JP2000055995A - 磁気インピーダンス素子 - Google Patents

磁気インピーダンス素子

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JP2000055995A JP10221766A JP22176698A JP2000055995A JP 2000055995 A JP2000055995 A JP 2000055995A JP 10221766 A JP10221766 A JP 10221766A JP 22176698 A JP22176698 A JP 22176698A JP 2000055995 A JP2000055995 A JP 2000055995A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型で低コスト、かつ、検出磁界に対する感
度特性に優れた高感度磁気センサを提供すること。 【解決手段】 非磁性体からなる基板20と該基板20
上に形成された薄膜磁気コア1と該薄膜磁気コア1の長
手方向両端に設けられた第一の電極10と第二の電極1
2からなる磁気インピーダンス素子であって、上記薄膜
磁気コア1は非磁性薄膜を介して複数の磁性膜が積層さ
れていることを特徴とする磁気インピーダンス素子。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気センサに関し、
特に薄膜磁気インピーダンス素子を用いた高感度磁気セ
ンサに関する。
【0002】
【従来の技術】最近の情報機器や計測・制御機器の急速
な発展にともない小型・低コストで高感度・高速応答の
磁気センサの要求がますます大きくなっている。たとえ
ば、コンピュータの外部記憶装置のハードディスク装置
では、バルクタイプの誘導型磁気ヘッドから薄膜磁気ヘ
ッド、磁気抵抗効果(MR)ヘッドと高性能化が進んで
きており、モーターの回転センサであるロータリーエン
コーダではマグネットリングの磁極数が多くなり従来用
いられている磁気抵抗効果(MR)センサに代わり微弱
な表面磁束を感度良く検出できる磁気センサが必要とな
ってきている。また、非破壊検査や紙幣検査に用いるこ
とができる高感度磁気センサの需要も大きくなってい
る。
【0003】現在用いられている代表的な磁気検出素子
として誘導型再生磁気ヘッド、磁気抵抗効果(MR)素
子、フラックスゲートセンサ、ホール素子等がある。ま
た、最近、アモルファスワイヤの磁気インピーダンス効
果を利用した高感度の磁気センサが提案されており(特
開平6−176930号公報、特開平7−181239
号公報、特開平7−333305号公報参照)、また磁
性薄膜の磁気インピーダンス効果を利用した高感度の磁
気センサも提案されている(特開平8−75835号公
報、日本応用磁気学会誌vol.20,553(199
6)参照)。
【0004】誘導型再生磁気ヘッドはコイル巻線が必要
であるため磁気ヘッド自体が大型化し、また、小型化す
ると磁気ヘッドと媒体の相対速度が低下して検出感度が
著しく低下するという問題がある。これに対して、強磁
性膜による磁気抵抗効果(MR)素子が用いられるよう
になってきた。MR素子は磁束の時間変化ではなく磁束
そのものを検出するものであり、これにより磁気ヘッド
の小型化が進められてきた。しかし、現在のMR素子の
電気抵抗の変化率は約2%であり、また、スピンバルブ
素子を用いたMR素子でさえ電気抵抗の変化率が最大6
%以下と小さく、また数%の抵抗変化を得るのに必要な
外部磁界は1600A/m以上と大きい。従って磁気抵
抗感度は0.001%/(A/m)以下の低感度であ
る。また、最近、磁気抵抗変化率が数10%を示す人工
格子による巨大磁気抵抗効果(GMR)が見いだされて
きた。しかし数10%の抵抗変化を得るためには数万A
/mの外部磁界が必要であり、磁気センサとしての実用
化はされていない。
【0005】従来の高感度磁気センサであるフラックス
ゲートセンサはフェライト、パーマロイ等の高透磁率磁
