JP2000099975A - 光ディスク駆動装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスク駆動装置の光ディスク用光学系の
レーザダイオードの良否を容易に判断できるようにする
ことを目的とする。 【解決手段】 光ディスク用光学系１のレーザダイオー
ド２と、このレーザダイオード２が所定光量を発光する
ときのこのレーザダイオード２の電流値を検出する実測
電流検出手段４，６と、制御用のマイクロコンピュータ
７と、不揮発性メモリ２１とを有する光ディスク駆動装
置であって、この不揮発性メモリ２１にこの光ディスク
用光学系１のレーザダイオード２の工場出荷時の所定光
量の発光時の電流値Ｉ_OPＯを記憶するようにし、このマ
イクロコンピュータ７でこの不揮発性メモリ２１に記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値Ｉ_OPとこの実測電流
検出手段４，６の出力側に得られる所定光量を発光する
ときの実測電流値Ｉ_OPとを比較して、このレーザダイオ
ード２の良否を判断するようにしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は例えばコンパクトプ
レーヤ（ＣＤプレーヤ）、ミニディスクプレーヤ（ＭＤ
プレーヤ）等に使用して好適な、光ディスク用光学系に
レーザダイオードを使用するようにした光ディスク駆動
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】一般
に、ＣＤプレーヤ、ＭＤプレーヤ等の光ディスク駆動装
置に使用される光ディスク用光学系のレーザダイオード
は静電気、電源からのサージ、経時自然劣化等により相
対的に故障し易い部品であり、しかも、必ず寿命により
故障に至る構造である。このため、このレーザダイオー
ドを含むこの光ディスク用光学系の製造メーカではこの
光ディスク用光学系の製造ラインで、この光ディスク用
光学系の一個づつのレーザダイオードの所定光量を発光
する工場出荷時の電流値Ｉ_OPＯを測定して、その工場出
荷時の測定値Ｉ_OPＯをラベル等に表記して貼り付けて管
理データとしている。

【０００３】一方、このレーザダイオードを含む光ディ
スク用光学系を使用して光ディスク駆動装置を製造する
ときには、この光ディスク駆動装置の製造ラインでも１
台毎にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの所
定光量を発光する電流値Ｉ_OPを実測して光ディスク用光
学系の製造ラインで工場出荷時のラベル等に表記した所
定光量を発光する電流値Ｉ_OPＯとの増加分ΔＩ_OPが所定
の値以下（例えば数ｍＡ以下）であることを確認し、こ
のレーザダイオードに故障がないことを判断している。

【０００４】この場合、レーザダイオードは劣化に従っ
て、この所定光量を発光する電流値Ｉ_OPが増加するもの
である。

【０００５】また、この光ディスク駆動装置の製造にお
いて、この光ディスク用光学系に貼り付けられたラベル
はメカデッキの製造ライン組み立て完成後はこのメカデ
ッキの外部から見るのは困難なため、このラベルに表記
した工場出荷時の電流値Ｉ_OPＯをこのメカデッキにマジ
ックインキ等で記述し、製造工程内、製造工程外の管理
データとすることもあった。

【０００６】この製造された光ディスク駆動装置は正常
なものでも経年変化により、この光ディスク用光学系の
レーザダイオードが劣化し、この所定光量を発光する電
流値Ｉ_OPが増加していく。このため、このレーザダイオ
ードの所定光量の発光する電流値は、この光ディスク駆
動装置に故障等の不具合が生じた時、サービス部門で確
認が必要な必須項目である。

【０００７】この光ディスク駆動装置の光ディスク用光
学系のレーザダイオードに劣化の疑いが生じたときは次
のような手順の措置が必要であった。

【０００８】即ち、先ずこの光ディスク用光学系のレー
ザダイオードの劣化の疑いのある光ディスク駆動装置の
不良を解析するには、この光ディスク駆動装置の内部を
開けて、このレーザダイオードの所定光量を発光する電
流値Ｉ_OPが測定できる程度まで分解する。

【０００９】次に、この光ディスク用光学系のレーザダ
イオードに対し、電流計、電圧計等を接続して、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光する電流値Ｉ_OPの測定
を行う。

【００１０】次に、この実測電流値Ｉ_OPとこのレーザダ
イオードを含む光ディスク用光学系に貼り付けられてい
るラベルに表記された工場出荷時の所定光量を発光する
電流値Ｉ_OPＯとを比較し、この増加分ΔＩ_OPにより、こ
のレーザダイオードの良否を判断する。

