、前記光ディスク判別手段で光ディスク
の種類をフタロシアニン系光ディスクと判断すると、ピ
ット部の前半部分でＢ値をサンプルホールドするタイミ
ングに切り換えるようにしたものであることを特徴とす
るものである。
置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスク判別手段は、反射光強度レベルの傾きの
大きさが所定値より大きければ光ディスクの種類をフタ
ロシアニン系光ディスクと判別し、反射光強度レベルの
傾きの大きさが所定値より小さければ光ディスクの種類
をシアニン系光ディスクと判別するものであり、前記タ
イミング制御手段は、前記光ディスク判別手段で光ディ
スクの種類をシアニン系光ディスクと判断すると、ピッ
ト部の後半部分からＢ値をサンプルホールドするタイミ
ングに切り換え、前記光ディスク判別手段で光ディスク
の種類をフタロシアニン系光ディスクと判断すると、ピ
ット部の前半部分でＢ値をサンプルホールドするタイミ
ングに切り換えるようにしたものであることを特徴とす
るものである。
【００１０】本発明の請求項３に係る光ディスクへの情
報記録方法は、実際の情報の記録に先立って、レーザ光
を光ディスクに照射して試し書きを行うと共に、この試
し書きした情報を読み出して前記レーザ光の最適パワー
を求め、この最適パワーによって実際の情報の記録を行
う際にレーザ光照射により形成されるピット部の後端部
からの反射光強度としてのＢ値に基づいて前記レーザ光
の最適パワーを補正しながら光ディスクに情報記録を行
う光ディスクへの情報記録方法において、前記光ディス
クのスペシャル情報に記録された情報、またはレーザ光
の書き込みパワーの変化に伴う反射光強度レベルの傾き
の大きさから光ディスクの種類を判別し、前記判別結果
から光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値をサンプルホー
ルドするタイミングの切り換えを行うようにしたことを
特徴とするものである。
報記録方法は、実際の情報の記録に先立って、レーザ光
を光ディスクに照射して試し書きを行うと共に、この試
し書きした情報を読み出して前記レーザ光の最適パワー
を求め、この最適パワーによって実際の情報の記録を行
う際にレーザ光照射により形成されるピット部の後端部
からの反射光強度としてのＢ値に基づいて前記レーザ光
の最適パワーを補正しながら光ディスクに情報記録を行
う光ディスクへの情報記録方法において、前記光ディス
クのスペシャル情報に記録された情報、またはレーザ光
の書き込みパワーの変化に伴う反射光強度レベルの傾き
の大きさから光ディスクの種類を判別し、前記判別結果
から光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値をサンプルホー
ルドするタイミングの切り換えを行うようにしたことを
特徴とするものである。
【００１１】本発明の請求項４に係る光ディスクへの情
報記録方法は、請求項３に記載の光ディスクへの情報記
録方法において、前記ピット部は、レーザ光を照射する
タイミングとなる基準時間幅Ｔの１１倍である時間幅１
１Ｔを有し、前記光ディスクの種類がシアニン系光ディ
スクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの４Ｔ以降とな
るピット部後半部分のタイミングでＢ値のサンプルホー
ルドを行い、前記光ディスクの種類がフタロシアニン系
光ディスクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの２〜３
Ｔとなるピット部前半部分のタイミングでＢ値のサンプ
ルホールドを行うようにしたことを特徴とするものであ
る。
報記録方法は、請求項３に記載の光ディスクへの情報記
録方法において、前記ピット部は、レーザ光を照射する
タイミングとなる基準時間幅Ｔの１１倍である時間幅１
１Ｔを有し、前記光ディスクの種類がシアニン系光ディ
スクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの４Ｔ以降とな
るピット部後半部分のタイミングでＢ値のサンプルホー
ルドを行い、前記光ディスクの種類がフタロシアニン系
光ディスクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの２〜３
Ｔとなるピット部前半部分のタイミングでＢ値のサンプ
ルホールドを行うようにしたことを特徴とするものであ
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて説明する。図１は、本発明の実施の形態による光デ
ィスク記録装置の構成を示すブロック図である。本実施
の形態による光ディスク記録装置は、図１に示すよう
に、レーザダイオード（Laser Diode ：以下、ＬＤ）１
から光ディスク１１にレーザ光を照射し光ディスク１１
にピット部を形成してデータの書き込みを行う装置であ
って、前記ピット部の後端部からの反射光強度であるＢ
値に基づいてＬＤ１の書き込みパワーを随時制御する光
出力制御回路５を備える。本実施の形態では、記録を行
う基準ディジタル信号のハイレベルおよびローレベルの
基準時間幅Ｔの１１倍（１１Ｔ時間幅）を有するピット
部が用いられる。また、本実施の形態の光ディスク記録
装置は、モニタ用フォトダイオード２、サーボ／ＲＦ用
フォトダイオード３、ＡＰＣ（Automatic Power Contro
l ）回路４、およびランニングＯＰＣループフィルタ回
路６を備える。ＬＤ１は、光ディスク１１にレーザ光を
照射して、光ディスク１１の記録層に情報記録を行うピ
ット部を形成するための光源である。モニタ用フォトダ
イオード２は、光ディスク１１に照射されるレーザ光の
内の一部を受光してその光出力レベルをモニタし、これ
を電気信号に変換するものである。ＡＰＣ回路４は、モ
ニタ用フォトダイオード２の出力を用いてＬＤ１の光出
力を補正するものであり、これにより、光ディスク１１
に照射する再生時の再生パワーと記録時の記録パワーと
を所定の値に保たれる。サーボ／ＲＦ用フォトダイオー
ド３は、光ディスク１１に照射したレーザ光の反射光を
