JP2000131714A - アクティブマトリクス液晶表示装置 - Google Patents

アクティブマトリクス液晶表示装置

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JP2000131714A JP30501398A JP30501398A JP2000131714A JP 2000131714 A JP2000131714 A JP 2000131714A JP 30501398 A JP30501398 A JP 30501398A JP 30501398 A JP30501398 A JP 30501398A JP 2000131714 A JP2000131714 A JP 2000131714A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低消費電力で表示輝度の均一性が高く、高コン
トラストな高視野角のアクティブマトリクス液晶表示装
置を得る。 【解決手段】共通配線レス(コモンレス)のIPS方式
のアクティブマトリクス液晶表示装置において、信号配
線103及びTFTの上方に絶縁層を介して対向電極1
07を配置し、この対向電極及び走査配線101により
信号配線若しくはTFTを覆って遮光することにより、
BMの削除または小型化と基板の平坦化を実現し、開口
率とセルギャップの均一性を向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブマトリ
クス液晶表示装置に係り、特にIPS(In-PlaneSwitch
ing)方式(=横電界方式)のアクティブマトリクス液晶
表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、薄膜トランジスタ(TFT)に代
表されるアクティブ素子を用いたアクティブマトリクス
液晶表示装置は、CRTと同等の高画質でCRTよりも
低消費電力及び小型であることから、パソコンやワーク
ステーションなどのモニターとして使用されつつある。
【0003】このようにモニター用途に適した液晶表示
装置の一形態として、IPS方式のアクティブマトリク
ス液晶表示装置がある。この液晶表示装置の構成は、同
一基板上に走査配線,信号配線,共通配線を配置し、2
つの電極(画素電極と対向電極)を櫛歯状に形成するこ
とにより、液晶に印加する電界の方向を基板面にほぼ平
行な方向としていることが特徴である。このIPS方式
の液晶表示装置は、従来の液晶表示装置と比較して広視
野角という特徴があり、直視型モニター用途に最適であ
る。
【0004】図4は、このような従来のIPS方式のア
クティブマトリクス液晶表示装置における1つの画素部
の平面構造を示し、図5は、そのB−B′断面構造を示
している。
【0005】図4において、101はCrで形成した走
査配線、102はアモルファスシリコンで形成した半導
体層、103はCrで形成した信号配線、106はCr
で形成した画素電極、107及び107′はCrで形成
した対向電極、401はCrで形成した共通配線、40
2はブラックマトリクスである。
【0006】このような構成の液晶表示装置では、対向
電極107と信号配線103の間に隙間がある。この間
隙部には画素表示用の有効な電界が印加することができ
ないばかりでなく、常時変化する信号配線電圧により光
漏れが発生するため、遮光する必要がある。
【0007】また、信号配線103と共通配線401の
間隙部も、常時印加されている直流電圧により光漏れが
発生するため、遮光する必要がある。また、走査配線1
01と対向電極107,107′の端部の間の間隙部も
同じ理由により遮光する必要がある。さらに光リーク電
流による薄膜トランジスタ(TFT)の誤動作を防ぐた
め、TFT上部も遮光する必要がある。このようなこと
から、この液晶表示装置は、ブラックマトリクス402
で画素部を遮光するようにしているために、開口率が低
い。共通配線401があることも開口率が低くなる1つ
の原因である。図5に示すように、TFT216が配置
された部分でTFT基板214及び対向基板215の間
隙が急激に狭くなっている。
【0008】これは、 1)パシベーション膜205を厚くしてTFT基板21
4を平坦化することは液晶駆動電圧の増加を伴うために
採用できない、 2)対向基板215にTFT部に対向させて設けたブラ
ックマトリクス402は光リーク電流によるTFTの誤
動作を防止するために省略できない、ためである。
【0009】この液晶表示装置では、このTFT部に位
置するスペーサビーズ(以下、単にビーズという)21
1がセルギャップを規定する。ところが、TFT部の面
