FR2585489A1 - Automatic method of optical analysis and line-by-line electronic checking of the graphics of a two-dimensional scene, by tracking of shapes - Google Patents
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Abstract
Description
PROCEDE AUTOMATIQUE, D'ANALYSE OPTIQUE ET DE
CONTROLE ELECTRONIQUE LIGNE PAR LIGNE DU GRAPHISME
D'UNE SCENE BIDIMENTIONNELLE, PAR SUIVI DE FORMES
La présente invention concerne l'inspection et le contrôle automatique par voie optique et électronique de produits manufacturés ou d'objets plans. Elle concerne plus spécialement un procédé automatique d'analyse et de contrôle, ligne par ligne, d'une scène bidimentionnelle, comportant au moins deux niveaux de modulation pour un faisceau d'ondes électromagnétiques d'analyse.AUTOMATIC PROCESS, OPTICAL ANALYSIS AND
ELECTRONIC CONTROL LINE BY LINE OF GRAPHICS
FROM A BIDIMENTIONAL SCENE, BY FOLLOWING FORMS
The present invention relates to the inspection and automatic control by optical and electronic means of manufactured products or flat objects. More specifically, it relates to an automatic method of analysis and control, line by line, of a two-dimensional scene, comprising at least two modulation levels for an electromagnetic wave beam analysis.
Des procédés de ce type sont utilisés, dans divers domaines de l'industrie, dits de contrôle et d'inspection par traitement d'images. Processes of this type are used in various fields of industry, so-called control and inspection by image processing.
L'accroissement du nombre des produits manufacturés, la diminution de la taille de certains de leurs composants, notamment des éléments électroniques, et le coût de la main-d'oeuvre assurant le contrôle, tendent à imposer des techniques de contrôle par vision artificielle utilisant
- une ou plusieurs caméras, pour capter des images des produits
à contrôler et délivrer un signal électrique représentatif de ces
images,
- et un système électronique intelligent, notamment à
microprocesseur, pour traiter le signal électrique et
reconnaître, selon un algorithme spécifique, tel ou tel défaut.Increasing the number of manufactured products, reducing the size of some of their components, including electronic components, and the cost of controlling labor, tend to impose artificial vision control techniques using
- one or more cameras, to capture images of the products
to control and deliver an electrical signal representative of these
pictures
- and an intelligent electronic system, particularly
microprocessor, to process the electrical signal and
to recognize, according to a specific algorithm, such or such a defect.
On peut classer les procédés d'inspection par analyse d'images principalement en deux catégories
- les techniques par comparaison,
- et les techniques absolues.Image inspection inspection methods can be classified into two main categories
- the techniques by comparison,
- and the absolute techniques.
Les techniques du premier type, fonctionnant par comparaison, sont les plus fréquentes pour le contrôle des produits industriels à haute densité de figures, tels les circuits imprimés ou les circuits intégrés. Techniques of the first type, operated by comparison, are the most frequent for the control of industrial products with high density of figures, such as printed circuits or integrated circuits.
On prendra ce domaine industriel comme référence et exemple dans l'analyse de l'art antérieur et la description de l'invention qui suivent. Mais les problèmes et principes de contrôle de ce domaine sont équivalents à ceux qui peuvent être mis en oeuvre dans de nombreux autres domaines d'activité. This industrial field will be used as reference and example in the analysis of the prior art and the description of the invention which follow. But the problems and control principles in this area are equivalent to those that can be implemented in many other areas of activity.
Le principe général de cette méthode de contrôle optique et électronique, par comparaison, est décrit dans la demande de brevet français n0 2 321 229 CIT ALCATEL, ayant pour titre "Procédé et appareillage pour le contrôle automatique du graphisme". Le procédé décrit dans ce document est relatif au contrôle des circuits imprimés. The general principle of this method of optical and electronic control, by comparison, is described in the French patent application No. 2,321,229 CIT ALCATEL, entitled "Method and apparatus for the automatic control of graphics". The method described in this document relates to the control of printed circuits.
Il consiste en une exploration homologue de deux plaques de circuits imprimés, par deux caméras linéaires. L'une des plaques constitue un circuit de référence jugé sans défaut. L'autre plaque est analysée concomitamment, par comparaison, avec la plaque étalon. Les signaux analogiques primaires correspondants, générés en parallèle par les deux caméras sont chacun binarisés par rapport à. un seuil, en deux signaux logiques secondaires. La comparaison électronique entre les signaux logiques secondaires permet la délivrance d'un signal de défaut en cas de non concordance.It consists of a homologous exploration of two printed circuit boards by two linear cameras. One of the plates constitutes a reference circuit deemed to be flawless. The other plate is analyzed concomitantly, by comparison, with the standard plate. The corresponding primary analog signals generated in parallel by the two cameras are each binarized with respect to. a threshold, in two secondary logical signals. The electronic comparison between the secondary logic signals allows the delivery of a fault signal in case of mismatch.
On peut remarquer que les principes de contrôle optique et électronique de ce type, fonctionnant par comparaison, ne gardent en mémoire aucune histoire des évolutions de formes rencontrées précédemment. Le contrôle s'effectue par comparaison entre une ligne ou une zone d'un circuit de référence et une zone équivalente du circuit à contrôler optiquement. Cette solution permet d'aboutir à une grande simplicité de conception des systèmes, au niveau électronique. It should be noted that the principles of optical and electronic control of this type, operating by comparison, do not keep in memory any history of the evolutions of forms previously encountered. The control is performed by comparison between a line or a zone of a reference circuit and an equivalent zone of the circuit to be optically controlled. This solution makes it possible to achieve a great simplicity of system design, at the electronic level.
C'est la raison pour laquelle, elle a tout d'abord recontré un grand succès.That's why she was very successful at first.
Par contre, les défauts principaux de cette méthode résident dans
- sa très grande sensibilité aux inhomogénéités, aux micro
déformations locales, ou aux déformations globales, sans
conséquence avec le bon fonctionnement des produits
inspectés,
- et dans la difficulté de distinguer, parmi les défauts détectés,
ceux qui sont graves et ceux qui le sont moins.However, the main flaws of this method lie in
- its great sensitivity to inhomogeneities, to micro
local deformations, or global deformations, without
consequence with the smooth operation of the products
inspected
- and in the difficulty of distinguishing, among the detected faults,
those who are serious and those who are less serious.
C'est la raison pour laquelle des améliorations à cette première méthode de contrôle optique par comparaison ont été recherchées et sont décrites dans divers documents plus récents parmi lesquels on peut citer les suivants. This is why improvements to this first method of comparative optical control have been sought and are described in various more recent documents, among which are the following.
Le brevet US 4 056 716, IBM, ayant pour titre "Defect inspection of objects such as electronic circuits" décrit une variante de la méthode par comparaison, consistant, non pas à comparer l'image d'un circuit avec celle d'un autre circuit scanné dans les mêmes conditions de précision, mais au contraire à comparer l'image du circuit à contrôler avec l'image à faible résolution d'un circuit de référence. U.S. Patent 4,056,716, IBM, entitled "Defect inspection of objects such as electronic circuits" describes a variation of the comparison method, consisting of not comparing the image of one circuit with that of another. circuit scanned under the same conditions of precision, but on the contrary to compare the image of the circuit to control with the low resolution image of a reference circuit.
Cette formule permet de réduire le nombre des fausses alarmes. Par contre, elle privilégie la détection de petits défauts et ne permet pas un tri parmi les défauts en fonction de leur environnement.This formula reduces the number of false alarms. On the other hand, it favors the detection of small defects and does not allow a sorting among the defects according to their environment.
Pour tenter de résoudre ce même problème, le brevet
US 4 148 065, HITACHI, ayant pour titre "Method and apparats for automatically inspecting and correcting masks" décrit une autre variante de la méthode par comparaison. Selon cette méthode, la binarisation entre l'image de référence et l'image de contrôle se fait sur un nombre de bits minimum, de telle manière qu'un bit corresponde à la largeur minimum des figures inspectées. L'algorithme concerné consiste à rechercher, sur chacune des deux images, toutes les formes plus petites que la taille minimale d'une figure et de soustraire entre eux les défauts détectés relatifs aux deux images.Le résultat de la soustraction est considéré représenter les défauts Le document décrit également un moyen de limiter les erreurs dues aux effets de bord en appliquant un principe de seuillage par zone.To try to solve this same problem, the patent
U.S. 4,148,065, HITACHI, entitled "Method and apparatus for automatically inspecting and correcting masks" describes another variation of the comparison method. According to this method, the binarization between the reference image and the control image is done on a minimum number of bits, such that a bit corresponds to the minimum width of the inspected figures. The algorithm concerned consists of searching, on each of the two images, all the shapes smaller than the minimum size of a figure and of subtracting between them the detected defects relating to the two images. The result of the subtraction is considered to represent the defects The document also describes a means of limiting errors due to edge effects by applying a thresholding principle by zone.
Le défaut de la méthode consiste d'une part, en ce que l'on ne peut pas détecter des défauts plus grands que la largeur minimale d'une figure, notamment les grandes coupures. D'autre part, on ne peut pas distinguer parmi les défauts détectés ceux qui sont graves de ceux qui le sont moins. The defect of the method consists on the one hand, in that one can not detect defects larger than the minimum width of a figure, including large cuts. On the other hand, one can not distinguish among the defects detected those who are serious and those who are less serious.
Enfin la demande de brevet européen 0 004 505, THOMSON-CSF, ayant pour titre "Système de contrôle d'un dessin inscrit sur un support plan" décrit une amélioration aux procédés de contrôle par comparaison, visant à s'affranchir des effets inévitables de décalage entre l'élément contrôlé et l'élément de référence. Le procédé général décrit, consiste à inspecter, ligne par ligne, chacun des circuits, à mémoriser un certain nombre de lignes et à comparer la configuration de pixels d'une ligne, non seulement avec la configuration homologue de l'autre circuit, mais également avec toutes les configurations pouvant se trouver faiblement décalées dans le pourtour de la zone homologue. Finally, the European patent application 0045050, THOMSON-CSF, entitled "Control system of a drawing inscribed on a flat support" describes an improvement to the control methods by comparison, aiming to overcome the inevitable effects of offset between the controlled element and the reference element. The general method described consists in inspecting, line by line, each of the circuits, storing a certain number of lines and comparing the configuration of pixels of one line, not only with the homologous configuration of the other circuit, but also with all the configurations that can be slightly offset in the perimeter of the homologous zone.
Malgré leur simplicité de conception, les procédés de contrôle optique et électronique par comparaison, notamment du type décrit dans les documents ci-dessus, possèdent tous les mêmes défauts liés à leur conception
- très grande sensibilité au bruit (inhomogénéités de l'éclairage,
irrégularités du matériau, structure du matériau ...)
- incapacité de distinguer la gravité des défauts et de classer
ces défauts par types
- difficulté de mise en oeuvre et d'adaptabilité dans le cas de
produits industriels de types différents, le contrôle nécessitant
toujours le traitement en parallèle d'un circuit de référence
- nécessité de placer les circuits dans des positions très précises
afin qu'ils puissent se correspondre.Despite their simplicity of design, the comparison optical and electronic control methods, in particular of the type described in the documents above, all have the same defects related to their design.