受光し、これを電気信号に変換するものである。また、
光出力制御回路５は、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード
３の出力の内、Ｂ値を検出し、Ｂ値に基づいてＬＤ１の
書き込みパワーを制御するものである。この光出力制御
回路５の構成は、後述する。ランニングＯＰＣループフ
ィルタ回路６は、前記光出力制御手段５の指令を基に、
ランニングＯＰＣの制御帯域やゲインを設定するもので
ある。なお、ランニングＯＰＣとは、従来の技術で説明
したように、試し書き時におけるピット部からの反射光
強度と、情報記録時におけるピット部からの反射光強度
とを比較し、この比較結果に基づいて、ＬＤ１の最適パ
ワーを随時補正しながら情報記録を行うということであ
る。このランニングＯＰＣループフィルタ回路６の出力
によってＡＰＣ回路４のＬＤ１による記録パワーの設定
値が変えられ、これにより、ＬＤ１の記録パワーを可変
しＢ値が所定の値になるように制御される。
いて説明する。図１は、本発明の実施の形態による光デ
ィスク記録装置の構成を示すブロック図である。本実施
の形態による光ディスク記録装置は、図１に示すよう
に、レーザダイオード（Laser Diode ：以下、ＬＤ）１
から光ディスク１１にレーザ光を照射し光ディスク１１
にピット部を形成してデータの書き込みを行う装置であ
って、前記ピット部の後端部からの反射光強度であるＢ
値に基づいてＬＤ１の書き込みパワーを随時制御する光
出力制御回路５を備える。本実施の形態では、記録を行
う基準ディジタル信号のハイレベルおよびローレベルの
基準時間幅Ｔの１１倍（１１Ｔ時間幅）を有するピット
部が用いられる。また、本実施の形態の光ディスク記録
装置は、モニタ用フォトダイオード２、サーボ／ＲＦ用
フォトダイオード３、ＡＰＣ（Automatic Power Contro
l ）回路４、およびランニングＯＰＣループフィルタ回
路６を備える。ＬＤ１は、光ディスク１１にレーザ光を
照射して、光ディスク１１の記録層に情報記録を行うピ
ット部を形成するための光源である。モニタ用フォトダ
イオード２は、光ディスク１１に照射されるレーザ光の
内の一部を受光してその光出力レベルをモニタし、これ
を電気信号に変換するものである。ＡＰＣ回路４は、モ
ニタ用フォトダイオード２の出力を用いてＬＤ１の光出
力を補正するものであり、これにより、光ディスク１１
に照射する再生時の再生パワーと記録時の記録パワーと
を所定の値に保たれる。サーボ／ＲＦ用フォトダイオー
ド３は、光ディスク１１に照射したレーザ光の反射光を
受光し、これを電気信号に変換するものである。また、
光出力制御回路５は、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード
３の出力の内、Ｂ値を検出し、Ｂ値に基づいてＬＤ１の
書き込みパワーを制御するものである。この光出力制御
回路５の構成は、後述する。ランニングＯＰＣループフ
ィルタ回路６は、前記光出力制御手段５の指令を基に、
ランニングＯＰＣの制御帯域やゲインを設定するもので
ある。なお、ランニングＯＰＣとは、従来の技術で説明
したように、試し書き時におけるピット部からの反射光
強度と、情報記録時におけるピット部からの反射光強度
とを比較し、この比較結果に基づいて、ＬＤ１の最適パ
ワーを随時補正しながら情報記録を行うということであ
る。このランニングＯＰＣループフィルタ回路６の出力
によってＡＰＣ回路４のＬＤ１による記録パワーの設定
値が変えられ、これにより、ＬＤ１の記録パワーを可変
しＢ値が所定の値になるように制御される。
【００１３】図２は、前記光出力制御回路５の構成を示
した図である。光出力制御回路５は、図２に示すよう
に、ｐｅａｋ検出回路７、Ｂ値を検出するサンプルホー
ルド回路８、サンプルホールドタイミングを設定するタ
イミング制御回路９、およびＢ値／ｐｅａｋ値を求める
Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０を備える。ｐｅａｋ検出
回路７では、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード３の出力
の内、ｐｅａｋ値を検出する。サンプルホールド回路８
では、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード３の出力の内、
Ｂ値を検出する。タイミング制御回路９では、サンプル
ホールド回路８がＢ値のサンプルホールドを行うタイミ
ングを制御する。ここでのタイミング制御は、記録を行
う光ディスク１１がシアニン系光ディスクか、フタロシ
アニン系光ディスクかによってＢ値をサンプリングする
タイミングの切り換えが行われる。具体的には、光ディ
スク１１の種類が、シアニン系光ディスクであれば、基
準時間幅１１Ｔを有するピット部の４Ｔ以降部分に当た
る遅めのタイミングで行い、フタロシアニン系光ディス
クであれば、ピット部の２〜３Ｔ部分に当たる早めのタ
イミングで行うようサンプルタイミングの切り換えを行
う。Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０では、ｐｅａｋ検出
回路７とサンプルホールド回路８とからそれぞれ得たｐ
ｅａｋ値とＢ値とからＢ値／ｐｅａｋ値の値を求め、こ
こで求めた値が所定値以上であれば光ディスク１１の種
類をシアニン系光ディスクと認識し、所定値より小さけ
れば光ディスク１１の種類をフタロシアニン系光ディス
クと認識する。そして、このＢ値／ｐｅａｋ値演算回路
１０で判別された光ディスク１１の種類を前記タイミン
グ制御回路９へ送る。
した図である。光出力制御回路５は、図２に示すよう
に、ｐｅａｋ検出回路７、Ｂ値を検出するサンプルホー
ルド回路８、サンプルホールドタイミングを設定するタ
イミング制御回路９、およびＢ値／ｐｅａｋ値を求める
Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０を備える。ｐｅａｋ検出
回路７では、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード３の出力
