JP2000121689A - Capacitive load driving unit and inspecting method and inspecting device therefor - Google Patents

Capacitive load driving unit and inspecting method and inspecting device therefor

Info

Publication number
JP2000121689A
JP2000121689A JP21707499A JP21707499A JP2000121689A JP 2000121689 A JP2000121689 A JP 2000121689A JP 21707499 A JP21707499 A JP 21707499A JP 21707499 A JP21707499 A JP 21707499A JP 2000121689 A JP2000121689 A JP 2000121689A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitive load
capacitive
drive
waveform
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP21707499A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3637246B2 (en
Inventor
Noboru Nitta
昇 仁田
Shunichi Ono
俊一 小野
Jun Takamura
純 高村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba TEC Corp
Original Assignee
Toshiba TEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba TEC Corp filed Critical Toshiba TEC Corp
Priority to JP21707499A priority Critical patent/JP3637246B2/en
Publication of JP2000121689A publication Critical patent/JP2000121689A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3637246B2 publication Critical patent/JP3637246B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ink Jet (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately determine the quality of a unit without influence of a capacitor in inspection, and function the capacitor to supply instantaneous current after the end of inspection. SOLUTION: A head unit 11 is formed by an ink jet print head 12 which uses a piezoelectric member and adapted to discharge ink by distortion deformation of the piezoelectric member by voltage application, a driving circuit 13 for driving the print head, and a series circuit of a capacitor 14 connected between driving power supply lines Vcc, Vss to the driving circuit for supplying instantaneous current at the time of driving the head, and a select means 15 selectively connected between the driving power supply lines Vcc and Vss. In inspection, the capacitor 14 is separated from the circuit by the select means, and a current waveform flowing through the driving power supply line Vcc outside the head unit 11 is detected by the current probe 211 of an oscilloscope 21 to be displayed on the screen. After the end of inspection, the capacitor 14 is connected to the circuit by the select means.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の容量性素子
から成る容量性負荷とこの容量性負荷を駆動する駆動回
路とを一体化した容量性負荷駆動ユニット及びこのユニ
ットの検査方向並びに検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a capacitive load drive unit in which a capacitive load composed of a plurality of capacitive elements and a drive circuit for driving the capacitive load are integrated, a test direction of the unit and a test apparatus. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、圧電部材の両面に電極を添設
し、この各電極間に電圧を印加することで圧電部材に歪
みを起してインク室内に圧力変化を与えインク室のイン
ク吐出口からインク滴を吐出させるタイプのインジェッ
トプリントヘッドが知られているが、この種のインクジ
ェットプリントヘッドは等価回路で表わすと複数の容量
性素子を接続した容量性負荷と見なすことができる。
2. Description of the Related Art For example, electrodes are provided on both sides of a piezoelectric member, and when a voltage is applied between the electrodes, the piezoelectric member is distorted to cause a pressure change in the ink chamber to provide an ink discharge port of the ink chamber. An ink jet print head of a type that ejects ink droplets from an inkjet print head is known, but this type of ink jet print head can be regarded as a capacitive load in which a plurality of capacitive elements are connected in an equivalent circuit.

【0003】例えば、図21は1つの容量性素子に対す
る駆動回路の等価回路を示す例で、駆動電源と駆動回路
グランドとの間に2つのトランジスタTr1,Tr2との直
列回路を接続し、その各トランジスタTr1,Tr2の接続
点を圧電素子からなる印字ヘッドHを介してヘッドグラ
ンドに接続している。そして、各トランジスタTr1,T
r2をレベル変換器Lからの電圧信号により交互にオン、
オフ動作し、トランジスタTr1がオン、トランジスタT
r2がオフのときには駆動電源からトランジスタTr1を介
して印字ヘッドHに充電電流が流れてその印字ヘッドH
に電荷を充電し、逆にトランジスタTr2がオン、トラン
ジスタTr1がオフのときには印字ヘッドHの充電電荷が
トランジスタTr2、駆動回路グランド、ヘッドグランド
を介して放電し、この動作により印字ヘッドHの圧電素
子が変形動作を行うことになる。
For example, FIG. 21 shows an example of an equivalent circuit of a drive circuit for one capacitive element. A series circuit of two transistors Tr1 and Tr2 is connected between a drive power supply and a drive circuit ground, and each of the series circuits is connected. A connection point between the transistors Tr1 and Tr2 is connected to a head ground via a print head H composed of a piezoelectric element. Then, each transistor Tr1, T
r2 is alternately turned on by the voltage signal from the level converter L,
The transistor Tr1 is turned on and the transistor T1 is turned off.
When r2 is off, a charging current flows from the driving power supply to the print head H via the transistor Tr1, and the print head H
When the transistor Tr2 is turned on and the transistor Tr1 is turned off, the charged charge of the print head H is discharged via the transistor Tr2, the drive circuit ground, and the head ground, and this operation causes the piezoelectric element of the print head H to be charged. Performs the deformation operation.

【0004】ところで、製造工程においてインクジェッ
トプリントヘッドに駆動回路を接続しヘッドユニットと
して一体化する場合に、ヘッドと駆動回路との接続状態
等を検査してヘッドユニットの良品、不良品を判別する
必要がある。しかし、ヘッドと駆動回路との間を接続す
る信号線の数は100〜3000本程度と多く、また、
各信号線は極めて細く、しかも各信号線間のピッチが5
0〜200μm程度と極めて狭いため、例えば、各信号
線に順次プローブを当てて電流や電圧の状態を検査する
ことは不可能に近い。
When a drive circuit is connected to an ink jet print head in a manufacturing process and integrated as a head unit, it is necessary to inspect the connection state and the like between the head and the drive circuit to determine a good or defective head unit. There is. However, the number of signal lines connecting between the head and the drive circuit is as large as about 100 to 3000, and
Each signal line is extremely thin, and the pitch between each signal line is 5
Since it is extremely narrow, about 0 to 200 μm, for example, it is almost impossible to inspect current and voltage states by sequentially applying probes to each signal line.

【0005】このようなことから、特開平10−863
58号公報に記載したものは、図22に示すように、ユ
ニットインターフェース1、駆動回路2及び印字ヘッド
3で印字ヘッドユニット4を形成し、駆動回路2からの
駆動回路グランド5と印字ヘッド3からのヘッドグラン
ド6との間に溶解により両グランド5,6間を短絡する
ソルダーポイント7を設け、このソルダーポイント7を
非接続状態として印字ヘッド3−ヘッドグランド6間の
電流波形を電流プローブ8で検出し、この電流波形を電
流−電圧変換器で電圧波形に変換し、さらに積分装置で
積分して波形記録装置に供給し、この波形記録装置で波
形を記録し、この記録した波形を正常時の波形と比較し
てヘッドユニット4の良否を判定している。そして、検
査が終了するとソルダーポイント7を溶解して短絡し、
印字ヘッド3の充放電電流がヘッドユニット外に流れな
いようにしている。
In view of the above, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-863
No. 58, as shown in FIG. 22, a print head unit 4 is formed by a unit interface 1, a drive circuit 2 and a print head 3, and a drive circuit ground 5 from the drive circuit 2 and a print head 3 A solder point 7 for short-circuiting the two grounds 5 and 6 by dissolution between the head ground 6 and the head ground 6 is provided. With the solder point 7 disconnected, the current waveform between the print head 3 and the head ground 6 is measured by the current probe 8. The current waveform is detected, converted into a voltage waveform by a current-voltage converter, further integrated by an integrator and supplied to a waveform recording device, and the waveform is recorded by the waveform recording device. The quality of the head unit 4 is determined by comparing the waveforms of FIG. When the inspection is completed, the solder point 7 is melted and short-circuited,
The charge / discharge current of the print head 3 is prevented from flowing outside the head unit.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、複数の容量
性素子を接続した容量性負荷である印字ヘッドとこれを
駆動する駆動回路を一体化したヘッドユニットに対して
電源を供給する場合、比較的長いケーブルを介して供給
が行われるため、ケーブルのインダクタンス成分がヘッ
ドユニットへの電源供給に大きな影響を及ぼす。すなわ
ち、印字ヘッドを高速で駆動する場合には電源電流の高
速な供給が要求されるが、ケーブルのインダクタンス成
分による遅れが生じるため、電源電流の供給が追従でき
なくなる。このようなことから、駆動回路への電源の供
給ラインにバイパス用のコンデンサを設け、印字ヘッド
の高速駆動に対してこのコンデンサから駆動回路に瞬時
に電流を供給する必要がある。しかも、このコンデンサ
はインダクタンス成分の影響をほとんど受けないように
するために駆動回路に近接して配置する必要がある。す
なわち、コンデンサをヘッドユニット内に一体に組込む
必要がある。
In the case where power is supplied to a head unit that integrates a print head, which is a capacitive load connected to a plurality of capacitive elements, and a drive circuit for driving the print head, a relatively large amount of power is supplied. Since the power is supplied through a long cable, the inductance component of the cable has a great influence on the power supply to the head unit. That is, when the print head is driven at a high speed, a high-speed supply of the power supply current is required. However, the supply of the power supply current cannot be followed because a delay occurs due to the inductance component of the cable. For this reason, it is necessary to provide a bypass capacitor in the power supply line to the drive circuit, and to supply current to the drive circuit instantaneously from this capacitor for high-speed drive of the print head. In addition, this capacitor needs to be arranged close to the drive circuit so as to be hardly affected by the inductance component. That is, it is necessary to integrally incorporate the capacitor in the head unit.

【0007】このように、ヘッドユニット内にコンデン
サを組込んだ場合、前述した公報のように駆動回路から
の駆動回路グランドと印字ヘッドからのヘッドグランド
との間を切離して印字ヘッド−ヘッドグランド間の電流
波形を検出するものでは、コンデンサの影響を受けてし
まい正しい電流波形の検出ができなくなり、結果として
ヘッドユニットの良否判定を正確にできなくなるという
問題があった。
As described above, when the capacitor is incorporated in the head unit, the drive circuit ground from the drive circuit and the head ground from the print head are separated from each other as described in the above-mentioned publication, so that the print head and the head ground are separated. In the case of detecting the current waveform, there is a problem that the influence of the capacitor makes it impossible to detect a correct current waveform, and as a result, the quality of the head unit cannot be accurately determined.

【0008】そこで、請求項1乃至6記載の発明は、容
量性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時電流を供
給するためのコンデンサをユニットとして組込んだもの
において、検査時にはコンデンサの影響を受けずにユニ
ットの良否判定が正確にでき、しかも、検査終了後には
コンデンサを瞬時電流の供給用として機能させることが
できる容量性負荷駆動ユニットを提供する。
Therefore, the inventions according to the first to sixth aspects of the present invention incorporate a capacitive load, a drive circuit and a capacitor for supplying an instantaneous current to the capacitive load as a unit. Provided is a capacitive load drive unit capable of accurately determining the quality of a unit without receiving the same, and further allowing a capacitor to function as an instantaneous current supply after completion of an inspection.

【0009】また、請求項7乃至9記載の発明は、容量
性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時電流を供給
するためのコンデンサを組込んだ容量性負荷駆動ユニッ
トに対して、コンデンサの影響を受けずにユニットの良
否判定の検査を正確にできる容量性負荷駆動ユニットの
検査方法を提供する。
The invention according to claims 7 to 9 provides a capacitive load drive unit incorporating a capacitive load and a capacitor for supplying an instantaneous current to the drive circuit and the capacitive load. Provided is a method of inspecting a capacitive load drive unit that can accurately inspect the quality of a unit without being affected.

【0010】また、請求項10乃至15記載の発明は、
容量性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時電流を
供給するためのコンデンサを組込んだ容量性負荷駆動ユ
ニットに対して、コンデンサの影響を受けずにユニット
の良否判定の検査を電流波形により正確かつ容易にでき
る容量性負荷駆動ユニットの検査装置を提供する。
Further, the invention according to claims 10 to 15 is:
For a capacitive load drive unit that incorporates a capacitive load and a capacitor for supplying instantaneous current to the drive circuit and the capacitive load, a test of the unit's pass / fail judgment is performed by the current waveform without being affected by the capacitor. Provided is an accurate and easy inspection apparatus for a capacitive load drive unit.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
複数の容量性素子から成る容量性負荷と、この容量性負
荷を駆動する駆動回路と、この駆動回路への駆動電源供
給ライン間に接続した、容量性負荷に瞬時電流を供給す
るためのコンデンサとこのコンデンサを駆動電源供給ラ
イン間に接続するか否かを選択する選択手段との直列回
路によって構成した容量性負荷駆動ユニットにある。
According to the first aspect of the present invention,
A capacitive load composed of a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitor connected between a drive power supply line for the drive circuit and for supplying an instantaneous current to the capacitive load. The capacitive load driving unit is constituted by a series circuit with a selecting means for selecting whether or not this capacitor is connected between the driving power supply lines.