【００１１】不良の場合、このレーザダイオードを含む
光ディスク用光学系の交換を行う。その後、この光ディ
スク駆動装置を組み立て修復して動作の確認して終了す
る。

【００１２】このように、光ディスク駆動装置の光ディ
スク用光学系のレーザダイオードの良否の判断を行うだ
けでも、例えば３０分程度の時間を必要とすると共にサ
ービスマンに対しては所定のトレーニングを必要とする
作業である。

【００１３】本発明は斯る点に鑑み、この光ディスク駆
動装置の光ディスク用光学系のレーザダイオードの良否
を容易に判断でいるようにすることを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明光ディスク駆動装
置は光ディスク用光学系のレーザダイオードと、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光するときのこのレーザ
ダイオードの電流値を検出する実測電流検出手段と、制
御用のマイクロコンピュータと、不揮発性メモリとを有
する光ディスク駆動装置であって、この不揮発性メモリ
にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出
荷時の所定光量の発光時の電流値を記憶するようにし、
このマイクロコンピュータでこの不揮発性メモリに記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値とこの実測電流検出
手段の出力側に得られる所定光量を発光するときの実測
電流値とを比較して、このレーザダイオードの良否を判
断するようにしたものである。

【００１５】斯る、本発明によれば、不揮発性メモリに
光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の
所定光量の発光時の電流値を記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値を検
出できるようにしたので之等を比較でき、このレーザダ
イオードの良否を光ディスク駆動装置を分解することな
く、容易に判断することができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明光デ
ィスク駆動装置の実施の形態の例を説明しよう。図１は
光ディスク駆動装置の要部の例を示し、光ディスク用光
学系１の内部に設けられたレーザダイオード２から出力
されたレーザビームＬＢは、光ディスク用光学系１の内
部に設けられているコリメータレンズ、ビームスプリッ
タ、対物レンズ（いずれも図示せず）を介して光ディス
ク３の面に光スポットを形成する。

【００１７】この場合、レーザダイオード２から出力さ
れたレーザビームＬＢの一部はレーザダイオード２から
の光量を検出するフォトダイオード４に入射される。ま
た光ディスク３の面から反射されたレーザビームＬＢは
周知の如くシリンドリカルレンズ５を介して光学センサ
（図示せず）上に光スポットを形成する如くなされてい
る。

【００１８】フォトダイオード４では、レーザダイオー
ド２から出力されるレーザビームＬＢの光量に応じた大
きさの電気信号に交換され、この電気信号をオートパワ
ーコントロール回路６に供給する。このオートパワーコ
ントロール回路６では帰還制御によりレーザダイオード
２の発光光量を一定に制御すべく駆動制御信号をこのレ
ーザダイオード２に供給する如くなす。

【００１９】図１において、７はこの光ディスク駆動装
置の制御用のマイクロコンピュータを示し、このオート
パワーコントロール回路６はこのマイクロコンピュータ
７により指令制御される如く、なされている。

【００２０】本例においては、このオートパワーコント
ロール回路６として、図２に示す如く構成する。図２に
おいて、１０はマイクロコンピュータ７からオートパワ
ーコントロールの基準信号ＲＥＦが供給される基準信号
入力端子を示し、この基準信号入力端子１０に供給され
る基準信号を抵抗器１１を介して、比較回路を構成する
演算増幅回路１２の反転入力端子−に供給する。

【００２１】本例においては、この基準信号入力端子１
０にオートパワーコントロール用の基準信号ＲＥＦとレ
ーザダイオード２の所定光量を発光する電流値Ｉ_OPを測
定するときの所定光量基準信号ＲＥＦＯとを切換供給で
きる如くする。

【００２２】この演算増幅回路１２の非反転入力端子＋
をレーザダイオード２の発光量を検出するフォトダイオ
ード４を介して正の直流電圧＋Ｂが供給される電源端子
１３に接続すると共にこの演算増幅回路１２の非反転入
力端子＋を抵抗器１４を介して接地する。

【００２３】この演算増幅回路１２の出力端子を抵抗器
１５を介して、この演算増幅回路１２の反転入力端子−
に接続すると共にこの演算増幅回路１２の出力端子を抵
抗器１６を介してｐｎｐ形トランジスタ１７のベースに
接続し、このトランジスタ１７のコレクタを光ディスク
用光学系１のレーザダイオード２を介して接地し、この
トランジスタ１７によりレーザダイオード２に流れる電
流を制御する如くする。

