JP2000074831A - 濁度計 - Google Patents
濁度計Info
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- JP2000074831A JP2000074831A JP10240908A JP24090898A JP2000074831A JP 2000074831 A JP2000074831 A JP 2000074831A JP 10240908 A JP10240908 A JP 10240908A JP 24090898 A JP24090898 A JP 24090898A JP 2000074831 A JP2000074831 A JP 2000074831A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンパクトで低価格ながら連続的な濁度測定
も行えるものとする。 【解決手段】 筒管１を通じて筒管１内の測定水に光を
照射するとともに該光の散乱光を受光素子３で受光して
濁度の測定を行う濁度計である。筒管１と光源２との間
に筒管１の軸方向に長いスリットを備えた遮蔽板４を配
置する。筒管１と受光素子３との間に筒管１の軸方向に
長いスリットを供えた遮蔽板５を配置する。筒管の内壁
面における上記各スリットと対応する位置を透明とし、
筒管の内壁面における他の部分を非透光とする。筒管１
の内壁面からの反射光や外乱光の影響を受けることな
く、散乱光に基づく濁度検出を行うことができる。
も行えるものとする。 【解決手段】 筒管１を通じて筒管１内の測定水に光を
照射するとともに該光の散乱光を受光素子３で受光して
濁度の測定を行う濁度計である。筒管１と光源２との間
に筒管１の軸方向に長いスリットを備えた遮蔽板４を配
置する。筒管１と受光素子３との間に筒管１の軸方向に
長いスリットを供えた遮蔽板５を配置する。筒管の内壁
面における上記各スリットと対応する位置を透明とし、
筒管の内壁面における他の部分を非透光とする。筒管１
の内壁面からの反射光や外乱光の影響を受けることな
く、散乱光に基づく濁度検出を行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は上下水道や浴水等の
水の濁り度（濁度）を測定する濁度計に関するものであ
る。
水の濁り度（濁度）を測定する濁度計に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】水の濁度の測定は、一般に測定水に光を
当ててその透過光や散乱光を測定することで行っている
が、この場合、測定水を専用の測定容器に入れて測定を
行う。ここにおける容器は、清浄な状態となっていなく
ては容器の汚れが水の濁度の測定値に影響を及ぼしてし
まう。このために、特開平７‐２０９１８６号公報に
は、測定水の表面散乱光から濁度を測定することで、測
定容器の影響を受けないようにしたものが開示されてい
る。
当ててその透過光や散乱光を測定することで行っている
が、この場合、測定水を専用の測定容器に入れて測定を
行う。ここにおける容器は、清浄な状態となっていなく
ては容器の汚れが水の濁度の測定値に影響を及ぼしてし
まう。このために、特開平７‐２０９１８６号公報に
は、測定水の表面散乱光から濁度を測定することで、測
定容器の影響を受けないようにしたものが開示されてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記公報に示
されたものにおいても、測定水の水面が安定していなく
ては測定誤差が大きくなる上に、測定水中に発生する気
泡も濁度の測定値に影響を及ぼすために、脱泡装置も設
けなくては、連続的な測定は難しく、従って低濁度の測
定水を連続的に測定しようと思えば、水面の安定化手段
や脱泡手段も含めてかなり大型で高価なものとなってし
まう。
されたものにおいても、測定水の水面が安定していなく
ては測定誤差が大きくなる上に、測定水中に発生する気
泡も濁度の測定値に影響を及ぼすために、脱泡装置も設
けなくては、連続的な測定は難しく、従って低濁度の測
定水を連続的に測定しようと思えば、水面の安定化手段
や脱泡手段も含めてかなり大型で高価なものとなってし
まう。
【０００４】本発明はこのような点に鑑みなされたもの
であって、その目的とするところはコンパクトで低価格
ながら連続的な濁度測定も行うことができる濁度計を提
供するにある。
であって、その目的とするところはコンパクトで低価格
ながら連続的な濁度測定も行うことができる濁度計を提
供するにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、筒管
を通じて筒管内の測定水に光を照射するとともに該光の
散乱光を受光素子で受光して濁度の測定を行う濁度計に
おいて、筒管と光源との間に筒管の軸方向に長いスリッ
トを備えた遮蔽板を配置するとともに、筒管と受光素子
との間に筒管の軸方向に長いスリットを供えた遮蔽板を
配置し、筒管の内壁面における上記各スリットと対応す
る位置を透明とし、筒管の内壁面における他の部分を非
透光としていることに特徴を有している。
を通じて筒管内の測定水に光を照射するとともに該光の
散乱光を受光素子で受光して濁度の測定を行う濁度計に
おいて、筒管と光源との間に筒管の軸方向に長いスリッ
トを備えた遮蔽板を配置するとともに、筒管と受光素子
との間に筒管の軸方向に長いスリットを供えた遮蔽板を
配置し、筒管の内壁面における上記各スリットと対応す
る位置を透明とし、筒管の内壁面における他の部分を非
透光としていることに特徴を有している。
【０００６】筒管の内壁面からの反射光や外乱光の影響
を受けることなく、散乱光に基づく濁度検出を行うこと
ができる。この場合、筒管としては円筒管がもっとも好
ましい。
を受けることなく、散乱光に基づく濁度検出を行うこと
ができる。この場合、筒管としては円筒管がもっとも好
ましい。
【０００７】筒管と光源との間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅よりも狭くしてい
るとともに、筒管と受光素子の間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅より狭くしている
と、さらに外乱光等の影響を遮断することができるとと
もにスリットと透明部と光源との位置ずれによる影響を
抑えることができる。
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅よりも狭くしてい
るとともに、筒管と受光素子の間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅より狭くしている
と、さらに外乱光等の影響を遮断することができるとと
もにスリットと透明部と光源との位置ずれによる影響を
抑えることができる。
【０００８】そして、散乱光による濁度検出の補正のた
めの透過光を受光する受光素子を設けるとともに、該受
光素子との筒管との間にスリットを備えた遮蔽板を配置
すると、筒管の汚れの影響を排除した濁度測定を行うこ
とができる。
めの透過光を受光する受光素子を設けるとともに、該受
光素子との筒管との間にスリットを備えた遮蔽板を配置
すると、筒管の汚れの影響を排除した濁度測定を行うこ
とができる。
【０００９】筒管における非透光部は透明部にマスキン
グを施した状態でのコーティングで形成されたものとし
ておけば、非透光部を容易に得ることができる。
グを施した状態でのコーティングで形成されたものとし
ておけば、非透光部を容易に得ることができる。
【００１０】筒管における透光部は汚れの付着しにくい
コーティングが施されたものとしておくのが好ましい。
コーティングが施されたものとしておくのが好ましい。
【００１１】また、筒管はその最内周面全面に汚れの付
着しにくいコーティング層が設けられたものとしておく
ことも好ましい。
着しにくいコーティング層が設けられたものとしておく
ことも好ましい。
【００１２】受光素子出力の基線レベルを検出濁度とす
ることで、気泡の影響を受けることなく濁度を測定する
ことができる。
ることで、気泡の影響を受けることなく濁度を測定する
ことができる。
【００１３】また、筒管に導入する測定水は電解殺菌さ
れたものとしておくことで、筒管内壁への汚れの付着を
抑えることができる。
れたものとしておくことで、筒管内壁への汚れの付着を
抑えることができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下本発明を実施の形態の一例に
基づいて詳述する。図１は濁度計の検出部の水平断面を
示しており、透明材にて形成された円筒管１を納めた非
透光の材質よりなる固定具７の外部側方に光源２を配置
するとともに、円筒管１と光源２の間で且つ円筒菅１の
近傍に円筒管１の軸方向に長い所定長さのスリットを有
する遮閉板４を配置している。また、固定具７にも遮蔽
板４のスリットと対向する位置に少し大きめのスリット
を設け、光源２からの照射光９が円筒管１の軸を通るよ