【0012】請求項2記載の発明は、請求項1記載の容
量性負荷駆動ユニットにおいて、選択手段を開閉スイッ
チで構成したものである。請求項3記載の発明は、請求
項1記載の容量性負荷駆動ユニットにおいて、選択手段
をオープン端子を備えたコネクタとこのコネクタのオー
プン端子を短絡するショートプラグで構成したものであ
る。請求項4記載の発明は、請求項1記載の容量性負荷
駆動ユニットにおいて、選択手段をハンダで短絡する回
路パターンのオープン端子で構成したものである。請求
項5記載の発明は、請求項1記載の容量性負荷駆動ユニ
ットにおいて、選択手段をジャンパー素子で短絡する回
路パターンのオープン端子で構成したものである。
According to a second aspect of the present invention, in the capacitive load driving unit according to the first aspect, the selecting means is constituted by an open / close switch. According to a third aspect of the present invention, in the capacitive load driving unit according to the first aspect, the selecting means is constituted by a connector having an open terminal and a short plug for short-circuiting the open terminal of the connector. According to a fourth aspect of the present invention, in the capacitive load driving unit according to the first aspect, the selection means is constituted by an open terminal of a circuit pattern short-circuited by solder. According to a fifth aspect of the present invention, in the capacitive load driving unit according to the first aspect, the selecting means is constituted by an open terminal of a circuit pattern short-circuited by a jumper element.

【0013】請求項6記載の発明は、複数の容量性素子
から成る容量性負荷と、この容量性負荷を駆動する駆動
回路と、容量性負荷に瞬時電流を供給するためのコンデ
ンサと、駆動回路を制御する制御回路をその駆動回路に
接続するために使用するケーブルが接続される複数の接
続端子を備えたコネクタとを備え、コネクタに接続する
ケーブルの種類によりコンデンサをコネクタの所定の接
続端子を介して駆動回路の駆動電源供給ライン間に接続
するか切り離すかを選択する容量性負荷駆動ユニットに
ある。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, a capacitor for supplying an instantaneous current to the capacitive load, and a drive circuit. A connector having a plurality of connection terminals to which a cable used to connect a control circuit for controlling the drive circuit to the drive circuit is provided, and a capacitor is connected to a predetermined connection terminal of the connector according to the type of cable connected to the connector. And a capacitive load driving unit for selecting connection or disconnection between the driving power supply lines of the driving circuit via the driving circuit.

【0014】請求項7記載の発明は、複数の容量性素子
から成る容量性負荷、この容量性負荷を駆動する駆動回
路、及びこの駆動回路への駆動電源供給ライン間に接続
して容量性負荷に瞬時電流を供給するコンデンサによっ
て構成した容量性負荷駆動ユニットに対し、コンデンサ
を駆動電源供給ライン間に非接続状態にした状態で駆動
回路により容量性負荷の各容量性素子を順次駆動すると
ともにその時の駆動電源供給ラインに流れる電源電流若
しくは電圧変動を検出して容量性素子駆動ユニットの良
否を判定する容量性負荷駆動ユニットの検査方法にあ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load connected between drive power supply lines to the drive circuit. For each capacitive load drive unit composed of a capacitor that supplies instantaneous current to the drive circuit, each capacitive element of the capacitive load is sequentially driven by the drive circuit with the capacitor disconnected from the drive power supply line. The present invention relates to a method of inspecting a capacitive load driving unit which detects a power supply current or a voltage fluctuation flowing through a driving power supply line to determine the quality of a capacitive element driving unit.

【0015】請求項8記載の発明は、複数の容量性素子
から成る容量性負荷、この容量性負荷を駆動する駆動回
路、及びこの駆動回路への駆動電源供給ライン間に接続
して容量性負荷に瞬時電流を供給するコンデンサによっ
て構成した容量性負荷駆動ユニットに対し、コンデンサ
を駆動電源供給ライン間に非接続状態にした状態で駆動
回路により容量性負荷の各容量性素子を順次駆動すると
ともにその駆動タイミングに同期して駆動電源の電流波
形若しくは電圧変動波形を重ねて記録し、この重ねて記
録した電流波形若しくは電圧変動波形が予め定めた範囲
内にあるか否かにより容量性素子駆動ユニットの良否を
判定する容量性負荷駆動ユニットの検査方法にある。
According to a further aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load connected between drive power supply lines to the drive circuit. The drive circuit sequentially drives each capacitive element of the capacitive load with the capacitor disconnected from the drive power supply line for the capacitive load drive unit composed of a capacitor that supplies instantaneous current to the capacitor. The current waveform or the voltage fluctuation waveform of the driving power supply is superimposed and recorded in synchronization with the driving timing, and the current and the voltage fluctuation waveform superimposed and recorded are determined by whether or not the waveform is within a predetermined range. An inspection method of a capacitive load drive unit for determining pass / fail.

【0016】請求項9記載の発明は、複数の容量性素子
から成る容量性負荷、この容量性負荷を駆動する駆動回
路、及びこの駆動回路への駆動電源供給ライン間に接続
して容量性負荷に瞬時電流を供給するコンデンサによっ
て構成した容量性負荷駆動ユニットに対し、コンデンサ
を駆動電源供給ライン間に非接続状態にした状態で駆動
回路により容量性負荷の各容量性素子を順次駆動すると
ともにその駆動タイミングに同期して駆動電源の電流波
形若しくは電圧変動波形をオシロスコープに重ねて表示
し、この重ねて表示した電流波形若しくは電圧変動波形
の表示残像が予め定めた範囲内にあるか否かにより容量
性素子駆動ユニットの良否を判定する容量性負荷駆動ユ
ニットの検査方法にある。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load connected between drive power supply lines to the drive circuit. The drive circuit sequentially drives each capacitive element of the capacitive load with the capacitor disconnected from the drive power supply line for the capacitive load drive unit composed of a capacitor that supplies instantaneous current to the capacitor. The current waveform or voltage fluctuation waveform of the driving power supply is displayed on the oscilloscope in synchronization with the drive timing, and the capacitance is determined by whether or not the display afterimage of the superimposed current waveform or voltage fluctuation waveform is within a predetermined range. The present invention is directed to a method of inspecting a capacitive load drive unit for determining the quality of a capacitive element drive unit.

【0017】請求項10記載の発明は、複数の容量性素
子から成る容量性負荷、この容量性負荷を駆動する駆動
回路、及びこの駆動回路への駆動電源供給ライン間に接
続して容量性負荷に瞬時電流を供給するコンデンサによ
って構成した容量性負荷駆動ユニットに対し、コンデン
サを駆動電源供給ライン間に非接続状態にした状態で駆
動回路に容量性負荷の各容量性素子を順次駆動する信号
を与える制御手段と、各容量性素子を順次駆動する時の
駆動タイミングに同期して駆動電源の電流若しくは電圧
変動を検出する検出手段と、この検出手段の検出波形を
記録する波形記録手段とを備え、波形記録手段が記録し
た検出波形から容量性負荷駆動ユニットの良否検査を行
う容量性負荷駆動ユニットの検査装置にある。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load connected between a drive power supply line to the drive circuit. To the capacitive load drive unit composed of capacitors that supply instantaneous current to the drive circuit while the capacitors are disconnected between the drive power supply lines. Control means for supplying the current, voltage detecting means for detecting a current or voltage fluctuation of a driving power supply in synchronization with a driving timing when each capacitive element is sequentially driven, and waveform recording means for recording a detected waveform of the detecting means. A capacitive load driving unit inspection apparatus for inspecting the quality of the capacitive load driving unit from the detected waveform recorded by the waveform recording means.

【0018】請求項11記載の発明は、請求項10記載
の容量性負荷駆動ユニットの検査装置において、波形記
録手段をオシロスコープで構成し、各容量性素子の駆動
開始に同期した信号をトリガ信号として取込み、このト
リガ信号の入力を起点に検出手段が検出する検出波形を
画面に表示するものである。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a capacitive load driving unit according to the tenth aspect, the waveform recording means is constituted by an oscilloscope, and a signal synchronized with the start of driving of each capacitive element is used as a trigger signal. The detected waveform is detected on the screen starting from the input of the trigger signal and detected by the detecting means.

【0019】請求項12記載の発明は、請求項11記載
の容量性負荷駆動ユニットの検査装置において、制御手
段は駆動回路に容量性負荷の各容量性素子を順次駆動す
る信号を全容量性素子に対して繰返し与え、オシロスコ
ープの画面に検出手段が検出する検出波形を重ねかつ繰
返し表示するものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a capacitive load driving unit according to the eleventh aspect, the control means transmits a signal for sequentially driving each capacitive element of the capacitive load to the drive circuit by the all capacitive elements. , And the detected waveform detected by the detecting means is superimposed and displayed repeatedly on the screen of the oscilloscope.

【0020】請求項13記載の発明は、請求項10記載
の容量性負荷駆動ユニットの検査装置において、波形記
録手段をデジタルストレージ式のオシロスコープで構成
し、制御手段は駆動回路に容量性負荷の各容量性素子を
順次駆動する信号をそれぞれ1回ずつ与え、この信号供
給が終了すると表示手段に検査終了表示を行わせ、オシ
ロスコープは、画面に検出手段が検出する検出波形を重
ねて表示するものである。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a capacitive load driving unit according to the tenth aspect, the waveform recording means is constituted by an oscilloscope of a digital storage type, and the control means includes a driving circuit for each of the capacitive loads. A signal for sequentially driving the capacitive elements is given once each, and when the supply of the signal is completed, the display means is made to perform an inspection end display. The oscilloscope displays the detection waveform detected by the detection means in a superimposed manner on a screen. is there.

【0021】請求項14記載の発明は、複数の容量性素
子から成る容量性負荷、この容量性負荷を駆動する駆動
回路、及びこの駆動回路への駆動電源供給ライン間に接
続して容量性負荷に瞬時電流を供給するコンデンサによ
って構成した容量性負荷駆動ユニットに対し、コンデン
サを駆動電源供給ライン間に非接続状態にした状態で駆
動回路により容量性負荷の各容量性素子を順次駆動する
信号を与える手段と、各容量性素子の駆動タイミングに
同期して駆動電源の電流波形若しくは電圧変動波形を重
ねて記録する波形記録手段とを備え、波形記録手段が重
ねて記録した電流波形若しくは電圧変動波形が予め定め
た範囲内にあるか否かにより容量性素子駆動ユニットの
良否を判定する容量性負荷駆動ユニットの検査装置にあ
る。
According to a fourteenth aspect of the present invention, there is provided a capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load connected between drive power supply lines to the drive circuit. Signal to drive each capacitive element of the capacitive load by the drive circuit with the capacitor disconnected from the drive power supply line. And a waveform recording means for superimposing and recording a current waveform or a voltage fluctuation waveform of a drive power supply in synchronization with the drive timing of each capacitive element, wherein the waveform recording means superimposes and records a current waveform or a voltage fluctuation waveform. Is in the inspection apparatus for the capacitive load drive unit, which determines whether the capacitive element drive unit is good or not based on whether or not is within a predetermined range.

【0022】請求項15記載の発明は、請求項14記載
の容量性負荷駆動ユニットの検査装置において、波形記
録手段をオシロスロープで構成し、このオシロスコープ
の画面上に駆動電源の電流波形若しくは電圧変動波形を
重ねて表示し、この重ねて表示した電流波形若しくは電
圧変動波形の表示残像が予め定めた範囲内にあるか否か
により容量性素子駆動ユニットの良否を判定することに
ある。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the inspection apparatus for a capacitive load driving unit according to the fourteenth aspect, the waveform recording means is constituted by an oscilloscope, and the current waveform or voltage fluctuation of the driving power supply is displayed on the screen of the oscilloscope. Waveforms are displayed in a superimposed manner, and the quality of the capacitive element drive unit is determined based on whether or not a display afterimage of the superimposed and displayed current waveform or voltage fluctuation waveform is within a predetermined range.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。図1において、11は、容量性負荷とし
ての圧電部材を使用したインクジェットプリントヘッド
12、このプリントヘッド12に接続した駆動回路13
及びこの駆動回路13を介して前記プリントヘッド12
に瞬時電流を供給するためのコンデンサ14とこのコン
デンサ14を駆動電源供給ラインVcc、Vss間に選択的
に接続する選択手段15との直列回路を設けた容量性負
荷ユニットとしてのヘッドユニットである。前記コンデ
ンサ14は駆動電源のバイパス用として機能するもので
ある。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes an inkjet print head 12 using a piezoelectric member as a capacitive load, and a driving circuit 13 connected to the print head 12.
And the print head 12 via the drive circuit 13.
A head unit as a capacitive load unit provided with a series circuit of a capacitor 14 for supplying an instantaneous current to the power supply line and a selecting means 15 for selectively connecting the capacitor 14 between driving power supply lines Vcc and Vss. The capacitor 14 functions as a drive power supply bypass.

