JP2000099975A - 光ディスク駆動装置 - Google Patents
光ディスク駆動装置Info
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- JP2000099975A JP2000099975A JP10263382A JP26338298A JP2000099975A JP 2000099975 A JP2000099975 A JP 2000099975A JP 10263382 A JP10263382 A JP 10263382A JP 26338298 A JP26338298 A JP 26338298A JP 2000099975 A JP2000099975 A JP 2000099975A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスク駆動装置の光ディスク用光学系の
レーザダイオードの良否を容易に判断できるようにする
ことを目的とする。 【解決手段】 光ディスク用光学系1のレーザダイオー
ド2と、このレーザダイオード2が所定光量を発光する
ときのこのレーザダイオード2の電流値を検出する実測
電流検出手段4,6と、制御用のマイクロコンピュータ
7と、不揮発性メモリ21とを有する光ディスク駆動装
置であって、この不揮発性メモリ21にこの光ディスク
用光学系1のレーザダイオード2の工場出荷時の所定光
量の発光時の電流値IOPOを記憶するようにし、このマ
イクロコンピュータ7でこの不揮発性メモリ21に記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値IOPとこの実測電流
検出手段4,6の出力側に得られる所定光量を発光する
ときの実測電流値IOPとを比較して、このレーザダイオ
ード2の良否を判断するようにしたものである。
レーザダイオードの良否を容易に判断できるようにする
ことを目的とする。 【解決手段】 光ディスク用光学系1のレーザダイオー
ド2と、このレーザダイオード2が所定光量を発光する
ときのこのレーザダイオード2の電流値を検出する実測
電流検出手段4,6と、制御用のマイクロコンピュータ
7と、不揮発性メモリ21とを有する光ディスク駆動装
置であって、この不揮発性メモリ21にこの光ディスク
用光学系1のレーザダイオード2の工場出荷時の所定光
量の発光時の電流値IOPOを記憶するようにし、このマ
イクロコンピュータ7でこの不揮発性メモリ21に記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値IOPとこの実測電流
検出手段4,6の出力側に得られる所定光量を発光する
ときの実測電流値IOPとを比較して、このレーザダイオ
ード2の良否を判断するようにしたものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は例えばコンパクトプ
レーヤ(CDプレーヤ)、ミニディスクプレーヤ(MD
プレーヤ)等に使用して好適な、光ディスク用光学系に
レーザダイオードを使用するようにした光ディスク駆動
装置に関する。
レーヤ(CDプレーヤ)、ミニディスクプレーヤ(MD
プレーヤ)等に使用して好適な、光ディスク用光学系に
レーザダイオードを使用するようにした光ディスク駆動
装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】一般
に、CDプレーヤ、MDプレーヤ等の光ディスク駆動装
置に使用される光ディスク用光学系のレーザダイオード
は静電気、電源からのサージ、経時自然劣化等により相
対的に故障し易い部品であり、しかも、必ず寿命により
故障に至る構造である。このため、このレーザダイオー
ドを含むこの光ディスク用光学系の製造メーカではこの
光ディスク用光学系の製造ラインで、この光ディスク用
光学系の一個づつのレーザダイオードの所定光量を発光
する工場出荷時の電流値IOPOを測定して、その工場出
荷時の測定値IOPOをラベル等に表記して貼り付けて管
理データとしている。
に、CDプレーヤ、MDプレーヤ等の光ディスク駆動装
置に使用される光ディスク用光学系のレーザダイオード
は静電気、電源からのサージ、経時自然劣化等により相
対的に故障し易い部品であり、しかも、必ず寿命により
故障に至る構造である。このため、このレーザダイオー