- very high sensitivity to noise (inhomogeneities of lighting,
irregularities of the material, structure of the material ...)
- inability to distinguish the severity of defects and to classify
these defects by types
- difficulty of implementation and adaptability in the case of
industrial products of different types, the control requiring
always the parallel processing of a reference circuit
- need to place the circuits in very precise positions
so that they can match each other.
C'est la raison pour laquelle, un second type de procédé de contrôle consiste en une analyse absolue, sans référence. This is the reason why a second type of control method consists of an absolute analysis, without reference.
Une première variante de cette méthode de contrôle absolue est décrite dans la demande de brevet US 4 305 097, SIEMENS, ayant pour titre "Automated opto electronic test system for quality control of two dimensional elements with high geometric figure density". La méthode consiste en une analyse de formes zone par zone. A first variant of this absolute control method is described in the patent application US 4,305,097, SIEMENS, entitled "Automated opto electronic test system for quality control of two dimensional elements with high geometric figure density". The method consists of a zone-by-zone shape analysis.
C'est-à-dire que l'on réalise une série d'images rectangulaires recouvrant tout le produit à contrôler. On digitalise chaque image, et on lui applique des algorithmes spécifiques de traitement de formes telles que : règles de largeurs minimales de conducteur et d'isolant.That is to say that a series of rectangular images covering all the product to be controlled is produced. Each image is digitized, and specific shape processing algorithms are applied to it, such as: rules of minimum conductor and insulator widths.
La méthode décrite est originale par le fait qu'elle recommande, en fonction des algorithmes appliqués successivement, de travailler à diverses résolutions. En particulier, sur des images à basse résolution réalisées à partir des premières, saisies à plus haute résolution, on applique des algorithmes de recherche de formes, par comparaison avec des formes de référence mémorisées, afin de détecter des configurations particulières de défauts simples. Ce type de méthode absolue fonctionnant par analyse de zones rectangulaires, présente divers défauts. The method described is original in that it recommends, depending on the algorithms applied successively, to work on various resolutions. In particular, on low-resolution images made from the first, seized at higher resolution, shape search algorithms are applied, by comparison with stored reference forms, in order to detect particular configurations of simple defects. This type of absolute method operating by analysis of rectangular zones, has various defects.
- D'une part, il nécessite de travailler sur des images
rectangulaires, en sorte qu'il nécessite l'utilisation d'une taille
mémoire importante si l'on souhaite une bonne résolution,
- D'autre part, il met en oeuvre des algorithmes de recherche de
formes par zone qui, soit sont peu performants, soit
nécessitent des temps de traitement très longs et un matériel
onéreux.- On the one hand, it requires working on images
rectangular, so it requires the use of a size
important memory if you want a good resolution,
- On the other hand, it implements search algorithms of
forms that are either poorly performing or
require very long processing times and hardware
expensive.
- Ses capacités d'investigation sont faibles. - His investigative abilities are weak.
- Enfin, l'appareil doit comprendre un processus par type de
défauts recherchés. - Finally, the apparatus must include a process by type of
defects sought.
De plus les algorithmes de recherche de formes décrits sont difficilement càblables électroniquement car ils ne possèdent aucune structure répétitive commune. Leur étude ainsi que les cartes processeurs s'y rapportant doivent être reprises pour chaque application comprenant une topologie différente de formes. In addition, the search algorithms of the forms described are difficult to connect electronically because they have no common repetitive structure. Their study as well as the associated processor boards must be repeated for each application comprising a different topology of shapes.
Une seconde variante de cette méthode de contrôle absolue est décrite dans un document intitulé "Automatie copper pattern inspection system for printed wiring boards" édité lors de la cession "printed circuit convention III" du 22-25 mai 1984 à Washington. Ce document décrit un système de contrôle pour circuits imprimés présentant les caractéristiques suivantes
- grâce à un principe optique, à large profondeur de champ,
utilisant un faisceau laser rétrodiffusé, on effectue le contrôle
à trois dimensions sur deux niveaux, des pistes de cuivre,
- par ailleurs, le processus de contrôle non comparatif est
assuré par une coordination entre plusieurs capteurs disposés
dans des configurations spécifiques.A second variant of this absolute control method is described in a document entitled "Automated Copper Pattern Inspection System for Printed wiring Boards" published during the "printed circuit convention III" transfer of 22-25 May 1984 in Washington. This document describes a control system for printed circuits having the following characteristics
- thanks to an optical principle, with a large depth of field,
using a backscattered laser beam, the control is carried out
three-dimensional on two levels, copper tracks,
- in addition, the non-comparative control process is
ensured by a coordination between several sensors arranged
in specific configurations.
Le processus de traitement repose sur le fait que si l'on dispose côte à côte, dans une certaine configuration une pluralité de capteurs constituant une grille de géométrie spécialement adaptée, il existe pour chaque type de défauts d'images, une configuration spécifique de l'image située sur la grille constituée par l'ensemble des capteurs. The processing process is based on the fact that if a plurality of sensors constituting a specially adapted geometry grid are arranged side by side, there is a specific configuration for each type of image defects. image located on the grid formed by all the sensors.
Le procédé consiste, grâce à un traitement électronique spécifique, à distinguer les différentes configurations d'images caractéristiques de défauts, sur la grille des capteurs, en déplaçant la scène vis-à-vis de l'ensemble des capteurs.The method consists, thanks to a specific electronic processing, to distinguish the different configurations of defect characteristic images, on the grid of the sensors, by moving the scene vis-à-vis the set of sensors.
Les défauts de cette méthode absolue sont les suivants
- Elle nécessite l'emploi conjoint d'une multitude de capteurs
répartis de surcroît dans des directions différentes. Le coût
d'un tel système est de ce fait très élevé.The defects of this absolute method are as follows
- It requires the joint use of a multitude of sensors
distributed further in different directions. The cost
of such a system is therefore very high.
- Par ailleurs, l'image générée de la portion traitée, doit être de
grande dimension pour recouvrir l'ensemble de la grille. Cette
configuration rend particulièrement difficile l'éclairage du
circuit.- Moreover, the generated image of the treated portion must be
large size to cover the entire grid. This
configuration makes it especially difficult to illuminate the
circuit.
- De plus, si l'on utilise une méthode d'éclairage spéculaire, on
est contraint d'éclairer l'objet à traiter sous incidence normale,
ce qui complique considérablement le système,
- Au surplus, la configuration des capteurs n'est adaptée qu'à
un traitement particulier de formes. Le traitement de tout
nouveau type de formes nécessite une reconstruction complète
de la configuration des capteurs,
- Enfin, le traitement effectué zone par zone est lent et
complexe, en sorte que comme le précise le document, il faut
un temps très long (de 7,5 minutes) pour inspecter un circuit
de (290 mm x 360 mm) avec une résolution de 10 microns.- In addition, if a specular lighting method is used,
is obliged to illuminate the object to be treated at normal incidence,
which greatly complicates the system,
- Moreover, the configuration of the sensors is adapted only to
a particular treatment of forms. The treatment of everything
new type of shapes requires a complete rebuild
the configuration of the sensors,
- Finally, the treatment carried out area by zone is slow and
complex, so that as the document states, it is necessary to
a very long time (7.5 minutes) to inspect a circuit
of (290 mm x 360 mm) with a resolution of 10 microns.
La lenteur de fonctionnement d'un tel processus est incompatible avec les vitesses de contrôle requises dans l'industrie moderne notamment de l'électronique, où des milliers de pièces doivent souvent être contrôlées chaque jour. The slow operation of such a process is incompatible with the control speeds required in modern industry, especially electronics, where thousands of parts often have to be checked every day.
Le but de l'invention telle qu'elle est revendiquée ci-après est de résoudre globalement ces inconvénients. The purpose of the invention as claimed hereinafter is to solve these disadvantages.
Ainsi, un premier but de l'invention est de proposer un procédé très rapide permettant d'analyser et contrôler automatiquement le graphisme d'une scène bidimentionnelle. Thus, a first object of the invention is to provide a very fast method for automatically analyzing and controlling the graphics of a two-dimensional scene.
Un second but de l'invention est de proposer un procédé d'analyse et de contrôle automatique d'une scène bidimentionnelle dont les étapes peuvent être réalisées très facilement et avec un nombre de composants minimal, sur un processeur électronique câblé. A second object of the invention is to provide a method of analysis and automatic control of a two-dimensional scene whose steps can be performed very easily and with a minimum number of components on a wired electronic processor.
Un troisième but de l'invention est de proposer un procédé d'analyse et de contrôle automatique d'une scène bidimentionnelle, sans comparaison et qui puisse effectuer sans interruption le contrôle des pièces de graphismes très différents. A third object of the invention is to provide a method of analysis and automatic control of a two-dimensional scene, without comparison and which can perform without interruption the control of very different graphics pieces.
Un quatrième but de l'invention est de proposer un procédé d'analyse et de contrôle automatique d'une scène bidimentionnelle, fonctionnant avec une mémoire limitée et une architecture électronique très simple, par suivi de formes, et permettant d'éffectuer un classement des types de défauts rencontrés. A fourth object of the invention is to propose a method of analysis and automatic control of a two-dimensional scene, operating with a limited memory and a very simple electronic architecture, by tracking shapes, and making it possible to perform a classification of types of defects encountered.
Un cinquième but de l'invention est de proposer un procédé d'analyse et de contrôle automatique d'une scène bidimentionnelle, pouvant être mis en oeuvre électrouiquement, en temps réel, pour traiter un signal d'images, en sortie d'une caméra linéaire fonctionnant à une très grande vitesse d'acquisition ( > 10 MHz). A fifth object of the invention is to propose a method of analysis and automatic control of a two-dimensional scene, which can be implemented electrouically, in real time, to process an image signal, at the output of a camera linear operating at a very high acquisition speed (> 10 MHz).
Un sixième but de l'invention est de proposer un procédé d'analyse et de contrôle automatique présentant une grande souplesse et adaptabilité d'utilisation ; ce procédé étant conçu de telle manière qu'une fois cablé électroniquement il puisse etre adapté à un grand nombre de graphismes et de règles de contrôle différents par simple téléchargement de tableaux numériques en mémoire du processeur correspondant. A sixth object of the invention is to provide a method of analysis and automatic control with great flexibility and adaptability of use; this method being designed in such a way that once electronically cabled it can be adapted to a large number of different graphics and control rules by simply downloading digital tables in memory of the corresponding processor.
Le procédé automatique d'analyse et de contrôle de l'invention est effectué, ligne par ligne, sur le graphisme d'une scène bidimentionnelle. The automatic method of analysis and control of the invention is carried out, line by line, on the graphics of a two-dimensional scene.
