JP2000164322A - スパークプラグ製造方法及び製造装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被処理スパークプラグの個体間で、接地電極
の押圧による曲げ加工後のスプリングバック量にばらつ
きがあっても、ギャップ間隔を正確かつ効率的に調整す
ることができるスパークプラグ製造装置を提供する。 【解決手段】 被処理スパークプラグの接地電極Ｗ2に
対し、試験押圧によって接地電極Ｗ2に生ずる第一ＳＢ
量ｕ1を測定し、その値から続く調整押圧時の第二ＳＢ
量ｕ2’を予測する。この第二ＳＢ量ｕ2’は、各被処理
スパークプラグ特有の値であり、これを加味した押圧量
により調整押圧を行うことで、被処理スパークプラグＷ
の個体間で接地電極のＳＢ量に差が生じていても、その
影響を軽減してギャップ間隔を目標値に確実に調整する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁体中に配置さ
れた中心電極と、その絶縁体の外側に配置された主体金
具と、一端がその主体金具の先端側端面に結合される一
方、他端側が側方に曲げ返されて側面が中心電極の先端
面と対向することにより、該中心電極先端面との間に火
花ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラ
グ（一般に、平行電極型スパークプラグと通称される）
の製造方法及び製造装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記のような平行電極型スパークプラグ
の製造において、火花ギャップの形成及び間隔調整は、
例えば特開平３−６４８８２号公報に開示されているよ
うな方法にて行われている。すなわち、接地電極に予備
押圧を施した後、ＣＣＤカメラ等によりギャップ間隔を
モニタしながらギャップ間隔が目標値に達するまで接地
電極の押圧を繰り返す。この場合、ギャップ間隔の目標
値は、押圧解除時に接地電極に生ずるスプリングバック
（弾性復帰）を考慮に入れ、理想のギャップ間隔よりも
一定量だけ小さく設定するようにしている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記方法においては、
接地電極に発生するスプリングバックが常に一定である
と仮定してギャップ間隔調整のための押圧（曲げ）加工
を行っている。しかしながら、実際には被処理スパーク
プラグ毎のスプリングバック量は必ずしも一定しておら
ず、極論すれば、接地電極の材料組成や履歴等により、
全て異なるスプリングバック量を示すといっても過言で
はない。そして、そのスプリングバック量に大きなばら
つきが生じていると、これを一定と仮定して曲げ加工を
実施した場合に、変形が進み過ぎてギャップ間隔が狭く
なり過ぎたり、逆に変形が不足してギャップ間隔が広く
なり過ぎるといった不具合が生じやすくなり、いずれも
不良につながってしまう問題がある。

【０００４】ここで、例えば目標値よりもギャップ間隔
が大きい場合は、曲げ加工の追加により修正は比較的容
易であるが、ギャップ間隔が目標値を下回ってしまうと
曲げ戻しなどの面倒な修正工程が必要となる。このよう
なことを防止するために、ギャップ間隔を頻繁にモニタ
しながら、押圧をなるべく少数回に区切って実行するこ
とも考えられるが、これではギャップ調整工程の能率が
大幅に低下してしまうことになる。

【０００５】本発明は、被処理スパークプラグの個体間
で、接地電極の押圧による曲げ加工後のスプリングバッ
ク量にばらつきがあっても、ギャップ間隔を正確かつ効
率的に調整することができ、ひいてはスパークプラグの
製造能率と歩留まり向上に貢献できるスパークプラグ製
造方法及び製造装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段及び作用・効果】本発明の
スパークプラグ製造方法は、前記平行電極型スパークプ
ラグの製造に際して、その火花ギャップのギャップ間隔
を調整するために、被処理スパークプラグの接地電極に
対し、押圧パンチを用いて中心電極の先端面に近づく向
きに試験押圧を加えることにより、該被処理スパークプ
ラグのギャップ間隔を到達目標ギャップ間隔ｇtよりも
小さくならない範囲で減少させる試験押圧工程と、その
試験押圧工程が終了した接地電極に対し、押圧パンチを
用いて火花ギャップが到達目標ギャップ間隔ｇtに到達
するために必要な調整押圧を行う調整押圧工程と、試験
押圧工程の実施時に、試験押圧工程において接地電極に
生ずるスプリングバック量（以下、結果第一ＳＢ量とい
う）ｕ1を測定する第一ＳＢ量測定工程と、調整押圧工
程にて接地電極に生ずるスプリングバック量（以下、第
二ＳＢ量という）を、測定された結果第一ＳＢ量ｕ1の
値に基づいて予測する第二ＳＢ量予測工程とを含み、調
整押圧工程において、その予測された第二ＳＢ量（以
下、予測第二ＳＢ量という）ｕ2’を見込んで設定され
る調整押圧量ｓ2により、接地電極に対し調整押圧を行
うことを特徴とする。

【０００７】また、同様に本発明のスパークプラグ製造
装置は、被処理スパークプラグの接地電極に対し、押圧
パンチを用いて中心電極の先端面に近づく向きに試験押
圧を加えることにより、該被処理スパークプラグのギャ
ップ間隔を到達目標ギャップ間隔ｇtよりも小さくなら
ない範囲で減少させる試験押圧手段と、その試験押圧工
程が終了した接地電極に対し、押圧パンチを用いて火花
ギャップが到達目標ギャップ間隔ｇtに到達するために
必要な調整押圧を行う調整押圧手段と、試験押圧工程の
実施時に、試験押圧工程において接地電極に生ずるスプ
リングバック量（以下、結果第一ＳＢ量という）ｕ1を
測定する第一ＳＢ量測定手段と、調整押圧工程にて接地
電極に生ずるスプリングバック量（以下、第二ＳＢ量と
いう）を、測定された結果第一ＳＢ量ｕ1の値に基づい
て予測する第二ＳＢ量予測手段とを含み、調整押圧手段
は、その予測された第二ＳＢ量（以下、予測第二ＳＢ量
という）ｕ2’を見込んだ形で調整押圧量ｓ2を設定する
調整押圧量設定手段と、その調整押圧量ｓ2により押圧
パンチを駆動して、接地電極に対し調整押圧を行う押圧
パンチ駆動手段とを含むことを特徴とする。

【０００８】上記方法／装置は、被処理スパークプラグ
の接地電極に対し所定の試験押圧を加えたときの接地電
極のスプリングバック（以下、ＳＢと略記する）量、す
なわち第一ＳＢ量を測定し、その測定結果に応じて最終
的なギャップ間隔に調整するための調整押圧の条件を決
める点に特徴がある。すなわち、試験押圧によって接地
電極に生ずる第一ＳＢ量ｕ1を測定し、その値から続く
調整押圧時の第二ＳＢ量ｕ2’を予測する。この第二Ｓ
Ｂ量ｕ2’は、各被処理スパークプラグ特有の値であ
り、これを加味した押圧量により調整押圧を行うこと
で、被処理スパークプラグの個体間で接地電極のＳＢ量
に差が生じていても、その影響を軽減してギャップ間隔
を目標値に確実に調整することができる。従って、接地
電極の変形が進み過ぎてギャップ間隔が狭くなり過ぎた
り、逆に変形が不足してギャップ間隔が広くなり過ぎる
といった不具合が生じにくくなり、ひいてはスパークプ
ラグの製造歩留まりを大幅に向上させることができる。
この場合、１回の試験押圧と１回の調整押圧のみで、ギ
ャップ間隔を最終的な目標値となるように調整すること
も十分可能であり、ギャップ調整工程の能率向上も図る
ことができる。

