JP2000146699A - Measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、測定装置に関する
もので、より具体的には固体等のＬＢ，ＬＤが大きい試
料のＣＤなどの光学的性質を測定することのできる測定
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring apparatus, and more particularly, to a measuring apparatus capable of measuring optical properties such as CD of a sample having a large LB or LD such as a solid.
【０００２】[0002]
【発明の背景】よく知られているように、円二色性（Ｃ
Ｄ）は、発色団を持ち光学活性な物質が左右円偏光に対
して異なった吸収を示す現象をいう。そこで、ＣＤ測定
装置では、右回りの円偏光と左回りの円偏光を交番的に
変化させながら試料を透過させ、その透過光に基づいて
当該試料のＣＤを求めるようになっている。これによ
り、紫外・可視分光計では得ることのできない分子の立
体構造に関する情報など、光学活性物質の構造解明のた
めに広く用いられている。BACKGROUND OF THE INVENTION As is well known, circular dichroism (C
D) refers to a phenomenon in which an optically active substance having a chromophore exhibits different absorption for left and right circularly polarized light. Therefore, in a CD measuring apparatus, a sample is transmitted while alternating clockwise circularly polarized light and counterclockwise circularly polarized light, and a CD of the sample is obtained based on the transmitted light. Accordingly, it is widely used for elucidating the structure of optically active substances, such as information on the three-dimensional structure of molecules that cannot be obtained with an ultraviolet / visible spectrometer.
【０００３】ところが、ゲルやＤＮＡフィルム等の巨視
的異方性を持つ試料を測定する場合には、試料の持つ直
線異方性（直線複屈折（ＬＢ）、直線二色性（ＬＤ））
に起因する偽のＣＤスペクトルが現れる。すなわち、Ｃ
Ｄ測定装置で検出されるＣＤｒは、真のＣＤにＬＤ，Ｌ
Ｂに基づく成分が含まれた偽（見かけ上）のＣＤスペク
トルであり、次式で表すことができる。However, when measuring a sample having macroscopic anisotropy such as a gel or a DNA film, the linear anisotropy (linear birefringence (LB), linear dichroism (LD)) of the sample is measured.
A false CD spectrum appears. That is, C
The CDr detected by the D measuring device is LD, L
This is a false (apparent) CD spectrum containing a component based on B, and can be expressed by the following equation.
【０００４】[0004]
【数１】 (Equation 1)
【０００５】試料が溶液の場合、溶液自身が等方性なの
で巨視的異方性がなく、ＬＢ，ＬＤが存在しない。従っ
て、上記した式中、ＬＤ，ＬＢに０を代入すると、｛｝
内の第２，第３項がともに０となるので、 ＣＤｒ＝Ｇ０ＣＤ となり、測定結果がそのまま真のＣＤとなる。When the sample is a solution, there is no macroscopic anisotropy since the solution itself is isotropic, and LB and LD do not exist. Therefore, when 0 is substituted for LD and LB in the above equation, ｛｝
Since both of the second and third terms are 0, CDr = G0CD, and the measurement result is a true CD as it is.
【０００６】一方、例えばカンファー・スルフォン酸ア
ンモニウム（ＣＳＡ）を配向ＰＶＡフィルムに吸着させ
た場合、配向ＰＶＡフィルムは巨視的異方性（ＬＢ）を
持ち、ＣＳＡは配向ＰＶＡ鎖に沿って吸着するためＬＤ
を持つようになる。その結果、試料全体ではＬＢとＬＤ
を持ち、しかもＬＢ信号とＬＤ信号の大きさは、真のＣ
Ｄと比較して１０３から１０５ほど大きい。On the other hand, when, for example, ammonium camphor sulfonate (CSA) is adsorbed on an oriented PVA film, the oriented PVA film has macroscopic anisotropy (LB), and CSA adsorbs along an oriented PVA chain. LD
To have As a result, LB and LD
And the magnitudes of the LB and LD signals are true C
It is about 10 3 to 10 5 larger than D.
【０００７】従って、上記した式（１）中、｛｝内の第
２項は、固定的（θに依存しない）に増え、第１項のＣ
Ｄの値よりも大きくなる。また、第３項は試料の回転角
θにより変動するもののやはり誤差要因となる。このよ
うに、試料にＬＤやＬＢを有する場合、真のＣＤを直接
測定することはできなかった。Therefore, in the above equation (1), the second term in ｛｝ increases fixedly (independently of θ), and the first term C
It becomes larger than the value of D. The third term varies depending on the rotation angle θ of the sample, but still causes an error. Thus, when the sample has LD or LB, the true CD cannot be directly measured.
【０００８】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、固体等のＬＤ，ＬＢが大きい試料であっても確実に
ＣＤを測定することのできるＣＤ測定装置を提供するこ
とにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and has as its object to solve the above-mentioned problems and to reliably measure CD even in a sample such as a solid having a large LD and LB. It is an object of the present invention to provide a CD measuring device that can perform the measurement.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係る測定装置では、単色光を直線偏光
させる偏光子と、その偏光子を透過した光の偏光状態を
所定の変調周波数で、右回りの円偏光、左回りの円偏光
に同時に基本変調周波数の２倍の周波数で垂直方向の直
線偏光、水平方向の直線偏光に交番的に変化させる偏光
変調器と、その偏光変調器から得られた光の光路に配置
された試料室と、その試料室を通過した光が透過する検
光子を透過した光の強度を検出する検出器と、その検出
器の出力に基づいて信号処理する信号処理部を備えた偏
光変調測定装置であって、前記検光子の光軸が前記偏光
子の光軸に対し４５度の差を持った配置とするととも
に、前記検光子は光路に対して出没可能とし、前記信号
処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏光変調器
における変調周波数に相当する周波数成分及びその変調
周波数の２倍の周波数成分に基づいて信号処理するもの
で、前記検光子を光路外に位置させた状態で前記試料の
見かけのＣＤ値及びＬＤ値が最大となる前記試料の回転
角θ１とそのときのＬＤ値と、前記検光子を光路上に位
置させた状態でＬＢ値が最大となる前記試料の回転角θ
２とそのときのＬＢ値を測定し、これらの測定値より計
算により真のＣＤ値を算出するように構成した（請求項
１）。In order to achieve the above-mentioned object, in the measuring apparatus according to the present invention, a polarizer for linearly polarizing monochromatic light and a polarization state of light transmitted through the polarizer are modulated by a predetermined modulation. A polarization modulator that alternates between clockwise circularly polarized light and counterclockwise circularly polarized light at the same time as twice the fundamental modulation frequency, alternately to vertical linear polarization and horizontal linear polarization, and its polarization modulation A sample chamber arranged in the optical path of the light obtained from the detector, a detector that detects the intensity of light transmitted through an analyzer through which the light passes through the sample chamber, and a signal based on the output of the detector. A polarization modulation measurement device having a signal processing unit for processing, wherein the optical axis of the analyzer is arranged with a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the analyzer is positioned with respect to an optical path. And the signal processing unit detects The signal processing is performed based on a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component that is twice the modulation frequency in the output signal of the polarization modulator, and the sample is placed in a state where the analyzer is positioned outside the optical path. Of the sample at which the apparent CD value and the LD value of the sample are maximized, the LD value at that time, and the sample rotation angle θ at which the LB value is maximized with the analyzer positioned on the optical path.
