JP2000020665A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2000020665A
JP2000020665A JP10199535A JP19953598A JP2000020665A JP 2000020665 A JP2000020665 A JP 2000020665A JP 10199535 A JP10199535 A JP 10199535A JP 19953598 A JP19953598 A JP 19953598A JP 2000020665 A JP2000020665 A JP 2000020665A
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Japan
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antenna
circuit
lsi chip
film
semiconductor device
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JP10199535A
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English (en)
Inventor
Shigeyoshi Watanabe
辺 重 佳 渡
Masami Nagaoka
岡 正 見 長
Atsushi Kameyama
山 敦 亀
Kunio Yoshihara
原 邦 夫 吉
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D30/00Reducing energy consumption in communication networks
    • Y02D30/70Reducing energy consumption in communication networks in wireless communication networks

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  • Burglar Alarm Systems (AREA)
  • Near-Field Transmission Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 変形自在で任意の形状の商品に取り付けが可
能で、単価が安く使用後の回収を不要とし、さらに回路
の誤動作の防止が可能な半導体装置を提供する。 【解決手段】 可撓性フィルム11上に、薄膜シリコン
に形成されたLSIチップ12と、金属膜が蒸着されて
形成されLSIチップ12に接続されたアンテナ13と
が形成されている。アンテナ13に電磁波が受信される
と電磁誘導により起電力が発生し、LSIチップ12が
この電力を供給されて動作し、内部に保持していたデー
タをアンテナ13を介して送信する。LSIチップ12
が、送信回路のみならず受信回路及び信号処理回路を有
する場合は、アンテナ13を介して信号を受信して処理
を行い、その結果に応じて信号を送信することができ
る。このように、可撓性フィルム11に薄膜シリコンか
ら成るLSIチップ12と蒸着された金属膜から成るア
ンテナ13が形成されていることで、変形が自由で多様
な形状の商品に貼り付けることができ、コスト及び電力
の低減にも寄与する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置であっ
て、例えば物流システムにおける商品管理用のタグとし
て用いるのに好適な装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、通信技術の進歩及び物流関連ビジ
ネスの進展に伴い、無線で情報を送信する通信機能を備
えたいわゆる無線タグを商品に取り付けて、商品の販売
管理や在庫管理を行うことが以下の文献1により提案さ
れている。
【0003】文献1: 月刊セミコンダクタワールド、
1998年3月号、第22〜33頁「電子商取引へFe
RAMが99年に出陣、ファッション衣料品が携帯端末
を持つ」 図16に、従来の無線タグの外観を示す。樹脂性ケース
141に、通信機能を有する回路が集積されたLSI
(Large Scale Integrated circuit)チップ142と、
LSIチップ142に接続されたアンテナ145と、L
SIチップ142が処理した内容を表示するLCD(Li
quid Crystal Display)表示装置143と、LSIチッ
プ142に電源を供給する太陽電池144とが搭載され
ている。
【0004】例えば、小売店におけるレジスタから、当
該無線タグが取り付けらている商品の分類、名称、売値
等に関する属性データを問い合わせる信号が発信され、
アンテナ145を介してLSIチップ142に受信され
る。LSIチップ142はバルクシリコン基板上に回路
が形成されており、内蔵するメモリに記憶されている商
品の属性データをLCD表示装置143に表示させ、さ
らにアンテナ145を介して属性データを示す信号をレ
ジスタへ向けて送信する。
【0005】図17に、LSIチップ142に内蔵され
た回路の概略構成を示す。この回路は、RF(Radio Fr
equency )信号変復調部161と、信号/データ処理部
152とを備えている。RF信号変復調部161はアン
テナ145を介して信号を送受信するために必要な変復
調等の処理を行うもので、変調回路162、復調回路1
63、アンテナドライバ164、R/Fアンプ165を
有している。信号/データ処理部152は受信した信号
に基づいて内蔵するデータを画像表示及び送信するため
に必要な処理を行い、中央処理装置(MPU)155、
ROM/RAM部154、インタフェース(I/F)部
153、入出力(I/O)部156を有している。
【0006】このように、従来の無線タグはバルクシリ
コン基板に形成されたLSIチップ142と、LSI1
42を駆動するための太陽電池144と、無線タグの処
理の状況を作業者が目視確認するためのLCD表示装置
143とを備えていた。
【0007】しかし、この無線タグは上述したような多
くの機能を搭載するため、その大きさは8.5cm×
5.75cmというようにかなり大きかった。
【0008】また、バルクシリコンに形成されたLSI
チップ142等を搭載するためケースとして堅い樹脂性
ケース141が用いられていた。このため、表面が平坦
でかつ比較的な大きい商品にしか無線タグを取り付ける
ことができなかった。
【0009】さらに、1個当たりの価格は約1000円
とかなり高く、これを取り付ける商品は約1万円以上の
ものに限られていた。さらに、高価格ゆえ販売後にはこ
の無線タグを回収しなければならないという問題もあっ
た。
【0010】上述の無線タグにおける大きく形が固定さ
れ価格が高いという問題のうち、大きさ及び価格の問題
を若干解消したものが、以下の文献2により提案され図
18に示された従来の他の無線タグである。
【0011】文献2: TRIGGER、1997年7
月号、第32〜33頁「1枚100円以下を実現した小
型非接触ラベル」 この無線タグは、機能を無線に絞り込むことで、表示部
と電源とを内蔵しないものとなっている。さらにコスト
を低減するため、このタグはバルクシリコン基板上に形
成した約3mm角のベアチップ172とアンテナ173
とが透明樹脂171上に直接搭載されており、さらにア
ンテナ173を小さくするため2GHz帯の周波数で送
受信が行われる。
【0012】この無線タグによれば、6cm×1cm×
0.1mmの大きさまで小型化が可能で、かつ価格を1
個当たり100円程度まで低減することができる。
【0013】しかし、この無線タグも形が固定されてお
り、表面が平坦でかつ比較的な大きい商品にしか取り付
けることができなかった。また、依然としてタグとして
は価格が高いため、回収が必要であった。さらに、内蔵
電池を備えていないため、文献1に示された無線タグと
比較すると、回路としての機能が大幅に限定されてい
た。
【0014】また、文献2に開示された無線タグでは、
コスト低減のためバルクシリコン基板上にディジタル信
号を処理する信号/データ処理部と、アナログ信号を処
理するRF変復調部とを混載しなければならない。この
結果、信号/データ処理部が発生するノイズがRF変復
調部に影響し、誤動作を招くおそれがあった。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
無線タグにはタグ自身の形状が固定されており、柔軟性
がないため取り付け可能な商品が限定され、コストが高
く回収を必要とし、さらにーチップに混載されたディジ
タル回路が発生するノイズでアナログ回路が誤動作する
という問題があった。
【0016】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、変形自在で任意の形状の商品に取り付けが可能で、
単価が十分に低減され使用後に回収する必要がなく、回
路の誤動作を防止することが可能な半導体装置を提供す
ることを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
可撓性フィルムと、前記可撓性フィルム上に形成され、
電磁波を受信するアンテナと、前記可撓性フィルム上に
搭載された薄膜シリコンに形成され、前記アンテナに前
記電磁波が受信され電磁誘導により発生した電力を供給
されて動作し、内部に保持しているデータを前記アンテ
ナを介して送信する回路とを備えることを特徴としてい
る。
【0018】ここで前記回路は、前記アンテナにより受
信された前記電磁波を信号として与えられて所定の処理
を行い、この処理の結果に基づいて内部に保持している
前記データを前記アンテナを介して送信するものであっ
てもよい。
【0019】また前記回路は、前記データを記憶する書
き換え可能なメモリをさらに備えてもよい。
【0020】前記回路は、前記薄膜シリコンにおいてボ
ディが相互に電気的に分離されるように形成された複数
のトランジスタを有し、各々のトランジスタにおけるボ
ディ電位はゲート電位と同一になるように、他のトラン
ジスタのボディ電位とは独立して制御されるものであっ
てもよい。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明のー実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0022】本発明の第1の実施の形態による半導体装
置の外観を図1に示す。可撓性フィルム11の表面上
に、LSIチップ12とアンテナ13とが搭載されてい
る。
【0023】可撓性フィルム11は、柔軟性のある樹脂
やゴム、紙等の材料から成り、平坦なシート形状を有す
るものである。例えば、フィルム11としてバーコード
用のシールを用いてもよい。
【0024】LSIチップ12は、バルクシリコン基板
ではなく薄膜シリコンにLSIが形成され、大きさは例
えば約2mm角である。
【0025】アンテナ13は、可撓性フィルム11の表
面上に金属膜が蒸着されて形成され、LSIチップ12
に電気的に接続されている。また、本装置では送受信の
ための信号としてGHz帯の周波数を有するものを扱う
ことで、アンテナ13の長さが例えば全長約7cmとい
うように極力短くなっている。また、アンテナ13が変
形しにくいように、矩形状の可撓性フィルム11の短辺
方向に沿って配置されている。
【0026】また、本装置は電池等の電源やLCD等の
画像表示装置を有していない。LSIチップ12は、ア
ンテナ13に電磁波が受信されて電磁誘導によって発生
した電力を供給されて動作する。
【0027】このように、本実施の形態による半導体装
置は可撓性フィルム11に2mm角程度のLSIチップ
12とアンテナ13とが形成されているので、装置全体
に柔軟性があり、自在に変形可能である。また、可撓性
フィルム11の裏面側に接着剤を塗布したり接着シート
を貼り付けることで、この半導体装置を多種多様なもの
に自在に貼り付けることができる。例えば、図3(a)
に示された林檎41やバナナ43のような様々な形状の
商品に、本実施の形態による半導体装置を無線タグ4
2、44として貼り付けることができる。
【0028】図2に、LSIチップ12が搭載する回路
のブロック構成を示す。この回路は、RF信号変復調部
31と、信号/データ処理部21とを備えている。RF
信号変復調部31は、アンテナ13を介して信号を送受
信するために必要な変復調等の処理を行うもので、変調
回路32、復調回路33、アンテナドライバ34、R/
Fアンプ35を有している。信号/データ処理部21は
受信した信号に基づいて内蔵するデータをアンテナ13
を介して送信するために必要な処理を行うもので、MP
U24、ROM/RAM部23、I/F部22、I/O
部25を有している。
【0029】このように、本実施の形態ではアンテナ1
3を介してRF信号変復調部31により信号を受信し、
受信した信号に基づいて信号/データ処理部21におい
てROM/RAM部23に格納された属性データ等のデ
ータを、RF信号変復調部31からアンテナ13を介し
て送信する。
【0030】しかし、このような回路構成を必ずしも備
えている必要はない。例えば、受信機能や内蔵メモリ、
MPUを備えていなくともよい。この場合には、アンテ
ナ13に電磁波が受信されて電磁誘導により起電力が発
生して回路が動作を開始し、これにより所定のデータを
自動的に送信する。この場合のデータは、内蔵メモリの
替わりにファームウェア化された状態で保持されたもの
を用いることができる。
【0031】次に、本実施の形態による半導体装置を製
造する方法について図4〜図9を用いて説明する。図4
に示されたように、LSIチップを形成するための薄膜
シリコンとして、シリコン基板51の表面上に埋め込み
酸化膜52が形成されたSOI(Silicon On Insulato
r)基板を用いる。これは、コスト及び消費電力の低減
化が可能であり、しかも後の工程で埋め込み酸化膜52
上に薄膜シリコン53を形成することが容易だからであ
る。ここで、例えばシリコン基板51の厚さは約500
μm、埋め込み酸化膜52は0.1〜0.4μm、薄膜
シリコン53は0.1〜1.0μmとしてもよい。
【0032】このような基板を用いて、図5〜図9に示
されるような工程を経てLSI素子とアンテナ13とを
形成する。図5に示されたように、薄膜シリコン53の
周辺部に、例えばLOCOS法を用いて分離層54を形
成し、さらに薄膜シリコン53の内部にLSI素子とし
て例えばNチャネル型MOSトランジスタのN+ 型拡散
層55及び56を不純物の注入及び拡散により形成す
る。N+ 型拡散層55及び56が形成された薄膜シリコ
ン53の表面上に、ゲート絶縁膜を介してゲート電極5
8を形成する。また、ゲート電極58が形成されていな
い領域には、絶縁膜57を形成する。さらに、N+ 型拡
散層56とコンタクトをとった状態で、絶縁膜57上に
アルミニウム等の金属をスパッタリングにより蒸着させ
て、アンテナ接続用金属配線59を形成する。
【0033】そして、図6に示されたように、絶縁膜5
7やアンテナ接続用金属配線59が形成された基板51
の表面上に接着剤60を塗布する。これは、薄膜シリコ
ン53及び埋め込み酸化膜52と、その下のシリコン基
板51とを切り離すための準備として行う。
【0034】次に、図7に示されたように、接着剤60
を介在させた状態でシリコン基板51の表面上にフィル
ム61を載せる。図8に示されたように、フィルム61
が下部にくるように上下を反転させ、シリコン基板52
を研磨していくことで切り離す。
【0035】このようにして得られたLSIチップ12
を、図9に示されたように上述の可撓性フィルム11の
表面上に接着剤等を用いて固定する。さらに、LSIチ
ップ12の側面に露出したアンテナ接続用金属配線59
と電気的に接続されるように、アルミニウム等の金属を
スパッタリングにより可撓性フィルム11上に蒸着させ
て、アンテナ13を形成する。
【0036】ここで、本実施の形態における薄膜シリコ
ンを用いたLSIチップ12と、従来の無線タグにおけ
るバルクシリコン基板を用いたLSIチップ142とに
おける、それぞれのトランジスタの構造及びその製造工
程について比較する。
【0037】従来のバルクシリコン基板を用いたLSI
チップ142では、図10にその縦断面構造が示された
MOS型トランジスタと、図12に示された縦型バイポ
ーラトランジスタとが、いわゆるバルクBiCMOS技
術が用いられて形成されている。MOS型トランジスタ
は、バルクシリコン基板81の表面部分に、ソース、ド
レインとしての不純物拡散層82、83と、ゲート電極
84とを備えている。バイポーラトランジスタは、バル
クシリコン基板81の表面部分において、シャロートレ
ンチ04とディープトレンチ102及び103とによっ
て素子分離された状態で、ベース105、エミッタ10
6、コレクタ107が形成されている。
【0038】本実施の形態における薄膜シリコンに形成
されるMOSトランジスタは図11に示されるような構
造を有し、横型バイポーラトランジスタは図13に示さ
れるような構造を有している。MOSトランジスタは、
埋め込み酸化膜52の下面側に薄膜シリコン53が位置
し、この薄膜シリコン53にソース、ドレインとしての
N+ 型拡散層55、56が形成され、ゲート酸化膜を介
してゲート電極58が形成されている。
【0039】横型バイポーラトランジスタは、埋め込み
酸化膜52の下面側の薄膜トランジスタ53に、コレク
タとしてのN+ 型拡散層112、ベースとしてのP型拡
散層113、エミッタとしてのN+ 型拡散層114が形
成され、それぞれの拡散層112〜114上には電極1
15〜117が形成されている。
【0040】本実施の形態ではバルクシリコンを用いず
に薄型シリコンにトランジスタを形成するため、寄生容
量が小さく高速化及び低消費電力化に寄与することがで
きる。
【0041】さらに、図12より明らかなように、従来
の無線タグにおけるバルクシリコンに形成される縦型バ
イポーラトランジスタは、その構造が極めて複雑で多く
の工程を必要とし、製造コストが高いという問題があ
る。
【0042】これに対し、本実施の形態において用いら
れる横型バイポーラトランジスタは、図13に示される
ように構造が簡易であり、製造工程の数も縦型バイポー
ラトランジスタより少ない。例えば、LSIのデザイン
ルールを0.25〜0.35μmとした場合、横型バイ
ポーラトランジスタは約520で縦型バイポーラトラン
ジスタは約370である。従って、本実施の形態によれ
ば工程数を約2/3まで削減することができる。工程数
が減少すると歩留まりも向上するため、LSIチップの
総合コストで考えると従来よりも約1/2〜1/4に低
減することが可能である。
【0043】また、LSIチップを搭載する基板のコス
トを考えた場合、従来の装置で用いていた透明樹脂より
も本実施の形態における可撓性フィルムの方が約1/2
まで低減することができる。図18に示された従来の無
線タグを約100円とすると、本実施の形態は約30円
程度であり、約1/3まで低減することができる。よっ
て、例えば単価が100円程度の安い商品にも本実施の
形態による装置を無線タグとして用いることが可能であ
り、しかも回収が不要であるので、適用可能な市場が大
幅に拡がる。
【0044】さらに、本実施の形態によれば従来の無線
タグよりも消費電力を低減する効果が得られる。図14
に示されたように、薄膜シリコン53に形成された各々
のトランジスタにおけるボディ122、123の間を、
埋め込み酸化膜52に接続された絶縁膜124で電気的
に分離するように構成することで、各々のボディ12
2、123の電位を独立して制御することができる。こ
れにより、各々のトランジスタ毎に、ゲート58aとボ
ディ122とを電気的に接続し、同様にゲート58bと
ボディ123とを接続して動作させることができる。
【0045】例えば電源電圧として0.5Vを用いた場
合、図15に示されたように、トランジスタのボディ電
圧はゲート電圧と同じ0.5Vであり、閾値電圧がほぼ
0Vになる。よって、0.5Vの低電源電圧によっても
高速に動作させることができる。また、トランジスタが
オフ状態にある場合、ボディ電位とゲート電位は共に0
Vとなり、閾値電圧が約0.2Vに上昇してオフ時のリ
ーク電流を低減することができる。従来の無線タグは電
源電圧として1.5〜3.0Vを選択しているが、本実
施の形態によれば上述したような理由により消費電力を
1〜2桁低減することが可能である。
【0046】ところで、本実施の形態ではコスト低減の
ため太陽電池等の電源を内蔵していない。このため、図
2にROM/RAM部として示されたような内部メモリ
を用いてデータを送信するように構成する場合には、不
揮発性記憶装置を用いる必要がある。例えば、より低電
源電圧で動作可能なFerro RAMを用いてもよい。こ
こでFerro RAMは、強誘電体を用いてデータの保持
を行うが、強誘電体部はトランジスタの形成後、トラン
ジスタの上部に形成される。よって、本実施の形態のよ
うにシリコン基板が最終的に削除される場合にも形成す
ることが可能である。
【0047】内部メモリの容量は、LSIチップ12の
面積を縮小するため64〜1Kビットというように最小
限に抑えることが望ましい。
【0048】また、内部メモリとして随時書き換え可能
なメモリを用いることで、第三者のデータ読み出しを防
ぐ暗号システムを導入した場合のセキュリティを向上さ
せることができる。この場合のメモリとしては、上述し
たFerro RAMの他に、E2 PROMを用いることも
できる。
【0049】暗号システムとして、従来の無線タグでは
標準的なDES(Data EncryptionStandard)を用いる
場合が多かった。本実施の形態では、このようなシステ
ムを用いてもよいが、セキュリティ性をより高めるため
に、書き換え可能なメモリを用いることで定期的にRF
U部の暗号を再構成してもよい。
【0050】従来の無線タグでは、上述したようにバル
クシリコン基板にアナログ回路とディジタル回路とを混
載していたため、ディジタル回路が発生するノイズによ
りアナログ回路が誤動作する場合があった。これに対
し、本実施の形態ではバルクシリコン基板を用いずに薄
膜シリコンを用いて回路を形成しているため、ノイズに
よる誤動作を防止することができる。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、可
撓性フィルムにアンテナ及び回路を形成しているため、
変形自在であらゆる形状の商品への貼り付けが可能であ
り、またコストが低減されるため使用後の回収が不要で
あると共に適用可能な市場が拡大され、さらにアンテナ
に受信した電磁波により回路を駆動することで消費電力
の低減が可能である。また、回路が薄膜シリコンに形成
されているため、バルクシリコン基板を用いた場合と異
なり、回路が内部で発生したノイズにより誤動作するこ
とが防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による半導体装置の
外観を示した斜視図。
【図2】同半導体装置に含まれるLSIチップの内部構
成を示したレイアウト図。
【図3】同半導体装置を商品に貼り付けた状態を示した
説明図。
【図4】同半導体装置におけるLSIチップを形成する
薄膜シリコンの断面を示した縦断面図。
【図5】同薄膜シリコンを用いて素子を形成する場合の
ー工程を示した縦断面図。
【図6】同薄膜シリコンを用いて素子を形成する場合の
図5に続くー工程を示した縦断面図。
【図7】同薄膜シリコンを用いて素子を形成する場合の
図6に続くー工程を示した縦断面図。
【図8】同薄膜シリコンを用いて素子を形成する場合の
図7に続くー工程を示した縦断面図。
【図9】図8に示されたLSIチップをフィルム上に搭
載しアンテナを形成したときの断面を示した縦断面図。
【図10】従来の無線タグにおいて用いられていたバル
クシリコン基板に形成されたMOSトランジスタの断面
を示した縦断面図。
【図11】本発明のー実施の形態において用いられる薄
膜シリコンに形成されたMOSトランジスタの断面を示
した縦断面図。
【図12】従来の無線タグにおいて用いられていたバル
クシリコン基板に形成されたバイポーラトランジスタの
断面を示した縦断面図。
【図13】本発明のー実施の形態において用いられる薄
膜シリコンに形成されたバイポーラトランジスタの断面
を示した縦断面図。
【図14】同実施の形態において用いられる薄膜シリコ
ンに形成され相互に分離された複数のMOSトランジス
タの断面を示した縦断面図。
【図15】図14に示されたMOSトランジスタの閾値
電圧とボディ電圧との関係を示したグラフ。
【図16】従来の無線タグの外観を示した斜視図。
【図17】同無線タグに含まれるLSIチップの内部構
成を示したレイアウト図。
【図18】従来の他の無線タグの外観を示した斜視図。
【符号の説明】
11 可撓性フィルム 12 LSIチップ 13 アンテナ 21 信号/データ処理部 22 I/F部 23 ROM/RAM部 24 MPU 25 I/O部 31 RF変復調部 32 変調回路 33 復調回路 34 アンテナドライバ 35 RFアンプ 41 林檎 43 バナナ 42、44 無線タグ 51 シリコン基板 52 埋め込み酸化膜 53 薄膜シリコン 54 分離層 55、56、112 N+ 拡散層 57、124 絶縁膜 58、58a、58b ゲート電極 59 アンテナ接続用金属配線 60 接着剤 61 フィルム 115〜117 電極 122、123 ボディ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 亀 山 敦 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式会 社東芝研究開発センター内 (72)発明者 吉 原 邦 夫 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式会 社東芝研究開発センター内 Fターム(参考) 5B035 AA00 AA05 AA11 BA03 BB09 BC00 CA01 CA23 5C084 AA03 AA08 BB04 BB21 BB31 CC34 DD07 DD87 GG01 GG52 GG74 5K012 AA05 AB05 AB18 AC08 AC10 AE13 BA03 BA07

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】可撓性フィルムと、 前記可撓性フィルム上に形成され、電磁波を受信するア
    ンテナと、 前記可撓性フィルム上に搭載された薄膜シリコンに形成
    され、前記アンテナに前記電磁波が受信され電磁誘導に
    より発生した電力を供給されて動作し、内部に保持して
    いるデータを前記アンテナを介して送信する回路と、 を備えることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】前記回路は、前記アンテナにより受信され
    た前記電磁波を信号として与えられて所定の処理を行
    い、この処理の結果に基づいて内部に保持している前記
    データを前記アンテナを介して送信することを特徴とす
    る請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】前記回路は、前記データを記憶する書き換
    え可能なメモリをさらに備えることを特徴とする請求項
    1又は2記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】前記回路は、前記薄膜シリコンにおいてボ
    ディが相互に電気的に分離されるように形成された複数
    のトランジスタを有し、各々のトランジスタにおけるボ
    ディ電位はゲート電位と同一になるように、他のトラン
    ジスタのボディ電位とは独立して制御されることを特徴
    とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体装置。
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Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005100380A (ja) * 2003-08-29 2005-04-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icカード
JP2005203751A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路装置の作製方法及び非接触型薄膜集積回路装置の作製方法
JP2005203762A (ja) * 2003-12-15 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路装置の作製方法、非接触型薄膜集積回路装置並びにその作製方法、該非接触型薄膜集積回路装置を有するidタグ及び硬貨
JP2005202943A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
WO2005069204A1 (en) * 2004-01-16 2005-07-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2005202947A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、並びに無線タグ及びラベル類
JP2005209162A (ja) * 2003-12-26 2005-08-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 包装材、タグ、証書、紙幣及び有価証券
WO2005076359A1 (en) * 2004-02-06 2005-08-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2005229098A (ja) * 2003-12-12 2005-08-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の作製方法
JP2005235191A (ja) * 2004-01-23 2005-09-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Idラベル、idカード及びidタグ
JP2005252243A (ja) * 2004-02-06 2005-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2005251183A (ja) * 2004-02-06 2005-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、icカード、icタグ、rfid、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
JP2005259121A (ja) * 2004-02-12 2005-09-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、icカード、icタグ、rfid、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
WO2005088532A1 (en) * 2004-03-11 2005-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, wireless chip, ic card, ic tag, transponder, bill, securities, passport, electronic apparatus, bag, and garment
WO2005093647A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin semiconductor device and operation method of thin semiconductor device
WO2005093900A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2005311331A (ja) * 2004-03-26 2005-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2005311333A (ja) * 2004-03-22 2005-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路の作製方法
JP2006024087A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Nec Corp 無線デバイス、その製造方法、その検査方法及び検査装置並びに無線装置及びその製造方法
JP2006049851A (ja) * 2004-06-29 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路の作製方法、及び素子基板
JP2007188498A (ja) * 2002-12-27 2007-07-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icカード及びicカードの作製方法
US20080121874A1 (en) * 2005-01-21 2008-05-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor Device
US7652359B2 (en) 2002-12-27 2010-01-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Article having display device
DE102008054307A1 (de) 2008-06-20 2010-04-15 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung mit Leistungsvorrichtung
US7699232B2 (en) 2004-02-06 2010-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7768014B2 (en) 2005-01-31 2010-08-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and manufacturing method thereof
US7893837B2 (en) 2003-12-26 2011-02-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Packing material, tag, certificate, paper money, and securities
US7942338B2 (en) * 2003-12-19 2011-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US8058152B2 (en) 2004-03-22 2011-11-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing integrated circuit
US8136735B2 (en) 2004-01-23 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. ID label, ID card, and ID tag
US8136725B2 (en) 2003-08-29 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC card
US8202238B2 (en) 2003-12-15 2012-06-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film integrated circuit device, noncontact thin film integrated circuit device and method for manufacturing the same, and idtag and coin including the noncontact thin film integrated circuit device
US8236629B2 (en) 2004-06-29 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film integrated circuit, and element substrate
US8289164B2 (en) 2003-12-12 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR101819133B1 (ko) * 2011-06-30 2018-01-16 삼성전자주식회사 반도체 모듈의 형성 방법 및 이에 의해 형성된 반도체 모듈

Cited By (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4646925B2 (ja) * 2002-12-27 2011-03-09 株式会社半導体エネルギー研究所 Icカードの作製方法
US8268702B2 (en) 2002-12-27 2012-09-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC card and booking-account system using the IC card
US7652359B2 (en) 2002-12-27 2010-01-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Article having display device
JP2007188498A (ja) * 2002-12-27 2007-07-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icカード及びicカードの作製方法
JP2005100380A (ja) * 2003-08-29 2005-04-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icカード
US8136725B2 (en) 2003-08-29 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC card
US8289164B2 (en) 2003-12-12 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2005229098A (ja) * 2003-12-12 2005-08-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の作製方法
JP2005203762A (ja) * 2003-12-15 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路装置の作製方法、非接触型薄膜集積回路装置並びにその作製方法、該非接触型薄膜集積回路装置を有するidタグ及び硬貨
US8202238B2 (en) 2003-12-15 2012-06-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film integrated circuit device, noncontact thin film integrated circuit device and method for manufacturing the same, and idtag and coin including the noncontact thin film integrated circuit device
JP2005202947A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、並びに無線タグ及びラベル類
US7942338B2 (en) * 2003-12-19 2011-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP4689260B2 (ja) * 2003-12-19 2011-05-25 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、ラベル又はタグ
JP2005202943A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US8313035B2 (en) 2003-12-19 2012-11-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2005203751A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路装置の作製方法及び非接触型薄膜集積回路装置の作製方法
US7893837B2 (en) 2003-12-26 2011-02-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Packing material, tag, certificate, paper money, and securities
JP2005209162A (ja) * 2003-12-26 2005-08-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 包装材、タグ、証書、紙幣及び有価証券
JP4610348B2 (ja) * 2004-01-16 2011-01-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2005228304A (ja) * 2004-01-16 2005-08-25 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
WO2005069204A1 (en) * 2004-01-16 2005-07-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7633145B2 (en) 2004-01-16 2009-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device with antenna and separating layer
JP2005235191A (ja) * 2004-01-23 2005-09-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Idラベル、idカード及びidタグ
JP4761779B2 (ja) * 2004-01-23 2011-08-31 株式会社半導体エネルギー研究所 Idラベル、idカード、idタグ、及び物品
US8136735B2 (en) 2004-01-23 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. ID label, ID card, and ID tag
JP2005252243A (ja) * 2004-02-06 2005-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US8430326B2 (en) 2004-02-06 2013-04-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7994617B2 (en) 2004-02-06 2011-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US8575740B2 (en) 2004-02-06 2013-11-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7699232B2 (en) 2004-02-06 2010-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
WO2005076359A1 (en) * 2004-02-06 2005-08-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7946503B2 (en) 2004-02-06 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2005251183A (ja) * 2004-02-06 2005-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、icカード、icタグ、rfid、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
JP2005259121A (ja) * 2004-02-12 2005-09-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、icカード、icタグ、rfid、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
JP4718850B2 (ja) * 2004-02-12 2011-07-06 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、icカード、icタグ、rfid、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
JP4652087B2 (ja) * 2004-03-11 2011-03-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
WO2005088532A1 (en) * 2004-03-11 2005-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, wireless chip, ic card, ic tag, transponder, bill, securities, passport, electronic apparatus, bag, and garment
US7675795B2 (en) 2004-03-11 2010-03-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, wireless chip, IC card, IC tag, transponder, bill, securities, passport, electronic apparatus, bag, and garment
JP2005293563A (ja) * 2004-03-11 2005-10-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、無線チップ、icカード、icタグ、トランスポンダ、紙幣、有価証券、パスポート、電子機器、バッグ及び衣類
KR101098406B1 (ko) * 2004-03-11 2011-12-23 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치, 무선 칩, ic 카드, ic 태그, 트랜스폰더,지폐, 유가증권, 여권, 전자 기기, 가방 및 의류
US8058152B2 (en) 2004-03-22 2011-11-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing integrated circuit
JP2005311333A (ja) * 2004-03-22 2005-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路の作製方法
WO2005093647A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin semiconductor device and operation method of thin semiconductor device
US9030298B2 (en) 2004-03-26 2015-05-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin semiconductor device and operation method of thin semiconductor device
JP4566794B2 (ja) * 2004-03-26 2010-10-20 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US8049669B2 (en) 2004-03-26 2011-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising circuit between first and second conducting wires
WO2005093900A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
CN1938721B (zh) * 2004-03-26 2012-08-22 株式会社半导体能源研究所 薄半导体器件和薄半导体器件的操作方法
JP2005311331A (ja) * 2004-03-26 2005-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US8236629B2 (en) 2004-06-29 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film integrated circuit, and element substrate
JP2006049851A (ja) * 2004-06-29 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜集積回路の作製方法、及び素子基板
JP2006024087A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Nec Corp 無線デバイス、その製造方法、その検査方法及び検査装置並びに無線装置及びその製造方法
US8835907B2 (en) 2005-01-21 2014-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and semiconductor device
US20080121874A1 (en) * 2005-01-21 2008-05-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor Device
US7768014B2 (en) 2005-01-31 2010-08-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and manufacturing method thereof
US8889490B2 (en) 2005-01-31 2014-11-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and manufacturing method thereof
DE102008054307A1 (de) 2008-06-20 2010-04-15 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung mit Leistungsvorrichtung
DE102008054307B4 (de) * 2008-06-20 2014-09-18 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung mit Leistungsvorrichtung
US8039936B2 (en) 2008-06-20 2011-10-18 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
KR101819133B1 (ko) * 2011-06-30 2018-01-16 삼성전자주식회사 반도체 모듈의 형성 방법 및 이에 의해 형성된 반도체 모듈

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