JP2000131233A - 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット - Google Patents

光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット

Info

Publication number
JP2000131233A
JP2000131233A JP11305163A JP30516399A JP2000131233A JP 2000131233 A JP2000131233 A JP 2000131233A JP 11305163 A JP11305163 A JP 11305163A JP 30516399 A JP30516399 A JP 30516399A JP 2000131233 A JP2000131233 A JP 2000131233A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
intensity
scattered
scattered light
diaphragm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11305163A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4763868B2 (ja
Inventor
Paul Dr Meller
パウル・メラー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Healthcare Diagnostics GmbH Germany
Original Assignee
Dade Behring Marburg GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dade Behring Marburg GmbH filed Critical Dade Behring Marburg GmbH
Publication of JP2000131233A publication Critical patent/JP2000131233A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4763868B2 publication Critical patent/JP4763868B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4704—Angular selective
    • G01N2021/4707—Forward scatter; Low angle scatter

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 分析およびインビトロ診断における自動化測
定システムの使用分野に関する。特に、ここに記載する
装置は、散乱光信号の測定時の、特性プロセス工学パラ
メータ、特に、特性光学パラメータの自動品質管理およ
び検査を可能にする。 【解決手段】 光学式ビーム案内装置を光の散乱成分お
よび透過成分の強度を別々に測定するように調節したこ
とを特徴とする散乱光測定を実施する方法を特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】本発明は、分析およびインビトロ診断にお
ける自動化測定システムの使用分野に関する。特に、こ
こに記載する装置は、散乱光信号の測定時の、特性プロ
セス工学パラメータ、特に、特性光学パラメータの自動
品質管理および検査を可能にする。
【０００２】検査室診断に関する完全自動化分析器にお
いて使用することができる高感度光学検出方法について
の需要が、近年ますます高まっている。測定方法につい
ての要求、たとえば、感度、解像度またはダイナミック
レンジについての要求に加えて、高度の自動化手段で
は、使用される測定方法のパラメータの自動的なテス
ト、セッティングならびに場合により再調整についても
要求がある。したがって、品質管理および検査処置も同
様に自動化方法によって確保されなければならない。
【０００３】種々の分析法において、有効結果のテスト
および確保には種々の難易度があることが特徴である。
たとえば、公式に較正した基準を使用することによって
吸収分光学におけるテストが可能であるが、このような
基準は散乱光分光学の方法にはない。前方光散乱方法、
特に、光源の入射ビーム付近の角度または角範囲を利用
する前方光散乱方法では、機械的な構造のために、光線
経路内の特性光学パラメータを同時に測定することが難