Bien que décrit plus loin sur une application très spécifique liée au contrôle des circuits imprimés ; le procédé de contrôle de l'invention est applicable au contrôle de toute scène présentant un graphisme de surface. La seule condition d'application du procédé de l'invention est que la scène comporte au moins deux niveaux de modulation pour un faisceau d'ondes électromagnétiques d'analyse. Le premier niveau de modulation de la scène est caractéristique d'une série de formes primaires distantes les unes des autres, alors que le second niveau de modulation se rapporte à une série de formes secondaires situées dans l'intervalle entre les différentes formes primaires. Although described later on a very specific application related to the control of printed circuits; the control method of the invention is applicable to the control of any scene having a surface graphic. The only condition for applying the method of the invention is that the scene comprises at least two modulation levels for an electromagnetic wave beam of analysis. The first level of modulation of the scene is characteristic of a series of primary forms distant from each other, while the second level of modulation relates to a series of secondary forms located in the interval between the different primary forms.
Le procédé de l'invention permet, en fonction de règles géométriques spécifiques établies à l'avance, et mémorisées notamment sous forme de tableaux numériques, de contrôler le graphisme à la fois des formes primaire et secondaire, de déterminer automatiquement les endroits de la scène où ces règles sont enfreintes, de générer des alarmes, et de déterminer la nature des défauts. The method of the invention makes it possible, according to specific geometric rules established in advance, and stored in particular in the form of digital tables, to control the graphics of both the primary and secondary forms, to automatically determine the locations of the scene where these rules are broken, to generate alarms, and to determine the nature of the defects.
Le principe général consiste non pas à comparer des formes homologues de deux objets dont l'un constitue une référence, ni de mettre en oeuvre des algorithmes spécifiques complexes et lents, notamment de recherche de formes, sur des images rectangulaires de zones successives des objets, mais à suivre ligne par ligne et automatiquement l'évolution des formes, en gardant sous forme numérique et à l'aide d'un nombre de paramètres limités, une histoire des formes précédentes que l'on remet à jour à chaque ligne. La détection des anomalies d'évolution permet de découvrir les défauts du graphisme. The general principle is not to compare homologous forms of two objects, one of which constitutes a reference, nor to implement complex and slow specific algorithms, notably of shape search, on rectangular images of successive zones of objects, but to follow line by line and automatically the evolution of the forms, keeping in numerical form and with the help of a limited number of parameters, a history of the preceding forms which one updates with each line. The detection of anomalies of evolution makes it possible to discover the defects of the graphic design.
Dans sa forme générale, le procédé d'analyse optique et de contrôle électronique de l'invention est du second type, dît absolu, décrit plus haut. In its general form, the method of optical analysis and electronic control of the invention is of the second type, said absolute, described above.
Il consiste, de manière classique
- à émettre un faisceau d'ondes électromagnétiques en direction
de la scène,
- à saisir une image modulée de la portion de scène éclairée par
le faisceau d'ondes électromagnétiques,
- à extraire de la portion de scène éclairée, une succession
d'images linéaires (I,j) parallèles et adjacentes, dont la réunion
constitue une bande inspectée (B) de la scène (S),
- à délivrer successivement, et pour chaque image linéaire (I,j)
traitée, d'indice (j) un signal analogique primaire (saj), dont
les variations de niveaux sont représentatives séquentiellement,
des zones de formes intercédées par l'image linéaire (I,j),
- à digitaliser, pour chaque image linéaire (I,j) traitée, le signal
analogique primaire (saj) afin de le transformer, par seuillage
en un signal binaire secondaire (sbj) de (n) digits sous forme
séquentielle, à l'intérieur duquel la présence du premier digit
est significatif de l'intersection de la ligne (l-,j), à cet endroit,
avec une forme primaire (Ck), et le second digit est
significatif de l'intersection de la ligne avec une forme
secondaire (El). It consists, in a classic way
- to emit a beam of electromagnetic waves in the direction
from the scene,
to capture a modulated image of the illuminated scene portion
the beam of electromagnetic waves,
- to extract from the illuminated stage portion, a succession
parallel and adjacent linear images (I, j), of which the meeting
constitutes an inspected strip (B) of the scene (S),
to deliver successively, and for each linear image (I, j)
processed, of index (j) a primary analog signal (saj), whose
the level variations are representative sequentially,
zones of forms interceded by the linear image (I, j),
to digitize, for each processed linear image (I, j), the signal
primary analogue (saj) to transform it, by thresholding
in a secondary binary signal (sbj) of (n) digits in form
sequence, within which the presence of the first digit
is significant of the intersection of the line (l-, j), at this point,
with a primary form (Ck), and the second digit is
significant of the intersection of the line with a shape
secondary (El).
En outre les digits côte à côte d'un même type, dît couleur, constituent des segments jointifs représentant l'intersection de l'image linéaire (I,j) traitée avec les formes primaire (Ck) et secondaire (El) de la scène (S). In addition, side by side digits of the same type, called color, constitute contiguous segments representing the intersection of the linear image (I, j) treated with the primary (Ck) and secondary (El) forms of the scene. (S).
Vis-à-vis des procédés usuels d'analyse et de contrôle automatique de graphismes fonctionnant par méthodes optique et électronique du type absolu et opérant ligne par ligne, le procédé de l'invention est remarquable, notamment par le fait que
- L'on établit successivement, avant le traitement d'une nouvelle
ligne d'indice (j), et lton mémorise, un Fichier électronique
évolutif de formes (F,j), comportant un certain nombre de
paramètres numériques, (f,j,i.coul), (f,j,i.compt), (f,j,i.état),
(f,j,i.ref), représentatifs des formes précédemment intercédées
et de leur évolution sur la portion (bj) de la bande (B)
antérieurement traitée ligne par ligne.With respect to the usual methods of analysis and automatic control of graphics operating by optical and electronic methods of the absolute type and operating line by line, the method of the invention is remarkable, in particular by the fact that
- One establishes successively, before the treatment of a new
line of index (j), and lton stores, an electronic file
evolutionary form (F, j), comprising a number of
numeric parameters, (f, j, i.coul), (f, j, i.compt), (f, j, i.state),
(f, j, i.ref), representative of previously interceded forms
and their evolution on the portion (bj) of the band (B)
previously processed line by line.
- Au cours du traitement de ligne (j), l'on traite le signal
binaire secondaire (sbj) relatif à la ligne (j), et on détermine
électroniquement, pour la ligne (j), un tableau numérique
électronique de segments (s, j) relatif aux caractéristiques
géométriques, de position et de couleur des segments de
l'image linéaire (I,j). - During the line processing (j), the signal is processed
secondary binary (sbj) relative to the line (j), and determining
electronically, for line (j), a digital table
segment electronics (s, j) related to characteristics
geometric, position and color
the linear image (I, j).
- Enfin, à partir à la fois du Fichier électronique de formes
(F,j) et du tableau électronique de segments (s,j) de la ligne,
on établit électroniquement, selon des règles fixes numériques,
dîtes de suivi d'évolution de formes, un nouveau Fichier
électronique de formes (F,j+1) qui sera exploité au cours de la
ligne suivante d'indice (j+1).- Finally, from both the Electronic Forms File
(F, j) and the electronic panel of segments (s, j) of the line,
we establish electronically, according to fixed numerical rules,
follow up shape evolution, a new file
electronic form (F, j + 1) that will be exploited during the
next line of index (j + 1).
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortent de la description qui va suivre en regard des dessins annexés, lesquels descriptions et dessins ne sont donnés qu'à titre d'exemples non limitatifs de mise en oeuvre du procédé de l'invention:
Sur ces dessins
- la figure 1 représente, shématiquement, une portion d'une
scène constituée par une zone de circuits imprimés, analysée et
contrôlée, ligne par ligne selon le procédé de l'invention
- la figure 2 représente, le signal analogique primaire délivré
pour une portion de ligne, lors de l'analyse, selon le procédé
de l'invention du circuit imprimé de la figure 1,
- la figure 3 représente, le signal binaire secondaire, délivré
après seuillage du signal analogique primaire de la figure 2
- la figure 4 shématise une variante, selon l'invention, de la
forme du tableau de segments correspondant au signal
analogique de la figure 2
- la figure 5 décrit, sous forme d'organigramme et sur une de
ses variantes, les principes généraux et le séquencement global
du procédé électronique automatique d'analyse et de contrôle
du graphisme, selon l'invention
- la figure 6 décrit, sous forme d'organigramme et en conformité
avec la variante décrite figure 5, le séquencement, pour
chaque ligne, des étapes du traitement électronique de suivi de
formes
- la figure 7 décrit, sous forme d'organigramme et en conformité
avec la variante du procédé de l'invention décrite figure 5,
une solution recommandée de traitement des segments d'une
ligne
- la figure 8 décrit, sous forme d'organigramme et en conformité
avec la variante du procédé de l'invention décrite figure 5,
une solution recommandée de traitement des formes d'une ligne,
aboutissant à la génération des alarmes d'évolution de la
ligne
- la figure 9 décrit, en conformité avec la variante du procédé
de l'invention décrite figure 5, une solution recommandée
d'application des règles de suivi d'évolution des formes
- Enfin, la figure 10 décrit sous forme de tableau à double
entrées, une des règles de suivi d'invention de formes,
appliquées à la mise à jour des paramètres du comptage de
segments (s,i,i.t compt)
On a utilisé dans les organigrammes la notation du langage "C" connue de l'homme de l'art.Other features and advantages of the invention appear from the following description with reference to the accompanying drawings, which descriptions and drawings are given by way of non-limiting examples of implementation of the method of the invention:
On these drawings
FIG. 1 represents, schematically, a portion of a
scene consisting of a printed circuit board, analyzed and
controlled line by line according to the method of the invention
FIG. 2 represents the primary analog signal delivered
for a portion of line, during the analysis, according to the method
of the invention of the printed circuit of FIG.
FIG. 3 represents the secondary binary signal delivered
after thresholding of the primary analog signal of FIG.
FIG. 4 shematizes a variant, according to the invention, of the
shape of the array of segments corresponding to the signal
analogue of Figure 2
- Figure 5 describes, in flowchart form and on one of
its variants, the general principles and the overall sequencing
the automatic electronic process of analysis and control
graphics, according to the invention
- Figure 6 describes, in flowchart form and in accordance
with the variant described in FIG. 5, the sequencing, for
each line, steps of the electronic treatment of follow-up
forms
- Figure 7 describes, in flowchart form and in accordance
with the variant of the process of the invention described in FIG. 5,
a recommended solution for treating segments of a
line
- Figure 8 describes, in flowchart form and in accordance
with the variant of the process of the invention described in FIG. 5,
a recommended solution for treating the shapes of a line,
leading to the generation of alarms of evolution of the
line
- Figure 9 describes, in accordance with the variant of the method
of the invention described in FIG. 5, a recommended solution
of application of the rules of evolution follow-up
- Finally, Figure 10 describes in the form of a double table
entries, one of the rules of invention tracking of shapes,
applied to the updating of the parameters of the count of
segments (s, i, it counts)
The flow charts of the "C" language known to those skilled in the art have been used in flowcharts.
La figure 1 représente un type fréquent de produit industriel plan, produit en grande quantité et généralement en moyenne série. Figure 1 shows a common type of planar industrial product, produced in large quantities and generally average series.