心の対称なB−H特性が外部磁界によって変化すること
を利用して磁気の測定を行うものであり、高分解能と±
1°の高指向性を持つ。しかし、検出感度をあげるため
に大型の磁心を必要としセンサ全体の寸法を小さくする
ことが難しく、また、消費電力が大きいという問題点を
持つ。
【0006】ホール素子を用いた磁界センサは電流の流
れる面に垂直に磁界を印加すると、電流と印加磁界の両
方向に対して垂直な方向に電界が生じてホール素子に起
電力が誘起される現象を利用したセンサである。ホール
素子はコスト的には有利であるが磁界検出感度が低く、
また、SiやGaAsなどの半導体で構成されるため温
度変化に対して半導体内の格子の熱振動による散乱によ
って電子、または正孔の移動度が変化するため磁界感度
の温度特性が悪いという欠点を持つ。
【0007】特開平6−176930号公報、特開平7
−181239号公報、特開平7−333305号公報
に記載されているように、磁気インピーダンス素子が提
案され大幅な磁界感度の向上を実現している。この磁気
インピーダンス素子は時間的に変化する電流を磁性線に
印加することによって生じる円周磁束の時間変化に対す
る電圧のみを外部印加磁界による変化として検出するこ
とを基本原理としている磁気インピーダンス素子であ
る。図16はその磁気インピーダンス素子の例を示した
ものである。この磁性線として(FeCoSiB)等の
零磁歪の直径30μm程度のアモルファスワイヤ(線引
後、張力アニールしたワイヤ)が用いられており、図1
7はワイヤのインピーダンス変化の印加磁界依存性を示
したものである。長さ1mm程度の微小寸法のワイヤで
も1MHz程度の高周波電流を通電するとワイヤの電圧
の振幅がMR素子の100倍以上である約0.1%/
(A/m)の高感度で変化する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】磁気センサとして、小
型で低コスト、かつ、検出磁界に対する出力の直線性、
温度特性に優れた高感度磁気センサが求められており、
アモルファスワイヤの磁気インピーダンス効果を利用し
た磁気センサは高感度の磁界検出特性を示す。また、特
開平6−176930号公報、特開平6−347489
号公報に示されるものにおいてはバイアス磁界を加える
ことによりインピーダンス変化の印加磁界依存性の直線
性が改善されること、およびアモルファスワイヤに負帰
還コイルを巻き、アモルファスワイヤの両端の電圧に比
例した電流をコイルに通電し負帰還を施すことにより、
直線性の優れたしかもセンサ部の温度変化に対して磁界
検出感度の不変な磁気センサを提供できることを示され
ている。
【0009】しかしながらこの高感度磁気インピーダン
ス素子は直径30μm程度のアモルファスワイヤからな
るため微細加工には適しておらず、超小型の磁気検出素
子を提供することは困難であった。また、バイアスコイ
ル、および負帰還コイルはともに細い銅線を巻き回しコ
イルを作製しなければならず小型化に限界があり、また
生産性にも問題があった。
【0010】一方、小型化の試みとして特開平8−75
935号公報では磁性薄膜を用いた磁気インピーダンス
素子を提案し、素子の小型化をはかっている。また、発
明者らは特願平9−269084号において薄膜コイル
を薄膜磁気コアの周囲に立体的に巻き回しバイアスコイ
ルと負帰還コイルを具備した小型の磁気インピーダンス
素子を提案している。しかし、これらの発明はいずれも
磁性膜の構造は単層構造である。
【0011】詳細は実施の形態で述べるが、図3の
(a)に示した磁区構造は理想的なものであり、実際に
は単層の薄膜パターンの幅方向に一軸異方性を付与した
ときには幅方向に反磁界が生じ、その反磁界エネルギー
を最小にするために磁区構造は図5に示すように磁化ベ
クトルが閉じた状態になる。しかし、磁化ベクトルが薄
膜パターンの長さ方向に向いているときにはHexによ
る幅方向の透磁率μθはほとんど変化しないのでMI効
果は非常に小さくなる。つまり、図5に示す90°磁区
の部分のMI効果は非常に小さいものであり、薄膜全体