うにしてある。
基づいて詳述する。図１は濁度計の検出部の水平断面を
示しており、透明材にて形成された円筒管１を納めた非
透光の材質よりなる固定具７の外部側方に光源２を配置
するとともに、円筒管１と光源２の間で且つ円筒菅１の
近傍に円筒管１の軸方向に長い所定長さのスリットを有
する遮閉板４を配置している。また、固定具７にも遮蔽
板４のスリットと対向する位置に少し大きめのスリット
を設け、光源２からの照射光９が円筒管１の軸を通るよ
うにしてある。
【００１５】一方、光源２からの照射光９に対して円筒
管１の軸を基準に、一定角度（約３０〜１５０°）の位
置の円筒管１の外部側方に受光素子３を配置し、円筒管
１と受光素子３の間の円筒管１の近傍に、固定具７を介
して円筒管１の軸方向に一定長さのスリットを有する遮
蔽板５を配置し、固定具７の遮閉板５のスリットと対向
する位置にも少し大きめのスリットを設け、光源２から
の照射光９の散乱光１０が受光素子３に照射されるよう
にしてある。また、受光素子３と遮蔽板５の間に散乱光
を受光素子３に効率よく集光するためにレンズ１１を配
置してある。
管１の軸を基準に、一定角度（約３０〜１５０°）の位
置の円筒管１の外部側方に受光素子３を配置し、円筒管
１と受光素子３の間の円筒管１の近傍に、固定具７を介
して円筒管１の軸方向に一定長さのスリットを有する遮
蔽板５を配置し、固定具７の遮閉板５のスリットと対向
する位置にも少し大きめのスリットを設け、光源２から
の照射光９の散乱光１０が受光素子３に照射されるよう
にしてある。また、受光素子３と遮蔽板５の間に散乱光
を受光素子３に効率よく集光するためにレンズ１１を配
置してある。
【００１６】そして、円筒管１の内壁面の前記それぞれ
のスリットと対応する位置に前記スリットより少し大き
めの部分を除いて非透光の被膜６をコーティングしてあ
る。さらに、非透光の被膜６を含めた円筒管１の内壁面
全面に、汚れの付きにくい無機系コーティング材８を塗
布してある。ここでは、この部分の製法として円筒管１
の透明部分の内壁をマスキングテープ等であらかじめマ
スキングした後、非透光の被膜６をコーティングし、マ
スキングテープを取り除いた後に汚れの付きにくい無機
系コーティング材８を再度コーティングすることにより
実現している。ここで、無機系コーティング材８に酸化
チタンを用いて光触媒現象により汚れを分解して汚れな
いようにしてもよいし、非透光の被膜６自身を汚れの付
きにくい無機系コーティング材で形成して、透明な部分
に透明な汚れの付きにくい無機系コーティング材を塗布
してもよい。
のスリットと対応する位置に前記スリットより少し大き
めの部分を除いて非透光の被膜６をコーティングしてあ
る。さらに、非透光の被膜６を含めた円筒管１の内壁面
全面に、汚れの付きにくい無機系コーティング材８を塗
布してある。ここでは、この部分の製法として円筒管１
の透明部分の内壁をマスキングテープ等であらかじめマ
スキングした後、非透光の被膜６をコーティングし、マ
スキングテープを取り除いた後に汚れの付きにくい無機
系コーティング材８を再度コーティングすることにより
実現している。ここで、無機系コーティング材８に酸化
チタンを用いて光触媒現象により汚れを分解して汚れな
いようにしてもよいし、非透光の被膜６自身を汚れの付
きにくい無機系コーティング材で形成して、透明な部分
に透明な汚れの付きにくい無機系コーティング材を塗布
してもよい。
【００１７】図２は濁度検出回路のブロック図である。
【００１８】次に動作について説明する。円筒管１の内
部にポンプ（図示せず）により測定水を送水した後、発
振回路１２の信号により発光回路１３で発光素子（ＬＥ
Ｄ）からなる光源２をパルス駆動し、その照射光９で遮
蔽板４及び固定具７のスリットを介して円筒管１の透明
部分より測定水を照射する。このとき、測定水中の濁り
原因である汚濁物質に照射光が当ると濁度に比例した散
乱光１０が円筒管１のもう一つの透明部分より固定具７
及び遮蔽板５のスリットとレンズ１１を介してフォトダ
イオードからなる受光素子３に集光される。
部にポンプ（図示せず）により測定水を送水した後、発
振回路１２の信号により発光回路１３で発光素子（ＬＥ
Ｄ）からなる光源２をパルス駆動し、その照射光９で遮
蔽板４及び固定具７のスリットを介して円筒管１の透明
部分より測定水を照射する。このとき、測定水中の濁り
原因である汚濁物質に照射光が当ると濁度に比例した散
乱光１０が円筒管１のもう一つの透明部分より固定具７
及び遮蔽板５のスリットとレンズ１１を介してフォトダ