しい。したがって、特性光学パラメータ（たとえば、強
度、波長、パルス幅または使用される光源のノイズ成
分）は、測定すべき材料を収容し、ビーム経路に一時的
に挿入する容器（キュベットなど）を使用して、付加的
な相対基準のみによって決定することが多い。しかしな
がら、基準外のテスト・メディアを使用する必要がある
ときには、さらなる欠陥の原因が生じ、このため、その
場で比較的長い期間にわたって制御することができず、
また、装置の状態の特性について明確な結論を出すこと
もできない。
【０００４】散乱光装置においては、対照測定の大部分
のケースでは、たとえば、トルエンのような高純度溶液
を使用する。角度依存散乱光特性の測定で１つのプロフ
ァイルを創り出し、使用する装置についての品質測定を
行う。
【０００５】一方、このような液体の使用は安全性の点
で問題を含み、他方、上記の測定を実施するには、検査
技術では時間がかかり、複雑でもある。これらの理由の
ために、これらの方法は、自動化された分析器の用途に
用いることができない。また一方では、散乱光を発生す
る対応した被測定材料がなければ、測定信号が発生され
ず、その時の操作条件下での方法の品質について結論を
導き出すことはまったくできない。
【０００６】したがって、散乱光を発生する被測定材料
を使用する場合、この材料の組成、構造およびその使用
手順によって、測定毎に異なる信号を発生させることに
なる。したがって、測定システムの同時検査が妨げられ
る。被測定材料内で最初に測定信号が発生する方法に
も、たとえば、蛍光反応または化学発光反応の場合に
も、これらの考察が同様に当てはまる。
【０００７】散乱光測定に最も使用される配置では、散
乱光は入射ビームの方向に対しておよそ９０度の角度範
囲で検出される。その結果、散乱光から入射光を分離す
るのは特に容易である。一方、より大きい立体角範囲を
選び、入射光の前方向についての角度または角度範囲を
利用する場合には、散乱光のより高い強度を得ることが
可能となり、その結果、技術的により簡単でより経済的
な方法で配置を構成することができる。前方向について
の角度での散乱光の割合は、ヒトのインビトロ診断で使
用する有機高分子についての測定（本発明が目標として
いる）について特に高く、正確である。それに加えて、
粒子強化の原理によって散乱光の強度を高める効果にも
使用できる。粒子サイズについての散乱信号の依存度
は、散乱粒子が入射光の波長の大きさのオーダーに一致
する大きさのオーダーである場合について最も好まし
い。これにより、これらの成分を測定に利用することが
できる好ましい配置を得ることができる。散乱光の理論
に関係する基本的な考察および計算は適当な教科書に記
載されている。たとえば、以下のものがある。H．C. va
n de Hulst (Light Scattering by Small Particles, D
over Publications, Inc. New York, 1957, 1981) およ
び C．F. Bohren, D．R. Huffman (Absorption and Sca
ttering of Light by Small Particles, J. Wiley & So
ns, New York, 1983) である。検査しようとしている被
測定材料の特性についてのさらなる情報が与えられるな
らば、１つまたはそれ以上の角度範囲を選ぶことによっ
て被測定材料を大きさで分類し、区別することができ
る。
【０００８】自動化された検査診断法で使用される装置
は、当業者にはそれ自体公知であるように、しばしば、
サンプル液または試薬液のための複数の容器を収容する
可動ユニット（たとえば、ラック、回転コンベヤ、ロー
タその他）と、被測定材料を収容して通過させる容器
（キュベット）から構成される。被測定材料の位置決め
のための回転可能なユニットを使用する場合には、測定
記録に求められる要件によって、キュベットは測定ユニ
ットの静止位置を通って周期的に案内される。散乱光測
定が実施されるとき、散乱光がキュベット内の被測定材
料によって生じ、前記材料がビーム経路に導入される。
このことは、被測定材料の異なった位置決めによって変
化が生じ得ることを意味する。
【０００９】したがって、キュベットの位置を制御する
ことは、被測定材料によって生じる散乱光の強度を制御
するのに有利である。この可能性は、本発明によれば、
散乱光を生じる被測定材料を使わずに、キュベットの
型、構造および位置の制御を含めて測定ユニット（ビー
ム経路）の構造を独立して制御することによって達成さ
れる。それによって、決定された位置は測定信号の同期
に使用され得る。
【００１０】したがって、本発明は、散乱光を生じる被
測定材料の使用の必要のない、前方光散乱を測定する方
