FR2471578A1 - Systeme pour mesurer des profils de surfaces - Google Patents
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- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
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Abstract
SUIVANT L'INVENTION, UN BILAME EN MATIERE CERAMIQUE 1 SERT D'ELEMENT DE FLEXION ET EST POURVU DE MOYENS SERVANT A PRODUIRE UNE TENSION PROPORTIONNELLE A LA FLEXION, CETTE TENSION ETANT COMPAREE A UNE TENSION DE REFERENCE U. LA TENSION DE DIFFERENCE EST, APRES AMPLIFICATION, AMENEE A L'ELEMENT DE FLEXION 1 AVEC POUR RESULTAT QUE LA FORCE D'APPUI RESTE CONSTANTE INDEPENDAMMENT DE LA FLEXION. APPLICATION: MESURE DE PROFILS DE SURFACES.
Description
"Système pour mesurer des profils de surfaces" La présente invention
concerne un système pour mesurer des profils de surfaces, dans lequel les tensions électriques proportionnelles aux flexions d'un élément en céramique déplacé sur la surface à contrôler
sont amenées, après amplification, à un appareil indi-
cateur. De tels systèmes sont bien connus, et sont décrits, par exemple, dans le brevet allemand numéro
929.877, ainsi que dans l'article "Stand der Oberflâ-
chenprtifung" paru dans la revue " Fachberichte fur Oberflâchentechnik", 1973, no 1, pages 20 à 23. Dans ces cas, on utilise souvent, en tant qu'éléments de flexion, des éléments piézo-électriques qui rendent
possible une structure relativement simple du système.
Pour de nombreuses applications, un inconvénient est cependant constitué par le fait que la force d'appui
n'est pas constante, mais dépend de la flexion. Les pos-
sibilités d'application sont de ce fait restreintes,
en particulier en ce qui concerne des surfaces relati-
vement tendres.
L'invention a par conséquent pour but de procurer un système de type mentionné plus haut dans lequel la force d'appui est constante, c'est-àdire
indépendante de la flexion. Il est alors particulière-
ment avantageux que la force d'appui soit elle-même réglable. Suivant l'invention, ce résultat est atteint par le fait que l'élément de flexion est un bilame en matière céramique qui est pourvu de moyens servant à produire une tension proportionnelle à la flexion,
cette tension étant comparée à une tension de référen-
ce et la tension de différence étant amenée, après amplification, à l'élément de flexion. Ces moyens sont
avantageusement des jauges de contrainte.
La déviation ainsi produite provoque une
flexion de l'élément de flexion dans le sens de la dé-
viation, avec pour résultat que l'action envisagée est
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réalisée, à savoir maintenir la force d'appui indépen-
dante de la déviation.
Pour pouvoir faire varier le degré de la compensation, il est avantageux de rendre réglable
l'amplitude de la tension amenée à l'élément de fle-
xion, par exemple par modification du facteur d'ampli-
fication. Il est aussi avantageux de rendre la tension de référence variable pour pouvoir modifier le point
d'intervention de la compensation.
Une forme d'exécution de l'invention sera
décrite plus en détail avec référence aux dessins anne-
xés, dans lesquels: la Fig. 1 illustre le schéma lde principe d'un système conforme à l'invention;
la Fig. 2a illustre la force uniforme obte-
nue au moyen du système conforme à l'invention en fonc-
tion de la déviation
la Fig. 2b illustre le cas d'une surcompen-
sation, et
la Fig. 3 illustre la relation entre la dé-
viation et la tension produite par les jauges de con-
trainte. Un bilame de flexion 1 fixé d'un c8té, par exemple un élément piézo-électrique ou un élément en
une matière céramique électrostrictive, subit une dé-
viation Z lors de l'exploration d'un profil P. Des
deux cités de l'élément de flexion et près de son en-
droit de fixation, sont prévues des jauges de contrain-
te 4, 5 qui font partie d'un circuit en pont 6. Une dé-
viation de l'élément de flexion déforme simultanément
les jauges de contrainte 4 et 5 en des directions op-
posées. La tension de sortie du circuit en pont 6 est comparée, dans un amplificateur de différence 8, à une tension de référence Us réglable par un diviseur de
tension 7 et peut simultanément être lue sur un ins-
trument de mesure 10.