のMI効果を小さくしている。本発明は上記事情を鑑み
てなされたものであり、小型で低コスト、かつ、検出磁
界に対する感度特性に優れた高感度磁気センサを提供す
ることである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の本発明の目的を達
成するため、本願の請求項1に係る発明では、非磁性体
からなる基板と該基板上に形成された薄膜磁気コアと該
薄膜磁気コアの長手方向両端に設けられた第一の電極と
第二の電極からなる磁気インピーダンス素子において、
上記薄膜磁気コアは非磁性薄膜を介して複数の磁性膜が
積層されていることを特徴とする磁気インピーダンス素
子を提供する。本願の請求項2に係る発明では、請求項
1に係る発明において、厚みがそれぞれ等しい複数の磁
性膜を積層せしめたことを特徴とする磁気インピーダン
ス素子を提供する。本願の請求項3に係る発明では、請
求項1に係る発明において、積層された磁性膜の厚みが
不揃いであることを特徴とする磁気インピーダンス素子
を提供する。本願の請求項4に係る発明では、請求項1
に係る発明において、複数枚の磁性膜が非磁性薄膜を介
して積層され、奇数番目のそれぞれの磁性膜の厚みと磁
化の大きさの積の合計量と、偶数番目のそれぞれの磁性
膜の厚みと磁化の大きさの積の合計量がおおむね等しい
ことを特徴とする磁気インピーダンス素子を提供する。
本願の請求項5に係る発明では、請求項1又は2又は3
又は4に係る発明において、磁性膜間に介在する非磁性
膜が電気伝導体であることを特徴とする磁気インピーダ
ンス素子を提供する。本願の請求項6に係る発明では、
請求項1又は2又は3又は4に係る発明において、磁性
膜間に介在する非磁性膜が絶縁体であり、積層された磁
性膜の両方の端部は両端側でそれぞれ互いに電気的に接
続されていることを特徴とする磁気インピーダンス素子
を提供する。本願の請求項7に係る発明では、請求項1
に係る発明において、薄膜磁気コアを構成する上記磁性
膜は、NiFe、CoFe、NiFeP 、FeNiP 、FeCoP 、FeNiCoP
、CoB 、NiCoB 、FeNiCoB 、FeCoB 、CoFeNiのめっき
膜により形成されていることを特徴とする磁気インピー
ダンス素子を提供する。本願の請求項8に係る発明で
は、請求項1に係る発明において、薄膜磁気コアを構成
する上記磁性膜は、CoZrNb、FeSiB 、CoSiB のアモルフ
ァススパッタ膜により形成されていることを特徴とする
磁気インピーダンス素子を提供する。本願の請求項9に
係る発明では、請求項1に係る発明において、薄膜磁気
コアを構成する上記磁性膜は、NiFeスパッタ膜により形
成されていることを特徴とする磁気インピーダンス素子
を提供する。このように構成された発明では、幅方向に
一軸異方性を持つ薄膜磁気インピーダンス素子を提供で
き、中間に非磁性膜を挿入し磁性薄膜を少なくとも2層
にすることにより、静磁結合により上下の磁性膜の磁化
ベクトルが結合し閉じた状態になる。この状態により薄
膜の内部磁化エネルギーは最小となり、また、2層構造
とした薄膜は180°磁区のみにより構成されるように
なり、そのMI効果は単層膜に比べて大きくなる。これ
らのことから高感度の磁気インピーダンス素子を提供で
きる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を、
図面を参照して説明する。磁気インピーダンス効果( M
I効果) は高透磁率磁性体に高周波電流を通電すると、
その両端間のインピーダンスが通電方向に印加した外部
磁場によって変化する現象である。つまり、磁性体の内
部インダクタンス分Liと、表皮効果によって電流周波
数fとともに増加する抵抗分Rwによるインピーダンス
Z Z= Rw(μθ )+ j ωLi( μθ ) (1) が、外部から磁界を印加することにより変化する磁性体
の幅方向の透磁率μの関数として変化することによるも
のである。薄膜の場合、表皮効果が顕著な高周波領域