ドを含むこの光ディスク用光学系の製造メーカではこの
光ディスク用光学系の製造ラインで、この光ディスク用
光学系の一個づつのレーザダイオードの所定光量を発光
する工場出荷時の電流値IOPOを測定して、その工場出
荷時の測定値IOPOをラベル等に表記して貼り付けて管
理データとしている。
【0003】一方、このレーザダイオードを含む光ディ
スク用光学系を使用して光ディスク駆動装置を製造する
ときには、この光ディスク駆動装置の製造ラインでも1
台毎にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの所
定光量を発光する電流値IOPを実測して光ディスク用光
学系の製造ラインで工場出荷時のラベル等に表記した所
定光量を発光する電流値IOPOとの増加分ΔIOPが所定
の値以下(例えば数mA以下)であることを確認し、こ
のレーザダイオードに故障がないことを判断している。
スク用光学系を使用して光ディスク駆動装置を製造する
ときには、この光ディスク駆動装置の製造ラインでも1
台毎にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの所
定光量を発光する電流値IOPを実測して光ディスク用光
学系の製造ラインで工場出荷時のラベル等に表記した所
定光量を発光する電流値IOPOとの増加分ΔIOPが所定
の値以下(例えば数mA以下)であることを確認し、こ
のレーザダイオードに故障がないことを判断している。
【0004】この場合、レーザダイオードは劣化に従っ
て、この所定光量を発光する電流値IOPが増加するもの
である。
て、この所定光量を発光する電流値IOPが増加するもの
である。
【0005】また、この光ディスク駆動装置の製造にお
いて、この光ディスク用光学系に貼り付けられたラベル
はメカデッキの製造ライン組み立て完成後はこのメカデ
ッキの外部から見るのは困難なため、このラベルに表記
した工場出荷時の電流値IOPOをこのメカデッキにマジ
ックインキ等で記述し、製造工程内、製造工程外の管理
データとすることもあった。
いて、この光ディスク用光学系に貼り付けられたラベル
はメカデッキの製造ライン組み立て完成後はこのメカデ
ッキの外部から見るのは困難なため、このラベルに表記
した工場出荷時の電流値IOPOをこのメカデッキにマジ
ックインキ等で記述し、製造工程内、製造工程外の管理
データとすることもあった。
【0006】この製造された光ディスク駆動装置は正常
なものでも経年変化により、この光ディスク用光学系の
レーザダイオードが劣化し、この所定光量を発光する電
流値IOPが増加していく。このため、このレーザダイオ
ードの所定光量の発光する電流値は、この光ディスク駆
動装置に故障等の不具合が生じた時、サービス部門で確
認が必要な必須項目である。
なものでも経年変化により、この光ディスク用光学系の
レーザダイオードが劣化し、この所定光量を発光する電
流値IOPが増加していく。このため、このレーザダイオ
ードの所定光量の発光する電流値は、この光ディスク駆
動装置に故障等の不具合が生じた時、サービス部門で確
認が必要な必須項目である。
【0007】この光ディスク駆動装置の光ディスク用光
学系のレーザダイオードに劣化の疑いが生じたときは次
のような手順の措置が必要であった。
学系のレーザダイオードに劣化の疑いが生じたときは次
のような手順の措置が必要であった。
【0008】即ち、先ずこの光ディスク用光学系のレー
ザダイオードの劣化の疑いのある光ディスク駆動装置の
不良を解析するには、この光ディスク駆動装置の内部を
開けて、このレーザダイオードの所定光量を発光する電
流値IOPが測定できる程度まで分解する。
ザダイオードの劣化の疑いのある光ディスク駆動装置の
不良を解析するには、この光ディスク駆動装置の内部を
開けて、このレーザダイオードの所定光量を発光する電
流値IOPが測定できる程度まで分解する。
【0009】次に、この光ディスク用光学系のレーザダ
イオードに対し、電流計、電圧計等を接続して、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光する電流値IOPの測定
を行う。
イオードに対し、電流計、電圧計等を接続して、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光する電流値IOPの測定
