JP2000139071A - Gate driving circuit for power converter - Google Patents

Gate driving circuit for power converter

Info

Publication number
JP2000139071A
JP2000139071A JP10311889A JP31188998A JP2000139071A JP 2000139071 A JP2000139071 A JP 2000139071A JP 10311889 A JP10311889 A JP 10311889A JP 31188998 A JP31188998 A JP 31188998A JP 2000139071 A JP2000139071 A JP 2000139071A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
circuit
voltage
igbt
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10311889A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akitake Takizawa
聡毅 滝沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP10311889A priority Critical patent/JP2000139071A/en
Publication of JP2000139071A publication Critical patent/JP2000139071A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a gate driving circuit of a voltage driven switching device at a low cost. SOLUTION: This gate driving circuit includes a serial circuit of a diode 1 and a capacitor 2 connected in parallel between the emitter and collector of an IGBT3, for example, as a switching device. If comparator detects that the voltage of the capacitor 2 is beyond its prescribed value while the IGBT3 is being turned off, an output is generated from a delay circuit 7 after a fixed time passes to change a gate condition, for example, to increase a gate resistance value. It is thus possible to attain simplification of the circuit as well as elimination of a snubber circuit and low noise.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、FETやIGB
T(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)等の電圧駆動
形スイッチングデバイスのゲート駆動回路、特にその改
良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an FET and an IGB
The present invention relates to a gate drive circuit of a voltage-driven switching device such as T (insulated gate bipolar transistor), and particularly to an improvement thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】図9に電圧駆動形スイッチングデバイス
としてIGBTを用いた例を、また、図10に電力変換
器としてのインバータ主回路例を示す。
2. Description of the Related Art FIG. 9 shows an example using an IGBT as a voltage-driven switching device, and FIG. 10 shows an example of an inverter main circuit as a power converter.

【0003】図9の符号25はメインデバイスとしての
IGBT、26はインバータの制御回路で、ここでIG
BTのオン,オフのスイッチング指令が作成される。2
7は弱電部から強電部にIGBTのオン,オフ指令を伝
達するフォトカプラ(PC)等の絶縁器、28はIGB
Tのターンオン時において、ゲート・エミッタ間に電圧
を印加するための正側のゲート駆動回路電源、同様に2
9はIGBTのターンオフ時において、ゲート・エミッ
タ間に電圧を印加するための負側のゲート駆動回路電
源、30はIGBTオン用のゲート抵抗、31はIGB
Tオフ用のゲート抵抗、32,33は各ゲート抵抗をI
GBTのゲートに接続させるためのスイッチ用のトラン
ジスタ、34はトランジスタ32,33を駆動するため
のアンプである。絶縁器27を介する信号により、IG
BT25のゲート・エミッタ間に28,29からの正,
負の電圧を印加し、IGBT25をオン,オフするよう
にしている。
In FIG. 9, reference numeral 25 denotes an IGBT as a main device, and 26 denotes a control circuit of an inverter.
A BT on / off switching command is created. 2
Reference numeral 7 denotes an insulator such as a photocoupler (PC) for transmitting an ON / OFF command of the IGBT from the weak current unit to the strong current unit, and 28 denotes an IGB
At the time of turn-on of T, a positive-side gate drive circuit power supply for applying a voltage between the gate and the emitter;
Reference numeral 9 denotes a negative side gate drive circuit power supply for applying a voltage between the gate and the emitter when the IGBT is turned off, reference numeral 30 denotes a gate resistance for turning on the IGBT, and reference numeral 31 denotes the IGB.
Gate resistors for T-off, and 32, 33 each
A switch transistor for connecting to the gate of the GBT and an amplifier for driving the transistors 32 and 33 are shown. The signal through the insulator 27
Between the gate and emitter of the BT25,
The IGBT 25 is turned on and off by applying a negative voltage.

【0004】図10において、符号35は交流を直流に
変換するダイオード整流器、36は直流中間コンデン
サ、37は直流から交流に変換するIGBTとダイオー
ド(FWDとも略記する)からなるインバータ、39は
直流中間コンデンサ36とインバータ37との間に存在
するインダクタンス38によって発生するスパイク電圧
からインバータのデバイスを保護するスナバ回路であ
る。
In FIG. 10, reference numeral 35 denotes a diode rectifier for converting AC to DC, 36 denotes a DC intermediate capacitor, 37 denotes an inverter composed of an IGBT and a diode (abbreviated as FWD) for converting DC to AC, and 39 denotes a DC intermediate capacitor. This snubber circuit protects the inverter device from a spike voltage generated by an inductance 38 existing between the capacitor 36 and the inverter 37.