積は画素全体の1/100程度であるため、TFT部に
ビーズ211が配置される割合は1/100以下とな
る。このため、スペーサビーズ211がTFT部に配置
されず基板が支持されない領域では、セルギャップが不
均一になり、セルギャップが不均一性に起因して表示輝
度が不均一になる。
【0010】しかして、ビーズ211の分散量を増加し
てセルギャップを均一化しようとすると、TFT部に位
置するビーズ数が増加すると共に開口部に位置するビー
ズ数も増加する。従って、セルギャップが均一化する反
面、開口部に位置するビーズ周辺で光漏れが生じコント
ラストが低下する。
【0011】なお、201はガラス基板、202はゲー
ト絶縁層、204はコンタクト層、206は配向膜、2
07はガラス基板、208はカラーフィルタ層、209
は保護膜であり、平坦化膜としての機能も有する、21
0は配向膜、212は液晶層、213,217は偏光板
である。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】このIPS方式の液晶
表示装置を従来のTN方式の液晶表示装置と比較した場
合、次のような2つの課題がある。
【0013】その1つは、消費電力が高いことである。
これは、IPS方式の液晶表示装置は、開口率が低く、
従来のTN方式の液晶表示装置と同等の輝度を得るため
には、バックライトの消費電力が高くなるためである。
【0014】IPS方式の液晶表示装置の開口率が低い
原因は、 1)櫛歯状電極が光を透過しない、 2)対向基板上に配置されたブラックマトリクス(以
下、BMという)が開口部の一部を遮光する、ためであ
る。
【0015】BMが遮光する領域は、走査配線及び信号
配線の縁端部及びTFT部である。走査配線及び信号配
線の縁端部を遮光する理由は、その部分に光漏れが発生
するためであり、TFTを遮光する理由は、光リーク電
流によるTFTの誤動作を防止するためである。BMの
面積は、遮光すべき光漏れ発生領域及びTFTが形成さ
れている基板(以下、TFT基板という)とBMが形成
されている基板(以下、対向基板)の合わせ裕度を見込
んで、BMの面積は光漏れ発生領域及びTFT領域より
大きめに設定されている。
【0016】これが、さらに開口率を低くする要因にな
る。消費電力を低減するには、開口率を増加する必要が
ある。
【0017】もう1つの課題は、IPS方式の液晶表示
装置は、表示輝度の均一性が低いという課題がある。こ
れは、IPS方式の液晶表示装置では輝度特性のしきい
値電圧が一対の基板に挟まれた液晶層の厚さ(セルギャ
ップ)に反比例するために、セルギャップに不均一性が
あると、それが輝度の不均一性となって表示に現われて
しまうためである。
【0018】TN方式の液晶表示装置ではしきい値電圧
はセルギャップに依存しないため、表示輝度の均一性が
比較的高い。表示輝度の均一性を向上するには、基板面
内におけるセルギャップの均一性をTN方式の液晶表示
装置よりも厳しくする必要がある。しかし、現状の方法
でセルギャップを均一化しようとすると、コントラスト
が低下するという、別の課題が発生する。以下、この2
番目の課題の原因について説明する。
【0019】セルギャップが不均一で且つセルギャップ
を均一化しようとするとコントラストの低下が起きる原
因は、2枚の基板表面に凹凸があり、且つセルギャップ
形成にビーズを用いるためである。
【0020】凹凸を有する2枚の基板でビーズを挟持し
てセルギャップを形成する場合、セルギャップを規定す
るのは基板間隔が最も狭い領域に挟まれたビーズであ
る。アクティブマトリクス液晶表示装置では、基板間隔
が最も狭い領域は、TFT部である。
【0021】このTFT部では、一方の基板で最も凸な
TFT部と、他方の基板で最も凸なカラーフィルタとT
FT遮光用ブラックマトリクスの重なり部とが向き合っ
た構成となっており、基板間隔が最も狭くなっている。
【0022】TFT部の面積は画素面積の約1/100
である。TFT基板にビーズを分散した場合、凸部はそ
の他の平坦な部分と較べてビーズが乗りにくいことを考
え併せると、TFT部にビーズが挟持される確率は1/
100以下である。例えば、100個のビーズを分散し
た場合、99個のビーズはTFT部以外の画素部に位置
することになり基板支持に寄与しない。ビーズによって
基板が支持されない領域ではセルギャップが不均一にな
りやすく、これがIPS方式の液晶表示装置では表示輝
度の不均一性を引き起こす。
【0023】表示輝度の均一性を向上するためには、セ
ルギャップを均一化する必要がある。ビーズの分散量を
増加してセルギャップを均一化しようとすると、TFT
部に位置するビーズの数が増加すると共に開口部に位置