を行う。
【0010】次に、この実測電流値IOPとこのレーザダ
イオードを含む光ディスク用光学系に貼り付けられてい
るラベルに表記された工場出荷時の所定光量を発光する
電流値IOPOとを比較し、この増加分ΔIOPにより、こ
のレーザダイオードの良否を判断する。
イオードを含む光ディスク用光学系に貼り付けられてい
るラベルに表記された工場出荷時の所定光量を発光する
電流値IOPOとを比較し、この増加分ΔIOPにより、こ
のレーザダイオードの良否を判断する。
【0011】不良の場合、このレーザダイオードを含む
光ディスク用光学系の交換を行う。その後、この光ディ
スク駆動装置を組み立て修復して動作の確認して終了す
る。
光ディスク用光学系の交換を行う。その後、この光ディ
スク駆動装置を組み立て修復して動作の確認して終了す
る。
【0012】このように、光ディスク駆動装置の光ディ
スク用光学系のレーザダイオードの良否の判断を行うだ
けでも、例えば30分程度の時間を必要とすると共にサ
ービスマンに対しては所定のトレーニングを必要とする
作業である。
スク用光学系のレーザダイオードの良否の判断を行うだ
けでも、例えば30分程度の時間を必要とすると共にサ
ービスマンに対しては所定のトレーニングを必要とする
作業である。
【0013】本発明は斯る点に鑑み、この光ディスク駆
動装置の光ディスク用光学系のレーザダイオードの良否
を容易に判断でいるようにすることを目的とする。
動装置の光ディスク用光学系のレーザダイオードの良否
を容易に判断でいるようにすることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明光ディスク駆動装
置は光ディスク用光学系のレーザダイオードと、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光するときのこのレーザ
ダイオードの電流値を検出する実測電流検出手段と、制
御用のマイクロコンピュータと、不揮発性メモリとを有
する光ディスク駆動装置であって、この不揮発性メモリ
にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出
荷時の所定光量の発光時の電流値を記憶するようにし、
このマイクロコンピュータでこの不揮発性メモリに記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値とこの実測電流検出
手段の出力側に得られる所定光量を発光するときの実測
電流値とを比較して、このレーザダイオードの良否を判
断するようにしたものである。
置は光ディスク用光学系のレーザダイオードと、このレ
ーザダイオードが所定光量を発光するときのこのレーザ
ダイオードの電流値を検出する実測電流検出手段と、制
御用のマイクロコンピュータと、不揮発性メモリとを有
する光ディスク駆動装置であって、この不揮発性メモリ
にこの光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出
荷時の所定光量の発光時の電流値を記憶するようにし、
このマイクロコンピュータでこの不揮発性メモリに記憶
した工場出荷時の所定光量の電流値とこの実測電流検出
手段の出力側に得られる所定光量を発光するときの実測
電流値とを比較して、このレーザダイオードの良否を判
断するようにしたものである。
【0015】斯る、本発明によれば、不揮発性メモリに
光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の
所定光量の発光時の電流値を記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値を検
出できるようにしたので之等を比較でき、このレーザダ
イオードの良否を光ディスク駆動装置を分解することな
く、容易に判断することができる。
光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の
所定光量の発光時の電流値を記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値を検
出できるようにしたので之等を比較でき、このレーザダ
イオードの良否を光ディスク駆動装置を分解することな
く、容易に判断することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明光デ