【0024】前記インクジェットプリントヘッド12
は、ライン方向に多数のインク室を並べたタイプのヘッ
ドで、各インク室のインクを電圧印加による圧電部材の
歪み変形動作によりインク室内に圧力変化を与えて吐出
するようになっている。従って、各インク室を構成する
圧電部材には電極が添設され、等価回路で見た場合、容
量性素子として表わすことができる。
The ink jet print head 12
Is a type of head in which a large number of ink chambers are arranged in a line direction, and the ink in each ink chamber is ejected by applying a pressure change to the ink chamber by a distortion deformation operation of a piezoelectric member by applying a voltage. Therefore, the electrodes are attached to the piezoelectric members constituting the respective ink chambers, and can be represented as capacitive elements when viewed from an equivalent circuit.

【0025】前記プリントヘッド12と駆動回路13と
の接続は、TABやワイヤボンディング等で行われ、接
続線数が100〜3000程度で、各線のピッチが50
〜200μm程度になっている。前記ヘッドユニット1
1にはコネクタ16が設けられ、このコネクタ16と前
記駆動回路13との間に前記駆動電源供給ラインVcc、
Vss、イネーブル、ラッチ、データ、シフトクロックの
各信号ライン、5V電源供給ラインVdd、Vssが配線さ
れている。
The connection between the print head 12 and the drive circuit 13 is made by TAB, wire bonding, or the like. The number of connection lines is about 100 to 3000, and the pitch of each line is 50.
It is about 200 μm. The head unit 1
1 is provided with a connector 16, and the drive power supply line Vcc, between the connector 16 and the drive circuit 13.
Vss, enable, latch, data, and shift clock signal lines, and 5 V power supply lines Vdd and Vss are wired.

【0026】前記ヘッドユニット11はコネクタ16に
より検査装置に対して着脱自在になっており、検査装置
には、定電圧電源17、制御回路18及び5V電源19
が設けられている。そして前記定電圧電源17に、前記
コネクタ16を介してヘッドユニット11内の駆動電源
供給ラインVcc、Vssを接続し、前記制御回路18に前
記コネクタ16を介してヘッドユニット11内の各信号
ラインを接続し、前記5V電源19に前記コネクタ16
を介してヘッドユニット11内の5V電源供給ラインV
dd、Vssを接続している。なお、前記5V電源19には
前記制御回路18も接続している。そして、前記定電圧
電源17とコネクタ16との間の駆動電源供給ラインV
cc、Vss間に前記コンデンサ14と略同程度の容量を持
つコンデンサ20を接続している。
The head unit 11 is detachably attached to an inspection device by a connector 16. The inspection device includes a constant voltage power supply 17, a control circuit 18, and a 5V power supply 19.
Is provided. Drive power supply lines Vcc and Vss in the head unit 11 are connected to the constant voltage power supply 17 via the connector 16, and each signal line in the head unit 11 is connected to the control circuit 18 via the connector 16. Connect the 5V power supply 19 to the connector 16
5V power supply line V in the head unit 11 through the
dd and Vss are connected. The control circuit 18 is also connected to the 5V power supply 19. A drive power supply line V between the constant voltage power supply 17 and the connector 16 is provided.
A capacitor 20 having approximately the same capacity as the capacitor 14 is connected between cc and Vss.

【0027】図2は前記駆動回路13の構成を示す図
で、バッファ131、ゲート回路132、ラッチ回路1
33、シフトレジスタ134からなり、前記シフトレジ
スタ134に対して前記制御回路18からのデータをシ
フトクロックに同期して順次シフトしながら格納するよ
うになっている。そして、前記シフトレジスタ134に
対して前記プリントヘッド12を駆動する一連のデータ
が格納されると、前記ラッチ回路133に制御回路18
からラッチ信号が入力してシフトレジスタ134のデー
タをラッチ回路133にラッチするようになっている。
その後、制御回路18からのイネーブルがアクティブに
なると前記ゲート回路132が動作しラッチ回路133
がラッチしているデータが前記バッファ131に供給さ
れ、プリントヘッド12の各インク室を構成している容
量性素子にデータに基づいて駆動電圧が印加されるよう
になっている。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the drive circuit 13, wherein a buffer 131, a gate circuit 132, a latch circuit 1
33, a shift register 134 for storing data from the control circuit 18 in the shift register 134 while sequentially shifting the data in synchronization with a shift clock. When a series of data for driving the print head 12 is stored in the shift register 134, the control circuit 18
, A latch signal is input to the latch circuit 133 to latch the data in the shift register 134.
Thereafter, when the enable from the control circuit 18 becomes active, the gate circuit 132 operates and the latch circuit 133 is activated.
Is supplied to the buffer 131, and a driving voltage is applied to the capacitive elements constituting each ink chamber of the print head 12 based on the data.

【0028】前記定電圧電源17とコネクタ16とに接
続した駆動電源供給ラインVccにおけるコンデンサ20
とコネクタ16との間には電流波形記録手段としてのオ
シロスコープ21の電流プローブ211が配置されてい
る。また、前記オシロスコープ21の電圧プローブ21
2をイネーブル信号ラインと5V電源供給ラインVssと
の間に接続している。これにより、前記オシロスコープ
21は、イネーブル信号をトリガーとして駆動電源供給
ラインVccに流れる電流波形を検出し、その電流波形を
表示画面上に表示するようになっている。
The capacitor 20 in the drive power supply line Vcc connected to the constant voltage power supply 17 and the connector 16
A current probe 211 of an oscilloscope 21 as current waveform recording means is disposed between the power probe 211 and the connector 16. The voltage probe 21 of the oscilloscope 21
2 is connected between the enable signal line and the 5V power supply line Vss. Thus, the oscilloscope 21 detects a current waveform flowing through the drive power supply line Vcc with the enable signal as a trigger, and displays the current waveform on the display screen.

【0029】前記ヘッドユニット11は駆動時に大きな
パルス電流が流れるので、駆動回路13の近傍にコンデ
ンサ14を接続する必要があり、このコンデンサ14が
なければ同時に複数の容量性素子が動作した時には駆動
電源供給ラインVcc、Vssのインピーダンスによって電
圧降下が生じて動作に支障を来し、また、この急激な電
圧降下により不要な高周波電波が発生するという問題が
生じる。従って、前記ヘッドユニット11をプリンタに
組込んで実際に使用する場合には前記選択手段15を閉
成状態にする。
Since a large pulse current flows in the head unit 11 during driving, it is necessary to connect a capacitor 14 in the vicinity of the driving circuit 13. If the capacitor 14 does not exist, a driving power supply is used when a plurality of capacitive elements operate simultaneously. A voltage drop occurs due to the impedance of the supply lines Vcc and Vss, which hinders operation, and an unnecessary high-frequency radio wave is generated due to the sudden voltage drop. Therefore, when the head unit 11 is incorporated in a printer and actually used, the selecting means 15 is closed.

【0030】一方、ヘッドユニット11の検査時におい
て、前記オシロスコープ21の電流プローブ211で駆
動電源供給ラインVccに流れる電流波形を検出する場合
は、コンデンサ14が駆動電源供給ラインVcc、Vss間
に接続されていると、電流がこのコンデンサ14により
ほとんど吸収されて電流波形の検出が不可能となるた
め、検査時には選択手段15を開放状態にしてコンデン
サ14を切離す。ここで、検査時においては容量性素子
を順次駆動するため同時に複数の容量性素子を駆動する
ことはなく、コンデンサ14を切離しても支障はない。
また、コンデンサ14の代わりにヘッドユニット11の
外部にあるコンデンサ20がある程度の機能を果たすこ
とができる。
On the other hand, when the current probe 211 of the oscilloscope 21 detects the waveform of the current flowing through the drive power supply line Vcc during the inspection of the head unit 11, the capacitor 14 is connected between the drive power supply lines Vcc and Vss. In this case, the current is almost absorbed by the capacitor 14 and the detection of the current waveform becomes impossible. Therefore, at the time of inspection, the selecting means 15 is opened and the capacitor 14 is disconnected. Here, at the time of inspection, since the capacitive elements are sequentially driven, a plurality of capacitive elements are not driven at the same time, and there is no problem even if the capacitor 14 is disconnected.
Further, instead of the capacitor 14, the capacitor 20 outside the head unit 11 can perform a certain function.

【0031】前記制御回路18は、図3に示すように、
クロック発生器181、第1、第2、第3のカウンタ1
82,183,184、レジスタ185、第1、第2、
第3、第4の比較器186,187,188,189、
第1、第2のフリップフロップ190,191、2入力
オアゲート192,193、2入力アンドゲート19
4、2入力ナンドゲート195、電源の5V端子と接地
間に接続した抵抗196と選択手段197との直列回路
を設け、前記クロック発生器181からのクロックをシ
ステムクロックSCとして、前記各カウンタ182,1
83,184、各フリップフロップ190,191及び
ナンドゲート195にそれぞれ供給している。
As shown in FIG. 3, the control circuit 18
Clock generator 181, first, second, third counter 1
82, 183, 184, register 185, first, second,
Third and fourth comparators 186, 187, 188, 189,
First and second flip-flops 190 and 191, two-input OR gates 192 and 193, two-input AND gate 19
4, a two-input NAND gate 195, a series circuit of a resistor 196 connected between a 5V terminal of a power supply and the ground, and a selection means 197 are provided, and a clock from the clock generator 181 is used as a system clock SC, and the counters 182, 1
83, 184, flip-flops 190, 191 and NAND gate 195, respectively.

【0032】図4及び図5は前記制御回路18の動作タ
イミングを示すタイミング図で、選択手段197がオフ
状態のとき回路は初期化されており、この選択手段19
7がオン状態になると回路が動作を開始する。第1のカ
ウンタ182はプリントヘッド12の各容量性素子の駆
動周期を決定する。この第1のカウンタ182の前半で
データのシフトを行い、後半でイネーブルがハイレベル
となってデータにより選択された容量性素子が駆動され
る。
FIGS. 4 and 5 are timing charts showing the operation timing of the control circuit 18. The circuit is initialized when the selection means 197 is in the OFF state.
When 7 is turned on, the circuit starts operating. The first counter 182 determines the driving cycle of each capacitive element of the print head 12. The data is shifted in the first half of the first counter 182, and the enable is set to the high level in the second half to drive the capacitive element selected by the data.

【0033】前記第4の比較器189は、第1のカウン
タ182の最初のカウントで第2のフリップフロップ1
91をセットする。第2のフリップフロップ191がセ
ットすると、第2のカウンタ183がカウントを開始す
る。また、同時にナンドゲート195を介してシフトク
ロックが出力する。
The fourth comparator 189 supplies the second flip-flop 1 with the first count of the first counter 182.
Set 91. When the second flip-flop 191 is set, the second counter 183 starts counting. At the same time, a shift clock is output via the NAND gate 195.

【0034】前記レジスタ185には予め値「n−1」
を設定する。最初は、第2の比較器187は成立せず、
第3のカウンタ184は動作しない。従って、この第3
のカウンタ184の出力は「0」のままであり、第2の
カウンタ183の初期値と一致するため、第1の比較器
186から出力するデータは「1」である。そして、第
2のカウンタ183の最初のカウントでこのカウンタ1
83の出力は「1」となる。しかし、第3のカウンタ1
84の出力は「0」のままであるので、第1の比較器1
86が不成立となり、出力するデータは「0」になる。
The value "n-1" is previously stored in the register 185.
Set. At first, the second comparator 187 does not hold,
The third counter 184 does not operate. Therefore, this third
The output of the first comparator 186 is “1” because the output of the counter 184 remains “0” and matches the initial value of the second counter 183. Then, this counter 1 is counted by the first count of the second counter 183.
The output of 83 is "1". However, the third counter 1
84 remains at "0", the first comparator 1
86 is not established, and the output data becomes "0".

【0035】その後、第2のカウンタ183がクロック
発生器181からのシステムクロックによりカウント動
作を継続し、第2のカウンタ183のカウント値が「n
−1」に到達すると、第2の比較器187が成立し、第
3のカウンタ184は1つカウントアップする。同時に
第1のフリップフロップ190がセットし、このフリッ
プフロップ190からラッチ信号が出力する。また、第
2のフリップフロップ191がリセットし、第2のカウ
ンタ183はクリアされるとともにナンドゲート195
が不成立となってシフトクロックの出力が停止される。
また、第3のカウンタ184の出力は「1」なので、第
3の比較器188は成立せず、従って、アンドゲート1
94は成立しない。
Thereafter, the second counter 183 continues the counting operation by the system clock from the clock generator 181 and the count value of the second counter 183 becomes "n".
When it reaches “−1”, the second comparator 187 is established, and the third counter 184 counts up by one. At the same time, the first flip-flop 190 is set, and the flip-flop 190 outputs a latch signal. Further, the second flip-flop 191 is reset, the second counter 183 is cleared, and the NAND gate 195 is reset.
Is not established, and the output of the shift clock is stopped.
Also, since the output of the third counter 184 is "1", the third comparator 188 does not hold, and therefore, the AND gate 1
94 does not hold.