2 and the LB value at that time were measured, and a true CD value was calculated by calculation from these measured values (claim 1).
【００１０】また、上記した発明のポイントは、偏光し
ていない白色光と、その白色光の光路に配置された試料
室と、試料を通過した光を直線偏光させる偏光子と、そ
の偏光子を透過した光の偏光状態を所定の変調周波数
で、右回りの円偏光、左回りの円偏光に同時に基本変調
周波数の２倍の周波数で垂直方向の直線偏光、水平方向
の直線偏光に交番的に変化させる偏光変調器と、その偏
光変調器から得られた光から所定周波数の光を抽出する
モノクロメータと、そのモノクロメータから出力される
光の強度を検出する検出器とその検出器の出力に基づい
て信号処理する信号処理部を備えた偏光変調測定装置に
対しても適用できる（請求項２）。[0010] The points of the invention described above are that unpolarized white light, a sample chamber arranged in the optical path of the white light, a polarizer that linearly polarizes the light passing through the sample, and The polarization state of the transmitted light is alternately changed to right-handed circularly polarized light and left-handed circularly polarized light at the specified modulation frequency, and simultaneously to vertical linearly polarized light and horizontal linearly polarized light at twice the fundamental modulation frequency. A polarization modulator that changes the light, a monochromator that extracts light of a predetermined frequency from the light obtained from the polarization modulator, a detector that detects the intensity of light output from the monochromator, and an output of the detector. The present invention can also be applied to a polarization modulation measurement device including a signal processing unit that performs signal processing based on the signal.
【００１１】また、そのように真のＣＤを求めることも
なく、上記した各発明の前提条件を同一にし、さらにθ
１，θ２の角度差を算出する機能を設けてもよい（請求
項３，４）。In addition, the precondition of each of the above-mentioned inventions is made the same without obtaining the true CD, and θ
A function for calculating an angle difference between 1, and θ2 may be provided (claims 3 and 4).
【００１２】本発明では、試料を試料室に設置し、試料
のＬＤｍａｘが得られるように、試料を回転させ、その
ときの試料の角度θ１を記憶しておく。そしてそのとき
のＬＤ値（ＬＤｍａｘ）を測定しておく。In the present invention, the sample is set in the sample chamber, the sample is rotated so that the LDmax of the sample is obtained, and the angle θ1 of the sample at that time is stored. Then, the LD value (LDmax) at that time is measured.
【００１３】次に、試料のＬＤｍａｘ値を得た試料の位
置から４５度回転させた位置でＣＤ値を測定する。この
ときは、ＬＤ′ｍａｘ＝０であり、またＬＤｍａｘから
４５度回転しているので、ｃｏｓ２θ＝ｃｏｓ９０＝０
となるので、このときの見かけのＣＤの値は、Next, the CD value is measured at a position rotated 45 degrees from the position of the sample from which the LDmax value of the sample was obtained. At this time, LD′max = 0, and since it is rotated 45 degrees from LDmax, cos2θ = cos90 = 0.
Therefore, the apparent CD value at this time is
【数２】 (Equation 2)
【００１４】最後に、検光子を試料の後方に設置し、最
大のＬＤ値を得る試料の角度に戻してから最大のＬＢ値
を得る試料の角度位置を求め、これをθ２とし、さらに
ＬＢmax を測定する。ここでθ３＝θ２−θ１である。
ＬＢ′の値は次式で与えられる。Finally, the analyzer is placed behind the sample, and after returning to the angle of the sample that obtains the maximum LD value, the angular position of the sample that obtains the maximum LB value is determined. This is set to θ2, and LBmax is further set to LBmax. Measure. Here, θ3 = θ2−θ1.
The value of LB 'is given by the following equation.
【００１５】[0015]
【数３】 (Equation 3)
【００１６】これらの見かけＣＤ値、ＬＤmax 及びＬ
Ｂ′より、次式を用いて真のＣＤ値を求めることができ
る。These apparent CD values, LDmax and L
From B ′, the true CD value can be obtained using the following equation.
【００１７】[0017]
【数４】 (Equation 4)
【００１８】上記の演算処理を信号処理装置８で行う。
また、上記θ３を求めることにより、分子の配向軸とク
ロムファーの配向軸の差を求めることができる。The above arithmetic processing is performed by the signal processing device 8.
Further, by determining the above θ3, the difference between the molecular orientation axis and the chromium fur orientation axis can be determined.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】図１は、本発明の測定装置の好適
な一実施の形態を示している。同図に示すように、光源
１から出射される光の光路上にモノクロメータ２，偏光
子３，偏光変調器４，試料室５，検光子６，検出器７を
配置し、その検出器７の出力を信号処理装置８に与える
ようになっている。FIG. 1 shows a preferred embodiment of a measuring apparatus according to the present invention. As shown in the figure, a monochromator 2, a polarizer 3, a polarization modulator 4, a sample chamber 5, an analyzer 6, and a detector 7 are arranged on the optical path of light emitted from the light source 1, and the detector 7 Is supplied to the signal processing device 8.