するビーズの数も増加する。一般にビーズ周辺では液晶
の配向不良に起因して光漏れが発生する。このため、セ
ルギャップが均一化する反面、開口部に位置するビーズ
の周辺の光漏れによりコントラストが低下する。従っ
て、ビーズの分散量を増加することによってセルギャッ
プを均一化するとコントラストの低下が起きる。均一化
に必要なビーズの分散量を減らすためには、一対の基板
の表面凹凸を減らして平坦化することが必要である。
【0024】以上まとめると、IPS方式のアクティブ
マトリクス液晶表示装置には、 1)消費電力が高い、 2)表示輝度の均一性が低い、という課題がある。これ
らの課題を克服するためには、 1)開口率を向上させてバックライトの消費電力を軽減
する、 2)コントラストの低下が生じないようにセルギャップ
を均一化する、必要がある。
【0025】本発明の目的は、コントラストが高いIP
S方式のアクティブマトリクス液晶表示装置、即ち、不
要な遮光膜の要らないIPS方式のアクティブマトリク
ス液晶表示装置を提供することである。
【0026】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
第1の構造として、IPS方式のアクティブマトリクス
液晶表示装置において、画素電極との間で表示のために
液晶を基板面と支配的に平行に駆動する電界を生じさせ
る対向電極の一部を信号電極の上に絶縁膜を介して形成
する。そして、この基板面に垂直な方向から見た信号電
極が形成された領域が対向電極が形成された領域と走査
配線が形成された領域に含まれ、はみ出ないようにす
る。又、アクティブ素子上に絶縁膜を介して、対向電極
の一部を形成してもよい。
【0027】この構成の第1の特徴は、従来のIPS方
式のアクティブマトリクス液晶表示装置が具備していた
共通配線を省略し、共通配線を走査配線で兼用した、特
開平8−62578号公報に記載されたような、共通配線レス
構成であることである。共通配線レス構成をベースとし
た前記構成を採用することにより、従来の液晶表示装置
において対向基板に設けていたBMを削除することがで
きるため、開口率が向上し、かつ対向基板の平坦性が向
上する。
【0028】従来はアクティブ素子及び走査配線及び信
号配線の縁端部の光漏れ領域を遮光するために必要だっ
たBMを削除できる理由は、 1)アクティブ素子の上方に配置された対向電極が該ア
クティブ素子を遮光する、 2)対向電極及び走査配線で信号配線が完全に覆われる
ため、信号配線縁端部の光漏れが解消する、 3)共通配線レス構成であるため、特開平8−62578号公
報に記載のように、走査配線縁端部は光漏れがなく遮光
不要である、ためである。
【0029】このうち、2)において対向電極及び走査
配線で信号配線を完全に覆うため、本発明の構成では、
対向電極の端部が対応する走査配線上に重なるように形
成することで実現している。
【0030】このような構成を採用することにより信号
配線縁端部の光漏れが完全に解消できるのは、本発明で
共通配線レス構成を採用しているためである。
【0031】これは、共通配線レス構成では特開平8−6
2578号公報に記載のように、液晶表示動作の殆どの期間
中、対向電極と対応する走査配線に印加される電圧が等
しいため、対向電極の端部を対応する走査配線上に重ね
ても光漏れが生じないためである。
【0032】一方、従来の共通配線を有する構成では、
液晶表示動作の殆どの期間中、対向電極と対応する走査
配線に直流電圧が印加されるため、対向電極の端部を対
応する走査配線近傍に近接させると、信号配線縁端部の
光漏れ領域を低減する反面、上記直流電圧によって対向
電極の端部と対応する走査配線の間の領域で光漏れが生
じてしまう。
【0033】従って、従来の構成では、本発明の対向電
極の端部を対応する走査配線上に重ねる構造を採用して
も、信号配線縁端部の光漏れを完全に解消することはで
きず、共通電極を有さないコモンレス構造でこそ効果を
有する発明である。
【0034】前記構成において、前記複数の対向電極は
配向膜を介して液晶層に接するために、液晶組成物と対
向電極との電気化学的な反応に起因した不良発生を防ぐ
ためには、前記複数の対向電極を構成する材料としては
Nbまたは窒化Nbといった電気化学的に安定な材料が
望ましい。
【0035】セルギャップの形成にビーズを用いず、T
FT基板上に設けた高さ一定の柱状スペーサを用い、前
記スペーサを前記一対の基板で挟持することによりセル
ギャップを形成すれば、セルギャップの均一性が向上す
る。柱状スペーサを配置する位置として、画素電極の周
期的な配置に併せて一定周期で等間隔に配置することが
望ましい。
【0036】特に、前記対向電極を介してアクティブ素
