FR2792076A1 - Testing apparatus for verifying integrity of electrodes in plasma screen comprises supply rails polarising electrodes, and antenna measuring electric field from electrodes - Google Patents
Testing apparatus for verifying integrity of electrodes in plasma screen comprises supply rails polarising electrodes, and antenna measuring electric field from electrodes Download PDFInfo
- Publication number
- FR2792076A1 FR2792076A1 FR9904376A FR9904376A FR2792076A1 FR 2792076 A1 FR2792076 A1 FR 2792076A1 FR 9904376 A FR9904376 A FR 9904376A FR 9904376 A FR9904376 A FR 9904376A FR 2792076 A1 FR2792076 A1 FR 2792076A1
- Authority
- FR
- France
- Prior art keywords
- electrodes
- antenna
- slab
- electric field
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/312—Contactless testing by capacitive methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
A 2792076A 2792076
Dispositif de test d'un réseau d'électrodes et procédé associé L'invention concerne un dispositif de test d'un panneau à plasma et un procédé de test dudit panneau. Plus particulièrement, le test vérifie I'intégrité des électrodes d'un écran plat, et notamment d'un panneau à plasma. Les panneaux à plasma, appelé par la suite PAP, sont des écrans de visualisation de type plat. Il existe deux grandes familles de PAP, à savoir les PAP dont le fonctionnement est du type continu et ceux dont le fonctionnement est du type alternatif. Les PAP comprennent généralement deux dalles isolantes (ou substrat), portant chacune un ou plusieurs réseaux d'électrodes parallèles et délimitant entre elles un espace rempli de gaz. Les dalles sont assemblées l'une à l'autre de manière à définir des intersections entre les électrodes desdits réseaux. Chaque intersection d'électrodes définit une cellule élémentaire à laquelle correspond un espace gazeux partiellement délimité par des barrières et dans lequel se produit une décharge électrique lorsque la cellule est activée. La décharge électrique provoque une ionisation du gaz dans la cellule élémentaire, accompagnée The invention relates to a device for testing a plasma panel and a method for testing said panel. More particularly, the test checks the integrity of the electrodes of a flat screen, and in particular of a plasma panel. Plasma panels, hereinafter called PAP, are flat type display screens. There are two main families of PAP, namely PAP whose operation is of the continuous type and those whose operation is of the alternative type. The PAP generally comprise two insulating slabs (or substrate), each carrying one or more networks of parallel electrodes and delimiting between them a space filled with gas. The slabs are assembled to each other so as to define intersections between the electrodes of said arrays. Each intersection of electrodes defines an elementary cell to which corresponds a gas space partially delimited by barriers and in which an electric discharge occurs when the cell is activated. The electric discharge causes ionization of the gas in the elementary cell, accompanied
d'une émission de lumière de la cellule. of a light emission from the cell.
Si une électrode d'un PAP est coupée, il apparaît un trait noir sur l'écran qui nuit à l'image et rend le PAP inutilisable. Lors de la fabrication, les électrodes peuvent être endommagées à n'importe quel moment suite à une erreur de manipulation. Les moments les plus critiques sont d'une part lors If an electrode of a PAP is cut, a black line appears on the screen which damages the image and makes the PAP unusable. During manufacture, the electrodes can be damaged at any time due to a handling error. On the one hand, the most critical moments are
de la gravure des électrodes et d'autre part lors de l'assemblage des dalles. of the etching of the electrodes and on the other hand during the assembly of the tiles.
Un test visuel sur un écran allumé permet de détecter très rapidement une rupture d'électrode mais permet seulement le tri en fin de fabrication. Il est préférable de tester les dalles lors de la gravure des électrodes afin de pouvoir les réparer immédiatement et également juste après l'assemblage afin de ne pas réaliser le pompage et le remplissage du PAP sur les écrans A visual test on a lit screen makes it possible to very quickly detect an electrode rupture but only allows sorting at the end of production. It is preferable to test the slabs during the etching of the electrodes in order to be able to repair them immediately and also just after assembly so as not to carry out the pumping and filling of the PAP on the screens.
défectueux.defective.
Classiquement, le test de continuité des électrodes est réalisé comme indiqué sur la figure 1. Chaque électrode 2 d'une dalle 1 est testée par un contrôleur de continuité 3, par exemple un ohmmètre, par l'intermédiaire de deux sondes 4 et 5 placées à chaque extrémité de I'électrode à tester. Un tel dispositif nécessite que toutes les électrodes 2 débouchent sur les deux cotés opposés de la dalle qui les supportent. La largeur des électrodes est de l'ordre de la centaine de tim, ce qui demande un positionnement précis pour chaque mesure. La répétition de ces mesures entraîne une durée de test importante. Un tel dispositif ne permet pas en outre de détecter les court-circuits entre électrodes voisines. L'invention propose de tester les électrodes par couplage capacitif avec une antenne. La dalle (ou le PAP) est positionnée sur un bâti qui Conventionally, the electrode continuity test is carried out as shown in FIG. 1. Each electrode 2 of a panel 1 is tested by a continuity controller 3, for example an ohmmeter, by means of two probes 4 and 5 placed at each end of the electrode to be tested. Such a device requires that all the electrodes 2 lead to the two opposite sides of the slab which support them. The width of the electrodes is of the order of a hundred tim, which requires precise positioning for each measurement. Repeating these measurements results in a significant test time. Such a device also does not make it possible to detect short circuits between neighboring electrodes. The invention proposes to test the electrodes by capacitive coupling with an antenna. The slab (or PAP) is positioned on a frame which
polarise les électrodes d'une dalle. Une antenne se déplace ensuite au- polarizes the electrodes of a slab. An antenna then moves over
dessus de la dalle (ou du PAP) pour mesurer le champ électrique produit par les électrodes. Le ou les écarts du champ électrique mesuré permettent de above the slab (or PAP) to measure the electric field produced by the electrodes. The deviation (s) in the measured electric field allow
déterminer si les électrodes sont coupées ou non. determine if the electrodes are cut or not.