【００２０】これにより、光源１から出射される光がモ
ノクロメータ２で単色光に変換され、さらにその単色光
が偏光子３を透過することにより直線偏光になり、その
直線偏光は偏光変調器４にてその偏向方向が交番的に変
更され円偏光と直線偏光が同時に形成される。そして、
偏光変調器４から出射される光を試料室５内の試料に照
射することにより、試料の光学特性に応じて所定の光成
分が吸収され出力されるので、係る出力を検出器７で受
光する。検出器７は、例えば光−電気変換素子であり、
受光した光強度に応じた電気信号を出力するので、その
出力信号（電気信号）に基づいて信号処理装置８で所定
の信号処理を行い、ＣＤを算出するようになっている。Thus, the light emitted from the light source 1 is converted into monochromatic light by the monochromator 2, and the monochromatic light is transmitted through the polarizer 3 to become linearly polarized light. , The direction of deflection is changed alternately, and circularly polarized light and linearly polarized light are simultaneously formed. And
By irradiating the sample in the sample chamber 5 with light emitted from the polarization modulator 4, a predetermined light component is absorbed and output according to the optical characteristics of the sample, and the output is received by the detector 7. . The detector 7 is, for example, a light-electric conversion element,
Since an electric signal corresponding to the received light intensity is output, predetermined signal processing is performed by the signal processing device 8 based on the output signal (electric signal) to calculate the CD.
【００２１】光源１は、波長領域が長く輝度も高いもの
としてキセノンランプが使用されるが、これに限られる
わけではない。例えば、短波長領域を測定領域とする場
合は重水素ランプでもよい。また、可視光領域から赤外
波長領域に限るのであればタングステンランプを用いて
もよく、その場合、金額的にも安くなる。As the light source 1, a xenon lamp is used as a light source having a long wavelength range and high luminance, but is not limited thereto. For example, when the short wavelength region is used as the measurement region, a deuterium lamp may be used. In addition, a tungsten lamp may be used as long as it is limited to the visible light region to the infrared wavelength region, and in that case, the cost is reduced.
【００２２】モノクロメータ２としては、偏光に対して
悪影響の少ないプリズム分光器が望ましいが、回折格子
を用いた分光器でもかまわない。また、偏光子３，検光
子６としては、通常グラントムソンプリズムを使用する
ことが好ましい。偏光子３としてより完全を期するた
め、ブリュースター角に石英板をおいた偏光子を併用し
てもよい。また、結晶プリズムを使用し、モノクロメー
タと偏光子を兼用してもよい。As the monochromator 2, a prism spectroscope having little adverse effect on polarized light is desirable, but a spectroscope using a diffraction grating may be used. It is generally preferable to use a Glan-Thompson prism as the polarizer 3 and the analyzer 6. In order to ensure completeness as the polarizer 3, a polarizer having a Brewster angle with a quartz plate may be used in combination. Further, a monochromator and a polarizer may be used together by using a crystal prism.
【００２３】なお、グランテーラープリズムは方解石を
使っているので２３５ｎｍ以下の波長は測れないが、本
発明のように、固体等のＣＤを測ろうとする場合には可
視域を注目しているので十分適用できる。なおまた、検
光子６にローションプリズムを使用することは、ローシ
ョンプリズムにはＬＢが存在するため、本発明に使用す
ることは望ましくない。Since the Glan-Taylor prism uses calcite, the wavelength of 235 nm or less cannot be measured. However, when the CD of a solid or the like is to be measured as in the present invention, the visible region is focused on, so that it is sufficient. Applicable. In addition, using a lotion prism for the analyzer 6 is not desirable for use in the present invention because LB exists in the lotion prism.
【００２４】偏光変調器４は、例えばＰＥＭを用いるこ
とができる。ＰＥＭに対する変調周波数は、５０ｋＨｚ
とする。良質のＰＥＭの場合、残留歪みαは０．１度か
ら０．０１度くらいの小さなものであるので、ＬＤ，Ｌ
Ｂが小さくなるため、もともとの検出信号内での誤差が
少なくなるためである。従って、ポッケルスセルのよう
に残留歪みが１０度と大きいものはあまり好ましくはな
い。もちろん、係るポッケルスセルを本発明の範囲から
積極的に除く意図はなく、仕様・要求に応じて使うのは
かまわない。なお、偏光変調器４の基準位置は試料を設
置しない状態で、装置のベースラインがまっすぐになる
ような位置に設定する。As the polarization modulator 4, for example, PEM can be used. The modulation frequency for the PEM is 50 kHz
And In the case of a high-quality PEM, the residual strain α is as small as 0.1 degrees to 0.01 degrees.
This is because B becomes smaller and the error in the original detection signal becomes smaller. Therefore, a Pockels cell having a large residual distortion of 10 degrees is not so preferable. Of course, there is no intention to positively exclude such Pockels cells from the scope of the present invention, and they may be used according to specifications and requirements. Note that the reference position of the polarization modulator 4 is set to a position where the baseline of the apparatus is straight without a sample being set.
【００２５】さらに本発明では、検光子６の材質等は上
記した通りであるが、さらに、検光子６を移動させ、光
路上に位置させた第１位置と、光路から外れた第２位置
の間をとることができるような移動機構を設けている。
さらに、光軸方向を回転させて、所定の方向で停止・保
持させる機構も有する。そして、一旦決めた検光子６の
光軸の方向が、第１位置と第２位置の間を移動しても変
化しない、より具体的には、第１位置に位置している状
態で設定した検光子の光軸の角度を一旦第２位置に移動
させて光路からはずした後、再度第１位置に移動して光
路上に戻した際に、上記設定した角度になっている必要
がある。そこで、このように測定の間に検光子６を正確
に取り外すとともに再度設置するため、例えばコンピュ
ータで再現性良く出し入れできる検光子設置台を使用す
る。Further, in the present invention, the material and the like of the analyzer 6 are as described above, but the analyzer 6 is further moved so that the first position where the analyzer 6 is located on the optical path and the second position which is off the optical path. A moving mechanism that can take a time is provided.
Further, there is a mechanism for rotating in the optical axis direction to stop and hold in a predetermined direction. The direction of the optical axis of the analyzer 6 once determined does not change even if it moves between the first position and the second position. More specifically, the direction is set in a state where the analyzer 6 is located at the first position. Once the angle of the optical axis of the analyzer is once moved to the second position and removed from the optical path, it must be at the above set angle when it is moved to the first position again and returned on the optical path. Therefore, in order to accurately remove and re-install the analyzer 6 during the measurement in this way, for example, an analyzer mounting table that can be inserted and removed with good reproducibility by a computer is used.