【０００９】以下、上記本発明の方法及び装置に付加で
きる各種要件と、その作用・効果についてさらに説明す
る。なお、説明の繰返しを避けるため、主に方法要件に
ついて説明し、対応する装置要件を括弧内に併記する。

【００１０】まず、第一ＳＢ量測定工程において結果第
一ＳＢ量ｕ1は、押圧パンチによる押圧状態にて測定し
たギャップ間隔ｇ1’（又は、これを反映した情報）
と、該押圧を解除した状態にて測定したギャップ間隔ｇ
1（又は、これを反映した情報）との差ｇ1−ｇ1’とし
て測定することができる（第一ＳＢ量測定手段：例えば
被処理スパークプラグの火花ギャップ部の画像を撮影す
る画像撮影装置（例えばＣＣＤカメラなど）と、その画
像からギャップ間隔ｇ1’あるいはｇ1を算出するギャッ
プ間隔算出部とを含むものとして構成することができ
る）。押圧状態のギャップ間隔ｇ1’と、押圧解除状態
のギャップ間隔ｇ1との各測定値に基づき、結果第一Ｓ
Ｂ量ｕ1を正確に算出することが可能となる。そして、
予備押圧終了後のギャップ間隔はｇ1であり、最終的な
ギャップ間隔の目標値ｇtに到達するのに必要なギャッ
プ縮小量はｇ1−ｇtであるが、これにｕ1から予測され
る予測第二ＳＢ量ｕ2’を加味すれば、最終的な調整押
圧量ｓ2は、ｓ2＝（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’として算出する
ことができる（調整押圧量算出工程、調整押圧量算出手
段）。

【００１１】なお、第一ＳＢ量の測定に際しては、ギャ
ップ間隔の差ｇ1’−ｇ1が把握できればよいのであっ
て、個々のギャップ間隔ｇ1’，ｇ1の値を特に知る必要
がない場合もありうる。例えば、ギャップ形成方向にお
ける中心電極の位置を固定できるのであれば、これに対
する押圧前の接地電極の相対的な位置ｋ1’と、同じく
押圧後の位置ｋ1との差ｋ1’−ｋ1 として第一ＳＢ量を
求めてもよい。なお、前記したｇ1’及びｇ1は、中心電
極の先端面に基準位置を定め、その基準位置から接地電
極側の対向面までの距離として測定した上記ｋ1’及び
ｋ1にそれぞれ対応するものであると見ることもでき
る。

【００１２】結果第一ＳＢ量ｕ1から第二ＳＢ量ｕ2を正
確に予測するには、試験押圧工程において接地電極に対
し一定の押圧量にて試験押圧を施すことが理想的であ
る。ただし、そのためには試験押圧前の接地電極の位置
測定工程が新たに必要となる。一方、接地電極に施す曲
げ量が極端にばらつかない限り、塑性変形により接地電
極に生じさせる曲げ量が多少変化しても、押圧解除によ
る弾性復帰量（すなわち、ＳＢ量）はそれほど大きく変
化せず、略一定していることが多い。

【００１３】そこで、所定の加工位置に保持された被処
理スパークプラグに対し、その中心電極の軸線方向にお
いて接地電極に接近・離間可能に設けられた押圧パンチ
を、加工位置に対し予め固定的に定められた試験押圧終
了位置まで、接地電極に向けて接近させることにより、
該接地電極に試験押圧を施すことができる（装置におい
て、この機能を担うのは前記した押圧パンチ駆動手段で
ある）。この方法／装置では、試験押圧前の接地電極の
位置測定工程が特に不要であり、いわば決められた一定
のストロークにより押圧がなされるので、予備押圧工程
の簡略化を図ることが可能となる。なお、押圧前の接地
電極の位置がばらついた場合は、施される予備押圧量は
必ずしも一定しないこととなるが、予備押圧後のギャッ
プ間隔を測定して調整押圧を行うことで、最終的なギャ
ップ間隔精度に及ぼす影響は小さくすることができる。

【００１４】試験押圧と調整押圧とには、共通の押圧パ
ンチを使用することができる。これにより、製造装置の
簡略化及びコンパクト化を図ることができる。この場
合、工程は以下のようなものとなる。まず、押圧パンチ
を試験押圧終了位置に保持した状態でギャップ間隔ｇ
1’を測定し、その後、押圧パンチを退避させることに
より押圧解除して、その状態でギャップ間隔ｇ1を測定
し、結果第一ＳＢ量ｕ1をｇ1−ｇ1’として求め、それ
を用いて調整押圧量ｓ2を（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’として算
出する。次いで、押圧パンチを、算出された調整押圧量
ｓ2に応じて定まる調整押圧終了位置まで移動させて調
整押圧を行う。

【００１５】また、上記方法を実現するための装置構成
においては、試験押圧手段と調整押圧手段とは、共通の
押圧パンチとこれを被処理スパークプラグの接地電極に
対して接近・離間可能かつ任意の位置を保持可能に構成
された駆動手段とを含む押圧機構を含んで構成されたも
のを使用することができ、これに下記の要件を付加すれ
ばよい。 試験押圧駆動制御手段：押圧機構に対し、押圧パンチ
を試験押圧終了位置まで移動させて予備押圧を行わせる
とともに、その後該押圧パンチを試験押圧終了位置に保
持させる。 ｇ1’測定手段：押圧パンチが試験押圧終了位置に保
持された状態にてギャップ間隔ｇ1’を測定する。 退避駆動制御手段：該ｇ1’測定後に、押圧パンチを
押圧解除のために退避させる。 ｇ1測定手段：その状態でギャップ間隔ｇ1を測定する 調整押圧量算出手段：結果第一ＳＢ量ｕ1をｇ1−ｇ
1’として求め、それを用いて調整押圧量ｓ2を（ｇ1−
ｇt）＋ｕ2’として算出する。 調整押圧駆動制御手段：次いで、押圧パンチを、調整
押圧量ｓ2に応じて定まる調整押圧終了位置まで移動さ
せて調整押圧を行う。 この装置構成によれば、共通の押圧パンチにより、同一
加工位置に被処理スパークプラグを保持した状態にて予
備押圧と調整押圧とを連続して行うことができるので、
装置がコンパクトで簡略になるだけでなく、予備押圧と
調整押圧との間で被処理スパークプラグの移動を伴わな
いことから、ギャップ間隔測定あるいはＳＢ量の測定、
ひいては最終的なギャップ間調整をより精度高く行うこ
とが可能となる。

【００１６】次に、予測第二ＳＢ量ｕ2’は、実測され
る結果第一ＳＢ量ｕ1と結果第二ＳＢ量ｕ2とが常に略等
しい場合は、最も簡易な方法として、測定した結果第一
ＳＢ量ｕ1をそのままｕ2’として用いる方法がある。他
方、結果第一ＳＢ量ｕ1と結果第二ＳＢ量ｕ2との値は必
ずしも等しくはないが、ｕ2／ｕ1の値が常に一定してい
る場合は、その値を補正定数Ｃとして、予測第二ＳＢ量
ｕ2’を、ｕ2’＝ｕ1・Ｃにて算出し、これを用いるこ
とができる。

