JP2000146856A - 円環状ゴムシール部材の検査方法 - Google Patents
円環状ゴムシール部材の検査方法Info
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- JP2000146856A JP2000146856A JP10323449A JP32344998A JP2000146856A JP 2000146856 A JP2000146856 A JP 2000146856A JP 10323449 A JP10323449 A JP 10323449A JP 32344998 A JP32344998 A JP 32344998A JP 2000146856 A JP2000146856 A JP 2000146856A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 容易かつ高精度に検査することができる円環
状ゴムシール部材の検査方法を提供することにある。 【解決手段】 固体撮像素子カメラにて、円環状ゴムシ
ール部材の部分画像を取込む。取込画像６の３点の座標
を求め、求めた座標と円の方程式により仮想円の中心Ｏ
位置及び半径を算出して座標を通る仮想円８を設定す
る。多段階の輝度情報を有する複数の画素から成るエリ
アＥ…を仮想円８に沿って複数設定配置して検査領域９
を設定する。各エリアＥ…の輝度を求め、その後、隣り
合うエリアＥ，Ｅの輝度差、及び、全エリアＥ…内の最
大輝度値と最小輝度値の差、を求めて、所定の良品判定
条件を満たすか否かを判定する。さらに、同様の工程を
経て、円環状ゴムシール部材の全周について良品判定条
件を満たせば良品であると判定する。
状ゴムシール部材の検査方法を提供することにある。 【解決手段】 固体撮像素子カメラにて、円環状ゴムシ
ール部材の部分画像を取込む。取込画像６の３点の座標
を求め、求めた座標と円の方程式により仮想円の中心Ｏ
位置及び半径を算出して座標を通る仮想円８を設定す
る。多段階の輝度情報を有する複数の画素から成るエリ
アＥ…を仮想円８に沿って複数設定配置して検査領域９
を設定する。各エリアＥ…の輝度を求め、その後、隣り
合うエリアＥ，Ｅの輝度差、及び、全エリアＥ…内の最
大輝度値と最小輝度値の差、を求めて、所定の良品判定
条件を満たすか否かを判定する。さらに、同様の工程を
経て、円環状ゴムシール部材の全周について良品判定条
件を満たせば良品であると判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、円環状ゴムシール
部材の検査方法に関する。
部材の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、流体機器類等に使用される円環状
ゴムシール部材に対して、その内外周にバリや欠けが存
在するか否かを検査する方法としては、例えば、本出願
人が特願平８− 40470号等にて提案したように、同軸落
射にて（円環状ゴムシール部材としての）Ｏリングに光
を照射して、Ｏリング全体を画像として取込み、２値化
して、予め設定した寸法の円形のウィンドウと、上記取
込んだ取込画像の中心を一致（重心一致）させて、白色
素数（又は黒色素数）を、ウィンドウの全周に沿ってカ
ウントして、判定していた。
ゴムシール部材に対して、その内外周にバリや欠けが存
在するか否かを検査する方法としては、例えば、本出願
人が特願平８− 40470号等にて提案したように、同軸落
射にて（円環状ゴムシール部材としての）Ｏリングに光
を照射して、Ｏリング全体を画像として取込み、２値化
して、予め設定した寸法の円形のウィンドウと、上記取
込んだ取込画像の中心を一致（重心一致）させて、白色
素数（又は黒色素数）を、ウィンドウの全周に沿ってカ
ウントして、判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の検査
方法は、円環状ゴムシール部材が小径でかつ比較的真円
であれば、カメラの視野内に画像が入力されるので問題
はない。しかしながら、例えば、大径のゴムシール部材
では楕円状に変形し易く、楕円状のその全体画像を取込
んだ場合、その取込画像と、ウィンドウの検査領域を重
ね合わせて検査すると、誤判定を生じてしまうという問
題があった。また、２値化した白黒画素の判定では精度
が劣っていた。
方法は、円環状ゴムシール部材が小径でかつ比較的真円
