ES2471568A1 - Procedimiento para la creación de contactos eléctricos y contactos as� creados - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 48
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 34
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims abstract description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 19
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 12
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011852 carbon nanoparticle Substances 0.000 claims description 2
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 claims description 2
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 claims 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 12
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000009770 conventional sintering Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000004093 laser heating Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000006254 rheological additive Substances 0.000 description 1
- 238000012776 robust process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/04—Coating on selected surface areas, e.g. using masks
- C23C14/048—Coating on selected surface areas, e.g. using masks using irradiation by energy or particles
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/28—Vacuum evaporation by wave energy or particle radiation
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/58—After-treatment
- C23C14/5806—Thermal treatment
- C23C14/5813—Thermal treatment using lasers
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/285—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation
- H01L21/28506—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers
- H01L21/28512—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L21/2855—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table by physical means, e.g. sputtering, evaporation
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
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- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/022441—Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
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Abstract
La presente invención se refiere a un procedimiento para la creación de contactos eléctricos en dispositivos optoelectrónicos y electrónicos, incluyendo células solares de alta y baja concentración, lámina delgada, diodos emisores de luz orgánicos (OLEDs), y en general, cualquier dispositivo en el que se requiera extraer o inyectar corriente por medio de contactos eléctricos. El procedimiento comprende dos etapas: (a) deposición del material de contacto sobre el sustrato final, mediante la transferencia inducida por láser (LIFT) de dicho material desde un sustrato donante al sustrato final, utilizando preferiblemente láser pulsado y (b) sinterizado del material de contacto mediante una fuente láser, preferiblemente láser continuo. Los contactos así creados presentan unas excelentes propiedades de conductividad y adherencia, así como altas relaciones entre la altura (espesor) y anchura de los mismos.
Description
PROCEDIMIENTO PARA LA CREACiÓN DE CONTACTOS ELÉCTRICOS Y
CONTACTOS As� CREADOS
Sector técnico de la invención La presente invención tiene su ámbito de aplicación en la fabricación de dispositivos optoelectr�nicos, incluyendo células solares de alta y baja concentración, lámina delgada, diodos emisores de luz orgánicos (OLED, organic light-emitting diode), y en general, cualquier dispositivo en el que se requiera extraer o inyectar corriente por medio de contactos eléctricos. En particular, la presente invención se refiere a un procedimiento para la creación de contactos eléctricos en dispositivos electrónicos y optoelectr�nicos. Antecedentes de la invención Las técnicas de deposición de contactos eléctricos que se utilizan en la industria actual constan de varias fases en su aplicación hasta conseguir la completa operatividad del contacto. Estas técnicas implican la deposición del conductor sobre el sustrato final, un recrecimiento que se hace necesario en función de la técnica empleada y un sinterizado del depósito a fin de maximizar sus características conductoras y de adherencia al sustrato. Una de las técnicas más ampliamente extendida para la creación de contactos met�licos, especialmente en células solares comerciales, es la serigraf�a, que consiste en trasladar una capa de material con un patrón deseado a la superficie de la oblea (dispositivo optoelectr�nico). Las pantallas y las pastas son los elementos esenciales de esta tecnología. Sin embargo, esta técnica presenta algunos inconvenientes: es una técnica costosa y que necesita cambios de pantalla según la plantilla a utilizar y el control de parámetros del proceso no es fácil, además no permite la deposición de dos pastas met�licas diferentes sin tratamiento térmicos intermedios. Por otra parte, es deseable obtener altas relaciones entre altura (espesor) y anchura de la línea met�lica depositada, denominado "aspect ratio" para tener un contacto eficiente, ya que se desea tener la mínima resistencia del conductor (máxima altura o espesor) con el mínimo área de contacto (el área de contacto en una célula es área perdida en el que
no incide el sol). A mayor altura de línea de capa depositada con la misma achura,
mejores resultados.
Adem�s, la serigraf�a requiere la aplicación de presión sobre el dispositivo, lo que conlleva en ocasiones a la ruptura del mismo.