の内、ｐｅａｋ値を検出する。サンプルホールド回路８
では、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード３の出力の内、
Ｂ値を検出する。タイミング制御回路９では、サンプル
ホールド回路８がＢ値のサンプルホールドを行うタイミ
ングを制御する。ここでのタイミング制御は、記録を行
う光ディスク１１がシアニン系光ディスクか、フタロシ
アニン系光ディスクかによってＢ値をサンプリングする
タイミングの切り換えが行われる。具体的には、光ディ
スク１１の種類が、シアニン系光ディスクであれば、基
準時間幅１１Ｔを有するピット部の４Ｔ以降部分に当た
る遅めのタイミングで行い、フタロシアニン系光ディス
クであれば、ピット部の２〜３Ｔ部分に当たる早めのタ
イミングで行うようサンプルタイミングの切り換えを行
う。Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０では、ｐｅａｋ検出
回路７とサンプルホールド回路８とからそれぞれ得たｐ
ｅａｋ値とＢ値とからＢ値／ｐｅａｋ値の値を求め、こ
こで求めた値が所定値以上であれば光ディスク１１の種
類をシアニン系光ディスクと認識し、所定値より小さけ
れば光ディスク１１の種類をフタロシアニン系光ディス
クと認識する。そして、このＢ値／ｐｅａｋ値演算回路
１０で判別された光ディスク１１の種類を前記タイミン
グ制御回路９へ送る。
【００１４】次に、本実施の形態による光ディスク記録
装置の動作を説明する。光ディスク１１に実際の情報を
記録するのに先立って、ＬＤ１の最適パワーを決定する
と共に、光ディスク１１の種類の判別がなされる。ま
ず、光ディスク１１の種類の判別は、データの記録時に
光ディスク１１のスペシャル情報から光ディスク１１に
記録されているディスク情報が読み出され、このスペシ
ャル情報より光ディスク１１のメーカが既存のディスク
メーカであると特定されれば、該ディスクメーカから光
ディスク１１の種類がシアニン系光ディスクか、あるい
はフタロシアニン系光ディスクかが明らかになる。しか
し、既存のディスクメーカではなく、新規のディスクメ
ーカであれば、光ディスク１１の種類の判別が不可能で
あるため、その場合には以下に述べるように、ＬＤ１の
最適パワーの決定とともに光ディスク１１の種類の判別
を行う。
装置の動作を説明する。光ディスク１１に実際の情報を
記録するのに先立って、ＬＤ１の最適パワーを決定する
と共に、光ディスク１１の種類の判別がなされる。ま
ず、光ディスク１１の種類の判別は、データの記録時に
光ディスク１１のスペシャル情報から光ディスク１１に
記録されているディスク情報が読み出され、このスペシ
ャル情報より光ディスク１１のメーカが既存のディスク
メーカであると特定されれば、該ディスクメーカから光
ディスク１１の種類がシアニン系光ディスクか、あるい
はフタロシアニン系光ディスクかが明らかになる。しか
し、既存のディスクメーカではなく、新規のディスクメ
ーカであれば、光ディスク１１の種類の判別が不可能で
あるため、その場合には以下に述べるように、ＬＤ１の
最適パワーの決定とともに光ディスク１１の種類の判別
を行う。
【００１５】ＬＤ１の最適パワーを決定するには、従来
の技術で図５を用いて説明したように、光ディスク１１
のＰＣＡのテストエリアにおいて、１５段階の書き込み
パワーで試し書きを行い、これを再生し最も記録状態の
良かった書き込みパワーが最適パワーとして選ばれ、情
報記録時の書き込みパワーとして決定される。また、サ
ーボ／ＲＦ用フォトダイオード３で受光した光ディスク
１１の反射光より、光出力制御回路５において、ｐｅａ
ｋ検出回路７でｐｅａｋ値の検出が行われ、また、サン
プルホールド回路８でＢ値の検出が行われる。そして、
Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０においてＢ値／ｐｅａｋ
値の値が求められる。光ディスク１１への書き込みパワ
ーの変化によるＢ値／ｐｅａｋ値の変化は、図７に示し
たように、フタロシアニン系光ディスクでは書き込みパ
ワーが増加するにつれて徐々に減少して行くのに対し、
フタロシアニン系光ディスクでは始めは書き込みパワー
の増加に伴ってＢ値／ｐｅａｋ値の値は徐々に減少して
いくが、書き込みパワーが大きくなってくるとＢ値／ｐ
ｅａｋ値の値の変化量は小さくなって行き、やがてＢ値
／ｐｅａｋ値はあるレベルに収束してしまう。そのた
め、フタロシアニン系光ディスクではシアニン系光ディ
スクと比べると、最適レーザパワー付近の傾きが小さく
なる。したがって、このような傾向を利用して光ディス
クの種類の判別が行われる。
の技術で図５を用いて説明したように、光ディスク１１
のＰＣＡのテストエリアにおいて、１５段階の書き込み
パワーで試し書きを行い、これを再生し最も記録状態の
良かった書き込みパワーが最適パワーとして選ばれ、情
報記録時の書き込みパワーとして決定される。また、サ
ーボ／ＲＦ用フォトダイオード３で受光した光ディスク
１１の反射光より、光出力制御回路５において、ｐｅａ
ｋ検出回路７でｐｅａｋ値の検出が行われ、また、サン
プルホールド回路８でＢ値の検出が行われる。そして、
Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路１０においてＢ値／ｐｅａｋ
値の値が求められる。光ディスク１１への書き込みパワ
ーの変化によるＢ値／ｐｅａｋ値の変化は、図７に示し
たように、フタロシアニン系光ディスクでは書き込みパ
ワーが増加するにつれて徐々に減少して行くのに対し、
フタロシアニン系光ディスクでは始めは書き込みパワー
の増加に伴ってＢ値／ｐｅａｋ値の値は徐々に減少して
いくが、書き込みパワーが大きくなってくるとＢ値／ｐ
ｅａｋ値の値の変化量は小さくなって行き、やがてＢ値
／ｐｅａｋ値はあるレベルに収束してしまう。そのた
め、フタロシアニン系光ディスクではシアニン系光ディ
スクと比べると、最適レーザパワー付近の傾きが小さく
なる。したがって、このような傾向を利用して光ディス
クの種類の判別が行われる。
【００１６】図３に光ディスクの判別方法を示す。この