子の上方に前記スペーサを配置すると、この部分は基板
間隔が最も狭くなっているため、柱状スペーサの高さを
最も低くすることができる。
【0037】従って、柱状スペーサ材料が削減すること
ができ、柱状スペーサ形成に要する時間が短縮すること
ができる。
【0038】また、柱状スペーサは対向電極を介してア
クティブ素子の上方に配置されるため、アクティブ素子
上方の電位は対抗電極の電位に保たれ、柱状スペーサの
影響を受けることがないため、柱状スペーサをアクティ
ブ素子の上方に配置することによってアクティブ素子が
誤動作することはない。
【0039】前記複数の対向電極を構成する材料とし
て、電気化学的に安定なインジウム錫酸化物等の導電性
酸化物を用いることもできるが、これらの材料は透明で
あるため、TFTを遮光する必要がある。この場合に
は、前記対向電極を介してアクティブ素子の上方に遮光
性を有する柱状のスペーサを配置すれば、セルギャップ
の均一化とTFTの遮光が同時に達成することができ
る。TFTの上方に小さなBMを形成して遮光すること
も可能である。
【0040】なお、アクティブ素子としてTFTを用い
た場合、絶縁層を介してTFTの上方に設けられた対向
電極はゲート電極の機能を有する(いわゆる2重ゲート
TFT構造)ために、移動度が増加しTFTのスイッチン
グ性能が増加する効果が得られる。
【0041】
【発明の実施の形態】(実施形態1)図1は、実施形態
1における1つの画素部の平面構造を示している。10
1はCrで形成した走査配線、102はアモルファスシ
リコンで形成した半導体層、103はCrで形成した信
号配線、104はCrで形成した画素電極端子、105は
Crで形成した保持容量端子、106は画素電極、10
7及び107′は対向電極である。
【0042】図2は、図1における画素部をA−A′線
に沿って切断した断面構造を示している。201はガラ
ス基板、202は窒化シリコンで形成したゲート絶縁
層、203は酸化シリコンで形成した絶縁層、204は
燐が添加されたn+ 型アモルファスシリコンで形成した
コンタクト層、205は有機絶縁膜からなるパシベーシ
ョン層、206は配向膜、207はガラス基板、208
はカラーフィルタ層、209は保護膜、210は配向
膜、211はスペーサビーズ、212は液晶層、213
は偏光板、214はTFT基板、215は対向基板、2
16は薄膜トランジスタ(TFT)である。
【0043】図1及び2に示した実施形態1のアクティ
ブマトリクス液晶表示装置は、以下のようにして作成す
る。
【0044】TFT基板214は、次のようにして作成
する。先ず、コーニング1737ガラス基板201上に
厚さ約300nmのCr膜をスパッタリング法により形
成する。ホトエッチングによりこのCr膜をパターニン
グして走査配線101を形成する。その上にプラズマ化
学気相成長(CVD)法により、厚さ250nmの窒化
シリコン、厚さ50nmの酸化シリコン層、厚さ200
nmのアモルファスシリコン層、厚さ50nmの燐が添
加されたn+ 型アモルファスシリコン層を連続形成す
る。各層の形成に用いた原料ガスは以下の通りである:
SiH4+NH3+N2(窒化シリコン層),SiH4+N
2O(酸化シリコン層),SiH4+H2(アモルファスシ
リコン層),SiH4+H2+PH3(n+ 型アモルファス
シリコン層)。そして、ホトエッチングによりn+ 型ア
モルファスシリコン層,アモルファスシリコン層,酸化
シリコン層を同時に島状加工することにより、半導体層
102及び絶縁層203を形成する。
【0045】この上にスパッタリング法を用いて形成し
た厚さ300nmのCrをホトエッチングによりパター
ニングして、信号配線103,画素電極端子104、及
び保持容量端子105、を形成する。さらに、信号配線
103及び画素電極端子104で覆われていない半導体
層102上のn型アモルファスシリコン層をエッチ
ングすることによって、信号配線103,画素電極端子
104と半導体層102の間にコンタクト層204を形
成する。さらにこの上にスピンコーティング法により厚
さ約1000nmのポリイミドからなるパシベーション
膜205を形成する。ホトエッチングによりパシベーシ
ョン膜205及びゲート絶縁層202にコンタクトホー
ルを形成した後に、スパッタリング法により厚さ300
nmの金属薄膜を形成後、ホトエッチングにより前記金
属薄膜をパターニングして、画素電極106,対向電極
107,107′を形成する。
【0046】これにより、コンタクトホールを介して、
画素電極106と画素電極端子104及び保持容量端子1
05が接続され、対向電極107と走査配線101が接
続される。