であれば、カメラの視野内に画像が入力されるので問題
はない。しかしながら、例えば、大径のゴムシール部材
では楕円状に変形し易く、楕円状のその全体画像を取込
んだ場合、その取込画像と、ウィンドウの検査領域を重
ね合わせて検査すると、誤判定を生じてしまうという問
題があった。また、２値化した白黒画素の判定では精度
が劣っていた。
【０００４】そこで、本発明は、容易かつ高精度に検査
することができる円環状ゴムシール部材の検査方法を提
供することを目的とする。
することができる円環状ゴムシール部材の検査方法を提
供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明に係る円環状ゴムシール部材の検査方法
は、固体撮像素子カメラにて、円環状ゴムシール部材の
部分画像を取込み、該取込画像の円周上の３点の座標を
求め、求めた該座標と円の方程式により仮想円の中心位
置及び半径を算出して上記座標を通る該仮想円を設定
し、多段階の輝度情報を有する複数の画素から成るエリ
アを上記仮想円に沿って複数設定配置して検査領域を設
定し、該検査領域の上記各エリア内の輝度の平均値を算
出して各エリアの輝度を求め、その後、隣り合うエリア
の輝度差の最大値、及び、全エリア内の最大輝度値と最
小輝度値の差、を求めて所定の良品判定条件を満たすか
否かを判定し、上記良品判定条件を満たせば、上記円環
状ゴムシール部材の円周の他の部分画像を順次取込んで
同様の工程を経て上記良品判定条件を満たすか否かを判
定し、上記円環状ゴムシール部材の全周について上記良
品判定条件を満たせば良品であると判定するものであ
る。
めに、本発明に係る円環状ゴムシール部材の検査方法
は、固体撮像素子カメラにて、円環状ゴムシール部材の
部分画像を取込み、該取込画像の円周上の３点の座標を
求め、求めた該座標と円の方程式により仮想円の中心位
置及び半径を算出して上記座標を通る該仮想円を設定
し、多段階の輝度情報を有する複数の画素から成るエリ
アを上記仮想円に沿って複数設定配置して検査領域を設
定し、該検査領域の上記各エリア内の輝度の平均値を算
出して各エリアの輝度を求め、その後、隣り合うエリア
の輝度差の最大値、及び、全エリア内の最大輝度値と最
小輝度値の差、を求めて所定の良品判定条件を満たすか
否かを判定し、上記良品判定条件を満たせば、上記円環
状ゴムシール部材の円周の他の部分画像を順次取込んで
同様の工程を経て上記良品判定条件を満たすか否かを判
定し、上記円環状ゴムシール部材の全周について上記良
品判定条件を満たせば良品であると判定するものであ
る。
【０００６】また、固体撮像素子カメラに対して円環状
ゴムシール部材側を旋回させて、上記固体撮像素子カメ
ラにて上記円環状ゴムシール部材の円周の部分画像を順
次取込むようにするものである。
ゴムシール部材側を旋回させて、上記固体撮像素子カメ
ラにて上記円環状ゴムシール部材の円周の部分画像を順
次取込むようにするものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態を示す図面に基
づき、本発明を詳説する。
づき、本発明を詳説する。
【０００８】本発明の検査方法は、例えば、図３と図４
に示すような自動変速用シールのユニピストン１の外周
縁のリップ２や、図12と図13に示すようなＯリング13等
の、円環状ゴムシール部材７を検査する方法である。
に示すような自動変速用シールのユニピストン１の外周
縁のリップ２や、図12と図13に示すようなＯリング13等
の、円環状ゴムシール部材７を検査する方法である。
【０００９】しかして、図８は本発明の検査方法のフロ
ーチャート図であり、先ず、図８と図３と図４からユニ
ピストン１のリップ２の検査方法を説明する。ユニピス
トン１のリップ２に於て、リップ２の円周の一部の端面
２ａに光を照射し、その反射光を固体撮像素子（ＣＣ
Ｄ）カメラ３に入射させて、リップ２の部分画像を取込
む。具体的には、例えば、回転テーブル４上にユニピス
トン１を設置し、照明ランプ12によってリップ２の端面
２ａに対して45°の角度で外周側（矢印Ｇ方向）から光
を照射し、90°の角度（矢印Ｈ方向）に反射した光を上
方のカメラ３にて取込む。
ーチャート図であり、先ず、図８と図３と図４からユニ
ピストン１のリップ２の検査方法を説明する。ユニピス
トン１のリップ２に於て、リップ２の円周の一部の端面
２ａに光を照射し、その反射光を固体撮像素子（ＣＣ