【００１７】しかしながら、ｕ2／ｕ1の値は、被処理ス
パークプラグによってばらつく場合もある（例えば、使
用されている接地電極の材質や加工ロット間のばらつき
など）。この場合、次のような方法／装置が可能であ
る。すなわち、一連の複数の被処理スパークプラグのギ
ャップ間隔を調整する際に、上記本発明の製造方法（装
置）を、現在の被処理スパークプラグについて、調整押
圧時に接地電極に生ずるスプリングバック量（以下、結
果第二ＳＢ量という）ｕ2を測定する結果第二ＳＢ量測
定工程（結果第二ＳＢ量測定手段）と、その測定された
結果第二ＳＢ量ｕ2の値に基づいて、次の被処理スパー
クプラグに対する調整押圧量を補正する調整押圧量補正
工程（調整押圧量補正工程）とを含むものとする。これ
により、例えば次の被処理スパークプラグの調整押圧量
を、該結果第二ＳＢ量ｕ2の値を考慮に入れて、より精
度よく決定することができるようになる。なお、結果第
二ＳＢ量ｕ2の測定に際しては、最終的に調整されたギ
ャップ間隔ｇ2を測定することができるが、その測定値
は、例えば最終的なギャップ寸法が、規定の寸法条件に
適合しているか否かの判別に使用することができる。

【００１８】この場合、現在の被処理スパークプラグに
おいて予測第二ＳＢ量ｕ2’を、その現在の被処理スパ
ークプラグに先行して処理された１又は複数の被処理ス
パークプラグにおける結果第二ＳＢ量ｕ2の実績値に基
づいて決定し（第二ＳＢ量予測手段）、結果第二ＳＢ量
ｕ2が予測第二ＳＢ量ｕ2’よりも小さい場合には、次の
被処理スパークプラグの調整押圧量を小さくする補正を
行い、同じくｕ2がｕ2’よりも大きい場合には逆の補正
を行う（調整押圧量補正手段）ことができる。

【００１９】これによれば、先行する１又は複数の被処
理スパークプラグでの結果第二ＳＢ量ｕ2の実績値によ
り、現在の被処理スパークプラグに対する調整押圧工程
での第二ＳＢ量の予測値（予測第二ＳＢ量ｕ2’）を立
て、その予測値よりも調整押圧工程で実際に生じたＳＢ
量（結果第二ＳＢ量ｕ2）が小さければ、次の被処理ス
パークプラグの調整押圧量を小さくする補正を行い、逆
であれば大きくする補正を行う。すなわち、既に処理済
みの被処理スパークプラグの結果第二ＳＢ量ｕ2の実績
値が増大の傾向を示している場合には、以降の押圧工程
の押圧量を増加させる補正を行って変形量不足を起こり
にくくし、逆に実績値が減少の傾向を示している場合に
は、以降の押圧工程の押圧量を減少させる補正を行って
過剰な変形を起こりにくくする。これにより、ギャップ
間隔調整の精度をより向上させることができ、また、ギ
ャップ間隔が到達目標ギャップ間隔ｇtより小さくなる
危険性も一層軽減される。

【００２０】予測第二ＳＢ量ｕ2’は、現在のスパーク
プラグについて予備押圧により実測した第一ＳＢ量ｕ1
を、ある補正変数Ｘを乗じた値として算出することがで
きる。例えば簡易な方法としては、直前に処理されたス
パークプラグのｕ2／ｕ1の値の実績値（例えば、いくつ
かのスパークプラグのｕ2／ｕ1の値の平均値）をＸとし
て用い、現在の被処理スパークプラグのｕ2’を、ｕ2’
＝ｕ1・Ｘとして算出することもできる。

【００２１】一方、先行する被処理スパークプラグにお
いて、突発的な要因により結果第二ＳＢ量ｕ2に一時的
な異常値が発生することもありうるが、下記の方法／装
置によれば、この影響を緩和して、さらに精度の高い第
二ＳＢ量の予測が可能となる。すなわち、現在処理すべ
き被処理スパークプラグに先行するＮ個（Ｎ≧２）の被
処理スパークプラグを処理の時系列順に配列したとき
に、それら各被処理スパークプラグの補正因子Ａを、そ
れぞれ対応する予測第二ＳＢ量ｕ2’と結果第二ＳＢ量
ｕ2とを用いて、Ａ＝ｕ2’／（ｕ2＋ｕ2’）により算出
し、それらＮ個の被処理プラグについて求められた該Ａ
の値の平均値として補正係数αを算出する補正係数算出
工程（補正係数算出手段）と、その補正係数αと結果第
一ＳＢ量ｕ1とを用いて、現在の被処理スパークプラグ
に対する予測第二ＳＢ量ｕ2’をｕ2＝ｕ1・α／（１−
α）により求める予測第二ＳＢ量決定工程（予測第二Ｓ
Ｂ量決定手段）とを含む。

【００２２】上記Ａの値は、第二ＳＢ量に関係するパラ
メータ（ｕ2’、ｕ2）のみを含む形となっているが、こ
れはＡ＝（ｕ2’／ｕ1）／（ｕ2／ｕ1＋ｕ2’／ｕ1）と
表すことができる。これを念頭においた場合、上記補正
係数αは、次のような意味を有していることがわかる。
すなわち、補正因子Ａは、第二ＳＢ量／第一ＳＢ量の結
果値（ｕ2／ｕ1）と予測値（ｕ2’／ｕ1）との隔たりが
小さくなると１／２に近づき、結果値が予測値よりも大
きくなる側に隔たると１に近づき、逆に小さくなる側に
隔たると０に近づく。従って、その平均値である補正係
数αも、過去の被処理スパークプラグの実績において、
上記結果値と予測値との隔たりが小さい被処理スパーク
プラグの数が増えるほど１／２に近づき（パターン１と
する）、結果値が予測値よりも大きくなる側に隔たった
被処理スパークプラグの数が増えると１に近づき（パタ
ーン２とする）、逆に小さくなる側に隔たった被処理ス
パークプラグの数が増えると０に近づく（パターン３と
する）。

【００２３】この場合、α／（１−α）の値はパターン
１では１に近づく。すなわち、予測値（ｕ2’／ｕ1）が
結果値（ｕ2／ｕ1）に近づくこととなる。換言すれば、
結果値と予測値との差が小さくなるほど、補正の効果は
少なくなる。一方、パターン２では、α／（１−α）の
値は、予測値からの結果値の隔たりが大きくなるほど逆
比例的に大きくなる。これにより、調整押圧量ｓ2を例
えば（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’として算出する場合、該調整
押圧量ｓ2は大きくなり、ギャップ間隔が広くなり過ぎ
る不具合を抑制することができる。また、パターン３で
は、α／（１−α）の値は、予測値からの結果値の隔た
りが大きくなるほど０に近づく。すなわち、調整押圧量
ｓ2は小さくなり、ギャップ間隔が狭くなり過ぎる不具
合を抑制することができる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に示す実施例を参照して説明する。図１（ａ）及び
（ｂ）は、本発明のスパークプラグ製造装置（以下、単
に製造装置という）の一実施例を概念的に示す平面図及
び側面図である。該製造装置１は、被処理スパークプラ
グ（以下、ワークともいう）Ｗを搬送経路Ｃ（本実施例
では直線的なものとなっている）に沿って間欠的に搬送
する搬送機構としてのリニアコンベア３００を備え、そ
の搬送経路Ｃに沿って、ワークＷの火花ギャップ形成の
各工程実施部、すなわち被処理スパークプラグ搬入機構
としてのワーク搬入機構１１、ワークＷの接地電極を一
定の位置に位置決めする接地電極整列機構１２、中心電
極の先端面位置を測定する先端面位置測定装置１３、接
地電極の仮曲げを行う仮曲げ装置１４、同じく本曲げを
行なう本曲げ装置１５、加工終了後のワークＷを排出す
るワーク排出機構１６、及び不合格品排出機構１７が、
搬送方向上流側からこの順序で配置されている。リニア
コンベア３００は、巡回部材としてのチェーン３０１に
対し、ワークＷが着脱可能に装着されるキャリア３０２
が所定の間隔で取り付けられたものである。チェーン３
０１をコンベア駆動モータ２４により間欠的に巡回駆動
することにより、各キャリア３０２すなわちワークＷを
搬送経路Ｃに沿って間欠的に搬送する。

