FR2994263A1 - Procede et dispositif d'identification de materiaux dans une scene - Google Patents

Abstract

L'invention concerne un procédé d'identification d'un matériau dans une scène, comprenant les étapes suivantes : éclairer la scène (1) ; réaliser au moins deux mesures simultanées de l'amplitude lumineuse de la scène pour des états de polarisation distincts de la lumière à l'aide d'au moins deux dispositifs de mesure positionnés selon des directions inclinées au-dessus de la normale de la scène ; et en déduire une identification du matériau.

Description

B11856 1 PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'IDENTIFICATION DE MATÉRIAUX DANS UNE SCÈNE Domaine de l'invention La présente invention concerne un dispositif et un procédé d'identification de matériaux dans une scène. Plus particulièrement, la présente invention concerne de tels dispositif et procédé adaptés à l'identification rapide de matériaux dans une scène, par exemple sur une chaîne d'assemblage. Exposé de l'art antérieur Lors de l'assemblage de circuits imprimés, de nombreux tests d'alignement et de positionnement sont effectués à différents stades de l'assemblage. Notamment, il est courant de réaliser un premier test d'alignement et de positionnement après la formation de plots de soudure sur une carte de circuit imprimé. Ce premier test permet de déterminer si les plots sont correctement répartis en surface de la carte. Des composants ou puces sont ensuite positionnés sur la carte de circuit imprimé de façon que leurs bornes coïncident avec des plots de soudure. Un deuxième test d'alignement et de positionnement peut être réalisé après cette étape de positionnement des composants. Une dernière étape consiste à réaliser un recuit de la structure de façon à faire fondre les B11856 2 plots de soudure pour que les composants ou puces soient maintenus en position sur la carte de circuit intégré. Dans un procédé d'assemblage classique, les cartes de circuit intégré sont placées sur un convoyeur et l'ensemble des étapes d'assemblage est réalisé à la chaîne. De nombreux dispositifs de test de cartes positionnées sur des convoyeurs sont connus, notamment des dispositifs intégrant des éléments d'inspection optique. Il serait cependant intéressant d'identifier également les matériaux présents dans la scène. Par identification d'un matériau, on entend ici indifféremment la détermination d'un groupe de matériaux dans lequel est compris le matériau à identifier, c'est-à-dire par exemple la nature du matériau (diélectrique, conducteur...), ou la détermination du matériau lui-même (cuivre, aluminium...). On a déjà proposé d'identifier des matériaux en réalisant des détections de couleur dans une scène bidimensionnelle. Un inconvénient est que le résultat est relativement dépendant des conditions d'éclairement. De plus, un tel procédé présente des limites en ce qui concerne le nombre de matériaux que l'on peut détecter. En outre, il est mal adapté à la réalisation d'une identification de matériaux dans une scène tridimensionnelle, les ombres des éléments en relief étant susceptibles de fausser l'identification.

Un besoin existe donc d'un procédé et d'un dispositif d'identification de matériaux dans une scène relativement rapides, c'est-à-dire adaptés à la réalisation d'identification sur des scènes mobiles, et notamment sur une chaîne de montage. Résumé Un objet d'un mode de réalisation est de prévoir un dispositif et un procédé d'identification de matériaux dans une scène. Un autre objet d'un mode de réalisation est de proposer une solution particulièrement rapide et adaptée aux 35 scènes mobiles, notamment sur une chaîne de montage.

