JP2000201019A - Antenna measuring and adjusting device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、高周波数帯で使
用される反射鏡アンテナ装置の主反射鏡の鏡面精度測
定、あるいは測定と鏡面調整を行うアンテナ測定・調整
装置に関するものであり、特にミリ波やサブミリ波を観
測するために用いられる大口径電波望遠鏡のアンテナ測
定・調整装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an antenna measuring / adjusting device for measuring the mirror surface accuracy of a main reflector of a reflector antenna device used in a high frequency band, or for performing measurement and mirror surface adjustment. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an antenna measuring and adjusting device for a large-diameter radio telescope used for observing waves and submillimeter waves.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、この種の装置として図７に示すよ
うな供試アンテナ１００があった。供試アンテナ１００
は、石黒 正人、森田 耕一郎、林 左絵子、増田 剛
徳、蛭子井 貴、別段 信一、“電波ホログラフィによ
る４５ｍ電波望遠鏡の鏡面精度測定”、三菱電機技報、
ｖｏｌ．６２、ｎｏ．５、ｐ．６２５、１９８８年に示
されたものである。2. Description of the Related Art Conventionally, there has been a test antenna 100 as shown in FIG. Test antenna 100
, Masato Ishiguro, Koichiro Morita, Saeko Hayashi, Takenori Masuda, Takashi Hirushii, Shinichi Separate, "Measurement of mirror surface accuracy of 45m radio telescope by radio holography", Mitsubishi Electric Technical Report,
vol. 62, no. 5, p. 625, 1988.
【０００３】図１において、１は鏡面測定の対象である
供試アンテナ１００の主反射鏡、１ａは主反射鏡１の鏡
面を多数に分割して構成された鏡面パネル、１ｂは鏡面
パネル１ａを偏位あるいは傾斜させるアクチュエータ、
１ｃは鏡面パネル１ａおよびアクチュエータ１ｂを支持
するバックストラクチャである。In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a main reflector of a test antenna 100 to be measured for a mirror surface, 1a denotes a mirror panel formed by dividing a mirror surface of the main reflector 1 into a large number, and 1b denotes a mirror panel 1a. Actuators that deviate or tilt,
Reference numeral 1c denotes a back structure that supports the mirror panel 1a and the actuator 1b.
【０００４】また、２は静止衛星、３は静止衛星２に搭
載され供試アンテナ１００方向にボアサイト方向を向け
た衛星搭載アンテナ、４は衛星搭載アンテナ３から放射
され供試アンテナ１００で受信される平面波、５は供試
アンテナ１００の主反射鏡１で反射され集束された平面
波４を受信する１次焦点ホーン、６は１次焦点ホーン５
から給電される受信機である。[0004] Reference numeral 2 denotes a geostationary satellite, 3 denotes a satellite-mounted antenna mounted on the geostationary satellite 2 and has a boresight direction toward the test antenna 100, and 4 denotes a signal radiated from the satellite-mounted antenna 3 and received by the test antenna 100. Is a primary focal horn for receiving the focused plane wave 4 reflected and reflected by the main reflecting mirror 1 of the test antenna 100, and 6 is a primary focal horn 5.
The receiver is powered by
【０００５】さらにまた、７は受信機６から得られる２
次元の放射パターン受信信号、８は放射パターン受信信
号７を得るためにアンテナの姿勢を２軸で変化させるア
ンテナ姿勢角度信号、９は放射パターン受信信号７とア
ンテナ姿勢角度信号８を基にしてフーリエ変換によって
開口面分布を計算する電波ホログラフィ演算処理装置、
１０はアクチュエータ１ｂを制御し鏡面パネル１ａを駆
動させるためのアクチュエータ制御装置、１１は位相の
基準となる参照受信アンテナである。[0005] Furthermore, 7 is 2 obtained from the receiver 6.
A dimensional radiation pattern received signal, 8 is an antenna attitude angle signal for changing the attitude of the antenna in two axes to obtain a radiation pattern received signal 7, and 9 is a Fourier based on the radiation pattern received signal 7 and the antenna attitude angle signal 8. Radio wave holography arithmetic processing unit for calculating aperture distribution by conversion,
Reference numeral 10 denotes an actuator control device for controlling the actuator 1b to drive the mirror panel 1a, and reference numeral 11 denotes a reference receiving antenna serving as a phase reference.
【０００６】ここで、主反射鏡１を構成している複数の
鏡面パネル１ａは、通常、数１０枚から数１００枚あ
り、例えば、国立天文台野辺山の４５ｍ電波望遠鏡の場
合には６００枚、国立天文台野辺山のミリ波干渉計用１
０ｍアンテナの場合には３６枚である。Here, the plurality of mirror panels 1a constituting the main reflecting mirror 1 usually have several tens to several hundreds. For example, in the case of the 45 m radio telescope of Nobeyama National Observatory, 600 panels are used. Astronomical Observatory Nobeyama 1
In the case of a 0 m antenna, the number is 36.
【０００７】図７において、供試アンテナ１００の主反
射鏡１の凹凸を測定するために電波が用いられる。信号
源としては、供試アンテナ１００の主反射鏡１で平面波
４を受信する必要があるため、例えば静止衛星２のよう
に充分遠方の信号源が用いられる。静止衛星２の代わり
に、地上において距離の遠く離れたところに信号源を設
けることもあるが、そのような場合には、地面反射の影
響を小さくするような地形が選ばれる。距離は、主反射
鏡１の開口径をＤ、波長をλとしたときの２Ｄ２／λ以
上にとる必要がある。In FIG. 7, a radio wave is used to measure the unevenness of the main reflector 1 of the antenna under test 100. As the signal source, it is necessary to receive the plane wave 4 by the main reflector 1 of the antenna under test 100. Therefore, a sufficiently distant signal source such as the geostationary satellite 2 is used. Instead of the geostationary satellite 2, a signal source may be provided at a long distance on the ground. In such a case, a terrain that reduces the influence of ground reflection is selected. The distance needs to be 2D2 / λ or more when the aperture diameter of the main reflecting mirror 1 is D and the wavelength is λ.
【０００８】供試アンテナ１００の放射パターンは、供
試アンテナ１００の姿勢を２軸で変化させながら平面波
４を受信することにより得られる。これを測定すること
により、放射パターン受信信号７と、供試アンテナ１０
０の姿勢を表すアンテナ姿勢角度信号８が対となって得
られる。The radiation pattern of the antenna under test 100 is obtained by receiving the plane wave 4 while changing the attitude of the antenna under test 100 in two axes. By measuring this, the radiation pattern reception signal 7 and the test antenna 10
An antenna attitude angle signal 8 representing the attitude of 0 is obtained as a pair.
【０００９】電波ホログラフィ演算処理装置９は、電磁
界解析の理論より２次元放射パターンと開口面分布の関
係がフーリエ変換によって表されることを利用したもの
で、高速フーリエ変換などの演算処理を行うことによっ
て供試アンテナ１００の開口面分布が計算される。ま
た、鏡面精度は得られた主反射鏡１の開口面分布から求
められ、これを基にアクチュエータ１ｂによって鏡面パ
ネル１ａを駆動することにより鏡面調整が行われる。The radio wave holography arithmetic processing device 9 utilizes the fact that the relationship between the two-dimensional radiation pattern and the aperture distribution is expressed by Fourier transform based on the theory of electromagnetic field analysis, and performs arithmetic processing such as fast Fourier transform. Thus, the aperture distribution of the test antenna 100 is calculated. The mirror surface accuracy is obtained from the obtained aperture surface distribution of the main reflecting mirror 1, and based on this, the mirror surface adjustment is performed by driving the mirror surface panel 1a by the actuator 1b.
【００１０】[0010]
【発明が解決しようとする課題】アンテナ利得の点から
考えると、鏡面精度は使用波長の１／２０以下が必要で
あり、ミリ波やサブミリ波と使用波長が短くなるに従い
さらに高い鏡面精度を実現しなければならない。一方、
図７のような従来の測定方法においては、放射パターン
を測定するとき、供試アンテナ１００の姿勢を変化させ
なければならない。そのため、供試アンテナ１００の姿
勢によって重力が主反射鏡１の変形に及ぼす影響が異な
る。その結果、図７の方法では正確に鏡面精度を測定す
ることができないという問題があった。From the viewpoint of antenna gain, the mirror surface accuracy needs to be 1/20 or less of the used wavelength, and a higher mirror surface accuracy is realized as the used wavelength becomes shorter with millimeter waves or submillimeter waves. Must. on the other hand,
In the conventional measurement method as shown in FIG. 7, when measuring the radiation pattern, the attitude of the antenna under test 100 must be changed. Therefore, the influence of gravity on the deformation of the main reflecting mirror 1 differs depending on the attitude of the test antenna 100. As a result, there is a problem that the mirror surface accuracy cannot be accurately measured by the method of FIG.
【００１１】また、主反射鏡１の開口径が大きくなる
と、このような重力変形は更に大きくなり測定精度が制
限される。また、測定の分解能を上げるためには、放射
パターンの測定角度範囲を広げなければならないが、重
力変形による影響がますます大きくなり測定精度が劣化
するので、分解能を上げることができないという問題が
あった。When the opening diameter of the main reflecting mirror 1 is increased, such gravitational deformation is further increased, and the measuring accuracy is limited. In order to increase the measurement resolution, the measurement angle range of the radiation pattern must be increased.However, there is a problem that the resolution cannot be increased because the influence of gravitational deformation is further increased and the measurement accuracy is deteriorated. Was.