【００２５】図２に示すように、ワークＷは、筒状の主
体金具Ｗ3、先端部及び後端部が突出するようにその主
体金具Ｗ3の内側に嵌め込まれた絶縁体Ｗ4、絶縁体Ｗ4
の軸方向に挿通された中心電極Ｗ1、及び主体金具Ｗ3に
一端が溶接等により結合されるとともに他端側が中心電
極Ｗ1の軸線方向に伸びる接地電極Ｗ2等を備えている。
接地電極Ｗ2は、以下の工程で先端側が中心電極Ｗ1の先
端面に向けて曲げ加工され、火花ギャップが形成されて
平行電極型スパークプラグとなる。キャリア３０２の上
面には、上端が開口する筒状のホルダ２３が一体的に取
り付けられている。そして、ワークＷは、後端側からこ
のホルダ２３内に着脱可能に挿通されるとともに、主体
金具Ｗ3 の六角部Ｗ6がホルダ２３の開口周縁部にて支
持され、接地電極Ｗ2側が上となるように立てた状態で
キャリア３０２とともに搬送される。

【００２６】図１のワーク搬入機構１１、ワーク排出機
構１６及び不合格品排出機構１７は、例えば図２に示す
ように、リニアコンベア３００（図１）の搬送方向Ｃの
側方に設定されたワーク供給部あるいはワーク排出部
（図中Ｊ位置に設けられる）と、該搬入ないし排出機構
内に位置決めされたホルダ２３との間でワークＷを移送
する移送機構として構成される。該移送機構３５は、エ
アシリンダ３７により昇降可能に保持されるチャックハ
ンド機構３６と、エアシリンダ３８等によりチャックハ
ンド機構３６を円周経路Ｃの半径方向に進退駆動する進
退駆動機構３９等を含んで構成される。チャックハンド
機構３６は図示しないエアシリンダ等により開閉駆動さ
れるようになっており、エアシリンダ３７により下降し
てワークＷを保持し、次いで上昇した後エアシリンダ３
８により進退駆動されて移送先に移動し、そこで再び下
降してワークＷの保持を解除し、移送を完了する。そし
て、ワーク搬入の場合は、ワーク供給部にてワークＷを
受け取り、これをリニアコンベア３００のホルダ２３ま
で移送してこれに装着する。他方、ワーク排出の場合
は、ホルダ２３からワークＷを抜き取り、これをワーク
排出部（例えばワーク回収箱やシュータなど）まで移送
して、これを排出する。

【００２７】また、図３（ａ）は、接地電極整列機構４
の構成例を概念的に示している。該接地電極整列機構４
は、ワーク（スパークプラグ）Ｗの先端部に対し、その
軸線方向に接近・離間可能、かつモータ１５１等により
該軸線回りに所定角度（本実施例では１８０°１８０
°）単位で間欠的に回転可能に設けられた回転部材１５
０を有し、その回転部材１５０の底面には、ワークＷの
接地電極Ｗ1に対応した幅及び深さの溝１５２が形成さ
れている。ワークＷが接地電極整列機構４内に運び込ま
れると、回転部材１５０はワークＷの先端に落下する。
このとき、回転部材１５０の溝１５２の方向は、整列位
置に対応するように位置決めされている。接地電極整列
機構４内に運び込まれた時点では接地電極Ｗ1の位置は
不定であるから、回転部材１５０が落下しても多くの場
合は、溝１５２は接地電極Ｗ1とは嵌まり合わず、回転
部材１５０はその底面において接地電極Ｗ1上に乗った
形となる。次いでモータ１５１が作動し、回転部材１５
０が底面において接地電極Ｗ1上を滑りながら軸線回り
に回転する。接地電極Ｗ1はその回転の途中で溝１５２
に嵌まり込み、以降はワークＷが回転部材１５０ととも
に連れ回る。そして、回転部材１５０は、始めの位置か
らちょうど１回転したところで回転を停止する。これに
より、接地電極Ｗ1は所定の整列位置に位置決めされる
こととなる。なお、回転部材１５０の駆動部はエア又は
油圧によるロータリアクチュエータにより構成してもよ
い。

【００２８】次に、先端面位置測定装置１３は、後述す
る仮曲げ加工に先立って中心電極Ｗ1の先端面位置を測
定するためのものであり、図４（ａ）に示すように位置
検出センサ１１５を備える。ワークＷは、リニアコンベ
ア３００に装着されて高さ位置固定となったホルダ２３
に対し、接地電極Ｗ2が上側となるように立てた状態で
装着される。そして、位置検出センサ１１５（例えばレ
ーザー変位センサ等で構成される）は、先端面の高さ位
置を測定するフレーム４０により一定高さに保持される
ことで、搬入されたワークＷに対し、中心電極Ｗ2の先
端面位置を上方から測定する。

【００２９】また、仮曲げ装置１４は、図４（ｂ）及び
（ｃ）に示すように、位置検出センサ１１５の検出する
ワークＷの中心電極Ｗ1の先端面位置に基づき、該先端
面との間に略一定の隙間ｄが形成された状態にて仮曲げ
スペーサ４２を位置決め配置し、その仮曲げスペーサ４
２に対し接地電極Ｗ2の先端側を、曲げパンチ４３を用
いて中心電極Ｗ1とは反対側から押しつけることにより
仮曲げ加工を行うものである。曲げパンチ４３は、例え
ば図示しないエアシリンダ等のパンチ駆動部により、接
地電極Ｗ2に対し仮曲げ加工のために接近・離間駆動さ
れる。仮曲げスペーサ４２を中心電極Ｗ1の先端面に当
接させず所定の隙間ｄを生じさせた形で位置決めし、そ
の状態で曲げパンチ４３により接地電極Ｗ2を該スペー
サ４２に押しつけて仮曲げ工程を実施することで、電極
に欠けや傷などの欠陥不良が極めて発生しにくくなり、
高歩留まりを達成することが可能となる。

【００３０】図５は、本曲げ装置１５の一例を示すもの
である。この本曲げ装置１５は、試験押圧手段と調整押
圧手段とを兼ねるものである。ワークＷは、リニアコン
ベア３００により装置１５内に搬入され、所定の加工位
置に位置決めされる。そして、ワークＷの加工位置に対
応する位置においてリニアコンベア３００の搬送経路の
片側に、第一ＳＢ量測定手段、ｇ1’測定手段、及び結
果第二ＳＢ量測定手段等の要部として機能するギャップ
撮影・解析ユニット３が、リニアコンベア３００を挟ん
でこれと反対側に曲げ機構５がそれぞれ配置されてい
る。

【００３１】ギャップ撮影・解析ユニット（以下、単に
撮影解析ユニットという）３は、フレーム２２上に支持
された撮影カメラ４と、これに接続される解析部４０
（図８）とを要部に構成されるものである。撮影カメラ
４は、例えば二次元ＣＣＤセンサを画像検出部として有
するＣＣＤカメラとして構成されており、図１７に示す
ようにワークの中心電極Ｗ2と、これに対向する接地電
極Ｗ1と、それら中心電極Ｗ2と接地電極Ｗ1との間に形
成される火花ギャップｇとを側方から撮影するようにな
っている。