【0036】次に、第1のカウンタ182のQ出力の最
上位ビットが「1」になって後半のカウントに入ると、
イネーブル信号が出力される。そして、n番目の容量性
素子を駆動するヘッド駆動電圧波形が駆動回路13から
発生してプリントヘッド12に供給される。
Next, when the most significant bit of the Q output of the first counter 182 becomes "1" and enters the latter half of counting,
An enable signal is output. Then, a head drive voltage waveform for driving the n-th capacitive element is generated from the drive circuit 13 and supplied to the print head 12.

【0037】こうして、第1のカウンタ182のカウン
トが1周すると、回路の状態は最初に戻るが、このと
き、第3のカウンタ184のみは1つカウントアップし
たままクリアされることはないので、次の周期ではシフ
トクロックの2クロック目で第1の比較器186が成立
し、この比較器186からデータ「1」が出力される。
従って、次の周期で第1のカウンタ182が後半のカウ
ントに入り、イネーブル信号が出力されると、n−1番
目の容量性素子を駆動するヘッド駆動電圧波形が駆動回
路13から発生してプリントヘッド12に供給されるこ
とになる。
In this way, when the count of the first counter 182 makes one round, the state of the circuit returns to the beginning, but at this time, only the third counter 184 is not cleared while counting up by one. In the next cycle, the first comparator 186 is established at the second shift clock, and the comparator 186 outputs data “1”.
Therefore, in the next cycle, when the first counter 182 starts counting in the latter half and the enable signal is output, a head drive voltage waveform for driving the (n-1) th capacitive element is generated from the drive circuit 13 and printed. It will be supplied to the head 12.

【0038】このようにして、駆動される容量性素子が
n,n−1,n−2,…,3,2,1と順次変化し、常
に1つの容量性素子だけが駆動されることになる。そし
て、1番目の容量性素子を駆動するためのデータをシフ
トしているとき、第3のカウンタ184の値は「n−
1」となっているので、第3の比較器188が成立して
いる。この状態でデータ転送が終了し、第2の比較器1
87が成立すると、アンドゲート194が成立し、第3
のカウンタ184がクリアされる。
In this way, the driven capacitive elements are sequentially changed to n, n-1, n-2,..., 3, 2, 1, so that only one capacitive element is always driven. Become. When shifting data for driving the first capacitive element, the value of the third counter 184 becomes “n−
Since it is "1", the third comparator 188 is established. In this state, the data transfer is completed, and the second comparator 1
When 87 is established, the AND gate 194 is established, and the third
Is cleared.

【0039】こうして、1番目の容量性素子を駆動した
後は、最初の状態に戻る。従って、この制御回路18の
動作を継続すれば、プリントヘッド12の各容量性素子
に対する駆動が、n,n−1,n−2,…,3,2,
1,n,n−1,n−2,…と繰返されることになる。
After driving the first capacitive element, the state returns to the initial state. Therefore, if the operation of the control circuit 18 is continued, the drive of the print head 12 with respect to each capacitive element becomes n, n-1, n-2,.
1, n, n-1, n-2,...

【0040】従って、ヘッドユニット11の選択手段1
5を開放状態にして制御回路18を駆動することにより
プリントヘッド12の各容量性素子を検査のために順次
駆動することができる。そして、このような検査を行っ
ている間、制御回路18から出力するイネーブル信号を
トリガとしてオシロスコープ21を動作し電流プローブ
211により駆動電源供給ラインVccに流れる電流波形
を検出して観測すると、図6に示すような観測波形が得
られる。
Therefore, the selecting means 1 of the head unit 11
By driving the control circuit 18 with the circuit 5 open, each capacitive element of the print head 12 can be sequentially driven for inspection. During such inspection, the oscilloscope 21 is operated by using the enable signal output from the control circuit 18 as a trigger, and the current probe 211 detects and observes a current waveform flowing through the drive power supply line Vcc. Observed waveforms as shown in Fig. 7 are obtained.

【0041】すなわち、全ての容量性素子が正常で等し
い静電容量と等価直列抵抗を持っていて、プリントヘッ
ド12と駆動回路13との接続も、また、駆動回路13
も正常であれば、1〜n番目の容量性素子の駆動波形は
オシロスコープ21の画面上に1本の波形h1として重
なって表示されることになる。すなわち、図6の(a)に
示すような表示になる。この波形は容量性素子への充電
波形である。この波形にはバウンドがあるが、これは配
線のインダクタンス分が容量性素子の静電容量と共振す
るために生じるバウンドである。
That is, all the capacitive elements have normal and equal capacitances and equivalent series resistances, and the connection between the print head 12 and the drive circuit 13
Is normal, the driving waveforms of the first to n-th capacitive elements are superimposed and displayed on the screen of the oscilloscope 21 as one waveform h1. That is, the display is as shown in FIG. This waveform is a waveform for charging the capacitive element. This waveform has a bound, which is generated due to resonance of the inductance of the wiring with the capacitance of the capacitive element.

【0042】しかし、1〜n番目の容量性素子におい
て、オープン状態になっている容量性素子や容量性素子
への接続部電極があったり、あるいは容量性素子に対し
て作動しない駆動回路部あると、オシロスコープ21の
画面に表示される観測波形は図6の(b)に示すようにな
る。すなわち、オープンしている容量性素子や接続部電
極、あるいは容量性素子に対して作動しない駆動回路部
があると、その部分に対するオシロスコープ21の輝線
はグランドラインh2となって他の正常な波形h1と重な
って表示される。
However, in the first to n-th capacitive elements, there is a capacitive element in an open state, an electrode for connection to the capacitive element, or a drive circuit section that does not operate for the capacitive element. Then, the observed waveform displayed on the screen of the oscilloscope 21 is as shown in FIG. That is, if there is an open capacitive element, a connection electrode, or a drive circuit section that does not operate with respect to the capacitive element, the luminescent line of the oscilloscope 21 for that part becomes the ground line h2 and becomes another normal waveform h1. Is displayed overlapping.

【0043】また、逆に1〜n番目の容量性素子におい
て、ショート状態になっている部分があると、オシロス
コープ21の画面に表示される観測波形は図6の(c)に
示すようになる。すなわち、ショートしている部分に相
当するオシロスコープ21の輝線はステップ状h3に変
化し、これが他の正常な波形h1と重なって表示され
る。さらに、オープン状態の部分とショート状態の部分
が混在している時には図6の(d)に示す観測波形とな
る。このような観測波形は、オシロスコープ21の画面
上で容易に判別できる。なお、これとは別に観測波形を
デジタル化して自動的に判断することもできる。
Conversely, if there is a short-circuited portion in the first to n-th capacitive elements, the observed waveform displayed on the screen of the oscilloscope 21 is as shown in FIG. 6C. . That is, the bright line of the oscilloscope 21 corresponding to the short-circuited portion changes to a step-like h3, which is displayed overlapping with another normal waveform h1. Further, when the open state part and the short state part are mixed, the observation waveform shown in FIG. 6D is obtained. Such an observation waveform can be easily determined on the screen of the oscilloscope 21. In addition to this, the observation waveform can be digitized and automatically determined.

【0044】このように、圧電部材を使用し、等価回路
的に複数の容量性素子からなるインクジェットプリント
ヘッド12、この駆動回路13及び各容量性素子の駆動
時に瞬時電流を供給するためのコンデンサ14を組込ん
だヘッドユニット11において、検査時には選択手段1
5を開放状態とすることでコンデンサ14の影響を受け
ずにオシロスコープ21により駆動電源供給ラインVcc
に流れる電流波形を検出して観測することができ、ヘッ
ドユニットの良否判定が正確にできる。そして、検査終
了後には選択手段15を閉成状態にすることでコンデン
サ14を瞬時電流の供給用として機能させることがで
き、ヘッドユニット11を支障なく確実に動作させるこ
とができる。
As described above, the ink jet print head 12 using a piezoelectric member and comprising a plurality of capacitive elements in an equivalent circuit, the drive circuit 13 and the capacitor 14 for supplying an instantaneous current when each capacitive element is driven. In the head unit 11 incorporating the
5 is opened so that the oscilloscope 21 does not affect the drive power supply line Vcc without being affected by the capacitor 14.
The current waveform flowing through the head unit can be detected and observed, and the quality of the head unit can be accurately determined. Then, after the inspection is completed, the capacitor 14 can be made to function as an instantaneous current supply by closing the selection means 15, and the head unit 11 can be reliably operated without any trouble.

【0045】図7乃至図11はヘッドユニット11の具
体的構成を示す図である。図7はIC化した駆動回路1
3及びコネクタ16をプリント基板22の上の一端と他
端に配置し、前記駆動回路13の出力側をプリントヘッ
ド12の各リード電極に対してTAB又はワイヤボンデ
ィング等23によって接続している。
FIGS. 7 to 11 are views showing a specific configuration of the head unit 11. FIG. FIG. 7 shows a drive circuit 1 made into an IC.
3 and the connector 16 are arranged at one end and the other end on the printed circuit board 22, and the output side of the drive circuit 13 is connected to each lead electrode of the print head 12 by TAB or wire bonding 23.

【0046】また、前記プリント基板22上に駆動電源
供給ラインVcc、Vssをパターン配置するとともにコン
デンサ14及び選択手段15としてスライド式開閉スイ
ッチ151を配置し、前記駆動電源供給ラインVcc、V
ssの一端を前記駆動回路13の入力側に接続するととも
に他端を前記コネクタ16に接続している。そして、前
記コンデンサ14と開閉スイッチ151を回路パターン
により直列に接続し、その直列回路の一端を回路パター
ンにより前記駆動電源供給ラインVccに接続するととも
に他端を前記駆動電源供給ラインVssに接続している。
Further, drive power supply lines Vcc and Vss are arranged on the printed circuit board 22 in a pattern, and a slidable open / close switch 151 is arranged as a capacitor 14 and a selection means 15, so that the drive power supply lines Vcc and Vss are arranged.
One end of ss is connected to the input side of the drive circuit 13 and the other end is connected to the connector 16. Then, the capacitor 14 and the open / close switch 151 are connected in series by a circuit pattern, one end of the series circuit is connected to the drive power supply line Vcc by the circuit pattern, and the other end is connected to the drive power supply line Vss. I have.

【0047】なお、前記プリント基板22上には、その
他、イネーブル、ラッチ、データ、シフトクロックの各
信号ライン及び5V電源供給ラインVdd、Vssの回路パ
ターンが配置され、それぞれ駆動回路13の入力側とコ
ネクタ16に接続されている。このように、選択手段1
5としてスライド式の開閉スイッチ151を使用するこ
とにより、コンデンサ14を接続したり、切離したりす
る切換え操作が容易になる。
In addition, on the printed circuit board 22, other signal patterns of enable, latch, data and shift clock and circuit patterns of 5V power supply lines Vdd and Vss are arranged. It is connected to a connector 16. Thus, the selection means 1
By using the slide open / close switch 151 as 5, the switching operation for connecting and disconnecting the capacitor 14 becomes easy.

【0048】図8は選択手段15として、オープン端子
を備えたコネクタ152aと、このコネクタ152aの
オープン端子を短絡するショートプラグ152bとから
なるものを使用している。なお、その他の構成は図7と
同様である。この場合は、検査時にはショートプラグ1
52bを外した状態にし、検査が終了するとショートプ
ラグ152bをコネクタ152aのオープン端子に差込
んで短絡し、コンデンサ14を接続する。このようにす
れば選択手段をより安価に構成でき、また、ショートプ
ラグ152bの有無により検査が終了しているか否かを
容易に判断できる。
FIG. 8 shows the selection means 15 using a connector 152a having an open terminal and a short plug 152b for short-circuiting the open terminal of the connector 152a. The other configuration is the same as that of FIG. In this case, the short plug 1
When the inspection is completed, the short plug 152b is inserted into the open terminal of the connector 152a to short-circuit, and the capacitor 14 is connected. In this way, the selection means can be configured at a lower cost, and it can be easily determined whether or not the inspection has been completed based on the presence or absence of the short plug 152b.

【0049】図9は選択手段15として、ハンダで短絡
する回路パターンのオープン端子153を使用してい
る。なお、その他の構成は図7と同様である。この場合
は、検査はヘッドユニット11をそのまま使用して行
い、検査が終了するとオープン端子153をハンダでブ
リッジ接続して短絡し、コンデンサ14を接続する。こ
のようにすれば選択手段をさらに安価に構成でき、ま
た、配置する面積を小さくできる。
FIG. 9 uses an open terminal 153 of a circuit pattern that is short-circuited by solder as the selection means 15. The other configuration is the same as that of FIG. In this case, the inspection is performed using the head unit 11 as it is, and when the inspection is completed, the open terminal 153 is bridge-connected with solder to short-circuit, and the capacitor 14 is connected. In this way, the selection means can be configured at a lower cost, and the arrangement area can be reduced.