ィスク駆動装置の実施の形態の例を説明しよう。図1は
光ディスク駆動装置の要部の例を示し、光ディスク用光
学系1の内部に設けられたレーザダイオード2から出力
されたレーザビームLBは、光ディスク用光学系1の内
部に設けられているコリメータレンズ、ビームスプリッ
タ、対物レンズ(いずれも図示せず)を介して光ディス
ク3の面に光スポットを形成する。
ィスク駆動装置の実施の形態の例を説明しよう。図1は
光ディスク駆動装置の要部の例を示し、光ディスク用光
学系1の内部に設けられたレーザダイオード2から出力
されたレーザビームLBは、光ディスク用光学系1の内
部に設けられているコリメータレンズ、ビームスプリッ
タ、対物レンズ(いずれも図示せず)を介して光ディス
ク3の面に光スポットを形成する。
【0017】この場合、レーザダイオード2から出力さ
れたレーザビームLBの一部はレーザダイオード2から
の光量を検出するフォトダイオード4に入射される。ま
た光ディスク3の面から反射されたレーザビームLBは
周知の如くシリンドリカルレンズ5を介して光学センサ
(図示せず)上に光スポットを形成する如くなされてい
る。
れたレーザビームLBの一部はレーザダイオード2から
の光量を検出するフォトダイオード4に入射される。ま
た光ディスク3の面から反射されたレーザビームLBは
周知の如くシリンドリカルレンズ5を介して光学センサ
(図示せず)上に光スポットを形成する如くなされてい
る。
【0018】フォトダイオード4では、レーザダイオー
ド2から出力されるレーザビームLBの光量に応じた大
きさの電気信号に交換され、この電気信号をオートパワ
ーコントロール回路6に供給する。このオートパワーコ
ントロール回路6では帰還制御によりレーザダイオード
2の発光光量を一定に制御すべく駆動制御信号をこのレ
ーザダイオード2に供給する如くなす。
ド2から出力されるレーザビームLBの光量に応じた大
きさの電気信号に交換され、この電気信号をオートパワ
ーコントロール回路6に供給する。このオートパワーコ
ントロール回路6では帰還制御によりレーザダイオード
2の発光光量を一定に制御すべく駆動制御信号をこのレ
ーザダイオード2に供給する如くなす。
【0019】図1において、7はこの光ディスク駆動装
置の制御用のマイクロコンピュータを示し、このオート
パワーコントロール回路6はこのマイクロコンピュータ
7により指令制御される如く、なされている。
置の制御用のマイクロコンピュータを示し、このオート
パワーコントロール回路6はこのマイクロコンピュータ
7により指令制御される如く、なされている。
【0020】本例においては、このオートパワーコント
ロール回路6として、図2に示す如く構成する。図2に
おいて、10はマイクロコンピュータ7からオートパワ
ーコントロールの基準信号REFが供給される基準信号
入力端子を示し、この基準信号入力端子10に供給され
る基準信号を抵抗器11を介して、比較回路を構成する
演算増幅回路12の反転入力端子−に供給する。
ロール回路6として、図2に示す如く構成する。図2に
おいて、10はマイクロコンピュータ7からオートパワ
ーコントロールの基準信号REFが供給される基準信号
入力端子を示し、この基準信号入力端子10に供給され
る基準信号を抵抗器11を介して、比較回路を構成する
演算増幅回路12の反転入力端子−に供給する。
【0021】本例においては、この基準信号入力端子1
0にオートパワーコントロール用の基準信号REFとレ
ーザダイオード2の所定光量を発光する電流値IOPを測
定するときの所定光量基準信号REFOとを切換供給で
きる如くする。
0にオートパワーコントロール用の基準信号REFとレ
ーザダイオード2の所定光量を発光する電流値IOPを測
定するときの所定光量基準信号REFOとを切換供給で
きる如くする。
【0022】この演算増幅回路12の非反転入力端子+
をレーザダイオード2の発光量を検出するフォトダイオ
ード4を介して正の直流電圧+Bが供給される電源端子
13に接続すると共にこの演算増幅回路12の非反転入
力端子+を抵抗器14を介して接地する。
をレーザダイオード2の発光量を検出するフォトダイオ
ード4を介して正の直流電圧+Bが供給される電源端子
13に接続すると共にこの演算増幅回路12の非反転入
力端子+を抵抗器14を介して接地する。