B11856 3 Un autre objet d'un mode de réalisation est de prévoir un dispositif et un procédé adaptés à l'identification de matériaux dans une scène tridimensionnelle. Pour atteindre tout ou partie de ces objets ainsi que 5 d'autres, on prévoit un procédé d'identification d'un matériau dans une scène, comprenant les étapes suivantes : éclairer la scène ; réaliser au moins deux mesures simultanées de l'amplitude lumineuse de la scène pour des états de polarisation distincts de la lumière à l'aide d'au moins deux dispositifs de 10 mesure positionnés selon des directions inclinées au-dessus de la normale de la scène ; et en déduire une identification du matériau. Un mode de réalisation de la présente invention prévoit en outre un système d'identification d'un matériau dans 15 une scène, comportant au moins un élément d'un premier type choisi parmi une source lumineuse et un dispositif d'acquisition d'images et au moins deux éléments d'un deuxième type, différent du premier type, choisis parmi un dispositif d'acquisition d'images et une source lumineuse, chaque deuxième élément étant 20 associé à un polarisateur rectiligne dans une relation fixe. Selon un mode de réalisation de la présente invention, l'axe optique de chaque élément du deuxième type forme, par rapport à l'axe optique de l'élément du premier type, un angle compris entre 5 et 50°, les éléments du deuxième type étant 25 répartis régulièrement autour de l'axe optique de l'élément du premier type. Selon un mode de réalisation de la présente invention, le ou les dispositifs d'acquisition d'images acquièrent des images de l'amplitude lumineuse de la scène pour des états de 30 polarisation distincts de la lumière. Selon un mode de réalisation de la présente invention, le système comprend en outre un dispositif de traitement adapté à identifier, à partir des images acquises par le ou les dispositifs d'acquisition d'images, un matériau dans la scène.

B11856 4 Selon un mode de réalisation de la présente invention, le système comprend en outre un dispositif de détermination de la topologie de la scène, le dispositif de traitement recevant des informations du dispositif de détermination.

Selon un mode de réalisation de la présente invention, l'élément du premier type est placé selon un axe normal au plan de la scène. Selon un mode de réalisation de la présente invention, les éléments du deuxième type sont des sources lumineuses.

Un mode de réalisation de la présente invention prévoit en outre un procédé tel que décrit ci-dessus, mettant en oeuvre le système tel que décrit ci-dessus, dans lequel les sources lumineuses sont activées alternativement, le dispositif d'acquisition d'image étant prévu pour acquérir une image à chaque alternance d'activation des sources. Un mode de réalisation de la présente invention prévoit en outre une installation comprenant un convoyeur de pièces et un système d'identification d'un matériau dans les pièces tel que décrit ci-dessus.

Brève description des dessins Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles : la figure 1 illustre un dispositif d'inspection de cartes de circuit imprimé ; la figure 2 illustre un dispositif connu d'identi- fication de matériaux présents dans une scène bidimensionnelle (2D) ; la figure 3 est une courbe illustrant le principe d'un dispositif selon un mode de réalisation ; la figure 4 est un schéma sous forme de blocs d'un système selon un mode de réalisation ; la figure 5 est une vue en perspective illustrant des 35 notations utilisées pour décrire des modes de réalisation ; B11856 la figure 6 illustre un mode de réalisation d'un élément du système selon un mode de réalisation ; la figure 7 illustre un autre mode de réalisation d'un élément du système selon une variante de réalisation ; et 5 la figure 8 illustre un autre mode de réalisation d'un élément du système selon une variante de réalisation. Par souci de clarté, de mêmes éléments ont été désignés par de mêmes références aux différentes figures et, de plus, comme cela est habituel dans la représentation des systèmes de test, les diverses figures ne sont pas tracées à l'échelle. Description détaillée La figure 1 représente, de façon très schématique, un exemple d'une telle installation telle que décrite dans les documents EP-A-2413132 et US-A-2012/019651. Des circuits électroniques IC, par exemple portés par une carte de circuit imprimé ICC, sont placés, par exemple, sur un convoyeur 1 d'une installation en ligne d'inspection optique. Cette installation comporte un système 2 de caméras numériques, relié à un système informatique 3 de traitement d'images. Le convoyeur 1 est susceptible de se déplacer dans un plan X, Y (généralement horizontal) et, pour une série de prises de vue, uniquement selon une des deux directions, la direction X. Le système 2 de caméras numériques peut prendre plusieurs formes. Notamment, il a été proposé de réaliser une détection du positionnement de puces ou de composants sur une carte de circuit imprimé par une détection de formes en surface de la carte, c'est-à-dire par une détection de la structure tridimensionnelle du dispositif. Si un composant, une puce, ou un plot de soudure n'est pas correctement positionné, la comparaison de la topologie de la carte à une topologie de référence permet de le détecter. La figure 2 illustre un dispositif connu d'identification de matériaux présents dans une scène bidimensionnelle (2D).