【００２６】なお、検光子６の基準位置（角度）を正確
に設置するためには、試料室５内に試料を入れない状態
でのベースラインがゼロになるように検光子６の角度を
決めることで達成できる。In order to accurately set the reference position (angle) of the analyzer 6, the angle of the analyzer 6 is determined so that the baseline without the sample in the sample chamber 5 becomes zero. Can be achieved by
【００２７】検出器７は、ＣＤ信号が微小であるため、
例えば、光電子増倍管（ＰＭＴ）のように高感度な検出
器を用いるのが好ましい。そして、検出器７からは、変
調周波数と同一の５０ｋＨｚ成分と、その２倍波の１０
０ｋＨｚ成分が出力されるようになっている。そして、
図２に示すように検光子６が光路上にない状態（第２位
置）では、５０ｋＨｚ成分の出力がＣＤ信号となり、１
００ｋＨｚの成分の出力がＬＤ信号となる。さらに、図
３に示すように検光子６が光路上にある状態（第１位
置）では、５０ｋＨｚ成分の出力がＬＢ信号となり、１
００ｋＨｚの成分の出力がＬＤ信号となる。Since the detector 7 has a very small CD signal,
For example, it is preferable to use a highly sensitive detector such as a photomultiplier tube (PMT). Then, the detector 7 outputs a 50 kHz component that is the same as the modulation frequency and 10
A 0 kHz component is output. And
As shown in FIG. 2, when the analyzer 6 is not on the optical path (second position), the output of the 50 kHz component becomes a CD signal, and
The output of the 00 kHz component is an LD signal. Further, as shown in FIG. 3, when the analyzer 6 is on the optical path (first position), the output of the 50 kHz component becomes an LB signal, and
The output of the 00 kHz component is an LD signal.
【００２８】さらに、検出器７からの出力信号は、ＣＤ
は微小な信号なので、実際には同期検波法を用いる。つ
まり、実際には検出器７の出力を周波数成分を取り出す
ためのロックインアンプに接続し、そのロックインアン
プから出力される所定周波数の信号成分を信号処理装置
８に与えるようになる。なお、信号処理装置８の範疇に
ロックインアンプを含めて考えてもよい。Further, the output signal from the detector 7 is CD
Is a very small signal, so the synchronous detection method is actually used. That is, the output of the detector 7 is actually connected to a lock-in amplifier for extracting a frequency component, and a signal component of a predetermined frequency output from the lock-in amplifier is supplied to the signal processing device 8. Note that a lock-in amplifier may be included in the category of the signal processing device 8.
【００２９】また、信号処理装置８は、後述する手順に
従って検出器７からの出力信号に基づいて演算処理する
機能と、各種の装置に対して制御信号を出力するように
している。The signal processing device 8 has a function of performing arithmetic processing based on an output signal from the detector 7 in accordance with a procedure described later, and outputs a control signal to various devices.
【００３０】次に、測定の手順・原理について説明す
る。まず、実際の試料測定に先立ち、検光子６の初期設
定等を行う。つまり、図２に示すように検光子６を第１
位置（光路）に位置させる。そして、試料室５に試料を
入れない状態で検光子６を回転させ、ＬＢのベースライ
ンがまっすぐになるように調整する。これにより、検光
子６の基準回転角度が決定する。そして、以下の手順で
見かけ上のＣＤ値、ＬＤmax の値、及びＬＢの値を測定
し、計算式に従って真のＣＤ値を測定する。Next, the procedure and principle of measurement will be described. First, prior to actual sample measurement, initial settings of the analyzer 6 and the like are performed. That is, as shown in FIG.
Position (optical path). Then, the analyzer 6 is rotated in a state where the sample is not put in the sample chamber 5, and adjustment is performed so that the LB baseline becomes straight. Thereby, the reference rotation angle of the analyzer 6 is determined. Then, the apparent CD value, LDmax value, and LB value are measured by the following procedure, and the true CD value is measured according to the calculation formula.
【００３１】（１）まず、第２位置（光路上に検光子な
し）の状態で、試料室５に試料を入れてＬＤ（１００ｋ
Ｈｚ成分）を測る。そして、試料を回転させながらＬＤ
を監視し、ＬＤmax を測る。なお、このＬＤmax を測定
する場合、必ずしも全角度をスキャンする必要はなく、
その前に試料のＵＶ吸収を測っておき、その最大のとこ
ろでＬＤ値が得られるように、試料を回転するようにし
てもよい。すなわち、吸収が大きい所はＬＤも大きくな
るからである。このＬＤmax が得られる試料の回転角を
正確に決めて、その角度をθ１として記憶する。このと
きのＬＤ値（ＬＤmax ）ももちろん記憶する。 （２）次いで、そのθ１の位置から試料を４５度回転し
（ＬＤが最小）、ＣＤスペクトル（５０ｋＨｚ成分）を
測定する。(1) First, in the state of the second position (there is no analyzer on the optical path), a sample is put in the sample chamber 5 and LD (100 k
Hz component). Then, while rotating the sample, LD
Is monitored and LDmax is measured. When measuring this LDmax, it is not always necessary to scan all angles.
Before that, the UV absorption of the sample may be measured, and the sample may be rotated so that the LD value is obtained at the maximum. That is, where the absorption is large, the LD also becomes large. The rotation angle of the sample from which this LDmax is obtained is accurately determined, and the angle is stored as θ1. Of course, the LD value (LDmax) at this time is also stored. (2) Next, the sample is rotated 45 degrees from the position of θ1 (LD is minimum), and a CD spectrum (50 kHz component) is measured.
【００３２】（３）次に、検光子６を移動して第１位置
（光路上にある）に位置させる。このとき、上記した初
期設定により試料なしのベースラインがまっすぐになる
ように調整されている。この状態で、試料を回転させＬ
Ｄmax の角度位置まで戻し、次いで試料をさらに回転さ
せてＬＢスペクトル（５０ｋＨｚ）が最大となる角度位
置を探し、その回転角（θ２）を記憶し、ＬＢスペクト
ルを測定する。(3) Next, the analyzer 6 is moved to the first position (on the optical path). At this time, the initial setting is adjusted so that the baseline without the sample becomes straight. In this state, the sample is rotated and L
The sample is further rotated to find an angular position where the LB spectrum (50 kHz) is maximized, the rotation angle (θ2) is stored, and the LB spectrum is measured.