【0023】この演算増幅回路12の出力端子を抵抗器
15を介して、この演算増幅回路12の反転入力端子−
に接続すると共にこの演算増幅回路12の出力端子を抵
抗器16を介してpnp形トランジスタ17のベースに
接続し、このトランジスタ17のコレクタを光ディスク
用光学系1のレーザダイオード2を介して接地し、この
トランジスタ17によりレーザダイオード2に流れる電
流を制御する如くする。
15を介して、この演算増幅回路12の反転入力端子−
に接続すると共にこの演算増幅回路12の出力端子を抵
抗器16を介してpnp形トランジスタ17のベースに
接続し、このトランジスタ17のコレクタを光ディスク
用光学系1のレーザダイオード2を介して接地し、この
トランジスタ17によりレーザダイオード2に流れる電
流を制御する如くする。
【0024】また、このトランジスタ17のエミッタを
電流を電圧に変換する抵抗器18を介して電源端子13
に接続する。この場合、この抵抗器18にはレーザダイ
オード2に流れる電流に応じた電流が流れる。
電流を電圧に変換する抵抗器18を介して電源端子13
に接続する。この場合、この抵抗器18にはレーザダイ
オード2に流れる電流に応じた電流が流れる。
【0025】この抵抗器18及びトランジスタ17のエ
ミッタの接続点に得られるレーザダイオード2に流れる
電流に応じた電圧をアナログ信号をデジタル信号に変換
するA−D変換器19を介してマイクロコンピュータ7
に供給する如くする。
ミッタの接続点に得られるレーザダイオード2に流れる
電流に応じた電圧をアナログ信号をデジタル信号に変換
するA−D変換器19を介してマイクロコンピュータ7
に供給する如くする。
【0026】斯る図2に示す如きオートパワーコントロ
ール回路6においては、基準信号入力端子10にマイク
ロコンピュータ7よりオートパワーコントロール用の基
準信号REFが供給されたときには、フォトダイオード
4が受ける光量が一定となるようにレーザダイオード2
に流れる電流が制御され、このレーザダイオード2が一
定の光量を発光するように制御される。
ール回路6においては、基準信号入力端子10にマイク
ロコンピュータ7よりオートパワーコントロール用の基
準信号REFが供給されたときには、フォトダイオード
4が受ける光量が一定となるようにレーザダイオード2
に流れる電流が制御され、このレーザダイオード2が一
定の光量を発光するように制御される。
【0027】また、この基準信号入力端子10にマイク
ロコンピュータ7よりレーザダイオード2の所定光量を
発光する電流値IOPを測定する所定光量基準信号REF
Oが供給されたときは、上述同様にフォトダイオード4
が受ける光量が所定光量となるようにレーザダイオード
2に流れる電流が制御され、このレーザダイオード2が
所定光量を発光するように制御される。
ロコンピュータ7よりレーザダイオード2の所定光量を
発光する電流値IOPを測定する所定光量基準信号REF
Oが供給されたときは、上述同様にフォトダイオード4
が受ける光量が所定光量となるようにレーザダイオード
2に流れる電流が制御され、このレーザダイオード2が
所定光量を発光するように制御される。
【0028】本例においてはこのときにレーザダイオー
ド2に流れる電流値IOPに応じた電圧をA−D変換器1
9を介してデジタル値に変換してマイクロコンピュータ
7のメモリ7aにレーザダイオード2の所定光量を発光
する電流値IOPとして記憶する如くする。
ド2に流れる電流値IOPに応じた電圧をA−D変換器1
9を介してデジタル値に変換してマイクロコンピュータ
7のメモリ7aにレーザダイオード2の所定光量を発光
する電流値IOPとして記憶する如くする。
【0029】このレーザダイオード2の所定光量を発光
する電流値IOPの測定は必要に応じ、所望時にマイクロ
コンピュータ7の指令に従って任意に行なうことがで
き、このメモリ7aに記憶した電流値IOPはそのたびに
更新される如くする。
する電流値IOPの測定は必要に応じ、所望時にマイクロ
コンピュータ7の指令に従って任意に行なうことがで
き、このメモリ7aに記憶した電流値IOPはそのたびに
更新される如くする。
【0030】また、本例においては、図3に示す如く、
この光ディスク駆動装置のメカデッキ20にこのメカデ
ッキ20の特性を記憶する不揮発性メモリ21を設ける
と共にこの光ディスク駆動装置のメカデッキ20の製造