Une des particularités de ce type de produit est de présenter pour chaque série, des formes graphiques très différentes. Ce produit industriel est une plaque (1) de circuit imprimé. Celui-ci est constitué essentiellement d'un support isolant (3) réalisé en verre epoxy sur lequel ont été dégagés par une méthode sérigraphique des conducteurs (5, 6), des pastilles (7) et des zones (9) de plans de masse. One of the peculiarities of this type of product is to present for each series, very different graphic forms. This industrial product is a plate (1) of printed circuit. This consists essentially of an insulating support (3) made of epoxy glass on which have been released by a serigraphic method conductors (5, 6), pellets (7) and zones (9) of ground planes .
Les circuits imprimés (1) sont destinés à être percés au centre de chaque pastille (7) pour maintenir par l'intermédiaire de leurs pattes, soudées, des composants électroniques. La densité de plus en plus importante des, composants, le nombre des pastilles (7) et la diminution de l'isolement minimal (is) entre les conducteurs (5) et (6) nécessitent une qualité de fabrication très rigoureuse, pour assurer le bon fonctionnement ultérieur du circuit. Cet impératif de qualité et de contrôle ne cesse donc de s'accroître. The printed circuits (1) are intended to be pierced in the center of each chip (7) to maintain through their legs, welded, electronic components. The increasing density of the components, the number of pellets (7) and the reduction of the minimum insulation (is) between the conductors (5) and (6) require a very rigorous quality of manufacture, to ensure the subsequent operation of the circuit. This imperative of quality and control continues to grow.
Le type de défauts les plus plus fréquemment rencontrés apparaissent figure 1. Il s'agit notamment : de coupures (11) de conducteurs, d'excroissance erratique (12) de conducteurs ou de pastilles, d'encoches (13), de défauts d'isolement (14), de court-circuits (15) ou de rétrécissements (16) de conducteurs. The type of defects most frequently encountered appear in Figure 1. These include: cuts (11) of conductors, erratic protuberance (12) of conductors or pellets, notches (13), defects in insulation (14), short circuits (15) or constrictions (16) of conductors.
La principale méthode de contrôle actuellement mise en oeuvre pour détecter ces défauts des circuits imprimés est le contrôle visuel. The main control method currently used to detect these PCB faults is the visual control.
Mais cette technique est d'une part très onéreuse en frais de personnel et peu fiable. But this technique is on the one hand very expensive in personnel costs and unreliable.
Le test électrique permet de détecter certains défauts mais lorsque le circuit est entièrement terminé, c'est-à-dire que la perte de valeur ajoutée est la plus importante. En outre, cette méthode électrique ne peut déterminer les excroissances (12), les rétrécissements d'isolement (14) ou les rétrécissement (16) de conducteurs ; défauts qui ont une importance capitale pour la durée de vie et la fiabilité du circuit. Plus la densité des circuits (1) et leur complexité sont grandes, plus ce problème de contrôle deviens vital. The electrical test makes it possible to detect certain defects but when the circuit is completely finished, that is to say that the loss of added value is the most important. In addition, this electrical method can not determine the protrusions (12), insulation shrinkage (14) or shrinkage (16) of conductors; defects that are of utmost importance for the life and reliability of the circuit. The higher the density of the circuits (1) and their complexity, the more this control problem becomes vital.
Pour résoudre ces problèmes . de contrôle en cours de fabrication, de détection de tous les types de défauts graphiques, d'accroissement de rapidité et de fiabilité, diverses techniques optiques, et l'élez tronique décrites dans les préambules ont été mises en place mais elles ne donnent pas véritablement satisfaction Le problème de contrôle automatique évoqué sur cet exemple, relatif à la fabrication des circuits imprimés, se retrouve dans tous les domaines de l'industrie. To solve these problems. in-process control, detection of all types of graphical defects, increased speed and reliability, various optical techniques, and e tronic described in the preambles have been put in place but they do not really give Satisfaction The problem of automatic control mentioned in this example, relating to the manufacture of printed circuits, is found in all areas of the industry.
La variante du procédé de l'invention décrite ci-après, en regard des figures, est appliquée à l'analyse automatique à l'aide d'un dispositif de contrôle optique et électronique (21) du type de celui décrit figure 10 , de plaques de circuits imprimés (1) pour découvrir automatiquement les défauts (11 à 16) de ces circuits (1), distinguer ces défauts et présenter les avantages de fiabilité, rapidité, simplicité et adaptabilité évoqués plus haut. The variant of the method of the invention described below, with reference to the figures, is applied to the automatic analysis by means of an optical and electronic control device (21) of the type of that described in FIG. printed circuit boards (1) to automatically discover the defects (11 to 16) of these circuits (1), distinguish these defects and present the advantages of reliability, speed, simplicity and adaptability mentioned above.
Le dispositif de contrôle (21) représenté figure 10, comporte essentiellement une partie mécanique (23) et un ensemble électronique (25). La partie mécanique (23) assure le déplacement, selon une direction (x x') d'une platine (27) face à une enceinte technique transversale (29) à l'intérieur de laquelle est déplacé selon (x x') un système optique (non représenté) d'éclairage et de saisie d'images. The control device (21) shown in FIG. 10 essentially comprises a mechanical part (23) and an electronic assembly (25). The mechanical part (23) ensures the displacement, in a direction (x x ') of a plate (27) facing a transverse technical enclosure (29) inside which is moved according to (x x') a system optical (not shown) illumination and image capture.
Préférentiellement, la partie mécanique (23) est conforme à celle décrite dans la demande de brevet français n0 85 08190, au nom des demandeurs, intitulée "Dispositif , de guidage et d'entraînement monodirectionnel d'une platine vis-à-vis d'un banc de machine, selon un axe de mouvement parallèle". Preferably, the mechanical part (23) is in accordance with that described in the French patent application No. 85 08190, on behalf of the applicants, entitled "Device for guiding and unidirectional drive of a plate vis-à-vis a machine bench, along a parallel axis of movement ".
De même, il est recommandé, pour mettre en oeuvre le procédé de l'invention, d'utiliser un système optique du type de celui décrit dans la demande de brevet français n0 85 09959, au nom des demandeurs, intitulée "Procédé et dispositif d'élairage intense homogène et directionnel d'une zone longiligne d'une scène". Ce dispositif optique est constitué par la combinaison entre
- une caméra, d'axe optique incliné par rapport à la verticale,
comportant un capteur linéaire, de type CCD, à axe parallèle à
la direction (x x'), ladite caméra étant mise au point sur la
platine (27),
- et un système d'éclairage linéaire spéculaire du champ vu par
caméra, ce système d'éclairage étant notamment réalisé à l'aide
de fibres optiques. Le système optique est déplacé selon (x x')
à l'intérieur de l'enceinte (29).En sorte que le système
optique peut inspecter toute la scène (S) d'un objet plan placé
sur la platine (27).Similarly, it is recommended, in order to implement the method of the invention, to use an optical system of the type described in French Patent Application No. 85 09959, in the name of the applicants, entitled "Method and apparatus for intense homogeneous and directional lighting of an elongated zone of a scene ". This optical device is constituted by the combination of
a camera, of optical axis inclined with respect to the vertical,
comprising a linear sensor, of CCD type, with axis parallel to
direction (x x '), said camera being focused on the
platinum (27),
- and a specular linear lighting system of the field seen by
camera, this lighting system being notably made using
of optical fibers. The optical system is moved according to (x x ')
inside the enclosure (29).
optical can inspect the entire scene (S) of a placed plane object
on the plate (27).
L'ensemble électronique (25) assure
- l'acquisition et la digitalisation des signaux électriques d'images
de la scène (S),
- la commande et la coordination des mouvements de la partie
mécanique (23),
- le traitement du signal électrique d'images selon le procédé
électronique de l'invention décrit ci-après,
- la détermination des alarmes de défauts.The electronic assembly (25) ensures
- acquisition and digitization of electrical image signals
of the scene (S),
- control and coordination of the movements of the party
mechanical (23),
the processing of the electrical image signal according to the method
electronic circuit of the invention described below,
- the determination of fault alarms.
Un écran alphanumérique (31) et un clavier (32) permettent à l'opérateur de rentrer à l'intérieur du système, les paramètres numériques caractéristiques des règles de contrôle propres à la série de circuits (1) à contrôler. Les défauts détectés sont visualisés sur un écran de contrôle (33). An alphanumeric screen (31) and a keyboard (32) allow the operator to enter inside the system, the numerical parameters characteristic of the control rules specific to the series of circuits (1) to be controlled. The detected faults are displayed on a control screen (33).
Le circuit (1) à contrôler est placé sur la platine (27) du dispositif du contrôle (21) et maintenu à l'aide d'un système d'aspiration (non représenté). La platine (27) est déplacée sous le contrôle de l'ensemble électronique selon des bandes (B), de direction (y y'), face au dispositif optique. La caméra linéaire du dispositif optique saisit ainsi une série de lignes parallèles (lj) côte à côte orientées selon (x x'). Le système d'éclairage émet un faisceau en direction du circuit, éclairant la zone inspectée, et inclinée sous une incidence spéculaire par rapport à l'axe de la caméra. The circuit (1) to be controlled is placed on the plate (27) of the control device (21) and maintained by means of a suction system (not shown). The plate (27) is moved under the control of the electronic assembly in bands (B), direction (y y '), facing the optical device. The linear camera of the optical device thus captures a series of parallel lines (lj) side by side oriented along (x x '). The lighting system emits a beam towards the circuit, illuminating the inspected area, and tilting under a specular angle with respect to the axis of the camera.
Le circuit (1) comporte deux zones
- une première zone constituée des formes primaires (Ck)
distantes les unes des autres et formées par les parties en
cuivre du circuit imprimé c'est-à-dire : les conducteurs (5,
6), les pastilles (7) et plans de masse (9),
- une seconde zone constituée des formes secondaires (El),
formées par les portions d'isolant entre les formes primaires
(Ck) . The circuit (1) has two zones
a first zone consisting of the primary forms (Ck)
distant from each other and formed by the parties in
copper of the printed circuit, that is to say: the conductors (5,
6), the pellets (7) and ground planes (9),
a second zone consisting of secondary forms (E1),
formed by the portions of insulation between the primary forms
(Ck).
Les caractéristiques de réflexion et de rétrodiffusion, du cuivre et de l'isolant, sont très différentes. En sorte que sous incidence spéculaire, le faisceau d'éclairage subit deux niveaux de modulation de la part du circuit (1), l'un haut dû aux propriétés de réflexions du cuivre des formes primaires (Ck) et l'autre bas dû aux propriétés de diffusion de l'epoxy des formes secondaires (El). Reflection and backscattering characteristics, copper and insulation, are very different. As a result of specular incidence, the illumination beam undergoes two modulation levels on the part of the circuit (1), one high due to the reflective properties of the copper of the primary forms (Ck) and the other one due to the Epoxy diffusion properties of secondary forms (El).