L'invention a pour objet un dispositif de test pour un réseau d'électrodes placé sur au moins une dalle de support, le dispositif comportant des moyens d'alimentation pour polariser les électrodes afin que celles-ci produisent un champ électrique; au moins une antenne munie de moyens de guidage pour pouvoir être déplacée parallèlement à la dalle de support à une distance quasi constante des électrodes afin de mesurer un The subject of the invention is a test device for an array of electrodes placed on at least one support slab, the device comprising supply means for polarizing the electrodes so that the latter produce an electric field; at least one antenna provided with guide means so that it can be moved parallel to the support slab at an almost constant distance from the electrodes in order to measure a
champ électrique provenant desdites électrodes. electric field from said electrodes.
Afin d'améliorer la lisibilité de la mesure, les moyens d'alimentation comportent un premier moyen pour polariser la moitié des électrodes à une tension de polarisation et un deuxième moyen pour polariser l'autre moitié des électrodes avec l'opposée de la tension de polarisation, et en ce que lesdits premier et deuxième moyens sont agencés In order to improve the readability of the measurement, the supply means comprise a first means for polarizing half of the electrodes at a polarization voltage and a second means for polarizing the other half of the electrodes with the opposite of the voltage polarization, and in that said first and second means are arranged
pour polariser les électrodes de manière alternée. to polarize the electrodes alternately.
L'invention a également pour objet un procédé de test d'un réseau d'électrodes placé sur au moins une dalle de support, caractérisé en ce que les électrodes sont polarisées afin d'émettre un champ électrique, et en ce qu'au moins une antenne est déplacée parallèlement à la dalle de support à une distance quasi constante des électrodes afin de mesurer un champ The invention also relates to a method for testing an array of electrodes placed on at least one support slab, characterized in that the electrodes are polarized in order to emit an electric field, and in that at least an antenna is moved parallel to the support slab at an almost constant distance from the electrodes in order to measure a field
électrique provenant desdites électrodes. electric from said electrodes.
Afin d'améliorer la lisibilité de la mesure, la moitié des électrodes est polarisée avec une tension de polarisation, et l'autre moitié des électrodes est polarisée avec l'opposée de la tension de polarisation, et en ce que, les électrodes sont polarisées de manière alternée L'invention sera mieux comprise et d'autres particularités et In order to improve the readability of the measurement, half of the electrodes are biased with a bias voltage, and the other half of the electrodes are biased with the opposite of the bias voltage, and in that, the electrodes are biased alternately the invention will be better understood and other features and
avantages apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre, la advantages will appear on reading the description which follows, the
description faisant référence aux dessins annexés parmi lesquels: description referring to the appended drawings among which:
la figure 1 représente schématiquement un dispositif de test selon l'état de la technique, la figure 2 représente schématiquement un dispositif de test selon l'invention, les figures 3 et 4 représentent l'invention selon un premier mode de réalisation, les figures 5 et 6 représentent le principe de mesure mis en oeuvre dans l'invention, la figure 7 représente un circuit de mesure utilisé dans l'invention, les figures 8 et 9 représentent les signaux mesurés par l'antenne en absence de coupure d'électrode, la figure 10 représente les signaux internes du circuit de mesure de la figure 7 lorsqu'une erreur est détectée, la figure 11 représente un dispositif selon l'invention à deux antennes, la figure 12 représente une extrémité d'antenne utilisée dans le dispositif de la figure 11, les figures 13 et 14 représentent deux modes de fonctionnement Figure 1 shows schematically a test device according to the prior art, Figure 2 shows schematically a test device according to the invention, Figures 3 and 4 show the invention according to a first embodiment, Figures 5 and 6 represent the measurement principle implemented in the invention, FIG. 7 represents a measurement circuit used in the invention, FIGS. 8 and 9 represent the signals measured by the antenna in the absence of an electrode cut-off, FIG. 10 represents the internal signals of the measurement circuit of FIG. 7 when an error is detected, FIG. 11 represents a device according to the invention with two antennas, FIG. 12 represents an antenna end used in the detection device Figure 11, Figures 13 and 14 show two modes of operation
du dispositif de la figure 11.of the device of FIG. 11.
La figure 2 représente un dispositif de test pour une dalle de panneau à plasma 20 dont les électrodes 21 débouchent alternativement de part et d'autre de la dalle 20. L'homme du métier peut remarquer qu'une telle FIG. 2 represents a test device for a plasma panel slab 20, the electrodes 21 of which open out alternately on either side of the slab 20. Those skilled in the art can notice that such a
configuration permet d'élargir les électrodes 21 sur leur extrémité de contact. configuration makes it possible to widen the electrodes 21 on their contact end.