【００１２】また、供試アンテナ１００の姿勢を固定し
て測定を行う場合には、主反射鏡１の開口面近傍におい
て、平面上、円筒面上、球面上のいずれかの面に沿って
プローブを機械的に走査して測定しなければならなかっ
た。そして、プローブの走査範囲は、主反射鏡１の開口
面よりも広い範囲が必要であり、走査装置は主反射鏡１
よりも大型となり、極めて広い範囲を正確に走査するこ
とは困難であった。また、測定精度はプローブの走査精
度によって制限され、したがってこのような方法によっ
ても、測定精度を上げることができないという問題があ
った。When the measurement is performed with the attitude of the test antenna 100 fixed, the probe is placed along a plane, a cylinder, or a sphere near the opening of the main reflector 1. Had to be measured by mechanical scanning. The scanning range of the probe needs to be wider than the opening surface of the main reflecting mirror 1.
And it was difficult to accurately scan an extremely wide range. Further, the measurement accuracy is limited by the scanning accuracy of the probe, and therefore, there is a problem that the measurement accuracy cannot be improved even by such a method.
【００１３】この発明は上述のような問題点を解決する
ためになされたもので、測定中にアンテナの姿勢を固定
し、重力による鏡面変形量の変わらない測定を行うこと
によって測定精度を向上させ、かつ主反射鏡の開口径に
依らないコンパクトな走査装置によって、プローブを高
精度に走査し、正確なアンテナ測定およびそれに基づく
鏡面調整によって、高い鏡面精度が達成できるアンテナ
測定・調整装置を得ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to improve the measurement accuracy by fixing the attitude of the antenna during measurement and performing measurement in which the amount of mirror surface deformation due to gravity does not change. To obtain an antenna measurement and adjustment device that can achieve high mirror surface accuracy by scanning the probe with high accuracy using a compact scanning device that does not depend on the aperture diameter of the main reflecting mirror, and accurate mirror measurement and mirror surface adjustment based on it. With the goal.
【００１４】[0014]
【課題を解決するための手段】この発明に係るアンテナ
測定・調整装置は、分割された複数の鏡面パネルでなる
主反射鏡、主反射鏡の電波集束位置に設けられた副反射
鏡、電波を放射する１次放射器、外部からの電波を受信
する受信機、および１次放射器から放射された電波を副
反射鏡方向に反射させると共に、副反射鏡方向から入射
する外部からの電波を受信機に反射させる回転反射鏡を
有し、アンテナ装置が電波を送信する場合には、１次放
射器から放射された電波を回転反射鏡にて反射させ副反
射鏡および主反射鏡を介して外部に放射し、また、アン
テナ装置が電波を受信する場合には、外部からの電波を
主反射鏡で集束させ副反射鏡および回転反射鏡を介して
入射する電波を受信機で受信するアンテナ装置の主反射
鏡の鏡面誤差を測定する鏡面測定および鏡面誤差に基づ
いて鏡面パネルの位置の調整を行うアンテナ測定・調整
装置において、電波の強度を測定するプローブを走査さ
せ所定の範囲の電波の位相分布を測定するプローブ走査
装置と、回転反射鏡に接続され、回転反射鏡の方向を変
化させて、１次放射器から放射された電波をプローブ走
査装置に入射させると共に、主反射鏡および副反射鏡を
介して入射する外部からの電波をプローブ走査装置に入
射させる駆動機構と、１次放射器から放射された電波の
位相分布と主反射鏡および副反射鏡を介して入射する外
部からの電波の位相分布とから主反射鏡の鏡面誤差を算
出する鏡面誤差演算処理装置と、複数の鏡面パネルに各
々設けられ鏡面パネルを偏位させるアクチュエータと、
鏡面誤差演算処理装置の出力に基づいて鏡面誤差が最小
になるようにアクチュエータを動作させるアクチュエー
タ制御装置とを備えている。SUMMARY OF THE INVENTION An antenna measuring and adjusting apparatus according to the present invention comprises a main reflecting mirror comprising a plurality of divided mirror panels, a sub-reflecting mirror provided at a radio wave focusing position of the main reflecting mirror, and a radio wave. A primary radiator that radiates, a receiver that receives external radio waves, and reflects radio waves radiated from the primary radiator toward the secondary reflector and receives external radio waves that enter from the secondary reflector. When the antenna device transmits a radio wave, the radio wave radiated from the primary radiator is reflected by the rotary reflector and externally transmitted through the sub-reflector and the main reflector. When the antenna device receives a radio wave, the antenna device receives the radio wave from the outside through the main reflector and receives the radio wave incident through the sub-reflector and the rotary reflector. Measure the mirror error of the main reflector In an antenna measurement and adjustment device that adjusts the position of the mirror panel based on the mirror surface measurement and mirror surface error, a probe scanning device that scans a probe that measures the intensity of radio waves and measures a phase distribution of radio waves in a predetermined range, It is connected to a rotating reflector, changes the direction of the rotating reflector, and makes the radio wave radiated from the primary radiator incident on the probe scanning device, and also enters from the outside via the main reflector and the sub-reflector. The drive mechanism that makes the radio wave incident on the probe scanning device, and the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator and the phase distribution of the external radio wave that enters through the main reflector and the sub-reflector reflect the main reflector. A mirror error calculation processor for calculating a mirror error, and an actuator provided on each of the plurality of mirror panels to shift the mirror panel,
An actuator control device for operating the actuator based on the output of the mirror error calculation processing device so as to minimize the mirror error.
【００１５】また、参照波を放射する参照波送信アンテ
ナをさらに有し、また、１次放射器からプローブ走査装
置との間には、回転反射鏡の他に少なくとも１個の他の
集束反射鏡を有し、駆動機構は、参照波送信アンテナか
ら放射された電波をプローブ走査装置に入射させると共
に、１次放射器から放射された電波をプローブ走査装置
に入射させ、さらに主反射鏡および副反射鏡を介して入
射する外部からの電波をプローブ走査装置に入射させ、
鏡面誤差演算処理装置は、参照波送信アンテナから放射
された電波の位相分布と１次放射器から放射された電波
の位相分布とから他の集束反射鏡の鏡面誤差である第１
の鏡面誤差を算出し、また、１次放射器から放射された
電波の位相分布と主反射鏡および副反射鏡を介して入射
する外部からの電波の位相分布とから第２の鏡面誤差を
算出し、第１の鏡面誤差と第２の鏡面誤差から主反射鏡
の鏡面誤差を算出する。In addition, the apparatus further includes a reference wave transmitting antenna for radiating a reference wave, and between the primary radiator and the probe scanning device, at least one other focusing mirror in addition to the rotating mirror. The driving mechanism causes the radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna to be incident on the probe scanning device, and the radio wave radiated from the primary radiator is incident on the probe scanning device, and further includes a main reflecting mirror and a sub-reflecting device. An external radio wave incident through a mirror is incident on the probe scanning device,
The mirror error calculation processing device calculates a mirror error of the other focusing reflector from the phase distribution of the radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna and the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator.
And the second mirror error is calculated from the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator and the phase distribution of the radio wave incident from the outside via the main reflector and the sub-reflector. Then, a mirror error of the main reflecting mirror is calculated from the first mirror error and the second mirror error.
【００１６】また、駆動機構は、１次放射器から放射さ
れた電波が回転反射鏡にて反射され副反射鏡および主反
射鏡を介して外部に放射される一連の電波通過経路か
ら、回転反射鏡が外れるように回転反射鏡を待避させ
て、１次放射器から放射された電波をプローブ走査装置
に入射させる。[0016] The driving mechanism is configured such that the radio wave radiated from the primary radiator is reflected by the rotary reflecting mirror, and is radiated from a series of radio wave passing paths radiated outside through the sub-reflecting mirror and the main reflecting mirror. The rotating reflecting mirror is retracted so that the mirror comes off, and the radio wave emitted from the primary radiator is made incident on the probe scanning device.
【００１７】また、駆動機構の回転反射鏡の待避方向
は、主反射鏡の方位角軸方向である。The retracting direction of the rotary reflecting mirror of the driving mechanism is the azimuth axis direction of the main reflecting mirror.
【００１８】さらに、この発明に係るアンテナ測定・調
整装置は、分割された複数の鏡面パネルでなる主反射
鏡、主反射鏡の電波集束位置に設けられた副反射鏡、電
波を放射する１次放射器、および電波を受信する受信機
を有し、アンテナ装置が電波を送信する場合には、１次
放射器から放射された電波を副反射鏡および主反射鏡を
介して外部に放射し、また、アンテナ装置が電波を受信
する場合には、外部からの電波を主反射鏡で集束させ、
副反射鏡を介して入射する電波を受信機で受信するアン
テナ装置の主反射鏡の鏡面誤差を測定する鏡面測定およ
び鏡面誤差に基づいて鏡面パネルの位置の調整を行うア
ンテナ測定・調整装置において、電波の強度を測定する
プローブを走査させ所定の範囲の電波の位相分布を測定
するプローブ走査装置と、複数の平行なスリットである
グリッドが形成され、１次放射器から放射された電波の
一部をプローブ走査装置に入射させると共に、主反射鏡
および副反射鏡を介して入射する外部からの電波の一部
をプローブ走査装置に入射させるグリッド鏡面反射鏡
と、１次放射器から放射された電波の位相分布と主反射
鏡および副反射鏡を介して入射する外部からの電波の位
相分布とから主反射鏡の鏡面誤差を算出する鏡面誤差演
算処理装置と、複数の鏡面パネルに各々設けられ鏡面パ
ネルを偏位させるアクチュエータと、鏡面誤差演算処理
装置の出力に基づいて鏡面誤差が最小になるようにアク
チュエータを動作させるアクチュエータ制御装置とを備
えている。Further, the antenna measuring / adjusting apparatus according to the present invention comprises a main reflecting mirror comprising a plurality of divided mirror panels, a sub-reflecting mirror provided at a radio wave focusing position of the main reflecting mirror, and a primary radiating radio wave. A radiator, and a receiver for receiving radio waves, when the antenna device transmits radio waves, radiates the radio waves radiated from the primary radiator to the outside via the sub-reflector and the main reflector, Also, when the antenna device receives radio waves, external radio waves are focused by the main reflector,
An antenna measurement and adjustment device that adjusts the position of the mirror panel based on the mirror measurement and the mirror surface error that measures the mirror error of the main reflector of the antenna device that receives the radio wave incident via the sub-reflector at the receiver, A probe scanning device that scans a probe that measures the intensity of radio waves and measures the phase distribution of the radio waves in a predetermined range, and a grid that is a plurality of parallel slits is formed, and a part of the radio waves emitted from the primary radiator And a radio wave radiated from the primary radiator, and a grid mirror that causes a portion of an external radio wave incident through the main reflector and the sub-reflector to be incident on the probe scanner. A mirror surface error calculation processing device for calculating a mirror surface error of the main reflecting mirror from the phase distribution of the main reflecting mirror and the phase distribution of an external radio wave incident via the sub-reflecting mirror; An actuator for each provided deflection mirror panel mirror panel, and an actuator control device for operating the actuator so specular error is minimized based on the output of the surface error processing unit.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１はこの発明の
アンテナ測定・調整装置を示す概略構成図である。図１
において、２００は供試アンテナ２００、１は供試アン
テナ２００の主反射鏡である。主反射鏡１は、後述する
が従来例と同じように電波を反射させる反射面を分割し
て構成する複数の図示しない鏡面パネルと、鏡面パネル
を所定の位置に変位させるアクチュエータと、鏡面パネ
ルおよびアクチュエータを保持するバックストラクチャ
から構成されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an antenna measurement / adjustment device of the present invention. FIG.