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La tension de sortie V de l'amplificateur de différence 8 est amenée, par l'intermédiaire d'un amplificateur 9, à l'élément de flexion 1 en tant que tension directionneLeV'. La tension directionnelle est autant plus élevée-que la déviation est plus grande, de sorte que, comme le montre la Fig. 2a, la force d'appui
reste constante sur un large domaine de la déviation.
Les courbes a, b et c se rapportent à des réglages dif-
férents du diviseur de tension 7. Si l'on augmente le facteur d'amplification de l'amplificateur 8 ou 9, la
force de compensation est aussi accrue et on peut m9-
me atteindre une surcompensation, comme l'indique la courbe de la Fig. 2bqui décro t en son milieu. Cela signifie qu'une déviation accrue entratne une force d'appui diminuée. Ceci peut 9tre souhaitable pour des
opérations de mesure spéciales.
La Fig. 3 montre finalement la relation
entre la déviation et la tension produite par les -
jauges de contrainte. Celle-ci est linéaire, de sorte
que la tension UDMS produite par les jauges de contrain-
te convient pour enregistrer le profil analysé.
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Claims (5)
1. Système pour mesurer des profils de sur-
faces, dans lequel les tensions électriques propor-
tionnelles aux flexions d'un élément en céramique dé-
placé sur la surface à contrôler sont amenées, après amplification, à un appareil indicateur, caractérisé en ce que l'élément de flexion (1) est un bilame en matière céramique qui est pourvu de moyens servant-à produire une tension proportionnelle à la flexion,
cette tension étant comparée à une tension de référen-
ce (7) et la tension de différence (V) étant amenée,
après amplification, à l'élément de flexion (1).
2. Système suivant -la revendication 1, carac-
térisé en ce que: les dits moyens sont formés de jauges de contrainte (4, 5) qui sont montées près de l'endroit
de fixation et.leur variation de résistance proportion-
nelle à la flexion est convertie en une variation de
tension dans un circuit en pont (6).
3. Système suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que: l'élément de flexion (1) est fait d'une
matière céramique électrostrictive.
4. Système suivant l'une quelconque des reven-
dications 1 à 3, caractérisé en ce que:
l'élément-de flexion est fait d'une ma-
tière céramique piézo-électrique polarisée.
5. Système suivant l'une quelconque des reven-
dications 1 à 4, caractérisé en ce que: la force de compensation et/ou le facteur
d'amplification sont réglables.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792950627 DE2950627A1 (de) | 1979-12-15 | 1979-12-15 | Anordnung zur messung von oberflaechenprofilen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2471578A1 true FR2471578A1 (fr) | 1981-06-19 |
Family
ID=6088645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR8026196A Withdrawn FR2471578A1 (fr) | 1979-12-15 | 1980-12-10 | Systeme pour mesurer des profils de surfaces |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4359892A (fr) |
JP (1) | JPS5694205A (fr) |
DE (1) | DE2950627A1 (fr) |
FR (1) | FR2471578A1 (fr) |
GB (1) | GB2065892B (fr) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3241601A1 (de) * | 1982-08-19 | 1984-02-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektrisch zu betaetigendes stellglied |
EP0186741B1 (fr) * | 1984-12-10 | 1988-09-21 | Maschinenfabrik Rieter Ag | Dispositif pour le nettoyage des cylindres palpeurs |
JPS6267205U (fr) * | 1985-10-17 | 1987-04-27 | ||
US4776212A (en) * | 1987-06-19 | 1988-10-11 | Federal Products Corporation | Pocket surface roughness gage |
US5211051A (en) * | 1987-11-09 | 1993-05-18 | California Institute Of Technology | Methods and apparatus for improving sensor performance |