(膜厚d》2δ)における薄膜の抵抗Rwは直流抵抗を
Rdcとすると Rw = Rdc (d / 2 δ) と表すことができる。一方、 d》2δの場合、インダ
クタンスは L = Li(2 δ/ d ) と表すことができる。ここで、δは表皮深さを示し、図
1に示す値となる。従って薄膜のインピーダンスは Z = Rdc (d / 2δ)+j ωLi(2 δ/ d ) となる。ここで薄膜の厚さはd=2aとし、また、幅
W、長さlとすると薄膜のインピーダンスは図2に示す
ものとなる。ここで表皮深さδは図1で示すところであ
るので、薄膜のインピーダンスZは透磁率μθの関数と
なる。
【0014】図3の(a)に示されるように薄膜のパタ
ーンの幅方向に一軸異方性が付与されているとき、磁化
ベクトルは幅方向を向いて磁区構造は180°磁壁を持
つ構造となる。ところで、この薄膜の長さ方向に高周波
電流を流した場合、幅方向の高周波磁界が生じるが、1
80°磁壁の移動は渦電流制動により妨げられる。ま
た、高周波磁界方向と磁化ベクトルの向きが同じ方向で
あるため回転磁化は起こりにくい。このため磁束の変化
は少なく透磁率μθは小さい。
【0015】一方、薄膜パターンの長さ方向に外部磁界
Hexを印加すると磁化ベクトルの向きが幅方向から傾
くので、高周波電流により生じる磁界により磁化ベクト
ルの回転が起こり(回転磁化)磁束の変化が生じるので
透磁率μθが大きくなる。外部磁界Hexが膜パターン
の異方性磁界Hkと同じになったとき透磁率μθは最大
となり、このときインピーダンスZは最大となる。さら
に外部磁界Hexが大きく(Hex>Hk)なると磁化
ベクトルはHexに固定されるため磁化ベクトルの回転
が抑制され、透磁率μθは小さくなっていき、それにと
もないインピーダンスZも小さくなっていく。
【0016】これらの現象を回転磁化モデルに基づき図
3の(b)を用いて検証する。H θ=0の場合回転角θ
0は次式のエネルギー極小条件により定まる。 E0 = -Ku cos2(π/2 - θ0) - Ms Hex cos θ0 (3) 従って、 Hk = 2 Ku / Ms を用いて θ0 = Hex / Hk が得られる。ここでHθによる回転角の変化 Δθ《θ
0とすると幅方向の磁化変化分ΔMは次式で表せられ
る。 ΔM = Ms cosθ0 Δθ (4) またHθによる項を含めた全エネルギーは次式で表せら
れる。 E = -Ms( Hθ + Hk ) cos[π/2 - (θ0 + Δθ)] -Ms Hex cos ( θ0 + Δθ) (5) この(5)式を用い図4に示す(7)式よりΔθを求め
( 4) 式に代入すると、図4に示す(6)式となる。従
ってHex<Hkでは磁界の増加とともに透磁率μθす
なわちインピーダンスZが増加し、Hex=Hkで最大
値をとった後、磁界の増加とともに減少することが示さ
れる。また、磁化ベクトルが薄膜パターンの長さ方向に
向いているときには外部磁界Hexによる幅方向の透磁
率μθはほとんど変化しないのでMI効果は非常に小さ
くなる。
【0017】ところで、図3の(a)に示した磁区構造
は理想的なものであり、実際には単層の薄膜パターンの
幅方向に一軸異方性を付与したときには幅方向に反磁界
が生じ、その反磁界エネルギーを最小にするために磁区
構造は図5に示すように磁化ベクトルが閉じた状態にな
る。この磁区構造をとることにより磁性体薄膜の内部磁
化エネルギーは最小になり安定する。
【0018】しかし、前述したように、磁化ベクトルが
薄膜パターンの長さ方向に向いているときには外部磁界
Hexによる幅方向の透磁率μθはほとんど変化しない
のでMI効果は非常に小さくなる。つまり、図5に示す
90°磁区の部分のMI効果は非常に小さいものであ
り、薄膜全体のMI効果を小さくしている。
【0019】図6に示すように、幅方向に一軸異方性を
付与し、かつ、中間に非磁性膜を挿入し磁性薄膜を2層
にすることにより、静磁結合により上下の磁性膜の磁化
ベクトルが結合し閉じた状態になる。この状態により薄
膜の内部磁化エネルギーは最小となり安定化する。ま