【0005】ところで、スイッチング特性に影響を及ぼ
すIGBTまたはゲート駆動回路における条件として、 ゲート抵抗Rg ゲート駆動回路電源電圧Vg ゲート電流(IGBTのゲートに流入する電流)Ig ゲート駆動回路側からIGBT側を見たゲート・エミッ
タ間の容量CGE ゲート駆動回路側からIGBT側を見たゲート・コレク
タ間の容量CGC などがある。
The IGBT or the gate drive circuit that affects the switching characteristics includes a gate resistance Rg, a gate drive circuit power supply voltage Vg, a gate current (a current flowing into the gate of the IGBT) Ig, and a switch from the gate drive circuit side to the IGBT side. and the like capacitance C GC between the gate and collector viewed IGBT side from the capacitance C GE gate drive circuit side of the gate-emitter was.

【0006】IGBTまたはゲート駆動回路の各条件が
大きくなった場合の、IGBTのスイッチング特性の変
化の方向を表1に示す。なお、上記各条件が小さくなっ
た場合は、IGBTのスイッチング特性は次表1とは反
対方向の変化となる。
Table 1 shows the direction in which the switching characteristics of the IGBT change when the conditions of the IGBT or the gate drive circuit increase. When each of the above conditions is reduced, the switching characteristics of the IGBT change in the direction opposite to that in Table 1 below.

【0007】 〔表1〕 Rg大 Vg大 Ig大 CGE大 CGE大 ターンオン時di/dt 低 高 高 低 低 ターンオフ時di/dt 低 高 高 低 低 ターンオン時dv/dt 低 高 高 低 低 ターンオフ時dv/dt 低 高 高 低 低 ターンオフ時vPEAK 低 高 高 低 低 ターンオン時iPEAK 低 高 高 低 低 一方、IGBT等の電圧駆動形スイッチングデバイスか
らなるインバータは、直流中間コンデンサとインバータ
間に存在する配線インダクタンスにより、IGBTのス
イッチングの際、IGBTやFWD等のデバイスには下
記(1)式に示すような高電圧が印加される。
[0007] [Table 1] Rg large Vg large Ig large C GE large C GE large turn-on di / dt Low High High Low Low turn-off di / dt Low High High Low Low turn-on dv / dt Low High High Low Low turn-off Dv / dt Low High High Low Low Turn-off v PEAK Low High High Low Low Turn-on i PEAK Low High High Low Low On the other hand, an inverter consisting of a voltage-driven switching device such as an IGBT exists between the DC intermediate capacitor and the inverter When the IGBT is switched, a high voltage as shown in the following equation (1) is applied to the device such as the IGBT or the FWD due to the wiring inductance.

【0008】 VCE=Ed+L・di/dt …(1) VCE :デバイスへの印加電圧 Ed :直流中間コンデンサ電圧 L :配線インダクタンス di/dt:スイッチング時の電流変化率 そのため、IGBTやFWD等を用いてインバータ装置
を構成するときには、上記(1)式に耐え得る電圧定格
を持つデバイスを使用するか、スナバ回路を付加する必
要がある。さらに、スイッチング時のdv/dtやdi
/dtが大きいと、装置から高レベルのノイズが発生す
るという問題も指摘されている。
V CE = Ed + L · di / dt (1) V CE : Applied voltage to the device Ed: DC intermediate capacitor voltage L: Wiring inductance di / dt: Current change rate at switching Therefore, IGBT, FWD, etc. When the inverter device is used, it is necessary to use a device having a voltage rating that can withstand the above equation (1) or to add a snubber circuit. Furthermore, dv / dt and di at the time of switching
It has also been pointed out that when / dt is large, high-level noise is generated from the device.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】図11にIGBTター
ンオフ時の電流,電圧の概略波形例を示す。同図から、
ターンオフ時においては、IGBTのターンオフ電流の
di/dtの大きさが、(1)式により直接的にIGB
Tに印加するスパイク電圧の大きさに影響を及ぼすこと
が分かる。
FIG. 11 shows a schematic waveform example of current and voltage when the IGBT is turned off. From the figure,
At the time of turn-off, the magnitude of di / dt of the turn-off current of the IGBT is directly determined by the equation (1).
It can be seen that the magnitude of the spike voltage applied to T is affected.

【0010】したがって、この発明の課題はスナバ回路
を不要とし、低ノイズ化を図ることにある。
Accordingly, an object of the present invention is to eliminate a snubber circuit and reduce noise.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
べく、請求項1の発明では、IGBTを含む電圧駆動形
スイッチングデバイスのコレクタ・エミッタ間にダイオ
ードとコンデンサの直列回路を接続し、このコンデンサ
電圧をスイッチングデバイスのコレクタ・エミッタ間電
圧相当値として検出する検出手段と、ゲート条件を変更
する操作手段とを設け、前記スイッチングデバイスのタ
ーンオフ時に、前記検出手段の出力が所定値以上になっ
たときは、前記操作手段によりゲート条件を一定時間だ
け変更するようにしている。
In order to solve such a problem, according to the present invention, a series circuit of a diode and a capacitor is connected between the collector and the emitter of a voltage-driven switching device including an IGBT. Detecting means for detecting the capacitor voltage as a voltage equivalent to the collector-emitter voltage of the switching device; and operating means for changing the gate condition, wherein when the switching device is turned off, the output of the detecting means is equal to or more than a predetermined value. At this time, the gate condition is changed for a certain time by the operation means.

【0012】上記請求項1の発明においては、前記検出
手段の後段に、その出力を一定時間だけ遅延させる遅延
手段を設けることができる(請求項2の発明)。また、
請求項1または2の発明においては、前記操作手段はス
イッチングデバイスのゲート抵抗,ゲート電源電圧,ゲ
ート電流,ゲート・エミッタ容量,ゲート・コレクタ容
量の少なくとも1つを変更するものとすることができる
(請求項3の発明)。
In the first aspect of the invention, a delay means for delaying the output of the detection means by a predetermined time can be provided at a stage subsequent to the detection means (the second invention). Also,
In the first or second aspect of the present invention, the operating means may change at least one of a gate resistance, a gate power supply voltage, a gate current, a gate-emitter capacitance, and a gate-collector capacitance of the switching device. The invention of claim 3).

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】この発明は、スイッチング時にお
ける物理量を検出する検出回路と、ゲート条件を変更す
る操作手段とを設け、検出回路からの出力が所定値以上
または以下になったとき、操作手段からの出力にもとづ
きゲート条件を変更すもので、この発明において検出す
る物理量と、操作するゲート条件および制御方法との関
係を次表2に示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention provides a detection circuit for detecting a physical quantity at the time of switching and an operation means for changing a gate condition, and operates when an output from the detection circuit becomes equal to or more than a predetermined value. The gate condition is changed based on the output from the means. The relationship between the physical quantity detected in the present invention, the operated gate condition and the control method is shown in Table 2 below.

【0014】 〔表2〕 検出する物理量 操作するゲート条件 制御方法 ターンオフ時 VCE ゲート抵抗(Rg) ワンショット制御 ゲート電源電圧(Vg) ゲート電流(Ig) ゲート・エミッタ容量(CGE) ゲート・コレクタ容量(CGC) 図1にこの発明で用いる検出回路例を示す。[Table 2] Detected physical quantity Operated gate condition Control method At turn-off V CE Gate resistance (Rg) One-shot control Gate power supply voltage (Vg) Gate current (Ig) Gate-emitter capacitance (C GE ) Gate-collector Capacity (C GC ) FIG. 1 shows an example of a detection circuit used in the present invention.

【0015】これは、IGBT3のコレクタ・エミッタ
間電圧VCE相当値の検出回路を示すもので、1はダイオ
ード、2はコンデンサ、3はIGBT、4は抵抗、5は
電源(Vg)、6はコンパレータ、7は遅延回路であ
る。
This shows a detection circuit of a value corresponding to the collector-emitter voltage V CE of the IGBT 3, wherein 1 is a diode, 2 is a capacitor, 3 is an IGBT, 4 is a resistor, 5 is a power supply (Vg), and 6 is The comparator 7 is a delay circuit.