【００３３】（４）そして、上記記憶した２つの回転角
度θ１，θ２の差（θ２−θ１）は、分子の配向軸とク
ロムファーの配向軸の差であり、その差をθ３とする。
この角度θ３と、手順（３）で得られたＬＢスペクトル
によりＬＢ′を求める。 （５）手順（２）で得られたＣＤスペクトルよりＬＤ，
ＬＢ′の寄与を引くことにより、真のＣＤスペクトルを
求める。(4) The difference (θ2−θ1) between the two stored rotation angles θ1 and θ2 is the difference between the molecular orientation axis and the chromium fur orientation axis, and the difference is defined as θ3.
LB ′ is obtained from the angle θ3 and the LB spectrum obtained in the procedure (3). (5) From the CD spectrum obtained in the procedure (2), LD,
The true CD spectrum is obtained by subtracting the contribution of LB '.
【００３４】つまり、信号処理装置８が、手順（１）を
実行して得られる試料のＬＤmax とそのときの試料の角
度θ１をメモリに記憶する。次に、手順（２）を実行
し、試料のＬＤｍａｘ値を得た試料の位置から４５度回
転させた位置でＣＤ値を測定する。このときは、ＬＤ′
ｍａｘ＝０であり、またＬＤｍａｘから４５度回転して
いるので、ｃｏｓ２θ＝ｃｏｓ９０＝０となるので、こ
のときの見かけのＣＤ（ＣＤr ）の値は、That is, the signal processor 8 stores the LDmax of the sample obtained by executing the procedure (1) and the angle θ1 of the sample at that time in the memory. Next, the procedure (2) is executed, and the CD value is measured at a position rotated by 45 degrees from the position of the sample from which the LDmax value of the sample was obtained. In this case, LD '
Since max = 0 and rotated 45 degrees from LDmax, cos2θ = cos90 = 0, so the apparent CD (CDr) value at this time is:
【数５】 (Equation 5)
【００３５】次いで、手順（３）を実行することにより
得られるθ２とＬＢmax をメモリに記憶する。そして、
θ３＝θ２−θ１を求め、算出したθ３及びメモリに格
納したＬＢmax を下記式に代入しＬＢ′を求める。Next, θ2 and LBmax obtained by executing the procedure (3) are stored in the memory. And
θ3 = θ2−θ1 is obtained, and the calculated θ3 and LBmax stored in the memory are substituted into the following equation to obtain LB ′.
【００３６】[0036]
【数６】 (Equation 6)
【００３７】そして、上記したメモリに格納された測定
値及び算出値であるこれらの見かけＣＤ値、ＬＤmax 及
びＬＢ′より、次式を用いて真のＣＤ値を求める。From the apparent CD value, LDmax and LB ', which are the measured values and the calculated values stored in the memory, a true CD value is obtained by the following equation.
【００３８】[0038]
【数７】 (Equation 7)
【００３９】＊＊上記各手順の理論的裏付け 見かけ上のＣＤスペクトル（ＣＤr ），見かけ上のＬＤ
スペクトル（ＬＤr ），見かけ上のＬＢスペクトル（Ｌ
Ｂr ）は、それぞれ次のように定義される。** Theoretical support for the above procedures Apparent CD spectrum (CDr), Apparent LD
Spectrum (LDr), apparent LB spectrum (L
Br) is defined as follows.
【００４０】[0040]
【数８】 (Equation 8)
【００４１】ｓｉｎαが１０−３以下のオーダーであれ
ば、（３）式は以下のように近似できる。If sin α is on the order of 10 −3 or less, equation (3) can be approximated as follows.
【００４２】[0042]
【数９】 (Equation 9)
【００４３】さらに（２）式を変形することにより下記
式が得られる。By further transforming equation (2), the following equation is obtained.
【００４４】[0044]
【数１０】 (Equation 10)
【００４５】ここで、｛（ＬＤ′）２＋（−ＬＤ）２｝
１／２ ＝ＬＤとおき、最大のＬＤr を与える位置をｘ
ｙ平面上におけるＬＤの見かけ光軸とする新しい光軸と
決める。ＬＤ，ＬＤ′は初期設定によるもので定数であ
るから、このＬＤも定数となる。そして、（２θ＋γ）
を２θ′とおくと（５）式は、 ＬＤr ＝ＬＤｓｉｎ２θ′ …（６） となる。ここで、ＬＤ ′＝ＬＤｃｏｓ４５−ＬＤｓｉｎ４５ と定義されるので、ＬＤ′＝０となる。よって、 ＬＤr （ｍａｘ）＝ＬＤ′ …（６）′ となる。これが、手順（１）の処理に相当する。Here, {(LD ′) 2 + (− LD) 2 }
1/2 = LD , and the position giving the maximum LDr is x
A new optical axis is determined as the apparent optical axis of the LD on the y-plane. LD and LD 'are constants based on the initial setting, so that LD is also a constant. And (2θ + γ)
Is set to 2θ ′, the equation (5) becomes: LDr = LD sin2θ ′ (6) Here, LD ′ is defined as LD ′ = LD cos45− LD sin45, so that LD ′ = 0. Therefore, LDr (max) = LD '(6)'. This corresponds to the procedure (1).
【００４６】次に（６′）式を（１）式に代入すると、Next, substituting equation (6 ') into equation (1) gives:
【数１１】 [Equation 11]
【００４７】となり、ＬＤr 最大のときから４５度回転
したときのＣＤr は、The CDr when rotated 45 degrees from the maximum LDr is:
【数１２】 (Equation 12)
【００４８】となる。このときのＣＤスペクトルを測定
する。これは手順（２）に相当する。ＬＢ′を求めるた
めに（４）式を変形して下記式が得られる。Is as follows. The CD spectrum at this time is measured. This corresponds to the procedure (2). The following equation is obtained by modifying equation (4) to obtain LB '.