た、2層構造とした薄膜は180°磁区のみにより構成
されるようになり、そのMI効果は単層膜に比べて大き
くなる。
【0020】図6に示される磁気インピーダンス素子の
磁性膜はCoZrNb、FeSiB 、CoFeB 等のアモルファススパ
ッタ膜、NiFeスパッタ膜等の軟磁性膜が用いられる。た
とえば、NiFeスパッタ膜を用いた例を説明する。非磁性
・絶縁性基板上にNiFeスパッタ膜を約2.5μmの厚さ
だけ成膜し、さらに、Ti等の非磁性膜を約10nm成膜
し、最後にNiFeスパッタ膜を約2.5μmの厚さだけ成
膜した。その後、所定の磁気コア形状のフォトレジスト
パターンを該薄膜上に形成し、該フォトレジストパター
ンをエッチング用マスクとして用い、イオンミーリング
等のエッチング手段によりエッチングする。そして、フ
ォトレジストパターンを有機溶剤等により除去すること
により磁気インピーダンス素子を作製した。
【0021】このときの非磁性膜の厚さは上下の磁性膜
の交換結合を遮断できる厚さである必要があり、その厚
さは10nm程度以上あれば良い。さらに、MI素子は
表皮効果の透磁率依存性を用いているため、中間の非磁
性膜にはTi、Ta、Cu、Al、Au、Ag、Pt等の導電性のある
薄膜を用いることが望ましい。なお、これを絶縁薄膜で
形成する場合は、積層された磁性膜の両方の端部を、両
端側でそれぞれ互いに電気的に接続して、積層された磁
性膜を電気的に並列接続させる。
【0022】また、上下の磁性膜の磁化ベクトルが結合
し全体の内部磁気エネルギーを最小にするためには、上
下の磁性膜の磁化の総量を等しくする必要がある。この
条件として、上層の磁性膜の磁化をMs1 、厚みをt1、下
層の磁性膜の磁化をMs2 、厚みをt2とすると、Ms1 ×t1
=Ms2 ×t2を満たすことが必要となる。
【0023】図7はTiを中間膜として用いNiFeスパッタ
膜約2.5μm×2層の構造で作製した薄膜磁気インピ
ーダンス素子に、素子の長さ方向に0および2.4kA
/mの外部磁界(Hex)を印加したときのセンサ両端
電極E(E=Z*I)の通電電流周波数特性である。H
ex=0のときと、Hex=2.4kA/mのときのE
の差ΔEは通電電流の周波数20MHz付近で最大であ
った。
【0024】図8は本発明によるNiFeの2層薄膜磁気イ
ンピーダンス素子(2.5μm×2層)に通電電流周波
数を20MHz(10mA)一定としたときのインピー
ダンスの変化率の印加磁界(Hex)依存性を示したも
のである。比較としてNiFe単層薄膜磁気インピーダンス
素子(5μm)の特性を併記する。印加磁界を大きくし
ていくとインピーダンスの変化率ΔZ/Z0は大きくな
り、素子の異方性磁界HkのところでΔZ/Z0は最大
となり、さらにHex>HkではΔZ/Z0は小さくな
っていく。これらの結果は前述の理論式で示した特性と
なった。また、インピーダンスの変化率は単層膜磁気イ
ンピーダンス素子の75%に対して2層膜磁気インピー
ダンス素子は90%と大きい値であった。このとき、単
位印加磁界あたりのインピーダンスの変化量(磁界感
度)はHex=1.6kA/m前後で最大となり0.0
8%/(A/m)の磁界感度を示した。
【0025】また、本発明に関する薄膜磁気インピーダ
ンス素子の作製方法としての他の実施例をあげる。所定
の薄膜磁気コアの反転形状を薄い金属板に作製し、その
金属板をスパッタマスクとして用い非磁性基板をマスク
し、NiFeスパッタ膜を約2.5μmの厚さ、Ti等の非磁
性膜を約10nmの厚さ、さらにNiFeスパッタ膜を約
2.5μmの厚さだけ成膜し、磁気インピーダンス素子
を作製する方法もある。
【0026】NiFe、CoFe、NiFeP 、FeNiP 、FeCoP 、Fe
NiCoP 、CoB 、NiCoB 、FeNiCoB 、FeCoB 、CoFeNi等の
めっき膜を磁性膜として用いた実施例を示す。まず、5
0nm程度の厚さのNiFeスパッタ膜をめっき用のシード
層とするために形成する。そのシード層の上に所定のコ
イル形状の反転パターンのフォトレジストパターンを形