法の特性を制御することができる方法を見出すことを目
的になされたものである。現在、この目的が直接透過し
た光を適当な検出装置によって測定すると同時に、発生
した散乱光を検出する測定ユニットの配置によって達成
されることがわかっている。
【００１１】このために、０度を含まない角度で発生し
た散乱光と、そして０度の角度で透過した光とを測定す
ることができる構造が開発された。特に、ここに記載し
た方法の１つの目的は、ビーム経路、使用される構成要
素（たとえば、光源）、レンズおよびダイアフラムの光
学構成要素および被測定材料の移動する収容容器（キュ
ベット）によってもたらされる特性の制御および検査を
実施することにある。テストおよび制御も同様にキュベ
ットについて可能であり、キュベットは測定時間中にの
みビーム経路内に位置する。
【００１２】したがって、本発明による、ここに記載す
る配置は、自動分析のインプロセス制御として使用し得
る。本発明による装置の配置は以下の図を参照しながら
説明する。
【００１３】図１は、従来方法の原理を概略的に示して
いる。ここで、光源１、１１から出た光線３は、レンズ
系２および１つまたはそれ以上のダイアフラム４を通過
し、測定空間５に入射する。レンズ系６を通過した後、
光源１から直接透過した光はダイアフラム７に入射す
る。このダイアフラム７は光トラップとして作用する。
ダイアフラム７によって失われなかった光はレンズ系８
を通して検出器９上に投射され、１０によって測定され
る。
【００１４】図２は、本発明がこの方法をいかにして改
良するかを示している。もし図１に従って散乱光を生じ
る被測定材料１３を入れた収容容器１２を位置５に設置
すると、測定ビーム３が被測定材料を通過し、次いで、
被測定材料に応じて特性角度依存散乱光分布１４が生じ
る。この分布は、レンズ系６、８の有効口径によって検
出され、検出器９に送られる。ダイアフラム１５の領域
に入射した光は別の検出器１６によって検出され、同様
に測定される。この成分は、光源から直接入射する光の
成分と、散乱光を生じる被測定材料が存在する場合に
は、検出器の許容角度内で固定された入射散乱光の成分
とからなる。
【００１５】本発明がキュベット１２に対して１６のと
ころで特定の強度を得ようとする場合には、この強度
は、フィードバック・システム１７によって検出され、
散乱光を生じる被測定材料なしに強度を測定することに
よって再調整され得る。これにより、それぞれ一定の強
度状態で散乱光測定の実施の可能性が得られる。
【００１６】ダイアフラム１５の可能性のある形態が図
３のａ〜ｃに例示してある。図３のａ〜ｃの平面図は、
外側保持リング２１と、環状ダイアフラム１８と、この
ダイアフラム１８を保持するための１つまたはそれ以上
のウェブ２０とを備えたダイアフラム１５を示してい
る。
【００１７】内側のダイアフラム１８は、直接透過ビー
ム成分を通過させる有孔スクリーンとして設計されてい
る。さらに、ガラス棒または光導波管２３と、その端に
ある検出器２４へ光を偏向して導入するためのマウント
を有していてもよい。
【００１８】図３のｄ〜ｅはダイアフラム１５の側面図
を示している。測定ビーム２は、ビーム偏向装置２５お
よび特殊な光学配置２６、２７によって光誘導ユニット
２３に送り込まれる。このユニットから位置的に離れた
状態で検出を行うことができる。
【００１９】図４は、キュベット２９を収容するための
回転可能なマウント（ロータ・システム）２８内に検出
ユニットを組み込んだ状態を概略的に示している。ロー
タが位置１、３０を通って回転するとき、周期的な測定
が行われ、この測定間隔はロータの速度パラメータによ
って一定となる。図１による測定原理の場合、キュベッ
トが散乱光を生じる被測定材料を収容しているときにの
み、信号を測定し、評価することができる。
【００２０】図５は、吸光Ｅまたは散乱Ｓによって発生
した信号の基本的分布をキュベット位置の関数として表
わしている。この場合、キュベットの型、構成および位
置は、測定信号のレベルおよび波形に主要な影響を与え
る。散乱光カーブ３２は対応する被測定材料についての
み生じ得るが、吸光によって生じる成分Ｅのカーブは、
キュベットが空か、あるいは、被測定用非散乱材料で充
填されている場合でも、測定することができる。それに
よって、位置について独立した判定を得ることができ
る。
【００２１】本発明の方法は、基本的に重要なものであ
り、任意の散乱光測定について使用することができる。
いわゆる比濁分析方法において濃度を決定するための生
物学的高分子の散乱光測定は特に重要である。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の分析法の原理を示す図である。