【００３２】一方、図５において、曲げ機構５は、装置
のベース５０上に取り付けられた例えば片持式のフレー
ム５１の前端面に、本体ケース５１が取り付けられてい
る。その本体ケース５内には可動ベース５３が昇降可能
に収容されており、該可動ベース５３にはロッド５８を
介して押圧パンチ５４が、本体ケース５１の下端面から
突出する形態で取り付けられている。そして、可動ベー
ス５３に形成された雌ねじ部５３ａに上方から螺合する
ねじ軸（例えばボールねじ）５５を、押圧パンチ駆動モ
ータ５６により正逆両方向に回転させることにより、押
圧パンチ５４は、ワークＷの接地電極Ｗ2に対して接近
・離間するとともに、ねじ軸駆動の停止位置に対応し
て、任意の高さ位置を保持可能とされている。なお、押
圧パンチ駆動モータ５６の回転伝達力は、タイミングプ
ーリ５６ａ、タイミングベルと５７及びタイミングプー
リ５５ａを介して、ねじ軸５５に伝達される。

【００３３】図４（ｃ）に示すように、例えば先端が斜
め上方を向く形で仮曲げされた接地電極Ｗ2に対し、図
１６（ｃ）に示すように、上記押圧パンチ５４を接近さ
せてこれを押圧することにより、接地電極Ｗ2の先端部
が中心電極Ｗ1の先端面とほぼ平行となるように本曲げ
加工が施され、かつ火花放電ギャップｇの間隔が到達目
標ギャップ間隔ｇtに到達するように調整される。この
本曲げ加工は、試験押圧工程と調整押圧工程との２段階
にて実施されるが、その詳細については後述する。

【００３４】なお、図５に示すように、この本曲げ加工
の実施時においてワークＷは、軸線方向両側から押さえ
部材６０，６１との間に挟み付けらて固定されるように
なっている。本実施例では、図６に示すように、可動押
さえ部材６０はスライダ６２に取り付けられ、このスラ
イダ６２がカム６３により、駆動アーム６４を介してス
ライダ７４と連動して進退駆動される。なお、スライダ
６２はガイド６５に沿ってスライドするとともに、その
進退方向後端面には該スライダ６２と一体移動するガイ
ドロッド６６の一端が取り付けられている。また、その
ガイドロッド６６の他端側は、ガイド６５の後端部に設
けられた受けプレート６７を貫いてさらに後方側に伸び
ており、その末端部には、スライダ６２の前進位置限度
を規定するストッパ６９が設けられている。そして、ス
ライダ７４と受けプレート８３との間には、スライダ７
４を前進方向に付勢するばね部材６８が設けられてい
る。

【００３５】図８は、本曲げ装置１５の電気的構成例を
示すブロック図である。まず、曲げ機構５の制御部１２
０は、Ｉ／Ｏポート１２１とこれに接続されたＣＰＵ１
２２、ＲＯＭ１２３及びＲＡＭ１２４等からなるマイク
ロプロセッサ１２５を要部として構成されており、ＲＯ
Ｍ１２３には制御プログラム１２３ａが格納されてい
る。ＲＡＭ１２４は、ＣＰＵ１２２のワークエリアとし
て機能する。押圧パンチ駆動モータ５６は、サーボ駆動
ユニット１２６を介してＩ／Ｏポート１２１に接続され
ており、パルスジェネレータ（ＰＧ）１２９がつながれ
ている。また、Ｉ／Ｏポート１２１には記憶装置１３０
が接続されている。ＣＰＵ１２２は、制御プログラム１
２３ａにより、第二ＳＢ量予測手段、調整押圧量算出手
段、試験押圧駆動制御手段、退避駆動制御手段、調整押
圧駆動制御手段、調整押圧量補正手段、予測第二ＳＢ量
決定手段及び補正係数算出手段の主体として機能する。

【００３６】図１０に示すように、記憶装置１３０に
は、被処理スパークプラグの品番（Ｙ）毎に、調整によ
り到達すべき目標ギャップ間隔ｇtの値、後述の調整押
圧時に見込まれるＳＢ量の標準的な値である標準ＳＢ量
ｕ0、後述の補正係数αを算出するための補正データ
（補正因子）の組｛Ａ｝が記憶されている。標準ＳＢ量
ｕ0は、固定設定としてもよいが、過去の実績等により
随時更新して使用してもよい。一方、図９に示すよう
に、ＲＡＭ１０４には、ＣＰＵ１０２のワークエリア１
０４ａと、後述の各種算出値あるいは測定値を記憶する
メモリが形成されている。

【００３７】図８に戻り、撮影・解析ユニット３は、そ
の制御部４０が、Ｉ／Ｏポート４１とこれに接続された
ＣＰＵ４２、ＲＯＭ４３及びＲＡＭ４４等からなるマイ
クロプロセッサにより構成されており、ＲＯＭ４３には
解析プログラム４３ａが格納されている。ＲＡＭ１１４
は、ＣＰＵ１１２のワークエリアとして機能する。ま
た、Ｉ／Ｏポート１１１には、ＣＣＤカメラ４０（二次
元ＣＣＤセンサ１１５と、そのセンサ出力を二次元デジ
タル画像入力信号に変換するためのセンサコントローラ
１１６とを含む）が接続されている。

【００３８】以下、スパークプラグ製造装置１の作動シ
ーケンスの一例について説明する。図１１は、スパーク
プラグ製造装置１の主制御部１００とその周辺の電気的
構成を表すブロック図である。主制御部１００は、Ｉ／
Ｏポート１０１とこれに接続されたＣＰＵ１０２、ＲＯ
Ｍ１０３及びＲＡＭ１０４等からなるマイクロプロセッ
サにより構成されており、ＲＯＭ１０３には主制御プロ
グラム１０３ａが格納されている。そして、Ｉ／Ｏポー
ト１０１には、リニアコンベア３００（図１）の駆動部
２ｃが接続されている。該駆動部２ｃは、サーボ駆動ユ
ニット２ａと、これに接続されたコンベア駆動モータ２
４と、そのモータ２４の回転角度位置を検出するパルス
ジェネレータ２ｂ等を含んで構成されている。また、Ｉ
／Ｏポート１０１には、スパークプラグ製造の各工程の
実施部、すなわちワーク搬入機構１１、接地電極整列機
構１２、先端面位置測定装置１３、仮曲げ装置１４、本
曲げ装置１５、ワーク排出機構１６、不合格品排出機構
１７が接続されている。なお、ＲＡＭ１０４は、ＣＰＵ
１０２のワークエリア１０４ａとして機能するほか、制
御フラグの記憶エリア等として使用される。

【００３９】以下、製造装置１の作動について説明す
る。まず、図１４は、図１１の主制御部１００によるリ
ニアコンベア３００の駆動処理プログラムＭＰ1の流れ
である。そのＭ１０１のステップでは、図９の各工程の
実施部１１〜１７に対して起動信号が送信される。これ
を受けて、各工程実施部側（例えば図１２及び図１３の
解析部１１０及び制御部１２０）では制御プログラムが
一斉に起動する。これら、制御プログラムは、それぞれ
処理を終了する毎にプログラムＭＰ1に完了信号を返す
ようになっている。他方、上記プログラムＭＰ1側で
は、これら完了信号を受ける毎に工程終了フラグ（図１
１のＲＡＭ１０４に形成されている）をオンにしてゆく
（Ｍ１０２〜Ｍ１１３）。そして、Ｍ１１５で全てのフ
ラグがオンになれば、リニアコンベア３００（図１）を
ワークＷが次の工程位置へ移動するのに必要な一定距離
だけ駆動し、フラグをリセットする。以下、Ｍ１０１に
戻って同様の処理を繰り返す。