Aunque también se conoce la deposición mediante transferencia con láser (UFT, laser
induced forward transfer) del depósito del material conductor desde un sustrato donante que lo contiene hasta un sustrato final, esta técnica no pueden considerarse técnicamente completa, puesto que necesita bien de un recrecimiento del contacto mediante técnicas de electrodeposici�n, bien de un sinterizado en horno para la obtención de resistividades y adherencias útiles. El problema de la sinterizaci�n convencional mediante horno es que produce inevitablemente una afectación térmica en todo el dispositivo. Esto hace que cambien las características no sólo de los contactos met�licos, sino también del resto del dispositivo. En la presente invención, se evitan calentamientos que pueden ser perjudiciales para el resto de los componentes de la pieza (ya sean capas semiconductores tipo p o tipo n, la heterouni�n p/n del semiconductor, capas conductoras transparentes o incluso el propio substrato). La invención que se propone resuelve las anteriores debilidades de las técnicas convencionales, proponiendo un procedimiento para la creación de contactos eléctricos de forma efectiva y eficaz, entre las ventajas obtenidas mediante la presente invención, se encuentran las siguientes: -Proceso de deposición de contactos con gran flexibilidad, tanto en valores de anchura y altura del contacto como en posibilidad de variaciones rápidas del estampado utilizado, es decir, existe gran flexibilidad en cuanto al patrón o estampado ("pattern") a crear, -Aumento de resolución en los valores de altura y anchura de los contactos, -Aumento de la velocidad de proceso, -Minimizaci�n de la afectación térmica en el sinterizado, restringiéndola a la zona con contactos y no a la célula/dispositivo optoelectr�nico en s�, -Minimizaci�n del consumo de energía para la creación de los contactos eléctricos. Además, los contactos creados mediante la presente invención permiten tanto conducir como extraer la electricidad. El proceso supone un ahorro de material de contacto, ya que solo se utiliza la cantidad justa para realizar el mismo, no precisando de procesos de limpieza posteriores ni tratamientos térmicos adicionales.
Descripci�n de la invención
La presente invención se refiere a un procedimiento para la creación de contactos
eléctricos en los dispositivos electrónicos y optoelectr�nicos.
A continuación se definen algunos elementos que se utilizaran para la descripción de
las etapas del procedimiento y que ayudarán a la compresión del mismo.
Sustrato final: se trata de la superficie sobre la cual se desea depositar el contacto. Se
trata, pues, de la superficie de cualquier dispositivo electrónico u optoelectr�nico. Sustrato donante: lámina transparente al láser que se utiliza como portadora del material de contacto, y desde la cuál se realiza su transferencia al sustrato final. Predep�sito: es el depósito del material de contacto sobre el sustrato donante. Material de contacto: constituye el material que se desea transferir al sustrato final para servir de contacto, preferiblemente se trata de una pasta de base met�lica y con buenas propiedades conductoras intrínsecamente o tras ser sometida a un proceso de curado. La pasta met�lica debe contener, preferiblemente, un metal con alto grado de conductividad eléctrica, como el cobre, la plata, etc. También se puede utilizar pasta de nanopart�culas de carbono, nanotubos de carbono, pasta de grafeno o film de grafeno como material de contacto. Las pastas met�licas son composiciones que además del metal tienen una serie de componentes como fritas de vidrio en su mayoría, modificadores de reolog�a, disolventes, controladores del sinterizado y otros aditivos. El porcentaje de metal en la pasta puede variar entre el 10 y el 99%. Valores habituales de porcentaje de metal est�n comprendidos entre el 40 y el 90% y preferentemente, entre el 75 y el 85%. La presente invención tiene por objeto describir un procedimiento para la creación de contactos eléctricos mediante la transferencia de una pasta met�lica o material de contacto desde un sustrato donante a un sustrato final y su posterior sinterizado. El procedimiento incluye las siguientes etapas:
Deposici�n del material de contacto o pasta met�lica sobre el sustrato final, mediante la transferencia de dicho material desde un sustrato donante al sustrato final utilizando la técnica de transferencia inducida por láser (LlFT). Preferiblemente se utilizan l�seres pulsados para llevar a cabo la deposición del material de contacto -Sinterizado del material de contacto o pasta met�lica para conseguir la cohesión de dicho material de contacto o pasta met�lica y disminuir su resistencia, de manera que sus características de resistividad eléctrica y adherencia al sustrato final las hace útiles para la inyección o extracción de corriente. Este proceso de sinterizado se realiza mediante un láser, preferiblemente láser continuo. Para realizar la deposición de la pasta met�lica, el sustrato donante se sitúa junto al sustrato final, de manera que la pasta met�lica se sitúe entre ambos. Mediante la radiación selectiva con la fuente láser, la pasta met�lica es transferida al sustrato final, de manera que en él se forman los contactos. En esta etapa se deben tener en cuenta las siguientes variables: -Espesor de predep�sito de pasta met�lica sobre el sustrato donante. Esta variable influye principalmente en el espesor final del depósito en el sustrato final. En el caso de aplicaciones a células fotoeléctricas, los espesores de predep�sito utilizados son de 150 micras o inferiores, preferiblemente entre 40 y 60 micras. -Distancia entre el sustrato donante y el sustrato final. Esta variable influye principalmente en la resolución de la transferencia. Su valor ha de estar relacionado con el espesor de predep�sito, Puede oscilar entre décimas y miles de micras con valores habitualmente comprendidos entre 0,1 Y 1000 micras, preferiblemente entre 50 y 100 micras. -Características del haz láser aplicado (potencia media, velocidad de barrido, diámetro del haz, frecuencia de repetición de pulso, longitud de onda del láser, fluencia del láser, potencia de pico). Los l�seres utilizados, as� como sus características dependerán de las características de las pastas met�licas utilizadas para formar el contacto, del tamaño de depósito final que desee conseguirse, de la velocidad requerida de proceso, etc. El sinterizado de la pasta met�lica es fundamental para disminuir la resistencia del contacto, as� como para obtener una buena adherencia de la pasta met�lica al sustrato debido a que el proceso de sinterizado permite la creación de fuertes enlaces entre las partículas del material de contacto. El proceso de sinterizado se realiza mediante una fuente láser, preferiblemente láser continuo. Las variables del láser (potencia, longitud de onda, diámetro del haz) y de las condiciones de irradiación (velocidad de barrido, tamaño de la mancha focal) son función del espesor del depósito, tipo de material y geometría del depósito. Dependiendo de que el dispositivo incorpore o no una capa diel�ctrica entre la superficie a contactar y el depósito de material descrito, puede ser necesario abrir una ventana en dicha superficie diel�ctrica para que el contacto presente las propiedades eléctricas necesarias. Dicha abertura de la capa diel�ctrica puede realizarse también con láser pulsado, preferiblemente en el rango de los picosegundos. En aquellas tecnologías en las que la pasta met�lica se transfiere a un material con condiciones de conductividad aceptable, como óxidos conductores transparentes, no es necesario realizar una ventana en la superficie diel�ctrica Mediante un haz láser se irradia el depósito de pasta met�lica conductora. Para ello se hace recorrer la luz láser por el depósito de manera que el tiempo de irradiación permita el sinterizado de todo el bloque de pasta met�lica. Con este procedimiento, el calentamiento se produce exclusivamente sobre la pasta
met�lica, no afectando significativamente al resto del dispositivo, ni necesitando de posteriores procesos térmicos, por ello se pueden utilizar tanto dispositivos plásticos como polim�ricos o dispositivos que no soporten altas temperaturas de proceso, como los dispositivos que incorporar heterouniones en su estructura. El láser de luz continua permite un sinterizado profundo y completo de la capa met�lica. A diferencia del sinterizado en hornos, en el caso del sinterizado con láser, la afección térmica es mínima, ya que el haz láser se dirige al contacto del material transferido mientras que el resto del dispositivo se encuentra frío. As� pues, en el procedimiento de la presente invención se realiza una sinterizaci�n selectiva con un consumo de energía inferior y una menor carga térmica global en el dispositivo. La complejidad del proceso de sinterizado se encuentra en la elección del tipo de fuente láser. Dependiendo de la fuente láser y de la pasta met�lica utilizada, se obtienen profundidades de sinterizado distintas. Los l�seres en continuo presentan buenos resultados de penetraci�n, obteniéndose tras el proceso de sinterizaci�n conductividades eléctricas similares a las obtenidas con procesos de sinterizado en horno. Es fundamental la elección de la potencia de la fuente, tamaño del diámetro del haz (habitualmente del orden del ancho de la línea transferida) y velocidad de barrido. En una realización preferida del proceso de sinterizaci�n se utiliza un láser continuo en