Au cours du déplacement de la platine (27) selon l'axe (y y'), la caméra reçoit à chaque ligne (Ij) d'indice (j) une image modulée (I,j) de la portion de circuit (1) éclairée. La caméra délivre à partir de l'image (I,j), un signal électrique analogique primaire (saj) dont la courbe en fonction du temps (t), pour la ligne (lj), apparaît figure 2. During the displacement of the plate (27) along the axis (y y '), the camera receives at each line (Ij) of index (j) a modulated image (I, j) of the circuit portion (1 ) lit. The camera delivers from the image (I, j), a primary analog electrical signal (saj) whose curve as a function of time (t), for the line (lj), appears in FIG.
Les images successives (I,j) saisies par la caméra sont parallèles et adjacentes et constituent la bande' (B) inspectée. Bien entendu, le contrôle de l'intégralité d'un circuit nécessite l'analyse d'une succession de bandes (B) côte à côte, obtenues par déplacement du sytème optique selon l'axe (x x'). The successive images (I, j) captured by the camera are parallel and adjacent and constitute the strip '(B) inspected. Of course, the control of the completeness of a circuit requires the analysis of a succession of strips (B) side by side, obtained by displacement of the optical system along the axis (x x ').
A chaque ligne (lj) d'indice (j), le signal analogique primaire (saj) est délivré à un sous ensemble électronique de digitalisation, situé à l'intérieur de l'ensemble électronique (25). Celui-ci digitalise le signal analogique primaire (saj) de la ligne, en un signal binaire secondaire (sbj). At each line (lj) of index (j), the primary analog signal (saj) is delivered to an electronic digitizing subassembly, located inside the electronic assembly (25). This digitizes the primary analog signal (saj) of the line into a secondary binary signal (sbj).
Le signal binaire est constitué de (n) digits, sous forme séquentielle, correspondant au nombre de pixels (généralement 1024 ou 2048) du capteur linéaire. The binary signal consists of (n) digits, in sequential form, corresponding to the number of pixels (usually 1024 or 2048) of the linear sensor.
Pour les raisons décrites plus haut, on s'aperçoit, en référence à la figure 2, que les portions (el) du signal (saj) correpondant à des formes secondaires (El) du circuit (1) présentent un niveau bas. For the reasons described above, it can be seen with reference to FIG. 2 that the portions (el) of the signal (saj) corresponding to secondary shapes (El) of the circuit (1) have a low level.
Au contraire, le portions (ck) correspondant à des formes primaires (Ck) présentent un niveau haut. Par contre ces variations de niveau sont partiellement masquées par un bruit de signal important, provenant à la fois d'imperfections du flux lumineux, d'inhomogénéité du cuivre ou de l'isolant ou de bruit électronique. On the contrary, the portions (ck) corresponding to primary forms (Ck) have a high level. On the other hand these variations of level are partially masked by a signal noise important, coming at the same time from imperfections of the luminous flux, inhomogeneity of the copper or the insulator or of the electronic noise.
Pour effectuer la digitalisation du signal (saj), il est recommandé d'utiliser un principe de seuillage adaptif, tenant compte du bruit. Un procédé de seuillage de ce type est décrit dans la demande de brevet français n0 2 223 701, THOMSON-CSF, ayant pour titre "Dispositif de traitement de signaux, plus particulièrement appliqué à la détection des variations de pente de formes d'ondes". On aboutit, en appliquant une méthode de ce type, sur le signal analogique (saj) à un signal binaire (sbj) dont la courbe en fonction du temps (t) est décrite figure 3. To digitize the signal (saj), it is recommended to use an adaptive thresholding principle, taking noise into account. A thresholding method of this type is described in the French patent application No. 2,223,701, Thomson-CSF, entitled "Signal processing device, more particularly applied to the detection of waveform slope variations". . By applying a method of this type, the analog signal (saj) is obtained with a binary signal (sbj) whose curve as a function of time (t) is described in FIG.
La figure 4 décrit sous forme de tableau de segments (s,j) la configuration (s,j,i) du signal (sbj). La présence du premier digit (1) est significatif de l'intersection de la ligne (lj) avec une forme primaire (Ck) et la présence du second digit (0) est significatif de l'intersection de la ligne (lj) avec une forme secondaire (El). FIG. 4 depicts in the form of an array of segments (s, j) the configuration (s, j, i) of the signal (sbj). The presence of the first digit (1) is significant of the intersection of the line (lj) with a primary form (Ck) and the presence of the second digit (0) is significant of the intersection of the line (lj) with a secondary form (El).
En outre, les digits côte à côte d'un même type dit couleur, constituent des segments (35, 36) dont la largeur et la position dans le tableau représentent l'intersection de l'image linéaire (I,j) avec les formes primaire (Ck) et secondaire (El). In addition, side by side digits of the same type, called color, constitute segments (35, 36) whose width and position in the table represent the intersection of the linear image (I, j) with the shapes primary (Ck) and secondary (El).
Les étapes essentielles du procédé électronique de contrôle de l'invention sont décrites figure 5 sous forme d'organigramme. Le principe consiste à faire une analyse par lignes successives (lj) et à mémoriser un Fichier de formes (F,j) représentatif de l'évolution des formes (Ck) et (El) intercédées préalablement à la ligne (j) et à modifier, à chaque ligne, ce Fichier de formes (F,j) en fonction des évolutions rencontrées sur la ligne (lj) pour les positions des segments du tableau (sj). The essential steps of the electronic control method of the invention are described in FIG. 5 in the form of a flowchart. The principle consists in doing an analysis by successive lines (lj) and in memorizing a file of forms (F, j) representative of the evolution of the forms (Ck) and (El) interceded before the line (j) and to modify , at each line, this shapefile (F, j) as a function of the evolutions encountered on the line (lj) for the positions of the segments of the array (sj).
Dans la variante recommandée par l'invention, le Fichier de formes comprend plusieurs tableaux
- un tableau de formes : (f,j) = (f,j,i.coul) constitué de (n)
digits représentant l'état du tableau de segments (s,j-1,i) à la
ligne précédente, (c'est-à-dire la "couleur" de chacun des
pixels de la ligne) en sorte que le tableau a une configuration
du même type que celle de la figure 4,
- un tableau de compteurs de formes : (f,j,i.compt) significatif
de "l'âge" de chacune des formes (C1, C2, C3, C4, C5, C6),
(E1, E2,...E7) en cours, c'est-à-dire se poursuivant ju
la ligne précédente (lj-1 ),
- un tableau d'états de formes : (f,j,i.état) significatif du type
d'évolution des formes (Ck) et (El) en cours avant la ligne
(j),
- et enfin, un tableau de références de formes : (f,j,i.ref)
significatif sensiblement de la largeur antérieure des formes
(Ck) et (El) en cours.In the variant recommended by the invention, the shapefile comprises several tables
an array of forms: (f, j) = (f, j, i.coul) consisting of (n)
digits representing the state of the array of segments (s, j-1, i) at the
previous line, (that is, the "color" of each of the
pixels of the line) so that the array has a configuration
of the same type as in Figure 4,
- a table of counters of forms: (f, j, i.compt) significant
the "age" of each of the forms (C1, C2, C3, C4, C5, C6),
(E1, E2, ... E7) in progress, that is to say, continuing ju
the previous line (lj-1),
an array of states of forms: (f, j, i.state) significant of the type
evolution of the forms (Ck) and (El) in progress before the line
(J)
- and finally, an array of form references: (f, j, i.ref)
significantly from the anterior width of the forms
(Ck) and (El) in progress.
Selon la variante décrite, chacun des quatres tableaux de paramètres de formes est constitué de (n) variables. Chaque variable d'indice (i) correspondant au (ième) pixel du capteur. Cette configuration est destinée à homogénéiser la forme des tableaux électroniques afin de faciliter la mise en oeuvre du procédé de l'invention sous forme de processeurs câblés. According to the variant described, each of the four tables of shape parameters consists of (n) variables. Each index variable (i) corresponding to the (th) pixel of the sensor. This configuration is intended to homogenize the shape of the electronic boards to facilitate the implementation of the method of the invention in the form of cabled processors.
Le procédé de l'invention, tel qu'il est décrit figure 5, consiste (étape 101) : à initialiser les indices de ligne de la bande (j = 0) et à mettre à O les divers éléments du Fichier de formes (F,j = 0). The method of the invention, as described in FIG. 5, consists (step 101): to initialize the line indices of the band (j = 0) and to set the various elements of the shapefile (F , j = 0).
Les étapes (102, 103, 104) suivantes ont été décrites plus haut en référence aux figures (2 à 4). Elles sont usuelles et consistent à saisir une image linéaire (I,j) de la ligne spi), à générer le signal analogique primaire (saj) correspondant, à effectuer une digitalisation du signal analogique primaire (saj) et à générer le signal binaire (sbj) correspondant, afin de constituer un tableau de segments de la ligne (s,j) = (s,j,i) = (s,j,i.coul). The following steps (102, 103, 104) have been described above with reference to Figures (2-4). They are usual and consist in capturing a linear image (I, j) of the spi line), generating the corresponding primary analog signal (saj), digitizing the primary analog signal (saj) and generating the binary signal ( sbj) corresponding, in order to constitute an array of segments of the line (s, j) = (s, j, i) = (s, j, i.coul).
Une des particularités du procédé de l'invention réside dans les phases du traitement électronique de suivi de formes. Ces phases se classent en deux catégories. One of the peculiarities of the process of the invention resides in the phases of the electronic form-tracking processing. These phases fall into two categories.
Les étapes de traitement des segments (étape 105) consistant
- à partir du tableau électronique de segments (s,j,i) de la ligne
(Ij) définissant les caractéristiques géométriques, de largeur,
de position et de couleur des segments de l'image linéaire
(I,j), et du tableau électronique de formes (F,j) de la ligne
précédente,
- et en appliquant des règles fixes numériques qui seront
détaillées en référence à la figure 7,
- à générer un fichier électronique de segments (S , j)
(étape 106) permettant ultérieurement de mettre à jour un
nouveau Fichier électronique de formes (F,j+1) (étape 107)
tenant compte des évolutions de formes (Ck) et (El) au cours
de la ligne (I,j),
- et à mémoriser le nouveau Fichier de formes (F,j+1)
(étape 108).The steps of processing the segments (step 105) consisting of
- from the electronic board of segments (s, j, i) of the line
(Ij) defining the geometric characteristics, of width,
of position and color of segments of the linear image
(I, j), and the electronic form table (F, j) of the line
former,
- and by applying fixed digital rules that will be
detailed with reference to FIG.
to generate an electronic file of segments (S, j)
(step 106) subsequently making it possible to update a
new Electronic Form File (F, j + 1) (step 107)
taking into account the evolution of forms (Ck) and (El) during
of the line (I, j),
- and to memorize the new shapefile (F, j + 1)
(step 108).
Le Fichier de formes (F,j+1) nouvellement consitué sera utilisé au cours de l'application du procédé, à la ligne suivante d'indice (j+1). The newly-formed shapefile (F, j + 1) will be used during the application of the method, on the next index line (j + 1).
En sorte, qu'on effectue un suivi ligne à ligne des formes (Ck) et (El) intercédées.In this way, we perform a line-by-line follow-up of the forms (Ck) and (El) interceded.