【００４９】[0049]
【数１３】 (Equation 13)
【００５０】｛（ＬＢ′）２＋（−ＬＢ）２｝１／２
＝ＬＢと定義すると、ＬＢr の最大のときから、ＬＢが
求まる。つまり、 ＬＢr （ｍａｘ）＝ＬＢ 最大のＬＢr を与える位置をｘｙ平面上におけるＬＢの
見かけ光軸と決める。このときのＬＢスペクトルを測定
する。これが手順（３）に相当する。{(LB ') 2 + (− LB) 2 } 1/2
= LB , LB is obtained from the maximum value of LBr. In other words, positioning give LBr (max) = LB largest LBr the apparent optical axis of LB in the xy plane. The LB spectrum at this time is measured. This corresponds to the procedure (3).
【００５１】これにより、ＬＤの見かけの光軸と、ＬＢ
の見かけの光軸のずれをθ３とすると、ＬＢ′は以下の
ようになる。Thus, the apparent optical axis of the LD and LB
Assuming that the apparent deviation of the optical axis is θ3, LB ′ is as follows.
【００５２】[0052]
【数１４】 [Equation 14]
【００５３】測定によって求められたＬＢとθ３を用い
ることによってＬＢ′が求まる。（８）式から、ＬＤ、
ＬＢ′を差し引くことにより真のＣＤが得られることに
なる。つまり、ＣＤ測定値ＣＤr を規定する（８）式の
うち、既知数であるＬＤ，ＬＢ′を差し引くことによ
り、第２項の寄与は取り除ける。 ＊＊第１，第２位置における検出器の５０ｋＨｚ，１０
０ｋＨｚの意味 ＣＤ測定装置により得られる信号をミューラー行列を用
いて理論的に解析すると以下のようになる。すなわち、
単色入射光Ｉin，偏光子Ｐ，偏光変調器Ｍ，検出器Ｄ，
試料Ｓのミューラー行列は、次のように与えられる。 LB 'is determined by using LB and θ3 obtained by the measurement. From equation (8), LD ,
By subtracting LB ', a true CD is obtained. That is, the contribution of the second term can be removed by subtracting the known numbers LD and LB 'from the equation (8) defining the CD measured value CDr. ** 50 kHz, 10 of detector at 1st and 2nd position
Meaning of 0 kHz A signal obtained by the CD measuring device is theoretically analyzed using a Mueller matrix as follows. That is,
Monochromatic incident light Iin, polarizer P, polarization modulator M, detector D,
The Mueller matrix of the sample S is given as follows.
【００５４】[0054]
【数１５】 (Equation 15)
【００５５】[0055]
【数１６】 (Equation 16)
【００５６】[0056]
【数１７】 [Equation 17]
【００５７】検出器での光の強度Ｉd は、Ｄ，Ｓ，Ｍ，
Ｐ，Ｉinの行列計算を行うことによって次のように与え
られる。The light intensity Id at the detector is D, S, M,
By performing a matrix calculation of P and Iin, it is given as follows.
【００５８】[0058]
【数１８】 (Equation 18)
【００５９】ｓｉｎ（δ＋α）、ｃｏｓ（δ＋α）は、
フーリエ変換すると近似的に以下のようになる。Sin (δ + α) and cos (δ + α) are
The Fourier transform is approximately as follows.
【００６０】[0060]
【数１９】 [Equation 19]
【００６１】[0061]
【数２０】 (Equation 20)
【００６２】ここで、Ｊ0 （δ０m ）,Ｊ1 （δ０m ）,
Ｊ2 （δ０m ）は、それぞれ０次、１次、２次のベッセ
ル関数である。これにより、ωm 、２ωm 成分は次のよ
うになる。Here, J0 (δ 0 m), J1 (δ 0 m),
J2 (δ 0 m) is a 0th-order, 1st-order, and 2nd-order Bessel function, respectively. Thus, the ωm and 2ωm components are as follows.
【００６３】[0063]
【数２１】 (Equation 21)
【００６４】[0064]
【数２２】 (Equation 22)
【００６５】この２つの式からわかるように、ωm 信号
にはＣＤ，ＬＤ，ＬＢが、２ωm 信号にはＬＤがそれぞ
れ反映されている。そして、このｓｉｇｎａｌωm が、
第１位置（検光子がない）における５０ｋＨｚ成分の出
力であり、ＣＤr となり、ｓｉｇｎａｌ２ωm が、第１
位置における１００ｋＨｚ成分の出力であり、ＬＤrと
なる。As can be seen from these two equations, CD, LD, and LB are reflected in the ωm signal, and LD is reflected in the 2ωm signal. And this signal ωm is
This is the output of the 50 kHz component at the first position (no analyzer), which is CDr, and signal2ωm is the first
This is the output of the 100 kHz component at the position, which is LDr.
【００６６】一方、検光子Ａをｘ軸に対して４５度の方
向に回転させて検出器の前に置くと、検出器における光
の強度はＡ，Ｄ，Ｓ，Ｍ，Ｐ，Ｉinの行列計算を行うこ
とによって次のように与えられる。ここで、検光子Ａの
ミューラー行列は、On the other hand, when the analyzer A is rotated in the direction of 45 degrees with respect to the x-axis and placed in front of the detector, the light intensity at the detector becomes a matrix of A, D, S, M, P, and Iin. By performing the calculation, it is given as follows. Here, the Mueller matrix of analyzer A is
【数２３】 (Equation 23)
【００６７】である。Is as follows.
【００６８】[0068]
【数２４】 (Equation 24)
【００６９】これにより、ωm ，２ωm 成分は、近似的
に次のようになる。Thus, the components ωm and 2ωm are approximately as follows.
【００７０】[0070]
【数２５】 (Equation 25)
【００７１】[0071]
【数２６】 (Equation 26)
【００７２】一般にＣＤ，ＣＢは、ＬＢ，ＬＤに比べて
１０−２から１０−３のオーダーが小さいので、さらに
近似的に以下のようになる。Generally, CD and CB are on the order of 10 −2 to 10 −3 smaller than LB and LD, so that they are more approximated as follows.
【００７３】[0073]
【数２７】 [Equation 27]
【００７４】[0074]
【数２８】 [Equation 28]
【００７５】この２つの式からわかるように、ωm 信号
には主としてＬＢが、２ωm 信号にはＬＤがそれぞれ反
映されている。そして、このｓｉｇｎａｌωm が、第２
位置（検光子がある）における５０ｋＨｚ成分の出力で
あり、ＬＢr となる。As can be seen from these two equations, the ωm signal reflects mainly LB, and the 2ωm signal reflects LD. And this signal ωm is the second
This is the output of the 50 kHz component at the position (there is an analyzer) and is LBr.