【００４０】上記起動信号を受けて、各工程実施部側で
の制御プログラムは、各工程実施位置（図１）に保持さ
れる複数のワークＷに対し並列的に実行される。以下、
理解を容易にするために、１つのワークＷに着目した場
合の工程実行順序に従い、各プログラムの処理の流れを
説明する。まず、ワーク搬入機構１１によるワークＷの
搬入処理では、搬入するべきワークＷの有無を図示しな
いセンサ等で確認し、ワークＷがあれば図１のワーク搬
入機構３は搬入動作となる。これにより、新しいワーク
Ｗがワーク保持部２３（図２）に装着される。動作完了
となれば完了信号を送信する。搬入されたワークＷは図
１の接地電極整列機構４に運ばれ、図３により既に説明
した接地電極Ｗ2の整列処理がなされる。そして、さら
に次位置に運ばれ、先端面位置測定装置１３により中心
電極Ｗ1の先端面位置の測定工程が実行される。図４
（ａ）に示すように、レーザー変位センサ１１５により
該先端面位置が、例えば所定の基準位置Ｘ0から見た高
さ位置ｈの形で測定される。この測定された先端面位置
のデータは、主制御部１００（図７）に送信される。

【００４１】測定された先端面位置は仮曲げ装置１４
（図１）に転送される。仮曲げ装置１４はこれを受け
て、図４によりすでに説明した仮曲げ工程を実施する。
仮曲げ工程が終了すれば図１においてワークＷを本曲げ
装置１５に移送し、本曲げ工程を実施する。本曲げ装置
１５の制御部１２０によるその処理の流れを図１２〜１
５のフローチャートと、図１６の工程説明図により説明
する。

【００４２】まず、最初の被処理スパークプラグの本曲
げ加工に際しては、図１５の初期化処理を予め行ってお
く。例えば、図示しない入力部等からの手動入力あるい
は上位管理装置等からの送信により初期化信号と品番Ｙ
のデータを受信する（Ｍ１０１、Ｍ１０２）。そして、
記憶装置１３０（図１０）から、その品番Ｙに対応する
到達目標ギャップ値ｇt、標準ＳＢ量ｕ0、及び補正デー
タＡの組｛Ａ｝＝Ａ1、Ａ2 、‥‥、ＡN（個数Ｎは予め
設定しておく）を読み出して、その平均値をとることに
より補正係数αの初期値を算出する（Ｍ１０４、Ｍ１０
５）。これらｇt、ｕ0、｛Ａ｝及び算出したαは、図９
のＲＡＭ１２４中の対応するメモリにそれぞれ記憶され
る。

【００４３】次に、図１２のＳ１において、試験押圧工
程を行う。すなわち、図１６（ａ）に示す通り、制御部
１２０は、ＰＧ１２９からのパルス信号によりその回転
速度と回転角度位置とを参照しつつ、押圧パンチ５４
が、接地電極Ｗ2よりも上方に設定された所定の退避位
置ｈ0から試験押圧終了位置ｈ1（これらは、図８の記憶
装置１３０等に予め記憶されている）に到達するまで、
サーボ駆動ユニット１２６を介してモータ５６を所定の
速度で回転駆動する。

【００４４】試験押圧終了位置ｈ1に到達したら、押圧
パンチ５４の加工を停止してこれを該位置に保持し、次
いでＳ２に進んで撮影・解析ユニット３（図８）に測定
指令信号を送り、押圧状態でのギャップ間隔ｇ1’を測
定する。図１７は、解析部４０（図８）によるギャップ
間隔測定の一例を概念的に示すもので（処理は解析プロ
グラム４３ａが司る）、撮影カメラ３からの中心電極Ｗ
1及び接地電極Ｗ2の画像から、中心電極Ｗ1の先端面を
特定し、その両端位置Ａ、Ｂにより定まる線分ＡＢの中
点Ｍを通ってこれと直交する直線を中心線Ｏとして設定
する。そして、その中心線Ｏと平行な測定直線Ｌを線分
ＡＢの方向に走査しつつ、ＬとＡＢとの交点Ｐと、同じ
く接地電極Ｗ2の対向面との交点Ｑとを結ぶ線分ＱＬの
長さをギャップ間隔として求める。この場合、測定直線
Ｌの位置毎に得られるギャップ間隔のうち、例えば最小
のものをギャップ間隔の測定値として採用することがで
きる。なお、測定されたｇ1’の値は、図８の制御部１
２０へ転送され、図９のＲＡＭ１２４の対応するメモリ
に格納される（他の測定値についても同じ）。

【００４５】図１２に戻り、ｇ1’の測定が終了すれば
Ｓ３に進み、図１６（ｂ）に示すように、押圧パンチ５
４を所定の退避位置へ上昇・退避させ、押圧状態を解除
した後、Ｓ４にてその押圧解除状態のギャップ間隔ｇ1
を測定する。そして、Ｓ５において、結果第一ＳＢ量ｕ
1（以下、ｕ1を単に第一ＳＢ量とも称する）を ｕ1＝ｇ1 −ｇ1’ ‥‥‥(1) として算出する。

【００４６】続いて、図１２のＳ６に進み、調整押圧量
ｓ2の演算を行う。図１３はその詳細を示している。ま
ずＳ６１でＲＡＭ１２４（図９）から補正係数αを読み
出し、次にＳ６２でｇt、ｇ1及びｕ1の値を読み出す。
そして、Ｓ６３において予測第二ＳＢ量ｕ2’を、下式
により算出・決定する。 ｕ2’＝ｕ1・Ｘ ‥‥‥(2) Ｘ＝α／（１−α）‥‥‥(3) そして、Ｓ６４にて調整押圧のためのストローク、すな
わち調整押圧終了位置を、以下の式で表される調整押圧
量ｓ2が得られるように算出する。 ｓ2＝（ｇt−ｇ1）＋ｕ2’‥‥‥(4) 調整押圧終了位置は、例えば図１６（a）の試験押圧終
了位置ｈ1との関係でいえば、第一ＳＢ量ｕ1を考慮する
ことにより、ｈ1＋ｕ1−ｓ2として与えられる。

【００４７】次に、図１２のＳ７に進み、図１６（ｃ）
に示すように、押圧パンチ５４を再び下降させて調整押
圧を行う。このときの処理は、押圧終了位置を上記算出
された調整押圧終了位置とする以外は、試験押圧時と同
様である。そして、Ｓ８〜Ｓ１０では、試験押圧時と略
同様の処理により、押圧状態と、図１６（ｄ）に示す押
圧解除状態とのそれぞれについてギャップ間隔ｇ2’及
びｇ2を測定し、Ｓ１１で第二ＳＢ量ｕ2を、 ｕ2＝ｇ2−ｇ2’ ‥‥‥(5) として算出する。

【００４８】次に、Ｓ１２に進んで補正係数の更新処理
となる。図１４は、その詳細を示している。まず、Ｓ１
２１，１２２にて、先に算出・記憶した予測第二ＳＢ量
ｕ2’及び実測された結果第二ＳＢ量ｕ2を、それぞれＲ
ＡＭ１２４（図９）から読み出す。そして、そのワーク
についての補正因子を、 Ａ＝ｕ2’／（ｕ2＋ｕ2’）‥‥‥(5) として算出する。

【００４９】Ｓ１２４に進み、上記Ａの算出値を、図９
のＲＡＭ１２４の対応するメモリに記憶する。ここで、
このメモリはシフトメモリとして構成されており、先行
するワークＷについて算出されたＡの値が、時系列の新
しいものから順に所定数Ｎ個（例えば３０個程度）だけ
記憶されている（なお、前述の初期化工程（図１５）で
読み込まれるＡの初期値は、同一品番Ｙにおける前回処
理時の最後のＮ個分のＡのデータを残しておき、それを
使用するようにしている）。そして、新たに算出された
Ａの値をその先頭のエリアに記憶するとともに、先のデ
ータはメモリシフトにより繰り下がり、最も古いデータ
は消去される。こうして、Ａの組｛Ａ｝の内容が更新さ
れるとともに、Ｓ１２５で更新後の全てのＡの値の平均
値として補正係数αを算出する。