B11856 6 Ce dispositif comprend une plaquette 12 en surface de laquelle sont définis des motifs 14 en un matériau distinct de celui de la plaquette, et que l'on veut identifier. La plaquette 12 est par exemple éclairée par la lumière ambiante. Une caméra 5 16 est placée en regard de la plaquette 12 et est positionnée pour acquérir une image d'au moins une portion de la surface de la plaquette 12 dont on veut identifier la structure par l'identification du matériau. Dans l'exemple représenté, l'axe optique de la caméra est orthogonal à la surface de la 10 plaquette. On notera qu'un positionnement oblique de la caméra est également possible. Un polariseur linéaire tournant 18 est placé devant la caméra 16. Le polariseur 18 peut être par exemple constitué d'une lentille biréfringente qui amplifie l'intensité lumineuse 15 selon un axe de polarisation de la lumière et atténue l'intensité lumineuse selon un autre axe de polarisation de la lumière, orthogonal au premier axe. La caméra est associée à des moyens de traitement et de calcul 20. Le polariseur linéaire tournant est utilisé en ellip- 20 somètre. Ceci permet de cartographier l'intensité lumineuse en fonction de l'orientation de la polarisation. Pour réaliser cette cartographie, le polariseur linéaire tournant peut être par exemple monté sur un axe entraîné par un moteur. On notera qu'une détection similaire pourrait être 25 réalisée à l'aide d'un dispositif comprenant une association de deux polariseurs linéaires positionnés autour d'un retardeur à cristaux liquides commandable en tension. La figure 3 illustre un résultat susceptible d'être obtenu par le dispositif de la figure 2. Plus particulièrement, 30 la figure 3 illustre deux courbes ellipsométriques déterminées à l'aide du dispositif de la figure 2, issues de mesures réalisées pour deux pixels de la caméra dirigées vers des points de la scène en des matériaux distincts. Ces courbes illustrent le coefficient de modulation de l'intensité incidente en fonction 35 de l'angle du polariseur tournant (en radian) pour un premier B11856 7 pixel de la caméra qui est dirigé vers un premier matériau en surface du support 12 (courbe 22) et pour un deuxième pixel de la caméra qui est dirigé vers un deuxième matériau en surface du support 12 (courbe 24).

Comme on peut le voir en figure 3, les courbes 22 et 24 présentent des amplitudes distinctes sur l'ensemble des angles de polarisation possibles. Dans l'exemple représenté, la courbe 22 correspond à l'acquisition réalisée par un pixel de la caméra 16 qui détecte une zone en un matériau conducteur, et plus particulièrement en cuivre. La courbe 24 correspond à l'acquisition réalisée par un pixel de la caméra 16 qui détecte une zone en un matériau diélectrique. On peut donc utiliser des mesures telles que celle de la figure 2 pour obtenir une information sur le matériau sur lequel l'onde lumineuse s'est réfléchie. En effet, chaque matériau présente une signature ellipsométrique liée à sa composition, et notamment à son indice de réfraction. Une comparaison entre une signature ellipsométrique et des signatures de référence permet de déterminer le matériau associé. Cependant, une identification de matériaux par ellipsométrie ne peut être mise en oeuvre dans le cas d'un traitement d'une scène mobile, par exemple sur une chaîne de montage, où le temps alloué à chaque acquisition est réduit. En effet, pour réaliser une identification par ellipsométrie et donc par comparaison de courbes ellipsométriques, la mesure de nombreux points pour des positions distinctes du polariseur linéaire tournant est nécessaire, une telle mesure étant consommatrice de temps. Une identification de matériaux par ellipsométrie ne peut en outre pas être mise en oeuvre dans le cas d'un traitement d'une scène déformable dont la topologie n'est pas connue. L'utilisation d'une structure comprenant deux polariseurs couplés à un retardateur à cristaux liquides implique également une durée de mesure prohibitive pour une application sur une chaîne de montage.

B11856 8 La figure 4 est un schéma sous forme de blocs illustrant un système selon un mode de réalisation permettant d'identifier des matériaux dans une scène, compatible avec l'identification sur une chaîne de montage.