イオードからなる受光素子３に集光される。
【００１９】受光素子３は散乱光１０の光量に応じた電
気信号を発生する。この電気信号は受光増幅回路１４で
増幅した後、バンドパスフィルタ１５でのノイズの除去
がなされ、さらに検波波回路１６で発振回路１２の信号
に同期してサンプルホールド１７に入力され、レベルシ
フト１８、ＤＣ増幅回路１９により散乱光１０に応じた
電圧出力が得られる。
気信号を発生する。この電気信号は受光増幅回路１４で
増幅した後、バンドパスフィルタ１５でのノイズの除去
がなされ、さらに検波波回路１６で発振回路１２の信号
に同期してサンプルホールド１７に入力され、レベルシ
フト１８、ＤＣ増幅回路１９により散乱光１０に応じた
電圧出力が得られる。
【００２０】ここで得られた電圧出力は図３のようにな
る。この電圧出力において、頻繁に発生しているパルス
域の信号は、ポンプで送水することにより測定水中に発
生した気泡に起因するノイズである。したがって、上記
パルス域の信号は送水を停止するとなくなる。濁度に応
じた電圧出力はこのノイズを除いた基線部分であり、基
線検出回路２０でこのノイズを除去することで濁度に比
例した出力が得られる。この基線検出回路２０による上
記ノイズの除去は、ロ−パスフィルタやマイコンに取り
込んだ後のデジタル処理で行う。こうすることにより、
図４のような濁度に比例した出力が得られる。
る。この電圧出力において、頻繁に発生しているパルス
域の信号は、ポンプで送水することにより測定水中に発
生した気泡に起因するノイズである。したがって、上記
パルス域の信号は送水を停止するとなくなる。濁度に応
じた電圧出力はこのノイズを除いた基線部分であり、基
線検出回路２０でこのノイズを除去することで濁度に比
例した出力が得られる。この基線検出回路２０による上
記ノイズの除去は、ロ−パスフィルタやマイコンに取り
込んだ後のデジタル処理で行う。こうすることにより、
図４のような濁度に比例した出力が得られる。
【００２１】円筒管１の内部に測定水を送水する前に、
測定水を電解殺菌してもよく、この殺菌により、円筒管
１の内壁部の汚れを防止することができる。
測定水を電解殺菌してもよく、この殺菌により、円筒管
１の内壁部の汚れを防止することができる。
【００２２】図５は濁度検出部の他例を示しており、こ
こでは円筒管１の外部側方の光源２と対向する位置に受
光素子２１を配置し、円筒管１と受光素子３の間の円筒
菅１の近傍に、固定具７を介して円筒管１の軸方向に一
定長さのスリットを有する遮閉板２２を配置し、固定具
７の遮閉板２２のスリットと対向する位置にも少し大き
めのスリットを設け、光源２からの照射光（透過光）９
が受光素子２１に照射されるようにしている。また、受
光素子２１と遮閉板２２の間に照射光（透過光）９を受
光素子２１に効率よく集光するためにレンズ２３を配置
している。
こでは円筒管１の外部側方の光源２と対向する位置に受
光素子２１を配置し、円筒管１と受光素子３の間の円筒
菅１の近傍に、固定具７を介して円筒管１の軸方向に一
定長さのスリットを有する遮閉板２２を配置し、固定具
７の遮閉板２２のスリットと対向する位置にも少し大き
めのスリットを設け、光源２からの照射光（透過光）９
が受光素子２１に照射されるようにしている。また、受
光素子２１と遮閉板２２の間に照射光（透過光）９を受
光素子２１に効率よく集光するためにレンズ２３を配置
している。
【００２３】受光素子２１の出力も、受光素子３の出力
の場合と同様の回路構成を用いて処理することで、照射
光（透過光）９の検出を行い、該検出値により、上記散
乱光１０の濁度出力を補正することにより、円筒管１の
内壁面が汚れた場合でも正確に濁度を検出できる。
の場合と同様の回路構成を用いて処理することで、照射
光（透過光）９の検出を行い、該検出値により、上記散
乱光１０の濁度出力を補正することにより、円筒管１の
内壁面が汚れた場合でも正確に濁度を検出できる。
【００２４】
【発明の効果】以上のように本発明においては、筒管と
光源との間に筒管の軸方向に長いスリットを備えた遮蔽
板を配置するとともに、筒管と受光素子との間に筒管の
軸方向に長いスリットを供えた遮蔽板を配置し、筒管の
内壁面における上記各スリットと対応する位置を透明と
し、筒管の内壁面における他の部分を非透光としている
ために、筒管の内壁面からの反射光や外乱光の影響を受
けることなく、散乱光に基づく濁度検出を行うことがで
きる。この場合、筒管としては円筒管が筒管内面での反
射光の影響を少なくすることができる点でもっとも好ま