Ｄ）カメラ３に入射させて、リップ２の部分画像を取込
む。具体的には、例えば、回転テーブル４上にユニピス
トン１を設置し、照明ランプ12によってリップ２の端面
２ａに対して45°の角度で外周側（矢印Ｇ方向）から光
を照射し、90°の角度（矢印Ｈ方向）に反射した光を上
方のカメラ３にて取込む。
【００１０】また、図１に示すように、５は画面（カメ
ラ視野）であり、この画面５には上記カメラ３にて取込
まれたリップ２の円周の部分画像、即ち、取込画像６が
映し出される。取込画像６は、リップ２の端面２ａに相
当する部分が白色円弧状部17として明るく（白く）表示
され、背景部19は暗く（黒く）表示される。なお、画面
５には、例えば、横512 個×縦484 個の（後述する）画
素を有し、１画素が例えば夫々０〜255 の輝度情報を持
っている。
ラ視野）であり、この画面５には上記カメラ３にて取込
まれたリップ２の円周の部分画像、即ち、取込画像６が
映し出される。取込画像６は、リップ２の端面２ａに相
当する部分が白色円弧状部17として明るく（白く）表示
され、背景部19は暗く（黒く）表示される。なお、画面
５には、例えば、横512 個×縦484 個の（後述する）画
素を有し、１画素が例えば夫々０〜255 の輝度情報を持
っている。
【００１１】ところで、図１と図３に示すように、回転
テーブル４上に設置されたユニピストン１のリップ２
は、軟らかくて変形し易く、平面的に見ると、真円では
なく、楕円状となっていることがある。そこで、本発明
では、後述の如く検査を進める。
テーブル４上に設置されたユニピストン１のリップ２
は、軟らかくて変形し易く、平面的に見ると、真円では
なく、楕円状となっていることがある。そこで、本発明
では、後述の如く検査を進める。
【００１２】図２と図５と図８に示すように、取込画像
６の円周上───白色円弧状部17の外周縁部───の任
意の３点Ａ，Ｂ，Ｃのｘ−ｙ座標を求める。即ち、点Ａ
の座標（ｘ1 ，ｙ1 ）と点Ｂの座標（ｘ2 ，ｙ2 ）と点
Ｃの座標（ｘ3 ，ｙ3 ）を求める。そして、求めた各座
標と円の方程式により、仮想円の中心Ｏ位置───中心
Ｏの座標（ａ，ｂ）───及び半径ｒを算出して、上記
３点Ａ，Ｂ，Ｃの座標を通る仮想円８を設定する。
６の円周上───白色円弧状部17の外周縁部───の任
意の３点Ａ，Ｂ，Ｃのｘ−ｙ座標を求める。即ち、点Ａ
の座標（ｘ1 ，ｙ1 ）と点Ｂの座標（ｘ2 ，ｙ2 ）と点
Ｃの座標（ｘ3 ，ｙ3 ）を求める。そして、求めた各座
標と円の方程式により、仮想円の中心Ｏ位置───中心
Ｏの座標（ａ，ｂ）───及び半径ｒを算出して、上記
３点Ａ，Ｂ，Ｃの座標を通る仮想円８を設定する。
【００１３】その後、図６と図８に示すように、この仮
想円８に沿って複数のエリアＥ…を設定配置して検査領
域９を設定する。図例の場合、11個のエリアＥ…（Ｅ
1 ，Ｅ 2 ，Ｅ3 ，Ｅ4 …）から成る検査領域９が設定さ
れている。
想円８に沿って複数のエリアＥ…を設定配置して検査領
域９を設定する。図例の場合、11個のエリアＥ…（Ｅ
1 ，Ｅ 2 ，Ｅ3 ，Ｅ4 …）から成る検査領域９が設定さ
れている。
【００１４】ところで、図７に示すように、１個のエリ
アＥは、輝度を検知する所定複数個の（上述の）画素Ｆ
…から成る。図例の場合、９個の画素Ｆ…（Ｆ1 〜Ｆ
9 ）から１個のエリアＥが形成されている。また、１個
の画素Ｆは、例えば０〜255 の輝度情報を有している。
なお、エリアＥのサイズは変更可能であり、被検査物
（円環状ゴムシール部材）の種類や大きさ等に対応して
適切なサイズに設定すれば良い。
アＥは、輝度を検知する所定複数個の（上述の）画素Ｆ
…から成る。図例の場合、９個の画素Ｆ…（Ｆ1 〜Ｆ
9 ）から１個のエリアＥが形成されている。また、１個
の画素Ｆは、例えば０〜255 の輝度情報を有している。
なお、エリアＥのサイズは変更可能であり、被検査物
（円環状ゴムシール部材）の種類や大きさ等に対応して
適切なサイズに設定すれば良い。
【００１５】次に、図６〜図８に示すように、検査領域
９の各エリアＥ…内の輝度の平均値を算出して各エリア
Ｅ…についての輝度を求める。つまり、１個のエリアＥ
内の複数個の画素Ｆ1 〜Ｆ9 の輝度の平均値をそのエリ
アＥの輝度値とする。例えば、図７に於て、エリアＥの
画素Ｆ1 の輝度は85、Ｆ2 の輝度は84、Ｆ3 は83、Ｆ 4
は83、Ｆ5 は82、Ｆ6 は81、Ｆ7 は81、Ｆ8 は80、Ｆ9