光ディスクの判別は、光出力制御回路５におけるＢ値／
ｐｅａｋ値演算回路１０にて行われる。図３はＰＣＡの
テストエリアにおける１５回のパワーテストから求めら
れた書き込みパワー（WritePower ）の変化によるＢ値
／ｐｅａｋ値の変化を示しており、このとき同時に最適
記録パワーＰも求められる。まず、光ディスク１１の判
別を行う場合、書き込みパワーが最適記録パワー周辺
で、シアニン系光ディスクは書き込みパワーの変化に対
するＢ値／ｐｅａｋ値の変化の傾きが大きく、一方、フ
タロシアニン系光ディスクでは、Ｂ値／ｐｅａｋ値はほ
とんどある値に収束し、その傾きが小さい。したがっ
て、そのＢ値／ｐｅａｋ値の値の違いから光ディスク１
１の判別を行う。すなわち、ディスク判別の一例とし
て、図３では、まず、次式のように、最適記録パワーＰ
の±０．５ｍＷの範囲におけるＢ値／ｐｅａｋ値の傾き
ａを求める。
光ディスクの判別は、光出力制御回路５におけるＢ値／
ｐｅａｋ値演算回路１０にて行われる。図３はＰＣＡの
テストエリアにおける１５回のパワーテストから求めら
れた書き込みパワー（WritePower ）の変化によるＢ値
／ｐｅａｋ値の変化を示しており、このとき同時に最適
記録パワーＰも求められる。まず、光ディスク１１の判
別を行う場合、書き込みパワーが最適記録パワー周辺
で、シアニン系光ディスクは書き込みパワーの変化に対
するＢ値／ｐｅａｋ値の変化の傾きが大きく、一方、フ
タロシアニン系光ディスクでは、Ｂ値／ｐｅａｋ値はほ
とんどある値に収束し、その傾きが小さい。したがっ
て、そのＢ値／ｐｅａｋ値の値の違いから光ディスク１
１の判別を行う。すなわち、ディスク判別の一例とし
て、図３では、まず、次式のように、最適記録パワーＰ
の±０．５ｍＷの範囲におけるＢ値／ｐｅａｋ値の傾き
ａを求める。
【００１７】
【数１】
【００１８】そして、Ｂ値／ｐｅａｋ値の傾きの大きさ
ａの絶対値が０．１以上であれば光ディスク１１の種類
はシアニン系光ディスクであると判断し、ａの絶対値が
０．１未満であればフタロシアニン系光ディスクである
と判断する。以上のようにして、光ディスクの種類が判
別されるので、新規ディスクメーカ等の光ディスクであ
って、そのスペシャル情報からでは光ディスクの種類が
判別できないような場合においても、光ディスクの反射
光強度レベルの特性より、光ディスクの種類を適確に判
別することができる。
ａの絶対値が０．１以上であれば光ディスク１１の種類
はシアニン系光ディスクであると判断し、ａの絶対値が
０．１未満であればフタロシアニン系光ディスクである
と判断する。以上のようにして、光ディスクの種類が判
別されるので、新規ディスクメーカ等の光ディスクであ
って、そのスペシャル情報からでは光ディスクの種類が
判別できないような場合においても、光ディスクの反射
光強度レベルの特性より、光ディスクの種類を適確に判
別することができる。
【００１９】次に、Ｂ値をサンプルホールドするタイミ
ングの切り替えについて説明する。このＢ値のサンプル
ホールドのタイミングの切り換え制御は、光出力制御回
路５におけるＢ値／ｐｅａｋ値演算回路１０の演算結果
に基づいてタイミング制御回路９にて行われる。図４に
サンプルホールドタイミングの切り替えを示す。図４で
はＬＤ１の書き込みパワーが大きいときと、小さいとき
のシアニン系光ディスク（同図(a) ）とフタロシアニン
系光ディスク（同図(b) ）の反射光レベルの変化と、そ
のときのＢ値のサンプルタイミングの違いを示してい
る。ＬＤ１の書き込みパワー補正のためのＢ値のサンプ
リングは、まず、情報記録中の１１Ｔ時間幅を有するピ
ット部の後端部で行われる。シアニン系光ディスクで
は、図４(a) に示すように、書き込みパワーの変化によ
ってピット部後端部の反射光強度レベルも大きく変化す
るので、今のサンプルタイミングで検出したＢ値にもと
づいて書き込みパワーの補正を容易に行うことができ
る。しかし、フタロシアニン系の光ディスクでは、ピッ
ト部後端部の反射光強度レベルの変化が小さいので、今
のサンプルタイミングで検出したＢ値に基づいてはＬＤ
１の書き込みパワーの補正精度が悪くなる。そのため、
前記の方法で光ディスクの種類の判別を行った後、図４
(a)(b)に示すように、光ディスクの種類がシアニン系光
ディスクの場合には１１Ｔ時間幅を有するピット部の４
Ｔ以降に当たる後半部分の遅めのタイミングでＢ値のサ
ンプルホールドを行い、一方、光ディスクの種類がフタ
ロシアニン系光ディスクでは１１Ｔ時間幅を有するピッ
ト部の２Ｔ〜３Ｔに当たる前半部分の早めのタイミング
でＢ値のサンプルホールドを行う。これにより、光ディ
スクの種類に関わらず、ピット部における反射光強度の
変化の大きい部分からＢ値をサンプリングすることがで
きる。
ングの切り替えについて説明する。このＢ値のサンプル
ホールドのタイミングの切り換え制御は、光出力制御回
路５におけるＢ値／ｐｅａｋ値演算回路１０の演算結果
に基づいてタイミング制御回路９にて行われる。図４に
サンプルホールドタイミングの切り替えを示す。図４で
はＬＤ１の書き込みパワーが大きいときと、小さいとき
のシアニン系光ディスク（同図(a) ）とフタロシアニン
系光ディスク（同図(b) ）の反射光レベルの変化と、そ
のときのＢ値のサンプルタイミングの違いを示してい
る。ＬＤ１の書き込みパワー補正のためのＢ値のサンプ
リングは、まず、情報記録中の１１Ｔ時間幅を有するピ
ット部の後端部で行われる。シアニン系光ディスクで
は、図４(a) に示すように、書き込みパワーの変化によ
ってピット部後端部の反射光強度レベルも大きく変化す
るので、今のサンプルタイミングで検出したＢ値にもと
づいて書き込みパワーの補正を容易に行うことができ
る。しかし、フタロシアニン系の光ディスクでは、ピッ
ト部後端部の反射光強度レベルの変化が小さいので、今
のサンプルタイミングで検出したＢ値に基づいてはＬＤ
１の書き込みパワーの補正精度が悪くなる。そのため、
前記の方法で光ディスクの種類の判別を行った後、図４
(a)(b)に示すように、光ディスクの種類がシアニン系光
ディスクの場合には１１Ｔ時間幅を有するピット部の４
Ｔ以降に当たる後半部分の遅めのタイミングでＢ値のサ