【0050】図10は選択手段15として、抵抗が0Ω
のチップジャンパー素子154bで短絡する回路パター
ンのオープン端子154aを使用している。なお、その
他の構成は図7と同様である。この場合は、検査時には
チップジャンパー素子154bを外した状態にし、検査
が終了するとこのチップジャンパー素子154bをオー
プン端子154aにハンダ付けにより実装し、このオー
プン端子154aを短絡してコンデンサ14を接続す
る。
FIG. 10 shows the selection means 15 having a resistance of 0Ω.
The open terminal 154a of the circuit pattern short-circuited by the chip jumper element 154b is used. The other configuration is the same as that of FIG. In this case, at the time of inspection, the chip jumper element 154b is removed, and when the inspection is completed, the chip jumper element 154b is mounted on the open terminal 154a by soldering, and the open terminal 154a is short-circuited and the capacitor 14 is connected.

【0051】この構成においては、工程の歩留まりが向
上し、検査が省略可能になった場合には、チップジャン
パー素子154bを回路部の組立て時に他の実装部品と
一緒に自動的に取付けることができる。また、何らかの
原因で歩留まりが悪化した場合は、回路部の組立て時に
チップジャンパー素子154bを実装しないで、検査終
了後に実装すれば良い。このように、検査の実施、非実
施に対して融通性がある。
In this configuration, when the yield of the process is improved and the inspection can be omitted, the chip jumper element 154b can be automatically mounted together with other mounting parts when assembling the circuit portion. . If the yield is deteriorated for some reason, the chip jumper element 154b may be mounted after the inspection is completed without mounting the chip jumper element 154b when assembling the circuit section. Thus, there is flexibility in performing and not performing inspections.

【0052】図11はコンデンサ14の一端を駆動電源
供給ラインVssに接続するとともに他端をコネクタ16
の所定の接続端子、例えば、駆動電源供給ラインVccが
接続する左端の接続端子の隣りの接続端子に接続してい
る。そして、このヘッドユニット11のコネクタ16に
接続するのが検査装置の制御回路の場合には、図12の
(a)に示す検査用ケーブル31又は図12の(b)に示す検
査用ケーブル32を使用して制御回路とコネクタ16を
接続する。また、このヘッドユニット11のコネクタ1
6に接続するのが製品の制御回路の場合には、図12の
(c)に示す製品用ケーブル33を使用して制御回路とコ
ネクタ16を接続する。
FIG. 11 shows one end of the capacitor 14 connected to the drive power supply line Vss and the other end connected to the connector 16.
, For example, a connection terminal adjacent to the leftmost connection terminal to which the drive power supply line Vcc is connected. In the case where the control circuit of the inspection device is connected to the connector 16 of the head unit 11, FIG.
The control circuit and the connector 16 are connected using the inspection cable 31 shown in FIG. 12A or the inspection cable 32 shown in FIG. The connector 1 of the head unit 11
6 is connected to the control circuit of the product,
The control circuit and the connector 16 are connected using the product cable 33 shown in FIG.

【0053】前記検査用ケーブル31はコネクタ16に
おける駆動電源供給ラインVccが接続する左端の接続端
子の隣りの接続端子に接続するラインL1が途中でとぎ
れているので、この検査用ケーブル31を使用した場
合、コンデンサ14の他端は駆動電源供給ラインVccに
接続することはない。そして、駆動電源供給ラインVcc
が接続する左端の接続端子に接続するラインL2におい
て電流測定を行うことで、コンデンサ14の影響を受け
ずに駆動時の電流波形が検出できる。
The inspection cable 31 is used because the line L1 connected to the connection terminal adjacent to the left end connection terminal to which the drive power supply line Vcc of the connector 16 is connected is interrupted in the middle. In this case, the other end of the capacitor 14 is not connected to the drive power supply line Vcc. And a drive power supply line Vcc
By measuring the current on the line L2 connected to the leftmost connection terminal to which the is connected, the current waveform during driving can be detected without being affected by the capacitor 14.

【0054】また、前記検査用ケーブル32はコネクタ
16における駆動電源供給ラインVccが接続する左端の
接続端子に接続するラインL3とこの接続端子の隣りの
接続端子に接続するラインL4がコネクタ16側から離
れた位置で接続し、その接続点よりもコネクタ16側に
位置するラインL3において電流測定を行うようになっ
ている。この検査用ケーブル31を使用した場合、コン
デンサ14の他端は駆動電源供給ラインVccに接続する
ことになるが、その接続点が電流測定点よりも電源側に
なっているので、この場合もコンデンサ14の影響を受
けずに駆動時の電流波形が検出できる。
The inspection cable 32 has a line L3 connected to the leftmost connection terminal to which the drive power supply line Vcc of the connector 16 is connected and a line L4 connected to the connection terminal adjacent to this connection terminal from the connector 16 side. The connection is made at a remote position, and the current is measured on a line L3 located on the connector 16 side from the connection point. When the inspection cable 31 is used, the other end of the capacitor 14 is connected to the drive power supply line Vcc, but the connection point is closer to the power supply than the current measurement point. Thus, the current waveform at the time of driving can be detected without being affected by.

【0055】また、前記製品用ケーブル33はコネクタ
16における駆動電源供給ラインVccが接続する左端の
接続端子に接続するラインL5とこの接続端子の隣りの
接続端子に接続するラインL6がコネクタ16の近傍で
接続している。従って、検査が終了し、製品を組立てる
ときにこの製品用ケーブル33を使用して制御回路とコ
ネクタ16を接続すればコンデンサ14の他端は短い配
線で駆動電源供給ラインVccに接続することになり、ヘ
ッドの駆動時に駆動回路13に対して瞬時電流を供給す
ることができる。このように、ヘッドユニット11のコ
ネクタ16に接続するケーブルの種類を検査用、製品用
とで変えることでコンデンサ14の機能を非可動状態、
可動状態に自動的に切替えることができる。
The product cable 33 has a line L5 connected to the leftmost connection terminal to which the drive power supply line Vcc of the connector 16 is connected, and a line L6 connected to the connection terminal adjacent to this connection terminal. Connected with. Therefore, when the inspection is completed and the control circuit is connected to the connector 16 using the product cable 33 when assembling the product, the other end of the capacitor 14 is connected to the drive power supply line Vcc with a short wiring. When the head is driven, an instantaneous current can be supplied to the drive circuit 13. As described above, by changing the type of the cable connected to the connector 16 of the head unit 11 for the inspection and the product, the function of the capacitor 14 is set to the non-movable state,
It can be automatically switched to a movable state.

【0056】図13及び図14はヘッドユニット11に
おけるコンデンサ14の実装位置にこのコンデンサ14
を接続するためのパッド34を設けたもので、検査を図
13に示すようにコンデンサ14が実装されていない状
態で行い、検査が終了した後は図14に示すようにコン
デンサ14をパッド34の位置に実装してこのコンデン
サ14を駆動電源供給ラインVcc、Vss間に接続する。
このようにすれば、検査後にコンデンサ14を実装しな
ければならないので組立て工数が増すことになるが、特
別な機構を設けることなく簡単に電流波形の検出ができ
る。従って、製造数量が少ない場合には有効である。
FIGS. 13 and 14 show the position of the capacitor 14 in the head unit 11.
The inspection is performed in a state where the capacitor 14 is not mounted as shown in FIG. 13, and after the inspection is completed, the capacitor 14 is connected to the pad 34 as shown in FIG. And the capacitor 14 is connected between the drive power supply lines Vcc and Vss.
In this case, since the capacitor 14 must be mounted after the inspection, the number of assembling steps increases, but the current waveform can be easily detected without providing a special mechanism. Therefore, it is effective when the production quantity is small.

【0057】また、この実施の形態における検査方法
は、駆動回路の電源電流を検出するので、駆動回路グラ
ンドとヘッドグランドの分離を必要とせず、従って、各
種タイプのインクジェットプリントヘッドの駆動回路に
適用できる。すなわち、図15に示すものは、プリント
ヘッド12として、駆動電源供給ラインVccに各容量性
素子12aに添設した電極の一方を共通に接続し、各容
量性素子12aに添設した電極の他方を個々に駆動回路
131の各出力部131aに接続したものである。
The inspection method according to the present embodiment does not require the separation of the drive circuit ground from the head ground because the power supply current of the drive circuit is detected, and is therefore applicable to various types of ink jet print head drive circuits. it can. That is, the one shown in FIG. 15 is a print head 12 in which one of the electrodes attached to each capacitive element 12a is commonly connected to the drive power supply line Vcc, and the other of the electrodes attached to each capacitive element 12a. Are individually connected to each output unit 131a of the drive circuit 131.

【0058】また、図16に示すものは、プリンタヘッ
ド12として、各容量性素子12aに対して、隣合う容
量性素子間に共通電極を配置し、各電極が容量性素子を
介して直列に接続するとともに各共通電極を駆動回路1
32の各出力部132aに個々に接続したものである。
FIG. 16 shows a printer head 12 in which a common electrode is arranged between adjacent capacitive elements for each capacitive element 12a, and each electrode is connected in series via the capacitive element. Connect each common electrode and drive circuit 1
32 are individually connected to the respective output units 132a.

【0059】また、図17に示すものは、プリントヘッ
ド12を構成する各容量性素子12aに添設した電極を
マトリクス回路24に接続し、このマトリクス回路24
の一方の信号制御ラインを駆動回路133の一方の出力
回路1331の各出力部1331aに個々に接続すると
ともにこのマトリクス回路24の他方の信号制御ライン
を駆動回路133の他方の出力回路1332の各出力部
1332aに個々に接続したものである。
FIG. 17 shows an arrangement in which electrodes attached to the respective capacitive elements 12a constituting the print head 12 are connected to a matrix circuit 24.
Is connected individually to each output section 1331a of one output circuit 1331 of the drive circuit 133, and the other signal control line of the matrix circuit 24 is connected to each output of the other output circuit 1332 of the drive circuit 133. This is individually connected to the unit 1332a.

【0060】このように図15、図16、図17に示す
各種タイプのインクジェットプリントヘッドの駆動回路
131,132,133に対して、選択手段15を開放
してコンデンサ14を切離し、各容量性素子12aを順
次駆動して駆動電源供給ラインVccに流れる電流波形を
検出し、その電流波形をオシロスコープ21で観測する
ことでヘッドユニットの良否判断ができる。
As described above, for the drive circuits 131, 132, and 133 of the various types of ink jet print heads shown in FIGS. 15, 16, and 17, the selection means 15 is opened to separate the capacitor 14, and the respective capacitive elements are separated. 12a is sequentially driven to detect a current waveform flowing through the drive power supply line Vcc, and the oscilloscope 21 observes the current waveform to determine the quality of the head unit.

【0061】なお、この実施の形態においては、駆動電
源供給ラインVccに流れる電流波形を検出して測定を行
ったが、これは駆動電源供給ラインVssに流れる電流波
形を検出して測定を行っても同様である。また、この実
施の形態においては、駆動電源供給ラインVccに流れる
電流波形を電流プローブ211で検出する場合について
述べたが必ずしもこれに限定するものではなく、図18
に示すように、駆動電源供給ラインVss中に動作上の影
響を与えない程度に充分に小さい抵抗値の抵抗25を直
列に挿入し、この抵抗25の両端の電圧降下を測定して
も間接的に電流波形の検出ができるので、同様の結果が
得られる。
In this embodiment, the current waveform flowing through the drive power supply line Vcc is detected and measured. However, the measurement is performed by detecting the current waveform flowing through the drive power supply line Vss. The same is true for In this embodiment, the case where the current probe 211 detects the waveform of the current flowing through the drive power supply line Vcc has been described. However, the present invention is not limited to this.
As shown in FIG. 7, a resistor 25 having a resistance value sufficiently small so as not to affect the operation is inserted in series into the drive power supply line Vss, and the voltage drop across the resistor 25 is indirectly measured. Since the current waveform can be detected at the same time, the same result can be obtained.

【0062】なお、この実施の形態では直接的あるいは
間接的に電流波形を検出して検査を行う場合について述
べたが必ずしもこれに限定するものではなく、電圧変動
波形を直接検出して検査を行ってもよい。例えば、定電
圧電源17の出力電圧が安定している場合には、図19
に示すように、駆動電源供給ラインVccとVssとの間の
電源電圧を直接検出して電源電圧変動波形を測定しても
よい。なお、この場合、抵抗25を駆動電源供給ライン
Vcc中に直列に挿入する。すなわち、検出する波形は良
品と不良品の区別ができればよく、電流波形にこだわる
必要はなく、また、抵抗25の代わりにインダクタ、半
導体等やこれらの組み合わせによる任意のインピーダン
ス回路を用いて検出感度を上げたり、検出波形を判別し
やすい形に変形してもよい。
In this embodiment, the case where the inspection is performed by directly or indirectly detecting the current waveform has been described. However, the present invention is not necessarily limited to this, and the inspection is performed by directly detecting the voltage fluctuation waveform. You may. For example, when the output voltage of the constant voltage power supply 17 is stable,
As shown in (1), the power supply voltage between the drive power supply lines Vcc and Vss may be directly detected to measure the power supply voltage fluctuation waveform. In this case, the resistor 25 is inserted in series into the drive power supply line Vcc. That is, the waveform to be detected only needs to be able to discriminate between a good product and a defective product, and there is no need to stick to the current waveform. It may be raised or deformed so that the detected waveform can be easily discriminated.