は79であるとすると、輝度の平均値は82であり、エリア
Ｅの輝度値は82となる。
９の各エリアＥ…内の輝度の平均値を算出して各エリア
Ｅ…についての輝度を求める。つまり、１個のエリアＥ
内の複数個の画素Ｆ1 〜Ｆ9 の輝度の平均値をそのエリ
アＥの輝度値とする。例えば、図７に於て、エリアＥの
画素Ｆ1 の輝度は85、Ｆ2 の輝度は84、Ｆ3 は83、Ｆ 4
は83、Ｆ5 は82、Ｆ6 は81、Ｆ7 は81、Ｆ8 は80、Ｆ9
は79であるとすると、輝度の平均値は82であり、エリア
Ｅの輝度値は82となる。
【００１６】その後、図６と図８に示すように、隣り合
うエリアＥ，Ｅの輝度差の最大値（以下、第１の値とい
う）、及び、全エリアＥ…内の最大輝度値と最小輝度値
の差（以下、第２の値という）を求めて、所定の良品判
定条件を満たすか否かを判定する。ここで、所定の良品
判定条件とは、第１の値＜第１判定値、かつ、第２の値
＜第２判定値、である。また、第１判定値及び第２判定
値とは、被検査物（円環状ゴムシール部材）に応じて設
定した所定の値である。なお、不良品と判定される条件
は、第１の値≧第１判定値、又は、第２の値≧第２判定
値、である。
うエリアＥ，Ｅの輝度差の最大値（以下、第１の値とい
う）、及び、全エリアＥ…内の最大輝度値と最小輝度値
の差（以下、第２の値という）を求めて、所定の良品判
定条件を満たすか否かを判定する。ここで、所定の良品
判定条件とは、第１の値＜第１判定値、かつ、第２の値
＜第２判定値、である。また、第１判定値及び第２判定
値とは、被検査物（円環状ゴムシール部材）に応じて設
定した所定の値である。なお、不良品と判定される条件
は、第１の値≧第１判定値、又は、第２の値≧第２判定
値、である。
【００１７】詳しく説明すると、例えば、図６に於て、
仮に検査領域９が４個のエリアＥ1，Ｅ2 ，Ｅ3 ，Ｅ4
から成るものとし、エリアＥ1 の輝度値は155 、エリア
Ｅ2の輝度値は150 、エリアＥ3 の輝度値は140 、エリ
アＥ4 の輝度値は143 であるとする。また、第１判定値
を20と設定し、第２判定値を50と設定したとする。この
場合、エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は５、エリアＥ2 ，Ｅ3 の
差は10、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３であり、第１の値は
10となる。また、最大輝度値は155 であり、最小輝度値
は140 であるから、第２の値は15である。従って、第１
の値10＜第１判定値20、かつ、第２の値15＜第２判定値
50、となり、良品判定条件を満たしていると判定する。
仮に検査領域９が４個のエリアＥ1，Ｅ2 ，Ｅ3 ，Ｅ4
から成るものとし、エリアＥ1 の輝度値は155 、エリア
Ｅ2の輝度値は150 、エリアＥ3 の輝度値は140 、エリ
アＥ4 の輝度値は143 であるとする。また、第１判定値
を20と設定し、第２判定値を50と設定したとする。この
場合、エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は５、エリアＥ2 ，Ｅ3 の
差は10、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３であり、第１の値は
10となる。また、最大輝度値は155 であり、最小輝度値
は140 であるから、第２の値は15である。従って、第１
の値10＜第１判定値20、かつ、第２の値15＜第２判定値
50、となり、良品判定条件を満たしていると判定する。
【００１８】また、図９や図10に示す如く、欠け11やバ
リ10が存在する場合は、上記良品判定条件が満たされな
い（不良品判定条件が満たされる）。例えば、図９に於
て、エリアＥ1 ，Ｅ3 ，Ｅ4 の輝度値及び第１・第２判
定値は（図６で説明した場合と）同じとし、エリアＥ2
の輝度値を60とすると、エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は95、エ
リアＥ2 ，Ｅ3 の差は80、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３で
あり、第１の値は95となる。また、最大輝度値は155 で
あり、最小輝度値は60であるから、第２の値は95とな
る。従って、第１の値95≧第１判定値20、又は、第２の