ラインの組み立て工程でこのレーザダイオード2を含む
光ディスク用光学系1のラベルに表記した、工場出荷時
のレーザダイオード2が所定光量を発光する電流値IOP
Oを読み取って、テンキー22等によりマイクロコンピ
ュータ7を介して、この不揮発性メモリ21に書き込む
如くする。
この光ディスク駆動装置のメカデッキ20にこのメカデ
ッキ20の特性を記憶する不揮発性メモリ21を設ける
と共にこの光ディスク駆動装置のメカデッキ20の製造
ラインの組み立て工程でこのレーザダイオード2を含む
光ディスク用光学系1のラベルに表記した、工場出荷時
のレーザダイオード2が所定光量を発光する電流値IOP
Oを読み取って、テンキー22等によりマイクロコンピ
ュータ7を介して、この不揮発性メモリ21に書き込む
如くする。
【0031】また本例においては、レーザダイオード2
を含む光ディスク用光学系1を交換したときに、この不
揮発性メモリ21に記憶した光ディスク用光学系1のレ
ーザダイオード2の工場出荷時の所定光量の発光時の電
流値IOPOを交換した光ディスク用光学系1のレーザダ
イオード2のラベルに表記された電流値IOPOにこのテ
ンキー22等により書き換えることができる如くする。
を含む光ディスク用光学系1を交換したときに、この不
揮発性メモリ21に記憶した光ディスク用光学系1のレ
ーザダイオード2の工場出荷時の所定光量の発光時の電
流値IOPOを交換した光ディスク用光学系1のレーザダ
イオード2のラベルに表記された電流値IOPOにこのテ
ンキー22等により書き換えることができる如くする。
【0032】また、本例においては、図3に示す如く、
この光ディスク駆動装置に液晶表示装置等の表示装置2
3を設け、この表示装置23に必要に応じ、マイクロコ
ンピュータ7の指令に従って、この不揮発性メモリ21
に記憶したラベルに表記した光ディスク用光学系1のレ
ーザダイオード2の工場出荷時の所定光量を発光する電
流値IOPOと、マイクロコンピュータ7のメモリ7aに
記憶したレーザダイオード2の実測による最新の所定光
量を発光するときの実測電流値IOPとを表示できるよう
にする。
この光ディスク駆動装置に液晶表示装置等の表示装置2
3を設け、この表示装置23に必要に応じ、マイクロコ
ンピュータ7の指令に従って、この不揮発性メモリ21
に記憶したラベルに表記した光ディスク用光学系1のレ
ーザダイオード2の工場出荷時の所定光量を発光する電
流値IOPOと、マイクロコンピュータ7のメモリ7aに
記憶したレーザダイオード2の実測による最新の所定光
量を発光するときの実測電流値IOPとを表示できるよう
にする。
【0033】このときは表示装置23を見るだけで、こ
のレーザダイオード2の工場出荷時の所定光量を発光す
る電流値IOPOと最新の所定光量を発光する実測電流値
IOPを確認でき、この増加分ΔIOPを確認でき、このレ
ーザダイオード2の良否を判断できる。
のレーザダイオード2の工場出荷時の所定光量を発光す
る電流値IOPOと最新の所定光量を発光する実測電流値
IOPを確認でき、この増加分ΔIOPを確認でき、このレ
ーザダイオード2の良否を判断できる。
【0034】また、本例においては、この不揮発性メモ
リ21に記憶した工場出荷時の電流値IOPO及びメモリ
7aに記憶した最新の実測電流値IOPをマイクロコンピ
ュータ7を介して通信機能で外部に取り出すことが出来
るようにする。この場合、外部のハードディスクに記録
して管理データとすることができる。
リ21に記憶した工場出荷時の電流値IOPO及びメモリ
7aに記憶した最新の実測電流値IOPをマイクロコンピ
ュータ7を介して通信機能で外部に取り出すことが出来
るようにする。この場合、外部のハードディスクに記録
して管理データとすることができる。
【0035】本例においては、その他は従来の光ディス
ク駆動装置と同様に構成する如くする。
ク駆動装置と同様に構成する如くする。
【0036】本例は上述の如く構成するのでこの光ディ
スク駆動装置の製造工程の各工程で必要に応じ、基準信
号入力端子10にマイクロコンピュータ7より所定光量
基準信号REFOを供給することにより工場出荷時のレ
ーザダイオード2の所定光量を発光する電流値IOPOと
この実測電流値IOPとの差の増加分ΔIOPを確認するこ
とができ、これにより、このレーザダイオード2の劣化
不良を迅速に除去することができる。