In the figure, 200 is a test antenna 200, and 1 is a main reflector of the test antenna 200. The main reflecting mirror 1 includes a plurality of mirror panels (not shown) formed by dividing a reflecting surface for reflecting radio waves, which will be described later, as in the conventional example, an actuator for displacing the mirror panel to a predetermined position, a mirror panel, It is composed of a back structure that holds the actuator.
【００２０】４は例えば静止衛星２等の充分遠方の信号
源によって得られる平面波である。また、６は受信機、
１０はアクチュエータ制御装置を示し、これらの機器
は、図７に示した従来装置と同様に動作する。Reference numeral 4 denotes a plane wave obtained by a sufficiently distant signal source such as the geostationary satellite 2. 6 is a receiver,
Reference numeral 10 denotes an actuator control device, and these devices operate similarly to the conventional device shown in FIG.
【００２１】また、１２は供試アンテナ２００の１次放
射器、１３は第１集束反射鏡、１４は第２集束反射鏡、
１５は第３集束反射鏡、１６は回転反射鏡としての第４
集束反射鏡である。４個の集束反射鏡の内、第４集束反
射鏡１６は反射鏡を構成し、他の集束反射鏡１３，１
４，１５は他の集束反射鏡を構成している。１７はＡｚ
軸（azimuth:方位角軸)、１８はＥｌ軸（elevation:仰
角軸）、１９は第４集束反射鏡１６に接続された駆動機
構である集束反射鏡昇降回転機構、２０はプローブ走査
装置、２１は電波をピックアップする測定用プローブ、
２２は受信信号である。Reference numeral 12 denotes a primary radiator of the test antenna 200, 13 denotes a first focusing reflector, 14 denotes a second focusing reflector,
15 is a third focusing mirror, and 16 is a fourth focusing mirror.
It is a focusing reflector. Of the four focusing reflectors, the fourth focusing reflector 16 constitutes a reflector, and the other focusing reflectors 13 and 1
Reference numerals 4 and 15 constitute another focusing reflector. 17 is Az
Axis (azimuth: azimuth axis), 18 is an El axis (elevation: elevation axis), 19 is a focusing reflector raising / lowering rotating mechanism which is a driving mechanism connected to the fourth focusing reflector 16, 20 is a probe scanning device, 21 Is a measurement probe that picks up radio waves,
22 is a received signal.
【００２２】さらに、２３は副反射鏡であり、２４は副
反射鏡２３を支持するステイである。また、２５は鏡面
誤差演算処理装置である。２６は集束反射鏡昇降回転機
構１９が第４集束反射鏡１６を昇降させる方向でありＡ
ｚ軸に対して平行である。２７は集束反射鏡昇降回転機
構１９が第４集束反射鏡１６を回転させる方向であり、
第４集束反射鏡１６はＡｚ軸を中心に回転する。２８は
供試アンテナ２００を送信に用いるときのビーム給電方
向であるビーム給電系光線方向を示す。Reference numeral 23 denotes a sub-reflector, and reference numeral 24 denotes a stay for supporting the sub-reflector 23. Reference numeral 25 denotes a mirror error calculation processing device. Reference numeral 26 denotes a direction in which the focusing / reflecting mirror raising / lowering rotating mechanism 19 raises / lowers the fourth focusing / reflecting mirror 16.
Parallel to the z-axis. 27 is a direction in which the focusing reflector raising / lowering rotating mechanism 19 rotates the fourth focusing reflector 16;
The fourth focusing mirror 16 rotates around the Az axis. Reference numeral 28 denotes a beam feeding system light beam direction which is a beam feeding direction when the test antenna 200 is used for transmission.
【００２３】図２および図３は本実施の形態のアンテナ
測定・調整装置の原理を説明する図である。図３におい
て、主反射鏡１は、従来例と同じように、電波を反射さ
せる反射面を分割して構成する複数の鏡面パネル１ａ
と、鏡面パネル１ａを所定の位置に変位させる駆動機構
であるアクチュエータ１ｂを有している。FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the principle of the antenna measuring and adjusting apparatus according to the present embodiment. In FIG. 3, a main reflecting mirror 1 has a plurality of mirror panels 1a formed by dividing a reflecting surface for reflecting radio waves, as in the conventional example.
And an actuator 1b as a drive mechanism for displacing the mirror panel 1a to a predetermined position.
【００２４】さらに、図２において、３２は供試アンテ
ナ２００の１次放射器１２の近傍における波面、３３は
この１次放射器１２から放射された電波が伝送されて、
測定用プローブ２１によって受信される電波の測定面に
おける波面、一方、３０は主反射鏡１開口面近傍の平面
波４の波面、３１は平面波４を受信して、主反射鏡１、
副反射鏡２３および第４集束反射鏡１６を介して伝送さ
れて測定用プローブ２１によって受信される電波の測定
面における波面を示す。Further, in FIG. 2, reference numeral 32 denotes a wavefront near the primary radiator 12 of the test antenna 200, and reference numeral 33 denotes a radio wave radiated from the primary radiator 12,
The wavefront of the radio wave received by the measurement probe 21 on the measurement surface, 30 is the wavefront of the plane wave 4 near the opening surface of the main reflection mirror 1, 31 is the plane wave 4 received, and the main reflection mirror 1,
The wavefront on the measurement surface of the electric wave transmitted via the sub-reflector 23 and the fourth focusing reflector 16 and received by the measurement probe 21 is shown.
【００２５】本実施の形態において、アンテナ測定にお
いて基準となる参照波は、供試アンテナ２００のビーム
給電系を送信として動作させることによって得られ、ま
ずこの参照波の位相分布が測定される。一方、ビーム給
電系以外の鏡面を用いて受信として動作させることによ
って、平面波４の位相分布が測定され、この位相分布と
参照波の位相分布との差から主反射鏡１の鏡面誤差が得
られる。In the present embodiment, a reference wave serving as a reference in antenna measurement is obtained by operating the beam feeding system of the test antenna 200 for transmission, and first, the phase distribution of the reference wave is measured. On the other hand, by operating as a receiver using a mirror surface other than the beam feeding system, the phase distribution of the plane wave 4 is measured, and a mirror error of the main reflecting mirror 1 is obtained from the difference between this phase distribution and the phase distribution of the reference wave. .
【００２６】ここで、図１および図２を参照しながら動
作原理について詳細に説明する。まず、図１において、
参照波の測定を行うため、集束反射鏡昇降回転機構１９
によって、集束反射鏡昇降方向２７方向に第４集束反射
鏡１６を移動させ、電波を遮らない位置に待避させる。Here, the principle of operation will be described in detail with reference to FIGS. First, in FIG.
In order to measure the reference wave, the focusing reflector raising / lowering rotating mechanism 19 is used.
As a result, the fourth focusing reflector 16 is moved in the focusing reflector raising / lowering direction 27, and is evacuated to a position where radio waves are not blocked.
【００２７】図２に参照波の測定系を示す。供試アンテ
ナ２００の１次放射器１２から電波を放射させると、図
２中点線３２に示すように１次放射器１２近傍の電波の
波面は球面となる。この球面波の電波は、ビーム給電系
光線方向２８に示すように、第１集束反射鏡１３、第２
集束反射鏡１４、第３集束反射鏡１５によって順次反射
して伝送され、測定用プローブ２１によって受信され
る。FIG. 2 shows a measurement system of the reference wave. When a radio wave is emitted from the primary radiator 12 of the test antenna 200, the wavefront of the radio wave near the primary radiator 12 becomes a spherical surface as shown by a dotted line 32 in FIG. As shown in the beam feeding system ray direction 28, the spherical electric wave is transmitted to the first focusing mirror 13, the second focusing mirror 13,
The light is reflected and transmitted by the focusing mirror 14 and the third focusing mirror 15 sequentially, and received by the measurement probe 21.