【００５０】図１２に戻り、Ｓ１３にて、調整押圧後の
ギャップ間隔の測定値ｇ2が、合格範囲に入っているか
どうかを判定し、合格であればＳ１４に進み、図１のワ
ーク排出機構１６にて、そのワークＷを合格品として回
収する。他方、不合格品であれば、不合格品排出機構１
７にてそのワークＷを不合格品として回収する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のスパークプラグ製造装置の一実施例を
模式的に示す平面図及び側面図。

【図２】移送機構の説明図。

【図３】接地電極整列機構をその作用とともに示す概念
図。

【図４】先端面位置測定装置及び予備曲げ装置の作動概
念を示す説明図。

【図５】本曲げ装置の一例を示す正面図。

【図６】押さえ部材の作動説明図。

【図７】主制御部の電気的構成を示すブロック図。

【図８】本曲げ装置の電気的構成を示すブロック図。

【図９】本曲げ装置の制御部のＲＡＭの内容を示すメモ
リマップ。

【図１０】同じく記憶装置の記憶装置の内容を示すメモ
リマップ。

【図１１】主制御部のリニアコンベア駆動処理の流れを
示すフローチャート。

【図１２】本曲げ工程の処理の流れを示すフローチャー
ト。

【図１３】その調整押圧量演算処理の流れを示すフロー
チャート。

【図１４】同じく補正係数更新処理の流れを示すフロー
チャート。

【図１５】初期化処理の流れを示すフローチャート。

【図１６】試験押圧及び調整押圧の工程説明図。

【図１７】画像によるギャップ間隔測定の概念を示す説
明図。

【符号の説明】

１ スパークプラグ製造装置 Ｃ 搬送経路 Ｗ ワーク（被処理スパークプラグ） Ｗ1 中心電極 Ｗ2 接地電極 Ｗ3 主体金具 ｇ 火花ギャップ ３ 撮影・解析ユニット（第一ＳＢ量測定手段、ｇ1’
測定手段、及び結果第二ＳＢ量測定手段） ５ 曲げ機構 １５ 本曲げ装置（試験押圧手段、調整押圧手段） ２３ ホルダ ５４ 押圧パンチ １２０ 制御部 １２２ ＣＰＵ（第二ＳＢ量予測手段、調整押圧量算出
手段、試験押圧駆動制御手段、退避駆動制御手段、調整
押圧駆動制御手段、調整押圧量補正手段、予測第二ＳＢ
量決定手段及び補正係数算出手段） ３００ リニアコンベア（搬送機構）