US5034645A (en) * | 1989-01-13 | 1991-07-23 | Digital Equipment Corporation | Micro-beam tactile sensor for the measurement of vertical position displacement |
JPH02240977A (ja) * | 1989-03-14 | 1990-09-25 | Toshiba Corp | 変位発生装置 |
US5266801A (en) * | 1989-06-05 | 1993-11-30 | Digital Instruments, Inc. | Jumping probe microscope |
US5085070A (en) * | 1990-02-07 | 1992-02-04 | At&T Bell Laboratories | Capacitive force-balance system for measuring small forces and pressures |
DE4013742C2 (de) * | 1990-04-28 | 1994-06-30 | Focus Mestechnik Gmbh & Co Kg | Abtastkopf für eine Maschine zum Ausmessen der Mikrooberflächenkontur von Werkstücken |
US5253516A (en) * | 1990-05-23 | 1993-10-19 | Digital Instruments, Inc. | Atomic force microscope for small samples having dual-mode operating capability |
US5092163A (en) * | 1990-06-27 | 1992-03-03 | Young Russell D | Precision small scale force sensor |
JPH05196458A (ja) * | 1991-01-04 | 1993-08-06 | Univ Leland Stanford Jr | 原子力顕微鏡用ピエゾ抵抗性片持ばり構造体 |
US5150392A (en) * | 1991-09-09 | 1992-09-22 | International Business Machines Corporation | X-ray mask containing a cantilevered tip for gap control and alignment |
USRE36488E (en) * | 1992-08-07 | 2000-01-11 | Veeco Instruments Inc. | Tapping atomic force microscope with phase or frequency detection |
US5412980A (en) * | 1992-08-07 | 1995-05-09 | Digital Instruments, Inc. | Tapping atomic force microscope |
EP0599582B1 (fr) * | 1992-11-20 | 1998-04-08 | Topometrix | Systéme linéaire et calibrage d'appareil de balayage |
US5563458A (en) * | 1995-03-08 | 1996-10-08 | Ericson; Paul L. | Apparatus and method for sensing surface flexure |
JP3273026B2 (ja) * | 1998-09-02 | 2002-04-08 | 株式会社ミツトヨ | 表面追従型測定機 |
JP3510150B2 (ja) * | 1999-05-12 | 2004-03-22 | ユニ・チャーム株式会社 | 使い捨ての体液処理物品 |
DE102006002616A1 (de) * | 2006-01-18 | 2007-07-26 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von dentalen Oberflächenstrukturen |
WO2019054419A1 (fr) * | 2017-09-12 | 2019-03-21 | 日本電気株式会社 | Dispositif de détermination d'état, procédé de détermination d'état, et support d'enregistrement lisible par ordinateur |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB763226A (en) * | 1954-05-27 | 1956-12-12 | Short Brothers & Harland Ltd | Improvements in electro-mechanical transducers |
DE1017800B (de) * | 1956-09-11 | 1957-10-17 | Paul Hoehle Dipl Phys | Geraet zur Messung von Laengenaenderungen |
FR2345050A1 (fr) * | 1976-03-19 | 1977-10-14 | Ampex | Detecteur de vibrations dans un ensemble a transducteur |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2728222A (en) * | 1950-10-17 | 1955-12-27 | Leitz Ernst Gmbh | Apparatus for measuring surface irregularities |
US4310913A (en) * | 1979-07-26 | 1982-01-12 | Rca Corporation | Stylus tracking aid using two bimorph elements longitudinally aligned |
-
1979
- 1979-12-15 DE DE19792950627 patent/DE2950627A1/de not_active Withdrawn
-
1980
- 1980-12-10 FR FR8026196A patent/FR2471578A1/fr not_active Withdrawn
- 1980-12-12 GB GB8039871A patent/GB2065892B/en not_active Expired
- 1980-12-12 JP JP17570880A patent/JPS5694205A/ja active Pending
- 1980-12-15 US US06/216,468 patent/US4359892A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB763226A (en) * | 1954-05-27 | 1956-12-12 | Short Brothers & Harland Ltd | Improvements in electro-mechanical transducers |
DE1017800B (de) * | 1956-09-11 | 1957-10-17 | Paul Hoehle Dipl Phys | Geraet zur Messung von Laengenaenderungen |
FR2345050A1 (fr) * | 1976-03-19 | 1977-10-14 | Ampex | Detecteur de vibrations dans un ensemble a transducteur |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5694205A (en) | 1981-07-30 |
GB2065892B (en) | 1983-10-05 |
DE2950627A1 (de) | 1981-06-19 |
GB2065892A (en) | 1981-07-01 |
US4359892A (en) | 1982-11-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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ST | Notification of lapse |