ンプルホールドを行い、一方、光ディスクの種類がフタ
ロシアニン系光ディスクでは１１Ｔ時間幅を有するピッ
ト部の２Ｔ〜３Ｔに当たる前半部分の早めのタイミング
でＢ値のサンプルホールドを行う。これにより、光ディ
スクの種類に関わらず、ピット部における反射光強度の
変化の大きい部分からＢ値をサンプリングすることがで
きる。
【００２０】このように、本実施の形態による光ディス
ク記録装置によれば、光ディスクの種類によってＢ値／
ｐｅａｋ値の傾きが異なることを利用して、光出力制御
回路５におけるＢ値／ｐｅａｋ値演算回路１０によって
光ディスク１のピット部の反射光からＢ値／ｐｅａｋ値
を求めることで光ディスク１１の種類を容易に判別する
ことができる。そして、光ディスクの種類が特定される
と、光出力制御回路５におけるタイミング制御回路９に
て、光ディスクの種類によってＢ値をサンプルホールド
するタイミングが切り替えられ、これによって、ＬＤ１
の書き込みパワーの変化に対するＢ値の変化量が大きく
なるタイミングでＢ値をサンプリングでき、その結果、
光ディスクの種類に関わらずランニングＯＰＣによる書
き込みパワーの補正を精度良く行うことができる。
ク記録装置によれば、光ディスクの種類によってＢ値／
ｐｅａｋ値の傾きが異なることを利用して、光出力制御
回路５におけるＢ値／ｐｅａｋ値演算回路１０によって
光ディスク１のピット部の反射光からＢ値／ｐｅａｋ値
を求めることで光ディスク１１の種類を容易に判別する
ことができる。そして、光ディスクの種類が特定される
と、光出力制御回路５におけるタイミング制御回路９に
て、光ディスクの種類によってＢ値をサンプルホールド
するタイミングが切り替えられ、これによって、ＬＤ１
の書き込みパワーの変化に対するＢ値の変化量が大きく
なるタイミングでＢ値をサンプリングでき、その結果、
光ディスクの種類に関わらずランニングＯＰＣによる書
き込みパワーの補正を精度良く行うことができる。
【００２１】なお、本発明による光ディスク記録装置
は、上記の光出力制御回路５をハードウエアで構成する
ことも、ソフトウエアで構成することも可能である。さ
らに光出力制御回路５をソフトウエアで構成する場合
は、上述した光ディスクの種類の判別及びＢ値のサンプ
ルホールドタイミングの切り換え方に従ったプログラム
を記録媒体に記録し、この記録媒体をコンピュータに読
み取らせるようにして実現することも可能である。
は、上記の光出力制御回路５をハードウエアで構成する
ことも、ソフトウエアで構成することも可能である。さ
らに光出力制御回路５をソフトウエアで構成する場合
は、上述した光ディスクの種類の判別及びＢ値のサンプ
ルホールドタイミングの切り換え方に従ったプログラム
を記録媒体に記録し、この記録媒体をコンピュータに読
み取らせるようにして実現することも可能である。
【００２２】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１に係る
光ディスク記録装置によれば、光ディスク判別手段によ
って光源の書き込みパワーの変化に伴うピット部からの
反射光強度レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類
を判別するので、新規ディスクメーカの光ディスクであ
っても光ディスクの種類を容易に判別することができ、
また、タイミング制御手段によって、前記光ディスク判
別手段で判別した光ディスクの種類に応じてＢ値をサン
プルホールドするタイミングを切り替えるので、光ディ
スクの種類に関わらずにピット部からの反射光強度であ
るＢ値の検出感度を良好にすることができ、これらよ
り、ランニングＯＰＣをより安定に行うことができ、し
たがって、光ディスクの種類に関わらず最適な記録パワ
ーで光ディスクへの情報記録を行うことができるという
効果がある。
光ディスク記録装置によれば、光ディスク判別手段によ
って光源の書き込みパワーの変化に伴うピット部からの
反射光強度レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類
を判別するので、新規ディスクメーカの光ディスクであ
っても光ディスクの種類を容易に判別することができ、
また、タイミング制御手段によって、前記光ディスク判
別手段で判別した光ディスクの種類に応じてＢ値をサン
プルホールドするタイミングを切り替えるので、光ディ
スクの種類に関わらずにピット部からの反射光強度であ
るＢ値の検出感度を良好にすることができ、これらよ
り、ランニングＯＰＣをより安定に行うことができ、し
たがって、光ディスクの種類に関わらず最適な記録パワ
ーで光ディスクへの情報記録を行うことができるという
効果がある。
【００２３】また、本発明の請求項２に係る光ディスク
記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装
置において、光ディスク判別手段は、反射光強度レベル
の傾きが所定値より大きければ光ディスクの種類をフタ
ロシアニン系光ディスクと判別し、反射光強度レベルの
傾きが所定値より小さければ光ディスクの種類をシアニ
ン系光ディスクと判別するものであり、タイミング制御
手段は、前記光ディスク判別手段で光ディスクの種類が
シアニン系光ディスクと判断されると、ピット部の後半
部分でＢ値をサンプルホールドするタイミングに切り換
え、光ディスクの種類がフタロシアニン系光ディスクと
判断されると、ピット部の前半部分でＢ値をサンプルホ
ールドするタイミングに切り換えるものであり、シアニ
ン系光ディスクではピット部後半部分でＢ値変化が大き
く、フタロシアニン系光ディスクではピット部前半部分
でＢ値変化が大きいことに対応してＢ値をサンプルホー
ルドすることができ、したがって、Ｂ値検出感度をより
適確なものとすることができるという効果がある。
記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装
置において、光ディスク判別手段は、反射光強度レベル
の傾きが所定値より大きければ光ディスクの種類をフタ
ロシアニン系光ディスクと判別し、反射光強度レベルの
傾きが所定値より小さければ光ディスクの種類をシアニ