【0016】すなわち、IGBT3と並列にダイオード
1とコンデンサ2の直列回路が接続され、コンデンサ2
には抵抗4と電源5の直列回路が並列に接続され、ダイ
オード1,抵抗4およびコンデンサ2の接続点には、コ
ンパレータ6および遅延回路7が接続されて構成されて
いる。
That is, a series circuit of a diode 1 and a capacitor 2 is connected in parallel with the IGBT 3,
, A series circuit of a resistor 4 and a power supply 5 is connected in parallel, and a connection point of the diode 1, the resistor 4 and the capacitor 2 is connected to a comparator 6 and a delay circuit 7.

【0017】図2に図1の動作波形例を示す。FIG. 2 shows an example of the operation waveform of FIG.

【0018】上記の構成において、IGBT3のターン
オフ時における電流ic ,電圧VCEは図2(a)に示す
ようになり、コンデンサ2の端子電圧VC は図2(b)
に示すようになる。つまり、電圧VC はゲート回路電源
値に達する時刻t1までは、図2(a)に示すIGBT
3のコレクタ・エミッタ間電圧VCEと同様な波形となる
ことから、このコンデンサ2の端子電圧VC をIGBT
3のコレクタ・エミッタ間電圧相当値として、検出する
ものである。コンパレータ6は端子電圧VC を監視し、
これがしきい値を越えた時刻t0で遅延回路7に信号を
出力するので、遅延回路7ではその信号を一定時間だけ
遅延させた時刻t2で、ゲート条件を変更するための制
御信号または操作信号を出力する。遅延回路7は極力ス
イッチング損失を増加させないために接続しているが、
スイッチング損失は若干増加するが、ゲート条件を変更
する回路をIGBTのコレクタ電流(ic )の下降期間
中に確実に動作させるために、省略するようにしても良
い。
In the above configuration, when the IGBT 3 is turned off, the current i c and the voltage V CE are as shown in FIG. 2A, and the terminal voltage V C of the capacitor 2 is as shown in FIG.
It becomes as shown in. That is, until time t1, the voltage V C reaches the gate circuit power value, IGBT shown in FIG. 2 (a)
3 has a waveform similar to the collector-emitter voltage V CE of the capacitor 2, the terminal voltage V C of the capacitor 2 is
3 is detected as a value corresponding to the collector-emitter voltage. The comparator 6 monitors the terminal voltage V C ,
Since the signal is output to the delay circuit 7 at time t0 when this exceeds the threshold value, the delay circuit 7 outputs a control signal or an operation signal for changing the gate condition at time t2 when the signal is delayed by a certain time. Output. Although the delay circuit 7 is connected to minimize the switching loss,
Although the switching loss slightly increases, the circuit for changing the gate condition may be omitted in order to reliably operate the collector current ( ic ) of the IGBT during the falling period.

【0019】図3〜図7にゲート条件を変更する操作回
路の例を示す。
FIGS. 3 to 7 show examples of operation circuits for changing gate conditions.

【0020】図3ではスイッチ回路8を設け、これを図
1の遅延回路7の出力によってオン,オフさせること
で、ゲート抵抗値Rg を変化させるものである。図3に
おいては、スイッチ回路8がオンの状態が通常の状態
で、ゲート抵抗値Rg としてはR1とR2の並列抵抗値
となる。
In FIG. 3, a switch circuit 8 is provided, which is turned on and off by the output of the delay circuit 7 in FIG. 1, thereby changing the gate resistance Rg . In FIG. 3, the switching circuit 8 is turned on is a normal state, the parallel resistance value of R1 and R2 as the gate resistance R g.

【0021】そして、IGBTのターンオフ時に、図1
のコンデンサ2の端子電圧VC が設定値以上となってコ
ンパレータ6が動作してから一定時間経過後にスイッチ
回路8がオフし、ゲート抵抗値Rg としてはR2とな
り、増加することになる。このとき、IGBTのスイッ
チング特性、例えばdi/dtは、スイッチ回路8がオ
ンしているときに比べて低くなるように動作するものと
する。
When the IGBT is turned off, FIG.
Switching circuit 8 from the comparator 6 is operated after a certain period of time the terminal voltage V C of the capacitor 2 becomes a set value or more is turned off, so that R2 becomes, increases as the gate resistance R g of. At this time, the switching characteristics of the IGBT, for example, di / dt operate so as to be lower than when the switch circuit 8 is on.

【0022】図4は操作回路の他の実施の形態を示す回
路図で、ゲート回路の電源電圧値を変化させる例であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram showing another embodiment of the operation circuit, in which the power supply voltage value of the gate circuit is changed.

【0023】図示のようにスイッチ回路9を設け、これ
を図1の遅延回路7の出力によってオン,オフさせるこ
とで、ゲート電源電圧値を変化させるものである。図4
においては、スイッチ回路9がオンの状態が通常の状態
であり、ゲート電源電圧値はVg1である。このとき、
ダイオードD1はVg2の回り込みを防止するために接
続されている。
As shown, a switch circuit 9 is provided, which is turned on and off by the output of the delay circuit 7 in FIG. 1 to change the gate power supply voltage value. FIG.
In, the ON state of the switch circuit 9 is a normal state, and the gate power supply voltage value is Vg1. At this time,
The diode D1 is connected to prevent the sneak of Vg2.

【0024】そして、IGBTのターンオフ時に、図1
のコンデンサ2の端子電圧VC が設定値以上となって、
コンパレータ6が動作してから一定時間経過後にスイッ
チ回路9がオフし、ゲート電源電圧値はVg2と減少す
ることになる。このとき、IGBTのスイッチング特
性、例えばdi/dtは、スイッチ回路9がオンしてい
るときに比べて低くなるように動作するものとする。
When the IGBT is turned off, FIG.
The terminal voltage V C of the capacitor 2 becomes equal to or higher than the set value,
The switch circuit 9 is turned off after a lapse of a predetermined time from the operation of the comparator 6, and the gate power supply voltage value decreases to Vg2. At this time, it is assumed that the switching characteristics of the IGBT, for example, di / dt operate so as to be lower than when the switch circuit 9 is on.

【0025】図5は操作回路のさらに他の実施の形態を
示す回路図で、ゲート電流値を変化させる例である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing still another embodiment of the operation circuit, in which the gate current value is changed.

【0026】図示のようにスイッチ回路10を設け、こ
れを図1の遅延回路7の出力によってオン,オフさせる
ことで、ゲート電流を変化させるものである。図5
(a)では、スイッチ回路10がオンの状態が通常の状
態であり、ゲート電流値としてはIg1+Ig2であ
る。IGBTのターンオフ時に、図1のコンデンサ2の
端子電圧VC が設定値以上となって、コンパレータ6が
動作してから一定時間経過後にスイッチ回路10がオフ
し、ゲート電流はIg2となる。このとき、IGBTの
スイッチング特性、例えばdi/dtは、スイッチ回路
10がオンしているときに比べて低くなるよう動作する
ものとする。
As shown, a switch circuit 10 is provided, which is turned on and off by the output of the delay circuit 7 in FIG. 1, thereby changing the gate current. FIG.
In (a), the ON state of the switch circuit 10 is a normal state, and the gate current value is Ig1 + Ig2. When the IGBT is turned off, the terminal voltage V C of the capacitor 2 in FIG. 1 becomes equal to or higher than the set value, and the switch circuit 10 is turned off after a lapse of a predetermined time from the operation of the comparator 6, and the gate current becomes Ig2. At this time, it is assumed that the switching characteristics of the IGBT, for example, di / dt operate so as to be lower than when the switch circuit 10 is on.

【0027】ただし、実際は電流源回路と直列のスイッ
チ回路10をオフさせることはできないので、図5
(b)に示すように定電流源回路自体にスイッチSWを
入れて電流値を小さくする(図5(b)では、スイッチ
SWオフで電流値を小としている)。
However, since the switch circuit 10 in series with the current source circuit cannot actually be turned off, FIG.
As shown in FIG. 5B, the switch SW is inserted in the constant current source circuit itself to reduce the current value (in FIG. 5B, the current value is reduced by turning off the switch SW).

【0028】図6は操作回路のさらに他の実施の形態を
示す回路図で、ゲート・エミッタ間容量を変化させる例
である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing still another embodiment of the operation circuit, in which the capacitance between the gate and the emitter is changed.

【0029】図6はスイッチ回路12を図1の遅延回路
7の出力によってオン(またはオフ)させることで、コ
ンデンサ13をIGBTのゲート・エミッタ間に接続
し、強制的にゲートの電位を変化させる。この場合、ス
イッチ回路12がオフしている状態が通常の状態である
が、IGBTがオフしているときは制御回路11により
コンデンサ電圧を0Vまたはその近傍とし、また、オン
しているときは同様に或る所定の電圧(ゲートのしきい
値電圧付近またはそれ以上)まで、充電しておくことと
する。
FIG. 6 shows that the switching circuit 12 is turned on (or off) by the output of the delay circuit 7 of FIG. 1, thereby connecting the capacitor 13 between the gate and the emitter of the IGBT and forcibly changing the gate potential. . In this case, the state where the switch circuit 12 is off is a normal state, but when the IGBT is off, the control circuit 11 sets the capacitor voltage at or near 0 V, and when the IGBT is on, the same applies. To a predetermined voltage (near or above the threshold voltage of the gate).

【0030】そして、ターンオフ時に、図1のコンデン
サ電圧が設定値以上となってコンパレータ6が動作し、
遅延回路7から出力が得られたとき、スイッチ回路12
をオンさせることで、電位Vgをコンデンサ13により
上昇させるようにする。
Then, at the time of turn-off, the capacitor voltage shown in FIG.
When an output is obtained from the delay circuit 7, the switch circuit 12
Is turned on, the potential Vg is increased by the capacitor 13.

【0031】このとき、IGBTのスイッチング特性、
例えばdi/dtは、スイッチ回路12がオフしている
ときに比べて低くなるように動作するものとする。
At this time, the switching characteristics of the IGBT,
For example, it is assumed that di / dt operates so as to be lower than when the switch circuit 12 is off.

【0032】図7は操作回路の別の実施の形態を示す回
路図で、ゲート・コレクタ間容量を変化させる例であ
る。
FIG. 7 is a circuit diagram showing another embodiment of the operation circuit, in which the capacitance between the gate and the collector is changed.

【0033】図7はスイッチ回路14を図1の遅延回路
7の出力によってオン(またはオフ)させることで、コ
ンデンサ15をIGBTのゲート・コレクタ間に接続
し、強制的にゲートの電位を変化させる。この場合、ス
イッチ回路14がオフしている状態が通常の状態である
が、IGBTがオフしているときは制御回路16により
コンデンサ電圧を0Vまたはその近傍とし、また、オン
しているときは同様に或る所定の電圧(ゲートのしきい
値電圧付近またはそれ以上)まで、充電しておくことと
する。
FIG. 7 shows that the switch circuit 14 is turned on (or off) by the output of the delay circuit 7 of FIG. 1, thereby connecting the capacitor 15 between the gate and the collector of the IGBT and forcibly changing the gate potential. . In this case, the state in which the switch circuit 14 is off is a normal state. However, when the IGBT is off, the control circuit 16 sets the capacitor voltage at or near 0 V, and when the IGBT is on, the same applies. To a predetermined voltage (near or above the threshold voltage of the gate).

【0034】そして、ターンオフ時に、図1のコンデン
サ電圧が設定値以上となってコンパレータ6が動作し、
遅延回路7から出力が得られたとき、スイッチ回路14
をオンさせることで、電位Vgをコンデンサ15により
上昇させるようにする。
Then, at the time of turn-off, the capacitor voltage of FIG.
When an output is obtained from the delay circuit 7, the switch circuit 14
Is turned on, the potential Vg is increased by the capacitor 15.

【0035】このとき、IGBTのスイッチング特性、
例えばdi/dtは、スイッチ回路14がオフしている
ときに比べて低くなるように動作するものとする。
At this time, the switching characteristics of the IGBT,
For example, it is assumed that di / dt operates so as to be lower than when the switch circuit 14 is off.

【0036】ここで、ゲート条件の変更制御について説
明する。
Here, the change control of the gate condition will be described.

【0037】ゲート条件の変更は図1の構成では、遅延
回路7によって一定時間遅延されることになるが、これ
はスイッチング損失を極力増加させないためである。そ
して、実際には、図8に示すように遅延回路7の後段に
はワンショット回路(単安定マルチバイブレータ回路)
17を設け、コンデンサ電圧が設定値以上となってから
一定時間後の一定時間だけ、ゲート条件を変更するよう
にしている。
In the configuration of FIG. 1, the change of the gate condition is delayed by a predetermined time by the delay circuit 7, because the switching loss is not increased as much as possible. In practice, a one-shot circuit (monostable multivibrator circuit) is provided after the delay circuit 7 as shown in FIG.
17 is provided to change the gate condition only for a certain time after a certain time after the capacitor voltage becomes equal to or higher than the set value.

【0038】[0038]

【発明の効果】この発明によれば、IGBTのコレクタ
・エミッタ間電圧相当値を、簡単な回路で検出すること
が可能となる。特に、ダイオードはメインのIGBTと
同一のチップ上に形成できるためコストアップはほとん
どなく、コンデンサもpF程度の容量でよいため同様に
コストアップはほとんど無いなどの利点が得られる。
According to the present invention, the value corresponding to the collector-emitter voltage of the IGBT can be detected with a simple circuit. In particular, since the diode can be formed on the same chip as the main IGBT, there is almost no increase in cost, and since the capacitor may have a capacitance of about pF, there is also an advantage that there is almost no increase in cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の形態を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の動作波形図である。FIG. 2 is an operation waveform diagram of FIG.

【図3】操作回路の第1の例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a first example of an operation circuit.

【図4】操作回路の第2の例を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a second example of the operation circuit.

【図5】操作回路の第3の例を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a third example of the operation circuit.

【図6】操作回路の第4の例を示す回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram showing a fourth example of the operation circuit.

【図7】操作回路の第5の例を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a fifth example of the operation circuit.

【図8】ゲート条件の変更制御例を示すブロック図であ
る。
FIG. 8 is a block diagram showing an example of changing control of a gate condition.

【図9】ゲート駆動回路の従来例を示す構成図である。FIG. 9 is a configuration diagram showing a conventional example of a gate drive circuit.

【図10】インバータ装置の従来例を示す構成図であ
る。
FIG. 10 is a configuration diagram showing a conventional example of an inverter device.

【図11】IGBT素子のターンオフ時の動作説明図で
ある。
FIG. 11 is an explanatory diagram of an operation when the IGBT element is turned off.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,D1…ダイオード、2,13,15…コンデンサ、
3…メインIGBT、4…抵抗、5…電源、6…コンパ
レータ、7…遅延回路、8,9,10,12,14…ス
イッチ回路、11,16…制御回路、17…ワンショッ
ト回路(単安定マルチバイブレータ回路)。
1, D1 ... diode, 2, 13, 15 ... capacitor,
3: Main IGBT, 4: Resistance, 5: Power supply, 6: Comparator, 7: Delay circuit, 8, 9, 10, 12, 14, Switch circuit, 11, 16: Control circuit, 17: One-shot circuit (monostable) Multivibrator circuit).

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 IGBTを含む電圧駆動形スイッチング
デバイスのコレクタ・エミッタ間にダイオードとコンデ
ンサの直列回路を接続し、このコンデンサ電圧をスイッ
チングデバイスのコレクタ・エミッタ間電圧相当値とし
て検出する検出手段と、ゲート条件を変更する操作手段
とを設け、前記スイッチングデバイスのターンオフ時
に、前記検出手段の出力が所定値以上になったときは、
前記操作手段によりゲート条件を一定時間だけ変更する
ことを特徴とする電力変換装置のゲート駆動回路。
1. A detecting means for connecting a series circuit of a diode and a capacitor between a collector and an emitter of a voltage-driven switching device including an IGBT, and detecting the capacitor voltage as a value equivalent to the collector-emitter voltage of the switching device. Operating means for changing the gate condition, when the switching device is turned off, when the output of the detection means is equal to or more than a predetermined value,
A gate drive circuit for a power conversion device, wherein a gate condition is changed for a predetermined time by the operation means.
【請求項2】 前記検出手段の後段に、その出力を一定
時間だけ遅延させる遅延手段を設けたことを特徴とする
請求項1に記載の電力変換装置のゲート駆動回路。
2. The gate drive circuit according to claim 1, further comprising a delay unit that delays an output of the detection unit by a predetermined time at a stage subsequent to the detection unit.
【請求項3】 前記操作手段はスイッチングデバイスの
ゲート抵抗,ゲート電源電圧,ゲート電流,ゲート・エ
ミッタ容量,ゲート・コレクタ容量の少なくとも1つを
変更するものであることを特徴とする請求項1または2
のいずれかに記載の電力変換装置のゲート駆動回路。
3. The device according to claim 1, wherein said operating means changes at least one of a gate resistance, a gate power supply voltage, a gate current, a gate-emitter capacitance, and a gate-collector capacitance of the switching device. 2
A gate drive circuit for a power converter according to any one of the above.
JP10311889A 1998-11-02 1998-11-02 Gate driving circuit for power converter Pending JP2000139071A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10311889A JP2000139071A (en) 1998-11-02 1998-11-02 Gate driving circuit for power converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10311889A JP2000139071A (en) 1998-11-02 1998-11-02 Gate driving circuit for power converter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000139071A true JP2000139071A (en) 2000-05-16

Family

ID=18022641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10311889A Pending JP2000139071A (en) 1998-11-02 1998-11-02 Gate driving circuit for power converter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000139071A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002281761A (en) * 2001-03-19 2002-09-27 Hitachi Ltd Semiconductor power converter
KR20050102912A (en) * 2004-04-23 2005-10-27 엘지전자 주식회사 Communication system using a power line communication and its operating method
JP2006042564A (en) * 2004-07-30 2006-02-09 Tokyo Electric Power Co Inc:The Power switching circuit, power conversion device, and drive method of semiconductor switching element for power
JP2006042410A (en) * 2004-07-22 2006-02-09 Toshiba Corp Snubber device
US9673812B2 (en) 2013-06-04 2017-06-06 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Gate driver and power module equipped with same
CN111082790A (en) * 2018-10-19 2020-04-28 现代自动车株式会社 Gate driving device for power semiconductor device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09246931A (en) * 1996-03-06 1997-09-19 Fuji Electric Co Ltd Overload protective circuit for semiconductor device
JPH1032476A (en) * 1996-05-14 1998-02-03 Fuji Electric Co Ltd Overcurrent protection circuit
JPH10150764A (en) * 1996-09-20 1998-06-02 Fuji Electric Co Ltd Gate driving circuit in power converter

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09246931A (en) * 1996-03-06 1997-09-19 Fuji Electric Co Ltd Overload protective circuit for semiconductor device
JPH1032476A (en) * 1996-05-14 1998-02-03 Fuji Electric Co Ltd Overcurrent protection circuit
JPH10150764A (en) * 1996-09-20 1998-06-02 Fuji Electric Co Ltd Gate driving circuit in power converter

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002281761A (en) * 2001-03-19 2002-09-27 Hitachi Ltd Semiconductor power converter
KR20050102912A (en) * 2004-04-23 2005-10-27 엘지전자 주식회사 Communication system using a power line communication and its operating method
JP2006042410A (en) * 2004-07-22 2006-02-09 Toshiba Corp Snubber device
JP2006042564A (en) * 2004-07-30 2006-02-09 Tokyo Electric Power Co Inc:The Power switching circuit, power conversion device, and drive method of semiconductor switching element for power
US9673812B2 (en) 2013-06-04 2017-06-06 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Gate driver and power module equipped with same
CN111082790A (en) * 2018-10-19 2020-04-28 现代自动车株式会社 Gate driving device for power semiconductor device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5926012A (en) Gate drive circuit in power converter with condition detection device
KR101449083B1 (en) Switching Gate Drive
JP4432215B2 (en) Semiconductor switching element gate drive circuit
John et al. High-performance active gate drive for high-power IGBT's
JP3141613B2 (en) Method and circuit for driving voltage-driven element
EP0817381B1 (en) Semiconductor device drive circuit
US8610485B2 (en) Gate drive circuit
JP3614519B2 (en) Method and apparatus for driving insulated gate semiconductor device
JP3339311B2 (en) Driver circuit for self-extinguishing semiconductor device
JP2000083371A (en) Gate drive circuit in power converter
JPH0947015A (en) Drive circuit for self-extinguishing semiconductor element
JP4284575B2 (en) Gate drive circuit for power semiconductor device
JP4952112B2 (en) Drive circuit for voltage-driven element
JP3379562B2 (en) Inverter device
JPH0393457A (en) Drive circuit for voltage driving type element
JP3532377B2 (en) Gate drive circuit for voltage driven switch element
JP2000139071A (en) Gate driving circuit for power converter
WO2023062745A1 (en) Driving circuit for power semiconductor device, power semiconductor module, and power converter
JP3568024B2 (en) Gate drive circuit for voltage driven semiconductor device
JPH1169778A (en) Gate drive circuit in power converter
JP2000083370A (en) Gate drive circuit in power converter
JP2002153043A (en) Gate-driving device for voltage-driving semiconductor element
US4880995A (en) Electrically isolated MOSFET drive circuit
JPH10229671A (en) Igbt module and gate drive circuit thereof
JPH10209832A (en) Semiconductor switch circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031225

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20040121

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040205

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040519

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040527

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040930