【００２８】測定用プローブ２１は、プローブ走査装置
２０によって所定の範囲の面上で走査され、参照波の２
次元位相分布が受信機６によって測定される。測定面に
おける波面は、図２の波面３３に示すように局所的な変
化のないグローバルな分布となる。この理由は、波面３
３の波面収差に関しては、第１集束反射鏡１３、第２集
束反射鏡１４、第３集束反射鏡１５および１次放射器１
２のアライメント誤差と、１次放射器１２の位相パター
ンの球面からのずれによって生じたグローバルな波面収
差が支配的であり、細かいピッチの凹凸である集束反射
鏡１３、１４、１５の鏡面誤差が通常無視できるほど小
さいためである。The measurement probe 21 is scanned on a surface within a predetermined range by the probe scanning device 20, and the reference probe 2
The dimensional phase distribution is measured by the receiver 6. The wavefront on the measurement surface has a global distribution without any local change as shown by the wavefront 33 in FIG. This is because wavefront 3
Regarding the wavefront aberration of No. 3, the first focusing reflector 13, the second focusing reflector 14, the third focusing reflector 15, and the primary radiator 1
2 and the global wavefront aberration caused by the deviation of the phase pattern of the primary radiator 12 from the spherical surface is dominant, and the mirror surface errors of the focusing mirrors 13, 14, and 15 having fine pitch irregularities are reduced. This is because it is usually small enough to be ignored.
【００２９】次に、供試アンテナ２００の主反射鏡１に
よるものを測定するため、集束反射鏡昇降回転機構１９
によって第４集束反射鏡１６を所定の位置に戻し、さら
に反転させるようにして回転させる。このときの測定系
を図３に示す。第４集束反射鏡１６は供試アンテナ２０
０の送信の使用状態では、第３集束反射鏡１５と副反射
鏡２３との間の電波を伝送させるように配置されるが、
図３のように送信のアンテナの使用状態とは異なる向き
に設置して、副反射鏡２３と測定用プローブ２１間で電
波を伝送させるように配置される。また、供試アンテナ
２００の主反射鏡１の開口面は、平面波４の波面と平行
になるように向け、供試アンテナ２００の姿勢を固定す
る。そして、測定中供試アンテナ２００の姿勢は変化さ
せない。Next, in order to measure what is measured by the main reflector 1 of the test antenna 200, the focusing reflector raising and lowering rotation mechanism 19 is used.
Then, the fourth focusing mirror 16 is returned to a predetermined position, and further rotated so as to be inverted. FIG. 3 shows the measurement system at this time. The fourth focusing mirror 16 is a test antenna 20.
In the use state of transmission of 0, it is arranged so as to transmit radio waves between the third focusing reflector 15 and the sub-reflector 23,
As shown in FIG. 3, the antenna is installed in a direction different from the use state of the transmitting antenna, and is arranged to transmit radio waves between the sub-reflector 23 and the measurement probe 21. The aperture of the main reflector 1 of the antenna under test 200 is oriented so as to be parallel to the wavefront of the plane wave 4, and the posture of the antenna under test 200 is fixed. The attitude of the test antenna 200 is not changed during the measurement.
【００３０】この測定系において、遠方からの平面波４
を、供試アンテナ２００の主反射鏡１、副反射鏡２３、
第４集束反射鏡１６で順次反射して伝送させ、測定用プ
ローブ２１によって受信する。測定用プローブ２１は、
プローブ走査装置２０によって所定の範囲の面上で走査
され、ピックアップした電波の２次元位相分布が受信機
６によって測定される。平面波４の波面は、図３の波面
３０に示すように、主反射鏡１の開口面に対し一様に平
面であり、一方、測定面における波面は、図３の波面３
２に示すように凹凸がみられる。これは、主反射鏡１お
よび副反射鏡２３のアライメント誤差によって生じるグ
ローバルな波面収差と、主反射鏡１の細かいピッチの凹
凸の両方が含まれているためである。こうして得られた
平面波４の位相分布と参照波の位相分布の差を求め、そ
れらから主反射鏡１の鏡面誤差を求める。In this measuring system, a plane wave 4
To the main reflector 1, the sub-reflector 23 of the test antenna 200,
The light is sequentially reflected by the fourth focusing mirror 16 and transmitted, and received by the measurement probe 21. The measurement probe 21
The two-dimensional phase distribution of the radio wave that has been scanned on the surface of the predetermined range by the probe scanning device 20 and picked up is measured by the receiver 6. The wavefront of the plane wave 4 is uniformly flat with respect to the aperture surface of the main reflecting mirror 1, as shown by the wavefront 30 in FIG. 3, while the wavefront on the measurement surface is the wavefront 3 in FIG.
As shown in FIG. This is because both the global wavefront aberration caused by the alignment error between the main reflecting mirror 1 and the sub-reflecting mirror 23 and the fine pitch unevenness of the main reflecting mirror 1 are included. The difference between the phase distribution of the plane wave 4 obtained in this way and the phase distribution of the reference wave is obtained, and the mirror surface error of the main reflecting mirror 1 is obtained therefrom.
【００３１】この鏡面誤差には、すでに述べたように、
各鏡面のアライメント誤差などのグローバルな波面収差
による成分と主反射鏡１の凹凸が含まれる。そのため、
グローバルな波面収差について評価しない様にするた
め、最小２乗法によって低次の波面収差の関数の成分を
求め、これを取り除く。これによって、主反射鏡１の凹
凸のみが得られる。As described above, this mirror surface error includes:
A component due to global wavefront aberration such as an alignment error of each mirror surface and unevenness of the main reflecting mirror 1 are included. for that reason,
In order not to evaluate the global wavefront aberration, a low-order wavefront aberration function component is obtained by the least squares method, and this is removed. Thereby, only the unevenness of the main reflecting mirror 1 is obtained.
【００３２】このようにして得られた鏡面誤差分布は、
測定面上のスケールが主反射鏡１の開口面上のスケール
と異なり、鏡面の倍率によって決まる縮尺でスケールダ
ウンしたものとして得られ、一方、鏡面誤差の大きさの
スケールは主反射鏡１の凹凸に対応したものが得られ
る。そして得られた主反射鏡１の凹凸から、主反射鏡１
の凹凸が小さくなるようアクチュエータ１ｂを制御して
複数の鏡面パネル１ａを駆動し、鏡面調整が高精度とな
るように調整をする。このように、測定用プローブ２１
を電波の集束している位置に配置することによって、狭
い走査範囲で測定できる。The mirror error distribution obtained in this way is:
The scale on the measurement surface is different from the scale on the opening surface of the main reflecting mirror 1 and is obtained by being scaled down by a scale determined by the magnification of the mirror surface. Is obtained. From the obtained irregularities of the main reflecting mirror 1, the main reflecting mirror 1
By controlling the actuator 1b so as to reduce the unevenness of the mirror surface, the plurality of mirror surface panels 1a are driven, and the mirror surface adjustment is performed with high accuracy. Thus, the measurement probe 21
By locating at a position where radio waves are focused, measurement can be performed in a narrow scanning range.
【００３３】従って、このような構成のアンテナ測定・
調整装置においては、主反射鏡１の開口径に比べてプロ
ーブ走査装置２０を充分小さくコンパクトでき、機械的
な走査精度を向上させることができると同時に、供試ア
ンテナ２００の姿勢を測定中固定でき、重力による変形
も一定に抑えることができ、高精度に測定することがで
きる。Therefore, the antenna measurement and the
In the adjusting device, the probe scanning device 20 can be made sufficiently small and compact as compared with the opening diameter of the main reflecting mirror 1, and the mechanical scanning accuracy can be improved. At the same time, the posture of the test antenna 200 can be fixed during the measurement. In addition, deformation due to gravity can be suppressed to a constant level, and measurement can be performed with high accuracy.
【００３４】特に、ミリ波・サブミリ波では、周囲に反
射物となる散乱体があっても、そのような周囲からの入
射波自体が皆無であり周囲反射の影響は無視できるの
で、電波吸収体を床や壁に敷き詰める電波無反射室のよ
うな設備が不要で、測定設備を簡易でかつ低コストに提
供できる。その結果、高精度にアンテナ測定でき、それ
から得られる鏡面誤差を基に高精度に鏡面調整を行うこ
とができる。In particular, in the case of a millimeter wave or a submillimeter wave, even if there is a scatterer serving as a reflector in the surroundings, there is no incident wave itself from the surroundings and the influence of the surrounding reflection can be neglected. This eliminates the need for a facility such as a radio wave non-reflection room in which floor space is laid on the floor or wall, and can provide measurement equipment simply and at low cost. As a result, antenna measurement can be performed with high accuracy, and mirror surface adjustment can be performed with high accuracy based on the mirror surface error obtained from the antenna measurement.
【００３５】尚、本実施の形態においては、第４集束反
射鏡１６に達するまでに、３個の集束反射鏡、すなわ
ち、第１集束反射鏡１３、第２集束反射鏡１４、第３集
束反射鏡１５が設けられているが、この３個の集束反射
鏡は、必ずしもなくてはならないものではない。すなわ
ち、第３集束反射鏡１５の位置に１次放射器１２を、第
４集束反射鏡１６方向に向けて設置した場合の構成にお
いても同様の効果を得ることが出来る。In the present embodiment, three focusing reflectors, ie, a first focusing reflector 13, a second focusing reflector 14, and a third focusing reflector, are provided before reaching the fourth focusing reflector 16. Although a mirror 15 is provided, these three focusing reflectors are not indispensable. That is, the same effect can be obtained in a configuration in which the primary radiator 12 is installed at the position of the third focusing reflector 15 in the direction of the fourth focusing reflector 16.
【００３６】また、第４集束反射鏡１６を待避させる方
向は、電波を遮らない位置方向であれば、必ずしもＡｚ
軸方向である必要はない。しかし、Ａｚ軸方向とすれ
ば、アンテナ装置の空きスペースを有効に活用でき、ア
ンテナ装置の大きさをコンパクトにすることができる。The direction in which the fourth focusing reflector 16 is retracted is not necessarily Az if it is in a position where the radio wave is not blocked.