しい。
光源との間に筒管の軸方向に長いスリットを備えた遮蔽
板を配置するとともに、筒管と受光素子との間に筒管の
軸方向に長いスリットを供えた遮蔽板を配置し、筒管の
内壁面における上記各スリットと対応する位置を透明と
し、筒管の内壁面における他の部分を非透光としている
ために、筒管の内壁面からの反射光や外乱光の影響を受
けることなく、散乱光に基づく濁度検出を行うことがで
きる。この場合、筒管としては円筒管が筒管内面での反
射光の影響を少なくすることができる点でもっとも好ま
しい。
【００２５】筒管と光源との間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅よりも狭くしてい
るとともに、筒管と受光素子の間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅より狭くしている
と、さらに外乱光等の影響を遮断することができるとと
もにスリットと透明部と光源との位置ずれによる影響を
抑えることができる。
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅よりも狭くしてい
るとともに、筒管と受光素子の間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅より狭くしている
と、さらに外乱光等の影響を遮断することができるとと
もにスリットと透明部と光源との位置ずれによる影響を
抑えることができる。
【００２６】そして、散乱光による濁度検出の補正のた
めの透過光を受光する受光素子を設けるとともに、該受
光素子との筒管との間にスリットを備えた遮蔽板を配置
すると、筒管の汚れの影響を排除した正確な濁度測定を
行うことができる。
めの透過光を受光する受光素子を設けるとともに、該受
光素子との筒管との間にスリットを備えた遮蔽板を配置
すると、筒管の汚れの影響を排除した正確な濁度測定を
行うことができる。
【００２７】筒管における非透光部は透明部にマスキン
グを施した状態でのコーティングで形成されたものとし
ておけば、非透光部を容易に得ることができる。
グを施した状態でのコーティングで形成されたものとし
ておけば、非透光部を容易に得ることができる。
【００２８】筒管における透光部は汚れの付着しにくい
コーティングが施されたものとしておくことで、汚れに
よる反射光の影響を少なくすることができる。
コーティングが施されたものとしておくことで、汚れに
よる反射光の影響を少なくすることができる。
【００２９】また、筒管はその最内周面全面に汚れの付
着しにくいコーティング層が設けられたものとしておく
と、汚れによる照射光や散乱光の減衰を少なくすること
ができるために正確な濁度検出を行うことができる。
着しにくいコーティング層が設けられたものとしておく
と、汚れによる照射光や散乱光の減衰を少なくすること
ができるために正確な濁度検出を行うことができる。
【００３０】さらに、受光素子出力の基線レベルを検出
濁度とすることにより、脱泡装置を設けなくても気泡の
影響を受けることがない濁度測定を行うことができる。
濁度とすることにより、脱泡装置を設けなくても気泡の
影響を受けることがない濁度測定を行うことができる。
【００３１】また、筒管に導入する測定水は電解殺菌さ
れたものとしておくことで、筒管内壁への汚れの付着を
抑えることができる。
れたものとしておくことで、筒管内壁への汚れの付着を
抑えることができる。
【図１】本発明の実施の形態の一例の概略水平断面図で
ある。
ある。
【図２】同上のブロック回路図である。
【図３】同上の増幅回路出力の説明図である。
【図４】同上の基線検出回路出力の説明図である。
【図５】他例の概略水平断面図である。
１ 円筒管 ２ 光源 ３ 受光素子 ４，５ 遮蔽板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G057 AA01 AA02 AA10 AB01 AC01 BA05 BD10 CB10 DA06 DB08 DC07 JA20 2G059 AA05 BB05 DD01 EE01 EE02 GG02 GG08 HH02 KK01 LL02 LL04 LL10 MM11 MM20 NN07
Claims (9)
- 【請求項１】 筒管を通じて筒管内の測定水に光を照射
するとともに該光の散乱光を受光素子で受光して濁度の
測定を行う濁度計において、筒管と光源との間に筒管の
軸方向に長いスリットを備えた遮蔽板を配置するととも