【００２４】また、このトランジスタ１７のエミッタを
電流を電圧に変換する抵抗器１８を介して電源端子１３
に接続する。この場合、この抵抗器１８にはレーザダイ
オード２に流れる電流に応じた電流が流れる。

【００２５】この抵抗器１８及びトランジスタ１７のエ
ミッタの接続点に得られるレーザダイオード２に流れる
電流に応じた電圧をアナログ信号をデジタル信号に変換
するＡ−Ｄ変換器１９を介してマイクロコンピュータ７
に供給する如くする。

【００２６】斯る図２に示す如きオートパワーコントロ
ール回路６においては、基準信号入力端子１０にマイク
ロコンピュータ７よりオートパワーコントロール用の基
準信号ＲＥＦが供給されたときには、フォトダイオード
４が受ける光量が一定となるようにレーザダイオード２
に流れる電流が制御され、このレーザダイオード２が一
定の光量を発光するように制御される。

【００２７】また、この基準信号入力端子１０にマイク
ロコンピュータ７よりレーザダイオード２の所定光量を
発光する電流値Ｉ_OPを測定する所定光量基準信号ＲＥＦ
Ｏが供給されたときは、上述同様にフォトダイオード４
が受ける光量が所定光量となるようにレーザダイオード
２に流れる電流が制御され、このレーザダイオード２が
所定光量を発光するように制御される。

【００２８】本例においてはこのときにレーザダイオー
ド２に流れる電流値Ｉ_OPに応じた電圧をＡ−Ｄ変換器１
９を介してデジタル値に変換してマイクロコンピュータ
７のメモリ７ａにレーザダイオード２の所定光量を発光
する電流値Ｉ_OPとして記憶する如くする。

【００２９】このレーザダイオード２の所定光量を発光
する電流値Ｉ_OPの測定は必要に応じ、所望時にマイクロ
コンピュータ７の指令に従って任意に行なうことがで
き、このメモリ７ａに記憶した電流値Ｉ_OPはそのたびに
更新される如くする。

【００３０】また、本例においては、図３に示す如く、
この光ディスク駆動装置のメカデッキ２０にこのメカデ
ッキ２０の特性を記憶する不揮発性メモリ２１を設ける
と共にこの光ディスク駆動装置のメカデッキ２０の製造
ラインの組み立て工程でこのレーザダイオード２を含む
光ディスク用光学系１のラベルに表記した、工場出荷時
のレーザダイオード２が所定光量を発光する電流値Ｉ_OP
Ｏを読み取って、テンキー２２等によりマイクロコンピ
ュータ７を介して、この不揮発性メモリ２１に書き込む
如くする。

【００３１】また本例においては、レーザダイオード２
を含む光ディスク用光学系１を交換したときに、この不
揮発性メモリ２１に記憶した光ディスク用光学系１のレ
ーザダイオード２の工場出荷時の所定光量の発光時の電
流値Ｉ_OPＯを交換した光ディスク用光学系１のレーザダ
イオード２のラベルに表記された電流値Ｉ_OPＯにこのテ
ンキー２２等により書き換えることができる如くする。

【００３２】また、本例においては、図３に示す如く、
この光ディスク駆動装置に液晶表示装置等の表示装置２
３を設け、この表示装置２３に必要に応じ、マイクロコ
ンピュータ７の指令に従って、この不揮発性メモリ２１
に記憶したラベルに表記した光ディスク用光学系１のレ
ーザダイオード２の工場出荷時の所定光量を発光する電
流値Ｉ_OPＯと、マイクロコンピュータ７のメモリ７ａに
記憶したレーザダイオード２の実測による最新の所定光
量を発光するときの実測電流値Ｉ_OPとを表示できるよう
にする。

【００３３】このときは表示装置２３を見るだけで、こ
のレーザダイオード２の工場出荷時の所定光量を発光す
る電流値Ｉ_OPＯと最新の所定光量を発光する実測電流値
Ｉ_OPを確認でき、この増加分ΔＩ_OPを確認でき、このレ
ーザダイオード２の良否を判断できる。

【００３４】また、本例においては、この不揮発性メモ
リ２１に記憶した工場出荷時の電流値Ｉ_OPＯ及びメモリ
７ａに記憶した最新の実測電流値Ｉ_OPをマイクロコンピ
ュータ７を介して通信機能で外部に取り出すことが出来
るようにする。この場合、外部のハードディスクに記録
して管理データとすることができる。