Un dispositif de mesure 26 (POLA) détecte, pour chaque zone élémentaire de la scène, l'amplitude lumineuse réfléchie par cette zone pour au moins deux états de polarisation de la lumière distincts. Le système comprend en outre un dispositif de traitement et de calcul 27 (PROCESSING) qui, à partir des informations fournies par le système 26, permet d'obtenir une identification du matériau présent dans la zone élémentaire de la scène. Optionnellement, comme cela est représenté en pointillés et comme on le verra ci-après dans le cas d'une scène tridimensionnelle, le système peut également comprendre un dispositif de détermination de la topologie de la scène 28 (3D). Dans le cas d'une scène tridimensionnelle, grâce à la présence du dispositif de détermination de la topologie de la scène 28, on connaît, en tout point de la scène, la valeur du vecteur normal à la surface de la scène N. Pour déterminer la topologie de la scène, divers dispositifs pourront être utilisés. Notamment, on pourra utiliser des systèmes tels que ceux décrits dans la demande de brevet US 2012/019651 de la demanderesse. Ce dispositif comprend, dans un plan orthogonal à la direction d'avancement d'un convoyeur, un ensemble de deux projecteurs, chaque projecteur étant associé à plusieurs caméras pour obtenir un système de prise de vue 3D. Des moyens de calcul et de traitement appliquent un processus de super résolution sur les informations obtenues.

Bien entendu, d'autres dispositifs de détermination de la topologie de la scène 3D peuvent également être utilisés comme dispositif 26. La réflexion d'une onde lumineuse sur une surface implique une variation de la polarisation de l'onde dont l'amplitude dépend, outre de l'indice de réfraction du B11856 9 matériau détecté, de la géométrie de la surface analysée, de la rugosité r de la surface et de la longueur d'onde À du faisceau lumineux éclairant la surface. La rugosité r de la surface et la longueur d'onde À du faisceau lumineux éclairant la surface seront négligées ou supposées constantes dans notre cas. La géométrie de la surface analysée peut être caractérisée par un vecteur normal N à la surface analysée. Ainsi, l'état de polarisation d'une onde lumineuse réfléchie sur une surface dépend de l'état de polarisation de l'onde initiale projetée sur la surface, des paramètres _À,7-, r et À et de l'indice de réfraction du matériau. L'amplitude I(11, 0', cx, de la lumière diffusée par un matériau situé dans une scène tridimensionnelle et mesurée par un capteur positionné derrière un polariseur linéaire 15 tournant peut s'écrire de la façon suivante : e',a,R = (a - cos(e'))2 + b2 2 cos (2(a - (3» + 1 (a 2 b 2 Itan (of + 2a. cos (e'>an (Of + 2(a 2 b 2 )+ sin (of tan (0) avec : 2a2 = .\1112 k2 _ s n(0')2 + 4n2k2 + n2 _ k2 _ s n(0')2 20 2b2 = .\1112 - k2 - s i n(0')2 + 4n2k2 - n2 - k2 - s i n(0')2 n et k étant respectivement la partie réelle et la partie imaginaire (indice d'absorption) de l'indice de réfraction du matériau, un couple (0, c) représentant les deux premières coordonnées sphériques (zénith et azimut) de la 25 normale N à la surface observée dans le repère de la caméra, l'angle 0' étant l'angle du rayon réfracté dans le matériau, obtenu à partir de l'angle 0 en appliquant la loi de Snell-Descartes (sine=n.sin(0')) et 13 étant l'angle du polariseur. La figure 5 illustre schématiquement les différents 30 angles mentionnés dans la formule ci-dessus. Dans cette figure est représentée une source lumineuse S qui éclaire la surface d'un matériau M. On considère ici le faisceau réfléchi par une Id 2 B11856 10 portion élémentaire de la surface M à destination d'un détecteur ou une caméra D, un polariseur P étant placé sur le trajet de l'onde réfléchie par le matériau. Le repère (x, y, z) de la caméra est défini de façon 5 que l'axe z coïncide avec la direction du faisceau réfléchi par le matériau M. L'angle 13 du polariseur P est défini dans notre exemple comme étant l'angle formé, dans un plan normal à la direction z, avec l'axe y. L'angle 0 est l'angle formé entre la direction z et la direction de la normale N à la surface du 10 matériau M, et l'angle a est l'angle formé entre une projection de la normale N dans un plan (x, y) et l'axe y de ce plan. On notera que l'on travaille ici sur la composante diffuse du faisceau, qui est, dans le modèle de Fresnel, une composante transmise par la couche intérieure du matériau. 15 Ainsi, il convient d'utiliser I(1/i, 0', a, pour exprimer l'intensité mesurée par le capteur. On prévoit ici de réaliser, à l'aide du dispositif de mesure 26, plusieurs acquisitions d'amplitude de la lumière réfléchie par les différents matériaux dans la scène, pour des 20 états de polarisation distincts de cette lumière. Que la scène soit bidimensionnelle (vecteur normal N orthogonal à la surface de la scène) ou tridimensionnelle, le fonctionnement du dispositif proposé ici est le même. Le système de mesure 26 est prévu de façon à obtenir 25 au moins deux informations de la modification du faisceau lumineux par la réflexion sur le pixel, et ce pour au moins deux états de polarisation, comme nous le verrons ci-après. En particulier, si on cherche à déterminer la nature des matériaux présents dans la scène, par exemple diélectrique 30 ou conducteur, peu d'informations d'amplitude du faisceau lumineux par la réflexion sur le pixel sont nécessaires. En effet, en spécifiant correctement les états de polarisation que l'on détecte, on peut déterminer la variation d'amplitude sur le matériau, cette variation étant directement liée à la nature du 35 matériau. Si l'on souhaite une information plus précise sur le B11856 11 matériau, par exemple si on souhaite déterminer l'indice de réfraction de celui-ci, quatre acquisitions d'états de polarisation distincts peuvent être nécessaires. La figure 6 illustre plus en détail un mode de 5 réalisation d'un système de mesure 26 de la figure 4. Le système de mesure 26 comprend un projecteur 30 dont l'axe optique s'étend selon une direction normale à la direction de la scène à analyser. Dans l'exemple représenté, le système 26 comprend en 10 outre un ensemble de quatre caméras 32 (quatre acquisitions en parallèle) placées de façon à acquérir, depuis des points de vue distincts, une image de la scène centrée sur un même point. Le point au centre des images acquises par les caméras 32 peut être confondu avec le centre du faisceau fourni par le projecteur 30. 15 A titre d'exemple, les caméras 32 pourront être inclinées selon un même angle a par rapport à l'axe optique du projecteur et être positionnées régulièrement autour de l'axe optique du projecteur 30. L'angle a formé entre l'axe optique des caméras 32 et l'axe optique du projecteur 30 pourra être compris entre 5 20 et 50°. On notera qu'un angle important améliore la qualité de l'identification. On notera également que l'on pourra prévoir plus ou moins de quatre caméras, comme cela a été décrit ci-dessus. Un polariseur rectiligne 34 fixe par rapport à chacune 25 des caméras est placé devant chacune des caméras 32. Le dispositif de traitement et de calcul 27 (non représenté en figure 6) reçoit les acquisitions des différentes caméras et identifie, pour chaque pixel de la scène à l'aide de la connaissance de la topologie du pixel, le matériau présent au 30 niveau du pixel de la scène. Plusieurs configurations des polariseurs rectilignes devant chacune des caméras sont possibles, l'important étant que les caméras aient des points de vue différents de la scène. En effet, ceci produit des variations des intensités mesurées par 35 les différentes caméras. Les polariseurs rectilignes 34 peuvent B11856 12 être placés devant chacune des caméras de façon à présenter une même configuration de polarimétrie, c'est-à-dire que les angles de polarisation des polariseurs sont symétriques en rotation autour de l'axe optique du projecteur 30. Si l'on souhaite augmenter la variation des intensités mesurées par les différentes caméras, on peut également décaler les angles des polariseurs entre les caméras. En effet, une configuration polarimétrique variant entre les caméras assure une identification de bonne qualité.

La position préférée des polariseurs rectilignes proposée ci-dessus assure la réalisation de mesures de l'amplitude lumineuse réfléchie par chaque pixel de la scène pour différents états de polarisation de la lumière réfléchie (chaque caméra est associée à un polariseur linéaire, ce qui assure la mesure de ces différents états de polarisation). Ainsi, les caméras reçoivent chacune, pour un même pixel de la scène, une amplitude lumineuse correspondant à une polarisation différente de la lumière réfléchie par le pixel. A partir des valeurs mesurées par les caméras pour des états de polarisation distincts de la lumière, et de la connaissance de la topologie de la scène dans le cas d'une scène 3D, on peut donc déterminer les matériaux présents dans la scène (par détermination de leurs indices de réfraction). Les figures 7 et 8 illustrent deux variantes de 25 réalisation d'un dispositif selon un mode de réalisation. La figure 7 reprend un dispositif similaire à celui de la figure 6 en ce qu'il comprend un projecteur 30 d'une lumière non polarisée positionné selon une direction normale à la scène, la lumière émise par le projecteur étant adaptée à éclairer au 30 moins une partie de la scène que l'on étudie. Dans l'exemple de la figure 7, deux caméras 32, associées à des polariseurs rectilignes, réalisent une acquisition d'images de la scène. Les deux caméras 32 sont placées symétriquement par rapport au projecteur, l'axe optique des caméras formant un angle a avec B11856 13 l'axe optique du projecteur, compris de préférence entre 5 et 50°. L'homme de l'art déterminera aisément les polarisations à imposer aux deux polariseurs 34 pour que ceux-ci 5 détectent, pour une surface plane de référence, les valeurs maximale et minimale de l'amplitude de l'intensité détectée. La figure 8 illustre une autre variante de réalisation. En figure 8 est prévue une association de deux sources lumineuses et d'une caméra, pour un résultat similaire 10 aux modes de réalisation des figures 6 et 7. Dans l'exemple de la figure 8, deux sources lumineuses 30A, 30B sont placées de façon à éclairer, au niveau de leurs axes optiques, un même point de la scène. Les axes optiques des deux sources lumineuses sont prévus par rapport à la normale à 15 la scène pour former un même angle cx, de préférence compris entre 5 et 50°, et sont orientés symétriquement par rapport à un plan normal à la scène. Une unique caméra 32 est placée dans ce plan normal, et son axe optique est dirigé vers le point central des faisceaux lumineux issus des sources 30A et 30B.

20 Les sources lumineuses 30A, 30B sont polarisées. Pour schématiser ce point en figure 7, on a représenté deux polariseurs 34A, 34B, fixes par rapport aux sources 30A, 30B et placés sur le trajet optique du faisceau issu des sources 30A, 30B. On notera que l'on pourra également prévoir directement des 25 sources de lumière polarisées. Les polarisations des ondes lumineuses des sources 30A et 30B (ou le positionnement des polariseurs 34A et 34B dans l'exemple de la figure 7) pourront être prévues de façon à limiter les reflets spéculaires qui peuvent être gênants dans le 30 système de vision. On pourra également choisir les polarisations des ondes lumineuses des sources 30A et 30B (ou le positionnement des polariseurs 34A et 34B dans l'exemple de la figure 7) de façon que le signal réfléchi par une surface plane de référence soit reçu par la caméra de façon à coïncider avec B11856 14 les extremums d'amplitude de lumière détectée (courbe de la figure 3). En fonctionnement, on pourra prévoir d'éclairer alternativement la scène à l'aide des projecteurs 30A et 30B, la 5 caméra réalisant une première acquisition sous l'éclairement du projecteur 30A et une deuxième acquisition sous l'éclairement du projecteur 30B. Dans le cas d'un traitement pas lots, sur une chaîne de montage, un correctif de décalage d'acquisition entre la première et deuxième acquisition pourra être prévu pour que 10 les images détectées lors de ces deux acquisitions soient comparables. Les informations d'amplitude détectées par la caméra pendant les deux phases d'activation des projecteurs 30A et 30B pour une même zone de la scène, ainsi que les connaissances de 15 la topologie de cette zone si la scène est tridimensioinnelle, assurent l'identification du matériau du pixel par le système de traitement 27. On notera que diverses variantes pourront être obtenues à partir des exemples de réalisation des figures 6 à 8.

20 En effet, on pourra prévoir d'utiliser des nombres différents de sources lumineuses et de caméras que ceux proposés ici, tant qu'au moins deux couples source émettrice/récepteur sont prévus dans le dispositif (une source pour deux caméras ou deux sources pour une caméra au minimum).

25 Bien entendu, on comprendra que plus le nombre de couples source/capteur est important, plus la détection des matériaux peut être fine et précise. En pratique, on pourra limiter le nombre de matériaux à identifier dans la scène. En effet, par exemple dans le cas 30 d'une application du procédé à l'identification de matériaux dans une chaîne de montage de circuits imprimés montés sur une carte, il peut être désiré de se limiter à une distinction entre les matériaux conducteurs (par exemple les pistes de cuivre d'interconnexion des puces) et les matériaux diélectriques.

35 Avantageusement, ces matériaux présentent des signatures ellip- B11856 15 sométriques bien distinctes (variation d'amplitude lumineuse plus importante pour les matériaux conducteurs que pour les matériaux isolants), ce qui assure la distinction de ces matériaux. La réduction du choix des matériaux dans une liste permet, comme nous l'avons vu précédemment, de limiter le nombre de couples source lumineuse/dispositif d'acquisition du système d'identification. Avantageusement, la structure d'identification de matériaux dans une scène proposée ici peut être intégrée dans des dispositifs de détection de topologie 3D de scène, et notamment avec le dispositif décrit dans la demande de brevet US 2012/019651 mentionnée ci-dessus. Pour cela, il suffit de détourner la fonction de certaines caméras de la scène non pas pour la détection de topologie mais pour l'identification de matériaux, ou encore d'ajouter une ou plusieurs caméras dédiées à l'identification de matériaux dans le système de détection de topologie. Des modes de réalisation particuliers de la présente invention ont été décrits. Diverses variantes et modifications apparaîtront à l'homme de l'art. En outre, divers modes de réalisation avec diverses variantes ont été décrits ci-dessus. On notera que l'homme de l'art pourra combiner divers éléments de ces divers modes de réalisation et variantes sans faire preuve d'activité inventive.

Claims (10)

1. REVENDICATIONS1. Procédé d'identification d'un matériau dans une scène, comprenant les étapes suivantes : éclairer la scène (1) ; réaliser au moins deux mesures simultanées de l'amplitude lumineuse de la scène pour des états de polarisation distincts de la lumière à l'aide d'au moins deux dispositifs de mesure positionnés selon des directions inclinées par rapport à la scène ; et en déduire une identification du matériau.
2. 2. Système d'identification d'un matériau dans une scène (1), comportant : au moins un élément d'un premier type choisi parmi une source lumineuse et un dispositif d'acquisition d'images ; et au moins deux éléments d'un deuxième type, différent du premier type, choisis parmi un dispositif d'acquisition d'images et une source lumineuse, chaque deuxième élément étant associé à un polarisateur rectiligne (34) dans une relation fixe.
3. 3. Système selon la revendication 2, dans lequel l'axe optique de chaque élément du deuxième type forme, par rapport à l'axe optique de l'élément du premier type, un angle compris entre 5 et 50°, les éléments du deuxième type étant répartis régulièrement autour de l'axe optique de l'élément du premier type.
4. 4. Système selon la revendication 2 ou 3, dans lequel le ou les dispositifs d'acquisition d'images acquièrent des images de l'amplitude lumineuse de la scène pour des états de polarisation distincts de la lumière.
5. 5. Système selon l'une quelconque des revendications 2 30 à 4, comprenant en outre un dispositif de traitement (27) adapté à identifier, à partir des images acquises par le ou les dispositifs d'acquisition d'images, un matériau dans la scène.
6. 6. Système selon la revendication 5, comprenant en outre un dispositif de détermination de la topologie de la scèneB11856 17 (28), le dispositif de traitement (27) recevant des informations dudit dispositif de détermination (28).
7. 7. Système selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, dans lequel l'élément du premier type est placé selon un 5 axe normal au plan de la scène (1).
8. 8. Système selon l'une quelconque des revendications 2 à 7, dans lequel les éléments du deuxième type sont des sources lumineuses (30A, 30B).
9. 9. Procédé selon la revendication 1, mettant en oeuvre 10 le système selon la revendication 8, dans lequel les sources lumineuses (30A, 30B) sont activées alternativement, le dispositif d'acquisition d'image (30) étant prévu pour acquérir une image à chaque alternance d'activation desdites sources.
10. 10. Installation comprenant un convoyeur de pièces et 15 un système d'identification d'un matériau dans lesdites pièces selon l'une quelconque des revendications 2 à 8.