値95≧第２判定値50、となり、不良品判定条件を満たし
ている（良品判定条件を満たしていない）と判定する。
即ち、図８に示す如く、不良品であると判定する。
リ10が存在する場合は、上記良品判定条件が満たされな
い（不良品判定条件が満たされる）。例えば、図９に於
て、エリアＥ1 ，Ｅ3 ，Ｅ4 の輝度値及び第１・第２判
定値は（図６で説明した場合と）同じとし、エリアＥ2
の輝度値を60とすると、エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は95、エ
リアＥ2 ，Ｅ3 の差は80、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３で
あり、第１の値は95となる。また、最大輝度値は155 で
あり、最小輝度値は60であるから、第２の値は95とな
る。従って、第１の値95≧第１判定値20、又は、第２の
値95≧第２判定値50、となり、不良品判定条件を満たし
ている（良品判定条件を満たしていない）と判定する。
即ち、図８に示す如く、不良品であると判定する。
【００１９】他方、図10に於て、エリアＥ1 ，Ｅ3 ，Ｅ
4 の輝度値及び第１・第２判定値は（図６で説明した場
合と）同じとし、エリアＥ2 の輝度値を170 とすると、
エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は15、エリアＥ2 ，Ｅ3 の差は3
0、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３であり、第１の値は30と
なる。また、最大輝度値は170 であり、最小輝度値は14
0 であるから、第２の値は30である。従って、第１の値
30≧第１判定値20、となり、不良品判定条件を満たして
いる（良品判定条件を満たしていない）と判定する。即
ち、図８に示す如く、不良品であると判定する。
4 の輝度値及び第１・第２判定値は（図６で説明した場
合と）同じとし、エリアＥ2 の輝度値を170 とすると、
エリアＥ1 ，Ｅ2 の差は15、エリアＥ2 ，Ｅ3 の差は3
0、エリアＥ3 ，Ｅ4 の差は３であり、第１の値は30と
なる。また、最大輝度値は170 であり、最小輝度値は14
0 であるから、第２の値は30である。従って、第１の値
30≧第１判定値20、となり、不良品判定条件を満たして
いる（良品判定条件を満たしていない）と判定する。即
ち、図８に示す如く、不良品であると判定する。
【００２０】このようにして、所定の良品判定条件を満
たすか否かを判定し、良品判定条件を満たすと判定する
と、図３と図４と図８に示すように、カメラ３に対して
円環状ゴムシール部材７側を旋回させて、カメラ３にて
ゴムシール部材７の隣りの円周の一部円弧の部分画像を
順次取込むようにする。
たすか否かを判定し、良品判定条件を満たすと判定する
と、図３と図４と図８に示すように、カメラ３に対して
円環状ゴムシール部材７側を旋回させて、カメラ３にて
ゴムシール部材７の隣りの円周の一部円弧の部分画像を
順次取込むようにする。
【００２１】つまり、回転テーブル４を間欠的に回転駆
動してユニピストン１を旋回させ、リップ２の次の一部
円弧の部分画像を順次取込んで（上述と同様にして）良
品判定条件を満たすか否かを繰り返し判定していく。図
11（イ）〜（ト）は、ユニピストン１が間欠的に旋回し
て、リップ２の他の部分画像が順次取込まれていく状態
を示している。このようにして、リップ２が一回転すれ
ば、リップ２の全周について良品判定条件が満たされて
いることとなり、図８に示す如く、このリップ２は良品
であると判定される。（このとき、カメラ３（図示省
略）を径方向に移動調整して、画面５の中間付近に取込
画像６がくるようにするも好ましい。）
動してユニピストン１を旋回させ、リップ２の次の一部
円弧の部分画像を順次取込んで（上述と同様にして）良
品判定条件を満たすか否かを繰り返し判定していく。図
11（イ）〜（ト）は、ユニピストン１が間欠的に旋回し
て、リップ２の他の部分画像が順次取込まれていく状態
を示している。このようにして、リップ２が一回転すれ
ば、リップ２の全周について良品判定条件が満たされて
いることとなり、図８に示す如く、このリップ２は良品
であると判定される。（このとき、カメラ３（図示省
略）を径方向に移動調整して、画面５の中間付近に取込
画像６がくるようにするも好ましい。）
【００２２】以上は、円環状ゴムシール部材７の外周縁
についての検査方法を説明したが、内周縁についても上
述と同様にして行うことができる。また、外周縁と内周
縁の両方を並行して検査することもできる。
についての検査方法を説明したが、内周縁についても上
述と同様にして行うことができる。また、外周縁と内周
縁の両方を並行して検査することもできる。
【００２３】また、図12と図13は、Ｏリング13（円環状
ゴムシール部材７）の検査状態を示している。この場
合、回転テーブル４に対して垂直方向の光をＯリング13
に照射（同軸落射）し、Ｏリング13の円周の一部からの
反射光を上方の固体撮像素子カメラ（図示省略）に入射
させる。これにより、Ｏリング13表面頂上部近傍14及び
回転テーブル４表面は明るく（白く）、Ｏリング13の内
周縁15と外周縁16は暗く（黒く）映し出された円弧状の
取込画像６が得られる。このとき、取込画像６に於て、
上記頂上部近傍14に相当する部分は白色円弧状部17とな
り、上記内周縁15と外周縁16に相当する部分は黒色円弧
状部20，20となり、回転テーブル４表面に相当する部分
は白色の背景部19，19となって表示される。また、頂上
部近傍14に表面傷が存在した場合は、白色円弧状部17内
に黒色として表面傷18が表れる。
ゴムシール部材７）の検査状態を示している。この場
合、回転テーブル４に対して垂直方向の光をＯリング13
に照射（同軸落射）し、Ｏリング13の円周の一部からの
反射光を上方の固体撮像素子カメラ（図示省略）に入射
させる。これにより、Ｏリング13表面頂上部近傍14及び
回転テーブル４表面は明るく（白く）、Ｏリング13の内
周縁15と外周縁16は暗く（黒く）映し出された円弧状の
取込画像６が得られる。このとき、取込画像６に於て、
上記頂上部近傍14に相当する部分は白色円弧状部17とな
り、上記内周縁15と外周縁16に相当する部分は黒色円弧
状部20，20となり、回転テーブル４表面に相当する部分
は白色の背景部19，19となって表示される。また、頂上
部近傍14に表面傷が存在した場合は、白色円弧状部17内
に黒色として表面傷18が表れる。
【００２４】しかして、図13は、上記表面傷18の検査状
態を示している。この場合、（図８で説明したように）
例えば、白色円弧状部17の幅の中心を結ぶ円周上の３点
Ａ，Ｂ，Ｃの座標を求めて、求めた座標と円の方程式に
より、仮想円８の中心Ｏの位置と半径ｒを算出する。こ
の仮想円８に沿って複数のエリアＥ…を設定配置して検
査領域９を設定する。そして、各エリアＥ…の輝度を求
めて第１の値及び第２の値を求め、所定の良品判定条件
を満たしているか否かを判定する。
態を示している。この場合、（図８で説明したように）
例えば、白色円弧状部17の幅の中心を結ぶ円周上の３点
Ａ，Ｂ，Ｃの座標を求めて、求めた座標と円の方程式に
より、仮想円８の中心Ｏの位置と半径ｒを算出する。こ
の仮想円８に沿って複数のエリアＥ…を設定配置して検
査領域９を設定する。そして、各エリアＥ…の輝度を求
めて第１の値及び第２の値を求め、所定の良品判定条件
を満たしているか否かを判定する。
【００２５】表面傷18が存在すると、この表面傷18に対
応する位置のエリアＥ，Ｅの輝度値は他のエリアＥ…の
輝度値よりも比較的小さくなるため、上記良品判定条件
を満たさないと判定され、（図12の）Ｏリング13は不良
品であると判定される。なお、Ｏリング13の内周縁15及
び外周縁16の検査の場合、取込画像６の黒色円弧状部2
0，20の各々の円周上の３点の座標を求め、図１〜図10
で説明したユニピストン１のリップ２の検査方法と同様
にして行うことができる。
応する位置のエリアＥ，Ｅの輝度値は他のエリアＥ…の
輝度値よりも比較的小さくなるため、上記良品判定条件
を満たさないと判定され、（図12の）Ｏリング13は不良
品であると判定される。なお、Ｏリング13の内周縁15及
び外周縁16の検査の場合、取込画像６の黒色円弧状部2
0，20の各々の円周上の３点の座標を求め、図１〜図10
で説明したユニピストン１のリップ２の検査方法と同様
にして行うことができる。
【００２６】なお、本発明は上述の実施の形態に限定さ
れず、例えば、本実施の形態では円環状ゴムシール部材
７が楕円状に変形した場合の検査方法を説明したが、大
径のＯリング等では弾性変形し易いため、歪な円形に変
形して回転テーブル４に設置される場合があるが、この
ような歪な円形状等のゴムシール部材７に対しても確実
に精度良く検査することができる。
れず、例えば、本実施の形態では円環状ゴムシール部材
７が楕円状に変形した場合の検査方法を説明したが、大
径のＯリング等では弾性変形し易いため、歪な円形に変
形して回転テーブル４に設置される場合があるが、この
ような歪な円形状等のゴムシール部材７に対しても確実
に精度良く検査することができる。
【００２７】
【発明の効果】本発明は上述の如く構成されるので、次
に記載する効果を奏する。
に記載する効果を奏する。
【００２８】（請求項１によれば）真円のものはもちろ
んのこと、楕円状や歪な円形状に円環状ゴムシール部材
７が弾性変形していても、容易かつ高精度に検査するこ
とができる。また、大径の円環状ゴムシール部材７であ
っても、その部分画像を順次取込んでいくため、容易に
検査することができる。また、固体撮像素子カメラ３と
円環状ゴムシール部材７を相対的に旋回させる場合、ゴ
ムシール部材７の中心と旋回中心との位置ずれがあって
も問題が無く、検査装置の構造を簡素化することができ
る。しかも、検査精度が従来よりも著しく向上できた。
んのこと、楕円状や歪な円形状に円環状ゴムシール部材
７が弾性変形していても、容易かつ高精度に検査するこ
とができる。また、大径の円環状ゴムシール部材７であ
っても、その部分画像を順次取込んでいくため、容易に
検査することができる。また、固体撮像素子カメラ３と
円環状ゴムシール部材７を相対的に旋回させる場合、ゴ
ムシール部材７の中心と旋回中心との位置ずれがあって
も問題が無く、検査装置の構造を簡素化することができ
る。しかも、検査精度が従来よりも著しく向上できた。
【００２９】（請求項２によれば）検査装置の構造をよ
り一層簡素化することができる。つまり、固体撮像素子
カメラ３を円環状ゴムシール部材７の円周に沿って旋回
させるよりも、円環状ゴムシール部材７側を旋回させる
方が構造的に簡素化できる。
り一層簡素化することができる。つまり、固体撮像素子
カメラ３を円環状ゴムシール部材７の円周に沿って旋回
させるよりも、円環状ゴムシール部材７側を旋回させる
方が構造的に簡素化できる。
【図１】本発明の円環状シール部材の検査方法による取
込画像を示す簡略説明図である。
込画像を示す簡略説明図である。
【図２】取込画像の円周上の３点の座標を示す説明図で
ある。
ある。
【図３】外周縁にリップを有するユニピストンを示す断
面図である。
面図である。
【図４】リップに光を照射した状態を示す説明図であ
る。
る。
【図５】３点の座標を通る仮想円を示す説明図である。
【図６】仮想円に沿って複数のエリアを設定配置した状
態を示す説明図である。
態を示す説明図である。
【図７】エリアを構成する複数の画素を示す説明図であ
る。
る。
【図８】フローチャート図である。
【図９】欠けが存在した場合の検査状態を示す説明図で
ある。
ある。
【図10】バリが存在した場合の検査状態を示す説明図で
ある。
ある。
【図11】円環状ゴムシール部材の他の部分画像を順次取
込んでいく状態を示す説明図である。
込んでいく状態を示す説明図である。
【図12】Ｏリングの検査状態を示す説明図である。
【図13】取込画像の白色円弧状部に複数のエリアを設定
配置した状態を示す説明図である。
配置した状態を示す説明図である。
３ 固体撮像素子カメラ ６ 取込画像 ７ 円環状ゴムシール部材 ８ 仮想円 ９ 検査領域 Ｅ エリア Ｆ 画素 Ｏ 中心 ｒ 半径
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上山 雅哉 和歌山県有田市箕島663番地 三菱電線工 業株式会社箕島製作所内 Ｆターム(参考） 2G051 AA90 AB02 CA03 DA08 EA08 EB01 EC03 ED01 ED04 ED23 3J040 BA02 EA15 FA05 HA30
Claims (2)
- 【請求項１】 固体撮像素子カメラにて、円環状ゴムシ
ール部材の部分画像を取込み、該取込画像の円周上の３
点の座標を求め、求めた該座標と円の方程式により仮想
円の中心位置及び半径を算出して上記座標を通る該仮想
円を設定し、多段階の輝度情報を有する複数の画素から
成るエリアを上記仮想円に沿って複数設定配置して検査
領域を設定し、該検査領域の上記各エリア内の輝度の平
均値を算出して各エリアの輝度を求め、その後、隣り合
うエリアの輝度差の最大値、及び、全エリア内の最大輝