Parallèlement au traitement segments, on effectue des étapes de traitement des formes (étape 109) détaillées plus loin, aboutissant à la génération des Alarmes (Alarmes, j,i) des défauts d'évolution de formes de la ligne, en application de règles numériques de contrôle d'évolution de formes. In parallel with the segment processing, stage processing steps (step 109) are carried out detailed below, resulting in the generation of the alarms (Alarmes, j, i) of the shape evolution defects of the line, in application of numerical rules. shape evolution control.
Le séquencement entre les opérations de traitement de segments et de traitement de formes est décrit figure 6. Il consiste à établir, à partir des informations contenues dans le tableau électronique de formes (f,j) de la ligne (lj), (f,j) = (f,j,i.coul) et dans le tableau électronique de segments (s,j) = (s,j,i):
- la liste des formes (f,j,i) prolongées sur la ligne (lj) par un
segment (s,j,i) la recouvrant, c'est-à-dire la liste des formes
(f,j,i) se continuant sur la ligne d'indices (j),
- et la liste des formes (f,j,i) interrompues au niveau de la ligne
(l,j) . The sequencing between the segment processing and shape processing operations is described in FIG. 6. It consists in establishing, from the information contained in the electronic table of shapes (f, j) of the line (lj), (f, j) = (f, j, i.coul) and in the electronic table of segments (s, j) = (s, j, i):
- the list of the forms (f, j, i) extended on the line (lj) by a
segment (s, j, i) covering it, that is to say the list of forms
(f, j, i) continuing on the index line (j),
- and the list of the forms (f, j, i) interrupted at the line
(l, j).
On associe à la validation de ce critère de continuité des formes (f,j,i), un paramètre numérique (flef, j,i), dît de confirmation de forme. We associate with the validation of this criterion of continuity of the forms (f, j, i), a numerical parameter (flef, j, i), called form confirmation.
L'état du paramètre numérique de confirmation de formes (flef, i,j) est utilisé, ainsi que cela apparaît figure 8, dans l'application des règles numériques de contrôle d'évolution de formes aboutissant à la génération des alarmes de la ligne (lj). The state of the numeric form confirmation parameter (flef, i, j) is used, as shown in FIG. 8, in the application of the digital pattern change control rules resulting in the generation of the line alarms. (lj).
De même, on établit, à partir des informations numériques contenues dans le tableau électronique de formes (f,j,i) et celle du tableau électronique de segments (s,j,i)
- la liste des segments (s,j,i) prolongeant, sur la ligne d'indice
(j), une forme (f,j,i) du Fichier de formes (F,j), c'est-à-dire
la liste des segments (s,j,i) recouvrant au moins partiellement
une des formes (f,j,i) en cours,
- et la liste des segments (s,j,i) ne recouvrant aucune forme
(f,j,i), c'est-à-dire correspondant à des formes débutantes.Similarly, it is established from the digital information contained in the electronic table of shapes (f, j, i) and that of the electronic board of segments (s, j, i).
- the list of segments (s, j, i) extending on the index line
(j), a form (f, j, i) of the shapefile (F, j), that is to say
the list of segments (s, j, i) covering at least partially
one of the forms (f, j, i) in progress,
- and the list of segments (s, j, i) not covering any shape
(f, j, i), that is to say corresponding to beginner forms.
On associe à la validation de ce critère de recouvrement d'une forme (f,j,i) par un segment (s,j,i) un paramètre numérique (fles, j,i), dit de confirmation de segments, que l'on mémorise. The validation of this criterion of recovery of a form (f, j, i) by a segment (s, j, i) is associated with a numerical parameter (fles, j, i), called segment confirmation, that the 'we memorize.
L'état du paramètre numérique de confirmation de segments (fles, j,i) est utilisé, ainsi qua cela apparaît figure 7, dans l'application électronique des règles de suivi d'évolution aboutissant à la génération à chaque ligne (lj) du nouveau Fichier de formes (F,j+1) . The state of the segment confirmation parameter (fles, j, i) is used, as it appears in FIG. 7, in the electronic application of the evolution tracking rules resulting in the generation at each line (lj) of the new shapefile (F, j + 1).
On calcule également, pour chaque segment, un paramètre (lseg, j,i) égal au nombre de pixels consécutifs du segment, ctest-à-dire à sa largeur. For each segment, a parameter (lseg, j, i) equal to the number of consecutive pixels of the segment, that is to say, its width, is also calculated.
Le traitement électronique de suivi de formes, décrit figure 6, commence par une étape (111) d'initialisation consistant à annuler les valeurs des paramètres (i) = indice de pixels), des paramètres de confirmation de formes (fief) et de segments (fies) et (Iseg). Puis on fait une analyse par pixels croissants de la validation des règles de continuité et de recouvrement décrites ci-dessus. The electronic shape-tracking processing, described in FIG. 6, begins with an initialization step (111) of canceling the values of the parameters (i) = pixel index), shape confirmation parameters (fief) and segments. (fies) and (Iseg). Then we make an analysis by increasing pixels of the validation of the rules of continuity and recovery described above.
L'étape (112) consite à vérifier si la couleur du pixel d'indice (i) du segment (s,j,i) est identique à celle de la couleur du pixel correspondant du tableau de formes (f,j,i)et donc de vérifier le recouvrement et la continuité des formes et des segments. Step (112) consits to check if the color of the index pixel (i) of the segment (s, j, i) is identical to that of the color of the corresponding pixel of the array of shapes (f, j, i) and therefore to check the recovery and continuity of shapes and segments.
L'étape (113) détermine la fin d'un segment (s,j,i) en comparant la couleur d'un pixel d'indice (i) à celle du suivant. On met alors en oeuvre le traitement du segment selon le processus décrit figure 7. Step (113) determines the end of a segment (s, j, i) by comparing the color of a pixel of index (i) with that of the next. The processing of the segment is then implemented according to the process described in FIG. 7.
L'étape (114) détermine la fin d'une forme (f,j,i) en comparant la couleur d'un pixel (f,j,i) du tableau de formes (f,j) au suivant. On exécute alors le traitement de formes selon le processus décrit figure 8. Step (114) determines the end of one form (f, j, i) by comparing the color of a pixel (f, j, i) of the array of shapes (f, j) with the following. The form processing is then performed according to the process described in FIG. 8.
Dans la variante recommandée par l'invention et décrite par les dessins, les Fichiers segments (S,j) et formes (F,j) ont la même structure et se correspondent. C'est-à-dire qu'au tableau des paramètres de formes du Fichier de formes mémorisé et mis à jour à chque ligne (li ), (F,j) =
- (f,j ,i coul) = (f,j ,i)
- (f,j,i.compt),
- (f,j,i.état),
- et (f,j,i.ref)
correspond une série correspondante de tableaux de paramètres de Segments d'un Fichier de segments de la ligne (lj), (F,j) =
- (s,j,i.coul) = (s,j,i),
- (s,j,i.compt),
- (s, j ,i .état),
- et (s,j,i.ref).In the variant recommended by the invention and described by the drawings, the segment files (S, j) and forms (F, j) have the same structure and correspond. That is, at the shape parameter table of the Shapefile stored and updated on each line (li), (F, j) =
- (f, j, i coul) = (f, j, i)
- (f, j, i.compt),
- (f, j, i.state),
- and (f, j, i.ref)
corresponds to a corresponding series of Segment parameter tables of a Segment file of the line (lj), (F, j) =
- (s, j, i.coul) = (s, j, i),
- (s, j, i.compt),
- (s, j, i .state),
and (s, j, i.ref).
La mise à jour du Fichier des paramètres dynamiques du Fichier de segments (S,j) de la ligne (l,j) s'effectue à partir
- d'une part du tableau de segments (s,j,i) déterminé
directement à partir du signal binaire (s,b,j),
- et d'autre part, des paramètres du Fichier de formes (F,j).The update of the dynamic parameters file of the segment file (S, j) of the line (l, j) is made from
on the one hand, the segment array (s, j, i) determined
directly from the binary signal (s, b, j),
and on the other hand, parameters of the shapefile (F, j).
Une variante de mise en oeuvre des règles de suivi de formes permettant de calculer électroniquement le Fichier de segments est décrite figure 7. An alternative embodiment of the shape tracking rules for electronically calculating the segment file is described in FIG.
Selon cette variante appliquée spécifiquement au contrôle de circuits imprimés, l'état de formes est un paramètre correspondant au type et à 1V évolution de la forme, qui peut prendre plusieurs valeurs significatives contenues dans le tableau ci-après, adapté au contrôle des circuits imprimés. Ces valeurs dépendent de paramètres numériques de référence rentrés au clavier par l'opérateur. According to this variant applied specifically to the control of printed circuits, the form state is a parameter corresponding to the type and the evolution of the shape, which can take several significant values contained in the table below, adapted to the control of printed circuits. . These values depend on numerical reference parameters entered by the operator into the keyboard.
TABLEAU D'ETATS DE FORMES
TABLE OF STATES OF FORMS
<tb> : <SEP> ETAT <SEP> : <SEP> SIGNIFICATIONS <SEP> : <SEP>
<tb> <SEP> : <SEP> : <SEP> :
<tb> : <SEP> <SEP> 0 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'initialisation <SEP> :
<tb> 1 <SEP> <SEP> 1 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> large
<tb> 2 <SEP> <SEP> 2 <SEP> : <SEP> Conducteur <SEP> venant <SEP> d'une <SEP> forme <SEP> primaire <SEP> large
<tb> 3 <SEP> <SEP> 3 <SEP> : <SEP> Conducteur <SEP> d'origine <SEP> inconnue
<tb> 4 <SEP> <SEP> 4 <SEP> Conducteur <SEP> confirmé
<tb> 5 <SEP> <SEP> 5 <SEP> : <SEP> Conducteur <SEP> rétrécissant
<tb> 6 <SEP> <SEP> 6 <SEP> :<SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> trop <SEP> petite
<tb> 7 <SEP> <SEP> 7 <SEP> : <SEP> Conducteur <SEP> grossissant
<tb> 8 <SEP> <SEP> 8 <SEP> : <SEP> Isolant <SEP> état <SEP> normal
<tb> 9 <SEP> <SEP> 9 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> secondaire <SEP> trop <SEP> petite
<tb> 10 <SEP> <SEP> 10 <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> état <SEP> 5
<tb> <SEP> : <SEP> 11 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> état <SEP> 6 <SEP> :
<tb> : <SEP> 12 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> état <SEP> 7 <SEP> :
<tb> : <SEP> <SEP> 13 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> "disparition" <SEP> de <SEP> conducteur <SEP> :
<tb> : <SEP> 14 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> de <SEP> l'état <SEP> 3 <SEP> :
<tb> <SEP> : <SEP> 15 <SEP> : <SEP> Etat <SEP> d'alarme <SEP> de <SEP> l'état <SEP> 7 <SEP> :
<tb>
On constate sur cet exemple, que les 16 valeurs numériques possibles du paramètre (f,j,i.état) permettent de définir à la fois la topologie, l'origine et l'évolution des formes en cours. <tb>: <SEP> STATE <SEP>: <SEP> MEANS <SEP>: <SEP>
<tb><SEP>:<SEP>:<SEP>:
<tb>: <SEP><SEP> 0 <SEP>: <SEP><SEP> Initialization <SEP> state:
<tb> 1 <SEP><SEP> 1 <SEP>: <SEP> Form <SEP> primary <SEP> wide
<tb> 2 <SEP><SEP> 2 <SEP>: <SEP> Driver <SEP> coming <SEP> from <SEP> form <SEP> primary <SEP> wide
<tb> 3 <SEP><SEP> 3 <SEP>: <SEP> Original <SEP> Driver <SEP> Unknown
<tb> 4 <SEP><SEP> 4 <SEP> Confirmed <SEP> Driver
<tb> 5 <SEP><SEP> 5 <SEP>: <SEP> Shrinking <SEP> Driver
<tb> 6 <SEP><SEP> 6 <SEP>: <SEP> Form <SEP> primary <SEP> too <SEP> small
<tb> 7 <SEP><SEP> 7 <SEP>: <SEP> Magnifying <SEP> Driver
<tb> 8 <SEP><SEP> 8 <SEP>: <SEP> Isolation <SEP> state <SEP> normal
<tb> 9 <SEP><SEP> 9 <SEP>: <SEP> Form <SEP> secondary <SEP> too <SEP> small
<tb> 10 <SEP><SEP> 10 <SEP> Status <SEP> Alarm <SEP> Status <SEP> 5
<tb><SEP>:<SEP> 11 <SEP>: <SEP> Status <SEP> Alarm <SEP> Status <SEP> 6 <SEP>:
<tb>: <SEP> 12 <SEP>: <SEP> Status <SEP> Alarm <SEP> Status <SEP> 7 <SEP>:
<tb>: <SEP><SEP> 13 <SEP>: <SEP> Status <SEP> alarm <SEP>"disappearance"<SEP> of <SEP> driver <SEP>:
<tb>: <SEP> 14 <SEP>: <SEP><SEP><SEP> alarm <SEP> state <SEP> 3 <SEP> state:
<tb><SEP>:<SEP> 15 <SEP>: <SEP><SEP><SEP><SEP> state <SEP> state <SEP> 7 <SEP> state:
<Tb>
It can be seen from this example that the 16 possible numerical values of the parameter (f, j, i.state) make it possible to define at the same time the topology, the origin and the evolution of the current forms.