verde, con potencia en torno a 5-20 vatios y tamaño de spot en torno a 120 micras, con velocidades de barrido comprendidas entre 1 mm/s y 500 mm/s. Las fuentes láser pulsadas hacen más difícil el control de la termodinámica intrínseca al proceso de sinterizado, por lo que es más conveniente utilizar fuentes de láser continuo para esta etapa del procedimiento. Se reserva, sin embargo, el uso de l�seres pulsados a aquellas aplicaciones muy específicas en que el espesor de las líneas depositadas sea extremadamente fino y se necesite limitar la carga térmica en el material a sinterizar. Sin embargo, para las geometrías habitualmente empleadas en dispositivos el�ctronicos y optoelectr�nicos con láser continuo se puede penetrar y sinterizar el depósito en profundidad y homog�neamente. La combinación de estas dos técnicas (LlFT y sinterizado con láser) da lugar a unos contactos con excelentes propiedades conductoras, con gran adherencia, alta relación entre la altura y anchura del contacto, con un sinterizado del contacto completo y profundo y sin necesidad de realizar una etapa adicional de recrecimiento del contacto. Se persigue la menor resistencia eléctrica (mayor altura o sección del contacto) con menor área de contacto (anchura del contacto) para evitar sombreado. Cuando mayor sea el "aspect ratio" o relación entre altura y anchura de la línea del contacto más
eficiente ser� éste. La anchura de los contactos eléctricos creados mediante el proceso de la presente invención oscila entre 4 y 200 micras, preferiblemente entre 50 y 100 micras. En cuanto a la relación ente la altura y anchura de línea, los valores oscilan entre 0,0001 Y0,5 Para anchuras de línea en torno a las 4 micras, utilizadas en contactos para células multi-unión como las empleadas en alta concentración fotovoltaica, se pueden usar l�seres de onda bajas (355nm por ejemplo) para la sinterizaci�n. En el procedimiento de la presente invención se pueden utilizar diferentes pastas met�licas para crear los contactos sin necesidad de realizar un proceso intermedio de secado o sinterizado entre la deposición de una y otra pasta met�lica. As� por ejemplo, puede utilizarse una pasta met�lica de alta conductividad o una pasta met�lica con buena adherencia, o bien las dos pastas para crear un mismo depósito, en función de las necesidades requeridas. También puede aplicarse una única pasta para la formación de tipos de contactos diferentes, por ejemplo superponiendo líneas para conseguir una mayor relación de aspecto ("aspect ratio"). En el caso de una célula solar comercial estándar existen dos áreas diferenciadas de metalización en la parte frontal: por una parte est�n los contactos eléctricos (denominados "dedos" �, del inglés, "fingers') que forman la primera fase de metalización y tienen como misión extraer la corriente de la superficie del dispositivo y conducirla hasta los contactos de la segunda fase de metalización que son los denominados "buses" o "busbars". Los "fingers" han de ser lo más finos posibles, con muy buen contacto con el sustrato, con una alta relación entre la altura y la anchura de línea del contacto, interesa que tengan una alta conductividad y buena unión eléctrica. La misión de los "buses" consiste en recoger la corriente de los "fingers" y cederla a la cinta de soldadura, o del inglés "ribbon" que se suelda en ellos. En el caso de los "buses", lo importante es que la adherencia al sustrato sea muy buena para no tener problemas de fiabilidad en el proceso de soldadura. Luego, en función del tipo de contacto a depositar, puede utilizarse como material de contacto una pasta met�lica con una buena adherencia o una buena conductividad, o bien pueden utilizarse dos pastas diferentes para realizar el mismo tipo de contacto, o una misma pasta para crear los dos tipos de contactos. Los dispositivos electrónicos pueden ser LEOs (diodos emisores de luz, del ingles "light-emitting diodes"), OLED (diodos emisores de luz orgánicos, del inglés "organic light-emitting dioses") y a células III-V, que se trata de células solares formadas por
- elementos de la tabla periódica comprendidos en las columnas 111 a V, son las
- utilizadas en módulos solares fotovoltaicos de alta concentración. En el caso de éstas
- �ltimas, los contactos pueden crearse i) en la parte frontal donde se encuentra la unión
- pn (malla met�lica de fingers y salida de corriente de la célula a través de busbars
- 5
- colocados en los laterales), ii) en la parte trasera, colocándose todo igual pero en la
- parte trasera (tanto fingers como busbars), iii) colocando los fingers en la parte frontal,
- unos conductores/caminos que atraviesa la célula (también de metal) y conectan con
- los busbars colocados a la unión pn de la parte trasera".