【0047】そして、ゲート絶縁層202の走査配線1
01と保持容量端子105に挟持された部分が保持容量
となる。その上にスピンコーティング法により厚さ約2
00nmの配向膜206を形成する。以上により、TF
T基板214が完成する。
【0048】対向基板215は次のようにして作成す
る。先ず、コーニング1737からなるガラス基板20
7上に、スピンコーティング法により厚さ500nmの
カラーフィルタ208を形成する。その上に、スピンコ
ーティング法により厚さ500nmの保護膜209及び
厚さ200nmの配向膜210を形成する。
【0049】TFT基板214及び対向基板215は、
その配向膜206及び210の表面を配向処理した後
に、酸化シリコンからなる直径約4μmのビーズ211
を挟持するように対向させて形成したセルギャップ間に
液晶組成物を封入して液晶層212を形成する。最後
に、TFT基板214及び対向基板215の表面に偏光
板を貼り付けて、液晶パネルを完成する。
【0050】この実施形態では、信号配線103及びT
FT216の上方に絶縁性のパシベーション膜205を
介して該信号配線103及びTFT216に重畳するよ
うに、対向電極107を配置し、対向電極107の端部
が対応する走査配線101上に位置し、対向電極107
及び走査配線101が占有する領域の中に、信号配線1
03が占有する領域が含まれる。従って、特願平9−151
886 号の明細書及び図面にも記載されているように信号
配線103の縁端部の光漏れが解消するために、信号配
線103縁端部を遮光するBMが不要となる。TFT2
16は対向電極107によって遮光される。
【0051】また、この液晶表示装置は、パシベーショ
ン膜205及びゲート絶縁層202に連続して開けたコ
ンタクトホールを介して対向電極107が走査配線10
1に接続された特開平8−62578号公報に記載されたよう
な共通配線レス構成になっている。従って、この走査配
線101の縁端部では光漏れが発生しないため遮光不要
となる。
【0052】従って、この液晶表示装置は、対向基板に
設けていたBMは不要である。この結果、従来よりも開
口率が約20%向上し、約60%となった。また、この
構成では、パシベーション膜205の厚さを厚くするこ
とによりTFT基板214の平坦性が向上し、BMがな
いため対向基板215の平坦性も向上した。そのため
に、所定のセルギャップを維持するために必要なビーズ
は、1画素あたり1個以下(従来は3個程度必要)とす
ることができ、コントラストが向上する。しかも、この
構成では、液晶に電圧を印加するために用いる画素電極
106及び対向電極107,107′がパシベーション
膜205上に形成されているため、パシベーション膜2
05の厚さを厚くしても液晶駆動電圧は増加しない。
【0053】この構成において、画素電極106及び対
向電極107,107′は配向膜206を介して液晶層
212に触れるので、電気化学的に安定な材料で構成す
ることが望ましい。Nbまたは窒化Nbを用いたとこ
ろ、液晶パネルの寿命試験において画素電極106及び
対向電極107,107′の腐食は起こらなかった。な
お、この実施形態において、TFT構成はいわゆる2重
ゲートTFT構造であるために、従来TFT構造と比べ
て移動度が約10%向上した。また、この実施形態のT
FT構成は、窒化シリコンからなるゲート絶縁層202
と半導体層102の間に酸化シリコン膜からなる絶縁層
203が介在したPCT出願JP96−3467号の明細書及び
図面に記載されたようなMNOS構造であり、共通配線
レス方式の駆動に必要なエンハンスメント型TFT特性
が得られる。
【0054】(実施形態2)図3は、実施形態2におけ
る画素部の断面構造を示している。本実施例は、ビーズ
211の代わりにTFT基板214上に形成した柱状ス
ペーサ301をTFT基板214及び対向基板215で挟
持することによってセルギャップを形成する構成であ
る。柱状スペーサ301は、例えばSOG(Spin on Gla
ss)法により形成した厚さ4μmの酸化シリコン膜をホ
トエッチングによりパターニングして形成する。
【0055】対向電極107及びパシベーション膜20
5を介してTFT216の上方に柱状スペーサ301を
配置したところ、柱状スペーサ301を小さく(低く)
することができ、この柱状スペーサ301の形成に要す
る時間が短縮できた。これは、実際には、この部分は基
板間隔が最も狭くなっているために、所定のセルギャッ
プを得るために必要な柱状スペーサの高さが最も低くな
るためである。また、柱状スペーサ301とTFT21
6の間に対向電極107が介在するために、TFT21
6の上方の電位は対抗電極107の電位に保たれること