【図２】伝達光および散乱光の検出を行う構造を示す図
である。
【図３】散乱光ダイアフラムの構造を示す図であり、ａ
〜ｃは平面図、ｄ〜ｅは側面図である。
【図４】キュベット・ホイール内の検出ユニットの位置
を示す図である。
【図５】散乱信号(Ｉ)および伝達信号(Ｅ)の強度をキュ
ベット位置(ｘ)の関数として表す概略図である。
【符号の説明】
１ 光源 ２ レンズ系 ３ 光線 ４ ダイアフラム ５ 測定空間 ６ レンズ系 ７ ダイアフラム ８ レンズ系 ９ 検出器 １０ 検出ユニット １１ 駆動装置 １２ 収容容器 １３ 被測定材料 １４ 角度依存散乱光分布 １５ ダイアフラム １７ フィードバックシステム １８ 環状ダイアフラム ２０ ウェブ ２１ 外側保持リング ２３ 光導波管 ２４ 検出器 ２６、２７ 特殊光学装置 ２８ 回転可能なマウント ２９ キュベット ３０ 検出位置 ３１ 吸収光カーブ ３２ 散乱光カーブ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光学式ビーム案内装置を光の散乱成分お
    よび透過成分の強度を別々に測定するように調節したこ
    とを特徴とする散乱光測定を実施する方法。
  2. 【請求項２】 前記入射光の散乱成分および透過成分を
    特別形状のダイアフラムによって分離する、請求項１に
    記載の方法。
  3. 【請求項３】 前記ダイアフラムが、検出器を収容する
    ためのまたはビーム案内装置または偏向装置を収容する
    ための領域を有するように構成された請求項１または２
    に記載の方法。
  4. 【請求項４】 前記入射光の散乱成分および透過成分
    を、ビーム案内装置またはビーム偏向ユニットを収容し
    た前記ビーム経路内に挿入した特別構成のミラーによっ
    て分離する請求項１に記載の方法。
  5. 【請求項５】 前記入射光の散乱成分および透過成分
    を、ダイアフラムと、ビーム案内装置または偏向ユニッ
    トとを同時に収容する前記ビーム経路内に挿入した特別
    に機械加工したレンズによって分離する請求項１に記載
    の方法。
  6. 【請求項６】 前記透過成分の強度を測定する検出器が
    付加的な波長選択構成要素を備えている請求項１に記載
    の方法。
  7. 【請求項７】 前記散乱成分および透過成分の信号を時
    間的に別々および同時の両方で測定する請求項１〜６の
    いずれか１項に記載の方法。
  8. 【請求項８】 前記光源の強度を、前記光源から直接透
    過した光によって再調整する請求項１〜５のいずれか１
    項に記載の方法。
  9. 【請求項９】 測定すべき材料を収容する容器であっ
    て、前記測定用ビームを通って移動する容器のセット、
    テストおよびもし適切ならば容器位置の補正を行うの
    に、前記測定用ビームを通って移動している間に容器を
    段階的にスキャンすることによって、前記透過信号を前
    記容器の位置の関数として記録し、前記測定用ビームに
    対する前記収容容器の位置を定めるのに使用する、請求
    項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 前記方法を自動診断分析器での検査目
    的でインプロセス制御として使用することができる請求
    項１〜９のいずれか１項に記載の方法。
  11. 【請求項１１】 分析に用いる請求項１〜９のいずれか
    １項に記載の方法。
  12. 【請求項１２】 インビトロ診断に用いる請求項１〜９
    のいずれか１項に記載の方法。
JP30516399A 1998-10-28 1999-10-27 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット Expired - Lifetime JP4763868B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19849597A DE19849597A1 (de) 1998-10-28 1998-10-28 Nephelometrische Detektionseinheit mit optischer In-Prozeß-Kontrolle
DE19849597:8 1998-10-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000131233A true JP2000131233A (ja) 2000-05-12
JP4763868B2 JP4763868B2 (ja) 2011-08-31