【００７６】上記した実施の形態では、光源１，モノク
ロメータ２，偏光子３，偏光変調器４，試料室５，検光
子６，検出器７の順に配置したが、本発明はこれに限る
ことはなく、例えば，光源１の次に試料室５を配置し、
白色光を試料室５内の試料に照射するようにし、その試
料室５から出射された光の光路上に偏光子３，偏光変調
器４，モノクロメータ２，検光子６，検出器７の順に配
置してももちろんよい。In the above embodiment, the light source 1, the monochromator 2, the polarizer 3, the polarization modulator 4, the sample chamber 5, the analyzer 6, and the detector 7 are arranged in this order, but the present invention is not limited to this. For example, the sample chamber 5 is arranged next to the light source 1,
The sample in the sample chamber 5 is irradiated with white light, and a polarizer 3, a polarization modulator 4, a monochromator 2, an analyzer 6, and a detector 7 are arranged on the optical path of the light emitted from the sample chamber 5. Of course, it may be arranged.
【００７７】[0077]
【発明の効果】上記したように、ＬＤやＬＢを持つ固体
では、従来のようなＣＤ測定装置ではクロスタームによ
り、真のＣＤ値を求めることができなかった。しかし、
本発明では、見かけ上のＣＤ値、ＬＤ値及びＬＢ値を測
定できる偏光変調分光光度計によりこれらの値を個別に
測定し計算により見かけのＣＤ値から、妨害要素を差し
引くことにより真のＣＤ値を得ることができた。As described above, with a solid having LD or LB, a true CD value could not be obtained by a conventional CD measuring apparatus due to cross terms. But,
In the present invention, these values are individually measured by a polarization modulation spectrophotometer capable of measuring the apparent CD value, LD value, and LB value, and the true CD value is calculated by subtracting the interfering element from the apparent CD value. Could be obtained.
【図１】本発明に係るＣＤ測定装置の好適な一実施の形
態を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a preferred embodiment of a CD measuring device according to the present invention.
【図２】作用を説明する図（その１）である。FIG. 2 is a diagram (part 1) for explaining the operation;
【図３】作用を説明する図（その２）である。FIG. 3 is a diagram (part 2) for explaining the operation;
１ 光源 ２ モノクロメータ ３ 検光子 ４ 偏光変調器 ５ 試料室 ６ 検光子 ７ 検出器 ８ 信号処理装置 Reference Signs List 1 light source 2 monochromator 3 analyzer 4 polarization modulator 5 sample chamber 6 analyzer 7 detector 8 signal processing device
Claims (4)
偏光子を透過した光の偏光状態を所定の基本変調周波数
で、右回りの円偏光、左回りの円偏光に同時に基本変調
周波数の２倍の周波数で垂直方向の直線偏光、水平方向
の直線偏光に交番的に変化させる偏光変調器と、その偏
光変調器から得られた光の光路に配置された試料室と、
その試料室を通過した光が透過する検光子を透過した光
の強度を検出する検出器と、その検出器の出力に基づい
て信号処理する信号処理部を備えた偏光変調測定装置で
あって、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し４５度の差
を持った配置とするとともに、前記検光子は光路に対し
て出没可能とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の２倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、 前記検光子を光路外に位置させた状態で前記試料の見か
けのＣＤ値及びＬＤ値が最大となる前記試料の回転角θ
１とそのときのＬＤ値と、 前記検光子を光路上に位置させた状態でＬＢ値が最大と
なる前記試料の回転角θ２とそのときのＬＢ値を測定
し、これらの測定値より計算により真のＣＤ値を算出す
る測定装置。1. A polarizer that linearly polarizes monochromatic light, and a polarization state of light transmitted through the polarizer is converted into clockwise circular polarization and counterclockwise circular polarization at a predetermined basic modulation frequency at the same time. A polarization modulator that alternately changes to vertical linear polarization and horizontal linear polarization at twice the frequency, and a sample chamber arranged in the optical path of light obtained from the polarization modulator;
A detector that detects the intensity of light transmitted through an analyzer that transmits light passing through the sample chamber, and a polarization modulation measurement device including a signal processing unit that performs signal processing based on an output of the detector. The analyzer is arranged such that the optical axis of the analyzer has a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the analyzer can be protruded and retracted with respect to the optical path. The signal is processed based on a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component twice as high as the modulation frequency in the signal, and the sample is apparent with the analyzer positioned outside the optical path. Rotation angle θ of the sample at which the CD value and LD value of
1 and the LD value at that time, the rotation angle θ2 of the sample at which the LB value is maximized with the analyzer positioned on the optical path, and the LB value at that time are measured. A measuring device that calculates the true CD value.
光路に配置された試料室と、試料を通過した光を直線偏
光させる偏光子と、その偏光子を透過した光の偏光状態
を所定の変調周波数で、右回りの円偏光、左回りの円偏
光に交番的に同時に基本変調周波数の２倍の周波数で垂
直方向の直線偏光、水平方向の直線偏光に変化させる偏
光変調器と、その偏光変調器から得られた光から所定周
波数の光を抽出するモノクロメータと、そのモノクロメ
ータから出力される光の強度を検出する検出器とその検
出器の出力に基づいて信号処理する信号処理部を備えた
偏光変調測定装置であって、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し４５度の差
を持った配置とするとともに、前記検光子は光路に対し
て出没可能とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の２倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、 前記検光子を光路外に位置させた状態で前記試料の見か
けのＣＤ値及びＬＤ値が最大となる前記試料の回転角θ
１とそのときのＬＤ値と、 前記検光子を光路上に位置させた状態でＬＢ値が最大と
なる前記試料の回転角θ２とそのときのＬＢ値を測定
し、これらの測定値より計算により真のＣＤ値を算出す
る測定装置。2. An unpolarized white light, a sample chamber arranged in an optical path of the white light, a polarizer for linearly polarizing light passing through the sample, and a polarization state of light transmitted through the polarizer. At a predetermined modulation frequency, clockwise circularly polarized light, a counterclockwise circularly polarized light alternately and simultaneously at a frequency twice as high as the fundamental modulation frequency, a vertical linear polarization, a horizontal linear polarization, and a polarization modulator, A monochromator that extracts light of a predetermined frequency from the light obtained from the polarization modulator, a detector that detects the intensity of light output from the monochromator, and a signal processing that performs signal processing based on the output of the detector A polarization modulation measuring device comprising a part, wherein the optical axis of the analyzer is arranged with a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the analyzer can be protruded and retracted with respect to an optical path. The signal processing unit is configured to Signal processing based on a frequency component corresponding to the modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component twice as high as the modulation frequency in the output signal of the polarization modulator, wherein the analyzer is positioned outside the optical path. The rotation angle θ of the sample at which the apparent CD and LD values of the sample are maximized
1 and the LD value at that time, the rotation angle θ2 of the sample at which the LB value is maximized with the analyzer positioned on the optical path, and the LB value at that time are measured. A measuring device that calculates the true CD value.