It need not be axial. However, in the case of the Az axis direction, the empty space of the antenna device can be effectively used, and the size of the antenna device can be made compact.
【００３７】さらに、本実施の形態の集束反射鏡昇降回
転機構１９は、昇降および回転の動作をするが、例えば
Ａｚ軸とＥｌ軸が交わる位置にて、３次元に動作するも
のでもよく、すなわち、集束反射鏡昇降回転機構１９の
向きを変化させて、１次放射器１２から放射された電波
をプローブ走査装置２０に入射させると共に、主反射鏡
１および副反射鏡２３を介して入射する外部からの電波
をプローブ走査装置２０に入射させる面の動きをさせる
ものであれば良い。Further, the converging / reflecting mirror raising / lowering rotating mechanism 19 according to the present embodiment moves up and down and rotates. For example, it may operate three-dimensionally at a position where the Az axis and the El axis intersect. The radio wave emitted from the primary radiator 12 is incident on the probe scanning device 20 by changing the direction of the converging / reflecting mirror raising / lowering rotating mechanism 19, and the external radiation is incident via the main reflecting mirror 1 and the sub-reflecting mirror 23. Any device may be used as long as it can move the surface on which the radio wave from the device enters the probe scanning device 20.
【００３８】実施の形態２．図４はこの発明のアンテナ
測定・調整装置の他の例を示す概略構成図である。図４
において、符号１，４，６，１０，１２，１３，１４，
１５，１７，１８，２０，２２，２３，２４，２５は、
図１に示した実施の形態１と同様のものであり、同様の
動作をする。図４において、３００は供試アンテナ、４
０はグリッド鏡面反射鏡、４１はビーム給電系で伝送さ
れた電波のうちグリッド鏡面反射鏡４０を透過する電界
Ｅｒの偏波方向、４２は主反射鏡１および副反射鏡２３
を介して伝送された電波のうちグリッド鏡面反射鏡４０
を反射する電界Ｅｕの偏波方向、４３は測定用偏波共用
プローブである。Embodiment 2 FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing another example of the antenna measurement / adjustment device of the present invention. FIG.
, Symbols 1, 4, 6, 10, 12, 13, 14,
15, 17, 18, 20, 22, 23, 24, 25
This is the same as the first embodiment shown in FIG. 1, and performs the same operation. In FIG. 4, reference numeral 300 denotes a test antenna, 4
0 is the grid mirror reflector, 41 is the polarization direction of the electric field Er passing through the grid mirror reflector 40 of the radio wave transmitted by the beam feed system, 42 is the main reflector 1 and the sub reflector 23
Out of the radio waves transmitted through the
Is the polarization direction of the electric field Eu that reflects light, and 43 is a dual-polarization probe for measurement.
【００３９】次に動作を説明する。供試アンテナ３００
の主反射鏡１の開口面は、平面波４の波面と平行になる
ように向け、供試アンテナ３００の姿勢は固定される。
供試アンテナ３００の１次放射器１２より電波が放射さ
れ、第１集束反射鏡１３、第２集束反射鏡１４、第３集
束反射鏡１５によって順次反射して伝送させ、その電波
のうち偏波方向４１の成分がグリッド鏡面反射鏡４０を
透過し、測定用偏波共用プローブ４３によって受信さ
れ、参照波の２次元位相分布が受信機６によって測定さ
れる。Next, the operation will be described. Test antenna 300
The aperture surface of the main reflector 1 is oriented so as to be parallel to the wavefront of the plane wave 4, and the attitude of the test antenna 300 is fixed.
Radio waves are radiated from the primary radiator 12 of the test antenna 300, and are sequentially reflected and transmitted by the first focusing reflector 13, the second focusing reflector 14, and the third focusing reflector 15, and the polarization of the radio waves The component in the direction 41 passes through the grid mirror reflector 40 and is received by the dual-purpose polarization measuring probe 43, and the two-dimensional phase distribution of the reference wave is measured by the receiver 6.
【００４０】次に、平面波４を供試アンテナ３００の主
反射鏡１、副反射鏡２３で順次反射して伝送させ、その
電波のうち偏波方向４２の成分がグリッド鏡面反射鏡４
０によって反射され、測定用偏波共用プローブ４３によ
って受信され、２次元位相分布が受信機６によって測定
される。こうして得られた位相分布と参照波の位相分布
の差を求め、グローバルな波面収差による成分を除去し
て主反射鏡１の凹凸が得られる。Next, the plane wave 4 is sequentially reflected by the main reflector 1 and the sub-reflector 23 of the test antenna 300 and transmitted, and the component of the radio wave in the polarization direction 42 is reflected by the grid mirror reflector 4.
The light is reflected by 0, received by the dual-purpose polarization probe 43, and the two-dimensional phase distribution is measured by the receiver 6. The difference between the phase distribution obtained in this way and the phase distribution of the reference wave is obtained, and components due to global wavefront aberration are removed to obtain the unevenness of the main reflecting mirror 1.
【００４１】これによって、主反射鏡１の凹凸が小さく
なるようアクチュエータ１ｂを制御して鏡面パネル１ａ
を駆動し、鏡面調整を高精度にすることができる。測定
用偏波共用プローブ４３を電波の集束している位置にお
くことによって、狭い走査範囲で測定できる。Thus, the actuator 1b is controlled so that the unevenness of the main reflecting mirror 1 is reduced, and the mirror panel 1a is controlled.
And the mirror surface adjustment can be performed with high accuracy. By placing the dual-polarization probe for measurement 43 at a position where radio waves are focused, measurement can be performed in a narrow scanning range.
【００４２】従って、このような構成のアンテナ測定・
調整装置においては、主反射鏡１の開口径に比べてプロ
ーブ走査装置２０を充分小さくコンパクトでき、機械的
な走査精度を向上させることができると同時に、供試ア
ンテナ３００の姿勢を測定中固定できるので、重力によ
る変形も一定に抑えることができ高精度に測定すること
ができる。Therefore, the antenna measurement and the
In the adjusting device, the probe scanning device 20 can be made sufficiently small and compact as compared with the aperture diameter of the main reflecting mirror 1, and the mechanical scanning accuracy can be improved. At the same time, the posture of the test antenna 300 can be fixed during the measurement. Therefore, deformation due to gravity can be suppressed to a constant level, and measurement can be performed with high accuracy.
【００４３】特に、ミリ波・サブミリ波では、周囲に反
射物となる散乱体があっても、そのような周囲からの入
射波自体が皆無であり周囲反射の影響は無視できるの
で、電波吸収体を床や壁に敷き詰める電波無反射室のよ
うな設備が不要で、測定設備を簡易でかつ低コストに提
供できる。その結果、高精度にアンテナ測定でき、それ
から得られる鏡面誤差を基に高精度に鏡面調整を行うこ
とができる。In particular, in the case of a millimeter wave or a submillimeter wave, even if there is a scatterer serving as a reflector in the surroundings, there is no incident wave itself from the surroundings and the influence of the surrounding reflection can be neglected. This eliminates the need for a facility such as a radio wave non-reflection room in which floor space is laid on the floor or wall, and can provide measurement equipment simply and at low cost. As a result, antenna measurement can be performed with high accuracy, and mirror surface adjustment can be performed with high accuracy based on the mirror surface error obtained from the antenna measurement.
【００４４】実施の形態３．図５はこの発明のアンテナ
測定・調整装置の他の例を示す概略構成図である。図５
において、符号１、４、６、１０、１２、１３、１４、
１５、１６、１７、１８、１９、２０、２１、２２、２
３、２４、２５、２８は、図１に示した実施の形態１と
同様のものであり、同様の動作をする。図５において、
４００は供試アンテナ、４４は参照波送信アンテナ、４
５は参照波送信アンテナ鏡軸である。供試アンテナ４０
０の主反射鏡１の開口面は、平面波４の波面と平行にな
るように向けられ、供試アンテナ４００の姿勢は固定さ
れている。Embodiment 3 FIG. FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing another example of the antenna measurement / adjustment device of the present invention. FIG.
, Symbols 1, 4, 6, 10, 12, 13, 14,
15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 2,
3, 24, 25, and 28 are the same as those in the first embodiment shown in FIG. 1, and perform the same operations. In FIG.
400 is a test antenna, 44 is a reference wave transmitting antenna, 4
Reference numeral 5 denotes a mirror axis of a reference wave transmitting antenna. Test antenna 40
The aperture surface of the 0 main reflector 1 is oriented so as to be parallel to the wavefront of the plane wave 4, and the attitude of the test antenna 400 is fixed.
【００４５】次に動作を説明する。まず、参照波の測定
を行うため、参照波送信アンテナ４４からの電波を測定
用プローブ２１の走査面に向けて反射するよう集束反射
鏡昇降回転機構１９によって第４集束反射鏡１６の向き
を変える。Next, the operation will be described. First, in order to measure the reference wave, the direction of the fourth focusing mirror 16 is changed by the focusing mirror raising / lowering rotating mechanism 19 so that the radio wave from the reference wave transmitting antenna 44 is reflected toward the scanning surface of the measurement probe 21. .
【００４６】図６に本実施の形態のアンテナ測定・調整
装置における参照波の測定系を示す。参照波送信アンテ
ナ４４から放射された電波は、第４集束反射鏡１６で反
射され、測定用プローブ２１によって受信される。測定
用プローブ２１はプローブ走査装置２０によって所定の
範囲の面上で走査され、参照波の２次元位相分布が受信
機６によって測定される。FIG. 6 shows a reference wave measuring system in the antenna measuring and adjusting apparatus according to the present embodiment. The radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna 44 is reflected by the fourth focusing mirror 16 and received by the measurement probe 21. The probe for measurement 21 is scanned by a probe scanning device 20 on a surface within a predetermined range, and the two-dimensional phase distribution of the reference wave is measured by the receiver 6.