【００３５】本例においては、その他は従来の光ディス
ク駆動装置と同様に構成する如くする。

【００３６】本例は上述の如く構成するのでこの光ディ
スク駆動装置の製造工程の各工程で必要に応じ、基準信
号入力端子１０にマイクロコンピュータ７より所定光量
基準信号ＲＥＦＯを供給することにより工場出荷時のレ
ーザダイオード２の所定光量を発光する電流値Ｉ_OPＯと
この実測電流値Ｉ_OPとの差の増加分ΔＩ_OPを確認するこ
とができ、これにより、このレーザダイオード２の劣化
不良を迅速に除去することができる。

【００３７】また出荷後に、この光ディスク駆動装置に
不具合が生じ、サービス部門に持ち込まれ、この光ディ
スク用光学系１のレーザダイオード２の所定光量を発光
する電流値Ｉ_OPを確認するときには、マイクロコンピュ
ータ７より基準信号入力端子１０に所定光量基準信号Ｒ
ＥＦＯを供給することにより、この実測電流値Ｉ_OPを得
ることができ、この際、この光ディスク駆動装置の表示
装置２３に不揮発性メモリ２１に記憶した工場出荷時の
電流値Ｉ_OPＯ及びこの実測電流値Ｉ_OPを表示するように
すれば、この電流の増加分ΔＩ_OPをこの光ディスク駆動
装置を分解することなく確認することができ、このレー
ザダイオード２の良否を容易に判断することができる。

【００３８】尚、本発明は上述例に限ることなく、本発
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り
得ることは勿論である。

【発明の効果】本発明によれば不揮発性メモリに光ディ
スク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の所定光
量を発光する電流値Ｉ_OPＯを記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値Ｉ_OP
を必要に応じ検出できるようにしたので之等を比較で
き、このレーザダイオードの良否を、この光ディスク駆
動装置を分解することなく、容易に判断することができ
る利益がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明光ディスク駆動装置の実施の形態の例の
要部を示す構成図である。

【図２】オートパワーコントロール回路の例を示す構成
図である。

【図３】本発明光ディスク駆動装置の実施の形態の例の
他の要部を示す構成図である。

【符号の説明】

１‥‥光ディスク用光学系、２‥‥レーザダイオード、
３‥‥光ディスク、４‥‥フォトダイオード、６‥‥オ
ートパワーコントロール回路、７‥‥マイクロコンピュ
ータ、７ａ‥‥メモリ、１０‥‥基準信号入力端子、１
１，１４，１５，１６，１８‥‥抵抗器、１２‥‥演算
増幅回路、１７‥‥トランジスタ、１９‥‥Ａ／Ｄ変換
器、２０‥‥メカデッキ、２１‥‥不揮発性メモリ、２
２‥‥テンキー、２３‥‥表示装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 裕士 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 中村 一幸 茨城県下妻市下妻丙423番 ソニー北関東 株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 AB03 DE22 5D119 AA40 AA50 BA01 FA05 MA24 NA05 PA03

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク用光学系のレーザダイオード
   と、該レーザダイオードが所定光量を発光するときのこ
   のレーザダイオードの電流値を検出する実測電流検出手
   段と、制御用のマイクロコンピュータと、不揮発性メモ
   リとを有する光ディスク駆動装置であって、 前期不揮発性メモリに前記光ディスク用光学系のレーザ
   ダイオードの工場出荷時の前記所定光量の発光時の電流
   値を記憶するようにし、前記マイクロコンピュータで前
   記不揮発性メモリに記憶した工場出荷時の所定光量の電
   流値と前記実測電流検出手段の出力側に得られる所定光
   量を発光するときの実測電流値とを比較して前記レーザ
   ダイオードの良否を判断するようにしたことを特徴とす
   る光ディスク駆動装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ディスク駆動装置にお
   いて、 表示手段を設け、該表示手段に前記レーザダイオードの
   工場出荷時の所定光量の電流値と前記実測電流検出手段
   の出力側に得られる所定光量を発光するときの実測電流
   値とを表示できるようにしたことを特徴とする光ディス
   ク駆動装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は２記載の光ディスク駆動装
   置において、レーザダイオードの劣化により前記光ディ
   スク用光学系を交換したときに、前記不揮発性メモリに
   記憶した光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場
   出荷時の前記所定光量の発光時の電流値を書き換えるこ
   とができるようにしたことを特徴とする光ディスク駆動
   装置。