成し、フォトレジストパターンの間にNiFeめっきを約
2.5μmの厚さだけ埋め込む。つぎに、Cuなどの非磁
性金属を約10nmめっき法にて堆積させる。さらに、
その上にNiFeめっきを約2.5μmの厚さだけ埋め込
む。その後、フォトレジストパターンを有機溶剤等によ
り除去し、NiFeめっき膜のシード層をエッチングにより
除去することにより磁気インピーダンス素子形成され
る。CoFeNi等のめっき膜を薄膜磁気コアとして用いたと
きも同様のプロセスで作製する。
【0027】また、上記のいずれの方法で作製した薄膜
磁気コアも、作製した後、回転磁場中、および静止磁場
中で熱処理を行うと磁気特性の向上がはかれる。
【0028】3層以上の多層膜において、つまり非磁性
薄膜を介してn層(n≧3)積層されており、膜の間の
非磁性膜が電気伝導体であり、また、それぞれ偶数番目
の磁性膜の厚みと磁化の大きさの積の総和が、それぞれ
奇数番目の磁性膜の厚みと磁化の大きさの積の総和にお
おむね等しい場合にそれぞれの層の磁性膜の磁化ベクト
ルは静磁結合をし、こ薄膜の内部磁化エネルギーは最小
となり安定化する。また、この条件で多層構造とした薄
膜は180°磁区のみにより構成されるようになり、そ
のMI効果は単層膜に比べて大きくなる。
【0029】図9は3層構造の場合の実施例であり、こ
のとき、最上層の磁性膜の磁化をMs1 、厚みをt1、第2
層の磁性膜の磁化をMs2 、厚みをt2、最下層の磁性膜の
磁化をMs3 、厚みをt3、とすると、Ms1 ×t1+Ms3 ×t3
=Ms2 ×t2を満たすときそれぞれの磁性層の磁化ベクト
ルは静磁結合し、薄膜は180°磁区のみにより構成さ
れるようになる。
【0030】図10は4層構造の場合の実施の形態であ
り、このとき、最上層の磁性膜の磁化を Ms1、厚みをt
1、第2層の磁性膜の磁化をMs2 、厚みをt2、第3層の
磁性膜の磁化をMs3 、厚みをt3、第4層の磁性膜の磁化
をMs4 、厚みをt4とすると、Ms1 ×t1+Ms3 ×t3=Ms2
×t2+Ms4 ×t4を満たすときそれぞれの磁性層の磁化ベ
クトルは静磁結合し、薄膜は180°磁区のみにより構
成されるようになる。
【0031】また、図示はしていないが、n層構造の場
合、最上層の磁性膜の磁化をMs1 、厚みをt1、第2層の
磁性膜の磁化をMs2 、厚みをt2、……… 第n 層の磁性
膜の磁化をMsn 、厚みをtn、とすると、偶数番目の磁性
膜の厚みと磁化の大きさの積の総和が、それぞれ奇数番
目の磁性膜の厚みと磁化の大きさの積の総和におおむね
等しい条件を満たすとき、それぞれの磁性層の磁化ベク
トルは静磁結合し、薄膜は180°磁区のみにより構成
されるようになる。
【0032】つぎに、2層薄膜磁気インピーダンス素子
を用いて作製した薄膜磁気インピーダンス素子の特性に
ついて述べる。図11は本発明の実施の形態に用いられ
る薄膜磁気インピーダンス(MI)素子の構造を模式的
に示した正面図、図12は図11のA−B線に沿って切
断した断面図であり、図13は図11のC−D線に沿っ
て切断した断面図である。実際の薄膜MIセンサ全体は
薄膜セラミックス板、ガラス板のような板状体の上に形
成されているが、図11ではこれを省略して示してい
る。図11、図12及び図13において、1は平面形状
が長方形の薄板状に形成された薄膜磁気コアであるMI
センサ板である。このMIセンサ板としての薄膜磁気コ
アの形状は、幅20μm、厚さ5μm、長さ500μm
である。該MIセンサ板1の周囲には、絶縁物層2、3
を介して、バイアスコイル4と負帰還コイル5が同一方
向に且つ交互に巻回されている。図には正確に示しては
いないが、これらコイルの巻数は、それぞれ20ターン
である。バイアス用、負帰還用コイルを同一面上に交互
に薄膜磁気コアに巻き回わす構造により磁気コアの各部
位に均等にバイアス磁界、および負帰還磁界を加えるこ
とができ磁気センサとしての感度特性の直線性が向上す
る。バイアスコイル4の両端には、バイアスコイル端子
6、7が接続され、負帰還コイル5の両端には、負帰還