【0063】また、この実施の形態では、プリントヘッ
ド12における各容量性素子12aをn番目から1番目
へと順次駆動し、最初に戻ると再度繰返す制御を行って
いるので、オシロスコープ21として、例えば、非スト
レージのアナログ式のオシロスコープを使用することが
可能となる。アナログ式のオシロスコープはデジタル式
のオシロスコープに比較して波形の繰返し表示周期が高
速であるので、クロック発生器181からのクロックを
高速にでき、検査に要する時間の短縮化を図ることがで
きる。
Further, in this embodiment, since each capacitive element 12a in the print head 12 is sequentially driven from the nth to the first, and the control is repeated when returning to the first, the oscilloscope 21 is, for example, used. This makes it possible to use a non-storage analog oscilloscope. An analog oscilloscope has a faster repetitive display cycle of waveforms than a digital oscilloscope, so that the clock from the clock generator 181 can be made faster and the time required for inspection can be reduced.

【0064】ところで、ヘッドユニット11の検査で
は、容量性素子の駆動において不良として検出される箇
所はごく僅かである。従って、アナログ式のオシロスコ
ープで電流波形の観測を行った場合にほとんどが正常な
波形の繰返し表示になるのに対し、異常を示す波形が表
示される回数は極めて少なく、このため、正常部の表示
波形は輝度が高く、異常部の表示波形は輝度が極めて低
くなる。このようなことから、オシロスコープの観測者
が不良波形を見落とすおそれもある。これを解決するに
は、アナログ式のオシロスコープでさらに残像式のもの
を使用すれば良い。
By the way, in the inspection of the head unit 11, there are very few locations detected as defective in driving the capacitive element. Therefore, when the current waveform is observed with an analog oscilloscope, most of the normal waveforms are repeatedly displayed. On the other hand, the number of times that a waveform indicating an abnormality is displayed is extremely small. The waveform has high luminance, and the display waveform of the abnormal portion has extremely low luminance. For this reason, the oscilloscope observer may overlook the bad waveform. In order to solve this, an analog oscilloscope may be used, which is of an afterimage type.

【0065】また、オシロスコープ21として、デジタ
ルストレージ式のオシロスコープを使用することも可能
である。デジタルストレージ式のオシロスコープは一般
に出現頻度に拘らず一定の輝度で表示されるため、出現
頻度の少ない不良波形の輝度が低下するという問題は生
じない。従って、不良波形の観測が確実にできるように
なる。そして、デジタルストレージ式のオシロスコープ
ではn個の容量性素子に対する駆動をそれぞれ1回行え
ば良い。
As the oscilloscope 21, a digital storage type oscilloscope can be used. Digital storage oscilloscopes are generally displayed at a constant luminance regardless of the frequency of appearance, so that there is no problem that the luminance of a defective waveform with a low frequency of appearance decreases. Therefore, it is possible to reliably observe the defective waveform. Then, in a digital storage oscilloscope, it is sufficient to drive each of the n capacitive elements once.

【0066】これを実行するには、図3に示す構成の制
御回路18において、n個の容量性素子に対する駆動が
一通り終えてアンドゲート194が成立したとき、回路
の動作が繰返されずに停止するように変更すれば良い。
そして、制御回路18がn個の容量性素子に対する駆動
を一通り終えて停止したとき、LEDなどの表示手段を
使用してオペレータに知らせるようにすればオペレータ
は検査の終了を容易に知ることができる。
In order to execute this, in the control circuit 18 having the configuration shown in FIG. 3, when the driving of the n capacitive elements is completed and the AND gate 194 is established, the operation of the circuit is stopped without being repeated. You can change it to
Then, when the control circuit 18 stops driving after completing the driving of the n capacitive elements, if the operator is notified by using display means such as an LED, the operator can easily know the end of the inspection. it can.

【0067】なお、デジタルストレージ式のオシロスコ
ープは、波形の繰返し表示周期が遅いので、各容量性素
子を順次駆動する時の時間間隔をこの周期に合わせて遅
く設定する必要がある。また、デジタルストレージ式オ
シロスコープでは、取込んだ電流波形をデジタル処理す
ることが可能であるため、人が表示内容を観測して判定
するのではなく、取込んだ電流波形が正常波形の範囲で
あるか否かをデジタル処理によって自動的に判定するこ
ともできる。この場合、電流波形の画面表示は特に必要
ではないので、電流波形記録手段としてオシロスコープ
を使用する必要はなく、電流波形の記録機能を有する単
なるデジタルメモリであっても良い。
Since the oscilloscope of the digital storage type has a slow repetition display cycle of the waveform, it is necessary to set a time interval for sequentially driving each capacitive element to be slow according to this cycle. In addition, with a digital storage oscilloscope, it is possible to digitally process the captured current waveform, so that the captured current waveform is in the range of a normal waveform instead of observing and judging the display contents. Whether or not it is possible can be automatically determined by digital processing. In this case, since it is not particularly necessary to display the current waveform on the screen, it is not necessary to use an oscilloscope as the current waveform recording means, and it may be a simple digital memory having a current waveform recording function.

【0068】また、この実施の形態では、観測した各容
量性素子の駆動波形をオシロスコープ21の画面上に重
ねて表示し、正常波形と異常波形との波形のずれを見て
ヘッドユニットの良否判定を行ったが必ずしもこれに限
定するものではなく、オシロスコープ21の画面上に正
常波形の範囲をマーキングしておき、マーキングした範
囲に波形が入っているか否かによってヘッドユニットの
良否判定を行ってもよい。マーキングはオシロスコープ
のカーソル表示機能を利用して行うこともできるが、よ
り簡単には画面上に例えばマーカペンなどで直接マーキ
ングすれば良い。
In this embodiment, the observed drive waveform of each capacitive element is superimposed and displayed on the screen of the oscilloscope 21, and the deviation between the normal waveform and the abnormal waveform is determined to determine the quality of the head unit. However, the present invention is not limited to this. Marking a range of a normal waveform on the screen of the oscilloscope 21 and determining whether the head unit is good or not based on whether a waveform is included in the marked range may be performed. Good. The marking can be performed using the cursor display function of the oscilloscope, but more simply, the marking may be performed directly on the screen by using, for example, a marker pen.

【0069】オシロスコープ21の画面上に正常波形の
範囲をマーキングする例について述べると、例えば、図
20に斜線aで示すようにマーキングする。このような
マーキングを行うことで、全ての容量性素子が正常で等
しい静電容量と等価直列抵抗を持っていて、プリントヘ
ッド12と駆動回路13との接続も、また、駆動回路1
3も正常であれば、1〜n番目の容量性素子の駆動波形
は、図20の(a)に示すように、オシロスコープ21の
画面上に1本の波形h1として重なって表示され、しか
もマーキングの範囲内に収まることになる。
An example of marking the range of the normal waveform on the screen of the oscilloscope 21 will be described. For example, marking is performed as shown by the oblique line a in FIG. By performing such a marking, all the capacitive elements have a normal and equal capacitance and an equivalent series resistance, and the connection between the print head 12 and the drive circuit 13 is also changed.
If No. 3 is also normal, the driving waveforms of the first to n-th capacitive elements are superimposed and displayed as one waveform h1 on the screen of the oscilloscope 21, as shown in FIG. Within the range.

【0070】しかし、1〜n番目の容量性素子におい
て、オープン状態になっている容量性素子や容量性素子
への接続部電極があったり、あるいは容量性素子に対し
て作動しない駆動回路部あると、オシロスコープ21の
画面上には、図20の(b)に示すように、正常な駆動波
形h1とグランドラインの波形h2の輝線が重なって表示
され、グランドラインの波形h2が正常な駆動波形h1の
ピークとなる位置でマーキングの範囲から逸脱すること
になる。
However, in the first to n-th capacitive elements, there is a capacitive element in an open state, a connection electrode to the capacitive element, or a drive circuit section that does not operate for the capacitive element. On the screen of the oscilloscope 21, the normal drive waveform h1 and the bright line of the ground line waveform h2 are displayed overlapping each other, as shown in FIG. 20 (b), and the ground line waveform h2 is the normal drive waveform. The position deviates from the range of the marking at the position of the peak of h1.

【0071】また、逆に1〜n番目の容量性素子におい
て、ショート状態になっている部分があると、オシロス
コープ21の画面上には、図20の(c)に示すように、
正常な駆動波形h1とステップ状に立ち上がる波形h3の
輝線が重なって表示され、波形h3がマーキングの範囲
から逸脱することになる。
On the other hand, if there is a short-circuited portion in the first to n-th capacitive elements, the screen of the oscilloscope 21 displays, as shown in FIG.
The normal drive waveform h1 and the bright line of the waveform h3 rising stepwise are displayed in an overlapping manner, and the waveform h3 deviates from the range of the marking.

【0072】また、1〜n番目の容量性素子において、
オープン状態の部分とショート状態の部分が混在してい
る場合には、オシロスコープ21の画面上には、図20
の(d)に示すように、正常な駆動波形h1とグランドライ
ンの波形h2とステップ状に立ち上がる波形h3の3本の
輝線が重なって表示され、波形h2と波形h3の両方がマ
ーキングの範囲から逸脱することになる。
In the first to n-th capacitive elements,
When the open state part and the short state part are mixed, the screen of the oscilloscope 21 displays FIG.
As shown in (d), three bright lines of a normal drive waveform h1, a ground line waveform h2, and a waveform h3 rising stepwise are displayed in an overlapping manner, and both the waveform h2 and the waveform h3 are out of the range of the marking. Will deviate.

【0073】また、1〜n番目の容量性素子において、
静電容量が異常に小さい容量性素子があったり、容量性
素子への接続部や駆動回路に回路抵抗が異常に大きいも
のがあると、オシロスコープ21の画面上には、図20
の(e)に示すように、正常な駆動波形h1と電流が小さい
異常波形h4が重なって表示され、異常波形h4がマーキ
ングの範囲から逸脱することになる。
In the first to n-th capacitive elements,
If there is a capacitive element having an abnormally small capacitance, or if there is an abnormally large circuit resistance in a connection portion to the capacitive element or in a drive circuit, the screen of the oscilloscope 21 will be displayed as shown in FIG.
As shown in (e), the normal drive waveform h1 and the abnormal waveform h4 with a small current are displayed overlapping, and the abnormal waveform h4 deviates from the range of the marking.

【0074】また、1〜n番目の容量性素子において、
静電容量が異常に大きな容量性素子があると、オシロス
コープ21の画面上には、図20の(f)に示すように、
正常な駆動波形h1と電流が大きい異常波形h5が重なっ
て表示され、異常波形h5がマーキングの範囲から逸脱
することになる。
In the first to n-th capacitive elements,
When there is a capacitive element having an abnormally large capacitance, the screen of the oscilloscope 21 displays, as shown in FIG.
The normal drive waveform h1 and the abnormal waveform h5 with a large current are displayed overlapping, and the abnormal waveform h5 deviates from the range of the marking.

【0075】さらに、駆動回路の遅れが異常に大きいも
のがあると、オシロスコープ21の画面上には、図20
の(g)に示すように、正常な駆動波形h1と時間的に遅れ
ている異常波形h6が重なって表示され、異常波形h6が
マーキングの範囲から逸脱することになる。
Further, if there is an abnormally large delay in the driving circuit, the screen of the oscilloscope 21 displays
As shown in (g), the normal drive waveform h1 and the abnormal waveform h6 delayed in time are displayed overlapping, and the abnormal waveform h6 deviates from the range of the marking.

【0076】このように、オシロスコープ21の画面上
に付したマーキングを使用してもヘッドユニットの良否
判定が正確にできる。また、オシロスコープ21の画面
上に各容量性素子の駆動波形を重ねて表示することとオ
シロスコープ21の画面上に正常範囲を示すマーキング
を付すことを合せれば、駆動波形の異常状態を容易に見
つけだすことができ、ヘッドユニットの良否判定がさら
に正確にできる。なお、各容量性素子の駆動波形をオシ
ロスコープ21の画面上に重ねて表示することで図20
の(g)に示すような時間的変化の情報を含んだ動的な特
性不良に対して的確に検出ができる。
As described above, the quality of the head unit can be accurately determined by using the markings on the screen of the oscilloscope 21. In addition, when the driving waveform of each capacitive element is superimposed and displayed on the screen of the oscilloscope 21 and the marking indicating the normal range is provided on the screen of the oscilloscope 21, an abnormal state of the driving waveform can be easily found. The quality of the head unit can be determined more accurately. Note that the driving waveform of each capacitive element is superimposed and displayed on the screen of the oscilloscope 21 so that FIG.
It is possible to accurately detect a dynamic characteristic failure including information on a temporal change as shown in FIG.