【００４７】次に、ビーム給電系の波面収差を測定する
ため、集束反射鏡昇降回転機構１９によって第４集束反
射鏡１６を電波を遮らない位置に待避させる。そして、
供試アンテナ４００の１次放射器１２より電波を放射さ
せ、第１集束反射鏡１３、第２集束反射鏡１４、第３集
束反射鏡１５によって順次反射して伝送させ、測定用プ
ローブ２１によって受信して、２次元位相分布が受信機
６によって測定される。こうして得られた位相分布と参
照波の位相分布の差を求め、ビーム給電系の波面収差が
得られる。この波面収差が小さくなるよう供試アンテナ
４００の１次放射器１２、第１集束反射鏡１３、第２集
束反射鏡１４、および第３集束反射鏡１５のアライメン
トを調整する。Next, in order to measure the wavefront aberration of the beam feeding system, the fourth focusing mirror 16 is retracted to a position where radio waves are not blocked by the focusing mirror raising / lowering rotating mechanism 19. And
Radio waves are radiated from the primary radiator 12 of the test antenna 400, sequentially reflected and transmitted by the first focusing reflector 13, the second focusing reflector 14, and the third focusing reflector 15, and received by the measurement probe 21. Then, the two-dimensional phase distribution is measured by the receiver 6. The difference between the phase distribution thus obtained and the phase distribution of the reference wave is obtained, and the wavefront aberration of the beam feed system is obtained. The alignment of the primary radiator 12, the first focusing reflector 13, the second focusing reflector 14, and the third focusing reflector 15 of the test antenna 400 is adjusted so that the wavefront aberration is reduced.
【００４８】次に、供試アンテナ４００の主反射鏡１に
よるものを測定するため、集束反射鏡昇降回転機構１９
によって第４集束反射鏡１６を所定の位置に戻し、さら
に反転させるようにして回転させる。平面波４を供試ア
ンテナの主反射鏡１、副反射鏡２３、第４集束反射鏡１
６で順次反射して伝送させ、測定用プローブ２１によっ
て受信して、２次元位相分布が受信機６によって測定さ
れる。こうして得られた位相分布と参照波の位相分布の
差を求め、主反射鏡１の凹凸が得られる。これによっ
て、主反射鏡１の凹凸が小さくなるようアクチュエータ
１ｂを制御して鏡面パネル１ａを駆動し、鏡面調整を高
精度に行うことができる。測定用プローブ２１を電波の
集束している位置におくことによって、狭い走査範囲で
測定できる。Next, in order to measure what is measured by the main reflector 1 of the test antenna 400, the focusing reflector raising and lowering rotation mechanism 19 is used.
Then, the fourth focusing mirror 16 is returned to a predetermined position, and further rotated so as to be inverted. The plane wave 4 is applied to the main reflector 1, the sub reflector 23, and the fourth focusing reflector 1 of the antenna under test.
The light is sequentially reflected and transmitted at 6, received by the measurement probe 21, and the two-dimensional phase distribution is measured by the receiver 6. By obtaining the difference between the phase distribution thus obtained and the phase distribution of the reference wave, the unevenness of the main reflecting mirror 1 is obtained. Thereby, the mirror 1 can be driven by controlling the actuator 1b so as to reduce the unevenness of the main reflecting mirror 1 and the mirror surface can be adjusted with high accuracy. By placing the measurement probe 21 at a position where radio waves are focused, measurement can be performed in a narrow scanning range.
【００４９】従って、このような構成のアンテナ測定・
調整装置においては、主反射鏡１の開口径に比べてプロ
ーブ走査装置２０を充分小さくコンパクトできるので、
機械的な走査精度を向上させることができると同時に、
供試アンテナ４００の姿勢を測定中固定できるので、重
力による変形も一定に抑えることができ高精度に測定す
ることができる。Therefore, the antenna measurement and
In the adjusting device, the probe scanning device 20 can be made sufficiently small and compact as compared with the opening diameter of the main reflecting mirror 1.
At the same time as improving the mechanical scanning accuracy,
Since the attitude of the test antenna 400 can be fixed during the measurement, deformation due to gravity can be suppressed to a constant level, and measurement can be performed with high accuracy.
【００５０】特に、ミリ波・サブミリ波では、周囲に反
射物となる散乱体があっても、そのような周囲からの入
射波自体が皆無であり周囲反射の影響は無視できるの
で、電波吸収体を床や壁に敷き詰める電波無反射室のよ
うな設備が不要で、測定設備を簡易でかつ低コストに提
供できる。その結果、高精度にアンテナ測定でき、それ
から得られる鏡面誤差を基に高精度に鏡面調整を行うこ
とができる。In particular, in the case of a millimeter wave or a submillimeter wave, even if there is a scatterer serving as a reflector in the surroundings, there is no such incident wave from the surroundings and the influence of the surrounding reflection can be neglected. This eliminates the need for a facility such as a radio wave non-reflection room in which floor space is laid on the floor or wall, and can provide measurement equipment simply and at low cost. As a result, antenna measurement can be performed with high accuracy, and mirror surface adjustment can be performed with high accuracy based on the mirror surface error obtained from the antenna measurement.
【００５１】[0051]
【発明の効果】この発明に係るアンテナ測定・調整装置
は、分割された複数の鏡面パネルでなる主反射鏡、主反
射鏡の電波集束位置に設けられた副反射鏡、電波を放射
する１次放射器、外部からの電波を受信する受信機、お
よび１次放射器から放射された電波を副反射鏡方向に反
射させると共に、副反射鏡方向から入射する外部からの
電波を受信機に反射させる回転反射鏡を有し、アンテナ
装置が電波を送信する場合には、１次放射器から放射さ
れた電波を回転反射鏡にて反射させ副反射鏡および主反
射鏡を介して外部に放射し、また、アンテナ装置が電波
を受信する場合には、外部からの電波を主反射鏡で集束
させ副反射鏡および回転反射鏡を介して入射する電波を
受信機で受信するアンテナ装置の主反射鏡の鏡面誤差を
測定する鏡面測定および鏡面誤差に基づいて鏡面パネル
の位置の調整を行うアンテナ測定・調整装置において、
電波の強度を測定するプローブを走査させ所定の範囲の
電波の位相分布を測定するプローブ走査装置と、回転反
射鏡に接続され、回転反射鏡の方向を変化させて、１次
放射器から放射された電波をプローブ走査装置に入射さ
せると共に、主反射鏡および副反射鏡を介して入射する
外部からの電波をプローブ走査装置に入射させる駆動機
構と、１次放射器から放射された電波の位相分布と主反
射鏡および副反射鏡を介して入射する外部からの電波の
位相分布とから主反射鏡の鏡面誤差を算出する鏡面誤差
演算処理装置と、複数の鏡面パネルに各々設けられ鏡面
パネルを偏位させるアクチュエータと、鏡面誤差演算処
理装置の出力に基づいて鏡面誤差が最小になるようにア
クチュエータを動作させるアクチュエータ制御装置とを
備えている。そのため、主反射鏡の開口径に比べてプロ
ーブ走査装置を充分小さくコンパクトでき、機械的な走
査精度を向上させることができると同時に、供試アンテ
ナ姿勢を測定中固定することができ、重力による変形も
一定に抑えることができ、高精度に測定することができ
る。The antenna measuring and adjusting device according to the present invention comprises a main reflecting mirror comprising a plurality of divided mirror panels, a sub-reflecting mirror provided at a radio wave focusing position of the main reflecting mirror, and a primary radiating radio wave. A radiator, a receiver for receiving an external radio wave, and a radio wave radiated from the primary radiator are reflected toward the sub-reflector, and an external radio wave incident from the sub-reflector is reflected to the receiver. When the antenna device transmits a radio wave, the radio wave radiated from the primary radiator is reflected by the rotary reflector and radiated to the outside via the sub-reflector and the main reflector. Also, when the antenna device receives radio waves, the radio wave from the outside is focused by the main reflector and the radio waves incident through the sub-reflector and the rotary reflector are received by the receiver. Mirror surface measurement to measure mirror surface error In the antenna measurement and adjustment device for adjusting the position of the mirror panels based on surface error and,
A probe scanning device that scans a probe that measures the strength of radio waves and measures the phase distribution of radio waves in a predetermined range, and is connected to a rotating reflector, changes the direction of the rotating reflector, and radiates from the primary radiator. Drive mechanism to make the radio waves incident on the probe scanning device, and also to make external radio waves incident through the main reflector and sub-reflector into the probe scanning device, and the phase distribution of the radio waves emitted from the primary radiator A mirror error calculation processing device for calculating a mirror error of the main reflector from the phase distribution of an external radio wave incident through the main reflector and the sub-reflector; And an actuator control device that operates the actuator based on the output of the mirror error calculation processing device so that the mirror error is minimized. As a result, the probe scanning device can be made sufficiently small and compact compared to the opening diameter of the main reflector, and the mechanical scanning accuracy can be improved. Can also be kept constant, and measurement can be performed with high accuracy.