コイル端子8、9が接続されている。MIセンサ板1の
両端には、MIセンサ端子10、11が接続されてい
る。これら端子はAu金属薄膜から成り、先端の巾広部
は、外部配線用のパッドとなる。なお、12は、MIセ
ンサ全体を覆う絶縁保護膜である。
【0033】薄膜磁気インピーダンス素子を磁気センサ
として用いるときは最大感度のところに動作点を持って
くることによりセンサ感度を向上することができる。こ
のため、バイアスコイルに電流を流すことによりバイア
ス磁界を加え動作点を変えることができ、1.6kA/
mのバイアス磁界を薄膜コイルにを用いて磁気コアに印
加することにより印加磁界0のところに磁界感度が最大
になるようにした。
【0034】一方、バイアスコイルを用いて印加磁界0
に最大感度を持ってくるように動作点を移動した場合、
磁界に対するインピーダンスの変化(出力の変化)の直
線性はあまり良くないものとなる。この直線性を改善す
る方法として出力信号をフィードバックし負帰還コイル
を用いて磁界に対する出力の非直線性を補正するだけの
磁界を薄膜磁気コアに負帰還磁界として加えることによ
り出力信号を補正し直線性を得る方法がとられる。図1
4にリニア磁界MIセンサの出力検出部の電子回路のブ
ロック図を示す。この回路により動作点を最大感度の点
に移動し、出力信号をフィードバックし、薄膜コアに負
帰還磁界を加え感度特性の直線性を高めている。
【0035】図15は図14の回路を用いてバイアスコ
イル磁界1.6kA/m、負帰還率50%の負帰還をか
けたときの印加磁界に対する出力電圧の関係を示したも
のである。ここで通電電流の周波数は20MHzであり
出力の増幅度は500倍である。図に示すように±24
0A/mの測定磁界内で優れた直線性を示し、かつ、1
-4A/mの磁界分解能を示した。これらの結果はリニ
ア磁界センサとして良好な特性である。
【0036】以上、本発明を上述の実施の形態により説
明したが、本発明の主旨の範囲内で種々の変形や応用が
可能であり、これらの変形や応用を本発明の範囲から排
除するものではない。
【0037】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本願の請求
項1乃至9に係る発明では、薄膜磁気インピーダンス素
子において、中間に非磁性膜を挿入し磁性薄膜を2層に
することにより、静磁結合により上下の磁性膜の磁化ベ
クトルが結合し閉じた状態にせしめ、この状態により薄
膜の内部磁化エネルギーを最小とし、また、2層構造と
した薄膜は180°磁区のみにより構成されるようにな
り、そのMI効果は単層膜に比べて大きくなる。これら
のことから高感度の磁気インピーダンス素子を提供でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、表皮深さδを表す方程式図である。
【図2】図2は、薄膜MI素子のインピーダンスを表す
方程式図である。
【図3】図3は、薄膜MI素子の磁気コア部の磁区構造
モデル図である。
【図4】図4は、ΔM0の値を示す方程式図である。
【図5】図5は、本発明の一実施形態の磁気コア部の磁
区構造モデル図である。
【図6】図6は、本発明の他の実施形態の磁気コア部の
磁区構造モデル図である。
【図7】図7は、薄膜MI素子の通電電流周波数特性図
である。
【図8】図8は、薄膜MI素子の印加磁界に対するイン
ピーダンス変化率を示す特性図である。
【図9】図9は、本発明のもう一つ他の実施形態の磁気
コア部の磁区構造モデル図である。
【図10】図10は、本発明のさらにもう一つ他の実施
形態の磁気コア部の磁区構造モデル図である。
【図11】図11は、本発明に用いる薄膜磁気インピー
ダンス素子の構造を模式的に示した正面図である。
【図12】図12は、図1のA−B線に沿って切断した
断面図である。
【図13】図13は、図1のC−D線に沿って切断した
断面図である。
【図14】図14は、本発明に係る薄膜MI素子を用い
た磁気センサの出力検出部の回路ブロック図である。