【0077】さらに、図3の制御回路18において、第
3のカウンタ184をクリアする代わりにプリセットレ
ジスタを設け、このプリセットレジスタによって第3の
カウンタ184に値「n−m」をプリセットするように
し、第3の比較器188のレジスタ185に接続してい
る比較入力を別のレジスタに接続し、このレジスタに値
「n−k」を設定しておけば、k〜m番目(但し、n≧
m≧k≧1)の容量性素子のみを順次駆動させることが
できる。このような制御を行うことで、最初の検査で動
作が不良となった容量性素子があった場合に、その容量
性素子がどの位置にあるかを絞り込みによって特定する
解析ができる。
Further, in the control circuit 18 of FIG. 3, a preset register is provided instead of clearing the third counter 184, and the value "nm" is preset in the third counter 184 by the preset register. If the comparison input connected to the register 185 of the third comparator 188 is connected to another register and a value “nk” is set in this register, the kth to mth (where n ≧ m)
Only the capacitive elements satisfying m ≧ k ≧ 1) can be sequentially driven. By performing such control, when there is a capacitive element that has malfunctioned in the first inspection, it is possible to perform an analysis for specifying the position of the capacitive element by narrowing down.

【0078】なお、前述した実施の形態では、容量性負
荷として圧電部材を使用したインクジェットプリントヘ
ッドを使用し、このヘッドを駆動する場合について述べ
たが必ずしもこれに限定するものではなく、容量性負荷
として圧電部材と同様に容量性素子である液晶素子を使
用した装置やELプリントヘッド等を使用し、これらを
駆動する場合にも適用できるものである。
In the above-described embodiment, a case has been described in which an inkjet print head using a piezoelectric member is used as the capacitive load, and this head is driven. However, the present invention is not limited to this. A device using a liquid crystal element, which is a capacitive element like a piezoelectric member, an EL print head, or the like is used, and the present invention can be applied to a case where these are driven.

【0079】[0079]

【発明の効果】請求項1乃至6記載の発明によれば、容
量性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時電流を供
給するためのコンデンサをユニットとして組込んだもの
において、検査時にはコンデンサの影響を受けずにユニ
ットの良否判定が正確にでき、しかも、検査終了後には
コンデンサを瞬時電流の供給用として機能させることが
できる容量性負荷駆動ユニットを提供できる。
According to the first to sixth aspects of the present invention, a capacitive load, a drive circuit and a capacitor for supplying an instantaneous current to the capacitive load are incorporated as a unit. It is possible to provide a capacitive load drive unit that can accurately judge the quality of the unit without being affected by the influence and can function the capacitor to supply the instantaneous current after the inspection is completed.

【0080】また、請求項7乃至9記載の発明によれ
ば、容量性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時電
流を供給するためのコンデンサを組込んだ容量性負荷駆
動ユニットに対して、コンデンサの影響を受けずにユニ
ットの良否判定の検査を正確にできる容量性負荷駆動ユ
ニットの検査方法を提供できる。
According to the present invention, a capacitive load drive unit incorporating a capacitive load, a capacitor for supplying an instantaneous current to the drive circuit and the capacitive load, is provided. It is possible to provide a method of inspecting a capacitive load drive unit that can accurately inspect the quality of a unit without being affected by a capacitor.

【0081】また、請求項10乃至15記載の発明によ
れば、容量性負荷とこの駆動回路及び容量性負荷に瞬時
電流を供給するためのコンデンサを組込んだ容量性負荷
駆動ユニットに対して、コンデンサの影響を受けずにユ
ニットの良否判定の検査を電流波形により正確かつ容易
にできる容量性負荷駆動ユニットの検査装置を提供でき
る。
According to the tenth to fifteenth aspects, a capacitive load driving unit incorporating a capacitive load, a capacitor for supplying an instantaneous current to the driving circuit and the capacitive load, is provided. It is possible to provide an inspection apparatus for a capacitive load driving unit that can accurately and easily inspect the quality of a unit by a current waveform without being affected by a capacitor.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram illustrating an embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態における駆動回路の構成を示すブ
ロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing a structure of a driver circuit in the embodiment.

【図3】同実施の形態における制御回路の構成を示すブ
ロック図。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a control circuit in the embodiment.

【図4】同実施の形態における制御回路の各部の動作タ
イミングを示す部分タイミング図。
FIG. 4 is a partial timing chart showing operation timing of each unit of the control circuit according to the embodiment;

【図5】同実施の形態における制御回路の各部の動作タ
イミングを示す部分タイミング図。
FIG. 5 is a partial timing chart showing operation timing of each unit of the control circuit in the embodiment.

【図6】同実施の形態におけるオシロスコープによる電
流波形の表示例を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a display example of a current waveform by the oscilloscope in the embodiment.

【図7】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体的
構成例を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図8】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体的
構成例を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図9】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体的
構成例を示す図。
FIG. 9 is a diagram showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図10】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体
的構成例を示す図。
FIG. 10 is a diagram showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図11】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体
的構成例を示す図。
FIG. 11 is a diagram showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図12】図11のヘッドユニットを使用した場合の検
査時、製品作成時に使用するケーブル例を示す図。
FIG. 12 is a diagram showing an example of a cable used at the time of inspection and product creation when the head unit of FIG. 11 is used.

【図13】同実施の形態におけるヘッドユニットの具体
的構成例を示す図。
FIG. 13 is a view showing a specific configuration example of a head unit in the embodiment.

【図14】図13のヘッドユニットを使用した場合の製
品時の状態を示す図。
FIG. 14 is a diagram showing a state of a product when the head unit of FIG. 13 is used.

【図15】同実施の形態において検査可能なインクジェ
ットプリントヘッドと駆動回路の例を等価回路で示した
図。
FIG. 15 is a diagram showing an example of an inkjet print head and a drive circuit which can be inspected in the embodiment by using an equivalent circuit.

【図16】同実施の形態において検査可能なインクジェ
ットプリントヘッドと駆動回路の例を等価回路で示した
図。
FIG. 16 is a diagram showing an example of an inkjet print head and a drive circuit which can be inspected in the embodiment by using an equivalent circuit.

【図17】同実施の形態において検査可能なインクジェ
ットプリントヘッドと駆動回路の例を等価回路で示した
図。
FIG. 17 is a diagram showing an example of an inkjet print head and a drive circuit which can be inspected in the embodiment by using an equivalent circuit.

【図18】電流波形検出部の他の実施の形態を示すブロ
ック図。
FIG. 18 is a block diagram showing another embodiment of the current waveform detector.

【図19】電流波形検出部の他の実施の形態を示すブロ
ック図。
FIG. 19 is a block diagram showing another embodiment of the current waveform detector.

【図20】オシロスコープによる電流波形の他の表示例
を示す図。
FIG. 20 is a diagram showing another display example of the current waveform by the oscilloscope.

【図21】圧電部材を使用したインクジェットプリント
ヘッドにおける1つの容量性素子に対する駆動回路の等
価回路を示す回路図。
FIG. 21 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of a drive circuit for one capacitive element in an ink jet print head using a piezoelectric member.

【図22】従来例を示すブロック図。FIG. 22 is a block diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…ヘッドユニット 12…インクジェットプリントヘッド 13…駆動回路 14…コンデンサ 15…選択手段 18…制御回路 21…オシロスコープ 211…電流プローブ DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Head unit 12 ... Ink-jet print head 13 ... Drive circuit 14 ... Capacitor 15 ... Selection means 18 ... Control circuit 21 ... Oscilloscope 211 ... Current probe