度値と最小輝度値の差、を求めて所定の良品判定条件を
満たすか否かを判定し、上記良品判定条件を満たせば、
上記円環状ゴムシール部材の円周の他の部分画像を順次
取込んで同様の工程を経て上記良品判定条件を満たすか
否かを判定し、上記円環状ゴムシール部材の全周につい
て上記良品判定条件を満たせば良品であると判定するこ
とを特徴とする円環状ゴムシール部材の検査方法。 - 【請求項２】 固体撮像素子カメラに対して円環状ゴム
シール部材側を旋回させて、上記固体撮像素子カメラに
て上記円環状ゴムシール部材の円周の部分画像を順次取
込むようにする請求項１記載の円環状ゴムシール部材の
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32344998A JP4122099B2 (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | 円環状ゴムシール部材の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32344998A JP4122099B2 (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | 円環状ゴムシール部材の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000146856A true JP2000146856A (ja) | 2000-05-26 |
| JP4122099B2 JP4122099B2 (ja) | 2008-07-23 |
Family
ID=18154802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32344998A Expired - Fee Related JP4122099B2 (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | 円環状ゴムシール部材の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4122099B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9116133B2 (en) | 2010-03-09 | 2015-08-25 | Federal-Mogul Corporation | Bore inspection system and method of inspection therewith |
| JP2021130177A (ja) * | 2020-02-20 | 2021-09-09 | 株式会社ニイガタマシンテクノ | 工作機械の切屑検出装置 |
| WO2023109735A1 (zh) * | 2021-12-14 | 2023-06-22 | 奥动新能源汽车科技有限公司 | 电池包的电连接器密封圈的图像检测***及方法、换电站 |
-
1998
- 1998-11-13 JP JP32344998A patent/JP4122099B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9116133B2 (en) | 2010-03-09 | 2015-08-25 | Federal-Mogul Corporation | Bore inspection system and method of inspection therewith |
| JP2021130177A (ja) * | 2020-02-20 | 2021-09-09 | 株式会社ニイガタマシンテクノ | 工作機械の切屑検出装置 |
| JP7433594B2 (ja) | 2020-02-20 | 2024-02-20 | 株式会社ニイガタマシンテクノ | 工作機械の切屑検出装置 |
| WO2023109735A1 (zh) * | 2021-12-14 | 2023-06-22 | 奥动新能源汽车科技有限公司 | 电池包的电连接器密封圈的图像检测***及方法、换电站 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4122099B2 (ja) | 2008-07-23 |
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