ン系光ディスクと判別するものであり、タイミング制御
手段は、前記光ディスク判別手段で光ディスクの種類が
シアニン系光ディスクと判断されると、ピット部の後半
部分でＢ値をサンプルホールドするタイミングに切り換
え、光ディスクの種類がフタロシアニン系光ディスクと
判断されると、ピット部の前半部分でＢ値をサンプルホ
ールドするタイミングに切り換えるものであり、シアニ
ン系光ディスクではピット部後半部分でＢ値変化が大き
く、フタロシアニン系光ディスクではピット部前半部分
でＢ値変化が大きいことに対応してＢ値をサンプルホー
ルドすることができ、したがって、Ｂ値検出感度をより
適確なものとすることができるという効果がある。
【００２４】また、本発明の請求項３に係る光ディスク
への情報記録方法によれば、実際の情報の記録に先立っ
て、レーザ光を光ディスクに照射して試し書きを行うと
共に、この試し書きした情報を読み出して前記レーザ光
の最適パワーを求め、この最適パワーによって実際の情
報の記録を行う際にレーザ光照射により形成されるピッ
ト部からの反射光強度であるＢ値に基づいて前記レーザ
光の最適パワーを補正しながら光ディスクに情報記録を
行う光ディスクへの情報記録方法において、前記光ディ
スクのスペシャル情報に記録された情報、またはレーザ
光の書き込みパワーの変化に伴う反射光強度レベルの傾
きの大きさから光ディスクの種類を判別し、前記判別結
果から光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値のサンプルホ
ールドするタイミングを切り換えるようにしたので、新
規ディスクメーカの光ディスクであっても光ディスクの
種類を判別することができ、さらに、光ディスクの種類
によってピット形成時の反射光の応答が異なることに対
応してＢ値のサンプルタイミングを変えることにより光
ディスクの種類によらずＢ値の検出感度を同等にできる
ので、ランニングＯＰＣをより安定に行うことができる
という効果がある。
への情報記録方法によれば、実際の情報の記録に先立っ
て、レーザ光を光ディスクに照射して試し書きを行うと
共に、この試し書きした情報を読み出して前記レーザ光
の最適パワーを求め、この最適パワーによって実際の情
報の記録を行う際にレーザ光照射により形成されるピッ
ト部からの反射光強度であるＢ値に基づいて前記レーザ
光の最適パワーを補正しながら光ディスクに情報記録を
行う光ディスクへの情報記録方法において、前記光ディ
スクのスペシャル情報に記録された情報、またはレーザ
光の書き込みパワーの変化に伴う反射光強度レベルの傾
きの大きさから光ディスクの種類を判別し、前記判別結
果から光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値のサンプルホ
ールドするタイミングを切り換えるようにしたので、新
規ディスクメーカの光ディスクであっても光ディスクの
種類を判別することができ、さらに、光ディスクの種類
によってピット形成時の反射光の応答が異なることに対
応してＢ値のサンプルタイミングを変えることにより光
ディスクの種類によらずＢ値の検出感度を同等にできる
ので、ランニングＯＰＣをより安定に行うことができる
という効果がある。
【００２５】また、本発明の請求項４に係る光ディスク
への情報記録方法によれば、請求項３に記載の光ディス
クへの情報記録方法において、前記ピット部は、レーザ
光を照射するタイミングとなる基準時間幅Ｔの１１倍で
ある時間幅１１Ｔを有し、前記光ディスクの種類がシア
ニン系光ディスクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの
４Ｔ以降となるピット部後半部分のタイミングでＢ値の
サンプルホールドを行い、フタロシアニン系光ディスク
であれば、前記時間幅１１Ｔのうちの２〜３Ｔとなるピ
ット部前半部分のタイミングでＢ値のサンプルホールド
を行うようにしたので、シアニン系光ディスクではピッ
ト後半部分のＢ値変化が大きく、フタロシアニン系光デ
ィスクではピット前半部分のＢ値変化が大きいことに対
応してＢ値をサンプルホールドすることができ、したが
って、Ｂ値検出感度をより適確なものとすることができ
るという効果がある。
への情報記録方法によれば、請求項３に記載の光ディス
クへの情報記録方法において、前記ピット部は、レーザ
光を照射するタイミングとなる基準時間幅Ｔの１１倍で
ある時間幅１１Ｔを有し、前記光ディスクの種類がシア
ニン系光ディスクであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの
４Ｔ以降となるピット部後半部分のタイミングでＢ値の
サンプルホールドを行い、フタロシアニン系光ディスク
であれば、前記時間幅１１Ｔのうちの２〜３Ｔとなるピ
ット部前半部分のタイミングでＢ値のサンプルホールド
を行うようにしたので、シアニン系光ディスクではピッ
ト後半部分のＢ値変化が大きく、フタロシアニン系光デ
ィスクではピット前半部分のＢ値変化が大きいことに対
応してＢ値をサンプルホールドすることができ、したが
って、Ｂ値検出感度をより適確なものとすることができ
るという効果がある。
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク記録装
置の構成を示したブロック図である。
置の構成を示したブロック図である。
【図２】光ディスク記録装置における光出力制御回路の
構成を示したブロック図である。
構成を示したブロック図である。
【図３】光ディスクの種類を判別する方法を示した図で
ある。
ある。
【図４】光ディスクの違いによるサンプルタイミングを
示した図である。
示した図である。
【図５】ＰＣＡのパワー１５テスト及びシアニン系光デ
ィスク、フタロシアニン系光ディスクにおけるＢ値の変
化を示した図である。
ィスク、フタロシアニン系光ディスクにおけるＢ値の変
化を示した図である。
【図６】光出力に対するシアニン系光ディスクとフタロ
シアニン系光ディスクとの反射光レベルの変化を示した
図である。
シアニン系光ディスクとの反射光レベルの変化を示した
図である。
【図７】ＬＤの書き込みパワー（Write Power ）の変化