に、筒管と受光素子との間に筒管の軸方向に長いスリッ
トを供えた遮蔽板を配置し、筒管の内壁面における上記
各スリットと対応する位置を透明とし、筒管の内壁面に
おける他の部分を非透光としていることを特徴とする濁
度計。 - 【請求項２】 筒管は円筒管であることを特徴とする請
求項１記載の濁度計。 - 【請求項３】 筒管と光源との間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅よりも狭くしてい
るとともに、筒管と受光素子の間の遮蔽板のスリット幅
を、筒管内壁面の対応する透明部の幅より狭くしている
ことを特徴とする請求項１または２記載の濁度計。 - 【請求項４】 散乱光による濁度検出の補正のための透
過光を受光する受光素子を設けるとともに、該受光素子
との筒管との間にスリットを備えた遮蔽板を配置してい
ることを特徴とする請求項１〜３のいずれかの項に記載
の濁度計。 - 【請求項５】 筒管における非透光部は透明部にマスキ
ングを施した状態でのコーティングで形成されたもので
あることを特徴とする請求項１記載の濁度計。 - 【請求項６】 筒管における透光部は汚れの付着しにく
いコーティングが施されていることを特徴とする請求項
１記載の濁度計。 - 【請求項７】 筒管はその最内周面全面に汚れの付着し
にくいコーティング層が設けられていることを特徴とす
る請求項１記載の濁度計。 - 【請求項８】 受光素子出力の基線レベルを検出濁度と
していることを特徴とする請求項１記載の濁度計。 - 【請求項９】 筒管に導入する測定水は電解殺菌された
ものとしていることを特徴とする請求項１記載の濁度
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10240908A JP2000074831A (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 濁度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10240908A JP2000074831A (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 濁度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000074831A true JP2000074831A (ja) | 2000-03-14 |
Family
ID=17066472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10240908A Withdrawn JP2000074831A (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 濁度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000074831A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009031018A (ja) * | 2007-07-24 | 2009-02-12 | Asahi Breweries Ltd | 濁度測定装置 |
| JP2012021917A (ja) * | 2010-07-15 | 2012-02-02 | Kyokko Denki Kk | 流体検知センサ及び分光分析装置 |
| JP2015021932A (ja) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | パイオニア株式会社 | 気泡検出器及び気泡検出方法 |
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| WO2024090647A1 (ko) * | 2022-10-24 | 2024-05-02 | 엘지전자 주식회사 | 탁도 측정 장치 및 방법 |
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1998
- 1998-08-26 JP JP10240908A patent/JP2000074831A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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