スク駆動装置の製造工程の各工程で必要に応じ、基準信
号入力端子10にマイクロコンピュータ7より所定光量
基準信号REFOを供給することにより工場出荷時のレ
ーザダイオード2の所定光量を発光する電流値IOPOと
この実測電流値IOPとの差の増加分ΔIOPを確認するこ
とができ、これにより、このレーザダイオード2の劣化
不良を迅速に除去することができる。
【0037】また出荷後に、この光ディスク駆動装置に
不具合が生じ、サービス部門に持ち込まれ、この光ディ
スク用光学系1のレーザダイオード2の所定光量を発光
する電流値IOPを確認するときには、マイクロコンピュ
ータ7より基準信号入力端子10に所定光量基準信号R
EFOを供給することにより、この実測電流値IOPを得
ることができ、この際、この光ディスク駆動装置の表示
装置23に不揮発性メモリ21に記憶した工場出荷時の
電流値IOPO及びこの実測電流値IOPを表示するように
すれば、この電流の増加分ΔIOPをこの光ディスク駆動
装置を分解することなく確認することができ、このレー
ザダイオード2の良否を容易に判断することができる。
不具合が生じ、サービス部門に持ち込まれ、この光ディ
スク用光学系1のレーザダイオード2の所定光量を発光
する電流値IOPを確認するときには、マイクロコンピュ
ータ7より基準信号入力端子10に所定光量基準信号R
EFOを供給することにより、この実測電流値IOPを得
ることができ、この際、この光ディスク駆動装置の表示
装置23に不揮発性メモリ21に記憶した工場出荷時の
電流値IOPO及びこの実測電流値IOPを表示するように
すれば、この電流の増加分ΔIOPをこの光ディスク駆動
装置を分解することなく確認することができ、このレー
ザダイオード2の良否を容易に判断することができる。
【0038】尚、本発明は上述例に限ることなく、本発
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り
得ることは勿論である。
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り
得ることは勿論である。
【発明の効果】本発明によれば不揮発性メモリに光ディ
スク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の所定光
量を発光する電流値IOPOを記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値IOP
を必要に応じ検出できるようにしたので之等を比較で
き、このレーザダイオードの良否を、この光ディスク駆
動装置を分解することなく、容易に判断することができ
る利益がある。
スク用光学系のレーザダイオードの工場出荷時の所定光
量を発光する電流値IOPOを記憶すると共にこのレーザ
ダイオードの所定光量を発光するときの実測電流値IOP
を必要に応じ検出できるようにしたので之等を比較で
き、このレーザダイオードの良否を、この光ディスク駆
動装置を分解することなく、容易に判断することができ
る利益がある。
【図1】本発明光ディスク駆動装置の実施の形態の例の
要部を示す構成図である。
要部を示す構成図である。
【図2】オートパワーコントロール回路の例を示す構成
図である。
図である。
【図3】本発明光ディスク駆動装置の実施の形態の例の
他の要部を示す構成図である。
他の要部を示す構成図である。
1‥‥光ディスク用光学系、2‥‥レーザダイオード、
3‥‥光ディスク、4‥‥フォトダイオード、6‥‥オ
ートパワーコントロール回路、7‥‥マイクロコンピュ
ータ、7a‥‥メモリ、10‥‥基準信号入力端子、1
1,14,15,16,18‥‥抵抗器、12‥‥演算
増幅回路、17‥‥トランジスタ、19‥‥A/D変換
器、20‥‥メカデッキ、21‥‥不揮発性メモリ、2
2‥‥テンキー、23‥‥表示装置
3‥‥光ディスク、4‥‥フォトダイオード、6‥‥オ
ートパワーコントロール回路、7‥‥マイクロコンピュ
ータ、7a‥‥メモリ、10‥‥基準信号入力端子、1
1,14,15,16,18‥‥抵抗器、12‥‥演算
増幅回路、17‥‥トランジスタ、19‥‥A/D変換
器、20‥‥メカデッキ、21‥‥不揮発性メモリ、2