から、柱状スペーサの電気的な性質によって電界が乱れ
てTFT216が誤動作することはない。
【0056】(実施形態3)対向電極107を構成する
材料として、電気化学的に安定なインジウム錫酸化物等
の導電性酸化物を用いることもできる。この場合、対向
電極107は透明となるため、TFT216に対する遮
光手段が必要となる。この遮光手段は、このTFT21
6に対向させた小さなBMを設けることにより実現でき
る。
【0057】また、樹脂BM材料のような遮光性を有す
る材料で形成した柱状スペーサ301をTFT216の上
方に配置するようにすれば、均一なセルギャップの形成
とTFT216の遮光をともに達成することができる。
【0058】(実施形態4)図6は、実施形態4におけ
る画素部の断面構造を示している。この実施形態では、
カラーフィルタ層208をTFT基板側、特にパシベー
ション膜205の下部に設けたことを特徴とする。この
ような構成にすると、パシベーション膜205がカラーフ
ィルタ層208の保護膜209の役割を果たすため、保
護膜209を省略できるため、部材削減による低コスト
化の効果がある。
【0059】図7は、実施形態4における画素部の平面
構造を示している。この図にはカラーフィルタ層208
のRGB各色領域の端部を太線で示してある。図6及び
図7に示すように、カラーフィルタ層208のRGB各
色領域の一方の端部をTFT上に配置した。対向電極1
07,パシベーション膜205、及びカラーフィルタ層
208を介してTFT216の上方に柱状スペーサ30
1を配置したところ、柱状スペーサ301をさらに小さ
く(低く)することができ、この柱状スペーサ301の
形成に要する時間が短縮できた。これは、TFT上でカ
ラーフィルタ層208の隣接する2色の領域が重なり、
この部分で対向基板との間隙が更に狭くなったために、
所定のセルギャップを得るために必要な柱状スペーサの
高さがさらに低くなるためである。尚、カラーフィルタ
層208が対向基板上にある図3に示した実施形態でも
この効果を得ることができる。
【0060】(実施形態5)図8は、実施形態5におけ
る画素部の平面構造を示している。この構造では、1本
の画素電極106と2本の対向電極107で画素が2分
割されるいわゆる2分割画素構造となっている。このよ
うな画素構造は、液晶表示装置の精細度(単位長さ当た
りの画素数)が約150dpi(dot par inch)以上の高精
細のIPS方式の液晶表示装置で採用される。このよう
に高精細なIPS方式の液晶表示装置では、画素サイズ
は、図1に示した4分割画素構造の約半分程度になる。
【0061】従って、1画素の面積に対する配線及びB
Mの遮光面積の割合は4分割画素構造よりも更に大きく
なる。従って、共通配線及びBMを省略し、対向電極1
07を信号配線103及び半導体層102に重畳した画
素構造を採用したことによって、特に大きな開口率向上
効果を得ることができた。また、このように小さな画素
ではビーズに起因した光漏れによるコントラスト低下の
割合が大きくなるため、実施形態2の柱状スペーサを採
用した結果、大幅にコントラストが向上した。
【0062】
【発明の効果】本発明によれば、対向基板に設けるBM
を削除または小型化することができるために、開口率が
向上し、基板が平坦化する。そして、開口率の向上によ
り消費電力が低減し、基板の平坦化によってセルギャッ
プの均一性が向上すると共に所定のセルギャップの形成
に必要なビーズの数が減少するためにコントラストが向
上する。
【0063】また、光漏れの原因となるビーズを用いず
に、TFT基板上に設けた柱状のスペーサを用いてセル
ギャップを形成することにより、セルギャップの均一性
とコントラストを共に向上させることができる。
【0064】以上のように、本発明によれば、開口率及
びセルギャップの均一性が向上し、低消費電力で表示輝
度の均一性が高く、高コントラストなアクティブマトリ
クス液晶表示装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態における画素部の平面構造
を示す平面図である。
【図2】図1における画素部のA−A′線に沿った断面
構造を示す側面図である。
【図3】本発明の他の実施形態における画素部の断面構
造を示す側面図である。
【図4】従来の液晶表示装置における画素部の平面構造
を示す平面図である。
【図5】図4における画素部のB−B′線に沿った断面
構造を示す側面図である。
【図6】本発明の一実施例の平面構造を示す図である。
【図7】図6の平面構造の断面構造を示す図である。
【図8】本発明の一実施例の平面構造を示す図である。
【符号の説明】