Selon l'invention, le procédé de contrôle est destiné à être câblé. According to the invention, the control method is intended to be wired.
Un paramètre d'état de forme (f,j,i.état) est mémorisé sur un octet d'une mémoire.A state of form parameter (f, j, i.state) is stored in one byte of a memory.
Pour limiter la taille mémoire, on utilise l'octet mémorisé pour deux significations
- les quatres premiers bits sont utilisés pour définir l'état des
conducteurs ci-dessus, ce demi octet est appelé (temps)
- les quatres seconds bits sont utilisés pour valider le comptage.To limit the memory size, the stored byte is used for two meanings
the four first bits are used to define the state of the
drivers above, this half byte is called (time)
the four second bits are used to validate the count.
Les règles de suivi de formes consistent à déterminer successivement à partir du tableau de segments (s,j,i) = (s,j,i.coul) et du Fichier de forme (F,j) les paramètres dynamiques de segments suivants
- (s,j,i.et seg)
- (s,j,i.compt)
- (s,j,i.t conf)
- (s,j,i.état). The shape tracking rules consist in determining successively from the array of segments (s, j, i) = (s, j, i.coul) and from the shapefile (F, j) the dynamic parameters of following segments
- (s, j, i and seg)
- (s, j, i.compt)
- (s, j, it conf)
- (s, j, i.state).
Le calcul de chaque paramètre est effectué à l'aide d'un tableau numérique à plusieurs entrées dont la structure est mémorisée au sein de la carte processeur. Les valeurs et la forme de chaque tableau, dépendent de l'application de contrôle en cours et du type de règles de suivi d'évolution que l'on se fixe. Néanmoins, elles peuvent être modifiées très facilement et très rapidement sans changer la structure du processeur notamment par téléchargement sur une mémoire (RANI). The calculation of each parameter is performed using a multi-input digital table whose structure is stored in the processor card. The values and form of each array depend on the control application in progress and the type of evolution tracking rules that are fixed. Nevertheless, they can be modified very easily and very quickly without changing the structure of the processor including downloading on a memory (RANI).
A titre d'exemple, de ces tableaux numériques à plusieurs entrées définissant les règles de suivi d'évolution, le paramètre dynamique de comptage de segments (s,j,i.compt) peut être, dans l'exemple présent relatif aux circuits imprimés, donné par un tableau à triple entrées dépendant des paramètres suivants : (s,j,i.flcs), (temps, j,i), (f,j,i.compt). For example, of these multi-input digital tables defining the evolution tracking rules, the dynamic segment count parameter (s, j, i.compt) may be, in the present example relating to printed circuit boards , given by a triple entry array depending on the following parameters: (s, j, i.flcs), (time, j, i), (f, j, i.compt).
Une variante recommandée par l'invention pour le contrôle des circuits imprimés est donnée ci-après. A variant recommended by the invention for the control of printed circuits is given below.
TABLEAU DE DETERMINATION DU PARAMETRE : (s,j,i.compt)
TABLE OF DETERMINATION OF THE PARAMETER: (s, j, i.compt)
<tb> f,j,i.compt <SEP> 0 <SEP> - <SEP> <SEP> 29
<tb> <SEP> flcs <SEP> = <SEP> 0 <SEP> : <SEP> 0 <SEP> 0: <SEP>
<tb> <SEP> val <SEP> : <SEP> 0
<tb> <SEP> flcs <SEP> = <SEP> 1 <SEP> : <SEP> 0 <SEP> - <SEP> <SEP> 0:
<tb> <SEP> fies <SEP> = <SEP> 0 <SEP> : <SEP> 0 <SEP> - <SEP> <SEP> 0:
<tb> <SEP> val <SEP> : <SEP> 1
<tb> <SEP> flcs <SEP> = <SEP> 1 <SEP> :<SEP> 1 <SEP> - <SEP> <SEP> 30
<tb>
La détermination automatique des autres paramètres de segments proposés figure 7 peut être faite à partir d'une succession de tableaux numériques du type ci-dessus, dont le nombre d'entrées dépend du nombre de variables dépendantes retenues à l'intérieur du tableau de formes (F,j), du fichier segments (sj) ou de paramètres intermédiaires préalablement calculés.<tb> f, i, i.compt <SEP> 0 <SEP> - <SEP><SEP> 29
<tb><SEP> flcs <SEP> = <SEP> 0 <SEP>: <SEP> 0 <SEP> 0: <SEP>
<tb><SEP> val <SEP>: <SEP> 0
<tb><SEP> flcs <SEP> = <SEP> 1 <SEP>: <SEP> 0 <SEP> - <SEP><SEP> 0:
<tb><SEP> fies <SEP> = <SEP> 0 <SEP>: <SEP> 0 <SEP> - <SEP><SEP> 0:
<tb><SEP> val <SEP>: <SEP> 1
<tb><SEP> flcs <SEP> = <SEP> 1 <SEP>: <SEP> 1 <SEP> - <SEP><SEP> 30
<Tb>
The automatic determination of the other segment parameters proposed in FIG. 7 can be made from a succession of numerical tables of the above type, whose number of entries depends on the number of dependent variables retained within the array of shapes. (F, j), of the segment file (sj) or previously calculated intermediate parameters.
En particulier la détermination automatique du paramètre (s,j,i.t coul) peut être faite à partir d'un tableau du type de celui décrit figure 11. Celui-ci est à double entrées, correspondant aux deux variables choisies (trcompt) et (ref). Il associe aux valeurs prises par ses variables l'état de confirmation (0 ou 1). In particular, the automatic determination of the parameter (s, j, it coul) can be made from a table of the type of that described in FIG. 11. This one has two entries, corresponding to the two chosen variables (trcompt) and ( ref). It associates with the values taken by its variables the confirmation status (0 or 1).
Il convient donc pour chaque application du procédé de l'invention au contrôle automatique et pour chaque type de produit possédant un graphisme particulier de se fixer
- une série de tableaux du type ci-dessus,
- et une série de constantes situées à l'intérieur des tableaux
définissant les règles de suivi d'évolution de formes.It is therefore appropriate for each application of the method of the invention to automatic control and for each type of product having a particular graphic to set
- a series of tables of the type above,
- and a series of constants inside the tables
defining the shape evolution tracking rules.
Ces tableaux, dont la taille est imposée par le nombre des variables retenues, sont remplis de valeurs numériques déterminées à partir d'une analyse topologique et d'expériences. These tables, whose size is imposed by the number of variables retained, are filled with numerical values determined from topological analysis and experiments.
A l'issue de l'application électronique de ces règles de suivi d'évolution de formes à la ligne (lj), conformément à la variante décrite figure 7, on aboutit au Fichier de segments (S,j) rassemblant des informations concernant les évolutions sur la ligne (j) des divers paramètres de formes. At the end of the electronic application of these shape evolution tracking rules in line (lj), in accordance with the variant described in FIG. 7, the result is the Segment File (S, j) gathering information concerning the changes in the line (j) of the various shape parameters.
L'application du processus décrit figure 9, c'est-à-dire l'écrasement électronique de l'ancien Fichier de formes (F,j) et son remplacement par le Fichier segments (S,j) = (F,j+1) permet de poursuivre le procédé de suivi de formes en tenant compte de ses évolutions au cours de la ligne (Ij). The application of the process described in FIG. 9, that is to say the electronic overwriting of the old shapefile (F, j) and its replacement by the segment file (S, j) = (F, j + 1) makes it possible to continue the pattern tracking process taking into account its changes during the line (Ij).
Selon cette variante, on construit au cours du traitement électronique de chaque ligne (Ij) le fichier segments (S,j) qui va constituer le fichier formes (F,j+l)- de la ligne (lu+1) suivante. According to this variant, during the electronic processing of each line (Ij), the segment file (S, j) is constructed which will constitute the file forms (F, j + 1) of the following line (lu + 1).
Il est recommandé d'inclure, indépendamment ou de préférence en combinaison, à l'intérieur du Fichier de formes (F,j) les quatre tableaux d'évolution suivants
- tableau électronique de formes (f,j,i) = (f,j,i.coul >
représentatif sous forme numérique des conditions
d'intersection des formes (Ck) et (El) avec les images
linéaires ; ce tableau de formes peut être constitué par le
simple signal binaire (s,b,j) classé sous forme séquentielle,
tableau électroniquue d'états de formes (f,j,i.état forme)
représentatif sous forme numérique de la topologie de chaque
forme (f,j,i), son origine et son évolution jusqu'à la ligne
(j) ; les paramètres du tableau de formes prennent
préférentiellement les valeurs décrites dans le tableau
ci-dessus,
- tableau électronique de référence de formes (f,j,i.ref)
représentatif sous forme numérique de la largeur des formes
précédemment à leur intersection avec la ligne (l,j),
- tableau électronique de compteur de formes (f,j,i.compt)
représentatif du nombre de lignes au cours desquelles les
formes (f,j,i) ont été intercédées par les lignes précédant la
ligne (l, j ) . It is recommended to include, independently or preferably in combination, within the shapefile (F, j) the following four evolution tables
- electronic board of forms (f, j, i) = (f, j, i.coul>
representative in numerical form of the conditions
intersection of shapes (Ck) and (El) with images
linear; this array of forms can be constituted by the
simple binary signal (s, b, j) classified in sequential form,
electronic table of states of forms (f, j, i.form state)
representative in numerical form of the topology of each
form (f, j, i), its origin and evolution to the line
(j); the shape array settings take
preferentially the values described in the table
above,
- electronic reference table of forms (f, j, i.ref)
representative in digital form of the width of the forms
previously at their intersection with the line (l, j),
- form counter electronic board (f, j, i.compt)
representative of the number of lines in which the
forms (f, j, i) were interceded by the lines preceding the
line (l, j).