Family

ID=7885857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30516399A Expired - Lifetime JP4763868B2 (ja) 1998-10-28 1999-10-27 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7050167B2 (ja)
EP (1) EP0997726A3 (ja)
JP (1) JP4763868B2 (ja)
CA (1) CA2287619C (ja)
DE (1) DE19849597A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001141654A (ja) * 1999-10-08 2001-05-25 Dade Behring Marburg Gmbh 分光光度・比濁検出ユニット
JP2016004042A (ja) * 2014-06-17 2016-01-12 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 測定セル用のレセプタクル装置を含む散乱光測定システムおよびその操作方法
JP2016061790A (ja) * 2014-09-18 2016-04-25 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 検体の比濁分析決定（ｎｅｐｈｅｌｏｍｅｔｒｉｃｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）を行う方法
CN106442429A (zh) * 2016-11-14 2017-02-22 宜兴市晶科光学仪器有限公司 一种用于尿液检测的浊度管

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2765405A1 (de) 2013-02-11 2014-08-13 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Nephelometriesystem
EP2957896A1 (de) 2014-06-17 2015-12-23 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Optische Vorrichtung zur Leitung eines Strahlenbündels und Blende zum Einbauen in diese
EP2957895A1 (de) 2014-06-17 2015-12-23 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Streulichtmesssystem mit einer Zentralblende für den Primärstrahl
EP2957898A1 (de) 2014-06-17 2015-12-23 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Streulichtmesssystem mit einer Küvette und zwei Blenden, wobei das am Eingangs- und am Ausgangsfenster der Küvette erzeugte Streulicht auf je eine der beiden Blenden fokussiert wird
EP2957893A1 (de) * 2014-06-17 2015-12-23 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Streulichtmesssystem unter Ausnutzung der Linsenwirkung einer zylindrischen Küvette
EP2957892A1 (de) * 2014-06-17 2015-12-23 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Photometriesystem und Verfahren zur Positionsbestimmung

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3310680A (en) * 1964-03-06 1967-03-21 Hasegawa Toshitsune Photosensitive concentration measuring apparatus for colloidal solutions
JPS5694245A (en) * 1979-12-28 1981-07-30 Chugai Pharmaceut Co Ltd Quantitative apparatus for determining reaction product of antigen antibody utilizing laser light
US4343552A (en) * 1979-12-28 1982-08-10 Purecycle Corporation Nephelometer
JPS5896234A (ja) * 1981-12-03 1983-06-08 Daicel Chem Ind Ltd 漏血検出方法及びその装置
JPS5960323A (ja) * 1982-09-30 1984-04-06 Toshiba Corp 測光装置
JPS61286758A (ja) * 1985-06-13 1986-12-17 Toshiba Corp 自動化学分析装置
JPS626142A (ja) * 1985-05-08 1987-01-13 イ−・アイ・デユポン・ドウ・ヌム−ル・アンド・カンパニ− 吸光度，濁り、螢光性、比濁測定用のフオトメ−タ
JPH01162130A (ja) * 1987-12-19 1989-06-26 Fujitsu Ltd 流体中に含まれるパーティクル検出装置
US5294796A (en) * 1992-03-02 1994-03-15 Aerojet-General Corporation Remote vapor detection system and method thereof
JPH07270314A (ja) * 1994-03-29 1995-10-20 Kubota Corp 濁度検知方法及びその装置
JPH07294429A (ja) * 1994-04-27 1995-11-10 Aretsuku Denshi Kk 濁度計及び濁色度計

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1296828B (de) * 1963-02-18 1969-06-04 Toa Tokushu Denki Kabushiki Ka Geraet zur Messung der Konzentration eines Kolloids
US3786261A (en) * 1971-10-12 1974-01-15 Coulter Electronics Optical scanning device
US3787124A (en) * 1972-09-21 1974-01-22 Baxter Laboratories Inc Dual wavelength photometer for absorbance difference measurements
US3804535A (en) * 1972-10-13 1974-04-16 Baxter Laboratories Inc Dual wavelength photometer response circuit
GB2040443B (en) * 1978-12-07 1983-01-12 English Electric Co Ltd Optical particle size analyser
US4482247A (en) * 1982-05-10 1984-11-13 United Technologies Corporation Forward scattering laser particulate sensor
US4730922A (en) * 1985-05-08 1988-03-15 E. I. Du Pont De Nemours And Company Absorbance, turbidimetric, fluorescence and nephelometric photometer
DE3630292C1 (en) * 1986-09-05 1988-02-11 Suck Thomas Adolf Scattered light photometer
US4842406A (en) 1988-01-15 1989-06-27 Pacific Scientific Company Optical instruments for measuring particle sizes
US5298968A (en) * 1989-09-05 1994-03-29 The University Of Akron Combined optical train for laser spectroscopy
US5262841A (en) * 1991-10-16 1993-11-16 Tsi Incorporated Vacuum particle detector