101…走査配線、102…半導体層、103…信号配
線、104…画素電極端子、105…保持容量端子、1
06…画素電極、107,107′…対向電極、201
…ガラス基板、202…ゲート絶縁層、203…SiO
2 絶縁層、204…コンタクト層、205…パシベーショ
ン膜、206,210…配向膜、207…ガラス基板、
208…カラーフィルタ層、209…保護膜、211…
スペーサビーズ、212…液晶層、213…偏光板、2
14…TFT基板、215…対向基板、301…柱状ス
ペーサ、401…共通配線、402…ブラックマトリク
ス。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 若木 政利 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 Fターム(参考) 2H089 LA09 LA10 LA16 MA01X NA05 NA14 NA17 QA11 QA14 QA16 RA04 RA18 2H092 GA14 JA26 JA29 JA36 JA38 JA42 JA44 JB14 JB23 JB32 JB33 JB38 JB54 JB57 JB63 JB69 KA05 KA07 KA16 KA18 KB13 KB14 MA05 MA08 MA13 MA14 MA15 MA18 MA19 MA20 MA27 MA35 MA37 MA41 NA07 NA19 NA25 PA03 PA09 QA06 QA18

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくとも一方が透明な一対の基板と、こ
    の一対の基板に挟持された液晶層とを備え、前記一対の
    基板の一方には、複数の走査配線と、それらの走査配線
    にマトリクス状に形成された複数の信号配線と、これら
    の複数の信号配線と前記複数の走査配線とのそれぞれの
    交点に対応して形成された複数のアクティブ素子と、そ
    れらのアクティブ素子に接続された複数の画素電極と、
    前記複数の走査配線に接続され、前記複数の画素電極と
    の間に、前記一対の基板に対して支配的に平行な電界が
    生じるように形成された複数の対向電極を有するアクテ
    ィブマトリクス液晶表示装置において、 前記複数の対向電極の一部は前記複数の信号電極の上に
    絶縁膜を介して形成されており、 基板面に垂直な方向から見た前記複数の信号配線が形成
    された領域は前記複数の対向電極が形成された領域と前
    記複数の走査配線が形成された領域に含まれることを特
    徴とするアクティブマトリクス液晶表示装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記対向電極の一部は
    対応する画素電極が接続された走査配線に隣接する走査
    配線に重畳するように形成されていることを特徴とする
    アクティブマトリクス液晶表示装置。
  3. 【請求項3】請求項1又は2において、前記複数の対向
    電極を構成する材料として、Nbまたは窒化Nbを用い
    たことを特徴とするアクティブマトリクス液晶表示装
    置。
  4. 【請求項4】請求項1乃至2において、ブラックマトリ
    クスを省略したことを特徴とするアクティブマトリクス
    液晶表示装置。
  5. 【請求項5】請求項1乃至2において、前記走査配線,
    信号配線及びアクティブ素子を有する基板上に形成した
    柱状のスペーサを、前記一対の基板で挟持することによ
    り、液晶層の厚さを一定に確保するようにしたことを特
    徴とするアクティブマトリクス液晶表示装置。
  6. 【請求項6】請求項5において、前記柱状のスペーサ
    は、アクティブ素子の上方の位置に前記対向電極を介し
    て配置したことを特徴とするアクティブマトリクス液晶
    表示装置。
  7. 【請求項7】請求項6において、前記柱状のスペーサ
    は、遮光性材料で形成したことを特徴とするアクティブ
    マトリクス液晶表示装置。
  8. 【請求項8】請求項1において、前記複数の対向電極を
    構成する材料としてインジウム錫酸化物等の導電性酸化
    物を用い、 前記対向電極を介してアクティブ素子の上方に遮光性を
    有する柱状のスペーサを有し、 前記スペーサにより前記一対の基板に挟持した液晶層の
    厚さを一定に確保するようにしたことを特徴とするアク
    ティブマトリクス液晶表示装置。
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