【図15】図15は、図14の回路における印加磁界に
対するセンサ出力を示す特性図である。
【図16】図16は、磁性線からなるMI素子を用いた
従来の磁気センサの回路ブロック図である。
【図17】図17は、図16に示す磁性線のインピーダ
ンス変化の印加磁界依存性を示した特性図である。
【符号の説明】
1・・・・・MIセンサ板 2・・・・・絶縁物層 3・・・・・絶縁物層 4・・・・・バイアスコイル 5・・・・・負帰還コイル 6・・・・・バイアスコイル端子 7・・・・・バイアスコイル端子 8・・・・・負帰還コイル端子 9・・・・・負帰還コイル端子 10・・・・・MIセンサ端子 11・・・・・MIセンサ端子 12・・・・・絶縁保護膜 20・・・・・非磁性基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 湯口 昭代 静岡県磐田郡浅羽町浅名1743−1 ミネベ ア株式会社開発技術センタ−内 (72)発明者 加藤 英樹 静岡県磐田郡浅羽町浅名1743−1 ミネベ ア株式会社開発技術センタ−内 Fターム(参考) 2G017 AA01 AB05 AC09 AD42 AD53 AD55 AD69 BA05 5E049 AA01 AA04 AA07 AA09 AC05 BA12 BA16 BA30 5E070 MM10

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性体からなる基板と該基板上に形成
    された薄膜磁気コアと該薄膜磁気コアの長手方向両端に
    設けられた第一の電極と第二の電極からなる磁気インピ
    ーダンス素子において、上記薄膜磁気コアは非磁性薄膜
    を介して複数の磁性膜が積層されていることを特徴とす
    る磁気インピーダンス素子。
  2. 【請求項2】 厚みがそれぞれ等しい複数の磁性膜を積
    層せしめたことを特徴とする請求項1に記載の磁気イン
    ピーダンス素子。
  3. 【請求項3】 積層された磁性膜の厚みが不揃いである
    ことを特徴とする請求項1に記載の磁気インピーダンス
    素子。
  4. 【請求項4】 複数枚の磁性膜が非磁性薄膜を介して積
    層され、奇数番目のそれぞれの磁性膜の厚みと磁化の大
    きさの積の合計量と、偶数番目のそれぞれの磁性膜の厚
    みと磁化の大きさの積の合計量がおおむね等しいことを
    特徴とする請求項1に記載の磁気インピーダンス素子。
  5. 【請求項5】 磁性膜間に介在する非磁性膜が電気伝導
    体であることを特徴とする請求項1又は2又は3又は4
    に記載の磁気インピーダンス素子。
  6. 【請求項6】 磁性膜間に介在する非磁性膜が絶縁体で
    あり、積層された磁性膜の両方の端部は両端側でそれぞ
    れ互いに電気的に接続されていることを特徴とする請求
    項1又は2又は3又は4に記載の磁気インピーダンス素
    子。
  7. 【請求項7】 薄膜磁気コアを構成する上記磁性膜は、
    NiFe、CoFe、NiFeP、FeNiP 、FeCoP 、FeNiCoP 、CoB
    、NiCoB 、FeNiCoB 、FeCoB 、CoFeNiのめっき膜によ
    り形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁
    気インピーダンス素子。
  8. 【請求項8】 薄膜磁気コアを構成する上記磁性膜は、
    CoZrNb、FeSiB 、CoSiB のアモルファススパッタ膜によ
    り形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁
    気インピーダンス素子。
  9. 【請求項9】 薄膜磁気コアを構成する上記磁性膜は、
    NiFeスパッタ膜により形成されていることを特徴とする
    請求項1に記載の磁気インピーダンス素子。
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