La dalle 20 est placée sur deux rails 22 et 23 de manière à ce que la moitié des électrodes soit en contact avec chaque rail 22 ou 23 de manière alternée. Le rail 22 est alimenté électriquement à un potentiel de polarisation, et le rail 23 est alimenté avec une tension égale à l'inverse de la tension de polarisation. Les deux rails 22 et 23 se comportent comme des moyens d'alimentation pour polariser la moitié des électrodes avec une tension de polarisation et l'autre moitié des électrodes avec l'opposée de la tension de polarisation de manière alternée. Dans l'exemple préféré, la tension de polarisation est sinusoïdale et est par exemple égale à V * sin (o)t), I'inverse de la tension étant égal à -sin (ot). L'antenne 24 se déplace The slab 20 is placed on two rails 22 and 23 so that half of the electrodes are in contact with each rail 22 or 23 alternately. The rail 22 is supplied electrically at a bias potential, and the rail 23 is supplied with a voltage equal to the reverse of the bias voltage. The two rails 22 and 23 behave as supply means for biasing half of the electrodes with a bias voltage and the other half of the electrodes with the opposite of the bias voltage alternately. In the preferred example, the bias voltage is sinusoidal and is for example equal to V * sin (o) t), the inverse of the voltage being equal to -sin (ot). The antenna 24 moves
parallèlement à la dalle testée.parallel to the tested slab.
Il est possible d'utiliser n'importe quelle forme de tension de polarisation y compris des tensions continues, mais il devient alors difficile de filtrer les parasites de basse fréquence. Egalement, il est possible d'utiliser une unique tension de polarisation, mais cela revient alors à mesurer une variation de capacité de manière très précise, ce qui dans le cas d'un panneau à plasma peut être difficile à interpréter. L'alternance de signaux sinusoïdaux sur les électrodes permet d'avoir une simplicité de mise Any form of bias voltage can be used, including direct voltages, but it becomes difficult to filter out low frequency noise. Also, it is possible to use a single bias voltage, but this then amounts to measuring a variation in capacitance very precisely, which in the case of a plasma panel can be difficult to interpret. The alternation of sinusoidal signals on the electrodes allows a simplicity of setting
en oeuvre doublée d'une très bonne lisibilité des mesures. implemented coupled with very good readability of the measurements.
Les figures 3 et 4 représentent un exemple de réalisation d'une table servant à tester des dalles d'écran à plasma selon l'invention. La table comporte un plateau 30 qui supporte les deux rails d'alimentation 22 et 23 et deux rails de guidage 31 et 32. Les rails d'alimentation 22 et 23 servent également de support pour la dalle 20 à tester. Un portique 33 qui supporte l'antenne 24 est relié aux rails de guidage pour pouvoir effectuer une translation parallèle à la dalle à tester. Le déplacement du portique 33 Figures 3 and 4 show an embodiment of a table for testing plasma screen tiles according to the invention. The table comprises a plate 30 which supports the two supply rails 22 and 23 and two guide rails 31 and 32. The supply rails 22 and 23 also serve as support for the slab 20 to be tested. A gantry 33 which supports the antenna 24 is connected to the guide rails in order to be able to translate parallel to the slab to be tested. Moving the gantry 33
s'effectue par exemple à l'aide un moteur pas à pas (non représenté). takes place for example using a stepping motor (not shown).
Préférentiellement, l'antenne 24 est un fil conducteur relié au portique 33 par des éléments de réglage 34 et 35 qui permettent de régler la hauteur de l'antenne 24 par rapport à la dalle 20. Les éléments de réglage 34 et 35 peuvent être supprimés si la table sert uniquement à tester des dalles dont Preferably, the antenna 24 is a conductive wire connected to the gantry 33 by adjustment elements 34 and 35 which make it possible to adjust the height of the antenna 24 relative to the slab 20. The adjustment elements 34 and 35 can be omitted if the table is only used to test slabs whose
I'épaisseur est définie comme étant fixe. The thickness is defined as being fixed.
La figure 5 illustre le principe de test mis en oeuvre dans l'invention. L'antenne 24 se déplace parallèlement à la dalle 20 et donc parallèlement aux électrodes 21 soutenues par la dalle. Bien évidemment, une erreur de parallélisme est toujours possible, celle-ci n'est pas gênante si le déplacement de l'antenne 24 reste sensiblement parallèle au plan de la dalle 20. Une modélisation du champ électrique produit par les électrodes 21 et capté par l'antenne 24 revient à traiter l'interaction de chaque électrode 21 avec l'antenne 24 comme un condensateur 50 à 54 dont le diélectrique est constitué par une couche isolante de la dalle 20, I'isolant 55 entourant l'antenne 24 et l'air situé entre l'antenne 24 et la dalle 20. Une telle FIG. 5 illustrates the test principle implemented in the invention. The antenna 24 moves parallel to the slab 20 and therefore parallel to the electrodes 21 supported by the slab. Obviously, a parallelism error is always possible, it is not a problem if the movement of the antenna 24 remains substantially parallel to the plane of the screen 20. A modeling of the electric field produced by the electrodes 21 and picked up by the antenna 24 amounts to treating the interaction of each electrode 21 with the antenna 24 as a capacitor 50 to 54, the dielectric of which consists of an insulating layer of the slab 20, the insulator 55 surrounding the antenna 24 and l between the antenna 24 and the slab 20. Such a
modélisation est représentée sur la figure 6. modeling is shown in Figure 6.