Dans la variante recommandée figure 7, le paramètre de référence de formes (f,j+1 ,i.ref) est calculé à partir du paramètre de référence de segments (s,j,i.ref) de la ligne précédente. La valeur est choisie, en fonction de paramètres dynamiques d'états de segments (s,j,i.etseg). In the recommended variant 7, the shape reference parameter (f, j + 1, i.ref) is calculated from the segment reference parameter (s, j, i.ref) of the preceding line. The value is chosen, according to dynamic parameters of segment states (s, j, i.etseg).
(etseg) est un paramètre dynamique de segments, intermédiaires, donnant en fonction de la référence des formes en cours et des paramètres fixes de référence de largeur rentrés par l'opérateur, l'état intrinsèque du segment en fonction de règles de largeur minimale ou largeur maximale. (etseg) is a dynamic parameter of segments, intermediate, giving as a function of the reference of the current shapes and fixed parameters of width reference entered by the operator, the intrinsic state of the segment according to rules of minimum width or maximum width.
Dans le cas d'un circuit imprimé, il est recommandé de donner à (etseg) les valeurs de sortie suivantes
TABLEAU DES VALEURS DU PARAMETRE (etseg)
In the case of a printed circuit, it is recommended to give (etseg) the following output values
TABLE OF PARAMETER VALUES (etseg)
<tb> ETAT <SEP> <SEP> SIGNIFICATIONS
<tb> 1 <SEP> <SEP> 1 <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> trop <SEP> petite
<tb> 2 <SEP> <SEP> 2 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> rétrécissante
<tb> 3 <SEP> <SEP> 3 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> continue
<tb> 4 <SEP> <SEP> 4 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> trop <SEP> large
<tb> 5 <SEP> <SEP> 5 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> primaire <SEP> grossissante
<tb> 6 <SEP> <SEP> 6 <SEP> : <SEP> Forme <SEP> secondaire <SEP> trop <SEP> petite
<tb> 7 <SEP> <SEP> 7 <SEP> :<SEP> Forme <SEP> secondaire <SEP> normale
<tb>
Lorsque le paramètre (etseg) prend la valeur état = 3, c'est-à-dire que la forme est sensiblement constante en largeur, on donne à (s,j,i.ref) la valeur de (f,j,i.ref). En sorte que, la référence de forme reste constante. Au contraire, lorsque le paramètre (etseg) prend une valeur différente de 3, on donne à la référence, la valeur de la largeur locale du segment (lseg). <tb> STATE <SEP><SEP> MEANINGS
<tb> 1 <SEP><SEP> 1 <SEP> Form <SEP> primary <SEP> too <SEP> small
<tb> 2 <SEP><SEP> 2 <SEP>: <SEP> Shape <SEP> primary <SEP> shrinking
<tb> 3 <SEP><SEP> 3 <SEP>: <SEP> Continuous <SEP> Form <SEP>
<tb> 4 <SEP><SEP> 4 <SEP>: <SEP> Form <SEP> primary <SEP> too <SEP> wide
<tb> 5 <SEP><SEP> 5 <SEP>: <SEP> Form <SEP> primary <SEP> magnifying
<tb> 6 <SEP><SEP> 6 <SEP>: <SEP> Form <SEP> secondary <SEP> too <SEP> small
<tb> 7 <SEP><SEP> 7 <SEP>: <SEP> Form <SEP> secondary <SEP> normal
<Tb>
When the parameter (etseg) takes the value state = 3, that is to say that the shape is substantially constant in width, we give (s, j, i.ref) the value of (f, j, i .ref). So that, the shape reference remains constant. On the contrary, when the parameter (etseg) takes a value other than 3, the reference is given the value of the local width of the segment (lseg).
Ainsi qu'on peut le constater en référence à la figure 7, chacun des paramètres de formes du Fichier de formes (F,j+i > est égal aux paramètres du Fichier segments (S,j), lesquels sont calculés pour chaque ligne à partir du Fichier de formes (F,j) et du tableau de segments < s,j,i) = (s,j,i.coul). As can be seen with reference to FIG. 7, each of the shape parameters of the shapefile (F, j + i> is equal to the parameters of the segment file (S, j), which are calculated for each line to from the Shapefile (F, j) and the segment array <s, j, i) = (s, j, i.coul).
Le suivi d'évolution des paramètres du Fichier de formes (F,j) et notamment la définition ligne à ligne des paramètres d'états de formes permettent selon des règles numériques de contrôle d'évolution de formes, de générer des alarmes d'évolution anormales de formes. Ces règles géométriques de contrôle d'évolution des formes primaire (Ck) et secondaire (El) sont modélisées par des critères numériques appliqués pour chaque ligne (lj) au Fichier de formes (F,j) et au tableau des segments (s,j)
En particulier, les règles d'évolution de formes décrites à la figure 7, permettent de faire évoluer l'état des formes, d'un état normal notamment (1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9), vers un état alarmant (10, 11, 12, 13, 14, 15). The follow-up of the parameters of the shapefile (F, j) and in particular the line-to-line definition of the shape state parameters allow according to digital rules of shape evolution control, to generate evolution alarms. abnormal forms. These geometric rules of evolution control of the primary (Ck) and secondary (El) shapes are modeled by numerical criteria applied for each line (lj) to the shapefile (F, j) and to the segment array (s, j )
In particular, the shape evolution rules described in FIG. 7 make it possible to change the state of the forms, of a normal state in particular (1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 ), to an alarming state (10, 11, 12, 13, 14, 15).
La fonction électronique (Tabal) permet d'associer à un état de forme alarmant une génération d'alarme en fonction également de l'état de confirmation ou non des formes. Cette fonction numérique (Tabal) peut donc être exercée à l'aide d'un tableau à double entrées associé aux valeurs du paramètre de confirmation de formes (flcf) = (O) ou (1) et à la valeur de temps = (f,j,i.état oxf). Dans ce cas, ce tableau comporte 36 variables. The electronic function (Tabal) makes it possible to associate with an alarming state of state an alarm generation also according to the state of confirmation or not of the forms. This numerical function (Tabal) can therefore be exerted using a double-entry array associated with the values of the shape confirmation parameter (flcf) = (O) or (1) and the time value = (f , i, state oxf). In this case, this table contains 36 variables.
Lorsqu'une alarme est détectée, il est possible, selon le procédé de l'invention de préciser
- sa position définie par la ligne (lj) et le pixel (i),
- et le type de défauts défini par l'état de forme (f,j ,i.état)
correspondant.When an alarm is detected, it is possible, according to the method of the invention to specify
its position defined by the line (lj) and the pixel (i),
- and the type of defects defined by the state of form (f, j, i.state)
corresponding.
On remarque que la structure répétitive, ligne par ligne du processus de suivi de formes de l'invention permet un cabrage simple et efficace. It is noted that the repetitive, line by line structure of the shape tracking process of the invention allows simple and effective pitching.
Les règles de suivi de formes et de contrôle de formes peuvent être téléchargées en mémoire sous forme de tableaux et rapidement modifiées. Enfin, la mise en oeuvre sous forme câblée de ce procédé par les demandeurs a montré qu'il permettait avec une structure électronique simple, d'atteindre une vitesse de traitement globale d'analyse et de contrôle d'évolution de formes très rapide, correspondant à l'acquisition d'une caméra linéaire fonctionnant à 10 MHz. The rules for shape tracking and shape control can be downloaded into memory as tables and quickly modified. Finally, the wired implementation of this method by the applicants has shown that it allows with a simple electronic structure, to achieve an overall processing speed of analysis and control of evolution of forms very fast, corresponding to the acquisition of a linear camera operating at 10 MHz.
L'invention ayant maintenant été décrite et son intérêt justifié sur un exemple détaillé, les demandeurs s'en réservent ltexclusivité9 pendant toute la durée du brevet, sans lirnitation autre que celles des termes des revendications ci-après. The invention having now been described and its interest justified on a detailed example, the applicants reserve the exclusivity9 throughout the duration of the patent, without lirnitation other than those terms of the claims below.
Claims (14)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8511535A FR2585489A1 (en) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | Automatic method of optical analysis and line-by-line electronic checking of the graphics of a two-dimensional scene, by tracking of shapes |
US07/296,869 US4881269A (en) | 1985-07-29 | 1989-01-13 | Automatic method of optically scanning a two-dimensional scene line-by-line and of electronically inspecting patterns therein by "shape-tracking" |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8511535A FR2585489A1 (en) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | Automatic method of optical analysis and line-by-line electronic checking of the graphics of a two-dimensional scene, by tracking of shapes |
EP87400137A EP0275721A1 (en) | 1987-01-20 | 1987-01-20 | Automatic method for the linewise optical analysis and electronic inspection of the pattern of a two-dimensional scene by shape tracing |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2585489A1 true FR2585489A1 (en) | 1987-01-30 |
Family
ID=26111448
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR8511535A Pending FR2585489A1 (en) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | Automatic method of optical analysis and line-by-line electronic checking of the graphics of a two-dimensional scene, by tracking of shapes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
FR (1) | FR2585489A1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2179421A5 (en) * | 1972-04-01 | 1973-11-16 | Leitz Ernst Gmbh | |
US4183013A (en) * | 1976-11-29 | 1980-01-08 | Coulter Electronics, Inc. | System for extracting shape features from an image |
US4442542A (en) * | 1982-01-29 | 1984-04-10 | Sperry Corporation | Preprocessing circuitry apparatus for digital data |
EP0107789A2 (en) * | 1982-09-30 | 1984-05-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Method of coding printed forms as arc structures with magnitude and orientation independence for the purpose of document analysis, especially character recognition |
-
1985
- 1985-07-29 FR FR8511535A patent/FR2585489A1/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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FR2179421A5 (en) * | 1972-04-01 | 1973-11-16 | Leitz Ernst Gmbh | |
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Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
2éme CONGRES AFCET-IRIA, Reconnaissance des Formes et Intelligence artificielle, 12-14 septembre 1979, tome III, pages 249-256, Toulouse, FR; J.BAJON et al.: "Extracteur rapide de caracteristiques d'image video destine a la robotique" * |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AM | Act modifying the rights related to an application or a patent | ||
AP | Petition for property claim |