- Descripci�n de los dibujos
- 1O
- Para completar la descripción que se est� realizando y con objeto de ayudar a una
- mejor comprensión de la invención, se acompaña un juego de dibujos donde con
- car�cter ilustrativo y no limitativo, se ha representado lo siguiente:
- Figura 1: Muestra un esquema de la etapa de deposición de la pasta met�lica sobre el
- sustrato final (Figura perteneciente al estado del arte)
- 15
- Figura 2: Muestra un diagrama de la altura vs distancia horizontal (anchura) de línea
- del contacto depositado mediante la técnica LlFT.
- Figura 3: Muestra dos gráficas de la resistencia del contacto depositado con las pastas
- de plata comercial SOL 540 Y SOL 550 de la firma Heraeus � respectivamente, en
- funci�n de la potencia láser con y sin sinterizado.
- 20
- Las referencias numéricas que aparecen en la figura 1 son las siguientes:
- 1.-Material de contacto
- 2.-Sustrato donante
- 3.-Sustrato final o receptor
- 4.-Láser
- 25
- Descripción detallada de la invención
- A continuación se describe la creación de contactos met�licos utilizando los siguientes
- materiales:
- Material de contacto (1): se utilizan dos pastas diferentes comercialmente disponibles
- de modelos SOL 540 Y SOL 550 de Heraeus �.
- 30
- Características:
- Pasta
- SOL 540 SOL 550
- Viscosidad
- 40-60 kpcs 30-50 kpcs
- Resistividad
- < 10 mnlo/25llm < 10 mnlo/25llm
- Adhesi�n
- >3N -
- S�lidos (%)
- 80 86,5
- Tipo de pol�meros
- termoestable termopl�stico
- Temp. de curado
- 250-280oC 200-230oC
- Tiempo de curado
- 3-8 min 10-15 min
Sustrato donante (2): es un portamuestras de vidrio, transparente al láser. El espesor de pasta de plata sobre el sustrato donante (espesor de predep�sito) es de entre 40 y 50 micras.
5 Sustrato final o receptor (3): es un óxido conductor transparente (TeO) de lámina delgada (Thin Film). Láser (4) para proceso de transferencia de la pasta met�lica: Se utiliza un láser de Spectra Physics 532-2 de 532 nm y 15 ns de pulso, con frecuencias de 20 a 150KHz y cintura de haz de 30 IJm, con potencia máxima de 2 W.