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の容量性素子から成る容量性負荷
と、この容量性負荷を駆動する駆動回路と、この駆動回
路への駆動電源供給ライン間に接続した、前記容量性負
荷に瞬時電流を供給するためのコンデンサとこのコンデ
ンサを前記駆動電源供給ライン間に接続するか否かを選
択する選択手段との直列回路によって構成したことを特
徴とする容量性負荷駆動ユニット。
1. A capacitive load comprising a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and an instantaneous current connected to the capacitive load connected between a drive power supply line to the drive circuit. A capacitive load drive unit comprising a series circuit of a capacitor for supplying and a selection means for selecting whether or not to connect the capacitor between the drive power supply lines.
【請求項2】 選択手段は、開閉スイッチであることを
特徴とする請求項1記載の容量性負荷駆動ユニット。
2. The capacitive load drive unit according to claim 1, wherein the selection means is an open / close switch.
【請求項3】 選択手段は、オープン端子を備えたコネ
クタとこのコネクタのオープン端子を短絡するショート
プラグからなることを特徴とする請求項1記載の容量性
負荷駆動ユニット。
3. The capacitive load drive unit according to claim 1, wherein the selection means comprises a connector having an open terminal and a short plug for short-circuiting the open terminal of the connector.
【請求項4】 選択手段は、ハンダで短絡する回路パタ
ーンのオープン端子からなることを特徴とする請求項1
記載の容量性負荷駆動ユニット。
4. The apparatus according to claim 1, wherein said selecting means comprises an open terminal of a circuit pattern short-circuited by solder.
A capacitive load drive unit as described.
【請求項5】 選択手段は、ジャンパー素子で短絡する
回路パターンのオープン端子からなることを特徴とする
請求項1記載の容量性負荷駆動ユニット。
5. The capacitive load driving unit according to claim 1, wherein the selecting means comprises an open terminal of a circuit pattern short-circuited by a jumper element.
【請求項6】 複数の容量性素子から成る容量性負荷
と、この容量性負荷を駆動する駆動回路と、この駆動回
路の駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負荷に
瞬時電流を供給するコンデンサと、前記駆動回路を制御
する制御回路をその駆動回路に接続するために使用する
ケーブルが接続される複数の接続端子を備えたコネクタ
とを備え、前記コネクタに接続するケーブルの種類によ
り前記コンデンサを前記コネクタの所定の接続端子を介
して前記駆動回路の駆動電源供給ライン間に接続するか
切り離すかを選択することを特徴とする容量性負荷駆動
ユニット。
6. A capacitive load composed of a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and an instantaneous current supplied to the capacitive load by being connected between drive power supply lines of the drive circuit. And a connector having a plurality of connection terminals to which a cable used to connect a control circuit for controlling the drive circuit to the drive circuit is provided. A capacitive load drive unit for selecting whether to connect or disconnect a capacitor between drive power supply lines of the drive circuit via a predetermined connection terminal of the connector.
【請求項7】 複数の容量性素子から成る容量性負荷、
この容量性負荷を駆動する駆動回路、及びこの駆動回路
への駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負荷に
瞬時電流を供給するコンデンサによって構成した容量性
負荷駆動ユニットに対し、 前記コンデンサを前記駆動電源供給ライン間に非接続状
態にした状態で前記駆動回路により前記容量性負荷の各
容量性素子を順次駆動するとともにその時の前記駆動電
源供給ラインに流れる電源電流若しくは電圧変動を検出
して前記容量性素子駆動ユニットの良否を判定すること
を特徴とする容量性負荷駆動ユニットの検査方法。
7. A capacitive load comprising a plurality of capacitive elements,
A drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load drive unit including a capacitor connected between a drive power supply line to the drive circuit and supplying an instantaneous current to the capacitive load; The drive circuit sequentially drives each capacitive element of the capacitive load in a state of being disconnected between the drive power supply lines, and detects a power supply current or a voltage change flowing through the drive power supply line at that time. A method for inspecting a capacitive load drive unit, comprising determining whether the capacitive element drive unit is good or bad.
【請求項8】 複数の容量性素子から成る容量性負荷、
この容量性負荷を駆動する駆動回路、及びこの駆動回路
への駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負荷に
瞬時電流を供給するコンデンサによって構成した容量性
負荷駆動ユニットに対し、 前記コンデンサを前記駆動電源供給ライン間に非接続状
態にした状態で前記駆動回路により前記容量性負荷の各
容量性素子を順次駆動するとともにその駆動タイミング
に同期して駆動電源の電流波形若しくは電圧変動波形を
重ねて記録し、この重ねて記録した電流波形若しくは電
圧変動波形が予め定めた範囲内にあるか否かにより前記
容量性素子駆動ユニットの良否を判定することを特徴と
する容量性負荷駆動ユニットの検査方法。
8. A capacitive load comprising a plurality of capacitive elements,
A drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load drive unit including a capacitor connected between a drive power supply line to the drive circuit and supplying an instantaneous current to the capacitive load; Each of the capacitive elements of the capacitive load is sequentially driven by the drive circuit in a state of being disconnected between the drive power supply lines, and a current waveform or a voltage fluctuation waveform of the drive power supply is superimposed in synchronization with the drive timing. And inspecting the capacitive load drive unit based on whether the overprinted current waveform or voltage fluctuation waveform is within a predetermined range. Method.
【請求項9】 複数の容量性素子から成る容量性負荷、
この容量性負荷を駆動する駆動回路、及びこの駆動回路
への駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負荷に
瞬時電流を供給するコンデンサによって構成した容量性
負荷駆動ユニットに対し、 前記コンデンサを前記駆動電源供給ライン間に非接続状
態にした状態で前記駆動回路により前記容量性負荷の各
容量性素子を順次駆動するとともにその駆動タイミング
に同期して駆動電源の電流波形若しくは電圧変動波形を
オシロスコープに重ねて表示し、この重ねて表示した電
流波形若しくは電圧変動波形の表示残像が予め定めた範
囲内にあるか否かにより前記容量性素子駆動ユニットの
良否を判定することを特徴とする容量性負荷駆動ユニッ
トの検査方法。
9. A capacitive load comprising a plurality of capacitive elements,
A drive circuit for driving the capacitive load, and a capacitive load drive unit including a capacitor connected between a drive power supply line to the drive circuit and supplying an instantaneous current to the capacitive load; Each of the capacitive elements of the capacitive load is sequentially driven by the drive circuit in a state of being disconnected between the drive power supply lines, and a current waveform or a voltage fluctuation waveform of the drive power supply is synchronized with the drive timing by an oscilloscope. And determining whether the capacitive element drive unit is good or not based on whether or not a display afterimage of the overlaid current waveform or voltage fluctuation waveform is within a predetermined range. Inspection method of load drive unit.
【請求項10】 複数の容量性素子から成る容量性負
荷、この容量性負荷を駆動する駆動回路、及びこの駆動
回路への駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負
荷に瞬時電流を供給するコンデンサによって構成した容
量性負荷駆動ユニットに対し、 前記コンデンサを前記駆動電源供給ライン間に非接続状
態にした状態で前記駆動回路に前記容量性負荷の各容量
性素子を順次駆動する信号を与える制御手段と、前記各
容量性素子を順次駆動する時の駆動タイミングに同期し
て駆動電源の電流若しくは電圧変動を検出する検出手段
と、この検出手段の検出波形を記録する波形記録手段と
を備え、前記波形記録手段が記録した検出波形から前記
容量性負荷駆動ユニットの良否検査を行うことを特徴と
する容量性負荷駆動ユニットの検査装置。
10. A capacitive load composed of a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and an instantaneous current supplied to the capacitive load by being connected between a drive power supply line to the drive circuit. A signal for sequentially driving each capacitive element of the capacitive load is provided to the drive circuit in a state where the capacitor is not connected between the drive power supply lines to the capacitive load drive unit configured by the capacitor. Control means; detecting means for detecting a current or voltage fluctuation of a driving power supply in synchronization with a driving timing when sequentially driving each of the capacitive elements; and waveform recording means for recording a detected waveform of the detecting means. An inspection apparatus for inspecting the capacitive load driving unit based on the detected waveform recorded by the waveform recording means.
【請求項11】 波形記録手段は、オシロスコープから
なり、各容量性素子の駆動開始に同期した信号をトリガ
信号として取込み、このトリガ信号の入力を起点に検出
手段が検出する検出波形を画面に表示することを特徴と
する請求項10記載の容量性負荷駆動ユニットの検査装
置。
11. A waveform recording means comprising an oscilloscope, fetches a signal synchronized with the start of driving of each capacitive element as a trigger signal, and displays a detected waveform detected by the detection means on the screen starting from the input of the trigger signal. The inspection apparatus for a capacitive load driving unit according to claim 10, wherein
【請求項12】 制御手段は、駆動回路に容量性負荷の
各容量性素子を順次駆動する信号を全容量性素子に対し
て繰返し与え、オシロスコープの画面に検出手段が検出
する検出波形を重ねかつ繰返し表示することを特徴とす
る請求項11記載の容量性負荷駆動ユニットの検査装
置。
12. The control means repeatedly applies a signal for sequentially driving each capacitive element of the capacitive load to the drive circuit to all the capacitive elements, and superimposes a detection waveform detected by the detection means on a screen of an oscilloscope; The inspection apparatus for a capacitive load drive unit according to claim 11, wherein the inspection is performed repeatedly.
【請求項13】 波形記録手段は、デジタルストレージ
式のオシロスコープからなり、制御手段は、駆動回路に
容量性負荷の各容量性素子を順次駆動する信号をそれぞ
れ1回ずつ与え、この信号供給が終了すると表示手段に
検査終了表示を行わせ、前記オシロスコープは、画面に
検出手段が検出する検出波形を重ねて表示することを特
徴とする請求項10記載の容量性負荷駆動ユニットの検
査装置。
13. The waveform recording means comprises a digital storage type oscilloscope, and the control means supplies a signal for sequentially driving each capacitive element of the capacitive load to the drive circuit once each, and this signal supply ends. 11. The inspection apparatus for a capacitive load drive unit according to claim 10, wherein the inspection means causes the display means to perform an inspection end display, and the oscilloscope displays the detection waveform detected by the detection means in a superimposed manner on a screen.
【請求項14】 複数の容量性素子から成る容量性負
荷、この容量性負荷を駆動する駆動回路、及びこの駆動
回路への駆動電源供給ライン間に接続して前記容量性負
荷に瞬時電流を供給するコンデンサによって構成した容
量性負荷駆動ユニットに対し、 前記コンデンサを前記駆動電源供給ライン間に非接続状
態にした状態で前記駆動回路により前記容量性負荷の各
容量性素子を順次駆動する信号を与える手段と、前記各
容量性素子の駆動タイミングに同期して駆動電源の電流
波形若しくは電圧変動波形を重ねて記録する波形記録手
段とを備え、前記波形記録手段が重ねて記録した電流波
形若しくは電圧変動波形が予め定めた範囲内にあるか否
かにより前記容量性素子駆動ユニットの良否を判定する
ことを特徴とする容量性負荷駆動ユニットの検査装置。
14. A capacitive load composed of a plurality of capacitive elements, a drive circuit for driving the capacitive load, and an instantaneous current supplied to the capacitive load by being connected between a drive power supply line to the drive circuit. A signal for sequentially driving each capacitive element of the capacitive load by the drive circuit in a state where the capacitor is disconnected between the drive power supply lines to the capacitive load drive unit constituted by the capacitor to be driven. Means, and waveform recording means for superimposing and recording a current waveform or a voltage fluctuation waveform of a driving power supply in synchronization with the drive timing of each of the capacitive elements, wherein the waveform recording means superimposedly records the current waveform or the voltage fluctuation. A capacitive load driving unit, wherein the quality of the capacitive element driving unit is determined based on whether a waveform is within a predetermined range.査 apparatus.
【請求項15】 波形記録手段は、オシロスロープから
なり、このオシロスコープの画面上に駆動電源の電流波
形若しくは電圧変動波形を重ねて表示し、この重ねて表
示した電流波形若しくは電圧変動波形の表示残像が予め
定めた範囲内にあるか否かにより前記容量性素子駆動ユ
ニットの良否を判定することを特徴とする請求項14記
載の容量性負荷駆動ユニットの検査装置。
15. A waveform recording means comprising an oscilloscope, displaying a current waveform or a voltage fluctuation waveform of a driving power supply on the oscilloscope screen in a superimposed manner, and displaying an afterimage of the superimposed current waveform or the voltage fluctuation waveform. 15. The inspection apparatus for a capacitive load drive unit according to claim 14, wherein the quality of the capacitive element drive unit is determined based on whether or not is within a predetermined range.
JP21707499A 1998-08-13 1999-07-30 Capacitive load drive unit, inspection method and inspection apparatus for this unit Expired - Fee Related JP3637246B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21707499A JP3637246B2 (en) 1998-08-13 1999-07-30 Capacitive load drive unit, inspection method and inspection apparatus for this unit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10-228947 1998-08-13
JP22894798 1998-08-13
JP21707499A JP3637246B2 (en) 1998-08-13 1999-07-30 Capacitive load drive unit, inspection method and inspection apparatus for this unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000121689A true JP2000121689A (en) 2000-04-28
JP3637246B2 JP3637246B2 (en) 2005-04-13

Family

ID=26521797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21707499A Expired - Fee Related JP3637246B2 (en) 1998-08-13 1999-07-30 Capacitive load drive unit, inspection method and inspection apparatus for this unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3637246B2 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003225993A (en) * 2002-01-31 2003-08-12 Canon Inc Image recording apparatus
JP2007196404A (en) * 2006-01-24 2007-08-09 Brother Ind Ltd Inkjet head
JP2008100377A (en) * 2006-10-17 2008-05-01 Brother Ind Ltd Recording head, its inspecting method and its manufacturing method
JP2010504868A (en) * 2006-09-29 2010-02-18 イーストマン コダック カンパニー Fault resistance detection in inkjet printer
JP2011148232A (en) * 2010-01-22 2011-08-04 Seiko Epson Corp Head element operation checking mechanism, method for checking head element operation, and method for checking number of head element
JP2017185736A (en) * 2016-04-07 2017-10-12 東芝テック株式会社 Ink jet head and ink jet printer
JP2019109108A (en) * 2017-12-18 2019-07-04 Tdk株式会社 Sensor intermediate component, sensor, and manufacturing method of sensor
JP2020046443A (en) * 2019-12-27 2020-03-26 Tdk株式会社 Current sensor and battery
JP2020199780A (en) * 2020-09-23 2020-12-17 東芝テック株式会社 Ink jet head and ink jet printer
CN114594817A (en) * 2020-12-07 2022-06-07 中移物联网有限公司 Circuit and method for adjusting driving capability of input/output chip

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003225993A (en) * 2002-01-31 2003-08-12 Canon Inc Image recording apparatus
JP2007196404A (en) * 2006-01-24 2007-08-09 Brother Ind Ltd Inkjet head
JP4582009B2 (en) * 2006-01-24 2010-11-17 ブラザー工業株式会社 Inkjet head
JP2010504868A (en) * 2006-09-29 2010-02-18 イーストマン コダック カンパニー Fault resistance detection in inkjet printer
JP2008100377A (en) * 2006-10-17 2008-05-01 Brother Ind Ltd Recording head, its inspecting method and its manufacturing method
JP2011148232A (en) * 2010-01-22 2011-08-04 Seiko Epson Corp Head element operation checking mechanism, method for checking head element operation, and method for checking number of head element
JP2017185736A (en) * 2016-04-07 2017-10-12 東芝テック株式会社 Ink jet head and ink jet printer
JP2019109108A (en) * 2017-12-18 2019-07-04 Tdk株式会社 Sensor intermediate component, sensor, and manufacturing method of sensor
JP2020046443A (en) * 2019-12-27 2020-03-26 Tdk株式会社 Current sensor and battery
JP2020199780A (en) * 2020-09-23 2020-12-17 東芝テック株式会社 Ink jet head and ink jet printer
CN114594817A (en) * 2020-12-07 2022-06-07 中移物联网有限公司 Circuit and method for adjusting driving capability of input/output chip
CN114594817B (en) * 2020-12-07 2023-10-27 中移物联网有限公司 Circuit and method for adjusting driving capability of input/output chip

Also Published As

Publication number Publication date
JP3637246B2 (en) 2005-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100920391B1 (en) Semiconductor device, semiconductor device testing method, and probe card
US6753687B2 (en) Capacitive load driving unit and method and apparatus for inspecting the same
JP3637246B2 (en) Capacitive load drive unit, inspection method and inspection apparatus for this unit
KR19990030341A (en) Semiconductor inspection circuit and inspection method of semiconductor circuit
EP3478506B1 (en) Droplet deposition apparatus and test circuit therefor
JPH09218245A (en) Hybrid scanner for use in improved mda tester
JP6452498B2 (en) Liquid ejection head inspection apparatus and liquid ejection head
JP2009251252A (en) Driving circuit for display device, and test circuit, and test method
US7928745B2 (en) Endurance testing system and method
US4922184A (en) Apparatus and process for the simultaneous continuity sensing of multiple circuits
KR20120035254A (en) Method for detecting abnormal nozzle using self-sensing of piezo
JP3724692B2 (en) Liquid crystal display device and inspection method thereof
US7187204B2 (en) Circuit for inspecting semiconductor device and inspecting method
CN101943735A (en) Built-in line testing process
JP2012250489A (en) Printing apparatus
US20090058918A1 (en) System and method for reliability testing and troubleshooting inkjet printers
CN102950905A (en) Printing device and control method
JP2001235725A (en) Liquid crystal display device
JPH08210877A (en) Method for displaying measured data for user and portable test instrument
CN109935181A (en) A kind of driving circuit, the method and display for detecting connecting component impedance
US6295621B1 (en) Apparatus for detecting output bond integrity in a display driver circuit
Schmitt et al. Electron-beam testing of flat panel display substrates
CN203310965U (en) Functional test system for printed circuit board assembly
KR101279810B1 (en) Method for detecting abnormal nozzle using self-sensing of piezo and recording medium thereof
JPH1134380A (en) Driver for thermal head

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050107

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140114

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees