FR3127294A1 - Procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit de combinaison d’alimentations d’un véhicule - Google Patents

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Jean-Pierre Loncle
Frédéric Stuyk
Christian GIL
Luigi Guglielmini
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Continental Automotive France SAS
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Abstract

Procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit (1) de combinaison d’alimentations, ledit circuit (1) comprenant un point de sortie (PS) d’alimentation et une pluralité de lignes d’alimentation (L1, L2, L3), chaque ligne (L1, L2, L3) comprenant une source d’alimentation (A1, A2, A3), un interrupteur (I1, I2, I3) et une diode (D1, D2, D3) connectés en série dans cet ordre avec la diode (D1, D2, D3) connectée dans le sens passant, la sortie passante de la diode (D1, D2, D3) étant reliée au point de sortie (PS) d’alimentation du circuit (1), chaque ligne comprenant en outre une résistance (R1, R2, R3) connectée entre l’entrée passante de la diode (D1, D2, D3) et une masse (M), ledit procédé comprenant, pour chacune des lignes (L1, L2, L3) d’alimentation, les étapes d’ouverture de l’interrupteur (I1, I2, I3) de la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer, au moins un des interrupteurs (I1, I2, I3) des autres lignes (L1, L2, L3) étant fermés, de mesure de la tension aux bornes de la résistance (R1, R2, R3) de la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer, de détection d’un défaut sur la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer lorsque la tension mesurée est non-nulle. Figure pour l’abrégé : Fig 2

Description

Procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit de combinaison d’alimentations d’un véhicule
La présente invention se rapporte au domaine de l’automobile et concerne plus particulièrement un procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit de combinaison d’alimentations d’un véhicule.
Dans un véhicule automobile, il est connu de combiner plusieurs tensions provenant de différentes sources d’alimentation électrique afin de créer une alimentation de forte puissance ou d’offrir une redondance en cas de panne.
De manière connue, la combinaison de ces alimentations est réalisée par une fonction « OU » à diode afin d’éviter qu’un courant provenant d’une source d’alimentation électrique ne remonte dans l’une des différentes sources d’alimentation électrique combinées.
La illustre un exemple de circuit de combinaison de l’art antérieur comprenant trois lignes d’alimentation. Chaque ligne est reliée d’une part à une source d’alimentation électrique A1, A2, A3 et d’autre part à un même point de sortie PS. Sur chaque ligne, une diode D1, D2, D3 est connectée en sens passant pour le courant circulant de la source d’alimentation électrique A1, A2, A3 jusqu’au point de sortie PS.
Dans certains cas, dit « de sécurité » (« safety » en langue anglaise), il peut être nécessaire de diagnostiquer les pannes des composants du circuit, ces pannes pouvant être critique pour la conduite et la sécurité du véhicule. Dans le cas d’un circuit de combinaison d’alimentations, l’art antérieur ne prévoit aujourd’hui pas de solution pour diagnostiquer les diodes. Or, un défaut sur une diode pourrait endommager les équipements du véhicule alimentés par le circuit de combinaison d’alimentations. Notamment, une diode endommagée formant un court-circuit sur la ligne de sorte à permettre au courant de circuler dans le sens non-passant entrainerait une recirculation du courant dans les autres lignes du circuit, qui pourrait endommager des équipements du véhicule.
Il existe donc le besoin d’une solution permettant de remédier à ces inconvénients.
L’un des buts de l’invention est de fournir une solution de diagnostic des diodes d’un circuit de combinaison d’alimentations dans un véhicule automobile. Un autre but de l’invention est d’améliorer la sécurité des véhicules comportant un circuit de combinaison d’alimentations.
A cette fin, l’invention concerne tout d’abord un procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit de combinaison d’alimentations, ledit circuit comprenant un point de sortie d’alimentation et une pluralité de lignes d’alimentation, chaque ligne comprenant une source d’alimentation, un interrupteur et une diode connectés en série dans cet ordre avec la diode connectée dans le sens passant, la sortie passante de la diode étant reliée au point de sortie d’alimentation du circuit, chaque ligne comprenant en outre une résistance connectée entre l’entrée passante de la diode et une masse, ledit procédé comprenant, pour chacune des lignes d’alimentation, les étapes de :
- ouverture de l’interrupteur de la ligne à diagnostiquer, au moins un des interrupteurs des autres lignes étant fermés,
- mesure de la tension aux bornes de la résistance de la ligne à diagnostiquer,
- détection d’un défaut sur la ligne à diagnostiquer lorsque la tension mesurée est non-nulle.
En permettant une injection de courant vers chaque diode, une à une, dans le sens non-passant, le procédé selon l’invention permet de déterminer si une diode est endommagée et fonctionne en court-circuit dans le sens non-passant. En utilisant un étage de relecture et un interrupteur sur chaque ligne d’alimentation et en procédant selon une séquence de mesure prédéterminée, le procédé selon l’invention permet de vérifier le fonctionnement de chaque diode utilisée dans la combinaison de l’alimentation, réduisant significativement le risque de panne non détectée et améliorant ainsi la sureté du véhicule et de ses occupants. De plus, le procédé permet de diagnostiquer une panne sur une diode du circuit à faible coût et sans impact visible sur le fonctionnement du circuit.
De préférence, tous les interrupteurs des lignes non en cours de diagnostic sont fermés avant la mesure.
Dans un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, lorsqu’une ligne défectueuse a été détectée, les étapes d’ouverture de tous les interrupteurs, la mesure de la tension aux bornes de la résistance de la ligne défectueuse et la détection du défaut sur la diode de la ligne défectueuse si la tension mesurée est nulle ou la détection du défaut sur l’interrupteur lorsque la tension mesurée est non-nulle.
En variante ou en complément, chaque ligne du circuit comprenant en outre un deuxième interrupteur connecté entre la source d’alimentation et le premier interrupteur, le procédé comprend en outre, suite à la détection d’un défaut sur une ligne, l’ouverture de tous les premiers interrupteurs, l’ouverture du deuxième interrupteur de la ligne défectueuse, la fermeture d’un deuxième interrupteur d’au moins une autre ligne, la mesure la tension aux bornes de la résistance de la ligne défectueuse et la détection du défaut sur la diode de la ligne défectueuse si la tension mesurée est non-nulle. Par autre ligne, on entend les lignes autres que la ligne défectueuse détectée.
Selon un aspect de l’invention, la tension mesurée est non-nulle lorsque sa valeur est supérieure à 1 V en valeur absolue.
L’invention concerne également un produit programme d’ordinateur caractérisé en ce qu’il comporte un ensemble d’instructions de code de programme qui, lorsqu’elles sont exécutées par un ou plusieurs processeurs, configurent le ou les processeurs pour mettre en œuvre un procédé tel que présenté précédemment.
L’invention concerne également un module de contrôle d’un circuit de combinaison d’alimentations pour véhicule automobile, ledit module de contrôle configuré pour mettre en œuvre le procédé tel que présenté précédemment.
L’invention concerne également un circuit de combinaison d’alimentations, ledit circuit comprenant un point de sortie d’alimentation et une pluralité de lignes d’alimentation, chaque ligne comprenant une source d’alimentation, un interrupteur et une diode connectés en série dans cet ordre avec la diode connectée dans le sens passant, la sortie passante de la diode étant reliée au point de sortie d’alimentation du circuit, chaque ligne comprenant en outre une résistance connectée entre l’entrée passante de la diode et une masse, ledit circuit comprenant un module de contrôle tel que présenté précédemment.
Dans une forme de réalisation, le circuit de combinaison d’alimentations tel que présenté précédemment, dans lequel chaque ligne comprend en outre un deuxième interrupteur monté entre la source d’alimentation et le premier interrupteur.
L’invention concerne également un véhicule automobile comprenant un circuit de combinaison d’alimentations tel que présenté précédemment.
D’autres caractéristiques et avantages de l’invention apparaîtront encore à la lecture de la description qui va suivre. Celle-ci est purement illustrative et doit être lue en regard des dessins annexés sur lesquels :
La représente schématiquement une forme de réalisation d’un circuit de combinaison d’alimentations de l’art antérieur.
La représente schématiquement une première forme de réalisation du circuit selon l’invention.
La représente schématiquement une deuxième forme de réalisation du circuit selon l’invention.
La illustre le circuit de la lors du diagnostic de la diode de la première ligne d’alimentation.
La illustre le circuit de la lors du diagnostic de la diode de la deuxième ligne d’alimentation.
La illustre le circuit de la lors du diagnostic de la diode de la troisième ligne d’alimentation.
La illustre le circuit de la lors d’un exemple de diagnostic de la diode de la deuxième ligne d’alimentation défectueuse.
La illustre schématiquement un mode de réalisation du procédé selon l’invention.

Claims (10)

  1. Procédé de diagnostic d’un défaut dans un circuit (1) de combinaison d’alimentations, ledit circuit (1) comprenant un point de sortie (PS) d’alimentation et une pluralité de lignes d’alimentation (L1, L2, L3), chaque ligne (L1, L2, L3) comprenant une source d’alimentation (A1, A2, A3), un interrupteur (I1, I2, I3) et une diode (D1, D2, D3) connectés en série dans cet ordre avec la diode (D1, D2, D3) connectée dans le sens passant, la sortie passante de la diode (D1, D2, D3) étant reliée au point de sortie (PS) d’alimentation du circuit (1), chaque ligne comprenant en outre une résistance (R1, R2, R3) connectée entre l’entrée passante de la diode (D1, D2, D3) et une masse (M), ledit procédé comprenant, pour chacune des lignes (L1, L2, L3) d’alimentation, les étapes de :
    - ouverture (E1) de l’interrupteur (I1, I2, I3) de la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer, au moins un des interrupteurs (I1, I2, I3) des autres lignes (L1, L2, L3) étant fermés (E2),
    - mesure (E3) de la tension aux bornes de la résistance (R1, R2, R3) de la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer,
    - détection (E4) d’un défaut sur la ligne (L1, L2, L3) à diagnostiquer lorsque la tension mesurée est non-nulle.
  2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel tous les interrupteurs (I1, I2, I3) des lignes (L1, L2, L3) non en cours de diagnostic sont fermés avant la mesure.
  3. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre, lorsqu’une ligne (L1, L2, L3) défectueuse a été détectée, les étapes d’ouverture de tous les interrupteurs (I1, I2, I3), la mesure de la tension aux bornes de la résistance (R1, R2, R3) de la ligne (L1, L2, L3) défectueuse et la détection du défaut sur la diode (D1, D2, D3) de la ligne (L1, L2, L3) défectueuse si la tension mesurée est nulle ou la détection du défaut sur l’interrupteur (I1, I2, I3) lorsque la tension mesurée est non-nulle.
  4. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 ou 2, dans lequel, chaque ligne (L1, L2, L3) du circuit (1) comprenant en outre un deuxième interrupteur (J1, J2, J3) connecté entre la source (A1, A2, A3) d’alimentation et le premier interrupteur (I1, I2, I3), le procédé comprend en outre, suite à la détection d’un défaut sur une ligne (L1, L2, L3), l’ouverture de tous les premiers interrupteurs (I1, I2, I3), l’ouverture du deuxième interrupteur (J1, J2, J3) de la ligne (L1, L2, L3) défectueuse, la fermeture d’un deuxième interrupteur (J1, J2, J3) d’au moins une autre ligne (L1, L2, L3), la mesure la tension aux bornes de la résistance (R1, R2, R3) de la ligne (L1, L2, L3) défectueuse et la détection du défaut sur la diode (D1, D2, D3) de la ligne (L1, L2, L3) défectueuse si la tension mesurée est non-nulle.
  5. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la tension mesurée est non-nulle lorsque sa valeur est supérieure à 1 V en valeur absolue.
  6. Produit programme d’ordinateur caractérisé en ce qu’il comporte un ensemble d’instructions de code de programme qui, lorsqu’elles sont exécutées par un ou plusieurs processeurs, configurent le ou les processeurs pour mettre en œuvre un procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes.
  7. Module de contrôle (10) d’un circuit (1) de combinaison d’alimentations pour véhicule automobile, ledit module de contrôle (10) étant configuré pour mettre en œuvre le procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes.
  8. Circuit (1) de combinaison d’alimentations, ledit circuit (1) comprenant un point de sortie (PS) d’alimentation et une pluralité de lignes d’alimentation (L1, L2, L3), chaque ligne (L1, L2, L3) comprenant une source d’alimentation (A1, A2, A3), un interrupteur (I1, I2, I3) et une diode (D1, D2, D3) connectés en série dans cet ordre avec la diode (D1, D2, D3) connectée dans le sens passant, la sortie passante de la diode (D1, D2, D3) étant reliée au point de sortie (PS) d’alimentation du circuit (1), chaque ligne comprenant en outre une résistance (R1, R2, R3) connectée entre l’entrée passante de la diode (D1, D2, D3) et une masse (M), ledit circuit (1) comprenant un module de contrôle (10) selon la revendication précédente.
  9. Circuit (1) de combinaison d’alimentations selon la revendication précédente, dans lequel chaque ligne (L1, L2, L3) comprend en outre un deuxième interrupteur (J1, J2, J3) monté entre la source (A1, A2, A3) d’alimentation et le premier interrupteur (I1, I2, I3).
  10. Véhicule automobile comprenant un circuit (1) de combinaison d’alimentations selon l’une quelconque des revendications 8 ou 9.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190389479A1 (en) * 2018-06-26 2019-12-26 Subaru Corporation Vehicle power supply apparatus
EP3783768A1 (fr) * 2018-04-19 2021-02-24 FDK Corporation Chargeur ayant une fonction de détection de défaillance et procédé de détection de défaillance
US11016140B1 (en) * 2018-10-31 2021-05-25 Wisk Aero Llc Battery diode fault monitoring

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3783768A1 (fr) * 2018-04-19 2021-02-24 FDK Corporation Chargeur ayant une fonction de détection de défaillance et procédé de détection de défaillance
US20190389479A1 (en) * 2018-06-26 2019-12-26 Subaru Corporation Vehicle power supply apparatus
US11016140B1 (en) * 2018-10-31 2021-05-25 Wisk Aero Llc Battery diode fault monitoring

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