に対するＢ値／ｐｅａｋ値の変化を示した図である。
に対するＢ値／ｐｅａｋ値の変化を示した図である。
１ レーザダイオード ２ モニタ用フォトダイオード ３ サーボ／ＲＦ用フォトダイオード ４ ＡＰＣ回路 ５ 光出力制御回路 ６ ループフィルタ回路 ７ ｐｅａｋ検出回路 ８ サンプルホールド回路 ９ タイミング制御回路 １０ Ｂ値／ｐｅａｋ値演算回路 １１ 光ディスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB07 CC01 CC16 CC18 HH07 JJ12 5D119 AA23 BA01 BB02 DA01 FA05 HA17 HA19 HA45
Claims (4)
- 【請求項１】 光ディスクにレーザ光を照射して情報が
記録されるピット部を形成する光源と、前記ピット部の
後端部からの反射光強度としてのＢ値に基づいて前記レ
ーザ光の書き込みパワーを補正する光出力制御手段とを
備えた光ディスク記録装置において、 前記光源の書き込みパワーの変化に伴うピット部からの
反射光強度レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類
を判別する光ディスク判別手段と、 前記光ディスク判別手段で判別した光ディスクの種類に
応じて前記Ｂ値をサンプルホールドするタイミングを切
り替えるタイミング制御手段とを備えたことを特徴とす
る光ディスク記録装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光ディスク記録装置に
おいて、 前記光ディスク判別手段は、反射光強度レベルの傾きの
大きさが所定値より大きければ光ディスクの種類をフタ
ロシアニン系光ディスクと判別し、反射光強度レベルの
傾きの大きさが所定値より小さければ光ディスクの種類
をシアニン系光ディスクと判別するものであり、 前記タイミング制御手段は、前記光ディスク判別手段で
光ディスクの種類をシアニン系光ディスクと判断する
と、ピット部の後半部分からＢ値をサンプルホールドす
るタイミングに切り換え、前記光ディスク判別手段で光
ディスクの種類をフタロシアニン系光ディスクと判断す
ると、ピット部の前半部分でＢ値をサンプルホールドす
るタイミングに切り換えるようにしたものであることを
特徴とする光ディスク記録装置。 - 【請求項３】 実際の情報の記録に先立って、レーザ光
を光ディスクに照射して試し書きを行うと共に、この試
し書きした情報を読み出して前記レーザ光の最適パワー
を求め、この最適パワーによって実際の情報の記録を行
う際にレーザ光照射により形成されるピット部の後端部
からの反射光強度としてのＢ値に基づいて前記レーザ光
の最適パワーを補正しながら光ディスクに情報記録を行
う光ディスクへの情報記録方法において、 前記光ディスクのスペシャル情報に記録された情報、ま
たはレーザ光の書き込みパワーの変化に伴う反射光強度
レベルの傾きの大きさから光ディスクの種類を判別し、 前記判別結果から光ディスクの種類に応じて前記Ｂ値を
サンプルホールドするタイミングの切り換えを行うよう
にしたことを特徴とする光ディスクへの情報記録方法。 - 【請求項４】 請求項３に記載の光ディスクへの情報記
録方法において、 前記ピット部は、レーザ光を照射するタイミングとなる
基準時間幅Ｔの１１倍である時間幅１１Ｔを有し、 前記光ディスクの種類がシアニン系光ディスクであれ
ば、前記時間幅１１Ｔのうちの４Ｔ以降となるピット部
後半部分のタイミングでＢ値のサンプルホールドを行
い、前記光ディスクの種類がフタロシアニン系光ディス
クであれば、前記時間幅１１Ｔのうちの２〜３Ｔとなる
ピット部前半部分のタイミングでＢ値のサンプルホール
ドを行うようにしたことを特徴とする光ディスクへの情
報記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11018874A JP2000215454A (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 光ディスク記録装置、及び光ディスクへの情報記録方法 |
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|---|---|---|---|
| JP11018874A JP2000215454A (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 光ディスク記録装置、及び光ディスクへの情報記録方法 |
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|---|---|
| JP2000215454A true JP2000215454A (ja) | 2000-08-04 |
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ID=11983705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11018874A Pending JP2000215454A (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 光ディスク記録装置、及び光ディスクへの情報記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000215454A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100398655B1 (ko) * | 2001-03-27 | 2003-09-19 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체에의 최적 기록파워 제어방법 및 제어장치 |
| US6842413B2 (en) | 2001-01-26 | 2005-01-11 | Nec Corporation | Method of calculating write condition detection index and optical disk writing method and apparatus using the method |
| KR100473462B1 (ko) * | 2001-03-23 | 2005-03-08 | 티아크 가부시키가이샤 | 광 디스크장치 |
| KR100505642B1 (ko) * | 2002-09-26 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | Ｃｄ-ｒ 디스크에 데이터를 기입할 때 표준 ｂ-레벨을결정하는 방법 |
| US6987717B2 (en) | 2000-08-10 | 2006-01-17 | Ricoh Company, Ltd. | Optical disk device recording data on a recordable or rewritable optical disk by setting a recording velocity and a recording power for each of zones on an optical disk |
| US7126896B2 (en) | 2002-03-07 | 2006-10-24 | Nec Corporation | Information recording method, recording condition detection method, and information recording apparatus |
| KR100661383B1 (ko) | 2003-12-25 | 2006-12-27 | 가부시끼가이샤 도시바 | 광 디스크 장치, 광 디스크 장치의 제어 방법 및 기록 매체 |
| US7203148B2 (en) | 2002-04-30 | 2007-04-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for identifying the type of optical recording medium |
-
1999
- 1999-01-27 JP JP11018874A patent/JP2000215454A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6987717B2 (en) | 2000-08-10 | 2006-01-17 | Ricoh Company, Ltd. | Optical disk device recording data on a recordable or rewritable optical disk by setting a recording velocity and a recording power for each of zones on an optical disk |
| US7230891B2 (en) | 2000-08-10 | 2007-06-12 | Ricoh Company, Ltd. | Optical disk device recording data on a recordable or rewritable optical disk by setting a recording velocity and a recording power for each of zones on an optical disk |
| US7558172B2 (en) | 2000-08-10 | 2009-07-07 | Ricoh Company, Ltd. | Optical disk device recording data on a recordable or rewritable optical disk by setting a recording velocity and a recording power for each of zones on an optical disk |
| US6842413B2 (en) | 2001-01-26 | 2005-01-11 | Nec Corporation | Method of calculating write condition detection index and optical disk writing method and apparatus using the method |
| KR100473462B1 (ko) * | 2001-03-23 | 2005-03-08 | 티아크 가부시키가이샤 | 광 디스크장치 |
| KR100398655B1 (ko) * | 2001-03-27 | 2003-09-19 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체에의 최적 기록파워 제어방법 및 제어장치 |
| US7126896B2 (en) | 2002-03-07 | 2006-10-24 | Nec Corporation | Information recording method, recording condition detection method, and information recording apparatus |
| US7203148B2 (en) | 2002-04-30 | 2007-04-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for identifying the type of optical recording medium |
| KR100505642B1 (ko) * | 2002-09-26 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | Ｃｄ-ｒ 디스크에 데이터를 기입할 때 표준 ｂ-레벨을결정하는 방법 |
| KR100661383B1 (ko) | 2003-12-25 | 2006-12-27 | 가부시끼가이샤 도시바 | 광 디스크 장치, 광 디스크 장치의 제어 방법 및 기록 매체 |
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