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3310680A (en) * 1964-03-06 1967-03-21 Hasegawa Toshitsune Photosensitive concentration measuring apparatus for colloidal solutions
JPS5694245A (en) * 1979-12-28 1981-07-30 Chugai Pharmaceut Co Ltd Quantitative apparatus for determining reaction product of antigen antibody utilizing laser light
US4343552A (en) * 1979-12-28 1982-08-10 Purecycle Corporation Nephelometer
JPS5896234A (ja) * 1981-12-03 1983-06-08 Daicel Chem Ind Ltd 漏血検出方法及びその装置
JPS5960323A (ja) * 1982-09-30 1984-04-06 Toshiba Corp 測光装置
JPS626142A (ja) * 1985-05-08 1987-01-13 イ−・アイ・デユポン・ドウ・ヌム−ル・アンド・カンパニ− 吸光度，濁り、螢光性、比濁測定用のフオトメ−タ
JPS61286758A (ja) * 1985-06-13 1986-12-17 Toshiba Corp 自動化学分析装置
JPH01162130A (ja) * 1987-12-19 1989-06-26 Fujitsu Ltd 流体中に含まれるパーティクル検出装置
US5294796A (en) * 1992-03-02 1994-03-15 Aerojet-General Corporation Remote vapor detection system and method thereof
JPH07270314A (ja) * 1994-03-29 1995-10-20 Kubota Corp 濁度検知方法及びその装置
JPH07294429A (ja) * 1994-04-27 1995-11-10 Aretsuku Denshi Kk 濁度計及び濁色度計

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001141654A (ja) * 1999-10-08 2001-05-25 Dade Behring Marburg Gmbh 分光光度・比濁検出ユニット
JP2016004042A (ja) * 2014-06-17 2016-01-12 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 測定セル用のレセプタクル装置を含む散乱光測定システムおよびその操作方法
JP2016061790A (ja) * 2014-09-18 2016-04-25 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 検体の比濁分析決定（ｎｅｐｈｅｌｏｍｅｔｒｉｃｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）を行う方法
CN106442429A (zh) * 2016-11-14 2017-02-22 宜兴市晶科光学仪器有限公司 一种用于尿液检测的浊度管

Also Published As

Publication number Publication date
CA2287619A1 (en) 2000-04-28
DE19849597A1 (de) 2000-05-04
CA2287619C (en) 2012-04-03
US7050167B2 (en) 2006-05-23
EP0997726A3 (de) 2002-06-19
US20040075838A1 (en) 2004-04-22
JP4763868B2 (ja) 2011-08-31
EP0997726A2 (de) 2000-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4791625B2 (ja) 分光光度・比濁検出ユニット
JP3524419B2 (ja) 吸光度測定装置
JPS63286750A (ja) 検出器組立体
JP2003527558A (ja) マイクロプレート走査読取りヘッド
JP4092037B2 (ja) 物質同定装置
JP4763868B2 (ja) 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット
JP2008008794A (ja) 分析装置
CA2205484A1 (en) Apparatus for analysing blood and other samples
US5380490A (en) Apparatus for measuring a test specimen
US5120979A (en) Apparatus and method for analysis of a sample medium in a gap between a tube and a float
US5126581A (en) Particle measurement method and apparatus for determining corrected particle diameter
DE10208707A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur beschleunigten Stabilitätsanalyse
JP2002529699A (ja) Ｘ線光学基準チャネルを有するｘ線回折装置
JP2005049109A (ja) 化学分析装置
US10684228B2 (en) System and method of nephelometric determination of an analyte
RU2137114C1 (ru) Способ малоугловой интроскопии и устройства для его осуществления (варианты)
JP2013024746A (ja) 自動分析装置
US5982485A (en) Determination of interface adsorption
SU819641A1 (ru) Устройство дл автоматическогоАНАлизА гАзОВыХ пРОб
RU2067021C1 (ru) Устройство для контроля равномерности перемешивания смеси сыпучих материалов
CN117396748A (zh) 测光装置和分析装置
SU911265A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа
GB2165941A (en) Gas analyser
JPS6353457A (ja) 二次元走査型状態分析装置
CN117169170A (zh) 一种高精度特定蛋白分析仪检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060814

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090310

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090610

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090615

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090901

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090901

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090901

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091006

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091216

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100813

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100907

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20101207

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20101210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110119

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110517

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110610

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140617

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4763868

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term