lO-Para la pasta de plata SoI540:, las variables de láser utilizado para proceso de transferencia de la pasta met�lica son las siguientes: potencia óptima de 3,7 W, con ventana desde 2,2 a 4,0 W, velocidad de barrido de 3 mm/s y tamaño de spot de 120 micras de diámetro Para la pasta de plata So1550, las variables de láser utilizado son las siguientes:
15 Potencia óptima de 3,4 W, con ventana desde 2,0 a 3,8 W, velocidad de barrido de 3 mm/s y tamaño de spot de 120 micras de diámetro Tal y como se muestra en la figura 1, en primer lugar se lleva a cabo la deposición de la pasta de plata (1) situada inicialmente en un portamuestras de vidrio o sustrato donante (2) sobre el sustrato final (3), para lo cual se utiliza el láser pulsado (4)
20 descrito anteriormente. La Figura 2 muestra un diagrama de la altura y distancia horizontal (anchura) de línea del contacto depositado mediante la técnica de transferencia inducida por láser (LlFT), que permite obtener alta relación entre la altura y la anchura del contacto. Es decir, es posible obtener, a diferencia de las técnicas convencionales, líneas de gran altura o
25 espesor (unas 25 micras), pero estrechas o con una distancia horizontal pequeña, del orden de 100 micras. Una vez depositada la pasta met�lica (1) sobre el sustrato final (3), se lleva cabo la sinterizaci�n de la pasta depositada. Para ello se utiliza además una fuente láser de Spectra Physics, Modelo Millennia �. Se trata de un láser en continuo con una
30 potencia máxima de 10W y de 532 nm de longitud de onda y velocidad de escáner de 3 mm/s y un diámetro de spot de 120 micras. Se realizan los sinterizados a distintas potencias, para cada una de las dos pastas, obteniendo resultados muy aceptables en un rango de lo suficientemente ancho como para considerar al proceso robusto. La calidad de los resultados es función de la
35 resistencia. A menor resistencia, mejor se podr� evacuar/inyectar la corriente en el
dispositivo.
Como puede verse en la figura 3, la resistencia de las pastas sinterizadas es del orden
de 20 veces menores que sin el sinterizado.
La gran ventaja del calentamiento por láser es que permite el calentamiento selectivo
5 del contacto met�lico, sin afectar al resto del dispositivo optoelectr�nico. Además, el uso de un láser continuo permite realizar una sinterizaci�n parcial y profunda del contacto y no solo superficial como ocurre en ocasiones con las técnicas convencionales (hornos) limitadas a una temperatura para que no se vea afectado el dispositivo optoelectr�nico en cuestión.
10 As� pues, la combinación de la técnica de transferencia inducida por láser (LlFT) y la sinterizaci�n mediante láser da lugar a contactos con unas características eléctricas óptimas, tal y como se muestra en la figura 3, sin que el sustrato optoelectr�nico se vea afectado durante el proceso. As�, en el caso de la pasta met�lica SOLS40, se obtiene una resistencia de 1,240 para una potencia de láser de 3,4W en el sinterizado.
15 En el caso de la pasta met�lica SOLSSO, obtiene una resistencia de 1,SO para una potencia de láser de 3,7W.
Claims (18)
- Reivindicaciones1. Procedimiento para la creación de contactos eléctricos en dispositivoselectr�nicos u optoelectr�nicos caracterizado por comprender las siguientes etapas: -deposición del material de contacto (1) sobre un sustrato final (3), mediante la transferencia inducida por un láser (4) de dicho material desde un sustrato donante(2) que contiene un predep�sito del material de contacto (1) al sustrato final (3), que es el dispositivo electrónico u optoelectr�nico, -sinterizado del material de contacto mediante una fuente láser.
-
- 2.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde la fuente láser utilizada en la etapa de deposición es una fuente de láser pulsado.
-
- 3.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde la fuente láser utilizada en la etapa de sinterizado es una fuente de láser continuo.
-
- 4.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 3 donde el láser continuo utilizado para el sinterizado es verde, con una potencia entre 5-20 vatios y tamaño de spot de 120 micras, y con velocidades de barrido comprendidas entre 1 mm/s y 500 mm/s.
-
- 5.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde la fuente láser utilizada en la etapa de sinterizado es una fuente de láser pulsado.
-
- 6.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde el espesor de predep�sito del material de contacto en el sustrato donante es de 150 micras o inferior.
-
- 7.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 6 donde el espesor de predep�sito del material de contacto en el sustrato donante es de entre 40 y 60 micras.
-
- 8.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde la distancia entre el sustrato donante y el sustrato final durante el proceso de deposición oscila entre 0,1 Y 1000 micras.
-
- 9.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 8 donde la distancia entre el sustrato donante y el sustrato final durante el proceso de deposición est� entre 50 y 100 micras.
-
- 10.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1 donde el material de contacto utilizado es una pasta met�lica conductora.