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 絶縁体中に配置された中心電極と、その
   絶縁体の外側に配置された主体金具と、一端がその主体
   金具の先端側端面に結合される一方、他端側が側方に曲
   げ返されて側面が前記中心電極の先端面と対向すること
   により、該中心電極先端面との間に火花ギャップを形成
   する接地電極とを備えたスパークプラグの製造方法であ
   って、前記火花ギャップのギャップ間隔を調整するため
   に、 被処理スパークプラグの接地電極に対し、押圧パンチを
   用いて前記中心電極の先端面に近づく向きに試験押圧を
   加えることにより、該被処理スパークプラグのギャップ
   間隔を到達目標ギャップ間隔ｇtよりも小さくならない
   範囲で減少させる試験押圧工程と、 その試験押圧工程が終了した前記接地電極に対し、押圧
   パンチを用いて前記火花ギャップが前記到達目標ギャッ
   プ間隔ｇtに到達するために必要な調整押圧を行う調整
   押圧工程と、 前記試験押圧工程の実施時に、前記試験押圧工程におい
   て前記接地電極に生ずるスプリングバック量（以下、結
   果第一ＳＢ量という）ｕ1を測定する第一ＳＢ量測定工
   程と、 前記調整押圧工程にて前記接地電極に生ずるスプリング
   バック量（以下、第二ＳＢ量という）を、測定された前
   記結果第一ＳＢ量ｕ1の値に基づいて予測する第二ＳＢ
   量予測工程とを含み、 前記調整押圧工程において、その予測された第二ＳＢ量
   （以下、予測第二ＳＢ量という）ｕ2’を見込んで設定
   される調整押圧量ｓ2により、前記接地電極に対し調整
   押圧を行うことを特徴とするスパークプラグ製造方法。
2. 【請求項２】 前記第一ＳＢ量測定工程において前記結
   果第一ＳＢ量ｕ1は、前記押圧パンチによる押圧状態に
   て測定したギャップ間隔ｇ1’と、該押圧を解除した状
   態にて測定したギャップ間隔ｇ1との差ｇ1−ｇ1’とし
   て測定され、 前記調整押圧量ｓ2を、ｓ2＝（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’とし
   て算出する調整押圧量算出工程を含む請求項１記載のス
   パークプラグ製造方法。
3. 【請求項３】 前記試験押圧工程において、所定の加工
   位置に保持された被処理スパークプラグに対し、その中
   心電極の軸線方向において前記接地電極に接近・離間可
   能に設けられた前記押圧パンチを、前記加工位置に対し
   予め固定的に定められた試験押圧終了位置まで、前記接
   地電極に向けて接近させることにより、該接地電極に前
   記試験押圧を施す請求項１又は２に記載のスパークプラ
   グ製造方法。
4. 【請求項４】 前記試験押圧と前記調整押圧とに共通の
   押圧パンチを使用するとともに、 前記押圧パンチを前記試験押圧終了位置に保持した状態
   で前記ギャップ間隔ｇ1’を測定し、その後、押圧パン
   チを退避させることにより押圧解除して、その状態で前
   記ギャップ間隔ｇ1を測定し、 前記結果第一ＳＢ量ｕ1をｇ1−ｇ1’として求め、それ
   を用いて前記調整押圧量ｓ2を（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’とし
   て算出し、 次いで、前記押圧パンチを、算出された前記調整押圧ｓ
   2に応じて定まる調整押圧終了位置まで移動させて前記
   調整押圧を行う請求項３記載のスパークプラグ製造方
   法。
5. 【請求項５】 一連の複数の被処理スパークプラグの前
   記ギャップ間隔を調整する際に、現在の被処理スパーク
   プラグについて、前記調整押圧時に前記接地電極に生ず
   るスプリングバック量（以下、結果第二ＳＢ量という）
   ｕ2を測定する結果第二ＳＢ量測定工程と、 その測定された結果第二ＳＢ量ｕ2の値に基づいて、次
   の被処理スパークプラグに対する調整押圧量を補正する
   調整押圧量補正工程とを含む請求項１ないし４のいずれ
   かに記載のスパークプラグ製造方法。
6. 【請求項６】 現在の被処理スパークプラグにおいて前
   記予測第二ＳＢ量ｕ2’を、その現在の被処理スパーク
   プラグに先行して処理された１又は複数の被処理スパー
   クプラグにおける前記結果第二ＳＢ量ｕ2の実績値に基
   づいて決定し、 前記結果第二ＳＢ量ｕ2が前記予測第二ＳＢ量ｕ2’より
   も小さい場合には、次の被処理スパークプラグの調整押
   圧量を小さくする補正を行い、同じくｕ2がｕ2’よりも
   大きい場合には逆の補正を行う請求項５記載のスパーク
   プラグ製造方法。
7. 【請求項７】 現在処理すべき被処理スパークプラグに
   先行するＮ個（Ｎ≧２）の被処理スパークプラグを処理
   の時系列順に配列したときに、それら各被処理スパーク
   プラグの補正因子Ａを、それぞれ対応する前記予測第二
   ＳＢ量ｕ2’と前記結果第二ＳＢ量ｕ2とを用いて、Ａ＝
   ｕ2’／（ｕ2＋ｕ2’）により算出し、それらＮ個の被
   処理プラグについて求められた該Ａの値の平均値として
   前記補正係数αを算出する補正係数算出工程と、 その補正係数αと前記結果第一ＳＢ量ｕ1とを用いて、
   現在の被処理スパークプラグに対する前記予測第二ＳＢ
   量ｕ2’をｕ2’＝ｕ1・α／（１−α）により求める予
   測第二ＳＢ量決定工程と、 を含む請求項６記載のスパークプラグ製造方法。
8. 【請求項８】 絶縁体中に配置された中心電極と、その
   絶縁体の外側に配置された主体金具と、一端がその主体
   金具の先端側端面に結合される一方、他端側が側方に曲
   げ返されて側面が前記中心電極の先端面と対向すること
   により、該中心電極先端面との間に火花ギャップを形成
   する接地電極とを備えたスパークプラグの製造装置であ
   って、前記火花ギャップのギャップ間隔を調整するため
   に、 被処理スパークプラグの接地電極に対し、押圧パンチを
   用いて前記中心電極の先端面に近づく向きに試験押圧を
   加えることにより、該被処理スパークプラグのギャップ
   間隔を到達目標ギャップ間隔ｇtよりも小さくならない
   範囲で減少させる試験押圧手段と、 その試験押圧工程が終了した前記接地電極に対し、押圧
   パンチを用いて前記火花ギャップが前記到達目標ギャッ
   プ間隔ｇtに到達するために必要な調整押圧を行う調整
   押圧手段と、 前記試験押圧工程の実施時に、前記試験押圧工程におい
   て前記接地電極に生ずるスプリングバック量（以下、結
   果第一ＳＢ量という）ｕ1を測定する第一ＳＢ量測定手
   段と、 前記調整押圧工程にて前記接地電極に生ずるスプリング
   バック量（以下、第二ＳＢ量という）を、測定された前
   記結果第一ＳＢ量ｕ1の値に基づいて予測する第二ＳＢ
   量予測手段とを含み、 前記調整押圧手段は、その予測された第二ＳＢ量（以
   下、予測第二ＳＢ量という）ｕ2’を見込んだ形で調整
   押圧量ｓ2を設定する調整押圧量設定手段と、その調整
   押圧量ｓ2により前記押圧パンチを駆動して、前記接地
   電極に対し調整押圧を行う押圧パンチ駆動手段とを含む
   特徴とするスパークプラグ製造装置。
9. 【請求項９】 前記結果第一ＳＢ量ｕ1を、前記押圧パ
   ンチによる押圧状態にて測定したギャップ間隔ｇ1’
   と、該押圧を解除した状態にて測定したギャップ間隔ｇ
   1との差ｇ1−ｇ1’として求める前記第一ＳＢ量測定手
   段と、 前記調整押圧量ｓ2を、ｓ2＝（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’とし
   て算出する調整押圧量算出手段とを含む請求項８記載の
   スパークプラグ製造装置。
10. 【請求項１０】 前記押圧パンチ駆動手段は、所定の加
    工位置に保持された被処理スパークプラグに対し、その
    中心電極の軸線方向において前記接地電極に接近・離間
    可能に設けられた前記押圧パンチを、前記加工位置に対
    し予め固定的に定められた試験押圧終了位置まで、前記
    接地電極に向けて接近させることにより、該接地電極に
    前記試験押圧を施すものである請求項８又は９に記載の
    スパークプラグ製造装置。
11. 【請求項１１】 試験押圧手段と調整押圧手段とは、共
    通の押圧パンチとこれを被処理スパークプラグの接地電
    極に対して接近・離間可能かつ任意の位置を保持可能に
    構成された駆動手段とを含む押圧機構を含んで構成さ
    れ、 その押圧機構に対し、前記押圧パンチを前記試験押圧終
    了位置まで移動させて前記予備押圧を行わせるととも
    に、その後該押圧パンチを試験押圧終了位置に保持させ
    る試験押圧駆動制御手段と、 前記押圧パンチが試験押圧終了位置に保持された状態に
    て前記ギャップ間隔ｇ1’を測定するｇ1’測定手段と、 該ｇ1’測定後に、前記押圧パンチを押圧解除のために
    退避させる退避駆動制御手段と、 その状態で前記ギャップ間隔ｇ1を測定するｇ1測定手段
    と、 前記結果第一ＳＢ量ｕ1をｇ1−ｇ1’として求め、それ
    を用いて前記調整押圧量ｓ2を（ｇ1−ｇt）＋ｕ2’とし
    て算出する前記調整押圧量算出手段と、次いで、前記押
    圧パンチを、算出された前記調整押圧量ｓ2に応じて定
    まる調整押圧終了位置まで移動させて前記調整押圧を行
    う調整押圧駆動制御手段とを含む請求項１０記載のスパ
    ークプラグ製造装置。
12. 【請求項１２】 一連の複数の被処理スパークプラグの
    前記ギャップ間隔を調整する際に、現在の被処理スパー
    クプラグについて、前記調整押圧時に前記接地電極に生
    ずるスプリングバック量（以下、結果第二ＳＢ量とい
    う）ｕ2を測定する結果第二ＳＢ量測定手段と、 その測定された結果第二ＳＢ量ｕ2の値に基づいて、次
    の被処理スパークプラグに対する調整押圧量を補正する
    調整押圧量補正手段とを含む請求項８ないし１１のいず
    れかに記載のスパークプラグ製造装置。
13. 【請求項１３】 前記第二ＳＢ量予測手段は、現在の被
    処理スパークプラグにおいて前記予測第二ＳＢ量ｕ2’
    を、その現在の被処理スパークプラグに先行して処理さ
    れた１又は複数の被処理スパークプラグにおける前記結
    果第二ＳＢ量ｕ2の実績値に基づいて決定する予測第二
    ＳＢ量決定手段を含み、 前記調整押圧量補正手段は、前記結果第二ＳＢ量ｕ2が
    前記予測第二ＳＢ量ｕ2’よりも小さい場合には、次の
    被処理スパークプラグの調整押圧量を大きくする補正を
    行い、同じくｕ2がｕ2’よりも大きい場合には逆の補正
    を行うものである請求項１２記載のスパークプラグ製造
    装置。
14. 【請求項１４】 現在処理すべき被処理スパークプラグ
    に先行するＮ個（Ｎ≧２）の被処理スパークプラグを処
    理の時系列順に配列したときに、それら各被処理スパー
    クプラグの補正因子Ａを、それぞれ対応する前記予測第
    二ＳＢ量ｕ2’と前記結果第二ＳＢ量ｕ2とを用いて、Ａ
    ＝ｕ2’／（ｕ2＋ｕ2’）により算出し、それらＮ個の
    被処理プラグについて求められた該Ａの値の平均値とし
    て補正係数αを算出する補正係数算出手段と、 その補正係数αと前記結果第一ＳＢ量ｕ1とを用いて、
    現在の被処理スパークプラグに対する前記予測第二ＳＢ
    量ｕ2’をｕ2’＝ｕ1・α／（１−α）により求める前
    記予測第二ＳＢ量決定手段と、 を含む請求項１３記載のスパークプラグ製造装置。