偏光子を透過した光の偏光状態を所定の変調周波数で、
右回りの円偏光、左回りの円偏光に同時に基本変調周波
数の２倍の周波数で垂直方向の直線偏光、水平方向の直
線偏光に交番的に変化させる偏光変調器と、その偏光変
調器から得られた光の光路に配置された試料室と、その
試料室を通過した光が透過する検光子を透過した光の強
度を検出する検出器と、その検出器の出力に基づいて信
号処理する信号処理部を備えた測定装置であって、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し４５度の差
を持った配置とするとともに、前記検光子は光路に対し
て出没可能とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の２倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、前記検光子を光路外に位置させた状態で前
記試料の見かけのＣＤ値及びＬＤ値が最大となる前記試
料の回転角θ１と、前記検光子を光路上に位置させた状
態でＬＢ値が最大となる前記試料の回転角θ２とを取得
し、これらの測定値より計算により両角度差を算出する
測定装置。3. A polarizer for linearly polarizing monochromatic light and a polarization state of light transmitted through the polarizer at a predetermined modulation frequency.
A polarization modulator that alternately changes right-handed circularly polarized light, left-handed circularly polarized light into vertical linearly polarized light and horizontal linearly polarized light at the same frequency twice as the fundamental modulation frequency, and the polarization modulator A sample chamber disposed in the optical path of the received light, a detector for detecting the intensity of light transmitted through an analyzer through which the light passes through the sample chamber, and a signal for signal processing based on the output of the detector A measurement device provided with a processing unit, wherein the optical axis of the analyzer is arranged with a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the analyzer is capable of appearing and retracting in an optical path, The signal processing unit performs signal processing based on a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component twice as high as the modulation frequency in the output signal of the detector. With it positioned outside Obtain the rotation angle θ1 of the sample at which the apparent CD value and LD value of the sample are maximum, and the rotation angle θ2 of the sample at which the LB value is maximum with the analyzer positioned on the optical path, A measuring device that calculates both angle differences by calculation from these measured values.
光路に配置された試料室と、試料を通過した光を直線偏
光させる偏光子と、その偏光子を透過した光の偏光状態
を所定の変調周波数で、右回りの円偏光、左回りの円偏
光に同時に基本変調周波数の２倍の周波数で垂直方向の
直線偏光、水平方向の直線偏光に交番的に変化させる偏
光変調器と、その偏光変調器から得られた光から所定周
波数の光を抽出するモノクロメータと、そのモノクロメ
ータから出力される光の強度を検出する検出器とその検
出器の出力に基づいて信号処理する信号処理部を備えた
偏光変調測定装置であって、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し４５度の差
を持った配置とするとともに、前記検光子は光路に対し
て出没可能とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の２倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、前記検光子を光路外に位置させた状態で前
記試料の見かけのＣＤ値及びＬＤ値が最大となる前記試
料の回転角θ１と、前記検光子を光路上に位置させた状
態でＬＢ値が最大となる前記試料の回転角θ２とを取得
し、これらの測定値より計算により両角度差を算出する
測定装置。4. A non-polarized white light, a sample chamber arranged in an optical path of the white light, a polarizer for linearly polarizing light passing through the sample, and a polarization state of light transmitted through the polarizer. At a predetermined modulation frequency, clockwise circular polarization, counterclockwise circular polarization at the same time double frequency of the basic modulation frequency at the same time vertical linear polarization, alternately to horizontal linear polarization alternately, A monochromator that extracts light of a predetermined frequency from the light obtained from the polarization modulator, a detector that detects the intensity of light output from the monochromator, and a signal processing that performs signal processing based on the output of the detector A polarization modulation measuring device comprising a part, wherein the optical axis of the analyzer is arranged with a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the analyzer can be protruded and retracted with respect to an optical path. The signal processing unit is configured to Signal processing based on a frequency component corresponding to the modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component that is twice the modulation frequency in the output signal of the polarization modulator, and the analyzer is positioned outside the optical path while the analyzer is positioned outside the optical path. Obtain the sample rotation angle θ1 at which the apparent CD value and LD value of the sample are maximum, and the sample rotation angle θ2 at which the LB value is maximum with the analyzer positioned on the optical path, A measuring device that calculates both angle differences by calculation from these measured values.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10313335A JP2000146699A (en) | 1998-09-11 | 1998-11-04 | Measuring device |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25900898 | 1998-09-11 | ||
| JP10-259008 | 1998-09-11 | ||
| JP10313335A JP2000146699A (en) | 1998-09-11 | 1998-11-04 | Measuring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000146699A true JP2000146699A (en) | 2000-05-26 |
Family
ID=26543924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10313335A Pending JP2000146699A (en) | 1998-09-11 | 1998-11-04 | Measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000146699A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009123307A1 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | 国立大学法人 東京大学 | Method for measuring circular dichroism spectra and measurement device |
-
1998
- 1998-11-04 JP JP10313335A patent/JP2000146699A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009123307A1 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | 国立大学法人 東京大学 | Method for measuring circular dichroism spectra and measurement device |
| JP2009250765A (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-29 | System Instruments Kk | Method and instrument for measuring circular dichroic spectrum |
| US8542357B2 (en) | 2008-04-04 | 2013-09-24 | The University Of Tokyo | Method and device for measuring circular dichroism spectra |
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