-
- 11.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1
donde el material de contacto utilizado es una pasta de nanopart�culas de carbono, 5 nanotubos de carbono, pasta de grafeno, film de grafeno. -
- 12.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 10 donde la pasta met�lica contiene plata o cobre.
-
- 13.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos mediante el proceso
descrito en la reivindicación 1 donde los contactos eléctricos creados tienen una 10 relación entre su altura y anchura de entre 0,0001 y 0,5. - 14. Procedimiento para la creación de contactos eléctricos mediante el proceso descrito en la reivindicación 1 donde los contactos eléctricos creados tienen una anchura que oscila entre 4 y 200 micras.
- 15. Procedimiento para la creación de contactos eléctricos según reivindicación 14 15 donde la anchura de los contactos eléctricos est� entre 50 y 100 micras.
-
- 16.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación 1, donde los dispositivos electrónicos son LEDs, OLEDs o células solares formadas por elementos de la tabla periódica comprendidos en las columnas 111 a V.
-
- 17.
- Procedimiento para la creación de contactos eléctricos, según reivindicación
20 16, donde los contactos se crean en la parte frontal o en la parte trasera del dispositivo electrónico, siendo éste una célula solar formada por elementos de la tabla periódica comprendidos en las columnas 111 a V. - 18. Contactos eléctricos creados mediante el procedimiento descrito en cualquiera de las reivindicaciones anteriores.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ES201201168A ES2471568B1 (es) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | Procedimiento para la creación de contactos eléctricos y contactos así creados |
US14/647,057 US20150294872A1 (en) | 2012-11-22 | 2013-11-21 | Method for creating electrical contacts and contacts created in this way |
KR1020157013443A KR20150100640A (ko) | 2012-11-22 | 2013-11-21 | 전기 콘택을 형성하는 방법 및 그 방법에 의해 형성되는 전기 콘택 |
EP13856341.6A EP2924718A4 (en) | 2012-11-22 | 2013-11-21 | METHOD FOR CREATING ELECTRICAL CONTACTS AND CONTACTS THUS CREATED |
PCT/ES2013/000259 WO2014080052A1 (es) | 2012-11-22 | 2013-11-21 | Procedimiento para la creación de contactos eléctricos y contactos así creados |
CN201380061236.XA CN104995725A (zh) | 2012-11-22 | 2013-11-21 | 用于形成电触点的方法以及通过这种方法形成的触点 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ES201201168A ES2471568B1 (es) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | Procedimiento para la creación de contactos eléctricos y contactos así creados |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2471568A1 true ES2471568A1 (es) | 2014-06-26 |
ES2471568B1 ES2471568B1 (es) | 2015-08-21 |
Family
ID=50775579
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES201201168A Expired - Fee Related ES2471568B1 (es) | 2012-11-22 | 2012-11-22 | Procedimiento para la creación de contactos eléctricos y contactos así creados |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150294872A1 (es) |
EP (1) | EP2924718A4 (es) |
KR (1) | KR20150100640A (es) |
CN (1) | CN104995725A (es) |
ES (1) | ES2471568B1 (es) |
WO (1) | WO2014080052A1 (es) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10629442B2 (en) | 2013-10-14 | 2020-04-21 | Orbotech Ltd. | Lift printing of multi-composition material structures |
CN106687617B (zh) * | 2014-07-15 | 2020-04-07 | 奈特考尔技术公司 | 激光转印ibc太阳能电池 |
WO2016063270A1 (en) | 2014-10-19 | 2016-04-28 | Orbotech Ltd. | Llift printing of conductive traces onto a semiconductor substrate |
WO2016116924A1 (en) | 2015-01-19 | 2016-07-28 | Orbotech Ltd. | Printing of three-dimensional metal structures with a sacrificial support |
US10688692B2 (en) | 2015-11-22 | 2020-06-23 | Orbotech Ltd. | Control of surface properties of printed three-dimensional structures |
TW201901887A (zh) * | 2017-05-24 | 2019-01-01 | 以色列商奧寶科技股份有限公司 | 於未事先圖樣化基板上電器互連電路元件 |
KR102391800B1 (ko) | 2018-06-15 | 2022-04-29 | 주식회사 엘지화학 | 비정질 박막의 제조방법 |
CN108878591B (zh) * | 2018-07-02 | 2020-01-07 | 通威太阳能(安徽)有限公司 | 一种晶硅太阳能电池金属电极的激光烧结方法 |
TWI787554B (zh) * | 2018-10-31 | 2022-12-21 | 日商三菱綜合材料股份有限公司 | 附有金屬層之碳質構件,及熱傳導板 |
CN109926583B (zh) * | 2018-12-29 | 2023-10-31 | 苏州德龙激光股份有限公司 | 激光诱导前向转印和烧结制作银浆电极的加工装置及方法 |
CN109911848B (zh) * | 2019-04-12 | 2019-12-20 | 湖南城市学院 | 一种精密操控和传递纳米线的装置及方法 |
CN110530931B (zh) * | 2019-09-25 | 2022-03-04 | 南京农业大学 | 一种激光转移打印氧化石墨烯湿度传感器的制备方法 |
CN110756986A (zh) * | 2019-10-21 | 2020-02-07 | 华南理工大学 | 一种通过激光诱导前向转移制备微透镜阵列的方法与装置 |
EP3889319A1 (en) | 2020-04-01 | 2021-10-06 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | Controlled deposition of a functional material onto a target surface |
CN111441047B (zh) * | 2020-04-01 | 2021-12-28 | 陕西科技大学 | 一种石墨烯/金属基复合触头材料及其制备方法和应用 |
CN112382676B (zh) * | 2020-10-29 | 2022-03-29 | 华南理工大学 | 基于硅片双凹槽结构的太阳能电池栅线激光诱导印刷方法 |
DE102021119155A1 (de) | 2021-07-23 | 2023-01-26 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zum aufbringen eines elektrischen verbindungsmaterials oder flussmittels auf ein bauelement |
CN116002991B (zh) * | 2023-02-10 | 2023-07-04 | 广东工业大学 | 一种多层复合薄膜及其在激光精密成型中的应用 |
CN117637246B (zh) * | 2023-11-27 | 2024-05-07 | 广东工业大学 | 一种用于形成高导电金属结构的激光诱导前向转移方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4113969A1 (de) * | 1991-04-29 | 1992-11-05 | Telefunken Electronic Gmbh | Verfahren zur herstellung von ohmschen kontakten fuer verbindungshalbleiter |
JP3809353B2 (ja) * | 2001-08-02 | 2006-08-16 | キヤノン株式会社 | Id付き加工物の製造方法 |
EP1553051A4 (en) * | 2002-07-01 | 2011-05-18 | Jfe Eng Corp | CARBON NANOTUBE-CONTAINING TAPE MATERIAL AND PROCESS FOR PRODUCING ELECTRIC FIELD EMISSION TYPE ELECTRODE AND CARBON NANOTUBE CONTAINING THE TAPE MATERIAL, AND PROCESS FOR PRODUCING THE SAME |
JP4627528B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2011-02-09 | 三井化学株式会社 | 新規化合物、および該化合物を用いた有機エレクトロニクス素子 |
JP2009515369A (ja) * | 2005-11-07 | 2009-04-09 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 光電池接触部及び配線の形成 |
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EP2731126A1 (en) * | 2012-11-09 | 2014-05-14 | Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Method for bonding bare chip dies |
-
2012
- 2012-11-22 ES ES201201168A patent/ES2471568B1/es not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-11-21 US US14/647,057 patent/US20150294872A1/en not_active Abandoned
- 2013-11-21 WO PCT/ES2013/000259 patent/WO2014080052A1/es active Application Filing
- 2013-11-21 KR KR1020157013443A patent/KR20150100640A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-11-21 CN CN201380061236.XA patent/CN104995725A/zh active Pending
- 2013-11-21 EP EP13856341.6A patent/EP2924718A4/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014080052A1 (es) | 2014-05-30 |
US20150294872A1 (en) | 2015-10-15 |
ES2471568B1 (es) | 2015-08-21 |
KR20150100640A (ko) | 2015-09-02 |
EP2924718A1 (en) | 2015-09-30 |
CN104995725A (zh) | 2015-10-21 |
EP2924718A4 (en) | 2016-04-13 |
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