2‥‥テンキー、23‥‥表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 裕士 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 中村 一幸 茨城県下妻市下妻丙423番 ソニー北関東 株式会社内 Fターム(参考) 5D044 AB03 DE22 5D119 AA40 AA50 BA01 FA05 MA24 NA05 PA03
Claims (3)
- 【請求項1】 光ディスク用光学系のレーザダイオード
と、該レーザダイオードが所定光量を発光するときのこ
のレーザダイオードの電流値を検出する実測電流検出手
段と、制御用のマイクロコンピュータと、不揮発性メモ
リとを有する光ディスク駆動装置であって、 前期不揮発性メモリに前記光ディスク用光学系のレーザ
ダイオードの工場出荷時の前記所定光量の発光時の電流
値を記憶するようにし、前記マイクロコンピュータで前
記不揮発性メモリに記憶した工場出荷時の所定光量の電
流値と前記実測電流検出手段の出力側に得られる所定光
量を発光するときの実測電流値とを比較して前記レーザ
ダイオードの良否を判断するようにしたことを特徴とす
る光ディスク駆動装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の光ディスク駆動装置にお
いて、 表示手段を設け、該表示手段に前記レーザダイオードの
工場出荷時の所定光量の電流値と前記実測電流検出手段
の出力側に得られる所定光量を発光するときの実測電流
値とを表示できるようにしたことを特徴とする光ディス
ク駆動装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の光ディスク駆動装
置において、レーザダイオードの劣化により前記光ディ
スク用光学系を交換したときに、前記不揮発性メモリに
記憶した光ディスク用光学系のレーザダイオードの工場
出荷時の前記所定光量の発光時の電流値を書き換えるこ
とができるようにしたことを特徴とする光ディスク駆動
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10263382A JP2000099975A (ja) | 1998-09-17 | 1998-09-17 | 光ディスク駆動装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10263382A JP2000099975A (ja) | 1998-09-17 | 1998-09-17 | 光ディスク駆動装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000099975A true JP2000099975A (ja) | 2000-04-07 |
Family
ID=17388719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10263382A Pending JP2000099975A (ja) | 1998-09-17 | 1998-09-17 | 光ディスク駆動装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000099975A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007122799A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Konica Minolta Opto Inc | 光ディスクドライブ装置、光ピックアップ装置の処理方法、光ディスクドライブ装置の製造方法及び光ディスクドライブ装置の処理方法 |
-
1998
- 1998-09-17 JP JP10263382A patent/JP2000099975A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007122799A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Konica Minolta Opto Inc | 光ディスクドライブ装置、光ピックアップ装置の処理方法、光ディスクドライブ装置の製造方法及び光ディスクドライブ装置の処理方法 |
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