【００５２】また、参照波を放射する参照波送信アンテ
ナをさらに有し、また、１次放射器からプローブ走査装
置との間には、回転反射鏡の他に少なくとも１個の他の
集束反射鏡を有し、駆動機構は、参照波送信アンテナか
ら放射された電波をプローブ走査装置に入射させると共
に、１次放射器から放射された電波をプローブ走査装置
に入射させ、さらに主反射鏡および副反射鏡を介して入
射する外部からの電波をプローブ走査装置に入射させ、
鏡面誤差演算処理装置は、参照波送信アンテナから放射
された電波の位相分布と１次放射器から放射された電波
の位相分布とから他の集束反射鏡の鏡面誤差である第１
の鏡面誤差を算出し、また、１次放射器から放射された
電波の位相分布と主反射鏡および副反射鏡を介して入射
する外部からの電波の位相分布とから第２の鏡面誤差を
算出し、第１の鏡面誤差と第２の鏡面誤差から主反射鏡
の鏡面誤差を算出する。そのため、１次放射器から放射
された電波がプローブ走査装置に入射するまでの第１の
鏡面誤差を差し引いて、主反射鏡の鏡面誤差を算出する
ことができ、より高精度に測定することができる。Further, the apparatus further comprises a reference wave transmitting antenna for radiating a reference wave, and at least one other focusing mirror in addition to the rotating mirror between the primary radiator and the probe scanning device. The driving mechanism causes the radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna to be incident on the probe scanning device, and the radio wave radiated from the primary radiator is incident on the probe scanning device, and further includes a main reflecting mirror and a sub-reflecting device. An external radio wave incident through a mirror is incident on the probe scanning device,
The mirror error calculation processing device calculates a mirror error of the other focusing reflector from the phase distribution of the radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna and the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator.
And the second mirror error is calculated from the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator and the phase distribution of the radio wave incident from the outside via the main reflector and the sub-reflector. Then, a mirror error of the main reflecting mirror is calculated from the first mirror error and the second mirror error. Therefore, by subtracting the first mirror error until the radio wave radiated from the primary radiator is incident on the probe scanning device, the mirror error of the main reflecting mirror can be calculated, and the measurement can be performed with higher accuracy. it can.
【００５３】また、駆動機構は、１次放射器から放射さ
れた電波が回転反射鏡にて反射され副反射鏡および主反
射鏡を介して外部に放射される一連の電波通過経路か
ら、回転反射鏡が外れるように回転反射鏡を待避させ
て、１次放射器から放射された電波をプローブ走査装置
に入射させる。そのため、駆動機構の動作を簡単とする
ことができ作成が容易とすることができる。Further, the driving mechanism rotates and reflects the radio wave radiated from the primary radiator from a series of radio wave passages which are reflected by the rotary reflecting mirror and radiated to the outside via the sub-reflecting mirror and the main reflecting mirror. The rotating reflecting mirror is retracted so that the mirror comes off, and the radio wave emitted from the primary radiator is made incident on the probe scanning device. Therefore, the operation of the drive mechanism can be simplified, and the creation can be facilitated.
【００５４】また、駆動機構の回転反射鏡の待避方向
は、主反射鏡の方位角軸方向である。そのため、アンテ
ナ装置の空きスペースを有効に活用でき、アンテナ装置
の大きさをコンパクトにすることができる。The retracting direction of the rotary reflecting mirror of the drive mechanism is the azimuth axis direction of the main reflecting mirror. Therefore, the empty space of the antenna device can be effectively used, and the size of the antenna device can be reduced.
【００５５】さらに、この発明に係るアンテナ測定・調
整装置は、分割された複数の鏡面パネルでなる主反射
鏡、主反射鏡の電波集束位置に設けられた副反射鏡、電
波を放射する１次放射器、および電波を受信する受信機
を有し、アンテナ装置が電波を送信する場合には、１次
放射器から放射された電波を副反射鏡および主反射鏡を
介して外部に放射し、また、アンテナ装置が電波を受信
する場合には、外部からの電波を主反射鏡で集束させ、
副反射鏡を介して入射する電波を受信機で受信するアン
テナ装置の主反射鏡の鏡面誤差を測定する鏡面測定およ
び鏡面誤差に基づいて鏡面パネルの位置の調整を行うア
ンテナ測定・調整装置において、電波の強度を測定する
プローブを走査させ所定の範囲の電波の位相分布を測定
するプローブ走査装置と、複数の平行なスリットである
グリッドが形成され、１次放射器から放射された電波の
一部をプローブ走査装置に入射させると共に、主反射鏡
および副反射鏡を介して入射する外部からの電波の一部
をプローブ走査装置に入射させるグリッド鏡面反射鏡
と、１次放射器から放射された電波の位相分布と主反射
鏡および副反射鏡を介して入射する外部からの電波の位
相分布とから主反射鏡の鏡面誤差を算出する鏡面誤差演
算処理装置と、複数の鏡面パネルに各々設けられ鏡面パ
ネルを偏位させるアクチュエータと、鏡面誤差演算処理
装置の出力に基づいて鏡面誤差が最小になるようにアク
チュエータを動作させるアクチュエータ制御装置とを備
えている。そのため、駆動装置を設けることがなく、簡
単な構成で、主反射鏡を高精度に測定することができ、
コストダウンをすることが出来る。Further, the antenna measuring / adjusting apparatus according to the present invention includes a main reflecting mirror composed of a plurality of divided mirror panels, a sub-reflecting mirror provided at a radio wave focusing position of the main reflecting mirror, and a primary radiating radio wave. A radiator, and a receiver for receiving radio waves, when the antenna device transmits radio waves, radiates the radio waves radiated from the primary radiator to the outside via the sub-reflector and the main reflector, Also, when the antenna device receives radio waves, external radio waves are focused by the main reflector,
An antenna measurement and adjustment device that adjusts the position of the mirror panel based on the mirror measurement and the mirror surface error that measures the mirror error of the main reflector of the antenna device that receives the radio wave incident via the sub-reflector at the receiver, A probe scanning device that scans a probe that measures the intensity of radio waves and measures the phase distribution of the radio waves in a predetermined range, and a grid that is a plurality of parallel slits is formed, and a part of the radio waves emitted from the primary radiator And a radio wave radiated from the primary radiator, and a grid mirror that causes a portion of an external radio wave incident through the main reflector and the sub-reflector to be incident on the probe scanner. A mirror surface error calculation processing device for calculating a mirror surface error of the main reflecting mirror from the phase distribution of the main reflecting mirror and the phase distribution of an external radio wave incident via the sub-reflecting mirror; An actuator for each provided deflection mirror panel mirror panel, and an actuator control device for operating the actuator so specular error is minimized based on the output of the surface error processing unit. Therefore, it is possible to measure the main reflecting mirror with high accuracy with a simple configuration without providing a driving device,
Cost can be reduced.
【図１】 この発明のアンテナ測定・調整装置を示す概
略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an antenna measurement / adjustment device of the present invention.
【図２】 アンテナ測定・調整装置の原理を説明する図
である。FIG. 2 is a diagram illustrating the principle of an antenna measurement and adjustment device.
【図３】 アンテナ測定・調整装置の原理を説明する図
である。FIG. 3 is a diagram illustrating the principle of an antenna measurement and adjustment device.
【図４】 この発明のアンテナ測定・調整装置の他の例
を示す概略構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing another example of the antenna measurement / adjustment device of the present invention.
【図５】 この発明のアンテナ測定・調整装置の他の例
を示す概略構成図である。FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing another example of the antenna measurement / adjustment device of the present invention.
【図６】 アンテナ測定・調整装置における参照波の測
定系を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a measurement system of a reference wave in the antenna measurement and adjustment device.
【図７】 従来のアンテナ測定・調整装置を示す概略構
成図である。FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing a conventional antenna measurement / adjustment device.