Dans l'exemple décrit, seul cinq condensateurs 50 à 54 sont pris en compte. En réalité, avec une antenne réalisée à l'aide d'un fil, il faut prendre en compte 50 à 100 condensateurs, le nombre dépendant de la taille de l'antenne 24, de la taille et de l'espacement des électrodes 21 et de l'écart entre les électrodes 21 et l'antenne 24. Le modèle électrique de la figure 6 représente deux sources de tension 60 et 61 connectées chacune à une armature de la moitié des condensateurs 50 à 54. Les source de tension 60 et 61 fournissent deux tensions de signe opposé. L'autre armature des condensateurs 50 à 54 est connectée à l'antenne 24. Pour détecter un éventuel court-circuit entre deux électrodes 21 voisines, il suffit de mesurer le courant à l'aide d'un ampèremètre 62 placé en série avec une des sources de tension 60. L'antenne 24 est connectée à l'entrée d'un amplificateur 63 dont la sortie est connectée à un circuit de contrôle 64 dont In the example described, only five capacitors 50 to 54 are taken into account. In reality, with an antenna produced using a wire, 50 to 100 capacitors must be taken into account, the number depending on the size of the antenna 24, on the size and the spacing of the electrodes 21 and the distance between the electrodes 21 and the antenna 24. The electrical model of FIG. 6 represents two voltage sources 60 and 61 each connected to an armature of half of the capacitors 50 to 54. The voltage source 60 and 61 provide two voltages of opposite sign. The other armature of the capacitors 50 to 54 is connected to the antenna 24. To detect a possible short circuit between two neighboring electrodes 21, it suffices to measure the current using an ammeter 62 placed in series with a voltage sources 60. The antenna 24 is connected to the input of an amplifier 63 whose output is connected to a control circuit 64 of which
un exemple de réalisation est détaillé sur la figure 7. an exemplary embodiment is detailed in FIG. 7.
Le circuit de contrôle 64 dispose d'une entrée qui reçoit le signal provenant de l'antenne 24 après amplification dans l'amplificateur 63. Un filtre passe-bande 70 dont une entrée correspond à l'entrée du circuit de contrôle 64 élimine les parasites captés par l'antenne 24, fournissant sur une sortie un signal filtré. L'homme du métier peut remarquer que les composantes continues et basses fréquences (secteur) parasites sont rejetées aisément étant donné que le signal de polarisation est sinusoïdal (la fréquence étant choisie pour permettre un filtrage simple). Un mélangeur 71 disposant de deux entrées et d'une sortie reçoit sur l'une des entrées une tension proportionnelle à l'une des tensions de polarisation, par exemple sin (oet). L'autre des entrées du mélangeur 71 est connectée à la sortie du filtre passe-bande 70. Le signal fourni sur la sortie du mélangeur correspond au The control circuit 64 has an input which receives the signal from the antenna 24 after amplification in the amplifier 63. A bandpass filter 70, one input of which corresponds to the input of the control circuit 64 eliminates noise picked up by the antenna 24, providing a filtered signal on an output. Those skilled in the art can notice that the parasitic continuous and low frequency components (sector) are easily rejected since the polarization signal is sinusoidal (the frequency being chosen to allow simple filtering). A mixer 71 having two inputs and one output receives on one of the inputs a voltage proportional to one of the bias voltages, for example sin (oet). The other of the inputs of the mixer 71 is connected to the output of the bandpass filter 70. The signal supplied on the output of the mixer corresponds to
produit des signaux présents sur ses entrées. produces signals present on its inputs.
Un filtre passe-bas 72 dispose d'une entrée connectée à la sortie du mélangeur 71 et d'une sortie. La fréquence de coupure correspond à une fréquence inférieure à la fréquence de la tension de polarisation mais supérieure à la fréquence d'enveloppe qui module le signal capté par l'antenne 24. La sortie du filtre passe-bas 72 fournit un signal qui est proportionnel à l'enveloppe du champ électrique capté par l'antenne 24. Un comparateur 73 compare le signal sortant du filtre passe-bas 72 avec zéro volt afin de fournir sur une sortie un signal représentatif du signe de l'enveloppe. Un générateur d'impulsion 74 dispose d'une entrée connectée à la sortie du comparateur 73 et d'une sortie qui fournit une impulsion chaque fois que l'enveloppe change de signe. Un compteur 75 dispose d'une entrée A low-pass filter 72 has an input connected to the output of the mixer 71 and an output. The cutoff frequency corresponds to a frequency less than the frequency of the bias voltage but greater than the envelope frequency which modulates the signal picked up by the antenna 24. The output of the low-pass filter 72 provides a signal which is proportional to the envelope of the electric field picked up by the antenna 24. A comparator 73 compares the signal leaving the low-pass filter 72 with zero volts in order to provide a signal representative of the sign of the envelope on an output. A pulse generator 74 has an input connected to the output of the comparator 73 and an output which supplies a pulse each time the envelope changes sign. A 75 meter has an input
de remise à zéro, d'une entrée d'horloge et d'une sortie de comptage. reset, clock input and counting output.
L'entrée de remise à zéro est connectée à la sortie du générateur d'impulsion 74 de sorte que le compteur est remis à zéro chaque fois que l'enveloppe change de signe. Un signal d'horloge H est fourni sur l'entrée d'horloge. On choisira préférentielle une fréquence de signal d'horloge élevée pour avoir une bonne résolution de comptage. Le compteur 75 The reset input is connected to the output of the pulse generator 74 so that the counter is reset each time the envelope changes sign. A clock signal H is supplied on the clock input. A high clock signal frequency will preferably be chosen to have a good counting resolution. The 75 meter
mesure la durée entre deux changements de signe du signal d'enveloppe. measures the time between two sign changes of the envelope signal.
Un comparateur 76 dispose d'une entrée de donnée connectée à la sortie de comptage du compteur 75 et d'une sortie qui fournit un signal binaire A comparator 76 has a data input connected to the counting output of counter 75 and an output which provides a binary signal
d'erreur actif si le comptage est supérieur à une valeur prédéfinie Dmax. error active if the count is greater than a predefined value Dmax.
Le signal binaire peut être traité de différentes façons. Une manière simple et efficace d'utiliser le signal binaire d'erreur consiste à commander un dispositif de marquage solidaire du portique 33 chaque fois que ledit signal d'erreur est actif. Le résultat ainsi obtenu permet de repérer de manière précise les électrodes défectueuses. Bien évidemment, d'autres The binary signal can be processed in different ways. A simple and effective way of using the binary error signal consists in controlling a marking device integral with the gantry 33 each time the said error signal is active. The result thus obtained makes it possible to pinpoint faulty electrodes. Obviously, others
traitements de ce signal d'erreur peuvent être envisagés. processing of this error signal can be considered.
Sur les figures 8 et 9, sont représentées des morceaux de courbes de la tension présente à la sortie du filtre passe bande 70 lorsque les électrodes ne sont pas coupées. La figure 8 correspond à l'extrémité de la dalle. Le signal d'enveloppe 80 correspond à une sinusoïde amortie car lorsqu'on se situe sur une extrémité du panneau, I'antenne est soumise à des électrodes réparties unilatéralement. L'amortissement vient de la prise en compte successive des électrodes de manière bilatérale. Pour des raisons pratiques, I'amortissement est représenté sur trois périodes alors que, dans la pratique, I'amortissement dure dix à vingt périodes. Une période correspond au passage de l'antenne 24 à vitesse constante au-dessus de In FIGS. 8 and 9 are shown pieces of curves of the voltage present at the output of the bandpass filter 70 when the electrodes are not cut. Figure 8 corresponds to the end of the slab. The envelope signal 80 corresponds to a damped sinusoid because when one is located on one end of the panel, the antenna is subjected to electrodes distributed unilaterally. The amortization comes from the successive taking into account of the electrodes bilaterally. For practical reasons, depreciation is shown over three periods while, in practice, depreciation lasts ten to twenty periods. A period corresponds to the passage of the antenna 24 at constant speed above
deux électrodes successives polarisées avec des tensions de signe opposé. two successive polarized electrodes with voltages of opposite sign.
La figure 9 correspond à la courbe mesurée au milieu de la dalle, le signal d'enveloppe 80 est alors d'amplitude constante. Le signal d'enveloppe 80 peut s'écrire sous la forme f(x)*sin(t/I), avec x la position de l'antenne 24 par rapport à une extrémité de la dalle 20, f(x) la fonction d'amortissement et 6 la durée pour que l'antenne parcoure (à vitesse constante) la distance entre FIG. 9 corresponds to the curve measured in the middle of the slab, the envelope signal 80 is then of constant amplitude. The envelope signal 80 can be written in the form f (x) * sin (t / I), with x the position of the antenna 24 relative to one end of the screen 20, f (x) the function damping and 6 the duration for the antenna to travel (at constant speed) the distance between
deux électrodes de même polarité. two electrodes of the same polarity.
A l'aide de la figure 10, on va à présent expliquer comment est détectée une coupure d'électrode. La figure 10A représente le signal mesuré qui sort du filtre 70 lorsqu'il n'y a pas de coupure et que l'on se situe au milieu de la dalle 20. Le signal mesuré 100 est un signal de la forme K * sin (cet) * sin (t/b). Le signal mesuré 100 est affecté de l'enveloppe 80 comme expliqué précédemment. Mais si jamais une électrode est coupée, cela revient à diminuer plus ou moins fortement la capacité d'un Using FIG. 10, we will now explain how an electrode cutout is detected. FIG. 10A represents the measured signal which leaves the filter 70 when there is no cut and when one is located in the middle of the screen 20. The measured signal 100 is a signal of the form K * sin ( ce) * sin (t / b). The measured signal 100 is assigned to the envelope 80 as explained above. But if an electrode is ever cut, this amounts to more or less greatly reducing the capacity of a
condensateur 52 correspondant à la position o se situe la coupure. capacitor 52 corresponding to the position where the cut is located.
L'influence du condensateur 52 de capacité réduite est maximale lorsque l'antenne 24 se trouve juste au-dessus de celui-ci. Ainsi on peut mesurer un signal dont l'enveloppe est déformée comme indiqué sur les courbes 101 et 102. La courbe 101 correspond à une électrode coupée près du bord o elle est alimentée, et la courbe 102 correspond à une électrode coupée loin du bord o elle est alimentée. Au niveau de l'électrode coupée, l'enveloppe n'a The influence of the capacitor 52 of reduced capacity is maximum when the antenna 24 is located just above it. Thus we can measure a signal whose envelope is deformed as indicated on curves 101 and 102. Curve 101 corresponds to an electrode cut near the edge o it is supplied, and curve 102 corresponds to an electrode cut far from the edge o it is powered. At the cut electrode, the envelope has
plus un rapport cyclique constant.plus a constant duty cycle.
La figure O10B représente le signal sortant du filtre 72 dans les cas correspondant aux courbes 101 et 102. Par la suite les courbes en trait plein se rapporteront à la courbe 101 et les courbes en trait pointillés se rapporteront à la courbe 102. La figure 10C représente la courbe qui FIG. O10B represents the signal leaving the filter 72 in the cases corresponding to curves 101 and 102. Subsequently the curves in solid lines will relate to curve 101 and the curves in dotted lines will relate to curve 102. FIG. 10C represents the curve which
correspond au signal sortant du comparateur 73 lorsqu'il reçoit le signal 101. corresponds to the signal leaving comparator 73 when it receives signal 101.
Le générateur d'impulsions 74 fournit alors des impulsions comme indiqué sur la figure 10D. L'homme du métier notera que la coupure de l'électrode est ici détectée par l'absence d'impulsions. La figure 10E représente d'une part une courbe de comptage 103 qui est remise à zéro lors de chaque impulsion et qui est représentative de la sortie du compteur 75, et d'autre part le seuil de comptage Dmax. La courbe de la figure 10F représente le signal binaire d'erreur qui est actif lorsque le comptage est supérieur à Dmax. Les courbes représentées sur les figures 1OG à 10J correspondent au cas de l'enveloppe 102. Ici, on peut voir que l'erreur est détectée par le déplacement des passages à zéro de l'enveloppe 102. Le The pulse generator 74 then supplies pulses as shown in Figure 10D. A person skilled in the art will note that the cut of the electrode is here detected by the absence of pulses. FIG. 10E represents on the one hand a counting curve 103 which is reset to zero during each pulse and which is representative of the output of the counter 75, and on the other hand the counting threshold Dmax. The curve in FIG. 10F represents the binary error signal which is active when the count is greater than Dmax. The curves shown in FIGS. 1OG to 10J correspond to the case of the envelope 102. Here, it can be seen that the error is detected by the displacement of the zero crossings of the envelope 102. The
signal d'erreur est ici actif deux fois pour une seule électrode coupée. error signal is here active twice for a single cut electrode.
L'homme du métier peut remarquer que si la coupure est très éloignée de l'extrémité d'alimentation, celle-ci est peu détectable avec un tel système car on est obligé de prévoir une marge d'erreur sur le seuil Dmax pour palier à une éventuelle gigue de phase notamment due à l'influence d'une électrode coupée à une certaine distance. Un défaut de la table 30 est de nécessiter une manipulation du panneau à plasma lorsque l'on désire tester les électrodes des deux dalles après assemblage. De plus, il faut avoir recours à des rails mobiles et disposer d'une table carrée dont le côté correspond à la plus grande A person skilled in the art can notice that if the cut is very far from the supply end, it is hardly detectable with such a system because it is necessary to provide a margin of error on the threshold Dmax to compensate for a possible phase jitter in particular due to the influence of an electrode cut off at a certain distance. A defect in the table 30 is that it requires manipulation of the plasma panel when it is desired to test the electrodes of the two slabs after assembly. In addition, it is necessary to use movable rails and have a square table whose side corresponds to the largest
longueur d'un panneau à plasma.length of a plasma panel.
La figure 11 montre une table de mesure 110 disposant de quatre rails d'alimentation 111 à 114 parallèles deux à deux pour pouvoir alimenter les électrodes situées selon deux orientations perpendiculaires. La table comporte également deux rails de guidage 115 et 116 qui servent à guider deux portiques 117 et 118 qui supportent chacun un porte- antenne 119 et 120. Chacun des porte-antenne 119 et 120 est guidé en translation le long du portique 117 et 118 qui le supporte. Chaque porte- antenne 119 et 120 supporte une antenne de taille réduite, chaque antenne ayant son propre circuit de traitement. La figure 12 représente un exemple d'extrémité d'antenne de taille réduite en forme de pointe. L'extrémité de l'antenne est constituée d'une âme 121 métallique entourée d'un isolant 122, le tout entouré d'un blindage métallique 123 relié à la masse. Une telle antenne n'est sensible qu'à ce qui se trouve dans une zone de petite dimension. Une antenne de taille réduite prendra en compte environ dix électrodes. Par ailleurs, les antennes sont déplacées au niveau des extrémités de la dalle qui sont utilisées pour alimenter les électrodes, comme montré sur les figures 13 et 14, de sorte que les coupures apparaissent toujours comme des suppressions de condensateur sur au moins une des antennes quelle FIG. 11 shows a measurement table 110 having four supply rails 111 to 114 parallel two by two in order to be able to supply the electrodes situated in two perpendicular orientations. The table also includes two guide rails 115 and 116 which serve to guide two gantries 117 and 118 which each support an antenna carrier 119 and 120. Each of the antenna carriers 119 and 120 is guided in translation along the gantry 117 and 118 who supports it. Each antenna holder 119 and 120 supports a reduced size antenna, each antenna having its own processing circuit. FIG. 12 represents an example of an antenna end of reduced size in the shape of a point. The end of the antenna consists of a metallic core 121 surrounded by an insulator 122, the whole surrounded by a metallic shield 123 connected to ground. Such an antenna is only sensitive to what is in a small area. A small antenna will take about ten electrodes into account. Furthermore, the antennas are moved at the ends of the slab which are used to feed the electrodes, as shown in Figures 13 and 14, so that the cuts always appear as capacitor suppressions on at least one of the antennas which
que soit la localisation de la coupure. whatever the location of the cut.
Bien évidemment, de nombreuses variantes sont possibles sans pour autant sortir du cadre de l'invention. L'analyse des signaux mesurés peut se faire de manière totalement différente. On peut par exemple numériser le signal et effectuer un traitement numérique qui fasse appel à une modélisation précise du phénomène. L'homme du métier comprendra également qu'il est possible d'utiliser plus de deux antennes dont les formes peuvent varier considérablement. Les moyens d'alimentation ne sont pas nécessairement des rails et peuvent être remplacés par tout autre type de contacts. Les moyens de guidage peuvent être totalement différents de ceux représentés, à partir du moment o ceux-ci permettent un déplacement parallèle de la ou des antennes par rapport aux électrodes à tester. Egalement, l'invention a été décrite pour tester des dalles d'écran plasma, il va de soi que l'invention peut être utilisée pour tester tout type de dalle comportant un réseau d'électrodes, par exemple une dalle d'écran à cristaux liquides. Obviously, many variants are possible without departing from the scope of the invention. The analysis of the measured signals can be done in a completely different way. One can for example digitize the signal and carry out a digital processing which calls for a precise modeling of the phenomenon. Those skilled in the art will also understand that it is possible to use more than two antennas, the shapes of which can vary considerably. The supply means are not necessarily rails and can be replaced by any other type of contact. The guide means can be completely different from those shown, from the moment when these allow a parallel movement of the antenna (s) relative to the electrodes to be tested. Also, the invention has been described for testing plasma screen tiles, it goes without saying that the invention can be used to test any type of screen comprising an array of electrodes, for example a crystal screen screen liquids.
Claims (13)
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9904376A FR2792076B1 (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | DEVICE FOR TESTING AN ELECTRODE NETWORK AND RELATED METHOD |
KR1020000014950A KR20000071474A (en) | 1999-04-06 | 2000-03-24 | Test device for an array of electrodes and associated method |
JP2000092136A JP2000356664A (en) | 1999-04-06 | 2000-03-29 | Apparatus and method for testing array of electrode |
CN 00105509 CN1269511A (en) | 1999-04-06 | 2000-03-29 | Electrod-array test apparatus and relative method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9904376A FR2792076B1 (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | DEVICE FOR TESTING AN ELECTRODE NETWORK AND RELATED METHOD |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2792076A1 true FR2792076A1 (en) | 2000-10-13 |
FR2792076B1 FR2792076B1 (en) | 2001-05-04 |
Family
ID=9544153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR9904376A Expired - Fee Related FR2792076B1 (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | DEVICE FOR TESTING AN ELECTRODE NETWORK AND RELATED METHOD |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000356664A (en) |
KR (1) | KR20000071474A (en) |
CN (1) | CN1269511A (en) |
FR (1) | FR2792076B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2832545A1 (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-23 | Dgtec | Plasma screen electrode test procedure includes injection of signals and detection of resultant signal to sense resistive faults |
WO2008058949A2 (en) * | 2006-11-16 | 2008-05-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Sensor element, device and method for inspecting a printed conductor structure, production method for sensor element |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103513152B (en) * | 2013-09-24 | 2016-04-27 | 浙江诺尔康神经电子科技股份有限公司 | A kind of Multi-electrode test method and device thereof |
KR102387464B1 (en) | 2017-10-12 | 2022-04-15 | 삼성전자주식회사 | Apparatus and method for testing interconnect circuit, and method for manufacturing semiconductor device comprising the method |
CN116511102B (en) * | 2023-07-04 | 2023-09-05 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | Piezoelectric ceramic element withstand voltage detection device |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD243121A1 (en) * | 1985-11-28 | 1987-02-18 | Akad Wissenschaften Ddr | METHOD AND DEVICE FOR TESTING GAS FLUIDS |
JPH022946A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Kyoei Seigyo Kiki Kk | Conduction detecting method for electronic circuit wire |
JPH04315447A (en) * | 1991-04-15 | 1992-11-06 | Sharp Corp | Method and apparatus for testing transistor |
US5175504A (en) * | 1991-06-17 | 1992-12-29 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for automatically inspecting and repairing a simple matrix circuit panel |
US5218294A (en) * | 1991-01-22 | 1993-06-08 | Advanced Test Technologies Inc. | Contactless test method for testing printed circuit boards |
US5256975A (en) * | 1992-06-01 | 1993-10-26 | Digital Equipment Corporation | Manually-operated continuity/shorts test probe for bare interconnection packages |
US5387788A (en) * | 1991-12-04 | 1995-02-07 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for positioning and biasing an electro-optic modulator of an electro-optic imaging system |
-
1999
- 1999-04-06 FR FR9904376A patent/FR2792076B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-03-24 KR KR1020000014950A patent/KR20000071474A/en not_active Application Discontinuation
- 2000-03-29 JP JP2000092136A patent/JP2000356664A/en active Pending
- 2000-03-29 CN CN 00105509 patent/CN1269511A/en active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD243121A1 (en) * | 1985-11-28 | 1987-02-18 | Akad Wissenschaften Ddr | METHOD AND DEVICE FOR TESTING GAS FLUIDS |
JPH022946A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Kyoei Seigyo Kiki Kk | Conduction detecting method for electronic circuit wire |
US5218294A (en) * | 1991-01-22 | 1993-06-08 | Advanced Test Technologies Inc. | Contactless test method for testing printed circuit boards |
JPH04315447A (en) * | 1991-04-15 | 1992-11-06 | Sharp Corp | Method and apparatus for testing transistor |
US5175504A (en) * | 1991-06-17 | 1992-12-29 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for automatically inspecting and repairing a simple matrix circuit panel |
US5387788A (en) * | 1991-12-04 | 1995-02-07 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for positioning and biasing an electro-optic modulator of an electro-optic imaging system |
US5256975A (en) * | 1992-06-01 | 1993-10-26 | Digital Equipment Corporation | Manually-operated continuity/shorts test probe for bare interconnection packages |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 014, no. 136 (P - 1021) 14 March 1990 (1990-03-14) * |
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 017, no. 150 (E - 1339) 25 March 1993 (1993-03-25) * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2832545A1 (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-23 | Dgtec | Plasma screen electrode test procedure includes injection of signals and detection of resultant signal to sense resistive faults |
WO2003044820A1 (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Dgtec | Method and device for detective resistive interruptions in an electrode network of a plasma display panel |
WO2008058949A2 (en) * | 2006-11-16 | 2008-05-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Sensor element, device and method for inspecting a printed conductor structure, production method for sensor element |
WO2008058949A3 (en) * | 2006-11-16 | 2008-08-28 | Siemens Ag | Sensor element, device and method for inspecting a printed conductor structure, production method for sensor element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20000071474A (en) | 2000-11-25 |
JP2000356664A (en) | 2000-12-26 |
FR2792076B1 (en) | 2001-05-04 |
CN1269511A (en) | 2000-10-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0327420B1 (en) | Device and method for measuring a short light pulse or a short electrical pulse | |
EP2156201B1 (en) | System for emitting an electric pulse and device for capacitive decoupling for such a system | |
JPH0627479A (en) | Method and apparatus for automatic inspection and repair of simple matrix circuit panel | |
EP0763751A1 (en) | Method and apparatus for correcting the gamma photon spectroscopic signal | |
EP0909391A1 (en) | Thin-layered magnetic field sensor | |
EP1435006B1 (en) | Sensor structure and magnetic field sensor | |
FR2792076A1 (en) | Testing apparatus for verifying integrity of electrodes in plasma screen comprises supply rails polarising electrodes, and antenna measuring electric field from electrodes | |
JP2889132B2 (en) | Thin film transistor inspection equipment | |
FR2727778A1 (en) | MAGNETIC ENCODER FOR READING MARKS ON AN ASSOCIATED MAGNETIC TRACK | |
EP1671145B1 (en) | Electric circuit analysis device | |
EP0136238A1 (en) | Device for measuring the proximity of a metallic conductive surface | |
EP0306359A2 (en) | Device for testing a circuit | |
US4693599A (en) | Apparatus for measuring light beam characteristics | |
FR2817352A1 (en) | Compliance control for flat screen network of conducting tracks, in which non contact periodic signal is injected onto tracks and detection signal is picked up using capacitive coupling between sensor and track | |
FR2458806A1 (en) | Fault detector for paper or other sheet material - uses measurement of corona discharge current between HT electrodes above and below sheet | |
FR2580403A1 (en) | Automatic crack parameter measurement | |
FR2880691A1 (en) | Reed switch testing method, involves exciting switch by magnetic field, measuring output signal at terminals and increasing and reducing linearly magnetic field level based on variation gradients | |
FR2741147A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AN AXIAL DIFFERENCE IN A TENSILE WIRELESS ALIGNMENT SYSTEM | |
EP2802886B1 (en) | Magnetic field sensor | |
EP0953228B1 (en) | Control device with sensitive keys | |
WO2023104735A1 (en) | Device and method for testing memory | |
WO2021084169A1 (en) | Device for measuring an amount of superparamagnetic material and use of such a device | |
FR2521305A1 (en) | DEVICE FOR MONITORING THE INSULATION OF PRINTED CIRCUITS | |
EP4187265A1 (en) | Device and method for characterising a semiconductor material | |
FR2476845A1 (en) | ANONOMETER IONIC A COUNTING |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
ST | Notification of lapse |
Effective date: 20051230 |