１ 主反射鏡、１ａ 鏡面パネル、１ｂ アクチュエー
タ、６ 受信機、１０アクチュエータ制御装置、１２
１次放射器、１３ 第１集束反射鏡（他の集束反射
鏡）、１４ 第２集束反射鏡（他の集束反射鏡）、１５
第３集束反射鏡（他の集束反射鏡）、１６ 第４集束
反射鏡（回転反射鏡）、１９ 集束反射鏡昇降回転機構
（駆動機構）、２０ プローブ走査装置、２１ 測定用
プローブ、２３ 副反射鏡、２５ 鏡面誤差演算処理装
置、４０ グリッド鏡面反射鏡、４４ 参照波送信アン
テナ。Reference Signs List 1 main reflecting mirror, 1a mirror panel, 1b actuator, 6 receiver, 10 actuator controller, 12
Primary radiator, 13 first focusing reflector (other focusing reflector), 14 second focusing reflector (other focusing reflector), 15
3rd focusing reflector (other focusing reflector), 16 4th focusing reflector (rotating reflector), 19 focusing reflector raising / lowering mechanism (drive mechanism), 20 probe scanning device, 21 measuring probe, 23 sub-reflection Mirror, 25 mirror error calculation processing device, 40 grid mirror reflector, 44 reference wave transmitting antenna.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 操一 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 Ｆターム(参考） 5J020 AA03 BA09 BC02 BC06 CA02 DA03 DA04 5J021 AA01 AB07 BA01 DA03 DA04 DA05 DA06 DA07 DB03 EA04 FA20 GA01 GA08 HA03 HA04 HA05 HA07 JA10 5J047 AA04 AA09 AB05 AB18 BB09 BB12 BB19 BB20 BB21 BC15 BF10 BG05 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Shoichi Matsumoto 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo F-term (reference) 5M020 AA03 BA09 BC02 BC06 CA02 DA03 DA04 5J021 AA01 AB07 BA01 DA03 DA04 DA05 DA06 DA07 DB03 EA04 FA20 GA01 GA08 HA03 HA04 HA05 HA07 JA10 5J047 AA04 AA09 AB05 AB18 BB09 BB12 BB19 BB20 BB21 BC15 BF10 BG05
Claims (5)
射鏡、上記主反射鏡の電波集束位置に設けられた副反射
鏡、電波を放射する１次放射器、外部からの電波を受信
する受信機、および上記１次放射器から放射された電波
を上記副反射鏡方向に反射させると共に、上記副反射鏡
方向から入射する外部からの電波を上記受信機に反射さ
せる回転反射鏡を有し、 アンテナ装置が電波を送信する場合には、上記１次放射
器から放射された電波を上記回転反射鏡にて反射させ上
記副反射鏡および上記主反射鏡を介して外部に放射し、
また、アンテナ装置が電波を受信する場合には、外部か
らの電波を上記主反射鏡で集束させ上記副反射鏡および
上記回転反射鏡を介して入射する電波を上記受信機で受
信するアンテナ装置の上記主反射鏡の鏡面誤差を測定す
る鏡面測定および該鏡面誤差に基づいて上記鏡面パネル
の位置の調整を行うアンテナ測定・調整装置において、 電波の強度を測定するプローブを走査させ所定の範囲の
電波の位相分布を測定するプローブ走査装置と、 上記回転反射鏡に接続され、上記回転反射鏡の方向を変
化させて、上記１次放射器から放射された電波を上記プ
ローブ走査装置に入射させると共に、上記主反射鏡およ
び上記副反射鏡を介して入射する外部からの電波を上記
プローブ走査装置に入射させる駆動機構と、 上記１次放射器から放射された電波の位相分布と上記主
反射鏡および上記副反射鏡を介して入射する外部からの
電波の位相分布とから該主反射鏡の鏡面誤差を算出する
鏡面誤差演算処理装置と、 上記複数の鏡面パネルに各々設けられ該鏡面パネルを偏
位させるアクチュエータと、 上記鏡面誤差演算処理装置の出力に基づいて上記鏡面誤
差が最小になるように上記アクチュエータを動作させる
アクチュエータ制御装置とを備えたことを特徴とするア
ンテナ測定・調整装置。1. A main reflector comprising a plurality of divided mirror panels, a sub-reflector provided at a radio wave focusing position of the main reflector, a primary radiator for radiating radio waves, and receiving an external radio wave. A receiver, and a rotating reflector for reflecting radio waves emitted from the primary radiator in the direction of the sub-reflector and for reflecting external radio waves incident from the direction of the sub-reflector to the receiver. When the antenna device transmits a radio wave, the radio wave radiated from the primary radiator is reflected by the rotary reflecting mirror and radiated to the outside via the sub-reflecting mirror and the main reflecting mirror,
Further, when the antenna device receives a radio wave, an antenna device that focuses an external radio wave on the main reflecting mirror and receives a radio wave incident via the sub-reflecting mirror and the rotating reflecting mirror on the receiver. An antenna measurement / adjustment device for measuring a mirror error of the main reflecting mirror and adjusting a position of the mirror panel based on the mirror error. A probe scanning device that measures the phase distribution of the probe, connected to the rotating mirror, changing the direction of the rotating mirror, and causing the radio wave emitted from the primary radiator to enter the probe scanning device; A drive mechanism for causing external radio waves incident through the main reflecting mirror and the sub-reflecting mirror to enter the probe scanning device; and a driving mechanism radiated from the primary radiator. A mirror error calculation processing device for calculating a mirror error of the main reflector from the phase distribution of the main reflector and the phase distribution of an external radio wave incident via the sub-reflector, and the plurality of mirror panels. An actuator is provided, each of which is provided to deviate the mirror surface panel, and an actuator control device which operates the actuator so as to minimize the mirror error based on an output of the mirror error calculation processing device. Antenna measurement and adjustment device.
さらに有し、 また、上記１次放射器から上記プローブ走査装置との間
には、上記回転反射鏡の他に少なくとも１個の他の集束
反射鏡を有し、 上記駆動機構は、上記参照波送信アンテナから放射され
た電波を上記プローブ走査装置に入射させると共に、上
記１次放射器から放射された電波を上記プローブ走査装
置に入射させ、さらに上記主反射鏡および上記副反射鏡
を介して入射する外部からの電波を上記プローブ走査装
置に入射させ、 上記鏡面誤差演算処理装置は、上記参照波送信アンテナ
から放射された電波の位相分布と上記１次放射器から放
射された電波の位相分布とから上記他の集束反射鏡の鏡
面誤差である第１の鏡面誤差を算出し、また、上記１次
放射器から放射された電波の位相分布と上記主反射鏡お
よび上記副反射鏡を介して入射する外部からの電波の位
相分布とから第２の鏡面誤差を算出し、上記第１の鏡面
誤差と上記第２の鏡面誤差から上記主反射鏡の鏡面誤差
を算出することを特徴とする請求項１記載のアンテナ測
定・調整装置。2. The apparatus according to claim 1, further comprising: a reference wave transmitting antenna for radiating a reference wave, wherein at least one other besides the rotary reflector is provided between the primary radiator and the probe scanning device. A focusing mirror, and the driving mechanism causes the radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna to be incident on the probe scanning device and causes the radio wave radiated from the primary radiator to be incident on the probe scanning device. Further, an external radio wave incident through the main reflecting mirror and the sub-reflecting mirror is made incident on the probe scanning device, and the mirror surface error calculation processing device performs a phase distribution of a radio wave radiated from the reference wave transmitting antenna. A first mirror error, which is a mirror error of the other focusing reflector, is calculated from the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator and the phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator. A second mirror error is calculated from a phase distribution and a phase distribution of an external radio wave incident through the main reflecting mirror and the sub-reflecting mirror, and the second mirror error is calculated from the first mirror error and the second mirror error. 2. The antenna measuring and adjusting device according to claim 1, wherein a mirror error of the main reflecting mirror is calculated.
射された電波が上記回転反射鏡にて反射され上記副反射
鏡および上記主反射鏡を介して外部に放射される一連の
電波通過経路から、該回転反射鏡が外れるように該回転
反射鏡を待避させて、上記１次放射器から放射された電
波を上記プローブ走査装置に入射させることを特徴とす
る請求項１または２記載のアンテナ測定・調整装置。3. The driving mechanism according to claim 1, wherein a radio wave radiated from the primary radiator is reflected by the rotary reflecting mirror, and is transmitted to the outside through the sub-reflecting mirror and the main reflecting mirror. The radio wave radiated from the primary radiator is made incident on the probe scanning device by retracting the rotary reflector so that the rotary reflector deviates from the path. Antenna measurement and adjustment device.
向は、上記主反射鏡の方位角軸方向であることを特徴と
する請求項３記載のアンテナ測定・調整装置。4. The antenna measurement / adjustment device according to claim 3, wherein a retracting direction of the rotary reflecting mirror of the driving mechanism is an azimuth axis direction of the main reflecting mirror.
射鏡、上記主反射鏡の電波集束位置に設けられた副反射
鏡、電波を放射する１次放射器、および電波を受信する
受信機を有し、 アンテナ装置が電波を送信する場合には、上記１次放射
器から放射された電波を上記副反射鏡および上記主反射
鏡を介して外部に放射し、また、アンテナ装置が電波を
受信する場合には、外部からの電波を上記主反射鏡で集
束させ、上記副反射鏡を介して入射する電波を上記受信
機で受信するアンテナ装置の上記主反射鏡の鏡面誤差を
測定する鏡面測定および該鏡面誤差に基づいて上記鏡面
パネルの位置の調整を行うアンテナ測定・調整装置にお
いて、 電波の強度を測定するプローブを走査させ所定の範囲の
電波の位相分布を測定するプローブ走査装置と、 複数の平行なスリットであるグリッドが形成され、上記
１次放射器から放射された電波の一部を上記プローブ走
査装置に入射させると共に、上記主反射鏡および上記副
反射鏡を介して入射する外部からの電波の一部を上記プ
ローブ走査装置に入射させるグリッド鏡面反射鏡と、 上記１次放射器から放射された電波の位相分布と上記主
反射鏡および上記副反射鏡を介して入射する外部からの
電波の位相分布とから該主反射鏡の鏡面誤差を算出する
鏡面誤差演算処理装置と、 上記複数の鏡面パネルに各々設けられ該鏡面パネルを偏
位させるアクチュエータと、 上記鏡面誤差演算処理装置の出力に基づいて上記鏡面誤
差が最小になるように上記アクチュエータを動作させる
アクチュエータ制御装置とを備えたことを特徴とするア
ンテナ測定・調整装置。5. A main reflector composed of a plurality of divided mirror-finished panels, a sub-reflector provided at a radio wave focusing position of the main reflector, a primary radiator for radiating radio waves, and a receiver for receiving radio waves. When the antenna device transmits a radio wave, the radio wave radiated from the primary radiator is radiated to the outside via the sub-reflector and the main reflector, and the antenna device transmits the radio wave. When receiving, a mirror surface for measuring a mirror error of the main reflecting mirror of the antenna device in which an external radio wave is focused by the main reflecting mirror, and an electric wave incident through the sub-reflecting mirror is received by the receiver. An antenna measurement / adjustment device that adjusts the position of the mirror panel based on the measurement and the mirror error, wherein a probe scanning device that scans a probe for measuring the intensity of the radio wave and measures a phase distribution of the radio wave in a predetermined range, Duplicate A grid, which is a number of parallel slits, is formed, and a part of the radio wave radiated from the primary radiator is made incident on the probe scanning device, and an external light incident via the main reflecting mirror and the sub-reflecting mirror is formed. A grid mirror reflecting mirror for making a part of the radio wave from the probe incident on the probe scanning device; and a phase distribution of the radio wave radiated from the primary radiator and an external light incident through the main reflecting mirror and the sub-reflecting mirror. A mirror error calculation processor for calculating a mirror error of the main reflecting mirror from the phase distribution of the radio wave; an actuator provided on each of the plurality of mirror panels for displacing the mirror panel; and a mirror error calculator. An antenna control device for operating the actuator so that the mirror error is minimized based on an output. .
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